KR101068670B1 - 경사 검출기능을 갖는 광학주사장치 - Google Patents

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올레 케이 안데르센
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

본 발명은 광 기록매체를 주사하여 주사동안 광 기록매체의 경사 특징을 검출하는 광학주사장치에 관한 것이다. 이 장치는, 기록매체를 향하여 왕복운동을 할 때, 상기 방사빔의 메인부와 서로 다르게 방사빔의 일부를 초점 변경하도록 대물렌즈(10)에 배치된 초점 변경 구조체(26)를 구비한다. 이 초점 변경된 빔부는, 검출계(16)에서의 위치 감지 검출기를 향하여, 메인 빔부가 따라가는 경로의 것과 서로 다른 경로를 따라간다.
광학주사장치, 초점 변경 구조체, 검출계, 기록매체, 메인 빔부

Description

경사 검출기능을 갖는 광학주사장치{OPTICAL SCANNING DEVICE WITH TILT DETECTION}
본 발명은 경사 검출기능을 갖는 광학주사장치에 관한 것이다.
디지털 다기능 디스크(DVD)형 시스템 등의 개선된 광학주사장치에서는, 고 개구수(NA) 대물렌즈를 사용하여 고 데이터 용량을 얻는다. 문제점은, 특히 디스크가 경사져 있을 경우 디스크의 커버층에 의해 생긴 코마와 같은 파면수차로 인한 소형 디스크 경사 마진이 있다. 그 파면수차가 대물렌즈의 NA에 따라 증가하므로, 디스크 경사는 보다 큰 개구수를 사용하는 경우 더욱더 중요해진다.
미국특허번호 4,219,704에는, 광 기록매체의 경사를 측정하는 광학주사장치가 개시되어 있다. 일 실시예에서, 경사는 예를 들면 서로 다른 파장을 갖는 별도의 방사원으로 측정된다. 다른 실시예에서, 상기 경사는, 레이저 방사원의 후방으로부터 방출되고나서 그 판독된 빔으로부터 연속적으로 분리되는 방사선을 사용하여 측정된다. 후방 방출의 레이저 다이오드를 사용하면 비교적 복잡하고 비용이 많이 든다.
일본특허출원번호 JP-A-200076678에는, 대물렌즈의 전방면이 서로 다른 곡률을 갖는 제 1 및 제 2 영역으로 형성된 광학주사장치가 기재되어 있다. 방사빔을 디스크의 정보층 상의 스폿에 포커싱하는 대신에, 중심영역은, 그 빔의 중심부분을 디스크의 전방면에 포커싱한다. 복귀빔 경로에서는, 홀로그래픽 소자를 사용하여 그 복귀빔의 중심부를 위치 검출기로 분할한다. 2개의 빔을 분리하기 위한 홀로그래픽 소자의 사용은, 비교적 값비싼 해결책이다.
일본특허출원번호 JP-A-05006562에는, 경사 검출계를 구비한 광학주사장치가 기재되어 있다. 이 장치의 대물렌즈는, 광 기록매체를 향하여 왕복운동할 때, 상기 빔이 초점 변경을 하지 않고 통과하는 주변 가장자리를 구비한다. 상기 빔의 경사 검출부가 존재하는 주변 가장자리 또는 에지들에서만 동작하는 하프미러 빔 스플리터는, 주 광경로로부터 빔의 복귀 경사 검출부분을 위치 센서를 구비한 경사 검출 광학계를 향하여 반사한다. 별도의 광 경로는, 경사 검출계를 위해 필요하다. 또한, 본 구성에 제시된 것처럼, 액추에이터와 상기 하프미러를 일체화하는 것은, 대물렌즈계의 무게를 증가시키고 그 대물렌즈계용 기계적 액추에이터 시스템의 전력 소비를 증가시킨다. 또한, 상기 시스템의 주사속도를 제한하는 액추에이터의 대역폭을 감소시킨다.
종래기술의 구성의 문제점을 갖지 않는 상기 시스템에서의 경사의 특징을 검출하는 것이 바람직할 것이다.
본 발명에 따른 광학주사장치는, 방사빔을 사용하여 광 기록매체를 주사하되, 상기 방사빔을 기록매체의 정보층 상의 스폿에 포커싱하는 광학계와, 기록매체에서의 메인부의 반사 후 방사빔의 메인부로부터 방사선을 수신하여 정보신호를 검출하도록 배치된 정보신호 검출기를 구비한 검출계를 구비하고,
상기 광학계는, 기록매체를 향하여 왕복운동할 때, 상기 방사빔의 메인부와 서로 다르게 방사빔의 일부를 초점 변경하도록 배치된 초점 변경 구조체를 구비하여, 상기 초점 변경된 빔부가 메인 빔부가 따라가는 경로의 것과 서로 다른 경로를 따라가고,
상기 검출계는 상기 초점 변경된 빔부의 위치를 검출하는 위치 감지 검출기를 구비한다.
본 발명을 이용하여, 경사 검출계는, 광학계에서의 별도의 경사 검출 분기를 필요로 하지 않도록 설치되어 있다. 상기 초점 변경 구조체는, 예를 들면 광학계에서의 대물렌즈의 표면 상에 형성될 수 있고, 메인 정보신호 검출빔의 일부를 초점 변경할 수 있다. 광 기록매체로부터의 반사 후, 상기 초점 변경된 부분은, 위치 감지 검출기에 도달할 때까지, 상기 메인 빔과 같은 광학성분을 통과하는 경로를 따라간다.
본 발명의 또 다른 국면들, 이점들 및 특징들은, 아래의 첨부도면을 참조하여, 예시에 의해 주어진 이하의 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하는 것으로부터 명백해질 것이다:
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광학주사장치의 개략적인 측면도이고,
도 2는 본 발명의 실시예에 따라 배치된 검출계의 평면도이고,
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스크와 관련지어 배치된 대물렌즈의 개략적인 단면도이며,
도 4는 도 3에 도시된 대물렌즈의 표면 중 일부의 평면도이고,
도 5는 본 발명의 다른 실시예에서의 광 디스크와 관련지어 배치된 대물렌즈의 개략적인 단면도이고,
도 6은 도 5에 도시된 대물렌즈의 일부의 단면도이고,
도 7은 본 발명의 실시예에서 사용된 신호처리소자의 개략도이고,
도 8은 본 발명의 실시예에서 사용된 디스크 경사와 최적의 대물렌즈 경사(objective tilt)간의 관계를 나타낸 그래프이다.
본 발명의 실시예에 따른 광학주사장치는 도 1에 도시되어 있다. 본 실시예에서, 상기 장치는 DVD형 디스크를 주사하도록 구성되어 있다. 본 실시예에서 방사원(2)인 레이저 다이오드는, 660nm와 같이 소정의 파장을 갖는 방사빔을 방출한다. 이 방사빔은, 시준렌즈(6)에 의해 시준되어, 본 실시예에서는 광 기록매체인 디스크의 정보층 상에 예를 들면 2.75mm와 같은 소정의 초점 길이를 갖는 대물렌즈에 의해 포커싱된다. 1/4파 플레이트(8)와 편광 빔 스플리터(4)는, 상기 반사된 빔을 검출계(16) 상으로 향하게 하는데 사용된다. 비점수차 렌즈 등의 검출기 렌즈(14)를 사용하여 메인 빔부(15)에 대한 포커스 제어를 한다.
상술한 것과 같은 광학계를 통과하는 메인 빔에 추가로, 빔부(17)는 경사 검출목적을 위한 광 경로 내로부터 분리되어 메인 정보신호로부터 별도로 검출되는 검출계(16)의 경사 검출부를 향하여 초점 변경된다. 기록매체(12)로 가는 도중에 초점 변경되어 그에 따라 반사된 후, 상기 초점 변경된 빔부(17)는, 각각의 개구 내에 각각, 대물렌즈(10)와, 1/4파 플레이트(8), 시준렌즈(6) 및 검출기 렌즈(14) 각각을 통해 통과한다. 상기 시준렌즈(6)는, 상기 초점 변경된 빔부(17)를 검출계 내의 위치 감지 검출기 상의 스폿에 포커싱한다.
도 2는 검출계(16)에서 사용된 예시적인 검출기 어레이를 나타낸다. 검출기 어레이는, 광 디스크(12)의 정보층으로부터 판독된 정보신호와 포커스 오차신호를 검출하는 종래의 4분면 검출기(18)와, 4분면 검출기(18)의 각 측면에 배치되어 트랙킹 오차신호를 검출하는 2개의 푸시풀 반경방향 트랙킹 오차 검출기(20,22)를 구비한다. 또한, 검출계(16)에는 반경방향 디스크 경사 및 접선방향 디스크 경사 모두를 검출하는데 사용된 2개의 2차원 위치 감지장치(24)가 구비되어 있다. 다른 실시예에서, 1차원 위치 감지장치는, 2차원 위치 감지장치 대신에, 반경방향 경사 또는 접선방향 경사 중 어느 한쪽만을 검출하는데 사용되어도 된다. 또한, 이와는 달리, 2개의 1차원 검출기를, 아래에 후술하는 것처럼, 2개의 세트의 초점 변경 구조체와 함께 사용하여, 반경방향 디스크 경사와 접선방향 디스크 경사 모두를 따로따로 검출한다.
본 실시예에서는, 대물렌즈(10)의 전방면(25), 즉 도 3 및 도 4에 도시된 것처럼, 방사원(2)에 가장 근접한 표면 상에 초점 변경 구조체(26)를 설치한다. 이러한 구조체는, 디스크(12)의 정보층을 주사하는데 사용된 개구 내측과 외측 양쪽의 렌즈의 어떠한 위치에도 위치될 수 있다. 바람직한 위치는, 이러한 위치에서 상기 초점 변경된 빔부가 메인 주사 스폿 위치에서 디스크 경사를 측정할 것이므로, 도 3에 도시된 것처럼, 렌즈(10)의 중심 내에 있다. 본 실시예에서, 대물렌즈의 후방면(27)은 평평하다.
상기 초점 변경 구조체(26)는, 2개의 비스듬하고 평탄한 영역 A 및 B를 구비하고, 각 영역은 도 3 및 도 4에 도시된 것처럼, 주변 렌즈 표면에 대해 경사져 있다. 본 실시예에서, 양쪽의 영역은, 각도 i로 경사져 있다. 다른 실시예에서, 상기 표면은 서로 다른 각도로 경사져 있다. 또 다른 실시예에서는, 상기 표면 B를 포함하지 않는다; 그 대신에 복귀 빔부가 대물렌즈 전방면(25)의 거의 평탄한 부분을 통과한다. 영역 A에 입사되는 광선 RI로 나타낸 시준빔 부분은, 렌즈(10)의 광축(28)에 평행하게 왕복운동하는 경우, 비스듬한 표면 A에 의해 초점 변경되고, 디스크에 의해 반사되고, 그 후 그 빔부는 다시 광선 RR로 나타낸 것처럼, 비스듬한 표면 B에 의해 초점 변경된다. 디스크의 경사 δ는 검출기 표면에 대한 방위에 있어서 같은 평면과 관계 있다. 상기 광선들은, 도 3에 도시된 것처럼 초점 변경되어 반사될 때 각도 i, o',i',o,p,q,j 및 k를 이룬다. 상기 반사된 광선 RR의 광축(28)에 대한 상기 각도 k는 다음과 같다.
k=2((n-1)i+δ) (1)
위에서는, 작은 각도 근사값을 사용하고, n은 대물렌즈(10)의 몸체의 굴절률이다. 아래의 x를 측정하는 것과 같은 방향으로 각도 δ를 측정하는 경우 검출기 평면에서 시준기에 의해 포커싱된 스폿의 위치 x는 다음과 같이 측정된다.
x=fk=2f[(n-1)i+δ] (2)
여기서, f는 시준기와 서보렌즈 조합의 초점 길이이다. 그래서, 상기 반사된 스폿의 비경사 위치는, 비스듬한 평면영역 A와 B의 경사 각도 i를 적절하게 선택하 여 선택될 수 있고, 디스크 경사 δ에 따라 변화된다. 위치 검출기(26)의 중심은, 검출기 평면에서의 4분면 검출기(18)의 중심으로부터 대략 2f(n-1)i의 값만큼 이격되어 있다. 제조시에 필요한 정렬만은, 상기 비스듬한 영역 A와 B가 위치 검출기에 대해 배치되도록 대물렌즈(10)의 방위에 있으므로, 상기 초점 변경된 빔부(17)의 스폿은, 언타이틀 디스크 부분을 주사하고 있을 경우 검출기(24)의 중심에 속한다.
도 3에 도시된 각도는, 개략적이고, 예시적인 목적을 위해 비정상적으로 확장된 것이라는 것을 주목한다. 상기 초점 변경되어 반사된 빔부(17)가 상기 빔의 시준된 부분에서의 광축과 이루는 각도 k는, 대략 영역 0<i<10°에서 충분히 작아서, 도 1에 도시된 각 부품을 통과하여 메인 빔부에 대해 초점 변경된다. 상기 각도들은, 상기 초점 변경된 빔부와 메인 빔부를 검출계(16)의 각각의 서로 다른 검출소자 상에 분리하는데 충분해야 한다. 비스듬한 영역 A에 입사되는 방사선은 각도 γ를 이루며 상기 검출기로 다시 반사되고 그 검출기 표면의 축에 따른 위치는 x이다. 예시로서, 대물렌즈(10)의 몸체에 대한 굴절률 n=1.768, i=54.3mrad, 시준렌즈와 검출기 렌즈 조합을 위한 12mm의 초점 길이이면, x 위치는 다음식으로 나타내어진다.
x=24(0.768×0.0543+δ)
Figure 112005019669617-pct00001
1.00+24δmm (3)
최대 디스크 경사 δ=±2°(=±35mrad)로 하면, 최소 및 최대 x 위치는 0.16mm 및 1.84mm이다. 변위는 Hamamatsu S7848 검출기 등의 검출계에서의 포지티브 감지 검출기에 의해 측정될 수 있다. 즉 30㎛의 전형적인 위치 오차에 의해, ±0.1°미만의 경사각 측정 정밀도까지 달성될 수 있다.
상기 초점 변경 구조체(26)는, 메인 빔부 개구의 단면영역의 5%미만으로 형성한다. 본 예에서는, Anteryon AO460 대물렌즈 형태를 대물렌즈(10)에 대한 베이시스로서 사용한다. 대물렌즈의 동공의 전체 영역은, 10.07mm2이다. 중심 구조체의 영역은, 예를 들어 0.25mm2이어서, 2.5%, 즉 주사하는 방사빔의 5%미만은 디스크(12)의 정보층 상의 스폿에 포커싱되지 않고, 디스크 경사 측정을 위해 사용된다. 이것은 메인 빔 스폿의 형상에 영향을 주지만 허용가능 공차 내에 있다.
본 발명의 또 다른 실시예는 도 5 및 도 6에 도시되어 있고, 여기서는 상기 첫 번째 실시예와 동일한 부재는 100씩 증가시킨 것을 제외하고는 동일한 참조번호를 나타낸다.
본 실시예에서는, 2개의 작은 경사진 평면 C 및 D로 이루어진 또 다른 초점 변경 구조체(126)를 사용하고, 이 평면들은 렌즈의 평면 후방면(127)에 대해 α 및 β의 각도로 경사져 있고, 그 렌즈의 평면의 후방면은 상기 렌즈의 광축에 수직한 면이다. R1로 나타낸 하나의 입사빔부는 초점 변경되어 디스크에서 반사하고, R2로 나타낸 또 하나의 입사빔부는 렌즈 표면에서 반사한다. 각각 α 및 β는, 대물렌즈 및 디스크가 평행한 경우 상기 초점 변경되어 반사된 R1,R2가 중첩되도록 선택되는 것이 바람직하다. 이러한 조건은 다음식과 같다.
Figure 112005019669617-pct00002
여기서는 작은 각도 근사값이 사용되고 n은 상기 렌즈를 통과하는 방사선에 대한 대물렌즈(110)의 굴절률이다. 대물렌즈와 디스크가 동일한 각도로 경사진 경우, 광선 R1 및 R2로 나타낸 상기 빔부는, 이들 각도가 작게 유지되면 절대 경사각과 상관없이 검출기를 향하여 왕복운동할 경우 중첩된다. 예를 들면, α=1.4° 및 n=1.5로 하면 β=7.0°이다. 도 5에서, 디스크는, 검출기 평면과 같은 평면에 대해 각도 δ를 이룬다. 작은 각도 근사값으로 하면, 대물렌즈 표면에서 반사된 광선 R2로 나타낸 빔부와, 디스크에서 초점 변경되어 반사된 광선 R1으로 나타낸 빔부간의 각도는, 2δ이다.
검출기(24)에서 광선 R1과 R2로 나타낸 2개의 빔부의 위치신호들은, 검출계와 관련된 신호처리시스템에서 식별된다. 일 실시예에서는, 광선 R1으로 나타낸 상기 초점 변경된 빔부를 디스크와 대물렌즈 사이에 방사선 강도 변조기를 설치하여 변조하여서 식별한다. 그후 복조에 의해, 검출기 신호들은 식별될 수 있다. 이와는 달리, 예를 들면 서로 다른 파장을 갖고, CD 호환형 DVD 재생장치에서 사용가능한 특별한 CD 레이저 등의 서로 다른 소스를 사용하여 상기 반사된 빔부를 생성하는 방사빔을 생성하여도 된다. 이러한 소스는 메인 빔 소스와 독립적으로 온 및 오프로 전환할 수 있어, 검출기 신호들에의 기여가 식별될 수 있다.
도 6은 나머지 대물렌즈 표면(125)의 반사방지 코팅(130)과, 상기 광선들을 분리하는데 필요한 상기 초점 변경 구조체 상의 고반사 코팅(132)의 사용을 나타낸다. 반사방지 코팅(130)은, CD 파장(예: 780nm)과 DVD 파장(예: 660nm)에 모두에 대해 고투과성이고, 고반사 코팅(132)은 DVD 파장에 대해 고투과성이고 CD 파장에 대해 고반사성이다. 광선 R1으로 나타낸 빔부를 형성하는 방사빔은 DVD 레이저에 의해 방출되고, 광선 R2로 나타낸 빔부를 형성하는 방사빔은 CD 레이저에 의해 방출된다. 그 CD 레이저가 오프로 된 경우, 검출기로부터의 신호들은, 초점 변경되어 디스크(112)에서 반사가 이루어진 DVD 빔부와 일치한다. CD 레이저를 온으로 한 후, 양쪽의 빔부와 일치하는 제 2 검출기 신호들은, 디스크와 대물렌즈 각각에서 반사가 이루어진다. 제 1 측정으로 얻어진 검출기 신호들을 감산하는 것은 CD 레이저 빔부에 의해 발생된 신호들을 산출한다. 이와 같이, 검출기(24) 상의 DVD 레이저 스폿 위치와 CD 레이저 스폿 위치 양쪽은 디스크 경사와 대물렌즈 경사 각각과 일치하게 산출될 수 있다. CD 레이저의 간헐성 전환에 의해, 각각의 경사는 동적으로 측정될 수 있다.
이와는 달리, 동일한 식별 효과는, CD 파장에 대해 고투과성이고 DVD 파장에 대해 고반사성인 고반사 코팅(132)을 사용하고 다시 간헐적으로 CD 레이저를 온 및 오프 전환함으로써, 역으로 달성될 수 있다.
본 실시예에서의 경사각 측정에 의한 감도는, 제 1 실시예에서와 같다, 즉 ±2°의 디스크 경사는, 0.07의 정밀도에 의해 측정될 수 있다.
본 발명의 이점은, 본 발명이 대물렌즈의 경사를 제어하는 3차원 기계적 액추에이터 내에 포함된다는 것이다. 도 3 및 도 4에 도시된 제 1 실시예에서는, 상기 기계적 액추에이터의 서로 다른 구동신호에서의 대물렌즈(10)의 경사를 측정할 수 있고 상기 검출된 디스크에 대한 적절한 구동신호를 사용하여 디스크 경사를 동 적으로 보상할 수 있다.
도 5 및 도 6에 도시된 제 2 실시예에서는, 디스크의 경사를 도 7에 개략적으로 도시된 것과 같은 서보루프를 사용하여 보상할 수 있다. 디스크 경사 발생기(140)와 대물렌즈 경사 신호 발생기(142)로 개략적으로 나타낸 것처럼, 신호처리 시스템에서 디스크 경사신호와 대물렌즈 경사신호들을 발생하면, 그 2개의 신호들을 감산하여, 대물렌즈 액추에이터(144)를 제어하는데 사용된 대물렌즈 액추에이터 제어신호를 얻는다. 이러한 방법으로, 대물렌즈 경사를 대략 디스크 경사와 동일하게 할 수 있다. 절대적인 대물렌즈 경사 제어신호들은 반드시 필요한 것은 아니다.
도 8은 디스크 경사의 함수로서 대물렌즈 경사를 보상하는 최적값을 나타낸다. 이 함수는 1미만의 약간의 경사로 거의 선형적이다. 그에 대응한 제곱평균 제곱근(RMS) 수차는, 아래 표 1에 산출되어 열거되어 있다. 상기 경사가 1에 근사하는, 예를 들면, 디스크 경사와 대물렌즈 경사가 마지막 열에서처럼, 동일하다면, 경사 보상이 최적이 되지 않지만 그래도 RMS수차는 실질적으로 감소되고 최적의 경우보다 대략 25% 높다. RMS 수차가 30mλ인 제작형 대물렌즈로 하면, 본 실시예에서의 최대 허용 디스크 경사는 ±1°인데, 그 이유는 최대 허용 파면수차가 70mλ이고 이 파면수차가 대물렌즈 수차와 1°의 디스크 경사로 인한 수차를 취하는 총 RMS에 해당하며, 그 디스크 경사(경사디스크)가 표 1의 마지막 열에 도시된 것처럼, 동일한 대물렌즈 경사(경사대물렌즈)만큼 보상되기 때문이다.
Figure 112005019669617-pct00003
상술한 실시예들에서는, 대물렌즈(10)의 전방면에 비스듬한 A,B;C,D가 있다. 이와는 달리, 그 비스듬한 영역이, 그 후방면 또는 상기 대물렌즈계의 서로 다른 면에 위치되어도 된다. 임의의 선택된 구성에서, 상기 빔의 초점변경된 부분은, 디스크의 정보면 상에 포커싱된 메인 빔과는 달리, 기록매체의 표면에 포커싱되지 않아야 한다. 상기 비스듬한 영역 A, B이외에 상기 구조체를 갖는 표면은, 반드시 광축에 수직할 필요는 없다. 그러나, 그 표면은 평면인 것이 바람직하고, 다른 방위가 선택되는 경우 상술한 방위각은 서로 다를 것이다.
상술한 실시예에서 광학주사장치가 DVD 장치이지만, 본 발명은 디스크 경사가 문제의 특징인 모든 광 디스크 드라이브에서 사용될 수 있다는 것을 알아야 한다. 또한, 상기 제 2 실시예에서는 제 2 소스가 CD 레이저 소스이지만, 다른 형태의 제 2 방사원을 사용하여도 된다.
상기 제 2 실시에에서는, 단일의 검출기를 사용하여 상기 빔의 초점변경된 부분과 반사된 부분을 검출하고, 이와는 달리 2개의 별도의 위치 감지 검출기를 사용하여 각 부분을 별도로 검출하여도 되며, 그 2군데의 부분을 상기 초점 변경 구조체 부분들의 경사를 적절하게 배치하여 각각 분리하여도 된다.
상기 실시예들은 본 발명의 예시적인 예들로서 이해해야 한다. 본 발명의 추가의 실시예들을 고찰할 수 있다. 임의의 한 개의 실시예와 관련지어 설명된 임의의 특징 하나만을 사용하거나, 상술한 다른 특징들을 조합하여 사용하여도 되고, 또한 임의의 다른 상기 실시예들의 1개 이상의 특징과 조합하여 사용하여도 되거나, 또는 임의의 다른 상기 실시예들의 임의의 조합을 사용하여도 된다. 또한, 첨부된 청구범위에 기재된 본 발명의 범위로부터 벗어나지 않으면 상기 설명되지 않은 동등한 것과 변형된 것을 사용하여도 된다.

Claims (16)

  1. 방사빔을 사용하여 광 기록매체를 주사하되, 상기 방사빔을 기록매체의 정보층 상의 스폿에 포커싱하는 광학계와, 기록매체에서의 메인부의 반사 후 방사빔의 메인부로부터 방사선을 수신하여 정보신호를 검출하도록 배치된 정보신호 검출기(18)를 구비한 검출계(16)를 구비하고,
    상기 광학계는, 기록매체를 향하여 왕복운동할 때, 상기 방사빔의 메인부(15)와 서로 다르게 방사빔의 일부(17)를 초점 변경하도록 배치된 초점 변경 구조체(26;126)를 구비하여, 상기 초점 변경된 빔부가 메인 빔부가 따라가는 경로와는 서로 다른 경로를 따라가고,
    상기 초점 변경 구조체(26;126)는, 굴절성 초점 변경부를 구비하고,
    상기 검출계는 상기 초점 변경된 빔부의 위치를 검출하는 위치 감지 검출기(26)를 구비하고,
    상기 초점 변경 구조체(26;126)는, 렌즈 부재의 표면에 비회전 대칭 변화로서 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 초점 변경 구조체(26;126)는, 주변 렌즈표면에 대해 경사진 표면부를 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 초점 변경 구조체(26;126)는, 방사빔의 단면영역의 5%미만을 덮도록 배치된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 초점 변경 구조체(26;126)는, 기록매체를 향하여 왕복운동을 할 때 상기 빔부를 초점 변경하는 제 1 부분(A;C)과, 기록매체로부터 반사 후 상기 빔부를 초점 변경하는 제 2 부분(B;D)을 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학계는, 상기 반사된 빔부가 상기 방사빔의 메인 빔부가 따라가는 경로와 서로 다른 경로를 따라가도록 방사빔의 일부를 반사시키도록 배치된 반사부(D)를 구비하고, 상기 검출계는, 상기 반사된 부분의 위치를 검출하는 위치 감지 검출기(26)를 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 제 2 부분은, 단일의 구조부재(D)로서 형성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 부분의 경사 α와 β는, 각각 다음식과 같다:
    Figure 112005019669617-pct00004
    여기서, n은 상기 초점 변경 구조체의 굴절률인 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 검출계는, 초점 변경된 빔부와 반사된 빔부를 검출하는 단일 위치 감지 검출기(26)를 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  14. 제 10 항에 있어서,
    제 1 파장을 갖는 제 1 방사빔을 발생하는 제 1 방사원과, 상기 제 1 파장과 서로 다른 제 2 파장을 갖는 제 2 방사빔을 발생하는 제 2 방사원을 구비하고, 상기 반사부(D)는, 상기 제 1 및 제 2 파장 중 하나와 관계되어 선택적으로 반사하는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 제 2 방사빔을 발생하는 방사원은, 상기 초점 변경된 빔부와 상기 반사된 빔부의 상대적인 강도들을 변화시키기 위해 강도를 선택적으로 변경하도록 배치된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  16. 제 10 항에 있어서,
    상기 반사부는, 단일의 구조부재(D)로서 형성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
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