KR920003064A - 케이블 피벗을 갖는 장치 테스트 시스템 - Google Patents
케이블 피벗을 갖는 장치 테스트 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR920003064A KR920003064A KR1019910012813A KR910012813A KR920003064A KR 920003064 A KR920003064 A KR 920003064A KR 1019910012813 A KR1019910012813 A KR 1019910012813A KR 910012813 A KR910012813 A KR 910012813A KR 920003064 A KR920003064 A KR 920003064A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- test head
- adapter ring
- head adapter
- test
- test system
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/20—Preparation of articles or specimens to facilitate testing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J19/00—Accessories fitted to manipulators, e.g. for monitoring, for viewing; Safety devices combined with or specially adapted for use in connection with manipulators
- B25J19/0025—Means for supplying energy to the end effector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37404—Orientation of workpiece or tool, surface sensor
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/40—Robotics, robotics mapping to robotics vision
- G05B2219/40082—Docking, align object on end effector with target
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/45—Nc applications
- G05B2219/45089—Testing robot
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Robotics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Flexible Shafts (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Bridges Or Land Bridges (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따라 구성된 장치 테스트 시스템의 지지 구성의 사시도이고, 또한 시스템의 6방향 자유도를 나타내고,
제2a도는 테스트해드 어댑터 링 지지구조와, 테스트 헤드와 링과의 사이의 결합부의 한 실시예와, 본 발명에 따라 구성된 장치 테스트 시스템의 사시도이고
제2b도는 제2a도에서 도시한 장치 테스트 시스템보다 상세한 사시도이고
제3a도는 테스트해드 어댑터 링 지지구조와 테스트 헤드와 링간의 결합부의 제2실시예와 본 발명에 따라 구성된 장치 테스트 시스템의 사시도이고
제3b도는 제3a도에서 도시한 장치 테스트 시스템의 보다 상세한 사시도.
Claims (11)
- 전자장치를 측정하는 장치 테스트 시스템에 있어서;가동 포지셔너:대체로 원형 통로를 형성하는 내측방사면을 포함하는 반원 케이블 피벗 하우징 및 상기 통로의 상기 일측이 부분적으로 폐쇄되고 대향측이 완전히 개방되도록 상기 하우징의 일측 상에서만 있는 립;상기 케이블 피벗 하우징을 상기 포지셔너에 부착하는 수단, 제1반쪽 및 제2반쪽을 갖는 테스트 헤드 어댑터 링;상기 테스트 헤드 어댑터 링의 상기 제1반쪽을 상기 테스트헤드 리의 상기 제2반쪽에 접속하는 수단;상기 테스트 해드 어댑터 링을 상기 케이블 피벗 하우징의 상기 대체로 원형인 통로내에 회전가능하게 위치시키는 수단;테스트 해드;상기 테스트 헤드를 상기 테스트 헤드의 축방향 이동을 위하여 상기 테스트 헤드 어댑터 링을 부착하는 수단;및 상기 테스트 헤드에 접속되고 상기 테스트 헤드 어댑터 링을 관통하는 케이블로 구성되는 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 접촉수단이:(a)상기 테스트 헤드 어댑터 링의 상기 제1반쪽에 다수의 통로를 각각 갖는 한쌍의 가장자리, (b)상기 테스트 헤드 어댑터 링의 상기 제1반쪽 및 상기 제2반쪽이 연결하는 이음매를 형성하고, 상기 통로를 맞물리도록 상기 테스트 헤드 어댑터 링의 상기 제2한쪽에 형성된 다수의 대응 장부맞춤 핀, 및 (c)상기 이음매위의 상기 테스트 헤드 어댑터 링에 부착되고 상기 장부맞춤핀을 상기 통로에 유지하는 적어도 한쌍의 링 리테이너를 포함하는 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 회전 가능한 위치 조정 수단이: (a)상기 표면내에 형성된 가이드를 갖는 상기 케이블 피벗 하우징의 측면에 상기 립과 인접한 상기 테스트 헤드 어댑터 링의 표면과, (b)방사 홈을 갖는 상기 테스트 헤드 어댑터 링의 원주와, (c)상기 가이드를 맞물리도록 상기 케이블 피벗 하우징의 상기 립에 위치한 다수의 방사 캠 피동체, 및 (d)상기 방사 홈을 맞물리도록 상기 케이블 피벗 하우징의 상기 내측 방사면에 위치한 다수의 방사 캠 피동체를 포함하는 장치 테스트 시스템.
- 제3항에 있어서, 상기 수평 캠 피동체가 상기 방사 피동체에 수직으로 위치하는 장치 테스트 시스템.
- 제4항에 있어서, 그 수평 캠 피동체 3방사캠 피동체가 있는 장치 테스트 시스템.
- 제5항에 있어서, 상기 2수평 캠 피동체와 상기 3방사캠 피동체의 2개가 가상의 교선을 따라서 직선으로 배치된 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 부착수단이;(a)상기 테스트 헤드 어댑터 링에 형성된 내측면과, (b)상기 테스트 헤드 어댑터 링의 상기 내측면에 부착된 테스트 헤드대와, (c)일단상의 상기 테스트헤드에 부착되고 상기 테스트 헤드 대를 맞물리는 로드를 포함하는 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 부착수단에 상기 테스트 헤드 어댑터 링에 직접 부착된 상기 테스트 헤드를 지지하고 적어도 부분적으로 둘러싸고 있는 요크를 포함하는 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 부착 수단이 상기 테스트 헤드상에 형성되고 상기 테스트 헤드 어댑터 링에 직접 접속된 돌기부를 포함하는 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 테스트 헤드 어댑터 링의 외측 직경이 상기 테스트 헤드의 두께보다 작은 장치 테스트 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 테스트 헤드 어댑터 링에 의해서 운반되는 캔틸레버 하중의 무게 중심이 상기 분할링 케이블 피벗의 중심을 관통하는 장치 테스트 시스템.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/558,144 US5030869A (en) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | Device testing system with cable pivot |
US7/558,144 | 1990-07-25 | ||
US07/558,144 | 1990-07-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920003064A true KR920003064A (ko) | 1992-02-29 |
KR0167780B1 KR0167780B1 (ko) | 1999-03-20 |
Family
ID=24228401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910012813A KR0167780B1 (ko) | 1990-07-25 | 1991-07-25 | 케이블 피벗을 갖는 장치 테스트 시스템 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5030869A (ko) |
EP (1) | EP0468906B1 (ko) |
JP (1) | JP2546937B2 (ko) |
KR (1) | KR0167780B1 (ko) |
AT (1) | ATE135114T1 (ko) |
DE (1) | DE69117608T2 (ko) |
SG (1) | SG44493A1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100368574B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2003-01-24 | 메카텍스 (주) | 피씨 베이스 모듈아이씨 테스트 핸들러의 위치변환장치 |
KR100393744B1 (ko) * | 2000-12-02 | 2003-08-02 | 하나제약 주식회사 | 1,2,3,9-테트라하이드로-9-메틸-3-[(2-메틸-1h-이미다졸-1-일)메틸]-4h-카바졸-4-온의 제조방법 |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5600258A (en) * | 1993-09-15 | 1997-02-04 | Intest Corporation | Method and apparatus for automated docking of a test head to a device handler |
US5440943A (en) * | 1993-09-15 | 1995-08-15 | Intest Corporation | Electronic test head manipulator |
US6057695A (en) * | 1993-09-15 | 2000-05-02 | Intest Corporation | Method and apparatus for automated docking of a test head to a device handler |
US5561386A (en) * | 1994-02-23 | 1996-10-01 | Fujitsu Limited | Chip tester with improvements in handling efficiency and measurement precision |
EP0811167B1 (en) * | 1995-02-23 | 2001-09-05 | Aesop Inc. | Manipulator for automatic test equipment test head |
US5608334A (en) * | 1995-04-20 | 1997-03-04 | Intest Corporation | Device testing system with cable pivot and method of installation |
US5606262A (en) * | 1995-06-07 | 1997-02-25 | Teradyne, Inc. | Manipulator for automatic test equipment test head |
MY138984A (en) | 2000-03-01 | 2009-08-28 | Intest Corp | Vertical counter balanced test head manipulator |
US6975105B2 (en) | 2000-09-20 | 2005-12-13 | Intest Ip Corporation | Side supports with adjustable center of gravity |
EP1410048B1 (en) * | 2001-07-16 | 2010-12-29 | inTEST Corporation | Test head docking system and method |
US6766996B1 (en) | 2001-07-16 | 2004-07-27 | Reid-Ashman Manufacturing, Inc. | Manipulator |
US6646431B1 (en) | 2002-01-22 | 2003-11-11 | Elite E/M, Inc. | Test head manipulator |
DE20214629U1 (de) | 2002-09-20 | 2002-11-21 | Esmo Ag | Verschiebbare Befestigungsplatte |
WO2008085463A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-17 | In Test Corporation | Test head positioning system and method |
TWI439709B (zh) * | 2006-12-29 | 2014-06-01 | Intest Corp | 用於使負載沿平移軸線平移之操縱器與負載定位系統 |
US8212578B1 (en) | 2008-03-17 | 2012-07-03 | Intest Corporation | Test head positioner system |
US8981807B2 (en) | 2010-07-27 | 2015-03-17 | Intest Corporation | Positioner system and method of positioning |
US20140317453A1 (en) | 2011-07-12 | 2014-10-23 | Intest Corporation | Method and apparatus for docking a test head with a peripheral |
CN103274127B (zh) * | 2013-06-19 | 2015-11-25 | 苏州信亚科技有限公司 | Led灯搁置结构 |
CN105680293A (zh) * | 2016-04-20 | 2016-06-15 | 国网新疆电力公司阿克苏供电公司 | 一种高效网线头排线工具 |
DE102017118980B4 (de) * | 2017-04-23 | 2018-11-08 | Franka Emika Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur elektrischen Prüfung eines elektrischen Bauteils |
CN116593863B (zh) * | 2023-05-09 | 2023-12-22 | 上海捷策创电子科技有限公司 | 一种用于芯片测试的滑轨式探针接口板的锁紧装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3128887A (en) * | 1960-02-25 | 1964-04-14 | Mechanical manipulators for the displacement of | |
US4080851A (en) * | 1977-04-19 | 1978-03-28 | The Raymond Lee Organization, Inc. | Variable racket wrench |
US4160207A (en) * | 1977-06-27 | 1979-07-03 | Haines Fred E | Printed circuit board tester with removable head |
US4517512A (en) * | 1982-05-24 | 1985-05-14 | Micro Component Technology, Inc. | Integrated circuit test apparatus test head |
US4588346A (en) * | 1982-08-25 | 1986-05-13 | Intest Corporation | Positioner for maintaining an object in a substantially weightless condition |
US4527942A (en) * | 1982-08-25 | 1985-07-09 | Intest Corporation | Electronic test head positioner for test systems |
US4705447A (en) * | 1983-08-11 | 1987-11-10 | Intest Corporation | Electronic test head positioner for test systems |
US4650391A (en) * | 1985-02-25 | 1987-03-17 | Amp Incorporated | Electrical connector pick-up station |
US4665360A (en) * | 1985-03-11 | 1987-05-12 | Eaton Corporation | Docking apparatus |
DE3615941A1 (de) * | 1986-05-12 | 1987-11-19 | Willberg Hans Heinrich | Geraet zum pruefen von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's |
EP0308348B1 (fr) * | 1987-09-17 | 1993-02-10 | Schlumberger Industries | Appareil manipulateur de tête de test pour équipement de test automatique |
US4893074A (en) * | 1988-05-13 | 1990-01-09 | Intest Corporation | Electronic device testing system |
-
1990
- 1990-07-25 US US07/558,144 patent/US5030869A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-07-24 SG SG1996000946A patent/SG44493A1/en unknown
- 1991-07-24 DE DE69117608T patent/DE69117608T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-07-24 AT AT91420275T patent/ATE135114T1/de not_active IP Right Cessation
- 1991-07-24 EP EP91420275A patent/EP0468906B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-07-25 JP JP3186558A patent/JP2546937B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1991-07-25 KR KR1019910012813A patent/KR0167780B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100368574B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2003-01-24 | 메카텍스 (주) | 피씨 베이스 모듈아이씨 테스트 핸들러의 위치변환장치 |
KR100393744B1 (ko) * | 2000-12-02 | 2003-08-02 | 하나제약 주식회사 | 1,2,3,9-테트라하이드로-9-메틸-3-[(2-메틸-1h-이미다졸-1-일)메틸]-4h-카바졸-4-온의 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69117608T2 (de) | 1996-11-07 |
SG44493A1 (en) | 1997-12-19 |
EP0468906A2 (en) | 1992-01-29 |
KR0167780B1 (ko) | 1999-03-20 |
US5030869A (en) | 1991-07-09 |
DE69117608D1 (de) | 1996-04-11 |
JPH04232879A (ja) | 1992-08-21 |
EP0468906A3 (en) | 1992-08-19 |
ATE135114T1 (de) | 1996-03-15 |
JP2546937B2 (ja) | 1996-10-23 |
EP0468906B1 (en) | 1996-03-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR920003064A (ko) | 케이블 피벗을 갖는 장치 테스트 시스템 | |
KR890001615B1 (ko) | 산업용 로보트 | |
JP5739286B2 (ja) | プローブヘッド | |
KR100247329B1 (ko) | 케이블 피벗을 갖춘 장치 시험 시스템 및 그의 설치방법 | |
US4893074A (en) | Electronic device testing system | |
KR860009312A (ko) | 광섬유 접속기 및 제조방법 | |
KR840005699A (ko) | 시험 시스템용 전자 시험 헤드 포지셔너 | |
FR2366541A1 (fr) | Sonde sensible au contact | |
SE451923B (sv) | Kabelklemma | |
PT1022836E (pt) | Bucim para cabos | |
ES2179488T3 (es) | Conexion de fibras opticas. | |
JP4049668B2 (ja) | 遊動ベアリング | |
WO2002041053A3 (en) | Methods and apparatus for forming a fiber optic connection | |
KR960030163A (ko) | 테이프레코더의 로딩장치 | |
DK0672857T3 (da) | Bøjeligt rør | |
KR870008296A (ko) | 자기 테이프 장치 및 제조방법 | |
US20020168231A1 (en) | Submarine apparatus having a spacer mechanism between a body and a boot | |
JP3145516B2 (ja) | 内視鏡用ガイド装置 | |
JPS6364516A (ja) | ケ−ブルダクト装置 | |
JPH0731294U (ja) | 配線/配管装置 | |
SU658395A1 (ru) | Устройство дл измерени несоосности отверстий | |
JPS61110105A (ja) | スラスタブル光ロ−タリ・カプラ | |
ATE196664T1 (de) | ßSYSTEMBAUKASTEN FÜR SCHLIESSZYLINDER MIT PROFILIERTEM SENKRECHTEM SCHLÜSSELKANAL UND EINREIHIG ANGEORDNETEN STIFTZUHALTUNGENß | |
JPS59151219U (ja) | 光ロ−タリ−ジヨイント | |
JP2001059520A (ja) | 一体箱型リニアベアリング |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20040719 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |