KR930006729A - 반도체 메모리의 판독회로 - Google Patents

반도체 메모리의 판독회로 Download PDF

Info

Publication number
KR930006729A
KR930006729A KR1019920017872A KR920017872A KR930006729A KR 930006729 A KR930006729 A KR 930006729A KR 1019920017872 A KR1019920017872 A KR 1019920017872A KR 920017872 A KR920017872 A KR 920017872A KR 930006729 A KR930006729 A KR 930006729A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
switches
bit line
power supply
supply voltage
controlled
Prior art date
Application number
KR1019920017872A
Other languages
English (en)
Other versions
KR950014908B1 (ko
Inventor
히로유키 야마우치
Original Assignee
다니이 아끼오
마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 다니이 아끼오, 마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤 filed Critical 다니이 아끼오
Publication of KR930006729A publication Critical patent/KR930006729A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950014908B1 publication Critical patent/KR950014908B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

본 발명은, 대규모용량화와 고속화를 도모하면서 그 동작의 안정화를 도모한 SRAM, DRAM 등의 반도체 메로리를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 비트선(3)과 차동 증폭기(4)의 입력단자와의 접속을 어드레스전이 검출신호 LTD에 의해서 제어하고, 어드레스전 이후에 비트선(3)을 펄스적으로 이퀄라이즈 할때에는, 비트선(3)과 차동증폭기(4)의 입력단자를 이퀼라이즈기간 보다 약간 길게, 펄스적으로 접속하고, 상기 비트선(3)을 클램프할때에는 비트선(3)과 차동증폭기(4)의 입력단자를 분리함으로써, 고속으로 안정적인 판독을 행할 수 있다.
본 발명의 회로에서는, 비트선과 다음단의 앰프의 입력단자가, 클램프가 개시될때에는 분리되기 때문에 다음단의 앰프의 입력단자의 전위차가 감소하는 일이 없으므로 다음단의 앰프가 안정적으로 동작한다.

Description

반도체 메모리의 판독회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 있어서의 판독회로의 회로도,
제2도는 동 실시예에 있어서의 판독회로의 동작 설명도.

Claims (6)

  1. 비트선을 제1전원전압으로 프리차지하는 동작을 개시함과 거의 동시에, 상기 비트선의 클램프를 해제하고, 또 상기 비트선과 차동증폭기의 입력을 접속하는 반도체 메로리의 판독회로로서 상기 제1전원전압과 비트선쌍을 각각 접속하는 제1, 제2 스위치와 상기 비트선상을 단락하는 제3스위치와 상기 비트선쌍을 각각 상기 제1전원전압과 접속하는 제4, 제5스위치와, 상기 비트선쌍을 각각 상기 차동증폭기의 입력에 접속하는 제6, 제7스위치를 가지고, 상기 제1, 제2, 제3스위치는 제1제어선에 의해서 제어되고, 상기 제4, 제5 스위치는 제2제어선에 의해서 제어되고, 상기 제6, 제7스위치는 제3제어선에 의해서 제어되고, 상기 제1제어선은, 제1펄스폭의 기간에 있어서, 상기 제1, 제2, 제3스위치를 ON으로하고, 상기 제3제어선은 상기 제6,제7스위치를 상기 제1, 제2, 제3스위치와 거의 동시에 ON으로하고, 일정기간후 OFF로 하고, 상기 제2제어선은 상기 제4, 제5스위치가, 상기 제6, 제7스위치가 OFF하고 있는 기간과 거의 같은 기간 ON으로하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리의 판독회로.
  2. 제1항에 있어서, 제6, 제7스위치의 OFF 타이밍을 제1, 제2, 제3스위치보다 수 ns지연되어 OFF 하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리의 판독회로.
  3. 제 1항에 있어서, 제4제어선에 의해서 제어되는 플립플롭형 제2앰프를 상기 차동증폭기의 입력에 접속하고, 상기 제4제어선은 상기 제6, 제7스위치가 OFF하고 있는 기간, 상기 제2앰프를 ON으로 하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리의 판독회로.
  4. 제1항에 있어서, 제1전원전압과 비트선쌍을 각각 제1, 제2스위치에 의해서 접속하고, 또 상기 비트선쌍을 제3, 제8스위치에 의해서 단락하고, 상기 비트선쌍을 각각 제4 제5스위치에 의해서 상기 제1전원전압과 접속하고, 상기 제1,제2, 제3스위치는 제1제어선에 의해서 제어되고, 상기 제4,제5, 제8스위치는, 제2제어선에 의해서 제어되는 것을 특징으로 하느 반도체 메로리의 판독회로.
  5. 제1항에 있어서, 상기 비트선쌍을 제3, 제8스위치에 의해서 단락하고 상기 비트선쌍을 각각 제4, 제5스위치에 의해서 상기 제1전원전압과 접속하고, 상기 제3스위치는 제1제어선에 의해서 제어되고, 상기 제4, 제5, 제8스위치는 제2제어신에 의해서 제어되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리의 판독회로.
  6. 제1항에 있어서, 제2전원전압과 비트선쌍을 각각 제1,제2스위치에 의해서 접속하고, 또 상기 비트선쌍을 제3스위치에 의해서 단락하고, 상기 비트선쌍을 각각 제4, 제5스위치에 의해서 상기 제2전원전압보다 낮은 제3전원전압과 접속한 것을 특징으로 하는 반도체 메모리의 판독 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920017872A 1991-09-30 1992-09-30 반도체메모리의 판독회로 KR950014908B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3250884A JP2785540B2 (ja) 1991-09-30 1991-09-30 半導体メモリの読み出し回路
JP91-250884 1991-09-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930006729A true KR930006729A (ko) 1993-04-21
KR950014908B1 KR950014908B1 (ko) 1995-12-16

Family

ID=17214455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920017872A KR950014908B1 (ko) 1991-09-30 1992-09-30 반도체메모리의 판독회로

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5268874A (ko)
JP (1) JP2785540B2 (ko)
KR (1) KR950014908B1 (ko)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5327394A (en) * 1992-02-04 1994-07-05 Micron Technology, Inc. Timing and control circuit for a static RAM responsive to an address transition pulse
JP2667946B2 (ja) * 1992-09-21 1997-10-27 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
JP2687852B2 (ja) * 1993-10-13 1997-12-08 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
JP3169788B2 (ja) * 1995-02-17 2001-05-28 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US5610573A (en) * 1995-09-13 1997-03-11 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for detecting assertion of multiple signals
KR0177763B1 (ko) * 1995-11-13 1999-04-15 김광호 비트라인 프리차아지회로
US5689200A (en) * 1996-07-17 1997-11-18 Etron Technology, Inc. High speed glitch-free transition detection circuit with disable control
KR100206928B1 (ko) * 1996-07-26 1999-07-01 구본준 반도체 메모리의 데이타라인 등화 제어회로
JP3449676B2 (ja) * 1996-10-03 2003-09-22 シャープ株式会社 半導体記憶装置のビット線プリチャージ回路
JP2001155485A (ja) 1999-11-29 2001-06-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US7672174B2 (en) * 2005-09-29 2010-03-02 Hynix Semiconductor, Inc. Equalizing circuit for semiconductor memory device
KR100699875B1 (ko) * 2005-11-08 2007-03-28 삼성전자주식회사 센스앰프 구조를 개선한 반도체 메모리 장치
WO2011125455A1 (en) 2010-04-09 2011-10-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor memory device
GB2525904B (en) * 2014-05-08 2018-05-09 Surecore Ltd Memory unit

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6051196B2 (ja) * 1981-09-01 1985-11-12 富士通株式会社 半導体メモリ回路
US4730279A (en) * 1985-03-30 1988-03-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Static semiconductor memory device
US4926384A (en) * 1988-01-25 1990-05-15 Visic, Incorporated Static ram with write recovery in selected portion of memory array
JP2761515B2 (ja) * 1989-03-08 1998-06-04 株式会社日立製作所 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0589685A (ja) 1993-04-09
US5268874A (en) 1993-12-07
KR950014908B1 (ko) 1995-12-16
JP2785540B2 (ja) 1998-08-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930008578B1 (ko) 반도체기억장치의 데이터독출회로
US4388705A (en) Semiconductor memory circuit
KR930006729A (ko) 반도체 메모리의 판독회로
US5146427A (en) High speed semiconductor memory having a direct-bypass signal path
EP0301277A2 (en) Bit-line isolated, CMOS sense amplifier
KR900004635B1 (ko) 반도체 메모리장치의 충전 및 등화회로
KR920013447A (ko) 기록 주기동안 데이터의 변화에 따라 등화하는 열을 가지는 반도체메모리
EP0166540B1 (en) A semiconductor memory device
JPS633394B2 (ko)
US5003542A (en) Semiconductor memory device having error correcting circuit and method for correcting error
KR960008842A (ko) 메모리 회로에서 기록 사이클 다음의 상보형 데이타 라인의 고속 전압 평형 회로
EP0085436B1 (en) Buffer circuits
KR940003408B1 (ko) 어드레스 천이 검출회로(atd)를 내장한 반도체 메모리 장치
US4480321A (en) Semiconductor memory device
KR0161881B1 (ko) 메모리의 데이타 읽기회로
KR0167590B1 (ko) 반도체 기억장치
US4563599A (en) Circuit for address transition detection
US6674308B2 (en) Low power wired OR
EP0329177A2 (en) Semiconductor memory device which can suppress operation error due to power supply noise
US4864540A (en) Bipolar ram having no write recovery time
US4214175A (en) High-performance address buffer for random-access memory
KR920022306A (ko) 메모리장치의 입출력 라인프리차아지 방법
KR940016234A (ko) 데이타 전송회로
JPH07254282A (ja) 並列出力データ経路を有する同期メモリ
US4584493A (en) Self referenced sense amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20011205

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee