KR930001901B1 - 박막 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
제1도는 본 발명에 의한 박막트랜지스터의 구성을 나타낸 단면도.
제2도는 종래에 의한 박막트랜지스터의 구성을 나타낸 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 유리기판 2 : 게이트 전극
3 : 게이트 절연층 4 : 비정질 반도체층
5 : n+ 오믹층 6 : 소오스 전극
7 : 드레인 전극 8 : 화소 전극
본 발명은 박막트랜지스터에 관한 것으로, 특히 n+ 오믹층이 없는 박막트랜지스터에 관한 것이다.
일반적으로 활성매트릭스 액정표시소자 장치의 소자로서 저전압, 저소비전력, 경량, 박형 및 고화질을 실현할 수 있다는 장점때문에 이용되고 있고 박막트랜지스터는 제2도에 도시된 바와같이 유리기판(1) 상에 게이트 전극(2)이 형성되어 있으며, 그 위에 게이트 절연층(3), 비정질 반도체층(4), n+오믹층(5)이 차례로 적층구조로 형성되고, 소오스 전극(6)과 드레인 전극(7)이 상기한 n+ 오믹층(5)을 개재하여 비정질 반도체층(4)에 접촉되어 있는 동시에 그의 하면에서는 상기한 게이트 절연층(3)이 접촉되어 있고, 투명도전막인 화소 전극(8)이 드레인 전극(7)의 단부에 접촉된 상태로 게이트 절연층(3)상에 형성되어 있다.
상기와 같이 형성된 박막트랜지스터의 제조공정을 설명한다.
유리기판(1)상에 ITO(Indium Tin Oxide)를 코팅(Coating) 한다음 소정의 마스크를 이용하여 게이트 전극(2)를 형성하고, 이 게이트 전극(2)위에 화학반응 기상정치(PECVD)를 이용하여 게이트 절연층(3)을 3000Å의 두께로 증착하며, 상기 게이트 절연층(3)을 에칭하여 다시 화학반응 기상장치(PECVD)를 이용하여 1500Å의 두께로 비정질 반도체층(4)과 n+오믹층(5)을 순차적으로 증착한 다음 투명전도막인 화소 전극(8)을 게이트 절연층(3)위에 증착한다. 이어서 스퍼터(Sputter) 장치를 이용하여 4000Å 정도의 두께로 증착하여 소오스 전극(6)과 드레인 전극(7)을 형성한다.
그러나, 상기와 같이 형성된 박막트랜지스터에서는 비정질 반도체층과 소오스/드레인 전극과의 오믹 접촉(Ohmic Contact)이 저하되고, 컷 오프 전류가 크며, 또한 채널 윗 부분에 남아있는 n+오믹층의 전재를 에칭(Etching)으로 제거하는데 어려움이 있고, 오염에 의한 박막트랜지스터의 파손이 발생하는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 바와같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 스퍼터 장치를 이용하여 소오스 전극과 드레인 전극을 형성할 때 소정의 PH3 및 Ar 가스를 일정 비율로 혼합한 분위기에서 일정시간 동안 금속에 혼합하여 형성함으로써 n+오믹층의 역활을 동시에 수행할 수 있는 박막트랜지스터를 제공하는데 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 기판, 게이트 전극, 게이트 절연층, 비정질 반도체층, n+ 오믹층, 소오스 전극, 드레인 전극 및 화소 전극을 구비하여 구성된 박막트랜지스터에 있어서, 상기 n+오믹층을 제거하고, 소오스/드레인 전극 형성시 n+ 오믹층의 역할을 동시에 수행하도록 구성됨을 특징으로 하는 박막트랜지스터를 제공한다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제1도는 본 발명에 의한 박막트랜지스터의 구성을 나타낸 단면도로써, 유리기판(1)상에 ITO(Indium Tin Oxide)를 코팅(Coating)한 다음 소정의 마스크를 이용하여 게이트 전극(2)을 형성하고, 이 게이트 전극(2) 위에 화학반응 기상장치(PECVD)를 이용하여 게이트 절연층(3)을 3000Å의 두께로 증착하며, 상기 게이트 절연층(3)을 에칭하여 다시 화학반응 기상장치(PECVD)를 이용하여 1500Å의 두께로 비정질 반도체층(4)을 증착하고, 투명도전막인 화소전극(8)을 게이트 절연층(3)위에 증착한다. 이어서 스퍼터(Sputter)장치에서 Ar 99%와 pH3 1%를 혼합한(Mixing Chamber) 가스를 상기와 같이 형성된 비정질 반도체(4)위에 일정시간 동안 증착(Deposition)하여 500Å-1000Å 정도의 두께로 유지한 후 Al, Cr, Mo, Ti 등 금속타켓을 사용하여 Ar 분위기에서 금속막을 일정시간 증착한다. 이때 증착되는 두께는 3000Å-5000Å으로 하여 전체 두께가 3500Å-6000Å가 되게 한다. 이와같이 증착하여 소오스 전극(6)과 드레인 전극(7)을 형성함으로써 n+ 오믹층(5)이 없어도 n+ 오믹층(5)의 효과를 얻을 수 있다.
상기와 같이 본 발명에 의하면, 동일 스퍼터(Sputter)장치에서 n+ 오믹층 및 소오스/드레인 전극을 동시에 형성함을 특징으로 하는 박막트랜지스터 소자로, 비정질 반도체층과 소오스 전극 및 드레인 전극과의 오믹 접촉 향상과 컷 오프 전류를 크게 감소(10-12A 이하)시켰고, 오염에 의해 박막트랜지스터가 파손되는 것을 방지하여 생산성을 증가시키는 효과가 있다.
Claims (1)
- 소오스/드레인 전극(6, 7)은 Ar 99%와 PH3 1%를 혼합하여 500Å-1000Å의 두께로 증착하고, 금속타켓을 사용하여 Ar 분위기 속에서 금속막을 일정시간 동안 3000Å-5000Å의 두께로 증착하여 형성됨을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조방법.
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