KR960042197A - 마스크의 리페어(repair) 방법 - Google Patents
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Abstract
마스크의 리페어 방법이 개시되어 있다. 본 발명은 투명한 석영기판과 그 한쪽면에 차광물질로 형성된 패턴으로 이루어지는 마스크를 리페어하는 방법에 있어서, 원하지 않는 패턴을 레이저를 사용하지 않고 습식식각 또는 건식식각 방법으로제거함으로써, 석영기판의 표면에 손상이 가해지는 것을 방지할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1a도 및 제1b도는 종래 기술에 의한 마스크의 리페어 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.
Claims (6)
- 투명한 석영기판과 그 한쪽 표면에 차광물질로 형성된 패턴으로 이루어진 마스크의 리페어(repair)방법에있어서, 상기 패턴이 형성된 표면 상부에 감광막으르 도포하는 단계; 상기 감광막을 선택적으로 노광하는 단계; 상기 노광된 감광막을 현상하는 단계; 상기 현상된 감광막에 의해 노출된 차광물질을 식각하는 단계; 및 상기 현상된 감광막을제거하는 단계를 구비하여, 상기 석영기판에 손상을 주지 않으면서 원하는 패턴을 형성하는 것을 특징으로 하는 마스크의리페어 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 차광물질은 크롬(chrome)인 것을 특징으로 하는 마스크의 리페어 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 감광막은 포토레지스트로 형성하는 것을 특징으로 하는 마스크의 리페어 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 노출된 차광물질을 식각하는 방법으로 습식식각과 건식식각 중 선택된 어느 하나를이용하는 것을 특징으로 하는 마스크의 리페어 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 건식식각은 200mTorr의 진공도, 200W의 전력, 및 50℃의 온도 분위기에서 염소기체(Cl2) 및 산소(O2)를 사용하여 실시하는 것을 특징으로 하는 마스크의 리페어 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 감광막의 선택적 노광은 스팟 마커(spot marker)용 램프를 갖는 레이저 리페어 장비를 사용하여 실시하는 것을 특징으로 하는 마스크의 리페어 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019950012316A KR0141156B1 (ko) | 1995-05-17 | 1995-05-17 | 마스크의 리페어방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019950012316A KR0141156B1 (ko) | 1995-05-17 | 1995-05-17 | 마스크의 리페어방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR960042197A true KR960042197A (ko) | 1996-12-21 |
KR0141156B1 KR0141156B1 (ko) | 1998-06-15 |
Family
ID=19414746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019950012316A KR0141156B1 (ko) | 1995-05-17 | 1995-05-17 | 마스크의 리페어방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR0141156B1 (ko) |
-
1995
- 1995-05-17 KR KR1019950012316A patent/KR0141156B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
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KR0141156B1 (ko) | 1998-06-15 |
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