KR920021969A - 무접촉 온-라인 측정 방법 및 측정 장치 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

무접촉 온-라인 측정 방법 및 측정 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 측정 장치를 도시한 개략도,
제2도는 알루미늄 산화면으로부터 반사된 방사 적외선의 측정 온도와 거친 알류미늄 스트립상에서 알루미늄 산화층의 알루미늄 산화물 사이의 관계를 도시한 다이아그램.

Claims (13)

  1. 판 또는 스트립 형상재료 또는 재료층의 두께 또는 표면 구조에 대한 무접촉 온-라인 측정 방법에 있어서, 측정 지점에서 상기 재료는 측정 면적에 걸쳐 일정 온도로 유지되고, 상기 측정 면적은 경사지게 투사되는 방사 적외선에 노출되며, 재료 표면상의 측정 면적으로부터 반사된 적외선 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 방법.
  2. 제1항에 있어서, 적외선 라이에이터의 일정 온도에 대해 표면으로부터 반사된 적외선의 온도가 재료의 여러 다른 표면 구조에서 측정되고, 재료의 표면 구조에 따라 반사 적외선의 온도 변화가 결정되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 반사 적외선의 측정 온도는 설정 온도와 비교되고, 상기 비교로부터 재료 표면 처리를 제어하기 위한 신호가 얻어지는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 재료는 일정 온도로, 적합하게는 373 내지 393k 범위에서 적외선 라이에이터에 의해 측정 지점에 방사되는 것은 특징으로 자는 무접촉 온-라인 측정 방법.
  5. 제1항에 있어서, 재료 표면의 노출된 측정 면적에 방사 적외선을 경사지게 투사하는 적외선 라디에이터의 표면 온도는 측정중에 일정하게 유지되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 방법.
  6. 제1항에 있어서, 방사 적외선에 대한 반사율이 높은 비피복 표면을 갖는 재료충의 두께가 측정되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 재료는 알루미늄으로 구성되어 있고, 그 표면은 알루미늄 산화층을 지지하며, 상기 재료의 표면 상태를 결정하는 알류미늄 산화층의 두께가 측정되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정방법.
  8. 제6항에 있어서, 상기 재료는 알루미늄이고, 그 표면은 광 감지층에 의해 피복되어 있으며, 상기 광 감지층의 두께가 측정되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 재료는 플라스틱 필름으로 구성되어 있으며, 이 플라스틱 필름의 두께가 측정되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 방법.
  10. 제1항에 있어서, 측정 장치의 반사 적외선 적용 부분에 놓여 있는 재료 표면의 전체 측정 면적이 방사 적외선에 노출되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 방법,
  11. 판 또는 스트립 형상 재료 또는 재료층의 두께 또는 표면 구조에 대한 무접촉 온-라인 측정 장치에 있어서, 상기 측정 장치(1)는 적외선 라디에이터(2)와 적외선 온도계(3)를 포함하고, 상기 적외선 라디에이터의 광선 통로(10)는 측정 면걱적(4)내에 있는 재료 표면상으로 경사지게 향하는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 장치는 재료(5)가 통과하는 강철 콜(6) 상부에 위치하고, 강철 롤(6)은 가열되는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 장치.
  13. 제11항에 있어서, 층 두께 및 산화물 중량과 같은 표면 구조 또는 재료 두께에 따라 재료 표면으로부터 반사되는 적외선의 온도 변화가 저장되는 비교 장치(7)를 구비하고, 설정 온도값이 비교 장치로 공급되어 차등 신호로부터 제어 신호를 얻기 위하여 각각의 측정된 온도값과 비교되며, 비교 장치의 출력부(8)는 재료 표면처리 장치에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 무접촉 온-라인 측정 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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