KR960011691A - 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 바운더리 스캔 구조를 갖는 집적회로에 필요한 TMS(Test Mode Select)를 발생시키기 위한 장치로서, 다수개의 TMS를 저장하고 있으며, 로딩신호에 클럭신호에 동기되어 정장된 TMS 저장부를 순차적으로 집적회로에 순차적으로 인가하는 TMS 저장부와, TDI(Test Data Input)들을 병렬로 입력하여 로딩신호에 따라 병렬로 입력된 TDI들을 클럭신호에 동기되어 순차적으로 집작회로에 인가하는 TDI 저장부와, 상기 로딩신호와 소정 주기의 시스템 클럭을 조합하여 상기 TMS 저장부에 저장된 TMS의 갯수어의 처리에 해당하는 클럭신호를 출력하는 클럭발생회로를 구비한다. 따라서 본 발명은 프로세서에 TMS를 위한 별도의 소프트웨어가 필요없게 되어 프로세서의 실행속도가 향상되므로 결국 바운더리 스캐닝 속도가 향상되는 효과가 있다.
(대표도면 : 제1도)
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치의 블럭도.
제2도는 본 발명에 따른 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치의 주요 부분 파형도.
Claims (5)
- 바운더리 스캐닝을 위한 장치로서, 다수개의 TMS(Test Mode Select)를 저장하고 있으며, 로딩신호에 따라 클럭신호에 동기되어 저장된 TMS를 순차적으로 집적회로에 순차적으로 인가하는 TMS 저장부와; TDI(Test Data Input)들을 병렬로 입력하여 로딩신호에 따라 병렬로 입력된 TDI들을 클럭신호에 동기되어 순차적으로 집적회로에 인가하는 TDI 저장부와; 상기 로딩신호와 소정 주기의 시스템 클럭을 조합하여 상기 TMS 저장부에 저장된 TMS의 갯수에 해당하는 클럭신호를 출력하는 클럭발생회로를 구비하는 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 TMS 저장부는, 그 입력단들이 TMS들에 대응하도록 전원 및 그라운드에 선택적으로 연결된 병직렬 시프트 레지스터인 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 클럭발생회로는, 로딩신호에 따라 상기 TMS 저장부에 저장되는 TMS의 수에 해당하는 소정 주기의 시스템 클럭을 계수하여 리세트신호를 출력하는 계수부와; 로딩신호에 따라 세트되며 상기 계수부의 리세트신호에 따라 리세트되어 상기 TMS 저장부에 저장되는 TMS의 수에 대응하는 클럭신호를 상기 TMS 저장부 및 상기 TDI 저장부에 인가하는 클럭발생부를 구비하는 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 계수부는, 상기 시스템 클럭을 계수하는 2진 카운터와; 상기 2진 카운터의 출력을 조합하여 그 출력이 상기 TMS 저장부에 저장되는 TMS의 수와 동일한 값이 될 때에 상기 리세트신호를 출력하는 조합부를 구비하는 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 클럭발생부는, 상기 로딩신호에 따라 세트되며, 상기 리세트신호에 따라 리세트되는 D 플립플롭과 ; 상기 D 플립플롭의 출력과 시스템 클럭을 조합하는 앤드 게이트를 구비하는 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940023341A KR970006018B1 (ko) | 1994-09-15 | 1994-09-15 | 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019940023341A KR970006018B1 (ko) | 1994-09-15 | 1994-09-15 | 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960011691A true KR960011691A (ko) | 1996-04-20 |
KR970006018B1 KR970006018B1 (ko) | 1997-04-23 |
Family
ID=19392840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940023341A KR970006018B1 (ko) | 1994-09-15 | 1994-09-15 | 바운더리 스캔 구조의 테스트 모드 선택 신호 발생 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR970006018B1 (ko) |
-
1994
- 1994-09-15 KR KR1019940023341A patent/KR970006018B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970006018B1 (ko) | 1997-04-23 |
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