KR960002118A - 복수의 냉음극 소자들을 갖는 전자빔 발생장치, 상기 장치를 구동하는 방법 및 이를 응용하는 화상 형성 장치 - Google Patents

복수의 냉음극 소자들을 갖는 전자빔 발생장치, 상기 장치를 구동하는 방법 및 이를 응용하는 화상 형성 장치 Download PDF

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Abstract

복수의 냉음극 소자가 매트릭스 와이어링된 전자선 발생 장치 뿐만 아니라 이 장치를 구동시키는 방법이 화성 형성 장치에 적용된다. 통계적 계산이 요구된 전자선 출력에 관련하여 미리 실행되고, 매트릭스 와이어링에서 발생된 손실이 분석된다. 구동 신호는 분석 결과에 기초하여 최적 보정값을 결정하므로써 보정된다. 결과적으로, 매트릭스의 로우가 로우마다 연속적으로 구동될 때, 출력된 전자선의 인턴시티가 임의의 구동 패턴에 대하여 정밀하게 이루어질 수 있다.

Description

복수의 냉음극 소자들을 갖는 전자선 밸생장치, 상기 장치를 구동하는 방법 및 이름 응용하는 화성 형성 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제8도는 본 발명의 제1실시예의 회로 배치를 도시하는 회로 다이어그램.

Claims (37)

  1. 전자선 발생 장치에 있어서, 기판 상에 로수 및 컬럼의 형태로 컬럼된 복수의 냉음극 소자, 상기 복수의 냉음극 소자를 매트릭스로 와이어링하기 위한 m개의로우 와이어와 n개의 컬럼 와이어, 및 상기 복수의 냉음극 소자를 구동시는 신호를 발생하기 위한 구동 신호 발생 수단을 포함하고, 상기 구동 신호 발생 수단은 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 통계적으로 계산을 실행하기 위한 통계적 계산 수단, 상기 통계적 계산 수단에 의한 계산 결과에 기초하여 보정값을 발생하기 위한 보정값 발생 수단, 외부저긍로 입력된 전자선 요구값과 보정값을 조합하기 위한 조합 수단, 및 상기 조합 수단으로부터의 출력값에 기초하여 매트릭스 와이어링된 냉음극 소자를 연속적으로 구동시키기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 통계적 계산 수단은 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 전자선 요구값의 1로우의 총합을 계산하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단을 상기 통계적 계산 수단의 계산 결과와 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 와이어와 컬럼 와이어내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 분석하고, 이 손실을 보상하기 위한 보정양을 결정하고 이 보정양을 출력하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 상기 통계적 양(statistic-quantity)계산 수단에 으해 출력될수 있는 계산 결과의 모든 경우와 관련하여 선정된 보정값을 저장하는 조사 테이블(look-up table)을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 조사 테이블에 미리 저장된 보정값은 상기 통계적 양계산 수단에 의해 출력될 수 있는 계산 결과의 모든 경우에 관련하여 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 와이어와 컬럼 와이어 내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 미리 분석하고, 이 분석 결과에 기초하여 보정양을 미리 구하므로써 얻어진 보정양인 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 다음 식에 따라 계산된 보정양 V1~Vn을 출력하기 위한 수단을 포함하고,
    여기서, 파라메타는, V1~Vn ; j 번째 로우에서의 컬럼 1~n의 냉음극 소자용 보정양; I1~In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 냉음극 소자의 전자 방출 특성에 기초하여 게산된, 컬럼 1~n의 컬럼 와이어를 통과하게될 전류값; Ra; 로우 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; I1+I2+…+In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값의 1로우의 총합(즉 상기 통계적 계산 수단에 의한 계산 결과); Rb: 컬럼의 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; ry; 컬럼 와이어링의 내음극 소자들 간의 전기적 저항; rx; 로우 와이어링의 냉음극 소자들 간의 전기적 저항; n : 매트릭스의 컬럼의 총 수; 및 j; 로우 수(1≤j≤m)인 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 선입 후출(First-In Last-Out : FILO)회로와 가산기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기조합 수단은 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 상기 보정값 발생 수단에 의해 발생된 보정값을 함께 가산하거나 또는 승산하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치.
  9. 제1항에 있어서, 화상 정보가 외부적으로 입력된 전자선 요구값으로서 사용되는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 냉음극 소자는 표면 전도 전자 방출 소자인 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  11. 화상 형성 장치에 있어서, 전자선 발생 장치와 화상 형성 부재를 포함하고, 상기 전자선 발생 장치는 기판 상에 로우 및 컬럼의 형태로 컬럼된 복수의 냉음극 소자, 상기 복수의 냉음극 소자는 매트릭스로 와이어링 하기 위한 m개의 로우 와이어 n개의 컬럼 와이어, 및 상기 복수의 냉음극 소자를 구동시키는 신호를 발생하기 위한 구동 신호 발생 수단을 포함하고, 상기 구동 신호 발생 수단은 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 통계적으로 계산을 실행하기 위한 통계적 계산 수단, 상기 통계적 계산 수단에 의한 계산 결과에 기초하여 보정값을 발생하기 위한 보정값 발생수단, 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 보정값을 조합하기 위한 조합 수단, 및 상기 조합 수단으로부터 출력값에 기초하여 매트릭스 와이어링된 냉음극 소자를 연속적으로 구동시키기 위한 수단을 포함하며, 상기 화상 형성 부재는 상기 전자선 발생 장치에 의해 출력된 전자선으로 조사하므로써 화상을 형성하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 통계적 계산 수단은 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 전자선 요구값의 1로우의 종합을 계산하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  13. 제11항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 상기 통계적 계산 수단의 계산 결과와 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 와이어와 컬럼 와이어 내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 분석하고, 이 손실을 보상하기 위한 보정양을 결정하고 이 보정양을 출력하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성장치.
  14. 제11항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 상기 통계적 양 계산 수단에 의해 출력될 수 있는 계산 결과의 모든 경우와 관련하여 선정된 보정값을 저장하는 조사 테이블을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  15. 제14항에 있어서, 상기 조사 테이블에 미리 저장된 보정값을 상기 통계적 양계산 수단에 의해 출력될수 있는 계산 결과의 모든 경우에 관련하여 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 와이어와 컬럼 와이어 내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 미리 분석하고, 이 분석 결과에 기초하여 보정양을 밀 구하므로써 얻어진 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  16. 제11항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 다음 식에 따라 계산된 보정양 V1~Vn을 출력하기 위한 수단을 포함하고,
    여기서, 파라메타는, V1~Vn ; j 번째 로우에서의 컬럼 1~n의 냉음극용 보정양; I1~In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 냉음극 소자의 전자 방출 특성에 기초하여 게산된, 컬럼 1~n의 컬럼 와이어를 통과하게될 전류값; Ra; 로우 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; I1+I2+…+In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값의 1로우의 총합(즉 상기 통계적 계산 수단에 의한 계산 결과); Rb: 컬럼의 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; ry; 컬럼 와이어링의 내음극 소자들 간의 전기적 저항; rx; 로우 와이어링의 냉음극 소자들 간의 전기적 저항; n : 매트릭스의 컬럼의 총 수; 및 j; 로우 수(1≤j≤m)인 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  17. 제16항에 있어서, 상기 보정값 발생 수단은 선입 후출 회로와 가산기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  18. 제11항에 있어서, 상기조합 수단은 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 상기 보정값 발생 수단에 의해 발생된 보정값을 함께 가산하거나 또는 승산하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  19. 제11항에 있어서, 화상 정보가 외부적으로 입력된 전자선 요구값으로서, 사용되는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  20. 제11항에 있어서, 상기 화상 형성 부재는 형광체인 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
  21. 기판 상에 로우 및 컬럼의 형태로 컬럼된 복수의 냉음극 소자와, 상기 복수의 냉음극 소자를 매트릭스로 와이어링하기 위한 m개의 로우 와이어와 n개의 컬럼 와이어를 포함하는 전자선 발생 장치를 구동시키는 방법에 있어서, 상기 복수의 냉음극 소자를 구동시키는 신호를 발생하는 구동 신호 발생 단계를 포함하고, 상기 구동 신호 발생 단계는 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 통계적으로 계산을 실행하는 통계적 계산단계, 상기 통계적 계산 단계에 의한 계산 결과에 기초하여 보정값을 발생하는 보정값 발생 단계, 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 보정값을 조합하는 조합 단계 및, 상기 조합 단계로부터의 출력값에 기초하여 매트리스 와이어된 냉음극 소자를 연속적으로 구동시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  22. 제21항에 있어서, 상기 통계적 계산 단계는 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 전자선 요구값의 1로우의 총합을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  23. 제21항에 있어서, 상기 보정값 발생 단계는, 상기 통계적 계산 수단의 계산 결과와 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 와이어와 컬럼 와이어내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 분석하고, 이 손실을 보상하기 위한 보정양을 결정하고 이 보정양을 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  24. 제21항에 있어서, 상기 보정값 발생 단계는 상기 통계적 양 계산 단계에 의해 출력될 수 있는 계산 결과의 모든 경우와 관련하여 선정된 보정값을 저장하는 조사 테이블을 사용하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  25. 제24항에 있어서, 상기 조사 테이블에 미리 저장된 보정값은 상기 통계적 양 계산 단계에 의해 출력될 수 있는 계산 결과의 모든 경우에 관련하여 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 와이어와 컬러 와이어 내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 미리 분석하고, 이 분석 결과에 기초하여 보정양을 미리 결정하므로써 얻어진 보정양인 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  26. 제21항에 있어서, 상기 보정값 발생 단계는 다음 식에 따라 계산된 보정양 V1~Vn 을 출력하기 위한 단계를 포함하고,
    여기서, 파라메타는, V1~Vn ; j 번째 로우에서의 컬럼 1~n의 냉음극용 보정양; I1~In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 냉음극 소자의 전자 방출 특성에 기초하여 게산된, 컬럼 1~n의 컬럼 와이어를 통과하게될 전류값; Ra; 로우 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; I1+I2+…+In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값의 1로우의 총합(즉 상기 통계적 계산 수단에 의한 계산 결과); Rb: 컬럼의 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; ry; 컬럼 와이어링의 내음극 소자들 간의 전기적 저항; rx; 로우 와이어링의 냉음극 소자들 간의 전기적 저항; n : 매트릭스의 컬럼의 총 수; 및 j; 로우 수(1≤j≤m)인 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  27. 제21항에 있어서, 상기 조합 단계는 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 상기 보정값 발생 단계에 의해 발생된 보정값을 함께 가산하거나 또는 승산하는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  28. 제21항에 있어서, 화상 정보가 외부적으로 입력된 전자선 요구값으로서 사용되는 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  29. 제21항에 있어서, 상기 냉음극 소자는 표면 전도 전자 방출 소자인 것을 특징으로 하는 전자선 발생 장치 구동 방법.
  30. 화상 형성 방법에 있어서, 복수의 냉음극 소자를 구동시키는 신호를 발생하는 구동 신호 발생 단계를 포함하고, 상기 구동 신호 발생 단계는 외부저긍로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 통계저긍로 계산을 실행하는 통계적 계산 단계, 상기 통계적 계산 단계에 의한 계산 결과에 기초하여 보정값을 발생하는 보정값 바생단계, 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 보정값을 조합하는 조합 단계, 및 상기 조합 수단으로부터의 출력값에 기초하여 매트릭스 와이어링 냉음극 소자를 연속저긍로 구동시키는 단계, 및 상기 냉음극 소자에 의해 출력된 전자선으로 조사하므로써 화상으로 형성하는 화성 형성 단계를 포함하는 것을 특징으롯 하는 화성 형성 방법.
  31. 제30항에 있어서, 상기 통계적 계산 단계는 외부적으로 입력된 전자선 요구값에 관련하여 전자선 요구값의 1로우의 총합을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 방법.
  32. 제30항에 있어서, 상기 보정값 발생 단계는 상기 통계적 계산 단계의 계산 결과와 냉음극 소자의 출력특성에 기초하여, 구동시에 로우 외이어와 컬럼 와이어내로 흐를 전류를 계산하고, 외이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 분석하고, 미 순실을 보상하기 위한 보정양을 결정하고 이 보정양을 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 방법.
  33. 제30항에 있어서, 상기 보정값 발생 단계는 상기 통계적 양 계산 단계에 의해 출력될 수 있는 계산 결과의 모든 경우와 관련하여 선정된 보정값을 저장하는 조사 테이블을 사용하는 것을 특징으로 하는 화상 형성방법.
  34. 제33항에 있어서, 상기 조사 테이블에 미리 저장된 보정값은 상기 통계적 양 계산 단계에 의해 추력될 수 있는 계산 결과의 모든 경우에 관련하여 냉음극 소자의 출력 특성에 기초하여, 구동시에 로우 외이어와 컬럼 와이어 내로 흐를 전류를 계산하고, 와이어링 저항으로 인한 전기적 손실양을 미리 분석하고, 이 분석 결과에 기초하여 보정양을 미리 구하므로서 얻어진 보정양인 것을 특징으로 하는 화상 형성 방법.
  35. 제30항에 있어서, 상기 보정값 발생 단계는 다음 식에 따라 계산된 보정양 V1~Vn을 출력하기 위한 단계를 포함하고,
    여기서, 파라메타는, V1~Vn ; j 번째 로우에서의 컬럼 1~n의 냉음극용 보정양; I1~In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 냉음극 소자의 전자 방출 특성에 기초하여 게산된, 컬럼 1~n의 컬럼 와이어를 통과하게될 전류값; Ra; 로우 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; I1+I2+…+In : 외부적으로 입력된 전자선 요구값의 1로우의 총합(즉 상기 통계적 계산 수단에 의한 계산 결과); Rb: 컬럼의 와이어링의 추출된 부분의 전기적 저항; ry; 컬럼 와이어링의 내음극 소자들 간의 전기적 저항; rx; 로우 와이어링의 냉음극 소자들 간의 전기적 저항; n : 매트릭스의 컬럼의 총 수; 및 j; 로우 수(1≤j≤m)인 것을 특징으로 하는 전자선 발생장치.
  36. 제30항에 있어서, 상기 조합 단계는 외부적으로 입력된 전자선 요구값과 상기 보정값 발생 수단에 의해 발생된 보정값을 함께 가산하거나 또는 승산하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 방법.
  37. 제30항에 있어서, 화상 정보가 외부적으로 입력된 전자선 요구값으로서 사용되는 것을 특징으로 하는 화상 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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