KR102050477B1 - Device for mounting electric component and method for manufacturing a display member - Google Patents

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Abstract

[과제] 가요성을 갖는 표시용 패널에 가요성을 갖는 전자 부품을 정밀도 좋게 실장할 수 있게 한 전자 부품의 실장 장치를 제공한다.
[해결수단] 전자 부품의 실장 장치(1)는, 표시용 패널(P)의 가장자리부를 하측에서 지지하는 지지부를 갖춘 스테이지(21)와, 전자 부품(W)을 상측에서 유지하는 가압착 헤드(41)와, 표시용 패널(P)의 가장자리부에 마련된 얼라인먼트 마크를 상측에서 촬상하는 제1 촬상 장치(43A)와, 전자 부품(W)에 마련된 얼라인먼트 마크를 하측에서 촬상하는 제2 촬상 장치(43B)와, 양 얼라인먼트 마크의 촬상 화상으로부터 구한 상대 위치 정보에 기초하여, 표시용 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치를 맞추는 제어 장치와, 제1 및 제2 촬상 장치(43A, 43B)에 교정용 부재(42j4)의 화상을 받아들이게 하여 상대적인 위치 관계를 인식하고, 인식 결과와 기준치의 비교에 의해 위치 관계의 어긋남을 구하여 보정하는 제어 장치를 구비한다.
[PROBLEMS] To provide a mounting apparatus for an electronic component in which an electronic component having flexibility can be accurately mounted on a flexible display panel.
SOLUTION The mounting apparatus 1 of an electronic component has the stage 21 with the support part which supports the edge part of the display panel P from the lower side, and the pressing head which hold | maintains the electronic component W from the upper side ( 41, the first imaging device 43A for imaging the alignment mark provided on the edge portion of the display panel P from above, and the second imaging device for imaging the alignment mark provided in the electronic component W from below ( 43B) and a control device for aligning the positions of the display panel P and the electronic component W based on the relative position information obtained from the captured images of both alignment marks, and the first and second imaging devices 43A and 43B. ) And a control device for recognizing the relative positional relationship by acquiring the image of the calibration member 42j4, and finding and correcting the deviation of the positional relationship by comparing the recognition result with the reference value.

Description

전자 부품의 실장 장치와 표시용 부재의 제조 방법{DEVICE FOR MOUNTING ELECTRIC COMPONENT AND METHOD FOR MANUFACTURING A DISPLAY MEMBER}TECHNICAL FIELD The manufacturing apparatus of the electronic component and the manufacturing method of the display member TECHNICAL FIELD

본 발명의 실시형태는, 가요성을 갖는 표시용 패널의 가장자리부에 가요성을 갖는 전자 부품을 실장하는 전자 부품의 실장 장치와, 표시용 부재의 제조 방법에 관한 것이다.Embodiment of this invention relates to the mounting apparatus of the electronic component which mounts the flexible electronic component at the edge part of a flexible display panel, and the manufacturing method of a display member.

텔레비전이나 퍼스널 컴퓨터, 스마트폰 등의 휴대 단말 등의 디스플레이로서 이용되는 플랫 패널 디스플레이 시장에서는 액정 디스플레이가 압도적인 보급율을 차지하고 있다. 그와 같은 상황 하에서, 최근 백라이트를 필요로 하지 않고서 박형화가 가능하며, 더구나 유연한 수지 필름 상에 형성함으로써 절곡이 가능하다고 하는 특징을 갖춘 유기 EL 디스플레이가 특히 휴대 단말용 소형 디스플레이 시장을 중심으로 주목을 받고 있다. 이 때문에, 절곡이 가능, 즉 가요성을 갖는 유기 EL 디스플레이의 조립에 적합하게 이용할 수 있는 전자 부품의 실장 장치가 요구되고 있다.In the flat panel display market which is used as a display of a portable terminal such as a television, a personal computer or a smartphone, a liquid crystal display occupies an overwhelming penetration rate. Under such circumstances, an organic EL display having a feature of being able to be thinned without requiring a backlight recently and bendable by being formed on a flexible resin film is attracting attention, particularly in the small display market for portable terminals. I am getting it. For this reason, the mounting apparatus of the electronic component which can be bend | folded, ie, can be used suitably for the assembly of the flexible organic electroluminescent display, is calculated | required.

현재 일반적인 전자 부품의 실장 장치로서는 액정 디스플레이용의 아우터 리드 본딩 장치(이하, OLB 장치라고 한다.)가 알려져 있다(특허문헌 1 참조). 그러나, 유기 EL 디스플레이용으로서의 OLB 장치는 알려져 있지 않다. 이 때문에, 유기 EL 디스플레이를 제조할 때에 실시되는 전자 부품의 실장 공정에는 액정 디스플레이용의 OLB 장치가 대신 이용되고 있다.At present, as a mounting apparatus for general electronic components, an outer lead bonding apparatus (hereinafter referred to as an OLB apparatus) for a liquid crystal display is known (see Patent Document 1). However, no OLB device for organic EL displays is known. For this reason, the OLB apparatus for liquid crystal displays is used instead for the mounting process of the electronic component implemented at the time of manufacturing an organic electroluminescent display.

액정 디스플레이용의 OLB 장치는, 유리 기판에 의해서 구성된 표시용 패널에 이방성 도전 테이프를 통해 전자 부품을 실장하는 것이다. 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 이용한 실장 공정에서는, 우선 표시용 패널의 전자 부품이 실장되는 가장자리부를 스테이지에서 비어져 나오게 하여 유지하고, 이 표시용 패널의 가장자리부에 전자 부품을 근접시켜 유지한다. 이 상태에서, 표시용 패널 상면의 얼라인먼트 마크와 전자 부품 하면의 얼라인먼트 마크를, 표시용 패널의 하측에서 하나의 카메라로 동시에 촬상하여 양자의 상대 위치를 인식한다. 이 후, 표시용 패널의 가장자리부를 하측에서 백업 툴로 유지하고, 인식한 상대 위치에 기초하여 표시용 패널에 전자 부품의 위치를 맞추고, 이방성 도전 테이프를 통해 액정용 패널의 가장자리부에 전자 부품을 가열 가압하여 실장한다.The OLB apparatus for liquid crystal displays mounts an electronic component on the display panel comprised by a glass substrate through an anisotropic conductive tape. In the mounting process using the OLB apparatus for liquid crystal display, first, the edge portion on which the electronic component of the display panel is mounted is held off the stage, and the electronic component is kept close to the edge of the display panel. In this state, the alignment mark on the upper surface of the display panel and the alignment mark on the lower surface of the electronic component are simultaneously imaged by one camera under the display panel to recognize the relative positions of both. Thereafter, the edge portion of the display panel is held by the backup tool from the lower side, the electronic component is positioned on the display panel based on the recognized relative position, and the electronic component is heated to the edge portion of the liquid crystal panel through the anisotropic conductive tape. Pressurize and mount.

특허문헌 1: 일본 특허공개 2006-135082호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-135082

상술한 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 그대로 유기 EL 디스플레이의 제조공정에 적용한 경우, 전자 부품을 정밀도 좋게 실장할 수 없다. 즉, 본원 발명자들은, 상기한 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 그대로 이용하여, 유기 EL 디스플레이의 구성 부품인 가요성을 갖는 표시용 패널(이하, 유기 EL 패널이라고 한다.)에 전자 부품을 실장하여 표시용 부재를 제조하는 것을 시도했다. 구체적으로는, 스마트폰에서 널리 보급되어 있는, 크기가 5.0 인치이고 두께가 약 0.2 mm인 유기 EL 패널에, 전자 부품으로서 폭 치수가 38 mm인 COF(Chip on film)를 실장했다. 그 결과, 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 그대로 적용한 것만으로는 유기 EL 패널에 전자 부품을 정밀도 좋게 실장할 수 없다는 것이 판명되었다. 구체적으로는, 스마트폰용 유기 EL 패널에서는 ±3 ㎛ 정도의 실장 정밀도가 요구되지만, 이러한 실장 정밀도를 만족할 수 없음이 분명하게 되었다.When the above-mentioned OLB device for liquid crystal display is applied directly to the manufacturing process of an organic electroluminescent display, an electronic component cannot be mounted precisely. That is, the inventors of the present application mount and display an electronic component on a display panel (hereinafter referred to as an organic EL panel) having flexibility as a component of an organic EL display using the above-described OLB device for a liquid crystal display as it is. An attempt was made to manufacture the member for use. Specifically, a chip on film (COF) having a width of 38 mm was mounted as an electronic component on an organic EL panel having a size of 5.0 inches and a thickness of about 0.2 mm, which are widely used in smartphones. As a result, it has been found that electronic components cannot be accurately mounted on an organic EL panel only by applying the OLB device for a liquid crystal display as it is. Specifically, mounting accuracy of about ± 3 μm is required in an organic EL panel for a smartphone, but it has become clear that such mounting accuracy cannot be satisfied.

본원 발명자들은 다음 두 가지 요인이 정밀도에 영향을 주고 있다는 것을 알아냈다.The inventors found out that the following two factors influence the precision.

(1. 유기 EL 패널 가장자리부의 처짐 발생)(1. Sagging occurs at the edges of the organic EL panel)

액정 디스플레이의 제조에 이용되는 표시용 패널(이하, 액정 표시용 패널이라고 한다.)은, 두께가 0.5∼0.7 mm인 유리 기판끼리를 접착시킨 것이므로 비교적 강성이 높다. 그 때문에, 액정 표시용 패널의 가장자리부를 스테이지로부터 수십 mm 정도 비어져 나오게 하여 유지했다고 해도 그 가장자리부가 자신의 중량으로 아래로 처지는 일은 거의 없다.Since the display panel (henceforth a liquid crystal display panel) used for manufacture of a liquid crystal display bonded glass substrates whose thickness is 0.5-0.7 mm, it is comparatively high rigidity. For this reason, even if the edge portion of the liquid crystal display panel is kept at about tens of millimeters from the stage, the edge portion hardly sags downward under its own weight.

이에 대하여, 유기 EL 패널에서는, 통상 유기 EL 소자가 형성되는 부재인, 두께가 0.01∼0.03 mm(10∼30 ㎛) 정도인 폴리이미드(PI) 필름을, 지지재인 두께가 0.1∼0.2 mm 정도인 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름에 접착하여 구성된 얇은 수지 기판을 이용하고 있기 때문에 강성이 매우 낮다. 더구나, 수지 필름의 특성상, 흡습에 의한 신장이나 상술한 접착 시의 응력으로 휘어짐이나 주름이 생기는 경우가 있다. 그 때문에, 유기 EL 패널에서는, 그 가장자리부를 스테이지로부터 수십 mm 비어져 나오게 하여 유지한 경우, 비어져 나온 가장자리부가 자신의 중량에 의해서 쉽게 아래로 처져 버린다. 유기 EL 패널의 가장자리부가 아래로 처지면, 그 만큼 가장자리부에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크의 위치가 수평 방향으로 틀어지게 된다. 그 때문에, 카메라를 이용하여 행하는 유기 EL 패널의 얼라인먼트 마크의 위치 인식에 있어서, 그 인식 위치에 어긋남이 생기게 된다.In contrast, in an organic EL panel, a polyimide (PI) film having a thickness of about 0.01 to 0.03 mm (10 to 30 μm), which is a member on which an organic EL element is usually formed, has a thickness of about 0.1 to 0.2 mm as a supporting material. The rigidity is very low because a thin resin substrate formed by adhering to a polyethylene terephthalate (PET) film is used. Moreover, in the characteristic of a resin film, curvature and wrinkles may arise by elongation by moisture absorption, or the stress at the time of adhesion mentioned above. Therefore, in the organic EL panel, when the edge portion is held out from the stage by several tens of millimeters, the edge portion that protrudes easily sags down by its weight. When the edge portion of the organic EL panel sags downward, the position of the alignment mark formed on the edge portion by that amount is displaced in the horizontal direction. Therefore, in the position recognition of the alignment mark of the organic electroluminescent panel performed using a camera, the recognition position will shift | deviate.

본원 발명자들이 실험에 의해서 확인한 바, 유기 EL 패널의 가장자리부를, 동등 사이즈의 액정 표시용 패널의 경우와 동일하게 스테이지로부터 20 mm 비어져 나오게 하여 유지한 경우, 가장자리부에 처짐이 생기고, 이 처짐에 의해서 얼라인먼트 마크의 위치에, 수평 방향(스테이지 측으로 향하여)으로 약 4 ㎛의 위치 어긋남이 생기고 있음이 확인되었다. 더구나, 유기 EL 패널의 가장자리부가 아래로 처진 경우, 얼라인먼트 마크가 수평 상태에 대하여 기울어지게 된다. 경사져 있는 얼라인먼트 마크를 바로 아래에서 촬상한 경우, 촬상된 얼라인먼트 마크의 경사 방향에 있어서의 길이가 수평 상태에서 촬상된 경우와 비교해서 짧게 촬상된다. 즉, 경사진 만큼 촬상되는 얼라인먼트 마크의 형상이 변형된다. 그 결과, 미리 기억되어 있는 기준 마크와의 형상의 차이가 생기고, 이에 의해서도 얼라인먼트 마크의 인식 위치에 오차가 생기게 된다.When the inventors of the present application confirmed by experiment, the edge portion of the organic EL panel was kept 20 mm out of the stage in the same manner as in the case of the liquid crystal display panel of the same size, and sagging occurred at the edge portion. It was confirmed that the position shift of about 4 micrometers occurred in the horizontal direction (toward the stage side) by the position of the alignment mark. Moreover, when the edge portion of the organic EL panel sags downward, the alignment mark is inclined with respect to the horizontal state. In the case where the inclined alignment mark is imaged directly below, the image is shorter in comparison with the case where the length in the inclination direction of the imaged alignment mark is imaged in a horizontal state. That is, the shape of the alignment mark imaged by the inclination is deformed. As a result, the shape difference with the reference mark memorize | stored previously arises, and also an error arises in the recognition position of the alignment mark by this.

본원 발명자들이, 수평으로 유지한 얼라인먼트 마크와 수평에 대하여 5° 기울인 얼라인먼트 마크에서 인식 위치의 오차를 비교하는 실험을 한 바, 5° 기울인 얼라인먼트 마크 쪽이 평균적으로 1 ㎛ 정도 오차가 크다는 것이 확인되었다. 여기서, 얼라인먼트 마크를 5° 기울여 실험한 것은, 스테이지로부터 가장자리부를 20 mm 비어져 나오게 한 경우에 생기는 처짐을 복수의 유기 EL 패널에 관해서 측정한 바, 모두 5° 이상의 처짐이 확인되었기 때문이다.The inventors of the present invention compared the error of the recognition position in the alignment mark kept horizontally and the alignment mark inclined 5 ° with respect to the horizontal, and it was confirmed that the error of the alignment mark inclined by 5 ° was large on the order of 1 μm on average. . Here, the experiment was performed by tilting the alignment mark at 5 ° because the deflection caused when the edge portion was protruded 20 mm from the stage was measured with respect to the plurality of organic EL panels, and all deflections of 5 ° or more were confirmed.

(2. 유기 EL 패널의 가장자리부에서의 빛 반사의 변동)(2. Variation of light reflection at the edge of the organic EL panel)

유기 EL 패널의 얼라인먼트 마크를 촬상할 때, 카메라가 있는 하측에서 조명을 대도록 하고 있다. 그리고, 이 조명의 조사 조건(조사 광량, 조사 각도 등)은, 기준이 되는 유기 EL 패널(예컨대, 가장자리부가 편평한 유기 EL 패널로, 이하 「기준 패널」이라고 한다.)을 이용하여, 이 기준 패널의 얼라인먼트 마크를 양호하게 촬상할 수 있는 조건으로 설정하고 있다. 이로부터, 실제로 촬상되는 유기 EL 패널의 가장자리부에는 처짐이나 휘어짐이 있고, 기준 패널의 가장자리부에 대하여 기우는 등, 상태가 다르기 때문에, 유기 EL 패널 가장자리부에서의 조명의 반사 모양이 기준 패널과는 다른 것으로 되어 버린다. 그 결과, 얼라인먼트 마크를 선명하게 촬상할 수 없게 되거나 전혀 촬상할 수 없게 되거나 한다고 하는 문제점이 생긴다. 본원 발명자들의 실험 결과, 얼라인먼트 마크를 선명하게 촬상할 수 없었던 경우, 인식 위치에 최대 1 ㎛ 정도의 어긋남이 생기는 것이 확인되었다.When imaging the alignment mark of an organic electroluminescent panel, illumination is made to be put under the camera. The illumination condition (irradiation light amount, irradiation angle, etc.) of this illumination is this reference panel using an organic EL panel (for example, an organic EL panel having a flat edge portion, hereinafter referred to as a "reference panel"). The alignment mark of is set on the conditions which can image favorably. From this, the edges of the organic EL panel actually picked up may have sag or warp, and the state of the organic EL panel is different from the edges of the reference panel. Becomes something else. As a result, there arises a problem that the alignment mark cannot be imaged clearly or at all. As a result of the experiments of the inventors of the present invention, when an alignment mark could not be imaged clearly, it was confirmed that a deviation of up to about 1 μm occurs at the recognition position.

이들 지견에 의해서, 본원 발명자들은 유기 EL 패널 가장자리부의 처짐이나 휘어짐을 억제하기 위해서, 유기 EL 패널의 가장자리부를 지지하는 부분(지지면)이 평탄하게 가공되고, 얼라인먼트 마크에 대응하는 부분에 위아래로 관통하는 촬상용의 관통 구멍이 형성되며, 또한 가장자리부를 흡착 유지할 수 있는 지지 부재를 스테이지에 부착하여, 유기 EL 패널의 가장자리부에 처짐이나 휘어짐이 생기지 않도록 유지하고, 이 상태에서 전자 부품의 실장을 재차 시도했다. 그러나, 상기한 대책에 의해서도 ±3 ㎛의 실장 정밀도를 충분히 만족할 수 없었다. 이 결과를 받고서, 본원 발명자들은 더욱 예의 검토한 결과, 이하의 세 가지 요인이 관계된다는 것을 알아냈다.Based on these findings, the inventors of the present invention plan to process a portion (support surface) that supports the edge of the organic EL panel flatly and to penetrate up and down to the portion corresponding to the alignment mark in order to suppress the sagging and bending of the edge of the organic EL panel. The through hole for imaging is formed, and the support member which can adsorb | suck and hold | maintain an edge part is attached to a stage, hold | maintains that the edge part of organic electroluminescent panel does not produce sag or curvature, and mounts an electronic component again in this state. Tried. However, even with the above countermeasures, the mounting accuracy of ± 3 μm could not be sufficiently satisfied. Upon receiving this result, the inventors of the present application conducted further studies and found that the following three factors are related.

(3. 유기 EL 패널의 표면 정밀도의 문제)(3. Problem of surface precision of organic EL panel)

유기 EL 패널을 구성하는 PI 필름이나 PET 필름 등의 수지 필름은, 일반적으로 용액 유연법(流延法)이나 용융 압출 성형법 등의 가열이나 용매에 의해서 녹인 수지를 얇게 성형하여 고화시킴으로써 제조된다. 이와 같이 제조된 수지 필름은, 얇게 늘려진 채 그대로의 정밀도, 소위 만들어진 그대로(수지 필름을 성형한 채 그대로의 상태로 하고, 마무리를 하기 위한 연마 등이 이루어지지 않은 상태)의 상태이므로, 성형된 후에 화학적 또는 물리적인 연마가 행해지는 유리 기판과 비교하면, 표면에 미세한 요철(주름)을 갖고 있다. 더구나, 이 요철의 상태가 수지 필름의 한 쪽의 면과 다른 쪽의 면에서는 다른 것으로 되어 있다. 그 때문에, 카메라로 얼라인먼트 마크를 촬상할 때에, 얼라인먼트 마크에서 반사하는 빛의 진행 방향이 장소에 따라 다른 것으로 된다.Resin films, such as PI film and PET film which comprise an organic electroluminescent panel, are manufactured by thinly shape | molding and solidifying resin melt | dissolved by heating and a solvent, such as a solution casting method and a melt extrusion molding method, generally. The resin film thus produced is formed in the state of precision as it is thinly stretched, so-called as it is (a state in which the resin film is molded and left as it is, and no polishing or the like for finishing) is formed. Compared with the glass substrate which is chemically or physically polished later, the surface has fine irregularities (wrinkles). Moreover, this uneven | corrugated state is different from one side of the resin film and the other side. Therefore, when imaging an alignment mark with a camera, the advancing direction of the light reflected by the alignment mark changes with places.

예컨대, 유기 EL 패널에 있어서, 얼라인먼트 마크가 형성된 상면 부분에, 오목형으로 만곡된 형상으로 되는 주름이 생긴 경우를 생각한다. 유기 EL 패널의 하면은 대략 수평면으로 한다. 그와 같은 유기 EL 패널의 얼라인먼트 마크에, 지지 부재의 관통 구멍을 통해서 하측에서 빛을 조사한 경우, 얼라인먼트 마크의 일단(좌단) 부분으로 향해서 조사된 빛은, 우선 유기 EL 패널의 하면을 투과한다. 이 때는, 유기 EL 패널의 하면이 수평면이기 때문에 입사된 빛은 거의 굴절하지 않는다. 유기 EL 패널 안을 진행하여 유기 EL 패널의 상면과 얼라인먼트 마크의 경계면에 달한 빛은 그 경계면에 있어서 반사된다. 이 때, 얼라인먼트 마크의 좌단 부분에서는, 유기 EL 패널의 표면은 얼라인먼트 마크로 향하여(좌측에서 우측으로 향하여) 경사지게 되어 있기 때문에, 경사에 따른 반사각으로 외측(좌측 방향)으로 향하여 반사한다. 그리고, 반사된 빛은, 유기 EL 패널의 하면에 대하여 비스듬히 입사되기 때문에 굴절되며, 또한 외측(좌측 방향)으로 향해서 진행한다.For example, in the organic EL panel, the case where the wrinkles which become a concave curved shape arises in the upper surface part in which the alignment mark was formed is considered. The lower surface of the organic EL panel is approximately horizontal. When light is irradiated to the alignment mark of such an organic EL panel from the lower side through the through-hole of a support member, the light irradiated toward the one end (left end) part of an alignment mark first transmits through the lower surface of an organic EL panel. At this time, since the lower surface of the organic EL panel is a horizontal plane, the incident light is hardly refracted. The light reaching the interface between the top surface of the organic EL panel and the alignment mark is reflected on the interface. At this time, since the surface of the organic EL panel is inclined toward the alignment mark (from left to right) at the left end portion of the alignment mark, the surface of the organic EL panel is reflected toward the outside (left direction) at a reflection angle corresponding to the inclination. The reflected light is refracted because it is obliquely incident on the lower surface of the organic EL panel, and proceeds toward the outside (left direction).

한편, 얼라인먼트 마크의 타단(우단) 부분으로 향해서 조사된 빛은, 유기 EL 패널의 상면과 얼라인먼트 마크와의 경계면에서, 유기 EL 패널 상면의 경사에 따른 반사각으로 반대 방향(우측 방향)으로 반사되고, 또한 유기 EL 패널의 하면을 통과할 때에 굴절됨으로써 더욱 외측(우측 방향)으로 향해서 진행한다. 이와 같이, 얼라인먼트 마크가 형성된 수지 필름의 표면에 미세한 요철(주름)이 생기면, 얼라인먼트 마크(M)로 향해서 조사된 빛의 반사광이, 입사 시의 빛의 경로와는 다른 경로를 따라가 카메라에 입사되게 되고, 또한 얼라인먼트 마크(M)의 부위에 따라 반사광의 경로가 다르게 된다. 이들은 얼라인먼트 마크의 인식 오차를 생기게 하는 요인이 되어, 얼라인먼트 마크의 위치 인식 정밀도가 저하한다.On the other hand, the light irradiated toward the other end (right end) of the alignment mark is reflected in the opposite direction (right direction) at the reflection angle according to the inclination of the upper surface of the organic EL panel at the interface between the upper surface of the organic EL panel and the alignment mark, Further, when passing through the lower surface of the organic EL panel, the light is further refracted to proceed toward the outer side (right direction). Thus, when minute unevenness | corrugation (wrinkles) generate | occur | produce on the surface of the resin film in which the alignment mark was formed, the reflected light of the light irradiated toward the alignment mark M will follow a path different from the light path at the time of incidence, and enter the camera. In addition, the path of the reflected light varies depending on the portion of the alignment mark M. FIG. These become a factor which causes the recognition error of the alignment mark, and the position recognition precision of the alignment mark falls.

(4. 유기 EL 패널의 광투과율 문제)(4. Light transmittance problem of organic EL panel)

유기 EL 패널은, 상술한 것과 같이, PI 필름을 PET 필름에 접착제에 의해서 접착하여 구성된다. 그 때문에, 유기 EL 패널의 상면 측에 형성된 얼라인먼트 마크를 유기 EL 패널의 하면 측에서 촬상하는 경우, 유기 EL 패널의 광투과율이 얼라인먼트 마크의 인식 정밀도에 영향을 미치게 된다. 구체적으로는, 조명을 어떻게 조정하더라도 얼라인먼트 마크의 가장자리부를 선명하게 촬상하기가 어렵게 된다.As mentioned above, the organic EL panel is formed by adhering a PI film to a PET film with an adhesive. Therefore, when the alignment mark formed on the upper surface side of the organic EL panel is imaged on the lower surface side of the organic EL panel, the light transmittance of the organic EL panel affects the recognition accuracy of the alignment mark. Specifically, no matter how the illumination is adjusted, it is difficult to clearly capture the edge portion of the alignment mark.

본원 발명자들이, 얼라인먼트 마크가 형성된 부분에 있어서, 액정 표시용 패널의 유리판과 유기 EL 패널의 수지 기판의 광투과율을 측정한 바, 유기 EL 패널 쪽이 액정 표시용 패널보다도 7.4% 정도 광투과율이 낮았다. 본원 발명자들은, 액정 표시용 패널과 유기 EL 패널을 이용하여, 동일한 액정 표시용 패널 및 동일한 유기 EL 패널에 관해서, 얼라인먼트 마크를 각각 10회씩 반복해서 인식하여, 얼라인먼트 마크의 인식 위치의 반복 정밀도를 확인했다. 그 결과, 액정 표시용 패널의 위치 인식 정밀도의 변동이 ±0.3 ㎛이었던데 대하여, 유기 EL 패널에서는 위치 인식 정밀도에 ±1.2 ㎛의 변동이 생겼다.When the present inventors measured the light transmittance of the glass plate of a liquid crystal display panel and the resin substrate of an organic electroluminescent panel in the part in which the alignment mark was formed, the organic electroluminescent panel was about 7.4% lower than the liquid crystal display panel. . The inventors of the present application repeatedly recognize an alignment mark 10 times for the same liquid crystal display panel and the same organic EL panel using a liquid crystal display panel and an organic EL panel, and confirm the repeating accuracy of the recognition position of the alignment mark. did. As a result, the variation of the position recognition accuracy of the liquid crystal display panel was ± 0.3 µm, whereas the variation of the position recognition accuracy occurred ± 1.2 µm in the organic EL panel.

(5. 유기 EL 패널의 구조에 의한 문제)(5. Problem caused by structure of organic EL panel)

유기 EL 패널은, 특성이 다른 복수의 수지 필름을 접착제 등에 의해서 접착하여 구성되는 것이다. 따라서, 유기 EL 패널로 향해서 조사된 빛은, 다른 부재끼리의 경계면을 여러 번 통과한 후에 카메라에 입사되게 된다.The organic EL panel is formed by bonding a plurality of resin films having different properties to each other with an adhesive or the like. Therefore, the light irradiated toward the organic EL panel enters the camera after passing through the interface between the other members several times.

여기서는, 표면에 유기 EL 소자나 얼라인먼트 마크가 형성된 PI 필름을 PET 필름에 대하여 접착제를 통해 접착시킨 구성을 생각한다. 이러한 유기 EL 패널의 얼라인먼트 마크로 향해서 하측에서 빛을 조사한 경우, 조사된 빛은, 공기와 PET 필름의 경계면, PET 필름과 접착제층의 경계면, 접착제층과 PI 필름의 경계면을 통과한다. PI 필름과 얼라인먼트 마크의 경계면에서 반사된 빛은, 상기한 각 경계면을 통과하여, 카메라에 입사되게 된다.Here, the structure which adhere | attached the PI film in which the organic electroluminescent element and the alignment mark were formed on the surface through the adhesive agent is considered. When light is irradiated from below toward the alignment mark of such an organic EL panel, the irradiated light passes through the interface between air and the PET film, the interface between the PET film and the adhesive layer, and the interface between the adhesive layer and the PI film. Light reflected at the interface between the PI film and the alignment mark passes through each of the above-described interfaces and enters the camera.

상술한 것과 같이, 유기 EL 패널의 표면 정밀도의 영향으로 공기와 PET 필름의 경계면이 기울어진 경우에는, 빛이 PET 필름의 하면에 대하여 경사져 입사되게 되기 때문에, 상술한 각 경계면에서 빛이 굴절되고, 얼라인먼트 마크에서 반사된 빛이 입사되어 온 경로와는 다른 경로를 따라가 카메라에 입사되게 된다. 그 때문에, 빛이 굴절된 만큼 얼라인먼트 마크의 인식 위치가 틀어진다. 이 때문에도, 얼라인먼트 마크의 위치 인식 정밀도가 저하한다. 도 11은 유기 EL 패널(도 11(a))과 액정 표시용 패널(도 11(b))의 원형의 얼라인먼트 마크를 촬상한 화상이다. 유기 EL 패널의 얼라인먼트 마크의 주연 부분의 왜곡이 큰 것을 확인할 수 있다.As described above, when the interface between the air and the PET film is inclined under the influence of the surface precision of the organic EL panel, the light is inclined with respect to the lower surface of the PET film, so that light is refracted at each of the above-described interfaces, The light reflected from the alignment mark is incident on the camera along a path different from the path from which the light is incident. Therefore, the recognition position of the alignment mark is shifted as much as the light is refracted. This also reduces the position recognition accuracy of the alignment mark. FIG. 11: is an image which picked up the circular alignment mark of organic electroluminescent panel (FIG. 11 (a)) and a liquid crystal display panel (FIG. 11 (b)). It can be confirmed that the distortion of the peripheral part of the alignment mark of the organic EL panel is large.

또한, PI 필름의 이면 측에 증착 등에 의해 반사율이 높은 박막이 형성되어 있는 경우가 있다. 이러한 경우에는, 유기 EL 패널에 입사된 빛의 대부분이 그 박막에서 반사되어 버린다. 그 경우, 얼라인먼트 마크를 선명하게 촬상할 수 없게 되어, 위치 인식 정밀도가 현저히 저하되어 버리게 된다. 또한, 유기 EL 패널의 대전 방지 등을 목적으로 하여 기재가 되는 PI 필름에 카본 입자를 함유시키는 경우가 있다. 그와 같은 경우에는, 카본 입자에 의해서 빛의 투과가 차단되어, 얼라인먼트 마크의 촬상이 곤란하게 되어, 정확하게 인식을 할 수 없게 된다.Moreover, the thin film with high reflectance may be formed in the back surface side of PI film by vapor deposition etc. in some cases. In this case, most of the light incident on the organic EL panel is reflected by the thin film. In that case, the alignment mark cannot be imaged clearly, and the positional recognition accuracy is significantly reduced. Moreover, carbon particle | grains may be contained in the PI film used as a base material for the purpose of antistatic etc. of an organic electroluminescent panel. In such a case, transmission of light is blocked by the carbon particles, making it difficult to image the alignment mark, and it is impossible to accurately recognize it.

본 발명은, 상술한 종래의 액정 디스플레이용의 OLB 장치를 유기 EL 디스플레이의 제조 공정에 적용한 경우에 생기는 전자 부품의 실장 정밀도의 저하라는 과제에 대처하기 위해서 이루어진 것으로, 가요성을 갖는 표시용 패널에 가요성을 갖는 전자 부품을 열압착에 의해 실장하는 경우라도, 표시용 패널에 전자 부품을 정밀도 좋게 실장할 수 있게 한 전자 부품의 실장 장치와 표시용 부재의 제조 방법을 제공하는 것이다.This invention is made | formed in order to respond to the subject of the fall of the mounting precision of the electronic component which arises when the above-mentioned conventional OLB apparatus for liquid crystal displays is applied to the manufacturing process of an organic electroluminescent display, and is used for the display panel which has flexibility. Even if the electronic component which has flexibility is mounted by thermocompression bonding, it is providing the mounting apparatus of an electronic component and the manufacturing method of a display member which let the electronic component be mounted to a display panel with high precision.

실시형태의 전자 부품의 실장 장치는, 20 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께와 2.5 GPa 이상 4.0 GPa 이하의 굽힘 탄성률을 가지고, 가요성을 갖는 표시용 패널의 가장자리부에 배열된 복수의 전극에, 가요성을 갖는 전자 부품에 있어서의, 상기 복수의 전극에 대응하여 배열된 복수의 단자를, 접합 부재를 통해 접속함으로써, 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 실장하는 전자 부품의 실장 장치로서, 상기 표시용 패널이 배치되는 스테이지이며, 상기 표시용 패널에 있어서의 상기 전자 부품이 실장되는 상기 가장자리부를 하측에서 지지하는 지지부를 갖추고, 상기 지지부와 함께 수평 방향으로 이동할 수 있는 스테이지와, 상기 전자 부품을 상측에서 유지하여, 상기 지지부에 의해서 지지된 상기 가장자리부의 상면에 전자 부품을 열압착하는, 수평 방향 및 수직 방향으로 이동 가능한 열압착 헤드와, 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부에 마련된 얼라인먼트 마크를, 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부가 상기 스테이지의 상기 지지부에 지지된 상태에서, 상측에서 촬상하는 제1 촬상 장치와, 상기 전자 부품에 마련된 얼라인먼트 마크를, 상기 전자 부품이 상기 열압착 헤드에 유지된 상태에서, 하측에서 촬상하는 제2 촬상 장치와, 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치의 촬상 화상으로부터 구한 상기 표시용 패널 및 상기 전자 부품의 상기 얼라인먼트 마크의 상대 위치 정보에 기초하여, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치를 맞추도록, 상기 스테이지와 상기 열압착 헤드의 상대 위치를 조정하고, 조정된 위치 관계로 상기 열압착 헤드에 의해 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 열압착시키도록 상기 스테이지 및 상기 열압착 헤드를 제어하는 실장 동작 제어 장치와, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 인식에 이용하는 교정용 부재와, 상기 교정용 부재를 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치와 대향하는 위치에 순차 위치 부여하도록 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치와 상기 교정용 부재를 수평 방향에 있어서 상대 이동시키는 수평 이동 장치와, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 기준치를 기억하는 기억부와, 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치에 상기 교정용 부재의 화상을 받아들이게 하고, 상기 받아들인 화상에 기초하여 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계를 인식하고, 상기 인식한 결과와 상기 기억부에 기억된 기준치의 비교에 의해, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 어긋남을 구하고, 구해진 상기 어긋남에 기초하여 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치 맞춤 위치를 보정하는 교정 동작 제어 장치를 구비한다.The mounting apparatus of the electronic component of embodiment has the thickness of 20 micrometers or more and 500 micrometers or less, and the bending elastic modulus of 2.5 GPa or more and 4.0 GPa or less, and is flexible to the some electrode arrange | positioned at the edge part of the display panel which is flexible. A display device as an electronic component mounting apparatus for mounting the electronic component on the display panel by connecting a plurality of terminals arranged in correspondence with the plurality of electrodes in a electronic component having a property through a bonding member. A stage on which a panel for disposition is arranged, having a support for supporting the edge portion on which the electronic component in the display panel is mounted from a lower side, the stage capable of moving in a horizontal direction together with the support, and the electronic component on an upper side In which the electronic components are thermocompression-bonded to the upper surface of the edge portion supported by the support portion, horizontally and vertically 1st imaging device which image | photographs the thermal compression head which can move to the direction, and the alignment mark provided in the said edge part of the said display panel from the upper side in the state in which the said edge part of the said display panel was supported by the said support part of the said stage. And a second imaging device for imaging the alignment mark provided on the electronic component from below while the electronic component is held by the thermocompression head, and from the captured images of the first imaging device and the second imaging device. Based on the obtained relative position information of the alignment mark of the display panel and the electronic component, the relative position of the stage and the thermocompression head is adjusted and adjusted to match the position of the display panel and the electronic component. To thermally compress the electronic component to the display panel by the thermocompression head in the A mounting operation control device for controlling the pre-stage and the thermocompression head, a calibration member used for recognizing a relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device, and the calibration member using the first imaging device; And a horizontal moving device for relatively moving the first imaging device, the second imaging device, and the calibration member in a horizontal direction so as to sequentially position at positions facing the second imaging device, and the first imaging device; A storage unit for storing the reference value of the relative positional relationship of the second imaging device, the first imaging device and the second imaging device to receive an image of the calibration member, and the first image based on the received image; Recognizing the relative positional relationship between the imaging device and the second imaging device, and comparing the recognized result with a reference value stored in the storage unit. Thereby, there is provided a correction operation control device which obtains a deviation of the relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device and corrects the alignment position of the display panel and the electronic component based on the obtained deviation. .

실시형태의 표시용 부재의 제조 방법은, 20 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께와 2.5 GPa 이상 4.0 GPa 이하의 굽힘 탄성률을 가지고, 가요성을 갖는 표시용 패널을 스테이지에 유지하게 하고, 상기 표시용 패널의 복수의 전극을 갖는 가장자리부를, 상기 스테이지에 마련된 지지부에 의해서 하측에서 지지하게 하는 지지 공정과, 상기 복수의 전극에 대응하여 마련된 복수의 단자를 가지고, 가요성을 갖는 전자 부품을 열압착 헤드에 유지하게 하는 유지 공정과, 상기 지지부에 의해서 지지된 상기 표시용 패널의 위쪽에서 제1 촬상 장치에 의해서, 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부에 마련된 얼라인먼트 마크를 촬상하는 제1 촬상 공정과, 상기 열압착 헤드에 유지된 상기 전자 부품의 아래쪽에서 제2 촬상 장치에 의해서, 상기 전자 부품에 마련된 얼라인먼트 마크를 촬상하는 제2 촬상 공정과, 상기 제1 촬상 공정에서 촬상한 상기 표시용 패널의 상기 얼라인먼트 마크의 화상과 상기 제2 촬상 공정에서 촬상한 상기 전자 부품의 상기 얼라인먼트 마크의 화상에 기초하여, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 상대 위치 관계를 인식하는 위치 인식 공정과, 상기위치 인식 공정에서 인식한 상기 상대 위치 관계에 기초하여 상기 스테이지와 상기 열압착 헤드의 상대 위치를 조정하고, 조정된 위치 관계로 상기 열압착 헤드에 의해 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 열압착하는 열압착 공정을 구비하고, 상기 지지 공정, 상기 유지 공정, 상기 제1 촬상 공정, 상기 제2 촬상 공정, 상기 위치 인식 공정 및 상기 열압착 공정을 반복하여 실시함으로써, 상기 표시용 패널의 상기 복수의 전극에 상기 전자 부품의 상기 복수의 단자가 접합 부재를 통해 접속된 표시용 부재를 연속해서 제조하는 표시용 부재의 제조 방법으로서, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 인식에 이용하는 교정용 부재의 화상을, 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치에 의해서 받아들이게 하여, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계를 인식하는 인식 공정과, 상기 인식한 결과와 미리 설정된 기준치의 비교에 의해, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 어긋남을 구하고, 구해진 상기 어긋남에 기초하여 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치 맞춤 위치를 보정하는 보정 공정을 구비한다.The manufacturing method of the display member of embodiment has the thickness of 20 micrometers or more and 500 micrometers or less and the bending elastic modulus of 2.5 GPa or more and 4.0 GPa or less, hold | maintain a flexible display panel on a stage, and the said display panel The support part which makes the edge part which has a some electrode of the support from the lower side by the support part provided in the said stage, and the some terminal provided corresponding to the said some electrode, and has flexible electronic components to a thermocompression head And a first imaging process of imaging an alignment mark provided at the edge portion of the display panel by a first imaging device from above the display panel supported by the support portion, and the column. Alignment mark provided in the said electronic component by the 2nd imaging device under the said electronic component hold | maintained by the crimping head. The display on the basis of a second imaging process for imaging and an image of the alignment mark of the display panel picked up in the first imaging process and an image of the alignment mark of the electronic component picked up in the second imaging process A position recognition step of recognizing the relative positional relationship between the panel and the electronic component; and adjusting the relative position of the stage and the thermocompression head based on the relative position relationship recognized at the position recognition step, and adjusting the positional relationship. And a thermocompression step of thermocompression bonding the electronic component to the display panel by the thermocompression head, wherein the supporting step, the holding step, the first imaging step, the second imaging step, and the position recognition step And repeatedly performing the thermocompression bonding step to thereby provide the plurality of electrodes of the electronic component with the plurality of electrodes of the display panel. A method of manufacturing a display member in which a terminal is continuously manufactured with a display member connected via a bonding member, the method comprising: an image of a correction member used for recognizing a relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device, A recognition step of allowing the first image pickup device and the second image pickup device to recognize the relative positional relationship between the first image pickup device and the second image pickup device, and by comparing the recognized result with a preset reference value. And a correction step of obtaining a deviation of the relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device, and correcting the alignment position of the display panel and the electronic component based on the obtained deviation.

본 발명의 실장 장치에 따르면, 유기 EL 패널과 같은 가요성을 갖는 표시용 패널에, 가요성을 갖는 전자 부품을 열압착에 의해 실장하는 경우라도, 전자 부품을 정밀도 좋게 실장할 수 있다. 또한, 본 발명의 표시용 부재의 제조 방법에 따르면, 표시용 패널에 전자 부품을 정밀도 좋게 실장한 표시용 부재를 제공할 수 있다.According to the mounting apparatus of the present invention, even when a flexible electronic component is mounted by thermocompression bonding on a display panel having the same flexibility as an organic EL panel, the electronic component can be mounted with high accuracy. Moreover, according to the manufacturing method of the display member of this invention, the display member which mounted the electronic component on the display panel with high precision can be provided.

도 1은 실시형태에 있어서의 전자 부품의 실장 장치를 도시하는 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시하는 전자 부품의 실장 장치의 측면도이다.
도 3은 도 1에 도시하는 전자 부품의 실장 장치의 가압착 장치를 도시하는 사시도이다.
도 4는 실시형태의 실장 장치에 적용되는 유기 EL 패널 및 전자 부품을 도시하는 평면도이다.
도 5는 도 1에 도시하는 전자 부품의 실장 장치의 본압착 장치를 도시하는 사시도이다.
도 6은 도 1에 도시하는 전자 부품의 실장 장치에 있어서의 유기 EL 패널의 유지체의 일례를 도시하는 사시도이다.
도 7은 도 1에 도시하는 전자 부품의 실장 장치에 있어서의 유기 EL 패널의 유지체의 다른 예를 도시하는 사시도이다.
도 8은 다른 실시형태에 있어서의 전자 부품의 실장 장치를 도시하는 평면도이다.
도 9는 실시예 1에 의한 실장 정밀도의 변동을 도시하는 그래프이다.
도 10은 비교예 1에 의한 실장 정밀도의 변동을 도시하는 그래프이다.
도 11은 종래의 OLB 장치를 이용하여 유기 EL 패널과 액정 표시용 패널의 원형의 얼라인먼트 마크를 촬상한 화상의 일례를 도시하는 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a top view which shows the mounting apparatus of the electronic component in embodiment.
It is a side view of the mounting apparatus of the electronic component shown in FIG.
It is a perspective view which shows the press bonding apparatus of the mounting apparatus of the electronic component shown in FIG.
4 is a plan view illustrating an organic EL panel and an electronic component to be applied to the mounting apparatus of the embodiment.
It is a perspective view which shows the main crimping apparatus of the mounting apparatus of the electronic component shown in FIG.
FIG. 6 is a perspective view showing an example of a holder of an organic EL panel in the mounting apparatus for an electronic component shown in FIG. 1.
7 is a perspective view illustrating another example of the holder of the organic EL panel in the mounting apparatus for the electronic component shown in FIG. 1.
It is a top view which shows the mounting apparatus of the electronic component in other embodiment.
9 is a graph showing a variation in the mounting precision according to the first embodiment.
10 is a graph showing a variation in the mounting precision according to Comparative Example 1. FIG.
It is a figure which shows an example of the image which image | photographed the circular alignment mark of an organic EL panel and a liquid crystal display panel using the conventional OLB apparatus.

이하, 실시형태의 전자 부품의 실장 장치 및 표시용 부재의 제조 방법에 관해서 도면을 참조하여 설명한다. 도면은 모식적인 것이며, 두께와 평면 치수의 관계, 각 부의 두께 비율 등은 현실의 것과는 다른 경우가 있다. 설명 중에 있어서의 위아래 방향을 나타내는 용어는, 특별히 명기하지 않는 경우에는 후술하는 표시용 패널(유기 EL 패널)의 전자 부품의 실장면을 위로 한 경우의 상대적인 방향을 나타낸다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the manufacturing apparatus of the electronic component of embodiment and the manufacturing method of a display member are demonstrated with reference to drawings. The drawings are schematic, and the relationship between the thickness and the planar dimension, the thickness ratio of each part, and the like may be different from those in reality. The terms indicating the up and down directions in the description refer to the relative directions when the mounting surface of the electronic component of the display panel (organic EL panel) described later is up unless otherwise specified.

[실장 장치의 구성][Configuration of Mounting Device]

도 1은 실시형태의 전자 부품의 실장 장치의 구성을 도시하는 평면도, 도 2는 도 1의 전자 부품의 실장 장치의 측면도이다. 도 1 및 도 2에 도시하는 전자 부품의 실장 장치(1)는, 유기 EL 디스플레이와 같은 표시 장치의 구성 부재(표시용 부재)의 제조에 이용되는 것이다. 즉, 실장 장치(1)는, 캐리어 테이프(T)로부터 펀칭된 COF 등의 가요성을 갖는 전자 부품(W)을, 가요성을 갖는 표시용 패널로서의 유기 EL 패널(P)에, 접합 부재로서의 이방성 도전 테이프(F)를 통해 실장하여, 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)이 실장된 표시용 부재를 제조하기 위해서 이용되는 장치이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The top view which shows the structure of the mounting apparatus of the electronic component of embodiment, and FIG. 2 is a side view of the mounting apparatus of the electronic component of FIG. The mounting apparatus 1 of the electronic component shown in FIG. 1 and FIG. 2 is used for manufacture of the structural member (display member) of a display apparatus like organic electroluminescent display. That is, the mounting apparatus 1 uses the electronic component W which has flexibility, such as COF punched out of the carrier tape T, to the organic EL panel P as a display panel with flexibility as a bonding member. It is an apparatus used for manufacturing the display member mounted on the anisotropic conductive tape F and in which the electronic component W was mounted in organic electroluminescent panel P. FIG.

여기서, 유기 EL 패널(P)은 가요성을 갖는 부재를 주로 하여 형성된다. 가요성을 갖는 부재로서는, 예컨대, PI(폴리이미드), PET(폴리에틸렌테레프탈레이트), PC(폴리카보네이트) 등이 이용된다. 이들 부재를 접착제에 의해서 접착하여 이용하는 것도 가능하다. 유기 EL 패널(P)은, 두께가 20 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하이고, 굽힘 탄성률이 2.5 GPa 이상 4.0 GPa 이하가 되도록 구성된다. 본 실시형태에 있어서의 유기 EL 패널(P)은, 유기 EL 소자가 형성된 PI 필름을 지지재인 PET 필름에 접착제를 통해 접착시킨 구성을 갖는다. PI 필름의 두께(약 10 ㎛)에 대하여 PET 필름의 두께(약 200 ㎛)가 10배 이상이기 때문에, 유기 EL 패널(P)의 굽힘 탄성률은 PET 필름의 굽힘 탄성률과 거의 같다고 생각된다.Here, the organic EL panel P is mainly formed with a member having flexibility. As the member having flexibility, for example, PI (polyimide), PET (polyethylene terephthalate), PC (polycarbonate) and the like are used. It is also possible to adhere and use these members with an adhesive agent. Organic EL panel P is 20 micrometers or more and 500 micrometers or less in thickness, and is comprised so that bending elastic modulus may be 2.5 GPa or more and 4.0 GPa or less. The organic EL panel P in this embodiment has the structure which adhere | attached the PI film in which the organic electroluminescent element was formed to the PET film which is a support material through an adhesive agent. Since the thickness (about 200 micrometers) of PET film is 10 times or more with respect to the thickness (about 10 micrometers) of PI film, it is thought that the bending elastic modulus of organic electroluminescent panel P is about the same as the bending elastic modulus of PET film.

여기서, 굽힘 탄성률은, JIS K7171: 플라스틱-굽힘 특성을 구하는 방법(2016년 3월 22일 개정판)에서 규정된 시험 방법에 따라서 측정한 값으로 한다. 구체적으로는, 굽힘 탄성률 시험은, 길이 80±2 mm, 폭 10.0±0.2 mm, 두께 4.0±0.2 mm의 치수를 갖는 시험편을, 지점 사이 거리를 64 mm로 조정한 왜곡 측정 장치의 지지대에 지지하게 하고, 이 지점 사이의 중앙에 압자를 2 mm/min의 시험 속도로 하강시킴으로써 시험편의 중앙을 휘게 하여 행한다. 시험 분위기는 JIS K7100에서 규정하는 표준 분위기(온도 23℃/습도 50%)로 한다.Here, a bending elastic modulus shall be a value measured according to the test method prescribed | regulated by JISK7171: The method of calculating | requiring plastics-bending characteristic (March 22, 2016 revised edition). Specifically, the bending elastic modulus test is to support a test piece having a dimension of 80 ± 2 mm in length, 10.0 ± 0.2 mm in width, and 4.0 ± 0.2 mm in thickness to the support of the distortion measuring device having adjusted the distance between points to 64 mm. The center of the test piece is bent by lowering the indenter at a test speed of 2 mm / min. The test atmosphere is a standard atmosphere (temperature 23 ° C./humidity 50%) specified in JIS K7100.

전자 부품(W)으로서는 가요성을 갖는 COF 등의 전자 부품이 이용된다. COF는, PI(폴리이미드) 등에 의해서 형성된 가요성을 갖는 필름형의 회로 기판 상에 반도체 소자가 실장되어 구성된 것이다. 후술하는 것과 같이, COF는 테이프형의 필름 부재로부터 펀칭됨으로써 개편화(個片化)되어 형성된다.As the electronic component W, an electronic component such as COF having flexibility is used. COF is formed by mounting a semiconductor element on a film type circuit board having flexibility formed by PI (polyimide) or the like. As described later, the COF is formed into pieces by being punched out of the tape-like film member.

표시용 부재는, 유기 EL 패널(P)과 같은 표시용 패널에 이방성 도전 테이프(F)와 같은 접합 부재를 통해 COF와 같은 전자 부품(W)을 실장하여 얻어지는 것으로, 유기 EL 디스플레이 등의 표시 장치의 구성 부품으로서 이용되는 부재이다.The display member is obtained by mounting an electronic component W such as COF on a display panel such as an organic EL panel P through a bonding member such as an anisotropic conductive tape F. A display device such as an organic EL display It is a member used as a component part of the.

실시형태의 실장 장치(1)는, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)을 펀칭하는 펀칭 장치(10)(10A, 10B), 펀칭된 전자 부품(W)을 흡착 유지하여, 간헐 회전하면서 반송하는 간헐 회전 반송 장치(20), 간헐 회전 반송 장치(20)에 의한 반송 경로 도중의 간헐 정지 위치에 배치되어, 간헐 회전 반송 장치(20)에 의해서 반송되는 전자 부품(W)에 접합 부재로서의 이방성 도전 테이프(F)를 점착하는 이방성 도전 테이프 점착 장치(접합 부재 점착 장치)(30), 이방성 도전 테이프(F)가 점착된 전자 부품(W)을 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 통해 가압착하는 가압착 장치(40), 가압착 장치(40)에 의해서 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)을 본압착하는 본압착 장치(50), 펀칭 장치(10)와 간헐 회전 반송 장치(20)의 사이에서 전자 부품(W)을 전달하는 제1 전달 장치(60), 간헐 회전 반송 장치(20)와 가압착 장치(40)의 사이에서 전자 부품(W)을 전달하는 제2 전달 장치(70), 가압착 장치(40)에 대하여 유기 EL 패널(P)을 반입하는 제1 반송부(80), 가압착 장치(40)로부터 본압착 장치(50)에 유기 EL 패널(P)을 반송하는 제2 반송부(90), 본압착 장치(50)로부터 유기 EL 패널(P)을 반출하는 제3 반송부(100)를 구비하고, 또한 펀칭 장치(10), 간헐 회전 반송 장치(20), 이방성 도전 테이프 점착 장치(30), 가압착 장치(40), 본압착 장치(50), 제1 전달 장치(60), 제2 전달 장치(70), 제1 반송부(80), 제2 반송부(90), 제3 반송부(100) 등의 각 부의 동작을 제어하는 제어 장치(110)를 구비하여 구성된다.The mounting apparatus 1 of embodiment adsorbs and holds the punching apparatus 10 (10A, 10B) and the punched electronic component W which punch the electronic component W from the carrier tape T, and rotates intermittently. Intermittent rotation conveyance apparatus 20 to convey and the intermittent stop position in the middle of the conveyance path by the intermittent rotation conveyance apparatus 20 are arrange | positioned as a joining member to the electronic component W conveyed by the intermittent rotation conveyance apparatus 20 The anisotropic conductive tape adhesion device (bonding member adhesion device) 30 which adheres the anisotropic conductive tape F, and the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F was stuck were attached to the organic EL panel P to the anisotropic conductive tape ( Pressing apparatus 40 press-bonded through F), main press apparatus 50 for main-pressing the electronic component W press-bonded to organic EL panel P by pressing apparatus 40, and punching apparatus Between the 10 and the intermittent rotation conveyance apparatus 20, the 1st transmission apparatus 60 which transmits the electronic component W, liver The agent which carries in the organic electroluminescent panel P with respect to the 2nd transmission apparatus 70 which delivers the electronic component W between the rotation conveyance apparatus 20 and the press bonding apparatus 40, and the press bonding apparatus 40. FIG. Organic EL panel P from the 1st conveyance part 80 and the 2nd conveyance part 90 which conveys organic electroluminescent panel P to this crimping apparatus 50 from the press bonding apparatus 40, and the main crimping apparatus 50. ), The punching device 10, the intermittent rotational conveying device 20, the anisotropic conductive tape adhesive device 30, the pressure bonding device 40, and the main compression device ( 50, the first delivery device 60, the second delivery device 70, the first conveying unit 80, the second conveying unit 90, the third conveying unit 100 and the like to control the operation It is comprised with the control apparatus 110. FIG.

(펀칭 장치(10))(Punching device 10)

펀칭 장치(10)는, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)으로서의 COF를 펀칭하기 위한 것으로, 제1 펀칭 장치(10A)와 제2 펀칭 장치(10B)를 구비한다. 제1 펀칭 장치(10A)와 제2 펀칭 장치(10B)는 동일한 구성을 갖추며, 장치 정면에서 봤을 때 좌우 반전된 상태로 배치된다. 제1 및 제2 펀칭 장치(10A, 10B)는 한 쪽씩 사용되며, 한 쪽의 펀칭 장치(10A, 10B)에서 펀칭을 행하고 있는 사이에 다른 쪽의 펀칭 장치(10A, 10B)의 캐리어 테이프(T)의 교환 작업을 행할 수 있게 되어 있다.The punching apparatus 10 is for punching COF as the electronic component W from the carrier tape T, and is equipped with the 1st punching apparatus 10A and the 2nd punching apparatus 10B. The 1st punching apparatus 10A and the 2nd punching apparatus 10B have the same structure, and are arrange | positioned in the state left-right reversed when seen from the front of an apparatus. The first and second punching devices 10A, 10B are used one by one, and the carrier tape T of the other punching devices 10A, 10B is being punched out while punching is performed by one punching device 10A, 10B. ) Can be replaced.

제1 및 제2 펀칭 장치(10A, 10B)는, 각각, 펀칭 전의 캐리어 테이프(T)가 감겨진 공급 릴(11)과, 공급 릴(11)로부터 공급된 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)을 펀칭하는 금형 장치(12)와, 금형 장치(12)로 전자 부품(W)이 펀칭된 캐리어 테이프(T)를 권취하는 권취 릴(13)을 구비한다. 공급 릴(11)로부터 풀어내어진 캐리어 테이프(T)는, 복수의 가이드 롤러(14) 및 스프로켓(15)에 의해서 방향이 변환되고, 금형 장치(12)를 경유하여 권취 릴(13)로 보내진다. 여기서, 스프로켓(15)은, 캐리어 테이프(T)의 반송 방향에 있어서 금형 장치(12)의 바로 앞에 배치되어, 도시하지 않는 구동 모터에 의한 회전 구동에 의해 캐리어 테이프(T)를 반송하면서 캐리어 테이프(T)를 금형 장치(12)에 대하여 위치 결정할 수 있게 되어 있다.The 1st and 2nd punching apparatus 10A, 10B is an electronic component (1) from the supply reel 11 by which the carrier tape T before punching was wound, and the carrier tape T supplied from the supply reel 11, respectively. The mold apparatus 12 which punches W), and the winding reel 13 which winds the carrier tape T by which the electronic component W was punched by the mold apparatus 12 are provided. The carrier tape T unwound from the supply reel 11 is changed in direction by the plurality of guide rollers 14 and the sprocket 15, and sent to the take-up reel 13 via the mold apparatus 12. Lose. Here, the sprocket 15 is disposed immediately in front of the mold apparatus 12 in the conveyance direction of the carrier tape T, and conveys a carrier tape T while conveying the carrier tape T by rotational drive by the drive motor which is not shown in figure. (T) can be positioned with respect to the mold apparatus 12.

금형 장치(12)는, 상측 금형(12a)과, 상측 금형(12a)에 대향 배치된 하측 금형(12b)을 구비한다. 상측 금형(12a)은 그 하면에 펀치(12c)를 구비한다. 한편, 하측 금형(12b)에는, 펀치(12c)가 들어가는, 위아래로 관통하는 다이 구멍(12d)이 형성되어 있다. 이러한 금형 장치(12)에 대하여 캐리어 테이프(T)를 공급 및 위치 결정한 상태에서, 상측 금형(12a)을 위아래 방향으로 이동시킴으로써 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)이 펀칭된다. 또한, 펀치(12c)의 선단면에는 흡착 구멍(도시되지 않음)이 형성되어 있어, 펀칭한 전자 부품(W)을 흡착 유지할 수 있게 구성되어 있다.The metal mold | die apparatus 12 is equipped with the upper metal mold | die 12a and the lower metal mold | die 12b arrange | positioned facing the upper metal mold | die 12a. The upper mold 12a includes a punch 12c on its lower surface. On the other hand, the die 12b which penetrates up and down in which the punch 12c enters is formed in the lower metal mold | die 12b. The electronic component W is punched from the carrier tape T by moving the upper metal mold | die 12a to the up-down direction in the state which supplied and positioned the carrier tape T with respect to such a metal mold | die apparatus 12. FIG. In addition, a suction hole (not shown) is formed in the front end surface of the punch 12c, and it is comprised so that the punched electronic component W can be adsorbed-held.

(간헐 회전 반송 장치(20))(Intermittent Rotation Carrier 20)

간헐 회전 반송 장치(20)는, 동일 형상의 4개의 아암부(21)가 상호 직교하는 관계로 배치되며, 평면에서 봤을 때 십자 형상을 갖는 인덱스 테이블(22)과, 인덱스 테이블(22)을 90° 간격으로 간헐적으로 회전 구동시키는 회전 구동부(23)를 구비한다. 인덱스 테이블(22)의 각 아암부(21)의 선단에는, 각각 전자 부품(W)을 흡착 유지하는 유지 헤드(24)가 마련되어 있다. 인덱스 테이블(22)의 90°마다의 4개의 정지 위치(A∼D)에는, 펀칭 장치(10)로 펀칭된 전자 부품(W)을 수취하기 위한 수취 위치(A), 유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)에 대하여 위치 결정(게이징)과 청소를 행하기 위한 게이징/청소 위치(B), 유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)에 대하여 이방성 도전 테이프(F)를 점착하기 위한 점착 위치(C), 이방성 도전 테이프(F)가 점착된 전자 부품(W)을 가압착 장치(40)에 전달하기 위한 전달 위치(D)가 설정되어 있다.The intermittent rotation conveyance apparatus 20 arrange | positions in the relationship which the four arm part 21 of the same shape mutually orthogonally crosses, and makes the index table 22 and the index table 22 which have a cross shape in plan view 90 It is provided with the rotation drive part 23 which drives rotation intermittently by the interval. At the distal end of each arm portion 21 of the index table 22, a holding head 24 for sucking and holding the electronic component W is provided. At the four stop positions A to D of the index table 22 at every 90 °, to the receiving position A and the holding head 24 for receiving the electronic component W punched by the punching device 10. The gauging / cleaning position B for positioning (gauging) and cleaning with respect to the retained electronic component W, and the anisotropic conductive tape F with respect to the electronic component W held by the holding head 24. ), And a delivery position D for transmitting the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F is attached to the pressure bonding device 40 is set.

(이방성 도전 테이프 점착 장치(30))(Anisotropic Conductive Tape Adhesion Device 30)

이방성 도전 테이프 점착 장치(30)는, 간헐 회전 반송 장치(20)의 점착 위치(C)에 대응하여 마련되고, 이방성 도전 테이프(F)를 이형 테이프(R)에 점착 지지하게 한 테이프형 부재(S)가 감겨진 공급 릴(31)과, 점착 위치(C)에 위치 부여된 유지 헤드(24)와 대향하는 위치에 배치된 점착 헤드(32)와, 이방성 도전 테이프(F)가 박리된 후의 이형 테이프(R)를 수용하는 회수부(33)와, 공급 릴(31)로부터 공급된 테이프형 부재(S)를 점착 위치(C)를 통과하는 반송 경로를 따라가 회수부(33)로 안내하는 복수의 가이드부(34)와, 복수의 가이드부(34)에 의한 테이프형 부재(S)의 반송 경로의 점착 위치(C)보다도 하류 측에 배치되어, 테이프형 부재(S)의 반송 방향을 따라서 왕복 이동함으로써, 테이프형 부재(S)를 소정 길이씩 간헐 반송하는 척 이송부(35)와, 테이프형 부재(S)의 반송 경로의 점착 위치(C)보다도 상류 측에 배치되며, 테이프형 부재(S) 중 이방성 도전 테이프(F)만을 절단하는 절단부(36)를 구비하고 있다.The anisotropic conductive tape adhesive device 30 is provided corresponding to the adhesive position C of the intermittent rotation conveyance apparatus 20, and the tape-shaped member which made the anisotropic conductive tape F adhere to the release tape R ( After the supply reel 31 on which S) is wound, the adhesive head 32 disposed at a position opposed to the holding head 24 positioned at the adhesive position C, and the anisotropic conductive tape F are peeled off The recovery part 33 accommodating the release tape R and the tape-shaped member S supplied from the supply reel 31 are guided to the recovery part 33 along a conveyance path passing through the adhesive position C. FIG. It is arrange | positioned downstream from the adhesion position C of the conveyance path | route of the some guide part 34 and the tape-shaped member S by the some guide part 34, and conveyance direction of the tape-shaped member S By reciprocating along this, the conveyance diameter of the chuck | zipper conveyance part 35 which intermittently conveys the tape-shaped member S by predetermined length, and the tape-shaped member S, Placing all of the adhesive location (C) on the upstream side and, and a anisotropic conductive tape (F) cut (36) for cutting only of the tape-like member (S).

점착 헤드(32)는, 점착 위치(C)에 위치 결정된 유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)의 단자부에, 소정 길이로 절단되어 점착 위치(C)로 반송 및 위치 결정된 이방성 도전 테이프(F)를 누르기 위한 점착 툴(32a)과, 이 점착 툴(32a)을 승강 이동시키는 승강 구동부(32b)와, 점착 툴(32a)에 내장되며 점착 툴(32a)을 가열하여 이방성 도전 테이프(F)를 전자 부품(W)의 단자부에 점착하는 히터(32c)를 갖는다.The adhesive head 32 is an anisotropic conductive tape cut | disconnected to predetermined length in the terminal part of the electronic component W hold | maintained by the holding head 24 positioned in the adhesion position C, and conveyed and positioned to the adhesion position C. The adhesive tool 32a for pressing (F), the elevating drive part 32b which raises and lowers this adhesive tool 32a, and is built in the adhesive tool 32a, heating the adhesive tool 32a, and anisotropic conductive tape ( The heater 32c which adheres F) to the terminal part of the electronic component W is provided.

(가압착 장치(40))(Pressing device 40)

가압착 장치(40)는, 이방성 도전 테이프 점착 장치(30)에 의해서 이방성 도전 테이프(F)가 점착된 전자 부품(W)을 흡착 유지하며, 유기 EL 패널(P)에 가압착하기 위한 열압착 헤드로서의 가압착 헤드(41)와, 유기 EL 패널(P)을 유지 및 위치 결정하기 위한 스테이지(42)와, 스테이지(42)에 유지된 유기 EL 패널(P)과 가압착 헤드(41)에 유지된 전자 부품(W)의 상대 위치를 인식하기 위한 위치 인식 유닛(43)을 구비한다.The pressure bonding device 40 adsorbs and holds the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F is adhered by the anisotropic conductive tape adhesive device 30, and is a thermocompression head for press bonding to the organic EL panel P. The holding head 41 as a stand, the stage 42 for holding and positioning the organic EL panel P, and the organic EL panel P held at the stage 42 and the holding head 41 are held. And a position recognizing unit 43 for recognizing the relative position of the electronic component W.

가압착 헤드(41)는, 전자 부품(W)을 그 상면 측에서 흡착 유지하는 가압 툴(41a)과, 가압 툴(41a)을 Y, Z, θ 방향으로 이동시키는 툴 구동부(41b)와, 가압 툴(41a)에 내장되어 가압 툴(41a)을 가열하는 히터(41c)를 갖는다. 스테이지(42)는, 도 3에 도시한 것과 같이, 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치부(42a)와, 배치부(42a)와 일체적으로 마련되며, 유기 EL 패널(P) 중 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부를 하측에서 지지하는 지지부(42b)와, 배치부(42a)와 지지부(42b)를 일체적으로 X, Y, Z, θ 방향으로 이동시키는 스테이지 구동부(42c)를 갖는다.The pressing head 41 includes a pressurizing tool 41a for holding and holding the electronic component W on its upper surface side, a tool driver 41b for moving the pressurizing tool 41a in the Y, Z, and θ directions, It has a heater 41c which is built in the pressurizing tool 41a, and heats the pressurizing tool 41a. As shown in FIG. 3, the stage 42 is provided integrally with the placement portion 42a on which the organic EL panel P is disposed and the placement portion 42a. The support part 42b which supports the edge part in which the component W is mounted below, and the stage drive part 42c which moves the mounting part 42a and the support part 42b integrally in the X, Y, Z, and (theta) directions Have

배치부(42a)에 있어서의 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치면(42d)에는, 유기 EL 패널(P)을 흡착 유지하기 위한 흡착 구멍(42e)이 복수 형성되어 있다. 이 흡착 구멍(42e)은, 배치면(42d)에 유기 EL 패널(P)이 배치되었을 때, 유기 EL 패널(P) 에 있어서의 화상의 표시 영역에 대향하는 위치에 주로 배치되어 있다. 이 예에서는, 배치면(42d)의 유기 EL 패널(P)이 배치되는 영역(도 3에서 2점쇄선으로 둘러싸인 영역) 내에 균등한 간격으로 행렬 형상으로 배치한 예를 가지고 설명하지만, 후술하는 지지부(42b)에 의해서 지지되는 유기 EL 패널(P)의 적어도 가장자리부가 평탄하게 되도록 흡착 유지할 수 있으면 되기 때문에, 배치면(42d)에 배치되어 있는 유기 EL 패널(P)을 그 전역에서 흡착 유지해야만 하는 것은 아니다. 예컨대, 지지부(42b) 측에서 가장자리부와는 직교하는 방향으로 유기 EL 패널(P) 길이의 반 혹은 1/3 정도의 영역을 흡착 유지하도록 하여도 좋다. 흡착 구멍(42e)은, 유기 EL 패널(P)의 표시 영역을 흡착하게 되기 때문에, 흡착에 의해서 표시 영역에 흡착 흔적이 남지 않도록 구멍 직경을 작게 설정하는 것이 바람직하다. 구멍 직경은, 유기 EL 패널(P)의 고정에 필요한 흡인력과 이 흡인에 의한 유기 EL 패널(P)의 변형량의 관계를 실험 등에 의해서 구하여, 흡착 흔적이 남지 않게 그 크기를 설정하도록 하면 된다. 또한, 배치면(42d)을 다공질 부재, 예컨대 다공질 세라믹스를 사용한 진공 척에 의해 구성하여도 좋다.A plurality of adsorption holes 42e for adsorbing and holding the organic EL panel P are formed in the placement surface 42d on which the organic EL panel P in the arrangement portion 42a is disposed. This adsorption hole 42e is mainly arrange | positioned in the position which opposes the display area of the image in organic electroluminescent panel P, when the organic electroluminescent panel P is arrange | positioned at the mounting surface 42d. Although this example demonstrates with the example arrange | positioned at equal intervals in the area | region (region | region enclosed by the dashed-dotted line in FIG. 3) in which the organic EL panel P of the mounting surface 42d is arrange | positioned, the support part mentioned later Since at least the edge portion of the organic EL panel P supported by the 42b can be adsorbed and held flat, the organic EL panel P disposed on the placement surface 42d must be adsorbed and held in its entirety. It is not. For example, you may make it adsorb | suck and hold the area | region of about half or 1/3 of the length of organic electroluminescent panel P in the direction orthogonal to an edge part by the support part 42b side. Since the adsorption hole 42e adsorb | sucks the display area of organic electroluminescent panel P, it is preferable to set a hole diameter small so that an adsorption trace may not remain in a display area by adsorption | suction. The hole diameter may be obtained by a relationship between the suction force required for fixing the organic EL panel P and the deformation amount of the organic EL panel P due to the suction, by experiment or the like, and the size of the hole may be set so that no trace of adsorption remains. Moreover, you may comprise the mounting surface 42d by the vacuum chuck using a porous member, for example, porous ceramics.

지지부(42b)는, 상술한 것과 같이, 배치부(42a)와 일체적으로 설치되어, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 지지하는 기다란 형상의 부재이며, 그 상면이 평탄한 지지면(42f)으로서 형성되어 있다. 지지면(42f)의 높이 위치는 배치부(42a)의 배치면(42d)의 높이와 동일한 높이로 설정된다. 또한 이 지지면(42f)에는, 그 길이 방향을 따라서, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 흡착 유지하기 위한 복수의 흡착 구멍(42g)이 복수 열로 배열되어 있다. 지지부(42b)의 흡착 구멍(42g)도 배치부(42a)의 흡착 구멍(42e)과 마찬가지로 작은 쪽이 바람직하다. 단, 지지부(42b)가 지지하는 유기 EL 패널(P)의 가장자리부는, 전자 부품(W)과의 접속을 위한 전극이 배열된 부분이며 표시 영역이 아니다. 그 때문에, 배치부(42a)의 흡착 구멍(42e)일수록 구멍 직경을 작게 할 필요는 없지만, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가며 얼라인먼트 마크(PM)(도 4 참조)가 형성된 부분에 흡인에 의한 변형이 생기는 것은 위치 인식 정밀도를 저하시키는 요인이 되기 때문에 바람직하지 못하다. 흡착 구멍(42g)의 구멍 직경 및 흡착력은 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 변형이 생기지 않을 정도의 크기로 설정하는 것이 바람직하다. 또한, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 그 전역에서 지지면(42f)에 밀착되도록 흡착 구멍(42g)의 배치 간격은 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 생기는 휘어짐이나 주름에 의한 요철의 주기보다도 짧은 간격으로 하는 것이 바람직하다.As described above, the support portion 42b is an elongated member which is integrally provided with the placement portion 42a and supports the edge portion of the organic EL panel P, and has a flat upper surface as the support surface 42f. Formed. The height position of the support surface 42f is set to the same height as the height of the placement surface 42d of the placement portion 42a. Further, a plurality of adsorption holes 42g for adsorbing and holding the edge portion of the organic EL panel P are arranged in a plurality of rows along the longitudinal direction of the support surface 42f. As for the suction hole 42g of the support part 42b, the smaller one is preferable like the suction hole 42e of the mounting part 42a. However, the edge part of the organic EL panel P which the support part 42b supports is a part in which the electrode for the connection with the electronic component W is arrange | positioned, and is not a display area. Therefore, although the hole diameter does not need to be made smaller as the adsorption hole 42e of the arrangement | positioning part 42a, it is an edge part of organic electroluminescent panel P, and suction | suction is carried out in the part in which alignment mark PM (refer FIG. 4) was formed. It is not preferable to cause deformation due to deterioration in position recognition accuracy. It is preferable that the hole diameter and the attraction force of the suction hole 42g are set to a size such that deformation does not occur at the edge portion of the organic EL panel P. FIG. Further, the arrangement interval of the adsorption holes 42g is such that the edges of the organic EL panel P are in close contact with the supporting surface 42f in the entire area, so that the periods of the unevenness due to the warpage or the wrinkles occurring at the edges of the organic EL panel P are inclined. It is preferable to set it at shorter intervals.

또한, 배치부(42a) 및 지지부(42b)의 측변부(도 3에서 X축 방향 좌측의 측변부)에는 교정용 부재(42j)가 마련된다. 교정용 부재(42j)는, 직사각형 블록 형상의 베이스 부재(42j1)와, 이 베이스 부재(42j1)에 있어서 지지부(42b)의 X축 방향의 연장선 상에 위아래로 관통하여 형성된, 평면에서 봤을 때 コ자형의 오목부(42j2)와, 이 오목부(42j2)에 끼워져 들어간, 유리나 수지 등의 사각형상의 투명 판재(42j3)와, 이 투명 판재(42j3)의 중앙에 마련된 타겟 마크(42j4)를 갖고 있다. 이 타겟 마크(42j4)를, 후술하는 제1 촬상부(43a) 및 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)로 각각 촬상함으로써, 이들 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 어긋남의 보정치를 구할 수 있게 되고 있다.Moreover, the correction | amendment member 42j is provided in the side part (side side part of the X-axis direction left side in FIG. 3) of the mounting part 42a and the support part 42b. In the plan view, the member 42j for straightening is formed by penetrating up and down on a rectangular block-shaped base member 42j1 and an extension line in the X-axis direction of the supporting portion 42b in the base member 42j1. It has a female-shaped recessed part 42j2, the rectangular transparent board | plate material 42j3, such as glass and resin, which fits in this recessed part 42j2, and the target mark 42j4 provided in the center of this transparent plate material 42j3. . The target mark 42j4 is imaged by each of the first imaging section 43a and the pair of imaging sections 43e1 and 43e2 described later, so that the correction values of the relative position shifts of these imaging sections 43a, 43e1, 43e2 are obtained. It is becoming available.

스테이지 구동부(42c)는, 배치부(42a) 및 지지부(42b)를, 수평 방향의 한 방향인 X축 방향으로 이동시키는 X축 방향 구동부, X축 방향에 직교하는 수평 방향인 Y축 방향으로 이동시키는 Y축 방향 구동부, 수평 방향에 직교하는 Z축 방향으로 이동시키는 Z축 방향 구동부, 수평 면내에서 회전 이동시키는 θ 구동부를, 하측에서부터 이 순서로 적층하여 구성된 구동부이다. 또한, 스테이지 구동부(42c)는, X축 방향 및 Y축 방향의 위치 결정 정밀도의 향상을 도모하기 위해서, X축 방향 구동부 및 Y축 방향 구동부에 선형 인코더를 부수적으로 두고 있다.The stage drive part 42c moves in the X-axis direction drive part which moves the mounting part 42a and the support part 42b to the X-axis direction which is one direction of a horizontal direction, and moves to the Y-axis direction which is a horizontal direction orthogonal to an X-axis direction. The Y-axis direction drive part to be made, the Z-axis direction drive part which moves to the Z-axis direction orthogonal to a horizontal direction, and the (theta) drive part which rotates and moves in a horizontal plane are laminated | stacked in this order from the lower side. In addition, in order to improve the positioning accuracy in the X-axis direction and the Y-axis direction, the stage driver 42c additionally includes a linear encoder in the X-axis direction driver and the Y-axis direction driver.

이어서, 위치 인식 유닛(43)에 관해서 도 3 및 도 4를 이용하여 설명한다. 도 4는 위치 인식 유닛(43)에 의해서 위치 인식되는 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 개략 구성을 도시하는 평면도이다. 도면 중, X축 방향을 좌우 방향으로 하여 설명한다. 유기 EL 패널(P)은, 그 가장자리부에 형성된 전극열(ER)과, 전극열(ER)의 좌우 양측에 각각 마련된 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)를 갖는다. 전자 부품(W)은, 전극열(ER)과 대응하도록 배열된 단자열(TR)과, 단자열(TR)의 좌우 양측에 각각 마련된 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM)를 갖는다. 위치 인식 유닛(43)은, 유기 EL 패널(P)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 상대 위치 관계를 인식한다.Next, the position recognition unit 43 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. 4 is a plan view illustrating a schematic configuration of the organic EL panel P and the electronic component W that are positionally recognized by the position recognizing unit 43. In the drawings, the X-axis direction is described as the left-right direction. Organic EL panel P has the electrode string ER formed in the edge part, and a pair of alignment mark PM provided in the left and right both sides of the electrode string ER, respectively. The electronic component W has a terminal string TR arranged so as to correspond to the electrode string ER and a pair of alignment marks WM provided on both the left and right sides of the terminal string TR, respectively. The position recognition unit 43 recognizes the relative positional relationship of the pair of alignment mark PM of organic electroluminescent panel P and the alignment mark WM of the electronic component W. As shown in FIG.

이러한 위치 인식 유닛(43)은 제1 촬상 장치(43A)와 제2 촬상 장치(43B)를 구비한다. 제1 촬상 장치(43A)는, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 마련된 얼라인먼트 마크(PM)를, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 스테이지(42)의 지지부(42b)에 지지된 상태에서, 상측에서 촬상하기 위한 것이다. 제2 촬상 장치(43B)는, 전자 부품(W)에 마련된 얼라인먼트 마크(WM)를, 전자 부품(W)가 가압착 헤드(41)에 유지된 상태에서, 하측에서 촬상하기 위한 것이다.This position recognition unit 43 includes a first imaging device 43A and a second imaging device 43B. The first imaging device 43A has the alignment mark PM provided at the edge portion of the organic EL panel P in a state where the edge portion of the organic EL panel P is supported by the support portion 42b of the stage 42. For imaging from the upper side. The 2nd imaging device 43B is for imaging the alignment mark WM provided in the electronic component W in the state in which the electronic component W was hold | maintained in the press bonding head 41. FIG.

제1 촬상 장치(43A)는, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 정지 화상으로 촬상하는 제1 촬상부(43a)와, 제1 촬상부(43a)가 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리부(43b)를 갖는다. 제1 촬상부(43a)는, 촬상 소자를 구비하여 이루어지는 CCD(Charge Coupled Device) 카메라 등의 카메라(43c)와, 텔리센트릭 렌즈 등의 광학 유닛을 갖춘 경통부(43d)를 갖는다. 제1 촬상부(43a)는, 스테이지(42)보다도 위쪽의 위치이며, 전자 부품(W)과 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(WM, PM)를 인식하는 마크 인식 위치에 위치 부여된 가압 툴(41a)의 근방(도 3에서는 우측 근방)에 위치하도록 지지된다. 또, 제1 촬상부(43a)는, 가압 툴(41a)을 Y, Z, θ 방향으로 이동할 수 있게 지지하는 도시되지 않는 프레임에 고정하도록 하여도 좋고, 장치의 가대(架臺)에 직접 고정한 지지 부재에 고정하도록 하여도 좋다.The 1st imaging device 43A processes the 1st imaging part 43a which picks up the alignment mark PM of organic electroluminescent panel P with a still image, and the image which the 1st imaging part 43a picked up. It has an image processing part 43b. The first imaging unit 43a includes a camera 43c such as a CCD (Charge Coupled Device) camera including an imaging device, and a barrel portion 43d including an optical unit such as a telecentric lens. The 1st imaging part 43a is the position higher than the stage 42, and pressurization located in the mark recognition position which recognizes alignment marks WM and PM of the electronic component W and the organic EL panel P. FIG. It is supported to be located in the vicinity of the tool 41a (in the vicinity of the right side in FIG. 3). Moreover, the 1st imaging part 43a may be fixed to the frame which is not shown which supports the pressing tool 41a so that it can move to a Y, Z, (theta) direction, and is fixed directly to the mount of a device. It may be fixed to the support member.

제2 촬상 장치(43B)는, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 정지 화상으로 촬상하는 제2 촬상부(43e)와, 제2 촬상부(43e)가 촬상한 화상을 처리하는 화상 처리부(43f)를 갖는다. 또한, 화상 처리부(43f)는, 화상 처리부(43b)와 별로 설치하여도 좋지만, 하나의 화상 처리부로 화상 처리부(43b)와 화상 처리부(43f)를 겸용하도록 하여도 좋고, 후술하는 제어 장치(110)가 양 화상 처리부(43b, 43f)의 기능을 담당하도록 하여도 좋다.The 2nd imaging device 43B is a 2nd imaging part 43e which picks up the alignment mark WM of the electronic component W as a still image, and the image which processes the image picked up by the 2nd imaging part 43e. It has a processing part 43f. The image processing unit 43f may be provided separately from the image processing unit 43b, but the image processing unit 43b and the image processing unit 43f may be used as one image processing unit, and the control device 110 described later. ) May serve as the functions of both image processing units 43b and 43f.

제2 촬상부(43e)는, 전자 부품(W)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM)의 배치 간격에 대응하여 배치된 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)를 구비하고 있다. 각 촬상부(43e1, 43e2)는 각각 카메라(43g)와 광학 유닛을 갖춘 경통부(43h)를 갖는다. 각 촬상부(43e1, 43e2)는, 개별로 X 방향 이동 장치(43i)에 의해서 서로의 대향 간격을 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 배치 간격에 맞춰 조정할 수 있게 되어 있다.The 2nd imaging part 43e is equipped with the pair of imaging parts 43e1 and 43e2 arrange | positioned corresponding to the arrangement | positioning interval of a pair of alignment mark WM of the electronic component W. As shown in FIG. Each imaging unit 43e1, 43e2 has a barrel 43h with a camera 43g and an optical unit, respectively. Each of the imaging units 43e1 and 43e2 can be individually adjusted to the arrangement intervals of the alignment marks WM of the electronic component W by the X-direction moving device 43i.

카메라(43g)는, 광축이 수평 방향인 X축 방향과 평행하게 되도록 X 방향 이동 장치(43i)에 지지된다. 카메라(43g)에 연결된 경통부(43h)는, 그 선단 측에 광축이 바로 위를 향하도록 변환하기 위한 광축 변환부로서 프리즘(43j)이 배치되고, 이 프리즘(43j)에 대응하여 화상을 받아들이는 입구로서 개구(43h1)가 형성된다. X 방향 이동 장치(43i)는, 양 촬상부(43e1, 43e2)를, 개구(43h1)의 배치 간격이 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 배치 간격과 일치하도록, X축 방향의 상반되는 방향으로 동기하여 이동시킨다. 도시는 생략하고 있지만, 경통부(43h)에는 동축 조명 장치가 내장되어 있다.The camera 43g is supported by the X-direction moving device 43i so that the optical axis is parallel to the X-axis direction in the horizontal direction. In the barrel portion 43h connected to the camera 43g, a prism 43j is disposed as an optical axis converting portion for converting the optical axis so that the optical axis faces directly above, and receives an image corresponding to the prism 43j. An opening 43h1 is formed as the inlet. The X direction moving apparatus 43i uses both imaging portions 43e1 and 43e2 to have the upper half in the X-axis direction so that the arrangement interval of the opening 43h1 coincides with the arrangement interval of the alignment mark WM of the electronic component W. It moves in synchronism with the direction to become. Although not shown, the coaxial illuminator is incorporated in the barrel portion 43h.

제1 촬상 장치(43A)에 있어서의 화상 처리부(43b)는, 카메라(43c)의 촬상 신호를 받아, 촬상 영역 내에 받아들여져 얻어진 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 인식하여, 얼라인먼트 마크(PM)의 위치에 관한 데이터(이하, 「위치 데이터」라고 한다.)를 검출하는 것이다. 화상 처리부(43b)는, 공지된 패턴 매칭 처리에 의해, 촬상 화상 중에 있어서 미리 설정된 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)의 기준 패턴과 임계치 이상의 매칭률을 얻을 수 있는 화상을 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)로서 인식한다. 그리고, 인식한 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터를 카메라 좌표계에 기초하여 구한다. 구한 위치 데이터는 제어 장치(110)에 송신된다.The image processing part 43b in the 1st imaging device 43A receives the imaging signal of the camera 43c, recognizes the alignment mark PM of the organic EL panel P obtained and received in the imaging area, and is aligned The data relating to the position of the mark PM (hereinafter referred to as "position data") is detected. The image processing unit 43b uses the known pattern matching processing to display an image that can obtain a matching pattern equal to or higher than a threshold and the reference pattern of the alignment mark PM of the organic EL panel P preset in the captured image. It recognizes as alignment mark PM of (P). And the position data of the recognized alignment mark PM is calculated | required based on a camera coordinate system. The obtained position data is transmitted to the control device 110.

제2 촬상 장치(43B)의 화상 처리부(43f)는, 카메라(43g)의 촬상 신호를 받아, 촬상 영역 내에 받아들여져 얻어진 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 인식하여, 얼라인먼트 마크(WM)의 위치에 관한 데이터(이하, 「위치 데이터」라고 한다.)를 검출하는 것이다. 화상 처리부(43f)는, 공지된 패턴 매칭 처리에 의해, 촬상 화상 중에 있어서 미리 설정된 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 기준 패턴과 임계치 이상의 매칭률을 얻을 수 있는 화상을 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)로서 인식한다. 그리고, 인식한 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터를 카메라 좌표계에 기초하여 구한다. 구한 위치 데이터는 제어 장치(110)에 송신된다.The image processing unit 43f of the second imaging device 43B receives the imaging signal of the camera 43g, recognizes the alignment mark WM of the electronic component W obtained by being received in the imaging region, and the alignment mark WM. Is the position data (hereinafter referred to as "position data"). The image processing unit 43f uses the known pattern matching processing to display an image capable of obtaining a matching pattern of a reference pattern of the alignment mark WM of the electronic component W preset in the picked-up image and more than a threshold value. Is recognized as an alignment mark WM. Then, the position data of the recognized alignment mark WM is obtained based on the camera coordinate system. The obtained position data is transmitted to the control device 110.

(본압착 장치(50))(Main compression apparatus 50)

본압착 장치(50)는, 도 5에 도시한 것과 같이, 이방성 도전 테이프(F)를 통해 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)을 유지 및 위치 결정하기 위한 스테이지(51)와, 유기 EL 패널(P)에 대하여 전자 부품(W)을 본압착하기 위한 본압착 헤드(52)와, 이 본압착 헤드(52)의 하측에 본압착 헤드(52)에 대향하여 배치되어, 본압착 시에 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)의 가압착된 가장자리부를 하측에서 지지하는 백업부(53)와, 유기 EL 패널(P)의 위치를 인식하기 위한 위치 인식 유닛(54)(54a, 54b)을 구비한다.As shown in FIG. 5, the main crimping apparatus 50 includes a stage 51 for holding and positioning the organic EL panel P to which the electronic component W is pressed through the anisotropic conductive tape F. As shown in FIG. And a main compression head 52 for main compression of the electronic component W with respect to the organic EL panel P, and a main compression head 52 below the main compression head 52. The back-up part 53 which supports the pressed edge of the electronic component W in organic electroluminescent panel P from the lower side at the time of main compression, and the position recognition unit for recognizing the position of organic electroluminescent panel P. FIG. And 54 (54a, 54b).

스테이지(51)는, 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치부(51a)와, 배치부(51a)를 X, Y, Z, θ 방향으로 이동시키는 스테이지 구동부(51b)를 갖는다. 배치부(51a)는, 평면에서 봤을 때 직사각형을 이루는 부재이며, 유기 EL 패널(P)을 배치하는 배치면(상면)(51c)에는, 유기 EL 패널(P)을 흡착 유지하기 위한 흡착 구멍(51d)이 복수 형성되어 있다. 흡착 구멍(51d)은, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)의 흡착 구멍(42e)과 마찬가지로, 유기 EL 패널(P)의 흡착 흔적이 남지 않도록 구멍 직경을 작게 설정하는 것이 바람직하다. 스테이지 구동부(51b)는, 가압착 장치(40)의 스테이지 구동부(42c)와 마찬가지로, X축 방향 구동부, Y축 방향 구동부, Z축 방향 구동부, θ 구동부를, 하측에서부터 이 순서로 적층하여 구성된 구동부이다.The stage 51 has a disposition part 51a which arrange | positions organic electroluminescent panel P, and a stage drive part 51b which moves the disposition part 51a to an X, Y, Z, (theta) direction. The placement part 51a is a member which forms a rectangle in planar view, and the adsorption | suction hole for adsorbing-holding organic electroluminescent panel P in the mounting surface (upper surface) 51c which arrange | positions organic electroluminescent panel P ( A plurality of 51d) is formed. As for the adsorption hole 51d, like the adsorption hole 42e of the stage 42 of the press bonding apparatus 40, it is preferable to set a hole diameter small so that the adsorption | suction trace of organic electroluminescent panel P will not remain. The stage drive part 51b is the drive part which laminated | stacked the X-axis direction drive part, the Y-axis direction drive part, the Z-axis direction drive part, (theta) drive part in this order from the lower side similarly to the stage drive part 42c of the pressure bonding apparatus 40. FIG. to be.

본압착 헤드(52)는, 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)을 그 상면 측에서 누르는 가압 툴(52a)과, 가압 툴(52a)을 Z축 방향으로 이동시키는 툴 구동부(52b)와, 가압 툴(52a)에 내장되어 가압 툴(52a)을 가열하는 히터(52c)를 갖는다. 백업부(53)는, 본압착 헤드(52)의 가압 툴(52a)의 바로 아래 위치에 설치된, 가압 툴(52a)과 동등한 길이로 형성된 백업 툴(53a)과, 백업 툴(53a)을 지지하는 지지 부재(53b)를 갖는다. 백업 툴(53a)의 상면은, 배치부(51a)에 배치된 유기 EL 패널(P)의 전자 부품(W)이 가압착된 가장자리부의 하면을 지지하는 평탄면으로서 형성되어 있다.The main crimping head 52 includes a pressing tool 52a for pressing the electronic component W pressed against the organic EL panel P on its upper surface side, and a tool driving unit for moving the pressing tool 52a in the Z-axis direction. 52b and the heater 52c which is built in the pressurizing tool 52a and heats the pressurizing tool 52a. The backup part 53 supports the backup tool 53a and the backup tool 53a which were formed in the length equivalent to the pressure tool 52a provided in the position just under the pressure tool 52a of the main crimping head 52, and the backup tool 53a. It has a supporting member 53b. The upper surface of the backup tool 53a is formed as a flat surface which supports the lower surface of the edge part to which the electronic component W of the organic EL panel P arrange | positioned at the mounting part 51a was pressed.

위치 인식 유닛(54)은 제1 카메라(54a)와 제2 카메라(54b)와 화상 처리부(도시되지 않음)를 갖는다. 제1및 제2 카메라(54a, 54b)는, 스테이지(51)에 의한 유기 EL 패널(P)의 이동 범위 내의 위쪽에, 소정의 간격을 두고서 하향으로 부착되어 있으며, 유기 EL 패널(P)의 전자 부품(W)이 가압착된 가장자리부에 있어서의 양 단부 근방에 마련된 얼라인먼트 마크를 촬상한다. 상술한 제1 및 제2 카메라(54a, 54b)의 간격(소정의 간격)은 이 얼라인먼트 마크끼리의 간격이다. 또한, 이 얼라인먼트 마크는, 가압착 장치(40)에 있어서 상대 위치 데이터의 인식에 이용한 얼라인먼트 마크(PM)와는 별도의 얼라인먼트 마크이다. 도시되지 않는 화상 처리부는, 제1 및 제2 카메라(54a, 54b)에 의해서 촬상된 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크의 촬상 화상에 기초하여, 공지된 패턴 매칭 처리에 의해 얼라인먼트 마크를 인식하여, 얼라인먼트 마크의 위치를 검출한다.The position recognition unit 54 has a first camera 54a, a second camera 54b, and an image processing unit (not shown). The first and second cameras 54a and 54b are attached downwards at predetermined intervals above the movement range of the organic EL panel P by the stage 51, and the organic EL panel P The alignment mark provided in the vicinity of the both ends in the edge part to which the electronic component W was pressed was image | photographed. The space | interval (predetermined space | interval) of the 1st and 2nd cameras 54a and 54b mentioned above is the space | interval of these alignment marks. In addition, this alignment mark is an alignment mark different from the alignment mark PM used for recognition of relative position data in the pressure bonding apparatus 40. FIG. An image processing unit (not shown) recognizes the alignment mark by a known pattern matching process based on the picked-up image of the alignment mark of the organic EL panel P picked up by the first and second cameras 54a and 54b. The position of the alignment mark is detected.

(제1 전달 장치(60))(First delivery device 60)

제1 전달 장치(60)는, 캐리어 테이프(T)로부터 펀칭된 전자 부품(W)을 하측에서 흡착 유지하는 받음부(61)와, 받음부(61)를 펀칭 장치(10A, 10B)의 금형 장치(12)의 바로 아래 위치와 수취 위치(A)에 위치 부여된 간헐 회전 반송 장치(20)의 유지 헤드(24)의 바로 아래 위치로 이동시키기 위한 X, Y, Z, θ 구동부(62)를 구비한다.The 1st delivery apparatus 60 has the receiving part 61 which adsorbs and hold | maintains the electronic component W punched from the carrier tape T from the lower side, and the receiving part 61 is the metal mold | die of the punching apparatus 10A, 10B. X, Y, Z, θ drive 62 for moving to the position just below the holding device 24 of the intermittent rotational conveying device 20 positioned directly below the position 12 and the receiving position A It is provided.

(제2 전달 장치(70))(Second delivery device 70)

제2 전달 장치(70)는, 전자 부품(W)을 하측에서 흡착 유지하는 받음부(71)와, 받음부(71)를 전달 위치(D)에 위치 부여된 간헐 회전 반송 장치(20)의 유지 헤드(24)의 바로 아래 위치와 가압착 장치(40)의 가압착 헤드(41)의 바로 아래 위치로 이동시키기 위한 X, Y, Z, θ 구동부(72)를 구비한다.The 2nd delivery apparatus 70 of the intermittent rotation conveyance apparatus 20 in which the receiving part 71 which sucks and hold | maintains the electronic component W from the lower side, and the receiving part 71 was positioned in the delivery position D was carried out. An X, Y, Z, θ drive unit 72 is provided for moving to the position just below the holding head 24 and the position just below the pressing head 41 of the pressing device 40.

(제1 반송부(80))(1st conveyance part 80)

제1 반송부(80)는, 도시되지 않는 공급부로부터 공급되는 유기 EL 패널(P)을 상측에서 흡착 유지하는 유지체(81)와, 이 유지체(81)를 도시되지 않는 공급부에 의한 유기 EL 패널(P)의 공급 위치와 가압착 장치(40)의 스테이지(42)에 대한 유기 EL 패널(P)의 반입 위치로 이동시키기 위한 XZ 구동부(82)를 구비한다.The 1st conveyance part 80 is the holding body 81 which adsorbs-holds the organic EL panel P supplied from the supply part which is not shown from the upper side, and the organic EL by the supply part which is not shown in this holding body 81. The XZ drive part 82 for moving to the feeding position of the panel P and the carrying-in position of the organic EL panel P with respect to the stage 42 of the press bonding apparatus 40 is provided.

유지체(81)는, 도 9에 도시한 것과 같이, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)이 실장되는 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 흡착 유지하는 전극면 흡착 블록(81a)과, 이 전극면 흡착 블록(81a)에 인접하여 배치되며, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전극면 흡착 블록(81a)에 의해서 흡착되는 부분 이외의 부분을 흡착 유지하는 표시 영역 흡착부(81b)를 갖고 있다. 전극면 흡착 블록(81a)은, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부 전역을 흡착 유지할 수 있는 길이로 형성되고, 이 가장자리부를 따르는 방향으로 기다란 직방체 형상의 부재이다. 이 전극면 흡착 블록(81a)의 흡착면(81c)은 평탄하게 형성되며, 복수의 흡착 구멍(81d)이 형성되어 있다. 그리고, 이 흡착 구멍(81d)은, 가압착 장치(40)의 지지부(42b)와 마찬가지로, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 변형이 생기지 않을 정도의 크기로 구멍 직경이 설정되어 있고, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 평탄하게 하여 흡착 유지할 수 있게 되어 있다. 표시 영역 흡착부(81b)는, 흡착면이 평탄한 다공질체나 스폰지로 형성되어 있고, 다수의 흡착 구멍을 갖고 있다. 전극면 흡착 블록(81a) 및 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착면은 동일 평면 위에 위치하도록 조정되어 있다.As shown in FIG. 9, the holder 81 adsorbs and holds the edge portion in which the electrode string ER on which the electronic component W in the organic EL panel P is mounted is formed. ) And a display area adsorption part (arranged adjacent to the electrode surface adsorption block 81a and adsorbing and holding a portion other than the portion adsorbed by the electrode surface adsorption block 81a in the organic EL panel P) 81b). The electrode surface adsorption block 81a is formed in the length which can adsorb | suck and hold the whole edge part in which the electrode row ER of organic electroluminescent panel P was formed, and is a rectangular parallelepiped member extended in the direction along this edge part. The suction surface 81c of the electrode surface suction block 81a is formed flat, and a plurality of suction holes 81d are formed. And similar to the support part 42b of the press bonding apparatus 40, this adsorption hole 81d has a hole diameter set to the magnitude | size so that distortion does not generate | occur | produce in the edge part of organic electroluminescent panel P, The edge portion on which the electrode string ER of the EL panel P is formed can be flattened and held. The display area adsorption part 81b is formed with the porous body or sponge which has a flat adsorption surface, and has many adsorption holes. The adsorption surfaces of the electrode surface adsorption block 81a and the display area adsorption portion 81b are adjusted to be positioned on the same plane.

도 6에서는 하나의 표시 영역 흡착부(81b)를 도시하고 있지만, 복수의 표시 영역 흡착부(81b)가 나란히 배치되어 있어도 좋다. 표시 영역 흡착부(81b)는, 도 7에 도시한 것과 같이, 전극면 흡착 블록(81a)의 길이 방향(전극면 흡착 블록(81a)에 유지된 유기 EL 패널(P)의 가장자리부 방향)과는 교차하는 방향(이 실시형태에서는 직교하는 방향)으로 2개 나란하게 배치된다. 2개의 표시 영역 흡착부(81b)는, 각각이 전극면 흡착 블록(81a)과의 사이의 간격을 조정할 수 있게 유지체(81)의 본체부(81e)에 지지된다. 이들 표시 영역 흡착부(81b)는, 알루미늄 등의 금속제의 베이스부(81b1)와, 이 베이스부(81b1)에 있어서의 유기 EL 패널(P)을 유지하는 면(이하, 「하면」이라고 한다.)을 덮는 평탄한 다공질 시트(81b2)를 구비한다. 베이스부(81b1)에는, 진공 흡인 구멍에 연통하는 개략 격자형의 흡인 홈이 그 하면에 형성되어 있고, 이 하면에 형성된 다공질 시트(81b2)의 전역에 진공 흡인력을 작용시켜, 다공질 시트(81b2)의 전역에서 유기 EL 패널(P)을 대략 균일한 흡인력으로 평탄하게 유지할 수 있게 되어 있다. 다공질 시트(81b2)로서는, 예컨대 수지의 다공질 성형체를 필름형으로 가공한 것을 이용할 수 있다. 이와 같이 구성함으로써, 유지체(81)는 가요성을 갖는 얇은 필름형의 유기 EL 패널(P)이라도, 평탄하면서 또한 흡착 흔적을 생기게 하는 일없이 흡착 유지할 수 있다.Although one display area adsorption part 81b is shown in FIG. 6, several display area adsorption part 81b may be arrange | positioned side by side. As shown in FIG. 7, the display area adsorption part 81b is formed in the longitudinal direction of the electrode surface adsorption block 81a (the direction of the edge portion of the organic EL panel P held in the electrode surface adsorption block 81a). Are arranged side by side in the crossing direction (orthogonal direction in this embodiment). Two display area adsorption parts 81b are supported by the main body part 81e of the holding body 81 so that each can adjust the space | interval between the electrode surface adsorption block 81a. These display area adsorption | suction part 81b is called the surface (henceforth "a lower surface") holding the base part 81b1 made of metals, such as aluminum, and the organic EL panel P in this base part 81b1. ), A flat porous sheet 81b2 is provided. In the base portion 81b1, a roughly lattice suction groove communicating with the vacuum suction hole is formed on the lower surface thereof, and a vacuum suction force is applied to the entire area of the porous sheet 81b2 formed on the lower surface thereof, thereby providing the porous sheet 81b2. Organic EL panel P can be kept flat with substantially uniform suction force in the whole area | region. As the porous sheet 81b2, for example, one obtained by processing a porous molded body of resin in a film form can be used. By such a configuration, the holder 81 can be adsorbed and held even with a thin film-like organic EL panel P having flexibility, without causing any adsorption traces to be flat.

또한, 유기 EL 패널(P)을 가압착 장치(40)의 스테이지(42) 상에 배치할 때에는, 전극면 흡착 블록(81a)이 유기 EL 패널(P)의 전극이 형성된 가장자리부의 상면(전극면)을 스테이지(42)의 지지부(42b)에 대하여 압박하게 된다. 따라서, 유기 EL 패널(P)의 전극면은, 전극면 흡착 블록(81a)의 평탄한 흡착면(81c)과 지지부(42b)의 평탄한 지지면(42f)의 사이에 끼워져 평탄하게 교정된 상태에서 지지부(42b)에 흡착 유지된다. 또한, 표시 영역 흡착부(81b)가 유기 EL 패널(P)을 평탄하게 흡착 유지한 상태에서 유기 EL 패널(P)을 배치부(42a)의 배치면(42d)에 맞닿게 하기 때문에, 유기 EL 패널(P)은 전극면 이외라도 주름 등이 생기는 일없이 배치부(42a)에 흡착 유지된다.In addition, when arrange | positioning the organic EL panel P on the stage 42 of the press bonding apparatus 40, the electrode surface adsorption block 81a will be the upper surface (electrode surface) of the edge part in which the electrode of organic electroluminescent panel P was formed. ) Is pressed against the support 42b of the stage 42. Therefore, the electrode surface of the organic EL panel P is sandwiched between the flat adsorption surface 81c of the electrode surface adsorption block 81a and the flat support surface 42f of the support portion 42b, and the support portion is in a state of being flatly corrected. It is adsorbed and held by 42b. In addition, since the organic EL panel P is brought into contact with the placement surface 42d of the placement portion 42a in a state where the display area adsorption portion 81b adsorbs and holds the organic EL panel P evenly, the organic EL panel P is organic EL. The panel P is adsorbed and held by the placement portion 42a without wrinkles or the like even in the electrode surface.

(제2 반송부(90))(2nd conveyance part 90)

제2 반송부(90)는, 가압착 장치(40)에 의해서 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)을 상측에서 흡착 유지하는 유지체(91)와, 이 유지체(91)를 가압착 장치(40)의 스테이지(42)로부터 유기 EL 패널(P)을 반출하는 반출 위치와 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 대한 유기 EL 패널(P)의 반입 위치로 이동시키기 위한 XZ 구동부(92)를 구비한다. 유지체(91)는, 유기 EL 패널(P) 상면에 있어서의 대략 전역을 흡착 유지하는, 흡착면이 평탄한 다공질체 등으로 형성된 표시 영역 흡착부를 구비하고 있다. 이 표시 영역 흡착부는 유지체(81)의 표시 영역 흡착부(81b)과 같은 식으로 구성된다.The 2nd conveyance part 90 is the holder 91 which adsorbs-holds the organic electroluminescent panel P by which the electronic component W was pressed by the press bonding apparatus 40, and this holder 91 ) Is moved from the stage 42 of the pressing device 40 to the carrying out position of carrying out the organic EL panel P and the carrying position of the organic EL panel P with respect to the stage 51 of the main pressing device 50. An XZ drive unit 92 is provided. The holding body 91 is provided with the display area adsorption | suction part formed with the porous body etc. with which the adsorption surface was flat and adsorbed and hold | maintained substantially the whole area | region in the upper surface of organic electroluminescent panel P. This display area adsorption part is comprised in the same way as the display area adsorption part 81b of the holding body 81. FIG.

(제3 반송부(100))(3rd conveyance part 100)

제3 반송부(100)는, 본압착 장치(50)에 의해서 전자 부품(W)이 본압착된 유기 EL 패널(P), 즉 표시용 부재를 상측에서 흡착 유지하는 유지체(101)와, 이 유지체(101)를, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)로부터 유기 EL 패널(P)을 반출하는 반출 위치와 도시되지 않는 반출 장치로의 전달 위치로 이동시키기 위한 XZ 구동부(102)를 구비한다.The 3rd conveyance part 100 is the holding body 101 which adsorbs and hold | maintains the organic electroluminescent panel P by which the electronic component W was main-bonded by the main crimping apparatus 50, ie, the display member from the upper side, The XZ drive part 102 for moving this holding body 101 to the carrying out position to which the organic electroluminescent panel P is carried out from the stage 51 of this crimping apparatus 50, and a delivery position to the carrying out apparatus not shown in figure. It is provided.

(제어 장치(110)) (Control device 110)

제어 장치(110)는, 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 실장하는 동작을 제어하는 제어부(실장 동작 제어 장치)와, 후술하는 제1 촬상 장치(43A)와 제2 촬상 장치(43B)의 상대적인 위치 관계를 보정하는 교정 동작을 제어하는 제어부(교정 동작 제어 장치)를 겸하는 것이다. 제어 장치(110)는 기억부(111)를 구비한다. 이 기억부(111)에는, 예컨대 가압착 장치(40)에서의 하중, 가열 온도나 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 기준 위치 정보 등, 각 부를 제어하기 위한 각종 정보가 기억된다. 기억부(111)에는, 교정용 부재로서의 타겟 마크(42j4)의 화상을 제1 촬상 장치(43A)와 제2 촬상 장치(43B)에 의해 받아들이는 타이밍으로서의 시간 간격 또는 전자 부품(W)의 실장 횟수(실장 개수)가 미리 기억되어 있다. 여기서, 화상을 받아들이는 시간 간격으로서는, 1번째 전자 부품(W)의 실장이 이루어지고 나서의 경과 시간을, 예컨대 10분마다나 30분마다 등으로 설정한다. 실장 횟수는, 1번째 전자 부품(W)의 실장이 이루어지고 나서의 실장 횟수(실장 개수라도 좋다)를, 예컨대 100회마다라든가 300회마다 등으로 설정한다.The control apparatus 110 is a control part (mounting operation control apparatus) which controls the operation | movement which mounts the electronic component W in organic electroluminescent panel P, the 1st imaging device 43A and 2nd imaging device which are mentioned later ( It also serves as a control unit (calibration operation control device) for controlling a calibration operation for correcting the relative positional relationship of 43B). The control device 110 includes a storage unit 111. In this memory | storage part 111, the various information for controlling each part, such as the load in the press bonding apparatus 40, the heating temperature, and the reference position information of the alignment marks PM and WM, are stored. In the storage section 111, the time interval as a timing for receiving the image of the target mark 42j4 as the correction member by the first imaging device 43A and the second imaging device 43B or the mounting of the electronic component W. The number of times (mounting number) is stored in advance. Here, as a time interval which accepts an image, the elapsed time after mounting of the 1st electronic component W is set, for example every 10 minutes, every 30 minutes, etc. are set. The number of mountings sets the number of mountings (may be the number of mountings) after the first electronic component W is mounted, for example, every 100 times, every 300 times, or the like.

제1 및 제2 촬상 장치(43A, 43B)에 의한 타겟 마크(42j4)의 화상은, 동일한 시간 간격이나 동일한 실장 횟수로 반복해서 받아들이도록 하여도 좋고, 시간의 경과마다 그 간격 또는 횟수를 크게 하거나 혹은 반대로 작게 하도록 하여도 좋다. 예컨대, 가압 툴(41a)에 내장된 히터(41c)의 열에 의한 팽창으로 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 관계가 변화되는 경우, 히터(41c)의 온도가 일정 온도로 유지되고 있으므로, 열팽창은 포화 상태가 된다고 생각되기 때문에, 열팽창량의 증가 상태에 맞춰 시간 간격 또는 실장 횟수를 서서히 증가시키도록 하여도 좋다. 한편, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 관계의 변화가 포화되는 일없이 완만하게 변동을 계속하는 경우, 시간 간격 또는 실장 횟수는 소정의 값으로 고정적으로 설정하도록 하여도 좋다.The images of the target marks 42j4 by the first and second imaging devices 43A and 43B may be repeatedly received at the same time interval or the same number of mounting times, or the intervals or the number of times are increased for each passage of time. Alternatively, it may be made smaller. For example, when the relative positional relationship of the imaging parts 43a, 43e1, 43e2 is changed by the expansion by the heat of the heater 41c built in the pressurizing tool 41a, since the temperature of the heater 41c is maintained at a fixed temperature, Since thermal expansion is considered to be saturated, the time interval or the number of mounting may be gradually increased in accordance with the increased state of thermal expansion. On the other hand, in the case where the fluctuation continues smoothly without the change in the relative positional relationship between the imaging units 43a, 43e1, 43e2 being saturated, the time interval or the number of mounting may be fixed to a predetermined value.

제어 장치(110)는, 기억부(111)에 기억된 시간 간격 또는 실장 횟수에 기초하여, 제1 및 제2 촬상 장치(43A, 43B)에 의한 타겟 마크(42j4) 화상 받아들이기를 실행한다. 예컨대, 기억부(111)에 30분이라는 시간 간격이 설정된 경우에는, 1번째 전자 부품(W)이 실장된 시점에서 계측을 시작하여, 30분 경과할 때마다 타겟 마크(42j4) 화상 받아들이기를 실행하여, 제1 및 제2 촬상 장치(43A, 43B)의 3개의 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 관계를 인식하도록 한다.The control device 110 executes the reception of the target mark 42j4 image by the first and second imaging devices 43A and 43B based on the time interval or the number of mountings stored in the storage unit 111. For example, when a time interval of 30 minutes is set in the storage unit 111, measurement starts at the time when the first electronic component W is mounted, and the target mark 42j4 image is accepted every 30 minutes. Thus, the relative positional relationship between the three imaging units 43a, 43e1, 43e2 of the first and second imaging devices 43A, 43B is recognized.

[실장 장치의 동작][Operation of Mounting Device]

이어서 실시형태의 실장 장치(1)의 작동에 관해서 설명한다. 우선, 제1 펀칭 장치(10A)의 공급 릴(11)로부터 캐리어 테이프(T)가 공급되고, 금형 장치(12)에 의해서 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)이 펀칭된다. 펀칭된 전자 부품(W)은 펀치(12c)에 흡착 유지된다. 펀치(12c)에 유지된 전자 부품(W)은 제1 전달 장치(60)의 받음부(61)에 전달되고, 제1 전달 장치(60)에 의해 간헐 회전 반송 장치(20)의 수취 위치(A)로 이송된다. 수취 위치(A)로 이송된 전자 부품(W)은, 수취 위치(A)에 위치 부여된 간헐 회전 반송 장치(20)의 유지 헤드(24)로 전달된다. 또한, 제1 전달 장치(60)는, 전자 부품(W)을 수취 위치(A)로 이송하는 도중에, 전자 부품(W)의 방향을 90° 회전시킴으로써, 단자열(TR)이 형성된 가장자리부를 수취 위치(A)에 위치 부여된 유지 헤드(24)의 바깥쪽 측면을 따르는 방향(Y 방향)에 맞춘다.Next, operation | movement of the mounting apparatus 1 of embodiment is demonstrated. First, the carrier tape T is supplied from the supply reel 11 of the 1st punching apparatus 10A, and the electronic component W is punched from the carrier tape T by the metal mold | die apparatus 12. As shown in FIG. The punched electronic component W is sucked and held by the punch 12c. The electronic component W held by the punch 12c is transmitted to the receiving part 61 of the 1st transmission apparatus 60, and the reception position of the intermittent rotation conveyance apparatus 20 is received by the 1st transmission apparatus 60 ( Transferred to A). The electronic component W transferred to the receiving position A is transmitted to the holding head 24 of the intermittent rotation conveyance apparatus 20 positioned at the receiving position A. As shown in FIG. Moreover, the 1st delivery apparatus 60 receives the edge part in which the terminal string TR was formed by rotating the direction of the electronic component W by 90 degrees in the middle of conveying the electronic component W to the receiving position A. FIG. Align with the direction (Y direction) along the outer side surface of the holding head 24 positioned in the position A. As shown in FIG.

유지 헤드(24)에 유지된 전자 부품(W)은, 인덱스 테이블(22)의 간헐 회전에 의해서, 게이징/청소 위치(B), 점착 위치(C), 전달 위치(D)로 순차 이송된다. 이 이송 중, 게이징/청소 위치(B)에 있어서, 전자 부품(W)은 도시되지 않는 위치 결정 기구의 맞닿음에 의해 유지 헤드(24)에 대하여 위치 결정됨과 더불어, 도시되지 않는 회전 브러시 등의 청소 기구에 의해 단자부에 부착된 먼지의 청소가 이루어진다. 또한, 점착 위치(C)에 있어서, 전자 부품(W)의 단자부에는, 이방성 도전 테이프 점착 장치(30)에 의해서 이방성 도전 테이프(F)가 점착된다. 게이징/청소 위치(B)에서 위치 결정 및 청소가 행해지고, 점착 위치(C)에서 이방성 도전 테이프(F)가 점착된 전자 부품(W)이 전달 위치(D)에 위치 부여되면, 전자 부품(W)은 전달 위치(D)에 있어서 제2 전달 장치(70)의 받음부(71)에 전달된다. 받음부(71)에 전달된 전자 부품(W)은, 가압착 장치(40)의 가압착 헤드(41)의 바로 아래 위치로 이송되어, 가압착 헤드(41)에 전달된다.The electronic component W held by the holding head 24 is sequentially transferred to the gauging / cleaning position B, the adhesion position C, and the delivery position D by the intermittent rotation of the index table 22. . During this transfer, in the gauging / cleaning position B, the electronic component W is positioned relative to the holding head 24 by abutment of a positioning mechanism (not shown), and a rotary brush or the like not shown. Cleaning of dust attached to the terminal part is done by the cleaning mechanism of. In addition, in the adhesion position C, the anisotropic conductive tape F is adhere | attached to the terminal part of the electronic component W by the anisotropic conductive tape adhesive apparatus 30. FIG. When the positioning and cleaning are performed at the gauging / cleaning position B, and the electronic component W to which the anisotropic conductive tape F is adhered at the adhesive position C is positioned at the delivery position D, the electronic component ( W) is transmitted to the receiving portion 71 of the second delivery device 70 at the delivery position D. FIG. The electronic component W transmitted to the receiving part 71 is transferred to the position just under the pressing head 41 of the pressing device 40, and is transferred to the pressing head 41.

한편, 상술한 동작과 병행하여, 도시되지 않는 공급부로부터 제1 반송부(80)의 유지체(81)에 의해서 유기 EL 패널(P)이 빼내어져, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)에 공급 배치된다. 우선, 제1 반송부(80)의 유지체(81)가 도시되지 않는 공급부로 이동하고, 공급부에 있어서 준비된 유기 EL 패널(P)의 상면에 유지체(81)의 유지면, 즉 전극면 흡착 블록(81a)의 흡착면(81c) 및 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착면을 맞닿게 한다. 이 때, 유지체(81)에 의해서 유기 EL 패널(P)을 가볍게 압박한 상태에서 전극면 흡착 블록(81a)과 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착력을 작용시킨다. 이와 같이 함으로써, 유기 EL 패널(P)에 휘어짐이나 왜곡이 생긴 경우라도, 유기 EL 패널(P)을 평탄한 상태로 유지체(81)에 유지하게 할 수 있다.On the other hand, in parallel with the above-mentioned operation, the organic EL panel P is pulled out by the holding body 81 of the first conveying unit 80 from the supply unit not shown, and the stage 42 of the pressure bonding device 40 is used. Is placed in the supply. First, the holding body 81 of the 1st conveyance part 80 moves to the supply part which is not shown, and the holding surface of the holding body 81, ie, electrode surface adsorption | suction, is carried out on the upper surface of organic electroluminescent panel P prepared in the supply part. The adsorption surface 81c of the block 81a and the adsorption surface of the display area adsorption part 81b are made to abut. At this time, in the state where the organic EL panel P is lightly pressed by the holding body 81, the adsorption force of the electrode surface adsorption block 81a and the display area adsorption part 81b is exerted. By doing in this way, even when the organic EL panel P is bent or distorted, the organic EL panel P can be held in the holder 81 in a flat state.

유지체(81)에 유지된 유기 EL 패널(P)은, 가압착 장치(40)의 스테이지(42) 상으로 반송된다. 이 때, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)는, 유지체(81)로부터 유기 EL 패널(P)의 공급을 받는 공급 위치(도 1에 2점쇄선으로 나타내는 위치)에 위치 부여되어 있다. 스테이지(42) 상으로 반송된 유기 EL 패널(P)은 스테이지(42)에 배치된다. 이 때, 유지체(81)의 하강에 의해서, 유기 EL 패널(P)은 스테이지(42) 상에 압박되어 평탄화된다.Organic EL panel P hold | maintained by the holding body 81 is conveyed on the stage 42 of the press bonding apparatus 40. FIG. At this time, the stage 42 of the pressing device 40 is positioned at a supply position (a position indicated by a dashed-dotted line in FIG. 1) to receive the organic EL panel P from the holder 81. . Organic EL panel P conveyed on the stage 42 is arrange | positioned at the stage 42. At this time, the organic EL panel P is pressed onto the stage 42 and flattened by the lowering of the holder 81.

보다 상세하게는, 유기 EL 패널(P)은, 유지체(81)의 전극면 흡착 블록(81a)의 흡착면(81c)에 전극면이 흡착 유지되고 있음과 더불어, 표시 영역 흡착부(81b)에 표시 영역이 흡착 유지되고 있으며, 이들에 의해서 평탄한 상태로 유지되고 있다. 이 상태에서, 유기 EL 패널(P)은 스테이지(42) 상에 압박되기 때문에, 유기 EL 패널(P)은 유지체(81)의 전극면 흡착 블록(81a)의 흡착면(81c) 및 표시 영역 흡착부(81b)의 흡착면과, 스테이지(42)의 지지부(42b)의 지지면(42f) 및 배치부(42a)의 배치면(42d)의 사이에 끼워진다. 그 때문에, 유기 EL 패널(P)은, 평탄화된 상태를 유지한 채로 스테이지(42) 상에 전달되어, 스테이지(42)에 흡착 유지된다.More specifically, in the organic EL panel P, the electrode surface is adsorbed and held on the adsorption surface 81c of the electrode surface adsorption block 81a of the holder 81, and the display area adsorption portion 81b is provided. The display area is held by adsorption and is kept in a flat state by these. In this state, since the organic EL panel P is pressed on the stage 42, the organic EL panel P is the adsorption surface 81c and the display area of the electrode surface adsorption block 81a of the holder 81. It fits between the adsorption surface of the adsorption part 81b, the support surface 42f of the support part 42b of the stage 42, and the placement surface 42d of the mounting part 42a. Therefore, the organic EL panel P is transmitted on the stage 42 while maintaining the planarized state, and is adsorbed and held on the stage 42.

이 때, 유기 EL 패널(P)이 스테이지(42) 상에 압박된 상태에서, 스테이지(42)의 지지부(42b)의 흡착 구멍(42g) 및 배치부(42a)의 흡착 구멍(42e)에 흡인력을 작용시킨 후, 유지체(81)의 전극면 흡착 블록(81a)과 표시 영역 흡착부(81b)의 흡인력을 해제하도록 하여도 좋지만, 스테이지(42)에 흡인력을 작용시키기 전에 유지체(81)의 흡인력을 해제하도록 하여도 좋다. 이와 같이 함으로써, 스테이지(42)와 유지체(81) 사이에 협지된 유기 EL 패널(P)의 면 방향에 있어서의 구속이 경감되게 되기 때문에, 만일 휘어짐이나 왜곡이 남은 상태에서 유지체(81)에 유지되어 있었던 경우라도, 그 휘어짐이나 왜곡이 협지에 의해서 교정되어 평탄화되는 것을 기대할 수 있다. 이 때문에, 유지체(81)를 스테이지(42)에 압박하는 힘은, 상술한 교정의 방해가 되지 않을 정도의 크기로 설정하는 것이 바람직하다.At this time, in the state where the organic EL panel P is pressed on the stage 42, the suction force is applied to the adsorption hole 42g of the support part 42b of the stage 42 and the adsorption hole 42e of the placement part 42a. The suction force of the electrode surface adsorption block 81a and the display area adsorption part 81b of the holder 81 may be released after the operation of the holder 81, but before the suction force is applied to the stage 42, the holder 81 is applied. The suction force of may be released. By doing in this way, the restraint in the surface direction of the organic EL panel P clamped between the stage 42 and the holder 81 is reduced, so that the holder 81 in a state where warpage or distortion remains. Even if it is maintained at, the warpage and distortion can be expected to be corrected by flattening and flattening. For this reason, it is preferable to set the force which presses the holding body 81 to the stage 42 to the magnitude | size which does not interfere with the above-mentioned calibration.

스테이지(42)에 유기 EL 패널(P)이 유지되면, 유지체(81)는 도시되지 않는 공급부로 이동한다. 스테이지(42)는 가압착 헤드(41)에 의한 가압착 위치로 이동한다. 이 이동 과정에서, 유기 EL 패널(P)의 좌우의 얼라인먼트 마크(PM)가 제1 촬상부(43a) 바로 아래 위치(마크 인식 위치)에 위치 부여되도록 이동시킨다. 제1 촬상부(43a)는, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)가 바로 아래에 위치 부여될 때마다 얼라인먼트 마크(PM)를 포함하는 유기 EL 패널(P)의 화상을 받아들인다. 받아들여진 얼라인먼트 마크(PM)의 촬상 화상은 화상 처리부(43b)로 보내져, 화상 처리부(43b)에서 처리되어 각 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터가 구해진다. 구해진 위치 데이터는 제어 장치(110)로 보내진다. 스테이지(42)에 지지된 유기 EL 패널(P)은, 각 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터의 인식이 완료된 후, 전자 부품(W)의 가압착이 행해지는 가압착 위치에 위치 부여된다.When the organic EL panel P is held in the stage 42, the holder 81 moves to a supply unit not shown. The stage 42 moves to the pressing position by the pressing head 41. In this movement process, the alignment mark PM of the left and right of organic electroluminescent panel P is moved so that it may be located in the position (mark recognition position) directly under 1st imaging part 43a. The first imaging unit 43a receives an image of the organic EL panel P including the alignment mark PM whenever the alignment mark PM of the organic EL panel P is positioned directly below. The captured image of the alignment mark PM received is sent to the image processing part 43b, and is processed by the image processing part 43b, and the position data of each alignment mark PM is calculated | required. The obtained position data is sent to the control device 110. After recognition of the position data of each alignment mark PM is completed, organic electroluminescent panel P supported by the stage 42 is positioned in the pressing position where pressure bonding of the electronic component W is performed.

한편, 전자 부품(W)을 유지한 가압착 헤드(41)는, 제2 전달 장치(70)로부터 전자 부품(W)을 수취한 전달 위치에서 가압착 위치로 이동한다. 이 이동 과정에서, 전자 부품(W)을 마크 인식 위치로 이동시킨다. 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 상측의 제1 촬상 장치(43A)로 촬상하고, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 하측의 제2 촬상 장치(43B)로 촬상하기 때문에, 마크 인식 위치에 위치 부여된 유기 EL 패널(P) 및 전자 부품(W)은, 도 4에 도시한 것과 같이 수평 방향으로 약간 떨어진 상태로 되어 있다. 즉, 마크 인식 위치의 전자 부품(W)은, 마크 인식 위치에 위치 부여된 유기 EL 패널(P)의 전극면에 대하여, 도 4에 도시한 것과 같이, 수평 방향에 관해서는 단자열(TR)이 형성된 가장자리부가 전극열(ER)이 형성된 가장자리부에 근접한 상태로 대향하도록 위치 부여되고, 수직(상하) 방향에 관해서는 전자 부품(W)의 하면이 유기 EL 패널(P)의 전극면보다도 약간 높은 위치가 되도록 위치 부여된다.On the other hand, the press fitting head 41 holding the electronic component W moves to the pressing position from the transfer position that receives the electronic component W from the second transfer device 70. In this moving process, the electronic component W is moved to the mark recognition position. Imaging the alignment mark PM of the organic EL panel P with the upper 1st imaging device 43A, and imaging the alignment mark WM of the electronic component W with the lower 2nd imaging device 43B. Therefore, the organic EL panel P and the electronic component W positioned at the mark recognition position are in a state slightly separated in the horizontal direction as shown in FIG. 4. That is, as shown in FIG. 4, the electronic component W in the mark recognition position is connected to the terminal surface TR in the horizontal direction with respect to the electrode surface of the organic EL panel P positioned at the mark recognition position. The formed edge portion is positioned to face the edge portion adjacent to the edge portion where the electrode string ER is formed, and the lower surface of the electronic component W is slightly smaller than the electrode surface of the organic EL panel P with respect to the vertical (up and down) direction. Positioned to be a high position.

전자 부품(W)이 마크 인식 위치에 위치 부여되면, 제2 촬상 장치(43B)의 카메라(43g)가 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 촬상한다. 즉, 제2 촬상 장치(43B)의 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)에 있어서의 개구(43h1)의 배치 간격은, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 배치 간격에 일치하도록 조정되고 있다. 이 때문에, 마크 인식 위치에 위치 부여된 전자 부품(W)의 각 얼라인먼트 마크(WM)는, 각각 대응하는 개구(43h1)의 위쪽에 위치하는 상태가 된다. 이 상태에서, 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)는 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 화상을 동시에 받아들인다. 그리고, 받아들여진 양 얼라인먼트 마크(WM)의 화상은 화상 처리부(43f)로 보내지고, 화상 처리부(43f)에 의해서 양 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터가 구해진다. 구해진 위치 데이터는 제어 장치(110)에 보내진다.When the electronic component W is positioned at the mark recognition position, the camera 43g of the second imaging device 43B picks up the alignment mark WM of the electronic component W. In other words, the arrangement interval of the openings 43h1 in the pair of imaging units 43e1 and 43e2 of the second imaging apparatus 43B is adjusted to match the arrangement interval of the alignment marks WM of the electronic component W. It is becoming. For this reason, each alignment mark WM of the electronic component W positioned at the mark recognition position is in a state located above the corresponding opening 43h1, respectively. In this state, the pair of imaging sections 43e1 and 43e2 simultaneously receive an image of the alignment mark WM of the electronic component W. And the image of the received both alignment mark WM is sent to the image processing part 43f, and the position data of both alignment mark WM is calculated | required by the image processing part 43f. The obtained position data is sent to the control device 110.

제어 장치(110)는, 화상 처리부(43b)로부터 보내진 유기 EL 패널(P)의 좌우의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터와, 화상 처리부(43f)로부터 보내진 전자 부품(W)의 좌우의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터에 기초하여, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 X, Y, θ 방향의 상대 위치 어긋남을 구한다. 구한 상대 위치 어긋남에 기초하여, 이 위치 어긋남을 없애도록 툴 구동부(41b)와 스테이지 구동부(42c)를 제어하여, 유기 EL 패널(P)을 가압착 위치로 이동시키면서 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치를 맞춘다.The control apparatus 110 has position data of the left and right alignment mark PM of the organic EL panel P sent from the image processing part 43b, and the left and right alignment mark of the electronic component W sent from the image processing part 43f. Based on the position data of (WM), the relative position shift of X, Y, and (theta) directions of organic electroluminescent panel P and the electronic component W is calculated | required. Based on the obtained relative position shift, the tool driver 41b and the stage driver 42c are controlled so as to eliminate the position shift, and the organic EL panel P and the electrons are moved while the organic EL panel P is moved to the pressing position. Align the position of the part (W).

구체적으로는, 제어 장치(110)는, 유기 EL 패널(P)의 좌우의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터로부터, 이들 2점을 연결하는 선분의 기울기(θP)와 이 선분의 중점의 좌표(XP,YP)를 구한다. 또한, 제어 장치(110)는, 전자 부품(W)의 좌우의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터로부터, 이들 2점을 연결하는 선분의 기울기(θW)와 이 선분의 중점의 좌표(XW,YW)를 구한다. 여기서 구한 기울기와 중점의 좌표의 차가 양자의 상대적인 위치 어긋남으로서 구해진다. 구한 상대 위치 어긋남으로부터 다음과 같이 하여 위치 어긋남을 수정한다.Specifically, the control apparatus 110, based on the position data of the left and right alignment marks PM of the organic EL panel P, the slope (θP) of the line segment connecting these two points and the coordinate of the midpoint of the line segment ( XP, YP) Moreover, the control apparatus 110 is based on the position data of the left-right alignment mark WM of the electronic component W, and the inclination (theta) W of the line segment which connects these two points, and the coordinate (XW, YW) of the midpoint of this line segment. ) The difference between the inclination and the coordinate of the midpoint obtained here is calculated as the relative positional shift between the two. From the obtained relative position shift, the position shift is corrected as follows.

우선, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM) 사이를 연결하는 선분의 기울기(θP)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이를 연결하는 선분의 기울기(θW)의 차를 없애도록, 즉 θP-θW=0이 되도록 가압 툴(41a)을 θ 방향으로 회전시킨다. 이어서, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM) 사이를 연결하는 선분의 중점이, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이를 연결하는 선분의 중점과 일치하도록 스테이지(42)(스테이지 구동부(42c))를 구동시킨다. 이 때, 가압 툴(41a)의 θ 방향의 회전 중심이 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이를 연결하는 선분의 중점의 위치에 대하여 틀어져 위치하는 경우, 상술한 가압 툴(41a)의 회전에 의해서, 선분의 중점의 위치가 가압 툴(41a)의 회전분만큼 수평 방향으로 위치가 어긋나기 때문에, 유기 EL 패널(P)의 이동 위치는 이 위치 어긋남을 가미하여 실행된다.First, the difference between the inclination θP of the line segments connecting between the alignment marks PM of the organic EL panel P and the inclination θW of the line segments connecting the alignment marks WM of the electronic component W is eliminated. In other words, the pressing tool 41a is rotated in the θ direction so that θP-θW = 0. Next, the stage 42 (stage) so that the midpoint of the line segment connecting between the alignment marks PM of the organic EL panel P coincides with the midpoint of the line segment connecting between the alignment marks WM of the electronic component W. The drive part 42c is driven. At this time, when the rotation center in the θ direction of the pressing tool 41a is deviated with respect to the position of the midpoint of the line segment connecting between the alignment marks WM of the electronic component W, the above-mentioned pressing tool 41a Since the position of the midpoint of the line segment shifts in the horizontal direction by the rotation of the pressing tool 41a by the rotation, the movement position of the organic EL panel P is performed by adding this position shift.

유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 어긋남을 수정한 후, 툴 구동부(41b)의 구동에 의해서 가압 툴(41a)이 하강된다. 이에 따라, 미리 설정된 가열 온도, 가압력, 가압 시간으로 전자 부품(W)의 단자부가 유기 EL 패널(P)의 전극면에 이방성 도전 테이프(F)를 통해 가열 가압되고, 전극열(ER)을 갖는 가장자리부가 지지부(42b)에 의해 하측에서 지지된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)이 가압착된다. 이 때, 스테이지(42)의 지지부(42b)를 하측에서 지지하는 백업 부재를 마련해 두고서, 이 백업 부재에 의해 가압착할 때에 지지부(42b)를 아래에서 지지하도록 하여도 좋다. 이와 같이 함으로써, 가압에 의해서 스테이지(42)에 왜곡이 생기는 것을 방지할 수 있기 때문에, 스테이지(42)의 강성을 낮춰 경량화를 도모할 수 있게 된다. 스테이지(42)를 이동시킬 때의 부하가 저감되고, 이동 시의 진동의 저감이 도모되어, 안정적이면서 또한 신속한 이동이나 위치 결정이 가능하게 된다.After correcting the positional shift between the organic EL panel P and the electronic component W, the pressing tool 41a is lowered by the driving of the tool driving section 41b. Thereby, the terminal part of the electronic component W is heat-pressed by the anisotropic conductive tape F to the electrode surface of the organic electroluminescent panel P at the preset heating temperature, the pressing force, and the pressurization time, and has electrode row ER. The electronic component W is press-bonded to the organic EL panel P whose edge part was supported by the support part 42b below. At this time, you may provide the backup member which supports the support part 42b of the stage 42 from the lower side, and may support the support part 42b from the bottom when pressurized by this backup member. By doing in this way, since distortion can be prevented from occurring in the stage 42 by pressurization, the rigidity of the stage 42 can be reduced and weight reduction can be attained. The load at the time of moving the stage 42 is reduced, the vibration at the time of the movement is aimed at, and stable and rapid movement and positioning are attained.

미리 설정된 가압 시간이 경과하면, 가압 툴(41a)에 의한 전자 부품(W)의 흡착이 해제됨과 더불어 가압 툴(41a)이 상승한다. 가압 툴(41a)은, 제2 전달 장치(70)로부터 전자 부품(W)이 전달되는 전달 위치로 이동된다. 또한, 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)을 배치하는 스테이지(42)는, 제2 반송부(90)에 유기 EL 패널(P)을 전달하는 반출 위치로 이동된다. 이 반출 위치에서, 유기 EL 패널(P)은, 제2 반송부(90)의 유지체(91)에 의해서, 그 상면을 제1 반송부(80)의 유지체(81)에 의한 유지와 같은 식으로 흡착 유지되어, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)로 반송된다.When the preset pressing time elapses, the suction of the electronic component W by the pressing tool 41a is released, and the pressing tool 41a rises. The pressurizing tool 41a is moved from the 2nd delivery apparatus 70 to the delivery position to which the electronic component W is transmitted. Moreover, the stage 42 which arrange | positions the organic electroluminescent panel P by which the electronic component W was pressurized is moved to the carrying out position which delivers organic electroluminescent panel P to the 2nd conveyance part 90. FIG. In this carrying out position, organic electroluminescent panel P has the upper surface similar to the holding | maintenance by the holding body 81 of the 1st conveying part 80 by the holding body 91 of the 2nd conveyance part 90. It is adsorbed and held by the formula and conveyed to the stage 51 of the main crimping apparatus 50.

제2 반송부(90)에 의해서 본압착 장치(50)에 공급된 유기 EL 패널(P)은, 반입 위치에 위치 부여된 스테이지(51) 상에 전달되어, 스테이지(51) 상에 흡착 유지된다. 이 전달 시의 동작은 제1 반송부(80)에서 스테이지(42)로의 유기 EL 패널(P)의 전달과 같은 식으로 행해진다. 단, 전자 부품(W)이 가압착된 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 스테이지(51)로부터 비어져 나온 상태로 유지되는 점이 다르다.The organic EL panel P supplied by the 2nd conveyance part 90 to the main crimping apparatus 50 is transmitted on the stage 51 located in the loading position, and is attracted and held on the stage 51. . The operation during this transfer is performed in the same manner as the transfer of the organic EL panel P from the first transfer section 80 to the stage 42. However, the point that the edge part of the organic electroluminescent panel P by which the electronic component W was press-bonded is maintained in the state which protruded from the stage 51 differs.

스테이지(51)에 유기 EL 패널(P)이 유지되면, 스테이지(51)는 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 백업 툴(53a)의 상면에 지지하게 하도록 이동된다. 또한, 이 이동 도중에, 위치 인식 유닛(54)에 의해서 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(얼라인먼트 마크(PM)와는 별도의 마크)의 위치 인식이 행해진다. 이 위치 인식 결과에 기초하여, 스테이지(51)는 유기 EL 패널(P)의 전극면이 백업 툴(53a)의 상면에 올바른 위치 관계로 위치하도록 이동된다. 백업 툴(53a)의 상면에 유기 EL 패널(P)의 가장자리부가 지지되면, 툴 구동부(52b)의 구동에 의해서 가압 툴(52a)이 하강되어, 미리 설정된 가열 온도, 가압력, 가압 시간으로 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)이 본압착된다.When the organic EL panel P is held by the stage 51, the stage 51 is moved to support the edge of the organic EL panel P on the upper surface of the backup tool 53a. In addition, position recognition of the alignment mark (mark separate from alignment mark PM) of organic electroluminescent panel P is performed by the position recognition unit 54 in the middle of this movement. Based on this position recognition result, the stage 51 is moved so that the electrode surface of organic electroluminescent panel P may be located in the correct positional relationship with the upper surface of the backup tool 53a. When the edge portion of the organic EL panel P is supported on the upper surface of the backup tool 53a, the pressing tool 52a is lowered by the driving of the tool driving unit 52b, and the organic EL panel is set at a preset heating temperature, pressing force, and pressing time. The electronic component W press-bonded to the panel P is main-bonded.

미리 설정된 가압 시간이 경과하면, 가압 툴(52a)은 상승된다. 또한, 전자 부품(W)이 본압착된 유기 EL 패널(P), 즉 표시용 부재를 배치하는 스테이지(51)는, 제3 반송부(100)에 유기 EL 패널(P)을 전달하는 반출 위치로 이동된다. 이 반출 위치에서, 유기 EL 패널(P)은 제3 반송부(100)의 유지체(101)에 의해서 그 상면이 흡착 유지되어, 도시되지 않는 반출 장치로 반송된다.When the preset pressing time elapses, the pressing tool 52a is raised. Moreover, the organic EL panel P by which the electronic component W was main-bonded, ie, the stage 51 which arrange | positions the display member, is a carrying out position which delivers organic electroluminescent panel P to the 3rd conveyance part 100. Moreover, in FIG. Is moved to. At this carrying out position, the organic EL panel P is adsorbed-held by the holding body 101 of the 3rd conveyance part 100, and is conveyed to the carrying out apparatus which is not shown in figure.

상술한 전자 부품(W)의 유기 EL 패널(P)에의 가압착 공정 및 본압착 공정을 포함하는 실장 동작을, 전자 부품(W)을 실장하여야 하는 유기 EL 패널(P)이 없어질 때까지 반복해서 실행한다. 또한, 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서, 가압착 공정은 위치 정밀도의 향상이 중요한 데 대하여, 본압착 공정은 이방성 도전 테이프(F)에 의한 압착 강도나 신뢰성의 향상이 중요하고, 또한 공정 시간도 다르다. 이 때문에, 가압착 장치(40)와 본압착 장치(50)를 적용하여 가압착 공정과 본압착 공정을 실시함으로써, 전자 부품(W)의 실장 효율을 향상시킬 수 있다. 단, 실시형태의 실장 장치(1)는 이러한 구성에 한정되는 것은 아니다. 본압착 장치(50)로 위치 결정 공정에서부터 본압착 공정까지를 실시하도록 하여도 좋다. 그 경우, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 지지부(42b)와 백업부(53)가 병설된다.The mounting operation including the pressing process to the organic EL panel P and the main pressing process of the electronic component W described above is repeated until there is no organic EL panel P to which the electronic component W should be mounted. Run it. In addition, in the mounting apparatus 1 of embodiment, although the improvement of positional accuracy is important for the press bonding process, it is important for the main crimping process to improve the crimping | strength strength and reliability by the anisotropic conductive tape F, and also the process The time is different. For this reason, the mounting efficiency of the electronic component W can be improved by applying the press bonding apparatus 40 and the main press apparatus 50, and performing a press bonding process and a main press process. However, the mounting apparatus 1 of embodiment is not limited to such a structure. The main crimping device 50 may perform the positioning process to the main crimping process. In that case, the support part 42b and the backup part 53 are provided in parallel to the stage 51 of the main crimping apparatus 50.

상술한 전자 부품(W)을 실장하는 동작 과정에서, 기억부(111)에 기억되어 있는 시간 간격 또는 실장 횟수가 경과할 때마다, 제어 장치(110)는 촬상부(43a, 43e1, 43e2)에 의한 타겟 마크(42j4) 화상 받아들이기를 실행한다. 촬상부(43a, 43e1, 43e2)로 받아들인 타겟 마크(42j4)의 화상 데이터에 기초하여, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 위치 어긋남을 보정하는 교정 동작을 실시한다. 즉, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치를 맞출 때에, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 지지부(42b)로 하측에서 지지하며 또한 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 상측의 제1 촬상 장치(43A)에서 촬상하고, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 하측의 제2 촬상 장치(43B)로 촬상함으로써, 후에 상세히 설명하는 것과 같이, 종래의 OLB 장치에 의한 유기 EL 패널의 가장자리부의 처짐, 가장자리부에서의 빛 반사의 변동 등에 의한 실장 정밀도의 저하, 또한 유기 EL 패널 상면의 얼라인먼트 마크와 전자 부품 하면의 얼라인먼트 마크를 하측의 하나의 카메라로 동시에 촬상하여 위치 인식함에 의한 유기 EL 패널의 표면 정밀도, 광투과율, 유기 EL 패널의 구조 등에 기초한 실장 정밀도의 저하를 억제할 수 있다.In the operation process of mounting the electronic component W described above, each time the time interval or the number of times of mounting stored in the storage unit 111 elapses, the control device 110 is connected to the imaging units 43a, 43e1, 43e2. Acceptance of the target mark 42j4 is performed. Based on the image data of the target mark 42j4 received by the imaging sections 43a, 43e1, 43e2, a correction operation for correcting the positional shift of the imaging sections 43a, 43e1, 43e2 is performed. That is, when aligning the position of the organic EL panel P and the electronic component W, the edge part of the organic EL panel P is supported by the support part 42b from below, and the alignment mark PM of the organic EL panel P is also supported. ) Is captured by the upper first imaging device 43A, and the alignment mark WM of the electronic component W is captured by the lower second imaging device 43B, so as to be described in detail later, a conventional OLB. Deterioration of the mounting accuracy due to sagging of the edge portion of the organic EL panel by the device, fluctuation of light reflection at the edge portion, and the like, alignment marks on the upper surface of the organic EL panel and alignment marks on the lower surface of the electronic component are simultaneously captured by one camera Therefore, the fall of the mounting precision based on the surface precision, the light transmittance of the organic EL panel, the structure of the organic EL panel, etc. by position recognition can be suppressed.

상술한 것과 같이, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 상측의 제1 촬상 장치(43A)로 촬상하고, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 하측의 제2 촬상 장치(43B)로 촬상하고, 이들 얼라인먼트 마크의 화상 정보에 기초하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 상대 위치를 인식하여 위치를 맞춤으로써, ±3 ㎛ 이내의 실장 정밀도를 얻을 수 있었다. 단, 그와 같은 실장 공정을 연속하여 실시하면 실장 정밀도가 시간이 경과함에 다라 저하할 우려가 있다. 본원 발명자들이 촬상부의 교정 동작을 실시하지 않고, 약 5시간 연속해서 실장 동작을 반복하여 행한 후, 전자 부품(W)의 실장 정밀도를 측정한 바, 시간이 경과함에 따라 실장 정밀도의 저하가 인정되었다.As described above, the alignment mark PM of the organic EL panel P is picked up by the upper first imaging device 43A, and the alignment mark WM of the electronic component W is lowered by the second imaging device ( 43B), and the mounting precision within +/- 3 micrometers was obtained by recognizing the relative position of organic electroluminescent panel P and the electronic component W based on the image information of these alignment marks, and adjusting the position. However, when such a mounting process is performed continuously, there exists a possibility that mounting precision may fall with time. The inventors of the present application repeatedly performed the mounting operation for about 5 hours without performing the calibration operation of the imaging unit, and then measured the mounting precision of the electronic component W. As time passed, a decrease in the mounting precision was recognized. .

구체적으로는, 하나의 전자 부품(W)의 실장에 드는 시간(택트 타임)은 10초로 설정하여, 실장 시작 직후, 3시간 경과 시 및 5시간 경과 시의 실장 정밀도를 각각 측정했다. 그 결과, 실장 시작 직후에는 실장 위치 어긋남, 즉 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 상대 위치 어긋남(X, Y, θ)이 (-0.4 ㎛, 1.3 ㎛, -0.0059°)가 되고, 실장 정밀도는 ±3 ㎛ 이내였다. 3시간 경과 시점에서는 실장 위치 어긋남이 (1.4 ㎛, -3.5 ㎛, -0.0063°)가 되고, 실장 정밀도는 ±3 ㎛를 넘어 버렸다. 또한, 5시간 경과 시점에서는 실장 정밀도가 (2.6 ㎛, -4.1 ㎛, -0.0067°)가 되고, 실장 정밀도는 ±3 ㎛를 또 넘어 버리는 결과가 되었다. 이러한 시간이 경과함에 따라 실장 정밀도가 저하하거나 돌발적으로 실장 정밀도가 저하하거나 하는 현상은, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(PM, WM)를 하나의 카메라로 동시에 촬상했을 때는 발생하지 않았다. 이 때문에, 위아래 2개의 촬상 장치(43A, 43B)를 사용함으로써, 이들 촬상 장치(43A, 43B)의 상대 위치에 어긋남이 생겨 시간이 경과함에 따라 실장 정밀도가 저하하는 것으로 생각된다. 이 때문에, 실시형태의 실장 장치(1)에 있어서는, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)로 받아들인 타겟 마크(42j4)의 화상 데이터에 기초하여, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 위치 어긋남을 보정하는 교정 동작을 실시한다.Specifically, the time (tact time) required to mount one electronic component W was set to 10 seconds, and the mounting precision at the time of 3 hours and 5 hours after each start of mounting was measured, respectively. As a result, immediately after the start of mounting, the mounting position shift, that is, the relative position shift (X, Y, θ) of the organic EL panel P and the electronic component W becomes (-0.4 µm, 1.3 µm, -0.0059 °). , The mounting precision was within ± 3 μm. After 3 hours, the mounting position shift was (1.4 µm, -3.5 µm, -0.0063 °), and the mounting accuracy exceeded ± 3 µm. Moreover, when 5 hours passed, the mounting precision became (2.6 micrometer, -4.1 micrometer, -0.0067 degree), and the mounting precision exceeded +/- 3 micrometer. The phenomenon in which the mounting precision decreases or the mounting accuracy suddenly decreases as the time elapses is caused by simultaneous imaging of alignment marks PM and WM of the organic EL panel P and the electronic component W with one camera. When did not occur. For this reason, by using the two imaging devices 43A and 43B up and down, the shift | offset | difference arises in the relative position of these imaging devices 43A and 43B, and it is thought that mounting precision falls with time. For this reason, in the mounting apparatus 1 of embodiment, the position shift of the imaging parts 43a, 43e1, 43e2 based on the image data of the target mark 42j4 received by the imaging parts 43a, 43e1, 43e2. Perform a corrective action to correct this.

상기한 화상 받아들이기에 있어서는, 우선, 타겟 마크(42j4)가 도 3에 있어서 제1 촬상부(43a)의 경통부(43d) 바로 아래의 미리 설정된 위치(XY 좌표)로 이동하도록 스테이지 구동부(42c)를 제어한다. 그리고, 타겟 마크(42j4)가 경통부(43d)의 바로 아래에 위치 부여되면, 제1 촬상부(43a)에 의해서 타겟 마크(42j4)를 촬상한다. 화상 처리부(43b)는, 제1 촬상부(43a)의 촬상 화상에 기초하여 타겟 마크(42j4)의 위치에 관한 데이터(이하 「위치 데이터」라고 부른다.)를 검출한다. 여기서는, 위치 데이터는 XY 좌표이다. 제1 촬상부(43a)의 위치에 어긋남이 생기지 않으면, 이 위치 데이터는 타겟 마크(42j4)의 이동 위치의 좌표와 일치한다. 또한, 화상 처리부(43b)는, 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터를 검출하는 것이지만, 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터를 검출하는 기능도 구비한다. 이와 같이 하여 검출한 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터는 제어 장치(110)에 송신된다.In accepting the above-described image, first, the stage driver 42c is moved so that the target mark 42j4 moves to a preset position (XY coordinate) immediately below the barrel portion 43d of the first imaging portion 43a in FIG. 3. To control. And if the target mark 42j4 is positioned under the barrel part 43d, the 1st imaging part 43a will image the target mark 42j4. The image processing unit 43b detects data (hereinafter referred to as "position data") regarding the position of the target mark 42j4 based on the captured image of the first imaging unit 43a. Here, the position data is XY coordinates. If no deviation occurs in the position of the first imaging unit 43a, this position data coincides with the coordinate of the movement position of the target mark 42j4. The image processing unit 43b detects the position data of the alignment mark PM, but also has a function of detecting the position data of the target mark 42j4. The position data of the target mark 42j4 detected in this way is transmitted to the control device 110.

제1 촬상부(43a)에 의한 타겟 마크(42j4)의 촬상이 완료되면, 타겟 마크(42j4)가 도 3에 있어서 도면 우측에 위치하는 촬상부(43e1)의 개구(43h1)의 바로 위쪽의 미리 설정된 위치로 이동하도록 스테이지 구동부(42c)를 제어한다. 그리고, 타겟 마크(42j4)가 개구(43h1)의 바로 위쪽에 위치 부여되면, 촬상부(43e1)에 의해서 타겟 마크(42j4)를 촬상한다. 화상 처리부(43f)는, 화상 처리부(43b)와 마찬가지로, 촬상부(43e1)의 촬상 화상에 기초하여 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터를 검출하여, 제어 장치(110)에 송신한다. 여기서, 화상 처리부(43f)도 또한 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터를 검출하는 기능도 겸하는 것이다.When the imaging of the target mark 42j4 by the first imaging unit 43a is completed, the target mark 42j4 is previously located immediately above the opening 43h1 of the imaging unit 43e1 located on the right side of the drawing in FIG. 3. The stage driver 42c is controlled to move to the set position. And if the target mark 42j4 is positioned just above the opening 43h1, the imaging mark 43e1 will image the target mark 42j4. Similar to the image processing unit 43b, the image processing unit 43f detects and transmits the position data of the target mark 42j4 to the control device 110 based on the captured image of the imaging unit 43e1. Here, the image processing unit 43f also serves as a function of detecting the position data of the target mark 42j4.

또한, 촬상부(43e1)에 의한 타겟 마크(42j4)의 촬상이 완료되면, 타겟 마크(42j4)가 도 3에 있어서 도면 좌측에 위치하는 촬상부(43e2)의 개구(43h1)의 바로 위쪽의 미리 설정된 위치로 이동하도록 스테이지 구동부(42c)를 제어한다. 그리고, 타겟 마크(42j4)가 개구(43h1)의 바로 위쪽에 위치 부여되면, 촬상부(43e2)에 의해서 타겟 마크(42j4)를 촬상한다. 화상 처리부(43f)는, 상술한 것과 마찬가지로, 촬상부(43e2)의 촬상 화상에 기초하여 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터를 검출하여, 제어 장치(110)에 송신한다. 또한, 스테이지 구동부(42c)는 실장 동작 시에 있어서의 유기 EL 패널(P)의 스테이지(42)의 구동 장치와, 교정 동작 시에 있어서의 제1 및 제2 촬상 장치(43A, 43B)와 타겟 마크(42j4)의 이동 장치(수평 이동 장치)를 겸하고 있다.In addition, when imaging of the target mark 42j4 by the imaging part 43e1 is completed, the target mark 42j4 advances immediately before the opening 43h1 of the imaging part 43e2 located in the left side of the figure in FIG. The stage driver 42c is controlled to move to the set position. And if the target mark 42j4 is positioned directly above the opening 43h1, the imaging mark 43e2 will image the target mark 42j4. The image processing unit 43f detects the position data of the target mark 42j4 based on the picked-up image of the imaging unit 43e2 and transmits it to the control apparatus 110 similarly to the above. In addition, the stage driver 42c includes a drive device for the stage 42 of the organic EL panel P during the mounting operation, first and second imaging devices 43A and 43B and the target during the calibration operation. It serves as a moving device (horizontal moving device) of the mark 42j4.

각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)에서의 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터의 검출이 완료되면, 제어 장치(110)는 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치의 어긋남을 구한다. 즉, 기억부(111)에는, 타겟 마크(42j4)의 기준 위치가 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다 미리 기억되어 있다. 기준 위치는 본 실시형태에서는 XY 좌표인데, 이 XY 좌표는 예컨대 전자 부품(W)의 실장을 시작하는 전단계에서 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)를 이용하여 상술한 것과 같은 식으로 타겟 마크(42j4)의 위치를 인식함으로써 취득할 수 있다.When the detection of the position data of the target mark 42j4 in each imaging section 43a, 43e1, 43e2 is completed, the control device 110 calculates the shift of the relative positions of the imaging sections 43a, 43e1, 43e2. That is, in the memory | storage part 111, the reference position of the target mark 42j4 is memorize | stored before every imaging part 43a, 43e1, 43e2. The reference position is the XY coordinate in this embodiment. The XY coordinate is the target mark (e.g., as described above using the respective imaging units 43a, 43e1, 43e2 in the previous step of starting the mounting of the electronic component W, for example). It can acquire by recognizing the position of 42j4).

제어 장치(110)는, 실제로 검출한 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다의 타겟 마크(42j4)의 위치 데이터와 그것에 대응하는 기준 위치를 비교하여, 기준 위치에 대한 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 어긋남을 구한다. 그리고, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다 구한 상대 위치 어긋남을 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다의 보정치로서 기억부(111)에 기억시킨다. 기억부(111)에 기억시킨 보정치는, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 X, Y, θ 방향의 상대 위치 어긋남을 구할 때에 이용된다.The control apparatus 110 compares the position data of the target mark 42j4 for every imaging part 43a, 43e1, 43e2 which it actually detected, and the reference position corresponding to it, and compares each imaging part 43a, 43e1 with respect to a reference position. 43e2) is obtained. The relative position shift obtained for each of the imaging units 43a, 43e1, 43e2 is stored in the storage unit 111 as a correction value for each of the imaging units 43a, 43e1, 43e2. The correction value stored in the storage section 111 is used to determine the relative positional shift in the X, Y, and θ directions of the organic EL panel P and the electronic component W. FIG.

즉, 제1 촬상 장치(43A) 및 제2 촬상 장치(43B)에 의해서, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터 및 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터가 구해지고, 이들 위치 데이터가 제어 장치(110)에 보내진다. 제어 장치(110)에 의해서 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 X, Y, θ 방향의 상대 위치 어긋남이 구해진다. 이 때에 기억부(111)에 보정치가 기억되어 있으면, 제어 장치(110)는 각 촬상 장치(43A, 43B)로부터 보내진 각 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 위치 데이터를 기억부(111)에 기억된 보정치로 보정한다.That is, the positional data of the alignment mark PM of the organic electroluminescent panel P, and the positional data of the alignment mark WM of the electronic component W by the 1st imaging device 43A and the 2nd imaging device 43B. Is obtained and these positional data are sent to the control device 110. The relative position shift in the X, Y, and θ directions of the organic EL panel P and the electronic component W is determined by the controller 110. At this time, if the correction value is stored in the storage unit 111, the control device 110 stores the position data of each alignment mark PM, WM sent from each of the imaging devices 43A, 43B in the storage unit 111. Correct with the correction value.

보다 구체적으로는, 제1 촬상 장치(43A)에 의해서 인식된 유기 EL 패널(P)의 좌우의 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 데이터에 관해서는, 촬상부(43a)의 보정치로서 기억된 보정치를 이용하여 보정한 값을 위치 데이터(보정 위치 데이터)로 한다. 제2 촬상 장치(43B)에 의해서 인식된 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 중, 촬상부(43e1)를 이용하여 인식된 우측의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터에 관해서는, 촬상부(43e1)의 보정치로서 기억된 보정치를 이용하여 보정한 값을 위치 데이터(보정 위치 데이터)로 한다. 또한, 촬상부(43e2)를 이용하여 인식된 좌측의 얼라인먼트 마크(WM)의 위치 데이터에 관해서는, 촬상부(43e2)의 보정치로서 기억된 보정치를 이용하여 보정한 값을 위치 데이터(보정 위치 데이터)로 한다.More specifically, regarding the position data of left and right alignment marks PM of the organic EL panel P recognized by the first imaging device 43A, the correction value stored as the correction value of the imaging unit 43a is used. The corrected value is referred to as position data (corrected position data). Regarding the position data of the alignment mark WM on the right recognized using the imaging unit 43e1 among the alignment marks WM of the electronic component W recognized by the second imaging device 43B, the imaging unit The value corrected using the correction value stored as the correction value for 43e1 is referred to as position data (correction position data). In addition, with respect to the position data of the left alignment mark WM recognized using the imaging unit 43e2, the position data (correction position data) is corrected using the correction value stored as the correction value of the imaging unit 43e2. )

이와 같이 하여 구한 각 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 보정 위치 데이터에 기초하여, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 X, Y, θ 방향의 상대 위치 어긋남을 구한다. 또한, 상술한 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)를 이용하여 검출한 위치 데이터는, 새로운 기준 위치로서 기억부(111)에 기억시킴으로써, 기억되어 있던 기준 위치를 갱신한다. 즉, 기준 위치는, 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)에 의한 타겟 마크(42j4) 화상 받아들이기 타이밍에, 그 때마다 갱신되게 된다.Based on the correction position data of each alignment mark PM and WM thus obtained, relative position shifts in the X, Y, and θ directions of the organic EL panel P and the electronic component W are obtained. In addition, the position data detected using each of the above-described imaging units 43a, 43e1, 43e2 is stored in the storage unit 111 as a new reference position, thereby updating the stored reference position. That is, the reference position is updated each time at the timing of receiving the target mark 42j4 image by each of the imaging units 43a, 43e1, 43e2.

[실장 장치의 작용 효과][Effects of Mounting Device]

상술한 실시형태의 실장 장치(1)에 따르면, 가요성을 갖는 유기 EL 패널(P)을 그 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부를 하측에서 지지하는 지지부(42b)를 갖춘 스테이지(42)에 의해서 지지하고, 이 스테이지(42)에 지지된 상태의 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 위쪽에서 제1 촬상 장치(43A)의 제1 촬상부(43a)에 의해서 촬상하고, 가압착 헤드(41)에 유지된 상태의 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 아래쪽에서 제2 촬상 장치(43B)의 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)에 의해서 촬상한다. 그리고, 이들 촬상 화상에 기초하여, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 상대 위치 관계를 인식하고, 인식한 상대 위치 관계에 기초하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치를 맞춰, 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 통해 전자 부품(W)을 가압착한 후, 본압착하도록 하고 있다. According to the mounting apparatus 1 of the above-mentioned embodiment, the organic EL panel P which has flexibility is attached to the stage 42 provided with the support part 42b which supports the edge part in which the electronic component W is mounted below. And the alignment mark PM of the organic EL panel P in the state supported by this stage 42 by the 1st imaging part 43a of the 1st imaging device 43A from upper side, and pressurizing it. The alignment mark WM of the electronic component W of the state hold | maintained at the attachment head 41 is image | photographed by the pair of imaging parts 43e1 and 43e2 of the 2nd imaging device 43B from below. And based on these picked-up image, the relative positional relationship of organic electroluminescent panel P and the electronic component W is recognized, and based on the recognized relative positional relationship of organic electroluminescent panel P and the electronic component W, According to the position, the electronic component W is press-bonded to the organic EL panel P through the anisotropic conductive tape F, and then main bonding is performed.

더구나, 기억부(111)에 기억된 타이밍에, 제1 촬상 장치(43A)의 제1 촬상부(43a) 및 제2 촬상 장치(43B)의 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)에 의해서, 스테이지(42)에 마련된 타겟 마크(42j4)를 촬상하여, 제1 촬상 장치(43A)의 제1 촬상부(43a), 제2 촬상 장치(43B)의 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2) 각각의 사이의 상대적 위치 관계를 인식하고, 이 인식 결과에 기초하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 맞춤 위치를 보정하도록 하고 있다. In addition, at the timing stored in the storage section 111, by the pair of imaging sections 43e1 and 43e2 of the first imaging section 43a of the first imaging device 43A and the second imaging device 43B, The target mark 42j4 provided in the stage 42 is imaged, and each of the pair of imaging sections 43e1 and 43e2 of the first imaging section 43a of the first imaging device 43A and the second imaging device 43B is provided. The relative positional relationship between is recognized, and the alignment position of organic electroluminescent panel P and the electronic component W is correct | amended based on this recognition result.

이와 같이 구성함으로써, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 상대 위치 데이터를 검출할 때에, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전극이 형성된 가장자리부가 스테이지(42)의 지지부(42b)에 의해서 지지되게 된다. 이에 따라, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부의 처짐이 방지되어, 가장자리부에 마련된 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 인식 정밀도를 향상시킬 수 있다. 또한, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)를 상측에서 촬상하고, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)를 하측에서 촬상한다. 그 때문에, 유기 EL 패널(P)의 상면에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크(PM)를, 유기 EL 패널(P)을 구성하는 PI나 PET 등의 수지를 통하지 않고서 촬상할 수 있으므로, 얼라인먼트 마크(PM)를 안정적으로 선명하게 촬상할 수 있게 된다.In such a configuration, when detecting the relative position data of the alignment mark PM of the organic EL panel P and the alignment mark WM of the electronic component W, the electrode in the organic EL panel P is formed. The edge portion is supported by the support portion 42b of the stage 42. Thereby, sagging of the edge part of organic electroluminescent panel P is prevented, and the position recognition precision of the alignment mark PM provided in the edge part can be improved. Moreover, the alignment mark PM of organic electroluminescent panel P is imaged from the upper side, and the alignment mark WM of the electronic component W is imaged from the lower side. Therefore, since the alignment mark PM formed in the upper surface of organic electroluminescent panel P can be imaged without passing through resin, such as PI and PET which comprise organic electroluminescent panel P, alignment mark PM It is possible to capture images stably and stably.

또한, 기억부(111)에 기억된 타이밍(시간 간격 혹은 실장 횟수)에 제1 촬상 장치(43A)의 제1 촬상부(43a), 제2 촬상 장치(43B)의 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2) 각각의 사이의 상대적 위치 관계를 인식하고, 이 인식 결과에 기초하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 맞춤 위치를 보정하도록 하고 있다. 이 때문에, 제1 촬상부(43a) 및 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)가 상호 독립적으로 배치되어 있는 경우에 있어서도, 시간이 경과함에 따른 상대 위치 관계의 어긋남을 인식할 수 있다. 이에 따라, 제1 촬상부(43a) 및 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2) 각각의 사이의 상대적 위치 관계에 어긋남이 생겼다고 해도 그것을 보정하는 것이 가능하게 된다. 예컨대, 24시간 가동 등의 장시간의 연속 실장을 반복하는 경우에 있어서, 가동부의 마찰열이나 히터 등의 열원의 영향에 의해 장치 내부 온도가 변화함으로써 생기는 열팽창에 의해서 촬상부(43a, 43e1, 43e2) 사이의 상대 위치가 틀어지는, 소위 온도 드리프트가 생겼다고 해도, 그것을 보정함으로써 높은 실장 정밀도를 유지할 수 있게 된다.The pair of imaging sections 43e1 of the first imaging section 43a of the first imaging device 43A and the second imaging device 43B at the timing (time interval or number of times of mounting) stored in the storage section 111. And 43e2) to recognize the relative positional relationship between each of them, and correct the position alignment of the organic EL panel P and the electronic component W based on the recognition result. For this reason, even when the 1st imaging part 43a and a pair of imaging parts 43e1 and 43e2 are arrange | positioned independently of each other, the shift | offset | difference of the relative positional relationship with time progresses can be recognized. As a result, even if a deviation occurs in the relative positional relationship between the first imaging unit 43a and each of the pair of imaging units 43e1 and 43e2, it is possible to correct it. For example, in the case of repeating long-term continuous mounting such as 24 hours of operation, between the imaging units 43a, 43e1, 43e2 due to thermal expansion caused by a change in the internal temperature of the device under the influence of frictional heat of the movable part or a heat source such as a heater. Even if there is a so-called temperature drift in which the relative position of is misaligned, high mounting accuracy can be maintained by correcting it.

이에 따라, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM)의 상대 위치 데이터의 인식 정밀도를 향상시킬 수 있다. 이러한 상대 위치 데이터를 이용하여 행해지는 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치 맞춤 정밀도가 향상되고, 그 결과, 가요성을 갖는 유기 EL 패널(P)에 가요성을 갖는 전자 부품(W)을 실장하는 경우라도, 그 실장 정밀도를 향상시킬 수 있게 된다.Thereby, the recognition precision of the relative position data of the alignment mark PM of organic electroluminescent panel P and the alignment mark WM of electronic component W can be improved. The alignment accuracy of the organic EL panel P and the electronic component W performed using such relative position data is improved, and as a result, the electronic component having flexibility in the organic EL panel P having flexibility ( Even in the case of mounting W), the mounting accuracy can be improved.

또한, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부를 하측에서 지지하는 지지부(42b)의 지지면(42f)에, 복수의 흡착 구멍(42g)을 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 생기는 휘어짐이나 주름에 의한 요철의 주기보다도 짧은 간격으로 배치하여 형성하고, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 이 지지면(42f)으로 지지한 상태에서 흡착 유지하도록 하고 있다. 이에 따라, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 보다 평탄한 상태로 지지할 수 있으므로, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 그 주위 부분을 수평이면서 또한 평탄한 상태로 안정적으로 유지하여, 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 인식 정밀도를 한층 더 향상시킬 수 있다.Further, a plurality of adsorption holes 42g are provided on the support surface 42f of the support part 42b supporting the edge portion on which the electronic component W in the organic EL panel P is mounted on the organic EL panel P. It is arranged to be formed at intervals shorter than a period of unevenness due to warpage and wrinkles generated at the edge portion of the edge), and the edge portion of the organic EL panel P is held by the support surface 42f. Thereby, since the edge part of organic electroluminescent panel P can be supported in a more flat state, alignment mark PM and the peripheral part of organic electroluminescent panel P are stably maintained in a horizontal and flat state, and alignment is carried out. The position recognition accuracy of the mark PM can be further improved.

또한, 유기 EL 패널(P)에 있어서의 전자 부품(W)이 실장되는 가장자리부를, 지지부(42b)의 지지면(42f)에 형성한 복수의 흡착 구멍(42g)에 의해서 하측에서 흡착하도록 하고 있다. 그 때문에, 유기 EL 패널(P)을 구성하는 수지가 흡습 등에 의해서 유기 EL 패널(P)의 가장자리부로 휘어 오르거나 주름이 생긴 경우라도, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 지지부(42b)의 지지면(42f) 상에 밀착시킬 수 있게 된다. 이에 따라, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 그 주위 부분을 평탄한 상태로 안정적으로 유지할 수 있어, 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 인식 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.Moreover, the edge part in which the electronic component W in organic electroluminescent panel P is mounted is made to adsorb | suck from below by the some adsorption hole 42g formed in the support surface 42f of the support part 42b. . Therefore, even when the resin constituting the organic EL panel P is bent to the edge portion of the organic EL panel P due to moisture absorption or the like, wrinkles occur, the edge portion of the organic EL panel P is supported by the support portion 42b. It can be made to adhere to the surface 42f. Thereby, alignment mark PM of organic electroluminescent panel P and its surrounding part can be stably maintained in a flat state, and the position recognition precision of alignment mark PM can be improved.

유기 EL 패널(P)을 스테이지(42)에 공급 배치하는 제1 반송부(80)의 유지체(81)를, 전극면 흡착 블록(81a)의 평탄한 흡착면(81c)과 표시 영역 흡착부(81b)의 평탄한 흡착면에서, 유기 EL 패널(P)을 유지하는 면이 평탄면으로 되도록 형성하고 있다. 이에 따라, 휘어짐이나 왜곡이 생기기 쉬운, 가요성을 갖는 유기 EL 패널(P)이라도, 이 평탄한 유지면에 흡착 유지함으로써, 유지체(81)에 평탄한 상태로 유지하게 할 수 있게 된다. 따라서, 유기 EL 패널(P)을 평탄한 상태로 스테이지(42)에 배치하여 유지하게 할 수 있고, 이에 따라 스테이지(42)에 유지된 상태에서 행해지는 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 인식 정밀도를 향상시키는 효과를 안정적으로 얻을 수 있게 된다.The holding body 81 of the 1st conveyance part 80 which supplies and arrange | positions organic electroluminescent panel P to the stage 42 is made into the flat adsorption surface 81c of the electrode surface adsorption block 81a, and the display area adsorption part ( On the flat suction surface of 81b), the surface holding the organic EL panel P is formed to be a flat surface. Thereby, even if the flexible organic EL panel P which tends to bend or distort is adsorbed and held on this flat holding surface, the holding body 81 can be held in a flat state. Therefore, the organic EL panel P can be arranged and held on the stage 42 in a flat state, thereby improving the position recognition accuracy of the alignment mark PM performed in the state held on the stage 42. The effect can be obtained stably.

또한, 유지체(81)에 의해서 스테이지(42) 상에 유기 EL 패널(P)을 배치할 때에, 유지체(81)의 유지면에 의해서 유기 EL 패널(P)을 스테이지(42)의 지지부(42b)의 지지면(42f) 및 배치부(42a)의 배치면(42d)의 사이에서 협지하도록 하고 있다. 이에 따라, 유기 EL 패널(P)을 평탄한 상태를 유지한 채로 스테이지(42)에 전달할 수 있다. 이에 의해서도, 유기 EL 패널(P)을 평탄한 상태로 스테이지(42)에 유지하게 할 수 있어, 스테이지(42)에 유지된 상태에서 행해지는 얼라인먼트 마크(PM)의 위치 인식 정밀도를 향상시키는 효과를 더욱 안정적으로 얻을 수 있게 된다.When the organic EL panel P is disposed on the stage 42 by the holder 81, the organic EL panel P is supported by the holding surface of the holder 81. It is made to sandwich between the support surface 42f of 42b and the mounting surface 42d of the mounting part 42a. Thereby, the organic EL panel P can be transferred to the stage 42 while maintaining a flat state. Thereby, the organic EL panel P can be held in the stage 42 in a flat state, and the effect of improving the position recognition accuracy of the alignment mark PM performed in the state held by the stage 42 is further improved. It can be obtained stably.

또한, 전자 부품(W)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM)의 촬상을 한 쌍의 촬상부(43e1, 43e2)를 이용하여 행하는 데 대하여, 유기 EL 패널(P)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)의 촬상은 단일의 촬상부(43a)를 이용하여 행하도록 하고 있다. 즉, 합계 4개의 얼라인먼트 마크(WM, PM)의 촬상을 3개의 촬상부(43a, 43e1, 43e2)로 행하도록 하고 있다. 더구나, 단일의 촬상부(43a)에 의한 유기 EL 패널(P)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)의 촬상을, 유기 EL 패널(P)을 이동시킴으로써 행하도록 하고 있다.In addition, a pair of alignment marks PM of the organic EL panel P is used for imaging the pair of alignment marks WM of the electronic component W using the pair of imaging units 43e1 and 43e2. Is taken by using a single imaging section 43a. That is, the imaging of four alignment marks WM and PM in total is performed by three imaging parts 43a, 43e1, and 43e2. In addition, imaging of a pair of alignment marks PM of the organic EL panel P by the single imaging unit 43a is performed by moving the organic EL panel P. FIG.

전자 부품(W)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM)를 촬상하는 카메라 2개와, 유기 EL 패널(P)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상하는 카메라 2개의, 합계 4개의 카메라를 이용하여 얼라인먼트 마크(WM, PM)의 위치 인식을 하는 경우와 비교하여, 타겟 마크(42j4)를 이용한 온도 드리프트 등에 기인하는 오차의 보정 시에 있어서, 소위 캘리브레이션 시에 생기는 오차를 저감할 수 있다. 즉, 개개의 촬상부(43a, 43e1, 43e2)에 의해서 타겟 마크(42j4)의 위치 인식을 하는 경우, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다 타겟 마크(42j4)의 위치 인식 오차나 타겟 마크(42j4)의 위치 결정 오차가 발생한다. 그 때문에, 카메라(촬상부)의 수가 증가하면 증가할수록 이 오차의 영향이 커지게 된다. 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 수를 3개로 억제함으로써, 상술한 오차를 최대한 저감할 수 있게 된다.By using two cameras which image a pair of alignment marks WM of the electronic component W, and two cameras which image a pair of alignment marks PM of the organic EL panel P, a total of four cameras are used. In comparison with the case where the alignment marks WM and PM are recognized, the error caused during the so-called calibration can be reduced at the time of correcting the error due to the temperature drift using the target mark 42j4. That is, in the case of recognizing the position of the target mark 42j4 by the individual imaging units 43a, 43e1, 43e2, the position recognition error of the target mark 42j4 or the target mark (for each imaging unit 43a, 43e1, 43e2). A positioning error of 42j4) occurs. Therefore, as the number of cameras (image pickup units) increases, the influence of this error becomes larger. By suppressing the number of imaging sections 43a, 43e1, 43e2 to three, the above-described error can be reduced as much as possible.

전자 부품(W)의 한 쌍의 얼라인먼트 마크(WM)를 2개의 촬상부(43e1, 43e2)에 의해서 촬상함으로써, 얼라인먼트 마크(WM) 사이의 거리를 인식하는 것이 가능하게 된다. 이에 따라, 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크(WM) 사이의 기준 간격, 예컨대 설계상의 얼라인먼트 마크(WM) 사이의 거리와의 차를 인식할 수 있다. 이로부터, 전자 부품(W)의 신장량을 인식할 수 있게 된다. 그 때문에, 여기서 인식한 전자 부품(W)의 신장량을, 가압착 시의 위치 결정 위치나 본압착 시의 열압착 조건 등에 반영시킴으로써, 전자 부품(W)의 실장 정밀도를 향상시킬 수 있게 된다.By imaging the pair of alignment marks WM of the electronic component W by the two imaging units 43e1 and 43e2, it becomes possible to recognize the distance between the alignment marks WM. This makes it possible to recognize the difference between the reference interval between the alignment marks WM of the electronic component W, for example, the distance between the alignment marks WM in the design. From this, the amount of elongation of the electronic component W can be recognized. Therefore, the mounting precision of the electronic component W can be improved by reflecting the elongation amount of the electronic component W recognized here by the positioning position at the time of press bonding, the thermocompression conditions at the time of main compression, etc.

예컨대, 가압착의 위치 결정 위치에 관해서는, 전자 부품(W)의 단자열(TR)과 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER) 중에는, 중앙에서 외측으로 향함에 따라서 단자나 전극을 외측으로 향하여 경사시키고, 또한 단자나 전극의 경사 각도가 커지도록 배열된, ハ자형의 단자열이나 전극열이 있다. 이러한 단자열(TR)이나 전극열(ER)을 갖춘 전자 부품(W)과 유기 EL 패널(P)을 실장하는 경우에, 상술한 신장량에 기초하여 Y 방향의 위치 결정 위치를 보정함으로써 실장 정밀도를 향상시킬 수 있다.For example, regarding the positioning position of pressure bonding, in the terminal string TR of the electronic component W and the electrode string ER of the organic EL panel P, the terminal and the electrode are moved outward as they are directed from the center to the outside. There is a H-shaped terminal string or electrode string which is inclined toward the side and arranged so as to increase the inclination angle of the terminal or the electrode. When mounting the electronic component W and the organic EL panel P equipped with such a terminal string TR or an electrode string ER, the mounting precision is corrected by correcting the positioning position in the Y direction based on the above-mentioned amount of elongation. Can be improved.

또한, 본압착 시의 열압착 조건에 관해서는, 전자 부품(W)의 신장량이 클수록 본압착 시에 생기는 전자 부품(W)의 신장 억제를 강하게 하는 열압착 조건으로 열압착을 행하도록 한다. 본 발명자들에 의한 실험 결과, 초기의 가압력의 상승(소정의 가압력에 도달하기까지의 시간)이 급준할수록 전자 부품(W)의 신장 억제 효과가 향상되는 것을 알 수 있다. 이 지견에 입각하여, 전자 부품(W)의 신장량이 클 수록 가압력의 상승을 급준하게 제어하는 것을 생각할 수 있다. 이 경우, 유기 EL 패널(P)에 관해서도, 가열에 의해서 열팽창을 생기게 하는 것을 생각할 수 있기 때문에, 본압착 시의 가열에 의한 유기 EL 패널(P)의 신장에 관해서도 미리 실험 등에 의해 신장의 경향을 파악해 두고서, 본압착 조건에 가미하도록 하여도 좋다.In the thermocompression bonding at the time of main compression, the thermocompression bonding is carried out under the thermocompression conditions in which the elongation amount of the electronic component W is increased so as to suppress the expansion of the electronic component W generated at the main compression. As a result of experiments by the present inventors, it can be seen that the elongation suppression effect of the electronic component W is improved as the initial increase in the pressing force (time until reaching a predetermined pressing force) is steep. Based on this knowledge, it is conceivable to control the increase in the pressing force steeply as the amount of elongation of the electronic component W increases. In this case, as for the organic EL panel P, it can be considered that thermal expansion is caused by heating. Therefore, the stretching tendency of the elongation of the organic EL panel P due to the heating at the time of the main compression is examined in advance by experiment or the like. It may be grasped and added to the main crimping conditions.

한편, 본 발명은 상기한 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 표시용 패널로서 유기 EL 패널을 예로 들어 설명했지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 가요성을 갖는 전자 페이퍼의 구성 부재를 표시용 패널로서 이용하는 것도 가능하다.In addition, this invention is not limited to said embodiment. For example, although an organic electroluminescent panel was mentioned as an example and demonstrated as a display panel, it is not limited to this. For example, it is also possible to use the structural member of the flexible electronic paper as a display panel.

또한, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 접속에 이방성 도전 테이프(F)를 이용했지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. 다른 접합 부재, 예컨대 도전성 입자를 함유한 접착제 등을 이용하여도 좋다. 접착제를 이용하는 경우, 열경화성이나 광경화성의 접착제를 이용하는 것이 가능하다.In addition, although the anisotropic conductive tape F was used for connection of organic electroluminescent panel P and the electronic component W, it is not limited to this. Another joining member, for example, an adhesive containing conductive particles, may be used. When using an adhesive agent, it is possible to use a thermosetting or photocurable adhesive agent.

제1 내지 제3 반송부(80, 90, 100)의 구성은, 상술한 것에 한정되는 것이 아니라, 다른 구성이라도 좋다. 예컨대, 다공질 시트를 이용하는 대신에, 발포 우레탄 고무나 실리콘 고무 등의 연질의 고무나 수지 재료에 복수의 흡착용 개구를 형성한 것을 이용하도록 하여도 좋다.The structure of the 1st-3rd conveyance parts 80, 90, 100 is not limited to what was mentioned above, A different structure may be sufficient. For example, instead of using the porous sheet, a plurality of adsorption openings may be used in soft rubber or a resin material such as foamed urethane rubber or silicone rubber.

가압착 장치(40)의 스테이지(42)로부터 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 제2 반송부(90)를 이용하여 유기 EL 패널(P)을 반송하는 것으로 하여 설명했지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예컨대, 본압착 장치(50)의 스테이지(51)를 가압착 장치(40)의 스테이지(42)에 근접하는 위치까지 이동할 수 있게 구성하여, 가압착 장치(40)의 스테이지(42)의 근접 위치로 이동한 본압착 장치(50)의 스테이지(51)에 대하여, 제1 반송부(80)를 이용하여 유기 EL 패널(P)을 반송하도록 하여도 좋다. 즉, 제1 반송부(80)로 제2 반송부(90)를 겸하도록 하여도 좋다.Although the organic EL panel P was conveyed using the 2nd conveyance part 90 from the stage 42 of the crimping | compression-bonding apparatus 40 to the stage 51 of this crimping apparatus 50, it demonstrated to this. It is not limited. For example, the stage 51 of the main crimping device 50 can be moved to a position close to the stage 42 of the crimping device 40, so that the stage 42 of the crimping device 40 is close to the stage 42. You may make it convey the organic EL panel P with respect to the stage 51 of the main crimping apparatus 50 which moved to using the 1st conveyance part 80. In other words, the first conveying unit 80 may serve as the second conveying unit 90.

또한, 미리 설정된 타이밍마다 행하는 타겟 마크(42j4) 화상 받아들이기를, 개개의 촬상부(43a, 43e1, 43e2) 당 1회씩 행하는 것으로 하여 설명했지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다 여러 번 받아들이게 하여, 여러 번 인식한 타겟 마크(42j4)의 위치의 평균치를 타겟 마크(42j4)의 위치로서 인식하도록 하여도 좋다.In addition, although taking into account the image of the target mark 42j4 performed for every preset timing was performed once per each imaging part 43a, 43e1, 43e2, it is not limited to this. For example, the image capturing unit 43a, 43e1, 43e2 may be accepted several times, and the average value of the positions of the target marks 42j4 recognized several times may be recognized as the positions of the target marks 42j4.

본압착 장치(50)는, 가압착 공정과 본압착 공정의 공정 시간의 차를 고려하여, 실장 장치(1)에 여러 대 설치하도록 하여도 좋다. 또한, 여러 대의 본압착 장치(50)를 설치하는 대신에, 1대의 본압착 장치(50)에 유기 EL 패널(P)을 여러 장 병렬로 배치할 수 있는 스테이지(51)를 설치하고, 복수 병렬로 배치된 유기 EL 패널(P) 상의 전자 부품(W)을 일괄적으로 또는 개별적으로 본압착할 수 있는 본압착 헤드(52)를 설치하도록 하여도 좋다. 여기서, 일괄적으로 본압착하는 경우, 병렬로 배치된 복수의 유기 EL 패널(P)의 전역을 커버할 수 있는 길이의 가압 툴(52a)을 본압착 헤드(52)에 장비한다. 또한, 개별로 본압착하는 경우, 하나의 유기 EL 패널(P)에 실장하는 전자 부품(W)을 커버할 수 있는 길이의 가압 툴(52a)을, 유기 EL 패널(P)의 배치 간격에 맞춰 본압착 헤드(52)에 장비한다. 각 가압 툴(52a)은 개별로 가압력을 설정할 수 있도록 구성해 두는 것이 바람직하다.The main compression apparatus 50 may be provided in the mounting apparatus 1 in consideration of the difference between the process time of a press bonding process and a main compression process. In addition, instead of providing several main compression apparatuses 50, the stage 51 which can arrange several sheets of organic electroluminescent panel P in parallel in one main compression apparatus 50 is provided, and multiple parallelisms are provided. The main crimping head 52 which can main-compress the electronic component W on the organic EL panel P arranged in a batch or individually may be provided. Here, in the case of main compression at a time, the main compression head 52 is equipped with a pressing tool 52a having a length that can cover the entire regions of the plurality of organic EL panels P arranged in parallel. Moreover, when main-bonding individually, the pressing tool 52a of the length which can cover the electronic component W mounted in one organic EL panel P is matched with the arrangement | positioning interval of organic EL panel P. It is equipped with the main crimping head 52. It is preferable to comprise each pressurizing tool 52a so that a pressing force can be set individually.

제1 반송부(80)의 유지체(81)에 의해서, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 흡착 유지하는 것으로 했지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예컨대, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)에 이방성 도전 테이프(F)가 점착되어 있는 경우 등, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)에 다른 부재를 접촉되게 하지 않거나 혹은 접촉시키고 싶지 않은 사정이 있는 경우에는, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 흡착 유지하지 않고서, 그 가장자리부를 유지체(81)로부터 비어져 나오게 한 상태로 유지하도록 하여도 좋다. 이와 같이, 유기 EL 패널(P)의 전극열(ER)이 형성된 가장자리부를 비어져 나오게 하여 흡착 유지한 경우라도, 두께가 20 ㎛ 이상500 ㎛ 이하이고 굽힘 탄성률이 2.5 GPa 이상 4.0 GPa 이하인 유연한 유기 EL 패널(표시형 패널)이라면, 전극열(ER)의 근방을 유지체(81)의 평탄한 흡착면(81c)에서 흡착 유지함으로써, 만일 전극열(ER)이 형성된 가장자리부에 미치는 휘어짐이나 주름이 생겼다고 해도, 스테이지(42)의 지지부(42b)의 평탄한 지지면(42f)에, 복수의 흡착 구멍(42g)의 흡착력에 의해서 가장자리부를 따르게 하여 흡착 유지하게 할 수 있다.Although the edge part in which the electrode column ER of organic electroluminescent panel P was formed to be adsorb | sucked by the holding body 81 of the 1st conveyance part 80 is not limited to this. For example, when the anisotropic conductive tape F adheres to the electrode string ER of the organic EL panel P, other members are not brought into contact with or contact with the electrode string ER of the organic EL panel P. In the case where there is a situation in which it is not desired, the edge portion may be kept in a state in which the edge portion is protruded from the holder 81 without being adsorbed and held on the edge portion where the electrode string ER of the organic EL panel P is formed. . Thus, even when the electrode portion ER of the organic EL panel P is protruded and adsorbed and held, the flexible organic EL having a thickness of 20 µm or more and 500 µm or less and a bending elastic modulus of 2.5 GPa or more and 4.0 GPa or less In the case of a panel (display type panel), the vicinity of the electrode string ER is adsorbed and held on the flat adsorption surface 81c of the holder 81, so that warpage or wrinkles occur on the edge where the electrode string ER is formed. Even if the flat support surface 42f of the support part 42b of the stage 42 is attracted and held along the edge part by the adsorption force of the some adsorption hole 42g, it can be made to adsorb | suck and hold.

타겟 마크(42j4)를 이용한 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 어긋남에 의한 각 얼라인먼트 마크(PM, WM)의 위치 인식 오차의 보정, 소위 온도 드리프트 보정에 관해서 설명했지만, 온도 드리프트 보정 방식은 상술한 방법에 한정되는 것이 아니라, 다른 방식이라도 좋다.Although the correction of the position recognition error of each alignment mark PM and WM by the relative positional shift of the imaging parts 43a, 43e1, and 43e2 using the target mark 42j4 was demonstrated about the so-called temperature drift correction, Is not limited to the above-described method, but may be other methods.

예컨대, 타겟 마크(42j4)의 기준 위치로서, 전자 부품(W)의 실장을 시작하는 전단계에서 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)를 이용하여 인식한 타겟 마크(42j4)의 위치를 이용하는 것으로 했지만, 설계상의 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 위치, 보다 구체적으로는 설계상의 카메라(43c, 43g)의 시야 중심 위치를 기준 위치로서 이용하도록 하여도 좋다. 다시 말해서, 절대적인 기준 위치를 설정하도록 하여도 좋다.For example, as the reference position of the target mark 42j4, the position of the target mark 42j4 recognized using each of the imaging units 43a, 43e1, 43e2 in the previous step of starting the mounting of the electronic component W is used. The positions of the design image capturing units 43a, 43e1, 43e2, and more specifically, the viewing center positions of the design cameras 43c, 43g may be used as reference positions. In other words, an absolute reference position may be set.

타겟 마크(42j4)의 기준 위치를, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)에 의해 타겟 마크(42j4)의 화상을 받아들일 때마다 갱신하는 것으로 했지만, 맨 처음에 기억시킨 기준 위치를 그대로 기준 위치로서 계속해서 사용하도록, 즉 기준 위치를 갱신하지 않도록 하여도 좋다. 이와 같이 한 경우라도 동일한 효과를 얻을 수 있다.Although the reference position of the target mark 42j4 is updated every time the image of the target mark 42j4 is received by the imaging units 43a, 43e1, and 43e2, the reference position stored at the beginning is used as the reference position as it is. It may be used continuously, that is, the reference position may not be updated. Even in this case, the same effect can be obtained.

또한, 단일의 타겟 마크(42j4)를 스테이지(42)의 배치부(42a)에 고정 배치하고, 스테이지(42)를 이동시킴으로써 타겟 마크(42j4)를 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 위치에 위치 부여하도록 했지만, 다음과 같이 구성하여도 좋다.In addition, the single target mark 42j4 is fixedly disposed on the placement portion 42a of the stage 42, and the stage mark 42 is moved to position the target marks 42j4 of the respective imaging portions 43a, 43e1, 43e2. Although the position is given at, it may be configured as follows.

예컨대, 1장의 유리 기판 상에 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 배치 위치에 맞춰 3개의 타겟 마크를 붙인 교정용 유리 기판을 제작해 두고, 이 교정용 유리 기판을 배치부(42a)에 지그를 이용하여 미리 설정된 위치 관계로 배치한다. 이 때, 전자 부품(W)용의 촬상부(43e1, 43e2)에 의해서 촬상하는 2개의 타겟 마크가, 스테이지(42)의 지지부(42b) 상에서 가압착 헤드(41)가 위치하는 쪽으로 소정량 비어져 나오게 한다. 이에 따라, 타겟 마크를 촬상부(43e1, 43e2)에 의해서 하측에서 촬상할 수 있게 된다. 그리고, 교정용 유리 기판을 배치한 스테이지(42)를, 3개의 타겟 마크가 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 기준 위치에 위치하도록 이동시킨다. 이 상태에서, 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)를 이용하여 각각 대응하는 타겟 마크를 인식하여, 기준 위치에 대한 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 어긋남을 인식한다.For example, a calibration glass substrate having three target marks attached thereto is prepared on one glass substrate in accordance with the arrangement position of the imaging units 43a, 43e1, 43e2, and the calibration glass substrate is placed on the placement unit 42a. It is arranged in a preset positional relationship using. At this time, the two target marks picked up by the imaging sections 43e1 and 43e2 for the electronic component W are empty by a predetermined amount toward the position where the pressing head 41 is positioned on the supporting section 42b of the stage 42. Let it come out. Thereby, the target mark can be picked up by the imaging sections 43e1 and 43e2 from below. And the stage 42 which arrange | positioned the calibration glass substrate is moved so that three target marks may be located in the reference position of each imaging part 43a, 43e1, 43e2. In this state, the corresponding target marks are recognized using the respective imaging sections 43a, 43e1, 43e2, respectively, and the relative position shifts of the respective imaging sections 43a, 43e1, 43e2 with respect to the reference position are recognized.

또한, 촬상부(43a, 43e1, 43e2)마다 전용의 타겟 마크를 배치하도록 하여도 좋다. 구체적으로는, 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 바로 위쪽 위치 또는 바로 아래 위치에 대하여, 위치 부여 및 후퇴가 가능한 상태로 타겟 마크를 형성해 둔다. 이 타겟 마크를 미리 설정된 타이밍마다 후퇴 위치로부터 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 바로 위쪽 위치 또는 바로 아래 위치에 위치 부여하고, 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)를 이용하여 인식함으로써, 기준 위치에 대한 각 촬상부(43a, 43e1, 43e2)의 상대 위치 어긋남을 인식하도록 하여도 좋다. 이 경우, 각 타겟 마크는, 각 타겟 마크 사이의 상대 위치 어긋남이 생기는 것을 최대한 방지하기 위해서, 실장 장치(1)의 프레임에 직접적으로 지지하게 하는 것이 바람직하다.In addition, a dedicated target mark may be disposed for each of the imaging units 43a, 43e1, 43e2. Specifically, the target mark is formed in the state where positioning and retreat are possible with respect to the position immediately above or just below the respective imaging sections 43a, 43e1, 43e2. By placing this target mark in the position immediately above or just below each imaging part 43a, 43e1, 43e2 from a retreat position for every preset timing, and using each imaging part 43a, 43e1, 43e2, You may make it possible to recognize the relative position shift | offset of each imaging part 43a, 43e1, 43e2 with respect to a reference position. In this case, it is preferable to make each target mark directly support the frame of the mounting apparatus 1 in order to prevent as much as possible the relative positional shift between each target mark.

더욱이, 스테이지(42)의 지지부(42b)의 지지면(42f)에 조명 장치를 내장시키더라도 좋다. 구체적으로는, 지지면(42f)에 있어서의, 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크(PM)와 대향 위치하는 부분에 조명 장치를 내장시켜, 제1 촬상부(43a)에 의해서 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상할 때에, 얼라인먼트 마크(PM)의 하측에서 빛을 조사하도록 한다. 이와 같이 함으로써, 반사광에 의해서 얼라인먼트 마크(PM)를 촬상하는 경우와 비교하여, 얼라인먼트 마크(PM)의 화상과 배경 화상의 사이에 큰 명암차를 얻을 수 있고, 얼라인먼트 마크(PM)의 화상을 보다 선명하게 얻을 수 있어, 인식 정밀도의 향상을 도모할 수 있다. 또한, 지지부(42b)에 조명 장치를 내장하는 대신에 투광창을 설치하거나 지지부(42b)를 투광성의 부재, 예컨대 투명한 유리재로 형성하거나 하여, 이들을 통해 빛을 조사하도록 하여도 좋다.Furthermore, the lighting device may be incorporated in the support surface 42f of the support portion 42b of the stage 42. Specifically, a lighting apparatus is built in a portion of the supporting surface 42f opposite to the alignment mark PM of the organic EL panel P, and the alignment mark PM is performed by the first imaging unit 43a. ), The light is irradiated from the lower side of the alignment mark PM. By doing in this way, a large contrast difference can be obtained between the image of alignment mark PM and a background image, compared with the case where imaging alignment mark PM is imaged by reflected light, and the image of alignment mark PM is seen more. It can obtain clearly, and the improvement of recognition accuracy can be aimed at. Instead of a built-in lighting device in the support 42b, a light-transmitting window may be provided, or the support 42b may be formed of a light-transmissive member, for example, a transparent glass material, so that light may be irradiated through them.

상술한 실시형태에서는 이방성 도전 테이프(F)를 전자 부품(W)에 점착하는 구성에 관해서 설명했지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 이방성 도전 테이프(F)는 유기 EL 패널(P), 즉 표시용 패널에 점착하도록 하여도 좋다. 이 경우, 간헐 회전 반송 장치(20)의 점착 위치(C)에 이방성 도전 테이프 점착 장치(30)를 설치하는 대신에, 유기 EL 패널(P)의 공급부의 상류 측에, 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 점착하는 이방성 도전 테이프 점착 장치를 설치하도록 하면 된다. 예컨대, 도 8에 도시한 것과 같은 실장 장치(201)를 적용하여도 좋다. 도 8은 다른 실시형태의 실장 장치(201)의 구성을 도시하고 있다.In the above-mentioned embodiment, although the structure which adheres the anisotropic conductive tape F to the electronic component W was demonstrated, it is not limited to this. The anisotropic conductive tape F may be adhered to the organic EL panel P, that is, the display panel. In this case, instead of providing the anisotropic conductive tape adhesive device 30 in the adhesion position C of the intermittent rotation conveyance apparatus 20, the organic EL panel P is located upstream of the supply part of organic electroluminescent panel P. What is necessary is just to provide the anisotropic conductive tape adhesion device which sticks the anisotropic conductive tape F to the inside. For example, a mounting apparatus 201 such as shown in FIG. 8 may be applied. 8 illustrates a configuration of the mounting apparatus 201 of another embodiment.

[다른 실시형태에 의한 실장 장치][Mounting Device According to Another Embodiment]

도 8에 도시하는 실장 장치(201)는, 이방성 도전 테이프 점착 장치(230), 가압착 장치(240), 본압착 장치(250)를 X 방향으로 나란히 배치하고, 가압착 장치(240)의 Y 방향 후방에 펀칭 장치(210)를 배치하고, 또한 가압착 장치(240)와 펀칭 장치(210)의 사이에 전자 부품(W)을 반송하는 반송 장치(260)를 배치한 구성을 갖고 있다. 각 처리 장치(230, 240, 250)의 사이에는, 유기 EL 패널(P)의 제1∼제4 반송부(271, 272, 273, 274)가 배치되어 있다. 이 실장 장치(201)는, 유기 EL 패널(P)을 4개씩 공급하여 각 처리 장치(230, 240, 250)에서의 처리를 행하는 것이다. 펀칭 장치(210)는, 캐리어 테이프(T)로부터 전자 부품(W)을 펀칭하는 것으로, 상술한 실시형태에서 설명한 펀칭 장치(10)와 같은 구성을 갖는다.The mounting apparatus 201 shown in FIG. 8 arrange | positions the anisotropic conductive tape adhesion apparatus 230, the press bonding apparatus 240, and the main press apparatus 250 side by side in the X direction, and the Y of the press bonding apparatus 240 is arranged. The punching apparatus 210 is arrange | positioned in the direction back, and the conveying apparatus 260 which conveys the electronic component W is arrange | positioned between the press bonding apparatus 240 and the punching apparatus 210, and it has the structure. The 1st-4th conveyance part 271, 272, 273, 274 of organic electroluminescent panel P is arrange | positioned between each processing apparatus 230, 240, 250. As shown in FIG. This mounting apparatus 201 supplies four organic electroluminescent panels P, and performs processing by each processing apparatus 230,240,250. The punching apparatus 210 punches the electronic component W from the carrier tape T, and has the same structure as the punching apparatus 10 demonstrated in embodiment mentioned above.

이방성 도전 테이프 점착 장치(230)에 있어서는, 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)가 점착된다. 이방성 도전 테이프 점착 장치(230)는, 유기 EL 패널(P)을 2장씩 X 방향으로 나란하게 유지하는 2개의 배치부(231, 232)가 X 방향으로 나란히 배치되어 있다. 이들 배치부(231, 232)는, 각각 XYZθ 방향으로 이동 가능하게 마련되어 있다. 또한, 2개의 배치부(231, 232)에 대응하여 이방성 도전 테이프(F)의 점착 유닛(233, 234)이 배치된다. 각 배치부(231, 232)는, 각각 대응하는 첨착 유닛(233, 234)에 의한 점착 위치에 배치부(231, 232) 상의 유기 EL 패널(P)을 순차 위치 부여한다. 각 점착 유닛(233, 234)은, 점착 위치에 위치 부여된 유기 EL 패널(P)에 이방성 도전 테이프(F)를 점착한다.In the anisotropic conductive tape adhesive apparatus 230, the anisotropic conductive tape F is stuck by organic electroluminescent panel P. FIG. In the anisotropic conductive tape adhesive apparatus 230, two arrangement | positioning parts 231 and 232 which hold two sheets of organic electroluminescent panel P side by side in the X direction are arrange | positioned side by side in the X direction. These arrangement | positioning parts 231 and 232 are each provided so that a movement to XYZ (theta) direction is possible. In addition, the adhesion units 233 and 234 of the anisotropic conductive tape F are disposed corresponding to the two placement portions 231 and 232. Each arrangement part 231, 232 sequentially positions the organic EL panels P on the placement parts 231, 232 at the adhesion positions of the corresponding adhesion units 233, 234, respectively. Each adhesion unit 233,234 adheres the anisotropic conductive tape F to organic electroluminescent panel P located in the adhesion position.

가압착 장치(240)는, 이방성 도전 테이프(F)가 점착된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착한다. 가압착 장치(240)는, 유기 EL 패널(P)을 4장씩 X 방향으로 나란하게 유지하는 배치부(241), 배치부(241)에 유지된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착하는 가압착 헤드(242), 가압착 헤드(242)에 의해서 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 가압착할 때에, 유기 EL 패널(P)을 하측에서 지지하는 도시되지 않는 백업 툴을 구비한다. 배치부(241)는, XYZθ 방향으로 이동 가능하게 마련되며, 배치부(241) 상의 4장의 유기 EL 패널(P)을 가압착 헤드(242)에 의한 가압착 위치에 순차 위치 부여한다. 가압착 헤드(242)는, 가압착 위치에 위치 부여된 유기 EL 패널(P)에 전자 부품(W)을 순차 가압착한다. 또한, 가압착 장치(240)는, 상술한 실시형태에서 설명한 가압착 장치(40)와 같은 위치 인식 장치를 구비하는 것은 물론이다.The pressure bonding device 240 press-bonds the electronic component W to the organic EL panel P to which the anisotropic conductive tape F is attached. The pressure bonding device 240 includes an electronic component W in a placement portion 241 for holding four organic EL panels P side by side in the X-direction, and an organic EL panel P held in the placement portion 241. When pressing the electronic component W to the organic EL panel P by the pressing head 242 and the pressing head 242 to press the pressure, the organic EL panel P is not shown. Does not have a backup tool. The mounting portion 241 is provided to be movable in the XYZθ direction, and sequentially positions the four organic EL panels P on the mounting portion 241 to the pressing position by the pressing head 242. The pressing head 242 sequentially press-bonds the electronic component W to the organic EL panel P positioned at the pressing position. In addition, of course, the press bonding apparatus 240 is equipped with the position recognition apparatus similar to the press bonding apparatus 40 demonstrated in embodiment mentioned above.

여기서, 가압착 헤드(242)에는, 반송 장치(260)에 의해, 펀칭 장치(210)에 의해서 펀칭된 전자 부품(W)이 순차 공급된다. 즉, 반송 장치(260)는, XYZθ 구동부(261)에 의해서 XYZθ 방향으로 이동 가능하게 되고, 전자 부품(W)을 하측에서 흡착 유지하는 받음부(262)를 구비하여, 펀칭 유닛(210)으로부터 전자 부품(W)을 수취하여, 가압착 헤드(242)에 전달한다.Here, the electronic component W punched by the punching device 210 is sequentially supplied to the pressing head 242 by the conveying device 260. That is, the conveying apparatus 260 is movable by the XYZθ driving part 261 in the XYZθ direction, and includes a receiving part 262 which sucks and holds the electronic component W from the lower side, from the punching unit 210. The electronic component W is received and delivered to the pressurized head 242.

본압착 장치(250)는, 유기 EL 패널(P)에 가압착된 전자 부품(W)을 본압착한다. 본압착 장치(250)는, 유기 EL 패널(P)을 1장씩 개별로 유지하는 4개의 배치부(251, 252, 253, 254)를 X 방향으로 병설한다. 또한, 4개의 배치부(251, 252, 253, 254)에 대응하여 4개의 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)가 마련된다. 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)는, 가압력을 개별로 조정할 수 있게 마련됨과 더불어, 일괄적으로 승강 이동 가능하게 마련된다. 개개의 배치부(251, 252, 253, 254)는 XYZθ 방향으로 이동 가능하게 되고, 대응하는 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)에 대하여 유기 EL 패널(P)을 위치 결정할 수 있게 되어 있다. 4개의 본압착 헤드(255, 256, 257, 258)는, 4개의 배치부(251, 252, 253, 254)에 의해서 위치 부여된 4개의 유기 EL 패널(P)에 대하여 일괄적으로 본압착을 행한다.The main crimping apparatus 250 main-presses the electronic component W press-bonded to the organic EL panel P. FIG. The main crimping apparatus 250 arranges four placement parts 251, 252, 253, and 254 which hold the organic EL panel P individually one by one in the X direction. In addition, four main compression heads 255, 256, 257, and 258 are provided corresponding to the four placement parts 251, 252, 253, and 254. The main compression heads 255, 256, 257, and 258 are provided to be able to individually adjust the pressing force and to be able to move up and down collectively. The individual placement parts 251, 252, 253, 254 are movable in the XYZθ direction, and the organic EL panel P can be positioned with respect to the corresponding main compression heads 255, 256, 257, 258. have. The four main compression heads 255, 256, 257, and 258 collectively perform main compression on the four organic EL panels P positioned by the four placement units 251, 252, 253, and 254. Do it.

제1 내지 제4 반송부(271, 272, 273, 274)는, 각 처리 장치(230, 240, 250)와의 사이에서 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 즉, 제1 내지 제4 반송부(271, 272, 273, 274)는 각각 유기 EL 패널(P)을 상측에서 흡착 유지하는 4개의 유지부를 X 방향으로 병설하여 이루어진다. 그리고, 제1 반송부(271)는, 도시되지 않는 공급부로부터 이방성 도전 테이프 점착 장치(230)에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 제2 반송부(272)는, 이방성 도전 테이프 점착 장치(230)로부터 가압착 장치(240)에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 제3 반송부(273)는, 가압착 장치(240)로부터 본압착 장치(250)에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 전달한다. 제4 반송부(274)는, 본압착 장치(250)로부터 도시되지 않는 반출부에 유기 EL 패널(P)을 4개 동시에 반출한다. 이러한 구성의 실장 장치(201)에 대하여도 본 발명은 적용할 수 있다.The 1st-4th conveyance parts 271, 272, 273, and 274 transfer four organic electroluminescent panels P simultaneously with each processing apparatus 230,240,250. That is, the 1st-4th conveyance parts 271, 272, 273, 274 provide four holding parts which hold | maintain and hold | maintain organic electroluminescent panel P from the upper side, respectively. And the 1st conveyance part 271 simultaneously transmits four organic electroluminescent panels P to the anisotropic conductive tape adhesion device 230 from the supply part which is not shown in figure. The 2nd conveyance part 272 transfers four organic electroluminescent panels P simultaneously from the anisotropic conductive tape adhesive apparatus 230 to the pressure bonding apparatus 240. FIG. The 3rd conveyance part 273 delivers four organic electroluminescent panels P simultaneously from the press bonding apparatus 240 to the main crimping apparatus 250. The 4th conveyance part 274 carries out four organic electroluminescent panels P simultaneously to the carrying out part not shown from the main crimping apparatus 250. FIG. The present invention can also be applied to the mounting apparatus 201 having such a configuration.

[실시예]EXAMPLE

이어서, 본 발명의 실시예와 그 평가 결과에 관해서 말한다.Next, the Example of this invention and its evaluation result are described.

(실시예 1)(Example 1)

상술한 실시형태의 실장 장치(1)를 이용하여, 이하의 조건으로 TEG(Test Element Group)에 의한 실장 정밀도를 확인하는 실험을 행했다. 여기서, TEG란 테스트용으로 제작한 평가용 부재를 말하며, 여기서는 유기 EL 패널(P)의 평가용 부재를 제작했다. 구체적으로는, 두께 0.5 mm의 유리판을 이용하여 5 인치 상당(120 mm×65 mm) 크기의 유기 EL 패널의 TEG를 제작했다. 전자 부품(W)으로서는 폭 36 mm, 길이가 25 mm인 COF를 이용했다. 또한, 유기 EL 패널(P)의 TEG를 유리판으로 제작한 이유는, 후술하는 위치 결정 정밀도의 확인 편의상, 휘어짐이나 왜곡, 투과율의 영향을 최대한 방지하기 위해서이다. 이하, 유기 EL 패널(P)의 TEG를 단순히 유기 EL 패널(P)이라고 부른다. 목표 정밀도는, 스마트폰용 디스플레이 패널에 이용되는 유기 EL 패널에 있어서 요구되는 일반적인 정밀도인 ±3 ㎛로 했다.Using the mounting apparatus 1 of embodiment mentioned above, the experiment which confirmed the mounting precision by TEG (Test Element Group) on the following conditions was performed. Here, TEG means the member for evaluation produced for the test, and the member for evaluation of organic electroluminescent panel P was produced here. Specifically, a TEG of an organic EL panel having a size of 5 inches (120 mm × 65 mm) was produced using a glass plate having a thickness of 0.5 mm. As the electronic component W, a COF having a width of 36 mm and a length of 25 mm was used. In addition, the reason why TEG of organic electroluminescent panel P was produced with the glass plate is in order to prevent the influence of a curvature, a distortion, and a transmittance as much as possible for the convenience of confirmation of the positioning precision mentioned later. Hereinafter, TEG of organic electroluminescent panel P is simply called organic electroluminescent panel P. FIG. The target accuracy was set to ± 3 μm, which is the general precision required for organic EL panels used for smartphone display panels.

<실험 조건><Experimental conditions>

가압착 헤드의 히터: OFF Heater of pressurized head: OFF

택트 타임: 10초(단, 가압착 툴(41a) 및 배치부(42a)의 이동 속도는 택트 5초로 실장하는 경우와 같게 했다.)Tact time: 10 seconds (However, the movement speeds of the pressure bonding tool 41a and the placement part 42a were the same as in the case of mounting with 5 seconds of tact.)

반복 시간(횟수): 4.8시간Repetition time (number of times): 4.8 hours

온도 드리프트 보정: 360회에 1회Temperature Drift Correction: Once Every 360 Times

실험함에 있어서는, 우선 각각이 대기 위치에 있는 상태에서, 유기 EL 패널(P)을 배치부(42a)에 배치하고, 전자 부품(W)을 가압 툴(41a)에 유지하게 한다. 대기 위치는, 배치부(42a)에 관해서는 제1 반송부(80)로부터 유기 EL 패널(P)을 수취하는 공급 위치이고, 가압 툴(41a)에 관해서는 제2 전달 장치(70)로부터 전자 부품(W)을 수취하는 위치이다. 이 상태에서, 가압착에 앞서는 마크 인식 위치에 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)을 위치 부여한다. 이 때, 가압 헤드(41a)는 θ=+5°의 수평 방향으로 회전시킨 상태에서 위치 부여한다. 이것은 회전 어긋남의 보정 정밀도를 확인하기 위해서이다.In experiment, first, the organic EL panel P is arrange | positioned at the mounting part 42a in the state which is in a standby position, and the electronic component W is hold | maintained in the pressurizing tool 41a. The standby position is a supply position that receives the organic EL panel P from the first conveyance portion 80 with respect to the placement portion 42a, and electrons from the second delivery device 70 with respect to the pressing tool 41a. It is a position to receive the component (W). In this state, the organic EL panel P and the electronic component W are positioned at the mark recognition position prior to the pressure bonding. At this time, the pressurizing head 41a is positioned in the state rotated in the horizontal direction of θ = + 5 °. This is to confirm the correction accuracy of the rotation shift.

이 상태에서, 제1 및 제2 촬상 장치(43A, 43B)를 이용하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크의 위치를 인식하고, 이 인식 결과에 기초하여 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W)의 위치를 맞춘다. 또한, 이 위치 맞춤은, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부에 대하여 전자 부품(W)의 가장자리부를 중첩시키는 것이 아니라, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부와 전자 부품(W)의 가장자리부가 근소한 거리를 두고서 대향하는 상태에서 행한다. 구체적으로는, 얼라인먼트 마크(PM, WM)끼리가 3.3 mm의 간격을 이격하도록 하여 위치 맞춤을 행한다. 얼라인먼트 마크(PM, WM)에서부터 가장자리부까지의 거리는 각각 대략 0.6∼1.2 mm 정도이기 때문에, 가장자리부끼리는 0.9∼2.1 mm의 간격으로 배치되게 된다.In this state, the positions of the alignment marks of the organic EL panel P and the electronic component W are recognized using the first and second imaging devices 43A and 43B, and based on this recognition result, the organic EL panel ( Align the position of P) with the electronic component (W). In addition, this positioning does not overlap the edge part of the electronic component W with respect to the edge part of organic electroluminescent panel P, but the edge part of organic electroluminescent panel P and the edge part of electronic component W are few. It is performed in the state which opposes at a distance. Specifically, alignment marks PM and WM are aligned so as to space 3.3 mm apart. Since the distances from the alignment marks PM and WM to the edges are approximately 0.6 to 1.2 mm, respectively, the edges are arranged at intervals of 0.9 to 2.1 mm.

위치 맞춤이 완료되면, 제2 촬상 장치(43B)를 이용하여, 하측에서 유기 EL 패널(P)의 얼라인먼트 마크와 전자 부품(W)의 얼라인먼트 마크를 동일 시야 내에 넣어 동시에 촬상하여, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W) 사이의 상대 위치 어긋남을 인식한다. 즉, 유기 EL 패널(P)과 전자 부품(W) 우측의 얼라인먼트 마크끼리를 제2 촬상 장치(43B)의 촬상부(43e1)의 동일 시야 내에 넣어 동시에 촬상하고, 좌측의 얼라인먼트 마크끼리를 제2 촬상 장치(43B)의 촬상부(43e2)의 동일 시야 내에 넣어 동시에 촬상한다. 그리고, 이 인식 결과로부터 구한 상대 위치 어긋남을 실장 정밀도로서 기록한다.When the alignment is completed, the alignment mark of the organic EL panel P and the alignment mark of the electronic component W are put in the same field of view from the lower side using the second imaging device 43B to simultaneously capture an image, and the organic EL panel ( The relative positional shift between P) and the electronic component W is recognized. That is, the alignment marks on the right side of the organic EL panel P and the electronic component W are put in the same field of view of the image capturing unit 43e1 of the second imaging device 43B and imaged simultaneously, and the left alignment marks are second to each other. The image is taken within the same field of view of the image capturing section 43e2 of the image capturing apparatus 43B and imaged simultaneously. And the relative position shift calculated | required from this recognition result is recorded as mounting precision.

또한, 유기 EL 패널(P)의 가장자리부를 지지하는 지지부(42b)는, 얼라인먼트 마크에 대응하는 위치에 위아래로 관통한 절결부를 형상하여, 하측에서라도 얼라인먼트 마크를 시인할 수 있게 한 실험용으로 제작한 것을 사용했다. 유기 EL 패널(P)을 유리판으로 제작한 것은, TEG을 투과하여 얼라인먼트 마크를 인식했을 때라도 그 인식 정밀도에 TEG의 휘어짐이나 주름 또는 투과율 등이 영향을 주는 것을 최대한 방지하기 위해서이다.Moreover, the support part 42b which supports the edge part of organic electroluminescent panel P formed the notch which penetrated up and down at the position corresponding to the alignment mark, and produced for the experiment which made it possible to recognize the alignment mark even from the lower side. Used one. The organic EL panel P is made of a glass plate in order to prevent as much as possible the influence of warpage, wrinkles, or transmittance of the TEG on the recognition accuracy even when the alignment mark is recognized through the TEG.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

비교예 1은 「온도 드리프트 보정」을 행하지 않은 점이 상이할 뿐이며, 그 밖의 조건은 상술한 실시예 1과 같게 했다.Comparative Example 1 differs only in that it does not perform "temperature drift correction", and the other conditions were made the same as Example 1 mentioned above.

상술한 실시예 1 및 비교예 1에 있어서, 상기한 유기 EL 패널(P) 및 전자 부품(W)의 이동, 각 얼라인먼트 마크의 인식 및 상대 위치 어긋남의 기록을, 상기한 반복 시간(4.8시간) 동안 연속해서 실시했다. 실시예 1의 측정 결과를 표 1 및 도 9에 나타낸다. 비교예 1의 측정 결과를 표 2 및 도 10에 나타낸다. 이들 표 및 도면에 도시하는 결과, 반복 시간 동안에 취득한 데이터(약 1800회)에 있어서, 1번째부터 10번째의 데이터의 평균치(1)와 그로부터 100회마다 10회분의 데이터의 평균치((2)∼(18))를, 각각 「상대 위치 어긋남 인식 결과」로서 표 1 및 표 2에 나타낸다. 표 1 및 표 2에 있어서의 「(1)의 측정 결과와의 차」는, 100회마다의 데이터의 평균치((2)∼(18))에서 1번째의 데이터(1)를 뺀 값이다. 도 9 및 도 10은 「(1)의 측정 결과와의 차」의 변동을 나타내고 있다. 표 1 및 도 9와 표 2 및 도 10의 비교로부터 분명한 것과 같이, 「온도 드리프트 보정」을 행함으로써, 실장 정밀도의 변동을 대폭 억제할 수 있다. 따라서, 가요성을 갖는 표시용 패널에 대한 가요성을 갖는 전자 부품의 실장 정밀도를 장기간에 걸쳐 유지할 수 있다는 것을 알 수 있다.In Example 1 and Comparative Example 1 described above, the above-described repetition time (4.8 hours) was recorded for movement of the organic EL panel P and the electronic component W, recognition of each alignment mark, and recording of relative position shift. Was carried out continuously. The measurement result of Example 1 is shown in Table 1 and FIG. The measurement result of the comparative example 1 is shown in Table 2 and FIG. As a result shown in these tables and figures, in the data (approximately 1800 times) acquired during the repetition time, the average value (1) of the first to tenth data and the average value (10) of data for each ten times therefrom ((2) to (18) is shown in Table 1 and Table 2 as "relative position shift recognition result", respectively. "Difference with the measurement result of (1)" in Table 1 and Table 2 is the value which subtracted the 1st data (1) from the average value ((2)-(18)) of data every 100 times. 9 and 10 show variations in the "difference from the measurement result of (1)". As is clear from the comparison of Table 1 and FIG. 9 and Table 2 and FIG. 10, the variation in the mounting accuracy can be significantly suppressed by performing the “temperature drift correction”. Therefore, it turns out that the mounting precision of the electronic component which has flexibility with respect to a flexible display panel can be maintained for a long time.

[표 1] [표 2] 측정 회, 상대 위치 어긋남 인식 결과, (1)의 측정 결과와의 차[Table 1] [Table 2] Difference between measurement time, relative position shift recognition result and measurement result of (1)

Figure 112018015182819-pat00001
Figure 112018015182819-pat00001

Figure 112018015182819-pat00002
Figure 112018015182819-pat00002

한편, 본 발명의 몇 개의 실시형태를 설명했지만, 이들 실시형태는 예로서 제시한 것이며, 발명의 범위를 한정하는 것은 의도하지 않는다. 이들 신규의 실시형태는 그 밖의 다양한 형태로 실시할 수 있는 것이며, 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서 여러 가지 생략, 치환, 변경을 할 수 있다. 이들 실시형태나 그 변형은 발명의 범위나 요지에 포함되는 동시에 청구범위에 기재된 발명과 그 균등한 범위에 포함된다.On the other hand, although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments have been presented by way of example only, and are not intended to limit the scope of the inventions. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and its modifications are included in the scope and spirit of the invention, and are included in the invention and equivalent scope thereof as described in the claims.

1: 실장 장치, 10(10A, 10B): 펀칭 장치, 12: 금형 장치, 20: 간헐 회전 반송 장치, 21: 아암부, 24: 유지 헤드, 30: 이방성 도전 테이프 점착 장치(접합 부재 점착 장치), 32: 점착 헤드, 40: 가압착 장치, 40, 41: 가압착 헤드, 42: 스테이지, 42a: 배치부, 42b: 지지부, 42c: 스테이지 구동부, 42j: 교정용 부재, 42j 3: 투명 판재, 42j4: 타겟 마크, 43: 위치 인식 유닛, 43A: 제1 촬상 장치, 43B: 제2 촬상 장치, 43a: 제1 촬상부, 43e(43e1, 43e2)): 제2 촬상부, 43b, 43f: 화상 처리부, 50: 본압착 장치, 51: 스테이지, 52: 본압착 헤드, 53: 백업부, 60: 제1 전달 장치, 61: 받음부, 70: 제2 전달 장치, 71: 받음부, 80: 제1 반송부, 81: 유지체, 81a: 전극면 흡착 블록, 81b: 표시 영역 흡착부, 90: 제2 반송부, 91: 유지체, 100: 제3 반송부, 101: 유지체, 110: 제어 장치, 111: 기억부, F: 이방성 도전 테이프, P: 유기 EL 패널, W: 전자 부품.DESCRIPTION OF SYMBOLS 1: Mounting apparatus, 10 (10A, 10B): punching apparatus, 12: metal mold | die apparatus, 20: intermittent rotation conveying apparatus, 21: arm part, 24: holding head, 30: anisotropic conductive tape adhesive apparatus (bonding member adhesive apparatus) 32: adhesive head, 40: pressure bonding device, 40, 41: pressure bonding head, 42: stage, 42a: placement portion, 42b: support portion, 42c: stage drive portion, 42j: calibration member, 42j 3: transparent plate, 42j4: target mark, 43: position recognition unit, 43A: first imaging device, 43B: second imaging device, 43a: first imaging unit, 43e (43e1, 43e2)): second imaging unit, 43b, 43f: image Processing unit, 50: main compression apparatus, 51: stage, 52: main compression head, 53: backup unit, 60: first delivery device, 61: receiver, 70: second delivery device, 71: receiver, 80: first 1 conveying part, 81 holding body, 81a: electrode surface adsorption block, 81b: display area adsorption part, 90: 2nd conveying part, 91: holding body, 100: 3rd conveying part, 101: holding body, 110: control Device, 111: memory, F: anisotropic conductive tape, P: organic EL panel, W: electronic Products.

Claims (12)

20 ㎛ 이상 500 ㎛ 이하의 두께와, 2.5 GPa 이상 4.0 GPa 이하의 굽힘 탄성률을 가지고, 가요성을 갖는 표시용 패널의 가장자리부에 배열된 복수의 전극에, 가요성을 갖는 전자 부품에 있어서의, 상기 복수의 전극에 대응하여 배열된 복수의 단자를, 접합 부재를 통해 접속함으로써, 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 실장하는 전자 부품의 실장 장치에 있어서,
상기 표시용 패널이 배치되는 스테이지이며, 상기 표시용 패널에 있어서의 상기 전자 부품이 실장되는 상기 가장자리부를 하측에서 지지하는 지지부를 갖추고, 상기 지지부와 함께 수평 방향으로 이동할 수 있는 스테이지와,
상기 전자 부품을 상측에서 유지하고, 상기 지지부에 의해서 지지된 상기 가장자리부의 상면에 전자 부품을 열압착하는, 수평 방향 및 수직 방향으로 이동할 수 있는 열압착 헤드와,
상기 표시용 패널의 상기 가장자리부에 마련된 얼라인먼트 마크를, 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부가 상기 스테이지의 상기 지지부에 지지된 상태에서, 상측에서 촬상하는 제1 촬상 장치와,
상기 전자 부품에 마련된 얼라인먼트 마크를, 상기 전자 부품이 상기 열압착 헤드에 유지된 상태에서, 하측에서 촬상하는 제2 촬상 장치와,
상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치의 촬상 화상으로부터 구한 상기 표시용 패널 및 상기 전자 부품의 상기 얼라인먼트 마크의 상대 위치 정보에 기초하여, 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치를 맞추도록 상기 스테이지와 상기 열압착 헤드의 상대 위치를 조정하고, 조정된 위치 관계로 상기 열압착 헤드에 의해 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 열압착시키도록 상기 스테이지 및 상기 열압착 헤드를 제어하는 실장 동작 제어 장치와,
상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 인식에 이용하는 교정용 부재와,
상기 교정용 부재를 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치와 대향하는 위치에 순차 위치 부여하도록, 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치와 상기 교정용 부재를 수평 방향에 있어서 상대 이동시키는 수평 이동 장치와,
상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 기준치를 기억하는 기억부와,
상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치에 상기 교정용 부재의 화상을 받아들이게 하고, 상기 받아들인 화상에 기초하여 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계를 인식하고, 상기 인식한 결과와 상기 기억부에 기억된 기준치의 비교에 의해, 상기 제1 촬상 장치와 상기 제2 촬상 장치의 상대적인 위치 관계의 어긋남을 구하고, 구해진 상기 어긋남에 기초하여 상기 표시용 패널과 상기 전자 부품의 위치 맞춤 위치를 보정하는 교정 동작 제어 장치
를 포함하고,
상기 표시용 패널의 얼라인먼트 마크는, 상기 표시용 패널의 상기 복수 전극의 양측에 마련된 한 쌍의 얼라인먼트 마크이고,
상기 전자 부품의 얼라인먼트 마크는, 상기 전자 부품의 상기 복수 단자의 양측에 마련된 한 쌍의 얼라인먼트 마크이고,
상기 제1 촬상 장치는, 상기 스테이지보다 위쪽의 위치이며, 상기 열압착 헤드가 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부에 상기 전자 부품을 열압착하는 열압착 위치의 근방에 배치되고,
상기 제2 촬상 장치는, 한 쌍의 촬상 장치를 갖추고, 상기 한 쌍의 촬상 장치는, 상기 스테이지에 있어서의 상기 표시용 패널을 배치하는 면보다 아래쪽에, 상기 전자 부품의 한 쌍의 얼라인먼트 마크의 배치 간격에 대응하여 배치되는 것인 전자 부품의 실장 장치.
In an electronic component having flexibility in a plurality of electrodes having a thickness of 20 µm or more and 500 µm or less and a bending elastic modulus of 2.5 GPa or more and 4.0 GPa or less and arranged on the edge portion of the display panel having flexibility, In the mounting apparatus of the electronic component which mounts the said electronic component to the said display panel by connecting several terminal arrange | positioned corresponding to the said some electrode through the bonding member,
A stage on which the display panel is arranged, having a support portion supporting the edge portion on which the electronic component in the display panel is mounted from below, the stage being movable in a horizontal direction together with the support portion;
A thermocompression head movable in a horizontal direction and a vertical direction to hold the electronic component from above, and to thermally compress the electronic component to an upper surface of the edge portion supported by the support portion;
A first imaging device for imaging the alignment mark provided on the edge portion of the display panel from an upper side in a state where the edge portion of the display panel is supported by the support portion of the stage;
A second imaging device for imaging the alignment mark provided on the electronic component from the lower side in a state where the electronic component is held by the thermocompression head;
The position of the display panel and the electronic component to be aligned based on the relative position information of the alignment panel of the display panel and the electronic component obtained from the captured images of the first imaging apparatus and the second imaging apparatus. A mounting operation control for adjusting the relative position between the stage and the thermocompression head and controlling the stage and the thermocompression head to thermocompress the electronic component to the display panel by the thermocompression head in an adjusted position relationship; Device,
A calibration member for use in recognizing a relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device;
Relatively moving the first imaging device, the second imaging device, and the calibration member in the horizontal direction so as to sequentially position the calibration member at positions facing the first imaging device and the second imaging device. With horizontal shifter,
A storage unit that stores a reference value of relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device;
Causing the first imaging device and the second imaging device to accept an image of the calibration member, and recognize a relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device based on the received image; The deviation of the relative positional relationship between the first imaging device and the second imaging device is obtained by comparison of the reference value stored in the storage unit with the result of the comparison between the display panel and the electronic component. Calibration behavior control to correct the alignment
Including,
The alignment mark of the display panel is a pair of alignment marks provided on both sides of the plurality of electrodes of the display panel,
The alignment mark of the electronic component is a pair of alignment marks provided on both sides of the plurality of terminals of the electronic component,
The first imaging device is positioned above the stage, and the thermocompression head is disposed near a thermocompression position for thermocompression bonding the electronic component to the edge portion of the display panel.
The second imaging device includes a pair of imaging devices, and the pair of imaging devices arrange a pair of alignment marks of the electronic component below a surface on which the display panel is disposed in the stage. The mounting apparatus of an electronic component which is arrange | positioned corresponding to the space | interval.
제1항에 있어서,
상기 기억부에는, 또한 상기 교정용 부재의 화상을 받아들이는 타이밍으로서의 시간 간격 또는 상기 열압착 헤드에 의한 상기 전자 부품의 실장 횟수가 기억되어 있고,
상기 교정 동작 제어 장치는, 상기 기억부에 기억된 상기 시간 간격 또는 상기 실장 횟수에 기초하여 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치에 의한 상기 교정용 부재의 화상 받아들이기를 실행하는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
The storage section further stores a time interval as a timing for receiving an image of the calibration member or the number of times the electronic component is mounted by the thermocompression head.
The correction operation control device is configured to execute image reception of the calibration member by the first imaging device and the second imaging device based on the time interval or the number of mountings stored in the storage unit. Mounting device.
제1항에 있어서,
상기 교정 동작 제어 장치는, 상기 교정용 부재의 화상을 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치로 받아들임으로써 인식한, 상기 상대적인 위치 관계를 새로운 기준치로서 상기 기억부에 기억시키는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
The correction operation control device stores the relative positional relationship, which is recognized by accepting an image of the calibration member as the first imaging device and the second imaging device, as the new reference value in the storage unit. Mounting device.
제1항에 있어서,
상기 교정용 부재는, 상하 양방향에서 촬상할 수 있는 타겟 마크를 갖추고, 상기 스테이지에 고정되어 있는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
The said calibration member is equipped with the target mark which can image in both upper and lower directions, and is fixed to the said stage, The mounting apparatus of the electronic component.
제1항에 있어서,
상기 지지부는, 상기 표시용 패널의 가장자리부를 흡착 유지하는 복수의 흡착 구멍을 갖는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
And the support portion has a plurality of adsorption holes for adsorbing and holding an edge portion of the display panel.
제1항에 있어서,
상기 스테이지에 상기 표시용 패널을 공급하는 반송부를 더 포함하고,
상기 반송부는, 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부를 평탄하게 흡착 유지하는 전극면 흡착 블록과, 상기 표시용 패널에 있어서의 상기 전극면 흡착 블록으로 흡착되는 부분 이외의 부분을 흡착 유지하는 표시 영역 흡착부를 갖는 유지체를 포함하는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
Further comprising a conveying unit for supplying the display panel to the stage,
The said conveyance part is a display area adsorption part which adsorbs and hold | maintains parts other than the part adsorbed by the electrode surface adsorption block in the said display panel, and the electrode surface adsorption block in the said display panel. The mounting apparatus of the electronic component containing the holding body which has.
제6항에 있어서,
상기 표시 영역 흡착부는, 평탄하게 형성된 흡착면과, 상기 흡착면에 마련된 다공질 시트를 갖는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 6,
The display area adsorption unit has an adsorption surface formed flat and a porous sheet provided on the adsorption surface.
제6항 또는 제7항에 있어서,
상기 표시 영역 흡착부는, 상기 전극면 흡착 블록에 흡착 유지된 상기 표시용 패널의 상기 가장자리부와 교차하는 방향으로 복수 개 나란히 배치되고, 각각이 상기 전극면 흡착 블록과의 사이의 간격을 조정할 수 있게 마련되어 있는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method according to claim 6 or 7,
The display area adsorption units are arranged in parallel in a direction intersecting the edges of the display panel adsorbed and held on the electrode surface adsorption block, so that each of the display area adsorption blocks can be adjusted to be spaced apart from the electrode surface adsorption block. The mounting apparatus of the electronic component which is provided.
제1항에 있어서,
캐리어 테이프로부터 상기 전자 부품을 펀칭하는 펀칭 장치와,
상기 펀칭 장치에 의해서 펀칭된 상기 전자 부품을 유지하는 복수의 유지 헤드를 갖추고, 상기 유지 헤드를 간헐 회전 이동시키는 간헐 회전 반송 장치와,
상기 간헐 회전 반송 장치에 의한 상기 전자 부품의 반송 경로에 배치되어, 상기 전자 부품에 상기 접합 부재를 점착하는 접합 부재 점착 장치와,
상기 스테이지, 상기 열압착 헤드, 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치를 갖추고, 상기 접합 부재 점착 장치에 의해서 상기 접합 부재가 점착된 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 가압착하는 가압착 장치와,
상기 가압착 장치에 의해서 상기 표시용 패널에 가압착된 상기 전자 부품을 본압착(本壓着)하는 본압착 장치와,
상기 펀칭 장치와 상기 간헐 회전 반송 장치의 사이에서 상기 전자 부품을 전달하는 제1 전달 장치와,
상기 간헐 회전 반송 장치와 상기 가압착 장치의 사이에서 상기 전자 부품을 전달하는 제2 전달 장치와,
상기 가압착 장치로부터 상기 본압착 장치에 상기 표시용 패널을 반송하는 반송부
를 포함하고,
상기 가압착 장치와 상기 본압착 장치는 인접하여 배치되고,
상기 간헐 회전 반송 장치와 상기 펀칭 장치는, 상기 가압착 장치에 대하여 상기 인접하는 방향과는 직교하는 방향으로, 상기 간헐 회전 반송 장치, 상기 펀칭 장치의 순으로 배치되는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
A punching device for punching the electronic component from a carrier tape,
An intermittent rotation conveying device having a plurality of holding heads for holding the electronic component punched by the punching device and intermittently rotating the holding head;
A bonding member adhesive device which is disposed in a conveyance path of the electronic component by the intermittent rotation conveying apparatus and adheres the bonding member to the electronic component;
A pressure bonding device including the stage, the thermocompression head, the first imaging device, and the second imaging device, and press-bonding the electronic component to which the bonding member is adhered by the bonding member adhesion device to the display panel. Wow,
A main compression device for main compression of the electronic component press-bonded to the display panel by the pressure bonding device;
A first transfer device for transferring the electronic component between the punching device and the intermittent rotary transfer device;
A second transfer device for transferring the electronic component between the intermittent rotation transfer device and the pressing device;
Carrier part which conveys the said display panel from the said pressure bonding apparatus to the said main compression apparatus
Including,
The pressing device and the main pressing device are disposed adjacent to each other,
The said intermittent rotation conveyance apparatus and the said punching apparatus are arrange | positioned in the order of the said intermittent rotation conveyance apparatus and the said punching apparatus in the direction orthogonal to the said adjacent direction with respect to the said pressure bonding apparatus.
제1항에 있어서,
캐리어 테이프로부터 상기 전자 부품을 펀칭하는 펀칭 장치와,
상기 표시용 패널에 있어서의, 상기 펀칭 장치에 의해 펀칭된 상기 전자 부품이 실장되는 상기 가장자리부에, 상기 접합 부재를 점착하는 접합 부재 점착 장치와,
상기 스테이지, 상기 열압착 헤드, 상기 제1 촬상 장치 및 상기 제2 촬상 장치를 갖추고, 상기 전자 부품을 상기 표시용 패널에 상기 접합 부재를 통해 가압착하는 가압착 장치와,
상기 가압착 장치에 의해서 상기 표시용 패널에 가압착된 상기 전자 부품을 본압착하는 본압착 장치와,
상기 펀칭 장치와 상기 가압착 장치의 사이에서 상기 전자 부품을 전달하는 전달 장치와,
상기 접합 부재 점착 장치로부터 상기 가압착 장치에 상기 표시용 패널을 반송하는 반송부와,
상기 가압착 장치로부터 상기 본압착 장치에 상기 표시용 패널을 반송하는 다른 반송부
를 포함하고,
상기 접합 부재 점착 장치, 상기 가압착 장치 및 상기 본압착 장치는 이 순서로 배열되고,
상기 펀칭 장치는, 상기 가압착 장치에 대하여 상기 배열 방향과는 직교하는 방향으로 배치되는 것인 전자 부품의 실장 장치.
The method of claim 1,
A punching device for punching the electronic component from a carrier tape,
A bonding member adhesive device for adhering the bonding member to the edge portion on which the electronic component punched by the punching device is mounted in the display panel;
A pressure bonding device including the stage, the thermocompression head, the first imaging device, and the second imaging device, for pressing and bonding the electronic component to the display panel through the bonding member;
A main compression device for main compression of the electronic component press-bonded to the display panel by the pressing device;
A transfer device for transferring the electronic component between the punching device and the pressing device;
A conveying unit for conveying the display panel from the bonding member adhesive apparatus to the pressing apparatus;
Another conveyance part which conveys the said display panel from the said pressure bonding apparatus to the said main compression apparatus
Including,
The bonding member adhesive device, the pressing device and the main pressing device are arranged in this order,
The punching device is an electronic component mounting device that is disposed in a direction orthogonal to the arrangement direction with respect to the pressing device.
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