KR900003687B1 - 광학헤드 - Google Patents

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KR900003687B1
KR900003687B1 KR1019860010186A KR860010186A KR900003687B1 KR 900003687 B1 KR900003687 B1 KR 900003687B1 KR 1019860010186 A KR1019860010186 A KR 1019860010186A KR 860010186 A KR860010186 A KR 860010186A KR 900003687 B1 KR900003687 B1 KR 900003687B1
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히데오 안도
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가부시키가이샤 도시바
와타리 스기이치로
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Abstract

내용 없음.

Description

광학헤드
제 1 도는 본 발명의 1실시예에 따른 광학헤드를 나타내는 도면.
제 2 도는 제 1 도에 도시된 광학시스템을 단순화해서 나타내는 광학시스템의 배치도.
제 3 도는 제 1 도에 도시된 광학시스템의 일부확대도.
제 4 도 내지 제 6 도는 제 1 도에 도시된 광검출기의 수광면 및 그 수광면에 형성되는 광비임의 스폿트를 나타내는 평면도.
제 7 도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학헤드의 광학시스템을 단순화해서 나타내는 광학시스템의 배치도.
제 8 도는 제 7 도에 도시된 투광렌즈를 나타내는 평면도.
제 9 도는 본 발명의 또다른 실시예에 따른 광학헤드의 광학시스템의 일부를 나타내는 사시도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 반도체레이저 2 : 조준렌즈
3 : 편광비임스플리터 4,5 : 프리즘
4A : 레이저비임입사면 5A : 레이저비임사출면
5B : 레이저비임반사면 6 : 펀광비임스플리트면
7 : 1/4파장판 8 : 대물렌즈
9 : 정보기억매체(광디스크) 9A : 트랙킹가이드
10,11 : 광비임출현면 12 : 투광렌즈
13 : 광 검출기 14,15 : 광검출영역
16 : 광 사출면 16A : 평탄면
16B : 오목(凹)렌즈면 19 : 거울
19A : 평면거울면 19B : 원주형거울면
20 : 전반사프리즘 22 : 베이스프레임
L : 레이저비임 Lt : 트랙에러검출용레이저비임
Lf : 촛점에러검출용레이저비임.
본 발명은 정보기억매체에 집광된 광비임을 적용시켜 광학적으로 정보를 기록하거나 재생하도록 된 광학헤드에 관한 것이다.
최근 광학방식으로 정보를 기록 및 재생하는 정보기록/재생장치 및 정보기억매체(Information memory medium)가 새롭게 개발되고 있는데, 이러한 정보기억매체로서는 DAD용 CD(Compact disk)와 비디오디스크 또는 광카드와 같은 재성전용정보 기억매체와, 문서화일 및 C0M(Computer output memory)과 같은 기록/재생전용의 정보기억매체 또는 기록과 재생 및 소거가 가능한 정보기억매체가 알려지고 있다.
이러한 광학방식의 정보기록/재생장치에는 정보기억매체에다 광비임을 적용하여 광학적으로 정보를 기록/재생하게 되는 광학헤드가 조립되어져 있는바, 이 광학헤드에서는 반도체레이저(광원)로부터 발사된 레이저광을 대물렌즈에 의해 정보기억매체위에다 촛점을 일치(Focus)시켜 주고, 그 정보기억매체로부터 반사된 광이 다시 대물렌즈를 통과해 광검출기에서 검출되게 되며, 이 검출신호가 후속처리 됨에 따라 정보신호로 변환되게 된다.
따라서, 이와 같은 광학헤드에서는 대물렌즈를 통과한 광이 정확하게 정보기록매체의 기록막위에 촛점조절되는 것이 요구될 뿐만 아니라 정보기록매체의 트랙킹가이드(Tracking guide)가 촛점조절된 레이저비임을 추적하는 것이 요구되게 된다.
이상과 같은 요구에 따라 광학헤드에는 대물렌즈의 촛점조절상태를 검출해서 항상 대물렌즈를 촛점일치상태로 유지되게 하는 촛점조절 서-보루프(Focus servo loop)와 트랙킹가이드를 검출해서 항상 대물렌즈를 원하는 트랙킹가이드로 향하게 하는 트랙킹서-보루프가 구비되어 있다.
여기서 대물렌즈의 촛점조절상태를 검출하는 방법으로서는, 발명자 안도(ANDO)에 의해 발명되어 등록된 미합중국 특허 제4,517,666호와 제4,546,460호, 제4,585,933호 및 제4,521,680호에 기재된 것과 같은 나이프엣지(knife edge)법이 잘 알려져 있고, 또 트랙킹가이드를 검출하는 방법으로서는, 상기 미합중국 특허들에 의해 개시되어져 있는 바와 같이 트랙킹가이드에서 회절되는 광비임의 회절성분을 검출하는 방법이 있다. 따라서, 이들 미합중국 특허에 개시된 광학헤드에서는 광차폐막인 소위 나이프엣지가 광전달 통로상에 배치되어져 있기 때문에 그 위치를 맞추는데 정밀도가 요구될 뿐만 아니라, 조립해야할 부품이 다수이기때문에 조립 및 조정에 필요한 시간이 길어지게 되고, 또 광학시스템이 대형화되게 된다는 문제가 있다.
이러한 문제점을 해결하도록 된 광학시스템이 역시 발명자 안도에 의해 출원된 미합중국 특허출원번호 제672,922호(l984년 12월 18일 출원)와 제862,829호(1984년 5월 l3일 출원)로 제안되어져 있는바, 이들 출원에 개시되어져 있는 광학시스템에서는 어느 한쪽에 대해 다른쪽이 기울어져 경계선에 접합되어 있는 비임출현면을 갖는 스플리터(Splitter)로서의 프리즘이 갖추어져 있다. 그런데 이 시스템에서는 비임출현면의 다른쪽이 소위 나이프엣지로서의 기능을 하게 되므로 비임출현면의 한쪽으로부터 츨현된 광비임이 촛점조절상태 검출용 광검출기를 향하여 전달되게 되고, 또 비임출현면의 다른쪽으로부터 출현되는 광비임은 촛점조절상태 검출용 광검출기와는 다른 면내에 배치된 트랙킹가이드 검출용 광검출기를 향해 전달되게 되며, 그에따라 광검출기로부터의 신호가 처리되어 촛점조절신호 및 트랙킹신호가 발생되도록 되어 있다. 따라서, 이 광학시스템에 따르면 광차폐막이 특별히 설치되어 있지 않기 때문에 광학시스템에 대한 구성부품이 감소되게 될뿐만 아니라 조립 및 조정을 용이하게 실시할 수 있다는 장점을 갖고 있다.
그러나, 이러한 광학시스템에서는 촛점조절상태 검출용 광검출기 및 트랙킹가이드검출용 광검출기가 분리되어 설치되어 있기 때문에 이 광학시스템은 종래의 방식에서와 마찬가지로 여전히 구조가 복잡할 뿐만 아니라 부품수도 많아지게 되어 대형이면서 무겁게 된다는 문제가 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로, 시스템구조를 간단하게 하여 부품수를 줄일 수 있게 되고, 또 소형이면서 경량화로 될 수 있도록 된 광학헤드를 제공함에 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따르면 광메모리를 사용하는 광학시스템은, 상기 광메모리상에 광비임을 지향시키는 수단과, 상기 광메모리로부터 전송된 합성적인 광비임을 각기 서로 다른 광선의 곡룰을 제1 및 제2광비임출현면으로 제1 및 제2광비임으로 분리시켜 주는 수단 및, 상기 제1및 제2광비임을 검출하는 수단을 갖추어 구성되고 있다.
이하 본 발명에 따른 1실시예를 예시도면에 의거하여 상세히 설명한다.
제 1 도에 도시된 본 발명의 1실시예에 관한 광학헤드를 나타내는 사시도와 상기 제 1 도에 도시된 광학시스템을 간략하게 나타내는 제 2 도에 도시된 반도체레이저(1)로부터 발산성의 레이저비임(L)이 발생되고, 이렇게 발생된 레이저비임(L)은 조준렌즈(2 : Collimator rens)에 의해 평행광속으로 변환되어 편광비임스플리터(Splitter; 3)에 인도되게 되는데, 이 편광비임스플리터(3)에는 2개의 프리즘(4,5) 사이에 편광비임스플리트면(6)이 형성되어 있고, 상기 프리즘(4)의 레이저비임입사면(4A)은 조준렌즈(2)의 광축에 대해 경사지게 배치되어 있게 된다.
따라서 레이저비임(L)이 상기 레이저비임입사면(4A)을 통과하게 될때, 반도체레이저(1)로부터 발생된 타원형단면을 갖는 레이저비임(L)이 원형단면을 갖는 레이저비임(L)으로 변환되게 된다.
이어 편광비임스플리터(3)에 전달된 레이저비임(L)은 이 편광비임스플리터(3)를 통과하여 전반사프리즘(20)의 반사면(20A)에서 반사되어져 방향이 바뀌어지게 되고, 이렇게 전반사프리즘(20)에서 방향이 바뀐 레이저비임(L)은 1/4파장판(7)을 통과하여 대물렌즈(8)에 전달되게 되므로 이 대물렌즈(8)에 의해 광디스크나 광카드와 같은 정보기억매체(9 : 이하 광디스크라 한다) 위에 집속되게 된다. 따라서 이 광디스크(9)는 널리 알려진 바와 같이 광반사막으로서의 기록막에 동심원주형상 또는 나선형상(Spiral)으로 트랙킹가이드(9A)가 그면 위에 凹 또는 凸 형상으로 형성되게 되고, 이 트랙킹가이드(9A)내에 정보가 상태변화, 예컨대 반사율변화로서 기록되어지게 된다.
그리고, 반도체레이저(1)는 도시되어져 있지 않은 구동회로에 의해 구동되게 되는데, 먼저 재생시에는 이 반도체레이저(1)로부터 일정한 광강도를 갖는 레이저광(L)이 발생되게 되고, 또 기록시에는 기록해야할 정보에 대응하여 광강도가 변조되는 레이저광(L)이 발생되어 기록막에 상태변화를 생성시켜 주게 되며, 소거시에는 재생시 보다도 큰 일정한 광강도를 갓는 레이저광(L)이 발생되어 마찬가지로 기록막상에 상태변화를 생성시키게 된다.
광디스크(9)위에 집광된 레이저광(L)은 이 광디스크(9)의 기록막으로부터 반사되어 다시 대물렌즈(8)로 되돌려 보내어 지게 되는데, 대물렌즈(8)가 광디스크(9)에 대해서 촛점이 일치된 상태로 유지되어져 있을때, 즉 대물렌즈(8)에 의해 접속된 광비임의 비임중앙부가 광디크(9)상에 형성될 때에는 이 대물렌즈(8)로 되돌려 보내진 광비임이 이 대물렌즈(8)에 의해 평행비임으로 변환되게 된다. 따라서 이 평행광비임은 1/4파장판(7)을 통과하여 편광비임스플리터(3)에 되돌려지게 되고, 이렇게 되돌려진 레이저비임(L)은 1/4파장판(7)을 왕복함에 따라 편광비임스플리트면(6)을 통과할 때에 비해 편파면이 90° 회전되어져 있기 때문에, 편광비임스플리트면(6)을 통과하지 않고 편광비임스플리트면(6)에서 반사되어 그 안을 통과해 편광비임스플리터(3)의 프리즘(5)의 레이저비임사출면(5A)을 향하여 전달되게 된다.
여기서 편광비임스플리터(3)의 프리즘(5)의 레이저비임사출면(5A)은 제1 및 제2 광비임출현면(10,11)으로 규정되는데, 이는 제 3 도에 도시된 바와 같이 본 실시예에서는 제1광비임출현면(10)이 평탄한 면으로 형성되게 되고, 또 제2광비임출현면(11)이 상기 평면의 광비임출현면(10)에 대해 기울어진 원주형(Cylinderical) 오목(凹)렌즈면, 즉 비점수차면(非點收差面)으로 형성되게 된다.
이때 상기 제2광비임출현면(11)은 원주형상의 면대신 둥근형태의 구형면으로 하여도 좋다. 또 본 발명에 있어 제1광비임출현면(10)은 평탄면이 아니어도 좋고, 제1 및 제2광비임출현면(10,11)이 서로 다른 곡율로 형성되기만 하면 좋으며, 또 제1 및 제2광비임출현면(10,11)의 곡률은 단일한 곡률이 아니고 복합곡률이어도 좋다.
따라서, 제1 및 제2광비임출현면(10,11)이 비구형면으로 규정되어도 좋고, 또 제 1 도에서는 평탄한 프리즘(5)의 레이저비임사출면(5A) 대신 프리즘(5)의 레이저비임반사면(5B)이 평탄한 면으로서의 제1레이저비임사출면 및 그 평탄면에 대해서 기울어져 있는 원주형 볼록(凸)렌즈면인 비점수차면으로 규정되어도 좋다.
한편, 편광비임스플리트면(6)에서 반사된 레이저비임은 평탄한 제1광비임출현면(10) 및 원주형오목렌즈면인 제2광비임출현면(11)을 투과함에 따라 2개의 방향으로 분할되게 되어 동일한 투광렌즈(12)에 집광된 다음 1개의 수광면을 갖는 광검출기(13)위에 투광되게 된다. 이 광검출기(13)의 수광면은 대물렌즈(8)가 촛점일치되어져 있을 때 평탄한 광비임출현면(10)을 통과한 레이저비임(L)의 집광점, 즉 비임중앙부 또는 그 근방에 배치되게 되고, 또 이 광검출기(13)는 그 수광면으로 형성되어 규정되는 경계영역에서 분리되는 촛점흐트러짐(이하 촛점에러라 함)을 검출하는데 이용되는 광검출영역(14,14) 및 트랙어긋남(이하 트랙에러라 함)을 검출하는데 이용되는 광검출영역(15,15)을 구비하게 된다.
따라서, 평탄한 광비임출현면(10)을 통과한 레이저비임(L)은 대물렌즈(8)가 촛점이 일치되어 있을 때에는 제 4 도에 도시된 바와 같이 촛점에러검출용 광검출영역(14,14)의 경계영역 부분으로 향하게 되고, 또 대물렌즈(8)가 촛점이 일치되어져 있지 않을 때에는 상기 광검출영역(14,14)의 어느 한 방향으로 향하게 된다. 즉, 대물렌즈(8)가 그 광축에 따라 이동됨에 따라 화살표(I)방향으로 편향되게 되고, 광검출기(13)의수광면에 형성되는 비임스폿트는 촛점이 흐트러지는 촛점에러량에 따라 광수광면상에서 화살표(I)방향으로 이동되게 되며, 그에 따라 소위 나이프엣지법에 의한 촛점에러검출이 향해 지게 된다.
그리고, 원주형오목렌즈면인 광비임출현면(11)을 통과한 레이저비임(L)은 원주형오목렌즈면인 광비임출현면(11)에 따라 단면형상이 가로방향으로 연장되는데, 즉 원주형 오목렌즈면인 광비임출현면(11)의 긴 축으로 직교하는 방향에서 원주형 오목렌즈면인 광비임출현면(11)이 렌즈작용을 갖고 있지 않기 때문에, 그 기본축에 직교하는 방향으로 연장되는 레이저비임이 트랙에러검출용 광검출영역(15,15)위에 집광되게 되고,이렇게 연장된 레이저비임 스폿트가 제 4 도에 나타낸 바와 같이 광검출영역(15)위에 형성되게 된다.
따라서, 연장된 레이저비임스폿트에는 트랙킹가이드의 원거리전자계패턴(far-field pattern) 이 형성되기 때문에 트랙에러검출용 광검출영역(15,15)으로부터의 신호를 처리함에 따라 소위 푸시풀방법에 따른 트랙에러검출이 행해지게 된다. 그리고, 이 트랙에러 검출용 광검출영역(15,15)으로부터의 신호를 처리함에 따라 기록된 정보도 검출되어지게 된다.
이상과 같은 광학시스템 구성에 따르면 광검출기(13) 및 투광렌즈(12)가 각각 1개로 구성되기 때문에 광학시스템의 구조가 간단하게 되어 부품갯수를 줄일 수 있기 때문에 광학시스템의 소형경량화를 도모할 수 있게 된다.
또, 제1광비임출현면(10)과 원주형 오목렌즈면인 제2광비임출현면(11)과의 2개면으로만 촛점에러검출용 레이저비임과 트랙에러검출용 레이저비임으로 분리할 수 있기 때문에 광학시스템의 조립 및 조정이 쉽게 이루어지게 되고, 그에 따라 광학시스템을 낮은 비용으로 제작할 수가 있게 된다.
그리고, 제 1 도에 도시된 바와 같이 비구형면곡면으로서 원주형 볼록렌즈면을 이용하지 않고 원주형 오목렌즈면(11)을 이용하는 것이 바람직하게 되는데, 그 이유는 촛점에러검출용 레이저비임과 트랙에러검출용 레이저비임 상호간의 영향을 크게 경감할 수 있기 때문이며, 그점에 관해서는 제 4 도 내지 제 6 도를 참조하여 설명한다.
제2광비임출현면(11)으로서 원주형 오목렌즈면과 원주형 볼록렌즈면중에서 어느 것이 이용되어도 촛점조절일치시에서 광검출기(13)상에는 제 4 도에 도시된 바와 같이 레이저비임스폿트(Lf,Lt) 상태가 형성되게 된다. 이에대해 제2광비임출현면(11)으로서 원주형 볼록렌즈면이 이용되고, 촛점일치시보다 대물렌즈(8)가 광디스크(9)에 가깝게 촛점이 일치되지 않은 상태로 있을 때에는, 제 5 도에 도시된 바와 같이 트랙에러검출용 레이저비임스폿트(Lt)의 폭이 좁게 되고, 또 촛점에러검출용 광검출영역(14)내에 트랙에러검출용 레이저비임스폿트(Lt)의 일부가 포함되어지게 된다. 그 때문에 촛점에러검출용 레이저비임스폿트(Lf)에 의해 이루어지는 촛점에러검출 특성 및 촛점에러량에 대한 촛점에러검출용 광검출영역(14)으로부터 얻어지는 광전신호의 레벨이 크게 변화되게 된다.
또 이 트랙에러검출용 레이저비임(Lt)이 끼치는 영향은 촛점일치시 트랙에러검출용 레이저비임(Lt)과 촛점에러검출용 레이저비임(Lf) 사이의 거리에 의존하게 되는데, 이 촛점일치시의 트랙에러검출용 레이저비임(Lt)과 촛점에러검출용 레이저비임(Lf) 사이의 거리는 광학헤드 제조상 범위내에 머물 수 없음에 지나지 않고, 항상 일정하게 하는 것은 곤란하게 된다. 그리고, 제2광비임출현면(11)으로서 원주형 오목렌즈(11)를 이용한 경우에 촛점일치시보다 대물렌즈(9)가 정보기억매체인 광디스크(9)에 가깝게 촛점이 일치되지 않는 상태로 있을 때에는 제 6 도에 도시된 바와 같이 트랙에러검출용 레이저비임(Lt)의 폭이 촛점일치시보다도 넓어지게 되고, 그에 따라 촛점에러검출용 광검출영역(14)에 인입되는 광량이 적어지게 되기 때문에 촛점에러검출 특성에 대한 트랙에러검출용 레이저비임(Lt)의 영향을 작게 할 수 있다.
제 7 도는 본 발명의 제 2 실시예를 나타내는 것으로, 프리즘(5)의 레이저비임사출면(5A)이 제1및 제2광비임출현면(10,11)으로 한정되지 않고 단순한 단일면으로서 규정되어지게 된다.
제 8 도에 나타낸 바와 같이 프리즘(5)의 레이저비임사출면(5A) 대신 투광렌즈(12)의 광사출면(16)이 레이저비임을 분리하는 평탄면(16A)과 오목렌즈면(16B)으로 규정된다. 즉, 투광렌즈(12)는 통상적인 평볼록렌즈의 평면부분에서 일부를 연마함에 의해 연마하지 않은 부분인 평탄면(16A)과 이 평탄면(16A)에 대해 연마한 부분인 경사진 원주형오목렌즈면(16B), 즉 비점수차면으로 형성된다.
제 9 도는 본 발명의 제 3 실시예를 나타내는 것으로 이 실시예에서는 레이저비임을 분리하는 광분리부재로서 레이저광(L)을 반사하는 평면기울면(19A)과 원주형볼록 거울면(19B)이 구비된 거울(19)이 이용되고,이 거울(19)이 투광렌즈(12)와 편광비임스플리터(3)의 사이에 배치되게 된다.
제 7 도 및 제 8 도에 도시된 광학시스템에 있어서는, 제 1 및 제 2 도에 도시된 광학시스템과 마찬가지로 평탄면(16A,19A)으로부터 출현되는 레이저비임은 집광검출용 광검출영역으로 향하게 되고, 오목면으로부터 출현되는 광비임이 트랙킹가이드검출용 광검출영역을 향해 전달되게 되며, 촛점검출용 광검출영역에서는 형성된 비임스폿트의 위치에 따라 집광상태가 검출되게 되고, 트랙킹가이드검출용 광검출영역에서는 비임스폿트중에 생기는 원거리전자계패턴(far-field pattern)에 따라 트랙킹이 검지되게 된다.
그리고, 본 발명은 상술한 바와 같은 광학시스템에 한정되지 않고 발명자 안도에 의해 1986년 5월 13일에 출원된 미합중국 출원번호 제862,829호(1986년 5월 14일에 EPC 출원된 EPC 출원번호 8610655,6)에 개시된 것과 자석식-광디스크장치(Magneto-optical system)에도 적용할 수 있게 된다.
상기한 바와 같이 광학시스템에 있어서는 광학부품이 렌즈 배럴(lens barrel)의 베이스프레임(22) 접합면에 고정되게 되지만, 이 접합면은 대물렌즈(8)가 광축방향으로 이동하게 될 때 광비임이 편향되는 방향(I)으로 평행배치되게 된다. 그에 따라 주위에 온도변화가 생기고 광학헤드 내부에 광축 어긋남이 발생되어도 촛점에러량에 대한 오검출을 방지할 수 있게 되는데, 이점에 대해서 보다 상세히 설명한다.
렌즈배럴의 베이스프레임(22)은 광학헤드의 경량화를 도모하기 위해 알루미늄으로 만들게 되고, 편광비임스플리터(3)가 유리(예를 들면 BK-7)로 만들어져 있기 때문에 상온 접착시에 정확하게 광축이 조정되어도 고온시에는 알루미늄과 유리의 열팽창율의 차이에 의해 열굴곡(변형)이 생기게 되므로 광축이 어긋나게된 우려가 있게 된다. 이 경우에는 편광비임스플리터(3)와 베이스 프레임(22)과의 접합면이 촛점에러시의 광검출기(13)상에서 광스폿트의 이동방향(I)과 직교하는 상태로 편광비임스플리터(3)가 베이스프레임(22)에 접합되어 있으면 열굴곡이 생겼을 때 광축어긋남의 방향(II)이 촛점에러시 광검출기(13)상에서 광스폿트의 이동방향(I)과 평행으로 되어버리기 때문에 촛점에러량을 오검출해 버린다고 하는 문제가 있다.
따라서, 편광비임스플리터와 베이스프레임과의 열팽창율이 달라지므로서 생겨나게 되는 광축의 어긋남방향과, 대물렌즈에 의해 집광되는 광의 집광점에 대해 정보기억매체위에서의 촛점에러가 발생될 때 상기 광검출기상에서의 광스폿트의 이동방향을 직교시키게 된다.
즉, 유리로 만들어진 편광비임스플리터(3)와 프리즘(20,5) 및 1/4파장간(7)이 서로 접합되어 일체로 형성되고, 이 일체화부품(36)은 어느 한 장소, 즉 편광비임스플리터(3) 및 프리즘(20)의 한쪽면에서 알루미늄으로 이루어지는 베이스프레임(22)에 접합되어 있다. 이 일체화부품(36)과 베이스프레임(22)의 접합면은 대물렌즈(8)에 촛점에러가 발생했을때 광검출기(13)상에서 광스폿트의 이동방향(I)과 서로 평행하게 되어 있다.
상기한 구성에 따르면 베이스프레임(22)과 일체화부품(36)과의 사이에 열굴곡이 생겼을 경우 일체화부품(36)은 방향(II)으로 회전하게 되고, 방향(III)으로 회전하는 경우는 발생되지 않게 되며, 그에 따라 유리의 일체화부품(36)과 베이스프레임(22)과의 사이에서 열팽창율의 차이에 의해 생기는 광축어긋남은 방향(II)에서 생기게 되고, 방향(III)에는 생기지 않게 된다. 그러므로 대물렌즈(25)에 촛점에러가 발생될 때 광검출기(35)상에서 광스폿트의 이동방향(I)과 평행한 방향(III)에서 광축어긋남이 생기지 않기 때문에 촛점에러량의 오검출이 발생되지 않게 되고, 항상 안정된 정도의 양호한 촛점에러검출이 이루어지게 된다. 또 이방향(II)은 대물렌즈(8)에 촛점에러가 발생될 때 광검출기(13)상에서 광스폿트의 이동방향(I)에 직교하게 되기 때문에 화살표(II)방향에 광축어긋남이 생겨도 촛점에러량의 오검출이 발생되지 않게 된다.
상기한 바와 같이 본 발명은 종래의 방식에 비해 광학시스템 구조가 간단하고 부품갯수는 감소할 수 있게 되어 광학시스템의 소형경량화를 도모할 수 있는 광학헤드를 제공할 수 있게 된다.

Claims (11)

  1. 광학메모리를 사용하는 광학시스템에서, 상기 광학메모리상에 광비임을 지향시키는 수단(2,3,7,8,20)과, 상기 광학메모리로부터 전송된 합성적인 광비임을 각각 서로 다른 광선굴곡율을 갖는 제1 및 제2광비임 출현면으로서 제1 및 제2광비임으로 분리시켜 주는 수단(10,11,12) 및, 상기 제1, 제2광비임을 검출하는 수단(13)으로 구성된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  2. 제 1 항에 있어서, 검출수단(13)은 1쌍의 제1광검출영역(14)과 1쌍의 제2광검출영역(15)을 구비하게 되고, 상기 1쌍의 제1광검출영역(14)으로 제1광비임이 향해지게 되면서 상기 1쌍의 제2광검출영역(15)으로 제2광비임이 향해지도록 된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  3. 제 2 항에 있어서, 지향수단은 광축을 구비하면 그 광축에 따라 이동가능한 대물렌즈(8)를 포함하게되어 이 대물렌즈(8)가 광축에 따라 이동되게 되면 상기 분리수단(10,11,12)으로부터 출현되는 제1광비임이 특정방향으로 편향되고, 이 제1광비임에 의해 검출수단(13)상에 형성되는 제1광비임스폿트가 특정방향으로 이동되게 되며, 1쌍의 제1광검출영역이 특정방향에 따라 배치되는 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  4. 제 3 항에 있어서, 광학메모리(9)는 트랙킹가이드(9A)를 갖고, 1쌍의 제2광검출영역(15)이 특정방향인 직각방향으로 배치되는 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  5. 제 4 항에 있어서, 지향수단(2,3,7,8,20)은 광비임을 목표물에 전송하게 되고, 상기 광학메모리로부터 수신된 합성적인 광비임을 비임분리수단으로 향하게 하는 편광비임 스플리터(3)를 포함하여서 된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  6. 제 5 항에 있어서, 편광비임스플리터(3)가 접합되는 접합면(6)을 갖고, 편광비임스플리터(3)를 보전유지하는 수단과, 이 접합면(6)이 제1광비임이 편향되는 특정방향에 배치되도록 추가로 구비된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  7. 제 1 항에 있어서, 분리수단(3)은 제1, 제2광비임출현면(10,11)이 형성되어 합성적인 광비임을 전송하게 되는 프리즘(5,6)을 포함하여서 된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  8. 제 1 항에 있어서, 분리수단(3)은 제1, 제2광비임출현면(10,11)이 형성되어 합성적인 광비임을 반사하는 거울(19)을 포함하여서 된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  9. 제 1 항에 있어서, 분리수단은 제1, 제2광학비임출현면이 형성되어 합성적인 광비임을 집속하는 렌즈(12)를 포함하여서 된 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  10. 제 1 항에 있어서 제1광비임출현면은 오목(凹)면(10)이고, 제2광비임출현면(11)은 평탄면인 것을 특징으로 하는 광학헤드.
  11. 제 1 항에 있어서, 제1광비임출현면이 원주형 오목(凹)면(10)인 것을 특징으로 하는 광학헤드.
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