KR950006867A - 페이지 소거 구조를 갖는 플래시 이이피롬 어레이용 독립 어레이 접지 - Google Patents

페이지 소거 구조를 갖는 플래시 이이피롬 어레이용 독립 어레이 접지 Download PDF

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케이. 창 청
씨. 첸 쟈니
에이. 반 버스커크 마이클
이. 클리브랜드 리
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미키오 이시마루
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Abstract

페이지 소거를 갖는 플래시 EEPROM 셀의 어레이에 대한 개선된 구조가 제공된다. 어레이는 다수의 반-섹터로 구성된다. 각각의 섹터에 있어서, 메모리 셀 트랜지스터의 소오스는 분리된 개별 접지라인에 접속된다. 접지라인회로는 반-섹터 접지라인신호를 발새이키도록 제공된다. 분리된 개별 접지라인은 소거하는 동안 사전결정된 파지티브 전위에 있는 반-섹터 접지라인신호를 수신하도록 접지라인회로에 접속된다.

Description

페이지 소거 구조를 갖는 플래시 아이피롬 어레이용 독립 어레이 접지
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따라 구성된 반-섹터(half-sector) 접지 라인 회로중 하나의 개략 회로도.
제4도는 본 발명의 구조를 사용한 플래시 EEPROM 메모리 셀의 두 개의 섹터를 나타낸 도면.

Claims (20)

  1. 다수의 반-섹터로 구성된 어레이 수단을 갖는 반도체 집적회로 메모리 소자에 있어서, 각각의 상기 다수의 반-섹터는, 워드 라인의 행 및 상기 워드 라인의 행에 교차하는 비트 라인의 열로 배열되어지고, 소오스, 드레인, 부동 게이트 및 제어 게이트를 갖는 부동 게이트 트랜지스터를 각각 포함하는 다수의 메모리셀과, 상기 메모리 셀이 열을 형성하도록 반-섹터 비트라인 수단에 접속되어지고, 상기 열에서 상기 메모리 셀이 반-섹터 비트라인 수단에 병렬로 접속되어지도록, 상기 각각의 행에 있어서 메모리 셀의 드레인에 각각 접속되어진 다수의 반-섹터 비트라인 수단과, 상기 다수의 반-섹터 비트라인 수단에 기능적으로 접속되어 반-섹터를 선택하는 수단과, 상기 선택된 섹터상에서의 소거 동작동안 상기 다수의 섹터에 있는 비-선택된 섹터가 영을 받지 않도록 반-섹터 점지 라인신호를 발생시키는 접지 라인회로 수단(322)으로 구성되고, 상기 각각의 행에 있는 상기 메모리 셀의 상기 제어 게이트는 상기 워드 라인중 하나에 접속되고, 상기 메모리 셀의 상기 소오스는 분리된 개별 접지라인에 접속되고, 상기 분리된 개별 접지라인은 상기 접지라인회로 수단에 접속되어 상기 반-섹터 접지라인신호를 수신하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  2. 제1항에 있어서, 상기 접지라인회로 수단은 반-섹터의 선택에 있어서 소거하는 동안 사전결정된 파지티브 전위에 있는 반-섹터 접지라인신호를 발생시키도록 반-섹터 선택신호에 응답하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  3. 제2항에 있어서, 상기 반-섹터 접지라인신호는 상기 반-섹터의 비-선택에 있어서 소거하느 동안 접지 전위에 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리소자.
  4. 제1항에 있어서, 상기 반-섹터 선택 수단은 소오스, 드레인, 게이트를 각각 구비하는 다수의 반-섹터 선택 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  5. 제4항에 있어서, 상기 각각의 반-섹터 비트 라인 수단은 상기 반-섹터 선택 트랜지스터중 하나의 소오스에 접속된 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  6. 제5항에 있어서, 상기 반-섹터 선택 트랜지스터의 게이트는 반-섹터 선택신호를 수신하도록 접속되는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  7. 제2항에 있어서, 상기 사전결정된 파지티브 전위는 대략 +5.0볼트인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  8. 제1항에 있어서, 소거하는 동안 선택된 섹터에 있는 상기 메모리 셀의 상기 제어 게이트에 비교적 네기티브 전위를 발생시키고 공급하는 네가티브 서플라이 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  9. 제8항에 있어서, 상기 네가티브 전위는 대략 -12.0볼트인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 수단.
  10. 다수의 반-섹터로 구성된 어레이 수단을 갖는 반도체 집적회로 메모리 소자에 있어서, 상기 각각의 다수의 반-섹터는, 워드라인의 행 및 상기 워드라인의 행에 교차하는 비트라인의 열로 배열되어지고, 소오스, 드레인, 부동 게이트 및 제어 게이트를 갖는 부동 게이트 트랜지스터를 각각 포함하는 다수의 메모리 셀과, 상기 메모리 셀이 열을 형성하도록 반-섹터 비트라인 수단에 접속되어지고, 상기 열에서 상기 메모리 셀이 반-섹터 비트라인이 수단에 병렬로 접속되어지도록, 상기 각각의 행에 있어서 메모리 셀의 드레인에 각각 접속되어진 다수의 반-섹터 비트라인 수단과, 상기 다수의 반-섹터 비트라인 수단에 기능적으로 접속되어 반-섹터를 선택하는 수단과, 상기 선택된 섹터상에서의 소거 동작동안 상기 다수의 섹터에 있는 비-선택된 섹터가 영향을 받지 않도록 다중 반-섹터 접지 라인 신호를 발생시키는 다수의 접지 라인 회로 수단(322)으로 구성되고, 상기 각각의 행에 있는 상기 메모리 셀의 제어 게이트는 상기 워드라인중 하나에 접속되고, 상기 메모리 셀의 상기 소오슨 분리된 개별 접지라인에 접속되고, 상기 분리된 개별 접지라인은 상기 다수의 접지라인회로 수단 중 관련된 하나에 접속되어 상기 반-섹터 접지라인신호중 부합하는 하나를 수신하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  11. 제10항에 있어서, 상기 각각의 다수의 접지라인회로 수단은 상기 반-섹터의 선택에 있어서 소거하는 동안 사전결정된 파지티브 전위에 있는 다중 반-섹터 접지라인신호중 부합하는 하나를 발생시키도록 관련된 반-섹터 선택 신호에 응답하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  12. 제11항에 있어서, 상기 각각의 다수의 반-섹터 접지라인신호는 상기 반-섹터의 비-선택에 있어서 소거하는 동안 접지 전위에 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  13. 제10항에 있어서, 상기 반-섹터 선택 수단은 소오스, 드레인, 게이트를 각각 가지는 다수의 반-섹터 선택 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  14. 제13항에 있어서, 상기 각각의 반-섹터 비트라인 수단은 상기 반-섹터 선택 트랜지스터중 하나의 소오스에 접속된 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  15. 제14항에 있어서, 상기 반-섹터 선택 트랜지스터의 상기 게이트는 반-섹터 선택신호를 수신하도록 접속되는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  16. 제11항에 있어서, 상기 사전결정된 파지티브 전위는 대략 +5.0볼트인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  17. 제10항에 있어서, 소거하는 동안 선택된 섹터에 있는 상기 메모리 셀의 상기 제어 게이트에 비교적 네가티브 전위를 발생시키고 공급하는 네가티브 서플라이 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  18. 제17항에 있어서, 상기 네가티브 전위는 대략 -12.0볼트인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
  19. 워드라인의 행 및 상기 워드라인의 행에 교차되는 비트라인의 열로 배열되고, 부동 게이트, 제어 게이트, 분리된 독립 접지라인에 접속된 소오스 영역 및 비트 라인중 각각의 하나에 접속된 드레인 영역을 각각 포함하고, 고온 전자를 그 부동 게이트로 이전함에 의해 각각 우수하게 프로그램가능하고, 그 부동 게이트로부터 그 소오스 영역으로 전자를 터널링함에 의해 각각 우수하게 소거가능한 다수의 메모리 셀을 포함하는 다수의 반-섹터를 포함하는 반도체 집적회로 메모리 소자로, 상기 각각의 다수의 반-섹터는, 반-섹터 접지라인신호를 발생시키는 접지라인회로 수단(322)을 포함하고, 상기 메모리 셀의 상기 제어 게이트는 플래시 소거하는 동안 비교적 네가티브 전위를 수신하고, 상기 분리된 독립 접지라인은 상기 접지라인회로 수단에 접속되어 상기 반-섹터 접지라인신호를 수신하는 것을 특징으로 하는 반도체 집저기회로 메모리 소자.
  20. 제19항에 있어서, 상기 반-섹터 접지라인신호는 상기 반-섹터의 선택에 있어서 소거하는 동안 사전결정된 파지티브 전위에 있고, 상기 반-섹터의 비-섹터의 선택에 있어서 소거하는 동안 접지 전위에 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로 메모리 소자.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940020701A 1993-08-23 1994-08-22 페이지 소거 구조를 갖는 플래시 이이피롬 어레이용 독립 어레이 접지 KR950006867A (ko)

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Families Citing this family (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4311358C2 (de) * 1992-04-07 1999-07-22 Mitsubishi Electric Corp Nicht-flüchtige Halbleiterspeichereinrichtung und Betriebsverfahren für eine nicht-flüchtige Halbleiterspeichereinrichtung und Verfahren zum Programmieren von Information in eine nicht-flüchtige Halbleiterspeichereinrichtung
EP0637035B1 (en) * 1993-07-29 1996-11-13 STMicroelectronics S.r.l. Circuit structure for a memory matrix and corresponding manufacturing method
US5912842A (en) * 1995-11-14 1999-06-15 Programmable Microelectronics Corp. Nonvolatile PMOS two transistor memory cell and array
US5680348A (en) * 1995-12-01 1997-10-21 Advanced Micro Devices, Inc. Power supply independent current source for FLASH EPROM erasure
US5579262A (en) * 1996-02-05 1996-11-26 Integrated Silicon Solution, Inc. Program verify and erase verify control circuit for EPROM/flash
US5646890A (en) * 1996-03-29 1997-07-08 Aplus Integrated Circuits, Inc. Flexible byte-erase flash memory and decoder
US5682350A (en) * 1996-03-29 1997-10-28 Aplus Integrated Circuits, Inc. Flash memory with divided bitline
WO1998035344A2 (en) * 1997-02-12 1998-08-13 Hyundai Electronics America, Inc. A nonvolatile memory structure
JP3370563B2 (ja) * 1997-07-09 2003-01-27 シャープ株式会社 不揮発性半導体記憶装置の駆動方法
US5801994A (en) * 1997-08-15 1998-09-01 Programmable Microelectronics Corporation Non-volatile memory array architecture
US5909392A (en) * 1997-10-09 1999-06-01 Programmable Microelectronics Corporation PMOS memory array having OR gate architecture
US6359810B1 (en) 1998-03-13 2002-03-19 Atmel Corporation Page mode erase in a flash memory array
US6118705A (en) * 1998-03-13 2000-09-12 Atmel Corporation Page mode erase in a flash memory array
US5995417A (en) * 1998-10-20 1999-11-30 Advanced Micro Devices, Inc. Scheme for page erase and erase verify in a non-volatile memory array
EP1067557B1 (en) * 1999-06-22 2005-02-02 STMicroelectronics S.r.l. Flash compatible EEPROM
US6266281B1 (en) 2000-02-16 2001-07-24 Advanced Micro Devices, Inc. Method of erasing non-volatile memory cells
US6950336B2 (en) * 2000-05-03 2005-09-27 Emosyn America, Inc. Method and apparatus for emulating an electrically erasable programmable read only memory (EEPROM) using non-volatile floating gate memory cells
US6400603B1 (en) 2000-05-03 2002-06-04 Advanced Technology Materials, Inc. Electronically-eraseable programmable read-only memory having reduced-page-size program and erase
US7747833B2 (en) * 2005-09-30 2010-06-29 Mosaid Technologies Incorporated Independent link and bank selection
US11948629B2 (en) 2005-09-30 2024-04-02 Mosaid Technologies Incorporated Non-volatile memory device with concurrent bank operations
US7652922B2 (en) * 2005-09-30 2010-01-26 Mosaid Technologies Incorporated Multiple independent serial link memory
US20070076502A1 (en) * 2005-09-30 2007-04-05 Pyeon Hong B Daisy chain cascading devices
KR101293365B1 (ko) 2005-09-30 2013-08-05 모사이드 테크놀로지스 인코퍼레이티드 출력 제어 메모리
US8364861B2 (en) * 2006-03-28 2013-01-29 Mosaid Technologies Incorporated Asynchronous ID generation
US8335868B2 (en) * 2006-03-28 2012-12-18 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for establishing device identifiers for serially interconnected devices
US8069328B2 (en) * 2006-03-28 2011-11-29 Mosaid Technologies Incorporated Daisy chain cascade configuration recognition technique
US7551492B2 (en) 2006-03-29 2009-06-23 Mosaid Technologies, Inc. Non-volatile semiconductor memory with page erase
ATE488009T1 (de) * 2006-03-31 2010-11-15 Mosaid Technologies Inc Flash-speichersystem-steuerverfahren
CN103280239B (zh) 2006-05-12 2016-04-06 苹果公司 存储设备中的失真估计和消除
US8239735B2 (en) 2006-05-12 2012-08-07 Apple Inc. Memory Device with adaptive capacity
KR101202537B1 (ko) 2006-05-12 2012-11-19 애플 인크. 메모리 디바이스를 위한 결합된 왜곡 추정 및 에러 보정 코딩
US7904639B2 (en) * 2006-08-22 2011-03-08 Mosaid Technologies Incorporated Modular command structure for memory and memory system
WO2008026203A2 (en) * 2006-08-27 2008-03-06 Anobit Technologies Estimation of non-linear distortion in memory devices
US8700818B2 (en) * 2006-09-29 2014-04-15 Mosaid Technologies Incorporated Packet based ID generation for serially interconnected devices
US7975192B2 (en) 2006-10-30 2011-07-05 Anobit Technologies Ltd. Reading memory cells using multiple thresholds
US7817470B2 (en) * 2006-11-27 2010-10-19 Mosaid Technologies Incorporated Non-volatile memory serial core architecture
US7924648B2 (en) * 2006-11-28 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Memory power and performance management
US8151163B2 (en) 2006-12-03 2012-04-03 Anobit Technologies Ltd. Automatic defect management in memory devices
US8271758B2 (en) 2006-12-06 2012-09-18 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for producing IDS for interconnected devices of mixed type
US8010709B2 (en) * 2006-12-06 2011-08-30 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for producing device identifiers for serially interconnected devices of mixed type
US8331361B2 (en) * 2006-12-06 2012-12-11 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for producing device identifiers for serially interconnected devices of mixed type
US7853727B2 (en) * 2006-12-06 2010-12-14 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for producing identifiers regardless of mixed device type in a serial interconnection
US7818464B2 (en) * 2006-12-06 2010-10-19 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for capturing serial input data
US7529149B2 (en) * 2006-12-12 2009-05-05 Mosaid Technologies Incorporated Memory system and method with serial and parallel modes
US7900102B2 (en) 2006-12-17 2011-03-01 Anobit Technologies Ltd. High-speed programming of memory devices
US8984249B2 (en) * 2006-12-20 2015-03-17 Novachips Canada Inc. ID generation apparatus and method for serially interconnected devices
US8151166B2 (en) 2007-01-24 2012-04-03 Anobit Technologies Ltd. Reduction of back pattern dependency effects in memory devices
US7751240B2 (en) 2007-01-24 2010-07-06 Anobit Technologies Ltd. Memory device with negative thresholds
US8010710B2 (en) * 2007-02-13 2011-08-30 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for identifying device type of serially interconnected devices
US20080201588A1 (en) * 2007-02-16 2008-08-21 Mosaid Technologies Incorporated Semiconductor device and method for reducing power consumption in a system having interconnected devices
US8046527B2 (en) 2007-02-22 2011-10-25 Mosaid Technologies Incorporated Apparatus and method for using a page buffer of a memory device as a temporary cache
US7796462B2 (en) 2007-02-22 2010-09-14 Mosaid Technologies Incorporated Data flow control in multiple independent port
US8086785B2 (en) 2007-02-22 2011-12-27 Mosaid Technologies Incorporated System and method of page buffer operation for memory devices
US7577059B2 (en) * 2007-02-27 2009-08-18 Mosaid Technologies Incorporated Decoding control with address transition detection in page erase function
US7804718B2 (en) * 2007-03-07 2010-09-28 Mosaid Technologies Incorporated Partial block erase architecture for flash memory
WO2008111058A2 (en) 2007-03-12 2008-09-18 Anobit Technologies Ltd. Adaptive estimation of memory cell read thresholds
US8001320B2 (en) 2007-04-22 2011-08-16 Anobit Technologies Ltd. Command interface for memory devices
US8234545B2 (en) 2007-05-12 2012-07-31 Apple Inc. Data storage with incremental redundancy
WO2008139441A2 (en) * 2007-05-12 2008-11-20 Anobit Technologies Ltd. Memory device with internal signal processing unit
US7925936B1 (en) 2007-07-13 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Memory device with non-uniform programming levels
US8259497B2 (en) * 2007-08-06 2012-09-04 Apple Inc. Programming schemes for multi-level analog memory cells
US8174905B2 (en) 2007-09-19 2012-05-08 Anobit Technologies Ltd. Programming orders for reducing distortion in arrays of multi-level analog memory cells
US8068360B2 (en) 2007-10-19 2011-11-29 Anobit Technologies Ltd. Reading analog memory cells using built-in multi-threshold commands
US8527819B2 (en) 2007-10-19 2013-09-03 Apple Inc. Data storage in analog memory cell arrays having erase failures
US8000141B1 (en) 2007-10-19 2011-08-16 Anobit Technologies Ltd. Compensation for voltage drifts in analog memory cells
KR101509836B1 (ko) 2007-11-13 2015-04-06 애플 인크. 멀티 유닛 메모리 디바이스에서의 메모리 유닛의 최적화된 선택
US7913128B2 (en) * 2007-11-23 2011-03-22 Mosaid Technologies Incorporated Data channel test apparatus and method thereof
US8225181B2 (en) * 2007-11-30 2012-07-17 Apple Inc. Efficient re-read operations from memory devices
US8209588B2 (en) 2007-12-12 2012-06-26 Anobit Technologies Ltd. Efficient interference cancellation in analog memory cell arrays
US8456905B2 (en) * 2007-12-16 2013-06-04 Apple Inc. Efficient data storage in multi-plane memory devices
US7983099B2 (en) 2007-12-20 2011-07-19 Mosaid Technologies Incorporated Dual function compatible non-volatile memory device
US8085586B2 (en) 2007-12-27 2011-12-27 Anobit Technologies Ltd. Wear level estimation in analog memory cells
US7940572B2 (en) * 2008-01-07 2011-05-10 Mosaid Technologies Incorporated NAND flash memory having multiple cell substrates
US8156398B2 (en) 2008-02-05 2012-04-10 Anobit Technologies Ltd. Parameter estimation based on error correction code parity check equations
US7924587B2 (en) 2008-02-21 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Programming of analog memory cells using a single programming pulse per state transition
US7864573B2 (en) * 2008-02-24 2011-01-04 Anobit Technologies Ltd. Programming analog memory cells for reduced variance after retention
US8230300B2 (en) 2008-03-07 2012-07-24 Apple Inc. Efficient readout from analog memory cells using data compression
US8400858B2 (en) 2008-03-18 2013-03-19 Apple Inc. Memory device with reduced sense time readout
US8059457B2 (en) 2008-03-18 2011-11-15 Anobit Technologies Ltd. Memory device with multiple-accuracy read commands
US7924613B1 (en) 2008-08-05 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Data storage in analog memory cells with protection against programming interruption
US7995388B1 (en) 2008-08-05 2011-08-09 Anobit Technologies Ltd. Data storage using modified voltages
US8169825B1 (en) 2008-09-02 2012-05-01 Anobit Technologies Ltd. Reliable data storage in analog memory cells subjected to long retention periods
US8949684B1 (en) 2008-09-02 2015-02-03 Apple Inc. Segmented data storage
US8482978B1 (en) 2008-09-14 2013-07-09 Apple Inc. Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals
US8000135B1 (en) 2008-09-14 2011-08-16 Anobit Technologies Ltd. Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals
US8239734B1 (en) 2008-10-15 2012-08-07 Apple Inc. Efficient data storage in storage device arrays
US8261159B1 (en) 2008-10-30 2012-09-04 Apple, Inc. Data scrambling schemes for memory devices
US8208304B2 (en) 2008-11-16 2012-06-26 Anobit Technologies Ltd. Storage at M bits/cell density in N bits/cell analog memory cell devices, M>N
US8174857B1 (en) 2008-12-31 2012-05-08 Anobit Technologies Ltd. Efficient readout schemes for analog memory cell devices using multiple read threshold sets
US8248831B2 (en) 2008-12-31 2012-08-21 Apple Inc. Rejuvenation of analog memory cells
US8924661B1 (en) 2009-01-18 2014-12-30 Apple Inc. Memory system including a controller and processors associated with memory devices
US8228701B2 (en) * 2009-03-01 2012-07-24 Apple Inc. Selective activation of programming schemes in analog memory cell arrays
US8259506B1 (en) 2009-03-25 2012-09-04 Apple Inc. Database of memory read thresholds
US8832354B2 (en) 2009-03-25 2014-09-09 Apple Inc. Use of host system resources by memory controller
US8238157B1 (en) 2009-04-12 2012-08-07 Apple Inc. Selective re-programming of analog memory cells
US8479080B1 (en) 2009-07-12 2013-07-02 Apple Inc. Adaptive over-provisioning in memory systems
US8495465B1 (en) 2009-10-15 2013-07-23 Apple Inc. Error correction coding over multiple memory pages
US8677054B1 (en) 2009-12-16 2014-03-18 Apple Inc. Memory management schemes for non-volatile memory devices
US8694814B1 (en) 2010-01-10 2014-04-08 Apple Inc. Reuse of host hibernation storage space by memory controller
US8572311B1 (en) 2010-01-11 2013-10-29 Apple Inc. Redundant data storage in multi-die memory systems
US8694853B1 (en) 2010-05-04 2014-04-08 Apple Inc. Read commands for reading interfering memory cells
US8572423B1 (en) 2010-06-22 2013-10-29 Apple Inc. Reducing peak current in memory systems
US8595591B1 (en) 2010-07-11 2013-11-26 Apple Inc. Interference-aware assignment of programming levels in analog memory cells
US9104580B1 (en) 2010-07-27 2015-08-11 Apple Inc. Cache memory for hybrid disk drives
US8767459B1 (en) 2010-07-31 2014-07-01 Apple Inc. Data storage in analog memory cells across word lines using a non-integer number of bits per cell
US8856475B1 (en) 2010-08-01 2014-10-07 Apple Inc. Efficient selection of memory blocks for compaction
US8493781B1 (en) 2010-08-12 2013-07-23 Apple Inc. Interference mitigation using individual word line erasure operations
US8694854B1 (en) 2010-08-17 2014-04-08 Apple Inc. Read threshold setting based on soft readout statistics
US9021181B1 (en) 2010-09-27 2015-04-28 Apple Inc. Memory management for unifying memory cell conditions by using maximum time intervals
US11556416B2 (en) 2021-05-05 2023-01-17 Apple Inc. Controlling memory readout reliability and throughput by adjusting distance between read thresholds
US11847342B2 (en) 2021-07-28 2023-12-19 Apple Inc. Efficient transfer of hard data and confidence levels in reading a nonvolatile memory

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5283758A (en) * 1989-06-13 1994-02-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Non-volatile semiconductor memory device
US5077691A (en) * 1989-10-23 1991-12-31 Advanced Micro Devices, Inc. Flash EEPROM array with negative gate voltage erase operation
EP0509184A1 (en) * 1991-04-18 1992-10-21 STMicroelectronics S.r.l. Flash memory erasable by sectors and related writing process
US5282170A (en) * 1992-10-22 1994-01-25 Advanced Micro Devices, Inc. Negative power supply
JPH06349288A (ja) * 1993-06-02 1994-12-22 Fujitsu Ltd 不揮発性半導体記憶装置
US5400276A (en) * 1993-03-17 1995-03-21 Fujitsu Limited Electrically erasable nonvolatile semiconductor memory that permits data readout despite the occurrence of over-erased memory cells

Also Published As

Publication number Publication date
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EP0640984A2 (en) 1995-03-01
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