JP2008299021A - 液晶パネル検査方法及び装置 - Google Patents

液晶パネル検査方法及び装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008299021A
JP2008299021A JP2007144195A JP2007144195A JP2008299021A JP 2008299021 A JP2008299021 A JP 2008299021A JP 2007144195 A JP2007144195 A JP 2007144195A JP 2007144195 A JP2007144195 A JP 2007144195A JP 2008299021 A JP2008299021 A JP 2008299021A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal panel
image
bright spot
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007144195A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5112748B2 (ja
Inventor
Kunihiro Mizuno
邦広 水野
Makoto Kikuta
誠 菊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP2007144195A priority Critical patent/JP5112748B2/ja
Priority to KR1020080048655A priority patent/KR101431238B1/ko
Priority to TW097119542A priority patent/TWI442046B/zh
Priority to CN2008101086273A priority patent/CN101324713B/zh
Publication of JP2008299021A publication Critical patent/JP2008299021A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5112748B2 publication Critical patent/JP5112748B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing

Abstract

【課題】液晶パネルの欠陥を撮像装置を用いて検査する場合に、簡単な手段を用いて、液晶パネルの表面に付着したゴミの映像と、液晶パネルの欠陥の映像とを区別する。
【解決手段】一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネル14を第1検査部10に配置して、液晶パネル14の一方の側から照明光を照射して、他方の側から第1画像を撮影する。第1検査部10から第2検査部12へ液晶パネル14を搬送する。その際、搬送途中の少なくともどこかで液晶パネル14を水平面に対して傾斜させる。第2検査部12に液晶パネル14を配置して、傾斜した液晶パネル14に気体を吹き付けてゴミを吹き飛ばす。第2検査部12で液晶パネル14の第2画像を取得する。第1画像における黒画面の中の輝点の位置と第2画像における輝点の位置とを比較して、液晶パネルの欠陥とゴミとを区別する。
【選択図】図1

Description

本発明は、液晶パネルをバックライトで照らして液晶パネルの内部の欠陥を撮像装置で観察するタイプの液晶パネル検査方法及び装置に関するものである。
液晶パネルをバックライトで照らして液晶パネルの内部のゴミなどの欠陥を撮像装置で観察するタイプの液晶パネル検査装置が知られている。このような検査装置で問題となるのが、液晶パネルの表面に付着したゴミを液晶パネルの内部欠陥であると誤認して、良品の液晶パネルを不良品と判定してしまうことである。液晶パネルの部品に関しては、このような誤認を防ぐ工夫を開示したものとして、次の特許文献1及び特許文献2が知られている。
特開平10−246705号公報 特開平10−176995号公報
特許文献1は液晶パネルのカラーフィルタの検査方法に関するものであり、カラーフィルタの欠陥と表面に付着したゴミとを区別できる。この検査方法では、カラーフィルタの一方の側に照明装置を配置して、この照明装置でカラーフィルタの一方の側を照らして、カラーフィルタの他方の側からCCDカメラで透過光の画像を撮影している。この撮影画像に基づいて、カラーフィルタの突起欠陥と黒欠陥の位置情報を取得する(すなわち、明るい画像中の影の位置を取得する)。そのような欠陥が見つかったら、その欠陥が存在する位置に空気の吹き出し口をもってきて、圧搾空気を吹き付ける(エアーブロー)。これにより、カラーフィルタに強固に付着していない異物を吹き飛している。エアーブロー後に、再度、画像を撮影する。エアーブローの前後の画像間で差分処理を行って、適当な閾値で2値化処理を行うと、吹き飛んで無くなった異物を抽出できる。これにより、簡単に除去できる異物までも不良品と判定する問題を解決できる。
特許文献2は液晶パネルの透明ガラス基板の検査方法に関するものであり、ガラス基板の欠陥と表面に付着したゴミとを区別できる。この検査方法は4種類の検査部を用いるものであり、ガラス基板が4種類の検査部を順番に通過するようになっている。それぞれの検査部では、ガラス基板の一方の側に照明装置が配置されていて、他方の側に撮像装置が配置されている。第1の検査部と第4の検査部は直接透過法を用いて透過画像を撮影するものであり、第2検査部と第3検査部は間接透過法を用いて透過画像を撮影するものである。第3の検査部と第4の検査部の間にはイオン式の除塵器が配置されていて、ガラス基板がこの除塵器を通過すると、ガラス基板の表裏面に付着した埃が除去される。本件出願に関係する部分は、第1の検査部の撮影画像と第4の検査部の撮影画像とを比較するところである。第1の検査部の画像には、ガラス基板の「表傷」と「裏傷」と「泡」のほかに、表面に付着した「埃」が、いずれも暗情報として現れる。第4の検査部の画像では、埃は除塵されているので、ガラス基板の「表傷」と「裏傷」と「泡」だけが現れる。したがって、第1の検査部の画像と第4の検査部の画像を比較することにより、ガラス基板の「表傷」と「裏傷」と「泡」の位置や状態を正しく認識できる。この特許文献2では、表面のゴミを除去するのに、空気の吹き付けではなくて、除塵器を用いている。空気で埃を吹き飛ばすと埃が液晶ガラスに再付着する恐れがあるとしている。
上述の2件の公知技術は、液晶パネルを構成する部品(カラーフィルタまたはガラス基板)についての検査方法に関するものである。これに対して、液晶を挟んだ状態での液晶パネルについてその内部欠陥と表面のゴミとを区別できる検査方法を開示するものとして、次の特許文献3が知られている。
特開2007−86563号公報
この特許文献3は、偏光板が無い状態の液晶パネルについて、検査装置に設けた1対の偏光板で液晶パネルを挟んで液晶パネルを検査するものである。この検査装置は、バックライトで照明したときの透過画像と傾斜照明で照明したときの透過画像とを比較することで、液晶パネルの内部ゴミと外部ゴミとを区別することができる。
上述の特許文献1と特許文献2は、カラーフィルタまたはガラス基板について、それ自体の欠陥とその表面に付いたゴミとを区別することが可能である。しかしながら、このような技術を、一対の透明基板の間に液晶を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルの検査に適用すると、次の問題がある。特許文献1と特許文献2は、いずれも、カラーフィルタまたはガラス基板の表面に付着したゴミを、明るい画面の中の暗情報として検出している。しかし、明るい画面の中の暗情報は、暗い画面(黒画面)の中の輝点情報と比較して、確認しにくいものである。
また、特許文献1では、画像中に欠陥を見つけたら、その欠陥の位置に空気の吹き出し口をもってきて、欠陥の位置をめがけて、圧搾空気を集中的に吹き付けている。こうすることで、表面に付着したゴミを吹き飛ばしている。したがって、特許文献1は、空気の吹き出し口を欠陥位置までもってくるための技術的手段が必要になる。一方、特許文献2は、イオン式の除塵器を用いて、表面に付着したゴミを取り除いている。特許文献2によれば、気流式では埃を再付着させる恐れがあるとしている。この特許文献2の技術を実施するには、イオン式の除塵器を必要となる。
上述の特許文献3は、液晶パネルの内部ゴミと外部ゴミを区別するために、バックライトのほかに傾斜照明を必要としている。したがって、もっと簡便な構造のものが望まれている。
本発明の目的は、液晶パネルの欠陥を撮像装置を用いて検査する場合に、簡単な手段を用いて、かつ、黒画面の中の輝点情報としてゴミの映像を確認できるようにして、液晶パネルの表面に付着したゴミの映像と、液晶パネルの欠陥の映像とを区別できるようにした液晶パネル検査方法及び装置を提供することにある。
本発明の液晶パネル検査方法は、次の(a)から(e)までの段階を備えている。(a)一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルを第1検査部に配置して、液晶パネルの一方の側から第1の照明側偏光板を介して照明光を照射して、液晶パネルの他方の側から第1の撮像側偏光板を介して液晶パネルの第1画像を撮影して、黒画面における輝点の位置を取得する第1画像取得段階。(b)前記第1検査部から第2検査部へ液晶パネルを搬送する搬送段階。(c)前記第2検査部に液晶パネルを配置して、液晶パネルの表面に気体を吹き付ける気体吹き付け段階。(d)前記第2検査部に配置された液晶パネルの一方の側から第2の照明側偏光板を介して照明光を照射して、液晶パネルの他方の側から第2の撮像側偏光板を介して液晶パネルの第2画像を撮影して、黒画面における輝点の位置を取得する第2画像取得段階。(e)前記第1画像における輝点の位置と前記第2画像における輝点の位置を比較して、二つの画像の輝点の位置が共通するような輝点が存在したときに液晶パネルに欠陥が存在すると判定する判定段階。
第1検査部と第2検査部の間の搬送途中において、搬送に伴う振動などの影響により液晶パネルの表面に付着したゴミが落下する可能性がある。さらには、第2検査部において液晶パネルの表面に気体を吹き付けることで、液晶パネルの表面に付着したゴミが落下する可能性がある。したがって、第1画像と第2画像を比較することで、黒画面中に現れる輝点が、ゴミに起因する輝点なのか、液晶パネルの欠陥に起因する輝点なのかを区別することができる。すなわち、二つの画像の輝点の位置が共通していないような輝点については、ゴミに起因する輝点であると判定し、共通しているときは液晶パネルに欠陥が存在すると判定する。このような検査方法を用いることで、良品を不良品であると誤認することを防ぐことができる。さらに、気体吹き付け段階において液晶パネルを傾斜させれば、ゴミが落下する確率が高まる。また、誤認率が多少増加することを覚悟するならば、気体吹き付け段階を省略することもできる。
搬送段階においては、液晶パネルを搬送経路の少なくともどこかで水平面に対して傾斜させることもできる。こうすると、搬送に伴う振動等で液晶パネルの表面に付着したゴミが落下する可能性が高まる。
また、本発明の液晶パネル検査装置は、一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルを検査する検査装置であって、次の(a)から(e)までを備えている。(a)液晶パネルを載せる第1検査ステージと、液晶パネルの一方の側に配置された第1照明装置と、液晶パネルと前記第1照明装置の間に配置された第1の照明側偏光板と、液晶パネルの他方の側に配置された第1撮像装置と、液晶パネルと前記第1撮像装置との間に配置された第1の撮像側偏光板と、前記第1撮像装置で撮影された第1画像の中から黒画面中の輝点の位置を認識する第1の位置認識手段とを備える第1検査部。(b)液晶パネルを載せる第2検査ステージと、液晶パネルの一方の側に配置された第2照明装置と、液晶パネルと前記第2照明装置の間に配置された第2の照明側偏光板と、液晶パネルの他方の側に配置された第2撮像装置と、液晶パネルと前記第2撮像装置との間に配置された第2の撮像側偏光板と、前記第2撮像装置で撮影された第2画像の中から黒画面中の輝点の位置を認識する第2の位置認識手段とを備える第2検査部。(c)前記第1検査部から前記第2検査部へ液晶パネルを搬送する搬送装置。(d)前記第2検査部に配置された液晶パネルの表面に気体を吹き付ける気体吹き付け装置。(e)前記第1画像における輝点の位置と前記第2画像における輝点の位置を比較して、二つの画像の輝点の位置が共通するような輝点が存在したときに液晶パネルに欠陥が存在すると判定する判定手段。
この液晶パネル検査装置においても、検査方法の発明と同様に、次のことができる。(ア)気体吹き付け段階において液晶パネルを傾斜させれば、ゴミが落下する確率が高まる。(イ)誤認率が多少増加することを覚悟するならば、気体吹き付け段階を省略することができる。(ウ)液晶パネルを搬送経路の少なくともどこかで水平面に対して傾斜させることができる。
本発明は次の効果を奏する。(1)二つの画像取得段階の間に搬送段階を挟んで二つの画像を取得してこれらを比較する、という簡単な手法を用いるだけで、液晶パネルの表面に付着したゴミの映像と、液晶パネルの内部の欠陥とを区別できる。(2)黒画面の中の輝点を観測しているので、明るい画面の中の暗情報を観測するのに比べて、欠陥情報またはゴミ情報を確認しやすい。(3)第2検査部において液晶パネルの表面に気体を吹き付ければ、ゴミが落下する可能性が高まる。(4)液晶パネルを搬送経路の少なくともどこかで水平面に対して傾斜させれば、搬送途中でゴミが落下する可能性が高まる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳しく説明する。図1は本発明の液晶パネル検査装置の一実施例の全体像の概略を示す斜視図である。この検査装置は、一対の透明なガラス基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルの欠陥を検査するためものである。検査対象の液晶パネルは偏光板を備えていないものである。この検査装置は第1検査部10と第2検査部12とそれらの間の搬送系を備えている。この検査装置における液晶パネル14の動きを説明する。第1検査部10において第1撮像装置32で第1画像が撮影された液晶パネル14は、搬送動作16により第1回転テーブル18に搬送される。第1回転テーブル18で液晶パネル14は水平面内で90度回転させられてから、搬送動作20によりロボット搬送部(図示せず)に受け渡される。ロボット搬送部は搬送系と収容カセット23との間で液晶パネル14を受け渡す働きをするものである。液晶パネル14はロボット搬送部の搬送動作22により第2回転テーブル24に搬送される。第2回転テーブル24に受け渡された液晶パネル14は、ローラコンベア(図示せず)による搬送動作26と、この搬送動作26に垂直な方向への搬送動作28により、傾斜装置(その傾斜動作を符号29で示す)のところまで来る。液晶パネル14は傾斜装置により水平面に対して傾斜させられる。傾斜姿勢になった液晶パネル14は搬送動作30により第2検査部12に搬送される。第2検査部12では第2撮像装置34により液晶パネル14の第2画像が撮影される。
図2は第1検査部の概略を示す正面断面図である。この第1検査部は第1検査ステージ36を備えていて、この第1検査ステージ36に液晶パネル14を載せることができる。液晶パネル14の下方には第1照明装置38が配置されている。液晶パネル14と第1照明装置38の間には第1拡散板40と第1の照明側偏光板42が配置されている。第1の照明側偏光板42は第1拡散板40の上にある。液晶パネル14の上方には第1撮像装置32が配置されている。液晶パネル14と第1撮像装置32の間には第1の撮像側偏光板44が配置されている。この実施例では,液晶パネル14を二つの偏光板42,44で挟んだ構造によって、液晶パネルに電圧を印加しない状態(非点灯状態)において黒画面の状態になる。この「黒画面の状態」とは、背面側の照明装置からの光が,液晶パネルを二つの偏光板で挟んだ構造によって遮断されて、撮像装置に黒い画面として映る状態をいう。このような黒画面の状態になるように、液晶パネルの液晶層と二つの偏光板との間で所定の光学的な関係が設定されている。液晶パネルを非点灯状態にして、第1照明装置38を用いて液晶パネル14を下方から照明して、第1撮像装置32で液晶パネル14を撮影すると、その黒い画面上に、液晶パネルの欠陥または液晶パネルに付着したゴミが輝点として現れる。もしも液晶パネルに欠陥が無く、かつ、表面にゴミが付着していなければ、画面上には輝点は現れない。
第1撮像装置32の出力は画像処理部46で所定の閾値で2値化処理されて、輝点の有無と輝点の位置とが記録される。第1の画像処理部46の処理結果は第1の表示部48で表示することができる。
図3は第2検査部の概略を示す側面断面図である。この第2検査部は第2検査ステージ50を備えていて、この第2検査ステージ50に液晶パネル14を載せることができる。第2検査ステージ50の液晶パネル搭載面52は水平面に対して角度θをなすように傾斜している。角度θは例えば約70度である。この第2検査部は、液晶パネルを非点灯状態にしての欠陥検査のほかに、液晶パネルを点灯状態にしての画質検査が可能である。第2検査ステージ50が傾斜しているので、作業者は液晶パネルの目視がしやすくなる。この第2検査部は、画質検査のために、液晶パネルに電圧を印加するためのプローブ装置66も備えている。
液晶パネル14の右側下方には第2照明装置54が配置されている。液晶パネル14と第2照明装置54の間には第2拡散板56と第2の照明側偏光板58が配置されている。第2の照明側偏光板58は第2拡散板56の上にある。液晶パネル14の左側上方には第2撮像装置34が配置されている。液晶パネル14と第2撮像装置34の間には第2の撮像側偏光板60が配置されている。第1検査部と同様に,液晶パネル14を二つの偏光板58,60で挟んだ構造によって、液晶パネルに電圧を印加しない状態(非点灯状態)では黒画面の状態になる。すなわち、そのような黒画面の状態になるように、液晶パネルの液晶層と二つの偏光板との間で所定の光学的な関係が設定されている。液晶パネル14を非点灯状態にして、第2照明装置34を用いて液晶パネル14を右側下方から照明して、第2撮像装置34で液晶パネル14を撮影すると、その画面上に、液晶パネルの欠陥または液晶パネルに付着したゴミが輝点として現れる。第2撮像装置34は、第1検査部での第1画像装置と同様に、第2の画像処理部68に接続され、第2の画像処理部68は第2の表示部70に接続されている。
図4は空気吹き付け装置を設置した状態の第2検査部の要部の斜視図である。上述の図3では空気吹き付け装置の図示は省略していたものである。図4において、液晶パネル14の二つの長辺に沿って、その斜め上方に、二つの空気吹き付け機構72が配置されている。斜め下方にも同様の二つの空気吹き付け機構(図示せず)が配置されている。これらの空気吹き付け機構72が本発明における気体吹き付け装置に相当する。図4において、プローブ装置に付属する複数のプローブユニット82が簡略的に示されている。これらのプローブユニット82は、液晶パネル14のひとつの長辺84とひとつの短辺86とに沿って並んでいる。
図6は空気吹き付け機構72の斜視図である。この空気吹き付け機構72は細長い本体74を備えている。本体74の長さは液晶パネルの長辺よりも長くなっている。この本体74のひとつの面に多数の開口76が形成されている。本体74の端面には空気導入パイプ78が接続されていて、この空気導入パイプに高圧空気を導入すると、開口76から空気が吹き出すようになっている。なお、図示はしていないが、この空気吹き付け機構にはイオナイザが付属しており、イオン化された空気を液晶パネルに吹き付けることができる。
図4に戻って、水平面に対して角度θで傾斜した姿勢にある液晶パネル14に対して、合計四つの空気吹き付け機構72から空気80を液晶パネル14の表側の表面と裏側の表面に吹き付けることができる。これにより、液晶パネル14の表面に付着しているゴミを吹き飛ばすことができる。液晶パネル14が傾斜しているので、空気の流れによってゴミが液晶パネルから離れると、そのゴミは液晶パネルに再付着しにくい。
図5は第2検査部における空気吹き付け装置を横から見た側面図である。四つの空気吹き付け機構72から空気80が傾斜姿勢の液晶パネル14に吹き付けられる様子が示されている。
次に、この検査装置の動作を説明する。図2の第1検査部において、第1撮像装置32により液晶パネル14の第1画像を取得する。その第1画像は、例えば、図7(A)に示すように、黒い画面(図中のハッチング87で黒い画面を代表している)の中に、3個の輝点88,90,92が現れる。2値化処理した画像においては、輝点を「1」とし、輝点のないところを「0」としている。輝点は、液晶パネルの欠陥(例えば、2枚のガラス基板に挟まれた異物)に起因するものか、または、液晶パネルの表面に付着したゴミに起因するものである。図1において、この液晶パネル14は搬送動作16,20,22,26,28を経由して傾斜装置のところまでやってくる。液晶パネル14は傾斜装置によって水平面に対して角度θだけ傾斜させられる。この角度θは、第2検査部12の第2検査ステージの傾斜角度に等しい。このように傾斜姿勢にされた液晶パネル14は搬送動作30により第2検査部12の第2検査ステージにセットされる。これらの一連の搬送動作に伴って、振動等により、液晶パネルの表面に付着していたゴミが落下する可能性がある。また、搬送途中で液晶パネルが傾斜姿勢になるので、ゴミはさらに落下しやすくなる。そして、第2検査部12において、空気吹き付け装置を用いて傾斜姿勢の液晶パネルの表面に空気を吹き付けることで、液晶パネルの表面から滑り落ちずに残っていたゴミも吹き飛ばされる。
その後、第2検査部12で第2画像を取得すると、例えば、図7(B)に示すように、黒い画面の中に、2個の輝点92,94が現れる。輝点92は、図7(A)の第1画像にも現れていたものである。図7(A)の第1画像中に現れていた輝点88,90は、図7(B)の第2画像からは消えている。輝点88,90は液晶パネルの表面に付着していたゴミに起因するものと考えられ、これらのゴミは、液晶パネルの搬送により、または、液晶パネルへの空気の吹き付けにより、液晶パネルの表面から消えたものである。図7(B)の第2画像中には、新たな輝点94が現れているが、これは、図7(A)の第1画像中には無かったものであり、新たに液晶パネルの表面にゴミが付着したことを想定している。ただし、本発明の検査装置では、新たなゴミが付着する可能性はかなり低いものである。
図7(B)の第2画像を取得したら、図7(A)の第1画像と図7(B)の第2画像とを比較する。具体的には、第1画像と第2画像の間で、各画素ごとに(すなわち、液晶パネルの同じ地点ごとに)、2値データのAND演算を行う。これにより、図7(C)に示すように、第1画像と第2画像の両方で輝点となっている地点(輝点位置が共通する地点)だけが輝点92として残る。第1画像と第2画像のどちらか一方の画像だけに現れている輝点88,90,94は、液晶パネルの表面に付着したゴミに起因するものであり、AND演算により除かれる。
以上の処理により、液晶パネルの欠陥だけを抽出することができる。このようにして見つかった「欠陥のある液晶パネル」は、実際には、排除しきれない表面ゴミに起因しているもの(これは正常品である)も混じっている可能性があるが、それでも、本発明の検査装置を用いることで、本来は良品であるものを不良品であると判断する確率は格段に低くなる。
図8は液晶パネルに欠陥が無い場合の画像例である。図8(A)は第1画像であり、輝点88,90が現れている。図8(B)は第2画像であり、輝点94が現れている。図8(C)は第1画像と第2画像をAND演算した画像である。輝点は見当たらない。この場合は、液晶パネルに欠陥は存在しない、と判定する。
図9は本発明の実施例における液晶パネル検査方法の手順を示すフローチャートである。これまでに説明してきた動作を簡潔にまとめている。これを説明すると、液晶パネルの第1画像を取得し(ステップS1)、液晶パネルが搬送経路の少なくともどこかで水平面に対して傾斜するように液晶パネルを搬送し(ステップS2)、傾斜姿勢の液晶パネルに空気を吹き付けて(ステップS3)、液晶パネルの第2画像を取得し(ステップS4)、第1画像と第2画像を比較する(ステップS5)ものである。第1画像の取得動作は図2に示す第1検査部で実施する。傾斜姿勢を含む状態での搬送動作は、図1の搬送動作16,20,22,26,28,30によって実施する。このうち、傾斜装置から第2検査部への搬送動作30では、液晶パネルが傾斜した状態で搬送される。傾斜姿勢での空気の吹き付け動作は、図4に示す空気吹き付け機構72を用いて実施する。第2画像の取得動作は図3に示す第2検査部で実施する。第1画像と第2画像の比較動作(画像間のAND演算)は検査装置に付属するコンピュータが実施する。
本発明は上述の実施例に限定されず、次のような変更が可能である。
(1)上述の実施例は、第2検査部が傾斜していて、第2検査部では液晶パネルが水平面に対して傾斜しているが、第2検査部を第1検査部と同様に水平にすることもできる。この場合、液晶パネルは第1検査部から第2検査部への搬送段階において水平状態を保ったままである。このような搬送形態でも、搬送に伴う振動等によって液晶パネルの表面(特に、下を向いた裏側の表面)に付着していたゴミが落下する可能性があり、本発明の効果を奏することができる。
(2)不良の誤認率が多少増加することを覚悟すれば、空気吹き付け機構を省略することができる。その場合は、液晶パネルを搬送することにより液晶パネルの表面に付着したゴミが落下する、という効果だけが期待できる。
(3)上述の実施例では「黒画面の状態」を得るのに液晶パネルを非点灯状態にしているが、第1検査部または第2検査部において、あるいはその両方の検査部において、液晶パネルを点灯状態にして黒画面を得てもよい。黒画面が得られれば、液晶パネルと偏光板からなる光学系がどのようなものであっても構わないし、また、液晶パネルにどのような電気信号を印加しても構わない。
(4)上述の実施例では、液晶パネルに吹き付ける気体として空気を用いているが、乾燥窒素ガスなどのその他の気体を用いることもできる。
本発明の液晶パネル検査装置の一実施例の全体像の概略を示す斜視図である。 第1検査部の概略を示す正面断面図である。 第2検査部の概略を示す側面断面図である。 空気吹き付け装置を設置した状態の第2検査部の要部の斜視図である。 第2検査部における空気吹き付け装置を横から見た側面図である。 空気吹き付け機構の斜視図である。 画像例である。 別の画像例である。 本発明の液晶パネル検査方法の手順を示すフローチャートである。
符号の説明
10 第1検査部
12 第2検査部
14 液晶パネル
16,20,22,26,28,30 搬送動作
32 第1撮像装置
34 第2撮像装置
36 第1検査ステージ
38 第1照明装置
40 第1拡散板
42 第1の照明側偏光板
44 第1の撮像側偏光板
46 第1の画像処理部
48 第1表示部
50 第2検査ステージ
52 液晶パネル搭載面
54 第2照明装置
56 第2拡散板
58 第2の照明側偏光板
60 第2の撮像側偏光板
62 第2の画像処理部
64 第2表示部
68 第2の画像処理部
70 第2表示部
72 空気吹き付け機構
80 空気
88,90 ゴミによる輝点
92 欠陥による輝点
94 新たなゴミによる輝点

Claims (8)

  1. 次の(a)から(e)までの段階を備える液晶パネル検査方法。
    (a)一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルを第1検査部に配置して、液晶パネルの一方の側から第1の照明側偏光板を介して照明光を照射して、液晶パネルの他方の側から第1の撮像側偏光板を介して液晶パネルの第1画像を撮影して、黒画面における輝点の位置を取得する第1画像取得段階。
    (b)前記第1検査部から第2検査部へ液晶パネルを搬送する搬送段階。
    (c)前記第2検査部に液晶パネルを配置して、液晶パネルの表面に気体を吹き付ける気体吹き付け段階。
    (d)前記第2検査部に配置された液晶パネルの一方の側から第2の照明側偏光板を介して照明光を照射して、液晶パネルの他方の側から第2の撮像側偏光板を介して液晶パネルの第2画像を撮影して、黒画面における輝点の位置を取得する第2画像取得段階。
    (e)前記第1画像における輝点の位置と前記第2画像における輝点の位置を比較して、二つの画像の輝点の位置が共通するような輝点が存在したときに液晶パネルに欠陥が存在すると判定する判定段階。
  2. 請求項1に記載の液晶パネル検査方法において、前記気体吹き付け段階では、液晶パネルを水平面に対して傾斜させた状態で液晶パネルの表面に気体を吹き付けることを特徴とする液晶パネル検査方法。
  3. 次の(a)から(d)までの段階を備える液晶パネル検査方法。
    (a)一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルを第1検査部に配置して、液晶パネルの一方の側から第1の照明側偏光板を介して照明光を照射して、液晶パネルの他方の側から第1の撮像側偏光板を介して液晶パネルの第1画像を撮影して、黒画面における輝点の位置を取得する第1画像取得段階。
    (b)前記第1検査部から第2検査部へ液晶パネルを搬送する搬送段階。
    (c)前記第2検査部に配置された液晶パネルの一方の側から第2の照明側偏光板を介して照明光を照射して、液晶パネルの他方の側から第2の撮像側偏光板を介して液晶パネルの第2画像を撮影して、黒画面における輝点の位置を取得する第2画像取得段階。
    (d)前記第1画像における輝点の位置と前記第2画像における輝点の位置を比較して、二つの画像の輝点の位置が共通するような輝点が存在したときに液晶パネルに欠陥が存在すると判定する判定段階。
  4. 請求項1から3までのいずれか1項に記載の液晶パネル検査方法において、前記搬送段階では、液晶パネルが搬送経路の少なくともどこかで水平面に対して傾斜する姿勢をとることを特徴とする液晶パネル検査方法。
  5. 一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルを検査する検査装置であって、次の(a)から(e)までを備える検査装置。
    (a)液晶パネルを載せる第1検査ステージと、液晶パネルの一方の側に配置された第1照明装置と、液晶パネルと前記第1照明装置の間に配置された第1の照明側偏光板と、液晶パネルの他方の側に配置された第1撮像装置と、液晶パネルと前記第1撮像装置との間に配置された第1の撮像側偏光板と、前記第1撮像装置で撮影された第1画像の中から黒画面中の輝点の位置を認識する第1の位置認識手段とを備える第1検査部。
    (b)液晶パネルを載せる第2検査ステージと、液晶パネルの一方の側に配置された第2照明装置と、液晶パネルと前記第2照明装置の間に配置された第2の照明側偏光板と、液晶パネルの他方の側に配置された第2撮像装置と、液晶パネルと前記第2撮像装置との間に配置された第2の撮像側偏光板と、前記第2撮像装置で撮影された第2画像の中から黒画面中の輝点の位置を認識する第2の位置認識手段とを備える第2検査部。
    (c)前記第1検査部から前記第2検査部へ液晶パネルを搬送する搬送装置。
    (d)前記第2検査部に配置された液晶パネルの表面に気体を吹き付ける気体吹き付け装置。
    (e)前記第1画像における輝点の位置と前記第2画像における輝点の位置を比較して、二つの画像の輝点の位置が共通するような輝点が存在したときに液晶パネルに欠陥が存在すると判定する判定手段。
  6. 請求項5に記載の液晶パネル検査装置において、前記気体吹き付け装置は、液晶パネルを水平面に対して傾斜させた状態で液晶パネルの表面に気体を吹き付けることを特徴とする液晶パネル検査装置。
  7. 一対の透明基板の間に液晶層を挟んだ液晶パネルであって偏光板が無い状態の液晶パネルを検査する検査装置であって、次の(a)から(d)までを備える検査装置。
    (a)液晶パネルを載せる第1検査ステージと、液晶パネルの一方の側に配置された第1照明装置と、液晶パネルと前記第1照明装置の間に配置された第1の照明側偏光板と、液晶パネルの他方の側に配置された第1撮像装置と、液晶パネルと前記第1撮像装置との間に配置された第1の撮像側偏光板と、前記第1撮像装置で撮影された第1画像の中から黒画面中の輝点の位置を認識する第1の位置認識手段とを備える第1検査部。
    (b)液晶パネルを載せる第2検査ステージと、液晶パネルの一方の側に配置された第2照明装置と、液晶パネルと前記第2照明装置の間に配置された第2の照明側偏光板と、液晶パネルの他方の側に配置された第2撮像装置と、液晶パネルと前記第2撮像装置との間に配置された第2の撮像側偏光板と、前記第2撮像装置で撮影された第2画像の中から黒画面中の輝点の位置を認識する第2の位置認識手段とを備える第2検査部。
    (c)前記第1検査部から前記第2検査部へ液晶パネルを搬送する搬送装置。
    (d)前記第1画像における輝点の位置と前記第2画像における輝点の位置を比較して、二つの画像の輝点の位置が共通するような輝点が存在したときに液晶パネルに欠陥が存在すると判定する判定手段。
  8. 請求項5から7までのいずれか1項に記載の液晶パネル検査装置において、前記搬送装置では、液晶パネルが搬送経路の少なくともどこかで水平面に対して傾斜する姿勢をとることを特徴とする液晶パネル検査装置。
JP2007144195A 2007-05-30 2007-05-30 液晶パネル検査方法及び装置 Expired - Fee Related JP5112748B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007144195A JP5112748B2 (ja) 2007-05-30 2007-05-30 液晶パネル検査方法及び装置
KR1020080048655A KR101431238B1 (ko) 2007-05-30 2008-05-26 액정패널 검사방법 및 장치
TW097119542A TWI442046B (zh) 2007-05-30 2008-05-27 液晶面板檢查方法及裝置
CN2008101086273A CN101324713B (zh) 2007-05-30 2008-05-30 液晶面板检查方法以及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007144195A JP5112748B2 (ja) 2007-05-30 2007-05-30 液晶パネル検査方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008299021A true JP2008299021A (ja) 2008-12-11
JP5112748B2 JP5112748B2 (ja) 2013-01-09

Family

ID=40172604

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007144195A Expired - Fee Related JP5112748B2 (ja) 2007-05-30 2007-05-30 液晶パネル検査方法及び装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5112748B2 (ja)
KR (1) KR101431238B1 (ja)
CN (1) CN101324713B (ja)
TW (1) TWI442046B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011039244A (ja) * 2009-08-10 2011-02-24 Micronics Japan Co Ltd 表示パネルのためのワークテーブル及び試験装置
JP2020020592A (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 高嶋技研株式会社 異物検査装置及び異物検査方法
WO2023172552A1 (en) * 2022-03-09 2023-09-14 Corning Incorporated A cassette logistics system

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101806963A (zh) * 2009-02-17 2010-08-18 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 液晶显示面板的检查方法以及装置
KR101121433B1 (ko) * 2009-11-04 2012-03-16 엘아이지에이디피 주식회사 기판검사장치
TW201132963A (en) * 2010-02-08 2011-10-01 Sumitomo Chemical Co An inspection method for defect in a liquid crystal panel laminated with polarizing plates
GB201020530D0 (en) * 2010-12-03 2011-01-19 Optos Plc Method of identifying anomalies in images
CN103235430B (zh) * 2013-05-08 2015-07-01 深圳市华星光电技术有限公司 面板压接半成品的检测方法
KR101794875B1 (ko) * 2015-01-30 2017-11-07 가부시키가이샤 하리즈 투명판 검사 장치 및 투명판 청소 검사 시스템
WO2016147535A1 (ja) * 2015-03-16 2016-09-22 セイコーエプソン株式会社 電子部品搬送装置、電子部品検査装置、結露あるいは着霜の検査用試験片、および結露あるいは着霜の検査方法
CN105548195A (zh) * 2015-12-03 2016-05-04 苏州威盛视信息科技有限公司 表面检测装置及方法
CN105700206B (zh) 2016-02-16 2019-12-06 京东方科技集团股份有限公司 一种基板表面信息检测装置以及方法
CN107219229B (zh) * 2017-05-16 2020-07-03 武汉精测电子集团股份有限公司 一种面板灰尘过滤方法及装置
CN109656033B (zh) * 2017-10-12 2021-07-02 凌云光技术股份有限公司 一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置
CN107832761A (zh) * 2017-10-31 2018-03-23 黑龙江省科学院自动化研究所 一种图像识别设备
CN107884414B (zh) * 2017-11-03 2019-12-27 电子科技大学 一种剔除灰尘影响的镜面物体表面缺陷检测系统及方法
CN108645869B (zh) * 2018-08-20 2021-03-12 中国印刷科学技术研究院有限公司 凹印版辊表面缺陷智能检测的非缺陷排除方法及其装置
CN109916597B (zh) * 2019-04-18 2020-12-04 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 光学检测装置及光学检测方法
CN110108713A (zh) * 2019-04-26 2019-08-09 武汉精立电子技术有限公司 一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统
CN112198166A (zh) * 2019-07-08 2021-01-08 夏普株式会社 检查装置
CN111257335B (zh) * 2020-01-09 2023-01-24 Oppo(重庆)智能科技有限公司 电子设备内部尘点检测方法
CN112561904A (zh) * 2020-12-24 2021-03-26 凌云光技术股份有限公司 一种降低显示屏外观aoi缺陷误检率的方法及系统

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0452508A (ja) * 1990-06-21 1992-02-20 Mazda Motor Corp 表面欠陥検査装置
JPH05301710A (ja) * 1992-04-24 1993-11-16 Asahi Glass Co Ltd 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置
JPH063636A (ja) * 1992-06-18 1994-01-14 Sony Corp 液晶表示パネルの検査方法
JPH08179251A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Sharp Corp 表示装置の製造装置および表示装置の製造方法
JPH10123193A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Micronics Japan Co Ltd 表示パネル基板の検査装置および検査方法
JPH10176995A (ja) * 1996-12-18 1998-06-30 Futec Inc 透明体検査方法および装置
JPH10246705A (ja) * 1997-03-05 1998-09-14 Toppan Printing Co Ltd カラーフィルタの検査装置
JP2004239674A (ja) * 2003-02-04 2004-08-26 Minato Electronics Inc フラット液晶ディスプレイにおける表示素子の検査装置および表示素子の検査方法
JP2004325788A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Sony Corp 光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法
JP2007086563A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査装置
JP2007108125A (ja) * 2005-10-17 2007-04-26 Kaneka Corp 透明体シート状物の異物欠陥の検査装置およびその方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0452508A (ja) * 1990-06-21 1992-02-20 Mazda Motor Corp 表面欠陥検査装置
JPH05301710A (ja) * 1992-04-24 1993-11-16 Asahi Glass Co Ltd 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置
JPH063636A (ja) * 1992-06-18 1994-01-14 Sony Corp 液晶表示パネルの検査方法
JPH08179251A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Sharp Corp 表示装置の製造装置および表示装置の製造方法
JPH10123193A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Micronics Japan Co Ltd 表示パネル基板の検査装置および検査方法
JPH10176995A (ja) * 1996-12-18 1998-06-30 Futec Inc 透明体検査方法および装置
JPH10246705A (ja) * 1997-03-05 1998-09-14 Toppan Printing Co Ltd カラーフィルタの検査装置
JP2004239674A (ja) * 2003-02-04 2004-08-26 Minato Electronics Inc フラット液晶ディスプレイにおける表示素子の検査装置および表示素子の検査方法
JP2004325788A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Sony Corp 光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法
JP2007086563A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査装置
JP2007108125A (ja) * 2005-10-17 2007-04-26 Kaneka Corp 透明体シート状物の異物欠陥の検査装置およびその方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011039244A (ja) * 2009-08-10 2011-02-24 Micronics Japan Co Ltd 表示パネルのためのワークテーブル及び試験装置
JP2020020592A (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 高嶋技研株式会社 異物検査装置及び異物検査方法
WO2023172552A1 (en) * 2022-03-09 2023-09-14 Corning Incorporated A cassette logistics system

Also Published As

Publication number Publication date
TWI442046B (zh) 2014-06-21
KR20080106020A (ko) 2008-12-04
CN101324713B (zh) 2011-06-08
TW200914815A (en) 2009-04-01
KR101431238B1 (ko) 2014-08-25
CN101324713A (zh) 2008-12-17
JP5112748B2 (ja) 2013-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5112748B2 (ja) 液晶パネル検査方法及び装置
KR101362454B1 (ko) 광학 검사용 장치
US20060158643A1 (en) Method and system of inspecting mura-defect and method of fabricating photomask
JP2010014436A (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
TW201742754A (zh) 固體製劑印刷機及固體製劑印刷方法
WO2006088150A1 (ja) ガラス基板検査装置および検査方法
JPH11326123A (ja) 表示素子表面欠陥抽出方法を具備した表示素子の表示画面検査方法とその実施に使用する検査装置
WO2012124521A1 (ja) 基板検査装置および基板検査方法
KR100953203B1 (ko) 기판 품질 검사장치
JP7125576B2 (ja) 異物検査装置及び異物検査方法
JPH10246705A (ja) カラーフィルタの検査装置
JPH08271436A (ja) カラーフィルタ基板の検査装置
JP2006244869A (ja) プラズマディスプレイパネルの検査装置、プラズマディスプレイパネルの製造方法、デバイスの検査方法
JP2015141096A (ja) 検査装置、検査方法及びガラス基板の製造方法
JP2006349599A (ja) 透明基板検査装置及び検査方法
TWI779055B (zh) 光學顯示面板的損傷檢查方法
JP2007187630A (ja) パターンの欠陥検出方法およびパターンの欠陥検出装置
JPH02257044A (ja) びん検査装置
WO2018131489A1 (ja) パネル検査システム
JP2000266514A (ja) 金属板の検査方法及び装置
CN111007077A (zh) 超薄板透明基板上表面异物检测装置
JP2003177371A (ja) 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法
JP2002156337A (ja) 透光体の検査方法、検査装置、検査プログラムおよび記録媒体
JP2007271410A (ja) 欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム
JPH10325958A (ja) 液晶表示パネル製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100301

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120309

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120502

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121004

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121011

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151019

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5112748

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees