KR960029805A - 비정상 전류를 이용하는 고장 블럭 검출 시스템 - Google Patents

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Abstract

다수의 논리 블럭들(B1, B2…)에 의해 형성된 반도체 소자에서, 다수의 기능 검사 패턴[FTP (ADD)]이 발생된 후 상기 반도체 소자에 전송되어, 비정상 전류(Iddq)가 반도체 소자를 통해 흐르는지의 여부가 판정된다. 비정상 전류가 검출되면, 기능 검사 패턴과 그것에 의해 동작되는 논리 블럭들을 저장하는 테이블에 따라 고장 블럭이 판정된다.

Description

비정상 전류를 이용하는 고장 블럭 검출 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 고장 블럭 검출 장치의 한 실시예를 도시한 블럭회로도.

Claims (13)

  1. 다수의 논리 블럭들(B1, B2···)에 의해 형성된 반도체 소자에서 고장 블럭(fault block)을 검출하기 위한 시스템에 있어서, 다수의 기능 검사 패턴[FTP (ADD)]과 상기 기능 검사 패턴에 의해 동작되는 상기 논리 블럭간의 관계를 저장하는 테이블 수단; 순차적으로, 상기 기능 검사 패턴을 발생하여 상기 반도체 소자에 상기 기능 검사 패턴을 전송하는 수단; 상기 반도체 소자를 통해 흐르는 비정상 전류(Iddq)를 검출하는 수단; 및 상기 비정상 전류가 검출되면, 상기 관계에 따라 상기 고장 블럭을 판정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  2. 다수의 논리 블럭들(B1, B2…)에 의해 형성된 반도체 소자에서 고장 블럭을 검출하기 위한 시스템에 있어서, 다수의 기능 검사 패턴[FTP (ADD)]과 상기 기능 검사 패턴에 의해 동작되는 상기 논리 블럭 간의 관계를 저장하는 테이블 수단; 순차적으로, 상기 기능 검사 패턴을 발생하여 상기 반도체 소자에 상기 기능 검사 패턴을 전송하는 수단; 상기 반도체 소자를 통해 흐르는 비정상 전류(Iddq)가 소정 값 이상인지의 여부에 따라 상기 반도체 소자가 비정상인지 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 상기 반도체 소자가 정상에서 비정상으로 변경되었는지의 여부를 판정하는 수단; 상기 반도체 소자가 정상에서 비정상으로 변경될 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제1트랜지션 블럭 추출 수단; 및 상기 제1트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 다수 그룹의 상기 트랜지션 블럭들로부터 상기 고장 블럭으로서 적어도 하나의 공동 블럭을 추출하는 고장 블럭 추출 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 반도체 소자가 비정상에서 정상으로 변경되었는지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 비정상에서 정상으로 변경될 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제2트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 고장 블럭 추출 수단은 상기 제1및 제2트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 다수 그룹의 상기 트랜지션 블럭들로부터 상기 고장 블럭으로서 적어도 하나의 공통 블럭을 추출하는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  4. 제2항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 비정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 비정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 고장 블럭 추출 수단은 상기 적어도 하나의 공통 블럭으로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  5. 제3항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 비정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 비정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 고장 블럭 추출 수단은 상기 적어도 하나의 공통 블럭으로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  6. 제2항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 고장 블럭 추출 수단은 상기 적어도 하나의 공통 블럭으로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  7. 제3항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 고장 블럭 추출 수단은 상기 적어도 하나의 공통 블럭으로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  8. 다수의 논리 블럭들(B1, B2…)에 의해 형성된 반도체 소자에서 고장 블럭을 검출하기 위한 시스템에 있어서, 다수의 기능 검사 패턴[FTP (ADD)]과 상기 기능 검사 패턴에 의해 동작되는 상기 논리 블럭 간의 관계를 저장하는 테이블 수단; 순차적으로, 상기 기능 검사 패턴을 발생하여 상기 반도체 소자에 상기 기능 검사 패턴을 전송하는 수단; 상기 반도체 소자를 통해 흐르는 비정상 전류(Iddq)가 소정 값 이상인지의 여부에 따라 상기 반도체 소자가 비정상인지 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 상기 반도체 소자가 정상에서 비정상으로 변경되었는지의 여부를 판정하는 수단; 상기 반도체 소자가 처음에 정상에서 비정상으로 변경될 때 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제1트랜지션 블럭 추출 수단; 및 상기 제1트랜지션 블럭 추출 수단이 상기 제1트랜지션 블럭들을 추출한 후, 상기 반도체 소자가 정상에서 비정상으로 변경될 때 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 제2트랜지션 블럭들을 추출하는 제2트랜지션 블럭 추출 수단을 포함하며, 상기 제2트랜지션 블럭 추출 수단은 상기 제1트랜지션 블럭들로부터 상기 제2트랜지션 블럭들을 제외시켜서 상기 제1트랜지션 블럭들에서 상기 고장 블럭을 구하는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  9. 다수의 논리 블럭들(B1, B2…)에 의해 형성된 반도체 소자에서 고장 블럭을 검출하기 위한 시스템에 있어서, 다수의 기능 검사 패턴[FTP (ADD)]과 상기 기능 검사 패턴에 의해 동작되는 상기 논리 블럭 간의 관계를 저장하는 테이블 수단; 순차적으로, 상기 기능 검사 패턴을 발생하여 상기 반도체 소자에 상기 기능 검사 패턴을 전송하는 수단; 상기 반도체 소자를 통해 흐르는 비정상 전류(Iddq)가 소정 값 이상인지의 여부에 따라 상기 반도체 소자가 비정상인지 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 상기 반도체 소자가 정상에서 비정상으로 변경되었는지의 여부를 판정하는 수단; 상기 반도체 소자가 처음에 비정상에서 정상으로 변경될 때 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 제1트랜지션 블럭들을 추출하는 제1트랜지션 블럭 추출 수단; 및 상기 제1트랜지션 블럭 추출 수단이 상기 제1트랜지션 블럭들을 추출한 후, 상기 반도체 소자가 비정상에서 정상으로 변경될 때 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 제2트랜지션 블럭들을 추출하는 제2트랜지션 블럭 추출 수단을 포함하며, 상기 제2트랜지션 블럭 추출 수단은 상기 제1트랜지션 블럭들로부터 상기 제2트랜지션 블럭들을 제외시켜서 상기 제1트랜지션 블럭들에서 상기 고장 블럭을 구하는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  10. 제8항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 비정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 비정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단은 상기 제1트랜지션 블럭들로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  11. 제9항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 비정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 비정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단은 상기 제1트랜지션 블럭들로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  12. 제8항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단은 상기 제1트랜지션 블럭들로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
  13. 제9항에 있어서, 상기 반도체 소자가 계속 정상인지의 여부를 판정하는 수단; 및 상기 반도체 소자가 계속 정상일 때마다 상기 테이블에 따라 상기 논리 블럭들로부터 트랜지션 블럭들을 추출하는 제3트랜지션 블럭 추출 수단을 더 포함하며, 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단은 상기 제1트랜지션 블럭들로부터 상기 제3트랜지션 블럭 추출 수단에 의해 추출된 상기 트랜지션 블럭들을 제외시키는 것을 특징으로 하는 고장 블럭 검출 시스템.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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