KR910007105A - 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조방법 - Google Patents
폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910007105A KR910007105A KR1019890013066A KR890013066A KR910007105A KR 910007105 A KR910007105 A KR 910007105A KR 1019890013066 A KR1019890013066 A KR 1019890013066A KR 890013066 A KR890013066 A KR 890013066A KR 910007105 A KR910007105 A KR 910007105A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- polysilicon
- photoresist
- oxide film
- device isolation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Element Separation (AREA)
- Local Oxidation Of Silicon (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 3A 도 내지 제 3F 도는 본 발명의 LOCOS방법에 의해 소자분리 산화막을 형성하는 공정단계를 나타낸 단면도,
제 4 도는 본 발명의 LOCOS방법에 의해 형성된 소자분리 산화막 사이에 게이트 전극이 형성되되 소자분리 산화막 하부에만 P+영역이 형성된 상태의 단면도.
Claims (3)
- 고집적 반도체 소자의 소자분리 산화막 제조방법에 있어서, 실리콘 기판(1)상에 산화막층(2), 질화막층(3) 및 폴리 실리콘층(17)을 순차적으로 형성한 후 상기 폴리 실리콘층(7) 상부에 포토레지스트(4)를 도포하는 단계와, 상기 포토레지스트(4)의 일정부분을 광인쇄공정으로 제거한 다음 노출된 폴리 실리콘층(7)을 건식식각으로 식각하고 잔여의 포토레지스트를 제거하는 단계와, 상기 공정후에 남아있는 폴리 실리콘층(7) 습식 또는 건식 산화공정으로 완전히 산화시키는 동시에 상부 및 측면에 산화막층(8)을 성장시키는 단계와, 상기 공정후에 분순물을 이온주입시켜 상기 산화막층(8)이 없는 부분의 실리콘 기판(1)에 불순물 주입영역(5)을 형성하는 단계와, 상기 산화막층(8)을 습식식각에 의해 완전히 식각하고 다시 포토레지스트(4')를 도포한 후 소정부분을 제거하는 단계와, 상기 공정으로 노출된 질화막층(3)을 건식식각으로 시각한 후 남아있는 포토레지스트(4')를 완전히 제거하는 단계와, 상기 공정으로 노출된 산화막층(2)을 습식 산화공정으로 실리콘 기판(1) 및 산화막층(2) 상에 소자분리 산화막(6)을 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로하는 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 폴리 실리콘층(7) 상부에 포토레지스트(4)를 도포하는 단계전에, 상기 폴리 실리콘층(7)에 불순물을 주입한 후 그 상부에 상기 포토레지스트 (4)를 도포하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 공정 후 남아있는 폴리 실리콘층(7)을 습식 또는 건식 산화공정으로 완전히 산화시키는 동시에 상부 및 측면에 산화막층(8)을 성장시키는 단계에서, 상기 폴리 실리콘층(7)을 습식 또는 건식 산화공정으로 일부만 산화시키는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890013066A KR910007105A (ko) | 1989-09-09 | 1989-09-09 | 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890013066A KR910007105A (ko) | 1989-09-09 | 1989-09-09 | 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910007105A true KR910007105A (ko) | 1991-04-30 |
Family
ID=67661529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019890013066A KR910007105A (ko) | 1989-09-09 | 1989-09-09 | 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR910007105A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100364124B1 (ko) * | 1995-12-22 | 2003-02-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자의소자분리막제조방법 |
-
1989
- 1989-09-09 KR KR1019890013066A patent/KR910007105A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100364124B1 (ko) * | 1995-12-22 | 2003-02-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자의소자분리막제조방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR920013670A (ko) | 반도체 장치의 소자분리방법 | |
JPH03145730A (ja) | 集積回路半導体デバイスの製造方法 | |
KR910007103A (ko) | 반도체 장치의 자기 정렬 콘택 제조방법 | |
KR910007105A (ko) | 폴리 실리콘을 이용한 소자분리 산화막 제조방법 | |
JPS5575238A (en) | Method of fabricating semiconductor device | |
JPS60105247A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS6461928A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
KR880013236A (ko) | 반도체 장치의 제조방법 | |
KR930010726B1 (ko) | 반도체 장치의 소자분리방법 | |
KR920007181A (ko) | 앤-모스 ldd트랜지스터의 제조방법 | |
KR910017682A (ko) | 트랜치 제조방법 | |
KR930001435A (ko) | 소자분리 산화막 제조방법 | |
KR950007036A (ko) | 반도체 소자의 게이트 전극 형성 방법 | |
KR970003823A (ko) | 반도체 소자의 소자분리막 형성방법 | |
KR910013475A (ko) | 초대규모 집적회로 씨엠오에스 트랜지스터 제조방법 | |
KR970003829A (ko) | 소자분리막 제조방법 | |
KR940001350A (ko) | 폴리실리콘을 이용한 반도체소자 격리방법 | |
KR960009064A (ko) | Soi mosfet 제조방법 | |
KR970052103A (ko) | 반도체 소자의 웰 형성 방법 | |
KR960026620A (ko) | 보이드(Void)를 이용한 반도체 소자분리 방법 | |
KR970054111A (ko) | 반도체소자의 제조방법 | |
KR920011562A (ko) | Ldd구조의 트랜지스터 제조방법 | |
KR980006074A (ko) | 반도체 소자의 필드 산화막 형성방법 | |
KR960015814A (ko) | 반도체소자의 트랜지스터 형성방법 | |
KR910010630A (ko) | 실리사이드로 구성된 게이트 전극 형성방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |