KR20190098697A - Processing apparatus - Google Patents

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KR1020190012508A
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겐지 다케노우치
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가부시기가이샤 디스코
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Abstract

An objective of the present invention is to provide a machining apparatus capable of reducing concern for draining and discarding machining waste liquid which does not satisfy a drainage standard. The machining apparatus comprises: a retaining means to retain a workpiece; and a machining means to machine the workpiece retained on the retaining means. The machining apparatus further comprises: a machining liquid supply means to supply machining liquid including an oxidizer to at least the workpiece when machining the workpiece retained on the retaining means by the machining means; a machining waste liquid collection unit to collect machining waste liquid including the machining liquid supplied to the workpiece from the machining liquid supply means; a discharge path to discharge the machining waste liquid out of the machining apparatus from the machining waste liquid collection unit; and a treatment layer which stores the machining waste liquid collected by the machining waste liquid collection unit arranged in the middle of the discharge path, and has a waste liquid treating means to decompose machining liquid included in the machining waste liquid.

Description

가공 장치{PROCESSING APPARATUS}Processing device {PROCESSING APPARATUS}

본 발명은, 피가공물을 가공할 때에 가공액을 공급하면서 가공을 실시하는 절삭 장치, 연삭 장치, 바이트 절삭 장치 등의 가공 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD This invention relates to processing apparatuses, such as a cutting apparatus, a grinding apparatus, and a bite cutting apparatus, which process while supplying a processing liquid, when processing a to-be-processed object.

금속을 가진 피가공물을 절삭 블레이드로 절삭하면, 절삭 블레이드에는 막힘이(clogging) 발생함과 더불어, 금속 부분에는 버(burr)가 발생한다. 발생한 버에 의해 피가공물에 형성된 디바이스의 단자 사이가 단락되거나, 피가공물의 핸들링 중에 버가 본딩 패드 상에 낙하하는 등으로 본딩 불량을 발생시키거나 하는 등의 문제가 생기고 있다.Cutting a workpiece with metal with a cutting blade causes clogging of the cutting blade and burrs in the metal portion. Problems such as short-circuit between terminals of the device formed in the workpiece due to the generated burrs, or the occurrence of bonding defects due to the burrs falling on the bonding pads during the handling of the workpiece, are caused.

이 문제를 해결하기 위해, 일본 특허 공개 제2015-177089호 공보에서는, 유기산과 산화제를 포함하는 절삭액을 공급하면서 피가공물을 절삭하는 방법이 제안되어 있다. 이 절삭 방법에 따르면, 절삭액에 포함되는 유기산에 의해 금속이 개질되어 연성이 억제된다. 그 결과, 버의 발생이 억제되는 데다가, 절삭액이 산화제를 포함함으로써 절삭액으로 금속 표면에 형성되는 막질이 변화하고, 금속은 연성을 잃어 제거되기 쉬워지며, 가공성이 촉진된다.In order to solve this problem, Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2015-177089 discloses a method of cutting a workpiece while supplying a cutting liquid containing an organic acid and an oxidizing agent. According to this cutting method, the metal is modified by the organic acid contained in the cutting liquid, and ductility is suppressed. As a result, the generation of burrs is suppressed, and the cutting fluid contains an oxidizing agent, and the film quality formed on the metal surface with the cutting fluid changes, and the metal loses ductility and is easily removed, and workability is promoted.

[특허문헌 1] 일본 특허 공개 제2015-177089호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2015-177089

그러나, 절삭 장치의 사용 지역의 배수 기준에 따라서는 절삭액을 포함하는 절삭 폐액을 그대로 배수할 수 없어, 미생물을 이용한 생물 처리에 의해 절삭 폐액 중의 유기물을 분해하고 나서 배수하고 있다.However, according to the drainage standard of the use area of the cutting device, the cutting waste liquid containing the cutting liquid cannot be drained as it is, and the organic matter in the cutting waste liquid is decomposed by the biological treatment using microorganisms and then drained.

그런데, 절삭액 중에 산화제가 포함되어 있으면, 산화제에 의해 생물 처리에서 사용하고 있는 미생물이 사멸되어 버리고, 절삭 폐액 중의 유기물을 분해할 수 없어 배수 기준에 충족되지 않는 절삭 폐액을 배출해 버린다고 하는 우려가 있다. 이러한 문제는, 절삭 장치에 한정되지 않고, 가공액을 사용하는 연삭 장치, 바이트 절삭 장치 등의 다른 가공 장치에서도 발생하는 것이다.By the way, if the cutting fluid contains an oxidizing agent, the oxidizing agent may cause the microorganisms used in the biological treatment to be killed, and the organic waste in the cutting waste liquid may not be decomposed and the cutting waste liquid which does not meet the drainage standard may be discharged. . Such a problem is not limited to a cutting device but also occurs in other processing devices such as a grinding device and a bite cutting device using a processing liquid.

본 발명은 이러한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적으로 하는 바는, 배수 기준에 충족되지 않는 가공 폐액을 배수해 버릴 우려를 저감할 수 있는 가공 장치를 제공하는 것이다.This invention is made | formed in view of such a point, Comprising: It aims at providing the processing apparatus which can reduce the possibility of draining the processing waste liquid which does not satisfy a drainage standard.

본 발명에 따르면, 피가공물을 유지하는 유지 수단과, 상기 유지 수단에 유지된 피가공물을 가공하는 가공 수단을 구비한 가공 장치로서, 상기 유지 수단에 유지된 피가공물을 상기 가공 수단으로 가공할 때에 적어도 피가공물에 산화제를 포함하는 가공액을 공급하는 가공액 공급 수단과, 상기 가공액 공급 수단으로부터 피가공물에 공급된 상기 가공액을 포함하는 가공 폐액을 회수하는 가공 폐액 회수부와, 상기 가공 폐액 회수부로부터 상기 가공 폐액을 상기 가공 장치 밖으로 배출하는 배출로와, 상기 배출로의 도중에 배치된 상기 가공 폐액 회수부에 의해 회수된 가공 폐액을 저류하고, 상기 가공 폐액에 포함되는 가공액을 분해하는 폐액 처리 수단을 가진 처리층을 더 구비한 것을 특징으로 하는 가공 장치가 제공된다.According to the present invention, there is provided a processing apparatus comprising a holding means for holding a workpiece and a processing means for processing a workpiece held by the holding means, when the workpiece held by the holding means is processed by the processing means. At least a processing liquid supply means for supplying a processing liquid containing an oxidizing agent to the workpiece, a processing waste liquid recovery unit for recovering a processing waste liquid including the processing liquid supplied from the processing liquid supply means to the workpiece, and the processing waste liquid A discharge path for discharging the processing waste liquid from the recovery unit out of the processing apparatus, and a processing waste liquid recovered by the processing waste liquid recovery unit disposed in the middle of the discharge path to decompose the processing liquid contained in the processing waste liquid; A processing apparatus is further provided, further comprising a treatment layer having a waste liquid treatment means.

바람직하게는, 산화제는 과산화수소수이며, 폐액 처리 수단은 가공 폐액에 대하여 자외선을 조사하는 자외선 조사 수단을 포함한다.Preferably, the oxidant is hydrogen peroxide, and the waste liquid treatment means includes ultraviolet irradiation means for irradiating ultraviolet light to the processing waste liquid.

본 발명의 가공 장치는, 가공 폐액 회수부에 의해 회수된 가공 폐액을 저류하고, 가공 폐액에 포함되는 가공액을 분해하는 폐액 처리 수단을 가진 처리층을 구비하기 때문에, 배수 기준에 충족되지 않는 가공 폐액을 배수해 버린다고 하는 우려를 저감할 수 있다.The processing apparatus of the present invention includes a processing layer having waste liquid processing means for storing the processing waste liquid recovered by the processing waste liquid recovery unit and decomposing the processing liquid contained in the processing waste liquid, so that the processing does not meet the drainage standard. We can reduce fear that we drain waste liquid.

도 1의 (A)는 패키지 기판의 평면도, 도 1의 (B)는 패키지 기판의 이면도, 도 1의 (C)는 패키지 기판의 측면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 패키지 기판을 절삭하는 데 알맞은 절삭 장치의 사시도이다.
도 3은 절삭 장치의 절삭 이송 수단 및 워터 케이스 부분의 사시도이다.
도 4는 폐액 처리 수단을 가진 처리층의 단면도이다.
1A is a plan view of the package substrate, FIG. 1B is a rear view of the package substrate, and FIG. 1C is a side view of the package substrate.
FIG. 2 is a perspective view of a cutting device suitable for cutting the package substrate shown in FIG. 1. FIG.
3 is a perspective view of a cutting feed means and a water casing portion of the cutting device.
4 is a sectional view of a treatment layer with waste liquid treatment means.

이하, 본 발명의 실시형태를 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도 1의 (A)를 참조하면, 본 발명 실시형태의 절삭 장치에 의해 가공하는 데 알맞은 패키지 기판(2)의 일례의 평면도가 도시되어 있다. 도 1의 (B)는 패키지 기판(2)의 이면도, 도 1의 (C)는 패키지 기판(2)의 측면도이다.DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1A, a plan view of an example of a package substrate 2 suitable for processing by the cutting device of the embodiment of the present invention is shown. FIG. 1B is a rear view of the package substrate 2, and FIG. 1C is a side view of the package substrate 2.

패키지 기판(2)은, 직사각 형상의 금속 프레임(리드 프레임)(4)을 갖고 있고, 금속 프레임(4)의 외주 잉여 영역(5) 및 비디바이스 영역(5a)에 의해 둘러싸여진 영역에는, 도시한 예에서는 3개의 디바이스 영역(6a, 6b, 6c)이 존재한다.The package board | substrate 2 has the rectangular metal frame (lead frame) 4, and is shown in the area | region enclosed by the outer periphery excess area | region 5 and the non-device area | region 5a of the metal frame 4 in figure. In one example, there are three device regions 6a, 6b, 6c.

각 디바이스 영역(6a, 6b, 6c)에 있어서는, 서로 직교하도록 종횡으로 설치된 분할 예정 라인(8)에 의해 구획된 복수의 영역에 디바이스 칩 탑재부(10)가 정해지고, 개개의 디바이스 칩 탑재부(10)의 4변을 따라 복수의 전극(12)이 형성되어 있다.In each device region 6a, 6b, 6c, the device chip mounting portion 10 is determined in a plurality of regions partitioned by the division scheduled lines 8 arranged vertically and horizontally so as to be perpendicular to each other, and the individual device chip mounting portions 10 A plurality of electrodes 12 are formed along the four sides of).

각 전극(12)끼리는 금속 프레임(4)에 몰드된 몰드 수지층(14)에 의해 절연되어 있다. 제1 방향으로 신장되는 분할 예정 라인(8) 및 제1 방향에 직교하는 제2 방향으로 신장되는 분할 예정 라인(8)을 절삭함으로써, 절삭홈의 양측에 각 디바이스 칩의 전극(12)이 드러난다.Each electrode 12 is insulated by the mold resin layer 14 molded in the metal frame 4. By cutting the division scheduled line 8 extending in the first direction and the division scheduled line 8 extending in the second direction orthogonal to the first direction, the electrodes 12 of the respective device chips are exposed on both sides of the cutting groove. .

디바이스 영역(6a, 6b, 6c)의 각 디바이스 칩 탑재부(10)의 이면에는 도시하지 않은 디바이스 칩이 탑재되어 있고, 각 디바이스 칩에 구비한 전극과 전극(12)이 본딩 와이어 접속되어 있다.A device chip (not shown) is mounted on the back surface of each device chip mounting portion 10 in the device regions 6a, 6b, and 6c, and an electrode and an electrode 12 included in each device chip are connected by bonding wires.

그리고, 디바이스 영역(6a, 6b, 6c)의 각 디바이스 칩은 수지에 의해 밀봉되 도록 각 디바이스 영역(6a, 6b, 6c)의 이면에는 몰드 수지층(14)이 형성되어 있다.And the mold resin layer 14 is formed in the back surface of each device area | region 6a, 6b, 6c so that each device chip of the device area | region 6a, 6b, 6c may be sealed by resin.

도 2를 참조하면, 본 발명 실시형태의 절삭 장치(20)의 사시도가 도시되어 있다. 도 2에 도시된 절삭 장치(20)는, 절삭해야 할 피가공물을 작업자가 유지 수단 상에 배치하거나, 유지 수단으로부터 반출하는 메뉴얼 타입의 절삭 장치이다.2, a perspective view of a cutting device 20 of an embodiment of the present invention is shown. The cutting device 20 shown in FIG. 2 is a manual type cutting device in which a worker arranges a workpiece to be cut on a holding means or is carried out from the holding means.

도면 부호 22는 절삭 장치(20)의 베이스이며, 베이스(22)에는 테이블 베이스(26)가 회전 가능하게 또한 도시하지 않은 절삭 이송 기구에 의해 X축 방향으로 왕복 운동 가능하게 배치되어 있다. 테이블 베이스(26)의 대략 중앙 부분에는 흡인원에 접속된 흡인구(28)가 개구되어 있다.Reference numeral 22 is a base of the cutting device 20, and the table base 26 is disposed on the base 22 so as to be rotatable and reciprocating in the X-axis direction by a cutting feed mechanism (not shown). The suction port 28 connected to the suction source is opened in the substantially center portion of the table base 26.

패키지 기판(2)을 가공할 때에는, 일본 특허 공개 제2011-040542호 공보에 개시된 바와 같은 지그 테이블을 테이블 베이스(26)에 탑재하고, 지그 테이블을 통해 패키지 기판(20)을 흡인 유지한다. 즉, 본 실시형태의 절삭 장치에서는, 테이블 베이스와 지그 테이블로 유지 수단이 구성된다.When processing the package board | substrate 2, the jig table as disclosed in Unexamined-Japanese-Patent No. 2011-040542 is mounted in the table base 26, and the package board | substrate 20 is suction-held through the jig table. That is, in the cutting device of this embodiment, a holding means is comprised by a table base and a jig table.

테이블 베이스(26)의 주위에는 워터 커버(24)가 배치되어 있고, 이 워터 커버(24)와 도 3에 도시된 워터 케이스(60) 사이에 절삭 이송 기구의 축을 보호하기 위한 벨로우즈(30)가 연결되어 있다.A water cover 24 is disposed around the table base 26, and a bellows 30 for protecting the axis of the cutting feed mechanism is provided between the water cover 24 and the water case 60 shown in FIG. 3. It is connected.

베이스(22)의 후방에는 문형(門型) 모양의 칼럼(32)이 세워져 있다. 칼럼(32)에는 Y축 방향으로 신장되는 한 쌍의 가이드 레일(34)이 고정되어 있다. 칼럼(32)에는 Y축 이동 블록(36)이 볼나사(38)와 도시하지 않은 펄스 모터로 이루어진 Y축 이동 기구(인덱싱 기구)(40)에 의해, 가이드 레일(34)을 따라 Y축 방향으로 이동 가능하게 탑재되어 있다.At the rear of the base 22, a columnar column 32 is erected. A pair of guide rails 34 extending in the Y-axis direction are fixed to the column 32. In the column 32, the Y-axis moving block 36 is moved along the guide rail 34 in the Y-axis direction by a Y-axis moving mechanism (indexing mechanism) 40 formed of a ball screw 38 and a pulse motor (not shown). It is mounted to be movable.

Y축 이동 블록(36)에는 Z축 방향으로 신장되는 한 쌍의 가이드 레일(42)이 고정되어 있다. Y축 이동 블록(36) 상에는, Z축 이동 블록(44)이 볼나사(46)와 펄스 모터(48)로 이루어진 Z축 이동 기구(50)에 의해, 가이드 레일(42)에 안내되어 Z축 방향으로 이동 가능하게 탑재되어 있다.A pair of guide rails 42 extending in the Z-axis direction are fixed to the Y-axis moving block 36. On the Y-axis moving block 36, the Z-axis moving block 44 is guided to the guide rail 42 by the Z-axis moving mechanism 50 consisting of the ball screw 46 and the pulse motor 48, and the Z-axis. It is mounted to be movable in the direction.

Z축 이동 블록(44)에는 가공 수단으로서의 절삭 유닛(52)이 부착되어 있고, 절삭 유닛(52)의 스핀들 하우징(53) 내에는 도시하지 않은 스핀들이 회전 가능하게 수용되어 있으며, 스핀들의 선단부에는 절삭 블레이드(54)가 착탈 가능하게 부착되어 있다.A cutting unit 52 as a processing means is attached to the Z-axis moving block 44, and a spindle (not shown) is rotatably housed in the spindle housing 53 of the cutting unit 52, and at the tip of the spindle. The cutting blade 54 is detachably attached.

절삭 블레이드(54)의 양측에는 절삭 블레이드(54)를 사이에 두고 가공액 공급 수단으로서의 한 쌍의 절삭액 공급 노즐(56)이 배치되어 있고, 유지 수단으로 유지된 패키지 기판(2)의 절삭 중에는, 절삭액 공급 노즐(56)로부터 절삭액을 공급하면서 절삭 블레이드(54)로 패키지 기판(2)을 절삭한다.On both sides of the cutting blade 54, a pair of cutting liquid supply nozzles 56 as the processing liquid supply means are arranged with the cutting blade 54 therebetween, and during cutting of the package substrate 2 held by the holding means. The package substrate 2 is cut by the cutting blade 54 while supplying cutting liquid from the cutting liquid supply nozzle 56.

Z축 이동 블록(44)에는 현미경 및 카메라를 갖는 촬상 유닛(58)이 더 부착되어 있다. 촬상 유닛(58)은 피가공물을 가시광선으로 촬상하는 촬상 카메라를 구비하고 있다.The Z-axis moving block 44 is further attached with an imaging unit 58 having a microscope and a camera. The imaging unit 58 is equipped with the imaging camera which picks up a to-be-processed object with visible light.

척 테이블(26)에 흡인 유지된 패키지 기판(2)을 절삭수 공급 노즐(56)로부터 유기산과 산화제를 포함하는 절삭액을 공급하면서 절삭 블레이드(54)로 절삭하면, 절삭액 및 절삭 부스러기를 포함하는 절삭 폐액은 벨로우즈(30)의 폭 방향(Y축 방향)의 양단으로부터 도 3에 도시된 워터 케이스(60)로 흘러내린다.When the package substrate 2 sucked and held by the chuck table 26 is cut by the cutting blade 54 while supplying cutting fluid containing an organic acid and an oxidant from the cutting water supply nozzle 56, cutting fluid and cutting chips are included. Cutting waste fluid flows from the both ends of the bellows 30 in the width direction (Y-axis direction) to the water case 60 shown in FIG. 3.

워터 케이스(60)는, 테이블 베이스(26)의 이동 경로 하에 배치되고, 테이블 베이스(26)를 X축 방향으로 왕복 이동시키는 것을 가능하게 하기 위해, 상자형 부재의 바닥판(62)의 중앙부에 직사각 형상의 개구부(63)가 형성되어 있고, 바닥판(62), 내주벽(64) 및 외주벽(66)에 의해 구성되어 절삭액을 받아내는 가공 폐액 회수부로서의 홈통부(68)와, 바닥판(62)에 형성된 배액구(70)를 포함하고 있다. 배액구(70)에는, 워터 케이스(60)의 외부로 신장되는 배출로로서의 배액관(82)의 일단이 접속되어 있다.The water case 60 is disposed under the movement path of the table base 26, and in the center portion of the bottom plate 62 of the box-shaped member to enable the table base 26 to reciprocate in the X-axis direction. A rectangular opening portion 63 is formed, and is formed by the bottom plate 62, the inner circumferential wall 64 and the outer circumferential wall 66, and a groove portion 68 as a processing waste liquid recovery portion for receiving cutting fluid, The drain port 70 formed in the bottom plate 62 is included. One end of the drain pipe 82 as a discharge path extending out of the water case 60 is connected to the drain port 70.

워터 커버(24)는, 평면형으로 형성된 상부판(24a)의 양단부로부터 한 쌍의 측판(24b)이 수하(垂下)하여 구성되어 있고, 상부판(24a)의 단부 및 2개의 측판(24b)은, 워터 케이스(60)를 구성하는 내주벽(64)과 슬라이딩 가능하게 걸어 맞춰져 있다.The water cover 24 is configured by dropping a pair of side plates 24b from both ends of the top plate 24a formed in a planar shape, and an end of the top plate 24a and two side plates 24b are formed. It is slidably engaged with the inner circumferential wall 64 constituting the water case 60.

절삭 이송 기구(72)는, X축 방향으로 신장되는 볼나사(74)와, 볼나사(74)와 평행하게 배치된 한 쌍의 가이드 레일(76)과, 볼나사(74)의 일단에 연결된 모터(80)와, 내부에 수용된 너트가 볼나사(74)에 나사 결합하고 바닥부는 가이드 레일(76)에 슬라이딩 접촉하는 가동 플레이트(78)로 구성된다.The cutting feed mechanism 72 is connected to a ball screw 74 extending in the X-axis direction, a pair of guide rails 76 disposed in parallel with the ball screw 74, and one end of the ball screw 74. The motor 80 and the nut housed therein are screwed to the ball screw 74 and the bottom portion is constituted by a movable plate 78 in sliding contact with the guide rail 76.

모터(80)에 의해 볼나사(74)가 회전하면, 가동 플레이트(78)가 한 쌍의 가이드 레일(76)로 안내되어 X축 방향으로 왕복 이동하는 구성으로 되어 있다. 가동 플레이트(78) 상에는, 원통 부재(82)가 부착되어 있고, 이 원통 부재(82)의 내부에는 테이블 베이스(26)를 회전시키는 회전 기구가 수용되어 있다.When the ball screw 74 rotates by the motor 80, the movable plate 78 is guided to a pair of guide rails 76, and it is set as the structure which reciprocates in an X-axis direction. The cylindrical member 82 is affixed on the movable plate 78, and the rotating mechanism which rotates the table base 26 is accommodated in this cylindrical member 82. As shown in FIG.

도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, 워터 케이스(60)의 배액구(70)에 접속된 배액관(배액로)(82)의 도중에, 가공 폐액 회수부로서의 홈통부(68)에 의해 회수된 가공 폐액을 저류하고, 상기 가공 폐액에 포함되는 가공액을 분해하는 폐액 처리 수단을 가진 처리층(84)이 배치되어 있다.As shown in FIG.2 and FIG.4, it collect | recovered by the groove part 68 as a processing waste liquid collection part in the middle of the drainage pipe (drainage path) 82 connected to the drain opening 70 of the water case 60. As shown in FIG. The processing layer 84 which has the waste liquid processing means which stores a process waste liquid and decomposes the process liquid contained in the said process waste liquid is arrange | positioned.

본 실시형태에서는, 배액 처리 수단은 처리층(84)의 바닥벽 및 측벽에 배치된 복수의 LED(86)로 구성된다. LED(86)로부터 조사되는 자외광(UV광)의 파장은 340 ㎚ 이하가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 300 ㎚ 이하이다.In the present embodiment, the drainage processing means is composed of a plurality of LEDs 86 arranged on the bottom wall and sidewall of the processing layer 84. The wavelength of the ultraviolet light (UV light) irradiated from the LED 86 is preferably 340 nm or less, more preferably 300 nm or less.

처리층(84) 내에 저류된 가공 폐액이 LED(86)에 접촉하지 않도록 LED(86)는 투명 플레이트(88)에 의해 덮여 있다. 처리층(84) 내에 저류된 가공 폐액에는, LED(86)로부터 자외선이 조사되어, 가공 폐액(절삭 폐액) 중에 포함되는 가공액(절삭액)이 분해된다.The LED 86 is covered by the transparent plate 88 so that the processing waste liquid stored in the processing layer 84 does not contact the LED 86. The processing waste liquid stored in the processing layer 84 is irradiated with ultraviolet rays from the LED 86 to decompose the processing liquid (cutting liquid) contained in the processing waste liquid (cutting waste liquid).

도 1에 도시된 바와 같은 패키지 기판(2)을 본 발명 실시형태의 절삭 장치(2)로 절삭할 때에는, 유기산과 산화제를 포함하는 절삭액을 절삭 블레이드(54)가 패키지 기판(2)에 절입된 가공점으로 공급하면서 절삭을 수행한다.When cutting the package substrate 2 as shown in FIG. 1 with the cutting device 2 of the embodiment of the present invention, the cutting blade 54 cuts the cutting liquid containing the organic acid and the oxidant into the package substrate 2. Cutting while feeding to the finished machining point.

절삭액 중에 포함되는 유기산에 의해, 패키지 기판(2)에 포함되는 금속을 개질하여 연성을 억제하면서 패키지 기판(2)을 절삭할 수 있다. 그 때문에, 이 절삭에 의해 금속으로부터 버가 발생하는 일은 없다. 또한, 산화제를 이용함으로써, 금속의 표면을 산화하여 금속의 연성을 낮추고, 금속 표면의 가공성을 향상시킬 수 있다.The organic acid contained in the cutting liquid can cut the package substrate 2 while modifying the metal contained in the package substrate 2 to suppress ductility. Therefore, burr does not generate | occur | produce from a metal by this cutting. In addition, by using the oxidizing agent, the surface of the metal can be oxidized to lower the ductility of the metal and improve the workability of the metal surface.

유기산으로는, 예컨대, 분자 내에 적어도 하나의 카르복실기와 적어도 하나의 아미노기를 갖는 화합물을 이용할 수 있다. 이 경우, 아미노기 중 적어도 하나는, 2급 또는 3급의 아미노기이면 바람직하다. 또한, 유기산으로 이용하는 화합물은, 치환기를 갖고 있어도 좋다.As the organic acid, for example, a compound having at least one carboxyl group and at least one amino group in a molecule can be used. In this case, at least one of the amino groups is preferably a secondary or tertiary amino group. In addition, the compound used as an organic acid may have a substituent.

유기산으로 이용할 수 있는 아미노산으로는, 글리신, 디히드록시에틸글리신, 글리실글리신, 히드록시에틸글리신, N-메틸글리신, β-알라닌, L-알라닌, L-2-아미노부티르산, L-노르발린, L-발린, L-류신, L-노르류신, L-알로이소류신, L-이소류신, L-페닐알라닌, L-프롤린, 사르코신, L-오르니틴, L-리신, 타우린, L-세린, L-트레오닌, L-알로트레오닌, L-호모세린, L-티록신, L-티로신, 3,5-디요오드-L-티로신, β-(3,4-디히드록시페닐)-L-알라닌, 4-히드록시-L-프롤린, L-시스틴, L-메티오닌, L-에티오닌, L-란티오닌, L-시스타티오닌, L-시스틴, L-시스틴산, L-글루타민산, L-아스파라긴산, S-(카르복시메틸)-L-시스틴, 4-아미노부티르산, L-아스파라긴, L-글루타민, 아자세린, L-카나바닌, L-시트룰린, L-아르기닌, δ-히드록시-L-리신, 크레아틴, L-키뉴레닌, L-히스티딘, 1-메틸-L-히스티딘, 3-메틸-L-히스티딘, L-트립토판, 악티노마이신 C1, 에르고티오네인, 아파민, 안지오텐신 I, 안지오텐신 II 및 안티파인 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 글리신, L-알라닌, L-프롤린, L-히스티딘, L-리신, 디히드록시에틸글리신이 바람직하다.Examples of amino acids that can be used as the organic acid include glycine, dihydroxyethylglycine, glycylglycine, hydroxyethylglycine, N-methylglycine, β-alanine, L-alanine, L-2-aminobutyric acid and L-norvaline , L-valine, L-leucine, L-norleucine, L-alloisoleucine, L-isoleucine, L-phenylalanine, L-proline, sarcosine, L-ornithine, L-lysine, taurine, L-serine, L Threonine, L-allothreonine, L-homoserine, L-thyroxine, L-tyrosine, 3,5-diiodine-L-tyrosine, β- (3,4-dihydroxyphenyl) -L-alanine, 4 -Hydroxy-L-proline, L-cystine, L-methionine, L-ethionine, L-lanthionine, L-cystionine, L-cystine, L-cystine acid, L-glutamic acid, L-aspartic acid , S- (carboxymethyl) -L-cystine, 4-aminobutyric acid, L-asparagine, L-glutamine, azaserine, L-canavavanine, L-citrulline, L-arginine, δ-hydroxy-L-lysine, Creatine, L-kinyurenine, L-histidine, 1-methyl-L-histidine, 3- Methyl-L-histidine, L-tryptophan, actinomycin C1, ergothioneine, apamin, angiotensin I, angiotensin II, antipine and the like. Among them, glycine, L-alanine, L-proline, L-histidine, L-lysine and dihydroxyethylglycine are preferable.

또한, 유기산으로 이용할 수 있는 아미노폴리산으로는, 이미노디아세트산, 니트릴로삼아세트산, 디에틸렌트리아민오아세트산, 에틸렌디아민사아세트산, 히드록시에틸이미노디아세트산, 니트릴로트리스메틸렌포스폰산, 에틸렌디아민-N,N,N',N'-테트라메틸렌술폰산, 1,2-디아미노프로판사아세트산, 글리콜에테르디아민사아세트산, 트랜스시클로헥산디아민사아세트산, 에틸렌디아민오르토히드록시페닐아세트산, 에틸렌디아민디호박산(SS체),β-알라닌디아세트산, N-(2-카르복실레이트에틸)-L-아스파라긴산, N,N'-비스(2-히드록시벤질)에틸렌디아민-N,N'-디아세트산 등을 들 수 있다.Moreover, as amino polyacid which can be used as an organic acid, imino diacetic acid, nitrilo triacetic acid, diethylene triamine pentacetic acid, ethylenediamine tetraacetic acid, hydroxyethyl imino diacetic acid, nitrilo tris methylene phosphonic acid, ethylenediamine- N, N, N ', N'-tetramethylenesulfonic acid, 1,2-diaminopropaneacetic acid, glycol etherdiamine tetraacetic acid, transcyclohexanediamine tetraacetic acid, ethylenediamineorthohydroxyphenylacetic acid, ethylenediaminedihobacic acid ( SS body), β-alanine diacetic acid, N- (2-carboxylate ethyl) -L-aspartic acid, N, N'-bis (2-hydroxybenzyl) ethylenediamine-N, N'-diacetic acid, etc. Can be mentioned.

또한, 유기산으로서 이용할 수 있는 카르복실산으로는, 포름산, 글리콜산, 프로피온산, 아세트산, 부티르산, 발레르산, 헥산산, 옥살산, 말론산, 글루타르산, 아디프산, 말산, 호박산, 피멜린산, 머캅토아세트산, 글리옥실산, 클로로아세트산, 피루브산, 아세토아세트산, 글루타르산 등의 포화 카르복실산이나, 아크릴산, 메타크릴산, 크로톤산, 푸마르산, 말레산, 메사콘산, 시트라콘산, 아코니트산 등의 불포화 카르복실산, 안식향산류, 톨루엔산, 프탈산류, 나프토산류, 피로멜리트산, 나프탈산 등의 환상 불포화 카르복실산 등을 들 수 있다.Moreover, as carboxylic acid which can be used as organic acid, formic acid, glycolic acid, propionic acid, acetic acid, butyric acid, valeric acid, hexanoic acid, oxalic acid, malonic acid, glutaric acid, adipic acid, malic acid, succinic acid, pimelic acid Saturated carboxylic acids such as mercaptoacetic acid, glyoxylic acid, chloroacetic acid, pyruvic acid, acetoacetic acid, glutaric acid, acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, fumaric acid, maleic acid, mesaconic acid, citraconic acid, aco And cyclic unsaturated carboxylic acids such as unsaturated carboxylic acids such as nitric acid, benzoic acid, toluic acid, phthalic acid, naphthoic acid, pyromellitic acid and naphthalic acid.

산화제로는, 예컨대, 과산화수소, 과산화물, 질산염, 요오드산염, 과요오드산염, 차아염소산염, 아염소산염, 염소산염, 과염소산염, 과황산염, 중크롬산염, 과망간산염, 세륨산염, 바나딘산염, 오존수 및 은(II)염, 철(III)염이나, 그 유기 착염 등을 이용할 수 있다.As the oxidizing agent, for example, hydrogen peroxide, peroxide, nitrate, iodide, periodate, hypochlorite, chlorite, chlorate, perchlorate, persulfate, dichromate, permanganate, cerium, vanadate, ozonated water and silver ( II) salt, iron (III) salt, its organic complex salt, etc. can be used.

또한, 절삭액에는, 방식제가 혼합되어도 좋다. 방식제를 혼합함으로써, QFN 기판(10)에 포함되는 금속의 부식(용출)을 방지할 수 있다. 방식제로는, 예컨대, 분자 내에 3개 이상의 질소 원자를 가지며, 또한, 축환 구조를 갖는 복소 방향환 화합물, 또는, 분자 내에 4개 이상의 질소 원자를 갖는 복소 방향환 화합물을 이용하는 것이 바람직하다. 또한, 방향환 화합물은, 카르복실기, 술포기, 히드록시기, 알콕시기를 포함하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 테트라졸 유도체, 1,2,3-트리아졸 유도체, 및 1,2,4-트리아졸 유도체인 것이 바람직하다.In addition, an anticorrosive may be mixed with the cutting liquid. By mixing the anticorrosive, it is possible to prevent corrosion (elution) of the metal contained in the QFN substrate 10. As the anticorrosive, for example, a heteroaromatic compound having three or more nitrogen atoms in the molecule and having a condensed ring structure, or a heteroaromatic compound having four or more nitrogen atoms in the molecule is preferably used. Moreover, it is preferable that an aromatic ring compound contains a carboxyl group, a sulfo group, a hydroxyl group, and an alkoxy group. Specifically, it is preferable that they are a tetrazole derivative, a 1,2,3-triazole derivative, and a 1,2,4-triazole derivative.

방식제로서 이용할 수 있는 테트라졸 유도체로는, 테트라졸 고리를 형성하는 질소 원자 상에 치환기를 갖지 않고, 또한, 테트라졸의 5 위치에, 술포기, 아미노기, 카르바모일기, 카르본아미드기, 술파모일기, 및 술폰아미드기로 이루어진 군으로부터 선택된 치환기, 또는, 히드록시기, 카르복시기, 술포기, 아미노기, 카르바모일기, 카르본아미드기, 술파모일기, 및 술폰아미드기로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 하나의 치환기로 치환된 알킬기가 도입된 것을 들 수 있다.As a tetrazole derivative which can be used as an anticorrosive agent, it does not have a substituent on the nitrogen atom which forms a tetrazole ring, and has a sulfo group, an amino group, a carbamoyl group, a carbonamide group, A substituent selected from the group consisting of a sulfamoyl group, and a sulfonamide group, or at least one substituent selected from the group consisting of a hydroxy group, a carboxy group, a sulfo group, an amino group, a carbamoyl group, a carbonamide group, a sulfamoyl group, and a sulfonamide group The alkyl group substituted by the is introduced.

또한, 방식제로서 이용할 수 있는 1,2,3-트리아졸 유도체로는, 1,2,3-트리아졸 고리를 형성하는 질소 원자 상에 치환기를 갖지 않고, 또한, 1,2,3-트리아졸의 4 위치 및/또는 5 위치에, 히드록시기, 카르복시기, 술포기, 아미노기, 카르바모일기, 카르본아미드기, 술파모일기, 및 술폰아미드기로 이루어진 군으로부터 선택된 치환기, 혹은, 히드록시기, 카르복시기, 술포기, 아미노기, 카르바모일기, 카르본아미드기, 술파모일기, 및 술폰아미드기로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 하나의 치환기로 치환된 알킬기 또는 아릴기가 도입된 것을 들 수 있다.In addition, the 1,2,3-triazole derivative which can be used as an anticorrosive agent does not have a substituent on the nitrogen atom which forms a 1,2,3-triazole ring, and 1,2,3-tria At the 4 and / or 5 position of the sol, a substituent selected from the group consisting of a hydroxyl group, a carboxyl group, a sulfo group, an amino group, a carbamoyl group, a carbonamide group, a sulfamoyl group, and a sulfonamide group, or a hydroxy group, a carboxyl group, a sulfonate group An alkyl group or an aryl group substituted with at least one substituent selected from the group consisting of aeration, amino group, carbamoyl group, carbonamide group, sulfamoyl group, and sulfonamide group is mentioned.

또한, 방식제로서 이용할 수 있는 1,2,4-트리아졸 유도체로는, 1,2,4-트리아졸 고리를 형성하는 질소 원자 상에 치환기를 갖지 않고, 또한, 1,2,4-트리아졸의 2 위치 및/또는 5 위치에, 술포기, 카르바모일기, 카르본아미드기, 술파모일기, 및 술폰아미드기로 이루어진 군으로부터 선택된 치환기, 혹은, 히드록시기, 카르복시기, 술포기, 아미노기, 카르바모일기, 카르본아미드기, 술파모일기, 및 술폰아미드기로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 하나의 치환기로 치환된 알킬기 또는 아릴기가 도입된 것을 들 수 있다.In addition, the 1,2,4-triazole derivative which can be used as an anticorrosive agent does not have a substituent on the nitrogen atom which forms a 1,2,4-triazole ring, and is a 1,2,4-tria Substituent selected from the group consisting of a sulfo group, a carbamoyl group, a carbonamide group, a sulfamoyl group, and a sulfonamide group at the 2-position and / or 5-position of the sol, or a hydroxy group, a carboxy group, a sulfo group, an amino group, a carbamo And an alkyl or aryl group substituted with at least one substituent selected from the group consisting of a diary, a carbonamide group, a sulfamoyl group, and a sulfonamide group.

전술한 바와 같이, 절삭액 공급 노즐(56)로부터 공급되는 절삭액 중에는 산화제가 포함되어 있기 때문에, 이 산화제에 의해 종래의 미생물을 이용한 생물 처리에서는 미생물이 사멸해 버리고, 절삭 폐액 중의 유기물을 분해할 수 없어 배액 기준에 충족되지 않는 절삭 폐액을 배액해 버릴 우려가 있다.As described above, since the cutting liquid supplied from the cutting liquid supply nozzle 56 contains an oxidizing agent, the microorganisms are killed in the biological treatment using conventional microorganisms by the oxidizing agent, and the organic matter in the cutting waste liquid is decomposed. There is a fear that the cutting waste liquid which does not meet the drainage standard cannot be drained.

그러나, 본 실시형태에서는, 배액관(82)의 도중에 폐액 처리 수단을 가진 폐액 처리층(84)이 마련되어 있기 때문에, 처리층(84) 내에 저류된 절삭 폐액에 복수의 LED(86)로부터 자외선을 조사하여 절삭 폐액 중의 유기물을 분해할 수 있기 때문에, 배액 기준에 충족되지 않는 절삭 폐액을 배액해 버릴 우려를 방지할 수 있다.However, in this embodiment, since the waste liquid processing layer 84 which has a waste liquid processing means is provided in the middle of the drainage pipe 82, the cutting waste liquid stored in the process layer 84 is irradiated with the ultraviolet-ray from the some LED 86. Since the organic matter in the cutting waste liquid can be decomposed, the possibility of draining the cutting waste liquid which does not satisfy the drainage standard can be prevented.

전술한 실시형태에서는, 피가공물로서 패키지 기판(2)을 채용한 예에 대해서 설명하였지만, 피가공물은 패키지 기판에 한정되지 않고, 이면 전극으로서의 두께 수 ㎛의 도전체막(Ti, Ni, Au 등으로 이루어진 다층 금속막)이 적층된 웨이퍼, 표면의 스트리트 상에 TEG가 형성된 웨이퍼 등을 포함하는 것이다.In the above-described embodiment, an example in which the package substrate 2 is employed as the workpiece is described. However, the workpiece is not limited to the package substrate, and the conductor film (Ti, Ni, Au, etc.) having a thickness of several μm as the back electrode is described. And a wafer having a TEG formed on a street of a surface thereof, and the like.

전술한 폐액 처리 수단으로서의 LED(86)를 가진 폐액 처리층(84)을 구비한 절삭 장치(20)로 유기산 및 산화제를 포함하는 절삭액을 공급하면서 패키지 기판(2)을 절삭할 때에, 산화제의 분해에 첨가제가 아닌 분해 파장을 갖는 빛 에너지를 이용함으로써, 첨가제나 온도 관리가 불필요하여 운전 비용을 낮게 억제하는 것이 가능해진다.When cutting the package substrate 2 while supplying a cutting liquid containing an organic acid and an oxidizing agent to the cutting device 20 having the waste liquid processing layer 84 having the LEDs 86 as waste liquid processing means described above, By using light energy having a decomposition wavelength rather than an additive for decomposition, no additives or temperature management are required, and it is possible to suppress the running cost low.

전술한 실시형태에서는, LED(86)로부터 자외선을 조사하는 폐액 처리층(84)을 절삭 장치의 폐액 처리에 사용한 예에 대해서 설명하였지만, 폐액 처리층(84)은, 절삭 장치에 한정되지 않고, 연삭 장치, 바이트 절삭 장치 등의 다른 가공 장치에도 동일하게 적용할 수 있다.Although the above-mentioned embodiment demonstrated the example which used the waste liquid processing layer 84 which irradiates an ultraviolet-ray from the LED 86 for the waste liquid processing of a cutting apparatus, the waste liquid processing layer 84 is not limited to a cutting apparatus, The same applies to other processing devices such as a grinding device and a bite cutting device.

2 : 패키지 기판 4 : 금속 프레임(리드 프레임)
6a, 6b, 6c : 디바이스 영역 8 : 분할 예정 라인
10 : 디바이스 칩 탑재부 12 : 전극
14 : 몰드 수지층 24 : 워터 커버
26 : 테이블 베이스 30 : 벨로우즈
54 : 절삭 블레이드 60 : 워터 케이스
70 : 배액구 72 : 절삭 이송 기구
82 : 배액관 84 : 폐액 처리층
86 : LED
2: package substrate 4: metal frame (lead frame)
6a, 6b, and 6c: device area 8: line to be divided
10: device chip mounting portion 12: electrode
14 mold resin layer 24 water cover
26: table base 30: bellows
54: cutting blade 60: water case
70: drain hole 72: cutting feed mechanism
82: drainage tube 84: waste liquid treatment layer
86: LED

Claims (2)

피가공물을 유지하는 유지 수단과, 상기 유지 수단에 유지된 피가공물을 가공하는 가공 수단을 구비한 가공 장치로서,
상기 유지 수단에 유지된 피가공물을 상기 가공 수단으로 가공할 때에 적어도 피가공물에 산화제를 포함하는 가공액을 공급하는 가공액 공급 수단과,
상기 가공액 공급 수단으로부터 피가공물에 공급된 상기 가공액을 포함하는 가공 폐액을 회수하는 가공 폐액 회수부와,
상기 가공 폐액 회수부로부터 상기 가공 폐액을 상기 가공 장치 밖으로 배출하는 배출로와,
상기 배출로의 도중에 배치된 상기 가공 폐액 회수부에 의해 회수된 가공 폐액을 저류하고, 상기 가공 폐액에 포함되는 가공액을 분해하는 폐액 처리 수단을 가진 처리층을 더 구비한 것을 특징으로 하는 가공 장치.
A processing apparatus comprising a holding means for holding a workpiece and a processing means for processing a workpiece held by the holding means,
Processing liquid supply means for supplying a processing liquid containing an oxidizing agent to at least the workpiece when processing the workpiece held by the holding means with the processing means;
A processing waste liquid recovery unit for recovering a processing waste liquid including the processing liquid supplied from the processing liquid supply means to the workpiece;
A discharge path for discharging the processing waste liquid out of the processing apparatus from the processing waste liquid recovery unit;
And a processing layer having waste liquid processing means for storing the processing waste liquid recovered by the processing waste liquid recovery unit arranged in the middle of the discharge path and decomposing the processing liquid contained in the processing waste liquid. .
제1항에 있어서, 상기 산화제는 과산화수소이며, 상기 폐액 처리 수단은 상기 가공 폐액에 대하여 자외선을 조사하는 자외선 조사 수단을 포함하는 것인 가공 장치.The processing apparatus according to claim 1, wherein the oxidant is hydrogen peroxide, and the waste liquid treatment means includes ultraviolet irradiation means for irradiating ultraviolet light to the processing waste liquid.
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