KR930001401B1 - 감지 증폭기 - Google Patents

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아오이 죠이치
도시바마이콤엔지니어링 가부시키가이샤
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Abstract

내용 없음.

Description

감지 증폭기
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 감지증폭기를 나타낸 회로도.
제2도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 감지증폭기를 나타낸 회로도.
제3도는 종래의 감지증폭기를 나타낸 회로도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1, 5 : EPROM셀 2, 6, 10 : N챈널 MOS트랜지스터
3, 7∼9 : P챈널 MOS트랜지스터 4 , 11 : 인버터
OUT : 출력
[산업상의 이용분야]
본 발명은 전압검출을 행하는 감지증폭기(Sense Amplifier)에 관한 것으로, 특히 EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)이라든지 EPROM을 내장한 논리용 MOS(Metal Oxide Semiconductor)집적회로에 사용되는 감지증폭기에 관한 것이다.
[종래의 기술 및 그 문제점]
제3도는 종래의 감지증폭기를 나타낸 회로도인데, 이 제3도를 참조하여 피검출신호원으로서 EPROM셀을 이용한 경우에 대해 설명한다. 즉, 피검출신호원인 EPROM셀(1)의 소오스가 접지에 접속됨과 더불어 그 드레인이 N챈널 MOS트랜지스터(2)의 소오스에 접속되고, 이 N챈널 MOS트랜지스터(2)의 드레인이 P챈널 MOS트랜지스터(3)의 드레인과 CMOS 2단인버터(4)의 입력에 접속되어 있다. 그리고, 상기 P챈널 MOS트랜지스터(3)의 소오스와 게이트에는 각각 VDD전원과 접지전위가 공급되고, 또 N챈널 MOS트랜지스터(2)의 게이트에는 이 트랜지스터가 온상태를 유지하도록 소정의 전압(Via)이 공급되고 있다.
상기와 같이 구성된 종래 감지증폭기의 동작원리를 설명하면 다음과 같은데, 이 감지증폭기의 동작에는 피검출신호원으로서의 EPROM셀(1)이 온상태일 때와 오프상태일 때의 2가지 경우가 있다.
먼저, EPROM셀(1)이 온상태일 때에는 EPROM셀(1)과 N챈널 MOS트랜지스터(2) 및 P챈널 MOS트랜지스터(3)가 동시에 도통상태이므로, VDD전원으로부터 P챈널 MOS트랜지스터(3)와 N챈널 MOS트랜지스터(2) 및 EPROM셀(1)을 매개해서 접지로 전류가 흐르게 된다. 이때, P챈널 MOS트랜지스터(3)의 온저항이 EPROM셀(1)과 N챈널 MOS트랜지스터(2)의 온저항의 합보다도 충분히 크게 설정되어 있기 때문에, 이 P챈널 MOS트랜지스터(3)에서의 전압강하가 커지게 되어 P챈널 MOS트랜지스터(3)의 드레인(A점) 전위는 거의 OV에 근사한 값으로 되게 된다. 이렇게 A점이 약 OV로 되기 때문에, 2단인버터(4)를 매개해서 출력(OUT)은 OV로 되게 된다.
한편, EPROM셀(1)이 오프상태일 때에는 N챈널 MOS트랜지스터(2)와 P챈널 MOS트랜지스터(3)가 도통상태이므로, 상기 P챈널 MOS트랜지스터(3)에 의해 A점은 전원전위(VDD)로 풀업(pull up)되게 된다. 이렇게 A점이 VDD전원으로 되므로, 2단인버터(4)를 매개해서 출력(OUT)은 VDD전원으로 되게 된다.
여기서, N챈널 MOS트랜지스터(2)는 전압제어용 트랜지스터로서, EPROM셀의 기록시에 고전압이 감지증폭기에 전달되지 않도록 하기 위한 것이다.
상기와 같은 종래의 기술에서 결점으로 되어 있는 것은 감지증폭기의 동작속도가 느리다는 것이다. 즉, 문제로 되고 있는 것은 EPROM셀(1)이 오프상태로 될 때에 P챈널 MOS트랜지스터(3)의 드레인(A점) 전위가 OV로부터 VDD전원으로 상승하는데 시간이 많이 걸린다는 점이다. 그 이유는 A점에 연결되는 회로용량을 충전시키는 충전속도가 느리기 때문인데, 이는 P챈널 MOS트랜지스터(3)의 온저항이 크게 되어 있기 때문인 것이다. 이를 개선하기 위해서는 P챈널 MOS트랜지스터(3)의 온저항을 작게 하면 좋지만, 이온저항의 값을 EPROM셀(1)과 N챈널 MOS트랜지스터(2)의 온저항의 합보다 작게 하면, EPROM셀(1)이온상태로 되었을 때 P챈널 MOS트랜지스터(3)에서의 전압강하가 작아져 A점의 전위가 VDD/2보다 높아지게 된다. 그러므로, 이 전위와 VDD전원사이에서 다음단 인버터(4)의 회로 임계치를 설정하는 것은, 실제 트랜지스터 특성의 오차를 고려하면 대단히 곤란하게 된다. 따라서, P챈널 MOS트랜지스터(3)의 온저항을 크게 설정할 필요가 있으므로, 감지증폭기의 동작속도가 느려지게 된다는 결점이 있었다.
상기한 바와같이 종래의 감지증폭기는 동작속도가 느려 고속동작을 필요로 하는 회로에 응용하는 것이 부적당했다. 이 때문에, 종래의 감지증폭기를 응용한 회로는 보다 높은 고주파수영역에서든지 보다 많은 정보량을 사용할 수가 없으므로, 경제성과 신뢰성 및 성능면에서도 커다란 결점을 갖고 있었다.
[발명의 목적]
이에 본 발명은 상기와 같은 결점을 해소하기 위해 발명된 것으로, 동작속도를 고속화할 수 있도록 된 감지증폭기를 제공하고자 함에 그 목적이 있다.
[발명의 구성]
상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명의 감지증폭기는, 한쪽단자가 접지전위에 접속된 피검출신호원과; 도전경로의 한쪽 단자가 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되며, 게이트가 접지전위에 접속된 제1도전형 제1MOS트랜지스터; 도전경로의 한쪽 단자 및 게이트가 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되어, 상기 피검출신호원이 온상태로부터 오프상태로 변화한 때에 상기 전원전위와 자체의 임계치 전압의 차(差)전위까지 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자를 충전시키는 제1도전형 제2MOS트랜지스터; 게이트가 접지전위에 접속되고, 온저항이 일정한 제1도전형 제3MOS트랜지스터; 상기 제3MOS트랜지스터와 직렬로 접속되고, 게이트가 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자에 접속되어, 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자의 전위에 따라 온저항이 변화하는 제2도전형 제4MOS트랜지스터 및; 입력단자가 상기 제3MOS트랜지스터와 상기 제4MOS트랜지스터의 직렬접속점에 접속되어, 출력단자로부터 상기 피검출신호원의 상태에 대응하는 신호를 출력하는 인버터회로를 갖추고 있는 것을 특징으로 한다.
또 본 발명의 다른 감지증폭기는, 한쪽 단자가 접지전위에 접속된 피검출신호원과; 도전경로의 한쪽 단자가 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되며, 게이트가 접지전위에 접속된 제1도전형 제1MOS트랜지스터; 도전경로의 한쪽단자 및 게이트가 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되어, 상기 피검출신호원이 온상태로부터 오프상태로 변화한 때에 상기 전원전위와 자체의 임계치 전압의 차전위까지 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자를 충전시키는 제1도전형 제2MOS트랜지스터; 게이트가 전원전위에 접속되고, 온저항이 일정한 제2도전형 제3MOS트랜지스터; 상기 제3MOS트랜지스터와 직렬로 접속되고, 게이트가 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자에 접속되어, 상기 피검출신호원의 다른쪽 단자의 전위에 따라 온저항이 변화하는 제1도전형 제4MOS트랜지스터 및; 입력단자가 상기 제3MOS트랜지스터와 상기 제4MOS트랜지스터의 직렬접속점에 접속되어, 출력단자로부터 상기 피검출신호원의 상태에 대응하는 신호를 출력하는 인버터회로를 갖추고 있는 것을 특징으로 한다.
[작용]
상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 감지증폭기의 특징은, 감지증폭기에 있어서 피검출신호원으로부터의 신호선에 접속되어 게이트와 드레인이 동일한 전위로 되는 P챈널 MOS트랜지스터와, 게이트에 소정의 전압이 공급되는 P챈널 MOS트랜지스터를 병렬로 접속시키고, 또 비례(ratio)회로를 구성하는 CMOS트랜지스터중 P챈널 MOS트랜지스터의 게이트 또는 N챈널 MOS트랜지스터의 게이트중 어느 한쪽에 상기 피검출 신호원으로부터의 신호선을 접속시킨 점이다.
이와 같이 본 발명의 감지증폭기를 구성함으로써 감지증폭기의 동작속도를 고속화할 수 있으므로, 고속동작을 필요로 하는 회로에 본 발명의 감지증폭기를 응용할 수 있게 된다.
[실시예]
이하, 예시 도면을 참조하여 본 발명의 각 실시예를 상세히 설명한다.
제1도 및 제2도는 본 발명에 따른 감지증폭기의 실시예를 나타낸 것으로서, 이들 모두 피검출신호원으로서 EPROM셀(5)을 이용하고 있는 경우의 회로도이다.
먼저, 제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 감지증폭기를 나타낸 회로도로서, 피검출신호원인 EPROM셀(5)의 소오스가 접지에 접속됨과 더불어 드레인이 N챈널 MOS트랜지스터(6)의 소오스에 접속되고, 이 N챈널 MOS트랜지스터(6)의 드레인이 P챈널 MOS트랜지스터(7)의 게이트 및 드레인과, P챈널 MOS트랜지스터(8)의 드레인 및, 비례회로를 구성하는 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 게이트에 각각 접속되어 있다. 그리고, 비례회로를 구성하는 P챈널 MOS트랜지스터(9)의 드레인과 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 드레인이 서로 접속됨과 더불어 다음단의 인버터(11)에도 접속되어 있다. 또, P챈널 MOS트랜지스터(7∼9)의 소오스에 VDD전원이 공급되고, P챈널 MOS트랜지스터(8, 9)의 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 소오스에 OV가 공급되며, N챈널 MOS트랜지스터(6)의 게이트에 이 트랜지스터가 온상태를 유지하도록 소정의 전압(Via)이 공급되고 있다.
이어서, 제1도에 도시된 감지증폭기의 동작원리에 대해 설명한다. 이 감지증폭기의 동작에는 피검출신호원으로서의 EPROM셀(5)이 온상태일때와 오프상태일 때의 2가지 경우가 있다.
먼저, EPROM셀(5)이 온상태일 때에는 EPROM셀(5)과 N챈널 MOS트랜지스터(6) 및 P챈널 MOS트랜지스터(8)가 함께 도통상태이므로, 전류가 VDD전원으로부터 이들 소자(8, 6, 5)를 매개해서 접지로 흐르게 된다. 이때, B점의 전위는 VDD전원이었던 것이 EPROM셀(5)이 온상태로 됨에 따라 전위가 내려가기 시작한다. 이렇게 해서 B점의 전위가 VDD-|Vthp|(여기서, Vthp는 P챈널 MOS트랜지스터의 임계치 전압) 이하로 되면, P챈널 MOS트랜지스터(7)가 도통상태로 되기 때문에 P챈널 MOS트랜지스터(7)의 소오스의 VDD전위로부터도 전류가 흐르기 시작한다. 따라서, B점의 전압은 P챈널 MOS트랜지스터(7)와 P챈널 MOS트랜지스터(8)의 병렬 온저항과, N챈널 MOS트랜지스터(6)의 온저항 및, EPROM셀(5)의 온저항에 의해 분할되는 전압(VON)으로 되게 된다.
한편, EPROM셀(5)이 오프상태로 되면, B점에 연결되는 회로용량이 P챈널 MOS트랜지스터(7, 8)에 의해 VON전압으로부터 VDD전압까지 충전되게 된다. 이때의 충전동작에 있어서, 종래의 감지증폭기에서는 온저항이 높은 P챈널 MOS트랜지스터(3)만을 매개해서 충전되기 때문에 충전속도가 느렸지만, 제1도에 도시된 감지증폭기에서는 P챈널 MOS트랜지스터(7)의 온저항이 대단히 작기 때문에 B점이 VDD-|Vthp|까지 종래의 감지증폭기보다 현저히 빠르게 충전되게 된다. 그리고, B점의 전위가 VDD-|Vthp|의 값 이상이 되면, P챈널 MOS트랜지스터(7)가 비도통상태로 되므로, VDD-|Vthp|로부터 VDD까지의 충전은 P챈널 MOS트랜지스터(8)만을 매개해서 이루어지게 된다.
다음으로, P챈널 MOS트랜지스터(9)와 N챈널 MOS트랜지스터(10)로 구성되는 비례회로의 동작에 대해 설명한다.
즉, P챈널 MOS트랜지스터(9)는 그 게이트에 OV가 공급되기 때문에 항상 도통상태에 있고, 또 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 게이트에 VDD전원 또는 VON전압이 공급되므로 이 N챈널 MOS트랜지스터(10)도 항상 도통상태에 있게 된다. 그러나, 게이트에 걸리는 전압이 변화되므로 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 온저항이 변화되고, 이 온저항의 변화에 따라 비례회로의 출력부(C점) 전위가 변화되게 되는데, 이 C점에 걸리는 전압은 다음단의 인버터(11)를 동작시키기 위해 인버터(11)의 임계치 전압(Vth)을 경계로 해서 높거나 낮은 전압으로 되어야만 한다. 이 때문에, N챈널 MOS트랜지스터(10)의 온저항의 변화에 따른 P챈널 MOS트랜지스터(9)와 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 온저항비에 의해 C점에 걸리는 전압을 조정하게 된다. 즉, B점의 전위가 VDD전원으로 되어 있으면 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 온저항이 작아지게 되어, P챈널 MOS트랜지스터(9)와의 온저항비에 의해 C점에 걸리는 전압은 인버터(11)의 임계치 전압(Vth)보다 작은 값으로 된다. 또, B점의 전위가 VON전압으로 되어 있으며 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 온저항이 커지게 되어, P챈널 MOS트랜지스터(9)와의 온저항비에 의해 C점에 걸리는 전압은 인버터(11)의 임계치 전압(Vth)보다 큰 값으로 된다. 이상과 같이 C점의 전압이 인버터(11)의 임계치 전압(Vth)을 경계로 해서 높아지거나 낮아지게 되므로, 인버터(11)가 정상적으로 동작하게 되어 출력(OUT)의 전위가 VDD나 OV로 되게 된다.
제2도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 감지증폭기를 나타낸 것으로, 이 제2도에 도시된 감지증폭기의 회로가 제1도에 도시된 감지증폭기의 회로와 다른 점은 비례회로부분만이기 때문에 이 부분의 회로구성만 설명하기로 한다.
제1도에 도시된 감지증폭기의 회로에서는 N챈널 MOS트랜지스터(6)의 드레인을 비례회로의 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 게이트에 접속시켰지만, 제2도에 도시된 감지증폭기의 회로는 상기 N챈널 MOS트랜지스터(6)의 드레인을 P챈널 MOS트랜지스터(9)의 게이트에 접속시키고, N챈널 MOS트랜지스터(10)의 게이트에 VDD전원을 공급한 것이다. 그리고, P챈널 MOS트랜지스터(9)의 드레인과 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 드레인을 서로 접속시킴과 더불어 다음단의 인버터(11)에도 접속시킨다.
다음에는 제2도에 도시된 감지증폭기의 동작에 대해 설명한다.
D점까지의 동작이 제1도에 도시된 감지증폭기의 회로동작에서 설명한 B점까지의 동작과 동일하므로, D점에 걸리는 전압은 VDD전원이나 VON전압으로 되는 바, 이 2가지의 전위가 P챈널 MOS트랜지스터(9)의 게이트에 입력되게 된다. N챈널 MOS트랜지스터(10)는 게이트에 VDD전원이 공급되고 있으므로 항상 도통상태로 되어 있는데, 게이트에 VDD전원이 입력되면 P챈널 MOS트랜지스터(9)가 비도통상태로 되어 E점에 걸리는 전압이 OV로 되므로, 인버터(11)를 매개해서 출력(OUT)은 VDD로 되게 된다. 또, P챈널 MOS트랜지스터(9)의 게이트에 VON전압이 입력되면 P챈널 MOS트랜지스터(9)가 도통상태로 되어, P챈널 MOS트랜지스터(9)와 N챈널 MOS트랜지스터(10)의 온저항비에 의해 E점이 다음단 인버터(11)의 임계치 전압(Vth)보다 높은 전위로 되므로, 인버터(11)를 매개해서 출력(OUT)은 OV로 되게 된다. 이와 같이 비례회로를 변형시키더라도 제1도와 제2도에 도시된 감지증폭기의 회로는 완전히 동일하게 동작하게 된다.
이상과 같이 게이트와 드레인을 동일한 전위로 설정해 놓은 P챈널 MOS트랜지스터(7)를 감지증폭기의 회로에 부가시킴으로써, 특히 EPROM셀이 오프상태로 될 때에 감지증폭기의 동작속도를 현저히 빠르게 할 수 있게 된다.
여기서, N챈널 MOS트랜지스터(6)는 전압제어용 트랜지스터로서, EPROM셀의 기록시에 고전압이 감지증폭기에 전달되지 않도록 하기 위한 것이다.
한편, 본 발명의 특허청구의 범위에 기재된 각 구성요소에 병기한 도면에 대응하는 참조부호는, 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위한 것일 뿐, 본 발명의 기술적 범위를 도면에 나타낸 실시예에 한정하는 의도로 병기한 것은 아니다.
[발명의 효과]
이상 설명한 바와 같이, 종래의 감지증폭기는 동작속도가 느리기 때문에 그 응용이 경제성과 신뢰성 및 성능면에서 커다른 제한을 받게 된다는 결점을 갖고 있었지만, 본 발명의 감지증폭기는 동작속도가 빠르기 때문에 본 발명의 감지증폭기를 사용한 회로는 보다 높은 고주파수영역의 신호르 사용할 수 있고 보다 많은 정보량을 취급할 수 있게 되어, 경제성과 신뢰성 및 성능면에서 커다란 장점을 갖게 되는 등의 여러 가지 잇점을 갖게 된다.

Claims (6)

  1. 한쪽 단자가 접지전위에 접속된 피검출신호원(5)과, 도전경로의 한쪽 단자가 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되며, 게이트가 접지전위에 접속된 제1도전형 제1MOS트랜지스터(8), 도전경로의 한쪽 단자 및 게이트가 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되어, 상기 피검출신호원이 온상태로부터 오프상태로 변화한 때에 상기 전원전위와 자체의 임계치 전압의 차전위까지 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자를 충전시키는 제1도전형 제2MOS트랜지스터(7), 게이트가 접지전위에 접속되고, 온저항이 일정한 제1도전 제3MOS트랜지스터(9), 상기 제3MOS트랜지스터(9)와 직렬로 접속되고, 게이트가 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자에 접속되어, 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자의 전위에 따라 온저항이 변화하는 제2도전형 제4MOS트랜지스터(10) 및 입력단자가 상기 제3MOS트랜지스터(9)와 상기 제4MOS트랜지스터(10)의 직렬접속점에 접속되어, 출력단자로부터 상기 피검출신호원(5)의 상태에 대응하는 신호를 출력하는 인버터회로(11)를 갖추고 있는 것을 특징으로 하는 감지증폭기.
  2. 제1항에 있어서, 상기 피검출신호원(5)이 EPROM셀인 것을 특징으로 하는 감지증폭기.
  3. 제1항에 있어서, 상기 인버터회로(11)가 CMOS인버터인 것을 특징으로 하는 감지증폭기.
  4. 한쪽 단자가 접지전위에 접속된 피검출신호원(5)과, 도전경로의 한쪽 단자가 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되며, 게이트가 접지전위에 접속된 제1도전형 제1MOS트랜지스터(8), 도전경로의 한쪽 단자 및 게이트가 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자에 접속되고, 도전경로의 다른쪽 단자가 전원전위에 접속되어, 상기 피검출신호원이 온상태로부터 오프상태로 변화한 때에 상기 전원전위와 자체의 임계치 전압의 차전위까지 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자를 충전시키는 제1도전형 제2MOS트랜지스터(7), 게이트가 전원전위에 접속되고, 온저항이 일정한 제2도전형 제3MOS트랜지스터(10), 상기 제3MOS트랜지스터(10)와 직렬로 접속되고, 게이트가 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자에 접속되어, 상기 피검출신호원(5)의 다른쪽 단자의 전위에 따라 온저항이 변화하는 제1도전형 제4MOS트랜지스터(9) 및, 입력단자가 상기 제3MOS트랜지스터(10)와 상기 제4MOS트랜지스터(9)의 직렬접속접에 접속되어, 출력단자로부터 상기 피검출신호원(5)의 상태에 대응하는 신호를 출력하는 인버터회로(11)를 갖추고 있는 것을 특징으로 하는 감지증폭기.
  5. 제4항에 있어서, 상기 피검출신호원(5)이 EPROM셀인 것을 특징으로 하는 감지증폭기.
  6. 제4항에 있어서, 상기 인버터회로(11)가 CMOS인버터인 것을 특징으로 하는 감지증폭기.
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