KR20190067816A - Work splitting device and work splitting method - Google Patents

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Abstract

칩 사이즈가 소(小)칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있는 워크 분할 장치 및 워크 분할 방법을 제공한다. 웨이퍼 유닛(2)의 프레임(4)을, 확장 규제 링(16)의 프레임 고정부(12)에 의해 고정한다. 다음으로, 익스팬드 링(14)을 상승 이동시키고, 환(環) 형상부 영역(3B)의 전체 영역의 확장을 개시한다. 다음으로, 익스팬드 링(14)의 상승 이동량이, 프레임(4)의 두께를 초과하면, 환 형상부 영역(3B)이 확장 규제부(17)에 맞닿고, 환 형상부 영역(3B) 중, 외주측에 위치하는 외주측 영역(3E)의 확장이 규제된다. 다음으로, 익스팬드 링(14)의 상승 이동을 속행(續行)하고, 환 형상부 영역(3B) 중, 외주측 영역(3E)을 제외한 내주측 영역(3F)의 확장을 계속해서 행함으로써, 웨이퍼(1)를 개개의 칩(6)으로 분할한다.A work dividing device and a work dividing method capable of solving the problem of non-division of a line to be divided which occurs when the chip size is a small chip. The frame 4 of the wafer unit 2 is fixed by the frame fixing portion 12 of the extension regulating ring 16. Next, the expand ring 14 is moved upward to start expansion of the entire region of the ring-shaped region 3B. Next, when the amount of the upward movement of the expand ring 14 exceeds the thickness of the frame 4, the annular portion area 3B comes into contact with the extended restriction portion 17, , The extension of the outer peripheral side region 3E located on the outer peripheral side is restricted. Next, the upward movement of the expand ring 14 is continued, and the inner peripheral side region 3F excluding the outer peripheral side region 3E of the annular portion region 3B is continuously expanded , The wafer 1 is divided into individual chips 6.

Description

워크 분할 장치 및 워크 분할 방법Work splitting device and work splitting method

본 발명은 워크 분할 장치 및 워크 분할 방법에 관한 것이고, 특히, 반도체 웨이퍼 등의 워크를 분할 예정 라인을 따라 개개의 칩으로 분할하는 워크 분할 장치 및 워크 분할 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a work dividing device and a work dividing method, and more particularly to a work dividing device and a work dividing method for dividing a work such as a semiconductor wafer into individual chips along a line to be divided.

종래, 반도체칩(이하, 칩이라고 함)의 제조에 있어서, 다이싱 블레이드에 의한 하프컷 혹은 레이저 조사에 의한 개질 영역 형성에 의해 미리 그 내부에 분할 예정 라인이 형성된 반도체 웨이퍼(이하, 웨이퍼라고 함)를 분할 예정 라인을 따라 개개의 칩으로 분할하는 워크 분할 장치가 알려져 있다(특허문헌 1 등 참조).Conventionally, in the manufacture of a semiconductor chip (hereinafter referred to as a chip), a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a wafer) in which a line to be divided is formed in advance by forming a modified region by half cut using a dicing blade or by laser irradiation ) Is divided into individual chips along a line to be divided (see Patent Document 1, etc.).

도 22는, 워크 분할 장치에 의해 분할되는 원반 형상의 웨이퍼(1)가 첩부(貼付)된 웨이퍼 유닛(2)의 설명도이며, 도 22의 (A)는 웨이퍼 유닛(2)의 사시도, 도 22의 (B)는 웨이퍼 유닛(2)의 단면도이다.22A and 22B are explanatory views of the wafer unit 2 to which the wafer 1 in the shape of a disk divided by the work dividing device is pasted. FIG. 22A is a perspective view of the wafer unit 2, 22 (B) is a sectional view of the wafer unit 2. Fig.

웨이퍼(1)는, 편면에 점착층이 형성된 두께 약 100㎛의 다이싱 테이프(확장 테이프 또는 점착 시트라고도 함)(3)의 중앙부에 첩부되고, 다이싱 테이프(3)는, 그 외주부(外周部)가 강성(剛性)이 있는 링 형상 프레임(이하, 프레임이라고 함)(4)에 고정되어 있다.The wafer 1 is affixed to a central portion of a dicing tape 3 (also referred to as an extension tape or an adhesive sheet) 3 having a thickness of about 100 탆 in which an adhesive layer is formed on one side, Shaped frame (hereinafter, referred to as a frame) 4 having rigidity.

워크 분할 장치에서는, 웨이퍼 유닛(2)의 프레임(4)이, 이점 쇄선으로 나타내는 프레임 고정 부재(프레임 고정 기구라고도 함)(7)에 의해 고정된다. 이후, 웨이퍼 유닛(2)의 아래쪽으로부터 이점 쇄선으로 나타내는 익스팬드 링(밀어올림 링이라고도 함)(8)이 상승 이동되고, 이 익스팬드 링(8)에 의해 다이싱 테이프(3)가 가압되어 방사 형상으로 확장된다. 이때에 생기는 다이싱 테이프(3)의 장력(張力)이, 웨이퍼(1)의 분할 예정 라인(5)에 부여됨으로써, 웨이퍼(1)가 개개의 칩(6)으로 분할된다. 분할 예정 라인(5)은, 서로 교차하는 X 방향 및 Y 방향으로 형성되어 있다. 분할 예정 라인(5)에 관하여, X 방향과 평행한 개수와 Y 방향과 평행한 개수가 동수(同數)일 경우로서, 각각의 방향의 간격이 동등할 경우에는, 분할된 칩(6)의 형상은 정방형이 된다. 또한, X 방향과 평행한 개수와 Y 방향과 평행한 개수가 다를 경우로서, 각각의 방향의 간격이 동등할 경우에는, 분할된 칩(6)의 형상은 장방형이 된다.In the work dividing device, the frame 4 of the wafer unit 2 is fixed by a frame fixing member (also referred to as a frame fixing mechanism) 7 indicated by chain double-dashed lines. Thereafter, the expanding ring 8 (also referred to as a push-up ring) indicated by the chain double-dashed line from the lower side of the wafer unit 2 is moved upward and the dicing tape 3 is pressed by the expand ring 8 And is radially expanded. The tension of the dicing tape 3 generated at this time is given to the line 5 to be divided of the wafer 1 so that the wafer 1 is divided into the individual chips 6. The line to be divided 5 is formed in the X direction and the Y direction crossing each other. In the case where the number of lines parallel to the X direction and the number of lines parallel to the Y direction are the same with respect to the line to be divided 5 and the intervals in the respective directions are equal to each other, The shape becomes square. Further, when the number of the chips 6 parallel to the X direction is different from the number of the chips 6 parallel to the Y direction, and if the intervals in the respective directions are equal to each other, the chip 6 has a rectangular shape.

그런데, 다이싱 테이프(3)는 영률(Young's modulus)이 낮고 유연한 부재이다. 이 때문에, 웨이퍼(1)를 개개의 칩(6)으로 원활하게 분할하기 위해서는, 다이싱 테이프(3)를 냉각하고, 다이싱 테이프(3)의 스프링 정수(定數)를 크게 한 상태에서 다이싱 테이프(3)를 확장하는 것을 생각할 수 있다.By the way, the dicing tape 3 is a flexible member having a low Young's modulus. For this reason, in order to smoothly divide the wafer 1 into the individual chips 6, the dicing tape 3 is cooled and the die constant of the dicing tape 3 is increased, It is conceivable to expand the singing tape 3.

특허문헌 2의 테이프 확장 장치(워크 분할 장치)는, 냉기 공급 수단을 구비하고 있다. 특허문헌 2에 따르면, 냉기 공급 수단을 작동하여, 처리 공간 내에 냉기를 공급하고, 처리 공간 내를 예를 들면 0℃ 이하로 냉각함으로써, 다이싱 테이프를 냉각하고 있다.The tape expanding device (work dividing device) of Patent Document 2 is provided with cold air supply means. According to Patent Document 2, the cold air supply means is operated to supply cool air into the processing space, and the inside of the processing space is cooled to, for example, 0 ° C or less to cool the dicing tape.

한편, 특허문헌 3의 칩 분할 이간 장치(워크 분할 장치)에서는, 다이싱 테이프에 이방성이 있는 것에 착목하고, 그 이방성을 가미해서 다이싱 테이프를 균일하게 익스팬드시키기 위해, 필름면 지지 기구를 구비하고 있다. 이 필름면 지지 기구는, 원둘레 방향에 있어서 독립된 복수의 지지 기구를 구비하고, 복수의 지지 기구의 상대적인 높이를 개별적으로 제어하여 다이싱 테이프의 장력을 조정함으로써, 다이싱 테이프의 X 방향의 신장과 Y 방향의 신장을 독립하여 제어하고 있다.On the other hand, in the chip dividing and separating apparatus (work dividing apparatus) of Patent Document 3, the dicing tape has an anisotropic property, and in order to uniformly expose the dicing tape in consideration of its anisotropy, . This film surface supporting mechanism has a plurality of independent supporting mechanisms in the circumferential direction and adjusts the tension of the dicing tape by individually controlling the relative heights of the plurality of supporting mechanisms, And the extension in the Y direction is controlled independently.

여기에서, 본원 명세서에 있어서, 다이싱 테이프(3) 중, 웨이퍼(1)가 첩부되는 평면에서 볼 때 원 형상의 영역을 중앙부 영역(3A)이라고 하고, 중앙부 영역(3A)의 외연부(外緣部)와 프레임(4)의 내연부(內緣部) 사이에 구비되는 평면에서 볼 때 도넛 형상의 영역을 환(環) 형상부 영역(3B)이라고 하고, 프레임(4)에 고정되는 최외 둘레 부분의 평면에서 볼 때 도넛 형상의 영역을 고정부 영역(3C)이라고 한다. 환 형상부 영역(3B)이, 익스팬드 링(8)으로 가압되어 확장되는 영역이다.Herein, in the specification of the present application, the circular region in the dicing tape 3 as seen from the plane in which the wafer 1 is applied is referred to as a central region 3A, and the outer region of the central region 3A Shaped region 3B as viewed in a plan view provided between the rim of the frame 4 and the inner edge of the frame 4 is referred to as a ring- The donut-shaped region in the plane of the peripheral portion is referred to as a fixed-portion region 3C. The annular portion area 3B is an area where the expanding ring 8 is pressed and expanded.

또한, 웨이퍼(1)의 분할에 요하는 힘은, 즉, 웨이퍼(1)를 분할하기 위해 환 형상부 영역(3B)에 발생시켜야 하는 장력은, 분할 예정 라인(5)의 개수가 많아짐에 따라서 크게 해야만 하는 것이 알려져 있다. 분할 예정 라인(5)의 개수에 대해서, 예를 들면, 직경 300㎜의 웨이퍼(1)에서 칩 사이즈가 5㎜일 경우에는 약 120개(XY 방향으로 각 60개)의 분할 예정 라인(5)이 형성되고, 칩 사이즈가 1㎜일 경우에는 약 600개의 분할 예정 라인(5)이 형성된다. 그러므로, 환 형상부 영역(3B)에 발생시켜야만 하는 장력은, 칩 사이즈가 작아짐에 따라서 크게 해야만 한다.The force required to divide the wafer 1, that is, the tensile force that should be generated in the annular portion area 3B for dividing the wafer 1, increases as the number of lines to be divided 5 increases It is known that it should be large. The number of the lines to be divided 5 is about 120 (60 each in the XY direction) when the chip size is 5 mm in the wafer 1 having a diameter of 300 mm, for example, When the chip size is 1 mm, about 600 lines to be divided 5 are formed. Therefore, the tension that should be generated in the annular portion area 3B must be increased as the chip size becomes smaller.

일본국 특개2016-149581호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-149581 일본국 특개2016-12585호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-12585 일본국 특개2012-204747호 공보Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2012-204747

그런데, 직경 300㎜의 웨이퍼(1)가 마운트되는 프레임(4)의 내경(프레임의 내연부의 직경)은, SEMI 규격(Semiconductor Equipment and Materials International standards)(G74-0699 300㎜ 웨이퍼에 관한 테이프 프레임을 위한 사양)에 의해 350㎜로 정해져 있다. 이 규격에 의해, 도 23의 웨이퍼 유닛(2)의 종단면도와 같이, 웨이퍼(1)의 외연부와 프레임(4)의 내연부 사이에는, 25㎜의 폭 치수를 갖는 환 형상부 영역(3B)이 존재하게 된다. 또한, 도 24의 (A), (B)에서 나타내는 워크 분할 장치의 요부(要部) 종단면도와 같이, 프레임(4)을 고정하는 프레임 고정 부재(7)는, 익스팬드 링(8)에 의해 확장되는 환 형상부 영역(3B)에 접촉하지 않도록, 화살표 A로 나타내는 다이싱 테이프(3)의 면 내 방향에 있어서 환 형상부 영역(3B)으로부터 바깥쪽으로 이간한 위치에 설치되어 있다.The inner diameter of the frame 4 on which the wafer 1 having a diameter of 300 mm is mounted (the diameter of the inner edge of the frame) is measured by a SEMI standard (G74-0699 300 mm wafer tape frame ) Is set to 350 mm. According to this specification, an annular portion area 3B having a width dimension of 25 mm is formed between the outer edge portion of the wafer 1 and the inner edge portion of the frame 4, as shown in the longitudinal section of the wafer unit 2 in Fig. . 24 (A) and 24 (B), the frame fixing member 7 for fixing the frame 4 is fixed by the expanding ring 8 Is provided at a position spaced apart from the annular portion area 3B in the in-plane direction of the dicing tape 3 indicated by an arrow A so as not to come into contact with the annular portion 3B to be extended.

이 때문에, 익스팬드 링(8)의 상승 동작에 의해 생기는 웨이퍼(1)를 분할하는 힘은, (ⅰ) 환 형상부 영역(3B)의 전체 영역을 확장하는 힘, (ⅱ) 웨이퍼(1)를 칩(6)으로 분할하는 힘, (ⅲ) 인접하는 칩(6)과 칩(6) 사이의 다이싱 테이프(3)를 확장하는 힘의 3개의 힘으로 분해된다.For this reason, the force for dividing the wafer 1 caused by the lifting operation of the expand ring 8 is the force for expanding the entire region of the annular portion area 3B, (ii) (Iii) a force for expanding the dicing tape 3 between the adjacent chip 6 and the chip 6, as shown in Fig.

도 25의 (A)∼(E)에 나타내는 워크 분할 장치의 동작도와 같이, 다이싱 테이프(3)의 환 형상부 영역(3B)에 익스팬드 링(8)이 맞닿고, 익스팬드 링(8)의 상승 동작에 의해 다이싱 테이프(3)의 확장이 개시되면(도 25의 (A)), 우선 가장 스프링 정수가 낮은 환 형상부 영역(3B)의 확장이 개시된다(도 25의 (B)). 이에 따라, 환 형상부 영역(3B)에 장력이 발생하고, 이 장력이 어느 정도 커지면, 커진 장력이 웨이퍼(1)에 전달되어 웨이퍼(1)의 칩(6)으로의 분할이 개시된다(도 25의 (C)). 웨이퍼(1)가 개개의 칩(6)으로 분할되면, 환 형상부 영역(3B)의 확장과 칩간의 다이싱 테이프(3)의 확장이 동시에 진행된다(도 25의 (D)∼(E)).The expanding ring 8 is brought into contact with the annular portion 3B of the dicing tape 3 as shown in the operation of the work dividing device shown in Figs. 25A to 25E, and the expanding ring 8 (Fig. 25 (A)), the expansion of the annular portion area 3B having the lowest spring constant is first started (see Fig. 25 (B )). As a result, a tensile force is generated in the annular region 3B, and when the tensile force is increased to some extent, the increased tension is transferred to the wafer 1 to start the division of the wafer 1 into the chips 6 25 (C)). When the wafer 1 is divided into individual chips 6, the expansion of the annular portion area 3B and the expansion of the dicing tape 3 between the chips proceed simultaneously (Fig. 25 (D) - (E) ).

종래의 워크 분할 장치에서는, 직경 300㎜의 웨이퍼(1)에 있어서, 칩 사이즈가 5㎜ 이상일 경우에는, 환 형상부 영역(3B)에서 발생한 장력에 의해, 개개의 칩(6)으로 문제 없이 분할할 수 있었다. 그러나, 웨이퍼(1)에 형성되는 회로 패턴의 미세화에 수반하여 칩 사이즈가 보다 작은 1㎜ 이하의 칩도 나타나게 되었다. 이 경우, 웨이퍼(1)를 분할하는 분할 예정 라인(5)의 개수가 증대하는 것에 기인하여, 웨이퍼(1)의 분할에 요하는 힘이 커져, 환 형상부 영역(3B)의 확장에 의한 장력 이상의 힘이 필요해질 경우가 있었다. 그러자, 도 26의 웨이퍼 유닛(2)의 종단면도와 같이, 익스팬드 링(8)에 의한 확장 동작이 종료되어도, 웨이퍼(1)에 형성된 분할 예정 라인(5)의 일부가 분할되지 않고 미분할인 상태로 잔존한다는 문제가 발생했다.In the conventional workpiece dividing device, when the chip size is 5 mm or more in the wafer 1 having a diameter of 300 mm, the chips 6 can be divided without any problem by the tension generated in the annular region 3B Could. However, with the miniaturization of the circuit pattern formed on the wafer 1, a chip having a chip size of 1 mm or less was also found. In this case, the force required to divide the wafer 1 is increased due to the increase in the number of lines to be divided 5 for dividing the wafer 1, so that the tension due to the expansion of the annular region 3B There was a case where a force exceeding the above was required. Then, even when the extension operation by the expand ring 8 is finished, as shown in the longitudinal section of the wafer unit 2 of Fig. 26, part of the line to be divided 5 formed on the wafer 1 is not divided, As a result.

이러한 분할 예정 라인(5)의 미분할의 문제는, 다이싱 테이프(3)의 확장량이나 확장 속도를 증가시켜도 해소할 수는 없다. 예를 들면, 다이싱 테이프(3)의 확장량을 증가시켰을 경우에는, 환 형상부 영역(3B)이 소성(塑性) 변형을 개시해 버리기 때문이다. 소성 변형 중의 환 형상부 영역(3B)의 스프링 정수는, 탄성 변형 중의 스프링 정수보다 작으므로, 환 형상부 영역(3B)의 탄성 변형을 초과한 영역에서는, 웨이퍼(1)를 개개의 칩(6)으로 분할하는 장력은 발생하지 않는다. 한편, 다이싱 테이프(3)의 확장 속도를 증가시켰을 경우에도, 환 형상부 영역(3B)의 일부분이 소성 변형을 개시해 버리므로, 웨이퍼(1)를 개개의 칩(6)으로 분할하는 장력은 발생하지 않는다. 이는 다이싱 테이프(3)의 주파수 응답이 낮기 때문에, 다이싱 테이프(3)의 전체에 시간차 없이 힘이 전달되지 않기 때문이다.The problem of non-division of the line to be divided 5 can not be solved even by increasing the amount of expansion or expansion speed of the dicing tape 3. [ For example, when the amount of extension of the dicing tape 3 is increased, the annular portion area 3B starts plastic deformation. The spring constant of the annular portion area 3B during the plastic deformation is smaller than the spring constant during the elastic deformation so that the area where the elastic deformation of the ring- ) Does not occur. On the other hand, even when the expansion speed of the dicing tape 3 is increased, a part of the annular portion area 3B starts plastic deformation, so that the tension for dividing the wafer 1 into individual chips 6 . This is because the frequency response of the dicing tape 3 is low, so that no force is transmitted to the entire dicing tape 3 without a time difference.

분할 예정 라인(5)의 미분할의 문제를 해소하기 위해 특허문헌 2에서는, 다이싱 테이프를 냉각하고, 다이싱 테이프의 스프링 정수를 크게 함으로써 대응하고 있지만, 최근의 1㎜ 이하의 소(小)칩에 대해서는 충분한 효과를 얻을 수 없다.In order to solve the problem of non-division of the line to be divided 5, Patent Document 2 deals with cooling the dicing tape and increasing the spring constant of the dicing tape. However, in recent years, Sufficient effect can not be obtained with respect to the chip.

또한, 특허문헌 3의 칩 분할 이간 장치는, 다이싱 테이프의 X 방향의 신장과 Y 방향의 신장을 독립하여 제어할 수는 있지만, 환 형상부 영역의 확장에 의한 장력 이상의 힘을 웨이퍼에 부여할 수 없으므로, 분할 예정 라인의 미분할의 문제를 해소할 수는 없다.In addition, although the chip separating / separating apparatus of Patent Document 3 can independently control elongation in the X direction and elongation in the Y direction of the dicing tape, it is possible to give a force more than the tensile force due to the expansion of the annular sub- The problem of non-division of the line to be divided can not be solved.

본 발명은 이러한 문제를 감안하여 이루어진 것이며, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있는 워크 분할 장치 및 워크 분할 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide a work dividing device and a work dividing method capable of solving the problem of non-division of a line to be divided which occurs when a chip size is a small chip.

본 발명의 워크 분할 장치는, 본 발명의 목적을 달성하기 위해, 워크의 외경(外徑)보다 큰 내경(內徑)을 갖는 링 형상 프레임에 다이싱 테이프의 외주부가 고정되고, 다이싱 테이프에 첩부된 워크를 분할 예정 라인을 따라 개개의 칩으로 분할하는 워크 분할 장치에 있어서, 링 형상 프레임을 고정하는 프레임 고정 부재와, 다이싱 테이프에 있어서의 워크의 첩부면과 반대측인 이면측에 배치되고, 링 형상 프레임의 내경보다 작으며, 또한 워크의 외경보다 큰 링 형상으로 형성되고, 다이싱 테이프의 이면을 가압하여 다이싱 테이프를 확장함으로써 다이싱 테이프에 장력을 발생시키는 익스팬드 링과, 다이싱 테이프에 있어서의 워크의 첩부면과 동일측에 배치되고, 링 형상 프레임의 내경보다 작으며, 또한 익스팬드 링의 외경보다 큰 개구부를 갖는 링 형상으로 형성되고, 익스팬드 링에 의한 다이싱 테이프의 확장시에 다이싱 테이프가 맞닿아지는 확장 규제 링을 구비한다.In order to achieve the object of the present invention, the outer circumferential portion of the dicing tape is fixed to a ring-shaped frame having an inner diameter larger than the outer diameter of the work, A work dividing device for dividing a pasted work into individual chips along a line to be divided, the work dividing device comprising: a frame fixing member for fixing a ring-shaped frame; and a frame fixing member which is disposed on the back side opposite to the application side of the work on the dicing tape An expanding ring which is formed in a ring shape smaller than the inner diameter of the ring-shaped frame and larger than the outer diameter of the work and presses the back surface of the dicing tape to expand the dicing tape to generate tension on the dicing tape, Shaped frame and having an opening larger than the outer diameter of the expanding ring, which is disposed on the same side as the attaching surface of the work in the singing tape and is smaller than the inner diameter of the ring- And an extension regulating ring for abutting the dicing tape upon expansion of the dicing tape by the expanding ring.

본 발명의 워크 분할 장치에 의하면, 익스팬드 링에 의해 다이싱 테이프의 확장을 개시하면, 다이싱 테이프의 확장시에 다이싱 테이프가 확장 규제 링에 맞닿는다. 이때, 다이싱 테이프는, 확장 규제 링에 맞닿은 맞닿음부를 경계로 하여, 외주측에 위치하는 외주측 영역과, 내주측에 위치하는 내주측 영역으로 나뉜다. 그리고, 다이싱 테이프가 확장 규제 링에 맞닿은 이후의 익스팬드 링에 의한 확장 동작에서는, 외주측 영역의 확장이 확장 규제 링에 의해 규제되고, 내주측 영역만이 확장되어 간다. 즉, 다이싱 테이프의 스프링 정수보다 커진 내주측 영역의 스프링 정수의 장력이 워크에 부여된다. 이에 따라, 워크에 부여되는 장력이 증대하므로, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.According to the work dividing device of the present invention, when the extension of the dicing tape is started by the expanding ring, the dicing tape comes into contact with the extension regulating ring at the time of extension of the dicing tape. At this time, the dicing tape is divided into an outer circumferential side region located on the outer circumferential side and an inner circumferential side region located on the inner circumferential side, with the abutting portion abutted against the extension regulating ring as a boundary. Further, in the expansion operation by the expanding ring after the dicing tape is abutted against the extension regulating ring, the extension of the outer region is regulated by the extension regulating ring, and only the inner region is expanded. That is, the spring constant tensile force of the inner peripheral side region which is larger than the spring constant of the dicing tape is given to the work. As a result, the tension imparted to the work is increased, so that the problem of non-division of the line to be divided, which occurs when the chip size is small, can be solved.

본 발명의 일 형태는, 확장 규제 링은, 익스팬드 링에 의한 다이싱 테이프의 확장시에, 다이싱 테이프에 맞닿는 테이프 위치 규제부를 갖고, 테이프 위치 규제부는, 링 형상 프레임의 다이싱 테이프가 첩부된 테이프 첩부면과 동일면상, 또는 동일면보다 익스팬드 링이 배치되는 측에 배치되는 것이 바람직하다.According to one aspect of the present invention, the extension regulating ring has a tape position regulating portion abutting the dicing tape at the time of extension of the dicing tape by the expanding ring, It is preferable to arrange the same on the side where the expanding ring is disposed than on the same surface or the same surface as the tape adhering surface.

본 발명의 일 형태는, 확장 규제 링은, 링 형상 프레임에 고정되는 프레임 고정부와, 확장 규제 링의 개구부의 외연부를 따라 다이싱 테이프를 향하여 돌출한 돌출부를 구비하고, 테이프 위치 규제부는, 돌출부의 선단부에 의해 구성되는 것이 바람직하다.According to one aspect of the present invention, the extension regulating ring includes a frame fixing portion fixed to the ring-shaped frame and a protruding portion protruding toward the dicing tape along the outer edge of the opening portion of the expansion regulating ring, As shown in Fig.

본 발명의 일 태양은, 확장 규제 링에는, 다이싱 테이프에 있어서의 워크의 첩부면과 동일측에 배치된 프레임 고정부로서, 링 형상 프레임에 맞닿아 링 형상 프레임을 고정하는 프레임 고정부가 구비되는 것이 바람직하다.According to one aspect of the present invention, the extension restricting ring is provided with a frame fixing portion for fixing the ring-shaped frame in contact with the ring-shaped frame as a frame fixing portion disposed on the same side as the attaching surface of the work in the dicing tape .

본 발명의 일 태양에 따르면, 확장 규제 링이 링 형상 프레임을 고정하는 기능도 구비하고 있으므로, 워크 분할 장치의 부품 수를 삭감할 수 있고, 또한, 확장 규제 링을 워크 분할 장치에 어셈블리하는 작업으로 프레임을 프레임 고정부에 의해 고정할 수 있다.According to one aspect of the present invention, since the extension regulating ring also has a function of fixing the ring-shaped frame, it is possible to reduce the number of parts of the work dividing device and to assemble the expanding regulating ring into the work dividing device The frame can be fixed by the frame fixing portion.

본 발명의 일 태양은, 확장 규제 링은, 다이싱 테이프에 있어서의 워크의 첩부면과 동일측에 배치된 프레임 고정 부재로서, 확장 규제 링을 개재하여 링 형상 프레임을 고정하는 프레임 고정 부재에 착탈 가능하게 고정되는 것이 바람직하다.According to one aspect of the present invention, the extension regulating ring is a frame fixing member disposed on the same side as the attaching surface of the work in the dicing tape, wherein the frame fixing member is detachably attached to the frame fixing member for fixing the ring- It is desirable to be fixed as much as possible.

본 발명의 일 태양에 따르면, 칩 사이즈가 소칩일 경우에는, 확장 규제 링을 프레임 고정 부재에 어셈블리할 수 있고, 칩 사이즈가 대(大)칩일 경우에는, 확장 규제 링을 프레임 고정 부재로부터 제거할 수 있다. 즉, 확장 규제 링을 구비하고 있지 않은 기존의 워크 분할 장치여도, 그 워크 분할 장치의 프레임 고정 부재에 확장 규제 링을 장착함으로써, 칩 사이즈가 소칩인 워크를 분할 처리할 수 있다.According to one aspect of the present invention, when the chip size is a small chip, the expansion regulating ring can be assembled to the frame fixing member, and when the chip size is large, the expansion regulating ring is removed from the frame fixing member . In other words, even in the conventional work dividing apparatus not provided with the extension regulating ring, by attaching the extension regulating ring to the frame fixing member of the work dividing apparatus, it is possible to divide the work with a chip size of a small chip.

본 발명의 일 태양은, 확장 규제 링의 개구부는 원형으로 형성되는 것이 바람직하다.In one aspect of the present invention, it is preferable that the opening of the expansion regulating ring is formed in a circular shape.

본 발명의 일 태양에 따르면, 서로 교차하는 X 방향과 Y 방향에 있어서, 예를 들면, X 방향과 Y 방향의 치수가 동일한 정방형의 칩으로 분할되는 워크와 같이, X 방향과 Y 방향에 있어서의 분할 예정 라인의 개수(밀도)가 동등한 워크일 경우에는, 원형의 개구부를 갖는 확장 규제 링을 사용하는 것이 바람직하다. 마찬가지로, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 동일한 다이싱 테이프에 첩부된 워크일 경우에는, 원형의 개구부를 갖는 확장 규제 링을 사용하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 확장되는 내주측 영역으로부터 워크의 주연부(周緣部)에 균등한 장력을 부여할 수 있으므로, 이러한 워크에 대하여 호적(好適)한 분할 능력을 실현할 수 있다.According to one aspect of the present invention, in a case where a work is divided into square chips having the same dimensions in the X direction and the Y direction in the X direction and the Y direction intersecting with each other, In the case of a work having an equal number of lines to be divided (density), it is preferable to use an extension regulating ring having a circular opening. Likewise, in the case of a work in which the spring constant in the X direction and the spring constant in the Y direction are attached to the same dicing tape, it is preferable to use an extension regulating ring having a circular opening. This makes it possible to impart a uniform tension to the peripheral edge portion of the work from the inner peripheral side area to be extended, and thus to achieve a good partitioning ability with respect to such a work.

본 발명의 일 태양은, 확장 규제 링의 개구부는 타원형으로 형성되는 것이 바람직하다.In one aspect of the present invention, the opening of the expansion regulating ring is preferably formed in an elliptical shape.

본 발명의 일 태양에 따르면, 서로 직교하는 X 방향과 Y 방향에 있어서, 예를 들면, X 방향과 Y 방향의 치수가 서로 다른 장방형의 칩으로 분할되는 워크와 같이, X 방향과 Y 방향에 있어서 분할 예정 라인의 개수(밀도)가 서로 다른 워크일 경우에는, 타원형의 개구부를 갖는 확장 규제 링을 사용하는 것이 바람직하다.According to one aspect of the present invention, in a case where a workpiece is divided into rectangular chips having different dimensions in the X and Y directions, for example, in the X direction and the Y direction orthogonal to each other, When the number of lines to be divided (densities) is different from each other, it is preferable to use an extension regulating ring having an elliptical opening.

이 경우, 타원의 단경(短徑)의 방향을, 분할 예정 라인의 밀도가 높은 방향(칩의 단변(短邊)을 따른 방향, 칩의 밀도가 높은 방향)과 평행하게 맞추고, 타원의 장경(長徑)의 방향을, 분할 예정 라인의 밀도가 낮은 방향(칩의 장변(長邊)을 따른 방향, 칩의 밀도가 낮은 방향)과 평행하게 맞춘다. 이에 따라, 분할 예정 라인의 밀도가 높은 방향에 위치하는 내주측 영역은, 스프링 정수가 커지므로, 개수가 많은 분할 예정 라인을 분할하기 위한 호적한 장력을 워크에 부여할 수 있다. 한편, 분할 예정 라인의 밀도가 낮은 방향에 위치하는 환 형상부 영역은, 스프링 정수가 작지만, 개수가 적은 분할 예정 라인을 분할하기 위한 호적한 장력을 워크에 부여할 수 있다. 그러므로, 이러한 워크에 대하여 호적한 분할 능력을 실현할 수 있다.In this case, the direction of the minor axis of the ellipse is set to be parallel to the direction in which the density of the line to be divided is high (the direction along the short side of the chip, the direction in which the chip density is high) (The direction along the long side of the chip, the direction in which the density of the chip is low) in parallel with the direction of the low density of the line to be divided. As a result, since the spring constant becomes large in the inner circumferential region located in the direction where the density of the line to be divided is high, it is possible to give the work a tangential tension for dividing the line to be divided with the large number. On the other hand, the ring-shaped subregion positioned in the direction of low density of the line to be divided can give a work a tangential tension for dividing the line to be divided with a small spring constant but a small number of lines. Therefore, it is possible to realize a partitioning ability that is favorable to such a work.

또한, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 서로 다른 이방성이 있는 다이싱 테이프에 첩부된 워크일 경우에도, 타원형의 확장 규제 링을 사용하는 것이 바람직하다.Further, even in the case of a work attached to an anisotropic dicing tape having a spring constant in the X direction and a spring constant in the Y direction different from each other, it is preferable to use an elliptical extended regulating ring.

이 경우, 타원의 단경의 방향을 스프링 정수가 작은 방향과 평행하게 맞추고, 타원의 장경의 방향을, 스프링 정수가 큰 방향과 평행하게 맞춘다. 이에 따라, 내주측 영역의 확장시에는, 스프링 정수가 작은 방향과 평행한 방향에 위치하는 내주측 영역의 스프링 정수가 높아져, 타원의 장경의 방향과 평행한 방향에 위치하는 내주측 영역의 스프링 정수에 가까워지므로, 내주측 영역으로부터 워크에 대략 균등한 장력을 부여할 수 있다. 그러므로, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 서로 다른 이방성이 있는 다이싱 테이프에 마운트된 워크에 대하여, 호적한 분할 능력을 실현할 수 있다.In this case, the direction of the minor axis of the ellipse is set parallel to the direction in which the spring constant is small, and the direction of the major axis of the ellipse is set parallel to the direction in which the spring constant is large. Accordingly, when the inner circumferential side region is expanded, the spring constant of the inner circumferential region located in the direction parallel to the direction in which the spring constant is small increases, and the spring constant of the inner circumferential region located in the direction parallel to the longitudinal direction of the ellipse So that a substantially uniform tension can be applied to the work from the inner peripheral side region. Therefore, it is possible to realize a partitioning ability that is well known to a workpiece mounted on an anisotropic dicing tape having different spring constant in the X direction and spring constant in the Y direction.

본 발명의 워크 분할 방법은, 본 발명의 목적을 달성하기 위해, 워크의 외경보다 큰 내경을 갖는 링 형상 프레임에 다이싱 테이프의 외주부가 고정되고, 다이싱 테이프에 첩부된 워크를 분할 예정 라인을 따라 개개의 칩으로 분할하는 워크 분할 방법에 있어서, 다이싱 테이프를 가압하여 다이싱 테이프를 확장함으로써 다이싱 테이프에 장력을 발생시키는 확장 공정과, 다이싱 테이프의 확장시에 다이싱 테이프 중 외주측에 위치하는 외주측 영역의 확장을 규제하는 확장 규제 공정과, 외주측 영역을 제외한 다이싱 테이프의 확장을 계속해서 워크를 개개의 칩으로 분할하는 분할 공정을 구비한다.In order to attain the object of the present invention, the work dividing method of the present invention is characterized in that the outer peripheral portion of the dicing tape is fixed to a ring-shaped frame having an inner diameter larger than the outer diameter of the work, And dividing the workpiece into individual chips, the method comprising: an expansion step of generating tension on the dicing tape by pressing the dicing tape to expand the dicing tape; and an expansion step of expanding the dicing tape, And a dividing step of dividing the work into individual chips by continuing the expansion of the dicing tape except for the outer peripheral side area.

본 발명의 워크 분할 방법에 의하면, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.According to the work dividing method of the present invention, it is possible to solve the non-division problem of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip.

본 발명에 의하면, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.According to the present invention, it is possible to solve the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip.

도 1은 제1 실시형태의 워크 분할 장치의 요부 구조도.
도 2는 도 1에 나타낸 워크 분할 장치의 요부 확대 사시도.
도 3은 확장 도중의 환 형상부 영역의 형상을 나타낸 웨이퍼 유닛의 단면도.
도 4는 확장 도중의 환 형상부 영역의 확대 단면도.
도 5는 웨이퍼 분할 방법의 플로우 차트.
도 6은 제2 실시형태의 워크 분할 장치의 요부 구조도.
도 7은 도 6에 나타낸 워크 분할 장치의 요부 확대 사시도.
도 8은 확장 도중의 환 형상부 영역의 확대 단면도.
도 9는 원형의 확장 규제용 개구부를 갖는 확장 규제 링과 웨이퍼 유닛을 겹친 평면도.
도 10은 타원형의 확장 규제용 개구부를 갖는 확장 규제 링과 웨이퍼 유닛을 겹친 평면도.
도 11은 확장 규제 링을 사용하지 않을 때와 사용했을 때의 환 형상부 영역 및 내주측 영역의 확장률을 나타낸 그래프.
도 12는 확장 규제 링을 사용하지 않을 때와 사용했을 때의 칩의 분할률을 나타낸 그래프.
도 13은 제3 실시형태에 따른 워크 분할 장치의 요부 단면도.
도 14는 도 13에 나타낸 워크 분할 장치의 요부 확대 단면도.
도 15는 제4 실시형태에 따른 워크 분할 장치의 요부 단면도.
도 16은 도 15에 나타낸 워크 분할 장치의 요부 확대 단면도.
도 17은 도 6에 나타낸 확장 규제 링의 제1 변형예를 나타낸 설명도.
도 18은 도 6에 나타낸 확장 규제 링의 제2 변형예를 나타낸 설명도.
도 19는 밀어올림량에 대한 확장률의 변화를 산출한 그래프.
도 20은 확장 분할 공정시의 동작을 나타낸 개략도.
도 21은 밀어올림 속도에 대한 확장률 속도의 변화를 산출한 그래프.
도 22는 웨이퍼가 첩부된 웨이퍼 유닛의 설명도.
도 23은 웨이퍼 유닛의 종단면도.
도 24는 워크 분할 장치의 요부 측면도.
도 25는 워크 분할 장치의 동작도.
도 26은 웨이퍼가 분할된 웨이퍼 유닛의 종단면도.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a main part structural view of a work dividing device according to a first embodiment; Fig.
Fig. 2 is an enlarged perspective view of the main part of the work dividing device shown in Fig. 1; Fig.
3 is a cross-sectional view of the wafer unit showing the shape of the annular portion area during expansion.
4 is an enlarged cross-sectional view of an annular portion area during expansion;
5 is a flowchart of a wafer dividing method;
6 is a main part structural view of the work dividing device of the second embodiment;
7 is an enlarged perspective view of the main part of the work dividing device shown in Fig.
8 is an enlarged cross-sectional view of an annular portion area during expansion;
Fig. 9 is a plan view showing a wafer unit and an extended regulating ring having a circular expansion regulating opening overlapped. Fig.
10 is a plan view in which the wafer unit is overlapped with the extension regulating ring having an elliptical expansion regulating opening;
11 is a graph showing expansion rates of the annular region and the inner peripheral region when the extension regulating ring is not used and when it is used.
12 is a graph showing the chip division ratios when the extension regulating ring is not used and when it is used.
13 is a partial cross-sectional view of a workpiece dividing device according to a third embodiment;
Fig. 14 is an enlarged cross-sectional view of the main part of the work dividing device shown in Fig. 13;
15 is a sectional view showing the main part of a work dividing device according to a fourth embodiment;
FIG. 16 is an enlarged cross-sectional view of the main part of the work dividing device shown in FIG. 15; FIG.
Fig. 17 is an explanatory view showing a first modification of the extended regulating ring shown in Fig. 6; Fig.
18 is an explanatory view showing a second modification of the extended regulating ring shown in Fig.
19 is a graph showing a change in the expansion rate with respect to the amount of push-up.
20 is a schematic view showing the operation in the extended division process;
21 is a graph for calculating a change in the expansion rate rate with respect to the lift-up speed.
22 is an explanatory diagram of a wafer unit to which a wafer is attached;
23 is a longitudinal sectional view of the wafer unit.
24 is a side elevational side view of the work dividing device.
25 is an operation diagram of the work dividing device.
26 is a longitudinal sectional view of the wafer unit in which the wafer is divided.

이하, 첨부 도면에 따라서 본 발명에 따른 워크 분할 장치 및 워크 분할 방법의 바람직한 실시형태에 대해서 상세히 설명한다. 본 발명은, 이하의 실시형태에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 범위이면, 이하의 실시형태에 각종 변형 및 치환을 가할 수 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of a work dividing device and a work dividing method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention is not limited to the following embodiments, but various modifications and substitutions can be made to the embodiments described below, provided that they are within the scope of the present invention.

〔제1 실시형태의 워크 분할 장치(10A)〕[Workpiece dividing device 10A of the first embodiment]

도 1은, 제1 실시형태에 따른 워크 분할 장치(10A)의 요부 종단면도이며, 도 2는, 워크 분할 장치(10A)의 요부 확대 사시도이다. 또한, 워크 분할 장치(10A)에 의해 분할 처리되는 웨이퍼 유닛의 사이즈는 한정되는 것이 아니지만, 실시형태에서는, 도 23에 나타낸 직경 300㎜의 웨이퍼(1)가 마운트된 웨이퍼 유닛(2)을 예시한다.Fig. 1 is a longitudinal sectional view showing a substantial part of the work dividing apparatus 10A according to the first embodiment, and Fig. 2 is an enlarged perspective view showing a substantial part of the work dividing apparatus 10A. The size of the wafer unit divided by the work dividing device 10A is not limited, but the embodiment exemplifies the wafer unit 2 on which the wafer 1 having a diameter of 300 mm shown in Fig. 23 is mounted .

워크 분할 장치(10A)는, 분할 예정 라인(5)이 형성된 웨이퍼(1)를 분할 예정 라인(5)을 따라 개개의 칩(6)으로 분할하는 장치이다. 분할 예정 라인(5)은, 서로 교차하는 X 방향 및 Y 방향으로 복수개 형성된다. 실시형태에서는, X 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수와, Y 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수가 각각 300개이고 각각의 간격이 동등한 웨이퍼(1), 즉, 칩 사이즈가 1㎜인 칩(6)으로 분할되는 웨이퍼(1)를 예시한다.The work dividing device 10A is a device for dividing the wafer 1 on which the line to be divided 5 is formed into individual chips 6 along the line to be divided 5. [ A plurality of lines to be divided (5) are formed in the X direction and the Y direction crossing each other. The number of the lines to be divided 5 parallel to the X direction and the number of lines to be divided 5 parallel to the Y direction are 300 and the wafer 1 having the same spacing, The wafer 1 is divided into chips 6 having a thickness of 1 mm.

웨이퍼(1)는 도 1, 도 2와 같이, 프레임(4)에 외주부가 고정된 다이싱 테이프(3)의 중앙부에 첩부된다. 다이싱 테이프(3)는, 웨이퍼(1)가 첩부되는 평면에서 볼 때 원 형상의 중앙부 영역(3A), 및 중앙부 영역(3A)의 외연부와 프레임(4)의 내연부 사이의 평면에서 볼 때 도넛 형상의 환 형상부 영역(3B)을 갖는다.1 and 2, the wafer 1 is attached to the central portion of the dicing tape 3 to which the outer peripheral portion is fixed to the frame 4. The dicing tape 3 has a circular central region 3A as viewed in a plane in which the wafer 1 is to be attached and a circular region 3B in the plane between the outer edge of the central region 3A and the inner edge of the frame 4. [ Shaped donut-shaped annular region 3B.

웨이퍼(1)의 두께는, 예를 들면 50㎛ 정도이다. 또한, 다이싱 테이프(3)로서는, 예를 들면 PVC(polyvinyl chloride: 폴리염화비닐)계의 테이프가 사용된다. 또한, 웨이퍼(1)를 DAF(Die Attach Film) 등의 필름 형상 접착재를 개재하여 다이싱 테이프(3)에 첩부해도 된다. 필름 형상 접착재로서는, 예를 들면 PO(polyolefin: 폴리올레핀)계의 것을 사용할 수 있다.The thickness of the wafer 1 is, for example, about 50 mu m. As the dicing tape 3, for example, PVC (polyvinyl chloride) based tape is used. The wafer 1 may also be pasted on the dicing tape 3 via a film adhesive such as DAF (Die Attach Film). As the film-shaped adhesive, for example, PO (polyolefin: polyolefin) can be used.

워크 분할 장치(10A)는, 프레임(4)을 고정하는 프레임 고정부(12)를 구비한 확장 규제 링(16)과, 다이싱 테이프(3)의 환 형상부 영역(3B)에 아래쪽측으로부터 맞닿아지는 익스팬드 링(14)을 구비한다.The work dividing device 10A includes an extension regulating ring 16 having a frame fixing portion 12 for fixing the frame 4 and a fixing portion 16A for fixing the frame 4 to the annular portion 3B of the dicing tape 3 from below And an expand ring (14) abutting against each other.

익스팬드 링(14)은, 다이싱 테이프(3)에 있어서의 웨이퍼(1)의 첩부면과 반대측인 이면측에 배치되고, 프레임(4)의 내경(350㎜)보다 작으며, 또한 웨이퍼(1)의 외경(300㎜)보다 큰 확장용 개구부(14A)를 갖는 링 형상으로 형성된다. 이 익스팬드 링(14)은, 다이싱 테이프(3)의 환 형상부 영역(3B)의 이면을 가압하여 환 형상부 영역(3B)을 확장한다. 즉, 익스팬드 링(14)은, 환 형상부 영역(3B)에 대하여 다이싱 테이프(3)의 화살표 A로 나타내는 면 내 방향과 교차하는 B 방향으로 상승 이동된다. 이에 따라, 환 형상부 영역(3B)이 익스팬드 링(14)으로 밀어올려져 방사 형상으로 확장된다. 또한, 익스팬드 링(14)을 고정하여, 웨이퍼 유닛(2)을 화살표 C 방향으로 하강 이동시킴으로써, 환 형상부 영역(3B)을 익스팬드 링(14)에 의해 확장해도 된다.The expand ring 14 is disposed on the back side opposite to the application surface of the wafer 1 on the dicing tape 3 and is smaller than the inner diameter (350 mm) of the frame 4, 1 having a diameter larger than the outer diameter (300 mm) of the opening. The expanding ring 14 presses the back surface of the annular portion 3B of the dicing tape 3 to expand the annular portion 3B. That is, the expanding ring 14 is moved upward in the direction B intersecting the in-plane direction indicated by the arrow A of the dicing tape 3 with respect to the annular portion area 3B. Thus, the annular portion area 3B is pushed up by the expand ring 14 and expanded radially. The annular portion area 3B may be extended by the expand ring 14 by fixing the expand ring 14 and moving the wafer unit 2 downward in the direction of the arrow C.

확장 규제 링(16)은, 확장 규제부(17)와 프레임 고정부(12)로 구성된다. 프레임 고정부(12)는, 다이싱 테이프(3)에 있어서의 웨이퍼(1)의 첩부면과 동일측에 배치되고, 그 하면(12A)에 프레임(4)이 고정된다. 확장 규제부(17)는, 프레임 고정부(12)로부터 프레임(4)보다 확장 규제 링(16)의 중심을 향하여 연장 설치된다. 다이싱 테이프(3)의 환 형상부 영역(3B)은, 익스팬드 링(14)에 의한 확장시에, 확장 규제부(17)에 맞닿아진다. 또한, 프레임 고정부(12)와 확장 규제부(17)와의 경계를, 도 1, 도 2에서는 부호 D로 나타내고 있다.The extension regulating ring 16 is composed of an extension regulating portion 17 and a frame fixing portion 12. [ The frame fixing portion 12 is disposed on the same side as the application surface of the wafer 1 on the dicing tape 3 and the frame 4 is fixed to the lower surface 12A thereof. The extension regulating portion 17 is extended from the frame fixing portion 12 toward the center of the expansion regulating ring 16 more than the frame 4. [ The annular portion area 3B of the dicing tape 3 comes into contact with the extension regulating portion 17 at the time of expansion by the expand ring 14. [ The boundary between the frame fixing portion 12 and the expansion restricting portion 17 is indicated by a reference character D in Figs.

확장 규제부(17)는, 프레임(4)의 내경(350㎜)보다 작으며, 또한 익스팬드 링(14)의 외경보다 큰 확장 규제용 개구부(개구부)(16A)를 갖는 링 형상으로 형성된다.The extension regulating portion 17 is formed in a ring shape having an opening 16A for opening for regulating which is smaller than the inner diameter (350 mm) of the frame 4 and larger than the outer diameter of the expand ring 14 .

도 3은, 익스팬드 링(14)에 의해 확장 도중의 환 형상부 영역(3B)의 형상을 나타낸 웨이퍼 유닛(2)의 종단면도이다. 도 4는, 확장 도중의 환 형상부 영역(3B)의 확대 단면도이다.3 is a longitudinal sectional view of the wafer unit 2 showing the shape of the annular portion area 3B during expansion by the expand ring 14. As shown in Fig. 4 is an enlarged sectional view of the annular portion area 3B during expansion.

도 3, 도 4에 나타내는 바와 같이, 익스팬드 링(14)에 의한 환 형상부 영역(3B)의 확장시에, 환 형상부 영역(3B)이 확장 규제부(17)에 맞닿아진다. 구체적으로는, 확장 규제부(17)의 내연부(16B)에 환 형상부 영역(3B)이 맞닿아진다.3 and 4, at the time of expansion of the annular portion 3B by the expander ring 14, the annular portion 3B abuts against the expanding restricting portion 17. As shown in Fig. Specifically, the annular portion area 3B abuts against the inner edge portion 16B of the expansion restricting portion 17. As shown in Fig.

실시형태에서는, 도 1과 같이, 확장 규제용 개구부(16A)의 직경이 338㎜로 설정되어 있다. 이에 따라, 확장 규제부(17)에 의해 확장이 규제되는 외주측 영역(3E)의 폭 치수가 6㎜로 설정되고, 환 형상부 영역(3B) 중 외주측 영역(3E)을 제외하고 내주측 영역(3F)의 폭 치수가 19㎜로 설정된다.In the embodiment, as shown in Fig. 1, the diameter of the expansion regulating opening 16A is set to 338 mm. The width of the outer peripheral region 3E whose expansion is regulated by the expansion regulating portion 17 is set to 6 mm and the outer peripheral region 3E of the annular peripheral region 3B is set to the inner peripheral side And the width dimension of the region 3F is set to 19 mm.

여기에서, 환 형상부 영역(3B) 중 확장 규제부(17)에 의해 확장이 규제되지 않는 내주측 영역(3F)이, 웨이퍼(1)의 분할에 실질적으로 기여하는 영역이 된다. 즉, 내주측 영역(3F)의 폭 치수를 작게 함에 따라서, 내주측 영역(3F)의 스프링 정수가 커지므로, 내주측 영역(3F)으로부터 웨이퍼(1)에 부여하는 장력을 증대할 수 있다. 그러므로, 내주측 영역(3F)의 폭 치수는, 분할 예정 라인(5)의 개수 및 칩(6)의 사이즈에 따라 설정하는 것이 바람직하다.Here, the inner circumferential region 3F of the annular region 3B, the extension of which is not restricted by the expansion regulating portion 17, is an area substantially contributing to the division of the wafer 1. [ That is, as the width dimension of the inner peripheral side region 3F is made smaller, the spring constant of the inner peripheral side region 3F is increased, so that the tension applied to the wafer 1 from the inner peripheral side region 3F can be increased. Therefore, it is preferable that the width dimension of the inner peripheral side region 3F is set according to the number of lines to be divided 5 and the size of the chip 6. [

이하, 도 5의 플로우 차트에 따라서, 워크 분할 장치(10A)에 의한 워크 분할 방법을 설명한다.Hereinafter, a work dividing method by the work dividing device 10A will be described with reference to the flowchart of Fig.

우선, 도 5의 스텝 S100에 있어서, 도 1과 같이, 웨이퍼 유닛(2)의 프레임(4)을, 확장 규제 링(16)의 프레임 고정부(12)에 의해 고정한다(고정 공정).First, in step S100 in Fig. 5, the frame 4 of the wafer unit 2 is fixed by the frame fixing portion 12 of the extension regulating ring 16 (fixing step), as shown in Fig.

다음으로, 도 5의 스텝 S110에 있어서, 익스팬드 링(14)을 도 1의 위치로부터 화살표 B 방향으로 상승 이동시키고, 환 형상부 영역(3B)의 전체 영역의 확장을 개시한다(확장 공정).Next, in step S110 of Fig. 5, the expanding ring 14 is moved upward in the direction of arrow B from the position of Fig. 1 to start expansion of the entire area of the annular portion area 3B (expansion step) .

다음으로, 도 5의 스텝 S120에 있어서, 익스팬드 링(14)의 상승 이동량이, 프레임(4)의 두께를 초과하면, 환 형상부 영역(3B)이 확장 규제부(17)에 맞닿는다. 이때, 도 4와 같이 환 형상부 영역(3B)은, 확장 규제부(17)의 내연부(16B)에 맞닿은 맞닿음부(3D)를 경계로 하여, 외주측에 위치하는 외주측 영역(3E)과, 내주측에 위치하는 내주측 영역(3F)으로 나뉜다. 그리고, 환 형상부 영역(3B) 중, 외주측 영역(3E)의 확장이 확장 규제부(17)에 의해 규제된다(확장 규제 공정).Next, in step S120 of Fig. 5, when the amount of upward movement of the expander ring 14 exceeds the thickness of the frame 4, the annular portion area 3B abuts on the extension restricting portion 17. [ 4, the annular portion area 3B is defined by an outer peripheral side area 3E located on the outer peripheral side with the abutting portion 3D abutting against the inner edge portion 16B of the extended regulating portion 17 as a boundary, And an inner circumferential side region 3F located on the inner circumferential side. Then, among the annular portion area 3B, the extension of the outer peripheral region 3E is regulated by the extension regulating portion 17 (expansion regulating step).

다음으로, 도 5의 스텝 S130에 있어서, 익스팬드 링(14)의 상승 이동을 속행(續行)하고, 환 형상부 영역(3B) 중, 외주측 영역(3E)을 제외한 내주측 영역(3F)의 확장을 계속해서 행함으로써, 웨이퍼(1)를 개개의 칩(6)으로 분할한다(분할 공정). 이후, 익스팬드 링(14)의 상승 이동을 정지한다.5, the upward movement of the expanding ring 14 is continued, and in the annular region 3B, the inner peripheral region 3F (excluding the outer peripheral region 3E) ) Is continued to divide the wafer 1 into individual chips 6 (dividing step). Thereafter, the upward movement of the expand ring 14 is stopped.

분할 공정(S130)에 있어서, 환 형상부 영역(3B)이 확장 규제부(17)의 내연부(16B)에 맞닿은 이후의 익스팬드 링(14)에 의한 확장 동작에서는, 외주측 영역(3E)의 확장이 확장 규제부(17)에 의해 규제되고, 내주측 영역(3F)만이 확장되어 간다. 즉, 환 형상부 영역(3B)의 스프링 정수보다 커진 내주측 영역(3F)의 스프링 정수의 장력이 웨이퍼(1)에 부여된다.In the expanding operation by the expand ring 14 after the annular portion 3B abuts on the inner edge 16B of the expansion regulating portion 17 in the dividing step S130, Is restricted by the extension regulating portion 17, and only the inner peripheral side region 3F is expanded. That is, the tensile force of the spring constant of the inner peripheral side region 3F which is larger than the spring constant of the annular portion area 3B is given to the wafer 1.

구체적으로 설명하면, 웨이퍼(1)의 분할에 기여하는 환 형상부 영역(3B)의 길이가 25㎜(환 형상부 영역(3B)의 폭 치수)로부터 19㎜(내주측 영역(3F)의 폭 치수)로 짧아지므로, 스프링 정수는 그것에 반비례하여 증대한다. 이에 따라, 내주측 영역(3F)만을 확장해도, 내주측 영역(3F)의 스프링 정수는 환 형상부 영역(3B)의 스프링 정수보다 크므로, 칩 사이즈가 소칩(1㎜)이어도 개개의 칩(6)으로 분할하는 만큼의 장력을 웨이퍼(1)에 부여할 수 있다. 그러므로, 워크 분할 장치(10A)에 의하면, 칩 사이즈가 소칩(1㎜)일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.More specifically, the length of the annular region 3B contributing to the division of the wafer 1 is 19 mm (the width of the inner peripheral region 3F) from 25 mm (the width dimension of the annular region 3B) Dimension), the spring constant increases in inverse proportion thereto. The spring constant of the inner peripheral side area 3F is larger than the spring constant of the annular part area 3B even if only the inner peripheral side area 3F is expanded so that even if the chip size is a small chip (1 mm) 6 to the wafer 1 can be given. Therefore, according to the work dividing device 10A, it is possible to solve the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip (1 mm).

또한, 환 형상부 영역(3B)의 점착층에 선(線) 접촉되는 확장 규제부(17)의 내연부(16B)에는, 일례로서 산술 평균 거칠기(Ra)가 1.6(㎛)가 되는 표면 가공이 실시되고 있다. 이에 따라, 내연부(16B)와 환 형상부 영역(3B) 사이의 마찰력에 의해, 내연부(16B)와 환 형상부 영역(3B)이 상대적으로 미끄러지는 것을 방지할 수 있다. 또한, 내연부(16B)에는, 일례로서 C0.2(0.2㎜ Chamfer)의 모따기 가공이 행해지고 있다. 이에 따라, 환 형상부 영역(3B)으로부터 확장력을 받았을 때에, 그 반력으로 환 형상부 영역(3B)이 파손되는 것을 방지할 수 있다.An inner edge portion 16B of the expansion restricting portion 17 that is in line contact with the adhesive layer of the annular portion area 3B is provided with an inner surface 16B having a surface roughness Ra . This makes it possible to prevent the inner edge portion 16B and the annular portion region 3B from sliding relatively by the frictional force between the inner edge portion 16B and the annular portion region 3B. In the inner edge portion 16B, chamfering of C0.2 (0.2 mm Chamfer) is performed as an example. This can prevent the annular portion 3B from being damaged by the reaction force when receiving the expansion force from the annular portion 3B.

또한, 워크 분할 장치(10A)의 확장 규제 링(16)은, 프레임 고정부(12)를 구비함으로써, 프레임(4)을 고정하는 기능도 구비하고 있으므로, 워크 분할 장치(10A)의 부품 수를 삭감할 수 있고, 또한, 확장 규제 링(16)을 워크 분할 장치(10A)에 어셈블리하는 작업으로 프레임(4)을 프레임 고정부(12)에 의해 고정할 수 있다.Since the extension regulating ring 16 of the work dividing device 10A also has the function of fixing the frame 4 by having the frame fixing portion 12, the number of parts of the work dividing device 10A And the frame 4 can be fixed by the frame fixing portion 12 by an operation of assembling the extension regulating ring 16 to the work dividing device 10A.

또한, 워크 분할 장치(10A)의 익스팬드 링(14)은, 프레임 고정부(12)에 고정된 웨이퍼 유닛(2)의 웨이퍼(1)를 포위하는 확장용 개구부(14A)를 갖는 링 형상으로 구성되어 있다. 또한, 확장 규제부(17)는, 링 형상의 익스팬드 링(14)을 포위하는 확장 규제용 개구부(16A)를 구비하고 있다. 이에 따라, 워크 분할 장치(10A) 에 의하면, 링 형상의 익스팬드 링(14)에 의해 환 형상부 영역(3B)이 전체 영역에 있어서 균등하게 확장되어 가고, 그리고, 확장 규제부(17)의 확장 규제용 개구부(16A)의 내연부(16B)에, 환 형상부 영역(3B)이 균등하게 선 접촉한다. 이에 따라, 외주측 영역(3E)의 확장을 확실하게 규제할 수 있다.The expanding ring 14 of the work dividing device 10A has a ring shape having an opening 14A for expanding surrounding the wafer 1 of the wafer unit 2 fixed to the frame fixing portion 12 Consists of. The expansion regulating portion 17 is provided with an opening 16A for regulating the expansion surrounding the ring-shaped expand ring 14. [ As a result, according to the work dividing device 10A, the annular portion 3B is uniformly expanded in the entire region by the ring-shaped expand ring 14, The annular portion area 3B evenly contacts the inner edge 16B of the expansion regulating opening 16A. Thus, expansion of the outer region 3E can be reliably regulated.

〔제2 실시형태의 워크 분할 장치(10B)〕[Workpiece dividing device 10B of the second embodiment]

도 6은, 제2 실시형태에 따른 워크 분할 장치(10B)의 요부 종단면도이며, 도 7은, 워크 분할 장치(10B)의 요부 확대 사시도이다. 또한, 워크 분할 장치(10B)에 의해 처리되는 웨이퍼 유닛에 대해서도, 도 23에 나타낸 직경 300㎜의 웨이퍼(1)가 마운트된 웨이퍼 유닛(2)을 예시한다. 또한, 도 1, 도 2에 나타낸 워크 분할 장치(10A)와 동일 또는 유사한 부재에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명한다.Fig. 6 is a longitudinal sectional view of the substantial part of the work dividing device 10B according to the second embodiment, and Fig. 7 is an enlarged perspective view of the main part of the work dividing device 10B. The wafer unit 2 to be processed by the work dividing device 10B also exemplifies a wafer unit 1 mounted with a 300 mm diameter wafer shown in FIG. The same or similar members as those of the work dividing device 10A shown in Figs. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.

제1 실시형태의 워크 분할 장치(10A)에 대한, 제2 실시형태의 워크 분할 장치(10B)의 차이점은, 프레임 고정 부재(7)(도 24 참조: 기존의 프레임 고정 부재)와 확장 규제 링(18)을 개별적으로 구성하고, 프레임 고정 부재(7)에 대하여 확장 규제 링(18)을 착탈 가능하게 마련한 점에 있다. 프레임 고정 부재(7)에 대한 확장 규제 링(18)의 착탈 구조는, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 일례로서 볼트를 사용한 체결 구조여도 되고, 클램프 기구에 의한 클램프 구조여도 된다.The difference between the work dividing device 10B of the first embodiment and the work dividing device 10B of the second embodiment is that the frame fixing member 7 (see Fig. 24: conventional frame fixing member) And the extension regulating ring 18 is detachably provided with respect to the frame fixing member 7. As shown in Fig. The attachment / detachment structure of the extension regulating ring 18 with respect to the frame fixing member 7 is not particularly limited, but may be a fastening structure using a bolt or a clamp structure using a clamping mechanism.

프레임 고정 부재(7)는, 다이싱 테이프(3)에 있어서의 웨이퍼(1)의 첩부면과 동일측에 배치된다. 또한, 프레임 고정 부재(7)는, 익스팬드 링(14)에 의해 확장되는 환 형상부 영역(3B)에 접촉하지 않도록, 화살표 A로 나타내는 다이싱 테이프(3)의 면 내 방향에 있어서 환 형상부 영역(3B)으로부터 바깥쪽으로 이간한 위치에 설치되어 있다. 도 7과 같이, 프레임 고정 부재(7)의 형상은 링 형상이지만, 그 형상은 특별히 한정되는 것이 아니라, 확장 규제 링(18)이 착탈 가능하게 장착 가능한 형상이면 된다.The frame fixing member 7 is disposed on the same side as the application surface of the wafer 1 on the dicing tape 3. [ The frame fixing member 7 is formed in an annular shape in the in-plane direction of the dicing tape 3 indicated by an arrow A so as not to come into contact with the annular portion area 3B extended by the expand ring 14, And is provided at a position apart from the sub-area 3B to the outside. As shown in Fig. 7, the shape of the frame fixing member 7 is ring-shaped, but the shape of the frame fixing member 7 is not particularly limited, and the shape of the frame fixing member 7 may be such that the extension regulating ring 18 can be detachably mounted.

확장 규제 링(18)은, 프레임(4)의 내경(350㎜)보다 작으며, 또한 익스팬드 링(14)의 외경보다 큰 확장 규제용 개구부(개구부)(18A)를 구비한다. 이 확장 규제용 개구부(18A)의 직경도 338㎜이다.The expansion regulating ring 18 is provided with an opening 18A for regulating restriction which is smaller than the inner diameter (350 mm) of the frame 4 and larger than the outer diameter of the expand ring 14. [ The diameter of the expansion regulating opening 18A is also 338 mm.

도 8은, 익스팬드 링(14)에 의해 확장 도중의 환 형상부 영역(3B)의 형상을 나타낸 웨이퍼 유닛(2)의 종단면도이다.8 is a longitudinal sectional view of the wafer unit 2 showing the shape of the annular portion area 3B during expansion by the expand ring 14. As shown in Fig.

도 8과 같이, 환 형상부 영역(3B)은, 익스팬드 링(14)에 의한 확장시에, 확장 규제 링(18)의 내연부(18B)에 맞닿아진다. 이에 따라, 환 형상부 영역(3B) 중, 내연부(18B)에 맞닿아지는 맞닿음부(3D)와 프레임(4)의 내연부 사이의 외주측 영역(3E)의 확장이, 확장 규제 링(18)에 의해 규제된다.The annular portion area 3B abuts against the inner edge 18B of the extension regulating ring 18 at the time of expansion by the expand ring 14 as shown in Fig. The expansion of the outer peripheral side region 3E between the abutment portion 3D abutting against the inner edge portion 18B and the inner edge portion of the frame 4 in the annular portion area 3B is reduced, (18).

다음으로, 워크 분할 장치(10B)에 의한 워크 분할 방법을 설명하지만, 워크 분할 장치(10A)에 의한 워크 분할 방법과 대략 동일하다.Next, the work dividing method by the work dividing device 10B will be described, but it is almost the same as the work dividing method by the work dividing device 10A.

우선, 도 6과 같이, 웨이퍼 유닛(2)의 프레임(4)을 프레임 고정 부재(7)로, 확장 규제 링(18)을 개재하여 고정한다(고정 공정).6, the frame 4 of the wafer unit 2 is fixed to the frame fixing member 7 via the expansion regulating ring 18 (fixing step).

다음으로, 익스팬드 링(14)을 도 6의 위치로부터 화살표 B 방향으로 상승 이동시키고, 환 형상부 영역(3B)의 전체 영역의 확장을 개시한다(확장 공정).Next, the expand ring 14 is moved upward in the direction of arrow B from the position of Fig. 6 to start expansion of the entire area of the annular portion area 3B (expansion process).

다음으로, 익스팬드 링(14)의 상승 이동량이, 프레임(4)의 두께를 초과하면, 환 형상부 영역(3B)이 확장 규제 링(18)의 내연부(18B)에 맞닿고, 환 형상부 영역(3B) 중, 외주측에 위치하는 외주측 영역(3E)의 확장을 규제한다(확장 규제 공정). 이때, 도 8과 같이 환 형상부 영역(3B)은, 내연부(18B)에 맞닿은 맞닿음부(3D)를 경계로 하여, 외주측에 위치하는 외주측 영역(3E)과, 내주측에 위치하는 내주측 영역(3F)으로 나뉜다.Next, when the amount of the upward movement of the expand ring 14 exceeds the thickness of the frame 4, the annular portion area 3B comes into contact with the inner edge 18B of the expansion regulating ring 18, The extension of the outer peripheral side region 3E located on the outer peripheral side among the sub-regions 3B is regulated (expansion regulating step). 8, the annular portion area 3B has an outer peripheral side area 3E located on the outer peripheral side and an outer peripheral side area 3E located on the inner peripheral side with the abutting part 3D abutting against the inner edge 18B as a boundary. And an inner circumferential side region 3F.

다음으로, 익스팬드 링(14)의 상승 이동을 속행하고, 환 형상부 영역(3B) 중, 외주측 영역(3E)을 제외한 내주측 영역(3F)의 확장을 계속해서 행함으로써, 웨이퍼(1)를 개개의 칩(6)으로 분할한다(분할 공정). 이후, 익스팬드 링(14)의 상승 이동을 정지한다.Next, the upward movement of the expand ring 14 is continued, and the inner peripheral side region 3F of the annular region 3B excluding the outer peripheral side region 3E is continuously expanded, Is divided into individual chips 6 (dividing step). Thereafter, the upward movement of the expand ring 14 is stopped.

분할 공정에 있어서, 환 형상부 영역(3B)이 확장 규제 링(18)의 내연부(18B)에 맞닿은 이후의 익스팬드 링(14)에 의한 확장 동작에서는, 외주측 영역(3E)의 확장이 확장 규제 링(18)에 의해 규제되고, 내주측 영역(3F)만이 확장되어 간다. 즉, 환 형상부 영역(3B)의 스프링 정수보다 커진 내주측 영역(3F)의 스프링 정수의 장력이 웨이퍼(1)에 부여된다. 이에 따라, 워크 분할 장치(10B)에 의하면, 워크 분할 장치(10A)와 마찬가지로 칩 사이즈가 소칩(1㎜)일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.In the expanding operation by the expand ring 14 after the annular portion area 3B is abutted against the inner edge 18B of the expansion regulating ring 18 in the dividing step, Is regulated by the extension regulating ring 18, and only the inner peripheral region 3F is expanded. That is, the tensile force of the spring constant of the inner peripheral side region 3F which is larger than the spring constant of the annular portion area 3B is given to the wafer 1. Thus, according to the work dividing device 10B, it is possible to solve the problem of non-differentiation of the line to be divided which occurs when the chip size is small chip (1 mm) like the work dividing device 10A.

또한, 익스팬드 링(14)에 의한 환 형상부 영역(3B)의 확장시에 있어서, 확장 규제 링(18)은, 프레임 고정 부재(7)와 프레임(4)으로 협지(挾持)된 상태에서 외주측 영역(3E)의 확장을 규제한다. 즉, 프레임 고정 부재(7)의 내경(예를 들면 361㎜)이, 프레임(4)의 내경인 350㎜보다 클 경우에도, 확장 규제용 개구부(18A)의 직경이 338㎜인 확장 규제 링(18)을 별도 마련함으로써, 프레임 고정 부재(7)의 내경이 350㎜ 미만인 것과 동등한 효과를 얻을 수 있다. 즉, 제1 실시형태의 확장 규제 링(16)(도 1, 도 2 참조)과 동등한 효과를 얻을 수 있다.When the annular portion 3B is expanded by the expand ring 14, the extended regulating ring 18 is held in the frame holding member 7 and the frame 4 Thereby limiting the extension of the outer region 3E. That is, even when the inner diameter (for example, 361 mm) of the frame fixing member 7 is larger than 350 mm, which is the inner diameter of the frame 4, the diameter of the expansion regulating opening 18A is 338 mm 18 are provided separately, an effect equivalent to that of the frame fixing member 7 having an inner diameter of less than 350 mm can be obtained. That is, the same effect as the expansion regulating ring 16 (see Figs. 1 and 2) of the first embodiment can be obtained.

또한, 워크 분할 장치(10B)에서는, 확장 규제용 개구부(18A)의 직경(내경)이 서로 다른 복수의 확장 규제 링(18)을 미리 갖추어 두는 것이 바람직하다. 이에 따라, 미리 가공 조건으로서 지정된 내경의 확장 규제 링(18)을 선택하여 사용할 수 있다. 또한, 확장 규제 링(18)을 구비하고 있지 않은 기존(출하를 마친)의 워크 분할 장치에 확장 규제 링(18)을 나중에 장착할 수 있으므로, 기존의 워크 분할 장치를 사용하여, 큰 칩에서 작은 칩까지 처리할 수 있게 된다. 또한, 칩 사이즈가 대칩일 경우에는, 확장 규제 링(18)을 기존의 워크 분할 장치로부터 제거할 수도 있다. 또한, 확장 규제용 개구부(18A)의 직경(내경)으로서는, 338㎜인 것 외, 예를 들면 346㎜, 342㎜, 334㎜를 예시할 수 있다.In the work dividing device 10B, it is preferable to previously provide a plurality of expansion regulating rings 18 having different diameters (inner diameters) of the expansion regulating opening 18A. Accordingly, it is possible to select and use the extended regulating ring 18 having the inner diameter designated in advance as the machining condition. Further, since the expansion regulating ring 18 can be later mounted on a conventional (shipped) work dividing device that does not include the extension regulating ring 18, it is possible to use a conventional work dividing device, Chip. In addition, when the chip size is a large chip, the extension regulating ring 18 may be removed from the existing work dividing device. The diameter (inner diameter) of the expansion regulating opening 18A is, for example, 348 mm, 342 mm, and 334 mm in addition to 338 mm.

그런데, 웨이퍼(1)에 형성되는 분할 예정 라인(5)의 개수가 많아짐에 따라서, 웨이퍼(1)의 분할에 요하는 힘을 크게 해야만 하는 것은 설명했지만, 웨이퍼에 따라서는, 서로 교차하는 X 방향 및 Y 방향에 있어서, X 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수와, Y 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수가 동수인 것(도 9 참조), 또는 X 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수와, Y 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수가 서로 다른 것(도 10 참조)이 있다.As described above, the force required to divide the wafer 1 must be increased as the number of to-be-divided lines 5 formed on the wafer 1 increases. However, depending on the wafer, And the number of lines to be divided 5 that are parallel to the X direction and the number of lines to be divided 5 that are parallel to the Y direction are the same (see FIG. 9) or parallel to the X direction The number of lines to be divided 5 and the number of lines to be divided 5 that are parallel to the Y direction are different (see Fig. 10).

도 9는, 원형의 확장 규제용 개구부(20A)를 갖는 확장 규제 링(20)과 웨이퍼 유닛(2)을 겹친 평면도이다. 도 9에 나타내는 웨이퍼(22)는, X 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수와, Y 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수가 동수이고, 그들의 간격이 동등한 웨이퍼이며, 분할되는 칩(24)의 형상이, X 방향과 Y 방향의 치수가 동일한 정방형인 것이다. 즉, 도 9에 나타내는 웨이퍼(22)는, X 방향과 Y 방향에 있어서 분할 예정 라인(5)의 밀도가 동등한 웨이퍼이다. 이러한 웨이퍼(22)를 원활하게 분할할 경우에는, 확장 규제용 개구부(20A)가 원형의 확장 규제 링(20)을 사용하는 것이 바람직하다. 즉, 웨이퍼(22)와 확장 규제용 개구부(20A)는 원형이며, 웨이퍼(22)의 외연부와 확장 규제용 개구부(20A)의 내연부로 둘러싸이는 평면에서 볼 때 도넛 형상의 내주측 영역(3F)은, 원주 방향의 어느 위치에 있어서 동일한 폭 치수(e)를 갖는다.9 is a plan view in which the wafer 2 is overlapped with the extension regulating ring 20 having the round opening 20A for regulating restriction. The wafer 22 shown in Fig. 9 is a wafer having the same number of the dividing lines 5 parallel to the X direction and the same number of dividing lines 5 parallel to the Y direction, The shape of the chip 24 is a square having the same dimensions in the X direction and the Y direction. That is, the wafer 22 shown in Fig. 9 is a wafer having the densities of the lines to be divided 5 in the X direction and the Y direction equal to each other. In order to smoothly divide the wafer 22, it is preferable that the expansion regulating opening 20A uses a circular expansion regulating ring 20. That is, the wafer 22 and the opening 20A for regulating restriction are circular and have a toroidal inner peripheral region 3F (see FIG. 3F) when seen from the plane surrounded by the outer edge of the wafer 22 and the inner edge of the opening 20A for regulating restriction. Have the same width dimension e at any position in the circumferential direction.

이에 따라, 확장되는 내주측 영역(3F)으로부터 웨이퍼(22)의 외연부에 균등한 장력을 부여할 수 있다. 즉, 원형의 확장 규제용 개구부(20A)를 갖는 확장 규제 링(20)을 사용함으로써, X 방향과 Y 방향에 있어서 분할 예정 라인(5)의 밀도가 동등한 웨이퍼(22)를 분할하기 위해 호적한 장력을 웨이퍼(22)에 부여할 수 있다. 또한, X 방향과 Y 방향에 있어서 분할 예정 라인(5)의 밀도가 동등한 것과, X 방향과 Y 방향에 있어서 칩(6)의 밀도가 동등한 것은 등가(等價)이다.This makes it possible to apply an equal tension to the outer edge portion of the wafer 22 from the inner peripheral region 3F to be expanded. That is, by using the extension regulating ring 20 having the circular expansion-regulating opening 20A, it is possible to divide the wafer 22 having the same density of the dividing line 5 in the X and Y directions The tension can be applied to the wafer 22. It is to be noted that the densities of the lines 5 to be divided in the X direction and the Y direction are equivalent and the densities of the chips 6 in the X direction and the Y direction are equivalent.

도 10은, 타원형의 확장 규제용 개구부(26A)를 갖는 확장 규제 링(26)과 웨이퍼 유닛(2)을 겹친 평면도이다. 도 10에 나타내는 웨이퍼(28)는, X 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수보다, Y 방향과 평행한 분할 예정 라인(5)의 개수가 많은 웨이퍼로서, 분할되는 칩(30)의 형상이, X 방향의 치수가 짧고 Y 방향의 치수가 긴 장방형인 것이다. 즉, 도 10에 나타내는 웨이퍼(28)는, X 방향과 Y 방향에 있어서 분할 예정 라인(5)의 밀도(칩(6)의 밀도)가 서로 다른 웨이퍼이다. 이러한 웨이퍼(28)를 원활하게 분할할 경우에는, 확장 규제용 개구부(26A)가 타원형의 확장 규제 링(26)을 사용하는 것이 바람직하다.10 is a plan view in which the wafer 2 is overlapped with the extension regulating ring 26 having the elliptic expanding opening 26A. The wafer 28 shown in Fig. 10 is a wafer having a large number of lines to be divided 5 that are parallel to the Y-direction, the number of which is larger than the number of lines to be divided 5 parallel to the X- Shape is a rectangular shape having a short dimension in the X direction and a long dimension in the Y direction. That is, the wafer 28 shown in Fig. 10 is a wafer having different densities (densities of chips 6) of lines to be divided 5 in X and Y directions. In order to smoothly divide the wafer 28, it is preferable that the expansion regulating opening 26A use an elliptic expansion regulating ring 26. [

이 경우, 확장 규제용 개구부(26A)의 타원의 단경(a)의 방향을, 분할 예정 라인(5)의 밀도가 높은 X 방향(칩(30)의 밀도가 높은 방향, 칩(30)의 단변에 평행한 방향)과 평행하게 맞추고, 타원의 장경(b)의 방향을, 분할 예정 라인(5)의 밀도가 낮은 Y 방향(칩(30)의 밀도가 낮은 방향, 칩(30)의 장변에 평행한 방향)과 평행하게 맞춘다.In this case, the direction of the short axis a of the ellipse of the expansion regulating opening 26A is set in the X direction (the direction in which the density of the chip 30 is high, the short side of the chip 30) And the direction of the long diameter b of the ellipse is set to be parallel to the Y direction with the density of the line to be divided 5 being low (in the direction in which the density of the chip 30 is low, Parallel direction).

이에 따라, 분할 예정 라인(5)의 밀도가 높은 X 방향과 평행한 방향에 위치하는 내주측 영역(3FA)은, 폭 치수가 작아져 스프링 정수가 높아지므로, 밀도가 높은 X 방향의 분할 예정 라인(5)을 분할하기 위한 호적한 장력을 웨이퍼(28)에 부여할 수 있다.Thus, the inner peripheral region 3FA located in the direction parallel to the X direction having a high density of the dividing line 5 has a small width dimension and a high spring constant, It is possible to give the wafer 28 a desired tensile force for dividing the wafer 5 into two pieces.

한편, 분할 예정 라인(5)의 밀도가 낮은 Y 방향과 평행한 방향에 위치하는 내주측 영역(3FB)은, 폭 치수는 작아지지 않고 스프링 정수는 작지만, 밀도가 낮은 Y 방향의 분할 예정 라인(5)을 분할하기 위한 호적한 장력을 웨이퍼(28)에 부여할 수 있다. 그러므로, X 방향과 Y 방향에 있어서 분할 예정 라인(5)의 밀도가 서로 다른 웨이퍼(28)에 대하여 호적한 분할 능력을 실현할 수 있다.On the other hand, the inner peripheral side region 3FB located in the direction parallel to the Y direction where the density of the line to be divided 5 is low does not decrease in width dimension but has a small spring constant. However, 5) can be imparted to the wafer 28. [0051] Therefore, it is possible to realize a partitioning ability that is favorable to the wafer 28 having different densities of the lines to be divided 5 in the X direction and the Y direction.

또한, 다이싱 테이프(3)에는, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 동등한 것, 또는 테이프의 생성 방향에 기인하여 X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수에 차가 생겨, X 방향과 Y 방향의 신장 방식에 차이가 있는 것이 있다. 원칙적으로는, 테이프의 생성 방향에 대하여 평행한 방향이 신장하기 쉽고, 교차하는 방향이 신장하기 어려운 경향이 있다.The spring constant of the X direction is equal to the spring constant of the Y direction or the spring constant of the Y direction is different from the spring constant of the X direction due to the direction of tape generation, And the stretching method in the Y direction. In principle, the direction parallel to the direction in which the tape is produced tends to elongate, and the direction in which the direction of crossing tends to be difficult to elongate.

이러한 다이싱 테이프(3)의 신장 특성에 착목하여, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 동등한 다이싱 테이프(3)일 경우에는, 도 9에 나타내는 확장 규제용 개구부(20A)가 원형인 확장 규제 링(20)을 사용하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 확장시에 있어서의 내주측 영역의 X 방향의 신장량과 Y 방향의 신장량이 동등해지므로, 내주측 영역(3F)으로부터 웨이퍼에 균등한 장력을 부여할 수 있다.In the case of the dicing tape 3 having the spring constant in the X direction and the spring constant in the Y direction equal to the stretching property of the dicing tape 3, the expansion regulating opening 20A shown in Fig. It is preferable to use the extension regulating ring 20 which is the same as the first embodiment. Accordingly, the extension in the X direction and the extension in the Y direction of the inner circumferential region at the time of expansion are made equal, and uniform tension can be given to the wafer from the inner circumferential region 3F.

한편, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 서로 다른 이방성이 있는 다이싱 테이프(3)일 경우에는, 도 10에 나타내는 타원형의 확장 규제용 개구부(26A)를 갖는 확장 규제 링(26)을 사용하는 것이 바람직하다.On the other hand, in the case of the dicing tape 3 having anisotropy different from the spring constant in the X direction and the spring constant in the Y direction, the expansion regulating ring 26 having the elliptic expansion regulating opening 26A shown in Fig. Is preferably used.

이 경우, 타원의 단경(a)의 방향을 스프링 정수가 작은 X 방향과 평행하게 맞추고, 타원의 장경(b)의 방향을, 스프링 정수가 큰 Y 방향과 평행하게 맞춘다. 이에 따라, 내주측 영역의 확장시에는, 스프링 정수가 작은 방향과 평행한 X 방향에 위치하는 내주측 영역(3FA)의 스프링 정수가 높아져, 타원의 장경(b)의 방향과 평행한 방향에 위치하는 내주측 영역(3FB)의 스프링 정수에 가까워지므로, 내주측 영역(3FA, 3FB)으로부터 웨이퍼에 대략 균등한 장력을 부여할 수 있다. 그러므로, X 방향의 스프링 정수와 Y 방향의 스프링 정수가 서로 다른 이방성이 있는 다이싱 테이프(3)에 마운트된 웨이퍼에 대하여 호적한 분할 능력을 실현할 수 있다.In this case, the direction of the short axis (a) of the ellipse is aligned with the X direction with the small spring constant, and the direction of the long diameter (b) of the ellipse is aligned with the Y direction with the large spring constant. Accordingly, when expanding the inner peripheral side region, the spring constant of the inner peripheral side region 3FA located in the X direction parallel to the direction in which the spring constant is small is increased, and the spring constant in the direction parallel to the direction of the long diameter (b) The inner peripheral side area 3FA and the inner peripheral side area 3FB close to the spring constant of the inner peripheral side area 3FB. Therefore, it is possible to realize a partitioning capacity that is favorable for wafers mounted on the dicing tape 3 having anisotropy different from the spring constant in the X direction and the spring constant in the Y direction.

여기에서 본 발명의 효과를 확인하기 위해, 본 발명자가 행한 실험 결과에 대해서 설명한다.Here, in order to confirm the effect of the present invention, the experimental results performed by the present inventors will be described.

도 11의 그래프에는, 도 23의 웨이퍼 유닛(2)에 대하여, 확장 규제 링을 사용하지 않을 때의 환 형상부 영역의 확장률(직경 350㎜)과, 확장 규제 링을 사용했을 때의 내주측 영역의 확장률로서, 그 확장 규제용 개구부의 직경을 346㎜, 342㎜, 338㎜로 설정했을 때의 확장률이 나타나 있다. 또한, 도 11의 「MD(Machine Direction)」란, 다이싱 테이프(3)의 제조시의 이송 방향과 평행한 방향으로서, 스프링 정수가 작은 방향이다. 또한, 「CD(Cross Direction)」란, MD와 직교하는 방향으로서, 스프링 정수가 큰 방향이다.In the graph of Fig. 11, the expansion ratio (diameter 350 mm) of the annular portion area when the extension regulating ring is not used and the inner ratio of the inner circumferential side The expansion rate when the diameter of the expansion regulating opening is set to 346 mm, 342 mm, and 338 mm is shown. The " MD (Machine Direction) " in Fig. 11 is a direction parallel to the feeding direction at the time of manufacturing the dicing tape 3, and has a small spring constant. "CD (Cross Direction)" is a direction orthogonal to the MD, and the direction of the spring constant is large.

도 11의 실험 결과에 의하면, 확장 규제 링을 사용하지 않을 때의 환 형상부 영역의 확장률이 「MD」에서는 6.1%, 「CD」에서는 6.0%였다. 이에 대하여, 확장 규제용 개구부의 직경을 346㎜, 342㎜, 338㎜로 작게 해 감에 따라서, 내주측 영역의 확장률이 「MD」에서는 6.8%, 7.5%, 8.4%로 상승하고, 「CD」에서는 7.2%, 7.5%, 8.1%로 상승했다. 즉, 확장 규제용 개구부의 직경을 작게 함에 따라서, 칩의 분할 능력이 향상함을 확인할 수 있었다.According to the experimental results shown in Fig. 11, the expansion ratio of the annular portion area when the extension regulating ring was not used was 6.1% for "MD" and 6.0% for "CD". On the other hand, as the diameter of the opening for expanding regulation was reduced to 346 mm, 342 mm, and 338 mm, the expansion rate of the inner circumferential region increased to 6.8%, 7.5%, and 8.4% , And 7.2%, 7.5% and 8.1%, respectively. That is, it was confirmed that as the diameter of the opening for regulating restriction is made smaller, the chip dividing ability is improved.

도 12의 그래프에는, 도 23의 웨이퍼 유닛(2)에 대하여, 확장 규제 링을 사용하지 않을 때의 칩의 분할률(직경 350㎜)과, 확장 규제 링을 사용했을 때의 칩의 분할률로서, 그 확장 규제용 개구부의 직경을 338㎜로 설정했을 경우의 분할률이 나타나 있다. 또한, 도 12의 「DAF 있음」의 분할률이란, DAF를 개재하여 웨이퍼(1)를 다이싱 테이프(3)에 첩부했을 때의 칩(6)의 분할률이며, 또한, 「DAF 없음」의 분할률이란, 웨이퍼(1)를 다이싱 테이프(3)에 직접 첩부했을 때의 칩(6)의 분할률이다.In the graph of Fig. 12, the chip division ratio (diameter 350 mm) when the extension regulating ring is not used and the chip division ratio when the extension regulating ring is used are shown in the wafer unit 2 of Fig. , And the division ratio when the diameter of the expansion regulating opening is set to 338 mm. The dividing ratio of "with DAF" in FIG. 12 is a dividing ratio of the chip 6 when the wafer 1 is attached to the dicing tape 3 via the DAF, The partitioning rate is the partitioning rate of the chip 6 when the wafer 1 is directly attached to the dicing tape 3. [

도 12의 실험 결과에 의하면, 확장 규제 링을 사용하지 않을 때의 칩(6)의 분할률이 「DAF 있음」에서는 15.0%, 「DAF 없음」에서는 41.0%였다. 이에 대하여, 확장 규제용 개구부의 직경이 338㎜인 확장 규제 링을 사용했을 때의 칩(6)의 분할률이 「DAF 있음」에서는 61.0%로 상승하고, 「DAF 없음」에서는 100%로 상승했다. 즉, 「DAF 있음」이어도 「DAF 없음」이어도, 확장 규제 링을 사용함으로써, 칩(6)의 분할 능력이 향상하는 것을 확인할 수 있었다.According to the results of the experiment shown in Fig. 12, the chip 6 split rate when the extension regulating ring was not used was 15.0% for "with DAF" and 41.0% for "without DAF". On the other hand, when the expansion regulating ring having the diameter of the expansion regulating opening of 338 mm was used, the division ratio of the chip 6 increased to 61.0% in the case of " with DAF ", and rose to 100% . That is, it was confirmed that the use of the extension regulating ring improves the dividing ability of the chip 6 even with " DAF exists " and " DAF is absent ".

상기의 실험 결과로부터, 실시형태의 워크 분할 장치(10A, 10B)에 의하면, 확장 규제 링(16)에 의해 외주측 영역(3E)의 확장을 규제하고, 내주측 영역(3F)만을 확장시킴으로써, 환 형상부 영역(3B)보다 확장률이 증가하고, 웨이퍼(1)에 부여하는 장력을 증대시킬 수 있으므로, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인(5)의 미분할 문제를 해소할 수 있음을 확인할 수 있었다.From the above experimental results, according to the work dividing apparatuses 10A, 10B of the embodiment, the extension of the outer peripheral side region 3E is restricted by the extended regulating ring 16, and only the inner peripheral side region 3F is expanded, The extension ratio of the annular portion area 3B is increased and the tension applied to the wafer 1 can be increased so that the problem of differentiation of the line to be divided 5 that occurs when the chip size is small is eliminated .

〔제3 실시형태의 워크 분할 장치(10C)〕[Workpiece dividing device 10C of the third embodiment]

도 13은, 제3 실시형태에 따른 워크 분할 장치(10C)의 요부 단면도이다.Fig. 13 is a sectional view showing the main portion of the work dividing device 10C according to the third embodiment.

도 13의 워크 분할 장치(10C)와 도 1에 나타낸 워크 분할 장치(10A)의 구조의 차이점은, 도 13의 워크 분할 장치(10C)의 확장 규제 링(32)에 돌출부(34)가 마련되어 있는 점에 있다.The difference between the structure of the work dividing device 10C of Fig. 13 and the structure of the work dividing device 10A shown in Fig. 1 is that the projecting portion 34 is provided on the extension regulating ring 32 of the work dividing device 10C of Fig. 13 It is in point.

도 13의 확장 규제 링(32)을 설명함에 있어서, 도 1의 확장 규제 링(16)과 동일 또는 유사한 부재에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 그 설명은 생략한다.In describing the extension regulating ring 32 of Fig. 13, the same or similar members as those of the extension regulating ring 16 of Fig. 1 are denoted by the same reference numerals, and a description thereof will be omitted.

도 13의 확장 규제 링(32)에는, 프레임 고정부(12)와, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)을 향하여 돌출 형성된 돌출부(34)가 구비된다. 돌출부(34)는, 확장 규제 링(32)의 확장 규제용 개구부(32A)의 주연부를 따라 마련되어 있다. 또한, 돌출부(34)의 선단부(34A)에 의해 테이프 위치 규제부가 구성되어 있고, 선단부(34A)는, 다이싱 테이프(3)의 외주부가 고정(첩부)되는 프레임(4)의 이면(테이프 첩부면)(4A)과 동일면상의 위치에 배치되어 있다. 즉, 테이프 위치 규제부를 구성하는 돌출부(34)의 선단부(34A)는, 프레임(4)이 확장 규제 링(32)에 고정되었을 때에, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)과 동일면상의 위치에 배치되어 있다.13 is provided with a frame fixing portion 12 and a protruding portion 34 protruding toward the attaching surface 3G of the dicing tape 3. [ The projecting portion 34 is provided along the periphery of the expansion regulating opening 32A of the extension regulating ring 32. [ The distal end portion 34A is provided on the rear surface of the frame 4 to which the outer peripheral portion of the dicing tape 3 is fixed Plane) 4A. The distal end portion 34A of the protruding portion 34 constituting the tape position restricting portion is positioned on the same plane as the adhesive surface 3G of the dicing tape 3 when the frame 4 is fixed to the extension regulating ring 32 As shown in Fig.

도 13의 확장 규제 링(32)에 의하면, 익스팬드 링(14)에 의한 다이싱 테이프(3)의 확장 전의 상태에서 확장 규제 링(32)의 돌출부(34)의 선단부(34A)가 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)에 이미 맞닿아져 있다. 즉, 익스팬드 링(14)에 의한 다이싱 테이프(3)의 확장 전의 상태에서 다이싱 테이프(3)의 외주측 영역(3E)의 확장이 확장 규제 링(32)에 의해 규제되어 있다.The distal end portion 34A of the projecting portion 34 of the extension regulating ring 32 is not diced by the expanding ring 32 in the state before the dicing tape 3 is expanded by the expand ring 14, And is already in contact with the attaching surface 3G of the tape 3. [ That is, in the state before the dicing tape 3 is expanded by the expanding ring 14, the extension of the outer peripheral side region 3E of the dicing tape 3 is restricted by the extension regulating ring 32. [

이에 따라, 도 13의 워크 분할 장치(10C)에 의하면, 익스팬드 링(14)이 다이싱 테이프(3)에 맞닿은 직후부터 다이싱 테이프의 내주측 영역(3F)의 확장을 개시할 수 있다. 그러므로, 워크 분할 장치(10C)에 의하면, 돌출부(32)를 구비하고 있지 않은 도 1의 확장 규제 링(14)을 이용했을 경우보다, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 효율적으로 해소할 수 있다.Thus, according to the work dividing device 10C of Fig. 13, the expanding of the inner peripheral side region 3F of the dicing tape can be started immediately after the expanding ring 14 comes into contact with the dicing tape 3. Fig. Therefore, according to the work dividing device 10C, the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip is smaller than that in the case of using the extension control ring 14 of Fig. 1 without the projecting portion 32 Can be solved more efficiently.

또한, 도 1의 워크 분할 장치(10A), 및 도 13의 워크 분할 장치(10C)에 있어서, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치의 높이를 동일하게 했을 경우, 도 13의 워크 분할 장치(10C)에서는, 도 1의 워크 분할 장치(10A)보다, 다이싱 테이프(3)의 내측 영역(3F)의 확장량(장력)이 증가한다. 그러므로, 도 13의 워크 분할 장치(10C)에 의하면, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 해소할 수 있다.When the height of the expanding operation end position of the expanding ring 14 is made the same in the work dividing device 10A of FIG. 1 and the work dividing device 10C of FIG. 13, The expansion amount (tensile force) of the inner region 3F of the dicing tape 3 is larger than that of the work dividing device 10A of Fig. Therefore, according to the work dividing device 10C of Fig. 13, the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip can be further solved.

한편으로, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료시에 있어서의, 다이싱 테이프(3)의 내측 영역(3F)의 확장량을, 도 1의 다이싱 장치(10A)를 기준으로 했을 경우, 도 13의 워크 분할 장치(10C)에서는, 도 1의 워크 분할 장치(10A)와 비교하여, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치의 높이를 프레임(4)의 두께분만큼 낮게 할 수 있다. 이에 따라, 도 13의 워크 분할 장치(10C)에 의하면, 익스팬드 링(14)의 적은 상승 이동량이어도 충분한 확장량(장력)을 얻을 수 있으므로, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 효율적으로 해소할 수 있다.On the other hand, when the expansion of the inner region 3F of the dicing tape 3 at the end of the expansion operation of the expand ring 14 is taken as the reference with respect to the dicing device 10A of Fig. 1 The height of the expanding operation ending position of the expanding ring 14 can be made lower by the thickness of the frame 4 as compared with the work dividing device 10A of Fig. Thus, the work dividing device 10C of Fig. 13 can obtain a sufficient expansion amount (tensile force) even with a small upward movement amount of the expanding ring 14, so that the differential of the planned line to be divided The problem to be solved can be solved more efficiently.

구체적으로 설명하면, 도 14에 나타내는 워크 분할 장치(10C)의 요부 확대 단면도와 같이, 확장 규제 링(32)을 이용했을 경우에는, 돌출부(34)를 구비하고 있지 않은 도 1의 확장 규제 링(14)을 이용했을 경우와 비교하여, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치의 높이를 프레임(4)의 두께분만큼 낮게 할 수 있고, 그분만큼 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 효율적으로 해소할 수 있다. 또한, 도 14에는, 돌출부(32)를 구비하고 있지 않은 확장 규제 링(14)을 이용했을 경우에 있어서의, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치를 이점 쇄선으로 나타내고 있다.More specifically, when the extension regulating ring 32 is used as in the enlarged sectional view of the main part of the work dividing device 10C shown in Fig. 14, the extension regulating ring 32 (Fig. The height of the expanding operation end position of the expanding ring 14 can be made lower by the thickness of the frame 4 as compared with the case where the chip size is small, It is possible to efficiently solve the problem of non-differentiation. 14 shows the extended operation end position of the expand ring 14 in the case where the extended regulating ring 14 not provided with the projecting portion 32 is used.

또한, 워크 분할 장치(10C)에 의하면, 확장 규제 링(32)의 돌출부(34)의 선단부(34A)에 있어서, 도 1의 확장 규제 링(14)의 내연부(16B)와 마찬가지로, 일례로서 산술 평균 거칠기(Ra)가 1.6(㎛)가 되는 표면 가공이 실시되고 있다. 이에 따라, 선단부(34A)와 환 형상부 영역(3B) 사이의 마찰력에 의해, 선단부(34A)와 환 형상부 영역(3B)이 상대적으로 미끄러지는 것을 방지하고 있다.As in the inner edge portion 16B of the extension regulating ring 14 shown in Fig. 1, the work dividing device 10C is provided at the distal end portion 34A of the projecting portion 34 of the extension regulating ring 32 as an example Surface processing is performed so that the arithmetic mean roughness (Ra) becomes 1.6 (占 퐉). This prevents the distal end portion 34A and the annular portion region 3B from sliding relatively due to the frictional force between the distal end portion 34A and the annular portion region 3B.

〔제4 실시형태의 워크 분할 장치(10D)〕[Workpiece dividing device 10D of the fourth embodiment]

도 15는, 제4 실시형태에 따른 워크 분할 장치(10D)의 요부 단면도이다.Fig. 15 is a sectional view showing the main portion of the work dividing device 10D according to the fourth embodiment.

도 15의 워크 분할 장치(10D)와 도 13에 나타낸 워크 분할 장치(10C)의 구조의 차이점은, 워크 분할 장치(10D)의 확장 규제 링(36)의 돌출부(38)의 선단부(38A)가, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)과 동일면보다 확장 동작 전의 익스팬드 링(14)이 배치되는 측에 배치되어 있는 점에 있다.The difference between the structure of the work dividing device 10D of Fig. 15 and the structure of the work dividing device 10C shown in Fig. 13 is that the tip end portion 38A of the projecting portion 38 of the extension regulating ring 36 of the work dividing device 10D And on the side where the expanding ring 14 before the expansion operation is disposed than the same surface as the adhesive surface 3G of the dicing tape 3. [

도 15의 확장 규제 링(36)을 설명함에 있어서, 도 13의 확장 규제 링(32)과 동일 또는 유사한 부재에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 그 설명은 생략한다.In describing the extension regulating ring 36 in Fig. 15, the same or similar members as those of the extension regulating ring 32 in Fig. 13 are denoted by the same reference numerals, and a description thereof will be omitted.

도 15의 확장 규제 링(36)에 의하면, 익스팬드 링(14)에 의한 다이싱 테이프(3)의 확장 전의 상태에서, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)이 확장 규제 링(36)의 돌출부(38)의 선단부(38A)로 이미 가압되어 있다. 즉, 익스팬드 링(14)에 의한 다이싱 테이프(3)의 확장 전의 상태에서 다이싱 테이프(3)의 외주측 영역(3E)의 확장이 확장 규제 링(32)에 의해 규제되며, 또한 내주측 영역(3F)의 확장이 이미 행해져 있다. 그러므로, 워크 분할 장치(10D)에 의하면, 도 13의 워크 분할 장치(C)와 비교하여, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 효율적으로 해소할 수 있다.15, the adhering surface 3G of the dicing tape 3 is pressed against the extension regulating ring 36 (Fig. 15) in the state before the dicing tape 3 is expanded by the expand ring 14, The protruding portion 38 of the protruding portion 38 is pressed. That is, in the state before the dicing tape 3 is expanded by the expand ring 14, the extension of the outer peripheral side region 3E of the dicing tape 3 is restricted by the extension regulating ring 32, The extension of the side region 3F has already been performed. Therefore, according to the work dividing device 10D, as compared with the work dividing device C in Fig. 13, the non-dividing problem of the line to be divided, which occurs when the chip size is small, can be solved more efficiently.

또한, 도 15의 워크 분할 장치(10D), 및 도 13의 워크 분할 장치(10C)에 있어서, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치의 높이를 동일하게 했을 경우, 도 15의 워크 분할 장치(10D)에서는, 도 13의 워크 분할 장치(10C)보다, 다이싱 테이프(3)의 내측 영역(3F)의 확장량(장력)이 증가한다. 그러므로, 도 15의 워크 분할 장치(10D)에 의하면, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 해소할 수 있다.When the height of the expanding operation end position of the expanding ring 14 is made the same in the work dividing device 10D of Fig. 15 and the work dividing device 10C of Fig. 13, The extension amount (tensile force) of the inner region 3F of the dicing tape 3 increases in the work dividing apparatus 10D as compared with the work dividing apparatus 10C in Fig. Therefore, according to the work dividing device 10D of Fig. 15, it is possible to further solve the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip.

한편으로, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료시에 있어서의, 다이싱 테이프(3)의 내측 영역(3F)의 확장량을, 도 13의 다이싱 장치(10C)를 기준으로 했을 경우, 도 15의 워크 분할 장치(10D)에서는, 도 13의 워크 분할 장치(10C)와 비교하여, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치의 높이를, 돌출부(34)에 대한 돌출부(38)의 돌출 길이의 차분(差分)만큼 낮게 할 수 있다. 이에 따라, 도 15의 워크 분할 장치(10D)에 의하면, 도 13의 워크 분할 장치(10C)보다, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 효율적으로 해소할 수 있다.On the other hand, when the expansion of the inner region 3F of the dicing tape 3 at the end of the expansion operation of the expand ring 14 is taken as the reference with respect to the dicing device 10C of Fig. 13 The height of the expanding operation end position of the expanding ring 14 is set to be larger than the height of the projecting portion 38 with respect to the projecting portion 34 in comparison with the work dividing device 10C of FIG. Can be made as low as the difference of the length. Thus, according to the work dividing device 10D of Fig. 15, the non-dividing problem of the line to be divided which occurs when the chip size is smaller than that of the work dividing device 10C of Fig. 13 can be solved more efficiently.

구체적으로 설명하면, 도 16에 나타내는 워크 분할 장치(10D)의 요부 확대 단면도와 같이, 확장 규제 링(36)을 이용했을 경우에는, 돌출부(32)를 구비하고 있는 도 13의 확장 규제 링(32)을 이용했을 경우와 비교하여, 익스팬드 링(14)의 확장 종료 위치의 높이를, 돌출부(34)에 대한 돌출부(38)의 돌출 길이의 차분만큼 짧게 할 수 있고, 그 차분만큼 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 효율적으로 해소할 수 있다. 또한, 도 16에는, 돌출부(32)를 구비하고 있는 확장 규제 링(32)을 이용했을 경우에 있어서의, 익스팬드 링(14)의 확장 동작 종료 위치를 이점 쇄선으로 나타내고 있다.More specifically, when the extension regulating ring 36 is used as in the enlarged sectional view of the main part of the work dividing device 10D shown in Fig. 16, the extension regulating ring 32 (Fig. The height of the expansion end position of the expand ring 14 can be made shorter by the difference in the protruding length of the protruding portion 38 with respect to the protruding portion 34, It is possible to efficiently solve the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip is a small chip. 16 shows the extended operation end position of the expand ring 14 in the case of using the extension regulating ring 32 having the protruding portion 32 by the two-dot chain line.

또한, 워크 분할 장치(10D)에 의하면, 확장 규제 링(36)의 돌출부(38)의 선단부(38A)에 있어서, 도 1의 확장 규제 링(14)의 내연부(16B)와 마찬가지로, 일례로서 산술 평균 거칠기(Ra)가 1.6(㎛)가 되는 표면 가공이 실시되고 있다. 이에 따라, 선단부(38A)와 환 형상부 영역(3B) 사이의 마찰력에 의해, 선단부(38A)와 환 형상부 영역(3B)이 상대적으로 미끄러지는 것을 방지하고 있다.In the work dividing device 10D, as in the inner edge portion 16B of the extension regulating ring 14 in Fig. 1, at the tip end portion 38A of the projecting portion 38 of the extension regulating ring 36, as an example Surface processing is performed so that the arithmetic mean roughness (Ra) becomes 1.6 (占 퐉). This prevents the distal end portion 38A and the annular portion region 3B from sliding relatively due to the frictional force between the distal end portion 38A and the annular portion region 3B.

〔제5 실시형태의 워크 분할 장치(10E)〕[Workpiece dividing device 10E of the fifth embodiment]

도 17은, 제5 실시형태에 따른 워크 분할 장치(10E)의 요부 확대 단면도이다.Fig. 17 is an enlarged cross-sectional view of the main part of the work dividing device 10E according to the fifth embodiment.

도 17의 워크 분할 장치(10E)는, 프레임 고정 부재(7)에 확장 규제 링(40)이 착탈 가능하게 마련된 것이다. 또한, 확장 규제 링(40)을 설명함에 있어서, 도 13의 확장 규제 링(32)과 동일 또는 유사한 부재에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 그 설명을 생략한다.The work dividing device 10E shown in Fig. 17 is such that an extension regulating ring 40 is detachably provided on a frame fixing member 7. In describing the extension regulating ring 40, the same or similar members as those of the extension regulating ring 32 in Fig. 13 are denoted by the same reference numerals, and a description thereof will be omitted.

도 17의 확장 규제 링(40)에는, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)을 향한 돌출부(34)가, 확장 규제 링(40)의 확장 규제용 개구부(40A)의 외연부를 따라 마련되어 있다. 또한, 돌출부(34)의 선단부(34A)는, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)과 동일면상의 위치(도 13 참조)에 배치되어 있다.A protruding portion 34 toward the adhering surface 3G of the dicing tape 3 is provided along the outer edge of the expansion regulating opening 40A of the extension regulating ring 40 have. The distal end portion 34A of the protruding portion 34 is disposed at a position (see Fig. 13) on the same plane as the adhesive surface 3G of the dicing tape 3.

이에 따라, 도 17의 워크 분할 장치(10E)에 의하면, 익스팬드 링(14)이 다이싱 테이프(3)에 맞닿은 직후부터 다이싱 테이프의 내주측 영역(3F)의 확장을 개시할 수 있다. 그러므로, 워크 분할 장치(10E)에 의하면, 돌출부(32)를 구비하고 있지 않은 도 1의 확장 규제 링(14)을 이용했을 경우보다, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 효율적으로 해소할 수 있다.Thus, according to the work dividing device 10E of Fig. 17, the expanding of the inner peripheral side region 3F of the dicing tape can be started immediately after the expanding ring 14 comes into contact with the dicing tape 3. Fig. Therefore, according to the work dividing device 10E, the problem of non-division of the line to be divided which occurs when the chip size is a small chip is larger than that in the case of using the extension control ring 14 of Fig. 1 without the projecting portion 32 Can be solved more efficiently.

〔제6 실시형태의 워크 분할 장치(10F)〕[Workpiece dividing device 10F of the sixth embodiment]

도 18은, 제6 실시형태에 따른 워크 분할 장치(10F)의 요부 확대 단면도이다.18 is an enlarged cross-sectional view of the main part of the work dividing device 10F according to the sixth embodiment.

도 18의 워크 분할 장치(10F)는, 프레임 고정 부재(7)에 확장 규제 링(42)이 착탈 가능하게 마련된 것이다. 또한, 확장 규제 링(42)을 설명함에 있어서, 도 15의 확장 규제 링(36)과 동일 또는 유사한 부재에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 그 설명을 생략한다.The work dividing device 10F of Fig. 18 is such that an extension regulating ring 42 is detachably provided on the frame fixing member 7. In describing the extension regulating ring 42, the same or similar members as those of the extension regulating ring 36 in Fig. 15 are denoted by the same reference numerals, and a description thereof will be omitted.

도 18의 확장 규제 링(42)에는, 다이싱 테이프(3)의 첩부면(3G)을 향한 돌출부(38)가, 확장 규제 링(42)의 확장 규제용 개구부(42A)의 외연부를 따라 마련되어 있다. 또한, 돌출부(38)의 선단부(38A)는, 확장 동작 전의 익스팬드 링(14)이 배치되는 측에 배치되어 있다.A protruding portion 38 of the dicing tape 3 facing the adhering surface 3G is provided along the outer edge of the extension regulating opening 42A of the extension regulating ring 42 have. The distal end 38A of the projection 38 is disposed on the side of the expand ring 14 before the expansion operation.

이에 따라, 도 18의 워크 분할 장치(10F)에 의하면, 익스팬드 링(14)이 다이싱 테이프(3)에 맞닿기 전부터 다이싱 테이프의 내주측 영역(3F)의 확장이 개시되고 있으므로, 돌출부(34)를 구비하고 있는 도 17의 확장 규제 링(40)을 이용했을 경우보다, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 더욱 효율적으로 해소할 수 있다.Thus, according to the work dividing device 10F of Fig. 18, since the expansion of the inner peripheral side region 3F of the dicing tape is started before the expand ring 14 abuts against the dicing tape 3, It is possible to more effectively solve the problem of non-division of the line to be divided, which occurs when the chip size is a small chip, as compared with the case of using the extension restriction ring 40 of Fig.

그런데, 도 5에 나타낸 분할 공정 S130의 후공정에 있어서, 서브 링이라고 하는 확장 유지 링을 프레임(4)에 끼워맞춰 다이싱 테이프(3)의 확장 상태를 유지할 경우가 있다. 이 확장 유지 링은, 외주측 영역(3E)을 잡아늘인 상태에서 프레임(4)에 끼워맞춰진다. 확장 유지 링을 사용함으로써, 인접하는 분할된 칩끼리의 접촉을 규제할 수 있으므로, 칩의 손상을 방지할 수 있다는 효과가 있다.In the post-step of the dividing step S130 shown in Fig. 5, the extended state of the dicing tape 3 may be maintained by fitting the extended holding ring, i.e., a sub-ring, into the frame 4. [ The extension retaining ring is fitted to the frame 4 in a state in which the outer peripheral side region 3E is stretched. By using the extended holding ring, it is possible to restrain the contact between the adjoining divided chips, thereby preventing the chip from being damaged.

기술(旣述)한 도 13∼도 18의 워크 분할 장치(10C∼10F)에 의하면, 돌출부(34, 38)의 선단부(34A, 38A)에 의해, 외주측 영역(3E)의 확장을 규제할 수 있으므로, 외주측 영역(3E)의 다이싱 테이프(3)가 신장되지 않아, 그 두께가 얇아지는 것을 방지할 수 있다. 그 때문에, 확장 유지 링이 외주측 영역(3E)을 잡아늘인 상태에서 프레임(4)에 장착되었을 경우에도, 외주측 영역(3E)이 파손되는 것을 방지할 수 있다.According to the work dividing devices 10C to 10F in the description of FIGS. 13 to 18, the distal end portions 34A and 38A of the projecting portions 34 and 38 restrict the extension of the outer peripheral side region 3E It is possible to prevent the dicing tape 3 of the outer peripheral region 3E from being stretched and to prevent its thickness from being thinned. Therefore, it is possible to prevent the outer peripheral region 3E from being broken even when the extended retaining ring is attached to the frame 4 while stretching the outer peripheral region 3E.

또한, 도 5에 나타낸 분할 공정 S130의 후공정에 있어서, 확장 후의 늘어진 외주측 영역(3E)의 다이싱 테이프(3)를 광가열에 의해 열수축시켜 다시 긴장시키는 가열 공정이 행해질 경우가 있다. 이 가열 공정이 행해짐으로써, 외주측 영역(3E)의 다이싱 테이프(3)를 다시 긴장시킬 수 있고, 분할 공정 S130의 후공정에서의 처리가 용이해진다는 효과가 있다.Further, in the post-step of the dividing step S130 shown in Fig. 5, there is a case where the dicing tape 3 in the elongated outer circumferential region 3E after expansion is heat-shrunk by light heating and again tensed. By performing this heating step, the dicing tape 3 in the outer peripheral region 3E can be tensed again, and the processing in the post-dividing step S130 is facilitated.

기술한 도 13∼도 18의 워크 분할 장치(10C∼10F)에 의하면, 외주측 영역(3E)의 두께가 얇아지지 않으므로, 광가열에 의한 외주측 영역(3E)의 열수축 공정에 있어서, 외주측 영역(3E)의 광흡수율이 올라, 빛으로부터 열로의 변환 효율이 높아진다. 이에 따라, 외주측 영역(3E)을 단시간에 열수축시킬 수 있다.According to the work dividing devices 10C to 10F of Figs. 13 to 18 described above, since the thickness of the outer peripheral region 3E is not thinned, in the heat shrinking process of the outer peripheral region 3E by the light heating, The light absorptance of the region 3E increases, and the conversion efficiency from light to heat increases. Thus, the outer peripheral region 3E can be shrunk in a short time.

도 19의 그래프는, 다이싱 테이프(3)의 확장률(%)이 종축에 나타나고, 익스팬드 링(14)의 상승 이동에 의한 환 형상부 영역(3B)의 밀어올림량(㎜)이 횡축에 나타나 있다.19 shows the expansion rate (%) of the dicing tape 3 on the vertical axis and the push-up amount (mm) of the annular portion area 3B due to the upward movement of the expander ring 14, Respectively.

또한, 도 19에서는, 후술하는 바와 같이 밀어올림량에 따른 확장률이, 확장 규제 링(16, 18, 32, 36, 40, 42)마다 서로 다른 것이 나타나 있다. 또한, 확장 규제 링(18)에 의한 확장률은, 확장 규제 링(16)에 의한 확장률과 동등하므로, 확장 규제 링(18)에 의한 확장률의 설명은 생략한다. 마찬가지로, 확장 규제 링(40)에 의한 확장률은, 확장 규제 링(32)에 의한 확장률과 동등하고, 확장 규제 링(42)에 의한 확장률은, 확장 규제 링(36)에 의한 확장률과 동등하므로, 확장 규제 링(40, 42)에 의한 확장률의 설명도 생략한다.19, the enlargement ratio according to the amount of push-up is different for each of the extension regulating rings 16, 18, 32, 36, 40, 42 as described later. Since the expansion ratio by the expansion control ring 18 is equal to the expansion ratio by the expansion control ring 16, a description of the expansion ratio by the expansion control ring 18 is omitted. Similarly, the expansion ratio by the expansion regulating ring 40 is equal to the expansion ratio by the expansion regulating ring 32, and the expansion ratio by the expansion regulating ring 42 is equal to the expansion ratio by the expansion regulating ring 36 The description of the expansion ratio by the extension regulating rings 40 and 42 is also omitted.

도 19의 선 A는, 확장 규제 링을 사용하지 않을 경우(확장 규제용 개구부(16A)의 직경이 350㎜에 상당)의 확장률의 변화를 나타내고 있다. 선 B는, 확장 규제용 개구부(16A)의 직경이 338㎜인 확장 규제 링(16)을 적용했을 경우의 확장률의 변화를 나타내고 있다. 선 C는, 확장 규제용 개구부(32A)의 직경이 338㎜인 확장 규제 링(32)을 적용했을 경우의 확장률의 변화를 나타내고 있다. 선 D는, 확장 규제용 개구부(36A)의 직경이 338㎜인 확장 규제 링(36)을 적용했을 경우의 확장률의 변화를 나타내고 있다. 또한, 일례로서, 확장 규제 링(32)의 돌출부(34)의 돌출 길이는, 후술하는 바와 같이 프레임(4)의 두께와 동등한 1.5㎜로 설정하고, 확장 규제 링(36)의 돌출부(38)의 돌출 길이는, 4.5㎜로 설정했다.Line A in Fig. 19 shows a change in the expansion ratio when the expansion regulating ring is not used (the diameter of the expansion regulating opening 16A is equal to 350 mm). Line B shows a change in the expansion ratio when the extension regulating opening 16A having the diameter of 338 mm is applied. The line C shows a change in the expansion ratio when the extension regulating opening 32A having the diameter of 338 mm is applied. Line D shows a change in the expansion ratio when the extension regulating opening 36A having the diameter of 338 mm is applied. The protruding length of the protruding portion 34 of the extended regulating ring 32 is set to 1.5 mm which is equal to the thickness of the frame 4 as described later, Was set to 4.5 mm.

도 20은, 확장 분할 공정시의 익스팬드 링(14)의 동작을 나타낸 개략도이다. 도 20에는, 도 19에서 나타낸 선 A, B, C, D의 확장률을 산출하기 위한 각 부재의 치수가 나타나 있다.20 is a schematic view showing the operation of the expand ring 14 in the extended division process. 20 shows the dimensions of the respective members for calculating the expansion rates of the lines A, B, C, and D shown in Fig.

도 20에 의하면, 프레임(4)의 내경(D1)이 350㎜, 프레임(4)의 두께(t)가 1.5㎜, 확장 규제 링(16)(32, 36)의 확장 규제용 개구부(16A)(32A, 36A)의 직경(D2)이 338㎜인 것이 나타나 있다.20, the inner diameter D1 of the frame 4 is 350 mm, the thickness t of the frame 4 is 1.5 mm, and the extension regulating opening 16A of the extension regulating rings 16 (32, 36) And the diameter D2 of the first and second elastic members 32A and 36A is 338 mm.

또한, 도 20의 부호 x는, 익스팬드 링(14)의 상승 이동에 의한 환 형상부 영역(3B)의 밀어올림량을 나타내고 있다. 또한, 익스팬드 링(14)의 상단에는, 다이싱 테이프(3)와의 마찰력을 저감하는 롤러(44)가 배치되고, 롤러(44)의 배치 직경(D3)이 323.2㎜인 것이 나타나 있다. 도 20의 부호 d는, 롤러(44)의 직경을 나타내고 있다. 또한, 선 A의 확장률(%)은, 롤러(44)의 직경(d)을 5㎜로 해서 산출하고, 선 B, C, D의 확장률(%)은, 롤러(44)의 직경(d)을 7㎜로 해서 산출했다.In addition, reference character x in Fig. 20 indicates the amount of push-up of the annular portion area 3B by the upward movement of the expander ring 14. Fig. A roller 44 for reducing the frictional force with the dicing tape 3 is disposed at the upper end of the expand ring 14 and the arrangement diameter D3 of the roller 44 is 323.2 mm. 20 designates the diameter of the roller 44. In Fig. The expansion ratio (%) of the line A is calculated by assuming that the diameter d of the roller 44 is 5 mm and the expansion ratio (%) of the lines B, C, d was set to 7 mm.

이하, 도 19에 의거하여, 확장 규제 링(16, 32, 36)의 각 확장률에 대해서 설명한다.The respective expansion rates of the extension regulating rings 16, 32, and 36 will be described below with reference to Fig.

우선, 확장 규제 링(16)을 적용(선 B 참조)하면, 익스팬드 링(14)의 상승 이동에 의해 환 형상부 영역(3B)이 밀어올려져 확장 규제 링(16)에 접촉한다. 그 접촉 직후부터의 확장률이, 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우(선 A 참조)의 확장률보다 높아진다. 즉, 확장 규제 링(16)을 적용하면, 밀어올림량이 약 5.0㎜를 초과하고 나서의 확장률이, 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우의 확장률보다 높아진다.First, when the expanding regulating ring 16 is applied (refer to line B), the annular region 3B is pushed up by the upward movement of the expanding ring 14 and comes into contact with the expanding regulating ring 16. The expansion rate immediately after the contact becomes higher than the expansion rate when the extension restriction ring is not applied (see line A). That is, when the extension regulating ring 16 is applied, the extension rate after the amount of push-up exceeded about 5.0 mm becomes higher than the extension rate when the extension regulating ring is not applied.

또한, 확장 규제 링(32)을 적용(선 C 참조)하면, 돌출부(34)의 선단부(34A)가 환 형상부 영역(3B)에 미리 맞닿아져 있다. 이 때문에, 확장 규제 링(32)을 적용하면, 환 형상부 영역(3B)에 익스팬드 링(14)이 접촉한 직후부터의 확장률이, 확장 규제 링(16)을 적용했을 경우(선 B 참조)의 확장률보다 높아진다.When the extension regulating ring 32 is applied (refer to line C), the leading end portion 34A of the projecting portion 34 is brought into contact with the annular portion region 3B in advance. Therefore, when the expansion regulating ring 32 is applied, the expansion ratio from immediately after the expanding ring 14 contacts the annular region 3B is larger than the expansion ratio when the expansion regulating ring 16 is applied ). ≪ / RTI >

또한, 확장 규제 링(36)을 적용(선 D 참조)하면, 돌출부(38)의 선단부(38)가 환 형상부 영역(3B)을 미리 압하(押下)하고 있으므로, 환 형상부 영역(3B)에 익스팬드 링(14)이 접촉하기 이전에 확장률은 이미 0%를 초과하고 있다. 이 때문에, 확장 규제 링(36)을 적용하면, 환 형상부 영역(3B)에 익스팬드 링(14)이 접촉한 직후부터의 확장률이, 확장 규제 링(32)을 적용했을 경우(선 C 참조)의 확장률보다 높아진다.When the extension regulating ring 36 is applied (refer to line D), since the tip end portion 38 of the projecting portion 38 presses down the annular portion region 3B in advance, The expanding rate already exceeds 0% before the expanding ring 14 contacts. Therefore, when the expansion regulating ring 36 is applied, the expansion ratio from immediately after the expanding ring 14 contacts the annular region 3B is larger than the expansion ratio when the expansion regulating ring 32 is applied ). ≪ / RTI >

여기에서, 도 21은, 도 19에 나타낸 선 A, B, C, D의 각 확장률(%)의 단위 시간당의 상승률(이하, 확장률 속도(%/sec)라고 함)의 변화를 나타낸 그래프가 나타나 있다.21 is a graph showing a change in the rate of expansion per unit time (hereinafter referred to as an expansion rate rate (% / sec)) of each expansion rate (%) of the lines A, B, C and D shown in Fig. Respectively.

도 21의 그래프는, 확장률 속도(%/sec)가 왼쪽 종축에 나타나고, 환 형상부 영역(3B)의 밀어올림 속도(㎜/sec)가 오른쪽 종축에 나타나고, 익스팬드 링(14)의 상승 이동에 의한 환 형상부 영역(3B)의 밀어올림량(㎜)이 횡축에 나타나 있다.21, the expansion rate (% / sec) is shown on the left vertical axis, the lift speed (mm / sec) of the annular portion area 3B is shown on the right vertical axis, The abscissa indicates the push-up amount (mm) of the annular portion area 3B due to the movement.

도 21에서는, 일례로서, 환 형상부 영역(3B)의 밀어올림 속도를 일정하게 했을 경우에 있어서의, 확장률 속도의 변화가 나타나 있다. 확장률 속도가 높을수록, 다이싱 테이프(3)에 발생하는 장력이 커져 웨이퍼를 칩마다 분할하는 힘이 커진다.In Fig. 21, as an example, a change in the expansion rate speed is shown when the push-up speed of the annular portion area 3B is made constant. The higher the rate of expansion rate, the greater the tensile force generated in the dicing tape 3 and the larger the force for dividing the wafer per chip.

도 21의 선 E는, 0.00㎜∼20.00㎜까지의 밀어올림량에 있어서의 밀어올림 속도의 변화를 나타내고 있다. 환언하면 선 E는, 익스팬드 링(14)의 상승 이동 속도를 나타내고 있다. 선 E에 의하면, 익스팬드 링(14)은, 0.00㎜∼약 18.50㎜의 범위 내에서는 일정한 속도(200㎜/sec)로 상승 이동하고, 그 이후에는 감속하면서 20.00㎜까지 상승 이동한다.Line E in Fig. 21 shows a change in the push-up speed at the push-up amount from 0.00 mm to 20.00 mm. In other words, the line E indicates the ascending movement speed of the expand ring 14. According to line E, the expanding ring 14 moves upward at a constant speed (200 mm / sec) within a range of 0.00 mm to about 18.50 mm, and then moves up to 20.00 mm while decelerating.

도 21의 선 F는, 확장 규제 링을 적용하지 않는, 도 19의 선 A의 확장률에 대응한 확장률 속도의 변화를 나타내고 있다.Line F in Fig. 21 shows a change in the rate of expansion rate corresponding to the expansion rate at line A in Fig. 19 without applying the extension restriction ring.

도 21의 선 G는, 확장 규제용 개구부(16A)의 직경이 338㎜인 확장 규제 링(16)을 적용했을 경우의, 도 19의 선 B의 확장률에 대응한 확장률 속도의 변화를 나타내고 있다.Line G in Fig. 21 shows a change in the expansion rate corresponding to the extension ratio of line B in Fig. 19 when the extension restriction ring 16 having the diameter of the extension restriction opening 16A of 338 mm is applied have.

도 21의 선 H는, 확장 규제용 개구부(32A, 36A)의 직경이 338㎜인 확장 규제 링(32, 36)을 적용했을 경우의, 도 19의 선 C, D의 확장률에 대응한 확장률 속도의 변화를 나타내고 있다. 또한, 확장 규제 링(36)을 적용했을 경우, 환 형상부 영역(3B)은 익스팬드 링(14)에 의한 확장 전에 돌출부(38)에 의해 미리 확장되어 있지만, 확장률 속도에 관해서는 확장 규제 링(32)을 적용했을 경우와 변함없다. 이 때문에, 확장 규제 링(32, 36)을 적용했을 경우의 확장률 속도의 변화를, 동일한 선 H로 나타내고 있다.Line H in FIG. 21 shows an enlargement ratio corresponding to the expansion ratio of lines C and D in FIG. 19 when the extension regulating openings 32A and 36A have the diameter of 338 mm and the extension regulating rings 32 and 36 are applied. And the rate of speed change. When the extension regulating ring 36 is applied, the annular portion area 3B is previously expanded by the protruding portion 38 before expansion by the expand ring 14, but with regard to the expansion rate speed, This is the same as when the ring 32 is applied. For this reason, the change in the expansion rate rate when the extension regulating rings 32 and 36 are applied is indicated by the same line H. Fig.

도 21의 선 F, G, H로 나타내는 각 확장률 속도에 의하면, 밀어올림량에 따라 각각 상승해 가, 밀어올림량이 약 18.50㎜에 도달한 시점에서 최대(최대 확장률 속도)가 되고, 그 이후에는 각각 하강해 간다.According to the expansion rate speeds indicated by the lines F, G, and H in Fig. 21, the maximum expansion rate is reached when the lift amount reaches about 18.50 mm, After that, they descend.

여기에서, 확장 규제 링(16)을 적용(선 G 참조)하면, 익스팬드 링(14)의 상승 이동에 의해, 환 형상부 영역(3B)이 밀어올려져 확장 규제 링(16)에 접촉한다. 그 접촉 직후부터의 확장률 속도가, 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우(선 F 참조)의 확장률 속도보다 높아져 간다. 구체적으로는, 밀어올림량이 약 4.00㎜를 초과하고 나서의 확장률 속도가, 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우의 확장률 속도보다 높아져 가, 최대 확장률 속도가 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우보다 증가(약 95%/sec로부터 약 115%/sec로 증가)한다.Here, when the extension regulating ring 16 is applied (refer to line G), the annular region 3B is pushed up by the upward movement of the expand ring 14, and is contacted with the extension regulating ring 16 . The rate of expansion rate immediately after the contact becomes higher than the rate of expansion rate when the extended restriction ring is not applied (see line F). More specifically, the rate of expansion rate after the amount of push-up exceeded about 4.00 mm becomes higher than the rate of expansion rate when the extension regulating ring is not applied, and the maximum rate of expansion rate is higher than that when the extension restriction ring is not applied (From about 95% / sec to about 115% / sec).

따라서, 확장 규제 링(16)을 적용함으로써, 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우보다, 다이싱 테이프(3)의 확장량이 증가(도 19 참조)함과 함께, 최대 확장률 속도도 증가하여 다이싱 테이프(3)에 발생하는 장력이 증가하므로, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.Therefore, by applying the extension regulating ring 16, the amount of extension of the dicing tape 3 is increased (see Fig. 19), and the maximum rate of expansion rate is increased as compared with the case where the extension regulating ring is not applied, The tensile force generated in the tape 3 increases, and thus the problem of non-division of the line to be divided, which occurs when the chip size is a small chip, can be solved.

또한, 확장 규제 링(32, 36)을 적용했을 경우(선 H 참조), 환 형상부 영역(3B)에 익스팬드 링(14)이 접촉하면, 접촉 직후부터의 확장률 속도가 확장 규제 링(16)을 적용했을 경우(선 G 참조)의 확장률 속도보다 높아져 간다. 또한, 확장 규제 링(32, 36)을 적용함으로써, 최대 확장률 속도가 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우보다 증가(약 95%/sec로부터 약 115%/sec로 증가)한다.If the expanding ring 14 is brought into contact with the annular region 3B when the extension regulating rings 32 and 36 are applied (see line H) 16) is applied (refer to line G). Further, by applying the extension regulating rings 32 and 36, the maximum extension rate is increased (from about 95% / sec to about 115% / sec) than when the extension regulating ring is not applied.

따라서, 확장 규제 링(32, 36)을 적용함으로써, 확장 규제 링을 적용하지 않을 경우보다, 다이싱 테이프(3)의 확장량이 증가(도 19 참조)함과 함께, 최대 확장률 속도도 증가하여 다이싱 테이프(3)에 발생하는 장력이 증가하므로, 기술한 미분할 문제를 해소할 수 있다.Therefore, by applying the extension regulating rings 32 and 36, the amount of extension of the dicing tape 3 is increased (see FIG. 19), and the maximum rate of expansion rate is also increased The tensile force generated in the dicing tape 3 is increased, so that the problem of non-division described can be solved.

이상과 같이, 실시형태의 확장 규제 링(16, 18, 32, 36, 40, 42)을 적용함으로써, 칩 사이즈가 소칩일 경우에 생기는 분할 예정 라인의 미분할 문제를 해소할 수 있다.As described above, by applying the extension regulating rings 16, 18, 32, 36, 40, and 42 of the embodiment, it is possible to solve the problem of non-differentiation of the line to be divided which occurs when the chip size is small chips.

1: 웨이퍼 2: 웨이퍼 유닛
3: 다이싱 테이프 3A: 중앙부 영역
3B: 환 형상부 영역 3C: 고정부 영역
3D: 맞닿음부 3E: 외주측 영역
3F: 내주측 영역 3FA: 내주측 영역
3FB: 내주측 영역 4: 프레임
4A: 이면 5: 분할 예정 라인
6: 칩 7: 프레임 고정 부재
8: 익스팬드 링 10A: 워크 분할 장치
10B: 워크 분할 장치 10C: 워크 분할 장치
10D: 워크 분할 장치 10E: 워크 분할 장치
10F: 워크 분할 장치 12: 프레임 고정부
14: 익스팬드 링 14A: 확장용 개구부
16: 확장 규제 링 16A: 확장 규제용 개구부
16B: 내연부 17: 확장 규제부
18: 확장 규제 링 18A: 확장 규제용 개구부
18B: 내연부 20: 확장 규제 링
20A: 확장 규제용 개구부 22: 웨이퍼
24: 칩 26: 확장 규제 링
26A: 확장 규제용 개구부 28: 웨이퍼
30: 칩 32: 확장 규제 링
32A: 확장 규제용 개구부 34: 돌출부
34A: 선단부 36: 확장 규제 링
36A: 확장 규제용 개구부 38: 돌출부
38A: 선단부 40: 확장 규제 링
40A: 확장 규제용 개구부 42: 확장 규제 링
42A: 확장 규제용 개구부 44: 롤러
1: wafer 2: wafer unit
3: Dicing tape 3A: central area
3B: annular portion area 3C: fixed portion area
3D: abutment part 3E: outer peripheral side area
3F: inner peripheral side area 3FA: inner peripheral side area
3FB: inner circumference side area 4: frame
4A: Back side 5: Line to be divided
6: chip 7: frame fixing member
8: Expanded ring 10A: Workpiece splitting device
10B: Work splitter 10C: Work splitter
10D: Work splitter 10E: Work splitter
10F: Work splitting device 12: Frame fixing part
14: Expand ring 14A: Expansion opening
16: extension regulating ring 16A: extension regulating opening
16B: Inner edge portion 17:
18: an extension regulating ring 18A: an extension regulating opening
18B: inner edge 20: extension regulating ring
20A: extension opening 22: wafer
24: chip 26: expansion regulating ring
26A: an opening for extension regulation 28:
30: chip 32: expansion regulating ring
32A: extension-regulating opening 34:
34A: leading end 36: extension regulating ring
36A: expansion regulating opening 38:
38A: tip portion 40: extension regulating ring
40A: an opening for extension regulation 42:
42A: expansion regulating opening 44: roller

Claims (8)

워크의 외경(外徑)보다 큰 내경(內徑)을 갖는 링 형상 프레임에 다이싱 테이프의 외주부(外周部)가 고정되고, 상기 다이싱 테이프에 첩부(貼付)된 상기 워크를 분할 예정 라인을 따라 개개의 칩으로 분할하는 워크 분할 장치에 있어서,
상기 다이싱 테이프에 있어서의 상기 워크의 첩부면과 반대측인 이면측에 배치되고, 상기 링 형상 프레임의 내경보다 작으며, 또한 상기 워크의 외경보다 큰 링 형상으로 형성되고, 상기 다이싱 테이프의 이면을 가압하여 상기 다이싱 테이프를 확장시키는 익스팬드 링과,
상기 다이싱 테이프에 있어서의 상기 워크의 첩부면과 동일측에 배치되고, 상기 링 형상 프레임의 내경보다 작으며, 또한 상기 익스팬드 링의 외경보다 큰 개구부를 갖는 링 형상으로 형성되고, 상기 익스팬드 링에 의한 상기 다이싱 테이프의 확장시에 상기 다이싱 테이프가 맞닿아지는 확장 규제 링을 구비하는 워크 분할 장치.
The outer peripheral portion of the dicing tape is fixed to the ring-shaped frame having an inner diameter larger than the outer diameter of the work, and the work pasted to the dicing tape is divided into a line to be divided In a workpiece dividing device for dividing into individual chips,
Shaped frame and is formed in a ring shape which is smaller than the inner diameter of the ring-shaped frame and is larger than the outer diameter of the workpiece, and the back surface of the dicing tape An expanding ring for pressing the dicing tape to expand the dicing tape,
Shaped frame and is formed in a ring shape having an opening larger than the inner diameter of the ring-shaped frame and larger than an outer diameter of the expanding ring, And an extension regulating ring to which the dicing tape is abutted when the dicing tape is extended by the ring.
제1항에 있어서,
상기 확장 규제 링은, 상기 익스팬드 링에 의한 상기 다이싱 테이프의 확장시에, 상기 다이싱 테이프에 맞닿는 테이프 위치 규제부를 갖고,
상기 테이프 위치 규제부는, 상기 링 형상 프레임의 상기 다이싱 테이프가 첩부된 테이프 첩부면과 동일면상, 또는 상기 동일면보다 상기 익스팬드 링이 배치되는 측에 배치되는 워크 분할 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the extension regulating ring has a tape position regulating portion abutting the dicing tape at the time of extending the dicing tape by the expanding ring,
Wherein the tape position restricting portion is disposed on the same plane as the tape attaching face to which the dicing tape of the ring-shaped frame is pasted or on the side where the expanding ring is disposed than the same face.
제2항에 있어서,
상기 확장 규제 링은, 상기 링 형상 프레임에 고정되는 프레임 고정부와, 상기 확장 규제 링의 상기 개구부의 주연부(周緣部)를 따라 상기 다이싱 테이프를 향하여 돌출한 돌출부를 구비하고,
상기 테이프 위치 규제부는, 상기 돌출부의 선단부에 의해 구성되는 워크 분할 장치.
3. The method of claim 2,
The extension regulating ring includes a frame fixing portion fixed to the ring-shaped frame and a protruding portion protruding toward the dicing tape along a periphery of the opening portion of the expansion regulating ring,
And the tape position restricting portion is constituted by a tip end portion of the projecting portion.
제1항에 있어서,
상기 확장 규제 링에는, 상기 다이싱 테이프에 있어서의 상기 워크의 첩부면과 동일측에 배치된 프레임 고정부로서, 상기 링 형상 프레임에 맞닿아 상기 링 형상 프레임을 고정하는 프레임 고정부가 구비되는 워크 분할 장치.
The method according to claim 1,
The extension regulating ring is provided with a frame fixing portion disposed on the same side as the attaching surface of the work on the dicing tape and having a frame fixing portion for fixing the ring- Device.
제1항에 있어서,
상기 확장 규제 링은, 상기 다이싱 테이프에 있어서의 상기 워크의 첩부면과 동일측에 배치된 프레임 고정 부재로서, 상기 확장 규제 링을 개재하여 상기 링 형상 프레임을 고정하는 프레임 고정 부재에 착탈 가능하게 고정되는 워크 분할 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the extension regulating ring is a frame fixing member disposed on the same side as the attaching surface of the work on the dicing tape and is detachably attached to the frame fixing member for fixing the ring- Fixed workpiece splitting device.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 확장 규제 링의 상기 개구부는 원형으로 형성되는 워크 분할 장치.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the opening of the extension restriction ring is formed in a circular shape.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 확장 규제 링의 상기 개구부는 타원형으로 형성되는 워크 분할 장치.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the opening of the expansion restriction ring is formed in an elliptical shape.
워크의 외경보다 큰 내경을 갖는 링 형상 프레임에 다이싱 테이프의 외주부가 고정되고, 상기 다이싱 테이프에 첩부된 상기 워크를 분할 예정 라인을 따라 개개의 칩으로 분할하는 워크 분할 방법에 있어서,
상기 다이싱 테이프를 가압하여 상기 다이싱 테이프를 확장함으로써 상기 다이싱 테이프에 장력(張力)을 발생시키는 확장 공정과,
상기 다이싱 테이프의 확장시에 상기 다이싱 테이프 중 외주측에 위치하는 외주측 영역의 확장을 규제하는 확장 규제 공정과,
상기 외주측 영역을 제외한 상기 다이싱 테이프의 확장을 계속해서 상기 워크를 개개의 칩으로 분할하는 분할 공정을 구비하는 워크 분할 방법.
A work dividing method for dividing a workpiece pasted on a dicing tape into individual chips along a line to be divided, the method comprising:
An expanding step of expanding the dicing tape by pressing the dicing tape to generate tension on the dicing tape;
An extension regulating step of regulating an extension of an outer peripheral side region located on an outer peripheral side of the dicing tape upon expansion of the dicing tape;
And dividing the work into individual chips by continuously expanding the dicing tape except for the outer peripheral side area.
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