KR930016358A - 인-패턴 온-라인 코팅 결함 검출 시스템 - Google Patents

인-패턴 온-라인 코팅 결함 검출 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR930016358A
KR930016358A KR1019930000402A KR930000402A KR930016358A KR 930016358 A KR930016358 A KR 930016358A KR 1019930000402 A KR1019930000402 A KR 1019930000402A KR 930000402 A KR930000402 A KR 930000402A KR 930016358 A KR930016358 A KR 930016358A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
forward scattering
scattering pattern
coated fiber
intensity
Prior art date
Application number
KR1019930000402A
Other languages
English (en)
Inventor
에드워드 프레이지 2세 랠프
리들리 로벨레이스 챨스
모블리 모리스 폴
해리 스미쓰겔 데이빗
Original Assignee
디. 이. 헤이즈 2세
아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 디. 이. 헤이즈 2세, 아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니 filed Critical 디. 이. 헤이즈 2세
Publication of KR930016358A publication Critical patent/KR930016358A/ko

Links

Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
    • C03B37/07—Controlling or regulating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N2021/4704—Angular selective
    • G01N2021/4707—Forward scatter; Low angle scatter
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G01N2021/8427—Coatings
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8444—Fibrous material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9511—Optical elements other than lenses, e.g. mirrors

Abstract

본 발명의 결함 검출 시스템(10)은 하나 또는 그 이상의 공간적으로 분리된, 직교 정렬 광 비임(22,24)을 코팅된 섬유(32)에 가하여 광이 섬유(32)와 이에 도포된 코팅(3)의 전체폭을 통과하도록 한다. 광이 섬유(32)와 고질(good quality)의 코팅(31)을 통과할 때, 예상할 수 있는 강도 레벨을 가진 특정한 패턴이 상기 코팅된 섬유(32)에 비추어진 광 비임의 전방 산란 부분에 의해 발생한다.
본 발명에 따라서, 전방 산란 패턴의 강도는 렌즈/검출기 모듈(40,42,44,46)내에 위치하고 또한 예상 전방 산란 패턴내에 정확하게 위치설정된 일련의 광다이오우드(48)에 의해 연속적으로 모니터된다. 코팅에서의 여러가지 결함으로 인해 코팅된 섬유(32)를 통과하는 광의 경로를 변경시켜 전방 산란 광의 일부가 광다이오우드(48)의 검출 영역밖으로 나가게 한다. 전방 산란 패턴에 대한 이와같은 왜곡으로 인해 광다이오우드(48)에서 측정된 광강도 레벨은 감소한다.
그러므로, 예상된 광 강도에 관련된 광의 감소에 있어서 전방 산란 패턴을 연속적으로 모니터함으로써, 본 발명은 섬유(32)의 코팅(31)내에 존재할 수 있는 공기 기포와 같은 일시적인 결함을 검출하는 신뢰할 수 있고 정확한 수단을 제공한다.

Description

인-패턴은 온-라인 코팅 결함 검출 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 인-패턴 코팅 결함 검출 시스템의 광-기계설계의 평면도, 제2도는 코팅된 섬유의 횡단면을 통한 굴절된 광의 광 비임의 궤적도, 제3도는 본 발명의 동작을 수행하는데 이용된 종합 회로를 나타낸 블럭도, 제4도는 본 발명에서 이용된 입력 증폭기와 보상 회로의 전기 계통도.

Claims (10)

  1. 용인될 수 있는 질을 가진 코팅층에 광이 비추어질 때 광의 전방 경로 및 강도를 나타내는 예상 전방 산란 패턴을 발생시키기 위해 코팅된 섬유에 광을 조사하는 (illuminating)수단과, 그리고 코팅층내에 결함이 존재함을 표시하는 광 감소에 있어서 상기 전방 산란 패턴내의 강도 레벨을 모니터하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 코팅된 섬유를 조사하는 수단이 적어도 하나 이상의 레이저원을 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 조사 수단이 상기 레이저윈으로부터 방출된 단일 광 비임으로부터 적어도 2개 이상의 대체로 동일한 광 비임을 발생시키는 비임 분할기 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 시스템.
  4. 제1항에 있어서,상기 모니터 수단이 상기 전방 산란 패턴내에 정확하게 위치 설정된 적어도 2개 이상의 광검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 상기 코팅된 섬유에 적어도 2개 이상의 직교 정렬 광 비임이 조사되는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 시스템.
  6. 제1항에 있어서, 상기 코팅된 섬유에 조사된 광이 상기 코팅된 섬유의 외부 지름보다 더 넓은 비임폭을 갖는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 시스템.
  7. 용인될 수 있는 질을 가진 코팅층에 광이 비추어질 때 광의 전방 경로 및 강도를 나타내는 예상 전방 산란 패턴을 발생시키기 위해 코팅된 섬유에 광을 조사하는 (illuminating) 단계와, 그리고 코팅층내에 결함이 존재함을 표시하는 광 감소에 있어서 상기 전방 산란 패턴내의 강도 레벨을 모니터하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 코팅된 섬유에 적어도 2개 이상의 직교 정렬 광 비임이 조사되는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 방법.
  9. 제7항에 있어서, 상기 코팅된 섬유에 조사된 광이 상기 코팅된 섬유의 지름보다 더 넓은 비임폭을 갖는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 방법.
  10. 제7항에 있어서, 상기 전방 산란 패턴의 강도 레벨이 상기 전방 산란 패턴내에 정확하게 위치 설정된 적어도 2개 이상의 광다이오우드에 의해 모니터되는 것을 특징으로 하는 코팅층내 결함 검출 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930000402A 1992-01-27 1993-01-14 인-패턴 온-라인 코팅 결함 검출 시스템 KR930016358A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US82635092A 1992-01-27 1992-01-27
US826,350 1992-01-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR930016358A true KR930016358A (ko) 1993-08-26

Family

ID=25246314

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930000402A KR930016358A (ko) 1992-01-27 1993-01-14 인-패턴 온-라인 코팅 결함 검출 시스템

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0553987A1 (ko)
JP (1) JPH07119711B2 (ko)
KR (1) KR930016358A (ko)
CN (1) CN1077534A (ko)
CA (1) CA2084819A1 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1037027C (zh) * 1995-10-24 1998-01-14 南京航空航天大学 用于复合材料损伤探测的二维光显示方法及装置
US6927849B2 (en) 2002-10-23 2005-08-09 Furukawa Electric North America, Inc. Optical fiber coating defect detector
US7574074B1 (en) * 2008-08-18 2009-08-11 An-Bin Huang Method for detecting cracks in carbon fiber bicycle frame using embedded optical fiber
CN104897366B (zh) * 2015-06-12 2017-07-28 长飞光纤光缆股份有限公司 一种色环光纤在线检测方法及装置、系统
WO2019166436A1 (en) * 2018-02-28 2019-09-06 Bekaert Advanced Cords Aalter Nv Apparatus for detecting coating on wire and a method to use such apparatus

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH452229A (de) * 1965-06-18 1968-05-31 Siemens Ag Kabelprüfverfahren
JPS54130487U (ko) * 1978-03-02 1979-09-10
GB2052735B (en) * 1979-05-21 1983-03-23 United Glass Ltd Apparatus for detecting the presence of surface irregularities in articles made of translucent material
GB2178163A (en) * 1985-07-27 1987-02-04 Stc Plc Detecting flaws in optical fibres
JPH02150554A (ja) * 1988-11-30 1990-06-08 Suzuki Motor Co Ltd 連続可変変速機のクリープ制御装置
JPH0781963B2 (ja) * 1989-11-10 1995-09-06 松下電器産業株式会社 細線の微細欠陥検出装置
JPH04106448A (ja) * 1990-08-28 1992-04-08 Fujikura Ltd 光フアイバの異常検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07119711B2 (ja) 1995-12-20
JPH0682393A (ja) 1994-03-22
EP0553987A1 (en) 1993-08-04
CA2084819A1 (en) 1993-07-28
CN1077534A (zh) 1993-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE59908245D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Objektuntersuchung
DE69219767T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur überwachung der glukosekonzentration
KR950014852A (ko) 광 산란에 기초한 실시간 웨이퍼 온도 측정용 장치, 시스템 및 방법
KR870700244A (ko) 레이저 웨이퍼 측정시스템
DE59905157D1 (de) Laseranordnung, vorzugsweise Laserbearbeitungsmaschine
DE69531805D1 (de) Inspektion einer Kontaktlinse mit einer Beleuchtung mit Doppelfokus
ATE71322T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur materialbearbeitung mit hilfe eines lasers.
DE69902155D1 (de) Anordnung und verfahren zum anwenden von diffusionswellenspektroskopie zur messung der eigenschaften von mehrphasigen systemen und änderungen darin
WO1998052025A1 (fr) Procede et instrument de controle de surface
KR930016358A (ko) 인-패턴 온-라인 코팅 결함 검출 시스템
EP1225420A3 (en) Laser-based interferometric measuring apparatus and method
ATE200578T1 (de) Streulichtintensitätsdetektor für von filmen in kolloidalen medien gestreutes licht
WO2002014846A3 (en) Multiple beam inspection apparatus and method
KR930018270A (ko) 코팅층내의 결점 검출 시스템 및 그 방법
KR910012325A (ko) 레이저 스퍼터링장치
ATE144043T1 (de) Elektrooptisches messgerät
EP0291708A3 (en) Apparatus for measuring the velocity of light scattering moving particles
US6927849B2 (en) Optical fiber coating defect detector
JP4709430B2 (ja) 濃度測定装置
KR910010179A (ko) 가는선의 미세결함 검출장치
ES2072364T3 (es) Dispositivo para la medicion simultanea de las posiciones y de los diametros de los filamentos de un haz de filamentos.
ATE153771T1 (de) Vorrichtung zum messen der axialen geschwindigkeit
JPH03249650A (ja) マスク検査装置
JPS55136941A (en) Discrimination apparatus for fluid property
JPS5745230A (en) Inspecting device for photomask dry plate

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid