KR20230007579A - 표시 장치 - Google Patents

표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20230007579A
KR20230007579A KR1020210087680A KR20210087680A KR20230007579A KR 20230007579 A KR20230007579 A KR 20230007579A KR 1020210087680 A KR1020210087680 A KR 1020210087680A KR 20210087680 A KR20210087680 A KR 20210087680A KR 20230007579 A KR20230007579 A KR 20230007579A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
electrode
disposed
light
light emitting
Prior art date
Application number
KR1020210087680A
Other languages
English (en)
Inventor
김현향
김다혜
김만수
서정원
안재설
현민관
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020210087680A priority Critical patent/KR20230007579A/ko
Priority to US17/835,456 priority patent/US20230005899A1/en
Priority to CN202210853104.1A priority patent/CN115643777A/zh
Publication of KR20230007579A publication Critical patent/KR20230007579A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • H01L33/60Reflective elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/64Heat extraction or cooling elements
    • H01L33/644Heat extraction or cooling elements in intimate contact or integrated with parts of the device other than the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/2405Shape
    • H01L2224/24051Conformal with the semiconductor or solid-state device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/241Disposition
    • H01L2224/24135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/24145Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • H01L2224/24147Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked the HDI interconnect not connecting to the same level of the lower semiconductor or solid-state body at which the upper semiconductor or solid-state body is mounted, e.g. the upper semiconductor or solid-state body being mounted in a cavity or on a protrusion of the lower semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/25Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of a plurality of high density interconnect connectors
    • H01L2224/251Disposition
    • H01L2224/2512Layout
    • H01L2224/25175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L24/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L24/25Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of a plurality of high density interconnect connectors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

표시 장치가 제공된다. 표시 장치는 기판의 일면 상에서 서로 이격 배치된 제1 전극 및 제2 전극, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 배치된 발광 소자, 상기 기판의 타면 상에 배치된 기능층, 상기 기능층과 상기 기판의 타면 사이에 배치되며, 평면상 상기 발광 소자를 커버하도록 배치된 반사층을 포함한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다.
표시 장치는 멀티미디어의 발달과 함께 그 중요성이 증대되고 있다. 이에 부응하여 유기발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display, OLED), 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display, LCD) 등과 같은 여러 종류의 표시 장치가 사용되고 있다.
표시 장치의 화상을 표시하는 장치로서 유기 발광 표시 패널이나 액정 표시 패널과 같은 표시 패널을 포함한다. 그 중, 발광 표시 패널로써, 발광 소자를 포함할 수 있는데, 예를 들어 발광 다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 경우, 유기물을 발광 물질로 이용하는 유기 발광 다이오드(OLED), 무기물을 발광 물질로 이용하는 무기 발광 다이오드 등이 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 발광 소자와 방열층 사이에 반사층을 배치함으로써, 발광 소자로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광을 표시 방향으로 반사시켜 출광 효율이 향상된 표시 장치를 제공할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 발광 소자로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광이 집중적으로 입사하는 영역에만 반사 패턴을 선택적으로 배치함으로써, 출광 효율 및 방열 특성이 향상된 표시 장치를 제공할 수 있다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않으며, 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예에 따른 표시 장치는 기판의 일면 상에서 서로 이격 배치된 제1 전극 및 제2 전극, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 배치된 발광 소자, 상기 기판의 타면 상에 배치된 기능층, 상기 기능층과 상기 기판의 타면 사이에 배치되며, 평면상 상기 발광 소자를 커버하도록 배치된 반사층을 포함한다.
상기 과제를 해결하기 위한 다른 실시예에 따른 표시 장치는 출광 영역 및 상기 출광 영역을 둘러싸는 차광 영역을 포함하는 기판, 상기 기판의 일면 상에서 상기 출광 영역에 배치되며 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 "?璲* 교차하는 제2 방향으로 서로 이격된 제1 전극 및 제2 전극, 상기 기판의 일면 상에서 상기 출광 영역에 배치되며, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 배치된 복수의 발광 소자, 상기 기판의 일면 상에서 차광 영역에 배치되며, 상기 출광 영역을 정의하는 차광 부재, 상기 기판의 타면 상에 배치되는 방열층, 및 상기 방열층과 상기 기판 사이에서 상기 출광 영역과 중첩 배치된 기능층을 포함한다.
상기 과제를 해결하기 위한 다른 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 출광 영역 및 상기 복수의 출광 영역을 둘러싸는 차광 영역을 포함하는 기판, 상기 기판의 일면 상에서 상기 복수의 출광 영역 각각에 배치된 발광 소자들, 상기 기판의 타면 상에 배치된 복수의 반사 패턴을 포함하되, 상기 복수의 반사 패턴은 서로 이격되어 배치된다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
일 실시예에 따른 표시 장치는 발광 소자와 방열층 사이에 반사층을 배치함으로써, 발광 소자로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광을 표시 방향으로 반사시켜 출광 효율이 향상될 수 있다.
또한, 다른 실시예에 따른 표시 장치는 발광 소자로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광이 집중적으로 입사하는 영역에만 반사 패턴을 선택적으로 배치함으로써, 표시 장치의 출광 효율 및 방열 특성이 향상될 수 있다.
실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 표시 장치의 단면도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 표시 패널의 발광 소자층을 나타낸 개략적인 평면 배치도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 제1 서브 화소의 일 예를 나타낸 단면도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략 사시도이다.
도 6은 도 4의 Q 영역을 확대한 일 예를 나타낸 확대 단면도이다.
도 7은 도 4의 Q 영역을 확대한 다른 예를 나타낸 확대 단면도이다.
도 8은 일 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 9는 도 8의 표시 장치의 차광 부재와 제2 기능층 사이의 상대적인 평면 배치도이다.
도 10은 도 8의 표시 장치의 발광 소자로부터 방출되어 하부로 진행하는 광의 진행 방향을 설명하기 위한 개략 단면도이다.
도 11은 일 실시예에 따른 제2 기능층의 단면도이다.
도 12는 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 13은 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 14는 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 15는 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 16은 도 15의 표시 장치의 차광 부재와 제2 기능층 사이의 상대적인 평면 배치도이다.
도 17은 도 15의 표시 장치의 발광 소자로부터 방출되어 하부로 진행하는 광의 진행 방향을 설명하기 위한 개략 단면도이다.
도 18은 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 19는 롤링된 상태의 표시 장치의 일 예를 나타낸 사시도이다.
도 20은 도 19의 표시 장치의 개략적인 단면도이다.
도 21은 도 20의 표시 장치가 하부 방향으로 롤링된 상태를 도시한 개략적인 단면도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다른 형태로 구현될 수도 있다. 즉, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "위(on)" 또는 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 또는 층의 바로 위뿐만 아니라 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 소자가 "직접 위(directly on)" 또는 "바로 위"로 지칭되는 것은 중간에 다른 소자 또는 층을 개재하지 않은 것을 나타낸다.
명세서 전체를 통하여 동일하거나 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대해 설명한다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(10)는 동영상이나 정지 영상을 표시한다. 표시 장치(10)는 표시 화면을 제공하는 모든 전자 장치를 지칭할 수 있다. 예를 들어, 표시 화면을 제공하는 텔레비전, 노트북, 모니터, 광고판, 사물 인터넷, 모바일 폰, 스마트 폰, 태블릿 PC(Personal Computer), 전자 시계, 스마트 워치, 워치 폰, 헤드 마운트 디스플레이, 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 내비게이션, 게임기, 디지털 카메라, 캠코더 등이 표시 장치(10)에 포함될 수 있다.
표시 장치(10)는 표시 화면을 제공하는 표시 패널(도 2의 '2000')을 포함한다. 표시 패널(2000)의 예로는 무기 발광 다이오드 표시 패널, 유기발광 표시 패널, 양자점 발광 표시 패널, 플라즈마 표시 패널, 전계방출 표시 패널 등을 들 수 있다. 이하에서는 표시 패널(2000)의 일 예로서, 무기 발광 다이오드 표시 패널이 적용된 경우를 예시하지만, 그에 제한되는 것은 아니며, 동일한 기술적 사상이 적용 가능하다면 다른 표시 패널에도 적용될 수 있다.
이하, 표시 장치(10)를 설명하는 실시예의 도면에는 제1 방향(DR1), 제2 방향(DR2), 및 제3 방향(DR3)이 정의되어 있다. 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)은 하나의 평면 내에서 서로 수직한 방향일 수 있다. 제3 방향(DR3)은 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)이 위치하는 평면에 수직한 방향일 수 있다. 제3 방향(DR3)은 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2) 각각에 대해 수직을 이룬다. 표시 장치(10)를 설명하는 실시예에서 제3 방향(DR3)은 표시 장치(10)의 두께 방향을 나타낸다.
표시 장치(10)는 평면상 제1 방향(DR1)이 제2 방향(DR2)보다 긴 장변과 단변을 포함하는 직사각형 형상을 가질 수 있다. 평면상 표시 장치(10)의 장변과 단변이 만나는 코너부는 직각일 수 있지만, 이에 제한되지 않으며, 라운드진 곡선 형상을 가질 수도 있다. 표시 장치(10)의 평면 형상은 예시된 것에 제한되지 않고, 정사각형, 코너부(꼭지점)가 둥근 사각형, 기타 다각형, 원형 등 기타 다른 형상을 가질 수도 있다.
표시 장치(10)의 표시면은 두께 방향인 제3 방향(DR3)의 일측에 배치될 수 있다. 표시 장치(10)를 설명하는 실시예들에서 다른 별도의 언급이 없는 한, "상부"는 제3 방향(DR3) 일측으로 표시 방향을 나타내고, "상면"은 제3 방향(DR3) 일측을 향하는 표면을 나타낸다. 또한, "하부"는 제3 방향(DR3) 타측으로 표시 방향의 반대 방향을 나타내고, 하면은 제3 방향(DR3) 타측을 향하는 표면을 지칭한다. 또한, "좌", "우", "상", "하"는 표시 장치(10)를 평면에서 바라보았을 때의 방향을 나타낸다. 예를 들어, "우측"는 제1 방향(DR1) 일측, "좌측"는 제1 방향(DR1) 타측, "상측"은 제2 방향(DR2) 일측, "하측"은 제2 방향(DR2) 타측을 나타낸다.
표시 장치(10)는 표시 영역(DPA)과 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 표시 영역(DPA)은 화면이 표시될 수 있는 영역이고, 비표시 영역(NDA)은 화면이 표시되지 않는 영역이다.
표시 영역(DPA)의 형상은 표시 장치(10)의 형상을 추종할 수 있다. 예를 들어, 표시 영역(DPA)의 형상은 표시 장치(10)의 전반적인 형상과 유사하게 평면상 직사각형 형상을 가질 수 있다. 표시 영역(DPA)은 대체로 표시 장치(10)의 중앙을 차지할 수 있다.
표시 영역(DPA)은 복수의 화소(PX)를 포함할 수 있다. 복수의 화소(PX)는 행렬 방향으로 배열될 수 있다. 각 화소(PX)의 형상은 평면상 직사각형 또는 정사각형일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고 각 화소(PX)의 형상은 각 변이 일 방향에 대해 기울어진 마름모 형상일 수도 있다. 각 화소(PX)는 스트라이프 타입 또는 펜타일 타입으로 교대 배열될 수 있다.
표시 영역(DPA)의 주변에는 비표시 영역(NDA)이 배치될 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DPA)을 전부 또는 부분적으로 둘러쌀 수 있다. 예시적인 실시예에서, 표시 영역(DPA)은 직사각형 형상이고, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DPA)의 4변에 인접하도록 배치될 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 표시 장치(10)의 베젤을 구성할 수 있다. 비표시 영역(NDA)에는 표시 장치(10)에 포함되는 배선들, 회로 구동부들, 또는 외부 장치가 실장되는 패드부가 배치될 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 표시 장치의 단면도이다.
도 2를 참조하면, 상술한 바와 같이 표시 장치(10)의 표시 영역(DPA)은 복수의 행과 열을 따라 배열된 복수의 화소(PX)를 포함한다. 화소(PX)는 표시를 위한 반복되는 최소 단위를 의미한다.
풀 컬러를 디스플레이하기 위해 각 화소(PX)는 서로 다른 색을 방출하는 복수의 서브 화소(PXn, n은 1 내지 3의 자연수)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 각 화소(PX)는 제1 색의 광 방출을 담당하는 제1 서브 화소(PX1), 제2 색의 광 방출을 담당하는 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 색 광 방출을 담당하는 제3 서브 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 색은 적색, 제2 색은 녹색, 제3 색은 청색일 수 있다. 한편, 도면에서는 일 화소(PX)가 3개의 서브 화소(PXn)를 포함하는 것을 예시하였으나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 일 화소(PX)는 더 많은 수의 서브 화소(PXn)를 포함할 수도 있다.
복수의 서브 화소(PXn) 각각은 출광 영역(EMA) 및 그 주변의 차광 영역(NEM)을 포함할 수 있다. 구체적으로, 제1 서브 화소(PX1)는 제1 출광 영역(EMA1)을 포함하고, 제2 서브 화소(PX2)는 제2 출광 영역(EMA2)을 포함하며, 제3 서브 화소(PX3)는 제3 출광 영역(EMA3)을 포함할 수 있다.
제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)은 후술하는 표시 패널(2000)의 표시층(EML)에서 방출된 광이 외부로 제공되는 영역이고, 차광 영역(NEM)은 표시 패널(2000)의 표시층(EML)에서 방출된 광이 투과하지 않는 영역일 수 있다. 제1 출광 영역(EMA1)은 제1 색 광을 출사할 수 있고, 제2 출광 영역(EMA2)은 제2 색 광을 출사할 수 있으며, 제3 출광 영역(EMA3)은 제3 색 광을 출사할 수 있다. 예를 들어, 제1 색은 적색, 제2 색은 녹색, 제3 색은 청색일 수 있다.
차광 영역(NEM)은 제1 출광 영역(EMA1), 제2 출광 영역(EMA2) 및 제3 출광 영역(EMA3)을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 제1 출광 영역(EMA1), 제2 출광 영역(EMA2) 및 제3 출광 영역(EMA3)은 차광 영역(NEM)에 의해 구분될 수 있다.
일 실시예에서, 표시 장치(10)는 표시 패널(2000) 및 표시 패널(2000)의 하면 상에 배치된 기능층(1000)을 포함할 수 있다.
표시 패널(2000)은 기판(SUB), 기판(SUB) 상에 배치된 회로 소자층(CCL) 및 회로 소자층(CCL) 상에 배치된 표시층(EML)을 포함할 수 있다.
기판(SUB)은 베이스 기판 또는 베이스 부재일 수 있고, 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 기판(SUB)은 유리, 석영, 또는 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 기판(SUB)은 리지드(Rigid) 기판일 수 있지만, 벤딩(Bending), 폴딩(Folding), 롤링(Rolling) 등이 가능한 플렉시블(Flexible) 기판일 수도 있다.
회로 소자층(CCL)은 기판(SUB) 상에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 회로 소자층(CCL)은 기판(SUB)의 일면 상에 배치되어, 복수의 화소(PX)를 구동할 수 있다. 회로 소자층(CCL)은 적어도 하나의 트랜지스터 등을 포함하여 표시층(EML)을 구동할 수 있다.
표시층(EML)은 기판(SUB) 및 회로 소자층(CCL) 상에 배치될 수 있다. 표시층(EML)은 전극층(200), 발광 소자(ED), 접촉 전극(700)을 포함하는 발광 소자층, 파장 변환층(WCL), 광 투과 패턴(TPL) 및 컬러 필터(CF)를 포함하는 컬러 제어 구조물, 제1 차광 부재(BK1) 및 봉지층(ENL)을 포함할 수 있다.
발광 소자층은 회로 소자층(CCL)의 일면 상에 배치될 수 있다. 발광 소자층은 제1 전극, 발광층, 및 제2 전극을 포함하는 화소들을 포함할 수 있다. 몇몇 실시예에서, 발광층은 무기 발광 다이오드를 포함할 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고 다른 몇몇 실시예에서, 발광층은 유기 발광 다이오드를 포함할 수도 있다.
발광 소자층은 제1 뱅크(400), 제2 뱅크(600), 전극층(200), 접촉 전극(700), 복수의 발광 소자(ED) 및 제1 절연층(510)을 포함할 수 있다.
제1 뱅크(400)는 회로 소자층(CCL) 상에 배치될 수 있다. 제1 뱅크(400)는 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 각 출광 영역인 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3) 각각에 배치될 수 있다. 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)에 각각 배치되는 제1 뱅크(400)는 복수의 서브 뱅크를 포함할 수 있고, 상기 복수의 서브 뱅크는 서로 이격되어 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 뱅크(400)는 서로 이격된 제1 서브 뱅크(410) 및 제2 서브 뱅크(420)를 포함할 수 있다.
전극층(200)은 제1 뱅크(400) 상에 배치될 수 있다. 전극층(200)은 서로 이격된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 포함할 수 있다. 제1 전극(210)은 제1 서브 뱅크(410) 상에 배치되고, 제2 전극(220)은 제2 서브 뱅크(420) 상에 배치될 수 있다.
제1 절연층(510)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 상에 배치될 수 있다. 제1 절연층(510)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 상에서 배치되되, 제1 전극(210)의 적어도 일부 및 제2 전극(220)의 적어도 일부를 노출할 수 있다.
제2 뱅크(600)는 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다. 제2 뱅크(600)는 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 경계를 따라 차광 영역(NEM)에 배치될 수 있다. 제2 뱅크(600)는 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3) 각각에 배치되는 제1 뱅크(400) 및 복수의 발광 소자(ED)를 노출하는 개구를 포함할 수 있다. 상기 제2 뱅크(600)가 포함하는 개구는 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)에 배치된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 일부 영역도 노출할 수 있다.
제2 뱅크(600)는 표시 장치(10)의 제조 공정 중 발광 소자(ED)를 정렬하기 위한 잉크젯 프린팅 공정에서 복수의 발광 소자(ED)가 분산된 잉크가 인접한 서브 화소(PXn)로 혼합되지 않고, 츨광 영역(EMA) 내에 분사되도록 하는 격벽 역할을 할 수 있다. 또한, 제2 뱅크(600)는 출광 영역(EMA) 내에 파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)을 형성하는 격벽의 역할도 할 수 있다. 상기 제2 뱅크(600)가 구획하는 영역에는 파장 변환층(WCL), 광 투과 패턴(TPL)이 배치될 수 있다.
제2 뱅크(600)는 복수의 발광 소자(ED)로부터 방출된 광이 이웃하는 서브 화소(PXn)의 출광 영역(EMA)으로 혼합되지 않도록 차단하는 역할도 할 수 있다. 제2 뱅크(600)는 유기 물질을 포함하여 이루어질 수 있다. 제2 뱅크(600)는 가시광 파장 대역의 광을 흡수하는 광 흡수 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 뱅크(600)는 표시 장치(10)의 블랙 매트릭스로 사용되는 물질로 이루어질 수 있다. 제2 뱅크(600)는 차광 부재의 일종일 수 있다. 다만 이에 제한되지 않고, 제2 뱅크(600)는 유기 물질을 포함하는 격벽 및 상기 격벽의 외면에 배치된 반사층을 포함할 수도 있다.
복수의 발광 소자(ED)는 제1 서브 뱅크(410) 및 제2 서브 뱅크(420) 사이에서 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다. 발광 소자(ED)는 양 단부가 각각 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 상에 놓이도록 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 사이에서 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다.
복수의 발광 소자(ED)는 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 각 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)에 배치될 수 있다. 복수의 발광 소자(ED)는 각 서브 화소(PX1, PX2, PX3)마다 구비될 수 있다. 복수의 발광 소자(ED)는 제2 뱅크(600)가 구획하는 개구에 의해 노출된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 사이에 배치될 수 있다. 따라서, 발광 소자(ED)의 적어도 일부는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 사이의 이격 공간에서 하부 방향으로 노출될 수 있다.
복수의 발광 소자(ED) 각각은 특정 파장대의 광을 방출할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(ED)는 480nm 이하의 범위의 피크 파장, 바람직하게 445nm 내지 480nm 이하의 범위의 피크 파장을 갖는 제3 색 광 또는 청색 광을 방출할 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고 발광 소자(ED)는 녹색 광 또는 적색 광을 방출할 수도 있다.
접촉 전극(700)은 발광 소자(ED) 상에 배치될 수 있다. 접촉 전극(700)은 제1 절연층(510)이 노출하는 제1 및 제2 전극(210, 220) 및 발광 소자(ED)와 각각 접촉할 수 있다. 접촉 전극(700)은 제1 및 제2 전극(210, 220)과 발광 소자(ED)와 각각 접촉하여 이들을 전기적으로 연결하는 역할을 할 수 있다.
접촉 전극(700)은 서로 이격 배치된 제1 접촉 전극(710) 및 제2 접촉 전극(720)을 포함할 수 있다. 제1 접촉 전극(710) 및 제2 접촉 전극(720)은 전기적으로 상호 절연될 수 있다.
제1 접촉 전극(710)은 제1 전극(210) 상에 배치되고, 제2 접촉 전극(720)은 제2 전극(220) 상에 배치될 수 있다. 제1 접촉 전극(710)은 제1 전극(210) 및 발광 소자(ED)의 일 단부를 전기적으로 연결할 수 있다. 제1 접촉 전극(710)은 제1 절연층(510)이 노출하는 제1 전극(210) 및 발광 소자(ED)의 일 단부와 각각 접촉할 수 있다. 제2 접촉 전극(720)은 제2 전극(220) 및 발광 소자(ED)의 타 단부를 전기적으로 연결할 수 있다. 제2 접촉 전극(720)은 제1 절연층(510)이 노출하는 제2 전극(220) 및 발광 소자(ED)의 타 단부와 각각 접촉할 수 있다. 발광 소자(ED)의 일 단부는 제1 접촉 전극(710)을 통해 제1 전극(210)과 전기적으로 연결되고, 발광 소자(ED)의 타 단부는 제2 접촉 전극(720)을 통해 제2 전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다.
파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)은 접촉 전극(700) 상에 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)은 제2 뱅크(600)가 구획하는 개구 내에 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)은 상기 개구 내에서 접촉 전극(700) 상에 배치되어 하부에 배치된 발광 소자층의 복수의 부재를 덮을 수 있다.
파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)은 복수의 발광 소자(ED) 상에 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)은 복수의 발광 소자(ED)와 제3 방향(DR3)으로 중첩할 수 있다. 파장 변환층(WCL) 및 광 투과 패턴(TPL)은 복수의 발광 소자(ED)로부터 방출되어 파장 변환층(WCL) 또는 광 투과 패턴(TPL)으로 입사된 광의 파장을 변환하거나 유지하여 통과시킬 수 있다.
파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)은 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)마다 분리되도록 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)은 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 각 출광 영역, 즉, 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)에 각각 배치되며, 이웃하여 배치되는 파장 변환층(WCL) 및/또는 광투과 패턴(TPL)은 차광 영역(NEM)에 배치된 제2 뱅크(600)에 의해 서로 이격될 수 있다.
발광 소자층으로부터 입사된 광이 해당 서브 화소의 색과 상이한 색을 나타내는 광을 포함하여 발광 소자층으로부터 입사된 광의 파장을 변환할 필요가 있는 서브 화소에는 파장 변환층(WCL)이 배치될 수 있다. 발광 소자층으로부터 입사된 광이 해당 서브 화소의 색과 동일한 색을 나타내는 서브 화소에는 광투과 패턴(TPL)이 배치될 수 있다. 예시된 실시예에서, 제1 서브 화소(PX1) 및 제2 서브 화소(PX2)에는 각각 파장 변환층(WCL)이 배치되고, 제3 서브 화소(PX3)에는 광투과 패턴(TPL)이 배치될 수 있다.
파장 변환층(WCL)은 제1 서브 화소(PX1)에 배치되는 제1 파장 변환 패턴(WCL1)과 제2 서브 화소(PX2)에 배치되는 제2 파장 변환 패턴(WCL2)을 포함할 수 있다.
제1 파장 변환 패턴(WCL1)은 제1 서브 화소(PX1)에서 제2 뱅크(600)에 의해 구획된 제1 출광 영역(EMA1) 내에 배치될 수 있다. 제1 파장 변환 패턴(WCL1)은 발광 소자(ED)로부터 방출된 광을 제1 색 광으로 변환시켜 출사할 수 있다. 구체적으로, 제1 파장 변환 패턴(WCL1)은 발광 소자(ED)로부터 입사된 광을 적색 광으로 변환시켜 출사할 수 있다.
제1 파장 변환 패턴(WCL1)은 제1 베이스 수지(BRS1) 및 제1 베이스 수지(BRS1) 내에 분산된 제1 파장 변환 물질(WCP1)을 포함할 수 있다. 제1 파장 변환 패턴(WCL1)은 제1 베이스 수지(BRS1) 내에 분산된 제1 산란체(SCP1)를 더 포함할 수 있다.
제2 파장 변환 패턴(WCL2)은 제2 서브 화소(PX2)에서 제2 뱅크(600)에 의해 구획된 제2 출광 영역(EMA2) 내에 배치될 수 있다. 제2 파장 변환 패턴(WCL2)은 발광 소자(ED)로부터 방출된 광을 제2 색 광으로 변환시켜 출사할 수 있다. 구체적으로, 제2 파장 변환 패턴(WCL2)은 발광 소자(ED)로부터 방출된 광을 녹색 광으로 변환시켜 출사할 수 있다.
제2 파장 변환 패턴(WCL2)은 제2 베이스 수지(BRS2) 및 제2 베이스 수지(BRS2) 내에 분산된 제2 파장 변환 물질(WCP2)을 포함할 수 있다. 제2 파장 변환 패턴(WCL2)은 제2 베이스 수지(BRS2) 내에 분산된 제2 산란체(SCP2)를 더 포함할 수 있다.
광투과 패턴(TPL)은 제3 서브 화소(PX3)에서 제2 뱅크(600)에 의해 구획된 제3 출광 영역(EMA3) 내에 배치될 수 있다. 광투과 패턴(TPL)은 발광 소자(ED)로부터 방출된 광의 파장을 유지한 채 출사할 수 있다. 구체적으로, 광투과 패턴(TPL)은 발광 소자(ED)로부터 방출된 광을 청색 광으로 유지한 채 출사할 수 있다.
광투과 패턴(TPL)은 제3 베이스 수지(BRS3)를 포함할 수 있다. 광투과 패턴(TPL)은 제3 베이스 수지(BRS3) 내에 분산된 제3 산란체(SCP3)를 더 포함할 수 있다.
제1 내지 제3 베이스 수지(BRS1, BRS2, BRS3)는 투광성 유기 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제3 베이스 수지(BRS1, BRS2, BRS3)는 에폭시계 수지, 아크릴계 수지, 카도계 수지 또는 이미드계 수지 등을 포함하여 이루어질 수 있다. 제1 내지 제3 베이스 수지(BRS1, BRS2, BRS3)는 모두 동일한 물질로 이루어질 수 있지만, 이에 제한되지 않는다.
제1 내지 제3 산란체(SCP1, SCP2, SCP3)는 제1 내지 제3 베이스 수지(BRS1, BRS2, BRS3)와 상이한 굴절률을 가질 수 있다. 제1 내지 제3 산란체(SCP1, SCP2, SCP3)는 금속 산화물 입자 또는 유기 입자를 포함할 수 있다. 상기 금속 산화물로는 산화 티타늄(TiO2), 산화 지르코늄(ZrO2), 산화 알루미늄(Al2O3), 산화 인듐(In2O3), 산화 아연(ZnO) 또는 산화 주석(SnO2) 등이 예시될 수 있고, 상기 유기 입자 재료로는 아크릴계 수지 또는 우레탄계 수지 등이 예시될 수 있다. 제1 내지 제3 산란체(SCP1, SCP2, SCP3)는 모두 동일한 물질로 이루어질 수 있지만, 이에 제한되는 않는다.
제1 파장 변환 물질(WCP1)은 제3 색 광 또는 제2 색 광을 제1 색 광으로 변환하고, 제2 파장 변환 물질(WCP2)은 제3 색 광을 제2 색 광으로 변환하는 물질일 수 있다. 예를 들어, 제1 파장 변환 물질(WCP1)은 청색 광을 적색 광으로 변환하거나, 녹색 광을 적색 광으로 변환하는 물질일 수 있다. 또한, 제2 파장 변환 물질(WCP2)은 청색 광을 녹색 광으로 변환하는 물질일 수 있다. 제1 파장 변환 물질(WCP1)과 제2 파장 변환 물질(WCP2)은 양자점(QD, quantum dot), 양자 막대, 형광 물질 또는 인광 물질일 수 있다. 상기 양자점은 IV족계 나노 결정, II-VI족계 화합물 나노 결정, III-V족계 화합물 나노 결정, IV-VI족계 나노 결정 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다.
양자점은 코어 및 코어를 오버 코팅하는 쉘을 포함하는 것일 수 있다. 코어는 이에 한정하는 것은 아니나, 예를 들어, CdS, CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InP, InAs, InSb, SiC, Ca, Se, In, P, Fe, Pt, Ni, Co, Al, Ag, Au, Cu, FePt, Fe2O3, Fe3O4, Si, 및 Ge 중 적어도 하나일 수 있다. 쉘은 이에 한정하는 것은 아니나, 예를 들어, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSe, CdTe, HgS, HgSe, HgTe, AlN, AlP, AlAs, AlSb, GaN, GaP, GaAs, GaSb, GaSe, InN, InP, InAs, InSb, TlN, TlP, TlAs, TlSb, PbS, PbSe 및 PbTe 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
형광 물질은 무기 형광 물질로 가넷(Gamets), 실리케이트(Silicates), 황화물(Sulfides), 산질화물(Oxynitrides), 질화물(Nitrides), 알루미네이트(Aluminates)등의 무기 형광체가 사용될 수 있다. 무기 형광체는, 예를 들어, Y3Al5O12:Ce3+ (YAG:Ce), Tb3Al5O12:Ce3+ (TAG:Ce), (Sr,Ba,Ca)2SiO4:Eu2+, (Sr,Ba,Ca,Mg,Zn)2Si(OD)4:Eu2+ D=F,Cl,S,N,Br, Ba2MgSi2O7:Eu2+, Ba2SiO4:Eu2+, Ca3(Sc,Mg)2Si3O12:Ce3+, (Ca,Sr)S:Eu2+, (Sr,Ca)Ga2S4:Eu2+, SrSi2O2N2:Eu2+, SiAlON:Ce3+,
Figure pat00001
-SiAlON:Eu2+, Ca-α-SiAlON:Eu2+, Ba3Si6O12N2:Eu2+, CaAlSiN3:Eu2+, (Sr,Ca)AlSiN3:Eu2+, Sr2Si5N8:Eu2+, (Sr,Ba)Al2O4:Eu2+, (Mg,Sr)Al2O4:Eu2+, BaMg2Al16O27:Eu2+ 중 적어도 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다만, 이에 제한되지 않고, 상기 형광 물질을 유기 형광 물질을 포함할 수도 있다.
표시층(EML)은 제1 캡핑층(CAP1)을 더 포함할 수 있다. 제1 캡핑층(CAP1)은 파장 변환층(WCL), 광투과 패턴(TPL) 및 제2 뱅크(600) 상에 배치되어 이들을 덮을 수 있다. 예를 들어, 제1 캡핑층(CAP1)은 제1 파장 변환 패턴(WCL1), 제2 파장 변환 패턴(WCL2), 광투과 패턴(TPL) 및 제2 뱅크(600)를 밀봉하여 제1 파장 변환 패턴(WCL1), 제2 파장 변환 패턴(WCL2) 및 광투과 패턴(TPL)의 손상 또는 오염을 방지할 수 있다.
제1 캡핑층(CAP1)은 무기 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 캡핑층(CAP1)은 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 티타늄 산화물, 주석 산화물, 세륨 산화물, 및 실리콘 산질화물 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 한편, 도면에서는 제1 캡핑층(CAP1)이 하나의 층으로 형성된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 제1 캡핑층(CAP1)은 상기 제1 캡핑층(CAP1)이 포함할 수 있는 물질로 예시된 물질 중 적어도 어느 하나를 포함하는 무기층이 교번하여 적층된 다중층으로 형성될 수도 있다.
제1 차광 부재(BK1)는 제1 캡핑층(CAP1) 상에 배치될 수 있다. 제1 차광 부재(BK1)는 제1 캡핑층(CAP1) 상에서 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 경계를 따라 차광 영역(NEM)에 배치될 수 있다. 제1 차광 부재(BK1)는 제2 뱅크(600)와 표시 장치(10)의 두께 방향(예컨대, 제3 방향(DR3))으로 중첩될 수 있다.
제1 차광 부재(BK1)는 광 출사를 차단할 뿐만 아니라, 외광 반사를 억제하는 역할을 할 수 있다. 제1 차광 부재(BK1)는 평면 상에서 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)을 둘러싸는 격자 형상으로 형성될 수 있다.
제1 차광 부재(BK1)는 유기 물질을 포함하여 이루어질 수 있다. 일 실시예에서, 제1 차광 부재(BK1)는 가시광 파장 대역을 흡수하는 광 흡수 물질을 포함할 수 있다. 제1 차광 부재(BK1)가 광 흡수 물질을 포함하고, 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 경계를 따라 배치됨에 따라, 제1 차광 부재(BK1)는 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)을 정의할 수 있다.
컬러 필터(CF)는 표시 영역(DPA)에서 제1 캡핑층(CAP1) 상에 배치될 수 있다. 컬러 필터(CF)는 제1 차광 부재(BK1)에 의해 구획된 공간에 배치될 수 있다. 컬러 필터(CF)는 각 서브 화소(PXn)의 출광 영역(EMA)에 배치될 수 있다.
컬러 필터(CF)는 제1 컬러 필터(CF1), 제2 컬러 필터(CF2) 및 제3 컬러 필터(CF3)를 포함할 수 있다.
제1 컬러 필터(CF1)는 제1 서브 화소(PX1)의 제1 출광 영역(EMA1)에 배치되고, 제2 컬러 필터(CF2)는 제2 서브 화소(PX2)의 제2 출광 영역(EMA2)에 배치되며, 제3 컬러 필터(CF3)는 제3 서브 화소(PX3)의 제3 출광 영역(EMA3)에 배치될 수 있다. 제1 내지 제3 컬러 필터(CF1, CF2, CF3)는 제1 차광 부재(BK1)에 의해 둘러싸일 수 있다.
제1 내지 제3 컬러 필터(CF1, CF2, CF3)는 해당하는 색 파장 이외의 파장을 흡수하는 염료(Dye)나 안료(Pigment) 같은 색재(Colorant)를 포함할 수 있다. 제1 컬러 필터(CF1)는 제1 색 광(예를 들어, 적색 광)을 선택적으로 투과시키고, 제2 색 광(예를 들어, 녹색 광) 및 제3 색 광(예를 들어, 청색 광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 제2 컬러 필터(CF2)는 제2 색 광(예를 들어, 녹색 광)을 선택적으로 투과시키고, 제1 색 광(예를 들어, 적색 광) 및 제3 색 광(예를 들어, 청색 광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 제3 컬러 필터(CF3)는 제3 색 광(예를 들어, 청색 광)을 선택적으로 투과시키고, 제1 색 광(예를 들어, 적색 광) 및 제2 색의 광(예를 들어, 녹색 광)을 차단하거나 흡수할 수 있다. 예를 들어, 제1 컬러 필터(CF1)는 적색 컬러 필터이고, 제2 컬러 필터(CF2)는 녹색 컬러 필터이고, 제3 컬러 필터(CF3)는 청색 컬러 필터일 수 있다.
제1 내지 제3 컬러 필터(CF1, CF2, CF3)는 표시 장치(10)의 외부에서 유입되는 광의 일부를 흡수하여 외광에 의한 반사광을 저감시킬 수 있다. 따라서, 제1 내지 제3 컬러 필터(CF1, CF2, CF3)는 외광 반사에 의한 색의 왜곡을 방지할 수 있다.
컬러 필터(CF)는 제1 및 제2 파장 변환 패턴(WCL1, WCL2) 및 광투과 패턴(TPL) 상에 배치됨으로써, 표시 장치(10)는 컬러 필터(CF)를 위한 별도의 기판을 필요로 하지 않을 수 있다. 따라서, 표시 장치(10)의 두께가 상대적으로 감소될 수 있다.
제2 캡핑층(CAP2)은 컬러 필터층(CFL) 상에 배치될 수 있다. 제2 캡핑층(CAP2)은 제1 내지 제3 컬러 필터(CF1, CF2, CF3) 및 제1 차광 부재(BK1) 상에 배치되어 이들을 덮을 수 있다. 제2 캡핑층(CAP2)은 컬러 필터층(CFL)을 보호하는 역할을 할 수 있다.
보호층(LRL)은 제2 캡핑층(CAP2) 상에 배치될 수 있다. 보호층(LRL)은 컬러 필터(CF) 및 제1 차광 부재(BK1) 상에 배치되어, 하부에 배치된 파장 변환층(WCL), 광투과 패턴(TPL) 및 컬러 필터(CF)에 산소 또는 수분이 침투되는 것을 방지하는 역할을 할 수 있다. 이를 위해, 보호층(LRL)은 적어도 하나의 무기막을 포함할 수 있다. 보호층(LRL)은 하부에 배치된 파장 변환층(WCL), 광투과 패턴(TPL) 및 컬러 필터(CF) 및 제1 차광 부재(BK1)를 덮도록 배치될 수 있다.
봉지층(ENL)은 보호층(LRL) 상에 배치될 수 있다. 봉지층(ENL)은 표시층(EML)의 상면 및 측면을 밀봉하도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 봉지층(ENL)은 적어도 하나의 무기막을 포함하여, 산소 또는 수분이 침투되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 봉지층(ENL)은 적어도 하나의 유기막을 포함하여, 표시 패널(2000)을 먼지와 같은 이물질로부터 보호할 수 있다.
기능층(1000)은 표시 패널(2000)의 하부에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 기능층(1000)은 표시 패널(2000)의 기판(SUB)의 타면 상에 배치될 수 있다. 상기 기능층(1000)이 배치되는 기판(SUB)의 타면은 기판(SUB)의 하면일 수 있다.
기능층(1000)은 복수의 층을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 기능층(1000)은 제1 기능층(RHL) 및 제2 기능층(RL)을 포함할 수 있다. 제1 기능층(RHL)은 방열층(RHL)이고, 제2 기능층(RL)은 반사층(RL)일 수 있다.
본 명세서에서, 동일한 도면 부호 'RHL'에 대하여 제1 기능층(RHL) 또는 방열층(RHL)으로, 동일한 도면 부호 'RL'에 대하여 제2 기능층(RL) 또는 반사층(RL)으로도 지칭될 수 있다.
제1 기능층(RHL)은 기판(SUB)의 타면 상에 배치될 수 있다. 제1 기능층(RHL)은 기판(SUB)의 하부에 배치되어 표시 패널(2000)로부터 발생된 열은 방열하는 역할을 할 수 있다. 제1 기능층(RHL)은 열전도 특성이 우수한 물질을 포함할 수 있으며, 우수한 방열 특성을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 기능층(RHL)은 그라파이트 단일 또는 그라파이트층을 포함하는 적층제일 수 있다.
제2 기능층(RL)은 기판(SUB)과 제1 기능층(RHL) 사이에 배치될 수 있다. 즉, 제2 기능층(RL)은 기판(SUB)의 하면 상에 배치되고, 제1 기능층(RHL)은 제2 기능층(RL)의 하면 상에 배치될 수 있다. 제2 기능층(RL)은 후술하는 바와 같이, 표시 패널(2000)의 표시층(EML)에 포함된 복수의 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부로 진행하는 광을 표시 방향으로 반사시키는 역할을 할 수 있다. 제2 기능층(RL)에 대한 상세한 설명은 후술한다.
도 3은 일 실시예에 따른 표시 패널의 발광 소자층을 나타낸 개략적인 평면 배치도이다.
도 3을 참조하면, 제1 내지 제3 서브 화소(PX1, PX2, PX3)의 발광 소자층의 구조는 동일할 수 있다. 따라서, 발광 소자층의 구조를 설명함에 있어서, 제2 및 제3 서브 화소(PX2, PX3)의 구조에 대한 설명은 제1 서브 화소(PX1)의 구조에 대한 설명으로 대체하기로 한다.
제1 서브 화소(PX1)는 제1 출광 영역(EMA1) 및 차광 영역(NEM)을 포함하고, 제2 서브 화소(PX2)는 제2 출광 영역(EMA2) 및 차광 영역(NEM)을 포함하며, 제3 서브 화소(PX3)는 제3 출광 영역(EMA3) 및 차광 영역(NEM)을 포함할 수 있다. 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)은 발광 소자(ED)에서 방출된 광이 출사되는 영역이고, 차광 영역(NEM)은 발광 소자(ED)에서 방출된 광들이 도달하지 않아 광이 출사되지 않는 영역으로 정의될 수 있다. 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)은 서로 이격될 수 있다.
제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)은 각각 발광 소자(ED)가 배치된 영역 및 그 인접 영역을 포함할 수 있다. 또한, 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)은 발광 소자(ED)에서 방출된 광이 다른 부재에 의해 반사되거나 굴절되어 출사되는 영역을 더 포함할 수 있다.
각 서브 화소(PXn)는 차광 영역(NEM)에 배치된 서브 영역(San, n은 1 내지 3의 자연수)을 더 포함할 수 있다. 구체적으로, 제1 서브 화소(PX1)는 차광 영역(NEM)에 배치된 제1 서브 영역(SA1)을 포함하고, 제2 서브 화소(PX2)는 차광 영역(NEM)에 배치된 제2 서브 영역(SA2)을 포함하며, 제3 서브 화소(PX3)는 차광 영역(NEM)에 배치된 제3 서브 영역(SA3)을 포함할 수 있다.
각 서브 영역(SAn)에는 발광 소자(ED)가 배치되지 않을 수 있다. 각 서브 영역(SAn)은 각 서브 화소(PXn) 내에서 출광 영역(EMAn)의 상측(또는 제2 방향(DR2) 일측)에 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 서브 영역(SA1)은 제1 서브 화소(PX1) 내에서 제1 출광 영역(EMA1)의 상측에 배치되고, 제2 서브 영역(SA2)은 제2 서브 화소(PX2) 내에서 제2 출광 영역(EMA2)의 상측에 배치되며, 제3 서브 영역(SA3)은 제3 서브 화소(PX3) 내에서 제3 출광 영역(EMA3)의 상측에 배치될 수 있다. 즉, 각 서브 영역(SAn)은 제2 방향(DR2)으로 이웃하여 배치된 각 서브 화소(PXn)의 출광 영역(EMAn) 사이에 배치될 수 있다.
각 서브 영역(SAn)은 분리부(ROPn)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 서브 영역(SA1)은 제1 분리부(ROP1)를 포함하고, 제2 서브 영역(SA2)은 제2 분리부(ROP2)를 포함하며, 제3 서브 영역(SA3)은 제3 분리부(ROP3)를 포함할 수 있다. 각 서브 영역(SAn)의 분리부(ROPn)는 제2 방향(DR2)을 따라 서로 이웃하는 각 서브 화소(PXn)에 포함되는 전극층(200)이 포함하는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)이 각각 서로 분리되는 영역일 수 있다.
도 4는 일 실시예에 따른 제1 서브 화소의 일 예를 나타낸 단면도이다.
이하, 도 4를 참조하여 기판(SUB) 상에 배치된 회로 소자층(CCL)의 구조에 대하여 설명하기로 한다. 한편, 도 4에는 제1 서브 화소(PX1)의 단면 구조만을 도시하였다.
회로 소자층(CCL)은 하부 금속층(110), 버퍼층(161), 제1 내지 제3 도전층(140, 160, 180), 반도체층(120) 및 게이트 절연막(162), 층간 절연막(163), 패시베이션층(164) 및 비아층(165)을 포함할 수 있다.
하부 금속층(110)은 기판(SUB) 상에 배치될 수 있다. 하부 금속층(110)은 금속 패턴(BML)을 포함할 수 있다. 상기 금속 패턴(BML)은 외광으로부터 트랜지스터(TR)의 활성 물질층(ACT)을 보호하는 역할을 하는 차광층일 수 있다. 하부 금속층(110)은 광을 차단하는 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어, 하부 금속층(110)은 광의 투과를 차단하는 불투명한 금속 물질로 형성될 수 있다.
금속 패턴(BML)은 하부에서 적어도 트랜지스터(TR)의 활성 물질층(ACT)의 채널 영역을 커버하도록 배치될 수 있고, 나아가 트랜지스터(TR)의 활성 물질층(ACT) 전체를 커버하도록 배치될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 금속 패턴(BML)은 생략될 수 있다
버퍼층(161)은 하부 금속층(110) 상에 배치될 수 있다. 버퍼층(161)은 하부 금속층(110)이 배치된 기판(SUB)의 전면을 덮도록 배치될 수 있다. 버퍼층(161)은 투습에 취약한 기판(SUB)을 통해 침투하는 수분으로부터 트랜지스터(TR)를 보호하는 역할을 할 수 있다. 버퍼층(161)은 교번하여 적층된 복수의 무기층들로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 버퍼층(161)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 무기층이 교번하여 적층된 다중층으로 형성될 수 있다.
반도체층(120)은 버퍼층(161) 상에 배치될 수 있다. 반도체층(120)은 트랜지스터(TR)의 활성 물질층(ACT)을 포함할 수 있다. 활성 물질층(ACT)은 하부 금속층(110)의 금속 패턴(BML)과 중첩하여 배치될 수 있다.
한편, 도면에서는 표시 장치(10)의 제1 서브 화소(PX1)에 포함된 트랜지스터들 중 하나의 트랜지스터(TR)만을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 표시 장치(10)의 제1 서브 화소(PX1)는 더 많은 수의 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(10)는 제1 서브 화소(PX1)는 2개 또는 3개의 트랜지스터들을 포함할 수도 있다.
반도체층(120)은 다결정 실리콘, 단결정 실리콘, 산화물 반도체 등을 포함할 수 있다. 예시적인 실시예에서, 반도체층(120)이 다결정 실리콘을 포함하는 경우, 다결정 실리콘은 비정질 실리콘을 결정화하여 형성될 수 있다. 반도체층(120)이 다결정 실리콘을 포함하는 경우, 활성 물질층(ACT)은 불순물로 도핑된 복수의 도핑 영역 및 이들 사이의 채널 영역을 포함할 수 있다. 다른 예시적인 실시예에서, 반도체층(120)은 산화물 반도체를 포함할 수도 있다. 상기 산화물 반도체는 예를 들어, 인듐-주석 산화물(Indium-Tin Oxide, ITO), 인듐-아연 산화물(Indium-Zinc Oxide, IZO), 인듐-갈륨 산화물(Indium-Gallium Oxide, IGO), 인듐-아연-주석 산화물(Indium-Zinc-Tin Oxide, IZTO), 인듐-갈륨-아연 산화물(Indium-Gallium-Zinc Oxide, IGZO), 인듐-갈륨-주석 산화물(Indium-Gallium-Tin Oxide, IGTO), 인듐-갈륨-아연-주석 산화물(Indium-Gallium-Zinc-Tin Oxide, IGZTO) 등일 수 있다.
게이트 절연막(162)은 반도체층(120) 상에 배치될 수 있다. 게이트 절연막(162)은 트랜지스터(TR)의 게이트 절연막으로 기능할 수 있다. 게이트 절연막(162)은 무기물, 예컨대 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy)을 포함하는 무기층으로 이루어지거나, 이들이 적층된 구조로 형성될 수 있다.
제1 도전층(140)은 게이트 절연막(162) 상에 배치될 수 있다. 제1 도전층(140)은 트랜지스터(TR)의 게이트 전극(GE)을 포함할 수 있다. 게이트 전극(GE)은 활성 물질층(ACT)의 채널 영역과 제3 방향(DR3)으로 중첩하도록 배치될 수 있다.
제1 도전층(140)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
층간 절연막(163)은 제1 도전층(140) 상에 배치될 수 있다. 층간 절연막(163)은 제1 도전층(140)을 덮도록 배치되어, 제1 도전층(140)과 그 위에 배치되는 다른 층들 사이에서 절연막의 기능을 수행할 수 있다. 층간 절연막(163)은 무기 절연 물질, 예컨대 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy)을 중 적어도 어느 하나를 포함하는 무기층이 교번하여 적층된 다중층으로 형성될 수 있다.
제2 도전층(160)은 층간 절연막(163) 상에 배치된다. 제2 도전층(160)은 트랜지스터(TR)의 드레인 전극(SD1) 및 트랜지스터(TR)의 소스 전극(SD2)을 포함할 수 있다.
트랜지스터(TR)의 드레인 전극(SD1) 및 소스 전극(SD2)은 각각 층간 절연막(163) 및 게이트 절연막(162)을 관통하는 컨택홀을 통해 트랜지스터(TR)의 활성 물질층(ACT)의 양 단부 영역(예컨대, 트랜지스터(TR)의 활성 물질층(ACT)의 각 도핑 영역)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 트랜지스터(TR)의 소스 전극(SD2)은 층간 절연막(163), 게이트 절연막(162) 및 버퍼층(161)을 관통하는 또 다른 컨택홀을 통해 하부 금속층(110)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 도전층(160)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
패시베이션층(164)은 제2 도전층(160) 상에 배치된다. 패시베이션층(164)은 제2 도전층(160)을 덮어 보호하는 역할을 한다. 패시베이션층(164)은 무기 절연 물질, 예컨대 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy)을 중 적어도 어느 하나를 포함하는 무기층이 교번하여 적층된 다중층으로 형성될 수 있다.
제3 도전층(180)은 패시베이션층(164) 상에 배치된다. 제3 도전층(180)은 제1 전압 라인(VL1), 제2 전압 라인(VL2), 및 제1 도전 패턴(CDP)을 포함할 수 있다.
제1 전압 라인(VL1)에는 트랜지스터(TR)에 공급되는 고전위 전압(또는, 제1 전원 전압)이 인가되고, 제2 전압 라인(VL2)에는 제1 전압 라인(VL1)에 공급되는 고전위 전위(제1 전원 전압)보다 낮은 저전위 전압(또는, 제2 전원 전압)이 인가될 수 있다.
제1 전압 라인(VL1)은 고전위 전압(제1 전원 전압)을 트랜지스터(TR)에 공급하도록 트랜지스터(TR)와 전기적으로 연결될 수 있다. 구체적으로, 제1 전압 라인(VL1)은 패시베이션층(164)을 관통하는 컨택홀을 통해 트랜지스터(TR)의 드레인 전극(SD1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 전압 라인(VL2)은 저전위 전압(제2 전원 전압)을 제2 전극(220)에 공급하도록 제2 전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 전압 라인(VL2)은 표시 장치(10)의 제조 공정 중, 복수의 발광 소자(ED)를 정렬시키기 데에 필요한 정렬 신호가 인가될 수도 있다.
제1 도전 패턴(CDP)은 패시베이션층(164)을 관통하는 컨택홀을 통해 트랜지스터(TR)의 소스 전극(SD2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제1 도전 패턴(CDP)은 제1 전극(210)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 도전 패턴(CDP)은 제1 전압 라인(VL1)으로부터 인가된 제1 전원 전압을 제1 전극(210)으로 전달할 수 있다.
제3 도전층(180)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
비아층(165)은 제3 도전층(180) 상에 배치된다. 비아층(165)은 제3 도전층(180)이 배치된 패시베이션층(164) 상에 배치될 수 있다. 비아층(165)은 표면 평탄화하는 역할을 할 수 있다. 비아층(165)은 유기 절연 물질, 예를 들어 폴리이미드(Polyimide, PI)와 같은 유기 물질을 포함할 수 있다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 발광 소자층은 비아층(165) 상에 배치될 수 있다. 발광 소자층은 전극층(200), 제1 뱅크(400), 제2 뱅크(600), 복수의 발광 소자(ED), 접촉 전극(700), 복수의 절연층(510, 520, 530) 및 산란층(800)을 포함할 수 있다.
제1 뱅크(400)는 비아층(165)의 일면 상에 배치된다. 제1 뱅크(400)는 비아층(165)의 상면에 직접 배치될 수 있다. 제1 뱅크(400)는 출광 영역(EMA) 내에 배치될 수 있다.
제1 뱅크(400)는 출광 영역(EMA)에서 제2 방향(DR2)으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 제1 뱅크(400)의 제2 방향(DR2)으로 연장된 길이는 제2 뱅크(600)에 의해 둘러싸인 출광 영역(EMA)의 제2 방향(DR2)으로 길이보다 작을 수 있다.
제1 뱅크(400)는 출광 영역(EMA) 내에서 서로 이격되어 배치된 복수의 서브 뱅크(410, 420)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 서브 뱅크(410, 420)는 각각 제2 방향(DR2)으로 연장된 형상을 갖고, 제1 방향(DR1)으로 서로 이격될 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 뱅크(400)는 제1 서브 뱅크(410) 및 제2 서브 뱅크(420)를 포함할 수 있다. 제1 서브 뱅크(410)는 평면상 출광 영역(EMA)에서 좌측에 배치될 수 있다. 제2 서브 뱅크(420)는 제1 서브 뱅크(410)와 제1 방향(DR1)으로 이격되어 평면상 출광 영역(EMA)에서 우측에 배치될 수 있다. 서로 이격된 복수의 서브 뱅크(410, 420) 사이에는 복수의 발광 소자(ED)들이 배치될 수 있다.
제1 뱅크(400)는 경사진 측면을 포함하여 발광 소자(ED)에서 방출되어 제1 뱅크(400)의 측면을 향해 진행하는 광의 진행 방향을 상부 방향(예컨대, 표시 방향)으로 바꾸는 역할을 할 수 있다. 즉, 제1 뱅크(400)는 발광 소자(ED)가 배치되는 공간을 제공함과 동시에 발광 소자(ED)로부터 방출되는 광의 진행 방향을 표시 방향으로 바꾸는 반사 격벽의 역할도 할 수 있다.
한편, 도면에서는 제1 뱅크(400)의 측면이 선형의 형상으로 경사진 것을 도시하였으나. 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 제1 뱅크(400)의 측면(또는 외면)은 곡률진 반원 또는 반타원의 형상을 가질 수도 있다. 예시적인 실시예에서 제1 뱅크(400)는 폴리이미드(Polyimide, PI)와 같은 유기 절연 물질을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
전극층(200)은 제1 뱅크(400) 및 제1 뱅크(400)가 노출하는 비아층(165) 상에 배치될 수 있다. 전극층(200)은 일 방향으로 연장된 형상으로 각 서브 화소(PXn)마다 배치될 수 있다. 전극층(200)은 제2 방향(DR2)으로 연장되어, 각 서브 화소(PXn)의 출광 영역(EMA)과 서브 영역(SA)에 걸쳐 배치될 수 있다. 전극층(200)은 출광 영역(EMA)에서 제1 뱅크(400) 및 제1 뱅크(400)가 노출하는 비아층(165) 상에 배치되고, 차광 영역(NEM)에서 비아층(165) 상에 배치될 수 있다.
전극층(200)은 각각 제2 방향(DR2)으로 연장된 형상을 갖고, 제1 방향(DR1)으로 서로 이격된 복수의 전극을 포함할 수 있다. 전극층(200)은 서로 이격된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 포함할 수 있다. 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 적어도 일부 영역이 출광 영역(EMA)에 배치될 수 잇다. 후술하는 바와 같이 출광 영역(EMA)에서 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 적어도 일부 영역은 제2 뱅크(600)에 의해 노출될 수 있다.
제1 전극(210)은 출광 영역(EMA)에서 제1 서브 뱅크(410) 상에 배치되고, 제2 전극(220)은 출광 영역(EMA)에서 제2 서브 뱅크(420) 상에 배치될 수 있다. 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 각각 적어도 제1 서브 뱅크(410) 및 제2 서브 뱅크(420)의 경사진 측면 상에 배치될 수 있다. 제1 및 제2 전극(210, 220)은 적어도 서로 대향하는 제1 및 제2 서브 뱅크(410, 420)의 일 측면을 덮도록 배치되어 발광 소자(ED)에서 방출된 광을 반사시킬 수 있다.
제1 전극(210)은 비아층(165)을 관통하는 제1 전극 컨택홀(CTD)을 통해 제1 도전 패턴(CDP1)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 전극(210)은 제1 전극 컨택홀(CTD)이 노출하는 제1 도전 패턴(CDP1)의 상면과 접촉할 수 있다. 제1 전극(210)은 제1 도전 패턴(CDP1)을 통해 트랜지스터(TR)와 전기적으로 연결될 수 있다. 도면에서는, 제1 전극 컨택홀(CTD)이 제2 뱅크(600)와 제3 방향(DR3)으로 중첩하도록 배치된 것을 도시하였으나, 제1 전극 컨택홀(CTD)의 위치는 이에 제한되지 않는다.
제2 전극(220)은 비아층(165)을 관통하는 제2 전극 컨택홀(CTS)을 통해 제2 전압 라인(VL2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 전극(220)은 제2 전극 컨택홀(CTS)이 노출하는 제2 전압 라인(VL2)의 상면과 접촉할 수 있다. 제2 전극(220)은 제2 전압 라인(VL2)을 통해 제2 전원 전압이 인가될 수 있다. 도면에서는, 제2 전극 컨택홀(CTS)이 제2 뱅크(600)와 제3 방향(DR3)으로 중첩하도록 배치된 것을 도시하였으나, 제2 전극 컨택홀(CTS)의 위치는 이에 제한되지 않는다.
각 서브 화소(PXn)에 배치된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 각각 평면상 제2 방향(DR2)으로 연장되되, 서브 영역(SA)의 분리부(ROP)에서 제2 방향(DR2)으로 이웃한 서브 화소(PXn)의 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)과 서로 분리될 수 있다. 상기 제2 방향(DR2)으로 이격된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 배치는 복수의 발광 소자(ED)를 정렬하는 공정에서 이용되는 전극 라인을 제2 방향(DR2)으로 연장되도록 형성하고 발광 소자(ED)들을 정렬한 후, 후속 공정을 통해 상기 전극 라인을 서브 영역(SA)의 분리부(ROP)에서 분리함으로써 형성될 수 있다. 전극 라인은 표시 장치(10)의 제조 공정 중 발광 소자(ED)를 정렬하기 위해 화소(PX) 내에 전계를 생성하는 데에 활용될 수 있다.
제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 제1 방향(DR1)으로 서로 이격될 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)이 제1 방향(DR1)으로 서로 이격되도록 배치됨으로써, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 비아층(165)의 일부를 노출할 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)이 서로 이격되는 영역은 발광 소자(ED)의 적어도 일부와 중첩할 수 있다. 따라서, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 발광 소자(ED)의 일부 영역을 하부 방향으로 노출시킬 수 있다.
제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 발광 소자(ED)와 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 각각 제1 접촉 전극(710) 및 제2 접촉 전극(720)을 통해 발광 소자(ED)의 양 단부와 각각 연결될 수 있고, 회로 소자층(CCL)으로부터 인가되는 전기 신호를 발광 소자(ED)에 전달할 수 있다.
전극층(200)은 반사율이 높은 전도성 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전극층(200)은 반사율이 높은 물질로 은(Ag), 구리(Cu), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti) 등과 같은 금속을 포함하거나, 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 란타늄(La) 등을 포함하는 합금일 수 있다. 전극층(200)은 발광 소자(ED)에서 방출되어 제1 뱅크(400)의 측면 또는 전극층(200)의 외면으로 진행하는 광을 각 서브 화소(PXn)의 상부 방향으로 반사시킬 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고 전극층(200) 각각은 투명성 전도성 물질을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 전극층(200)은 ITO, IZO, ITZO 등과 같은 물질을 포함할 수 있다. 몇몇 실시예에서, 전극층(200)은 투명성 전도성 물질과 반사율이 높은 금속층이 각각 한층 이상 적층된 구조를 이루거나, 이들을 포함하여 하나의 층으로 형성될 수도 있다. 예를 들어, 전극층(200)은 ITO/Ag/ITO/, ITO/Ag/IZO, 또는 ITO/Ag/ITZO/IZO 등의 적층 구조를 가질 수 있다.
제1 절연층(510)은 전극층(200) 상에 배치될 수 있다. 제1 절연층(510)은 전극층(200) 및 전극층(200)이 노출하는 비아층(165)을 덮도록 배치될 수 있다. 제1 절연층(510)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 적어도 일부를 노출하는 복수의 컨택부를 포함할 수 있다. 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 적어도 일부를 노출하는 복수의 컨택부를 통해 접촉 전극(700)과 전극층(200)은 전기적으로 연결될 수 있다. 한편, 도면에서는 전극층(200)의 일부를 노출하는 제1 절연층(510)의 컨택부가 출광 영역(EMA)에 배치된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 전극층(200)의 일부를 노출하는 제1 절연층(510)의 컨택부는 각 서브 화소(PXn)의 서브 영역(SA)에 위치할 수도 있다.
제1 절연층(510)은 전극층(200)을 보호함과 동시에 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 상호 절연시키는 역할을 할 수 있다. 또한, 제1 절연층(510)은 제1 절연층(510) 상에 배치되는 복수의 발광 소자(ED)가 하부의 다른 부재들과 직접 접촉하여 손상되는 것을 방지할 수도 있다. 제1 절연층(510)은 무기 절연 물질을 포함할 수 있다.
제2 뱅크(600)는 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다. 제2 뱅크(600)는 평면상 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)으로 연장된 부분을 포함하여 격자형 패턴으로 배치될 수 있다.
제2 뱅크(600)는 각 서브 화소(PXn)들의 경계에 걸쳐 배치되어 이웃하는 서브 화소(PXn)들을 구분하고, 각 서브 화소(PXn)의 츨광 영역(EMA)과 서브 영역(SA)을 구분할 수 있다. 또한, 제2 뱅크(600)는 제1 뱅크(400)보다 더 큰 높이를 갖도록 형성되어 상기 영역들을 구분함으로써, 표시 장치(10)의 제조 공정 중 발광 소자(ED)를 정렬하기 위한 잉크젯 프린팅 공정에서 복수의 발광 소자(ED)가 분산된 잉크가 인접한 서브 화소(PXn)로 혼합되지 않고, 츨광 영역(EMA) 내에 분사되도록 할 수 있다.
또한, 제2 뱅크(600)는 각 서브 화소(PXn)의 출광 영역(EMA)에 대응하는 개구를 포함하여, 파장 변환층(WCL) 및 광투과 패턴(TPL)이 형성되는 공간을 제공할 수 있다. 제2 뱅크(600)는 유기 절연 물질, 예를 들어 폴리이미드(Polyimide, PI)를 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
복수의 발광 소자(ED)는 출광 영역(EMA)에서 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다. 발광 소자(ED)는 제1 및 제2 서브 뱅크(410, 420) 사이에 배치될 수 있다. 발광 소자(ED)는 제1 및 제2 서브 뱅크(410, 420) 사이에서 양 단부가 각각 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 상에 위치하도록 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다.
복수의 발광 소자(ED)들은 제1 및 제2 전극(210, 220)들이 연장된 제2 방향(DR2)을 따라 서로 이격되어 배치되며 실질적으로 상호 평행하게 정렬될 수 있다. 발광 소자(ED)는 일 방향으로 연장된 형상을 가질 수 있고, 상기 발광 소자(ED)의 연장된 길이는 제1 방향(DR1)으로 이격된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 사이의 최단 간격보다 길 수 있다. 발광 소자(ED)들은 적어도 일 단부가 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 중 어느 하나 상에 배치되거나, 양 단부가 각각 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 상에 놓이도록 배치될 수 있다.
제2 절연층(520)은 발광 소자(ED) 상에 배치될 수 있다. 제2 절연층(520)은 발광 소자(ED)의 외면을 부분적으로 감싸도록 배치되어 발광 소자(ED)의 양 단부는 덮지 않도록 배치될 수 있다. 따라서, 제2 절연층(520)의 제1 방향(DR1)의 폭은 발광 소자(ED)의 연장 방향인 제1 방향(DR1)의 길이보다 작을 수 있다. 제2 절연층(520) 중 발광 소자(ED) 상에 배치된 부분은 평면도상 제1 절연층(510) 상에서 제2 방향(DR2)으로 연장되어 배치됨으로써 각 서브 화소(PXn) 내에서 선형 또는 섬형 패턴을 형성할 수 있다. 제2 절연층(520)은 표시 장치(10)의 제조 공정에서 발광 소자(ED)를 보호함과 동시에 발광 소자(ED)를 고정시키는 역할을 할 수 있다.
접촉 전극(700)은 제2 절연층(520) 상에 배치될 수 있다. 접촉 전극(700)은 서로 이격된 복수의 접촉 전극들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 접촉 전극(700)은 서로 이격된 제1 접촉 전극(710) 및 제2 접촉 전극(720)을 포함할 수 있다.
제1 접촉 전극(710)은 제1 전극(210) 및 제2 절연층(520) 상에 배치될 수 있다. 제1 접촉 전극(710)은 제2 절연층(520)의 상면의 일부를 노출하도록 배치될 수 있다.
제1 접촉 전극(710)은 제2 방향(DR2)으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 제1 접촉 전극(710)은 제1 전극(210) 및 발광 소자(ED)의 일 단부와 각각 접촉할 수 있다. 구체적으로, 제1 접촉 전극(710)은 출광 영역(EMA)에서 제2 절연층(520)이 노출하는 발광 소자(ED)의 일 단부와 접촉할 수 있다. 또한, 제1 접촉 전극(710)은 제1 절연층(510)을 관통하는 컨택부에 의해 노출된 제1 전극(210)과 접촉할 수 있다. 제1 접촉 전극(710)은 발광 소자(ED)의 일 단부와 제1 전극(210)과 각각 접촉함으로써, 발광 소자(ED)와 제1 전극(210)을 전기적으로 연결하는 역할을 할 수 있다.
제3 절연층(530)은 제1 접촉 전극(710) 상에 배치될 수 있다. 제3 절연층(530)은 제1 접촉 전극(710) 상에 배치되어 제1 접촉 전극(710)을 덮을 수 있다. 제3 절연층(530)은 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)을 상호 절연시키는 역할을 할 수 있다. 제3 절연층(530)은 제1 접촉 전극(710)을 덮도록 배치되며, 제2 절연층(520)의 일 측벽과 나란하게 정렬될 수 있다. 상기 제3 절연층(530)과 나란하게 정렬되는 제2 절연층(520)의 일 측벽은 제2 서브 뱅크(420)와 대향하는 제2 절연층(520)의 측벽일 수 있다.
제2 접촉 전극(720)은 제2 전극(220) 상에 배치될 수 있다. 제2 접촉 전극(720)은 제2 전극(220) 및 제3 절연층(530) 상에 배치될 수 있다.
제2 접촉 전극(720)은 제2 방향(DR2)으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 제2 접촉 전극(720)은 제2 전극(220) 및 발광 소자(ED)의 타 단부와 각각 접촉할 수 있다. 구체적으로, 제2 접촉 전극(720)은 출광 영역(EMA)에서 제2 절연층(520)이 및 제3 절연층(530)이 노출하는 발광 소자(ED)의 타 단부와 접촉할 수 있다. 또한, 제2 접촉 전극(720)은 제1 절연층(510)을 관통하는 컨택부에 의해 노출된 제2 전극(220)과 접촉할 수 있다. 제2 접촉 전극(720)은 발광 소자(ED)의 타 단부와 제2 전극(220)과 각각 접촉함으로써, 발광 소자(ED)와 제2 전극(220)을 전기적으로 연결하는 역할을 할 수 있다.
제2 절연층(520)에 의해 노출된 발광 소자(ED)의 일 단부는 제1 접촉 전극(710)을 통해 제1 전극(210)과 전기적으로 연결되고, 제2 절연층(520) 및 제3 절연층(530)에 의해 노출된 발광 소자(ED)의 타 단부는 제2 접촉 전극(720)을 통해 제2 전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다.
한편, 도면에서는 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)이 제3 절연층(530)을 사이에 두고 서로 다른 층에 형성된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 실질적으로 동일한 층에 형성되며, 제2 절연층(520)을 사이에 두고 서로 이격될 수 있다. 이 경우, 제3 절연층(530)은 생략될 수도 있다.
접촉 전극(700)은 전도성 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 접촉 전극(700)은 ITO, IZO, ITZO, 알루미늄(Al) 등을 포함할 수 있다. 일 예로, 접촉 전극(700)은 투명성 전도성 물질을 포함하고, 발광 소자(ED)에서 방출된 광은 접촉 전극(700)을 투과하여 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 향해 진행하여, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 외면에서 반사될 수 있다.
파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)은 제2 뱅크(600)가 구획하는 영역에 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)은 복수의 발광 소자(ED)를 노출하는 제2 뱅크(600)의 개구에 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)은 제2 뱅크(600)가 구획하는 개구의 일부를 충진하도록 배치될 수 있다. 파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)은 제2 뱅크(600)의 측면과 접할 수 있다.
도 5는 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략 사시도이다.
도 5를 참조하면, 발광 소자(ED)는 입자형 소자로서, 소정의 종횡비를 갖는 로드 또는 원통형 형상일 수 있다. 발광 소자(ED)의 길이는 발광 소자(ED)의 직경보다 크며, 종횡비는 6:5 내지 100:1일 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
발광 소자(ED)는 나노미터(nano-meter) 스케일(1nm 이상 1um 미만) 내지 마이크로미터(micro-meter) 스케일(1um 이상 1mm 미만)의 크기를 가질 수 있다. 일 실시예에서, 발광 소자(ED)는 직경과 길이가 모두 나노미터 스케일의 크기를 갖거나, 모두 마이크로미터 스케일의 크기를 가질 수 있다. 몇몇 다른 실시예에서, 발광 소자(ED)의 직경은 나노미터 스케일의 크기를 갖는 반면, 발광 소자(ED)의 길이는 마이크로미터 스케일의 크기를 가질 수 있다. 몇몇 실시예에서, 일부의 발광 소자(ED)는 직경 및/또는 길이가 나노미터 스케일의 크기를 갖는 반면, 다른 일부의 발광 소자(ED)는 직경 및/또는 길이가 마이크로미터 스케일의 크기를 가질 수도 있다.
일 실시예에서, 발광 소자(ED)는 무기 발광 다이오드일 수 있다. 무기 발광 다이오드는 복수의 반도체층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 무기 발광 다이오드는 제1 도전형(예컨대, n형) 반도체층, 제2 도전형(예컨대, p형) 반도체층 및 이들 사이에 개재된 활성 반도체층을 포함할 수 있다. 활성 반도체층은 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층으로부터 각각 정공과 전자를 제공받으며, 활성 반도체층에 도달한 정공과 전자는 상호 결합하여 발광할 수 있다.
일 실시예에서, 상술한 반도체층들은 발광 소자(ED)의 길이 방향인 일 방향을 따라 순차 적층될 수 있다. 발광 소자(ED)는 일 방향으로 순차 적층된 제1 반도체층(31), 소자 활성층(33), 및 제2 반도체층(32)을 포함할 수 있다. 제1 반도체층(31), 소자 활성층(33), 및 제2 반도체층(32)은 각각 상술한 제1 도전형 반도체층, 활성 반도체층 및 제2 도전형 반도체층일 수 있다.
제1 반도체층(31)은 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 제1 도전형 도펀트는 Si, Ge, Sn 등일 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 반도체층(31)은 n형 Si로 도핑된 n-GaN일 수 있다.
제2 반도체층(32)은 소자 활성층(33)을 사이에 두고 제1 반도체층(31)과 이격되어 배치될 수 있다. 제2 반도체층(32)은 Mg, Zn, Ca, Se, Ba 등과 같은 제2 도전형 도펀트가 도핑되어 있을 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제2 반도체층(32)은 p형 Mg로 도핑된 p-GaN일 수 있다.
소자 활성층(33)은 단일 또는 다중 양자 우물 구조의 물질을 포함할 수 있다. 상술한 것처럼, 소자 활성층(33)은 제1 반도체층(31) 및 제2 반도체층(32)을 통해 인가되는 전기 신호에 따라 전자-정공 쌍의 결합에 의해 광을 발광할 수 있다.
몇몇 실시예에서, 소자 활성층(33)은 밴드갭(Band gap) 에너지가 큰 종류의 반도체 물질과 밴드갭 에너지가 작은 반도체 물질들이 서로 교번적으로 적층된 구조일 수도 있고, 발광하는 광의 파장대에 따라 다른 3족 내지 5족 반도체 물질들을 포함할 수도 있다.
소자 활성층(33)에서 방출되는 광은 발광 소자(ED)의 길이 방향으로의 양 단부면뿐만 아니라, 발광 소자의 외주면(또는 외면, 측면)으로도 방출될 수 있다. 즉, 소자 활성층(33)에서 방출되는 광은 하나의 방향으로 출광 방향이 제한되지 않는다. 따라서, 후술하는 바와 같이, 기판(SUB)의 일면 상에 정렬된 발광 소자(ED)로부터 방출된 광은 단면상 발광 소자(ED)의 양 단부면뿐만 아니라, 상부 방향 및 하부 방향으로도 진행할 수 있다.
발광 소자(ED)는 제2 반도체층(32) 상에 배치된 소자 전극층(37)을 더 포함할 수 있다. 소자 전극층(37)은 제2 반도체층(32)과 접촉할 수 있다. 소자 전극층(37)은 오믹(Ohmic) 접촉 전극일 수 있지만, 이에 제한되지 않고, 쇼트키(Schottky) 접촉 전극일 수도 있다.
소자 전극층(37)은 제1 반도체층(31) 및 제2 반도체층(32)에 전기 신호를 인가하기 위해 발광 소자(ED)의 양 단부와 접촉 전극(700)이 전기적으로 연결될 때, 제2 반도체층(32)과 전극 사이에 배치되어 저항을 감소시키는 역할을 할 수 있다. 소자 전극층(37)은 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 인듐(In), 금(Au), 은(Ag), ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 및 ITZO(Indium Tin-Zinc Oxide) 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 소자 전극층(37)은 n형 또는 p형으로 도핑된 반도체 물질을 포함할 수도 있다.
발광 소자(ED)는 제1 반도체층(31), 제2 반도체층(32), 소자 활성층(33) 및/또는 소자 전극층(37)의 외주면을 감싸는 소자 절연막(38)을 더 포함할 수 있다. 소자 절연막(38)은 적어도 소자 활성층(33)의 외면을 둘러싸도록 배치되고, 발광 소자(ED)가 연장된 일 방향으로 연장될 수 있다. 소자 절연막(38)은 상기 부재들을 보호하는 기능을 수행할 수 있다. 소자 절연막(38)은 절연 특성을 가진 물질들로 이루어져 소자 활성층(33)이 발광 소자(ED)에 전기 신호가 전달되는 전극과 직접 접촉하는 경우 발생할 수 있는 전기적 단락을 방지할 수 있다. 또한, 소자 절연막(38)은 소자 활성층(33)을 포함하여 제1 및 제2 반도체층(31, 32)의 외주면을 보호하기 때문에, 발광 효율의 저하를 방지할 수 있다.
도 6은 도 4의 Q 영역을 확대한 일 예를 나타낸 확대 단면도이다.
도 6에는 비아층(165) 상에 정렬된 발광 소자(ED)로부터 방출된 광의 진행 방향도 함께 도시하였다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 발광 소자(ED)는 발광 소자(ED)의 연장 방향이 기판(SUB)의 일면(또는 상면)에 평행하도록 배치될 수 있다. 발광 소자(ED)에 포함된 복수의 반도체층들은 기판(SUB)의 상면과 평행한 방향을 따라 순차적으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(ED)의 제1 반도체층(31), 소자 활성층(33), 제2 반도체층(32)은 기판(SUB)의 상면과 평행하도록 순차 배치될 수 있다.
구체적으로, 기판(SUB)의 일면 상에 정렬된 발광 소자(ED)는 양 단부를 가로지르는 단면상 제1 반도체층(31), 소자 활성층(33), 제2 반도체층(32) 및 소자 전극층(37)이 기판(SUB)의 상면과 수평한 방향으로 순차적으로 형성될 수 있다.
발광 소자(ED)는 일 단부가 제1 전극(210) 상에 놓이고, 타 단부가 제2 전극(220) 상에 놓이도록 배치될 수 있다. 제1 전극(210) 상에 놓이는 발광 소자(ED)의 일 단부에는 소자 전극층(37) 또는 제2 반도체층(32)이 위치하고, 제2 전극(220) 상에 놓이는 발광 소자(ED)의 타 단부에는 제1 반도체층(31)이 위치할 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 제1 전극(210) 상에 놓이는 발광 소자(ED)의 일 단부에 제1 반도체층(31)이 위치하고, 제2 전극(220) 상에 놓이는 발광 소자(ED)의 타 단부에는 소자 전극층(37) 또는 제2 반도체층(32)이 위치할 수도 있다.
기판(SUB)의 일면 상에 정렬된 발광 소자(ED)의 소자 절연막(38)은 양 단부를 가로지르는 단면상 제1 반도체층(31), 제2 반도체층(32), 소자 활성층(33) 및/또는 소자 전극층(37)의 상면 및 하면에 배치될 수 있다.
발광 소자(ED)는 제1 서브 뱅크(410)와 제2 서브 뱅크(420) 사이에서 양 단부가 각각 제1 및 제2 서브 뱅크(410, 420)와 대향하도록 정렬될 수 있다. 발광 소자(ED)의 일 단부는 제1 서브 뱅크(410)가 노출하는 비아층(165)의 일면 상에 배치된 제1 전극(210) 상에 놓이고, 발광 소자(ED)의 타 단부는 제2 서브 뱅크(420)가 노출하는 비아층(165)의 일면 상에 배치된 제2 전극(220) 상에 놓일 수 있다.
제1 전극(210)은 제1 서브 뱅크(410)의 측면으로부터 외측으로 연장되어, 제1 서브 뱅크(410)와 제2 서브 뱅크(420) 사이의 영역에도 일부 배치될 수 있다. 구체적으로, 제1 전극(210)은 제1 서브 뱅크(410)와 제2 서브 뱅크(420) 사이에서 제1 서브 뱅크(410) 및 제2 서브 뱅크(420)가 노출하는 비아층(165)의 상면에도 일부 배치될 수 있다.
제2 전극(220)은 제2 서브 뱅크(420)의 측면으로부터 외측으로 연장되어, 제1 서브 뱅크(410)와 제2 서브 뱅크(420) 사이의 영역에도 일부 배치될 수 있다. 구체적으로, 제2 전극(220)은 제1 서브 뱅크(410)와 제2 서브 뱅크(420) 사이에서 제1 서브 뱅크(410) 및 제2 서브 뱅크(420)가 노출하는 비아층(165)의 상면에도 일부 배치될 수 있다.
제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 제1 서브 뱅크(410)와 제2 서브 뱅크(420) 사이의 이격 영역에서 비아층(165) 상에서 제1 방향(DR1)으로 서로 이격될 수 있다. 상기 제1 전극(210)과 제2 전극(220)이 서로 이격 대향하는 영역(DS)은 비아층(165)의 일면의 적어도 일부를 노출할 수 있다.
발광 소자(ED)는 적어도 일부 영역이 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)과 제3 방향(DR3)으로 비중첩할 수 있다. 즉, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 적어도 발광 소자(ED)의 일부 영역을 하부 방향으로 노출할 수 있다.
예를 들어, 발광 소자(ED)의 일 단부는 제1 전극(210)과 제3 방향(DR3)으로 중첩하고, 발광 소자(ED)의 타 단부는 제2 전극(220)과 제3 방향(DR3)으로 중첩하되, 발광 소자(ED)의 일 단부와 타 단부 사이에 위치하는 발광 소자(ED)의 일부 영역은 제1 전극(210) 또는 제2 전극(220)과 제3 방향(DR3)으로 비중첩할 수 있다. 제1 전극(210)은 발광 소자(ED)의 하부에서 발광 소자(ED)의 일 단부를 커버하도록 배치되고, 제2 전극(220)은 발광 소자(ED)의 하부에서 발광 소자(ED)의 타 단부를 커버하도록 배치되되, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 하부에서 발광 소자(ED)의 적어도 일부를 커버하지 못하도록 배치될 수 있다. 따라서, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 사이에 배치된 발광 소자(ED)의 적어도 일부 영역은 서로 이격된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)에 의해 하부 방향으로 노출될 수 있다.
한편, 도면에서는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)이 발광 소자(ED)의 하부에서 발광 소자(ED) 일 단부 및 타 단부를 각각 커버하는 것을 도시하였으나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 제1 전극(210)은 발광 소자(ED)의 하부에서 발광 소자(ED)의 일 단부를 커버하되, 제2 전극(220)은 발광 소자(ED)를 커버하지 않을 수 있다. 또 다른 예를 들어, 제2 전극(220)은 발광 소자(ED)의 하부에서 발광 소자(ED)의 타 단부를 커버하되, 제1 전극(210)은 발광 소자(ED)를 커버하지 않을 수 있다. 또 다른 예를 들어, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 모두 발광 소자(ED)의 하부에서 발광 소자(ED)를 커버하지 않을 수도 있다. 즉, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 발광 소자(ED)와 제3 방향(DR3)으로 중첩하지 않을 수도 있다.
발광 소자(ED) 상에는 제2 절연층(520)이 배치될 수 있다. 제2 절연층(520)은 발광 소자(ED)의 외면(구체적으로, 발광 소자(ED)의 소자 절연막(38))을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 제2 절연층(520)은 발광 소자(ED)가 배치된 영역에서는 발광 소자(ED)의 외면을 둘러싸도록 배치되고, 발광 소자(ED)가 배치되지 않은 영역에서는 제1 절연층(510) 상에 배치될 수 있다.
제1 접촉 전극(710)은 제2 절연층(520)이 노출하는 발광 소자(ED)의 일 단부와 접촉할 수 있다. 구체적으로, 제1 접촉 전극(710)은 제2 절연층(520)이 노출하는 발광 소자(ED)의 외면 및 일 단부면을 감싸도록 배치될 수 있다. 제1 접촉 전극(710)은 발광 소자(ED)의 소자 절연막(38) 및 소자 전극층(37)과 접촉할 수 있다.
제2 접촉 전극(720)은 제2 절연층(520) 및 제3 절연층(530)이 노출하는 발광 소자(ED)의 타 단부와 접촉할 수 있다. 구체적으로, 제2 접촉 전극(720)은 제2 절연층(520) 및 제3 절연층(530)이 노출하는 발광 소자(ED)의 외면 및 타 단부면을 감싸도록 배치될 수 있다. 제2 접촉 전극(720)은 발광 소자(ED)의 소자 절연막(38) 및 제1 반도체층(31)과 접촉할 수 있다.
한편, 상술한 바와 같이 기판(SUB) 상에 정렬된 발광 소자(ED)는 제1 접촉 전극(710) 및 제2 접촉 전극(720)을 통해 전달되는 전기 신호에 따라 광을 방출할 수 있다. 구체적으로, 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)은 전기 신호에 따라 광을 생성할 수 있고, 소자 활성층(33)으로부터 생성된 광의 진행 방향은 하나의 방향으로 제한되지 않고, 랜덤할 수 있다.
예를 들어, 표시 장치(10)의 단면상 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 사이에 정렬된 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성된 광은 진행하는 방향에 따라 제1 광(L1), 제2 광(L2) 및 제3 광(L3)을 포함할 수 있다. 제1 광(L1)은 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 상부로 진행하는 광이고, 제2 광(L2)은 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 측부로 진행하는 광이며, 제3 광(L3)은 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 하부로 진행하는 광일 수 있다.
제1 광(L1)은 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 단면상 복수의 반도체층(31, 32)을 기준으로 상부에 위치하는 발광 소자(ED)의 소자 절연막(38)을 투과하여 발광 소자(ED)로부터 방출될 수 있다. 제1 광(L1)은 발광 소자(ED)를 기준으로 표시 장치(10)의 표시 방향, 즉 상부 방향으로 진행할 수 있다. 제1 광(L1)은 파장 변환층(WCL) 또는 광투과 패턴(TPL)으로 입사할 수 있다.
제2 광(L2)은 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 발광 소자(ED)의 양 단부면을 통하여 발광 소자(ED)로부터 방출될 수 있다. 발광 소자(ED)의 일 단부면을 통하여 방출된 제2 광(L2)의 일부는 제1 서브 뱅크(410)의 측면 상에 배치된 제1 전극(210)에 의해 반사되어 상부 방향으로 진행할 수 있다. 이와 유사하게, 발광 소자(ED)의 타 단부면을 통하여 방출된 제2 광(L2)의 일부는 제2 서브 뱅크(420)의 측면 상에 배치된 제2 전극(220)에 의해 반사되어 상부 방향으로 진행할 수 있다. 즉, 발광 소자(ED)의 양 단부면을 통해 방출된 제2 광(L2)은 대체로 제1 뱅크(400) 상에 배치된 제1 및 제2 전극(220)에 의해 반사되어 상부 방향으로 진행할 수 있다.
제3 광(L3)은 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 단면상 복수의 반도체층(31, 32)을 기준으로 하부에 위치하는 발광 소자(ED)의 소자 절연막(38)을 투과하여 발광 소자(ED)로부터 방출될 수 있다. 제3 광(L3)은 발광 소자(ED)를 기준으로 하부 방향, 즉 표시 장치(10)의 표시 방향의 반대 방향으로 진행할 수 있다.
제3 광(L3)의 일부는 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역(DS)으로 진행할 수 있다. 상기 이격 영역(DS)에는 전극층(200), 즉 제1 및 제2 전극(210, 220)이 배치되지 않을 수 있다. 따라서, 제3 광(L3)이 상기 이격 영역(DS)으로 진행하는 경우, 제3 광(L3)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)에 의해 반사되지 못하고 표시 장치(10)의 하부 방향으로 진행할 수 있다.
즉, 발광 소자(ED)로부터 방출되는 광은 출광 방향이 제한되지 않으므로, 발광 소자(ED)의 상부, 측부 및 하부 방향으로 진행할 수 있고, 하부 방향으로 진행하는 광 중 일부의 광은 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역(DS)으로 진행하여 광의 진행 반향이 바뀌지 않고 하부로 진행할 수 있다.
한편, 도 6에서는 제3 광(L3)이 모두 이격 영역(DS)으로 진행하는 것을 도시하였으나, 제3 광(L3)의 진행 방향은 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 발광 소자(ED)의 소자 활성층(33)으로부터 생성되어 하부 방향으로 진행하는 제3 광(L3) 중 다른 일부의 광은 발광 소자(ED)의 양 단부와 중첩하는 제1 전극(210) 또는 제2 전극(220)의 상면으로 입사할 수 있다. 이 경우, 상기 제3 광(L3)의 다른 일부는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)에 의해 반사되어 상부 방향으로 진행할 수 있다.
도 7은 도 4의 Q 영역을 확대한 다른 예를 나타낸 확대 단면도이다.
도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치(10)는 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)이 동일한 층에 형성되며, 제3 절연층(530)이 생략되는 점이 도 6의 실시예와 차이점이다.
구체적으로, 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 제2 절연층(520) 상에 직접 배치될 수 있다. 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 동일한 층에 형성될 수 있다. 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 동일한 물질을 포함할 수 있다. 즉, 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 하나의 마스크 공정으로 동시에 형성될 수 있다. 따라서, 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)을 형성하기 위해 추가적인 마스크 공정을 요하지 않으므로, 표시 장치(10)의 공정 효율이 개선될 수 있다.
상기 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 제2 절연층(520)을 사이에 두고 서로 이격될 수 있다. 제1 접촉 전극(710)과 제2 접촉 전극(720)은 제2 절연층(520)의 상면의 적어도 일부를 노출시킬 수 있다.
본 실시예는 제3 절연층(530)이 생략된 점을 제외하고는 도 6의 실시예와 동일한 바, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 8은 일 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다. 도 9는 도 8의 표시 장치의 차광 부재와 제2 기능층 사이의 상대적인 평면 배치도이다. 도 10은 도 8의 표시 장치의 발광 소자로부터 방출되어 하부로 진행하는 광의 진행 방향을 설명하기 위한 개략 단면도이다. 도 11은 일 실시예에 따른 제2 기능층의 단면도이다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 일 실시예에 따른 기능층(1000)은 제1 기능층(RHL), 제2 기능층(RL), 제1 및 제2 보호층(PET1, PET2) 및 복수의 접착 부재(ADL1, ADL2, ADL3)을 포함할 수 있다.
제2 기능층(RL)은 기판(SUB)의 타면 상에 배치될 수 있다. 제2 기능층(RL)을 출광 영역(EMA)을 포함하여, 표시 영역(DPA) 전면에 배치될 수 있다. 제2 기능층(RL)은 출광 영역(EMA) 및 차광 영역(NEM)에 배치될 수 있다. 제2 기능층(RL)은 출광 영역(EMA)에 배치되는 복수의 발광 소자(ED) 및 차광 부재(BM)와 제3 방향(DR3)으로 중첩될 수 있다. 상기 차광 부재(BM)는 표시 패널(2000)의 제2 뱅크(600) 또는 제1 차광 부재(BK1)를 포함할 수 있다. 따라서, 제2 기능층(RL)은 제2 뱅크(600) 또는 제1 차광 부재(BK1)와 제3 방향(DR3)으로 중첩될 수 있다.
제2 기능층(RL)은 제1 접착 부재(ADL1)를 이용하여 기판(SUB)의 하면에 부착될 수 있다. 제2 기능층(RL)을 표시 패널(2000)로부터 하부 방향으로 누설되는 광을 표시 방향으로 반사시키는 반사층일 수 있다.
제1 기능층(RHL)은 제2 기능층(RL)의 하부에 배치될 수 있다. 제1 기능층(RHL)은 상술한 바와 같이 방열층일 수 있다. 상기 제1 기능층(RHL)의 상부 및 하부에는 각각 제1 보호층(PET1) 및 제2 보호층(PET2)이 배치될 수 있다.
제1 보호층(PET1)은 제1 기능층(RHL)과 제2 기능층(RL) 사이에 배치될 수 있다. 제1 보호층(PET1)은 제2 접착 부재(ADL2)를 통해 제1 기능층(RHL)의 상면에 부착될 수 있다. 제1 보호층(PET1)은 제2 기능층(RL)은 하면에 배치될 수 있다.
제1 보호층(PET1)은 표시 패널(2000) 및 제2 기능층(RHL)을 보호하는 역할을 할 수 있다. 제1 보호층(PET1)은 투명 고분자 필름을 포함하여 이루어질 수 있다. 상기 투명 고분자 필름은 PA(PolyAcrylate), PET(PolyEthylene Terephthalate), PEN(PolyEthylene Naphthalate), PES(Polyether Sulfone), PI(PolyImide), PAR(PolyARylate), PC(PolyCarbonate), PMMA(PolyMethyl MethAcrylate) 또는 COC(CycloOlefin Copolymer) 수지 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
제2 보호층(PET2)은 제1 기능층(RHL)의 하부에 배치될 수 있다. 제2 보호층(PET2)은 제3 접착 부재(ADL3)를 이용하여 제1 기능층(RHL)의 하면에 부착될 수 있다.
제2 보호층(PET2)은 상부의 복수의 층을 보호하는 역할을 할 수 있다. 제2 보호층(PET2)은 제1 보호층(PET1)으로 예시된 물질 중 적어도 하나의 물질을 포함할 수 있다.
도 8 내지 도 11을 참조하면, 일 실시예에 따른 제2 기능층(RL)은 서로 다른 굴절률을 갖는 복수의 무기막이 적층된 광학층을 적어도 하나 이상 포함할 수 있다. 제2 기능층(RL)은 분산 브래그 반사층(Distributed bragg reflector DBR)일 수 있다. 제2 기능층(RL)은 서로 다른 굴절률을 가지는 복수의 무기막을 포함하는 광학층이 반복적으로 적층된 구조일 수 있다.
예시적인 실시예에서, 제2 기능층(RL)은 제1 광학층(810A) 및 제2 광학층(810B)을 포함할 수 있다. 상기 제2 광학층(810B)은 제1 광학층(810A) 상에 적층될 수 있다.
제1 광학층(810A) 및 제2 광학층(810B)은 각각 제1 굴절률을 갖는 제1 무기막(811) 및 상기 제1 굴절률과 상이한 제2 굴절률을 갖는 제2 무기막(812)을 포함할 수 있다. 구체적으로, 제1 광학층(810A)은 제1 굴절률(n1)을 갖는 제1 무기막(811) 및 제1 굴절률(n1)과 상이한 제2 굴절률(n2)을 갖는 제2 무기막(812)을 포함할 수 있다. 제2 무기막(812)은 제1 무기막(811) 상에 배치될 수 있다.
제2 광학층(810B)은 제1 굴절률(n1)을 갖는 제1 무기막(811) 및 제1 굴절률과 상이한 제2 굴절률(n2)을 갖는 제2 무기막(812)을 포함할 수 있다.
제2 기능층(RL)은 제1 굴절률(n1)을 갖는 제1 무기막(811) 및 제1 굴절률(n1)과 상이한 제2 굴절률(n2)을 갖는 제2 무기막(812)이 서로 교번하여 반복적으로 적층되는 구조를 가질 수 있다.
한편, 도 11에는 제2 기능층(RL)이 굴절률이 다른 두 무기막(811, 812)을 두 번 반복하여 적층한 구조를 갖는 경우가 예시되어 있으나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 제2 기능층(RL)은 더 많은 쌍의 광학층을 포함할 수도 있고, 서로 굴절률이 상이한 3개 이상의 무기막이 적층되어 한 쌍의 광학층을 형성할 수도 있다.
제2 기능층(RL)이 포함하는 복수의 무기막(811, 812)들은 투명한 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 투명한 절연 물질은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 티타늄 산화물(TiOx) 등을 포함할 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 무기막(811)은 실리콘질화물(SiNx)이고, 제2 무기막(812)은 실리콘 산화물(SiOx)일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
제2 기능층(RL)은 발광 소자(ED)로부터 방출되어 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역(DS)을 통해 하부 방향으로 진행하는 광의 입사각에 따라, 입사하는 광의 일부는 투과하고, 나머지 일부는 반사시킬 수 있다. 제2 기능층(RL)은 굴절률이 다른 두 무기막(811, 812)을 교대로 적층하여 굴절률의 차이를 반복적으로 형성함으로써, 제2 기능층(RL)에 입사하는 광은 그 입사 각도에 따라 투과율이 상이할 수 있다. 즉, 적층되는 각 무기막(811, 812)에 포함되는 물질, 두께 및/또는 무기막(811, 812)의 수를 조절함으로써, 제2 기능층(RL)에 입사하는 각도에 따라 반사율을 조절할 수 있다.
예를 들어, 제2 기능층(RL)에 입사하는 광의 반사율을 최적으로 높이기 위해 각 무기막(811, 812)의 두께는 광의 파장 및 굴절률에 따라 조절될 수 있다. 적층되는 굴절층(무기막)의 굴절률이 n이고, 반사시키려는 파장이 λ1일 때, (λ1)/(4n) 두께의 저굴절층과 고굴절층을 교대로 적층하면, 특정 파장(λ1) 영역의 광을 효과적으로 반사시킬 수 있다.
뿐만 아니라, 제2 기능층(RL)에 입사하는 광은 그 입사 각도에 따라서도 투과율(또는 반사율)이 상이할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(ED)가 바람직하게 445nm 내지 480nm 이하의 범위의 피크 파장을 갖는 청색 광을 방출하는 경우, 제1 무기막(811)의 제1 굴절률(n1)과 발광 소자(ED)로부터 방출되는 광의 파장(λ1)이 445nm 내지 480nm로 정해짐에 따라, 제1 무기막(811)의 두께(d1)는 (λ1)/(4n1)로 정해지고, 제2 무기막(812)의 제2 굴절률(n2)과 발광 소자(ED)로부터 방출되는 광의 파장(λ1)이 445nm 내지 480nm로 정해짐에 따라, 제2 무기막(812)의 두께(d2)는 (λ1)/(4n2)로 정해질 수 있다.
도 10을 참조하면, 제2 기능층(RL)은 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향(L3a, L3b)으로 진행하는 광 중 일부의 광(L4a, L4b)을 반사시키는 역할을 할 수 있다.
구체적으로, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역으로 입사하는 광은 하부 방향으로 진행하여 제2 기능층(RL)으로 입사할 수 있다. 상기 제2 기능층(RL)으로 입사하는 광(L3a, L3b)은 제2 기능층(RL)의 제2 광학층(810B)의 제2 무기막(812)의 상면으로 입사하는 각도에 따라 반사 또는 투과할 수 있다. 예를 들어, 제2 기능층(RL)으로 입사하는 광(L3a, L4b) 중 일부는 입사하는 각도에 따라, 복수의 무기막(811, 812) 사이의 굴절률 차이에 의해 전반사되어 표시 방향으로 진행할 수 있다. 또한, 제2 기능층(RL)으로 입사하는 광(L3a, L4b) 중 다른 일부의 광(L5)은 입사하는 각도에 따라, 제1 및 제2 광학층(810A, 810B)의 제1 및 제2 무기막(811, 812)을 투과하여 제1 기능층(RHL)으로 입사할 수 있다.
한편, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 제2 기능층(RL)으로 입사하는 광은 대체로 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역을 통해 하부 방향으로 진행하므로, 제2 기능층(RL)에 입사하는 각도가 소정의 각도 범위 내에 있을 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 무기막(811, 812)의 두께(d1, d2)는 상기 입사하는 각도가 0°로 설계되어, (λ1)/(4n1) 또는 (λ1)/(4n2)로 정해질 수 있다.
제1 기능층(RHL)은 표시 패널(2000)에서 발생된 열(H)을 방열하는 역할을 할 수 있다.
본 실시예에서, 방열층(RHL)인 제1 기능층(RHL)과 기판(SUB) 사이에 반사층(RL)인 제2 기능층(RL)을 배치할 수 있다. 상기 제2 기능층(RL)은 적어도 복수의 발광 소자(ED)가 배치되는 출광 영역(EMA)에 배치되어, 복수의 발광 소자(ED)의 하부 방향에서 제3 방향(DR3)으로 커버할 수 있다. 제2 기능층(RL)은 진행 방향이 랜덤한 발광 소자(ED)로부터 방출된 광 중, 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역을 통해 하부로 누설되는 광의 적어도 일부를 반사시키는 역할을 할 수 있다. 즉, 제2 기능층(RL)은 광을 반사시키는 반사층일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제2 기능층(RL)은 굴절률이 상이한 복수의 무기막이 교대 적층된 분산 브래그 반사층(Distributed bragg reflector DBR)일 수 있으며, 이 경우, 제2 기능층(RL)의 상면으로 입사하는 광의 입사각에 따라 광의 반사율 또는 투과율이 상이할 수 있다. 한편, 기판(SUB)의 하부에 배치되는 방열층(RHL)과 기판(SUB) 사이에 반사층(RL)을 배치함으로써, 표시 장치(10)의 하부 방향으로 누설되는 광의 진행 방향을 표시 방향으로 변경할 수 있음으로 표시 장치(10)의 출광 효율이 향상될 수 있다.
도 12는 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 12를 참조하면, 본 실시예에서 표시 장치(10)는 제1 기능층(RHL)과 제2 기능층(RL)이 별도로 제작되며, 제1 기능층(RHL)이 제2 기능층(RL)의 하면에 제4 접착 부재(ADL4)를 이용하여 부착되는 점이 도 8의 실시예와 차이점이다.
구체적으로, 제1 기능층(RHL)과 제2 기능층(RL) 사이에는 제4 접착 부재(ADL4)가 배치될 수 있다. 제4 접착 부재(ADL4)는 제2 기능층(RL)의 상면에 제2 접착 부재(ADL2)를 통해 접착된 제1 보호층(PET1)과 제1 기능층(RHL)을 서로 접착하는 역할을 할 수 있다. 제2 기능층(RL)의 제1 광학층(810A)의 제1 무기막(811)과 제1 보호층(PET1) 사이에는 제4 접착 부재(ADL4)가 배치되어, 제1 보호층(PET1)이 제2 기능층(RL)의 제1 광학층(810A)의 제1 무기막(811)에 부착될 수 있다.
본 실시예의 경우, 제1 기능층(RHL)과 제2 기능층(RL)을 별도로 제작하여 형성함으로써, 표시 패널(2000)의 출광 영역(EMA)의 배치에 따라 제1 기능층(RHL) 상에 배치되는 제2 기능층(RL)의 설계의 변경이 용이할 수 있다. 따라서, 표시 장치(10)의 제조 공정 효율이 향상될 수 있다.
도 13은 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 13을 참조하면, 본 실시예에 따른 기능층(1000_1)은 제2 기능층(RL_1)이 반사 물질을 포함하는 반사층(RL_1)인 점이 도 8의 실시예와 차이점이다.
구체적으로, 제2 기능층(RL_1)이 반사 필름 및/또는 반사 시트를 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 제2 기능층(RL_1)이 반사 필름 및/또는 반사 시트를 포함하는 경우, 제2 기능층(RL_1)은 반사 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 기능층(RL_1)은 은(Ag), 구리(Cu), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 란타늄(La) 또는 이들의 합금, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin-Zinc Oxide) 등과 같은 금속을 포함하는 재질로 형성할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
이 경우에도 표시 패널(2000)의 하부에 반사 물질을 포함하는 제2 기능층(RL_1)이 배치됨으로써, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 표시 장치(10)의 하부 방향으로 진행하는 광은 상기 제2 기능층(RL_1)에 의해 반사되어 상부 방향으로 진행할 수 있다. 구체적으로, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하여 제2 기능층(RL_1)의 상면으로 입사하는 광은 제2 기능층(RL_1)의 상면에서 반사되어 표시 장치(10)의 표시 방향으로 진행할 수 있다. 따라서, 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역에 의해 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 누설되는 광의 진행 방향으로 표시 장치(10)의 표시 방향으로 반사시켜 표시 장치(10)의 출광 효율이 향상될 수 있다.
아울러, 제2 기능층(RL_1)이 반사 물질을 포함하는 반사 필름 또는 반사 시트를 포함하는 경우, 상기 제2 기능층(RL_1)이 포함하는 반사율이 높은 금속 물질은 열전도율도 높을 수 있다. 이에 따라, 제2 기능층(RL_1)은 제1 기능층(RHL)과 함께 표시 패널(2000)로부터 발생된 열을 방열하는 역할을 보조할 수 있다.
도 14는 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 14를 참조하면, 본 실시예에 따른 기능층(1000_2)은 제2 기능층(RL)이 생략되고, 제1 보호층(PET1_2)이 제1 층(PET11) 및 제1 층(PET11) 상에 코팅된 반사 코팅층(RCL)을 포함하는 점이 도 8의 실시예와 차이점이다.
구체적으로, 본 실시예에서, 제1 접착 부재(ADL1)와 제2 접착 부재(ADL2) 사이에는 제1 보호층(PET1_2)이 배치될 수 있다. 제1 보호층(PET1_2)은 제1 접착 부재(ADL1)에 의해 기판(SUB)의 하면에 부착되고, 제1 기능층(RHL)은 제2 접착 부재(ADL2)에 의해 제1 보호층(PET1_2)의 하면에 부착될 수 있다.
제1 보호층(PET1_2)은 제1 층(PET11) 및 제1 층(PET11)의 상면에 코팅된 반사 코팅층(RCL)을 포함할 수 있다. 제1 층(PET11)은 도 8을 참조하여 상술한 제1 보호층(PET1)과 구조 및 포함하는 물질이 실질적으로 동일할 수 있다. 제1 층(PET11)에 대한 설명은 도 8의 제1 보호층(PET1)에 대한 설명으로 대체하기로 한다.
반사 코팅층(RCL)은 제1 층(PET11)의 일면 상에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 반사 코팅층(RCL)은 제1 층(PET11)의 상면에 코팅될 수 있다. 반사 코팅층(RCL)은 반사 물질을 포함할 수 있다. 반사 코팅층(RCL)은 상술한 반사 필름 또는 반사 시트로 적용가능한 물질들로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 반사 코팅층(RCL)은 은(Ag), 구리(Cu), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 란타늄(La) 또는 이들의 합금, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin-Zinc Oxide) 등과 같은 금속을 포함하는 재질로 형성할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 실시예에서, 제1 보호층(PET1_2)이 제1 층(PET11) 및 제1 층(PET11)의 상면에 코팅된 반사 코팅층(RCL)을 포함함으로써, 제2 기능층이 생략될 수 있다. 이 경우에도, 제1 보호층(PET1_2)이 반사 코팅층(RCL)을 포함함으로써, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하여 반사 코팅층(RCL)의 상면으로 입사하는 광은 반사 코팅층(RCL)의 상면에서 반사되어 표시 장치(10)의 표시 방향으로 진행할 수 있다. 따라서, 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역에 의해 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 누설되는 광의 진행 방향으로 표시 장치(10)의 표시 방향으로 반사시켜 표시 장치(10)의 출광 효율이 향상될 수 있다.
도 15는 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다. 도 16은 도 15의 표시 장치의 차광 부재와 제2 기능층 사이의 상대적인 평면 배치도이다. 도 17은 도 15의 표시 장치의 발광 소자로부터 방출되어 하부로 진행하는 광의 진행 방향을 설명하기 위한 개략 단면도이다.
도 15 내지 도 17을 참조하면, 본 실시예에 따른 기능층(1000_3)이 서로 이격되는 복수의 반사 패턴(RL_3)들을 포함하는 점이 도 8 내지 도 10의 실시예와 차이점이다.
구체적으로, 본 실시예에 따른 기능층(1000_3)은 제1 기능층(RHL) 및 제1 기능층(RHL) 상에서 서로 이격되어 배치되는 복수의 반사 패턴(RL_3)들을 포함할 수 있다.
복수의 반사 패턴(RL_3)은 제1 보호층(PET1)과 제1 접착 부재(ADL1) 사이에서 서로 이격되어 배치될 수 있다. 복수의 반사 패턴(RL_3) 각각은 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3) 각각에 대응되어 배치될 수 있다. 복수의 반사 패턴(RL_3)은 제1 내지 제3 출광 영역(EMA1, EMA2, EMA3)과 제3 방향(DR3)으로 중첩하도록 배치될 수 있다.
각 반사 패턴(RL_3)은 각 출광 영역(EMA)으로부터 외측으로 연장되어 출광 영역(EMA)을 둘러싸는 차광 영역(NEM)의 일부와 제3 방향(DR3)으로 중첩될 수 있다. 따라서, 평면 상 각 반사 패턴(RL_3)의 면적은 대응되는 출광 영역(EMA)의 면적보다 크거나 같을 수 있다. 각 반사 패턴(RL_3)이 각 출광 영역(EMA)에 대응하도록 배치됨으로써, 출광 영역(EMA)에 배치되는 복수의 발광 소자(ED)는 상기 반사 패턴(RL_3)에 의해 하부 방향으로 커버될 수 있다.
각 반사 패턴(RL_3)은 복수의 서로 다른 굴절률을 갖는 복수의 무기막이 적층된 광학층을 적어도 하나 이상 포함할 수 있다. 상기 반사 패턴(RL_3)은 분산 브래그 반사 패턴(Distributed bragg reflector, DBR)일 수 있다. 반사 패턴(RL_3)은 서로 다른 굴절률을 가지는 복수의 무기막을 포함하는 광학층이 반복적으로 적층된 구조일 수 있다. 즉, 본 실시예에서, 반사 패턴(RL_3)은 도 8의 제2 기능층(RL)의 구조와 실질적으로 동일하되, 평면상 각 출광 영역(EMA)에 대응하도록 패턴화되어 형성된 것일 수 있다.
기능층(1000_3)은 제1 보호층(PET1)과 제1 접착 부재(ADL1) 사이에서 복수의 반사 패턴(RL_3)을 둘러싸는 접착층(CPS)을 더 포함할 수 있다. 접착층(CPS)은 차광 영역(NEM)에 배치될 수 있다. 접착층(CPS)은 차광 영역(NEM)에 복수의 반사 패턴(RL_3)을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 평면상 복수의 반사 패턴(RL_3)과 접착층(CPS)은 서로 비중첩할 수 있다.
접착층(CPS)은 도전성 및 접착성을 갖는 물질을 포함할 수 있다. 접착층(CPS)은 도전성 접착 부재일 수 있다. 접착층(CPS)은 접착 부재와 도전성 파우더를 혼합하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 접착층(CPS)은 도전성 PSA(pressure sensitive adhesive)일 수 있다. 상기 접착층(CPS)이 도전성 PSA인 경우, 접착층(CPS)은 PSA의 접착 부재 내에 도전성 파우더(예를 들어, 금속 파우더)가 혼합될 수 있다.
접착층(CPS)은 제1 보호층(PET1)과 제1 접착 부재(ADL1) 사이에서 복수의 반사 패턴(RL_3)과 동일한 층에서 상기 복수의 반사 패턴(RL_3)을 둘러싸도록 배치되어, 복수의 반사 패턴(RL_3)을 고정하고, 제1 보호층(PET1)을 제1 접착 부재(ADL1)에 접착시키는 역할을 할 수 있다.
접착층(CPS)이 도전성을 물질을 포함함으로써, 접착층(CPS)은 복수의 반사 패턴(RL_3)보다 열전도율이 높을 수 있다. 복수의 반사 패턴(RL_3)이 복수의 무기막(또는 절연막)이 적층된 구조를 가지는 예시적인 실시예에서, 복수의 반사 패턴(RL_3)의 열전도율이 낮음에도 불구하고, 접착층(CPS)이 열전도율이 높은 도전성 물질을 포함함으로써, 표시 패널(2000)로부터 발생된 열을 하부에 배치된 제1 기능층(RHL, 또는 방열층)으로 전달하기 용이할 수 있다.
반사 패턴(RL_3)은 단면상 출광 영역(EMA) 내에 배치되는 발광 소자(ED)를 하부에서 완전히 커버할 수 있다. 아울러, 반사 패턴(RL_3)은 제1 전극(210)과 제2 전극(220)이 하부 방향으로 노출하는 발광 소자(ED)의 일부 영역과 제3 방향(DR3)으로 중첩할 수 있다.
반사 패턴(RL_3)은 출광 영역(EMA)의 가장 자리에서 차광 부재(BM)의 일부와 중첩할 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 반사 패턴(RL_3)은 차광 부재(BM)와 제3 방향(DR3)으로 비중첩할 수도 있다.
접착층(CPS) 차광 영역(NEM)과 제3 방향(DR3)으로 중첩될 수 있다. 접착층(CPS)은 복수의 반사 패턴(RL_3)의 가장 자리에 배치되어 이들을 둘러쌀 수 있다. 접착층(CPS)은 차광 부재(BM)와 제3 방향(DR3)으로 중첩 배치될 수 있다.
도 17을 참조하면, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광 중 일부의 광은 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역으로 진행할 수 있다. 상기 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이의 이격 영역을 통과하여 하부 방향으로 진행하는 광은 대체로 기판(SUB)의 상면에 대하여 입사각이 대체로 작을 수 있다. 따라서, 복수의 반사 패턴(RL_3)을 복수의 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광은 출광 영역(EMA)과 중첩되는 영역으로 집중되며, 차광 영역(NEM)으로 입사하는 광의 입사량은 출광 영역(EMA)으로 입사하는 광의 입사량보다 상대적으로 현저히 적을 수 있다.
본 실시예에서, 하부 방향으로 진행하는 광이 집중적으로 입사하는 출광 영역(EMA)에만 반사 패턴(RL_3)을 대응하도록 배치함으로써, 복수의 반사 패턴(RL_3)의 면적이 감소될 수 있다.
복수의 반사 패턴(RL_3)은 복수의 무기막을 포함하며, 상기 무기막을 절연 물질을 포함할 수 있다. 이 경우, 복수의 반사 패턴(RL_3)의 열전도율을 낮을 수 있다. 본 실시예에서, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부로 진행하는 광이 집중적으로 입사하여 하부로 누설되는 광의 반사가 집중적으로 이루어져야 하는 영역에만 복수의 반사 패턴(RL_3)을 선택적으로 형성하고, 이외의 영역은 열 전도성이 높은 도전성 물질을 포함하는 접착층(CPS)을 배치함으로써, 재료비의 감소 및 방열 효율이 높은 표시 장치(10)를 제조할 수 있다.
한편, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광(L3a, L3b) 중 일부의 광(L4a, L4b)은 상기 반사 패턴(RL_3)에 포함된 복수의 무기막의 굴절률 사이의 차이에 의해 반사되어 표시 장치(10)의 표시 방향으로 진행할 수 있다. 또한, 발광 소자(ED)로부터 방출되어 하부 방향으로 진행하는 광(L3a, L3b) 중 다른 일부의 광(L5)은 상기 반사 패턴(RL_3)을 투과하여 하부 방향으로 입사할 수 있다.
상술한 바와 같이, 표시 패널(2000)로부터 발생한 열(Ha)은 하부에 배치된 접착층(CPS)에 의해 전도되며, 접착층(CPS)에 의해 전도된 열(Hb)은 하부에 배치된 제1 기능층(RHL, 방열층)으로 전달되어 방열될 수 있다.
본 실시예에서, 열 전도율이 높은 접착층(CPS)에 의해 표시 장치(10)의 방열 효율이 향상될 수 있다.
도 18은 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 18을 참조하면, 본 실시예에 따른 기능층(1000_4)은 제1 보호층(PET1_4) 및 복수의 패턴(RL_4)이 동일한 패턴으로 형성되며, 접착층(CPS)이 복수의 패턴(RL_4) 및 제1 보호층(PET1_4)을 둘러싸도록 배치되는 점이 도 15의 실시예와 차이점이다.
구체적으로, 본 실시예에서, 제1 보호층(PET1_4)은 각 출광 영역(EMA)에 대응되며, 서로 이격된 복수의 패턴으로 형성될 수 있다. 제1 보호층(PET1_4)의 패턴은 제1 보호층(PET1_4) 상에 배치된 복수의 반사 패턴(RL_3)과 동일한 패턴 형상을 가질 수 있다.
본 실시예에서, 복수의 반사 패턴(RL_3)은 반사 필름 및/또는 반사 시트를 포함할 수 있다. 복수의 반사 패턴(RL_3)은 은(Ag), 구리(Cu), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 란타늄(La) 또는 이들의 합금, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin-Zinc Oxide) 등과 같은 금속을 포함하는 재질로 형성할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 19는 롤링된 상태의 표시 장치의 일 예를 나타낸 사시도이다. 도 20은 도 19의 표시 장치의 개략적인 단면도이다. 도 21은 도 20의 표시 장치가 하부 방향으로 롤링된 상태를 도시한 개략적인 단면도이다.
도 19 내지 도 20을 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 장치(10)의 적어도 일부는 하부 방향으로 벤딩되어 롤링될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 장치(10)는 상부 방향 및 하부 방향 모두 벤딩되거나, 상부 방향 및 하부 방향 중 어느 하나의 방향으로만 벤딩될 수도 있다. 한편, 도 19에는 표시 장치(10)가 제1 방향(DR1)으로 롤링되는 것을 도시하였으나, 이에 제한되지 않는다.
본 실시예에서, 표시 장치(10)는 표시 패널(2000), 표시 패널(2000)의 하부에 배치된 제1 기능층(RHL) 및 표시 패널(2000)과 제1 기능층(RHL) 사이에 배치된 복수의 반사 패턴(RL_5)을 포함할 수 잇다.
복수의 반사 패턴(RL_5)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 반사 패턴(RL_5)의 단면 형상은 대략적인 직사각형의 형상을 가질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 반사 패턴(RL_5)의 단면 형상은 정사각형, 반타원형, 반원형, 톱니, 사다리꼴 등 다양한 형상의 단면을 가질 수 있다. 예시적인 실시예에서, 반사 패턴(RL_5)의 단면 형상은 상면의 폭이 하면의 폭보다 큰 사다리꼴 형상을 가질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 도 20 및 도 21에 도시된 바와 같이, 복수의 반사 패턴(RL_5)이 서로 이격되어 배치되어 표시 장치(10)가 벤딩되어 롤릴되는 경우 표시 장치(10)의 롤링을 용이하게 할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 표시 장치
CCL: 회로 소자층
ED: 발광 소자
200: 전극층
210: 제1 전극
220: 제2 전극
400: 제1 뱅크
600: 제2 뱅크
610: 하부 뱅크
620: 상부 뱅크
700: 접촉 전극
710: 제1 접촉 전극
720: 제2 접촉 전극
RHL: 제1 기능층(방열층)
RL: 제2 기능층(반사층)
RL_3: 반사 패턴

Claims (20)

  1. 기판의 일면 상에서 서로 이격 배치된 제1 전극 및 제2 전극;
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이에 배치된 발광 소자;
    상기 기판의 타면 상에 배치된 기능층; 및
    상기 기능층과 상기 기판의 타면 사이에 배치되며, 평면상 상기 발광 소자를 커버하도록 배치된 반사층을 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 반사층은 적어도 하나의 광학층을 포함하고,
    상기 적어도 하나의 광학층 각각은,
    제1 굴절률을 가지는 제1 무기막, 및
    상기 제1 무기막 상에 배치되며 상기 제1 굴절률과 상이한 제2 굴절률을 가지는 제2 무기막을 포함하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 무기막은 실리콘 질화물(SiNx)을 포함하고, 상기 제2 무기막은 실리콘 산화물(SiOx)을 포함하는 표시 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 반사층은 반사 물질을 포함하는 반사 시트 및/또는 반사 필름을 포함하는 표시 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 상에 배치된 제1 절연층을 더 포함하고,
    상기 제1 전극과 상기 제2 전극은 평면상 서로 비중첩하는 표시 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 발광 소자는 상기 제1 절연층 상에 배치되고,
    평면상 상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 서로 이격 대향하는 영역은 상기 발광 소자의 적어도 일부와 중첩하는 표시 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    평면상 상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 서로 이격 대향하는 영역은 상기 반사층과 중첩하는 표시 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 기판은 출광 영역 및 상기 출광 영역을 둘러싸는 차광 영역을 포함하며,
    상기 차광 영역에 배치되며 상기 출광 영역을 정의하는 차광 부재를 더 포함하되,
    상기 발광 소자는 상기 출광 영역에 배치되는 표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 반사층은 평면상 상기 출광 영역과 중첩되며,
    상기 반사층의 면적은 상기 출광 영역의 면적보다 크거나 같은 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 반사층은 평면상 상기 차광 부재과 중첩하는 표시 장치.
  11. 출광 영역 및 상기 출광 영역을 둘러싸는 차광 영역을 포함하는 기판;
    상기 기판의 일면 상에서 상기 출광 영역에 배치되며 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 "?璲* 교차하는 제2 방향으로 서로 이격된 제1 전극 및 제2 전극;
    상기 기판의 일면 상에서 상기 출광 영역에 배치되며, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 배치된 복수의 발광 소자;
    상기 기판의 일면 상에서 차광 영역에 배치되며, 상기 출광 영역을 정의하는 차광 부재;
    상기 기판의 타면 상에 배치되는 방열층; 및
    상기 방열층과 상기 기판 사이에서 상기 출광 영역과 중첩 배치된 기능층을 포함하는 표시 장치.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 기능층은 반사층을 포함하는 표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 기능층은 적어도 하나의 광학층을 포함하고,
    상기 적어도 하나의 광학층 각각은,
    제1 굴절률을 가지는 제1 무기막, 및
    상기 제1 무기막 상에 배치되며 상기 제1 굴절률과 상이한 제2 굴절률을 가지는 제2 무기막을 포함하는 표시 장치.
  14. 제12 항에 있어서,
    상기 기능층은 평면상 상기 차광 부재의 적어도 일부와 비중첩한 표시 장치.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 기능층을 둘러싸는 접착층을 더 포함하되,
    상기 접착층은 평면상 상기 차광 부재과 중첩한 표시 장치.
  16. 제11 항에 있어서,
    상기 복수의 발광 소자는 양 단부가 각각 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 상에 놓이고,
    상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 상기 제2 방향으로 이격 대향하는 영역은 상기 발광 소자의 적어도 일부 영역과 중첩하는 표시 장치.
  17. 제11 항에 있어서,
    상기 기능층은 보호층 및 상기 보호층의 일면에 배치된 반사 코팅층을 포함하며,
    상기 보호층의 일면은 상기 기판의 타면과 대향하는 표시 장치.
  18. 복수의 출광 영역 및 상기 복수의 출광 영역을 둘러싸는 차광 영역을 포함하는 기판;
    상기 기판의 일면 상에서 상기 복수의 출광 영역 각각에 배치된 발광 소자들; 및
    상기 기판의 타면 상에 배치된 복수의 반사 패턴을 포함하되,
    상기 복수의 반사 패턴은 서로 이격되어 배치되는 표시 장치.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 복수의 반사 패턴은 상기 복수의 출광 영역 각각에 대응하여 배치되는 표시 장치.
  20. 제18 항에 있어서,
    상기 기판의 일면 상에서 상기 차광 영역에 배치되는 차광 부재를 더 포함하되,
    상기 차광 부재는 상기 복수의 출광 영역을 정의하고,
    상기 복수의 반사 패턴은 상기 차광 부재의 적어도 일부와 비중첩한 표시 장치.
KR1020210087680A 2021-07-05 2021-07-05 표시 장치 KR20230007579A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210087680A KR20230007579A (ko) 2021-07-05 2021-07-05 표시 장치
US17/835,456 US20230005899A1 (en) 2021-07-05 2022-06-08 Display device
CN202210853104.1A CN115643777A (zh) 2021-07-05 2022-07-05 显示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210087680A KR20230007579A (ko) 2021-07-05 2021-07-05 표시 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20230007579A true KR20230007579A (ko) 2023-01-13

Family

ID=84785649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210087680A KR20230007579A (ko) 2021-07-05 2021-07-05 표시 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20230005899A1 (ko)
KR (1) KR20230007579A (ko)
CN (1) CN115643777A (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220246673A1 (en) * 2021-02-02 2022-08-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Display module and manufacturing method thereof

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008527631A (ja) * 2004-12-30 2008-07-24 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー ミラースタックを有する電子デバイス
TW200712653A (en) * 2005-09-28 2007-04-01 Jemitek Electronics Corp Liquid crystal having function of micro-reflection
US8963178B2 (en) * 2009-11-13 2015-02-24 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting diode chip having distributed bragg reflector and method of fabricating the same
KR20130097948A (ko) * 2012-02-27 2013-09-04 삼성전자주식회사 투명 발광소자 패키지 및 그 제조방법
KR102591056B1 (ko) * 2018-07-20 2023-10-20 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치, 그의 제조 방법, 및 이를 포함한 표시 장치
US20220028841A1 (en) * 2018-12-06 2022-01-27 Sakai Display Products Corporation Micro led device and manufacturing method thereof
US11442312B2 (en) * 2020-05-22 2022-09-13 Apple Inc. Electronic device display with a backlight having light-emitting diodes and driver integrated circuits in an active area
KR20220157802A (ko) * 2021-05-21 2022-11-29 엘지전자 주식회사 디스플레이 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US20230005899A1 (en) 2023-01-05
CN115643777A (zh) 2023-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20220134843A (ko) 표시 장치
KR20220169014A (ko) 색변환 기판 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20220014390A (ko) 표시 장치
US20220223664A1 (en) Display device
US20230005899A1 (en) Display device
KR20220019198A (ko) 표시 장치
EP4195266A2 (en) Display device
CN217719604U (zh) 显示设备
US20230030535A1 (en) Display device
US20220181587A1 (en) Display device
KR20230017376A (ko) 표시 장치
KR20230085256A (ko) 표시 장치
US20230200139A1 (en) Display device
EP4235781A1 (en) Display device
KR20230014124A (ko) 표시 장치
KR20220112316A (ko) 표시 장치
KR20220169030A (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
KR20220131453A (ko) 표시 장치
KR20230123051A (ko) 표시 장치
KR20230128170A (ko) 표시 장치
KR20230072545A (ko) 표시 장치 및 그 제조 방법
KR20230001575A (ko) 표시 장치 및 이를 포함하는 타일형 표시 장치
KR20230136788A (ko) 표시 장치
KR20220146725A (ko) 표시 장치
KR20230013657A (ko) 표시 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination