KR970017642A - 비트라인 프리차아지 회로 - Google Patents

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KR970017642A
KR970017642A KR1019950030756A KR19950030756A KR970017642A KR 970017642 A KR970017642 A KR 970017642A KR 1019950030756 A KR1019950030756 A KR 1019950030756A KR 19950030756 A KR19950030756 A KR 19950030756A KR 970017642 A KR970017642 A KR 970017642A
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transistor
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semiconductor memory
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KR1019950030756A
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정휘택
황상기
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김광호
삼성전자 주식회사
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/24Bit-line control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • G11C16/28Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells

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Abstract

1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
비트라인의 방전상태에서 차아지되는데 걸리는 시간을 단출시킬 수 있는 반도체 메모리 장치를 제공한다.
3. 발명의 해결방법의 요지
데이타를 독출할 수 있는 복수개의 메모리 트랜지스터와 상기 메모리 트랜지스터를 선택하기 위한 스트링 선택 트랜지스터로 구성된 메모리 셀 어레이와 접속된 비트라인과 전원전압사이에 접속되어 외부의 기준전압에 응답하여 상기 비트라인을 프리차아지시키기 위한 제1트랜지스터와, 상기 메모리 셀 어레이의 온셀전류의 약 절반값을 갖는 더미 셀 어레이와 접속된 더미라인과 전원전압사이에 접속되어 상기 더미라인을 프리차아지시키기 위한 제2트랜지스터를 구비한다.
4. 발명의 중요한 용도
고속동작을 요구하는 반도체 메모리 장치에 적합하게 사용된다.

Description

비트라인 프리차아지 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 기술에 따라 비트라인을 충·방전시키기 위한 프리차아지 회로도,
제4도는 제3도의 타이밍도.

Claims (4)

  1. 데이타를 독출할 수 있는 복수개의 메모리 트랜지스터와 상기 메모리 트랜지스터를 선택하기 위한 스트링 선택 트랜지스터로 구성된 메모리 셀 어레이 및 상기 메모리 셀 어레이의 온 셀전류의 약 절반값을 갖는 더미 셀 어레이의 전류값에 따라 정해지는 상기 메모리 셀 어레이의 비트라인과 상기 더미 셀 어레이의 더미 라인의 전압 차이를 감지하여 증폭시키는 감지 증폭기를 가지는 반도체 메모리 장치에 있어서 : 외부의 기준전압을 수신하는 게이트단자를 가지며 전원전압과 상기 비트라인사이에 드레인-소오스간의 채널이 직렬로 접속되어 상기 비트라인을 통해 데이타를 독출하기전에 프리차아지시키기 위한 제1트랜지스터와, 상기 기준전압을 수신하는 게이트단자를 가지며 전원전압과 상기 더미 라인사이에 드레인-소오스간의 채널이 직렬로 접속되어 상기 더미라인을 프리차아지시키기 위한 제2트랜지스터를 구비함을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1,2트랜지스터는 피채널 모오스 트랜지스터 또는 엔채널 모오스 트랜지스터임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 기준전압은 어드레스의 천이를 감지하여 상기 기준전압을 출력하는 어드레스 천이 감지기로부터 발생됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1, 2트랜지스터로 비트라인 및 더미라인을 프리차아지 할때 메모리 쎌 어레이의 스트링 선택 트랜지스터와 상기 더미 셀 어레이가 낸드구조로 직렬 접속된 트랜지스터들 중 적어도 어느 한개의 트랜지스터를 제어하는 제어신호가 상기 어드레서 천이 감지기의 제어를 받아 한 사이클내에서 일정구간만 펄스로 동작되도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100365644B1 (ko) * 2000-06-28 2002-12-26 삼성전자 주식회사 멀티비트 불휘발성 메모리 장치

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KR100365644B1 (ko) * 2000-06-28 2002-12-26 삼성전자 주식회사 멀티비트 불휘발성 메모리 장치

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