KR970006521Y1 - 디바이스 테스트용 소켓 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

디바이스 테스트용 소켓

제 1 도의 (가)(나)는 종래 디바이스 테스트용 소켓의 구조를 보인 평면도 및 정면도.

제 2 도의 (가)(나)(다)는 본 고안에 의한 디바이스 테스트용 소켓의 구조를 보인 도면으로서,

(가)는 평면도이고,

(나)는 정면도이며,

(다)는 종단면도이다.

제 3 도 및 제 4 도는 본 고안에 의한 디바이스 테스트용 소켓의 사용 상태도로서,

제 3 도는 큰 디바이스 테스트시의 상태도이고,

제 4 도는 작은 디바이스 테스트시의 상태도이다.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

1 : 소켓 몸체2 : 컨택트 핀

5, 6 : 디바이스10 : 테스트 툴

11 : 다이12 : 뚜껑

본 고안은 디바이스 테스트용 소켓에 관한 것으로, 특히 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 테스트할 수 있도록 한 디바이스 테스트용 소켓에 관한 것이다.

일반적으로 알려지고 있는 디바이스 테스트용 소켓은 크기가 일정한 한 가지 종류의 디바이스만을 테스트하도록 구성되어 있으며, 오픈 탑형 소켓과 매뉴얼용 소켓으로 구분되어 있는 바, 상기 오픈 탑형 소켓은 오토 핸들러에서 주로 사용하는 것으로서 소켓 몸체를 누르면 디바이스를 삽입할 수 있는 상태가 되는 한편, 상기한 매뉴얼용 소켓은 디바이스를 소켓에 올리고 뚜껑을 닫아 컨택트시키도록 되어 있다.

제 1 도에 상기한 바와 같은 종래 디바이스 테스트용 소켓의 전형적인 일 실시형태가 도시되어 있는 바, 이를 간단히 살펴보면 다음과 같다.

도면에서 1은 소켓 몸체를 보인 것으로, 상기 소켓 몸체(1)는 상부 소켓(1a)과 하부 소켓(1b)으로 분리 형성되어 있고, 상기 상부 소켓(1a) 및 하부 소켓(1b)에는 다수개의 컨택트 핀(2)이 일정간격을 유지하여 압입 결합되어 있다.

또한, 상기 상부 소켓(1a) 및 하부 소켓(1b)은 스프링(3)으로 연결되어 있고, 상부 소켓(1a)의 내면에는 디바이스의 장착을 안내하기 위한 가이드(4)가 각각 형성된 구조로 되어 있다.

상기와 같이 구성된 종래의 소켓은 디바이스를 상부 소켓(1a)에 얹어 누르는 것에 의하여 디바이스의 리드와 소켓은 컨택트 핀(2)이 접속되어 테스트할 수 있는 상태가 되는 것이다.

그러나, 상기한 바와 같은 종래의 디바이스 테스트용 소켓은 크기가 일정한 한 종류의 디바이스만을 텍스트 할 수 밖에 없도록 구성되어 있어, 2종류의 디바이스, 예컨대 150MIL와 300MIL 크기의 디바이스를 테스트할 필요가 있을 때 2대의 핸들러를 사용하던지, 1대의 핸들러를 가지고 셋-업(SET-UP)을 바꾸면서 작업을 진행하여야 하는등 작업이 번거롭고 작업시간이 길어짐으로써 생산성 저하를 초래하는 문제가 있었다.

본 고안은 상기한 바와 같은 문제를 해소하기 위하여 안출한 것으로, 하나의 소켓으로 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있게 함으로써 작업의 편리성 및 생산성 향상을 기할 수 있도록 한 디바이스 테스트용 소켓을 제공하는데 목적이 있다.

상기와 같은 본 고안의 목적은 소켓 몸체의 내부 중간부에 해당 테스트 디바이스 보다 작은 디바이스를 테스트할 수 있는 테스트 툴을 장치하여 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트용 소켓을 제공함으로써 달성된다.

상기 테스트 툴은 작은 디바이스 접속부가 일체로 연장 형성된 컨택트 핀의 내부에 디바이스가 안착되는 다이가 형성되고, 상기 다이에 안착된 디바이스를 상부에서 눌러 지지하는 뚜껑이 소켓 몸체의 일측에 회동개폐가능하게 힌지 고정되어 매뉴얼 소켓 방식으로 컨택트되도록 구성되어 있다.

상기와 같이 된 본 고안의 디바이스 테스트용 소켓에 의하면, 하나의 소켓으로 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있으므로 2가지의 디바이스를 테스트할 필요가 있을 때, 종래와 같이 2대의 오토 핸들러를 사용한다든지 또는 셋-업을 바꾸어가면서 테스트하지 않고 그대로 작업을 진행함으로써 작업을 보다 편리하게 진행할 수 있다는 효과 이외에도 아이들 타임 로스를 줄일 수 있으므로 생산성을 향상시킬 수 있다는 효과가 있다.

이하 상기한 바와 같은 본 고안에 의한 디바이스 테스트용 소켓을 첨부도면에 의거하여 보다 상세히 설명한다.

첨부한 제 2 도의 (가)(나)(다)는 본 고안에 의한 소켓의 구조를 보인 평면도, 정면도 및 종단면도이고, 제 3 도 및 제 4 도는 본 고안 소켓의 사용 상태도로서, 이에 도시한 바와 같이 본 고안에 의한 디바이스 테스트용 소켓은 기존의 소켓에 사이즈가 작은 디바이스를 테스트할 수 있는 테스트 툴을 장치하여 구성한 것으로, 컨택트 핀(2)이 기존보다 길게 형성되어 있고, 상기 컨택트 핀(2)의 내부에 다이가 장착되어 있으므로 다른 유형의 다비아스, 예컨대 150MIL 및 300MIL 디바이스를 한 소켓으로 테스트할 수 있는 것이다.

부연하면, 본 고안에 의한 소켓은 소켓 몸체(1)의 내부 중간부에 해당 테스트 디바이스(5) 보다 작은 디바이스(6)를 테스트할 수 있는 테스트 툴(10)을 장치하여 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있도록 구성한 것으로, 도면에서 종래 구성과 동일한 부분에 대해서는 동일 부호를 부여하였다.

상기 테스트 툴(10)은 작은 디바이스(6) 접속부(2a)가 일체로 연장 형성된 컨택트 핀(2)과, 상기 컨택트 핀(2)의 내부에 장착되어 디바이스(6)가 안착되는 다이(11)와, 상기 다이(11)에 안착된 디바이스(6)를 상부에서 눌러 지지하도록 소켓 몸체(1)의 일측에 회동개폐 가능하게 힌지고정된 뚜껑(12)으로 구성되어 매뉴얼 소켓 방식으로 컨택이 이루어지도록 구성되어 있다.

한편, 상기한 큰 디바이스 테스트용 소켓은 오픈 탑형으로 구성되어 진다.

이와 같이 된 본 고안에 의한 디바이스 테스트용 소켓이 디바이스 장착은 다음과 같다.

먼저, 큰 디바이스(300MIL)의 경우에는 소켓 몸체(1)를 눌러 디바이스(5)를 삽입 장착하고, 작은 디바이스(150MIL)의 경우에는 다이(11) 위에 디바이스(6)를 올려 놓고 뚜껑(12)을 닫음으로써 전기적인 접속 상태가 되어 테스트할 수 있는 것이다.

즉, 본 고안은 하나의 소켓으로 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있는 것이다.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 고안이 디바이스 테스트용 소켓에 의하면, 하나의 소켓으로 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있으므로 2가지의 디바이스를 테스트할 필요가 있을 때, 종래와 같이 2대의 오토 핸들러를 사용한다든지 또는 셋-업을 바꾸어가면서 테스트하지 않고 그대로 작업을 진행함으로써 작업을 보다 편리하게 진행할 수 있다는 효과 이외에도 아이들 타임 로스를 줄일 수 있으므로 생산성을 향상시킬 수 있다는 효과가 있다.

Claims (2)

1. 소켓 몸체(1)의 내부 중간부에 해당 테스트 디바이스(5) 보다 작은 디바이스(6)를 테스트할 수 있는 테스트 틀(10)을 장치하여 크기가 서로 다른 2종류의 디바이스를 공용으로 테스트할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트용 소켓.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 테스트 툴(10)은 작은 디바이스 접속부(2a)가 일체로 연장 형성된 컨택트 핀(2)의 내부에 디바이스(6)가 안착되는 다이(11)가 형성되고, 상기 다이(11)에 안착된 디바이스(6)를 상부에서 눌러 지지하는 뚜껑(12)이 소켓 몸체(1)의 일측에 회동개폐 가능하게 힌지 고정되어 매뉴얼 소켓 방식으로 컨택트되도록 구성된 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트용 소켓.