KR20190085537A - 패널 검사 시스템 - Google Patents

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Abstract

표시 패널의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치와 표시 패널의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치를 구비하는 패널 검사 시스템에 있어서, 과검출을 억제하는 것이 가능한 패널 검사 시스템을 제공한다. 패널 검사 시스템(1)은, 표시 패널(2)의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치(3)와, 표시 패널(2)의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치(4)를 구비하고 있다. 이 패널 검사 시스템(1)에서는, 외관 검사 장치(3)에 의한 표시 패널(2)의 외관 검사 후에 점등 검사 장치(4)에 의한 표시 패널(2)의 점등 검사가 행하여진다. 또한, 이 패널 검사 시스템(1)에서는, 점등 검사 장치(4)는, 외관 검사 장치(3)에 의한 검사 데이터에 기초하여 표시 패널(2)의 점등 검사를 행한다.

Description

패널 검사 시스템
본 발명은 액정 패널 등의 표시 패널의 검사를 행하기 위한 패널 검사 시스템에 관한 것이다.
종래, 액정 표시 장치의 제조 방법이 알려져 있다(예를 들어, 특허문헌 1 참조). 특허문헌 1에 기재된 액정 표시 장치의 제조 방법에는, 액정 패널의 외관 검사 공정과, 액정 패널의 점등 검사 공정이 포함되어 있다.
일본 특허 공개 제2011-39121호 공보
특허문헌 1에 기재된 액정 표시 장치의 제조 방법에서는, 예를 들어 액정 패널의 외관 검사를 행한 후에, 액정 패널의 점등 검사를 행한다. 이 경우, 외관 검사에서는, 액정 패널의 표면 흠집, 균열, 절결 등의 표면의 결함 유무나 액정 패널의 표면에 부착되는 진애의 유무의 검출이 검사의 주 목적이 된다. 또한, 점등 검사에서는, 도트 누락이나 휘도 불균일 등의 액정 패널의 내부 결함 유무의 검출이 검사의 주목적이 된다.
그러나, 점등 검사에 있어서도, 액정 패널의 표면의 결함이나 액정 패널의 표면에 부착되는 진애가 검출되기 때문에, 외관 검사에 있어서 양품으로 판정된 액정 패널이, 점등 검사에 있어서, 액정 패널의 표면의 결함이나 액정 패널의 표면에 부착되는 진애가 원인이 되어 불량품으로 판정될 우려가 있다. 즉, 원래 양품으로 판정되어야 할 액정 패널이 점등 검사에 있어서 불량품으로 판정되는 과검출이 발생될 우려가 있다. 과검출이 발생되면, 액정 표시 장치의 제조 공정 직행율이 저하된다는 문제나, 과검출품의 목시 재검사가 필요하여 검사 인원의 증원이 필요하게 된다고 하는 문제 등의 다양한 문제가 생긴다.
그래서, 본 발명의 과제는, 표시 패널의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치와 표시 패널의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치를 구비하는 패널 검사 시스템에 있어서, 과검출을 억제하는 것이 가능한 패널 검사 시스템을 제공하는 데 있다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 패널 검사 시스템은, 표시 패널의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치와, 표시 패널의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치를 구비하고, 외관 검사 장치에 의한 표시 패널의 외관 검사 후에 점등 검사 장치에 의한 표시 패널의 점등 검사가 행해지는 경우, 점등 검사 장치는, 외관 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 표시 패널의 점등 검사를 행하고, 점등 검사 장치에 의한 표시 패널의 점등 검사 후에 외관 검사 장치에 의한 표시 패널의 외관 검사가 행해지는 경우, 외관 검사 장치는, 점등 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 표시 패널의 외관 검사를 행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 패널 검사 시스템에서는, 표시 패널의 외관 검사 후에 표시 패널의 점등 검사가 행해지는 경우, 점등 검사 장치는, 외관 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 표시 패널의 점등 검사를 행하고 있다. 그 때문에, 본 발명에서는, 외관 검사에서 양품으로 판정된 표시 패널이, 점등 검사에 있어서, 외관 검사에 의한 검사 항목의 불량이 원인이 되어 불량품으로 판정되는 것을 억제하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명에서는, 표시 패널의 점등 검사 후에 표시 패널의 외관 검사가 행해지는 경우, 외관 검사 장치는, 점등 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 표시 패널의 외관 검사를 행하고 있기 때문에, 점등 검사에서 양품으로 판정된 표시 패널이, 외관 검사에 있어서, 점등 검사에 의한 검사 항목의 불량이 원인이 되어 불량품으로 판정되는 것을 억제하는 것이 가능해진다. 따라서, 본 발명에서는, 과검출을 억제하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명에서는, 과검출을 억제하는 것이 가능하게 되기 때문에, 패널 검사 시스템의 검사 레벨을 최적화하는 것이 가능해진다.
본 발명에 있어서, 예를 들어 외관 검사 장치에 의한 표시 패널의 외관 검사 후에 점등 검사 장치에 의한 표시 패널의 점등 검사가 행해지고, 외관 검사 장치는, 표시 패널의 표면의 진애의 부착 개소 및 표시 패널의 표면의 결함 개소 중 적어도 어느 한쪽을 포함하는 특정 개소를 검출하고, 점등 검사 장치는, 외관 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 표시 패널의 특정 개소를 제외한 개소의 이상 유무를 검사한다. 이 경우에는, 외관 검사에서 양품으로 판정된 표시 패널이, 점등 검사에 있어서, 표시 패널의 표면에 부착되는 진애나 표시 패널의 표면의 결함이 원인이 되어 불량품으로 판정되는 것을 억제하는 것이 가능해진다.
이상과 같이, 본 발명에서는, 표시 패널의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치와 표시 패널의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치를 구비하는 패널 검사 시스템에 있어서, 과검출을 억제하는 것이 가능해진다.
도 1은 본 발명의 실시 형태에 관한 패널 검사 시스템의 개략 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시하는 패널 검사 시스템에 의한 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
이하, 도면을 참조하면서, 본 발명의 실시 형태를 설명한다.
(패널 검사 시스템의 구성)
도 1은, 본 발명의 실시 형태에 관한 패널 검사 시스템(1)의 개략 평면도이다. 도 2는, 도 1에 도시하는 패널 검사 시스템(1)에 의한 액정 패널(2)의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
본 형태의 패널 검사 시스템(1)은, 표시 패널인 액정 패널(2)의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치(3)와, 액정 패널(2)의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치(4)를 구비하고 있다. 액정 패널(2)은, 예를 들어 휴대 단말기 등에 사용되는 소형의 액정 패널이다. 외관 검사 장치(3)와 점등 검사 장치(4)는 서로 인접하도록 배치되어 있다. 또한, 외관 검사 장치(3)의 제어부와 점등 검사 장치(4)의 제어부는 전기적으로 접속되어 있고, 외관 검사 장치(3)와 점등 검사 장치(4)는, 제어적으로 일체화되어 있다. 본 형태의 패널 검사 시스템(1)에서는, 외관 검사 장치(3)에 의한 액정 패널(2)의 외관 검사 후에 점등 검사 장치(4)에 의한 액정 패널(2)의 점등 검사가 행하여진다.
외관 검사 장치(3)는, 액정 패널(2)의 표면측의 면을 카메라로 촬영하여, 액정 패널(2)의 표면측의 면의 흠집, 균열, 절결 등의 결함의 유무나 액정 패널(2)의 표면측의 면에 부착되는 진애의 유무를 검출하는 제1 검사부(7)와, 액정 패널(2)의 이면측 면을 카메라로 촬영하여, 액정 패널(2)의 이면측 면의 흠집, 균열, 절결 등의 결함의 유무나 액정 패널(2)의 이면측 면에 부착되는 진애의 유무를 검출하는 제2 검사부(8)를 구비하고 있다. 또한, 외관 검사 장치(3)는, 액정 패널(2)을 반송하는 패널 반송 기구나, 제1 검사부(7)와 제2 검사부(8) 사이에서 액정 패널(2)을 표리 반전시키는 패널 반전 기구 등을 구비하고 있다.
점등 검사 장치(4)는, 도트 누락이나 휘도 불균일 등의 액정 패널(2)의 내부 결함 유무를 검출한다. 이 점등 검사 장치(4)는, 액정 패널(2)의 점등 검사를 행하는 장치 본체(10)와, 액정 패널(2)을 반송하는 컨베이어(11)와, 장치 본체(10)와 컨베이어(11) 사이에서 액정 패널(2)을 반송하는 반송용 로봇(12)을 구비하고 있다. 장치 본체(10)는, 액정 패널(2)의 배면으로부터 광을 조사하는 백라이트나 카메라 등의 점등 검사용 각종 기기가 수용되는 하우징(13)을 구비하고 있고, 하우징(13)의 내부에서 액정 패널(2)의 점등 검사가 행하여진다. 또한, 본 형태의 패널 검사 시스템(1)에서 검사되는 액정 패널(2)에는, 백라이트가 장착되어 있지 않지만, 액정 패널(2)에 백라이트가 장착되어 있어도 된다.
패널 검사 시스템(1)에서는, 외관 검사 장치(3)는, 외관 검사 장치(3)에 의한 검사 데이터를 점등 검사 장치(4)에 송신한다. 구체적으로는, 외관 검사 장치(3)는, 액정 패널(2)의 표면(표면측의 면 및 이면측의 면)의 진애의 부착 개소 및 액정 패널(2)의 표면의 결함 개소를 포함하는 특정 개소 P1(도 2의 (A) 참조)을 검출함과 함께, 특정 개소 P1의 위치 데이터(좌표 데이터)를 포함하는 검사 데이터를 점등 검사 장치(4)에 송신한다. 또한, 외관 검사 장치(3)가 송신하는 검사 데이터에는, 특정 개소 P1의 사이즈 데이터나 형상 데이터 등이 포함되어 있어도 된다.
또한, 점등 검사 장치(4)는, 외관 검사 장치(3)에 의한 검사 데이터에 기초하여 액정 패널(2)의 점등 검사를 행한다. 구체적으로는, 점등 검사 장치(4)는, 외관 검사 장치(3)로부터 송신된 외관 검사 장치(3)에 의한 검사 데이터에 기초하여, 액정 패널(2)의 특정 개소 P1을 제외한 개소의 이상 유무를 검사한다. 본 형태에서는, 점등 검사 장치(4)는, 점등 검사 장치(4)에 의한 점등 검사에서 검출된 액정 패널(2)의 표면(표면측의 면 및 이면측의 면)의 진애의 부착 개소 P2 및 특정 개소 P1(도 2의 (B) 참조)을 제외한 개소의 이상 유무를 검사한다. 즉, 점등 검사 장치(4)에 의한 점등 검사 시에는, 특정 개소 P1 및 진애의 부착 개소 P2의 마스크 처리가 행하여진다. 또한, 점등 검사 장치(4)에 의한 점등 검사에서는, 예를 들어 액정 패널(2)의 내부의 점결함 F(도 2의 (C) 참조) 등이 검출된다.
(본 형태의 주된 효과)
이상 설명한 바와 같이, 본 형태에서는, 점등 검사 장치(4)는, 외관 검사 장치(3)에 의한 검사 데이터에 기초하여 액정 패널(2)의 점등 검사를 행하고 있다. 구체적으로는, 외관 검사 장치(3)는, 액정 패널(2)의 표면의 진애의 부착 개소 및 액정 패널(2)의 표면의 결함 개소를 포함하는 특정 개소 P1을 검출하고, 점등 검사 장치(4)는, 점등 검사 장치(4)에 의한 점등 검사에서 검출된 액정 패널(2)의 표면의 진애의 부착 개소 P2 및 특정 개소 P1을 제외한 개소의 이상 유무를 검사하고 있다.
그 때문에, 본 형태에서는, 외관 검사에서 양품으로 판정된 액정 패널(2)이, 점등 검사에 있어서, 외관 검사에 의한 검사 항목의 불량이 원인이 되어 불량품으로 판정되는 것을 억제하는 것이 가능해진다. 구체적으로는, 외관 검사에서 양품으로 판정된 액정 패널(2)이, 점등 검사에 있어서, 액정 패널(2)의 표면에 부착되는 진애나 액정 패널(2)의 표면 결함이 원인이 되어 불량품으로 판정되는 것을 억제하는 것이 가능해진다. 따라서, 본 형태에서는, 과검출을 억제하는 것이 가능해진다. 또한, 본 형태에서는, 과검출을 억제하는 것이 가능하게 되기 때문에, 패널 검사 시스템(1)의 검사 레벨을 최적화하는 것이 가능해진다.
(다른 실시 형태)
상술한 형태는, 본 발명의 적합한 형태의 일례이기는 하지만, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위에 있어서 여러가지 변형 실시가 가능하다.
상술한 형태에서는, 외관 검사 장치(3)에 의한 액정 패널(2)의 외관 검사 후에 점등 검사 장치(4)에 의한 액정 패널(2)의 점등 검사가 행해지고 있지만, 점등 검사 장치(4)에 의한 액정 패널(2)의 점등 검사 후에, 외관 검사 장치(3)에서 액정 패널(2)의 외관 검사가 행하여져도 된다. 이 경우에는, 외관 검사 장치(3)는, 점등 검사 장치(4)에 의한 검사 데이터에 기초하여 액정 패널(2)의 외관 검사를 행한다. 이 경우에도, 점등 검사에서 양품으로 판정된 액정 패널(2)이, 외관 검사에 있어서, 점등 검사에 의한 검사 항목의 불량의 원인이 되어 불량품으로 판정되는 것을 억제하는 것이 가능하게 되기 때문에, 과검출을 억제하는 것이 가능해진다.
상술한 형태에서는, 액정 패널(2)의 표면의 진애의 부착 개소 및 액정 패널(2)의 표면의 결함 개소가 특정 개소 P1에 포함되어 있지만, 액정 패널(2)의 표면의 진애의 부착 개소만이 특정 개소 P1에 포함되어 있어도 되고, 액정 패널(2)의 표면의 결함 개소만이 특정 개소 P1에 포함되어 있어도 된다. 또한, 상술한 형태에 있어서, 패널 검사 시스템(1)에서 검사되는 표시 패널은, 액정 패널(2) 이외의 표시 패널이어도 된다. 예를 들어, 패널 검사 시스템(1)에서 검사되는 표시 패널은, 유기 EL 패널이어도 된다.
1: 패널 검사 시스템
2: 액정 패널(표시 패널)
3: 외관 검사 장치
4: 점등 검사 장치
P1: 특정 개소

Claims (2)

  1. 표시 패널의 외관 검사를 행하는 외관 검사 장치와, 상기 표시 패널의 점등 검사를 행하는 점등 검사 장치를 구비하고,
    상기 외관 검사 장치에 의한 상기 표시 패널의 외관 검사 후에 상기 점등 검사 장치에 의한 상기 표시 패널의 점등 검사가 행해지는 경우, 상기 점등 검사 장치는, 상기 외관 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 행하고,
    상기 점등 검사 장치에 의한 상기 표시 패널의 점등 검사 후에 상기 외관 검사 장치에 의한 상기 표시 패널의 외관 검사가 행해지는 경우, 상기 외관 검사 장치는, 상기 점등 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 상기 표시 패널의 외관 검사를 행하는 것을 특징으로 하는 패널 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 외관 검사 장치에 의한 상기 표시 패널의 외관 검사 후에 상기 점등 검사 장치에 의한 상기 표시 패널의 점등 검사가 행해지고,
    상기 외관 검사 장치는, 상기 표시 패널의 표면의 진애의 부착 개소 및 상기 표시 패널의 표면의 결함 개소 중 적어도 어느 한쪽을 포함하는 특정 개소를 검출하고,
    상기 점등 검사 장치는, 상기 외관 검사 장치에 의한 검사 데이터에 기초하여 상기 표시 패널의 상기 특정 개소를 제외한 개소의 이상 유무를 검사하는 것을 특징으로 하는 패널 검사 시스템.
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