KR20210061437A - 부품 취급에 사용되는 시스템 및 방법 - Google Patents

Abstract

전기 부품 시험 장치는 진공 판을 포함할 수 있고, 상기 진공 판은 제1 표면, 제1 표면의 반대편에 있는 제2 표면, 및 제1 표면으로부터 제2 표면까지 진공 판을 통해 연장하는 관통 구멍을 포함한다. 본 장치는 또한 진공 판의 제2 표면에 배치되는 매니폴드를 포함한다. 상기 매니폴드는 매니폴드 본체, 및 매니폴드 본체 내부에서 연장하는 통로를 포함하고, 각 통로는 제1 단부와 제2 단부를 포함한다. 제1 단부는, 진공 판에 있는 관통 구멍의 위치에 대응하는 제1 위치에서 매니폴드 본체의 외부와 교차하는 개구를 포함하고, 제2 단부는 제2 위치에서 매니폴드 본체의 외부와 교차하는 개구를 포함한다. 본 장치는 또한 제2 단부의 개구에 연결되는 가압 공기원을 포함한다.

Description

부품 취급에 사용되는 시스템 및 방법

본 출원은 2018년 10월 15일에 출원된 미국 가출원 제62/745,777호의 이익을 주장하고, 상기 미국 가출원은 전체적으로 참조에 의해 포함된다.

여기서 논의되는 실시형태는 전기 부품을 취급하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.

피동 또는 능동 회로 또는 전자 장치와 같은 많은 전기 부품은 제조 중에 전기적 및 광학적 특성에 대해 자동화된 시험 시스템에 의해 시험된다. 전형적인 자동 분류 장치는 피시험 장치의 정밀한 전기적 또는 광학적 특성을 이용하고 측정된 값에 따라 그 장치를 받아들이거나 거부하거나 또는 출력 카테고리로 분류하게 된다. 소형 장치의 경우, 자동 분류 장치는 종종 벌크 로드(bulk load)를 취급하도록 설계되어 있으며, 제조 공정은, 크기 및 형상과 같은 실질적으로 동일한 기계적 특성을 갖지만 전기적 또는 광학적 특성에 있어서 상이한 일정량의 장치를 만들며, 그 전기적 또는 광학적 특성은 일반적으로 일정 범위 내에 있고 유사한 특성을 갖는 다른 부품을 담고 있는 분류 빈(bin) 안으로 부품을 분류하는 시험에 의존한다.

본 발명의 일 실시형태는 전기 부품 시험 장치로서 특징지어질 수 있다. 본 장치는 진공 판을 포함하고, 상기 진공 판은 제1 표면; 제1 표면의 반대편에 있는 제2 표면; 및 제1 표면으로부터 제2 표면까지 진공 판을 통해 연장하는 복수의 관통 구멍을 포함한다. 본 장치는 진공 판의 제2 표면에 배치되는 매니폴드를 포함한다. 상기 매니폴드는 매니폴드 본체, 및 매니폴드 본체 내부에서 연장하는 복수의 통로를 포함할 수 있고, 복수의 통로 각각은 제1 단부와 제2 단부를 포함한다. 제1 단부는, 진공 판에 있는 관통 구멍의 위치에 대응하는 제1 위치에서 매니폴드 본체의 외부와 교차하는 개구를 포함하고, 제2 단부는 제2 위치에서 매니폴드 본체의 외부와 교차하는 개구를 포함한다. 본 장치는 제2 단부의 개구에 연결되는 가압 공기원을 포함한다.

본 발명의 다른 실시형태는 전기 부품 시험 장치를 위한 감속기로서 특징지어질 수 있고, 상기 전기 부품 시험 장치는, 제1 단부 및 제1 단부의 반대편에 있는 제2 단부를 갖는 튜브 어셈블리를 가지며, 제2 단부는 제1 단부보다 낮으며, 제1 단부는 복수의 전기 부품을 수용하도록 구성되고, 튜브 어셈블리는, 수용된 전기 부품이 이동 경로를 따라 튜브 어셈블리를 통해 이동할 수 있도록 구성된다. 본 감속기는, 안에 형성된 개구를 갖는 감속기 본체(상기 개구는 제1 단부 및 제1 단부의 반대편에 있는 제2 단부를 가짐); 및 개구 내부에 배치되는 감속기를 포함할 수 있다. 본 감속기는, 안에 형성된 개구를 갖는 감속기 본체(상기 개구는 제1 단부 및 제1 단부의 반대편에 있는 제2 단부를 가짐); 개구 내부에서 볼록한 표면을 규정하고 개구의 제1 단부쪽을 향하는 구조체; 및 상기 구조체 아래에 배치되는 오목한 표면을 포함하다.

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 전기 부품 취급기의 사시도를 도시한다.
도 2는 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기를 위한 수집 시스템의 일 예의 사시도를 도시한다.
도 3은 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기의 다양한 구성 요소 및 전기 부품 취급기와 함께 사용될 수 있는 시험 판의 사시도를 도시한다.
도 4는 시험 판에 의해 규정된 일 열의 부품 시트를 중앙에서 통과하는 반경 방향 선을 따라 취한, 도 3에 나타나 있는 시험 판의 부분 단면도를 도시한다.
도 5는 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기의 장입(loading) 구조의 사시도를 도시한다.
도 5a는 도 5에 나타나 있는 10a - 10a 선을 따라 취한 단면도를 도시한다.
도 6은 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기의 방출 매니폴드의 사시도를 도시한다.
도 7은 도 3의 12 - 12 선을 따라 취한 단면도를 도시한다.
도 8은 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기의 부품 호퍼 어셈블리(component hopper assembly)의 화도(pictorial view)를 도시한다.
도 9는 도 8에 나타나 있는 부품 호퍼 어셈블리의 주둥이(spout)의 사시도를 도시한다.
도 10은 일 실시형태에 따른 아크 억제 회로를 도시하며, 상기 회로는 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기 내부에 포함될 수 있다.
도 11, 12, 13 및 14는 일 실시형태에 따른 매니폴드의 다양한 사시도를 도시하며, 상기 매니폴드는 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기와 함께 사용될 수 있다.
도 15는 일 실시형태에 따른, 공통의 감속기 본체에 일체적으로 형성되는 감속기의 배치를 나타내는 사시도를 도시하며, 감속기는 도 1에 나타나 있는 전기 부품 취급기와 함께 사용될 수 있다.
도 16은 도 15에 나타나 있는 공통의 감속기 본체에 일체적으로 형성되는 감속기를 나타내는 사시도를 도시한다.

여기서 예시적인 실시형태가 첨부 도면을 참조하여 설명된다. 다른 명확한 언급이 없으면, 도면에서 부품, 특징적 부분, 요소 등의 크기, 위치 등 및 그들 사이의 거리는 반드시 축척에 따를 필요는 없으며, 명료성을 위해 과장되어 있을 수 있다. 도면 중에서, 동일한 참조번호는 전체에 걸쳐 동일한 요소를 나타낸다. 따라서, 동일하거나 유사한 참조번호는, 대응하는 도면에 언급되어 있지 않고 또한 설명되어 있지 않더라도 다른 도면을 참조하여 설명될 수 있다. 또한, 참조 번호로 나타나 있지 않은 요소도 다른 도면을 참조하여 설명될 수 있다.

여기서 사용되는 용어는, 특정한 예시적인 실시형태만을 설명하기 위한 것이며 한정적인 의도는 없다. 달리 정의되지 않는다면, 여기서 사용되는 모든 용어(기술적 및 과학적 용어를 포함하여)는 통상적으로 당업자가 이해하는 바와 같은 동일한 의미를 갖는다. 여기서 사용되는 바와 같이, 단수 표현은, 문맥이 명확히 다르게 언급하지 않는다면, 복수형도 포함하도록 되어 있다. "포함한다" 및/또는 "포함하는" 이라는 용어는, 본 명세서에 사용될 때, 진술된 특징, 완전체, 단계, 작용, 요소 및/또는 부품의 존재를 특정하지만, 하나 이상의 다른 특징, 완전체, 단계, 작용, 요소, 부품 및/또는 그의 그룹의 존재 또는 추가를 배제하지 않음을 알아야 한다. 다르게 특정되지 않으면, 어떤 범위의 값은, 언급될 때, 그 범위의 상한과 하한 둘 모두 및 그 사이에 있는 임의의 부분 범위를 포함한다. 다른 말이 없다면, "제1,” "제2" 등의 용어는 한 요소를 다른 요소와 구별하기 위해 사용될 뿐이다. 예컨대, 한 노드를 "제1 노드"라고 할 수 있고, 유사하게, 다른 노드를 "제2 노드" 라고 할 수 있으며, 그 반대로도 할 수 있다.

다른 말이 없다면, "약,” "그 근방,” "대략" 등의 용어는, 양, 크기, 제형(formulation), 파라미터, 및 다른 양과 특징은 정확하지 않고 또한 그럴 필요가 없지만, 요구에 따라 대략적이며 그리고/또는 더 크거나 더 작을 수 있어, 허용 공차, 전환 계수, 반올림, 측정 오차 등 및 당업자에게 알려져 있는 다른 인자를 반영할 수 있다. "아래쪽,” "아래,” "하측,” "위쪽,” 및 "상측" 등과 같은 공간적인 상대 용어는, 여기서, 도면에 도시되어 있는 바와 같이, 한 요소 또는 특징적 부분의 다른 요소 또는 특징적 부분에 대한 관계를 나타내는 설명의 용이를 위해 사용될 수 있다. 공간적인 상대 용어는 도면에 나타나 있는 배향에 추가로 상이한 배향을 포함하도록 되어 있음을 알아야 한다. 예컨대, 도면에 있는 한 대상이 뒤집어 진다면, 다른 요소 또는 특징적 부분의 "아래쪽" 또는 "아래"에 있는 것으로 설명되는 요소는 다른 요소 또는 특징적 부분의 "위쪽"에 배향될 것이다. 따라서, "아래쪽" 이라는 예시적인 용어는 위쪽 및 아래쪽의 배향 둘 다를 포함할 수 있다. 어떤 대상은 다르게 배향될 수 있고(예컨대, 90도 회전되거나 다른 배향으로 있을 수 있음), 여기서 사용되는 공간적인 상대 설명어는 그에 따라 해석될 수 있다.

여기서 사용되는 단락의 제목은 단지 조직화를 위한 것이며, 명확한 다른 언급이 없으면, 설명되는 주제를 한정하는 것으로 이해되어서는 안 된다. 본 개시의 정신과 교시에서 벗어나지 않는 많은 상이한 형태, 실시형태 및 조합이 가능함을 알 것이며, 그래서 본 개시는 여기에 제시된 예시적인 실시형태에 한정되는 것으로 이해되어서는 안 된다. 오히려, 이들 예 및 실시형태는, 본 개시가 철저하고 완전하게 되고 본 개시의 범위를 당업자에게 전달하도록 제공된다.

1. 개관

도 1 및 3을 참조하면, 전체적으로 "2"로 나타나 있는 전기 부품 취급기(여기서는 "취급기"라고도 함)는, 평면형 경사 표면(6)(예컨대, 45°, 60°, 75°, 90° 등의 각도 또는 이들 값 중의 임의의 값 사이의 각도로 경사져 있음)을 갖는 지지 구조체(4)를 갖는 것으로 도시되어 있다. 마찬가지로 경사져 있고 디스크형 시험 판(8)을 회전시키기 위한 턴테이블(7)이 경사 표면에 의해 규정되어 있는 구멍을 통해 연장되어 있다. 시험 판(8)은 평평한 링의 형태이고, 복수 열 또는 트랙의 개방 부품 시트(seat)(10)를 규정한다. 이들 시트는 시트에 안착될 부품에 맞도록 설계되어 있다. 도시되어 있는 실시형태에서, 각 시트(10)는, 관통 구멍을 포함하며, 부품의 "단자 축선"이 허용 공차 내에서 시트와 정렬될 때에만 부품(12)(예컨대, 도 2 참조)을 자유롭게 안착시키고 유지하는 크기로 만들어진다. 단자 축선은 그의 상호 대향하는 단자(14)들을 통과하는 부품(12)의 축선이고, 그렇게 안착되면, 한 단자(14)는 위에서 접촉되도록 시험 판(8)의 면(16) 위쪽으로 돌출하며, 다른 단자(14)는 아래에서 접촉되도록 시트의 기부에서 노출된다. 바람직하게는, 시트는, 단자 축선을 따라 볼 때 의도된 부품의 프로파일과 유사한 프로파일을 갖지만, 상기 부품 보다 약간 커서, 일정한 도입 각도 범위 내의 각도로 들어오는 부품을 받을 수 있다. 상기 도입 각도 범위는 부품과 시트 벽 사이에 얼마나 많은 측방 공간이 허용될 수 있는지에 달려 있다. 도시되어 있는 바와 같이, 각 시험 판 열은 4개의 반경 방향으로 이격된 부품 시트의 라인이고, 열은 시험 판 주위에 균일한 각도 간격으로 이격되어 있어, 4개의 동심 시트 링을 형성한다.

도 4를 참조하면, 부품 시트 링 밑에는, 안착된 부품을 지지하는 고정된 "진공" 판(9)이 있다. 진공 판은 바람직하게는, 고정된 상측 표면과 운동 부품 사이의 마찰을 최소화하고 진공 판에 대한 마모를 최소화하기 위해 크롬 도금된 평평한 상측 면을 갖는 강(steel) 링이지만, 반드시 그러할 필요는 없다. 진공 판의 상측 면은 복수의 환형 진공 채널(11)을 규정한다. 각 부품 시트 링에 인접하여 그와 동심으로 있는 진공 채널이 있다. 이 실시형태에 대해 도시되어 있는 바와 같이, 4개의 진공 채널이 있는데, 하나는 각 시트 링에 안쪽에서(inboardly) 인접한다. 진공 채널 모두는 저압원(주변 압력에 비해 낮음)에 연결되어 있어, 작동 중에 진공 채널은 시험 판의 바닥에 규정되어 있는 복수의 연결 채널(13)에 부분 진공을 전달하다. 이들 연결 채널은 진공 채널로부터 부분 진공을 부품 시트에 전달한다. 각 부품 시트와 일대일로 연통하는 연결 채널이 있다. 이러한 배치로, 부품은 각각의 연결 채널을 통해 시트에 전달되는 진공 채널 내의 부분 진공에 의해 시트 안으로 들어가 거기에서 유지된다.

시험 판(8)은 턴테이블(7) 상에 부분적으로 안착되고, 시험 판의 내측 림 근처에 규정되어 있는 위치 결정 구멍(17)과 짝을 이루는 복수의 위치 결정 핀(15)에 의해 상기 턴테이블 상에 적절히 위치된다. 도시되어 있는 바와 같이, 시험 판(8)은 턴테이블 허브(18) 주위에 시계 방향으로 회전 가능하다. 시험 판(8)이 회전함에 따라, 부품 시트는 장입(loading) 영역(전체적으로 "19"로 나타나 있음), 접촉기 어셈블리(20) 및 방출 매니폴드(22) 아래를 지나가게 된다. 아래에서 설명하는 바와 같이, 부품은 시험 판 시트에서 장입 영역에 배치되며 그 후에 접촉기 어셈블리 아래에서 회전되며, 접촉기 어셈블리에서 각 부품은 전기적으로 접촉되고 파라미터적으로 시험된다.

도 3을 참조하면, 시험 판이 최적의 각속도로 회전될 수 있게 하고 각 안착된 부품이 철저히 시험되는 것을 보장하기 위해, 접촉기 어셈블리는 복수의 서로 이격된 접촉기 모듈(24)(예컨대, 5개의 접촉기 모듈(24))을 포함하며, 각 접촉기 모듈은 부품 시트의 각 링과 직렬로 있는 상측 접촉자(나타나 있지 않음)를 갖는다. 이 실시형태에서는 4개의 시트 링이 있고 접촉기 어셈블리(20)는 5개의 접촉기 모듈(24)을 수용할 수 있기 때문에, 시트의 링 당 5개의 상측 접촉자가 있다. 시험 판의 반대측에서 20개의 하측 접촉자(23)가 각각 상측 접촉자와 정합되어 있다. 그래서, 이 실시형태에 따른 취급기가 접촉기 모듈을 완비하고 있다면(그럴 필요는 없지만), 20개의 안착되는 부품의 단자들은 동시에 접촉될 수 있고, 그리하여 모든 20개를 개별적으로 시험기에 동시에 연결할 수 있다.

5개의 접촉기 모듈(24) 및 그의 대응하는 하측 접촉자는 5개의 개별적인 시험 스테이션으로서 사용될 수 있다. 이는 종종 통상적으로 5개의 시험 단계를 거치는 세라믹 캐패시터를 시험하는 데에 특히 유리하다. 전형적인 제1 단계 동안에, 부품의 캐패시턴스 및 소산 계수가 시험된다. 전형적인 제2 단계 시험(일반적으로 "플래시(flash)" 시험이라고 함)은 고전압(전형적으로, 부품의 전압 정격의 2 ∼ 2 1/2 배임)을 짧은 시간(전형적으로, 40 ∼ 50 ms) 동안에 가하는 것을 포함한다. 전형적인 제3 단계 시험 동안에, 저전압(예컨대, 50v)이 누전 또는 절연 내성을 시험하기 위해 가해진다. 전형적인 제4 단계 시험 동안에, 부품의 정격 전압이 침지 기간(전형적으로는 수 100 ms) 동안 부품에 가해지며 누전/절연 내성이 다시 시험된다. 전형적인 제5 단계 시험 동안에, 부품이 다른 시험의 영향을 받았는지를 알아보기 위해 부품의 캐패시턴스가 다시 시험된다. 시험 판 회전 방향으로 부품이 만나는 제1 접촉기 모듈은 제1 단계 시험을 각 통과하는 열에 적용하기 위해 사용될 수 있다. 만나는 제2 접촉기 모듈은 제2 단계 시험을 각 열에 적용하기 위해 사용될 수 있다. 이렇게 해서, 5개의 시험이 적어도 어느 정도 시간적으로 겹칠 수 있다.

4개 보다 많은 시트 링(예컨대, 8개의 시트 링)이 있을 수 있음을 이해해야 하고, 이 경우에 접촉기 모듈은 대응적으로 4개 보다 많은 상측 접촉자를 가질 것이다. 마찬가지로, 여기서 논의되는 기술은 4개 보다 적은 시트 링으로 실행될 수 있고, 이 경우에 접촉기 모듈은 대응적으로 4개 보다 적은 상측 접촉자를 가질 것이다. 더욱이, 본 발명의 실시형태는 5개 보다 많은 또는 5개 보다 적은 또는 5개의 접촉기 모듈로 실행될 수 있다. 모든 경우에, 상측 접촉자와 정합되는 동일한 수의 하측 접촉자가 있을 것이다.

도 3 및 6을 참조하면, 시험 후에, 부품은 방출 매니폴드(22) 아래에서 인덱싱되고(indexed), 도시되어 있는 바와 같이, 상기 방출 매니폴드는 복수의 방출 매니폴드 관통 구멍(78)을 규정하는 매니폴드 판(76)을 포함하고, 시트가 아래에서 인덱싱됨에 따라 상기 관통 구멍은 부품 시트와 정합된다. 방출 매니폴드 관통 구멍(78)은 튜브 커플러(80)를 수용하는 크기로 만들어지고, 상기 튜브 커플러는, 방출 매니폴드 관통 구멍(78)과 짝을 이루고 예컨대 스냅 링(82)에 의해 관통 구멍에 고정되는 약간 구부러진 강성적인 튜브이다. 튜브 커플러(80)는 방출된 부품(12)이 상기 튜브 커플러를 자유롭게 통과할 수 있는 내경의 크기로 만들어진다. 더 상세히 설명하는 바와 같이, 부품(12)은 시트의 아래/뒤에서 나오는 공기의 분출물에 의해 시트(10)로부터 방출되고, 상기 공기에 의해 부품은 튜브 커플러(80)를 통과하여, 상기 튜브 커플러(80)에 연결되어 있는 각각의 방출 튜브(84) 안으로 들어가게 된다. 단지 8개의 방출 튜브가 도시되어 있지만, 피시험 부품을 분류 통에 전달하기 위해, 전부를 포함하여 어떤 수의 방출 매니폴드 관통 구멍(78)이라도 튜브 커플러(80)에 의해 상기 관통 구멍에 연결되는 방출 튜브를 가질 수 있음을 이해해야 한다.

도 7을 참조하면, 진공 판(9) 바로 아래/뒤에는 복수의 선택적으로 작동되는 공압 밸브(86) 또는 다른 곳에 위치되고 튜브(90)를 통해 가압 공기원에 연결되는 그러한 밸브로부터의 가요성 튜브(flexible tube)가 있다. 밸브(86)(또는 밸브(86)로부터 나오는 튜브)는 방출 매니폴드 관통 구멍(78)과 정합한다. 따라서, 시험 판(8)이 인덱싱될 때마다, 일 세트의 부품 시트(10)는 방출 매니폴드 관통 구멍(78) 및 공압 밸브(86)와 정합되고 그것들 사이에 있게 된다. 진공 판(9)은 또한 공압 밸브(86)와 정합되는 관통 구멍(92)을 규정한다. 따라서, 방출 매니폴드 관통 구멍(78)과 정합되는 각 부품 시트(10)는 방출 매니폴드 관통공(78)과 각각의 공압 밸브(86) 사이의 공기 연통 경로에 있고, 공압 밸브(86)의 작동으로, 시트(10)에 있는 부품(12)이 공기 압력에 의해 그 시트(10)로부터 위쪽으로 밀려 방출 매니폴드 관통 구멍(78)을 통과하게 된다. 공기 압력에 의해 또한 부품(12)은 각각의 튜브 커플러(80)를 통과하여, 상기 튜브 커플러(80)에 연결되어 있는 방출 튜브(84) 안으로 들어가게 된다. 공기의 이들 분출물은 진공 채널(11)에 의해 전달되는 부분 진공의 영향을 극복하기에 충분한 압력을 갖는다. 이러한 배치로, 선택된 부품(12)은 그 아래에 있는 공압 밸브(86)의 선택적인 작동으로 그의 시트로부터 방출될 수 있다. 따라서 시트 링에 있는 부품(10)은 링과 정렬되어 있는 방출 튜브(84) 안으로 선택적으로 방출될 수 있다.

도 1 및 1a를 참조하면, 방출된 부품(12)은 공기의 분출 및 중력에 의해 추진되어 각각의 방출 튜브(84)를 횡단하여 분류 빈(94) 안에 위치된다. 도시되어 있는 바와 같이, 상기 빈은 빈 트레이(96) 안에 보유되며, 트레이 당 4개의 빈이 있다. 시험된 부품을 모으기 위해, 빈의 트레이는 방출 매니폴드(22)의 아래에 또한 그 앞에 있는 선반에 배치된다. 튜브의 개방 단부(방출 매니폴드로부터 떨어져 있는 단부)는 튜브 연결 판(98)에 의해 그의 적절한 빈에 연결되어 있고, 상기 튜브 연결 판에는 복수의 관통 구멍(100) 및 관통 슬롯(102)이 형성되어 있다. 상기 구멍과 슬롯은 그의 대응하는 분류 빈 위쪽에서 중앙에 배치되도록 위치된다. 구멍은 각기 하나의 방출 튜브를 수용하는 크기로 만들어지고, 슬롯은 각기 4개의 관을 수용하는 크기로 만들어진다. 관의 개방 단부는 구멍 또는 슬롯 안으로 삽입되어, 부품을 아래의 빈에 안내한다. 도 1은, 명료성을 위해, 방출 매니폴드(22)에 연결되어 있는 방출 튜브(84)의 단지 몇개의 단속적인 부분 및 튜브 안내 판(98)으로부터 돌출하는 방출 튜브의 몇개의 단속적인 부분을 도시하지만, 모든 방출 튜브(84)은 매니폴드 판(76)에서부터 튜브 안내 판(98) 및 아래의 대응하는 빈까지 실제로 연속적임을, 즉 중단되지 않고 또한 단속되어 있지 않음을 이해해야 한다. 또한, 필요에 따라 방출 매니폴드 관통 구멍(78)의 전부 또는 일부가 튜브 안내 판(98)에 이어져 있는 튜브를 가짐을 이해해야 한다.

도 1, 3, 5, 5a 및 9를 참조하면, 부품(12)은 고정된 아치형 장입 프레임(104) 아래에 있는 장입 영역(19) 내의 시험 판 시트 안으로 분배된다. 장입 프레임은 격납 벽(106) 및 복수의 안착 펜스(fence)를 가지며, 상기 안착 펜스는 갯수에 있어 4개의 부품 시트 링과 같은 4개의 벽(108a - 108d)으로서 도시되어 있다. 안착 펜스는 일정한 높이를 가지며 시험 판으로부터 떨어져서 가로 부재(110)에 의해 연결되어 있다. 안착 펜스의 호(arc)는 시트 링과 동심이며, 각 시트 링의 외측면에 바로 인접하는 하나의 안착 펜스가 있다. 안착 펜스의 기부는, 부품이 상기 펜스 아래를 지나거나 걸리는 것을 방지하기 위해, 예컨대 심(shim)에 의해 시험 판 위쪽으로 약간 이격되어 있다. 바람직하게는, 펜스는 (위치 표시자로서 시계의 시간 점을 사용하여) 시험 판의 약 9시 위치로부터 약 5시 위치까지 연장되어 있다. 도시되어 있는 바와 같이, 장입 프레임의 9시 단부에서, 펜스 사이의 틈(110a - 110d)이 개방되어 있어, 부품을 상기 틈 안에 삽입하기 위한 입구로서 역할을 한다. 그러나, 다른 실시형태에서, 펜스 사이의 틈(110a - 110d)은 장입 프레임을 따라 6시 또는 7시 위치에서 개방되어 있어 부품의 삽입을 위한 입구부로서 역할을 한다. 작동시에, 피시험 부품은 대체로 동등한 비율로 틈 안으로 부어지며, 부품들은 아래쪽으로 떨어짐에 따라 중력에 의해 펜스를 따라 분배되고 구르게 된다. 분배는 복수의 강제 공기 노즐을 갖는 공기 나이프(112)의 사용으로 추가 도움을 받을 수 있고, 공기 노즐 각각은 펜스 사이의 각 틈 안으로 향해 있다. 도시되어 있는 바와 같이, 시험 판(8)은 시계 방향으로 회전하고, 안착되지 않은 각 부품은 결국에 안착될 때까지 링의 회전 경로의 호를 통과하는 빈(empty) 시트에 걸쳐 중력으로 인해 안착 펜스를 따라 반대 방향으로 연속적으로 구르게 된다. 일단 시트에 있으면 부품은 환형 진공 채널(나타나 있지 않음)로부터 시트에 전달되는 부분 진공에 의해 시트에 유지된다.

도 1, 8 및 9를 참조하면, 피시험 부품(12)은 입구부(116)를 갖는 개방된 정상 깔때기(114)에 의해 안착 펜스 사이의 틈(110a - 110d) 안으로 부어지고, 상기 입구부의 폭은 펜스 사이의 틈과 같다. 아래에서 설명하는 바와 같이, 깔때기는 부품을 주로 선택된 틈 안으로 투입하도록 4개의 틈 각각의 위에 똑바로 선택적으로 위치될 수 있다. 깔때기는 쉐이커(shaker)(120)에 장착되는 고정된 공급기 트레이(118)로부터 부품(12)의 흐름을 받는다. 공급기 트레이는 바람직하게는 호퍼(122)로부터 일정량의 부품을 중력에 의해 공급 받고, 쉐이커(120)는 활성화되면 공급기 트레이(119)를 진동시켜 부품을 깔때기로 이동시킨다. 호퍼는 부품을 공급기 트레이(118)에 보내는 큰 입력 입구부(124)를 갖는다. 트레이 위쪽에 있는 호퍼의 출력 입구부(나타나 있지 않음)의 간격은 트레이로 가는 부품을 효과적으로 계량한다. 공급기 트레이의 바닥의 일부분(126)은 균일한 크기의 구멍으로 천공되어 있고, 천공된 부분 아래에는 캣치 트레이(catch tray)(128)가 있다. 천공부는, 상기 천공부를 통과하여 아래의 캣치 트레이에 잡힐 과소 크기의 부품을 걸러내게 된다. 천공부는 바람직하게는 메쉬이다.

도 5, 5a 및 9를 참조하면, 틈(110a - 110d) 위에 있는 깔때기(114)의 위치는, 어느 틈(들)에 부품(12)이 필요한지를 결정하는 제어기(나타나 있지 않음)에 의해 제어된다. 상기 제어기는 장입 프레임 가로 부재(132)에 형성되어 있는 각각의 각진 구멍에 배치되는 복수의 부품 센서(130)(틈 당 하나씩 있음)로부터 신호를 받는다. 각 센서는 한 쌍의 광섬유 케이블을 포함하며, 한 케이블이 레이저 빔 발생기와 같은 결맞은(coherent) 광원에 연결되고 다른 케이블은 광 검출기에 연결된다. 도 5a에 가장 잘 도시되어 있는 바와 같이, 구멍은 광섬유 케이블의 자유 단부가 틈의 하측 코너(즉, 부품들이 중력에 의해 모이게 될 코너)를 겨냥하도록 각이 져있다. 부품은 전형적으로 빛을 반사한다. 하측 코너를 향하는 도 5a의 점선 화살표는 센서에 의해 방출되는 광선을 나타내고, 반대 방향의 점선 화살표는 센서에 부딪히는 반사된 빛의 일부분을 나타낸다.

작동시에, 각 센서(130)는 광선을 틈의 하측 코너 쪽으로 향하게 하고, 그 하측 코너에 부품이 없으면(도 5a의 틈(110a)에서처럼), 광선은 반사되지 않거나 부품이 존재하는 경우(도 5a의 틈(110b - 110d)에서처럼) 보다 훨씬 더 작은 정도로 반사될 것이다. 반사의 부재 또는 더 적은 반사는 제어기에 의해 인지된다. 이 조건이 미리 정해진 일정 기간 동안 지속되면, 제어기는 스텝 모터(나타나 있지 않음)를 작동시킬 것이며, 상기 모터는 아암(134)을 구동시켜 깔때기의 입구부를 부품이 필요한 틈 위에 위치시킨다. 취급기가 작동할 때, 틈을 확인하고 깔때기를 이동시키는 이러한 과정은 연속적이다. 이렇게 해서, 부품은 대략적으로 동등한 비율로 틈에 분배된다. 센서를 시험 판에 대해 약 7시 위치에 위치시킴으로써 센서는 부품의 부재를 감지하기 위한 최적의 위치에 있는 것으로 밝혀졌다.

도 3을 참조하면, 장입 프레임(104)은 시험 판(8)으로부터 멀어지게 피봇 핀(164) 상에서 회전될 수 있고, 손잡이 나사(166) 및 잠금 핀(168)에 의해 제자리에서 잠금 될 수 있다. 이리하여 시험 판의 설치와 교체가 용이하게 된다.

도 8을 참조하면, 호퍼(122), 공급 트레이(118) 및 깔때기(114) 모두는, 시험 판의 설치 및 교체를 용이하게 하기 위해 가이드를 따라 뒤로 슬라이딩 될 수 있다. 그것들 및 쉐이커(120) 모두는 슬라이딩 가능한 판(180)에 장착되고, 상기 판은 아래의 베어링 가이드 상에서 슬라이딩한다. 판은 잠금 기구(나타나 있지 않음)에 연결되어 있는 레버(176)에 의한 작동을 위해 제 위치에서 잠금 된다. 또한, 잠금부(나타나 있지 않음)를 해제하고 상기 잠금부를 앞으로 밀어, 공급 트레이(118) 벽에 고정되어 있는 2개의 피봇 핀(178A, 178B)을 갖는 호퍼 벽에 고정된 브라켓과 결합하게 함으로써, 호퍼를 비울 수 있다. 일단 핀이 결합되면, 호퍼가 상기 핀 상에서 회전되어 호퍼의 내용물이 흘러질 수 있다.

취급기(2)에 관한 추가 정보는 미국 특허 5,842,579에서 찾아 볼 수 있고, 이 미국 특허는 본 출원의 말미에 부록으로 첨부되어 있다.

Ⅱ. 고속 부품 장입에 관한 실시형태

위에서 언급한 바와 같이, 틈을 확인하고 깔때기(114)를 이동시키는 과정은 취급기(2)의 작동 동안에 연속적으로 수행된다. 그러나, 깔때기(114)는 일반적으로 연속적으로 움직이지 않는다. 오히려, 아암(134)은 "스톱-앤드-고(stop-and-go)"의 제어 모드에 따라 깔때기(114)를 이동시킨다. "스톱-앤드-고"의 제어 모드에 따라, 깔때기(114)는 부품(12)이 필요한 틈 위로 이동된다. 깔때기(114)가 부품(12)이 필요한 틈 위에 도달한 후에, 깔때기(114)의 이동은 정지되고, 깔때기(114)가 정지되어 있는 중에, 쉐이커(120)를 작동시켜 부품(12)이 호퍼(122)로부터 깔때기(114)에 (즉, 공급 트레이(118)를 통해) 공급된다. 부품(12)이 깔때기(114)에 공급된 후에(예컨대, 미리 정해진 시간 동안), 상기 부품(12)은 깔때기(114)로부터 부품(12)이 필요한 틈 안으로 (예컨대, 중력의 영향 하에서) 투입된다. 부품(12)은 상기 부품(12)이 필요한 틈 안으로 투입된 후에, 깔때기(114)는 부품(12)이 필요한 다른 틈 위로 이동될 수 있고 위의 과정이 반복될 수 있다.

장입의 "스톱-앤드-고"의 제어 모드는 비교적 작은 크기의 부품(12)(예컨대, '0805 칩' 크기(즉, 2 mm 길이, 1.25 mm 폭) 보다 작은 MLCC 칩)에 대해 잘 기능하는데, 하지만, 장입 영역(19)에 장입 될 부품(12)이 '0805 칩' 크기 보다 크면, 비교적 큰 크기의 부품(12)이 호퍼(122)로부터 깔때기(114)에 공급되는(즉, 쉐이커(120)를 활성화시켜 공급 트레이(118)를 진동시킴으로써) 데에 허용 불가능하게 긴 시간이 걸릴 수 있다. 결과적으로, 비교적 큰 크기의 부품(12)이 부품(12)이 필요한 틈 안으로 투입될 수 있는 효율(즉, 틈 충전 효율)이 허용 불가능하게 낮아질 수 있다.

틈 충전 효율을 증가시키기 위해, 깔때기(114)는 "연속적인" 제어 모드에 따라 이동될 수 있다. "연속적인" 제어 모드에 따라, 부품(12)이 깔때기(114)로부터 틈 안으로 공급되는 속도는, 공급 트레이(118)가 진동되는(즉, 쉐이커(120)에 의해) 세기를 제어하여 제어된다. 이 경우, 제어기는 (예컨대, 펄스 폭 변조 신호를 쉐이커(120)에 출력하여) 쉐이커(120)의 작동을 제어할 수 있다. 제어기는 부품 센서(130)에 의해 발생된 정보를 사용하여, 깔때기(114)의 이동 및 쉐이커(120)의 작동을 제어한다. 예컨대, 시험 판(8)에 있는 한 트랙에 부품(12)을 공급하는 틈이 더 많은 부품(12)을 필요로 하면, 깔때기(114)는 그 틈 위에서 비교적 느리게 이동될 것이다. 마찬가지로, 시험 판(8)에 있는 한 트랙에 부품(12)을 공급하는 틈이 더 적은 부품(12)을 필요로 하면, 깔때기(114)는 그 틈 위에서 비교적 빠르게 이동될 것이다.

센서(130)에 의해 보내지는 광선으로부터의 빛은 부품(12)에 의해 (특히, 부품(12)이 비교적 큰 크기의 부품(12)인 경우에) 균일하게 반사되지 않으며, 그래서 반사된 빛 신호는 많은 고주파수 노이즈를 가질 것이다. 반사된 빛 신호를 잡기 위해 슬라이딩 시간 범위가 사용될 수 있고, 상기 슬라이딩 시간 범위 내에서, 펄스 하이(high) 및 펄스 로우(low) 폭이 사용되어, 틈 안에 있는 부품(12)의 수를 추정할 수 있다.

깔때기(114)가 비어져 있으면, 쉐이커(120)는 공급 트레이(118)를 가장 높은 세기로 진동시키도록 작동될 수 있다. 그 후에, 쉐이커(120)는 공급 트레이(118)를 더 낮은 세기로 진동시키도록 작동될 수 있고, 그 세기는 센서(130)에 의해 발생되는 정보에 따라 선택적으로 가변적일 수 있다.

Ⅲ. 아크(arc) 억제에 대한 실시형태

고용량 MLCC 칩과 같은 부품(12)을 종래의 고처리량 전기 부품 취급기에 충전하면, 캐패시터-취급기 접촉자에 반복적인 아크 발생이 일어나, (예컨대, 접촉기 모듈(24)의 상측 접촉자에) 피트(pit)가 생길 수 있다. 아크 억제는 종래에는 상측 접촉자를 경화된 재료로 형성하고 그들 접촉자를 교체 가능하게 함으로써 완화된다. 하지만, 저장 용량이 커질 필요가 있음에 따라, 이들 종래 기술의 유용성 또는 유효성이 감소된다.

따라서, 일 실시형태는, 시험 중에 부품(12) 근처의 위치에서 아크 억제 회로를 각 접촉기 모듈(24) 안으로 삽입함으로써 부품(12)의 단자(14)와 접촉기 모듈(24)의 상측 접촉자 사이의 아크 발생과 관련된 위에 언급된 문제를 해결한다. 도 10을 참조하면, 아크 억제 회로(1500)가 접촉기 모듈(24)의 상측 접촉자와 케이블의 제1 단부 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 케이블은 수 피트(예컨대, 6 피트 또는 그 근방) 길이의 동축 케이블로서 제공될 수 있다. 제1 단부의 반대편에 있는 케이블의 제2 단부는 전류원에 전기적으로 연결될 수 있다. 아크 억제 회로(1500)에서, 다이오드(D1, D2, D3, D4)의 값, 인덕터(L1, L2)의 값 및 저항기(R1, F2)의 값은, 전류원에 의해 공급되는 전류의 크기, 접촉기 모듈(24)에서 피시험 부품(12)의 캐패시턴스, 피시험 부품(12)의 원하는(또는 요구되는) 충전 및 방전 시간 등 또는 이의 조합에 따라 선택되거나 설정될 수 있다. 일 실시형태에서, R1, F2, L1, 및 L2는 각각 200 옴(ohm)(또는 그 근방), 200 옴(ohm)(또는 그 부근) 또는 1000 옴(ohm)(또는 그 근방), 220 μH(또는 그 근방) 및 220 μH(또는 그 근방)이다.

아크 억제 회로(1500)는 감소된 캐패시터 충전 시간(그로 인해 시험 처리량이 증가됨) 및 접촉자(예컨대, 상측 접촉자)에서의 감소된 피팅(pitting)(그로 인해, 취급기의 수명에 걸쳐 필요한 서비스 작업이 더 적어질 수 있음)을 얻을 수 있게 해준다.

Ⅳ. 부품 분류에 대한 실시형태 - 매니폴드

위에서 언급된 바와 같이, 진공 판(9) 바로 아래/뒤에는 복수의 선택적으로 작동되는 공압 밸브(86)가 있거나 다른 곳에 위치되고 튜브(90)를 통해 가압 공기원에 연결되는 밸브로부터의 튜브가 있을 수 있다. 처리 속도가 더 빨라짐에 따라, 공압 시스템의 응답은 공기 방출 사이클(전체 분류 과정의 "체류" 기간 내에서 일어남)이 체류 시간의 증가를 필요로 하지 않기에 충분히 빠를 수 있게 할 필요가 있다. 또한, 다층 세라믹 캐패시터와 같은 부품에 대한 처리 속도가 현재 시간 당 1.2 백만 부(part)일 때, 공압 밸브(86)는 더 빈번한 교체를 필요로 한다. 그러므로, 공압 밸브(86)에 대한 양호한 접근과 함께 쉬운 교체가 바람직하다.

도 7에 도시되어 있는 것과는 다른 실시형태에서, 공압 밸브(86) 또는 이러한 밸브로부터의 가요성 튜브는 진공 판(9)의 바로 아래에/뒤에서(즉, 진공 판(9)에) 제공되는 공기 분배 매니폴드로 교체될 수 있다. 일반적으로, 공기 분배 매니폴드는 매니폴드 본체 및 복수의 통로를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. 각 통로는 제1 단부(예컨대, 매니폴드 본체의 외부 표면 내의 제1 위치에 있는) 및 제2 단부(예컨대, 매니폴드 본체의 외부 표면 내의 제2 위치에 있는)를 규정하도록 매니폴드 본체의 외부 표면에서 끝날 수 있다. 각 통로의 제1 단부는 가압 공기원에 연결될 수 있는 개구에서 매니폴드의 외부와 교차하고, 각 통로의 제2 단부는, 진공 판(9)을 통해 연장하는 관통 구멍(92)에 연결될 수 있는 개구에서 공기 분배 매니폴드의 외부와 교차한다. 가압 공기원과 관통 구멍(92) 사이에 있는 통로를 통과하는 유체 연통은, 공기 분배 매니폴드(예컨대, 통로의 제1 단부에 있음)에 연결되는 공기 밸브 전환 수단(예컨대, 솔레노이드 밸브)을 사용하여 개방되거나 폐쇄될 수 있다.

도 11, 12, 13 및 14는 일 실시형태에 따른 공기 분배 매니폴드의 다양한 사시도이다. 구체적으로, 도 11은 매니폴드 본체의 외부 표면에 형성되는 통로의 제1 및 제2 단부의 배치를 도시한다. 도 12는 매니폴드 본체 내에서의 통로의 배치를 도시한다. 도 13은 도 12에 나타나 있는 매니폴드 본체를 통과하는 통로의 배치의 확대도를 도시한다. 도 14는 제2 단부의 확대도를 도시한다.

도 11, 12 및 13을 참조하면, 공기 분배 매니폴드는 매니폴드 본체(1100) 및 상기 매니폴드 본체(1100) 내에서 연장하는 복수의 통로(1200)를 포함한다. 각 통로(1200)는 가압 공기를 제1 단부(예컨대, "1102"로 나타나 있음)로부터 제2 단부(예컨대, "1104"로 나타나 있음)에 전달할 수 있다. 각 통로(1200)의 제1 단부(1102)는 가압 공기원에 연결될 수 있는 개구에서 매니폴드 본체(1100)의 외부 표면과 교차한다. 각 통로(1100)의 제2 단부(1104)는 진공 판(9)에 연결될 수 있는 개구에서 매니폴드 본체(1100)의 외부 표면과 교차한다.

도 11에 가장 잘 나타나 있는 바와 같이, 매니폴드 본체(1100)의 외부 표면에 있는 제1 단부(1102)의 수와 배치(예컨대, 전체적으로 "1106"으로 나타나 있음)는 어떤 적절한 또는 원하는 방식으로도 제공될 수 있다. 매니폴드 본체(1100)의 외부 표면에 있는 제2 단부(1104)의 수와 배치(예컨대, 전체적으로 "1108"으로 나타나 있음)는 진공 판(9)에 있는 관통 구멍(92)의 수와 배치에 대응할 수 있다.

도 13에 가장 잘 나타나 있는 바와 같이, 매니폴드 본체(1100) 내에서, 각 통로(1200)는 복수의 제1 부분(1300)(하지만, 각 통로(1200)의 단지 하나의 제1 부분(1300)만 나타나 있음) 및 제2 부분(1302)을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. 각 제1 부분(1300)은 매니폴드 본체(1100)의 외부 표면으로부터 매니폴드 본체(1100) 안으로 어떤 미리 정해진 깊이로 연장되어 있다. 각 제2 부분(1302)은 한 쌍의 제1 부분(1300) 사이에 연장되어 있고 그와 유체 연통하고 있어, 제1 단부(1102)와 제2 단부(1104) 사이의 유체 연통을 가능하게 해준다. 또한 도 13에 가장 잘 나타나 있는 바와 같이, 하나 이상의 통로(1200)의 제1 부분(1300)은 다른 통로(1200)의 제1 부분(1300) 보다 더 깊이 매니폴드 본체(1100) 안으로 연장될 수 있다. 결과적으로, 통로(1200) 중의 하나 이상의 제2 부분(1302)은 다른 통로(1200)의 제2 부분(1302) 보다 매니폴드 본체(1100)의 위에서 언급된 외부 표면으로부터 더 멀리 있을 수 있다.

도 14를 참조하면, 각 통로(1200)의 제2 단부(1104)는 개구(1400)(즉, 매니폴드 본체(1100)의 외부와 교차하는 통로의 일부분) 및 상기 개구 주위의 환형 채널(1402)을 포함할 수 있다. 환형 채널(1402)은 진공 판(9)과의 안정적인 연통을 용이하게 해주는 시일(예컨대, O-링 시일(나타나 있지 않음))을 수용하는 크기로 만들어질 수 있다. 각 통로(1200)의 제1 단부(1102)는 도 14에 나타나 있는 제2 단부(1104)와 유사한 방식으로 구성될 수 있음을 알 것이다.

제1 단부(1102), 제2 단부(1104) 및 통로(1200)는 당업계에 알려져 있는 어떤 방식으로도 매니폴드 본체(1100)에 형성될 수 있다. 예컨대, 매니폴드 본체(1100)는 다수의 폴리머 판으로서 제공될 수 있다. 하나 이상의 판은 그에 형성된 구멍(예컨대, 블라인드 구멍 또는 관통 구멍)(예컨대, 통로(1200)의 제1 부분(1300)에 대응함)을 가질 수 있다. 마찬가지로, 하나 이상의 판은 그에 형성된 채널(예컨대, 그의 표면으로부터 연장되어 있어, 채널은 통로(1200)의 제2 부분(1302)에 대응함)을 가질 수 있다. 한 판에 형성되어 있는 구멍들이 하나 이상의 다른 판에 형성되어 있는 구멍 또는 채널과 유체 연통하도록 판들은 서로 적층되고 정렬될 수 있다. 그 후에, 판들은 (예컨대, 당업계에 알려져 있는 바와 같이 열융접 공정으로) 함께 결합될 수 있다.

도 11 및 12에 가장 잘 나타나 있는 바와 같이, 매니폴드 본체(1100)는 비교적 짧은 통로(1200)를 포함하고 있어, 빠른 공압 응답 시간을 가능하게 한다. 통로(1200)는 일정한(또는 실질적으로 일정한) 길이를 가지고 있어서, 공기 통로의 공압 응답의 변화를 감소시켜 주고, 이로써 더 예측 가능한 부품 방출 사이클 타이밍을 얻을 수 있다.

일 실시형태에서, 매니폴드 본체는 시각적으로 맑은(예컨대, 투명한) 재료로 만들어질 수 있어, 통로의 내부를 볼 수 있고 (예컨대, 통로 내부에 장애물이나 오염이 없는 것을 보장하기 위한) 통로의 검사가 용이하게 된다. 매니폴드 본체를 시각적으로 맑은 재료로 형성함으로써, 방출될 부품(12)에 인접하는 시스템 방출 포트까지 매니폴드의 역광 비추기가 또한 가능하게 된다. 이로써, 방출 포트가 깨끗 한지의 여부에 대한 시각적 확인이 가능할 것이다. 이는 여전히 부품 방출 포트에 매우 가까우면서, 쉬운 교체를 위해 공기 밸브를 장착하고 위치시키기 위한 간단한 구성("작업")이다.

Ⅴ. 부품 분류에 대한 실시형태 - 감속기

다층 세라믹 캐패시터와 같은 작은 부품(12)을 고속으로 분류할 때, 부품은 상기 부품을 취급 시스템 내에서 충분한 속도로 이동시키기 위해 요구되는 가속도와 속도로 인해 손상될 수 있다. 최종 수집 용기 안으로 들어가는 부품(12)을 감속시키기 위해 감속 수단(예컨대, 고무봉, 일련의 플랩(flap) 등 또는 이의 임의의 조합)이 최종 수집 용기(예컨대, 빈 트레이(96))에 제공될 수 있다. 그러나, 이러한 감속 수단은 용기로부터의 부품(12)의 제거를 방해할 수 있다. 부품(12)이 용기로부터 신뢰적으로 제거되지 않으면, 그 부품은 다른 종류일 수 있는 부품의 다음 로트(lot) 에 혼합될 수 있다. 이는 "혼합 로트" 실패 이벤트로 알려져 있다. 또한, 일단 감속 수단이 용기가 부품(12)으로 충전됨으로 인해 덮이거나 잠기면, 더이상 감속 기능은 없게 된다.

위의 내용을 감안하여 그리고 다른 실시형태에서, 감속기가 최종 수집 용기(예컨대, 트레이(96)) 외부에 배치될 수 있고, 분류된 부품(12)의 이동 경로에 볼록 및/또는 오목한 감쇠 표면을 도입하는 3차원 통로(예컨대, 원통형)으로서 제공될 수 있다. 감속기의 입구 위쪽에서, 부품(12)은 전형적으로 둥근 튜브(예컨대, 방출 튜브(84))를 통해 이동한다. 부품(12)은 튜브 크기 보다 작고, 그래서 넓은 범위의 궤적에 걸쳐 방출 튜브(84)를 통해 이동한다. 도 15를 참조하면, 감속기(1500)가 감속기 본체(1504)의 개구(1502) 내부에 제공될 수 있다. 개구(1502)는, 방출 튜브(84)의 한 단부가 상기 개구에 고정될 수 있도록(예컨대, 방출 튜브(84)의 외부와 개구(1502)의 측벽 사이의 억지 끼워맞춤으로) 크기가 만들어질 수 있다. 각 감속기(1500)의 정상부는, 이동 영역의 중심을 통해 이동하거나 가로지르는 부품(12)의 이동 경로에 있는 원추형 팁(1506)을 갖는다. 감속기(1500) 내의 더 아래쪽에서, 오목한 외벽(1508)은 볼록한 팁(1504)과의 접촉을 피한 부품(12)을 가로막는다. 이렇게 해서, 모든 부품(12)은 오목한 외벽(1508)에 형성되어 있는 배출 개구(1508a)를 통해 떨어지기 전에 적어도 하나의 감속 이벤트를 받을 것이다. 원추형 팁(1506)은 개구(1502)의 측벽으로부터 연장하는 하나 이상의 빔(1510)에 의해 배출 개구(1508a) 위에 현가될 수 있다. 도 15에 나타나 있는 바와 같이, 복수의 감속기(1500)가 공통의 감속기 본체(1504) 내부에 일체적으로 형성될 수 있다. 추가로, 원추형 팁(1506), 오목한 외벽(1508), 및 빔(1510)의 형상 및 위치는, 부품(12)이 전형적으로 복수의 감속 이벤트를 받아 감속기(1500)의 유효성을 개선하도록 정해진다. 도 15 및 16에 예시적으로 나타나 있는 감속기(1500)는 종래 기술에 대해 다음과 같은 주요 특징적 이점을 갖는다.

1. 부품(12)의 이동 경로에 대해 컴팩트한 설계이다. 종래에 사용되는 설계는, 넓은 범위의 궤적으로 통과하는 부품(12)을 효율적으로 감속시키기 위해 여러 단계를 필요로 했던 일련의 플랩으로 구성되었다.

2. 부품(12)을 위한 최종 수집 용기(예컨대, 빈(94)) 내부에 장애물이 없다. 감속 기능은 수집 용기가 얼마나 많이 채워지는가에 방해를 받지 않는다.

3. 진정한 3차원 감속 기능이다. 감속기(1500)를 통과하는 모든 부품은 원추형 팁(1506), 오목한 외벽(1508) 및 빔(들)(1510) 중 하나 이상의 적어도 하나의 표면과 접촉할 것이다.

4. 플라스틱, 사실상 모든 탄성중합체 또는 발포 고무를 포함하는 다양한 재료 또는 강성적인 기판 상에 있는 상기 재료의 코팅이 사용되어 감속기(1500)의 전술한 구조를 형성할 수 있다.

5. 감속기 본체(1502)는 부품(12)으로부터의 빈번한 충격으로 인해 통상적인 사용시에 마모될 것임에 따라 신속하게 또한 간단하게 교체될 수 있다.

6. 크기 또는 질량 밀도와 같은 다양한 분류된 부품의 특성 및 분류 시스템의 관련된 작동 파라미터(분류 사이클 내에서의 체류 시간, 부품의 방출에 사용되는 공기 압력)에 더 잘 맞도록 기하학적 구조를 변경하는 것이 용이하다.

Ⅵ. 결론

전술한 바는 본 발명의 실시형태와 예에 대한 실례를 든 것이며 본 발명을 한정하는 것으로 이해되어서는 안 된다. 몇몇 특정한 실시형태와 예를 도면을 참조하여 설명하였지만, 당업자라면, 개시된 실시형태와 예에 대한 많은 수정 및 다른 실시형태가 본 발명의 신규한 교시 및 이점에서 실질적으로 일탈하지 않으며 가능함을 쉽게 알 것이다. 따라서, 모든 그러한 수정은 청구범위에 규정되어 있는 바와 같은 본 발명의 범위 내에 포함되도록 되어 있다. 예컨대, 당업자는, 문장, 단락, 예 또는 실시형태의 주 내용은, 그러한 조합이 상호 배타적인 경우를 제외하고, 다른 문장, 단락, 예 또는 실시형태의 일부 또는 모두의 주 내용과 조합될 수 있음을 알 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 청구범위에 포함되는 청구범위의 등가물과 함께 이하의 청구범위에 의해 결정되어야 한다.

Claims (14)

1. 전기 부품 시험 장치로서,
   진공 판 - 상기 진공 판은,
   제1 표면;
   상기 제1 표면의 반대편에 있는 제2 표면; 및
   상기 제1 표면으로부터 상기 제2 표면까지 상기 진공 판을 통해 연장하는 복수의 관통 구멍을 포함하고 -;
   상기 진공 판의 상기 제2 표면에 배치되는 매니폴드 - 상기 매니폴드는,
   매니폴드 본체; 및
   상기 매니폴드 본체 내부에서 연장하는 복수의 통로를 포함하고,
   상기 복수의 통로 각각은 제1 단부와 제2 단부를 포함하고, 상기 제1 단부는, 상기 진공 판에 있는 관통 구멍의 위치에 대응하는 제1 위치에서 상기 매니폴드 본체의 외부와 교차하는 개구를 포함하고, 상기 제2 단부는 제2 위치에서 상기 매니폴드 본체의 외부와 교차하는 개구를 포함하고 -; 및
   상기 제2 단부의 상기 개구에 연결되는 가압 공기원을 포함하는, 전기 부품 시험 장치.
2. 제1항에 있어서,
   상기 복수의 통로 중 적어도 하나는, 상기 복수의 통로 중의 적어도 다른 하나의 길이와 적어도 실질적으로 같은 길이를 갖는, 전기 부품 시험 장치.
3. 제1항에 있어서,
   상기 매니폴드 본체는 시각적으로 투명한 재료로 형성되는, 전기 부품 시험 장치.
4. 제1항에 있어서,
   상기 제1 단부와 상기 제2 단부로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 적어도 하나는, 상기 매니폴드 본체의 외면에 형성되고 상기 개구 주위로 연장하는 환형 채널을 더 포함하는, 전기 부품 시험 장치.
5. 제4항에 있어서,
   상기 환형 채널 내부에 배치되는 시일을 더 포함하는 전기 부품 시험 장치.
6. 제1항에 있어서,
   상기 진공 판의 상기 제1 표면 상에 배치되는 시험 판을 더 포함하고, 상기 시험 판은 복수의 관통 구멍을 포함하며, 상기 시험 판에 있는 상기 복수의 관통 구멍 중 적어도 일부가 상기 진공 판에 있는 상기 복수의 관통 구멍에 정렬될 수 있도록 상기 시험 판은 상기 진공 판에 대해 움직일 수 있는, 전기 부품 시험 장치.
7. 제6항에 있어서,
   상기 시험 판은 복수의 전기 부품을 유지하도록 구성되어 있는, 전기 부품 시험 장치.
8. 제6항에 있어서,
   상기 시험 판에 있는 상기 복수의 관통 구멍은 복수의 전기 부품을 유지하도록 구성되어 있는, 전기 부품 시험 장치.
9. 제8항에 있어서,
   상기 전기 부품은 MLCC 칩인, 전기 부품 시험 장치.
10. 제8항에 있어서,
    각각 제1 단부 및 상기 제1 단부의 반대편에 있는 제2 단부를 갖는 복수의 튜브 어셈블리 - 상기 제2 단부는 상기 제1 단부 보다 낮으며, 상기 복수의 튜브 어셈블리 각각의 상기 제1 단부는 상기 복수의 전기 부품 중 적어도 일부를 수용하도록 구성되고, 상기 복수의 튜브 어셈블리 각각은, 수용된 전기 부품이 이동 경로를 따라 튜브 어셈블리를 통해 이동할 수 있도록 구성됨 -;
    내부에 형성된 복수의 개구를 갖는 감속기 본체 - 상기 복수의 개구 각각은 상기 복수의 튜브 어셈블리 각각의 대응하는 제2 단부와 유체 연통하여, 상기 복수의 튜브 어셈블리를 통해 이동하는 전기 부품을 수용함 -; 및
    상기 복수의 개구 각각의 내부에 배치되는 감속기를 더 포함하고,
    상기 감속기는 상기 복수의 개구 중 대응하는 개구 내부에 수용된 상기 전기 부품을 감속시키도록 구성되는, 전기 부품 시험 장치.
11. 제10항에 있어서,
    상기 복수의 튜브 어셈블리 각각의 상기 제2 단부는 상기 감속기 본체에 형성된 대응하는 개구 안으로 삽입되는, 전기 부품 시험 장치.
12. 제10항에 있어서,
    상기 복수의 개구 중 적어도 하나의 내부에 있는 감속기 아래에 배치되는 빈(bin)을 더 포함하고, 상기 빈은 상기 감속기에 의해 배출된 전기 부품을 수용하도록 구성되는, 전기 부품 시험 장치.
13. 전기 부품 시험 장치를 위한 감속기로서, 상기 전기 부품 시험 장치는, 제1 단부 및 상기 제1 단부의 반대편에 있는 제2 단부를 갖는 튜브 어셈블리를 가지며, 상기 제2 단부는 상기 제1 단부 보다 낮으며, 상기 제1 단부는 복수의 전기 부품을 수용하도록 구성되고, 상기 튜브 어셈블리는, 수용된 전기 부품이 이동 경로를 따라 튜브 어셈블리를 통해 이동할 수 있도록 구성되고, 상기 감속기는,
    안에 형성된 개구를 갖는 감속기 본체 - 상기 개구는 제1 단부 및 제1 단부의 반대편에 있는 제2 단부를 가짐 -;
    상기 개구 내부에서 볼록한 표면을 규정하고 상기 개구의 제1 단부쪽을 향하는 구조체; 및
    상기 구조체 아래에 배치되는 오목한 표면을 포함하는, 감속기.
14. 제13항에 있어서,
    상기 오목한 표면은 상기 개구의 상기 제2 단부를 규정하는, 감속기.

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