KR900701074A - 에피택셜 성장 - Google Patents

에피택셜 성장

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KR900701074A
KR900701074A KR1019890702467A KR890702467A KR900701074A KR 900701074 A KR900701074 A KR 900701074A KR 1019890702467 A KR1019890702467 A KR 1019890702467A KR 890702467 A KR890702467 A KR 890702467A KR 900701074 A KR900701074 A KR 900701074A
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KR
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solid state
state device
substrate
layer
epitaxial layer
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KR1019890702467A
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English (en)
Inventor
잔 에잘 에버츠
로버트 에네스트 소메크
Original Assignee
데렉 리차드 챈들러
내셔날 리서치 디벨로프먼트 코포레이션
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    • H10N60/01Manufacture or treatment
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Abstract

내용 없음

Description

에피택셜 성장
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 사파이어 기판상의 다층막의 단면도이다.
제 2-6도는 각종 인자의 변화에 따른 성장된 막조성의 변화를 나타낸다.

Claims (30)

  1. 고체상태 소자의 제조방법에 있어서, 상기 방법은, 금속 및 산소를 포함한 화합물의 적어도 부분적인 에피택셜층을 형성하기위해 기판위에 금속함유재료로 성장시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 재료가 마그네슘, 스트론튬, 티타늄 및 지르코늄으로 구성되는 그룹으로부터 적어도 하나의 금속을 포함하는 것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 재료가 마르네슘을 포함하는 것을 특징으로 하는 고체 상태소자의 제조방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 기판이 알루미나를 포함하는것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 기판이 반도체임을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 기판이 초전도체임을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 기판이 실질적으로 퍼로브스카이트구조인 공은 초전도체임을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  8. 상기한 항중 어느한항에 있어서, 다른 적어도 일부의 에피택셜층이 상기 적어도 일부의 에피택셜층위에 성장됨을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 다른층이 세라믹 초전도체임을 특징으로하는 고체상태 소자의 제조방법.
  10. 제 8항에 있어서, 상기 다른층이 이트륨, 바륨, 구리 및 산호의 화합물로 이루어지는것을 특징으로하는 고체상태 소자의 제조방법.
  11. 고체상태 소자의 제조방법에 있어서, 상기 방법은, 알루미나 함유기판위에 마그네슘함유 타겟으로부터 재료를 스퍼터링하여 에피택셜마그네시아층을 형성하고, 다음 상기 마그네시아층위에 이트륨, 바륨, 구리 및 산소를 포함하는 화합물의 에피택셜층을 형성하는 것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 기판이 750℃내지 900℃사이의 온도로 가열되고, 상기 재료가 상기 마그네슘함유 타겟으로부터 스퍼터링 되는것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  13. 제 12 항에 있어서, 산화분위기가 유지되는 반면에 재료가 상기 마그네슘함유 타겟으로부터 스퍼터링되는 것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  14. 제 13 항에 있어서, 산화분위기가 산소를 포함하는 것을 특징으로하는 고체상태 소자의 제조방법.
  15. 제 13 항에 있어서, 산화분위기가 아산화질소를 포함하는것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  16. 제 14 항 또는 15항에 있어서, 산화분위기가 아르곤을 포함하는 것을 특징으로 하는 고체상태 소자의 제조방법.
  17. 제 1 항 또는 16항에 있어서, 어느 한항의 방법에 의해 제조된 고체상태 소자.
  18. 결정기판위에 금속산화물을 포함하는 제2애피택셜층(11)위에 형성된 반도체 및 초전도체를 포함하는 군으로부터 선택되는 재료의 제1애피택셜층(12)으로 이루어지는것을 특징으로하는 고체 상태 소자.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 금속 산화물이 마그네시아임을 특징으로하는 고체 상태 소자.
  20. 제 19항에 있어서, 상기 결정기판이 알루미나임을 특징으로 하는 고체 상태 소자.
  21. 제 20 항에 있어서, 상기 제1 애피택셜층이 이트륨, 바륨, 구리 및 산소를 포함하는 초전도체임을 특징으로 하는 고체 상태 소자.
  22. 제 20항에 있어서, 상기 제2애피택셜 층의 두께가 100나노미터 정도인것을 특징으로하는 고체 상태 소자.
  23. 제 20 항에 있어서, 알루미나 기판의 (1012)면과 근접한(100)면을 갖는 마그네시아층을 포함하는것을 특징으로하는 고체 상태 소자.
  24. 제 20 항에 있어서, 알루미나 기판(0110)면과 근접한 (110)면을 갖는 마그네시아층을 포함하는 것을 특징으로 하는 고체 상태 소자.
  25. 제 20 항에 있어서, 알루미나 기판의 (1120)면과 근접한 (111)면을 갖는 마그네시아층을 포함하는것을 특징으로하는 고체 상태 소자.
  26. 제 20 항에 있어서, 알루미나 기판의 (0001)면과 근접한 (111)면을 갖는 마그네시아층을 포함하는것을 특징으로하는 고체 상태 소자.
  27. 기판위에 초전도체의 애피택셜층을 성장시키고, 상기 애피택셜층위에 제2재료의 단층을 성장시키며, 상기 단층위에 상기 초전도체의 다른 에피택셜층을 성장시키는 것을 특징으로하는 고체 상태 소자의 장벽층 형성 방법.
  28. 제 27 항에 있어서, 상기 단층이 상기 다른 에피택셜층과 동시에 성장되는것을 특징으로하는 장벽층 형성 방법.
  29. 제 27 항 또는 28항에 있어서, 상기 제2재료의 다수의 단층과 이에 대응하는 상기 초전도체의 다른 에피택셜층이 상기 기판위에 연속적으로 성장 되는것을 특징으로하는 장벽층 형성 방법.
  30. 제 27 항 내지 29항의 방법에 의해 제조된 고체 상태 소자.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890702467A 1988-04-22 1989-04-12 에피택셜 성장 KR900701074A (ko)

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GB8809548.4 1988-04-22
PCT/GB1989/000430 WO1989010634A1 (en) 1988-04-22 1989-04-21 Epitaxial deposition

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69131793T2 (de) * 1990-08-08 2000-04-27 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Substrat für supraleitende Einrichtungen
CN105470204A (zh) * 2015-09-22 2016-04-06 顾士平 高温超导体与半导体接口实现方法
CN109390452A (zh) * 2018-10-17 2019-02-26 广东远合工程科技有限公司 一种大功率led用碳纤维压印铁磁复合陶瓷基散热基板

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2071706A5 (ko) * 1969-11-12 1971-09-17 Ibm
BE786585A (fr) * 1971-07-23 1973-01-22 Philips Corp Matieres semi-conductrices luminescentes au phosphure de gallium et procede pour les preparer
US3979271A (en) * 1973-07-23 1976-09-07 Westinghouse Electric Corporation Deposition of solid semiconductor compositions and novel semiconductor materials
US4158851A (en) * 1976-03-29 1979-06-19 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Semi-insulating gallium arsenide single crystal
US4316785A (en) * 1979-11-05 1982-02-23 Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation Oxide superconductor Josephson junction and fabrication method therefor
US4366493A (en) * 1980-06-20 1982-12-28 International Business Machines Corporation Semiconductor ballistic transport device
FR2510309A1 (fr) * 1981-07-22 1983-01-28 Centre Nat Rech Scient Procede d'augmentation de la temperature critique de supraconduction dans les supraconducteurs organiques quasi-unidimensionnels et nouveaux composes supraconducteurs ainsi obtenus
JPH0682651B2 (ja) * 1985-05-30 1994-10-19 株式会社日立製作所 半導体装置用エピタキシヤル絶縁膜とその製造方法
EP0276746B1 (en) * 1987-01-30 1994-07-13 Hitachi, Ltd. Superconducting device
EP0282012A3 (en) * 1987-03-09 1989-09-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Superconducting semiconductor device
US4768069A (en) * 1987-03-23 1988-08-30 Westinghouse Electric Corp. Superconducting Josephson junctions
CA1326976C (en) * 1987-05-26 1994-02-15 Satoshi Takano Superconducting member
US4980339A (en) * 1987-07-29 1990-12-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Superconductor structure
JPH0688858B2 (ja) * 1987-08-21 1994-11-09 松下電器産業株式会社 超電導体

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Publication number Publication date
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CN1020992C (zh) 1993-05-26
DE68923279T2 (de) 1995-11-23
CN1038722A (zh) 1990-01-10

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