KR960002673A - 반도체소자의 금속박막 형성방법 - Google Patents
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 35
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 13
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 claims abstract 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 13
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims abstract 8
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims abstract 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract 7
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims abstract 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims 4
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 claims 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 2
- -1 Si 3 N 4 Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims 1
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
- H01L21/285—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation
- H01L21/28506—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers
- H01L21/28512—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L21/2855—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table by physical means, e.g. sputtering, evaporation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76802—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing by forming openings in dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76838—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
- H01L21/76841—Barrier, adhesion or liner layers
- H01L21/76843—Barrier, adhesion or liner layers formed in openings in a dielectric
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76838—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
- H01L21/76877—Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
본 발명은 반도체소자의 금속박막 형성방법에 관한 것으로, 동시-스퍼터링법에 의하여 백금과 티타늄 또는 백금과 탄탈륨을 동시-스퍼터링 시스템에서 증착함으로써 기판에 대한 접착력과 전극으로서의 특성을 개선하고, 마이크로 히터와 패드 및 확산장벽물질로도 응용이 가능하도록 한 것이다.
본 발명은 기판위에 귀금속물질과 기판과의 접착성이 우수한 금속을 동시에 스퍼터링하여 혼합금속 접착막을 형성하는 단계와, 상기 혼합금속 접착막위에 상기 귀금속물질을 스퍼터링 증착하여 금속박막을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법을 제공한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명의 동시-스퍼터링 시스템 구조도,
제6도는 본 발명에 의해 제조된 금속박막의 단면구조도,
제7도는 본 발명에 의한 가스센서 제조공정을 도시한 공정순서도,
제8도는 본 발명에 의해 제조된 금속박막의 AES 깊이 프로파일.
Claims (14)
- 기판위에 귀금속물질과 기판과의 접착성이 우수한 금속을 동시에 스퍼터링하여 혼합금속 접착막을 형성하는 단계와, 상기 혼합금속 접착막위에 상기 귀금속물질을 스퍼터링 증착하여 금속박막을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 귀금속물질은 Pt, Au, Ag, Pd, Rh 중에서 선택돈 어느 하나임을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 기판과의 접착성이 우수한 금속은 Ti, Ta, Ni, Cr, Mo 중에서 선택된 어느 하나임을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 기판은 Si, SiO2, Si3N4, MgO 중에서 선택된 어느 하나임을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막의 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 동시에 스퍼터링하는 단계에서 반응가스에 산소를 수 sccm에서 수십sccm정도 포함하여 스퍼터링하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제5항에 있어서, 상기 반응가스 Ar임을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 동시 스퍼터링에 의해 혼합금속 접착막을 형성하는 단계후에 산소분위기에서 열처리하는 단계가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제7항에 있어서, 상기 열처리온도는 300-800℃로 하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 혼합금속접착막의 두께는 200-1500Å임을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 귀금속물질층의 두께는 500Å-1㎛로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 혼합금속접착막을 형성하는 단계후에 혼합금속접착막상에 확산장벽층을 증착하는 공정이 더 포함되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제11항에 있어서, 상기 확산장벽층은 TiN을 증착하여 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 제11항에 있어서, 상기 확산장벽층은 100-1000Å 두께로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속박막 형성방법.
- 실리콘기판 양면에 절연막을 형성하는 공정과, 상기 실리콘질화막이 형성된 실리콘기판 전면에 귀금속물질과 기판과의 접착성이 우수한 금속을 동시에 스퍼터링하여 혼합금속 접착막을 형성하는 공정, 상기 혼합금속 접착막위에 상기 귀금속물질을 스퍼터링 증착하여 금속박막을 형성하는 공정, 상기 금속박막 및 혼합금속 접착막을 소정패턴으로 패터닝하여 히터부를 형성하는 공정, 상기 히터부 상부에 층간절연막을 형성하는 공정, 상기 층간절연막을 선택적으로 식각하여 상기 히터부의 소정부위를 노출시키는 콘택홀을 형성하는 공정, 기판 전면에 귀금속물질과 기판과의 접착성이 우수한 금속을 동시에 스퍼터링하여 혼합금속 접착막을 형성하는 공정, 상기 혼합금속 접착막위에 상기 귀금속물질을 스퍼터링 증착하여 금속박막을 형성하는 공정, 상기 금속박막 및 혼합금속 접착막을 소정패턴으로 패터닝하여 히터패드부, 온도센서부 및 전극부를 각각 형성하는 공정, 기판 전면에 금속박막을 형성하는 공정, 상기 금속박막을 패터닝하여 상기 히터패드부와 온도센서부상에 각각 히터패드부와 온도센서패드부를 형성하는 공정, 상기 전극부위에 감지막을 형성하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 가스센서 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940014289A KR960002673A (ko) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | 반도체소자의 금속박막 형성방법 |
JP7151991A JPH08188869A (ja) | 1994-06-22 | 1995-06-19 | 半導体素子の金属薄膜形成方法及びガスセンサの製造方法 |
CN95107079A CN1118110A (zh) | 1994-06-22 | 1995-06-22 | 制作半导体器件中金属薄膜的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940014289A KR960002673A (ko) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | 반도체소자의 금속박막 형성방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960002673A true KR960002673A (ko) | 1996-01-26 |
Family
ID=19385961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940014289A KR960002673A (ko) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | 반도체소자의 금속박막 형성방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08188869A (ko) |
KR (1) | KR960002673A (ko) |
CN (1) | CN1118110A (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4419620B2 (ja) * | 2004-03-17 | 2010-02-24 | Tdk株式会社 | ガスセンサ |
JP4362586B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2009-11-11 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 高耐熱導電性薄膜の製造方法、該製造方法によって得られる高耐熱導電性薄膜、および積層膜、並びに該積層膜を備えるデバイス |
JP4602000B2 (ja) * | 2004-06-16 | 2010-12-22 | 株式会社鷺宮製作所 | 水素ガス検知素子、水素ガスセンサおよび水素ガス検知方法 |
JP4964295B2 (ja) * | 2007-04-10 | 2012-06-27 | 北陸電気工業株式会社 | センサ素子用ヒータ |
CN105632907B (zh) * | 2014-10-28 | 2018-10-23 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种半导体器件的制作方法 |
-
1994
- 1994-06-22 KR KR1019940014289A patent/KR960002673A/ko not_active Application Discontinuation
-
1995
- 1995-06-19 JP JP7151991A patent/JPH08188869A/ja not_active Withdrawn
- 1995-06-22 CN CN95107079A patent/CN1118110A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08188869A (ja) | 1996-07-23 |
CN1118110A (zh) | 1996-03-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |