KR960026544A - 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법 Download PDF

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KR1019940034274A
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남상균
유숭종
임재문
백동원
김세정
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김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 소자간 분리, 절연을 위한 반도체 소자의 소자분리층 형성방법에 관한 것으로, 소자분리층 형성영역의 반도체기판을 노출시키는 제1단계; 상기 노출된 반도체기판 상부에 반도체기판의 산화 방지를 위한 스페이서를 형성하는 제2단계; 소자분리층을 형성하는 제3단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1A도 내지 제1C도는 본 발명의 일실시예에 따른 소자분리층 형성 공정 단면도.

Claims (7)

  1. 소자간 분리, 절연을 위한 반도체 소자의 소자분리층 형성방법에 있어서, 소자분리층 형성영역의 반도체 기판을 노출시키는 제1단계; 상기 노출된 반도체기판 상부에 반도체기판의 산화 방지를 위한 스페이서를 형성하는 제2단계; 소자분리층을 형성하는 제3단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1단계는 반도체기판 상부에 패드산화층, 패드질화층을 형성하는 단계; 소자분리 영역의 상기 패드질화층, 패드산화층을 선택식각하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 소자분리층 형성영역의 반도체기판을 과도식각하여 트랜치가 형성되도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제2단계는 제1단계 공정 진행 후 전체구조 상부에 화학기상증착법에 의한 증착층을 형성한 후, 스페이서 식각함으로써 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 증착층은 산화층인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
  6. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제2단계 후 소자분리영역의 상기 반도체기판에 트랜치를 형성하는 제4단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제3단계는 열산화공정에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940034274A 1994-12-14 1994-12-14 반도체 소자의 소자간 분리층 형성방법 KR960026544A (ko)

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