KR20210048469A - Device for mounting electric component and method for manufacturing a display member - Google Patents

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Abstract

An objective of the present invention is to provide an apparatus for mounting an electronic component, capable of enabling the electronic component having flexibility to be mounted on a display panel having flexibility with high accuracy. The apparatus for mounting the electronic component includes: a stage (42) on which a display panel (P) is disposed such that an edge portion of the display panel (P) protrudes in a range of 3 mm to 15 mm; a backup unit (43) for supporting the edge portion of the display panel (P); a pressure-bonding head (41) for holding an electronic component (W); image capturing devices (44a, 44b) for capturing images of an alignment mark formed in the edge portion of the display panel (P) and an alignment mark formed in the electronic component (W); a light irradiation unit (44d) for irradiating light from a side of the display panel (P) that is opposite to an image capturing side of the display panel (P); and a control device for aligning the display panel (P) and the electronic component (W) based on a positional relations recognized by an image capturing result to thermocompression-bond the electronic component (W) to the display panel (P), wherein a bending elastic modulus of the portion protruding from the stage (42) is greater than or equal to 2.6 GPa, and less than or equal to 4.0 GPa.

Description

전자 부품의 실장 장치와 표시용 부재의 제조 방법{DEVICE FOR MOUNTING ELECTRIC COMPONENT AND METHOD FOR MANUFACTURING A DISPLAY MEMBER}Electronic component mounting device and manufacturing method of display member {DEVICE FOR MOUNTING ELECTRIC COMPONENT AND METHOD FOR MANUFACTURING A DISPLAY MEMBER}

본 발명의 실시형태는, 가요성을 갖는 표시용 패널의 가장자리부에 가요성을 갖는 전자 부품을 실장하는 전자 부품의 실장 장치와, 표시용 부재의 제조 방법에 관한 것이다.An embodiment of the present invention relates to an electronic component mounting apparatus for mounting a flexible electronic component on an edge portion of a display panel having flexibility, and a method of manufacturing a display member.

텔레비전이나 퍼스널 컴퓨터, 스마트폰 등의 휴대 단말 등의 디스플레이로서 이용되는 플랫 패널 디스플레이 시장에 있어서는, 액정 디스플레이가 압도적인 보급률을 차지하고 있다. 그러한 상황하에 있어서, 최근, 백라이트를 필요로 하지 않고 박형화가 가능하고, 게다가 유연한 수지 필름 상에 형성함으로써 절곡이 가능하다고 하는 특징을 구비한 유기 EL 디스플레이가, 특히 휴대 단말용의 소형 디스플레이 시장을 중심으로 주목받고 있다. 이로부터, 절곡이 가능한, 즉 가요성을 갖는 유기 EL 디스플레이의 조립에 적합하게 이용할 수 있는 전자 부품의 실장 장치가 요구되고 있다.In the flat panel display market used as a display for portable terminals such as televisions, personal computers, and smart phones, liquid crystal displays occupy an overwhelming penetration rate. Under such circumstances, in recent years, organic EL displays with the feature that they do not require a backlight and can be thinned, and can be bent by forming on a flexible resin film, are particularly focused on the small display market for portable terminals. Is attracting attention. From this, there is a demand for an electronic component mounting apparatus that can be bent, that is, which can be suitably used for assembling an organic EL display having flexibility.

현재, 일반적인 전자 부품의 실장 장치로서는, 액정 디스플레이용의 아우터 리드 본딩 장치(이하, OLB 장치라고 함)가 알려져 있다(특허문헌 1 참조). 그러나, 유기 EL 디스플레이용으로서의 OLB 장치는 알려져 있지 않는다. 이 때문에, 유기 EL 디스플레이를 제조할 때에 실시되는 전자 부품의 실장 공정에는, 액정 디스플레이용의 OLB 장치가 대용(代用)되고 있다. Currently, as a general electronic component mounting device, an outer lead bonding device for a liquid crystal display (hereinafter referred to as an OLB device) is known (refer to Patent Document 1). However, no OLB device for use in organic EL displays is known. For this reason, an OLB device for a liquid crystal display is substituted for the mounting process of an electronic component performed at the time of manufacturing an organic EL display.

액정 디스플레이용의 OLB 장치는, 유리 기판에 의해 구성된 표시용 패널에 이방성 도전 테이프를 통해 전자 부품을 실장하는 것이다. 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 이용한 실장 공정에 있어서는, 먼저 표시용 패널의 전자 부품이 실장되는 가장자리부를 스테이지로부터 비어져 나오게 하여 유지하고, 이 표시용 패널의 가장자리부에 압착 헤드에 유지된 전자 부품을 근접시킨다. 이 상태에서, 표시용 패널의 상면의 얼라인먼트 마크와 전자 부품의 하면의 얼라인먼트 마크를, 표시용 패널의 하측으로부터 하나의 카메라로 동시에 촬상하여, 양자의 상대 위치를 인식한다. 이후, 표시 패널의 가장자리부를 하측으로부터 백업 툴로 유지하고, 인식한 상대 위치에 기초하여 표시용 패널에 전자 부품을 위치 맞춤시키며, 압착 헤드에 의해 이방성 도전 테이프를 통해 표시용 패널의 가장자리부에 전자 부품을 가열 가압하여 실장한다.An OLB device for a liquid crystal display mounts an electronic component on a display panel made of a glass substrate through an anisotropic conductive tape. In the mounting process using an OLB device for a liquid crystal display, first, the edge on which the electronic component of the display panel is mounted is held by protruding from the stage, and the electronic component held by the crimping head is placed at the edge of the display panel. Bring it closer. In this state, the alignment mark on the upper surface of the display panel and the alignment mark on the lower surface of the electronic component are simultaneously imaged with one camera from the lower side of the display panel to recognize the relative positions of both. Thereafter, the edge of the display panel is maintained with a backup tool from the lower side, the electronic component is positioned on the display panel based on the recognized relative position, and the electronic component is placed on the edge of the display panel through an anisotropic conductive tape by a pressing head. By heating and pressurizing.

일본 특허 공개 제2006-135082호 공보Japanese Patent Application Publication No. 2006-135082

전술한 액정 디스플레이용의 OLB 장치를, 그대로 유기 EL 디스플레이의 제조 공정에 적용한 경우, 전자 부품을 정밀도 좋게 실장할 수 없다. 즉, 본원 발명자는, 상기한 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 그대로 이용하여, 유기 EL 디스플레이의 구성 부품인, 가요성을 갖는 표시용 패널(이하, 유기 EL 패널이라고 함)에 전자 부품을 실장하여, 표시용 부재를 제조하는 것을 시도하였다. 구체적으로는, 스마트폰으로 널리 보급하고 있는, 크기가 5.0 인치이고 두께가 약 0.2 ㎜인 유기 EL 패널에, 전자 부품으로서 폭 치수가 38 ㎜인 COF(Chip on film)를 실장하였다. 그 결과, 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 그대로 적용한 것만으로는, 유기 EL 패널에 전자 부품을 정밀도 좋게 또한 고품질로 실장할 수 없는 것이 판명되었다. 구체적으로는, 스마트폰용의 유기 EL 패널에서는, ±3 ㎛ 정도의 실장 정밀도가 요구되지만, 이러한 실장 정밀도, 또한 실장 품질을 만족시킬 수 없는 것이 명백해졌다.When the aforementioned OLB device for a liquid crystal display is directly applied to the manufacturing process of an organic EL display, the electronic component cannot be mounted with high precision. That is, the inventor of the present application mounts an electronic component on a flexible display panel (hereinafter referred to as an organic EL panel), which is a constituent component of an organic EL display, using the above-described OLB device for a liquid crystal display as it is, Attempted to manufacture the display member. Specifically, a COF (Chip on Film) having a width of 38 mm as an electronic component was mounted on an organic EL panel having a size of 5.0 inches and a thickness of about 0.2 mm, which is widely used in smartphones. As a result, it turned out that only by applying the OLB device for liquid crystal displays as it is, it is not possible to mount an electronic component on an organic EL panel with high precision and high quality. Specifically, in the organic EL panel for a smartphone, a mounting accuracy of about ±3 µm is required, but it has become clear that such mounting accuracy and mounting quality cannot be satisfied.

본 발명은 전술한 종래의 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 유기 EL 디스플레이의 제조 공정에 적용한 경우에 발생하는 전자 부품의 실장 정밀도의 저하나 실장 품질의 저하라고 하는 과제에 대처하기 위해서 이루어진 것으로, 가요성을 갖는 표시용 패널에 가요성을 갖는 전자 부품을 열압착에 의해 실장하는 경우라도, 표시용 패널에 전자 부품을 정밀도 좋게 실장하는 것을 가능하게 한 전자 부품의 실장 장치와 표시용 부재의 제조 방법을 제공하는 것이다. The present invention has been made in order to cope with the problems of lowering the mounting precision or lowering the mounting quality of electronic components that occur when the above-described conventional OLB device for a liquid crystal display is applied to an organic EL display manufacturing process. An electronic component mounting device and a method for manufacturing a display member, which enable the electronic component to be mounted on a display panel with high precision, even when a flexible electronic component is mounted on a display panel with thermal compression. To provide.

실시형태의 전자 부품의 실장 장치는, 가요성을 갖는 표시용 패널의 가장자리부에 배열된 복수의 전극에, 가요성을 갖는 전자 부품에 있어서의, 상기 복수의 전극에 대응하여 배열된 복수의 단자를, 접합 부재를 통해 접속함으로써, 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 실장하는 전자 부품의 실장 장치로서, 상기 가장자리부가 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하의 범위에서 비어져 나오도록, 상기 표시용 패널이 배치되는, 수평 방향으로 이동 가능한 스테이지와, 상기 스테이지에 배치된 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부를 하측으로부터 지지하는 백업 유닛과, 상기 전자 부품을 상측으로부터 유지하고, 상기 백업 유닛에 의해 지지된 상기 가장자리부의 상면에 상기 전자 부품을 열압착하는, 수평 방향 및 수직 방향으로 이동 가능한 열압착 헤드와, 상기 스테이지로부터 비어져 나온 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부에 형성된 얼라인먼트 마크와 상기 전자 부품에 형성된 얼라인먼트 마크를 촬상하는 촬상 장치와, 상기 표시용 패널에 대해 상기 촬상 장치와는 반대측으로부터 광을 조사하는 광 조사부를 구비하고, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치 관계를 인식하는 위치 인식 장치와, 상기 위치 인식 장치에 의해 인식된 상기 위치 관계에 기초하여, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치를 맞추도록, 상기 스테이지와 상기 열압착 헤드의 상대 위치를 조정하고, 상기 열압착 헤드에 의해 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 열압착시키도록, 상기 스테이지 및 상기 열압착 헤드를 제어하는 제어 장치를 구비하며, 상기 표시용 패널의 상기 스테이지로부터 비어져 나온 부분의 굽힘 탄성률이 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하이다. The electronic component mounting apparatus of the embodiment includes a plurality of electrodes arranged at an edge portion of a flexible display panel, and a plurality of terminals arranged corresponding to the plurality of electrodes in a flexible electronic component By connecting through a bonding member, an electronic component mounting device for mounting the electronic component on the display panel, wherein the display panel is arranged so that the edge portion protrudes in a range of 3 mm or more and 15 mm or less. A stage movable in a horizontal direction, a backup unit supporting the edge portion of the display panel disposed on the stage from a lower side, and the edge portion holding the electronic component from the upper side and supported by the backup unit A thermocompression head movable in horizontal and vertical directions for thermocompressing the electronic component on an upper surface, an alignment mark formed on the edge of the display panel protruding from the stage, and an alignment mark formed on the electronic component. A position recognition device configured to provide an image pickup device and a light irradiation unit for irradiating light to the display panel from a side opposite to the image pickup device, and for recognizing a positional relationship between the display panel and the electronic component, and the position Based on the positional relationship recognized by the recognition device, the relative position of the stage and the thermocompression head is adjusted so as to align the position of the display panel and the electronic component, and the electronic component by the thermocompression head A control device for controlling the stage and the thermocompression head to thermocompress the display panel, and the bending elastic modulus of the portion protruding from the stage of the display panel is 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less. .

실시형태의 표시용 부재의 제조 방법은, 가요성을 갖는 표시용 패널을, 복수의 전극을 갖는 가장자리부의 비어져 나옴량이 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하의 범위가 되도록 스테이지에 배치하는 배치 공정으로서, 상기 표시용 패널의 상기 스테이지로부터 비어져 나온 부분의 굽힘 탄성률이 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하인, 배치 공정과, 상기 복수의 전극에 대응하여 설치된 복수의 단자를 갖고, 가요성을 갖는 전자 부품을 열압착 헤드에 유지시키는 유지 공정과, 상기 스테이지에 배치된 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부에 형성된 얼라인먼트 마크를, 촬상하는 측과는 반대측으로부터 상기 얼라인먼트 마크에 광을 조사한 상태에서 촬상하고, 상기 열압착 헤드에 유지된 상기 전자 부품에 형성된 얼라인먼트 마크를 촬상하며, 촬상한 양 얼라인먼트 마크의 화상에 기초하여, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치 관계를 인식하는 위치 인식 공정과, 상기 위치 인식 공정에서 인식한 상기 위치 관계에 기초하여 상기 스테이지와 상기 열압착 헤드의 상대 위치를 조정하고, 상기 열압착 헤드에 의해 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 열압착하는 열압착 공정을 포함하며, 상기 표시용 패널의 상기 복수의 전극에 상기 전자 부품의 상기 복수의 단자가 접속 부재를 통해 접속된 표시용 부재를 제조한다.The method for manufacturing a display member of the embodiment is an arrangement step of arranging a flexible display panel on a stage such that a protruding amount of an edge portion having a plurality of electrodes is in a range of 3 mm or more and 15 mm or less. An arrangement step in which the bending elastic modulus of the portion protruding from the stage of the display panel is 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less, and a thermocompression-bonding head having a plurality of terminals provided corresponding to the plurality of electrodes and having flexibility And the alignment mark formed on the edge portion of the display panel disposed on the stage in a state in which light is irradiated to the alignment mark from a side opposite to the image capturing side. A position recognition process of recognizing the positional relationship between the display panel and the electronic component, based on the image of the alignment mark formed on the held electronic component, and the image of both the captured alignment marks, and the position recognition process recognized in the position recognition process. And a thermocompression bonding step of adjusting the relative position of the stage and the thermocompression head based on the positional relationship, and thermocompression bonding the electronic component to the display panel by the thermocompression head. A display member is manufactured in which the plurality of terminals of the electronic component are connected to the plurality of electrodes through a connecting member.

본 발명의 실장 장치에 의하면, 유기 EL 패널과 같은 가요성을 갖는 표시용 패널에, 가요성을 갖는 전자 부품을 열압착에 의해 실장하는 경우라도, 전자 부품을 정밀도 좋게 또한 실장 품질을 유지하면서 실장할 수 있다. 또한, 본 발명의 표시용 부재의 제조 방법에 의하면, 표시용 패널에 전자 부품을 정밀도 좋게 또한 실장 품질을 유지하면서 실장한 표시용 부재를 제공할 수 있다. According to the mounting apparatus of the present invention, even when a flexible electronic component is mounted on a display panel having the same flexibility as an organic EL panel by thermocompression, the electronic component is mounted with high precision and while maintaining the mounting quality. can do. Further, according to the method for manufacturing a display member of the present invention, it is possible to provide a display member in which an electronic component is mounted on a display panel with high precision and while maintaining the mounting quality.

도 1은 실시형태에 있어서의 전자 부품의 실장 장치를 도시한 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 실장 장치의 측면도이다.
도 3은 실시형태의 실장 장치에 적용되는 유기 EL 패널의 단면도이다.
도 4는 도 1에 도시된 실장 장치의 가압착(假壓着) 장치를 도시한 사시도이다.
도 5는 도 4에 도시된 실장 장치의 가압착 장치의 스테이지를 확대하여 도시한 단면도이다.
도 6은 실시형태의 실장 장치에 적용되는 유기 EL 패널 및 전자 부품을 도시한 평면도이다.
도 7은 도 1에 도시된 실장 장치의 본압착(本壓着) 장치를 도시한 사시도이다.
도 8은 도 1에 도시된 실장 장치에 있어서의 유기 EL 패널의 유지체의 일례를 도시한 사시도이다.
도 9는 도 1에 도시된 실장 장치에 있어서의 유기 EL 패널의 유지체의 다른 예를 도시한 사시도이다.
도 10은 다른 실시형태에 있어서의 전자 부품의 실장 장치를 도시한 평면도이다.
도 11은 실시예 1에 의한 실장 정밀도의 변동을 도시한 그래프이다.
도 12는 비교예 1에 의한 실장 정밀도의 변동을 도시한 그래프이다.
1 is a plan view showing an electronic component mounting apparatus in an embodiment.
2 is a side view of the mounting device shown in FIG. 1.
3 is a cross-sectional view of an organic EL panel applied to the mounting device of the embodiment.
4 is a perspective view showing a pressing device of the mounting device shown in FIG. 1.
5 is an enlarged cross-sectional view illustrating a stage of the pressing device of the mounting device shown in FIG. 4.
6 is a plan view showing an organic EL panel and an electronic component applied to the mounting device of the embodiment.
7 is a perspective view showing a main compression device of the mounting device shown in FIG. 1.
FIG. 8 is a perspective view showing an example of a holder of an organic EL panel in the mounting device shown in FIG. 1.
Fig. 9 is a perspective view showing another example of the holding body of the organic EL panel in the mounting device shown in Fig. 1;
10 is a plan view showing an electronic component mounting apparatus according to another embodiment.
11 is a graph showing variations in mounting accuracy according to Example 1. FIG.
12 is a graph showing variations in mounting accuracy according to Comparative Example 1. FIG.

이하, 실시형태의 전자 부품의 실장 장치 및 표시용 부재의 제조 방법에 대해, 도면을 참조하여 설명한다. 도면은 모식적인 것이며, 두께와 평면 치수의 관계, 각부의 두께의 비율 등은 현실의 것과는 상이한 경우가 있다. 설명 중에 있어서의 상하의 방향을 나타내는 용어는, 특별히 명기가 없는 경우에는 후술하는 표시용 패널(유기 EL 패널)의 전자 부품의 실장면을 위로 한 경우의 상대적인 방향을 나타낸다.Hereinafter, a method of manufacturing an electronic component mounting device and a display member according to the embodiment will be described with reference to the drawings. The drawings are schematic, and the relationship between the thickness and the planar dimension, the ratio of the thickness of each part, etc. may be different from the actual one. The term indicating the vertical direction in the description refers to a relative direction when the mounting surface of an electronic component of a display panel (organic EL panel) to be described later is turned up, unless otherwise specified.

[실장 장치의 구성][Configuration of mounting device]

도 1은 실시형태의 전자 부품의 실장 장치의 구성을 도시한 평면도, 도 2는 도 1의 전자 부품의 실장 장치의 측면도이다. 도 1 및 도 2에 도시된 전자 부품의 실장 장치(1)는, 유기 EL 디스플레이와 같은 표시 장치의 구성 부재(표시용 부재)의 제조에 이용되는 것이다. 즉, 실장 장치(1)는, 캐리어 테이프(T)로부터 펀칭된 COF 등의 가요성을 갖는 전자 부품(W)을, 가요성을 갖는 표시용 패널로서의 유기 EL 패널(P)에, 접속 부재로서의 이방성 도전 테이프(F)를 통해 실장하여, 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)이 실장된 표시용 부재를 제조하기 위해서 이용되는 장치이다.1 is a plan view showing a configuration of an electronic component mounting device according to an embodiment, and FIG. 2 is a side view of the electronic component mounting device of FIG. 1. The electronic component mounting apparatus 1 shown in Figs. 1 and 2 is used for manufacturing a constituent member (display member) of a display device such as an organic EL display. That is, the mounting device 1 transfers the flexible electronic component W such as COF punched from the carrier tape T to the organic EL panel P as a flexible display panel as a connection member. It is a device used to manufacture a display member in which the electronic component W is mounted on the organic EL panel P by mounting through an anisotropic conductive tape F.

여기서, 유기 EL 패널(P)은, 가요성을 갖는 부재를 주로 하여 형성된다. 가요성을 갖는 부재로서는, 예컨대, 폴리이미드(PI), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리카보네이트(PC) 등이 이용된다. 이들 부재를 접착제에 의해 접합시켜 이용하는 것도 가능하다. 유기 EL 패널(P)은, 두께가 50 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하이고, 굽힘 탄성률이 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하가 되도록 구성된다. 이하, 이 두께와 굽힘 탄성률을, 유기 EL 패널(P)의 물리 특성이라고 칭한다. 본 실시형태에 있어서의 유기 EL 패널(P)은, 유기 EL 소자가 형성된 PI 필름을 지지재인 PET 필름에 접착제를 통해 접합시킨 구성을 갖는다. PI 필름의 두께(약 10 ㎛)에 대해 PET 필름의 두께(약 200 ㎛)가 10배 이상이기 때문에, 유기 EL 패널(P)의 굽힘 탄성률은 PET 필름의 굽힘 탄성률과 거의 동일하다고 생각된다.Here, the organic EL panel P is formed mainly with a member having flexibility. As the member having flexibility, for example, polyimide (PI), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), and the like are used. It is also possible to use these members by bonding them with an adhesive. The organic EL panel P is configured such that the thickness is 50 µm or more and 500 µm or less, and the flexural modulus is 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less. Hereinafter, this thickness and the flexural modulus are referred to as physical properties of the organic EL panel P. The organic EL panel P in this embodiment has a configuration in which the PI film on which the organic EL element is formed is bonded to a PET film as a support material through an adhesive. Since the thickness of the PET film (about 200 μm) is 10 times or more with respect to the thickness of the PI film (about 10 μm), it is considered that the bending elastic modulus of the organic EL panel P is substantially the same as that of the PET film.

한편, 전술한 물리 특성은, 유기 EL 패널(P)의 전체에 있어서 구비하고 있을 필요는 없고, 적어도 후술하는 스테이지(42)의 배치부(42a)(도 4 참조)로부터 비어져 나오는 부분이 구비하고 있으면 된다. 예컨대, 스테이지(42)의 배치부(42a)로부터 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부를 15 ㎜ 비어져 나오게 한다고 하면, 이 가장자리부로부터 15 ㎜의 범위가 전술한 물리 특성을 구비하고 있으면 된다. On the other hand, the above-described physical properties need not be provided in the entire organic EL panel P, and at least a portion protruding from the placement portion 42a (see Fig. 4) of the stage 42 to be described later is provided. You just need to do it. For example, assuming that the edge portion on which the electronic component W of the organic EL panel P is mounted is protruded by 15 mm from the placement portion 42a of the stage 42, the range of 15 mm from this edge portion is described above. It just needs to have one physical characteristic.

보다 상세하게는, 도 3에 도시된 바와 같이, 전자 부품(W)이 실장되는 유기 EL 패널(P)은, 표시부(Pa)와 가장자리부(Pb)를 갖고 있다. 표시부(Pa)는, 표시 소자로서의 유기 EL 소자(Pa1)가 형성된 부분이고, 화상을 표시시키는 부분이다. 가장자리부(Pb)는, 표시부(Pa)보다 외주측에 위치하는 부분이고, 전자 부품(W)의 전극과 접속되는 전극 등이 형성된 접속 부분(Pb1)이 형성된 부분이다. 이러한 유기 EL 패널(P)은, 전술한 바와 같이 표시부(Pa)와 가장자리부(Pb)를 포함하는 전체가 기재(基材)로서의 PI 필름(Ka)으로 구성되고, 이 PI 필름(Ka) 상에 표시부(Pa)가 되는 유기 EL 소자(Pa1)가 형성된다. 이 PI 필름(Ka)은, 두께가 50 ㎛ 미만, 구체적으로는 10 ㎛∼30 ㎛ 정도의 매우 얇은 부재이다.More specifically, as shown in FIG. 3, the organic EL panel P on which the electronic component W is mounted has a display portion Pa and an edge portion Pb. The display portion Pa is a portion in which the organic EL element Pa1 as a display element is formed, and is a portion for displaying an image. The edge portion Pb is a portion positioned on the outer circumferential side of the display portion Pa, and is a portion in which the connection portion Pb1 in which an electrode or the like to be connected to the electrode of the electronic component W is formed is formed. As described above, the organic EL panel P is composed of a PI film Ka as a substrate, including the display portion Pa and the edge portion Pb, and is formed on the PI film Ka. The organic EL element Pa1 serving as the display portion Pa is formed in the display portion Pa. This PI film Ka is a very thin member having a thickness of less than 50 µm, specifically about 10 µm to 30 µm.

그래서, 본 실시형태에 있어서는, PI 필름(Ka)과 동일한 크기이고 두께가 200 ㎛인 지지재로서의 PET 필름(Kb)을, PI 필름(Ka)의 이면[유기 EL 소자(Pa1)가 형성된 면과는 반대측의 면]에 접착제(Kc)에 의해 접합시키고 있다. 또한, 표시부(Pa)에는, 유기 EL 소자(Pa1)를 보호하기 위한 커버 필름(배리어 필름이라고도 함) 등의 광학 필름(Kd)이 접합되는 경우가 있다. 광학 필름(Kd)은, 표시부(Pa)과 대략 동일한 크기를 갖는다. 예컨대, 커버 필름으로서는, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 시클로올레핀 폴리머(COP) 등의 플라스틱 필름에 가스 배리어층을 코팅한 것을 이용할 수 있다. 커버 필름의 두께는, 수10 ㎛ 내지 200 ㎛ 정도이다.So, in this embodiment, the PET film (Kb) as a support material having the same size as the PI film (Ka) and a thickness of 200 µm is formed on the back surface of the PI film (Ka) (the surface on which the organic EL element (Pa1) is formed, and Is bonded to the opposite side] with an adhesive (Kc). Further, an optical film Kd such as a cover film (also referred to as a barrier film) for protecting the organic EL element Pa1 is bonded to the display portion Pa in some cases. The optical film Kd has substantially the same size as the display portion Pa. For example, as the cover film, a gas barrier layer coated on a plastic film such as polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), and cycloolefin polymer (COP) can be used. The thickness of the cover film is about several 10 µm to 200 µm.

이러한 구성을 갖는 유기 EL 패널(P)에 있어서, 가장자리부(Pb)만이 스테이지(42)의 배치부(42a)로부터 비어져 나오는 경우에는, 가장자리부(Pb)가 전술한 물리 특성을 갖고 있으면 된다. 즉, PI 필름(Ka)과 PET 필름(Kb)이 접합된 부분이 전술한 물리 특성이면 된다. 또한, 가장자리부(Pb) 및 표시부(Pa)의 일부가 배치부(42a)로부터 비어져 나오는 경우에는, 가장자리부(Pb) 및 표시부(Pa)의 부분이 전술한 물리 특성을 갖고 있으면 된다. 즉, 표시부(Pa)에 커버 필름이 없는 경우에는, PI 필름(Ka)과 PET 필름(Kb)이 접합된 부분이 전술한 물리 특성이면 된다. 한편, 표시부(Pa)에 광학 필름(Kd)이 있는 경우, 가장자리부인 PI 필름(Ka)과 PET 필름(Kb)이 접합된 부분의 물리 특성과, 표시부(Pa)인 PI 필름(Ka), PET 필름(Kb), 및 광학 필름(Kd)이 접합된 부분의 물리 특성이 모두 전술한 물리 특성이면 된다.In the organic EL panel P having such a configuration, when only the edge portion Pb protrudes from the arrangement portion 42a of the stage 42, it is sufficient that the edge portion Pb has the above-described physical properties. . That is, the portion where the PI film (Ka) and the PET film (Kb) are bonded may be the above-described physical properties. In addition, when a part of the edge part Pb and the display part Pa protrudes from the arranging part 42a, it is sufficient that the part of the edge part Pb and the display part Pa have the above-described physical characteristics. That is, when there is no cover film in the display portion Pa, the portion where the PI film Ka and the PET film Kb are bonded may have the above-described physical properties. On the other hand, when there is an optical film (Kd) in the display part (Pa), the physical properties of the part where the PI film (Ka) as the edge part and the PET film (Kb) are bonded, and the PI film (Ka) as the display part (Pa), PET The physical properties of the portion to which the film Kb and the optical film Kd are bonded may all be the above-described physical properties.

여기서, 굽힘 탄성률은, JIS K7171: 플라스틱-굽힘 특성을 구하는 방법(2016년 3월 22일 개정판)에서 규정된 시험 방법에 따라 측정한 값으로 한다. 구체적으로는, 굽힘 탄성률 시험은, 길이 80±2 ㎜, 폭 10.0±0.2 ㎜, 두께 4.0±0.2 ㎜의 치수를 갖는 시험편을, 지점 간 거리를 64 ㎜로 조정한 휨 측정 장치의 지지대에 지지시키고, 이 지점 사이의 중앙에 압자를 2 ㎜/min의 시험 속도로 하강시켜서, 시험편의 중앙을 휘게 함으로써 행한다. 시험 분위기는, JIS K7100에서 규정하는 표준 분위기(온도 23℃/습도 50%)로 한다.Here, the flexural modulus is a value measured according to the test method stipulated in JIS K7171: How to Calculate Plastic-Bending Characteristics (Revised on March 22, 2016). Specifically, in the flexural modulus test, a test piece having dimensions of 80±2 mm in length, 10.0±0.2 mm in width, and 4.0±0.2 mm in thickness was supported on a support of a bending measuring device in which the distance between points was adjusted to 64 mm. , It is carried out by lowering the indenter in the center between these points at a test speed of 2 mm/min, and bending the center of the test piece. The test atmosphere is a standard atmosphere (temperature 23°C/humidity 50%) specified in JIS K7100.

전자 부품(W)으로서는, 가요성을 갖는 COF 등의 전자 부품이 이용된다. COF는, PI(폴리이미드) 등에 의해 형성된 가요성을 갖는 필름형의 회로 기판 상에 반도체 소자가 실장되어 구성된 것이다. 후술하는 바와 같이, COF는 테이프형의 필름 부재로부터 펀칭됨으로써 개편화되어 형성된다.As the electronic component W, an electronic component such as a flexible COF is used. The COF is configured by mounting a semiconductor element on a flexible film-type circuit board formed of PI (polyimide) or the like. As described later, the COF is formed into pieces by being punched out of a tape-like film member.

표시용 부재는, 유기 EL 패널(P)과 같은 표시용 패널에 이방성 도전 테이프(F)와 같은 접합 부재를 통해 COF와 같은 전자 부품(W)을 실장하여 얻어지는 것이며, 유기 EL 디스플레이 등의 표시 장치의 구성 부품으로서 이용되는 부재이다. The display member is obtained by mounting an electronic component W such as COF through a bonding member such as an anisotropic conductive tape F on a display panel such as an organic EL panel P, and a display device such as an organic EL display. It is a member used as a constituent part of.

실시형태의 실장 장치(1)는, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)을 펀칭하는 펀칭 장치[10(10A, 10B)], 펀칭된 전자 부품(W)을 흡착 유지하여, 간헐 회전하면서 반송하는 간헐 회전 반송 장치(20), 간헐 회전 반송 장치(20)에 의한 반송 경로 도중의 간헐 정지 위치에 배치되고, 간헐 회전 반송 장치(20)에 의해 반송되는 전자 부품(W)에 접합 부재로서의 이방성 도전 테이프(F)를 접착하는 이방성 도전 테이프 접착 장치(접합 부재 접착 장치)(30), 이방성 도전 테이프(F)가 접착된 전자 부품(W)을 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 통해 가압착(假壓着)하는 가압착 장치(40), 가압착 장치(40)에 의해 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)을 본압착(本壓着)하는 본압착 장치(50), 펀칭 장치(10)와 간헐 회전 반송 장치(20) 사이에서 전자 부품(W)을 전달하는 제1 전달 장치(60), 간헐 회전 반송 장치(20)와 가압착 장치(40) 사이에서 전자 부품(W)을 전달하는 제2 전달 장치(70), 가압착 장치(40)에 대해 유기 EL 패널(P)을 반입하는 제1 반송부(80), 가압착 장치(40)로부터 본압착 장치(50)에 유기 EL 패널(P)을 반송하는 제2 반송부(90), 본압착 장치(50)로부터 유기 EL 패널(P)을 반출하는 제3 반송부(100)를 구비하고, 또한 펀칭 장치(10), 간헐 회전 반송 장치(20), 이방성 도전 테이프 접착 장치(30), 가압착 장치(40), 본압착 장치(50), 제1 전달 장치(60), 제2 전달 장치(70), 제1 반송부(80), 제2 반송부(90), 제3 반송부(100) 등의 각부의 동작을 제어하는 제어 장치(110)를 구비하여 구성된다.The mounting device 1 of the embodiment is a punching device [10 (10A, 10B)] for punching an electronic component W from a carrier tape T, while adsorbing and holding the punched electronic component W, while intermittently rotating. The intermittent rotation conveying device 20 to be conveyed, the intermittent rotation conveying device 20 arranged at an intermittent stop position in the middle of the conveying path, and as a bonding member to the electronic component W conveyed by the intermittent rotation conveying device 20 The anisotropic conductive tape bonding device (bonding member bonding device) 30 for bonding the anisotropic conductive tape F, and the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F is adhered to the organic EL panel P are attached to the anisotropic conductive tape ( A pressurizing device 40 that pressurizes through F), and the electronic component W pressurized to the organic EL panel P by the pressurizing device 40 is main-compressed (本壓着) The first delivery device 60, the intermittent rotation conveyance device 20, and the pressure bonding device for transferring the electronic component W between the main compression device 50, the punching device 10 and the intermittent rotation conveyance device 20 (40) The second transfer device 70 for transferring the electronic component W between, the first transfer unit 80 for carrying the organic EL panel P into the pressure bonding device 40, and a press bonding device ( The second conveyance part 90 which conveys the organic EL panel P from the main compression apparatus 50 from 40), The 3rd conveyance part 100 which carries out the organic EL panel P from the main compression apparatus 50 A punching device 10, an intermittent rotation conveying device 20, an anisotropic conductive tape bonding device 30, a pressing device 40, a main pressing device 50, a first transmission device 60, It is comprised with the control device 110 which controls the operation|movement of each part, such as the 2nd delivery device 70, the 1st conveyance part 80, the 2nd conveyance part 90, and the 3rd conveyance part 100.

(펀칭 장치(10))(Punching device 10)

펀칭 장치(10)는, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)으로서의 COF를 펀칭하기 위한 것으로, 제1 펀칭 장치(10A)와 제2 펀칭 장치(10B)를 구비한다. 제1 펀칭 장치(10A)와 제2 펀칭 장치(10B)는, 동일한 구성을 구비하고, 장치 정면에서 보아 좌우 반전된 상태로 배치된다. 제1 및 제2 펀칭 장치(10A, 10B)는, 한쪽씩 사용되고, 한쪽 펀칭 장치(10A, 10B)로 펀칭을 행하고 있는 동안에 다른쪽 펀칭 장치(10A, 10B)의 캐리어 테이프(T)의 교환 작업을 행할 수 있도록 되어 있다.The punching apparatus 10 is for punching the COF as the electronic component W from the carrier tape T, and includes a first punching apparatus 10A and a second punching apparatus 10B. The 1st punching apparatus 10A and the 2nd punching apparatus 10B have the same structure, and are arrange|positioned in a state inverted left and right as seen from the front of the apparatus. The first and second punching apparatuses 10A and 10B are used one by one, and the carrier tape T of the other punching apparatus 10A and 10B is exchanged while punching is performed with one punching apparatus 10A and 10B. It is supposed to be able to do.

제1 및 제2 펀칭 장치(10A, 10B)는, 각각, 펀칭 전의 캐리어 테이프(T)가 감겨진 공급 릴(11)과, 공급 릴(11)로부터 공급된 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)을 펀칭하는 금형 장치(12)와, 금형 장치(12)에 의해 전자 부품(W)이 펀칭된 캐리어 테이프(T)를 권취하는 권취 릴(13)을 구비한다. 공급 릴(11)로부터 풀어내어진 캐리어 테이프(T)는, 복수의 가이드 롤러(14) 및 스프로켓(15)에 의해 방향이 변환되고, 금형 장치(12)를 경유하여 권취 릴(13)로 보내진다. 한편, 스프로켓(15)은, 캐리어 테이프(T)의 반송 방향에 있어서 금형 장치(12) 바로 앞에 배치되고, 도시하지 않은 구동 모터에 의한 회전 구동에 의해 캐리어 테이프(T)를 반송하면서, 캐리어 테이프(T)를 금형 장치(12)에 대해 위치 결정하는 것이 가능하게 되어 있다.The first and second punching apparatuses 10A and 10B, respectively, are electronic components from the supply reel 11 on which the carrier tape T before punching is wound and the carrier tape T supplied from the supply reel 11 ( A mold apparatus 12 for punching W), and a take-up reel 13 for winding up the carrier tape T on which the electronic component W is punched by the mold apparatus 12 are provided. The carrier tape T unwound from the supply reel 11 is changed in direction by a plurality of guide rollers 14 and sprockets 15, and is sent to the take-up reel 13 via the mold device 12. Lose. On the other hand, the sprocket 15 is disposed immediately in front of the mold apparatus 12 in the conveying direction of the carrier tape T, and while conveying the carrier tape T by rotational drive by a drive motor (not shown), the carrier tape It is possible to position (T) with respect to the mold apparatus 12.

금형 장치(12)는, 상부 금형(12a)과, 상부 금형(12a)에 대향 배치된 하부 금형(12b)을 구비한다. 상부 금형(12a)은, 그 하면에 펀치(12c)를 구비한다. 한편, 하부 금형(12b)에는, 펀치(12c)가 들어가는, 상하로 관통하는 다이 구멍(12d)이 형성되어 있다. 이러한 금형 장치(12)에 대해 캐리어 테이프(T)를 공급 및 위치 결정한 상태에서, 상부 금형(12a)을 상하 방향으로 이동시킴으로써, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)이 펀칭된다. 한편, 펀치(12c)의 선단면에는 흡착 구멍(도시하지 않음)이 형성되어 있고, 펀칭한 전자 부품(W)을 흡착 유지할 수 있도록 구성되어 있다.The mold apparatus 12 includes an upper mold 12a and a lower mold 12b disposed opposite to the upper mold 12a. The upper mold 12a is provided with a punch 12c on its lower surface. On the other hand, in the lower mold 12b, a die hole 12d penetrating vertically into which the punch 12c is inserted is formed. The electronic component W is punched out of the carrier tape T by moving the upper mold 12a up and down in a state in which the carrier tape T is supplied and positioned to the mold apparatus 12. On the other hand, a suction hole (not shown) is formed in the front end surface of the punch 12c, and it is configured so that the punched electronic component W can be sucked and held.

(간헐 회전 반송 장치(20))(Intermittent rotation conveyance device (20))

간헐 회전 반송 장치(20)는, 동일 형상의 4개의 아암부(21)가 서로 직교하는 관계로 배치되고, 평면에서 보아 십자 형상을 갖는 인덱스 테이블(22)과, 인덱스 테이블(22)을 90° 간격으로 간헐적으로 회전 구동시키는 회전 구동부(23)를 구비한다. 인덱스 테이블(22)의 각 아암부(21)의 선단에는, 각각 전자 부품(W)을 흡착 유지하는 유지 헤드(24)가 설치되어 있다. 인덱스 테이블(22)의 90°마다의 4개의 정지 위치(A∼D)에는, 펀칭 장치(10)에 의해 펀칭된 전자 부품(W)을 수취하기 위한 수취 위치(A), 유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)에 대해 위치 결정(게이징)과 청소를 행하기 위한 게이징/청소 위치(B), 유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)에 대해 이방성 도전 테이프(F)를 접착하기 위한 접착 위치(C), 이방성 도전 테이프(F)가 접착된 전자 부품(W)을 가압착 장치(40)에 전달하기 위한 전달 위치(D)가 설정되어 있다. In the intermittent rotation conveyance device 20, the four arm portions 21 of the same shape are arranged in a relationship orthogonal to each other, and the index table 22 and the index table 22 having a cross shape in plan view are 90°. It includes a rotation driving unit 23 for intermittent rotational drive at intervals. At the tip ends of each arm portion 21 of the index table 22, a holding head 24 for attracting and holding the electronic component W, respectively, is provided. At four stop positions (A to D) every 90° of the index table 22, a receiving position (A) for receiving the electronic component (W) punched by the punching device (10), and a holding head (24). Positioning (gazing) and gauging/cleaning positions (B) for performing positioning (gazing) and cleaning of the electronic parts (W) held in the anisotropic conductive tape for the electronic parts (W) held in the holding head 24 ( An adhesion position C for bonding F) and a delivery position D for transferring the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F is adhered to the pressure bonding device 40 are set.

(이방성 도전 테이프 접착 장치(30))(Anisotropic conductive tape adhesive device 30)

이방성 도전 테이프 접착 장치(30)는, 간헐 회전 반송 장치(20)의 접착 위치(C)에 대응하여 설치되고, 이방성 도전 테이프(F)를 이형(離型) 테이프(R)에 접착 지지시킨 테이프형 부재(S)가 감겨진 공급 릴(31)과, 접착 위치(C)에 위치하게 된 유지 헤드(24)와 대향하는 위치에 배치된 접착 헤드(32)와, 이방성 도전 테이프(F)가 박리된 후의 이형 테이프(R)를 수용하는 회수부(33)와, 공급 릴(31)로부터 공급된 테이프형 부재(S)를, 접착 위치(C)를 통과하는 반송 경로를 더듬어 가며 회수부(33)로 안내하는 복수의 가이드부(34)와, 복수의 가이드부(34)에 의한 테이프형 부재(S)의 반송 경로의 접착 위치(C)보다 하류측에 배치되고, 테이프형 부재(S)의 반송 방향을 따라 왕복 이동함으로써, 테이프형 부재(S)를 소정 길이씩 간헐 반송하는 척 이송부(35)와, 테이프형 부재(S)의 반송 경로의 접착 위치(C)보다 상류측에 배치되고, 테이프형 부재(S) 중 이방성 도전 테이프(F)만을 절단하는 절단부(36)를 구비하고 있다. The anisotropic conductive tape bonding device 30 is provided corresponding to the bonding position C of the intermittent rotation conveying device 20, and the anisotropic conductive tape F is adhered and supported by a release tape R. The supply reel 31 on which the mold member S is wound, the adhesive head 32 arranged at a position opposite to the holding head 24 positioned at the adhesive position C, and the anisotropic conductive tape F The recovery part 33 accommodating the release tape R after peeling off and the tape-like member S supplied from the supply reel 31 follow the conveyance path passing through the bonding position C, and the recovery part ( 33), the plurality of guide portions 34 and the plurality of guide portions 34 are disposed downstream from the adhesive position C of the conveyance path of the tape-shaped member S, and the tape-shaped member S ) By reciprocating along the conveyance direction, the chuck conveying part 35 intermittently conveys the tape member S by a predetermined length, and the tape member S is arranged upstream from the adhesion position C of the conveyance path. It is provided with a cutting portion 36 for cutting only the anisotropic conductive tape F out of the tape member S.

접착 헤드(32)는, 접착 위치(C)에 위치 결정된 유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)의 단자부에, 소정 길이로 절단되어 접착 위치(C)에 반송 및 위치 결정된 이방성 도전 테이프(F)를 압박하기 위한 접착 툴(32a)과, 이 접착 툴(32a)을 승강 이동시키는 승강 구동부(32b)와, 접착 툴(32a)에 내장되고, 접착 툴(32a)을 가열하여 이방성 도전 테이프(F)를 전자 부품(W)의 단자부에 접착하는 히터(32c)를 갖는다. The adhesive head 32 is a terminal portion of the electronic component W held by the holding head 24 positioned at the adhesive position C, cut to a predetermined length, and conveyed and positioned at the adhesive position C. An anisotropic conduction by heating the bonding tool 32a, built in the bonding tool 32a for pressing (F), the elevating driving unit 32b for lifting and moving the bonding tool 32a, and the bonding tool 32a. It has a heater 32c which adheres the tape F to the terminal portion of the electronic component W.

(가압착 장치(40))(Pressure bonding device (40))

가압착 장치(40)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 이방성 도전 테이프 접착 장치(30)에 의해 이방성 도전 테이프(F)가 접착된 전자 부품(W)을 흡착 유지하여, 유기 EL 패널(P)에 가압착하기 위한 열압착 헤드로서의 가압착 헤드(41)와, 유기 EL 패널(P)을 유지 및 위치 결정하기 위한 스테이지(42)와, 스테이지(42)에 유지된 유기 EL 패널(P)의 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부를 포함하고, 스테이지로부터 비어져 나온 부분을, 하측으로부터 지지하는 백업 유닛(43)과, 스테이지(42)에 유지된 유기 EL 패널(P)과 가압착 헤드(41)에 유지된 전자 부품(W)의 상대 위치를 인식하기 위한 위치 인식 장치(44)를 구비한다. The pressure bonding device 40 adsorbs and holds the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F is adhered by the anisotropic conductive tape bonding device 30, as shown in FIG. 4, so that the organic EL panel P ), a pressure bonding head 41 as a thermocompression head for press bonding, a stage 42 for holding and positioning the organic EL panel P, and the organic EL panel P held on the stage 42. A backup unit 43 that includes an edge portion on which the electronic component W is mounted and supports a portion protruding from the stage from the lower side, and an organic EL panel P held on the stage 42 and a pressure bonding head ( A position recognition device 44 for recognizing the relative position of the electronic component W held in 41) is provided.

가압착 헤드(41)는, 전자 부품(W)을 그 상면측으로부터 흡착 유지하는 가압 툴(41a)과, 가압 툴(41a)을 Y, Z, θ 방향으로 이동시키는 툴 구동부(41b)와, 가압 툴(41a)에 내장되어 가압 툴(41a)을 가열하는 히터(41c)를 갖는다. 스테이지(42)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치부(42a)와, 배치부(42a)를 X, Y, Z, θ 방향으로 이동시키는 스테이지 구동부(42b)를 갖는다. The pressurizing head 41 includes a pressurizing tool 41a for adsorbing and holding the electronic component W from its upper surface side, a tool driving unit 41b for moving the pressurizing tool 41a in the Y, Z, θ directions, It has a heater 41c that is built into the pressurization tool 41a and heats the pressurization tool 41a. As shown in FIG. 4, the stage 42 includes a mounting portion 42a for arranging the organic EL panel P, and a stage driving unit for moving the arranging portion 42a in the X, Y, Z, and θ directions ( 42b).

배치부(42a)에 있어서의 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치면(42c)에는, 유기 EL 패널(P)을 흡착 유지하기 위한 흡착 구멍(42d)이 복수 개 형성되어 있다. 이 흡착 구멍(42d)은, 배치면(42c)에 유기 EL 패널(P)이 배치되었을 때, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 화상의 표시 영역에 대향하는 위치에 주로 배치되어 있다. 이 예에 있어서는, 배치면(42c)의 유기 EL 패널(P)이 배치되는 영역(도 4에 있어서 이점 쇄선으로 둘러싸인 영역) 내에 흡착 구멍(42d)을 균등한 간격으로 행렬 형상으로 배치한 예로 설명하지만, 반드시 배치면(42c)에 배치되어 있는 유기 EL 패널(P)을 그 전역에서 흡착 유지하지 않으면 안 되는 것은 아니다.A plurality of adsorption holes 42d for adsorbing and holding the organic EL panel P are formed on the placement surface 42c in the placement portion 42a on which the organic EL panel P is disposed. When the organic EL panel P is disposed on the placement surface 42c, this suction hole 42d is mainly disposed at a position opposite to the display area of an image in the organic EL panel P. In this example, an example in which the adsorption holes 42d are arranged in a matrix shape at equal intervals in the area where the organic EL panel P of the placement surface 42c is disposed (the area surrounded by the double-dashed line in Fig. 4) is described. However, it is not always necessary to hold the organic EL panel P arranged on the arrangement surface 42c by adsorption over the entire area.

예컨대, 도 4에 있어서, 배치면(42c)에 있어서의 가압착 헤드(41)가 위치하는 측으로부터 유기 EL 패널(P)의 길이의 절반, 혹은 1/3 정도의 영역을 흡착 유지하도록 해도 좋다. 흡착 구멍(42d)은, 유기 EL 패널(P)의 표시 영역을 흡착하게 되기 때문에, 흡착에 의해 표시 영역에 흡착 흔적이 남지 않도록, 구멍 직경을 작게 설정하는 것이 바람직하다. 구멍 직경은, 유기 EL 패널(P)의 고정에 필요한 흡인력과 이 흡인에 의한 유기 EL 패널(P)의 변형량의 관계를 실험 등에 의해 구하고, 흡착 흔적이 남지 않도록 그 크기를 설정하도록 하면 된다. 한편, 배치면(42c)을 다공질 부재, 예컨대 다공질 세라믹스를 사용한 진공 척에 의해 구성해도 좋다. For example, in Fig. 4, an area of about half or 1/3 of the length of the organic EL panel P may be adsorbed and held from the side where the pressing head 41 is located on the mounting surface 42c. . Since the adsorption hole 42d adsorbs the display area of the organic EL panel P, it is preferable to set the pore diameter small so that adsorption marks do not remain in the display area due to adsorption. As for the pore diameter, the relationship between the suction force required for fixing the organic EL panel P and the amount of deformation of the organic EL panel P by this suction is obtained by experiment or the like, and the size is set so that no adsorption mark remains. On the other hand, the placement surface 42c may be constituted by a porous member, such as a vacuum chuck using porous ceramics.

또한, 배치부(42a)에 대해서는, 가압착 헤드(41)가 위치하는 측의 측변부에, 유기 EL 패널(P)을 흡착하는 흡인 구멍으로부터 측변 근방에 걸쳐 연장되는 흡착홈을 형성해도 좋다. 구체적으로는, 도 5에 도시된 바와 같이, 배치부(42a)의 측변부를, 배치부(42a)와는 다른 부재의 흡착 블록(42f)으로 구성한다. 이 흡착 블록(42f)은, X 방향으로 장척(長尺)인 부재이고, 상면이 배치부(42a)의 배치면(42c)과 동일 높이가 되도록, 배치부(42a)에 고정된다. 흡착 블록(42f)의 상면에는, 유기 EL 패널(P)을 흡착하는 복수의 흡인 구멍(42g)이 X 방향을 따라 배열되어 있다. 또한, 흡착 블록(42f)의 상면에는, 각 흡착 구멍(42g)으로부터 흡착 블록(42f)의 단부[가압착 헤드(41)가 위치하는 측의 단부]를 향해 연장되는 흡착홈(42h)이 형성되어 있다. 흡착홈(42h)의 선단은, 흡착 블록(42f)의 단부에 근접하는 위치까지 연장되어 있다. 흡착홈(42h)의 선단과 흡착 블록(42f)의 단부와의 거리는, 바람직하게는 1 ㎜∼3 ㎜이다. 흡착 블록(42f)의 단부 하측은, 단부측으로부터 배치부(42a)측을 향해 경사 하강한 경사부(42i)로 되어 있다. 단부 하측을 경사부(42i)로 함으로써, 백업 유닛(43)과의 간섭을 발생하기 어렵게 할 수 있다.In addition, with respect to the placement portion 42a, a suction groove extending from the suction hole for absorbing the organic EL panel P may be formed in the side of the side where the pressing head 41 is positioned, extending from the suction hole in the vicinity of the side. Specifically, as shown in Fig. 5, the side edge portion of the mounting portion 42a is constituted by a suction block 42f of a member different from that of the mounting portion 42a. This adsorption block 42f is a member that is elongated in the X direction, and is fixed to the placement portion 42a so that the upper surface thereof is at the same height as the placement surface 42c of the placement portion 42a. On the upper surface of the adsorption block 42f, a plurality of suction holes 42g for adsorbing the organic EL panel P are arranged along the X direction. Further, on the upper surface of the adsorption block 42f, an adsorption groove 42h extending from each adsorption hole 42g toward the end of the adsorption block 42f (the end on the side where the pressurization head 41 is located) is formed. Has been. The tip of the suction groove 42h extends to a position close to the end of the suction block 42f. The distance between the tip of the suction groove 42h and the end of the suction block 42f is preferably 1 mm to 3 mm. The lower end of the adsorption block 42f is an inclined portion 42i that obliquely descends from the end side toward the mounting portion 42a side. By making the lower end of the inclined portion 42i difficult to cause interference with the backup unit 43.

스테이지 구동부(42b)는, 배치부(42a)를 수평 방향의 일방향인 X축 방향으로 이동시키는 X축 방향 구동부, X축 방향에 직교하는 수평 방향인 Y축 방향으로 이동시키는 Y축 방향 구동부, 수평 방향에 직교하는 Z축 방향으로 이동시키는 Z축 방향 구동부, 및 수평면 내에서 회전 이동시키는 θ 구동부를, 하측으로부터 이 순서로 적층하여 구성된 구동부이다. 한편, 스테이지 구동부(42b)는, X축 방향 및 Y축 방향의 위치 결정 정밀도의 향상을 도모하기 위해서, X축 방향 구동부 및 Y축 방향 구동부에 리니어 인코더를 부수하여 설치하고 있다.The stage driving unit 42b includes an X-axis direction driving unit that moves the placement unit 42a in the X-axis direction in one horizontal direction, a Y-axis direction driving unit that moves in the Y-axis direction orthogonal to the X-axis direction, and horizontal A driving unit configured by stacking a Z-axis direction driving unit that moves in the Z-axis direction orthogonal to the direction, and a θ driving unit that rotates within a horizontal plane in this order from the lower side. On the other hand, in order to improve the positioning accuracy in the X-axis direction and the Y-axis direction, the stage drive part 42b is provided with a linear encoder in the X-axis direction drive part and the Y-axis direction drive part.

백업 유닛(43)은, 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착하는 가압착 위치에 설치된다. 그리고, 백업 유닛(43)은, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)(도 6)이 형성되는 가장자리부를 하측으로부터 지지하는, X축 방향으로 장척인 백업 툴(43a)과, 이 백업 툴(43a)을 지지하고 대략 직육면체 형상으로 형성된 지지대(43b)를 갖는다. 백업 툴(43a)은 스테인리스강으로 구성되고, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 지지하는 상단면(지지면)은 평탄하게 형성된다. 한편, 이 실시형태에서는, 백업 유닛(43)을 가압착 위치에 고정적으로 배치하는 것으로 하지만, 필요에 따라, X축 방향, 혹은 X축 방향 및 Y축 방향으로 이동 가능하게 설치해도 좋다. 이 경우에는, 지지대(43b)를 X축 이동 장치, 혹은 XY축 이동 장치에 탑재하도록 하면 된다.The backup unit 43 is installed at a pressure bonding position for pressing the electronic component W to the organic EL panel P. Further, the backup unit 43 includes a backup tool 43a that is long in the X-axis direction and supports the edge portion on which the electrode row ER (FIG. 6) of the organic EL panel P is formed, from the lower side, and the backup tool 43a. It supports the tool 43a and has a support 43b formed in a substantially rectangular parallelepiped shape. The backup tool 43a is made of stainless steel, and the upper end surface (support surface) supporting the edge portion of the organic EL panel P is formed flat. On the other hand, in this embodiment, although it is assumed that the backup unit 43 is fixedly disposed in the pressing position, if necessary, it may be provided so as to be movable in the X-axis direction or in the X-axis direction and Y-axis direction. In this case, the support base 43b may be mounted on an X-axis moving device or an XY-axis moving device.

다음으로, 위치 인식 장치(44)에 대해, 도 4 및 도 6을 이용하여 설명한다. 도 6은 위치 인식 장치(44)에 의해 위치 인식되는 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 개략 구성을 도시한 평면도이다. 도면 중, X축 방향을 좌우 방향으로서 설명한다. 유기 EL 패널(P)은, 그 가장자리부에 형성된 전극열(ER)과, 전극열(ER)의 좌우 양측에 각각 형성된 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)를 갖는다. 전자 부품(W)은, 전극열(ER)과 대응하도록 배열된 단자열(TR)과, 단자열(TR)의 좌우 양측에 각각 형성된 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM)를 갖는다. 위치 인식 장치(44)는, 유기 EL 패널(P)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)와, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 상대 위치 관계를 인식한다. Next, the location recognition device 44 will be described with reference to FIGS. 4 and 6. 6 is a plan view showing a schematic configuration of an organic EL panel P and an electronic component W that are position-recognized by the position recognition device 44. In the drawing, the X-axis direction is described as a left-right direction. The organic EL panel P has an electrode row ER formed at its edge portion and a pair of alignment marks PM formed on both left and right sides of the electrode row ER, respectively. The electronic component W has a terminal row TR arranged to correspond to the electrode row ER, and a pair of alignment marks WM respectively formed on the left and right sides of the terminal row TR. The position recognition device 44 recognizes the relative positional relationship between the pair of alignment marks PM of the organic EL panel P and the alignment marks WM of the electronic component W.

이러한 위치 인식 장치(44)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 촬상 장치(44a)와 제2 촬상 장치(44b)와, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)에 의해 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리부(44c)와, 광 조사부(44d)를 구비한다. 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)는, 백업 유닛(43)의 지지대(43b) 상에, 백업 툴(43a)의 단부 근방에 상향이며, 개별적으로 X축 구동부(44e)를 통해 부착되어 있다. 제1 촬상 장치(44a)는, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 형성된 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM) 중 좌측의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)에 형성된 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM) 중 좌측의 얼라인먼트 마크(WM)를, 하측으로부터 촬상 영역(44a1)(도 6 중에 파선으로 나타냄) 내에 동시에 받아들여 촬상한다. 제2 촬상 장치(44b)는, 유기 EL 패널(P)의 우측의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 우측의 얼라인먼트 마크(WM)를, 하측으로부터 촬상 영역(44b1)(도 6 중에 파선으로 나타냄) 내에 동시에 받아들여 촬상한다.Such a position recognition device 44, as shown in FIG. 4, is imaged by the first imaging device 44a, the second imaging device 44b, and the first and second imaging devices 44a, 44b. An image processing unit 44c that processes an image and a light irradiation unit 44d are provided. The first and second imaging devices 44a and 44b are mounted on the support base 43b of the backup unit 43, upwardly in the vicinity of the end portion of the backup tool 43a, and individually attached through the X-axis drive unit 44e. Has been. The first imaging device 44a includes a pair of alignment marks PM on the left side of the pair of alignment marks PM formed on the edge of the organic EL panel P and a pair of alignment marks formed on the electronic component W ( Among WM), the left alignment mark WM is simultaneously received in the imaging area 44a1 (indicated by a broken line in Fig. 6) from the lower side and imaged. The second imaging device 44b displays the alignment mark PM on the right side of the organic EL panel P and the alignment mark WM on the right side of the electronic component W, from the lower side to the imaging area 44b1 (in FIG. 6 ). (Indicated by a broken line) at the same time to capture an image.

제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)는, 각각 얼라인먼트 마크(PM, WM)를 정지 화상으로 촬상하는 것이며, CCD(Charge Coupled Device) 카메라 등의 카메라(44f)와, 텔리센트릭 렌즈 등의 광학 유닛을 구비한 경통부(44g)를 구비한다. 한편, X축 구동부(44e)는, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)를 서로의 간격이 확대 또는 축소되도록 동기 이동 가능하게 하는 것이며, 좌우의 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 간격에 맞춰, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)의 배치 간격을 변경할 수 있도록 되어 있다. The first and second imaging devices 44a and 44b each capture an alignment mark (PM, WM) as a still image, and a camera 44f such as a charge coupled device (CCD) camera, a telecentric lens, etc. It is provided with a barrel part (44g) provided with the optical unit of. On the other hand, the X-axis driving unit 44e enables the first and second imaging devices 44a and 44b to be synchronously moved so that the distance between each other is enlarged or reduced, and the distance between the left and right alignment marks PM and WM Together, the arrangement intervals of the first and second imaging devices 44a and 44b can be changed.

화상 처리부(44c)는, 카메라(44f)의 촬상 신호를 받아, 촬상 영역(44a1, 44b1) 내에 받아들여져 얻어진 촬상 화상 중에서 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 화상을 인식하고, 각 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 위치에 관한 데이터(이하, 「위치 데이터」라고 함)를 검출하는 것이다. 화상 처리부(44c)는, 공지의 패턴 매칭 처리에 의해, 촬상 화상 중에 있어서 미리 설정된 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)의 기준 패턴과 임계값 이상의 매칭률이 얻어지는 화상을 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)로서 인식한다. 또한, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 기준 패턴과 임계값 이상의 매칭률이 얻어지는 화상을 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)로서 인식한다. 그리고, 인식한 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 위치 데이터를 카메라 좌표계에 기초하여 구한다. 이에 의해, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 관계를 인식할 수 있다. 구해진 위치 데이터는, 제어 장치(110)에 송신된다. The image processing unit 44c receives the image pickup signal from the camera 44f, is received in the image pickup regions 44a1 and 44b1, and the alignment mark PM of the organic EL panel P and the electronic component W are The image of the alignment mark WM is recognized, and data (hereinafter referred to as "position data") related to the position of each alignment mark (PM, WM) is detected. The image processing unit 44c converts an image in which a matching rate equal to or higher than the threshold value is obtained with the reference pattern of the alignment mark PM of the organic EL panel P set in advance in the captured image by a known pattern matching process. It is recognized as the alignment mark (PM) of P). Further, an image in which the reference pattern of the alignment mark WM of the electronic component W and a matching rate equal to or higher than the threshold value are obtained is recognized as the alignment mark WM of the electronic component W. Then, position data of the recognized alignment marks PM and WM are obtained based on the camera coordinate system. Thereby, the positional relationship between the organic EL panel P and the electronic component W can be recognized. The obtained positional data is transmitted to the control device 110.

광 조사부(44d)는, 스테이지(42)에 배치된 유기 EL 패널(P)보다 상방의 위치에, 바로 아래를 향해 광을 조사할 수 있도록 배치된다. 본 실시형태에 있어서는, 광 조사부(44d)는, 유기 EL 패널(P)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)의 배치 간격과 동일한 간격으로, 한 쌍 설치된다. 광 조사부(44d)는, 도시하지 않은 지지구를 이용하여 가압착 헤드(41)와 일체적으로 설치되어 있으나, 이것에 한정되는 것은 아니며, 실장 장치(1)의 프레임이나 가대(架臺)에 지지구를 통해 지지하도록 해도 좋다. 요컨대, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)에 의해 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상할 때에, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)와는 반대측으로부터 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)에 대해 광을 조사할 수 있도록 설치되어 있으면 된다. 또한, 광 조사부(44d)는, 장척 형상의 것을 하나 배치하도록 해도 좋고, 그 수는 한정되는 것이 아니다.The light irradiation unit 44d is disposed at a position above the organic EL panel P disposed on the stage 42 so as to be able to irradiate light directly below it. In this embodiment, a pair of light irradiation parts 44d is provided at an interval equal to the arrangement interval of the pair of alignment marks PM of the organic EL panel P. The light irradiation part 44d is integrally installed with the pressure bonding head 41 using a support tool (not shown), but is not limited thereto, and the frame or mount of the mounting device 1 It may be supported through a support tool. In short, when imaging the alignment mark PM of the organic EL panel P by the first and second imaging devices 44a, 44b, the organic EL from the opposite side to the first and second imaging devices 44a, 44b It should just be provided so that light can be irradiated to the alignment mark PM of the panel P. In addition, as for the light irradiation part 44d, you may arrange|position one elongate shape, and the number is not limited.

(본압착 장치(50))(Main crimping device (50))

본압착 장치(50)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 이방성 도전 테이프(F)를 통해 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)을 유지 및 위치 결정하기 위한 스테이지(51)와, 유기 EL 패널(P)에 대해 전자 부품(W)을 본압착하기 위한 본압착 헤드(52)와, 이 본압착 헤드(52)의 하측에 본압착 헤드(52)에 대향하여 배치되고, 본압착 시에 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)이 가압착된 가장자리부를 하방으로부터 지지하는 백업부(53)와, 유기 EL 패널(P)의 위치를 인식하기 위한 위치 인식 유닛(54)을 구비하다. The main pressing device 50 is a stage 51 for holding and positioning the organic EL panel P to which the electronic component W is pressed through an anisotropic conductive tape F, as shown in FIG. 7. Wow, a main crimping head 52 for main-compressing the electronic component W to the organic EL panel P, and disposed under the main crimping head 52 to face the main crimping head 52, A backup portion 53 supporting the edge portion of the organic EL panel P to which the electronic component W is pressed from below during the main compression bonding, and a position recognition unit for recognizing the position of the organic EL panel P Equipped with 54.

스테이지(51)는, 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치부(51a)와, 배치부(51a)를 X, Y, Z, θ 방향으로 이동시키는 스테이지 구동부(51b)를 갖는다. 배치부(51a)는, 평면에서 보아 직사각형 형상을 이루는 부재이고, 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치면(상면)(51c)에는, 유기 EL 패널(P)을 흡착 유지하기 위한 흡착 구멍(51d)이 복수 개 형성되어 있다. 흡착 구멍(51d)은, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)의 흡착 구멍(42d)과 마찬가지로, 유기 EL 패널(P)의 흡착 흔적이 남지 않도록, 구멍 직경을 작게 설정하는 것이 바람직하다. 스테이지 구동부(51b)는, 가압착 장치(40)의 스테이지 구동부(42b)와 마찬가지로, X축 방향 구동부, Y축 방향 구동부, Z축 방향 구동부, 및 θ 구동부를, 하측으로부터 이 순서로 적층하여 구성된 구동부이다.The stage 51 includes an arrangement portion 51a on which the organic EL panel P is arranged, and a stage drive portion 51b that moves the arrangement portion 51a in the X, Y, Z, and θ directions. The placement portion 51a is a member having a rectangular shape in plan view, and in the placement surface (upper surface) 51c on which the organic EL panel P is disposed, an adsorption hole for adsorbing and holding the organic EL panel P ( A plurality of 51d) are formed. The suction hole 51d is preferably set to have a small hole diameter so that the suction mark of the organic EL panel P does not remain, similar to the suction hole 42d of the stage 42 of the press bonding device 40. The stage driving unit 51b, like the stage driving unit 42b of the pressing device 40, is configured by stacking an X-axis direction driving unit, a Y-axis direction driving unit, a Z-axis direction driving unit, and the θ driving unit in this order from the lower side. It is a driving part.

본압착 헤드(52)는, 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)을 그 상면측으로부터 압박하는 가압 툴(52a)과, 가압 툴(52a)을 Z축 방향으로 이동시키는 툴 구동부(52b)와, 가압 툴(52a)에 내장되고, 가압 툴(52a)을 가열하는 히터(52c)를 갖는다. 백업부(53)는, 본압착 헤드(52)의 가압 툴(52a) 바로 아래의 위치에 설치된, 가압 툴(52a)과 동등한 길이로 형성된 백업 툴(53a)과, 백업 툴(53a)을 지지하는 지지 부재(53b)를 갖는다. 백업 툴(53a)의 상면은, 배치부(51a)에 배치된 유기 EL 패널(P)의 전자 부품(W)이 가압착된 가장자리부의 하면을 지지하는 평탄면으로서 형성되어 있다.The main compression head 52 includes a pressing tool 52a that presses the electronic component W pressurized to the organic EL panel P from its upper surface side, and a tool that moves the pressing tool 52a in the Z-axis direction. It has a drive part 52b and a heater 52c built in the pressurizing tool 52a and heating the pressurizing tool 52a. The backup part 53 supports the backup tool 53a and the backup tool 53a provided in a position immediately below the pressing tool 52a of the main pressing head 52 and formed to have the same length as the pressing tool 52a. It has a supporting member 53b to be formed. The upper surface of the backup tool 53a is formed as a flat surface supporting the lower surface of the edge portion to which the electronic component W of the organic EL panel P arranged on the placement portion 51a is pressed.

위치 인식 유닛(54)은, 제1 카메라(54a)와, 제2 카메라(54b)와, 화상 처리부(도시하지 않음)를 갖는다. 제1 및 제2 카메라(54a, 54b)는, 스테이지(51)에 의한 유기 EL 패널(P)의 이동 범위 내의 상방에, 소정의 간격을 두고 하향으로 부착되어 있고, 유기 EL 패널(P)의 전자 부품(W)이 가압착된 가장자리부에 있어서의 양단부 근방에 형성된 얼라인먼트 마크를 촬상한다. 전술한 제1 및 제2 카메라(54a, 54b)의 간격(소정의 간격)은, 이 얼라인먼트 마크끼리의 간격이다. 한편, 이 얼라인먼트 마크는, 가압착 장치(40)에 있어서 상대 위치 데이터의 인식에 이용한 얼라인먼트 마크(PM)와는 다른 얼라인먼트 마크이다. 도시하지 않은 화상 처리부는, 제1 및 제2 카메라(54a, 54b)에 의해 촬상된 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크의 촬상 화상에 기초하여, 공지의 패턴 매칭 처리에 의해 얼라인먼트 마크를 인식하고, 얼라인먼트 마크의 위치를 검출한다.The position recognition unit 54 has a first camera 54a, a second camera 54b, and an image processing unit (not shown). The first and second cameras 54a and 54b are attached downwardly at predetermined intervals above the moving range of the organic EL panel P by the stage 51, and The alignment marks formed in the vicinity of both ends in the edge portion to which the electronic component W is pressed are captured. The interval (predetermined interval) between the first and second cameras 54a and 54b described above is the interval between the alignment marks. On the other hand, this alignment mark is an alignment mark different from the alignment mark PM used for recognition of the relative position data in the pressure bonding device 40. An image processing unit (not shown) recognizes the alignment mark by a known pattern matching process based on the captured image of the alignment mark of the organic EL panel P captured by the first and second cameras 54a and 54b. , The position of the alignment mark is detected.

(제1 전달 장치(60))(First delivery device 60)

제1 전달 장치(60)는, 캐리어 테이프(T)로부터 펀칭된 전자 부품(W)을 하측으로부터 흡착 유지하는 받침부(61)와, 받침부(61)를 펀칭 장치(10A, 10B)의 금형 장치(12) 바로 아래의 위치와 수취 위치(A)에 위치하게 된 간헐 회전 반송 장치(20)의 유지 헤드(24) 바로 아래의 위치로 이동시키기 위한 X, Y, Z, θ 구동부(62)를 구비한다. The first delivery device 60 includes a support part 61 for adsorbing and holding the electronic component W punched from the carrier tape T from the lower side, and the support part 61 in a mold of the punching devices 10A, 10B. X, Y, Z, θ drive unit 62 for moving to a position immediately below the device 12 and a position immediately below the holding head 24 of the intermittent rotation conveying device 20 located at the receiving position A It is equipped with.

(제2 전달 장치(70))(Second delivery device 70)

제2 전달 장치(70)는, 전자 부품(W)을 하측으로부터 흡착 유지하는 받침부(71)와, 받침부(71)를 전달 위치(D)에 위치하게 된 간헐 회전 반송 장치(20)의 유지 헤드(24) 바로 아래의 위치와 가압착 장치(40)의 가압착 헤드(41) 바로 아래의 위치로 이동시키기 위한 X, Y, Z, θ 구동부(72)를 구비한다.The second transmission device 70 includes a receiving portion 71 for adsorbing and holding the electronic component W from the lower side, and an intermittent rotational conveying device 20 in which the receiving portion 71 is positioned at the delivery position D. It includes an X, Y, Z, θ drive 72 for moving to a position immediately below the holding head 24 and a position immediately below the pressing head 41 of the pressing device 40.

(제1 반송부(80))(1st conveyance unit 80)

제1 반송부(80)는, 도시하지 않은 공급부로부터 공급되는 유기 EL 패널(P)을 상측으로부터 흡착 유지하는 유지체(81)와, 이 유지체(81)를 도시하지 않은 공급부에 의한 유기 EL 패널(P)의 공급 위치와 가압착 장치(40)의 스테이지(42)에 대한 유기 EL 패널(P)의 반입 위치로 이동시키기 위한 XZ 구동부(82)를 구비한다. The first transfer unit 80 includes a holding member 81 that adsorbs and holds the organic EL panel P supplied from a supply unit (not shown) from the upper side, and an organic EL by a supply unit not shown. An XZ drive unit 82 for moving the panel P to the supply position and the carrying position of the organic EL panel P to the stage 42 of the pressing device 40 is provided.

유지체(81)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)이 실장되는 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 흡착 유지하는 전극면 흡착 블록(81a)과, 이 전극면 흡착 블록(81a)에 인접하여 배치되고, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전극면 흡착 블록(81a)에 의해 흡착되는 부분 이외의 부분을 흡착 유지하는 표시 영역 흡착부(81b)를 갖고 있다. 전극면 흡착 블록(81a)은, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부 전역을 흡착 유지 가능한 길이로 형성되고, 상기 가장자리부를 따르는 방향으로 긴 직육면체 형상의 부재이다. 이 전극면 흡착 블록(81a)의 흡착면(81c)은 평탄하게 형성되고, 복수의 흡착 구멍(81d)이 형성되어 있다. 그리고, 이 흡착 구멍(81d)은, 가압착 장치(40)의 배치부(42a)와 마찬가지로, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 변형이 발생하지 않을 정도의 크기로 구멍 직경이 설정되어 있고, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 평탄하게 하여 흡착 유지할 수 있도록 되어 있다. 표시 영역 흡착부(81b)는, 흡착면이 평탄한 다공질체나 스펀지로 형성되어 있고, 다수의 흡착 구멍을 갖고 있다. 전극면 흡착 블록(81a) 및 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착면은, 동일 평면 상에 위치하도록 조정되어 있다.As shown in FIG. 8, the holding member 81 is an electrode surface adsorption block 81a that adsorbs and holds the edge portion on which the electrode row ER on which the electronic component W is mounted in the organic EL panel P is formed. ), and a display area adsorption unit that is disposed adjacent to the electrode surface adsorption block 81a and adsorbs and holds a part other than the part adsorbed by the electrode surface adsorption block 81a in the organic EL panel P. 81b). The electrode surface adsorption block 81a is formed in a length capable of adsorbing and holding the entire edge portion of the organic EL panel P on which the electrode rows ER are formed, and is a rectangular parallelepiped member that is elongated in a direction along the edge portion. The adsorption surface 81c of this electrode surface adsorption block 81a is formed flat, and a plurality of adsorption holes 81d are formed. And, the hole diameter of this adsorption hole 81d is set to a size such that deformation does not occur at the edge of the organic EL panel P, similar to the placement part 42a of the pressure bonding device 40, , The edge portion on which the electrode row ER of the organic EL panel P is formed is made flat so that it can be adsorbed and held. The display area adsorption portion 81b is formed of a porous body or sponge having a flat adsorption surface, and has a large number of adsorption holes. The adsorption surfaces of the electrode surface adsorption block 81a and the display area adsorption unit 81b are adjusted to be located on the same plane.

한편, 전극면 흡착 블록(81a)은, 전극열(ER) 전체를 흡착 유지하는 것이 아니라, 실제로는, 전극열(ER)에 있어서 전자 부품(W)의 단자가 이방성 도전 테이프(F)를 통해 접속되는 부분을 제외한 표시 영역측의 부분을 흡착 유지하도록 되어 있다. 즉, 도 8에 2점 쇄선으로 나타나는 바와 같이, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)에 있어서의 전자 부품(W)의 단자가 접속되는 부분은, 유지체(81)로부터 비어져 나온 상태로 유지된다. On the other hand, the electrode surface adsorption block 81a does not adsorb and hold the entire electrode row ER, but in reality, the terminal of the electronic component W in the electrode row ER is through the anisotropic conductive tape F. The portion on the side of the display area other than the portion to be connected is adsorbed and held. That is, as shown by the two-dot chain line in FIG. 8, the portion to which the terminal of the electronic component W is connected in the electrode row ER of the organic EL panel P protrudes from the holder 81. Stays in the state.

도 8에서는 하나의 표시 영역 흡착부(81b)를 도시하고 있으나, 복수의 표시 영역 흡착부(81b)가 나란히 배치되어 있어도 좋다. 표시 영역 흡착부(81b)는, 도 9에 도시된 바와 같이, 전극면 흡착 블록(81a)의 길이 방향[전극면 흡착 블록(81a)에 유지된 유기 EL 패널(P)의 가장자리부 방향]과는 교차하는 방향(이 실시형태에서는, 직교하는 방향)으로 2개 나란히 배치된다. 2개의 표시 영역 흡착부(81b)는, 각각이 전극면 흡착 블록(81a)과의 사이의 간격을 조정할 수 있게 유지체(81)의 본체부(81e)에 지지된다. 이들 표시 영역 흡착부(81b)는, 알루미늄 등의 금속제의 베이스부(81b1)와, 이 베이스부(81b1)에 있어서의 유기 EL 패널(P)을 유지하는 면(이하, 「하면」이라고 함)을 덮는 평탄한 다공질 시트(81b2)를 구비한다. 베이스부(81b1)에는, 진공 흡인 구멍에 연통(連通)되는 대략 격자형의 흡인홈이 그 하면에 형성되어 있고, 이 하면에 설치된 다공질 시트(81b2)의 전역에 진공 흡인력을 작용시켜, 다공질 시트(81b2)의 전역에서 유기 EL 패널(P)을 대략 균일한 흡인력으로 평탄하게 유지할 수 있도록 되어 있다. 다공질 시트(81b2)로서는, 예컨대 수지의 다공질 성형체를 필름형으로 가공한 것을 이용할 수 있다. 이와 같이 구성함으로써, 유지체(81)는 가요성을 갖는 얇은 필름형의 유기 EL 패널(P)이어도, 평탄하게 또한 흡착 흔적을 발생시키지 않고 흡착 유지할 수 있다. In FIG. 8, one display area adsorption part 81b is shown, but a plurality of display area adsorption parts 81b may be arranged side by side. As shown in Fig. 9, the display area adsorption unit 81b is in the longitudinal direction of the electrode surface adsorption block 81a (the direction of the edge of the organic EL panel P held in the electrode surface adsorption block 81a) and Two are arranged side by side in the intersecting direction (orthogonal direction in this embodiment). The two display area adsorption parts 81b are supported by the main body 81e of the holder 81 so that the distance between each of the electrode surface adsorption blocks 81a can be adjusted. These display area adsorption portions 81b are a base portion 81b1 made of a metal such as aluminum, and a surface holding the organic EL panel P in the base portion 81b1 (hereinafter referred to as "lower surface"). It is provided with a flat porous sheet (81b2) covering. In the base portion 81b1, a substantially grid-like suction groove communicating with the vacuum suction hole is formed on the lower surface thereof, and a vacuum suction force is applied to the entire surface of the porous sheet 81b2 provided on the lower surface of the porous sheet. The organic EL panel P can be kept flat with a substantially uniform attraction force over the entire area 81b2. As the porous sheet 81b2, it is possible to use, for example, a resin porous molded article processed into a film shape. By constituting in this manner, even if the holding member 81 is a flexible thin-film organic EL panel P, it can be maintained by adsorption evenly and without generating an adsorption mark.

(제2 반송부(90))(2nd conveyance unit 90)

제2 반송부(90)는, 가압착 장치(40)에 의해 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)을 상측으로부터 흡착 유지하는 유지체(91)와, 이 유지체(91)를 가압착 장치(40)의 스테이지(42)로부터 유기 EL 패널(P)을 반출하는 반출 위치와 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 대한 유기 EL 패널(P)의 반입 위치로 이동시키기 위한 XZ 구동부(92)를 구비한다. 유지체(91)는, 유기 EL 패널(P)의 상면에 있어서의 대략 전역을 흡착 유지하는, 흡착면이 평탄한 다공질체 등으로 형성된 표시 영역 흡착부를 구비하고 있다. 이 표시 영역 흡착부는, 유지체(81)의 표시 영역 흡착부(81b)와 동일하게 구성된다. The second conveying unit 90 includes a holding member 91 for adsorbing and holding the organic EL panel P to which the electronic component W is pressurized by the pressing device 40 from the upper side, and the holding member 91 ) To the unloading position where the organic EL panel P is taken out from the stage 42 of the pressing device 40 and the carrying position of the organic EL panel P relative to the stage 51 of the main pressing device 50 It is provided with an XZ drive unit 92 for doing so. The holding member 91 is provided with a display area adsorption unit formed of a porous body or the like having a flat adsorption surface for adsorbing and holding an approximate whole of the upper surface of the organic EL panel P. This display area adsorption unit is configured in the same manner as the display area adsorption unit 81b of the holding member 81.

(제3 반송부(100))(3rd conveyance unit 100)

제3 반송부(100)는, 본압착 장치(50)에 의해 전자 부품(W)이 본압착된 유기 EL 패널(P), 즉 표시용 부재를 상측으로부터 흡착 유지하는 유지체(101)와, 이 유지체(101)를, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)로부터 유기 EL 패널(P)을 반출하는 반출 위치와 도시하지 않은 반출 장치에의 전달 위치로 이동시키기 위한 XZ 구동부(102)를 구비한다. The third conveying unit 100 includes a holding body 101 for adsorbing and holding an organic EL panel P, that is, a display member, to which the electronic component W is fully compressed by the main compression device 50, and An XZ drive unit 102 for moving the holding body 101 to a delivery position to take out the organic EL panel P from the stage 51 of the main compression device 50 and a delivery position to a delivery device (not shown). It is equipped with.

(제어 장치(110))(Control device 110)

제어 장치(110)는, 기억부(111)를 구비한다. 이 기억부(111)에는, 예컨대 가압착 장치(40) 및 본압착 장치(50)에서의 하중, 가열 온도, 가압 시간, 화상 처리부(44c)에 관한 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 기준 패턴 및 이 기준 패턴의 위치 정보, 또한 각부를 제어하기 위한 각종의 정보가 기억된다. 또한, 기억부(111)에는, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 스테이지(42)의 배치부(42a)로부터 소정량 비어져 나오게 하기 위한 비어져 나옴량(G)이 기억되어 있다. 구체적으로는, 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하의 범위, 보다 바람직하게는 3 ㎜ 이상 8 ㎜ 이하의 범위에서, 비어져 나옴량(G)이 설정되어 있다. 여기서는, 비어져 나옴량(G)=6 ㎜가 설정되어 있는 것으로 한다. The control device 110 includes a storage unit 111. In this storage unit 111, for example, the load in the pressing device 40 and the main pressing device 50, heating temperature, pressing time, reference patterns of alignment marks PM and WM related to the image processing unit 44c, and Position information of this reference pattern and various types of information for controlling each part are stored. Further, in the storage unit 111, a protruding amount G for causing the edge portion of the organic EL panel P to protrude from the arrangement unit 42a of the stage 42 by a predetermined amount is stored. Specifically, in the range of 3 mm or more and 15 mm or less, more preferably 3 mm or more and 8 mm or less, the amount of protrusion G is set. Here, it is assumed that the protruding amount (G) = 6 mm is set.

[실장 장치의 동작][Operation of mounting device]

다음으로, 실시형태의 실장 장치(1)의 동작에 대해 설명한다. 먼저, 제1 펀칭 장치(10A)의 공급 릴(11)로부터 캐리어 테이프(T)가 공급되고, 금형 장치(12)에 의해 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)이 펀칭된다. 펀칭된 전자 부품(W)은, 펀치(12c)에 흡착 유지된다. 펀치(12c)에 유지된 전자 부품(W)은, 제1 전달 장치(60)의 받침부(61)에 전달되고, 제1 전달 장치(60)에 의해 간헐 회전 반송 장치(20)의 수취 위치(A)로 이송된다. 수취 위치(A)로 이송된 전자 부품(W)은, 수취 위치(A)에 위치하게 된 간헐 회전 반송 장치(20)의 유지 헤드(24)에 전달된다. 한편, 제1 전달 장치(60)는, 전자 부품(W)을 수취 위치(A)로 이송하는 도중에, 전자 부품(W)의 방향을 90° 회전시킴으로써, 단자열(TR)이 형성된 가장자리부를 수취 위치(A)에 위치하게 된 유지 헤드(24)의 외측 측면을 따르는 방향(Y 방향)에 맞춘다.Next, the operation of the mounting device 1 according to the embodiment will be described. First, the carrier tape T is supplied from the supply reel 11 of the first punching device 10A, and the electronic component W is punched out from the carrier tape T by the mold device 12. The punched electronic component W is adsorbed and held by the punch 12c. The electronic component W held by the punch 12c is transmitted to the receiving part 61 of the 1st delivery device 60, and the receiving position of the intermittent rotation conveyance device 20 by the 1st delivery device 60 It is transferred to (A). The electronic component W transferred to the receiving position A is transmitted to the holding head 24 of the intermittent rotation conveying device 20 positioned at the receiving position A. On the other hand, the first delivery device 60 receives the edge portion in which the terminal row TR is formed by rotating the direction of the electronic component W by 90° while transferring the electronic component W to the receiving position A. It aligns with the direction (Y direction) along the outer side of the holding head 24 which is located at position (A).

유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)은, 인덱스 테이블(22)의 간헐 회전에 의해, 게이징/청소 위치(B), 접착 위치(C), 전달 위치(D)로 순차 이송된다. 이 이송 중, 게이징/청소 위치(B)에 있어서, 전자 부품(W)은 도시하지 않은 위치 결정 기구의 접촉에 의해 유지 헤드(24)에 대해 위치 결정되고, 도시하지 않은 회전 브러시 등의 청소 기구에 의해 단자부에 부착된 먼지의 청소가 행해진다. 또한, 접착 위치(C)에 있어서, 전자 부품(W)의 단자부에는, 이방성 도전 테이프 접착 장치(30)에 의해 이방성 도전 테이프(F)가 접착된다. 게이징/청소 위치(B)에서 위치 결정 및 청소가 행해지고, 접착 위치(C)에서 이방성 도전 테이프(F)가 접착된 전자 부품(W)이 전달 위치(D)에 위치하게 되면, 전자 부품(W)은 전달 위치(D)에 있어서 제2 전달 장치(70)의 받침부(71)에 전달된다. 받침부(71)에 전달된 전자 부품(W)은, 가압착 장치(40)의 가압착 헤드(41) 바로 아래의 위치로 이송되고, 가압착 헤드(41)에 전달된다.The electronic components W held by the holding head 24 are sequentially transferred to the gauging/cleaning position (B), the bonding position (C), and the delivery position (D) by intermittent rotation of the index table 22. . During this transfer, at the gauging/cleaning position (B), the electronic component (W) is positioned with respect to the holding head 24 by contact with a positioning mechanism (not shown), and cleaning of a rotating brush (not shown) The dust adhering to the terminal portion is cleaned by the mechanism. Further, at the bonding position C, the anisotropic conductive tape F is adhered to the terminal portion of the electronic component W by the anisotropic conductive tape bonding device 30. When positioning and cleaning are performed at the gauging/cleaning position (B), and the electronic component (W) to which the anisotropic conductive tape (F) is adhered at the adhesive position (C) is placed at the transfer position (D), the electronic component ( W) is transmitted to the support portion 71 of the second delivery device 70 at the delivery position D. The electronic component W delivered to the receiving portion 71 is transferred to a position immediately below the pressing head 41 of the pressing device 40 and transmitted to the pressing head 41.

한편, 전술한 동작과 병행적으로, 도시하지 않은 공급부로부터 제1 반송부(80)의 유지체(81)에 의해 유기 EL 패널(P)이 취출되고, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)에 공급 배치된다. 먼저, 제1 반송부(80)의 유지체(81)가 도시하지 않은 공급부로 이동하여, 공급부에 있어서 준비된 유기 EL 패널(P)의 상면에 유지체(81)의 유지면, 즉 전극면 흡착 블록(81a)의 흡착면(81c) 및 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착면을 접촉시킨다. 이때, 유지체(81)에 의해 유기 EL 패널(P)을 가볍게 누른 상태에서 전극면 흡착 블록(81a)과 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착력을 작용시킨다. 이와 같이 함으로써, 유기 EL 패널(P)에 휘어짐이나 굴곡이 발생하는 경우에도, 유기 EL 패널(P)을 평탄한 상태로 유지체(81)에 유지시킬 수 있다.On the other hand, in parallel with the above-described operation, the organic EL panel P is taken out by the holding member 81 of the first conveying unit 80 from a supply unit (not shown), and the stage 42 of the pressing device 40 ) Is placed in the supply. First, the holding member 81 of the first conveying unit 80 moves to a supply unit (not shown), and the holding surface of the holding member 81, that is, the electrode surface, is adsorbed on the upper surface of the organic EL panel P prepared in the supply unit. The adsorption surface 81c of the block 81a and the adsorption surface of the display area adsorption portion 81b are brought into contact with each other. At this time, while the organic EL panel P is lightly pressed by the holding member 81, the adsorption force of the electrode surface adsorption block 81a and the display area adsorption unit 81b is applied. By doing in this way, even when warping or bending occurs in the organic EL panel P, the organic EL panel P can be held in the holding member 81 in a flat state.

또한, 공급부의 유기 EL 패널(P)을 흡착 유지할 때, 유지체(81)는, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 측의 단부를, 전극면 흡착 블록(81a)의 외단부[표시 영역 흡착부(81b)와는 반대측의 가장자리부]로부터 미리 설정된 길이(H)만큼, 비어져 나오게 하도록 위치하게 된다. 예컨대, 이 길이(H)는, 가압착 시에 전자 부품(W)이 유기 EL 패널(P)에 중첩되는 폭분의 길이이다. In addition, when adsorbing and holding the organic EL panel P of the supply unit, the holding member 81 moves the end portion of the organic EL panel P on the side where the electrode row ER is formed to the outside of the electrode surface adsorption block 81a. It is positioned so as to protrude by a predetermined length H from the end portion (the edge portion on the opposite side to the display area adsorption portion 81b). For example, this length H is the length of the width at which the electronic component W overlaps the organic EL panel P at the time of press bonding.

즉, 기억부(111)에는, 길이(H)가 기억되어 있다. 제어 장치(110)는, 공급부의 유기 EL 패널(P)을 유지체(81)에 유지시킬 때, 기억부(111)에 기억된 길이(H)를 참조하여, 유지체(81)로부터 유기 EL 패널(P)의 전극측의 단부가 길이(H)만큼 비어져 나와 유지되도록, XZ 구동부(82)를 제어한다. 구체적으로는, 공급부에 있어서 유기 EL 패널(P)은 미리 설정된 정위치에 매회 준비되기 때문에, 이 정위치를 기준으로 하여, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 측의 단부가 길이(H)의 분만큼 비어져 나오는 위치 관계를 이루도록, XZ 구동부(82)를 제어하여 유지체(81)를 이동시킨다. 한편, 유지체(81)에 유기 EL 패널(P)의 단부를 검출하기 위한, 광전 센서 등의 검출기를 설치해 두고, 이 검출기를 이용하여 검출한 유기 EL 패널(P)의 단부의 위치에 기초하여, 비어져 나옴량이 미리 설정된 길이(H)가 되도록, 유지체(81)를 이동시키도록 해도 좋다.That is, the length H is stored in the storage unit 111. When holding the organic EL panel P of the supply unit in the holder 81, the control device 110 refers to the length H stored in the storage unit 111, and the organic EL panel P from the holder 81 The XZ driver 82 is controlled so that the end of the panel P on the electrode side protrudes and is held by the length H. Specifically, since the organic EL panel P in the supply unit is prepared each time at a preset position, the end of the organic EL panel P on the side where the electrode row ER is formed is The XZ drive unit 82 is controlled to move the holding member 81 so as to achieve a positional relationship protruding by the length H. On the other hand, a detector such as a photoelectric sensor is provided on the holding member 81 to detect the end of the organic EL panel P, and based on the position of the end of the organic EL panel P detected using this detector The holding member 81 may be moved so that the protruding amount becomes a preset length H.

유지체(81)에 유지된 유기 EL 패널(P)은, 가압착 장치(40)의 스테이지(42) 상에 반송된다. 이때, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)는, 유지체(81)로부터 유기 EL 패널(P)을 공급받는 공급 위치(도 1에 이점 쇄선으로 나타내는 위치)에 위치하게 된다. 스테이지(42) 상에 반송된 유기 EL 패널(P)은 스테이지(42)에 배치된다. 제어 장치(110)는, 배치부(42a)로부터의 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 비어져 나옴량(G)이, 기억부(111)에 기억된 비어져 나옴량(G)=6 ㎜가 되도록, 유지체(81)와 스테이지(42)의 배치부(42a)의 상대 위치, 즉 XZ 구동부(82)와 스테이지 구동부(42b)의 구동을 제어한다. The organic EL panel P held by the holding member 81 is conveyed on the stage 42 of the pressing device 40. At this time, the stage 42 of the pressing device 40 is positioned at a supply position (a position indicated by a double-dashed line in FIG. 1) to receive the organic EL panel P from the holding member 81. The organic EL panel P conveyed on the stage 42 is placed on the stage 42. In the control device 110, the protruding amount G of the edge portion of the organic EL panel P from the placement unit 42a is stored in the storage unit 111, and the protruding amount G = 6 mm. The relative position between the holding member 81 and the mounting portion 42a of the stage 42, that is, the driving of the XZ driving unit 82 and the stage driving unit 42b is controlled so as to be.

비어져 나옴량(G)은, 전술한 바와 같이 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하, 보다 바람직하게는 3 ㎜ 이상 8 ㎜ 이하의 범위에서 설정된다. 이러한 범위로 비어져 나옴량(G)을 설정함으로써, 50 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께이고, 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하의 굽힘 탄성률을 가지며, 가요성을 갖는 유기 EL 패널(P)이어도, 배치부(42a)로부터 비어져 나온 가장자리부에, 처짐이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 한편, 비어져 나옴량(G)과 가장자리부의 처짐량의 관계는, 유기 EL 패널(P)의 품종에 따라 상이하지만, 50 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께이고, 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하의 굽힘 탄성률을 갖는 유기 EL 패널(P)인 경우, 비어져 나옴량(G)을 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하로 설정하면, 가장자리부의 처짐을 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 정밀도를 유지할 수 있는 범위로 억제할 수 있는 것이, 발명자의 실험 결과 판명되었다. As described above, the protruding amount G is set in a range of 3 mm or more and 15 mm or less, and more preferably 3 mm or more and 8 mm or less. By setting the protruding amount (G) in this range, even if it is an organic EL panel (P) having a thickness of 50 µm or more and 500 µm or less, a bending elastic modulus of 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less, and having flexibility, It is possible to prevent sagging from occurring in the edge portion protruding from (42a). On the other hand, the relationship between the amount of protrusion (G) and the amount of sag at the edge is different depending on the kind of the organic EL panel (P), but is a thickness of 50 µm or more and 500 µm or less, and a bending modulus of 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less In the case of the organic EL panel (P) having, if the protruding amount (G) is set to 3 mm or more and 15 mm or less, the sagging of the edge portion can be suppressed to a range that can maintain the recognition accuracy of the alignment mark (PM). It was found out as a result of the inventor's experiment.

한편, 전술한 물리 특성의 범위 내에 있어서도, 품종에 좌우되지 않고 안정된 인식 정밀도를 확보하기 위해서는, 비어져 나옴량(G)은 짧게 설정하는 것이 좋고, 3 ㎜ 이상 8 ㎜ 이하의 범위에서 설정하는 것이 보다 바람직하다. 여기서, 유기 EL 패널(P)의 비어져 나옴량(G)은, 짧을수록 인식 정밀도의 확보가 확실해지는 것으로 알려져 있지만, 비어져 나옴량이 짧아지면 배치부(42a)와 백업 툴(43a)과의 근접 거리를 짧게 할 필요가 발생한다. 배치부(42a)와 백업 툴(43a)과의 근접 거리가 짧아지면, 양자 사이에 간섭, 즉 충돌의 우려가 발생하기 때문에, 하한값은 3 ㎜로 설정된다. 비어져 나옴량(G)의 하한값(3 ㎜)은, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 접속에 이용되는 이방성 도전 테이프(F)의 폭 치수를 감안하여 설정된 값이다.On the other hand, even within the range of the above-described physical characteristics, in order to ensure stable recognition accuracy without being influenced by the variety, the protruding amount (G) is preferably set short, and it is set in the range of 3 mm or more and 8 mm or less. It is more preferable. Here, it is known that the shorter the protruding amount G of the organic EL panel P, the more sure the recognition accuracy is secured. However, when the protruding amount decreases, the arrangement portion 42a and the backup tool 43a are The need to shorten the proximity distance arises. If the proximity distance between the placement portion 42a and the backup tool 43a is shortened, interference, that is, a risk of collision occurs between the two, the lower limit value is set to 3 mm. The lower limit (3 mm) of the protruding amount G is a value set in consideration of the width dimension of the anisotropic conductive tape F used to connect the organic EL panel P and the electronic component W.

유기 EL 패널(P)은, 유지체(81)에 그 단부가 길이(H)만큼 비어져 나오도록 유지되어 있다. 한편, 배치부(42a)는 공급 위치에 위치하게 되고, 그 위치는 기지(旣知)이기 때문에, 비어져 나옴량(G)이 얻어지는 유지체(81)의 이동 위치는 용이하게 산출할 수 있다. The organic EL panel P is held by the holding member 81 so that its end portion protrudes by the length H. On the other hand, the placement portion 42a is located at the supply position, and since the position is known, the moving position of the holding body 81 from which the protruding amount G is obtained can be easily calculated. .

또한, 유기 EL 패널(P)이 배치부(42a)에 배치될 때, 유지체(81)의 하강에 의해 유기 EL 패널(P)은 배치면(42c)에 밀어붙여져 평탄화된다. 보다 상세하게는, 유기 EL 패널(P)은, 유지체(81)의 표시 영역 흡착부(81b)에 표시 영역이 흡착 유지되어 있기 때문에, 평탄한 상태로 유지되어 있다. 이 상태에서, 유기 EL 패널(P)은 스테이지(42)의 배치면(42c)에 밀어붙여지기 때문에, 유기 EL 패널(P)은 유지체(81)의 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착면과, 스테이지(42)의 배치면(42c) 사이에 끼워진다. 그 때문에, 유기 EL 패널(P)은, 평탄화된 상태를 유지한 채로 스테이지(42) 상에 전달되고, 스테이지(42)에 흡착 유지된다. Further, when the organic EL panel P is disposed on the placement portion 42a, the organic EL panel P is pressed against the placement surface 42c by the lowering of the holding member 81 and is flattened. More specifically, the organic EL panel P is maintained in a flat state because the display region is adsorbed and held by the display region adsorbing portion 81b of the holding member 81. In this state, since the organic EL panel P is pressed against the mounting surface 42c of the stage 42, the organic EL panel P is the suction surface of the display area adsorption portion 81b of the holder 81 And, it is sandwiched between the mounting surface 42c of the stage 42. Therefore, the organic EL panel P is transferred onto the stage 42 while maintaining the flattened state, and is adsorbed and held by the stage 42.

이때, 유기 EL 패널(P)이 스테이지(42)의 배치면(42c)에 밀어붙여진 상태에서, 스테이지(42)의 배치부(42a)의 흡착 구멍(42d)에 흡인력을 작용시킨 후, 유지체(81)의 전극면 흡착 블록(81a)과 표시 영역 흡착부(81b)의 흡인력을 해제하도록 해도 좋으나, 스테이지(42)에 흡인력을 작용시키기 전에 유지체(81)의 흡인력을 해제하도록 해도 좋다. 이와 같이 함으로써, 스테이지(42)와 유지체(81) 사이에 협지(挾持)된 유기 EL 패널(P)의 면 방향에 있어서의 구속이 경감되게 되기 때문에, 만일 휘어짐이나 굴곡이 남은 상태로 유지체(81)에 유지되어 있던 경우라도, 그 휘어짐이나 굴곡이 협지에 의해 교정되어 평탄화되는 것이 기대된다. 이 때문에, 유지체(81)를 스테이지(42)에 밀어붙이는 힘은, 전술한 교정의 방해가 되지 않을 정도의 크기로 설정하는 것이 바람직하다.At this time, in a state in which the organic EL panel P is pressed against the mounting surface 42c of the stage 42, a suction force is applied to the suction hole 42d of the mounting portion 42a of the stage 42, and then the holding member The suction force of the electrode surface suction block 81a and the display area suction portion 81b of 81 may be released, but the suction force of the holding member 81 may be released before the suction force is applied to the stage 42. In this way, the restraint in the plane direction of the organic EL panel P sandwiched between the stage 42 and the holding member 81 is reduced. Even when it is held at (81), it is expected that the warp or curvature is corrected and flattened by the pinching. For this reason, it is preferable to set the force for pushing the holding member 81 against the stage 42 to a size such that it does not interfere with the above-described calibration.

스테이지(42)에 유기 EL 패널(P)이 유지되면, 유지체(81)는 도시하지 않은 공급부로 이동한다. 한편, 스테이지(42)는 가압착 헤드(41)에 의한 가압착에 앞서 마크 인식 위치로 이동한다. 마크 인식 위치에는, 가압착 헤드(41)에 유지된 전자 부품(W)도 위치하도록 되어 있다. 마크 인식 위치에 위치하게 된 상태에 있어서, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)은, 도 6에 도시된 바와 같이, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부와 전자 부품(W)의 단자열(TR)이 형성된 가장자리부가 미소한 간격을 사이에 둔 상태로 대향한다. 또한, 이 상태에서, 광 조사부(44d)는 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM) 바로 위에 위치하고 있다. 이러한 상태하에서, 광 조사부(44d)로부터 광이 조사되고, 촬상 장치(44a, 44b)에 의해 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 포함하는 화상이 받아들여진다.When the organic EL panel P is held on the stage 42, the holding member 81 moves to a supply unit (not shown). On the other hand, the stage 42 moves to the mark recognition position prior to the pressing by the pressing head 41. The electronic component W held by the pressing head 41 is also positioned at the mark recognition position. In the state positioned at the mark recognition position, the organic EL panel P and the electronic component W are, as shown in FIG. 6, the edge portion on which the electrode row ER of the organic EL panel P is formed. The edge portions on which the terminal rows TR of the electronic component W are formed face each other with a small gap therebetween. Moreover, in this state, the light irradiation part 44d is located just above the alignment mark PM of the organic EL panel P. Under this condition, light is irradiated from the light irradiation unit 44d, and the alignment mark PM of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W are included by the imaging devices 44a and 44b. An image to say is accepted.

받아들여진 화상은 화상 처리부(44c)에 보내지고, 각 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 위치 데이터가 구해지며, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 인식이 행해진다. 구해진 위치 데이터는, 제어 장치(110)에 보내진다. 이와 같이 하여 받아들여진 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)는, 실루엣 화상으로서 받아들여지기 때문에, 유기 EL 패널(P)에 휘어짐이나 기복이 발생하였다고 해도, 또한 상면에 형성된 얼라인먼트 마크(PM)를 유기 EL 패널(P)의 PI 필름과 PET 필름을 접합시킨 수지 기판을 통해 촬상했다고 해도, 얼라인먼트 마크(PM)를 선명한 화상으로서 받아들일 수 있다. The received image is sent to the image processing unit 44c, position data of each alignment mark PM and WM is obtained, and position recognition of the organic EL panel P and the electronic component W is performed. The obtained positional data is sent to the control device 110. Since the alignment mark PM of the organic EL panel P received in this way is received as a silhouette image, even if a warp or undulation occurs in the organic EL panel P, the alignment mark PM ) Is captured through a resin substrate in which the PI film of the organic EL panel P and the PET film are bonded together, the alignment mark PM can be taken as a clear image.

제어 장치(110)는, 화상 처리부(44c)로부터 보내진 유기 EL 패널(P)의 좌우의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터와 전자 부품(W)의 좌우의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터에 기초하여, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 X, Y, θ 방향의 상대 위치 어긋남을 구한다. 그리고, 제어 장치(110)는, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)을 가압착 위치로 이동시킨다. 이때, 구해진 상대 위치 어긋남에 기초하여, 이 위치 어긋남을 없애도록 툴 구동부(41b)와 스테이지 구동부(42b)를 제어함으로써, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 맞춤을 실행한다.The control device 110 is based on the positional data of the left and right alignment marks PM of the organic EL panel P sent from the image processing unit 44c and the positional data of the left and right alignment marks WM of the electronic component W. Thus, the relative positional shift of the organic EL panel P and the electronic component W in the X, Y, and θ directions is determined. Then, the control device 110 moves the organic EL panel P and the electronic component W to the pressing position. At this time, by controlling the tool driving unit 41b and the stage driving unit 42b to eliminate the positional displacement based on the obtained relative positional displacement, the organic EL panel P and the electronic component W are aligned.

구체적으로는, 제어 장치(110)는, 유기 EL 패널(P)의 좌우의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터로부터, 이들 2점을 연결하는 선분의 기울기(θP)와 이 선분의 중점의 좌표(XP, YP)를 구한다. 또한, 제어 장치(110)는, 전자 부품(W)의 좌우의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터로부터, 이들 2점을 연결하는 선분의 기울기(θW)와 이 선분의 중점의 좌표(XW, YW)를 구한다. 여기서 구해진 기울기와 중점의 좌표의 차가 양자의 상대적인 위치 어긋남으로서 구해진다. 구해진 상대 위치 어긋남으로부터 이하와 같이 하여 위치 어긋남을 수정한다.Specifically, the control device 110, from the position data of the left and right alignment marks PM of the organic EL panel P, the inclination θP of the line segment connecting these two points and the coordinates of the midpoint of the line segment ( XP, YP). In addition, the control device 110, from the position data of the left and right alignment marks WM of the electronic component W, the inclination (θW) of the line segment connecting these two points and the coordinates of the midpoint of the line segment (XW, YW). ). The difference between the obtained inclination and the coordinates of the midpoint is obtained as the relative positional deviation of both. The positional deviation is corrected in the following manner from the obtained relative positional deviation.

먼저, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM) 사이를 연결하는 선분의 기울기(θP)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이를 연결하는 선분의 기울기(θW)의 차를 없애도록, 즉 θP-θW=0이 되도록, 가압 툴(41a)을 θ 방향으로 회전시킨다. 계속해서, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM) 사이를 연결하는 선분의 중점이, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이를 연결하는 선분의 중점과 일치하도록, 스테이지(42)[스테이지 구동부(42b)]를 구동시킨다. 이때, 가압 툴(41a)의 θ 방향의 회전 중심이 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이를 연결하는 선분의 중점의 위치에 대해 어긋나게 위치하는 경우, 전술한 가압 툴(41a)의 회전에 의해, 선분의 중점의 위치가 가압 툴(41a)의 회전분만큼 수평 방향으로 위치가 어긋나기 때문에, 유기 EL 패널(P)의 이동 위치는 이 위치 어긋남을 가미하여 실행된다. First, the difference between the inclination (θP) of the line segment connecting between the alignment marks (PM) of the organic EL panel (P) and the inclination (θW) of the line segment connecting between the alignment marks (WM) of the electronic component (W) is eliminated. The pressing tool 41a is rotated in the θ direction so as to be so, that is, θP-θW=0. Subsequently, the stage 42 so that the midpoint of the line segment connecting the alignment marks PM of the organic EL panel P coincides with the midpoint of the line segment connecting the alignment marks WM of the electronic component W. The [stage drive unit 42b] is driven. At this time, when the rotation center of the pressing tool 41a in the θ direction is shifted from the position of the midpoint of the line segment connecting the alignment marks WM of the electronic component W, the rotation of the pressing tool 41a described above As a result, since the position of the midpoint of the line segment is shifted in the horizontal direction by the rotation amount of the pressing tool 41a, the moving position of the organic EL panel P is performed taking this position shift into account.

가압착 위치에 위치하게 된 유기 EL 패널(P)은, 그 가장자리부가 백업 툴(43a)의 상면에 지지된다. 또한, 전자 부품(W)은, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER) 바로 위에 단자열(TR)이 약간의 간격을 사이에 두고 대향하도록 위치하게 된다. 이 상태에서, 툴 구동부(41b)의 구동에 의해 가압 툴(41a)이 하강된다. 이에 의해, 미리 설정된 가열 온도, 가압력, 가압 시간으로, 전자 부품(W)의 단자부가 유기 EL 패널(P)의 전극면에 이방성 도전 테이프(F)를 통해 가열 가압되어, 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)이 가압착된다.In the organic EL panel P positioned at the pressing position, its edge portion is supported on the upper surface of the backup tool 43a. In addition, the electronic component W is positioned so that the terminal row TR faces directly above the electrode row ER of the organic EL panel P with a slight gap therebetween. In this state, the pressing tool 41a is lowered by the drive of the tool driving unit 41b. Thereby, at a predetermined heating temperature, pressing force, and pressing time, the terminal portion of the electronic component W is heated and pressurized to the electrode surface of the organic EL panel P through the anisotropic conductive tape F, and the organic EL panel P The electronic component (W) is pressurized to the.

미리 설정된 가압 시간이 경과하면, 가압 툴(41a)에 의한 전자 부품(W)의 흡착이 해제되고 가압 툴(41a)이 상승한다. 가압 툴(41a)은, 제2 전달 장치(70)로부터 전자 부품(W)이 전달되는 전달 위치로 이동된다. 또한, 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)을 배치하는 스테이지(42)는, 제2 반송부(90)에 유기 EL 패널(P)을 전달하는 반출 위치로 이동된다. 이 반출 위치에서, 유기 EL 패널(P)은 제2 반송부(90)의 유지체(91)에 의해, 그 상면을 제1 반송부(80)의 유지체(81)에 의한 유지와 동일하게 하여 흡착 유지되고, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)로 반송된다.When the preset pressing time has elapsed, adsorption of the electronic component W by the pressing tool 41a is released, and the pressing tool 41a is raised. The pressing tool 41a is moved from the second transmission device 70 to a delivery position where the electronic component W is transmitted. Further, the stage 42 on which the organic EL panel P to which the electronic component W is pressed and attached is placed is moved to the carrying out position for transferring the organic EL panel P to the second conveying unit 90. In this carrying out position, the organic EL panel P is held by the holding member 91 of the second conveying unit 90, and its upper surface is the same as that of the holding member 81 of the first conveying unit 80. It is adsorbed and held, and is conveyed to the stage 51 of the main compression device 50.

제2 반송부(90)에 의해 본압착 장치(50)에 공급된 유기 EL 패널(P)은, 반입 위치에 위치하게 된 스테이지(51) 상에 전달되고, 스테이지(51) 상에 흡착 유지된다. 이 전달 시의 동작은, 제1 반송부(80)로부터 스테이지(42)에의 유기 EL 패널(P)의 전달과 동일하게 하여 행해진다. 이때, 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 스테이지(51)로부터 비어져 나온 상태로 유지된다. The organic EL panel P supplied to the main compression device 50 by the second conveyance unit 90 is transferred onto the stage 51 positioned at the carrying position, and is adsorbed and held on the stage 51. . This transfer operation is performed in the same manner as the transfer of the organic EL panel P from the first transfer unit 80 to the stage 42. At this time, the edge portion of the organic EL panel P to which the electronic component W is pressed is maintained in a state protruding from the stage 51.

스테이지(51)에 유기 EL 패널(P)이 유지되면, 스테이지(51)는 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 백업 툴(53a)의 상면에 지지시키기 위해서 이동된다. 한편, 이 이동 도중에, 위치 인식 유닛(54)에 의해 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크[얼라인먼트 마크(PM)와는 다른 마크]의 위치 인식이 행해진다. 이 위치 인식 결과에 기초하여, 스테이지(51)는 유기 EL 패널(P)의 전극면이 백업 툴(53a)의 상면에 올바른 위치 관계로 위치하도록 이동된다. 백업 툴(53a)의 상면에 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 지지되면, 툴 구동부(52b)의 구동에 의해 가압 툴(52a)이 하강되고, 미리 설정된 가열 온도, 가압력, 가압 시간으로, 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)이 본압착된다. When the organic EL panel P is held on the stage 51, the stage 51 is moved to support the edge of the organic EL panel P on the upper surface of the backup tool 53a. On the other hand, during this movement, position recognition of the alignment mark (mark different from the alignment mark PM) of the organic EL panel P is performed by the position recognition unit 54. Based on this position recognition result, the stage 51 is moved so that the electrode surface of the organic EL panel P is positioned in a correct positional relationship on the upper surface of the backup tool 53a. When the edge of the organic EL panel P is supported on the upper surface of the backup tool 53a, the pressing tool 52a is lowered by the drive of the tool driving unit 52b, and the heating temperature, pressing force, and pressing time are set in advance. The electronic component W pressurized to the EL panel P is subjected to main pressure bonding.

미리 설정된 가압 시간이 경과하면, 가압 툴(52a)은 상승된다. 또한, 전자 부품(W)이 본압착된 유기 EL 패널(P), 즉 표시용 부재를 배치하는 스테이지(51)는, 제3 반송부(100)에 유기 EL 패널(P)을 전달하는 반출 위치로 이동된다. 이 반출 위치에서, 유기 EL 패널(P)은 제3 반송부(100)의 유지체(101)에 의해, 그 상면이 흡착 유지되어, 도시하지 않은 반출 장치로 반송된다.When the preset pressing time has elapsed, the pressing tool 52a is raised. In addition, the organic EL panel P to which the electronic component W is fully bonded, that is, the stage 51 for arranging the display member, is a carry-out position for transferring the organic EL panel P to the third conveying unit 100. Is moved to. At this carrying out position, the upper surface of the organic EL panel P is adsorbed and held by the holding body 101 of the third carrying section 100 and transferred to a carrying-out device (not shown).

전술한 전자 부품(W)의 유기 EL 패널(P)에의 가압착 공정 및 본압착 공정을 포함하는 실장 동작을, 전자 부품(W)을 실장해야 할 유기 EL 패널(P)이 없어질 때까지 반복해서 실행한다. 한편, 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서, 가압착 공정은 위치 정밀도의 향상이 중요한 데 비해, 본압착 공정은 이방성 도전 테이프(F)에 의한 압착 강도나 신뢰성의 향상이 중요하고, 또한 공정 시간도 상이하다. 이 때문에, 가압착 장치(40)와 본압착 장치(50)를 적용하여, 가압착 공정과 본압착 공정을 실시함으로써, 전자 부품(W)의 실장 효율을 향상시킬 수 있다. 단, 실시형태의 실장 장치(1)는 이러한 구성에 한정되는 것은 아니다. 본압착 장치(50)에 의해 위치 결정 공정으로부터 본압착 공정까지를 실시하도록 해도 좋다. The mounting operation including the pressure bonding process and the main compression process of the electronic component W to the organic EL panel P described above is repeated until the organic EL panel P to which the electronic component W is to be mounted disappears. And run it. On the other hand, in the mounting apparatus 1 of the embodiment, the improvement of the positional accuracy is important in the pressing process, whereas the improvement of the compression strength and reliability by the anisotropic conductive tape F is important in the main compression bonding process. The time is also different. For this reason, the mounting efficiency of the electronic component W can be improved by applying the press bonding device 40 and the main compression bonding device 50 to perform the press bonding process and the main compression bonding process. However, the mounting device 1 of the embodiment is not limited to this configuration. You may make it perform from a positioning process to a main compression bonding process by the main compression apparatus 50.

[실장 장치의 작용 효과][Effect of action of mounting device]

전술한 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서는, 50 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께와 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하의 굽힘 탄성률을 갖고, 가요성을 갖는 유기 EL 패널(P)을, 그 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부의 스테이지(42)로부터의 비어져 나옴량이 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하가 되도록 스테이지(42)[배치부(42a)]에 배치하고, 이 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 형성된 얼라인먼트 마크(PM)에, 촬상 장치(44a, 44b)와는 반대측인 상방으로부터 광 조사부(44d)에 의해 광을 조사한다. 그리고, 이 상태에서 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 형성된 얼라인먼트 마크(PM)와, 가압착 헤드(41)에 유지된 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 촬상 장치(44a, 44b)에 의해 촬상한다. 또한, 이 촬상 화상을 화상 처리부(44c)에 의해 화상 처리하고, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 관계를 인식하며, 이 위치 인식 결과에 기초하여, 제어 장치(110)에 의해 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 맞춤을 행하고, 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 통해 전자 부품(W)을 가압착한 후에, 본압착하도록 하고 있다.In the mounting apparatus 1 of the above-described embodiment, an organic EL panel P having a thickness of 50 µm or more and 500 µm or less, a bending elastic modulus of 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less, and having flexibility, is provided with the electronic component ( It is placed on the stage 42 (arrangement portion 42a) so that the amount of protrusion from the stage 42 at the edge portion where W) is mounted is 3 mm or more and 15 mm or less, and the edge portion of the organic EL panel P The alignment mark PM formed in is irradiated with light from the upper side opposite to the imaging devices 44a and 44b by the light irradiation unit 44d. And in this state, the alignment mark PM formed on the edge of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W held by the pressure bonding head 41 are image pickup devices 44a, 44b. ) To capture an image. Further, the captured image is image-processed by the image processing unit 44c, the positional relationship between the organic EL panel P and the electronic component W is recognized, and based on the position recognition result, the control device 110 As a result, the organic EL panel P and the electronic component W are aligned, and the electronic component W is press-bonded to the organic EL panel P through the anisotropic conductive tape F, and then subjected to full pressure bonding.

이와 같이 함으로써, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 검출할 때에, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전극이 형성된 가장자리부이며 스테이지(42)로부터 비어져 나온 가장자리부에, 처짐이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 또한, PI나 PET 등의 수지로 형성되고, 가장자리부에 휘어짐이나 기복이 발생할 우려가 있거나, 유리보다 투과율이 낮은 수지 기판으로 구성된 유기 EL 패널(P)이어도, 투과광에 의해 얼라인먼트 마크(PM)를 실루엣 화상으로서 촬상함으로써, 얼라인먼트 마크(PM)와 배경과의 명암차를 향상시킬 수 있기 때문에, 얼라인먼트 마크(PM)를 선명하게 촬상하는 것이 가능해진다. 그 때문에, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 처짐에서 기인하는 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 오차, 및 받아들임 화상이 선명함이 부족한 것에서 기인하는 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 오차를 저감시킬 수 있다. 그 결과, 유기 EL 패널(P)에 대한 전자 부품(W)의 실장 정밀도를 향상시키는 것이 가능해진다. 따라서, 가요성을 갖는 유기 EL 패널(P)에 가요성을 갖는 전자 부품(W)을 실장하는 경우라도, 그 실장 정밀도와 실장 품질을 향상시키는 것이 가능해진다.In this way, when detecting the alignment mark PM of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W, it is the edge portion where the electrode in the organic EL panel P is formed and the stage ( 42), it is possible to prevent sagging from occurring on the edge portion protruding from. In addition, even if it is an organic EL panel (P) made of a resin such as PI or PET, warping or undulations may occur at the edges, or made of a resin substrate having a lower transmittance than glass, the alignment mark (PM) is formed by transmitted light. By imaging as a silhouette image, since the contrast between the alignment mark PM and the background can be improved, it becomes possible to clearly image the alignment mark PM. Therefore, the recognition error of the alignment mark PM resulting from sagging of the edge portion of the organic EL panel P and the recognition error of the alignment mark PM resulting from insufficient sharpness of the received image can be reduced. As a result, it becomes possible to improve the mounting precision of the electronic component W to the organic EL panel P. Therefore, even in the case of mounting the flexible electronic component W on the flexible organic EL panel P, it becomes possible to improve the mounting accuracy and mounting quality.

즉, 종래의 액정 디스플레이의 제조에 이용되는 표시용 패널(이하, 액정 표시용 패널이라고 함)은, 두께가 0.5 ㎜∼0.7 ㎜인 유리 기판끼리를 접합시킨 것이기 때문에, 비교적 강성이 높다. 그 때문에, 액정 표시용 패널의 가장자리부를 스테이지로부터 수10 ㎜ 정도 비어져 나오게 하여 유지해도, 그 가장자리부가 자중(自重)에 의해 처지는 일은 거의 없다. That is, since a display panel (hereinafter referred to as a liquid crystal display panel) used in the production of a conventional liquid crystal display is obtained by bonding glass substrates having a thickness of 0.5 mm to 0.7 mm, the rigidity is relatively high. Therefore, even if the edge portion of the liquid crystal display panel is held by protruding from the stage by several 10 mm, the edge portion hardly sags due to its own weight.

이에 대해, 유기 EL 패널(P)에서는, 전술한 바와 같이 유기 EL 소자가 형성되는 부재인, 두께가 0.01 ㎜∼0.03 ㎜(10 ㎛∼30 ㎛) 정도인 PI 필름(Ka)을, 지지재인 두께가 0.1 ㎜∼0.2 ㎜ 정도인 PET 필름(Kb)에 접착하여 구성된 얇은 수지 기판을 이용하고 있기 때문에, 강성이 매우 낮다. 그 때문에, 유기 EL 패널(P)에서는, 그 가장자리부를 스테이지로부터 수10 ㎜ 정도 비어져 나오게 하여 유지한 경우, 비어져 나온 가장자리부가 자중에 의해 용이하게 쳐져 버린다. 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 처지면, 그만큼 가장자리부에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크(PM)의 위치가 수평 방향으로 어긋나게 된다. 그 때문에, 카메라를 이용하여 행하는 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 인식에 있어서, 그 인식 위치에 어긋남이 발생하게 된다.In contrast, in the organic EL panel P, as described above, a PI film Ka having a thickness of about 0.01 mm to 0.03 mm (10 μm to 30 μm), which is a member on which an organic EL element is formed, is used as a support material. Since a thin resin substrate formed by adhering to a PET film (Kb) of about 0.1 mm to 0.2 mm is used, the rigidity is very low. Therefore, in the organic EL panel P, when the edge portion is protruded from the stage by several 10 mm and is held, the projected edge portion is easily struck by its own weight. When the edge portion of the organic EL panel P sags, the position of the alignment mark PM formed on the edge portion is shifted in the horizontal direction by that amount. Therefore, in the position recognition of the alignment mark PM of the organic EL panel P performed using a camera, a shift occurs in the recognized position.

본원 발명자가 실험에 의해 확인한 결과, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를, 동등 사이즈의 액정 표시용 패널의 경우와 동일하게, 스테이지로부터 20 ㎜ 비어져 나오게 하여 유지한 경우, 가장자리부에 처짐이 발생하고, 이 처짐에 의해 얼라인먼트 마크(PM)의 위치에, 수평 방향(스테이지측을 향해)으로 약 4 ㎛의 위치 어긋남이 발생하는 것이 확인되었다. 게다가, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 처진 경우, 얼라인먼트 마크가 수평 상태에 대해 기울어지게 된다. 경사져 있는 얼라인먼트 마크(PM)를 바로 아래로부터 촬상한 경우, 촬상된 얼라인먼트 마크의 경사 방향에 있어서의 길이가, 수평 상태에서 촬상된 경우에 비해 짧게 촬상된다. 즉, 경사진 분만큼, 촬상되는 얼라인먼트 마크(PM)의 형상이 변형한다. 그 결과, 미리 기억되어 있는 기준 마크와의 형상에 차이가 발생하고, 이것에 의해서도 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 위치에 오차가 발생하게 된다. As a result of the experiment confirmed by the inventor of the present invention, when the edge of the organic EL panel (P) is maintained by protruding 20 mm from the stage as in the case of a liquid crystal display panel of the same size, sagging occurs at the edge. Then, it was confirmed that a displacement of about 4 µm occurred in the horizontal direction (toward the stage side) at the position of the alignment mark PM by this sag. In addition, when the edge portion of the organic EL panel P sags, the alignment mark is inclined with respect to the horizontal state. When the inclined alignment mark PM is imaged from immediately below, the length of the imaged alignment mark in the inclined direction is shorter than that in the case where it is imaged in a horizontal state. That is, the shape of the imaged alignment mark PM is deformed by an inclined portion. As a result, a difference occurs in the shape of the reference mark stored in advance, and this also causes an error in the recognition position of the alignment mark PM.

본원 발명자가, 수평으로 유지한 얼라인먼트 마크(PM)와 수평에 대해 5° 기울어진 얼라인먼트 마크(PM)에서 인식 위치의 오차를 비교하는 실험을 행한 결과, 5° 기울어진 얼라인먼트 마크 쪽이 평균 1 ㎛ 정도 오차가 큰 것이 확인되었다. 한편, 얼라인먼트 마크를 5° 기울여 실험한 것은, 스테이지로부터 가장자리부를 20 ㎜ 비어져 나오게 한 경우에 발생하는 처짐을 복수의 유기 EL 패널(P)에 대해 측정한 결과, 모두 5° 이상의 처짐이 확인되었기 때문이다.The inventor of the present invention conducted an experiment comparing the error of the recognition position in the alignment mark (PM) maintained horizontally and the alignment mark (PM) inclined by 5° with respect to the horizontal, as a result, the average of the alignment mark inclined by 5° was 1 μm. It was confirmed that the accuracy error was large. On the other hand, in the experiment by tilting the alignment mark by 5°, the sag that occurs when the edge of the stage is protruded by 20 mm was measured for a plurality of organic EL panels (P), and as a result, a sag of 5° or more was confirmed. Because.

이러한 점에 대해, 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서는, 전술한 바와 같이 50 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께와 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하의 굽힘 탄성률을 갖는 유기 EL 패널(P)을, 그 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부의 스테이지(42)로부터의 비어져 나옴량이 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하가 되도록 스테이지(42)[배치부(42a)]에 배치함으로써, 유기 EL 패널(P)의 스테이지(42)로부터 비어져 나온 가장자리부에, 처짐이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 이에 의해, 유기 EL 패널(P)의 스테이지(42)로부터의 비어져 나온 부분의 처짐에 기초한 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 오차의 발생을 억제할 수 있다. 즉, 유기 EL 패널(P)의 비어져 나온 부분의 굽힘 탄성률이 2.6 ㎬ 이상이고, 또한 두께가 50 ㎛ 이상이며, 비어져 나옴량이 15 ㎜ 이하이면, 비어져 나온 부분의 처짐을 방지할 수 있다. 한편, 비어져 나온 부분의 굽힘 탄성률이 4.0 ㎬을 초과하거나, 두께가 500 ㎛를 초과하면, 유기 EL 패널(P)의 가요성 등의 특성이나 박형 표시 패널로서의 기본 특성이 저하될 우려가 있다.On the other hand, in the mounting apparatus 1 of the embodiment, as described above, an organic EL panel P having a thickness of 50 µm or more and 500 µm or less and a bending elastic modulus of 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less is provided. The stage of the organic EL panel P is arranged on the stage 42 (placement portion 42a) so that the amount of protrusion from the stage 42 at the edge portion where the component W is mounted is 3 mm or more and 15 mm or less. It is possible to prevent sagging from occurring at the edge portion protruding from (42). Thereby, occurrence of the recognition error of the alignment mark PM based on the sag of the protruding portion from the stage 42 of the organic EL panel P can be suppressed. That is, when the bending elastic modulus of the protruding portion of the organic EL panel P is 2.6 GPa or more, the thickness is 50 µm or more, and the protruding amount is 15 mm or less, sagging of the protruding portion can be prevented. . On the other hand, when the bending elastic modulus of the protruding portion exceeds 4.0 GPa or the thickness exceeds 500 µm, there is a concern that characteristics such as flexibility of the organic EL panel P and basic characteristics as a thin display panel may be deteriorated.

또한, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상할 때에, 카메라가 있는 하측으로부터 조명을 비추는 경우, 얼라인먼트 마크(PM)를 선명하게 촬상할 수 없게 되거나, 전혀 촬상할 수 없게 되거나 한다고 하는 문제가 발생한다. 하측으로부터 조명을 비출 때의 조사 조건(조사 광량, 조사 각도 등)은, 기준이 되는 유기 EL 패널(예컨대, 가장자리부가 플랫한 유기 EL 패널이며, 이하 「기준 패널」이라고 함)을 이용하여, 기준 패널의 얼라인먼트 마크를 양호하게 촬상할 수 있는 조건으로 설정한다. 이러한 조사 조건을 적용한 경우에 있어서도, 실제로 촬상되는 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에는 처짐이나 휘어짐이 있어, 기준 패널의 가장자리부에 대해 기울어지는 등, 상태가 상이하기 때문에, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에서의 조명의 반사 상태가 기준 패널과는 상이한 것이 되어 버린다. 그 결과, 얼라인먼트 마크(PM)를 선명하게 촬상할 수 없게 되거나, 전혀 촬상할 수 없게 되거나 한다고 하는 문제가 발생한다. 본원 발명자의 실험 결과, 얼라인먼트 마크(PM)를 선명하게 촬상할 수 없었던 경우, 인식 위치에 최대 1 ㎛ 정도의 어긋남이 발생하는 것이 확인되었다. In addition, when the alignment mark PM of the organic EL panel P is imaged, when illumination is illuminated from the lower side of the camera, the alignment mark PM cannot be clearly imaged, or it is said that it is impossible to image the alignment mark PM at all. The problem arises. The irradiation conditions (irradiation light amount, irradiation angle, etc.) when illuminating the light from the lower side are a standard using an organic EL panel (e.g., an organic EL panel with a flat edge, hereinafter referred to as a ``reference panel'') as a reference. The alignment mark on the panel is set under conditions that enable satisfactory imaging. Even when such irradiation conditions are applied, there is sagging or warping at the edge portion of the organic EL panel P to be actually imaged, and the state is different, such as inclining with respect to the edge portion of the reference panel, so that the organic EL panel P The reflection state of the light at the edge of) is different from that of the reference panel. As a result, there arises a problem that the alignment mark PM cannot be clearly imaged, or the image cannot be imaged at all. As a result of the experiment of the inventor of the present application, it was confirmed that when the alignment mark PM could not be captured clearly, a shift of about 1 µm at the maximum occurred at the recognition position.

이러한 점에 대해, 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서는, 유기 EL 패널(P)의 스테이지(42)로부터 비어져 나온 가장자리부에 처짐이 발생하는 것을 방지하는 것에 더하여, 얼라인먼트 마크(PM)에 촬상 장치(44a, 44b)와는 반대측인 상방으로부터 광 조사부(44d)에 의해 광을 조사하고, 투과광에 의해 얼라인먼트 마크(PM)를 실루엣 화상으로서 촬상한다. 이에 의해, PI나 PET 등의 수지로 형성되고, 가장자리부에 휘어짐이나 기복이 발생할 우려가 있거나, 유리보다 투과율이 낮은 수지 기판으로 구성된 유기 EL 패널(P)이어도, 얼라인먼트 마크(PM)와 배경과의 명암차를 향상시킬 수 있기 때문에, 얼라인먼트 마크(PM)를 선명하게 촬상하는 것이 가능해진다. 이들에 의해, 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 오차를 저감시킬 수 있기 때문에, 유기 EL 패널(P)에 대한 전자 부품(W)의 실장 정밀도를 향상시키는 것이 가능해진다. In contrast to this, in the mounting apparatus 1 of the embodiment, in addition to preventing sagging from occurring in the edge portion protruding from the stage 42 of the organic EL panel P, the alignment mark PM Light is irradiated by the light irradiation unit 44d from the upper side opposite to the imaging devices 44a and 44b, and the alignment mark PM is imaged as a silhouette image by transmitted light. Accordingly, even if the organic EL panel P is formed of a resin such as PI or PET, warps or undulations may occur at the edge, or is composed of a resin substrate having a lower transmittance than glass, the alignment mark PM and the background Since the difference in contrast can be improved, it becomes possible to clearly image the alignment mark PM. As a result of these, since the recognition error of the alignment mark PM can be reduced, it becomes possible to improve the mounting precision of the electronic component W to the organic EL panel P.

한편, 본원 발명자는 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 처짐이나 휘어짐을 억제하기 위해서, 유기 EL 패널의 가장자리부를 지지하는 부분(지지면)이 평탄하게 가공되고 또한 흡착 구멍을 형성한 지지구를 스테이지에 부착하여, 유기 EL 패널의 가장자리부에 처짐이 발생하지 않도록 유지하고, 이 상태에서 전자 부품의 실장을 시도하였다. 지지구는, 일반적인 OLB 장치의 백업 툴에 이용되고 있는 스테인리스강으로 제작하였다. 또한, 지지구에 있어서의 얼라인먼트 마크의 위치에 대응하는 부분에는, 직경 3 ㎜의 상하로 관통하는 촬상용의 관찰 구멍을 형성하였다.On the other hand, in order to suppress sagging or warping of the edge portion of the organic EL panel P, the inventor of the present application staged a support tool in which a portion (supporting surface) supporting the edge portion of the organic EL panel was processed flat and formed with a suction hole. By attaching to the organic EL panel so as not to cause sagging at the edge of the organic EL panel, and attempting to mount the electronic component in this state. The support tool was made of stainless steel used in backup tools for general OLB devices. In addition, in a portion corresponding to the position of the alignment mark in the support tool, an observation hole for image pickup having a diameter of 3 mm and penetrating vertically was formed.

그러나, 이러한 지지구를 이용해도, 유기 EL 패널의 일부의 품종에서는 ±3 ㎛의 실장 정밀도를 충분히 만족시킬 수 없었다. 즉, 복수 품종의 유기 EL 패널을 이용하여 실장 정밀도를 확인하는 실험을 행한 결과, 실장 정밀도가 ±3 ㎛ 이내로 얻어지는 품종과, 실장 정밀도가 ±3 ㎛를 초과해 버리는 품종이 있는 것이 판명되었다.However, even if such a support tool was used, the mounting precision of ±3 µm could not be sufficiently satisfied with some types of organic EL panels. That is, as a result of carrying out an experiment for confirming the mounting precision using a plurality of types of organic EL panels, it was found that there are varieties whose mounting accuracy is within ±3 µm and those whose mounting accuracy exceeds ±3 µm.

즉, 유기 EL 패널(P)은, 얇고 유연한 수지 기판으로 구성되어 있기 때문에, 큰 흡착력으로 흡착하면 흡착 흔적이 발생해 버린다. 유기 EL 패널(P)의 가장자리부는, 화상의 표시에는 이용되지 않으나, 전자 부품(W)의 단자와 접속되는 미세한 전극(「리드」라고도 칭해짐)이 형성되어 있다. 그 때문에, 이 전극의 부분에 흡착 흔적이 발생하면, 전극에 굴곡 등의 변형이 발생해 버린다. 변형한 전극에는 내부에 응력이 잔류하기 때문에, 전극의 내구성을 저하시키는 요인이 되어 바람직하지 않다. 이러한 점에서, 흡착 구멍의 크기와 그 흡착 구멍에 작용시키는 부압의 크기는, 유기 EL 패널의 흡착 흔적을 발생시키는 일이 없는 범위에서 설정할 필요가 있다. 전술한 실험에 있어서는, 지지구에 직경 0.5 ㎜의 흡착 구멍을 2 ㎜ 간격으로 1열로 형성하고, 이 흡착 구멍에 -40 ㎪의 부압을 작용시켰다. 그러나, 이와 같이 흡착 흔적을 고려한 흡착력을 설정한 경우, 유기 EL 패널의 품종에 따라, 지지구의 지지면에 가장자리부를 따르게 할 수 없는 것이 있다고 판명되었다.That is, since the organic EL panel P is composed of a thin and flexible resin substrate, adsorption traces are generated when adsorbed with a large adsorption force. The edge portion of the organic EL panel P is not used for image display, but a fine electrode (also referred to as "lead") connected to the terminal of the electronic component W is formed. Therefore, when an adsorption trace is generated in the portion of the electrode, deformation such as bending or the like occurs in the electrode. Since stress remains inside the deformed electrode, it is a factor that lowers the durability of the electrode, which is not preferable. From this point of view, the size of the adsorption hole and the size of the negative pressure applied to the adsorption hole need to be set within a range in which no adsorption trace of the organic EL panel is generated. In the above-described experiment, suction holes having a diameter of 0.5 mm were formed in a row at intervals of 2 mm in the support hole, and a negative pressure of -40 kPa was applied to the suction holes. However, when the adsorption force in consideration of the adsorption traces is set in this way, it has been found that depending on the type of organic EL panel, it is not possible to make the edge part of the support surface along the support surface.

즉, 유기 EL 패널의 품종에 따라서는, 그 가장자리부에 휘어짐이나 기복이 발생하는 경우가 있고, 이러한 휘어짐이나 기복이 발생한 유기 EL 패널 중에도, 흡착에 의해 휘어짐이나 기복이 교정되어 지지구의 지지면을 따르는 것과, 휘어짐이나 기복이 교정되지 않는 것이 있었다. 이러한, 휘어짐이나 기복이 교정되지 않는 유기 EL 패널에 있어서, 실장 정밀도가 ±3 ㎛를 초과하는 것이 확인되었다. 그리고, 이러한 휘어짐이나 기복이 교정되지 않는 유기 EL 패널에서는, 카메라와 동일한 측으로부터 조사되는 조명의 반사 상태가 기준 패널과는 상이한 것이 되어, 얼라인먼트 마크를 선명하게 촬상할 수 없는 결과, 얼라인먼트 마크의 인식 정밀도가 저하되는 것이 판명되었다.In other words, depending on the type of organic EL panel, warping or undulations may occur at the edges, and even in organic EL panels in which such warpages or undulations have occurred, the warpage or undulations are corrected by adsorption, and the support surface of the support tool is There were things that followed, and those that were not corrected for warpage or ups and downs. In the organic EL panel in which such warp and undulation are not corrected, it was confirmed that the mounting accuracy exceeded ±3 µm. In addition, in the organic EL panel in which such warp or undulation is not corrected, the reflection state of the light irradiated from the same side as the camera is different from that of the reference panel, and as a result, the alignment mark cannot be clearly imaged, and the alignment mark is recognized. It turned out that the precision was deteriorated.

또한, 지지구를 설치하고, 이 지지구에 촬상용의 관찰 구멍을 형성함으로써, 새로운 문제가 발생하는 것이 판명되었다. 즉, 관찰 구멍을 형성함으로써, 가압착 시에 전자 부품을 통해 압착 헤드를 유기 EL 패널에 접촉시켰을 때에, 그 접촉에 의한 충격에 의해, 유기 EL 패널에 관찰 구멍의 압흔(壓痕)이 발생하는 것이 확인되었다. 이러한 압흔도, 전술한 흡착 흔적과 마찬가지로, 유기 EL 패널의 전극에 변형을 발생시키기 때문에, 실장 품질을 저하시키는 것이 되어, 피하지 않으면 안 된다. 한편, 지지구의 흡착 구멍의 부분에 있어서는, 직경이 0.5 ㎜로 작기 때문에, 압흔의 발생은 보여지지 않았다.Further, it has been found that a new problem arises by providing a support tool and forming an observation hole for imaging in this support tool. That is, by forming the observation hole, when the pressing head is brought into contact with the organic EL panel through the electronic component during press bonding, the impact caused by the contact causes indentation of the observation hole in the organic EL panel. Was confirmed. Similar to the above-described adsorption traces, such indentations also cause deformation in the electrodes of the organic EL panel, which deteriorates the mounting quality and must be avoided. On the other hand, in the portion of the suction hole of the support tool, since the diameter was as small as 0.5 mm, no indentation was observed.

그래서, 지지구를 유리로 형성하여, 관찰 구멍을 형성하지 않고, 지지구를 투과하여 얼라인먼트 마크를 인식하는 것을 시도하였다. 이 결과, 압흔의 발생은 해소할 수 있었으나, 내구성에 문제가 있는 것이 판명되었다. 구체적으로는, 실장의 반복 시험을 실시한 결과, 실장 횟수가 10000회를 초과했을 때부터, 지지구에 이지러짐의 발생이 보여졌다. 그 때문에, 이러한 유리제의 지지구를 이용한 경우, 실장 횟수 10000회 정도를 기준으로, 지지구를 교환하는 것이 필요해진다. 이러한 실장은, 통상, 하나의 전자 부품의 실장에 요하는 시간(택트 타임)이 3초∼5초이기 때문에 연속 가동시킨 경우에는, 8.3시간∼13.9시간에서 10000회에 도달하는 계산이 된다. 그 때문에, 8.3시간∼13.9시간마다, 즉 하루에 2회∼3회의 빈도로 지지구의 교환이 필요해진다. Therefore, an attempt was made to pass through the support tool to recognize an alignment mark without forming an observation hole by forming the support tool from glass. As a result, the occurrence of the indentation could be eliminated, but it was found that there was a problem in durability. Specifically, as a result of carrying out the repeated test of mounting, it was observed that the support tool generated chapped from when the number of mounting exceeded 10000 times. Therefore, in the case of using such a support tool made of glass, it is necessary to replace the support tool based on about 10,000 mounting times. In such mounting, since the time (tact time) required for mounting one electronic component is usually 3 seconds to 5 seconds, when continuously operated, the calculation reaches 10,000 times from 8.3 hours to 13.9 hours. Therefore, it is necessary to change the support tool every 8.3 hours to 13.9 hours, that is, at a frequency of 2 to 3 times a day.

상기한 지지구와 압착 헤드 사이에는, 유기 EL 패널의 전극 부분에 대해 전자 부품의 전극 부분을 균일하게 밀어붙일 필요성이 있기 때문에, 정밀한 평행도가 필요하다. 개개의 지지구는 동일 형상으로 가공되어 있기는 하지만, 개체차를 갖는다. 따라서, 지지구는 교환할 때마다 압착 툴과의 평행도의 조정을 행할 필요가 있다. 이 때문에, 이 조정 동안에는 OLB 장치의 가동을 정지하지 않으면 안 되기 때문에, 생산을 행할 수 없다. 이러한 정지가 하루에 수회 발생하는 것은, 생산성의 현저한 저하로 이어져, 현실적이지 않다. 또한, 스테인리스강으로 형성한 지지구의 관찰 구멍의 상부에 유리제의 덮개를 끼워 넣어, 지지구의 지지면을 외관상 평탄하게 하는 것도 고려된다. 그러나, 덮개가 유리제인 이상, 내구성의 문제를 갖는 데다가, 덮개의 상면과 지지면 사이에 단차가 발생하면, 역시 압흔의 발생이 염려되기 때문에, 현실적이지 않다.Since it is necessary to uniformly push the electrode portion of the electronic component against the electrode portion of the organic EL panel between the above-described support tool and the pressing head, a precise degree of parallelism is required. Although each support tool is processed into the same shape, it has individual differences. Therefore, it is necessary to adjust the degree of parallelism with the crimping tool every time the support tool is replaced. For this reason, since the operation of the OLB device must be stopped during this adjustment, production cannot be performed. The occurrence of such a stoppage several times a day leads to a significant decrease in productivity, which is not practical. Further, it is also considered that a cover made of glass is fitted in the upper portion of the observation hole of the support tool made of stainless steel, so that the support surface of the support tool is apparently flattened. However, as long as the cover is made of glass, it has a problem of durability, and if a step occurs between the upper surface and the support surface of the cover, it is also unrealistic because there is a concern about occurrence of indentation.

실시형태의 실장 장치(1)는, 전술한 바와 같은 지지구를 이용하여 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 처짐을 방지하면서 얼라인먼트 마크의 인식을 행한 경우의 문제, 즉 지지구의 관찰 구멍에 의한 압흔, 지지구의 지지면에 교정되지 않는 휘어짐이나 기복에 의한 얼라인먼트 마크의 인식 정밀도의 저하, 유리제 지지구의 내구성에 기초한 실장 효율의 저하 등을 억제하는 것을 가능하게 한 것이다. 즉, 유기 EL 패널(P)의 스테이지(42)로부터 가장자리부를 비어져 나오게 하고, 비어져 나온 가장자리부에 처짐이 발생하는 것을 방지하는 것에 더하여, 투과광에 의해 얼라인먼트 마크(PM)를 실루엣 화상으로서 촬상하고 있기 때문에, 전술한 바와 같은 지지구에서 기인하는 문제를 회피한 후에, 유기 EL 패널(P)에 대한 전자 부품(W)의 실장 정밀도나 실장 품질을 향상시키는 것이 가능해진다. The mounting apparatus 1 of the embodiment is a problem in the case of recognizing the alignment mark while preventing sagging of the edge portion of the organic EL panel P by using the support tool as described above, that is, the indentation due to the observation hole of the support tool. , It is possible to suppress a decrease in the recognition accuracy of the alignment mark due to warpage or undulations that are not corrected on the support surface of the support tool, and a decrease in mounting efficiency based on the durability of the glass support tool. That is, in addition to making the edge part protrude from the stage 42 of the organic EL panel P and preventing sagging in the protruding edge part, the alignment mark PM is imaged as a silhouette image by transmitted light. Therefore, it becomes possible to improve the mounting precision and mounting quality of the electronic component W to the organic EL panel P after avoiding the problem caused by the above-described support tool.

또한, 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서는, 가압착 시에 사용하는 백업 툴(43a)을 예컨대 스테인리스강으로 형성하고, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 지지하는 지지면을 평탄하게 형성하고 있다. 이 때문에, 가압착 시에 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 압흔이 발생하는 것이 방지된다. 게다가, 스테인리스강이기 때문에, 가압착 헤드(41)에 의한 압박에 대해서도 손상이 발생하기 어렵고, 장기간의 내구성이 우수하며, 양호한 생산성을 유지하는 것이 가능해진다.In addition, in the mounting apparatus 1 of the embodiment, the backup tool 43a used at the time of press bonding is formed of, for example, stainless steel, and a support surface supporting the edge portion of the organic EL panel P is formed flat. have. For this reason, indentation is prevented from occurring in the edge portion of the organic EL panel P during pressure bonding. In addition, since it is stainless steel, damage is less likely to occur even when pressed by the pressing head 41, it is excellent in long-term durability, and good productivity can be maintained.

또한, 기억부(111)에 기억된, 스테이지(42)의 배치부(42a)로부터의 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 비어져 나옴량(G)에 기초하여, 제어 장치(110)가 스테이지 구동부(42b)와 XZ 구동부(82)의 구동을 제어하여, 제1 반송부(80)의 유지체(81)로부터 스테이지(42)의 배치부(42a)에 유기 EL 패널(P)이, 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하의 범위에서 설정된 비어져 나옴량(G)으로 배치되도록 하고 있다. 이에 의해, 유기 EL 패널(P)을 배치부(42a) 상에 설정된 비어져 나옴량(G)으로 확실하게 배치하는 것이 가능해지고, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 처짐이 발생하는 것을 확실하게 방지하여, 안정된 얼라인먼트 마크(PM)의 인식 정밀도를 보다 한층 향상시키는 것이 가능해진다. 이 결과, 유기 EL 패널(P)에 대한 전자 부품(W)의 실장 정밀도를 안정적으로 얻을 수 있고, 전자 부품(W)의 실장 품질을 향상시킬 수 있다. Further, based on the protruding amount G of the edge portion of the organic EL panel P from the arrangement portion 42a of the stage 42 stored in the storage unit 111, the control device 110 By controlling the driving of the driving unit 42b and the XZ driving unit 82, the organic EL panel P is transferred from the holder 81 of the first transfer unit 80 to the placement unit 42a of the stage 42. It is arranged with a protruding amount (G) set in the range of not less than ㎜ and not more than 15 ㎜. Thereby, it becomes possible to reliably arrange the organic EL panel P with the protruding amount G set on the arrangement part 42a, and it is certain that sagging occurs at the edge of the organic EL panel P. This makes it possible to further improve the recognition accuracy of the stable alignment mark PM. As a result, the mounting precision of the electronic component W to the organic EL panel P can be obtained stably, and the mounting quality of the electronic component W can be improved.

한편, 본 발명은 상기한 실시형태에 한정되는 것이 아니다. 예컨대, 표시용 패널로서 유기 EL 패널을 예로 설명하였으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 가요성을 갖는 전자 페이퍼의 구성 부재를 표시용 패널로서 이용하는 것도 가능하다. 요컨대, 50 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께와, 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하의 굽힘 탄성률을 갖고, 가요성을 갖는 표시용 패널이면 적용 가능하다. In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, an organic EL panel has been described as an example as a display panel, but the present invention is not limited thereto. For example, it is also possible to use a flexible electronic paper constituent member as a display panel. In short, it is applicable as long as it has a thickness of 50 µm or more and 500 µm or less, and a flexural modulus of 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less, and has flexibility.

또한, 설정된 비어져 나옴량(G)에 기초하여 스테이지 구동부(42b)와 XZ 구동부(82)를 제어함으로써, 배치부(42a)에 유기 EL 패널(P)을 배치하도록 하였으나, 이것에 한정되는 것은 아니며, 유기 EL 패널(P)의 비어져 나옴량을 검출하고, 설정된 비어져 나옴량(G)이 되도록, 스테이지 구동부(42b)와 제1 반송부(80)의 XZ 구동부(82)를 제어하도록 해도 좋다. 이 경우, 예컨대 스테이지(42), 또는 스테이지(42)에 대한 유기 EL 패널(P)의 전달 위치에, 유지체(81)에 유지된 유기 EL 패널(P)의 단부[전극열(ER)이 형성된 변]를 검출하는 광전 센서나 레이저 센서 등의 검출기를 설치해 두고, 이 검출기의 검출 결과에 기초하여, 배치부(42a)로부터의 가장자리부의 비어져 나옴량이 설정된 비어져 나옴량(G)이 되도록 제어하도록 하면 된다.In addition, by controlling the stage driving unit 42b and the XZ driving unit 82 based on the set protruding amount G, the organic EL panel P is arranged on the arrangement unit 42a, but is limited thereto. No, to detect the protruding amount of the organic EL panel P, and to control the stage driving unit 42b and the XZ driving unit 82 of the first conveying unit 80 so that the protruding amount G is set. You can do it. In this case, for example, the end of the organic EL panel P held by the holder 81 (electrode row ER) at the transfer position of the stage 42 or the organic EL panel P to the stage 42 A detector such as a photoelectric sensor or a laser sensor is installed to detect the formed side], and based on the detection result of this detector, the protrusion amount of the edge portion from the placement portion 42a becomes the set protrusion amount (G). You just have to control it.

기억부(111)에 비어져 나옴량(G)을 기억하는 것을 대신하여, 표시용 패널의 품종에 관한 정보(품종 정보)를 기억하도록 해도 좋다. 이 경우, 표시용 패널(P)의 품종 정보와, 그 품종 정보에 대응하는 비어져 나옴량(G)의 관계를 나타내는 환산 테이블을 미리 실험 등에 의해 취득하여 작성해 두고, 이 환산 테이블을 기억부(111)에 기억시켜 둔다. 그리고, 도시하지 않은 입력 수단에 의해 입력된 품종 정보에 기초하여, 그 품종 정보에 대응하는 비어져 나옴량(G)을 판독하도록 하면 된다.Instead of storing the protruding amount G in the storage unit 111, information on the kind of the display panel (kind information) may be stored. In this case, a conversion table indicating the relationship between the variety information of the display panel P and the protruding amount G corresponding to the variety information is obtained and created in advance by an experiment or the like, and the conversion table is stored in the storage unit ( 111). Then, based on the variety information inputted by an input means (not shown), the protruding amount G corresponding to the variety information may be read.

또한, 위치 인식 장치(44)의 촬상 장치로서, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 동일 시야 내에 동시에 받아들여 촬상하는 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)를 이용하는 경우에 대해 서술하였으나, 위치 인식 장치(44)의 촬상 장치는 이것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)가 각각, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 따로따로 촬상하도록 해도 좋다.In addition, as the image pickup devices of the position recognition device 44, the first and second images are captured by simultaneously receiving the alignment mark PM of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W within the same field of view. 2 Although the case where the imaging devices 44a and 44b are used has been described, the imaging device of the position recognition device 44 is not limited to this. For example, the first and second imaging devices 44a and 44b may separately image the alignment mark PM of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W, respectively.

또한, 2개의 촬상 장치를 더 설치하여, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)에 의해 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 촬상하고, 다른 2개의 촬상 장치에 의해 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상하도록 해도 좋다. 한편 이때, 다른 2개의 촬상 장치를, 하측으로부터 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상하는 것이 아니라, 상측으로부터 촬상하도록 부착해도 좋다. 이 경우에는, 광 조사부(44d)를 스테이지(42)의 배치부(42a)보다 하측의 위치에 배치하고, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)에 하측으로부터 광을 조사하면 된다. 이와 같이, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를, 투과 조명에 의해 상측으로부터 촬상하면, 유기 EL 패널(P)의 상면측에 형성된 얼라인먼트 마크(PM)를 직접 촬상하게 된다. 그 때문에, 하측으로부터 유기 EL 패널(P)의 수지제의 기재를 통해 투과 조명으로 촬상했을 때보다 한층 명암차를 크게 취하는 것이 가능해져, 인식 정밀도의 한층 더한 향상을 도모할 수 있다In addition, two imaging devices are further provided, the alignment mark WM of the electronic component W is imaged by the first and second imaging devices 44a and 44b, and the organic EL panel is carried out by the other two imaging devices. The alignment mark PM of (P) may be imaged. On the other hand, at this time, the other two imaging devices may be attached so that the alignment mark PM of the organic EL panel P may not be imaged from the lower side, but may be imaged from the upper side. In this case, the light irradiation part 44d may be disposed at a position lower than the placement part 42a of the stage 42, and the alignment mark PM of the organic EL panel P may be irradiated with light from the lower side. In this way, when the alignment mark PM of the organic EL panel P is imaged from the upper side by transmission illumination, the alignment mark PM formed on the upper surface side of the organic EL panel P is directly imaged. Therefore, it becomes possible to take a much larger difference in contrast than when imaged with transmission illumination through the resin substrate of the organic EL panel P from the lower side, and further improvement of recognition accuracy can be achieved.

유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 투과 조명에 의해 촬상하는 것으로 하였으나, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)에 대해서도, 투과 조명에 의해 촬상하도록 해도 좋다. 이 경우, 가압착 헤드(41)의 가압 툴(41a)에, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치에 맞춰 도광부를 설치하고, 광 조사부(44d)로부터 조사된 광을 도광부를 통해 얼라인먼트 마크(WM)로 유도하도록 하는 것도 가능하다. 물론, 개별적으로 광 조사부를 설치하거나, 광 조사부를 가압 툴(41a)에 매립하도록 하거나 해도 좋다.Although it is assumed that the alignment mark PM of the organic EL panel P is imaged by transmission illumination, the alignment mark WM of the electronic component W may also be imaged by transmission illumination. In this case, a light guide part is installed in the pressing tool 41a of the pressing head 41 in accordance with the position of the alignment mark WM of the electronic component W, and the light irradiated from the light irradiation part 44d is transmitted through the light guide part. It is also possible to guide it to the alignment mark (WM). Of course, the light irradiation portion may be provided individually, or the light irradiation portion may be embedded in the pressing tool 41a.

또한, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 접속에 이방성 도전 테이프(F)를 이용하였으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 다른 접속 부재, 예컨대 도전성 입자를 함유한 접착제 등을 이용해도 좋다. 접착제를 이용하는 경우, 열경화성이나 광경화성의 접착제를 이용하는 것이 가능하다. In addition, although the anisotropic conductive tape F was used for the connection of the organic EL panel P and the electronic component W, it is not limited to this. Other connecting members, such as an adhesive containing electroconductive particles, may be used. When using an adhesive, it is possible to use a thermosetting or photocurable adhesive.

제1 내지 제3 반송부(80, 90, 100)의 구성은, 전술한 것에 한정되는 것은 아니며, 다른 구성이어도 좋다. 예컨대, 다공질 시트를 이용하는 대신에, 발포 우레탄 고무나 실리콘 고무 등의 연질의 고무나 수지 재료에 복수의 흡착용의 개구를 형성한 것을 이용하도록 해도 좋다. The configurations of the first to third transport units 80, 90, and 100 are not limited to those described above, and other configurations may be used. For example, instead of using a porous sheet, a flexible rubber such as a foamed urethane rubber or a silicone rubber, or a resin material having a plurality of adsorption openings formed therein may be used.

가압착 장치(40)의 스테이지(42)로부터 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 제2 반송부(90)를 이용하여 유기 EL 패널(P)을 반송하는 것으로서 설명하였으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)를 가압착 장치(40)의 스테이지(42)에 근접하는 위치까지 이동할 수 있도록 구성하여, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)의 근접 위치로 이동한 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 대해, 제1 반송부(80)를 이용하여 유기 EL 패널(P)을 반송하도록 해도 좋다. 즉, 제1 반송부(80)로 제2 반송부(90)를 겸하도록 해도 좋다. It has been described as conveying the organic EL panel P from the stage 42 of the pressing device 40 to the stage 51 of the main pressing device 50 by using the second conveying unit 90, but limited to this. It does not become. For example, by configuring the stage 51 of the main pressing device 50 to be moved to a position close to the stage 42 of the pressing device 40, the close position of the stage 42 of the pressing device 40 The organic EL panel P may be conveyed using the first conveying unit 80 with respect to the stage 51 of the main compression device 50 that has been moved to. In other words, the first transport unit 80 may also serve as the second transport unit 90.

본압착 장치(50)는, 가압착 공정과 본압착 공정의 공정 시간의 차를 고려하여, 실장 장치(1)에 복수 대 설치하도록 해도 좋다. 또한, 복수 대의 본압착 장치(50)를 설치하는 대신에, 1대의 본압착 장치(50)에 유기 EL 패널(P)을 복수 매 병렬로 배치 가능한 스테이지(51)를 설치하고, 복수 매 병렬로 배치된 유기 EL 패널(P) 상의 전자 부품(W)을 일괄, 또는 개별적으로 본압착할 수 있는 본압착 헤드(52)를 설치하도록 해도 좋다. 여기서, 일괄해서 본압착하는 경우, 병렬로 배치된 복수의 유기 EL 패널(P)의 전역을 커버할 수 있는 길이의 가압 툴(52a)을 본압착 헤드(52)에 장비한다. 또한, 개별적으로 본압착하는 경우, 하나의 유기 EL 패널(P)에 실장하는 전자 부품(W)을 커버할 수 있는 길이의 가압 툴(52a)을, 유기 EL 패널(P)의 배치 간격에 맞춰 본압착 헤드(52)에 장비한다. 각 가압 툴(52a)은, 개별적으로 가압력을 설정할 수 있도록 구성해 두는 것이 바람직하다. In consideration of the difference in process time between the pressing step and the main pressing step, a plurality of main pressing devices 50 may be provided in the mounting device 1. In addition, instead of installing a plurality of main pressing devices 50, a stage 51 capable of arranging a plurality of organic EL panels P in parallel is provided in one main pressing device 50, and a plurality of main pressing devices 50 are installed in parallel. It is also possible to provide a main compression head 52 capable of main compression bonding the electronic components W on the arranged organic EL panel P collectively or individually. Here, when the main compression bonding is performed collectively, a pressing tool 52a having a length capable of covering the entire area of the plurality of organic EL panels P arranged in parallel is equipped with the main compression bonding head 52. In addition, when performing main compression bonding individually, a pressurizing tool 52a having a length capable of covering the electronic component W mounted on one organic EL panel P is fitted in accordance with the arrangement interval of the organic EL panel P. It is equipped with the main crimping head 52. It is preferable to configure each pressing tool 52a so that the pressing force can be set individually.

전술한 실시형태에서는 이방성 도전 테이프(F)를 전자 부품(W)에 접착하는 구성에 대해 설명하였으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 이방성 도전 테이프(F)는 유기 EL 패널(P), 즉 표시용 패널에 접착하도록 해도 좋다. 이 경우, 간헐 회전 반송 장치(20)의 접착 위치(C)에 이방성 도전 테이프 접착 장치(30)를 설치하는 대신에, 유기 EL 패널(P)의 공급부의 상류측에, 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 접착하는 이방성 도전 테이프 접착 장치를 설치하도록 하면 된다. 예컨대, 도 10에 도시된 바와 같은 실장 장치(201)를 적용해도 좋다. 도 10은 다른 실시형태의 실장 장치(201)의 구성을 도시하고 있다.In the above-described embodiment, the configuration in which the anisotropic conductive tape F is adhered to the electronic component W has been described, but is not limited thereto. The anisotropic conductive tape F may be adhered to the organic EL panel P, that is, a display panel. In this case, instead of installing the anisotropic conductive tape bonding device 30 at the bonding position C of the intermittent rotation conveying device 20, on the upstream side of the supply unit of the organic EL panel P, the organic EL panel P What is necessary is just to provide an anisotropic conductive tape bonding device which adheres the anisotropic conductive tape (F) to. For example, a mounting device 201 as shown in FIG. 10 may be applied. 10 shows a configuration of a mounting device 201 according to another embodiment.

[다른 실시형태에 의한 실장 장치][Mounting device according to another embodiment]

도 10에 도시된 실장 장치(201)는, 이방성 도전 테이프 접착 장치(230), 가압착 장치(240), 본압착 장치(250)를 X 방향으로 나란히 배치하고, 가압착 장치(240)의 Y 방향 후방에 펀칭 장치(210)를 배치하며, 또한 가압착 장치(240)와 펀칭 장치(210) 사이에, 전자 부품(W)을 반송하는 반송 장치(260)를 배치한 구성을 갖고 있다. 각 처리 장치(230, 240, 250) 사이에는, 유기 EL 패널(P)의 반송부(271, 272, 273, 274)를 배치한다. 이 실장 장치(201)는, 유기 EL 패널(P)을 4개씩 공급하여 각 처리 장치에서의 처리를 행하는 것이다. 펀칭 장치(210)는, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)을 펀칭하는 것이며, 전술한 실시형태에서 설명한 펀칭 장치(10)와 동일한 구성을 갖는다.In the mounting device 201 shown in FIG. 10, the anisotropic conductive tape bonding device 230, the pressing device 240, and the main pressing device 250 are arranged side by side in the X direction, and the Y of the pressing device 240 The punching device 210 is disposed in the rear direction, and a conveying device 260 for conveying the electronic component W is disposed between the pressing device 240 and the punching device 210. Between each processing apparatus 230, 240, 250, the conveyance parts 271, 272, 273, 274 of the organic EL panel P are arrange|positioned. This mounting device 201 supplies four organic EL panels P each to perform processing in each processing device. The punching device 210 punches the electronic component W from the carrier tape T, and has the same configuration as the punching device 10 described in the above-described embodiment.

이방성 도전 테이프 접착 장치(230)는, 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 접착한다. 이방성 도전 테이프 접착 장치(230)는, 유기 EL 패널(P)을 2장씩 X 방향으로 나란히 유지하는 2개의 배치부(231, 232)가 X 방향으로 나란히 배치된다. 이들 배치부(231, 232)는, 각각 XYZθ 방향으로 이동 가능하게 설치된다. 또한, 2개의 배치부(231, 232)에 대응하여 이방성 도전 테이프(F)의 접착 유닛(233, 234)이 배치된다. 각 배치부(231, 232)는, 각각 대응하는 접착 유닛(233, 234)에 의한 접착 위치에 배치부(231, 232) 상의 유기 EL 패널(P)을 순차 위치시킨다. 각 접착 유닛(233, 234)은, 접착 위치에 위치하게 된 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 접착한다.The anisotropic conductive tape bonding device 230 adheres the anisotropic conductive tape F to the organic EL panel P. In the anisotropic conductive tape bonding device 230, two arranging portions 231 and 232 that hold the organic EL panels P side by side in the X direction are disposed side by side in the X direction. These mounting portions 231 and 232 are provided so as to be movable in the XYZθ direction, respectively. Further, the adhesive units 233 and 234 of the anisotropic conductive tape F are arranged corresponding to the two mounting portions 231 and 232. Each of the placement units 231 and 232 sequentially positions the organic EL panels P on the placement units 231 and 232 at the bonding positions by the corresponding bonding units 233 and 234, respectively. Each of the bonding units 233 and 234 adheres the anisotropic conductive tape F to the organic EL panel P positioned at the bonding position.

가압착 장치(240)는, 이방성 도전 테이프(F)가 접착된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착한다. 가압착 장치(240)는, 유기 EL 패널(P)을 4장씩 X 방향으로 나란히 유지하는 배치부(241), 배치부(241)에 유지된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착하는 가압착 헤드(242), 가압착 헤드(242)에 의해 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착할 때에, 유기 EL 패널(P)을 하측으로부터 지지하는 도시하지 않은 백업 툴을 구비한다. 배치부(241)는, XYZθ 방향으로 이동 가능하게 설치되고, 배치부(241) 상의 4장의 유기 EL 패널(P)을 가압착 헤드(242)에 의한 가압착 위치에 순차 위치시킨다. 가압착 헤드(242)는, 가압착 위치에 위치하게 된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 순차 가압착한다. 한편, 가압착 장치(240)는, 전술한 실시형태에서 설명한 가압착 장치(40)와 동일한 위치 인식 장치를 구비하는 것은 물론이다.The press bonding device 240 presses the electronic component W to the organic EL panel P to which the anisotropic conductive tape F is adhered. The press-bonding device 240 attaches the electronic component W to the arrangement part 241 which holds the organic EL panel P four by four in the X direction, and the organic EL panel P held by the arrangement part 241. When the electronic component W is press-attached to the organic EL panel P by the press-bonding head 242 and the press-bonding head 242, the organic EL panel P is not shown to be supported from the lower side. Equipped with backup tools. The placement unit 241 is provided so as to be movable in the XYZθ direction, and the four organic EL panels P on the placement unit 241 are sequentially positioned at the pressing position by the pressing head 242. The press bonding head 242 sequentially presses the electronic components W to the organic EL panel P positioned at the press bonding position. On the other hand, it goes without saying that the pressing device 240 includes the same position recognition device as the pressing device 40 described in the above-described embodiment.

여기서, 가압착 헤드(242)에는, 반송 장치(260)에 의해, 펀칭 장치(210)에 의해 펀칭된 전자 부품(W)이 순차 공급된다. 즉, 반송 장치(260)는, XYZθ 구동부(261)에 의해 XYZθ 방향으로 이동 가능하게 되고, 전자 부품(W)을 하측으로부터 흡착 유지하는 받침부(262)를 구비하며, 펀칭 장치(210)로부터 전자 부품(W)을 수취하고, 가압착 헤드(242)에 전달한다. Here, the electronic components W punched by the punching device 210 are sequentially supplied to the press bonding head 242 by the conveying device 260. That is, the conveyance device 260 is movable in the XYZθ direction by the XYZθ drive unit 261, and includes a support part 262 for adsorbing and holding the electronic component W from the lower side, and from the punching device 210 The electronic component W is received and delivered to the pressing head 242.

본압착 장치(250)는, 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)을 본압착한다. 본압착 장치(250)는, 유기 EL 패널(P)을 1장씩 개별적으로 유지하는 4개의 배치부(251, 252, 253, 254)를 X 방향으로 병설한다. 또한, 4개의 배치부(251, 252, 253, 254)에 대응하여 4개의 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)가 설치된다. 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)는, 가압력을 개별적으로 조정 가능하게 설치되고, 일괄해서 승강 이동 가능하게 설치된다. 개개의 배치부(251, 252, 253, 254)는, XYZθ 방향으로 이동 가능하게 되고, 대응하는 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)에 대해 유기 EL 패널(P)을 위치 결정 가능하게 되어 있다. 4개의 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)는, 4개의 배치부(251, 252, 253, 254)에 의해 위치하게 된 4개의 유기 EL 패널(P)에 대해 일괄해서 본압착을 행한다. The main compression bonding apparatus 250 main compression bonding the electronic component W pressed onto the organic EL panel P. The main compression bonding apparatus 250 is provided with four arranging portions 251, 252, 253, and 254 that individually hold the organic EL panels P one by one in the X direction. In addition, four main pressing heads 255, 256, 257, 258 are provided corresponding to the four mounting portions 251, 252, 253, and 254. The main crimping heads 255, 256, 257, 258 are installed so that the pressing force can be individually adjusted, and are installed so as to be able to move up and down in a collective manner. The individual mounting portions 251, 252, 253, 254 are movable in the XYZθ direction, and the organic EL panel P can be positioned with respect to the corresponding main compression heads 255, 256, 257, 258. Has been. The four main compression heads 255, 256, 257, 258 collectively perform main compression on the four organic EL panels P positioned by the four placement units 251, 252, 253, 254. .

반송부(271, 272, 273, 274)는, 각 처리 장치(230, 240, 250)와의 사이에서 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 즉, 반송부(271, 272, 273, 274)는, 유기 EL 패널(P)을 상측으로부터 흡착 유지하는 4개의 유지부를 X 방향으로 병설하여 이루어진다. 그리고, 반송부(271)는, 도시하지 않은 공급부로부터 이방성 도전 테이프 접착 장치(230)에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 반송부(272)는, 이방성 도전 테이프 접착 장치(230)로부터 가압착 장치(240)에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 반송부(273)는, 가압착 장치(240)로부터 본압착 장치(250)에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 반송부(274)는, 본압착 장치(250)로부터 도시하지 않은 반출부에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 반출한다. 이러한 구성의 실장 장치(201)에 대해서도, 본 발명은 적용 가능하다.The conveyance units 271, 272, 273, and 274 simultaneously deliver four organic EL panels P between the processing apparatuses 230, 240 and 250. That is, the conveyance parts 271, 272, 273, and 274 are formed by arranging four holding portions for adsorbing and holding the organic EL panel P from the upper side in the X direction. And the conveyance part 271 simultaneously transfers four organic EL panels P to the anisotropic conductive tape bonding apparatus 230 from the supply part (not shown). The conveyance unit 272 simultaneously transfers four organic EL panels P from the anisotropic conductive tape bonding device 230 to the pressure bonding device 240. The conveyance unit 273 simultaneously transmits four organic EL panels P from the pressing device 240 to the main pressing device 250. The conveyance part 274 carries out four organic EL panels P simultaneously from the main compression apparatus 250 to a carrying out part (not shown). The present invention is applicable also to the mounting device 201 having such a configuration.

[실시예][Example]

다음으로, 본 발명의 실시예와 그 평가 결과에 대해 서술한다.Next, examples of the present invention and evaluation results thereof will be described.

(실시예 1)(Example 1)

전술한 실시형태의 실장 장치(1)를 이용하여, 이하의 조건으로 TEG(Test Element Group)에 의한 실장 정밀도를 확인하는 실험을 행하였다. 여기서, TEG란 테스트용으로 제작한 평가용 부재를 말하며, 여기서는 유기 EL 패널(P)의 평가용 부재를 제작하였다. 구체적으로는, 5인치 상당(120 ㎜×65 ㎜)의 크기이고 두께가 0.03 ㎜(30 ㎛)인 PI 필름에, 마찬가지로 5인치 상당의 크기이고 두께가 0.20 ㎜(200 ㎛)인 PET 필름을 광학용의 자외선 경화성 수지를 이용하여 접합시켜 유기 EL 패널의 TEG를 제작하였다. PET의 굽힘 탄성률은 3.07 ㎬이고, PI의 굽힘 탄성률은 3.5 ㎬이다. 양자의 두께의 비율로부터, 유기 EL 패널(P)의 굽힘 탄성률은, 약 3.1 ㎬이라고 추정하였다. 전자 부품(W)으로서는, 폭 36 ㎜, 길이가 25 ㎜인 COF를 이용하였다. 이하, 유기 EL 패널(P)의 TEG를, 간단히 유기 EL 패널(P)이라고 칭한다. 목표 정밀도는, 스마트폰용 디스플레이 패널에 이용되는 유기 EL 패널에 요구되는 일반적인 정밀도인, ±3 ㎛로 하였다.Using the mounting apparatus 1 of the above-described embodiment, an experiment was conducted to confirm the mounting accuracy by TEG (Test Element Group) under the following conditions. Here, TEG refers to a member for evaluation produced for testing, and here, a member for evaluation of the organic EL panel P was prepared. Specifically, a PI film having a size of 5 inches (120 mm×65 mm) and a thickness of 0.03 mm (30 µm) and a PET film having a size equivalent to 5 inches and a thickness of 0.20 mm (200 µm) is optically The TEG of an organic EL panel was produced by bonding using an ultraviolet-curable resin for use. The flexural modulus of PET was 3.07 GPa, and the flexural modulus of PI was 3.5 GPa. From the ratio of the thicknesses of both, the bending elastic modulus of the organic EL panel P was estimated to be about 3.1 GPa. As the electronic component W, a COF having a width of 36 mm and a length of 25 mm was used. Hereinafter, the TEG of the organic EL panel P is simply referred to as the organic EL panel P. The target accuracy was set to ±3 µm, which is a general accuracy required for an organic EL panel used in a display panel for a smartphone.

<실험 조건> <Experimental conditions>

가압착 헤드의 히터: OFFHeater of pressurized head: OFF

택트 타임: 10초[단, 가압 툴(41a) 및 배치부(42a)의 이동 속도는, 택트 5초로 실장하는 경우와 동일하게 하였다.]Tact time: 10 seconds (however, the moving speed of the pressing tool 41a and the placement unit 42a was the same as in the case of mounting in 5 seconds of tact.)

반복 시간(횟수): 2.8시간(1000회)Repetition time (number of times): 2.8 hours (1000 times)

실험 시에는, 먼저 각각이 대기 위치에 있는 상태에서, 유기 EL 패널(P)을 배치부(42a)에 배치하고, 전자 부품(W)을 가압 툴(41a)에 유지시킨다. 대기 위치는, 배치부(42a)에 대해서는 제1 반송부(80)로부터 유기 EL 패널(P)을 수취하는 공급 위치이고, 가압 툴(41a)에 대해서는 제2 전달 장치(70)로부터 전자 부품(W)을 수취하는 위치이다. 이 상태로부터, 가압착에 앞서 마크 인식 위치에 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)을 위치시킨다. 이때, 가압 헤드(41a)는, θ=+5°의 수평 방향으로 회전시킨 상태로 위치시킨다. 이것은, 회전 어긋남의 보정 정밀도를 확인하기 위함이다. 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 비어져 나옴량(G)은 4 ㎜로 설정하였다.At the time of the experiment, first, with each of them in the standby position, the organic EL panel P is placed on the placement portion 42a, and the electronic component W is held in the pressing tool 41a. The standby position is a supply position for receiving the organic EL panel P from the first transfer unit 80 for the placement unit 42a, and the electronic component ( It is the location that receives W). From this state, the organic EL panel P and the electronic component W are positioned at the mark recognition position prior to pressing. At this time, the pressure head 41a is positioned in a state rotated in the horizontal direction of θ=+5°. This is to confirm the correction accuracy of the rotational deviation. The protruding amount G of the edge portion of the organic EL panel P was set to 4 mm.

이 상태에서, 제1 및 제2 촬상 장치(44a, 44b)를 이용하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크의 위치를 인식하고, 이 인식 결과에 기초하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 맞춤을 행한다. 한편, 이 위치 맞춤은, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 대해 전자 부품(W)의 가장자리부를 중첩시키는 것이 아니라, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부와 전자 부품(W)의 가장자리부가 약간의 거리를 사이에 두고 대향하는 상태에서 행한다. 구체적으로는, 얼라인먼트 마크(PM, WM)끼리가 3 ㎜의 간격을 사이에 두도록 하여 위치 맞춤을 행한다. 얼라인먼트 마크(PM, WM)로부터 가장자리까지의 거리는, 각각 대략 0.6 ㎜∼1.2 ㎜ 정도이기 때문에, 가장자리부끼리는 0.6 ㎜∼1.8 ㎜의 간격으로 배치되게 된다. In this state, the positions of the alignment marks of the organic EL panel P and the electronic component W are recognized using the first and second imaging devices 44a and 44b, and the organic EL panel ( P) and the electronic component W are aligned. On the other hand, this alignment does not overlap the edge portion of the electronic component W with respect to the edge portion of the organic EL panel P, but the edge portion of the organic EL panel P and the edge portion of the electronic component W slightly It is carried out in the state of facing each other with the distance between them. Specifically, alignment is performed so that the alignment marks PM and WM have an interval of 3 mm between them. Since the distance from the alignment marks PM and WM to the edge is approximately 0.6 mm to 1.2 mm, respectively, the edge portions are arranged at intervals of 0.6 mm to 1.8 mm.

위치 맞춤이 완료되면, 제1, 제2 촬상 장치(44a, 44b)를 이용하여, 하측으로부터 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 동일 시야 내에 넣어 동시에 촬상하고, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W) 사이의 상대 위치 어긋남을 인식한다. 그리고, 이 인식 결과로부터 구한 상대 위치 어긋남을, 실장 정밀도로서 기록하였다. 한편, 위치 맞춤을, 얼라인먼트 마크(PM, WM)끼리가 3 ㎜의 간격을 사이에 두도록 하여 행하고 있기 때문에, 이상적인 위치 결정 상태에서 얼라인먼트 마크(PM, WM)끼리는 Y축 방향으로 3 ㎜ 어긋난 상태가 된다.When the alignment is complete, the alignment mark PM of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W are the same from the lower side using the first and second imaging devices 44a and 44b. The image is captured at the same time by putting it in the field of view, and the relative positional shift between the organic EL panel P and the electronic component W is recognized. And the relative positional deviation calculated|required from this recognition result was recorded as mounting precision. On the other hand, since the alignment marks (PM, WM) are spaced 3 mm apart, the alignment marks (PM, WM) are shifted by 3 mm in the Y-axis direction in the ideal positioning state. do.

그 결과, X축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 0.7 ㎛, 최소값은 -0.4 ㎛였다. 또한, Y축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 0.5 ㎛, 최소값은 -0.9 ㎛였다. 모두, 목표 정밀도인 ±3 ㎛ 이내였다. As a result, the maximum value of the positional shift in the X-axis direction was 0.7 µm, and the minimum value was -0.4 µm. In addition, the maximum value of the positional shift in the Y-axis direction was 0.5 µm, and the minimum value was -0.9 µm. All were within ±3 µm, which is the target accuracy.

(실시예 2)(Example 2)

실시예 2에서는, 비어져 나옴량(G)을 15 ㎜로 설정한 것 이외에는, 실시예 1과 동일 조건으로 실험을 행하였다. 그 결과, X축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 1.6 ㎛, 최소값은 -1.1 ㎛였다. 또한, Y축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 0.9 ㎛, 최소값은 -2.3 ㎛였다. 모두, 목표 정밀도인 ±3 ㎛ 이내였다. In Example 2, an experiment was conducted under the same conditions as in Example 1, except that the protruding amount G was set to 15 mm. As a result, the maximum value of the positional shift in the X-axis direction was 1.6 µm, and the minimum value was -1.1 µm. In addition, the maximum value of the positional shift in the Y-axis direction was 0.9 µm, and the minimum value was -2.3 µm. All were within ±3 µm, which is the target accuracy.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

비교예 1에서는, 비어져 나옴량(G)을 20 ㎜로 설정한 것 이외에는, 실시예 1과 동일 조건으로 실험을 행하였다. 그 결과, X축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값(플러스 방향의 위치 어긋남의 최대값)은 2.7 ㎛, 최소값(마이너스 방향의 위치 어긋남의 최대값)은 -2.0 ㎛였다. 또한, Y축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 1.5 ㎛, 최소값은 -5.8 ㎛였다. X축 방향의 위치 어긋남은 목표 정밀도인 ±3 ㎛ 이내였으나, Y축 방향의 위치 어긋남은 목표 정밀도인 ±3 ㎛의 범위에서 크게 벗어나는 결과가 되었다.In Comparative Example 1, an experiment was conducted under the same conditions as in Example 1, except that the protruding amount G was set to 20 mm. As a result, the maximum value (maximum value of the position shift in the plus direction) in the X-axis direction was 2.7 µm, and the minimum value (the maximum value of the position shift in the minus direction) was -2.0 µm. In addition, the maximum value of the positional shift in the Y-axis direction was 1.5 µm, and the minimum value was -5.8 µm. The positional deviation in the X-axis direction was within ±3 µm, which is the target accuracy, but the positional deviation in the Y-axis direction was a result that greatly deviated from the range of ±3 µm, which is the target accuracy.

전술한 실시예 1의 측정 결과를 표 1 및 도 11에 나타낸다. 또한, 비교예 1의 측정 결과를 표 2 및 도 12에 나타낸다. 표 1 및 표 2는, 반복 시간 동안에 취득한 1000회분의 데이터에 있어서, 1회째로부터 10회째의 데이터의 평균값 (1)과, 그 후 101회째로부터 110회째의 데이터의 평균값 (2), 이후 동일하게 하여 100회마다 10회분의 데이터의 평균값 (3)∼(10)을, 각각 「상대 위치 어긋남 인식 결과」로서 나타낸 것이다. 표 1에 있어서의 「(1)의 측정 결과와의 차」는, 100회마다의 데이터의 평균값 (2)∼(10)으로부터 평균값 (1)을 뺀 값이다. 도 11 및 도 12는, 「(1)의 측정 결과와의 차」의 변동을 나타내고 있다. 표 1 및 도 11과 표 2 및 도 12의 비교로부터 명백한 바와 같이, 실시예 1은 비교예 1에 비해 실장 정밀도의 변동이 대폭 억제되어 있는 것을 알 수 있다. 따라서, 가요성을 갖는 표시용 패널에 대한 가요성을 갖는 전자 부품의 실장 정밀도를 장기간에 걸쳐 유지할 수 있는 것을 알 수 있다.The measurement results of Example 1 described above are shown in Table 1 and FIG. 11. In addition, the measurement results of Comparative Example 1 are shown in Table 2 and Fig. 12. Tables 1 and 2 show the average value (1) of the data from the first to the tenth data, and the average value (2) of the data from the 101st to the 110th, in the data for 1000 times acquired during the repetition time. Thus, the average values (3) to (10) of the data for 10 times every 100 times are shown as "relative position shift recognition results", respectively. The "difference from the measurement result of (1)" in Table 1 is a value obtained by subtracting the average value (1) from the average values (2) to (10) of the data every 100 times. 11 and 12 show variations in "difference from the measurement result of (1)". As is evident from the comparison of Tables 1 and 11 with Tables 2 and 12, it can be seen that the variation in mounting accuracy in Example 1 is significantly suppressed compared to Comparative Example 1. Therefore, it can be seen that the mounting precision of the flexible electronic component with respect to the flexible display panel can be maintained over a long period of time.

Figure pat00001
Figure pat00001

Figure pat00002
Figure pat00002

(실시예 3, 4)(Examples 3 and 4)

실시예 3, 4로서, 전술한 실시형태의 실장 장치(1)를 이용하여, 다른 TEG를 제작하여 실장 정밀도를 확인하는 실험을 행하였다. 유기 EL 패널(P)로서 표시부에 광학 필름이 접착된 것을 상정하고, 표시부에 대응하는 개소에 PEN 필름을 접합시킨 TEG를 제작하였다. 보다 구체적으로는, 실시예 1, 2에서 이용한 TEG에, 114 ㎜×65 ㎜의 크기이고 두께가 0.15 ㎜(125 ㎛)인 PEN 필름을 광학용의 자외선 경화성 수지를 이용하여 접합시켜 새로운 TEG를 제작하였다. 이 PEN 필름은, 실시예 1, 2에서 이용한 TEG에 대해 전자 부품(W)을 실장하는 가장자리부와는 반대측의 단부가 일치하도록 하고, 전자 부품(W)을 실장하는 가장자리부측의 단부와 PEN 필름의 단부 사이에 6 ㎜의 간극이 생기도록 접합시켰다. PEN의 굽힘 탄성률은 2.2 ㎬이고, PI의 굽힘 탄성률은 3.5 ㎬, PET의 굽힘 탄성률은 3.07 ㎬이다. 삼자의 두께의 비율로부터, 유기 EL 패널(P)의 굽힘 탄성률은, 약 2.8 ㎬이라고 추정하였다. 전자 부품(W)으로서는, 실시예 1, 2와 마찬가지로, 폭 36 ㎜, 길이가 25 ㎜인 COF를 이용하였다.As Examples 3 and 4, an experiment was conducted to confirm the mounting accuracy by fabricating another TEG using the mounting apparatus 1 of the above-described embodiment. As the organic EL panel P, it was assumed that an optical film was adhered to the display portion, and a TEG in which a PEN film was bonded to a location corresponding to the display portion was produced. More specifically, to the TEG used in Examples 1 and 2, a new TEG was prepared by bonding a PEN film having a size of 114 ㎜×65 ㎜ and a thickness of 0.15 ㎜ (125 ㎛) using an optical ultraviolet curable resin. I did. In this PEN film, the end of the side opposite to the edge on which the electronic component (W) is mounted is aligned with the TEG used in Examples 1 and 2, and the end of the edge on which the electronic component (W) is mounted and the PEN film It was joined so that a gap of 6 mm was created between the ends of the. The flexural modulus of PEN is 2.2 GPa, the flexural modulus of PI is 3.5 GPa, and the flexural modulus of PET is 3.07 GPa. From the ratio of the thickness of the three characters, the bending elastic modulus of the organic EL panel P was estimated to be about 2.8 GPa. As the electronic component W, as in Examples 1 and 2, a COF having a width of 36 mm and a length of 25 mm was used.

실시예 3에서는, 실시예 1과 동일 조건으로 실험을 행하였다. 그 결과, X축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 0.9 ㎛, 최소값은 -0.3 ㎛였다. 또한, Y축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 1.0 ㎛, 최소값은 -0.7 ㎛였다. 실시예 1에는 뒤떨어지지만, 모두 목표 정밀도인 ±3 ㎛ 이내였다. 실시예 3에서는, 비어져 나옴량(G)이 4 ㎜이기 때문에, 유기 EL 패널(P)에 있어서 스테이지(42)로부터 비어져 나와 있는 부분은 PEN 필름이 존재하지 않는 가장자리부뿐이기 때문에, 실시예 1과 대략 동일한 결과가 된 것으로 추측한다.In Example 3, an experiment was conducted under the same conditions as in Example 1. As a result, the maximum value of the positional shift in the X-axis direction was 0.9 µm, and the minimum value was -0.3 µm. In addition, the maximum value of the positional shift in the Y-axis direction was 1.0 µm, and the minimum value was -0.7 µm. Although inferior to Example 1, all were within ±3 µm, which is the target accuracy. In Example 3, since the protruding amount G was 4 mm, the portion protruding from the stage 42 in the organic EL panel P was only the edge portion where the PEN film did not exist. It is assumed that the result was roughly the same as in Example 1.

실시예 4에서는, 비어져 나옴량(G)을 12 ㎜로 설정한 것 이외에는, 실시예 1과 동일 조건으로 실험을 행하였다. 비어져 나옴량(G)을 12 ㎜로 함으로써, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 PEN 필름이 접합된 부분이 6 ㎜ 비어져 나오게 된다. 그 결과, X축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 1.9 ㎛, 최소값은 -1.5 ㎛였다. 또한, Y 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 2.6 ㎛, 최소값은 -1.6 ㎛였다. 모두, 목표 정밀도인 ±3 ㎛ 이내였다.In Example 4, an experiment was conducted under the same conditions as in Example 1, except that the protruding amount G was set to 12 mm. By setting the protruding amount G to 12 mm, the portion in the organic EL panel P to which the PEN film is bonded protrudes by 6 mm. As a result, the maximum value of the positional shift in the X-axis direction was 1.9 µm, and the minimum value was -1.5 µm. In addition, the maximum value of the positional shift in the Y direction was 2.6 µm, and the minimum value was -1.6 µm. All were within ±3 µm, which is the target accuracy.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

비교예 2에서는, 비어져 나옴량(G)을 20 ㎜로 설정한 것 이외에는, 실시예 1과 동일 조건으로 실험을 행하였다. 그 결과, X축 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 2.8 ㎛, 최소값은 -2.3 ㎛였다. 또한, Y 방향에 있어서의 위치 어긋남의 최대값은 8.2 ㎛, 최소값은 -0.6 ㎛였다. X축 방향의 위치 어긋남은 목표 정밀도인 ±3 ㎛ 이내였으나, Y축 방향의 위치 어긋남은 목표 정밀도 ±3 ㎛의 범위에서 크게 벗어나는 결과가 되었다.In Comparative Example 2, an experiment was conducted under the same conditions as in Example 1, except that the protruding amount G was set to 20 mm. As a result, the maximum value of the positional shift in the X-axis direction was 2.8 µm, and the minimum value was -2.3 µm. In addition, the maximum value of the positional shift in the Y direction was 8.2 µm, and the minimum value was -0.6 µm. The positional deviation in the X-axis direction was within ±3 µm, which is the target accuracy, but the positional deviation in the Y-axis direction was a result that greatly deviated from the range of the target accuracy ±3 µm.

이들 결과로부터, 스테이지(42)의 배치부(42a)로부터의 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 비어져 나옴량(G)이 짧을수록, 실장 정밀도를 향상시킬 수 있는 것을 알 수 있다. 그리고, 비어져 나옴량을 15 ㎜ 이하로 함으로써, 실장 정밀도를 ±3 ㎛ 이내로 할 수 있는 것이 확인되었다.From these results, it can be seen that the shorter the protruding amount G of the edge portion of the organic EL panel P from the arrangement portion 42a of the stage 42, the better the mounting accuracy can be. And it was confirmed that the mounting precision can be made within ±3 µm by setting the protruding amount to 15 mm or less.

한편, 본 발명의 몇 가지 실시형태를 설명하였으나, 이들 실시형태는 예로서 제시한 것이고, 발명의 범위를 한정하는 것은 의도하고 있지 않다. 이들 신규의 실시형태는, 그 외의 여러 가지 형태로 실시할 수 있는 것이고, 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서, 여러 가지 생략, 치환, 변경을 행할 수 있다. 이들 실시형태나 그 변형은, 발명의 범위나 요지에 포함되고, 청구범위에 기재된 발명과 그 균등의 범위에 포함된다.On the other hand, although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and summary of the invention, and are included in the invention described in the claims and their equivalents.

1: 실장 장치 10(10A, 10B): 펀칭 장치
12: 금형 장치 20: 간헐 회전 반송 장치
21: 아암부 24: 유지 헤드
30: 이방성 도전 테이프 접착 장치(접합 부재 접착 장치)
32: 접착 헤드 40: 가압착 장치
41: 가압착 헤드 42: 스테이지
42a: 배치부 42b: 스테이지 구동부
43: 백업 유닛 43a: 백업 툴
44: 위치 인식 장치 44a: 제1 촬상 장치
44b: 제2 촬상 장치 44c: 화상 처리 장치
44d: 광 조사부 50: 본압착 장치
51: 스테이지 52: 본압착 헤드
53: 백업부 60: 제1 전달 장치
61: 받침부 70: 제2 전달 장치
71: 받침부 80: 제1 반송부
81: 유지체 81a: 전극면 흡착 블록
81b: 표시 영역 흡착부 90: 제2 반송부
91: 유지체 100: 제3 반송부
101: 유지체 110: 제어 장치
111: 기억부 F: 이방성 도전 테이프
P: 유기 EL 패널 W: 전자 부품
1: mounting device 10 (10A, 10B): punching device
12: mold device 20: intermittent rotation conveying device
21: arm part 24: holding head
30: Anisotropic conductive tape bonding device (bonding member bonding device)
32: adhesive head 40: pressure bonding device
41: pressure bonding head 42: stage
42a: placement unit 42b: stage driving unit
43: backup unit 43a: backup tool
44: position recognition device 44a: first imaging device
44b: second imaging device 44c: image processing device
44d: light irradiation unit 50: main compression device
51: stage 52: main crimping head
53: backup unit 60: first delivery device
61: support portion 70: second delivery device
71: support unit 80: first transfer unit
81: holding member 81a: electrode surface adsorption block
81b: display area adsorption unit 90: second conveyance unit
91: holding body 100: third conveying unit
101: holding body 110: control device
111: memory unit F: anisotropic conductive tape
P: organic EL panel W: electronic component

Claims (1)

가요성을 갖는 표시용 패널의 가장자리부에 배열된 복수의 전극에, 가요성을 갖는 전자 부품에 있어서의, 상기 복수의 전극에 대응하여 배열된 복수의 단자를, 접합 부재를 통해 접속함으로써, 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 실장하는 전자 부품의 실장 장치에 있어서,
상기 가장자리부가 3 ㎜ 이상 15 ㎜ 이하의 범위에서 비어져 나오도록, 상기 표시용 패널이 배치되는, 수평 방향으로 이동 가능한 스테이지와,
상기 스테이지에 배치된 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부를 하측으로부터 지지하는 백업 유닛과,
상기 전자 부품을 상측으로부터 유지하고, 상기 백업 유닛에 의해 지지된 상기 가장자리부의 상면에 상기 전자 부품을 열압착하는, 수평 방향 및 수직 방향으로 이동 가능한 열압착 헤드와,
상기 스테이지로부터 비어져 나온 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부가 상기 백업 유닛에 의해 하측으로부터 지지되기 전의 상태에서, 상기 가장자리부에 형성된 얼라인먼트 마크와 상기 전자 부품에 형성된 얼라인먼트 마크를 촬상하는 촬상 장치와, 상기 표시용 패널에 대해 상기 촬상 장치와는 반대측으로부터 광을 조사하는 광 조사부를 구비하고, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치 관계를 인식하는 위치 인식 장치와,
상기 위치 인식 장치에 의해 인식된 상기 위치 관계에 기초하여, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치를 맞추도록, 상기 스테이지와 상기 열압착 헤드의 상대 위치를 조정하고, 상기 열압착 헤드에 의해 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 열압착시키도록, 상기 스테이지 및 상기 열압착 헤드를 제어하는 제어 장치
를 구비하며,
상기 표시용 패널의 상기 스테이지로부터 비어져 나온 부분의 굽힘 탄성률이 2.6 ㎬ 이상 4.0 ㎬ 이하인 것인 전자 부품의 실장 장치.
By connecting a plurality of electrodes arranged at the edge of the flexible display panel to a plurality of terminals arranged corresponding to the plurality of electrodes in a flexible electronic component through a bonding member, the In the electronic component mounting apparatus for mounting the electronic component on the display panel,
A stage movable in a horizontal direction in which the display panel is disposed so that the edge portion protrudes in a range of 3 mm or more and 15 mm or less;
A backup unit supporting the edge portion of the display panel disposed on the stage from a lower side;
A thermocompression head movable in horizontal and vertical directions for holding the electronic component from above and thermocompressing the electronic component on an upper surface of the edge portion supported by the backup unit,
An imaging device for imaging an alignment mark formed on the edge portion and an alignment mark formed on the electronic component in a state before the edge portion of the display panel protruding from the stage is supported from the lower side by the backup unit, and the A position recognition device comprising a light irradiation unit for irradiating light to a display panel from a side opposite to the imaging device, and for recognizing a positional relationship between the display panel and the electronic component;
Based on the positional relationship recognized by the position recognition device, the relative position of the stage and the thermocompression head is adjusted so as to align the position of the display panel and the electronic component, and the thermocompression head adjusts the Control device for controlling the stage and the thermocompression head to thermocompress the electronic component to the display panel
And,
An electronic component mounting apparatus wherein a bending elastic modulus of a portion of the display panel protruding from the stage is 2.6 GPa or more and 4.0 GPa or less.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6998508B2 (en) * 2017-11-07 2022-01-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Crimping device and crimping method
JP7362563B2 (en) 2019-09-25 2023-10-17 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting equipment
CN112566485B (en) * 2019-09-25 2022-05-13 芝浦机械电子装置株式会社 Mounting device for electronic component
KR102302902B1 (en) * 2020-01-30 2021-09-17 주식회사 제이스텍 Alignment process improvement structure of the facility which pattern-processes the display side with laser
JP7451259B2 (en) * 2020-03-26 2024-03-18 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting equipment
JP7450429B2 (en) * 2020-03-26 2024-03-15 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting equipment
CN113490406B (en) * 2021-07-07 2022-09-16 广州市爱浦电子科技有限公司 Automatic production method of micro-power module power supply composition structure
CN114660839B (en) * 2022-01-14 2024-02-09 广东江粉高科技产业园有限公司 Liquid crystal display blind hole alignment device

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006091583A (en) * 2004-09-24 2006-04-06 Toshiba Corp Display device
JP2006135082A (en) 2004-11-05 2006-05-25 Shibaura Mechatronics Corp Electronic component mounting apparatus and method therefor
KR100702286B1 (en) * 2000-01-14 2007-03-30 시바우라 메카트로닉스 가부시키가이샤 Part mounter
WO2009025016A1 (en) * 2007-08-17 2009-02-26 Fujitsu Limited Component mounting apparatus and method
WO2009093445A1 (en) * 2008-01-25 2009-07-30 Panasonic Corporation Inspection device and inspection method
JP2009212254A (en) * 2008-03-04 2009-09-17 Toray Eng Co Ltd Chip mounting method and chip mounting apparatus
JP2012004143A (en) * 2010-06-14 2012-01-05 Panasonic Corp Mounting device and mounting method for electronic component
KR20140052420A (en) * 2012-10-24 2014-05-07 삼성디스플레이 주식회사 Bonding apparatus and method of bonding component on substrate using the same

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4669600B2 (en) * 2000-08-18 2011-04-13 東レエンジニアリング株式会社 Mounting device
JP4651886B2 (en) * 2001-09-14 2011-03-16 東北パイオニア株式会社 Electronic device and method for manufacturing electronic device
TW200628029A (en) * 2004-12-06 2006-08-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Component mounting apparatus and component mounting method
JP5021394B2 (en) * 2007-08-21 2012-09-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ ACF pasting device and flat panel display manufacturing device
JP4966139B2 (en) * 2007-09-13 2012-07-04 株式会社東芝 Bonding material sticking inspection device, mounting device, and manufacturing method of electrical parts
JP5435861B2 (en) * 2007-12-13 2014-03-05 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting apparatus and mounting method
WO2009122711A1 (en) * 2008-04-01 2009-10-08 パナソニック株式会社 Apparatus and method for mounting component
WO2010010663A1 (en) * 2008-07-25 2010-01-28 パナソニック株式会社 Component mounting device and method
JP2013042070A (en) * 2011-08-19 2013-02-28 Shibaura Mechatronics Corp Mounting apparatus and mounting method of electronic component
JP2013080877A (en) * 2011-10-05 2013-05-02 Hitachi High-Technologies Corp Fpd module assembly device
KR20140131645A (en) * 2013-05-06 2014-11-14 주식회사 에이에스티젯텍 Bonding device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100702286B1 (en) * 2000-01-14 2007-03-30 시바우라 메카트로닉스 가부시키가이샤 Part mounter
JP2006091583A (en) * 2004-09-24 2006-04-06 Toshiba Corp Display device
JP2006135082A (en) 2004-11-05 2006-05-25 Shibaura Mechatronics Corp Electronic component mounting apparatus and method therefor
WO2009025016A1 (en) * 2007-08-17 2009-02-26 Fujitsu Limited Component mounting apparatus and method
WO2009093445A1 (en) * 2008-01-25 2009-07-30 Panasonic Corporation Inspection device and inspection method
JP2009212254A (en) * 2008-03-04 2009-09-17 Toray Eng Co Ltd Chip mounting method and chip mounting apparatus
JP2012004143A (en) * 2010-06-14 2012-01-05 Panasonic Corp Mounting device and mounting method for electronic component
KR20140052420A (en) * 2012-10-24 2014-05-07 삼성디스플레이 주식회사 Bonding apparatus and method of bonding component on substrate using the same

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