KR20180052626A - 객체 식별 시스템 및 방법 - Google Patents

Abstract

객체 식별 시스템(400)은 유도 표면파를 생성하는 유도 표면 도파로 프로브(P)- 객체 식별 태그들(402)은 동작하기 위한 전력을 유도 표면파로부터 획득하고, 각각의 태그는 객체(404)와 연관됨 -; 및 태그들은 객체들의 평생(lifecycle) 동안 연관된 객체들과 함께 이동함에 따라, 태그들 중 하나 이상으로부터 복귀 신호들을 수신하기 위해 전략적 위치들에 설치되는 복수의 수신기를 포함한다.

Description

객체 식별 시스템 및 방법

관련 출원 데이터

본 출원은 2013년 3월 7일자로 출원되어 출원 번호 13/789,538을 배정받았고, 2014년 9월 11일자로 공개 번호 US2014/0252886 A1로서 공개되었으며, 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용되는, 발명의 명칭이 "Excitation and Use of Guided Surface Wave Modes on Lossy Media"인 공동 계류 중인 미국 정규 특허 출원에 관련되어 있다. 본 출원은 또한 2013년 3월 7일자로 출원되어 출원 번호 13/789,525를 배정받았고, 2014년 9월 11일자로 공개 번호 US2014/0252865 A1로서 공개되었으며, 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용되는, 발명의 명칭이 "Excitation and Use of Guided Surface Wave Modes on Lossy Media"인 공동 계류 중인 미국 정규 특허 출원에 관련되어 있다. 본 출원은 게다가 2014년 9월 10일자로 출원되어 출원 번호 14/483,089를 배정받았고, 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용되는, 발명의 명칭이 "Excitation and Use of Guided Surface Wave Modes on Lossy Media"인 공동 계류 중인 미국 정규 특허 출원에 관련되어 있다. 본 출원은 게다가 2015년 6월 2일자로 출원되어 출원 번호 14/728,507를 배정받았고, 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용되는, 발명의 명칭이 "Excitation and Use of Guided Surface Waves"인 공동 계류 중인 미국 정규 특허 출원에 관련되어 있다. 본 출원은 게다가 2015년 6월 2일자로 출원되어 출원 번호 14/728,492를 배정받았고, 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용되는, 발명의 명칭이 "Excitation and Use of Guided Surface Waves"인 공동 계류 중인 미국 정규 특허 출원에 관련되어 있다.

한 세기 이상 동안, 전파 신호(radio wave signal)들이 종래의 안테나 구조물들을 사용하여 전송되었다. 전파 공학과는 달리, 전력 분배는 전선들과 같은 전기 전도체들을 따라 전기 에너지를 유도(guide)하는 것에 의존해 왔다. RF(radio frequency)와 전력 전송 사이의 구분에 대한 이러한 이해는 1900년대 초 이래로 존재해 왔다.

그렇지만, RFID(radio frequency identification) 시스템은 태그들에 전력을 공급하기 위해 판독기 디바이스로부터 방출되는 RF 에너지를 사용해 왔다. 태그들은 판독기 디바이스에 의해 검출가능한 방출된 신호의 변화를 유발하기 위해 방출된 신호에 영향을 줄 수 있거나, 태그들은 판독기 디바이스에 의해 검출가능한 RF 신호를 전송할 수 있다. 전자의 경우에, 판독기는 태그가 판독기 디바이스의 동작가능 범위 내에 있다고 결정할 수 있을 것이다. 후자의 경우에, 판독기는 태그에 의해 출력된 신호로부터 태그를 일의적으로 식별해주는 코드를 추출할 수 있을 것이다. RFID 시스템들의 범위가 엄격하게 제한된다. 또한, 판독기 디바이스에 의해 방출된 RF 신호로부터 도출될 수 있는 소량의 사용가능 에너지로 인해 태그들의 능력들이 제한된다.

본 개시내용의 양태들이 이하의 도면들을 참조하면 보다 잘 이해된다. 도면들이 꼭 일정 축척으로 되어 있는 것은 아니며, 그 대신에 본 개시내용의 원리들을 명확하게 설명하는 것에 중점을 두고 있다. 더욱이, 도면들에서, 유사한 참조 번호들은 몇 개의 도면에 걸쳐 대응하는 부분들을 가리킨다.
도 1은 필드 강도(field strength)를 유도 전자기 필드(guided electromagnetic field) 및 방사 전자기 필드(radiated electromagnetic field)에 대한 거리의 함수로서 나타낸 차트.
도 2는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면파의 전송을 위해 이용되는 2개의 영역을 갖는 전파 계면을 예시한 도면.
도 3은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 2의 전파 계면에 대해 배치된 유도 표면 도파로 프로브를 예시한 도면.
도 4는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 1차 Hankel 함수들의 근위(close-in) 및 원위(far-out) 점근선들의 크기들의 일 예의 플롯.
도 5a 및 도 5b는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브에 의해 합성된 전기 필드의 복소 입사각을 예시한 도면.
도 6은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 5a의 전기 필드가 브루스터 각으로 손실형 전도성 매체(lossy conducting medium)와 교차하는 위치에 대한 충전 단자의 고도의 효과를 예시한 그래픽 표현.
도 7은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브의 일 예의 그래픽 표현.
도 8a 내지 도 8c는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 3 및 도 7의 유도 표면 도파로 프로브의 등가 이미지 평면 모델의 예들을 예시한 그래픽 표현.
도 9a 및 도 9b는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 8b 및 도 8c의 등가 이미지 평면 모델들의 단선 전송 라인 모델 및 고전적인 전송 라인 모델의 예들을 예시한 그래픽 표현.
도 10은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 손실형 전도성 매체의 표면을 따라 유도 표면파를 발진시키기 위해 도 3 및 도 7의 유도 표면 도파로 프로브를 조절하는 것의 일 예를 예시한 플로차트.
도 11은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 3 및 도 7의 유도 표면 도파로 프로브의 파 경사각(wave tilt angle)과 위상 지연 사이의 관계의 일 예를 예시한 플롯.
도 12는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브의 일 예를 예시한 도면.
도 13은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 Hankel 크로스오버 거리(Hankel crossover distance)에서 유도 표면 도파로 모드와 매칭하기 위해 합성 전기 필드가 복소 브루스터 각으로 입사하는 것을 예시한 그래픽 표현.
도 14는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 12의 유도 표면 도파로 프로브의 일 예의 그래픽 표현.
도 15a는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브의 충전 단자(T₁)의 위상 지연(Φ_U)의 허수부 및 실수부의 일 예의 플롯을 포함하는 도면.
도 15b는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 14의 유도 표면 도파로 프로브의 개략 다이어그램.
도 16은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브의 일 예를 예시한 도면.
도 17은 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 도 16의 유도 표면 도파로 프로브의 일 예의 그래픽 표현.
도 18a 내지 도 18c는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브에 의해 발진된 유도 표면파의 형태로 전송된 에너지를 수신하기 위해 이용될 수 있는 수신 구조물들의 예들을 도시한 도면.
도 18d는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 수신 구조물을 조절하는 것의 일 예를 예시한 플로차트.
도 19는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 유도 표면 도파로 프로브에 의해 발진된 유도 표면파의 형태로 전송된 에너지를 수신하기 위해 이용될 수 있는 부가의 수신 구조물의 일 예를 도시한 도면.
도 20a는 유도 표면파 도파로 프로브를 일반적으로 나타내는 심벌을 도시한 도면.
도 20b는 유도 표면파 수신 구조물을 일반적으로 나타내는 심벌을 도시한 도면.
도 20c는 선형 프로브 유형의 유도 표면파 수신 구조물을 일반적으로 나타내는 심벌을 도시한 도면.
도 20d는 튜닝형 공진기 유형의 유도 표면파 수신 구조물을 일반적으로 나타내는 심벌을 도시한 도면.
도 20e는 자기 코일 유형의 유도 표면파 수신 구조물을 일반적으로 나타내는 심벌을 도시한 도면.
도 21은 객체 식별 시스템의 일 실시예의 개략 예시도.
도 22는 객체 식별 시스템의 다른 실시예의 개략 예시도.
도 23은 객체 식별 시스템의 일부로서 사용되는 태그의 개략 예시도.
도 24는 이웃하는 사이트들에 설치(deploy)된 제1 및 제2 객체 식별 시스템들의 개략도.
도 25는 넓은 영역에 걸쳐 객체들을 식별하기 위해 설치된 객체 식별 시스템의 개략도.
도 26은 객체 식별 시스템의 일부로서 사용되는 컴퓨터 시스템 및 수신기의 개략 예시도.

1. 표면 유도 전송 라인 디바이스들 및 신호 생성

우선, 뒤따르는 개념들의 논의에서 명료성을 제공하기 위해 일부 용어가 확립되어야 한다. 먼저, 본원에서 고려되는 바와 같이, 방사 전자기 필드(radiated electromagnetic field)들과 유도 전자기 필드(guided electromagnetic field)들 사이의 공식적 구분이 이루어진다.

본원에서 고려되는 바와 같이, 방사 전자기 필드는 도파로에 속박되지 않은 파들의 형태로 소스 구조물로부터 방출되는 전자기 에너지를 포함한다. 예를 들어, 방사 전자기 필드는 일반적으로 안테나와 같은 전기 구조물을 벗어나 대기 또는 다른 매체를 통해 전파되고 어떠한 도파로 구조물에도 속박되지 않는 필드이다. 방사 전자기파들이 안테나와 같은 전기 구조물을 벗어나면, 이들은 소스가 계속 동작하는지 여부에 관계없이 이들이 소실(dissipate)될 때까지 이들의 소스와 독립적으로 (공기와 같은) 전파 매체 속에서 계속 전파된다. 전자기파들이 방사되면, 이들은, 인터셉트되지 않는 한, 회수될 수 없으며, 인터셉트되지 않으면, 방사 전자기파에 내재된 에너지가 영원히 손실된다. 안테나들과 같은 전기 구조물들은 구조물 손실 저항에 대한 방사 저항의 비를 최대화함으로써 전자기 필드들을 방사하도록 설계된다. 방사 에너지는 공간에서 확산되며 수신기가 존재하는지 여부에 관계없이 손실된다. 방사 필드들의 에너지 밀도는 기하학적 확산(geometric spreading)으로 인해 거리의 함수이다. 그에 따라, "방사"라는 용어는 그의 형태들 모두에서 본원에서 사용되는 바와 같이 이러한 형태의 전자기 전파(electromagnetic propagation)를 지칭한다.

유도 전자기 필드는 전파하는 전자기파로서, 그의 에너지는 상이한 전자기 특성들을 갖는 매체들 사이의 경계들 내에 또는 그 근방에 집중된다. 이러한 의미에서, 유도 전자기 필드는 도파로에 속박되는 전자기 필드이고, 도파로에 흐르는 전류에 의해 전달되는 것으로 특징지워질 수 있다. 유도 전자기파에서 전달되는 에너지를 수신 및/또는 소실시키는 어떠한 부하도 없다면, 유도 매체(guiding medium)의 전도율(conductivity)에서 소실되는 에너지를 제외하고는 어떠한 에너지도 손실되지 않는다. 달리 말하면, 유도 전자기파에 대한 어떠한 부하도 없다면, 어떠한 에너지도 소비되지 않는다. 따라서, 유도 전자기 필드를 생성하는 발생기 또는 다른 소스는, 저항성 부하가 존재하지 않는 한, 유효 전력(real power)을 전달하지 않는다. 이 때문에, 이러한 발생기 또는 다른 소스는 부하가 제공될 때까지 본질적으로 무부하로(idle) 작동한다. 이것은 어떠한 전기 부하도 없는 전력 라인들을 통해 전송되는 60 헤르츠 전자기파를 생성하기 위해 발생기를 작동시키는 것과 유사하다. 유도 전자기 필드 또는 유도 전자기파가 "전송 라인 모드(transmission line mode)"라고 지칭되는 것과 동등한 것임에 주목해야 한다. 이것은 방사파들을 생성하기 위해 항상 유효 전력이 공급되는 방사 전자기파들과 대조된다. 방사 전자기파들과는 달리, 유도 전자기 에너지는 에너지 소스가 턴 오프된 후에 유한 길이 도파로를 따라 계속 전파하지 않는다. 그에 따라, "유도(guide)"라는 용어는 그의 형태들 모두에서 본원에서 사용되는 바와 같이 전자기 전파의 이러한 전송 모드를 지칭한다.

이제 도 1을 참조하면, 방사 전자기 필드와 유도 전자기 필드 사이의 구분을 추가로 예시하기 위해 로그-dB 플롯 상에 킬로미터 단위의 거리의 함수로서, 임의적 기준으로부터 데시벨(dB)로 표시된, 미터 당 볼트 단위의 필드 강도의 그래프(100)가 도시되어 있다. 도 1의 그래프(100)는 유도 전자기 필드의 필드 강도를 거리의 함수로서 나타내는 유도 필드 강도 곡선(103)을 도시하고 있다. 이 유도 필드 강도 곡선(103)은 전송 라인 모드와 본질적으로 동일하다. 또한, 도 1의 그래프(100)는 방사 전자기 필드의 필드 강도를 거리의 함수로서 나타내는 방사 필드 강도 곡선(106)을 도시하고 있다.

유도파에 대한 곡선(103) 및 방사 전파에 대한 곡선(106)의 형상들이 관심 대상이다. 방사 필드 강도 곡선(106)은 기하학적으로 강하하고(1/d, 여기서 d는 거리임), 이것은 로그-로그 스케일에서 직선으로 나타내어진다. 다른 한편으로, 유도 필드 강도 곡선(103)은

의 특성 지수 감쇠(characteristic exponential decay)를 갖고 로그-로그 스케일에서 특유의 변곡부(knee)(109)를 나타낸다. 유도 필드 강도 곡선(103) 및 방사 필드 강도 곡선(106)은 교차 거리(crossing distance)에 있는 지점(112)에서 교차한다. 교차 지점(112)에서의 교차 거리보다 작은 거리들에서, 유도 전자기 필드의 필드 강도는 방사 전자기 필드의 필드 강도보다 대부분의 위치들에서 상당히 더 크다. 교차 거리보다 큰 거리들에서는, 그 반대이다. 따라서, 유도 필드 강도 곡선(103)과 방사 필드 강도 곡선(103 및 106)은 유도 전자기 필드와 방사 전자기 필드 간의 기본적인 전파 차이점을 추가로 예시하고 있다. 유도 전자기 필드와 방사 전자기 필드 간의 차이에 대한 비공식적 논의에 대해서는, [Milligan, T., Modern Antenna Design, McGraw-Hill, 1^st Edition, 1985, pp.8-9] - 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용됨 - 를 참조한다.

앞서 이루어진, 방사 전자기파와 유도 전자기파 사이의 구분은, 공식적으로 쉽게 표현되고 엄격한 기준에 기초한다. 2개의 이러한 다양한 해결책들이 하나의 동일한 선형 편미분 방정식인, 파동 방정식으로부터 나올 수 있다는 것은 문제에 부과되는 경계 조건들로부터 해석적으로 당연히 얻어진다. 파동 방정식 그 자체에 대한 그린 함수(Green function)는방사파와 유도파의 특성 사이의 구분을 포함한다.

빈 공간에서, 파동 방정식은 미분 연산자로서 그의 고유함수(eigenfunction)들은 복소 파수 평면(complex wave-number plane) 상에서 고유값(eigenvalue)들의 연속 스펙트럼을 갖는다. 이 TEM(transverse electro-magnetic) 필드는 방사 필드(radiation field)라고 불리며, 그 전파하는 필드(propagating field)들은 "헤르츠파(Hertzian wave)들"이라고 불린다. 그렇지만, 전도성 경계(conducting boundary)의 존재 시에, 파동 방정식과 경계 조건들은, 수학적으로, 이산 스펙트럼들의 합과 연속 스펙트럼으로 이루어진 파수들의 스펙트럼 표현으로 이어진다. 이를 위해, [Sommerfeld, A., "Uber die Ausbreitungder Wellen in der Drahtlosen Telegraphie," Annalen der Physik, Vol. 28, 1909, pp. 665-736]을 참조한다. 또한, 문헌 [Sommerfeld, A., "Problems of Radio," publishedas Chapter 6 in Partial Differential Equations in Physics - Lectures on Theoretical Physics: Volume VI, Academic Press, 1949, pp. 236-289, 295-296]; [Collin, R. E., "Hertzian Dipole Radiating Over a Lossy Earth or Sea: Some Early and Late 20th Century Controversies," IEEE Antennas and Propagation Magazine, Vol. 46, No. 2, April 2004, pp. 64-79]; 및 [Reich, H. J., Ordnung, P.F, Krauss, H.L., and Skalnik, J.G., Microwave Theory and Techniques, Van Nostrand, 1953, pp. 291 -293] - 이 참조문헌들 각각은 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용됨 - 을 참조한다.

"지상파(ground wave)" 및 "표면파(surfacewave)"라는 용어들은 2개의 뚜렷하게 상이한 물리적 전파 현상을 가리킨다. 표면파는, 해석적으로, 평면파 스펙트럼에 이산 성분(discrete component)을 산출하는 뚜렷한 극점(distinct pole)으로 인해 생긴다. 예컨대, 문헌 ["The Excitation of Plane SurfaceWaves" by Cullen, A.L., (Proceedings of the IEE (British), Vol. 101, Part IV, August1954, pp. 225-235)]를 참조한다. 이러한 맥락에서, 표면파는 유도 표면파(guided surface wave)인 것으로 간주된다. (Zenneck-Sommerfeld 유도파 의미에서의) 표면파는, 물리적으로 그리고 수학적으로, 이제 라디오 방송으로부터 친숙한 (Weyl-Norton-FCC 의미에서의) 지상파와 동일하지 않다. 이 2개의 전파 메커니즘은 복소 평면에서의 상이한 유형들의 고유값 스펙트럼들(연속체 또는 이산)의 여기(excitation)로부터 생긴다. 유도 표면파의 필드 강도는, 도 1의 곡선(103)에 의해 예시된 바와 같이, 거리에 따라 지수적으로 감쇠하고(손실형 도파로(lossy waveguide)에서의 전파와 거의 유사함), 구형으로 전파하는 지상파의 고전적인 헤르츠 방사와는 달리, 방사상 전송 라인(radial transmission line)에서의 전파와 유사하고, 고유값들의 연속체를 가지며, 도 1의 곡선(106)에 의해 예시된 바와 같이 기하학적으로 강하하고, 브랜치-컷 적분(branch-cut integral)들로부터 얻어진다. 문헌 ["The SurfaceWave in Radio Propagation over Plane Earth" (Proceedings of the IRE, Vol. 25, No. 2, February, 1937, pp. 219-229)] 및 ["The SurfaceWave in Radio Transmission" (Bell Laboratories Record, Vol. 15, June 1937, pp. 321 -324)]에서 C.R. Burrows에의해 실험적으로 입증된 바와 같이, 수직 안테나들이 지상파들은 방사하지만 유도 표면파들은 발진(launch)시키지 않는다.

상술한 바를 요약하면, 첫째, 브랜치 -컷 적분들에 대응하는, 파수 고유값 스펙트럼의 연속 부분은 방사 필드를 생성하고, 둘째, 적분 경로(contour of integration)에 의해 둘러싸인 극점들로부터 생기는 이산 스펙트럼들 및 대응하는 유수 합(residue sum)은 전파에 대해 횡방향으로 지수적으로 감쇠(damp)하는 비-TEM 진행 표면파(non-TEM traveling surfacewave)들을 초래한다. 이러한 표면파들은 유도 전송 라인 모드(guided transmission line mode)들이다. 추가 설명에 대해서는, [Friedman, B., Principles and Techniques of Applied Mathematics, Wiley, 1956, pp. pp. 214, 283-286, 290, 298-300]을 참조한다.

자유 공간에서, 안테나들은, E_Z와 H_Φ가 동위상(in-phase)인 외향으로 전파하는(outwardly propagating) RF 에너지가 영원히 손실되는 방사 필드인, 파동 방정식의 연속체 고유값들을 여기시킨다. 다른 한편으로, 도파로 프로브들은 이산 고유값들을 여기시키고, 이는 전송 라인 전파를 초래한다. 문헌 [Collin, R. E., Field Theory of GuidedWaves, McGraw-Hill, 1960, pp. 453, 474-477]을 참조한다. 이러한 이론적 분석들은 손실형 균질 매체(lossy, homogeneous media)의 평면형 또는 구형 표면들 위에 개방 표면 유도파(open surfaceguidedwave)들을 발진시키는 가설적 가능성을 제공하였지만, 한 세기 이상 동안, 임의의 실용적 효율로 이것을 달성하기 위한 공학 기술 분야들에서의 어떠한 공지된 구조물들도 존재하지 않았다. 불행하게도, 앞서 기재된 이론적 분석은, 1900년대 초에 출현한 이후로, 본질적으로 이론으로 남아 있었으며, 손실형 균질 매체의 평면형 또는 구형 표면들 위에 개방 표면 유도파들을 발진시키는 것을 실용적으로 달성하기 위한 어떠한 공지된 구조물들도 없었다.

본 개시내용의 다양한 실시예들에 따르면, 손실형 전도성 매체의 표면을 따라 유도 표면 도파로 모드에 결합되는 전기 필드들을 여기시키도록 구성되는 다양한 유도 표면 도파로 프로브들이 기술된다. 이러한 유도 전자기 필드들은 크기 및 위상이 손실형 전도성 매체의 표면 상의 유도 표면파 모드에 실질적으로 모드-매칭된다. 이러한 유도 표면파 모드는 Zenneck 도파로 모드라고도 지칭될 수 있다. 본원에 기술되는 유도 표면 도파로 프로브들에 의해 여기되는 결과적인 필드들이 손실형 전도성 매체의 표면 상에서의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭된다는 사실로 인해, 유도 표면파 형태의 유도 전자기 필드가 손실형 전도성 매체의 표면을 따라 발진된다. 일 실시예에 따르면, 손실형 전도성 매체는 지구와 같은 지상 매체(terrestrial medium)를 포함한다.

도 2를 참조하면, Jonathan Zenneck의 논문 [Zenneck, J., "On the Propagation of Plane Electromagnetic Waves Along a Flat Conducting Surfaceand their Relation to Wireless Telegraphy," Annalen der Physik, Serial 4, Vol. 23, September 20, 1907, pp. 846-866]에 기재된 바와 같이 Jonathan Zenneck에 의해 1907년에 도출(derive)된 Maxwell의 방정식들에 대한 경계값 해(boundary value solution)들에 대한 검토를 제공하는 전파 계면(propagation interface)이 도시되어 있다. 도 2는 영역 1로서 지정된 손실형 전도성 매체와 영역 2로서 지정된 절연체 사이의 계면을 따라 방사상으로 전파하는 파들에 대한 원통 좌표들을 도시하고 있다. 영역 1은, 예를 들어, 임의의 손실형 전도성 매체를 포함할 수 있다. 일 예에서, 이러한 손실형 전도성 매체는 지구 또는 다른 매체와 같은 지상 매체를 포함할 수 있다. 영역 2는 영역 1과 경계 계면을 공유하고 영역 1에 대해 상이한 구성 파라미터들을 갖는 제2 매체이다. 영역 2는, 예를 들어, 대기 또는 다른 매체와 같은 임의의 절연체를 포함할 수 있다. 이러한 경계 계면에 대한 반사 계수는 복소 브루스터 각(complex Brewster angle)으로의 입사에 대해서만 0이 된다. 문헌 [Stratton, J. A., Electromagnetic Theory, McGraw-Hill, 1941, p. 516]을 참조한다.

다양한 실시예들에 따르면, 본 개시내용은 영역 1을 포함하는 손실형 전도성 매체의 표면 상에서의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭되는 전자기 필드들을 생성하는 다양한 유도 표면 도파로 프로브들을 기재하고 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 이러한 전자기 필드들은 제로 반사(zero reflection)를 초래할 수 있는 손실형 전도성 매체의 복소 브루스터 각으로 입사하는 파면(wave front)을 실질적으로 합성한다.

추가로 설명하기 위해, e^jωt 필드 변동(field variation)이 가정되고

및 z≥0(원통 좌표들에서 z는 영역 1의 표면에 수직인 수직 좌표이고

는 반경방향 치수(radial dimension)임)인 영역 2에서, 계면을 따라 경계 조건들을 충족시키는 Maxwell의 방정식들의 Zenneck의 폐쇄형 엄밀해(closed-form exact solution)는 다음과 같은 전기 필드 및 자기 필드 성분들에 의해 표현된다:

[수학식 1]

[수학식 2]

[수학식 3]

e^jωt 필드 변동이 가정되고

및 z≤0인 영역 1에서, 계면을 따라 경계 조건들을 충족시키는 Maxwell의 방정식들의 Zenneck의 폐쇄형 엄밀해는 다음과 같은 전기 필드 및 자기 필드 성분들에 의해 표현된다:

[수학식 4]

[수학식 5]

[수학식 6]

이 표현식들에서, z는 영역 1의 표면에 수직인 수직 좌표이고,

는 반경방향 좌표(radial coordinate)이며,

는 제2종(second kind) n차(order n) 복소 편각 Hankel 함수(complex argument Hankel function)이고,u₁은 영역 1에서의 양의 수직(z) 방향의 전파 상수이며, u₂는 영역 2에서의 수직(z) 방향의 전파 상수이고, σ₁은 영역 1의 전도율이고, ω=2πf - 여기서, f는 여기 주파수임 - 이며, ε_o는 자유 공간의 유전율이고, ε₁은 영역 1의 유전율이며, A는 소스에 의해 부과되는 소스 상수이고,

는 표면파 방사상 전파 상수(surface wave radial propagation constant)이다.

±z 방향들에서의 전파 상수들은 영역 1과 영역 2 사이의 계면 위 및 아래에서 파동 방정식을 분리시키고 경계 조건들을 부과함으로써 결정된다. 이렇게 하는 것은, 영역 2에서, 수학식 7을 제공하고,

[수학식 7]

영역 1에서, 수학식 8을 제공한다.

[수학식 8]

방사상 전파 상수(

)는 수학식 9에 의해 주어지고,

[수학식 9]

이것은 n이 수학식 10에 의해 주어지는 복소 굴절률인 복소 표현식이다.

[수학식 10]

이상의 수학식들 모두에서,

[수학식 11]

이고,

[수학식 12]

이며, 여기서

은 영역 1의 상대 투자율을 포함하고,

은 영역 1의 전도율이며,

은 자유 공간의 투자율이고,

은 자유 공간의 투자율을 포함한다. 따라서, 생성된 표면파는 계면에 평행하게 전파하고, 그에 수직으로는 지수적으로 감쇠한다. 이것은 소실(evanescence)이라고 알려져 있다.

따라서, 수학식 1 내지 수학식 3은 원통-대칭이고 방사상으로 전파하는 도파로 모드(cylindrically-symmetric, radially-propagating waveguide mode)인 것으로 간주될 수 있다. 문헌 [Barlow, H. M., and Brown, J., Radio SurfaceWaves, Oxford University Press, 1962, pp. 10-12, 29-33]을 참조한다. 본 개시내용은 이러한 "개방 경계(open boundary)" 도파로 모드를 여기시키는 구조물들을 상술한다. 구체적으로는, 다양한 실시예들에 따르면, 유도 표면 도파로 프로브는, 전압 및/또는 전류를 공급받고 영역 2와 영역 1 사이의 경계 계면에 대해 위치되는, 적절한 크기의 충전 단자를 구비하고 있다. 이것은 도 3을 참조하여 보다 잘 이해될 수 있으며, 도 3은 손실형 전도성 매체(203)에 의해 제공되는 평면에 수직인 수직 축(z)을 따라 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)보다 위로 상승되어 있는 충전 단자(charge terminal)(T₁)를 포함하는 유도 표면 도파로 프로브(200a)의 일 예를 도시하고 있다. 손실형 전도성 매체(203)는 영역 1을 구성하고, 제2 매체(206)는 영역 2를 구성하며 손실형 전도성 매체(203)와 경계 계면을 공유한다.

일 실시예에 따르면, 손실형 전도성 매체(203)는 지구라는 행성과 같은 지상 매체를 포함할 수 있다. 이를 위해, 이러한 지상 매체는 자연적인 것이든 인공적인 것이든 간에 그 위에 포함된 모든 구조물들 또는 형태들을 포함한다. 예를 들어, 이러한 지상 매체는 바위, 토양, 모래, 담수, 해수, 나무들, 초목, 및 우리의 행성을 구성하는 모든 다른 자연적 요소들과 같은 자연적 요소들을 포함할 수 있다. 그에 부가하여, 이러한 지상 매체는 콘크리트, 아스팔트, 건축 재료들, 및 다른 인공 재료들과 같은 인공적 요소들을 포함할 수 있다. 다른 실시예들에서, 손실형 전도성 매체(203)는, 자연적으로 발생한 것이든 인공적인 것이든 간에, 지구 이외의 어떤 매체를 포함할 수 있다. 다른 실시예들에서, 손실형 전도성 매체(203)는, 자동차들, 항공기, 인공적 재료들(합판, 플라스틱 시트, 또는 다른 재료들 등) 또는 다른 매체들과 같은 인공적 표면들 및 구조물들과 같은 다른 매체들을 포함할 수 있다.

손실형 전도성 매체(203)가 지상 매체 또는 지구를 포함하는 경우에, 제2 매체(206)는 지면 위의 대기를 포함할 수 있다. 이와 같이, 대기는, 지구의 대기를 이루고 있는 공기 및 다른 요소들을 포함하는, "대기 매체(atmospheric medium)"라고 지칭될 수 있다. 그에 부가하여, 제2 매체(206)는 손실형 전도성 매체(203)에 대해 다른 매체들을 포함할 수 있다.

유도 표면 도파로 프로브(200a)는 여기 소스(212)를, 예컨대, 수직 공급 라인 전도체(vertical feed line conductor)를 거쳐 충전 단자(T₁)에 결합시키는 공급 네트워크(feed network)(209)를 포함한다. 다양한 실시예들에 따르면, 임의의 주어진 순간에 단자(T₁)에 인가되는 전압에 기초하여 전기 필드를 합성하기 위해 전하(Q₁)가 충전 단자(T₁) 상에 부여된다. 전기 필드(E)의 입사각(θ_i)에 따라, 영역 1을 포함하는 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상의 유도 표면 도파로 모드에 전기 필드를 실질적으로 모드-매칭시키는 것이 가능하다.

수학식 1 내지 수학식 6의 Zenneck 폐쇄형 해들을 고려함으로써, 영역 1과 영역 2 사이의 Leontovich 임피던스 경계 조건은 수학식 13으로서 서술될 수 있고,

[수학식 13]

여기서

는 양의 수직(+z) 방향에서의 단위 법선이고,

는 상기 수학식 1에 의해 표현된 영역 2에서의 자기 필드 강도이다. 수학식 13은 수학식 1 내지 수학식 3에 명시된 전기 및 자기 필드들이 경계 계면을 따라 방사상 표면 전류 밀도를 초래할 수 있다는 것을 암시하며, 여기서 방사상 표면 전류 밀도는 수학식 14에 의해 명시될 수 있고,

[수학식 14]

여기서 A는 상수이다. 게다가, 유도 표면 도파로 프로브(200a)에 대한 근위(close-in)에서(

에 대해), 상기 수학식 14는 수학식 15의 거동을 갖는다는 점에 주목해야 한다.

[수학식 15]

음의 부호는, 소스 전류(I_o)가 도 3에 예시된 바와 같이 수직 상향으로 흐를 때, "근위" 접지 전류가 방사상으로 내향으로 흐른다는 것을 의미한다. "근위"에서의 H_Φ에 관한 필드 매칭에 의해, 수학식 16이라고 결정될 수 있고,

[수학식 16]

여기서, 수학식 1 내지 수학식 6 및 수학식 14에서, q₁= C₁V₁이다. 따라서, 수학식 14의 방사상 표면 전류 밀도는 수학식 17로서 서술될 수 있다.

[수학식 17]

수학식 1 내지 수학식 6 및 수학식 17에 의해 표현되는 필드들은, 지상파 전파와 연관되어 있는 방사 필드들이 아닌, 손실형 계면에 속박된 전송 라인 모드의 특성을 갖는다. 문헌 [Barlow, H. M. and Brown, J., Radio SurfaceWaves, Oxford University Press, 1962, pp. 1-5]를 참조한다.

이 시점에서, 파동 방정식의 이 해들에 대해 수학식 1 내지 수학식 6 및 수학식 17에서 사용되는 Hankel 함수들의 특성의 고찰이 제공된다. 제1종 및 제2종 n차 Hankel 함수들이 제1종 및 제2종 표준 Bessel 함수들의 복소 조합들로서 정의된다는 것을 알 수 있다.

[수학식 18]

[수학식 19]

이 함수들은, 각각, 방사상으로 내향으로

그리고 외향으로

전파하는 원통형 파들을 나타낸다. 이 정의는 관계

와 유사하다. 예를 들어, 문헌 [Harrington, R. F., Time-Harmonic Fields, McGraw-Hill, 1961, pp. 460-463]을 참조한다.

가 유출파(outgoing wave)라는 것이 J_n(x) 및 N_n(x)의 급수 정의(series definition)들로부터 직접적으로 획득되는 그의 대각 점근 거동(large argument asymptotic behavior)으로부터 인식될 수 있다. 유도 표면 도파로 프로브로부터의 원위에서:

[수학식 20a]

이는 e^jωt와 곱해질 때,

공간 변동을 갖는 형태

의 외향으로 전파하는 원통형 파(outward propagating cylindrical wave)이다. 1차(n = 1) 해는 수학식 20a로부터 수학식 20b인 것으로 결정될 수 있다.

[수학식 20b]

유도 표면 도파로 프로브에 대한 근위에서(

에 대해), 제2종 1차 Hankel 함수는 수학식 21과 같이 거동한다.

[수학식 21]

이러한 점근식(asymptotic expression)들이 복소량(complex quantity)들이라는 점에 주목한다. x가 실수량(real quantity)일때, 수학식 20b와 수학식 21은

- 이는 45° 또는, 등가적으로, λ/8의 추가 위상 전진(extra phase advance) 또는 "위상 부스트(phase boost)"에 대응함 - 만큼 위상이 상이하다. 제2종 1차 Hankel 함수의 근위 및 원위 점근선들은, 이들이

= R_x의 거리에서 동일한 크기인, Hankel "크로스오버" 지점("crossover" point) 또는 전이 지점(transition point)을 갖는다.

따라서, Hankel 크로스오버 지점을 넘어서면, "원위" 표현이 Hankel 함수의 "근위" 표현보다 우세하다. Hankel 크로스오버 지점까지의 거리(또는 Hankel 크로스오버 거리(Hankel crossover distance))는

에 대해 수학식 20b와 수학식 21을 같다고 놓고 R_x에 대해 푸는 것에 의해 구해질 수 있다.

인 경우, 원위 및 근위 Hankel 함수 점근선들이 주파수 의존적이고, 주파수가 낮아짐에 따라 Hankel 크로스오버 지점이 밖으로 이동한다는 것을 알 수 있다. 손실형 전도성 매체의 전도율(σ)이 변화함에 따라 Hankel 함수 점근선들이 또한 변할 수 있다는 점에 또한 주목해야 한다. 예를 들어, 토양의 전도율이 기상 상태들의 변화들에 따라 변할 수 있다.

도 4를 참조하면, 1850 kHz의 동작 주파수에서,

의 상대 유전율 및 σ = 0.010 mhos/m의 전도율인 영역 1에 대하여 수학식 20b 및 수학식 21의 1차 Hankel 함수들의 크기들의 플롯의 일 예가 도시되어 있다. 곡선(115)은 수학식 20b의 원위 점근선의 크기이고, 곡선(118)은 수학식 21의 근위 점근선의 크기이며, Hankel 크로스오버 지점(121)은 R_x = 54 피트의 거리에서 발생한다. 크기들은 동일하지만, Hankel 크로스오버 지점(121)에서 2개의 점근선 사이에 위상 오프셋이 존재한다. Hankel 크로스오버 거리가 동작 주파수의 파장보다 훨씬 더 작다는 것을 또한 알 수 있다.

영역 2에서의 Zenneck 폐쇄형 해의 수학식 2 및 수학식 3에 의해 주어지는 전기 필드 성분들을 고려하면, E_z와 E_ρ의 비가 점근적으로 수학식 22로 되고,

[수학식 22]

여기서 n은 수학식 10의 복소 굴절률이고, θ_i는 전기 필드의 입사각이다. 그에 부가하여, 수학식 3의 모드-매칭된 전기 필드의 수직 성분이 점근적으로 수학식 23으로 되며,

[수학식 23]

수학식 23은 단자 전압에 있는 상승된 충전 단자의 정전용량의 고립 컴포넌트(isolated component) 상의 자유 전하, q_free = C_free × V_T에 선형적으로 비례한다.

예를 들어, 도 3에서의 상승된 충전 단자(T₁)의 높이(H₁)가 충전 단자(T₁) 상의 자유 전하의 양에 영향을 미친다. 충전 단자(T₁)가 영역 1의 접지 평면(ground plane) 근방에 있을 때, 단자 상의 전하(Q₁)의 대부분은 "속박된다(bound)". 충전 단자(T₁)가 상승됨에 따라, 충전 단자(T₁)가 고립 전하의 실질적으로 전부가 자유 상태로 되는 높이에 도달할 때까지 속박 전하가 줄어든다.

충전 단자(T₁)에 대한 용량성 고도(capacitive elevation)의 증가의 장점은 상승된 충전 단자(T₁) 상의 전하가 접지 평면으로부터 추가로 제거되어, 에너지를 유도 표면 도파로 모드에 결합시킬 자유 전하(q_free)의 양의 증가를 초래한다는 것이다. 충전 단자(T₁)가 접지 평면으로부터 멀리 이동됨에 따라, 전하 분포는 단자의 표면 주위에 보다 균일하게 분포되게 된다. 자유 전하의 양은 충전 단자(T₁)의 자기 정전용량(self-capacitance)에 관련되어 있다.

예를 들어, 구형 단자의 정전용량은 접지 평면으로부터의 물리적 높이의 함수로서 표현될 수 있다. 완전 접지면(perfect ground)으로부터 h의 물리적 높이에 있는 구체의 정전용량은 수학식 24에 의해 주어지고,

[수학식 24]

여기서 구체의 직경은

이고, 여기서

이며, h는 구형 단자의 높이이다. 알 수 있는 바와 같이, 단자 높이(h)의 증가는 충전 단자의 정전용량(C)을 감소시킨다. 직경의 약 4배

의 높이에 있는 충전 단자(T₁)의 고도들에 대해, 전하 분포가 구형 단자 주위에서 대략 균일하며, 이는 유도 표면 도파로 모드에의 결합을 향상시킬 수 있다는 것을 알 수 있다.

충분히 고립된 단자의 경우에, 전도성 구체의 자기 정전용량은

에 의해 근사화될 수 있고, 여기서,

는 미터 단위의 구체 반경이며, 디스크의 자기 정전용량은

에 의해 근사화될 수 있고, 여기서,

는 미터 단위의 디스크 반경이다. 충전 단자(T₁)는 구체, 디스크, 원통, 원추체, 원환체(torus), 후드(hood), 하나 이상의 링, 또는 임의의 다른 랜덤화된 형상이나 형상들의 조합과 같은 임의의 형상을 포함할 수 있다. 충전 단자(T₁)를 위치시키기 위해 등가 구체 직경(equivalent spherical diameter)이 결정되어 사용될 수 있다.

이것은 충전 단자(T₁)가 손실형 전도성 매체(203)로부터 h_p = H₁의 물리적 높이로 상승되어 있는 도 3의 예를 참조하여 추가로 이해될 수 있다. "속박(bound)" 전하의 효과들을 감소시키기 위해, 충전 단자(T₁)가 속박 전하 효과들을 감소시키도록 충전 단자(T₁)의 구체 직경(또는 등가 구체 직경)의 4배 이상인 물리적 높이에 위치될 수 있다.

다음에 도 5a를 참조하면, 도 3의 충전 단자(T₁) 상의 상승된 전하(Q₁)에 의해 생성된 전기 필드의 광선 광학 해석이 도시되어 있다. 광학에서와 같이, 입사 전기 필드의 반사를 최소화하는 것은 손실형 전도성 매체(203)의 유도 표면 도파로 모드에 결합되는 에너지를 향상 및/또는 최대화할 수 있다. 입사 평면(경계 계면이 아님)에 평행하게 편파(polarize)되는 전기 필드들(E_||)에 대하여, 입사 전기 필드의 반사의 양은 수학식 25로서 표현될 수 있는 Fresnel 반사 계수를 사용하여 결정될 수 있고,

[수학식 25]

여기서 θ_i는 표면 법선에 대해 측정된 통상의 입사각이다.

도 5a의 예에서, 광선 광학 해석은, 표면 법선

에 대해 측정되는, θ_i의 입사각을 갖는 입사 평면에 평행하게 편파되는 입사 필드를 보여준다.

일 때 입사 전기 필드의 어떠한 반사도 없을 것이며, 따라서 입사 전기 필드는 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 따라 유도 표면 도파로 모드에 완전히 결합될 것이다. 입사각이 수학식 26일 때 수학식 25의 분자가 0으로 된다는 것을 알 수 있고,

[수학식 26]

여기서

이다. 이 복소 입사각(θ_i,B)은 브루스터 각이라고 지칭된다. 수학식 22를 다시 참조하면, 동일한 복소 브루스터 각(θ_i,B) 관계가 수학식 22 및 수학식 26 둘 다에 존재한다는 것을 알 수 있다.

도 5a에 예시된 바와 같이, 전기 필드 벡터(E)는 입사 평면에 평행하게 편파된 유입 비균일 평면파(incoming non-uniform plane wave)로서 묘사될 수 있다. 전기 필드 벡터(E)는 수학식 27과 같이 독립적인 수평 및 수직 성분들로부터 생성될 수 있다.

[수학식 27]

기하학적으로, 도 5a에서의 예시는 전기 필드 벡터(E)가 수학식 28a 및 수학식 28b에 의해 주어질 수 있다는 것을 암시하고,

[수학식 28a]

[수학식 28b]

이는 필드 비가 수학식 29라는 것을 의미한다.

[수학식 29]

"파 경사(wave tilt)"라고 불리는 일반화된 파라미터(W)는 수학식 30a 및 수학식 30b에 의해 주어지는 수직 전기 필드 성분에 대한 수평 전기 필드 성분의 비로서 여기서 표기되고,

[수학식 30a]

또는

[수학식 30b]

이는 복소수이고 크기 및 위상 둘 다를 갖는다. 영역 2에서의 전자기파에 대하여, 파 경사각(wave tilt angle)(Ψ)은 영역 1과의 경계 계면에서의 파면의 법선과 이 경계 계면에 대한 접선 사이의 각도이다. 이것은 방사상 원통형 유도 표면파에 대해 전자기파의 등위상 표면들과 그들의 법선들을 예시하는 도 5b에서 보다 쉽게 알 수 있다. 완전 전도체와의 경계 계면(z = 0)에서, 파면 법선은 경계 계면의 접선에 평행하고, 그 결과 W = 0이 된다. 그렇지만, 손실형 유전체의 경우에, 파면 법선이 z = 0에서 경계 계면의 접선과 평행하지 않기 때문에 파 경사(W)가 존재한다.

유도 표면파에 수학식 30b를 적용하면 수학식 31이 주어진다.

[수학식 31]

복소 브루스터 각(θ_i,B)과 동일한 입사각에서, 수학식 25의 Fresnel 반사 계수가, 수학식 32에 의해 나타낸 바와 같이, 사라진다.

[수학식 32]

수학식 22의 복소 필드 비를 조절함으로써, 반사가 감소되거나 제거되는 복소 각도로 입사하도록 입사 필드가 합성될 수 있다. 이 비를

로 설정하면 복소 브루스터 각으로 입사하는 합성 전기 필드가 얻어지고, 반사들이 사라진다.

전기적 유효 높이(electrical effective height)의 개념은 유도 표면 도파로 프로브(200)에서 복소 입사각을 갖는 전기 필드를 합성하는 것에 대한 추가적 통찰을 제공할 수 있다. 전기적 유효 높이(h_eff)는 h_p의 물리적 높이(또는 길이)를 갖는 모노폴에 대해 수학식 33으로서 정의된다.

[수학식 33]

이 표현식이 구조물을 따라 소스 분포의 크기 및 위상에 의존하기 때문에, 유효 높이(또는 길이)는 일반적으로 복소수이다. 구조물의 분포 전류(distributed current) I(z)의 적분이 구조물의 물리적 높이(h_p)에 걸쳐 수행되고, 구조물의 베이스(base)(또는 입력)를 통해 상향으로 흐르는 접지 전류(I₀)에 대해 정규화된다. 구조물을 따라 있는 분포 전류는 수학식 34에 의해 표현될 수 있고,

[수학식 34]

여기서 β₀는 구조물 상에서 전파하는 전류에 대한 전파 인자(propagation factor)이다. 도 3의 예에서, I_C는 유도 표면 도파로 프로브(200a)의 수직 구조물을 따라 분포되는 전류이다.

예를 들어, 구조물의 저부에 저 손실 코일(예컨대, 나선형 코일)을 포함하는 공급 네트워크(209) 및 충전 단자(T₁)와 코일 사이에 연결되는 수직 공급 라인 전도체를 고려한다. 코일(또는 나선형 지연 라인)로 인한 위상 지연은, 물리적 길이가 I_C이고 전파 인자가 수학식 35인 경우,

이며,

[수학식 35]

여기서 V_f는 구조물 상의 속도 인자(velocity factor)이고, λ₀는 공급된 주파수에서의 파장이며, λ_p는 속도 인자 V_f로부터 얻어지는 전파 파장이다. 위상 지연은 접지 (말뚝(stake)) 전류(I₀)에 대해 측정된다.

그에 부가하여, 수직 공급 라인 전도체의 길이(l_w)를 따른 공간적 위상 지연(spatial phase delay)은 θ_y = β_wl_w에 의해 주어질 수 있고, 여기서 β_w는 수직 공급 라인 전도체에 대한 전파 위상 상수(propagation phase constant)이다. 일부 구현들에서, 공간적 위상 지연은 θ_y = β_wh_p에 의해 근사화되는데, 그 이유는 유도 표면 도파로 프로브(200a)의 물리적 높이(h_p)와 수직 공급 라인 전도체 길이(l_w) 사이의 차이가 공급된 주파수에서의 파장(λ₀)보다 훨씬 더 작기 때문이다. 그 결과, 코일 및 수직 공급 라인 전도체를 통한 총 위상 지연은 Φ = θ_c + θ_y이고, 물리적 구조물의 저부로부터 코일의 상단으로 공급되는 전류는 수학식 36이며,

[수학식 36]

총 위상 지연(Φ)은 접지 (말뚝) 전류(I₀)에 대해 측정된다. 결과적으로, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 전기적 유효 높이는 물리적 높이 h_p << λ₀인 경우에 대해 수학식 37에 의해 근사화될 수 있다.

[수학식 37]

Φ의 각도(또는 위상 시프트)에서의 모노폴의 복소 유효 높이(h_eff = h_p)가 소스 필드들을 유도 표면 도파로 모드에 매칭시키고 유도 표면파를 손실형 전도성 매체(203) 상에 발진시키도록 조절될 수 있다.

도 5a의 예에서, Hankel 크로스오버 거리(R_x)(121)에서 복소 브루스터 입사각(θ_i,B)을 갖는 입사 전기 필드(E)의 복소 각도 삼각법(complex angle trigonometry)을 예시하기 위해 광선 광학이 사용된다. 수학식 26으로부터, 손실형 전도성 매체에 대해, 브루스터 각이 복소수이고 수학식 38에 의해 명시된다는 것을 상기한다.

[수학식 38]

전기적으로, 기하학적 파라미터들은 수학식 39에 의해 충전 단자(T₁)의 전기적 유효 높이(h_eff)에 의해 관련되어 있고,

[수학식 39]

여기서, Ψ_i,B = (π/2) - θ_i,B는 손실형 전도성 매체의 표면으로부터 측정된 브루스터 각이다. 유도 표면 도파로 모드에 결합하기 위해, Hankel 크로스오버 거리에서의 전기 필드의 파 경사는 수학식 40과 같이 전기적 유효 높이와 Hankel 크로스오버 거리의 비로서 표현될 수 있다.

[수학식 40]

물리적 높이(h_p)와 Hankel 크로스오버 거리(R_x) 둘 다가 실수량들이기 때문에, Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서의 원하는 유도 표면파 경사각(Ψ)이 복소 유효 높이(h_eff)의 위상(Φ)과 동일하다. 이것은, 코일의 공급 지점에서의 위상, 그리고 따라서 수학식 37에서의 위상 시프트를 변화시킴으로써, 복소 유효 높이의 위상(Φ)이 Hankel 크로스오버 지점(121)에서의 유도 표면 도파로 모드의 파 경사각(Ψ)과 매칭하도록 조절될 수 있다는 것을 암시한다: Φ = Ψ.

도 5a에서, 손실형 전도성 매체 표면을 따라 있는 길이 R_x의 인접한 변, 및 충전 단자(T₁)의 중심과 R_x에 있는 Hankel 크로스오버 지점(121) 사이에서 연장하는 광선(124)과, 충전 단자(T₁)와 Hankel 크로스오버 지점(121) 사이의 손실형 전도성 매체 표면(127) 사이에서 측정되는 복소 브루스터 각(Ψ_i,B)을 갖는 직각 삼각형이 도시되어 있다. 충전 단자(T₁)가 물리적 높이(h_p)에 위치되고 적절한 위상 지연(Φ)을 갖는 전하로 여기된 경우, 결과적인 전기 필드는 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서 그리고 브루스터 각으로 손실형 전도성 매체 경계 계면에 입사한다. 이러한 조건들 하에서, 반사 없이 또는 실질적으로 무시할 만한 반사로 유도 표면 도파로 모드가 여기될 수 있다.

유효 높이(h_eff)의 위상 시프트(Φ)를 변화시키지 않으면서 충전 단자(T₁)의 물리적 높이가 감소되면, 결과적인 전기 필드는 유도 표면 도파로 프로브(200)로부터 감소된 거리에서 브루스터 각으로 손실형 전도성 매체(203)와 교차한다. 도 6은 전기 필드가 브루스터 각으로 입사하는 경우 거리에 대한 충전 단자(T₁)의 물리적 높이를 감소시키는 것의 효과를 그래픽으로 예시하고 있다. 이 높이가 h₃으로부터 h₂를 거쳐 h₁로 감소됨에 따라, 전기 필드가 손실형 전도성 매체(예컨대, 지구)와 브루스터 각으로 교차하는 지점이 충전 단자 위치에 보다 가깝게 이동한다. 그렇지만, 수학식 39가 나타내는 바와 같이, 충전 단자(T₁)의 높이(H₁)(도 3)는 Hankel 함수의 원위 성분(far-out component)을 여기시키기 위해 물리적 높이(h_p) 이상이어야만 한다. 충전 단자(T₁)가 유효 높이(h_eff)에 또는 그보다 위에 위치된 경우, 손실형 전도성 매체(203)가, 도 5a에 예시된 바와 같이, Hankel 크로스오버 거리(R_x)(121)에서 또는 그를 넘어서 브루스터 입사각(Ψ_i,B = (π/2) - θ_i,B)으로 조사(illuminate)될 수 있다. 충전 단자(T₁) 상의 속박 전하를 감소시키거나 최소화하기 위해, 그 높이가, 앞서 언급된 바와 같이, 충전 단자(T₁)의 구체 직경(또는 등가 구체 직경)의 4배 이상이어야만 한다.

유도 표면 도파로 프로브(200)는 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 복소 브루스터 각으로 조사하는 파에 대응하는 파 경사를 갖는 전기 필드를 확립함으로써, R_x에 있는 Hankel 크로스오버 지점(121)에서(또는 그를 넘어서) 유도 표면파 모드에 실질적으로 모드-매칭하는 것에 의해 방사상 표면 전류들을 여기시키도록 구성될 수 있다.

도 7을 참조하면, 충전 단자(T₁)를 포함하는 유도 표면 도파로 프로브(200b)의 일 예의 그래픽 표현이 도시되어 있다. AC 소스(212)는 충전 단자(T₁)에 대한 여기 소스로서 기능하고, 이는, 예컨대, 나선형 코일과 같은 코일(215)을 포함하는 공급 네트워크(209)(도 3)를 통해 유도 표면 도파로 프로브(200b)에 결합된다. 다른 구현들에서, AC 소스(212)는 1차 코일을 통해 코일(215)에 유도적으로 결합될 수 있다. 일부 실시예들에서, AC 소스(212)와 코일(215) 간의 결합을 향상시키고 그리고/또는 최대화하기 위해 임피던스 매칭 네트워크가 포함될 수 있다.

도 7에 도시된 바와 같이, 유도 표면 도파로 프로브(200b)는 손실형 전도성 매체(203)에 의해 제공되는 평면에 실질적으로 수직인 수직 축(z)을 따라 위치되는 상부 충전 단자(T₁)(예컨대, 높이(h_p)에 있는 구체)를 포함할 수 있다. 제2 매체(206)는 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 위치된다. 충전 단자(T₁)는 자기 정전용량(C_T)을 갖는다. 동작 동안, 임의의 주어진 순간에 단자(T₁)에 인가되는 전압에 의존하는 전하(Q₁)가 단자(T₁)에 부여된다.

도 7의 예에서, 코일(215)은 제1 단부에서 접지 말뚝(ground stake)(218)에 결합되고 수직 공급 라인 전도체(221)를 통해 충전 단자(T₁)에 결합된다. 일부 구현들에서, 도 7에 도시되는 바와 같이, 충전 단자(T₁)에의 코일 연결은 코일(215)의 탭(tap)(224)을 사용하여 조절될 수 있다. 코일(215)은 코일(215)의 하부 부분에 있는 탭(227)을 통해 AC 소스(212)에 의해 동작 주파수로 에너지를 공급받을 수 있다. 다른 구현들에서, AC 소스(212)는 1차 코일을 통해 코일(215)에 유도적으로 결합될 수 있다.

유도 표면 도파로 프로브(200)의 구성 및 조절은, 전송 주파수, 손실형 전도성 매체의 조건들(예컨대, 토양 전도율(σ) 및 상대 유전율(

)), 및 충전 단자(T₁)의 크기와 같은, 다양한 동작 조건들에 기초한다. 굴절률은 수학식 10 및 수학식 11로부터 수학식 41로서 계산될 수 있고,

[수학식 41]

여기서 x = σ/ωε_o이고 ω = 2πf이다. 전도율(σ) 및 상대 유전율(

)은 손실형 전도성 매체(203)의 테스트 측정들을 통해 결정될 수 있다. 표면 법선으로부터 측정된 복소 브루스터 각(θ_i,B)은 수학식 26으로부터 수학식 42로서 결정될 수 있거나,

[수학식 42]

도 5a에 도시되는 바와 같이 표면으로부터 수학식 43으로서 측정될 수 있다.

[수학식 43]

Hankel 크로스오버 거리에서의 파 경사(W_Rx)가 또한 수학식 40을 사용하여 구해질 수 있다.

도 4에 예시된 바와 같이 Hankel 크로스오버 거리가 또한

에 대하여 수학식 20b의 크기와 수학식 21의 크기를 같다고 놓고 R_x에 대해 푸는 것에 의해 구해질 수 있다. 전기적 유효 높이는 이어서 수학식 39로부터 Hankel 크로스오버 거리 및 복소 브루스터 각을 사용하여 수학식 44로서 결정될 수 있다.

[수학식 44]

수학식 44로부터 알 수 있는 바와 같이, 복소 유효 높이(h_eff)는 충전 단자(T₁)의 물리적 높이(h_p)와 연관되어 있는 크기 및 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서의 파 경사각(Ψ)과 연관될 위상 지연(Φ)을 포함한다. 이 변수들 및 선택된 충전 단자(T₁) 구성을 사용해, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 구성을 결정하는 것이 가능하다.

충전 단자(T₁)가 물리적 높이(h_p)에 또는 그보다 위에 위치된 경우, 공급 네트워크(209)(도 3) 및/또는 공급 네트워크를 충전 단자(T₁)에 연결시키는 수직 공급 라인은 충전 단자(T₁) 상의 전하(Q₁)의 위상(Φ)을 파 경사(W)의 각도(Ψ)에 매칭시키도록 조절될 수 있다. 충전 단자(T₁)의 크기는 단자들 상에 부여된 전하(Q₁)를 위한 충분히 큰 표면을 제공하도록 선택될 수 있다. 일반적으로, 충전 단자(T₁)를 실용적일 정도로 크게 만드는 것이 바람직하다. 충전 단자(T₁)의 크기는, 충전 단자 주변에 전기 방전 또는 스파크 발생(sparking)을 초래할 수 있는, 주변 공기의 이온화를 피할 정도로 충분히 커야 한다.

나선형으로 권취된 코일(helically-wound coil)의 위상 지연(θ_c)은 [Corum, K.L. and J.F. Corum, "RF Coils, Helical Resonators and Voltage Magnification by Coherent Spatial Modes," Microwave Review, Vol. 7, No. 2, September 2001, pp. 36-45.] - 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용됨 - 에 의해 논의된 바와 같이 Maxwell의 방정식들로부터 결정될 수 있다. H/D > 1인 나선형 코일의 경우, 광속(c)에 대한 코일의 종축을 따른 파의 전파 속도(v)의 비, 또는 "속도 인자"는 수학식 45에 의해 주어지고,

[수학식 45]

여기서, H는 솔레노이드 헬릭스(solenoidal helix)의 축방향 길이이고, D는 코일 직경이며, N은 코일의 턴 수(number of turns)이고,s = H/N은 코일의 턴간 간격(turn-to-turn spacing)(또는 헬릭스 피치(helix pitch))이고, λ_o는 자유 공간 파장이다. 이러한 관계에 기초하여, 나선형 코일의 전기적 길이 또는 위상 지연은 수학식 46에 의해 주어진다.

[수학식 46]

헬릭스가 나선형으로 권취되거나 짧고 뚱뚱한 경우 원리는 동일하지만, V_f 및 θ_c는 실험적 측정에 의해 획득하기가 보다 용이하다. 나선형 전송 라인의 특성 (파) 임피던스에 대한 표현식이 또한 수학식 47로서 도출되었다.

[수학식 47]

구조물의 공간적 위상 지연(θ_y)은 수직 공급 라인 전도체(221)(도 7)의 진행파 위상 지연을 사용하여 결정될 수 있다. 완전 접지 평면(perfect ground plane)보다 위에 있는 원통형 수직 전도체의 정전용량은 수학식 48로서 표현될 수 있고,

[수학식 48]

여기서 h_w는 전도체의 수직 길이(또는 높이)이고,

는 반경이다(mks 단위로 되어 있음). 나선형 코일에서와 같이, 수직 공급 라인 전도체의 진행파 위상 지연은 수학식 49에 의해 주어질 수 있고,

[수학식 49]

여기서 β_w는 수직 공급 라인 전도체에 대한 전파 위상 상수이고, h_w는 수직 공급 라인 전도체의 수직 길이(또는 높이)이며, V_w는 전선(wire) 상에서의 속도 인자이고, λ₀는 공급 주파수에서의 파장이며, λ_w는 속도 인자(V_w)로부터 초래되는 전파 파장이다. 균일 원통형 전도체(uniform cylindrical conductor)에 대하여, 속도 인자는 V_w

0.94인 상수이거나, 약 0.93 내지 약 0.98의 범위에 있다. 마스트(mast)가 균일 전송 라인(uniform transmission line)인 것으로 간주되는 경우, 그의 평균 특성 임피던스는 수학식 50에 의해 근사화될 수 있고,

[수학식 50]

여기서 균일 원통형 전도체에 대하여 V_w

0.94이고,

는 전도체의 반경이다. 단선 공급 라인(single-wire feed line)의 특성 임피던스에 대해 아마추어 무선 문헌에서 이용되어 온 대안의 표현식은 수학식 51에 의해 주어진다.

[수학식 51]

수학식 51은 단선 피더(single-wire feeder)에 대한 Z_w가 주파수에 따라 변한다는 것을 암시한다. 위상 지연은 정전용량 및 특성 임피던스에 기초하여 결정될 수 있다.

도 3에 도시되는 바와 같이 충전 단자(T₁)가 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 위치된 경우, 복소 유효 높이(h_eff)의 위상 시프트(Φ)가 Hankel 크로스오버 거리에서의 파 경사각(Ψ)과 동일한 경우 또는 Φ = Ψ인 경우 충전 단자(T₁)를 여기시키도록 공급 네트워크(209)가 조절될 수 있다. 이 조건이 충족될 때, 충전 단자(T₁) 상의 진동하는 전하(Q₁)에 의해 생성되는 전기 필드는 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 따라 진행하는 유도 표면 도파로 모드에 결합된다. 예를 들어, 브루스터 각(θ_i,B), 수직 공급 라인 전도체(221)(도 7)와 연관된 위상 지연(θ_y), 및 코일(215)(도 7)의 구성이 알려져 있는 경우, 탭(224)(도 7)의 위치는 위상 Φ = Ψ인 경우 충전 단자(T₁) 상의 진동 전하(oscillating charge)(Q₁)를 부여하도록 결정 및 조절될 수 있다. 탭(224)의 위치는 진행 표면파들을 유도 표면 도파로 모드에 결합시키는 것을 최대화하도록 조절될 수 있다. 용량성 효과(capacitive effect)들을 감소시키기 위해 탭(224)의 위치를 넘어선 잉여 코일 길이가 제거될 수 있다. 수직 전선 높이 및/또는 나선형 코일의 기하학적 파라미터들이 또한 변화될 수 있다.

충전 단자(T₁) 상의 전하(Q₁)와 연관된 복소 이미지 평면(complex image plane)과 관련하여 정재파 공진(standing wave resonance)을 하도록 유도 표면 도파로 프로브(200)를 튜닝함으로써 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상의 유도 표면 도파로 모드에의 결합이 향상 및/또는 최적화될 수 있다. 이렇게 함으로써, 충전 단자(T₁) 상의 증가된 및/또는 최대 전압(그리고 따라서 전하(Q₁))을 위해 유도 표면 도파로 프로브(200)의 성능이 조절될 수 있다. 도 3을 다시 참조하면, 영역 1에서의 손실형 전도성 매체(203)의 효과가 이미지 이론 분석을 사용하여 검사될 수 있다.

물리적으로는, 완전 전도성 평면(perfectly conducting plane) 위쪽에 배치되는 상승된 전하(Q₁)가 완전 전도성 평면 상의 자유 전하를 끌어당기고, 자유 전하가 이어서 상승된 전하(Q₁) 아래의 영역에 "축적된다(pile up)". 완전 전도성 평면 상의 "속박" 전기("bound" electricity)의 결과적인 분포는 종형 곡선(bell-shaped curve)과 유사하다. 상승된 전하(Q₁)의 전위와 그 아래에 있는 유도 "축적" 전하(induced "piled up" charge)의 전위의 중첩(superposition)은 완전 전도성 평면에 대한 제로 등전위면(zero equipotential surface)을 강제로 생기게 한다. 완전 전도성 평면 위쪽에 있는 영역에서의 필드들을 기술하는 경계값 문제 해는, 상승된 전하로부터의 필드가 완전 전도성 평면 아래에 있는 대응하는 "이미지" 전하로부터의 필드와 중첩되는, 이미지 전하(image charge)들의 고전적 개념을 사용하여 획득될 수 있다.

유도 표면 도파로 프로브(200) 아래에 유효 이미지 전하(effective image charge)(Q₁')가 존재한다고 가정하는 것에 의해 손실형 전도성 매체(203)와 관련하여 이 분석이 또한 사용될 수 있다. 도 3에 예시된 바와 같이, 유효 이미지 전하(Q₁')가 전도성 이미지 접지 평면(conducting image ground plane)(130)을 기준으로 충전 단자(T₁) 상의 전하(Q₁)와 동시에 나타난다(coincide). 그렇지만, 이미지 전하(Q₁')가, 완전 전도체의 경우에 그러한 것처럼, 어떤 실수 깊이(real depth)에서 충전 단자(T₁) 상의 1차 소스 전하(Q₁)와 180° 위상이 어긋나게 위치되는 것만은 아니다. 오히려, 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지상 매체)는 위상 시프트된 이미지를 제공한다. 즉, 이미지 전하(Q₁')가 손실형 전도성 매체(203)의 표면(또는 물리적 경계) 아래로 복소 깊이(complex depth)에 있다. 복소 이미지 깊이에 대한 논의에 대해서는, [Wait, J. R., "Complex Image Theory-Revisited," IEEE Antennas and Propagation Magazine, Vol. 33, No. 4, August1991, pp. 27-29] - 참조에 의해 그 전체가 본원에 원용됨 - 를 참조한다.

이미지 전하(Q₁')가 전하(Q₁)의 물리적 높이(H₁)와 동일한 깊이에 있지 않고, 전도성 이미지 접지 평면(130)(완전 전도체를 나타냄)이 z = -d/2의 복소 깊이에 위치되고, 이미지 전하(Q₁')는, -D₁ = -(d/2 + d/2 + H₁)≠ H₁에 의해 주어지는, 복소 깊이(즉, "깊이"가 크기 및 위상 둘 다를 가짐)에 나타난다. 지구 위쪽에 있는 수직 편파 소스(vertically polarized source)들에 대하여,

[수학식 52]

이고, 여기서

[수학식 53]

이고

수학식 12에 나타낸 바와 같이

[수학식 54]

이다.

이미지 전하의 복소 간격은, 차례로, 외부 필드들이 계면이 유전체 또는 완전 전도체 중 어느 하나일 때는 직면하지 않는 추가 위상 시프트(extra phase shift)들을 경험할 것임을 암시한다. 손실형 전도성 매체에서, 파면 법선이 z = - d/2에서는 전도성 이미지 접지 평면(130)의 접선에 평행하고 영역 1과 영역 2 사이의 경계 계면에서는 그렇지 않다.

손실형 전도성 매체(203)가 물리적 경계(136)를 갖는 유한 전도성 지구(finitely conducting Earth)(133)인 도 8a에 예시된 경우를 고려한다. 유한 전도성 지구(133)는, 도 8b에 도시된 바와 같이, 물리적 경계(136) 아래로 복소 깊이(z₁)에 위치되는 완전 전도성 이미지 접지 평면(139)으로 대체될 수 있다. 이러한 등가 표현은 물리적 경계(136)에 있는 계면 안쪽으로 내려다볼 때 동일한 임피던스를 나타낸다. 도 8b의 등가 표현이, 도 8c에 도시되는 바와 같이, 등가 전송 라인으로서 모델링될 수 있다. 등가 구조물의 단면은 (z-방향의(z-directed)) 종단 부하를 갖는 전송 라인(end-loaded transmission line)으로서 표현되고, 완전 전도성 이미지 평면의 임피던스는 단락 회로(z_s = 0)이다. 깊이(z₁)는 지구를 내려다볼 때의 TEM 파 임피던스를 도 8c의 전송 라인을 들여다볼 때 보이는 이미지 접지 평면 임피던스(z_in)와 같다고 놓음으로써 결정될 수 있다.

도 8a의 경우에, 상부 영역(공기)(142)에서의 전파 상수 및 파 고유 임피던스(wave intrinsic impedance)는 수학식 55 및 수학식 56이다.

[수학식 55]

[수학식 56]

손실형 지구(133)에서, 전파 상수 및 파 고유 임피던스는 수학식 57 및 수학식 58이다.

[수학식 57]

[수학식 58]

수직 입사에 대해, 도 8b의 등가 표현은 TEM 전송 라인 - 그의 특성 임피던스는

₀의 전파 상수를 갖는 공기의 특성 임피던스(z₀)이고 그의 길이는 z₁임 - 과 등가이다. 이에 따라, 도 8c의 단락된 전송 라인에 대한 계면에서 보이는 이미지 접지 평면 임피던스(Z_in)는 수학식 59에 의해 주어진다.

[수학식 59]

도 8c의 등가 모델과 연관된 이미지 접지 평면 임피던스(Z_in)를 도 8a의 수직 입사 파 임피던스와 같다고 놓고, z₁에 대해 풀면 단락 회로(완전 전도성 이미지 접지 평면(139))까지의 거리가 수학식 60으로서 주어진다.

[수학식 60]

이 근사화를 위해 역 쌍곡선 탄젠트(inverse hyperbolic tangent)에 대한 급수 전개의 첫 번째 항만이 고려된다. 공기 영역(142)에서, 전파 상수가

이고, 따라서,

(실수 z₁에 대한 순 허수량(purely imaginary quantity)임)이지만,σ ≠ 0인 경우 z_e가 복소 값이라는 점에 주목한다. 따라서, z₁이 복소 거리일 때에만 Z_in = Z_e이다.

도 8b의 등가 표현이 완전 전도성 이미지 접지 평면(139)을 포함하기 때문에, 지구의 표면(물리적 경계(136))에 놓인 전하 또는 전류에 대한 이미지 깊이는 이미지 접지 평면(139)의 반대 쪽 측면(other side)에서의 거리(z₁)와 동일하거나 지구의 표면(z = 0에 위치됨) 아래로 d = 2 × z₁이다. 따라서, 완전 전도성 이미지 접지 평면(139)까지의 거리는 수학식 61에 의해 근사화될 수 있다.

[수학식 61]

그에 부가하여, "이미지 전하"는 실제 전하(real charge)와 "동일하고 그와 반대쪽에 있으며", 따라서 깊이 z₁ = - d/2에 있는 완전 전도성 이미지 접지 평면(139)의 전위는 0일 것이다.

도 3에 예시된 바와 같이 전하(Q₁)가 지구의 표면으로부터 거리(H₁)만큼 상승되어 있는 경우, 이미지 전하(Q₁')는 그 표면 아래로 D₁ = d + H₁의 복소 거리에, 또는 이미지 접지 평면(130) 아래로 d/2 + H₁의 복소 거리에 존재한다. 도 7의 유도 표면 도파로 프로브(200b)는 도 8b의 완전 전도성 이미지 접지 평면(139)에 기초할 수 있는 등가 단선 전송 라인 이미지 평면 모델로서 모델링될 수 있다. 도 9a는 등가 단선 전송 라인 이미지 평면 모델의 일 예를 도시하고 있으며, 도 9b는, 도 8c의 단락된 전송 라인을 포함하는, 고전적 등가 전송 라인 모델의 일 예를 도시하고 있다.

도 9a 및 도 9b의 등가 이미지 평면 모델들에서, Φ = θ_y + θ_c는 지구(133)(또는 손실형 전도성 매체(203))를 기준으로 한 유도 표면 도파로 프로브(200)의 진행파 위상 지연이고, θ_c = β_pH는, 도 단위로 표현되는, 물리적 길이(H)의 코일(215)(도 7)의 전기적 길이이며, θ_y = β_wh_w는, 도 단위로 표현되는, 물리적 길이(h_w)의 수직 공급 라인 전도체(221)(도 7)의 전기적 길이이고, θ_d = β_o d/2는 이미지 접지 평면(139)과 지구(133)(또는 손실형 전도성 매체(203))의 물리적 경계(136) 사이의 위상 시프트이다. 도 9a 및 도 9b의 예에서, Z_w는 옴 단위의 상승된 수직 공급 라인 전도체(221)의 특성 임피던스이고, Z_c는 옴 단위의 코일(215)의 특성 임피던스이며, Z_o는 자유 공간의 특성 임피던스이다.

유도 표면 도파로 프로브(200)의 베이스에서, 구조물 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는

이다. 부하 임피던스가 수학식 62:

[수학식 62]

- C_T는 충전 단자(T₁)의 자기 정전용량임 - 인 경우, 수직 공급 라인 전도체(221)(도 7) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 63에 의해 주어지고:

[수학식 63]

코일(215)(도 7) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 64에 의해 주어진다:

[수학식 64]

유도 표면 도파로 프로브(200)의 베이스에서, 손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때" 보이는 임피던스는, 수학식 65에 의해 주어지는,

이고:

[수학식 65]

여기서 Z_s = 0이다.

손실들을 무시하면, 등가 이미지 평면 모델은 물리적 경계(136)에서

일 때 공진으로 튜닝될 수 있다. 또는, 저 손실의 경우에, 물리적 경계(136)에서

이고, 여기서 X는 대응하는 무효 성분(reactive component)이다. 따라서, 유도 표면 도파로 프로브(200) 안쪽으로 "올려다볼 때의" 물리적 경계(136)에서의 임피던스는 손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때의" 물리적 경계(136)에서의 임피던스의 켤레(conjugate)이다. Φ = Ψ - 이는 프로브의 전기 필드를 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)의 표면을 따른 유도 표면 도파로 모드에 결합시키는 것을 향상 및/또는 최대화함 - 이도록, 진행파 위상 지연(Φ)을 매체의 파 경사각(Ψ)과 동일하게 유지하면서 충전 단자(T₁)의 부하 임피던스(Z_L)를 조절하는 것에 의해, 도 9a 및 도 9b의 등가 이미지 평면 모델이 이미지 접지 평면(139)과 관련하여 공진으로 튜닝될 수 있다. 이러한 방식으로, 등가 복소 이미지 평면 모델의 임피던스는 순수 저항성(purely resistive)이고, 이는, 단자(T₁) 상의 전압 및 상승된 전하를 최대화하고 수학식 1 내지 수학식 3 및 수학식 16에 의해 전파하는 표면파를 최대화하는, 프로브 구조물 상의 중첩 정재파를 유지한다.

Hankel 해(Hankel solution)들로부터, 유도 표면 도파로 프로브(200)에 의해 여기된 유도 표면파가 외향으로 전파하는 진행파라는 것을 알 수 있다. 유도 표면 도파로 프로브(200)(도 3 및 도 7)의 접지 말뚝(218)과 충전 단자(T₁) 사이의 공급 네트워크(209)를 따른 소스 분포는 실제로는 구조물 상의 정재파와 진행파의 중첩으로 이루어져 있다. 충전 단자(T₁)가 물리적 높이(h_p)에 또는 그보다 위쪽에 위치된 경우, 공급 네트워크(209)를 통해 이동하는 진행파의 위상 지연은 손실형 전도성 매체(203)와 연관된 파 경사각에 매칭된다. 이러한 모드-매칭은 진행파가 손실형 전도성 매체(203)를 따라 발진될 수 있게 한다. 진행파에 대한 위상 지연이 확립되면, 프로브 구조물을 - d/2의 복소 깊이에 있는 이미지 접지 평면(도 3의 130 또는 도 8의 139)과 관련하여 정재파 공진 상태에 들어가게 하기 위해 충전 단자(T₁)의 부하 임피던스(Z_L)가 조절된다. 그 경우에, 이미지 접지 평면으로부터 보이는 임피던스는 제로 리액턴스(zero reactance)를 갖고, 충전 단자(T₁) 상의 전하가 최대화된다.

진행파 현상과 정재파 현상 사이의 차이점은 (1) 길이(d)의 전송 라인의 섹션(때때로 "지연 라인"이라고 불림) 상의 진행파들의 위상 지연(θ = βd)이 전파 시간 지연들에 기인하는 반면; (2) 정재파들(순방향으로 전파하는 파(forward propagating wave)와 역방향으로 전파하는 파(backward propagating wave)로 이루어짐)의 위치 의존적 위상이 상이한 특성 임피던스들의 라인 섹션들 사이의 계면들에서의 임피던스 전이(impedance transition)들 및 라인 길이 전파 시간 지연 둘 다에 의존한다는 것이다. 사인파 정상 상태(sinusoidal steady-state)에서 동작하는 전송 라인의 섹션의 물리적 길이에 기인하여 발생하는 위상 지연에 부가하여, Z_oa/Z_ob의 비에 기인하는 임피던스 불연속들에서의 추가 반사 계수 위상이 있고, 여기서 Z_oa 및 Z_ob는, 예컨대, 특성 임피던스 Z_oa = Z_c의 나선형 코일 섹션(도 9b) 및 특성 임피던스 Z_ob = Z_w의 수직 공급 라인 전도체의 직선 섹션(도 9b)과 같은 전송 라인의 2개의 섹션의 특성 임피던스들이다.

이러한 현상의 결과로서, 크게 상이한 특성 임피던스의 2개의 비교적 짧은 전송 라인 섹션이 매우 큰 위상 시프트를 제공하는 데 사용될 수 있다. 예를 들어, 0.25 λ 공진과 등가인 90°의 위상 시프트를 제공하기 위해, 모두 합하여, 말하자면, 0.05 λ의 물리적 길이를 갖는 전송 라인의 2개의 섹션 - 하나는 저 임피던스이고 하나는 고 임피던스임 - 으로 이루어진 프로브 구조물이 제조될 수 있다. 이것은 특성 임피던스들의 큰 폭의 급등으로 인한 것이다. 이러한 방식으로, 물리적으로 짧은 프로브 구조물이 전기적으로는 조합된 2개의 물리적 길이들보다 더 길 수 있다. 이것이 도 9a 및 도 9b에 예시되어 있으며, 여기서 임피던스 비들의 불연속들은 위상의 큰 폭의 급등들을 제공한다. 섹션들이 서로 조인(join)되는 곳에서 임피던스 불연속은 실질적인 위상 시프트를 제공한다.

도 10을 참조하면, 유도 표면 도파로 프로브(200)(도 3 및 도 7)를 손실형 전도성 매체의 표면 상의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭되도록 - 이는 손실형 전도성 매체(203)(도 3)의 표면을 따라 유도 표면 진행파를 발진시킴 - 조절하는 것의 일 예를 예시하는 플로차트(150)가 도시되어 있다. 153에서 시작하여, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 충전 단자(T₁)는 손실형 전도성 매체(203)로부터 정의된 높이에 위치된다. 손실형 전도성 매체(203)의 특성들 및 유도 표면 도파로 프로브(200)의 동작 주파수를 이용하여, Hankel 크로스오버 거리가 또한 도 4에 도시되는 바와 같이

에 대하여 수학식 20b와 수학식 21의 크기들을 같다고 놓고 R_x에 대해 푸는 것에 의해 구해질 수 있다. 복소 굴절률(n)이 수학식 41을 사용하여 결정될 수 있고, 복소 브루스터 각(θ_i,B)이 이어서 수학식 42로부터 결정될 수 있다. 충전 단자(T₁)의 물리적 높이(h_p)가 이어서 수학식 44로부터 결정될 수 있다. 충전 단자(T₁)는 Hankel 함수의 원위 성분을 여기시키기 위해 물리적 높이(h_p)에 또는 그보다 더 높게 있어야만 한다. 이러한 높이 관계는 초기에 표면파들을 발진시킬 때 고려된다. 충전 단자(T₁) 상의 속박 전하를 감소시키거나 최소화하기 위해, 그 높이가 충전 단자(T₁)의 구체 직경(또는 등가 구체 직경)의 4배 이상이어야만 한다.

156에서, 충전 단자(T₁) 상의 상승된 전하(Q₁)의 전기적 위상 지연(Φ)이 복소 파 경사각(Ψ)에 매칭된다. Φ를 파 경사(W)의 각도(Ψ)와 동일하도록 하기 위해 나선형 코일의 위상 지연(θ_c) 및/또는 수직 공급 라인 전도체의 위상 지연(θ_y)이 조절될 수 있다. 수학식 31에 기초하여, 파 경사각(Ψ)이 수학식 66으로부터 결정될 수 있다:

[수학식 66]

전기적 위상(Φ)이 이어서 파 경사각에 매칭될 수 있다. 이 각도(또는 위상) 관계가 다음에 표면파들을 발진시킬 때 고려된다. 예를 들어, 전기적 위상 지연(Φ = θ_c + θ_y)은 코일(215)(도 7)의 기하학적 파라미터들 및/또는 수직 공급 라인 전도체(221)(도 7)의 길이(또는 높이)를 변화시키는 것에 의해 조절될 수 있다. Φ = Ψ를 매칭시키는 것에 의해, 표면 도파로 모드를 여기시키고 손실형 전도성 매체(203)를 따라 진행파를 발진시키기 위해 경계 계면에서 복소 브루스터 각으로 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서 또는 그를 넘어서 전기 필드들이 확립될 수 있다.

다음에 159에서, 충전 단자(T₁)의 부하 임피던스가 유도 표면 도파로 프로브(200)의 등가 이미지 평면 모델을 공진시키도록 튜닝된다. 도 9a 및 도 9b의 전도성 이미지 접지 평면(139)(또는 도 3의 130)의 깊이(d/2)는 수학식 52, 수학식 53 및 수학식 54 그리고, 측정될 수 있는, 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)의 값들을 사용하여 결정될 수 있다. 그 깊이를 사용하여, 손실형 전도성 매체(203)의 물리적 경계(136)와 이미지 접지 평면(139) 사이의 위상 시프트(θ_d)는 θ_d = β₀ d/2를 사용하여 결정될 수 있다. 손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때" 보이는 임피던스(Z_in)가 이어서 수학식 65를 사용하여 결정될 수 있다. 발진된 표면파들을 최대화하기 위해 이러한 공진 관계가 고려될 수 있다.

코일(215)의 조절된 파라미터들 및 수직 공급 라인 전도체(221)의 길이에 기초하여, 코일(215) 및 수직 공급 라인 전도체(221)의 속도 인자, 위상 지연, 및 임피던스가 수학식 45 내지 수학식 51을 사용하여 결정될 수 있다. 그에 부가하여, 충전 단자(T₁)의 자기 정전용량(C_T)이, 예컨대, 수학식 24를 사용하여 결정될 수 있다. 코일(215)의 전파 인자(β_p)는 수학식 35를 사용하여 결정될 수 있고, 수직 공급 라인 전도체(221)에 대한 전파 위상 상수(β_w)는 수학식 49를 사용하여 결정될 수 있다. 코일(215) 및 수직 공급 라인 전도체(221)의 결정된 값들 및 자기 정전용량을 사용하여, 코일(215) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 유도 표면 도파로 프로브(200)의 임피던스(Z_base)는 수학식 62, 수학식 63 및 수학식 64를 사용하여 결정될 수 있다.

Z_base의 리액턴스 성분(X_base)이 Z_in의 리액턴스 성분(X_in)을 소거하도록 또는 X_base + X_in = 0이도록 부하 임피던스(Z_L)를 조절하는 것에 의해, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 등가 이미지 평면 모델이 공진으로 튜닝될 수 있다. 따라서, 유도 표면 도파로 프로브(200) 안쪽으로 "올려다볼 때의" 물리적 경계(136)에서의 임피던스는 손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때의" 물리적 경계(136)에서의 임피던스의 켤레이다. 충전 단자(T₁)의 전기적 위상 지연(Φ = θ_c + θ_y)을 변화시키지 않으면서 충전 단자(T₁)의 정전용량(C_T)을 변화시킴으로써 부하 임피던스(Z_L)가 조절될 수 있다. 전도성 이미지 접지 평면(139)(또는 130)과 관련하여 등가 이미지 평면 모델을 공진시키도록 부하 임피던스(Z_L)를 튜닝하기 위해 반복적 접근법이 취해질 수 있다. 이러한 방식으로, 전기 필드를 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)의 표면을 따른 유도 표면 도파로 모드에 결합시키는 것이 향상 및/또는 최대화될 수 있다.

이것은 상황을 수치 예로 예시하는 것에 의해 보다 잘 이해될 수 있다. 상단에 충전 단자(T₁)와 함께 물리적 높이(h_p)의 상단 부하를 갖는 수직 스터브(top-loaded vertical stub)를 포함하는 유도 표면 도파로 프로브(200)를 고려하고, 여기서 충전 단자(T₁)는 1.85 MHz의 동작 주파수(f₀)에서 나선형 코일 및 수직 공급 라인 전도체를 통해 여기된다. 높이(H₁)가 16 피트이고 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)가

= 15의 상대 유전율 및 σ₁ = 0.010 mhos/m의 전도율을 갖는 경우, f₀ = 1.850 MHz에 대해 몇몇 표면파 전파 파라미터들이 계산될 수 있다. 이 조건들 하에서, 물리적 높이가 h_p = 5.5 피트 - 이는 충전 단자(T₁)의 실제 높이보다 매우 아래에 있음 - 인 경우, Hankel 크로스오버 거리가 R_x = 54.5 피트인 것으로 구해질 수 있다. H₁ = 5.5 피트의 충전 단자 높이가 사용될 수 있지만, 보다 높은 프로브 구조물은 속박 정전용량(bound capacitance)을 감소시켜, 충전 단자(T₁) 상의 보다 많은 비율의 자유 전하가 진행파의 보다 큰 필드 강도 및 여기를 제공하는 것을 가능하게 한다.

파장은 수학식 67로서 결정될 수 있고:

[수학식 67]

여기서 c는 광속이다. 수학식 41로부터 복소 굴절률은 수학식 68이고:

[수학식 68]

여기서

이고

이며, 수학식 42로부터 복소 브루스터 각은 수학식 69이다:

[수학식 69]

수학식 66을 사용하여, 파 경사 값들이 수학식 70이 되도록 결정될 수 있다:

[수학식 70]

따라서, Φ=Ψ=40.614°을 매칭시키도록 나선형 코일이 조절될 수 있다.

수직 공급 라인 전도체(0.27 인치의 직경을 갖는 균일 원통형 전도체로서 근사화됨)의 속도 인자는 V_w

0.93로서 주어질 수 있다. h_p << λ₀이기 때문에, 수직 공급 라인 전도체에 대한 전파 위상 상수는 수학식 71로서 근사화될 수 있다:

[수학식 71]

수학식 49로부터 수직 공급 라인 전도체의 위상 지연은 수학식 72이다:

[수학식 72]

θ_c = 28.974° = 40.614° - 11.640°이도록 나선형 코일의 위상 지연을 조절하는 것에 의해, 유도 표면 도파로 모드를 매칭시키기 위해 Φ=Ψ일 것이다. Φ와 Ψ 사이의 관계를 예시하기 위해, 도 11은 일정 범위의 주파수들에 걸쳐 둘 다의 플롯을 도시하고 있다. Φ 및 Ψ 둘 다가 주파수 의존적이기 때문에, 그 각자의 곡선들이 대략 1.85 MHz에서 서로 크로스오버하는 것을 볼 수 있다.

0.0881 인치의 전도체 직경, 30 인치의 코일 직경(D) 및 4 인치의 턴간 간격(s)을 갖는 나선형 코일에 대하여, 코일에 대한 속도 인자는 수학식 45를 사용하여 수학식 73인 것으로 결정될 수 있고:

[수학식 73]

수학식 35로부터 전파 인자는 수학식 74이다:

[수학식 74]

θ_c = 28.974°인 경우, 솔레노이드 헬릭스의 축방향 길이(H)는 수학식 75이도록 수학식 46을 사용하여 결정될 수 있다:

[수학식 75]

이 높이는 수직 공급 라인 전도체가 연결되는 나선형 코일 상의 위치를 결정하고, 그 결과 8.818개의 턴(N = H/s)을 갖는 코일이 얻어진다.

코일 및 수직 공급 라인 전도체의 진행파 위상 지연이 파 경사각과 매칭하도록 조절된 경우(Φ = θ_c + θ_y = Ψ인 경우), 유도 표면파 프로브(200)의 등가 이미지 평면 모델의 정재파 공진을 위해 충전 단자(T₁)의 부하 임피던스(Z_L)가 조절될 수 있다. 지구의 측정된 유전율, 전도율 및 투자율로부터, 수학식 57을 사용하여 방사상 전파 상수가 결정될 수 있다.

[수학식 76]

그리고 수학식 52로부터 전도성 이미지 접지 평면의 복소 깊이가 수학식 77로서 근사화될 수 있고:

[수학식 77]

여기서 지구의 물리적 경계와 전도성 이미지 접지 평면 사이의 대응하는 위상 시프트는 수학식 78에 의해 주어진다:

[수학식 78]

수학식 65를 사용하여, 손실형 전도성 매체(203)(즉, 지구) 안쪽으로 "내려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 79로서 결정될 수 있다:

[수학식 79]

손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때" 보이는 무효 성분(X_in)을 유도 표면파 프로브(200) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 무효 성분(X_base)과 매칭시키는 것에 의해, 유도 표면 도파로 모드에의 결합이 최대화될 수 있다. 이것은 코일 및 수직 공급 라인 전도체의 진행파 위상 지연들을 변화시키지 않으면서 충전 단자(T₁)의 정전용량을 조절하는 것에 의해 달성될 수 있다. 예를 들어, 충전 단자 정전용량(C_T)을 61.8126 pF로 조절하는 것에 의해, 수학식 62로부터의 부하 임피던스는 수학식 80이 되고:

[수학식 80]

경계에서의 무효 성분들이 매칭된다.

수학식 51을 사용하여, 수직 공급 라인 전도체(0.27 인치의 직경

을 가짐)의 임피던스는 수학식 81로서 주어지고,

[수학식 81]

수직 공급 라인 전도체 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 63에 의해 수학식 82로서 주어진다:

[수학식 82]

수학식 47을 사용하여, 나선형 코일의 특성 임피던스는 수학식 83으로서 주어지고,

[수학식 83]

베이스에서 코일 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 64에 의해 수학식 84로서 주어진다:

[수학식 84]

수학식 79의 해와 비교할 때, 무효 성분들이 서로 마주하고 대략 동일하며, 따라서 서로의 켤레라는 것을 알 수 있다. 따라서, 완전 전도성 이미지 접지 평면으로부터 도 9a 및 도 9b의 등가 이미지 평면 모델 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스(Z_ip)는 저항성뿐이거나 Z_ip = R + j0이다.

유도 표면 도파로 프로브(200)(도 3)에 의해 생성된 전기 필드들이 공급 네트워크의 진행파 위상 지연을 파 경사각에 매칭시키는 것에 의해 확립되고 프로브 구조물이 복소 깊이 z = -d/2에서 완전 전도성 이미지 접지 평면과 관련하여 공진될 때, 필드들이 손실형 전도성 매체의 표면 상의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭되고, 유도 표면 진행파가 손실형 전도성 매체의 표면을 따라 발진된다. 도 1에 예시된 바와 같이, 유도 전자기 필드의 유도 필드 강도 곡선(103)은

의 특성 지수 감쇠를 갖고 로그-로그 스케일에서 특유의 변곡부(109)를 나타낸다.

요약하면, 분석적으로도 실험적으로도, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 구조물 상의 진행파 성분은 그의 상부 단자에서의 위상 지연(Φ)이 표면 진행파의 파 경사각(Ψ)과 매칭한다(Φ = Ψ). 이 조건 하에서, 표면 도파로는 "모드-매칭된(mode-matched)" 것으로 간주될 수 있다. 게다가, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 구조물 상의 공진 정재파 성분은 충전 단자(T₁)에서 V_MAX를 그리고 아래에 있는 이미지 평면(139)(도 8b)에서 V_MIN을 가지며, 여기서 손실형 전도성 매체(203)(도 8b)의 물리적 경계(136)에서의 연결에서가 아니라 z = - d/2의 복소 깊이에서 Z_ip = R_ip + j0이다. 마지막으로, 충전 단자(T₁)가 도 3의 충분한 높이(H₁)를 가짐으로써(h≥R_x tanΨ_i,B) 복소 브루스터 각으로 손실형 전도성 매체(203) 상으로 입사하는 전자기파들이

항이 우세한 거리(≥R_x)에서는 계속 그렇게 된다. 무선 전송 및/또는 전력 전달 시스템들을 용이하게 하기 위해 하나 이상의 유도 표면 도파로 프로브를 갖는 수신 회로들이 이용될 수 있다.

도 3을 다시 참조하면, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 동작이 유도 표면 도파로 프로브(200)와 연관된 동작 조건들의 변동들에 맞춰 조절되도록 제어될 수 있다. 예를 들어, 적응적 프로브 제어 시스템(230)은 유도 표면 도파로 프로브(200)의 동작을 제어하기 위해 공급 네트워크(209) 및/또는 충전 단자(T₁)를 제어하는 데 사용될 수 있다. 동작 조건들은 손실형 전도성 매체(203)의 특성들(예컨대, 전도율(σ) 및 상대 유전율(

))의 변동들, 필드 강도의 변동들 및/또는 유도 표면 도파로 프로브(200)의 부하(loading)의 변동들을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다. 수학식 31, 수학식 41 및 수학식 42로부터 알 수 있는 바와 같이, 굴절률(n), 복소 브루스터 각(θ_i,B), 및 파 경사(|W|e^jΨ)가, 예컨대, 기상 상태들로 인한 토양 전도율 및 유전율의 변화들에 의해 영향을 받을 수 있다.

예컨대, 전도율 측정 프로브들, 유전율 센서들, 접지 파라미터 미터들, 필드 미터들, 전류 모니터들 및/또는 부하 수신기들과 같은 장비가 동작 조건들의 변화들이 있는지 모니터링하고 현재의 동작 조건들에 관한 정보를 적응적 프로브 제어 시스템(230)에게 제공하는 데 사용될 수 있다. 프로브 제어 시스템(230)은 이어서 유도 표면 도파로 프로브(200)에 대한 명시된 동작 조건들을 유지하기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200)에 대한 하나 이상의 조절을 행할 수 있다. 예를 들어, 수분과 온도가 변함에 따라, 토양의 전도율이 또한 변할 것이다. 전도율 측정 프로브들 및/또는 유전율 센서들이 유도 표면 도파로 프로브(200) 주위의 다수의 위치들에 위치될 수 있다. 일반적으로, 동작 주파수에 대해 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서의 또는 그 주위에서의 전도율 및/또는 유전율을 모니터링하는 것이 바람직할 것이다. 전도율 측정 프로브들 및/또는 유전율 센서들이 유도 표면 도파로 프로브(200) 주위의 다수의 위치들에(예컨대, 각각의 사분면에) 위치될 수 있다.

전도율 측정 프로브들 및/또는 유전율 센서들은 전도율 및/또는 유전율을 주기적으로 평가하고 정보를 프로브 제어 시스템(230)에게 전달하도록 구성될 수 있다. 정보는 LAN, WLAN, 셀룰러 네트워크, 또는 다른 적절한 유선 또는 무선 통신 네트워크 - 이들로 제한되지 않음 - 와 같은 네트워크를 통해 프로브 제어 시스템(230)에게 전달될 수 있다. 모니터링된 전도율 및/또는 유전율에 기초하여, 프로브 제어 시스템(230)은, 공급 네트워크(209)의 위상 지연(Φ)을 파 경사각(Ψ)과 동일하도록 유지하기 위해 그리고/또는 유도 표면 도파로 프로브(200)의 등가 이미지 평면 모델의 공진을 유지하기 위해, 굴절률(n), 복소 브루스터 각(θ_i,B), 및/또는 파 경사(|W|e^jΨ)의 변동을 평가하고 유도 표면 도파로 프로브(200)를 조절할 수 있다. 이것은, 예컨대, θ_y, θ_c 및/또는 C_T를 조절하는 것에 의해 달성될 수 있다. 예를 들어, 프로브 제어 시스템(230)은, 유도 표면파의 전기적 발진 효율(electrical launching efficiency)을 그의 최대치에 또는 그 근방에 유지하기 위해, 충전 단자(T₁)의 자기 정전용량 및/또는 충전 단자(T₁)에 인가되는 위상 지연(θ_y, θ_c)을 조절할 수 있다. 예를 들어, 충전 단자(T₁)의 자기 정전용량은 단자의 크기를 변화시키는 것에 의해 변화될 수 있다. 충전 단자(T₁)의 크기를 증가시키는 것 - 이는 충전 단자(T₁)로부터의 전기 방전의 가능성을 감소시킬 수 있음 - 에 의해 전하 분포가 또한 개선될 수 있다. 다른 실시예들에서, 충전 단자(Τ₁)는 부하 임피던스(Z_L)를 변화시키기 위해 조절될 수 있는 가변 인덕턴스를 포함할 수 있다. 코일(215)(도 7) 상의 탭 위치를 변화시키는 것에 의해 그리고/또는 코일(215)을 따라 복수의 미리 정의된 탭들을 포함시키고 발진 효율을 최대화하도록 상이한 미리 정의된 탭 위치들 간에 스위칭하는 것에 의해, 충전 단자(T₁)에 인가되는 위상이 조절될 수 있다.

유도 표면파와 연관된 필드들의 필드 강도를 측정하기 위해 필드 또는 필드 강도(FS) 미터들이 또한 유도 표면 도파로 프로브(200) 주위에 분포될 수 있다. 필드 또는 FS 미터들은 필드 강도 및/또는 필드 강도(예컨대, 전기 필드 강도)의 변화들을 검출하고 그 정보를 프로브 제어 시스템(230)에게 전달하도록 구성될 수 있다. 정보는 LAN, WLAN, 셀룰러 네트워크, 또는 다른 적절한 통신 네트워크 - 이들로 제한되지 않음 - 와 같은 네트워크를 통해 프로브 제어 시스템(230)에게 전달될 수 있다. 부하 및/또는 환경 조건들이 동작 동안 변하거나 변화함에 따라, 수신기들 및 이들이 공급하는 부하들에의 적절한 전력 전달을 보장하기 위해 FS 미터 위치들에서 명시된 필드 강도(들)를 유지하도록 유도 표면 도파로 프로브(200)가 조절될 수 있다.

예를 들어, 충전 단자(T₁)에 인가되는 위상 지연(Φ = θ_y + θ_c)이 파 경사각(Ψ)과 매칭하도록 조절될 수 있다. 한쪽 또는 양쪽 위상 지연들을 조절하는 것에 의해, 파 경사가 복소 브루스터 각에 대응하도록 보장하기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200)가 조절될 수 있다. 이것은 충전 단자(T₁)에 공급되는 위상 지연을 변화시키기 위해 코일(215)(도 7) 상의 탭 위치를 조절하는 것에 의해 달성될 수 있다. 충전 단자(T₁)에 공급되는 전압 레벨이 전기 필드 강도를 조절하기 위해 증가 또는 감소될 수 있다. 이것은 여기 소스(212)의 출력 전압을 조절하는 것에 의해 또는 공급 네트워크(209)를 조절 또는 재구성하는 것에 의해 달성될 수 있다. 예를 들어, AC 소스(212)에 대한 탭(227)(도 7)의 위치가 충전 단자(T₁)에게 보이는 전압을 증가시키도록 조절될 수 있다. 필드 강도 레벨들을 미리 정의된 범위들 내에 유지하는 것은 수신기들에 의한 결합을 개선시키고, 접지 전류 손실들을 감소시키며, 다른 유도 표면 도파로 프로브들(200)로부터의 전송과의 간섭을 회피할 수 있다.

프로브 제어 시스템(230)은 하드웨어, 펌웨어, 하드웨어에 의해 실행되는 소프트웨어, 또는 이들의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 프로브 제어 시스템(230)은 프로세서 및 메모리 - 이들 둘 다는, 본 기술분야의 통상의 기술자에 의해 인지될 수 있는 바와 같이, 예를 들어, 부수된 제어/주소 버스를 갖는 데이터 버스와 같은 로컬 인터페이스에 결합될 수 있음 - 를 포함하는 처리 회로를 포함할 수 있다. 모니터링된 조건들에 기초하여 유도 표면 도파로 프로브(200)의 동작을 조절하기 위해 프로세서에 의해 프로브 제어 애플리케이션이 실행될 수 있다. 프로브 제어 시스템(230)은 또한 다양한 모니터링 디바이스들과 통신하기 위한 하나 이상의 네트워크 인터페이스를 포함할 수 있다. 통신은 LAN, WLAN, 셀룰러 네트워크, 또는 다른 적절한 통신 네트워크 - 이들로 제한되지 않음 - 와 같은 네트워크를 통할 수 있다. 프로브 제어 시스템(230)은, 예를 들어, 서버, 데스크톱 컴퓨터, 랩톱, 또는 유사한 능력을 갖는 다른 시스템과 같은 컴퓨터 시스템을 포함할 수 있다.

도 5a의 예를 다시 참조하면, Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서 복소 브루스터 각(θ_i,B)을 갖는 충전 단자(T₁)의 입사 전기 필드(E)의 광선 광학 해석에 대한 복소 각도 삼각법이 도시되어 있다. 손실형 전도성 매체에 대해, 브루스터 각이 복소수이고 수학식 38에 의해 명시된다는 것을 상기한다. 전기적으로, 기하학적 파라미터들은 수학식 39에 의해 충전 단자(T₁)의 전기적 유효 높이(h_eff)에 의해 관련되어 있다. 물리적 높이(h_p)와 Hankel 크로스오버 거리(R_x) 둘 다가 실수량들이기 때문에, Hankel 크로스오버 거리에서의 원하는 유도 표면파 경사(W_Rx)의 각도가 복소 유효 높이(h_eff)의 위상(Φ)과 동일하다. 충전 단자(T₁)가 물리적 높이(h_p)에 위치되고 적절한 위상(Φ)을 갖는 전하로 여기된 경우, 결과적인 전기 필드는 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서 그리고 브루스터 각으로 손실형 전도성 매체 경계 계면에 입사한다. 이러한 조건들 하에서, 반사 없이 또는 실질적으로 무시할 만한 반사로 유도 표면 도파로 모드가 여기될 수 있다.

그렇지만, 수학식 39는 유도 표면 도파로 프로브(200)의 물리적 높이가 비교적 작을 수 있다는 것을 의미한다. 이것이 유도 표면 도파로 모드를 여기시킬 것이지만, 이것은 적은 자유 전하를 갖는 과도하게 큰 속박 전하를 초래할 수 있다. 보상하기 위해, 충전 단자(T₁)가 자유 전하의 양을 증가시키기 위해 적절한 고도까지 상승될 수 있다. 하나의 예시적인 경험칙으로서, 충전 단자(T₁)가 충전 단자(T₁)의 유효 직경의 약 4 내지 5배(또는 그 이상)의 고도에 위치될 수 있다. 도 6은 도 5a에 도시된 물리적 높이(h_p)보다 위쪽으로 충전 단자(Τ₁)를 상승시키는 것의 효과를 예시하고 있다. 증가된 고도는 파 경사가 손실형 전도성 매체에 입사하는 거리를 Hankel 크로스오버 지점(121)(도 5a)을 넘어서 이동시킨다. 유도 표면 도파로 모드에의 결합을 개선시키고, 따라서 유도 표면파의 보다 큰 발진 효율을 제공하기 위해, 하부 보상 단자(T₂)가 Hankel 크로스오버 거리에서의 파 경사가 브루스터 각으로 있도록 충전 단자(T₁)의 총 유효 높이(h_TE)를 조절하는 데 사용될 수 있다.

도 12를 참조하면, 손실형 전도성 매체(203)에 의해 제공되는 평면에 수직인 수직 축(z)을 따라 배열되는 상승된 충전 단자(T₁) 및 하부 보상 단자(T₂)를 포함하는 유도 표면 도파로 프로브(200c)의 일 예가 도시되어 있다. 이와 관련하여, 충전 단자(T₁)가 보상 단자(T₂) 바로 위쪽에 위치되지만, 2개 이상의 충전 및/또는 보상 단자(T_N)의 어떤 다른 배열이 사용될 수 있는 것이 가능하다. 본 개시내용의 일 실시예에 따르면, 유도 표면 도파로 프로브(200c)는 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 배치된다. 손실형 전도성 매체(203)는 영역 1을 구성하고, 제2 매체(206)는 영역 2를 구성하며 손실형 전도성 매체(203)와 경계 계면을 공유한다.

유도 표면 도파로 프로브(200c)는 여기 소스(212)를 충전 단자(T₁) 및 보상 단자(T₂)에 결합시키는 공급 네트워크(209)를 포함한다. 다양한 실시예들에 따르면, 임의의 주어진 순간에 단자들(T₁ 및 T₂)에 인가되는 전압들에 의존하는 전하들(Q₁ 및 Q₂)이 각자의 충전 및 보상 단자들(T₁ 및 T₂) 상에 부여될 수 있다. I₁은 단자 리드를 거쳐 충전 단자(T₁) 상에 전하(Q₁)를 공급하는 전도 전류이고, I₂는 단자 리드를 거쳐 보상 단자(T₂) 상에 전하(Q₂)를 공급하는 전도 전류이다.

도 12의 실시예에 따르면, 충전 단자(T₁)는 손실형 전도성 매체(203) 위쪽으로 물리적 높이(H₁)에 위치되고, 보상 단자(T₂)는 수직 축(z)을 따라 T₁ 바로 아래로 물리적 높이(H₂)에 위치되며, 여기서 H₂는 H₁보다 작다. 전송 구조물의 높이(h)는 h = H₁ - H₂로서 계산될 수 있다. 충전 단자(T₁)는 고립(또는 자기) 정전용량(C₁)을 갖고, 보상 단자(T₂)는 고립(또는 자기) 정전용량(C₂)을 갖는다. 단자(T₁)와 단자(T₂) 사이에 그들 사이의 거리에 의존하는 상호 정전용량(C_M)이 또한 존재할 수 있다. 동작 동안, 임의의 주어진 순간에 충전 단자(T₁) 및 보상 단자(T₂)에 인가되는 전압들에 의존하는 전하(Q₁)와 전하(Q₂)가 충전 단자(T₁)와 보상 단자(T₂)에, 각각, 부여된다.

다음에 도 13을 참조하면, 도 12의 충전 단자(T₁) 상의 상승된 전하(Q₁) 및 보상 단자(T₂)에 의해 생성된 효과들의 광선 광학 해석이 도시되어 있다. 충전 단자(T₁)가 광선이 라인(163)에 의해 예시된 바와 같이 Hankel 크로스오버 지점(121)보다 더 큰 거리에서 손실형 전도성 매체와 브루스터 각으로 교차하는 높이로 상승된 경우, 보상 단자(T₂)는 증가된 높이를 보상함으로써 h_TE를 조절하는 데 사용될 수 있다. 보상 단자(T₂)의 효과는 라인(166)에 의해 예시된 바와 같이 Hankel 크로스오버 거리에서의 파 경사가 브루스터 각으로 있도록 유도 표면 도파로 프로브의 전기적 유효 높이를 감소시키는 것(또는 손실형 매체 계면을 효과적으로 상승시키는 것)이다.

총 유효 높이는 수학식 85이도록 충전 단자(T₁)와 연관된 상부 유효 높이(h_UE)와 보상 단자(T₂)와 연관된 하부 유효 높이(h_LE)의 중첩으로서 쓰여질 수 있고,

[수학식 85]

여기서 Φ_U는 상부 충전 단자(T₁)에 인가된 위상 지연이고, Φ_L은 하부 보상 단자(T₂)에 인가된 위상 지연이며, β = 2π/λ_p는 수학식 35로부터의 전파 인자이고, h_p는 충전 단자(T₁)의 물리적 높이이며, h_d는 보상 단자(T₂)의 물리적 높이이다. 추가 리드 길이들이 고려되는 경우, 이들이 수학식 86에 나타낸 바와 같이 충전 단자 리드 길이(z)를 충전 단자(T₁)의 물리적 높이(h_p)에 그리고 보상 단자 리드 길이(y)를 보상 단자(T₂)의 물리적 높이(h_d)에 가산하는 것에 의해 참작될 수 있다.

[수학식 86]

총 유효 높이(h_TE)를 도 5a의 복소 유효 높이(h_eff)와 동일하도록 조절하기 위해 하부 유효 높이가 사용될 수 있다.

Hankel 크로스오버 거리에서 원하는 파 경사를 획득하기 위해 보상 단자(T₂)의 하부 디스크의 물리적 높이 및 단자들에 공급할 위상각들을 결정하는 데 수학식 85 또는 수학식 86이 사용될 수 있다. 예를 들어, 수학식 86은 수학식 87을 제공하도록 보상 단자 높이(h_d)의 함수로서 충전 단자(T₁)에 인가되는 위상 시프트로서 다시 쓰여질 수 있다.

[수학식 87]

보상 단자(T₂)의 위치선정을 결정하기 위해, 앞서 논의된 관계들이 이용될 수 있다. 먼저, 총 유효 높이(h_TE)는, 수학식 86에 표현된 바와 같이, 상부 충전 단자(T₁)의 복소 유효 높이(h_UE)와 하부 보상 단자(T₂)의 복소 유효 높이(h_LE)의 중첩이다. 다음에, 입사각의 탄젠트는 기하학적으로 수학식 88로서 표현될 수 있고,

[수학식 88]

수학식 88은 파 경사(W)의 정의와 동일하다. 마지막으로, 원하는 Hankel 크로스오버 거리(R_x)가 주어지면, 입사 광선의 파 경사를 Hankel 크로스오버 지점(121)에서의 복소 브루스터 각과 매칭시키기 위해 h_TE가 조절될 수 있다. 이것은 h_p, Φ_U, 및/또는 h_d를 조절하는 것에 의해 달성될 수 있다.

이 개념들은 유도 표면 도파로 프로브의 일 예와 관련하여 논의될 때 보다 잘 이해될 수 있다. 도 14를 참조하면, 손실형 전도성 매체(203)에 의해 제공되는 평면에 실질적으로 수직인 수직 축(z)을 따라 위치되는 상부 충전 단자(T₁)(예컨대, 높이 h_T에 있는 구체) 및 하부 보상 단자(T₂)(예컨대, 높이 h_d에 있는 디스크)를 포함하는 유도 표면 도파로 프로브(200d)의 일 예의 그래픽 표현이 도시되어 있다. 동작 동안, 임의의 주어진 순간에 단자들(T₁ 및 T₂)에 인가되는 전압들에 의존하는 전하(Q₁)와 전하(Q₂)가 충전 단자(T₁)와 보상 단자(T₂)에, 각각, 부여된다.

AC 소스(212)는 충전 단자(T₁)에 대한 여기 소스로서 기능하고, 이는, 예컨대, 나선형 코일과 같은 코일(215)을 포함하는 공급 네트워크(209)를 통해 유도 표면 도파로 프로브(200d)에 결합된다. AC 소스(212)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 탭(227)을 통해 코일(215)의 하부 부분에 걸쳐 연결될 수 있거나, 1차 코일을 통해 코일(215)에 유도적으로 결합될 수 있다. 코일(215)은 제1 단부에서 접지 말뚝(218)에 그리고 제2 단부에서 충전 단자(T₁)에 결합될 수 있다. 일부 구현들에서, 충전 단자(T₁)에의 연결은 코일(215)의 제2 단부에 있는 탭(224)을 사용하여 조절될 수 있다. 보상 단자(T₂)는 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지면 또는 지구)의 위쪽에 그와 실질적으로 평행하게 위치되고, 코일(215)에 결합된 탭(233)을 통해 에너지를 공급받는다. 코일(215)과 접지 말뚝(218) 사이에 위치된 전류계(236)는 유도 표면 도파로 프로브의 베이스에서의 전류 흐름(I₀)의 크기의 표시를 제공하는 데 사용될 수 있다. 대안적으로, 전류 흐름(I₀)의 크기의 표시를 획득하기 위해 접지 말뚝(218)에 결합된 전도체 주위에 전류 클램프(current clamp)가 사용될 수 있다.

도 14의 예에서, 코일(215)은 제1 단부에서 접지 말뚝(218)에 그리고 제2 단부에서 수직 공급 라인 전도체(221)를 통해 충전 단자(T₁)에 결합된다. 일부 구현들에서, 도 14에 도시된 바와 같이, 충전 단자(T₁)에의 연결은 코일(215)의 제2 단부에 있는 탭(224)을 사용하여 조절될 수 있다. 코일(215)은 코일(215)의 하부 부분에 있는 탭(227)을 통해 AC 소스(212)에 의해 동작 주파수로 에너지를 공급받을 수 있다. 다른 구현들에서, AC 소스(212)는 1차 코일을 통해 코일(215)에 유도적으로 결합될 수 있다. 보상 단자(T₂)는 코일(215)에 결합된 탭(233)을 통해 에너지를 공급받는다. 코일(215)과 접지 말뚝(218) 사이에 위치된 전류계(236)는 유도 표면 도파로 프로브(200d)의 베이스에서의 전류 흐름의 크기의 표시를 제공하는 데 사용될 수 있다. 대안적으로, 전류 흐름의 크기의 표시를 획득하기 위해 접지 말뚝(218)에 결합된 전도체 주위에 전류 클램프가 사용될 수 있다. 보상 단자(T₂)는 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지면) 위쪽에 그와 실질적으로 평행하게 위치된다.

도 14의 예에서, 코일(215) 상에 위치된 충전 단자(T₁)에의 연결은 보상 단자(T₂)에 대한 탭(233)의 연결 지점 위쪽에 있다. 이러한 조절은 증가된 전압(그리고 따라서 보다 높은 전하(Q₁))이 상부 충전 단자(T₁)에 인가될 수 있게 한다. 다른 실시예들에서, 충전 단자(T₁) 및 보상 단자(T₂)에 대한 연결 지점들이 반대로 될 수 있다. Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서 유도 표면파 경사를 갖는 전기 필드를 여기시키기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200d)의 총 유효 높이(h_TE)를 조절하는 것이 가능하다. 도 4에 예시된 바와 같이 Hankel 크로스오버 거리가 또한

에 대하여 수학식 20b의 크기와 수학식 21의 크기를 같다고 놓고 R_x에 대해 푸는 것에 의해 구해질 수 있다. 굴절률(n), 복소 브루스터 각(θ_i,B 및 Ψ_i,B), 파 경사(|W|e^jΨ) 및 복소 유효 높이(h_eff = h_pe^jΦ)가 상기 수학식 41 내지 수학식 44와 관련하여 기술된 바와 같이 결정될 수 있다.

선택된 충전 단자(T₁) 구성의 경우, 구체 직경(또는 유효 구체 직경)이 결정될 수 있다. 예를 들어, 충전 단자(T₁)가 구체로서 구성되지 않은 경우, 단자 구성이 유효 구체 직경을 갖는 구체 정전용량으로서 모델링될 수 있다. 충전 단자(T₁)의 크기는 단자들 상에 부여된 전하(Q₁)를 위한 충분히 큰 표면을 제공하도록 선택될 수 있다. 일반적으로, 충전 단자(T₁)를 실용적일 정도로 크게 만드는 것이 바람직하다. 충전 단자(T₁)의 크기는, 충전 단자 주변에 전기 방전 또는 스파크 발생을 초래할 수 있는, 주변 공기의 이온화를 피할 정도로 충분히 커야 한다. 충전 단자(T₁) 상의 속박 전하의 양을 감소시키기 위해, 유도 표면파를 발진시키기 위한 충전 단자(T₁) 상의 자유 전하를 제공하는 원하는 고도는 손실형 전도성 매체(예컨대, 지구) 위쪽에 있는 유효 구체 직경의 4 내지 5배 이상이어야만 한다. 보상 단자(T₂)는 R_x에서 유도 표면파 경사를 갖는 전기 필드를 여기시키기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200d)의 총 유효 높이(h_TE)를 조절하는 데 사용될 수 있다. 보상 단자(T₂)는 충전 단자(T₁) 아래로 h_d = h_T - h_p에 위치될 수 있고, 여기서 h_T는 충전 단자(T₁)의 총 물리적 높이이다. 보상 단자(T₂)의 위치가 고정되고 위상 지연(Φ_U)이 상부 충전 단자(T₁)에 인가되는 경우, 하부 보상 단자(T₂)에 인가되는 위상 지연(Φ_L)이 수학식 89이도록 수학식 86의 관계들을 사용하여 결정될 수 있다:

[수학식 89]

대안의 실시예들에서, 보상 단자(T₂)가 Im{Φ_L} = 0인 높이 h_d에 위치될 수 있다. 이것이 도 15a에 그래픽으로 예시되어 있으며, 도 15a는 Φ_U의 허수부의 플롯(172) 및 실수부의 플롯(175)을 도시하고 있다. 보상 단자(T₂)는, 플롯(172)에 그래픽으로 예시된 바와 같이, Im{Φ_U} = 0인 높이 h_d에 위치된다. 이 고정 높이에서, 플롯(175)에 그래픽으로 예시된 바와 같이, 코일 위상(Φ_U)은 Re{Φ_U}로부터 결정될 수 있다.

AC 소스(212)가 (예컨대, 결합을 최대화하기 위해 50Ω 지점에서) 코일(215)에 결합된 경우, 동작 주파수에서 보상 단자(T₂)와 코일의 적어도 일부분 간의 병렬 공진을 위해 탭(233)의 위치가 조절될 수 있다. 도 15b는 도 14의 개괄적인 전기 배선(electrical hookup)의 개략 다이어그램을 도시하고 있으며, 여기서 V₁은 AC 소스(212)로부터 탭(227)을 통해 코일(215)의 하부 부분에 인가되는 전압이고, V₂는 상부 충전 단자(T₁)에 공급되는 탭(224)에서의 전압이며, V₃은 탭(233)을 통해 하부 보상 단자(T₂)에 인가되는 전압이다. 저항(R_p) 및 저항(R_d)은, 각각, 충전 단자(T₁) 및 보상 단자(T₂)의 접지 귀로 저항(ground return resistance)들을 나타낸다. 충전 단자(T₁) 및 보상 단자(T₂)는 구체, 원통, 토로이드(toroid), 링, 후드, 또는 용량성 구조물의 임의의 다른 조합으로서 구성될 수 있다. 충전 단자(T₁) 및 보상 단자(T₂)의 크기는 단자들 상에 부여된 전하들(Q₁ 및 Q₂)을 위한 충분히 큰 표면을 제공하도록 선택될 수 있다. 일반적으로, 충전 단자(T₁)를 실용적일 정도로 크게 만드는 것이 바람직하다. 충전 단자(T₁)의 크기는, 충전 단자 주변에 전기 방전 또는 스파크 발생을 초래할 수 있는, 주변 공기의 이온화를 피할 정도로 충분히 커야 한다. 충전 단자(T₁)의 자기 정전용량(C_p) 및 보상 단자(T₂)의 자기 정전용량(C_d)은, 예를 들어, 수학식 24를 사용하여 결정될 수 있다.

도 15b에서 알 수 있는 바와 같이, 코일(215)의 인덕턴스의 적어도 일부분, 보상 단자(T₂)의 자기 정전용량(C_d), 및 보상 단자(T₂)와 연관된 접지 귀로 저항(R_d)에 의해 공진 회로가 형성된다. 보상 단자(T₂)에 인가되는 전압(V₃)을 조절하는 것에 의해(예컨대, 코일(215) 상의 탭(233) 위치를 조절하는 것에 의해) 또는 C_d를 조절하기 위해 보상 단자(T₂)의 높이 및/또는 크기를 조절하는 것에 의해 병렬 공진이 확립될 수 있다. 병렬 공진을 위해 코일 탭(233)의 위치가 조절될 수 있으며, 그 결과 접지 말뚝(218)을 통한 그리고 전류계(236)를 통한 접지 전류가 최대 지점에 도달할 것이다. 보상 단자(T₂)의 병렬 공진이 확립된 후에, AC 소스(212)에 대한 탭(227)의 위치가 코일(215) 상의 50Ω 지점으로 조절될 수 있다.

코일(215)로부터의 전압(V₂)이 충전 단자(T₁)에 인가될 수 있고, 총 유효 높이(h_TE)의 위상(Φ)이 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서의 유도 표면파 경사(W_Rx)의 각도와 대략 동일하도록 탭(224)의 위치가 조절될 수 있다. 이 동작점에 도달할 때까지 코일 탭(224)의 위치가 조절될 수 있고, 그 결과 전류계(236)를 통한 접지 전류가 최대로 증가한다. 이 시점에서, 유도 표면 도파로 프로브(200d)에 의해 여기되는 결과적인 필드들이 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상에서의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭되고, 그 결과 유도 표면파가 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 따라 발진한다. 이것은 유도 표면 도파로 프로브(200)로부터 연장되는 방사상 구조(radial)를 따라 필드 강도를 측정하는 것에 의해 검증될 수 있다.

보상 단자(T₂)를 포함하는 회로의 공진이 충전 단자(T₁)의 부착에 따라 그리고/또는 탭(224)을 통해 충전 단자(T₁)에 인가되는 전압의 조절에 따라 변할 수 있다. 공진을 위해 보상 단자 회로를 조절하는 것이 충전 단자 연결의 후속 조절에는 도움이 되지만, Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서 유도 표면파 경사(W_Rx)를 확립하는 데는 필요하지 않다. 이 시스템은, AC 소스(212)가 코일(215) 상의 50Ω 지점에 있도록 탭(227)의 위치를 반복적으로 조절하는 것 및 전류계(236)를 통한 접지 전류를 최대화하기 위해 탭(233)의 위치를 조절하는 것에 의해, 결합을 개선시키기 위해 추가로 조절될 수 있다. 탭(227) 및 탭(233)의 위치들이 조절될 때 또는 다른 컴포넌트들이 코일(215)에 부착될 때 보상 단자(T₂)를 포함하는 회로의 공진이 드리프트할 수 있다.

다른 구현들에서, 코일(215)로부터의 전압(V₂)이 충전 단자(T₁)에 인가될 수 있고, 총 유효 높이(h_TE)의 위상(Φ)이 R_x에서의 유도 표면파 경사각(Ψ)과 대략 동일하도록 탭(233)의 위치가 조절될 수 있다. 동작점에 도달할 때까지 코일 탭(224)의 위치가 조절될 수 있고, 그 결과 전류계(236)를 통한 접지 전류가 최대치에 실질적으로 도달한다. 결과적인 필드들이 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상에서의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭되고, 유도 표면파가 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 따라 발진된다. 이것은 유도 표면 도파로 프로브(200)로부터 연장되는 방사상 구조(radial)를 따라 필드 강도를 측정하는 것에 의해 검증될 수 있다. 이 시스템은, AC 소스(212)가 코일(215) 상의 50Ω 지점에 있도록 탭(227)의 위치를 반복적으로 조절하는 것 및 전류계(236)를 통한 접지 전류를 최대화하기 위해 탭(224 및/또는 233)의 위치를 조절하는 것에 의해, 결합을 개선시키기 위해 추가로 조절될 수 있다.

도 12를 다시 참조하면, 유도 표면 도파로 프로브(200)의 동작이 유도 표면 도파로 프로브(200)와 연관된 동작 조건들의 변동들에 맞춰 조절되도록 제어될 수 있다. 예를 들어, 프로브 제어 시스템(230)은 유도 표면 도파로 프로브(200)의 동작을 제어하기 위해 공급 네트워크(209) 그리고/또는 충전 단자(T₁) 및/또는 보상 단자(T₂)의 위치선정을 제어하는 데 사용될 수 있다. 동작 조건들은 손실형 전도성 매체(203)의 특성들(예컨대, 전도율(σ) 및 상대 유전율(

))의 변동들, 필드 강도의 변동들 및/또는 유도 표면 도파로 프로브(200)의 부하의 변동들을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다. 수학식 41 내지 수학식 44로부터 알 수 있는 바와 같이, 굴절률(n), 복소 브루스터 각(θ_i,B 및 Ψ_i,B), 파 경사(|W|e^jΨ) 및 복소 유효 높이(h_eff = h_pe^jΦ)가, 예컨대, 기상 상태들로 인한 토양 전도율 및 유전율의 변화들에 의해 영향을 받을 수 있다.

예컨대, 전도율 측정 프로브들, 유전율 센서들, 접지 파라미터 미터들, 필드 미터들, 전류 모니터들 및/또는 부하 수신기들과 같은 장비가 동작 조건들의 변화들이 있는지 모니터링하고 현재의 동작 조건들에 관한 정보를 프로브 제어 시스템(230)에게 제공하는 데 사용될 수 있다. 프로브 제어 시스템(230)은 이어서 유도 표면 도파로 프로브(200)에 대한 명시된 동작 조건들을 유지하기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200)에 대한 하나 이상의 조절을 행할 수 있다. 예를 들어, 수분과 온도가 변함에 따라, 토양의 전도율이 또한 변할 것이다. 전도율 측정 프로브들 및/또는 유전율 센서들이 유도 표면 도파로 프로브(200) 주위의 다수의 위치들에 위치될 수 있다. 일반적으로, 동작 주파수에 대해 Hankel 크로스오버 거리(R_x)에서의 또는 그 주위에서의 전도율 및/또는 유전율을 모니터링하는 것이 바람직할 것이다. 전도율 측정 프로브들 및/또는 유전율 센서들이 유도 표면 도파로 프로브(200) 주위의 다수의 위치들에(예컨대, 각각의 사분면에) 위치될 수 있다.

이어서 도 16을 참조하면, 수직 축(z)을 따라 배열되는 충전 단자(T₁) 및 충전 단자(T₂)를 포함하는 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 일 예가 도시되어 있다. 유도 표면 도파로 프로브(200e)는, 영역 1을 구성하는, 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 배치된다. 그에 부가하여, 제2 매체(206)는 손실형 전도성 매체(203)와 경계 계면을 공유하고 영역 2를 구성한다. 충전 단자들(T₁ 및 T₂)은 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 위치된다. 충전 단자(T₁)는 높이(H₁)에 위치되고, 충전 단자(T₂)는 수직 축(z)을 따라 T₁ 바로 아래로 높이(H₂)에 위치되며, 여기서 H₂는 H₁보다 작다. 유도 표면 도파로 프로브(200e)에 의해 제공되는 전송 구조물의 높이(h)는 h = H₁ - H₂이다. 유도 표면 도파로 프로브(200e)는 여기 소스(212)를 충전 단자들(T₁ 및 T₂)에 결합시키는 프로브 공급 네트워크(209)를 포함한다.

충전 단자들(T₁ 및/또는 T₂)은, 실용적으로 가능한 한 많은 전하를 보유하는 크기로 될 수 있는, 전하를 보유할 수 있는 전도성 질량체(conductive mass)를 포함한다. 충전 단자(T₁)는 자기 정전용량(C₁)을 갖고, 충전 단자(T₂)는 자기 정전용량(C₂)을 가지며, 이 자기 정전용량들은, 예를 들어, 수학식 24를 사용하여 결정될 수 있다. 충전 단자(T₁)를 충전 단자(T₂) 바로 위쪽에 배치하는 것에 의해, 충전 단자(T₁)와 충전 단자(T₂) 사이에 상호 정전용량(C_M)이 생성된다. 충전 단자들(T₁ 및 T₂)이 동일할 필요는 없고, 각각이 개별적인 크기 및 형상을 가질 수 있으며, 상이한 전도성 재료들을 포함할 수 있다는 것에 유의한다. 궁극적으로, 유도 표면 도파로 프로브(200e)에 의해 발진되는 유도 표면파의 필드 강도는 단자(T₁) 상의 전하의 양에 정비례한다. 전하(Q₁)는, 차례로, 충전 단자(T₁)와 연관된 자기 정전용량(C₁)에 비례하는데, 그 이유는 Q₁ = C₁V이기 때문이고, 여기서 V는 충전 단자(T₁) 상에 부여된 전압이다.

미리 정의된 동작 주파수에서 동작하도록 적절하게 조절될 때, 유도 표면 도파로 프로브(200e)는 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 따라 유도 표면파를 생성한다. 여기 소스(212)는 구조물을 여기시키기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200e)에 인가되는 전기 에너지를 미리 정의된 주파수로 생성할 수 있다. 유도 표면 도파로 프로브(200e)에 의해 생성된 전자기 필드들이 손실형 전도성 매체(203)와 실질적으로 모드-매칭될 때, 전자기 필드들은 반사를 거의 또는 전혀 초래하지 않는 복소 브루스터 각으로 입사하는 파면을 실질적으로 합성한다. 따라서, 표면 도파로 프로브(200e)는 방사파를 생성하지 않고, 손실형 전도성 매체(203)의 표면을 따라 유도 표면 진행파를 발진시킨다. 여기 소스(212)로부터의 에너지는 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 유효 전송 범위(effective transmission range) 내에 위치되는 하나 이상의 수신기에게 Zenneck 표면 전류들로서 전송될 수 있다.

손실형 전도성 매체(203)의 표면 상에서의 방사상 Zenneck 표면 전류(

)의 점근선들이 근위에서

이고 원위에서

인 것으로 결정할 수 있고, 여기서

[수학식 90]

이고,

[수학식 91]

이며,

여기서 I₁은 제1 충전 단자(T₁) 상의 전하(Q₁)를 공급하는 전도 전류이고, I₂는 제2 충전 단자(T₂) 상의 전하(Q₂)를 공급하는 전도 전류이다. 상부 충전 단자(T₁) 상의 전하(Q₁)는 Q₁ = C₁V₁에 의해 결정되고, 여기서 C₁은 충전 단자(T₁)의 고립 정전용량(isolated capacitance)이다.

에 의해 주어지는 앞서 기재된 J₁에 대한 제3 성분이 있으며, 이 제3 성분이 Leontovich 경계 조건으로부터 나오고 제1 충전 단자 상의 상승된 진동 전하(Q₁)의 준정적 필드에 의해 펌핑되는 손실형 전도성 매체(203)에서의 방사상 전류 기여분이라는 것에 유의한다. 양

가 손실형 전도성 매체의 방사상 임피던스(radial impedance)이고, 여기서

이다.

수학식 90 및 수학식 91에 의해 기재된 바와 같은 근위에서의 방사상 전류 및 원위에서의 방사상 전류를 나타내는 점근선들은 복소량들이다. 다양한 실시예들에 따르면, 물리적 표면 전류(J(

))는 크기 및 위상에서 전류 점근선들과 가능한 한 가깝게 매칭하도록 합성된다. 즉, 근위 |J(

)|는 |J₁|에 접할 것이고 원위 |J(

)|는 |J₂|에 접할 것이다. 또한, 다양한 실시예들에 따르면, J(

)의 위상은 근위에서의 J₁의 위상으로부터 원위에서의 J₂의 위상으로 전이해야만 한다.

유도 표면파를 발진시키도록 전송 지점(site of transmission)에서의 유도 표면파 모드를 매칭시키기 위해, 원위에서의 표면 전류 |J₂|의 위상이 근위에서의 표면 전류 |J₁|의 위상과

에 대응하는 전파 위상 + 대략 45도 또는 225도의 상수만큼 상이해야만 한다. 이러한 이유는

에 대한 2개의 근(root)이 하나는 π/4 근방에 그리고 하나는 5π/4 근방에 있기 때문이다. 적절하게 조절된 방사상 표면 전류는 수학식 92이다.

[수학식 92]

이것이 수학식 17과 부합한다는 것에 유의한다. Maxwell의 방정식들에 의해, 이러한 J(

) 표면 전류는 수학식 93 내지 수학식 95에 부합하는 필드들을 자동으로 생성한다.

[수학식 93]

[수학식 94]

[수학식 95]

따라서, 매칭되어야 하는 유도 표면파 모드에 대한 원위에서의 표면 전류 |J₂|와 근위에서의 표면 전류 |J₁| 사이의 위상차는, 수학식 1 내지 수학식 3과 부합하는, 수학식 93 내지 수학식 95 내의 Hankel 함수들의 특성들로 인한 것이다. 수학식 1 내지 수학식 6, 수학식 17 및 수학식 92 내지 수학식 95에 의해 표현되는 필드들이, 지상파 전파와 연관되어 있는 방사 필드들이 아닌, 손실형 계면에 속박된 전송 라인 모드의 특성을 갖는다는 것을 인식하는 것이 중요하다.

주어진 위치에서 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 주어진 설계에 대한 적절한 전압 크기들 및 위상들을 획득하기 위해, 반복적 접근법이 사용될 수 있다. 구체적으로는, 생성된 방사상 표면 전류 밀도를 결정하기 위해 단자들(T₁ 및 T₂)에의 공급 전류들, 충전 단자들(T₁ 및 T₂) 상의 전하들, 및 손실형 전도성 매체(203)에서의 그들의 이미지들을 고려하여, 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 주어진 여기 및 구성의 분석이 수행될 수 있다. 이 프로세스는 주어진 유도 표면 도파로 프로브(200e)에 대한 최적의 구성 및 여기가 원하는 파라미터들에 기초하여 결정될 때까지 반복적으로 수행될 수 있다. 주어진 유도 표면 도파로 프로브(200e)가 최적 레벨에서 동작하는지 여부를 결정하는 데 도움을 주기 위해, 유도 필드 강도 곡선(103)(도 1)이 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 위치에서의 영역 1의 전도율(σ₁) 및 영역 1의 유전율(ε₁)에 대한 값들에 기초하여 수학식 1 내지 수학식 12를 사용하여 생성될 수 있다. 이러한 유도 필드 강도 곡선(103)은, 최적의 전송이 달성되었는지를 결정하기 위해, 측정된 필드 강도들이 유도 필드 강도 곡선(103)에 의해 표시되는 크기들과 비교될 수 있도록 동작에 대한 벤치마크를 제공할 수 있다.

최적화된 조건에 도달하기 위해, 유도 표면 도파로 프로브(200e)와 연관된 다양한 파라미터들이 조절될 수 있다. 유도 표면 도파로 프로브(200e)를 조절하기 위해 변화될 수 있는 하나의 파라미터는 손실형 전도성 매체(203)의 표면에 대한 충전 단자들(T₁ 및/또는 T₂) 중 하나 또는 둘 다의 높이이다. 그에 부가하여, 충전 단자(T₁)와 충전 단자(T₂) 사이의 거리 또는 간격이 또한 조절될 수 있다. 그렇게 할 때, 인지될 수 있는 바와 같이, 충전 단자들(T₁ 및 T₂)과 손실형 전도성 매체(203) 사이의 상호 정전용량(C_M) 또는 임의의 속박 정전용량들을 최소화하거나 다른 방식으로 변경할 수 있다. 각자의 충전 단자들(T₁ 및/또는 T₂)의 크기가 또한 조절될 수 있다. 충전 단자들(T₁ 및/또는 T₂)의 크기를 변화시키는 것에 의해, 인지될 수 있는 바와 같이, 각자의 자기 정전용량들(C₁ 및/또는 C₂) 및 상호 정전용량(C_M)을 변경할 것이다.

게다가, 조절될 수 있는 다른 파라미터는 유도 표면 도파로 프로브(200e)와 연관된 공급 네트워크(209)이다. 이것은 공급 네트워크(209)를 구성하는 유도성 및/또는 용량성 리액턴스들의 크기를 조절하는 것에 의해 달성될 수 있다. 예를 들어, 이러한 유도성 리액턴스들이 코일들을 포함하는 경우, 이러한 코일들 상의 턴 수가 조절될 수 있다. 궁극적으로, 공급 네트워크(209)의 전기적 길이를 변경함으로써 충전 단자들(T₁ 및 T₂) 상의 전압 크기들 및 위상들에 영향을 주기 위해 공급 네트워크(209)에 대한 조절들이 행해질 수 있다.

인지될 수 있는 바와 같이, 다양한 조절들을 행하는 것에 의해 수행되는 전송의 반복들이 컴퓨터 모델들을 사용하는 것에 의해 또는 물리적 구조물들을 조절하는 것에 의해 구현될 수 있다는 것에 유의한다. 상기 조절들을 행하는 것에 의해, 앞서 기재된 수학식 90 및 수학식 91에 명시된 유도 표면파 모드의 동일한 전류들(J(

))을 근사화하는 대응하는 "근위" 표면 전류(J₁) 및 "원위" 표면 전류(J₂)를 생성할 수 있다. 그렇게 할 때, 결과적인 전자기 필드들이 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상의 유도 표면파 모드에 실질적으로 또는 대략적으로 모드-매칭될 것이다.

도 16의 예에 도시되어 있지 않지만, 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 동작이 유도 표면 도파로 프로브(200)와 연관된 동작 조건들의 변동들에 맞춰 조절되도록 제어될 수 있다. 예를 들어, 도 12에 도시된 프로브 제어 시스템(230)은 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 동작을 제어하기 위해 공급 네트워크(209) 및/또는 충전 단자들(T₁ 및/또는 T₂)의 위치선정 및/또는 크기를 제어하는 데 사용될 수 있다. 동작 조건들은 손실형 전도성 매체(203)의 특성들(예컨대, 전도율(σ) 및 상대 유전율(

))의 변동들, 필드 강도의 변동들 및/또는 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 부하의 변동들을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다.

이제 도 17을 참조하면, 여기서는 유도 표면 도파로 프로브(200f)라고 표기된, 도 16의 유도 표면 도파로 프로브(200e)의 일 예가 도시되어 있다. 유도 표면 도파로 프로브(200f)는 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)에 의해 제공되는 평면에 실질적으로 수직인 수직 축(z)을 따라 위치되는 충전 단자들(T₁ 및 T₂)을 포함한다. 제2 매체(206)는 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 있다. 충전 단자(T₁)는 자기 정전용량(C₁)을 갖고, 충전 단자(T₂)는 자기 정전용량(C₂)을 갖는다. 동작 동안, 임의의 주어진 순간에 충전 단자들(T₁ 및 T₂)에 인가되는 전압들에 의존하는 전하(Q₁)와 전하(Q₂)가 충전 단자(T₁) 및 충전 단자(T₂)에, 각각, 부여된다. 충전 단자(T₁)와 충전 단자(T₂) 사이에 그들 사이의 거리에 의존하는 상호 정전용량(C_M)이 존재할 수 있다. 그에 부가하여, 손실형 전도성 매체(203)에 대한 각자의 충전 단자들(T₁ 및 T₂)의 높이들에 의존하는 속박 정전용량들이 각자의 충전 단자들(T₁ 및 T₂)과 손실형 전도성 매체(203) 사이에 존재할 수 있다.

유도 표면 도파로 프로브(200f)는 충전 단자들(T₁ 및 T₂)의 각자의 충전 단자들에 결합되는 한 쌍의 리드들을 갖는 코일(L_1a)을 포함하는 유도성 임피던스를 포함하는 공급 네트워크(209)를 포함한다. 일 실시예에서, 코일(L_1a)은 유도 표면 도파로 프로브(200f)의 동작 주파수에서의 파장의 절반(1/2)인 전기적 길이를 갖는 것으로 명시되어 있다.

코일(L_1a)의 전기적 길이가 동작 주파수에서의 파장의 대략 절반(1/2)으로서 명시되어 있지만, 코일(L_1a)이 다른 값들의 전기적 길이를 갖는 것으로 명시될 수 있다는 것이 이해된다. 일 실시예에 따르면, 코일(L_1a)이 동작 주파수에서의 파장의 대략 절반의 전기적 길이를 갖는다는 사실은 충전 단자들(T₁ 및 T₂)에 최대 전압차가 생성된다는 점에서 장점을 제공한다. 그럼에도 불구하고, 유도 표면파 모드의 최적의 여기를 달성하기 위해 유도 표면 도파로 프로브(200f)를 조절할 때 코일(L_1a)의 길이 또는 직경이 증가 또는 감소될 수 있다. 코일 길이의 조절은 코일의 한쪽 단부 또는 양쪽 단부들에 위치된 탭들에 의해 제공될 수 있다. 다른 실시예들에서, 유도성 임피던스가 유도 표면 도파로 프로브(200f)의 동작 주파수에서의 파장의 1/2보다 상당히 더 작거나 더 큰 전기적 길이를 갖는 것으로 명시되어 있을 수 있다.

여기 소스(212)가 자기 결합에 의해 공급 네트워크(209)에 결합될 수 있다. 구체적으로는, 여기 소스(212)가 코일(L_1a)에 유도적으로 결합되는 코일(L_P)에 결합된다. 이것은, 인지될 수 있는 바와 같이, 링크 결합, 탭을 갖는 코일(tapped coil), 가변 리액턴스, 또는 다른 결합 접근법에 의해 행해질 수 있다. 이를 위해, 인지될 수 있는 바와 같이, 코일(L_P)은 1차측(primary)으로서 기능하고, 코일(L_1a)은 2차측(secondary)으로서 기능한다.

원하는 유도 표면파의 전송을 위해 유도 표면 도파로 프로브(200f)를 조절하기 위해, 손실형 전도성 매체(203)에 대한 그리고 서로에 대한 각자의 충전 단자들(T₁ 및 T₂)의 높이들이 변경될 수 있다. 또한, 충전 단자들(T₁ 및 T₂)의 크기들이 변경될 수 있다. 그에 부가하여, 턴들을 부가 또는 제거하는 것에 의해 또는 코일(L_1a)의 어떤 다른 치수를 변화시키는 것에 의해 코일(L_1a)의 크기가 변경될 수 있다. 코일(L_1a)은 또한 도 17에 도시된 바와 같이 전기적 길이를 조절하기 위한 하나 이상의 탭을 포함할 수 있다. 어느 하나의 충전 단자(T₁ 또는 T₂)에 연결된 탭의 위치가 또한 조절될 수 있다.

다음에 도 18a, 도 18b, 도 18c 및 도 19를 참조하면, 무선 전력 전달 시스템들에서 표면 유도파들을 사용하기 위한 일반화된 수신 회로들의 예들이 도시되어 있다. 도 18a, 도 18b 및 도 18c는, 각각, 선형 프로브(303) 및 튜닝형 공진기(tuned resonator)(306)를 포함한다. 도 19는 본 개시내용의 다양한 실시예들에 따른 자기 코일(309)이다. 다양한 실시예들에 따르면, 선형 프로브(303), 튜닝형 공진기(306), 및 자기 코일(309) 각각은 다양한 실시예들에 따라 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상에서 유도 표면파의 형태로 전송되는 전력을 수신하는 데 이용될 수 있다. 앞서 언급된 바와 같이, 일 실시예에서, 손실형 전도성 매체(203)는 지상 매체(또는 지구)를 포함한다.

특히 도 18a를 참조하면, 선형 프로브(303)의 출력 단자들(312)에서의 개방 회로 단자 전압은 선형 프로브(303)의 유효 높이에 의존한다. 이 때문에, 단자 지점 전압(terminal point voltage)은 수학식 96으로서 계산될 수 있고,

[수학식 96]

여기서, E_inc는 미터 당 볼트 단위의 선형 프로브(303) 상에 유도되는 입사 전기 필드의 강도이고, dl은 선형 프로브(303)의 방향을 따른 적분 요소이며, h_e는 선형 프로브(303)의 유효 높이이다. 전기 부하(315)가 임피던스 매칭 네트워크(318)를 통해 출력 단자들(312)에 결합된다.

선형 프로브(303)에 앞서 기술된 바와 같은 유도 표면파가 인가될 때, 출력 단자들(312)에 걸쳐 전압이 발생하며, 이 전압이 경우에 따라 켤레 임피던스 매칭 네트워크(318)를 통해 전기 부하(315)에 인가될 수 있다. 전기 부하(315)로의 전력의 흐름을 용이하게 하기 위해, 전기 부하(315)는 이하에서 기술될 것인 바와 같이 선형 프로브(303)에 실질적으로 임피던스 매칭되어야만 한다.

도 18b를 참조하면, 유도 표면파의 파 경사와 동일한 위상 시프트를 갖는 접지 전류 여기 코일(ground currentexcited coil)(306a)은 손실형 전도성 매체(203) 위쪽에 상승되어 있는(또는 부유되어 있는) 충전 단자(T_R)를 포함한다. 충전 단자(T_R)는 자기 정전용량(C_R)을 갖는다. 그에 부가하여, 손실형 전도성 매체(203)로부터의 충전 단자(T_R)의 높이에 따라 충전 단자(T_R)와 손실형 전도성 매체(203) 사이에 속박 정전용량(도시되지 않음)이 또한 존재할 수 있다. 속박 정전용량은 실행가능한 한 많이 최소화되는 것이 바람직하지만, 이것이 모든 경우에서 전적으로 필요한 것은 아닐 수 있다.

튜닝형 공진기(306a)는 위상 시프트(Φ)를 갖는 코일(L_R)을 포함하는 수신기 네트워크를 또한 포함한다. 코일(L_R)의 한쪽 단부는 충전 단자(T_R)에 결합되고, 코일(L_R)의 다른 쪽 단부는 손실형 전도성 매체(203)에 결합된다. 수신기 네트워크는 코일(L_R)을 충전 단자(T_R)에 결합시키는 수직 공급 라인 전도체를 포함할 수 있다. 이를 위해, 코일(L_R)(튜닝형 공진기(L_R-C_R)라고도 지칭될 수 있음)은 직렬-조절형 공진기(series-adjusted resonator)를 충전 단자(C_R)로서 포함하며, 코일(L_R)은 직렬로 배치된다. 구조물의 위상(Φ)이 파 경사각(Ψ)과 실질적으로 동일하게 되도록 충전 단자(T_R)의 크기 및/또는 높이를 변화시키는 것 및/또는 코일(L_R)의 크기를 조절하는 것에 의해 코일(L_R)의 위상 지연이 조절될 수 있다. 수직 공급 라인의 위상 지연이 또한, 예컨대, 전도체의 길이를 변화시키는 것에 의해 조절될 수 있다.

예를 들어, 자기 정전용량(C_R)에 의해 제공되는 리액턴스는 1/jωC_R로서 계산된다. 구조물(306a)의 총 정전용량이 또한 충전 단자(T_R)와 손실형 전도성 매체(203) 사이의 정전용량을 포함할 수 있고, 여기서 구조물(306a)의 총 정전용량은, 인지될 수 있는 바와 같이, 자기 정전용량(C_R) 및 임의의 속박 정전용량 둘 다로부터 계산될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 임의의 속박 정전용량을 실질적으로 감소시키거나 제거하기 위해 충전 단자(T_R)가 어떤 높이로 상승될 수 있다. 속박 정전용량의 존재는, 이전에 논의된 바와 같이, 충전 단자(T_R)와 손실형 전도성 매체(203) 사이의 정전용량 측정들로부터 결정될 수 있다.

이산 요소 코일(discrete-element coil)(L_R)에 의해 제공되는 유도성 리액턴스는 jωL로서 계산될 수 있고, 여기서 L은 코일(L_R)의 집중 요소 인덕턴스(lumped-element inductance)이다. 코일(L_R)이 분산 요소(distributed element)인 경우, 그의 등가 단자 지점 유도성 리액턴스는 종래의 접근법들에 의해 결정될 수 있다. 구조물(306a)을 튜닝하기 위해, 동작 주파수에서 표면 도파로에 모드-매칭시킬 목적으로 위상 지연이 파 경사와 동일하도록 조절을 수행할 것이다. 이 조건 하에서, 수신 구조물이 표면 도파로와 "모드-매칭되는" 것으로 간주될 수 있다. 구조물 주변의 변압기 링크(transformer link) 및/또는 임피던스 매칭 네트워크(324)가 부하에 전력을 결합시키기 위해 프로브와 전기 부하(327) 사이에 삽입될 수 있다. 임피던스 매칭 네트워크(324)를 프로브 단자들(321)과 전기 부하(327) 사이에 삽입하는 것은 전기 부하(327)로의 최대 전력 전송을 위한 켤레 매칭 조건(conjugate-match condition)을 달성할 수 있다.

동작 주파수들에서 표면 전류들이 존재할 때, 전력이 표면 유도파부터 전기 부하(327)에게 전달될 것이다. 이를 위해, 전기 부하(327)가 자기 결합(magnetic coupling), 용량성 결합(capacitive coupling), 또는 전도성(직접 탭(direct tap)) 결합을 통해 구조물(306a)에 결합될 수 있다. 결합 네트워크의 요소들은, 인지될 수 있는 바와 같이, 집중 컴포넌트(lumped component)들 또는 분산 요소들일 수 있다.

도 18b에 도시된 실시예에서, 변압기 1차측으로서 기능하는 코일(L_R)에 대해 코일(L_S)이 2차측으로서 배치되는 자기 결합이 이용된다. 인지될 수 있는 바와 같이, 코일을 동일한 코어 구조물 주위에 기하학적으로 권취하고 결합 자속(coupled magnetic flux)을 조절하는 것에 의해 코일(L_S)이 코일(L_R)에 링크-결합(link-couple)될 수 있다. 그에 부가하여, 수신 구조물(306a)이 직렬 튜닝형 공진기(series-tuned resonator)를 포함하지만, 병렬 튜닝형 공진기(parallel-tuned resonator) 또는 심지어는 적절한 위상 지연의 분산-요소 공진기(distributed-element resonator)가 또한 사용될 수 있다.

전자기 필드 속에 놓여 있는 수신 구조물이 필드들로부터의 에너지를 결합시킬 수 있지만, 이 결합을 최대화하는 것에 의해 편파 매칭된 구조물(polarization-matched structure)들이 최상으로 작동할 수 있으며, 도파로 모드들에의 프로브 결합(probe-coupling)에 대한 종래의 규칙들이 준수되어야만 한다는 것이 인지될 수 있다. 예를 들어, TE₂₀(횡방향 전기 모드(transverse electric mode)) 도파로 프로브는 TE₂₀ 모드에서 여기된 종래의 도파로로부터 에너지를 추출하는 데 최적일 수 있다. 이와 유사하게, 이 경우들에서, 모드-매칭되고 위상-매칭된 수신 구조물은 표면 유도파부터의 전력을 결합시키도록 최적화될 수 있다. 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상에 유도 표면 도파로 프로브(200)에 의해 여기되는 유도 표면파는 개방형 도파로(open waveguide)의 도파로 모드인 것으로 간주될 수 있다. 도파로 손실들을 제외하고, 소스 에너지가 완전히 회수될 수 있다. 유용한 수신 구조물들은 E-필드 결합되거나, H-필드 결합되거나, 표면-전류 여기될 수 있다.

수신 구조물이 수신 구조물 근방에 있는 손실형 전도성 매체(203)의 국지적 특성들에 기초하여 유도 표면파와의 결합을 증가 또는 최대화하도록 조절될 수 있다. 이것을 달성하기 위해, 수신 구조물의 위상 지연(Φ)이 수신 구조물에서의 표면 진행파의 파 경사각(Ψ)과 매칭하도록 조절될 수 있다. 적절하게 구성된 경우, 수신 구조물은 복소 깊이 z = -d/2에 있는 완전 전도성 이미지 접지 평면과 관련하여 공진하도록 튜닝될 수 있다.

예를 들어, 코일(L_R) 및 코일(L_R)과 충전 단자(T_R) 사이에 연결된 수직 공급 라인을 포함하는, 도 18b의 튜닝형 공진기(306a)를 포함하는 수신 구조물을 고려한다. 충전 단자(T_R)가 손실형 전도성 매체(203)로부터 어떤 정의된 높이에 위치된 경우, 코일(L_R) 및 수직 공급 라인의 총 위상 시프트(Φ)가 튜닝형 공진기(306a)의 위치에서의 파 경사각(Ψ)과 매칭될 수 있다. 수학식 22로부터, 파 경사가 점근적으로 수학식 97로 되는 것을 알 수 있고,

[수학식 97]

여기서

은 상대 유전율을 포함하고, σ₁은 수신 구조물의 위치에서의 손실형 전도성 매체(203)의 전도율이며, ε_o는 자유 공간의 유전율이고, ω = 2πf이며, 여기서 f는 여기 주파수이다. 따라서, 파 경사각(Ψ)은 수학식 97로부터 결정될 수 있다.

튜닝형 공진기(306a)의 총 위상 시프트(Φ = θ_c + θ_y)는 코일(L_R)을 통한 위상 지연(θ_c)과 수직 공급 라인의 위상 지연(θ_y) 둘 다를 포함한다. 수직 공급 라인의 전도체 길이(l_w)를 따른 공간적 위상 지연은 θ_y = β_wl_w에 의해 주어질 수 있고, 여기서 β_w는 수직 공급 라인 전도체에 대한 전파 위상 상수이다. 코일(또는 나선형 지연 라인)로 인한 위상 지연은, 물리적 길이가 l_C이고 전파 인자가 수학식 98인 경우, θ_c = β_pl_C이며,

[수학식 98]

여기서 V_f는 구조물 상의 속도 인자이고, λ₀는 공급된 주파수에서의 파장이며, λ_p는 속도 인자 V_f로부터 얻어지는 전파 파장이다. 위상 시프트(Φ)를 파 경사각(Ψ)에 매칭시키기 위해 위상 지연들(θ_c + θ_y) 중 하나 또는 둘 다가 조절될 수 있다. 예를 들어, 총 위상 시프트를 파 경사각에 매칭시키도록(Φ = Ψ) 코일 위상 지연(θ_c)을 조절하기 위해 도 18b의 코일(L_R) 상에서의 탭 위치가 조절될 수 있다. 예를 들어, 코일의 일부분이 도 18b에 예시되는 바와 같이 탭 연결에 의해 바이패스(bypass)될 수 있다. 수직 공급 라인 전도체가 또한 탭을 통해 코일(L_R)에 연결될 수 있고, 코일 상에서의 탭의 위치가 총 위상 시프트를 파 경사각에 매칭시키도록 조절될 수 있다.

튜닝형 공진기(306a)의 위상 지연(Φ)이 조절되었으면, 충전 단자(T_R)의 임피던스가 복소 깊이(z = -d/2)에 있는 완전 전도성 이미지 접지 평면과 관련하여 공진으로 튜닝되도록 조절될 수 있다. 이것은 코일(L_R) 및 수직 공급 라인의 진행파 위상 지연들을 변화시키지 않으면서 충전 단자(T₁)의 정전용량을 조절하는 것에 의해 달성될 수 있다. 이 조절들은 도 9a 및 도 9b와 관련하여 기술된 것들과 유사하다.

손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 복소 이미지 평면까지 "내려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 99에 의해 주어지며:

[수학식 99]

여기서

이다. 지구 위쪽에 있는 수직 편파 소스들에 대하여, 복소 이미지 평면의 깊이는 수학식 100에 의해 주어질 수 있고:

[수학식 100]

여기서 μ₁은 손실형 전도성 매체(203)의 투자율이고,

이다.

튜닝형 공진기(306a)의 베이스에서, 수신 구조물 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 도 9a에 예시된 바와 같이

이다. 단자 임피던스가 수학식 101:

[수학식 101]

- C_R은 충전 단자(T_R)의 자기 정전용량임 - 인 경우, 튜닝형 공진기(306a)의 수직 공급 라인 전도체 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 102에 의해 주어지고:

[수학식 102]

튜닝형 공진기(306a)의 코일(L_R) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 임피던스는 수학식 103에 의해 주어진다:

[수학식 103]

손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때" 보이는 무효 성분(X_in)을 튜닝형 공진기(306a) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 무효 성분(X_base)과 매칭시키는 것에 의해, 유도 표면 도파로 모드에의 결합이 최대화될 수 있다.

다음에 도 18c를 참조하면, 수신 구조물의 상단에 충전 단자(T_R)를 포함하지 않는 튜닝형 공진기(306b)의 일 예가 도시되어 있다. 이 실시예에서, 튜닝형 공진기(306b)는 코일(L_R)과 충전 단자(T_R) 사이에 결합되는 수직 공급 라인을 포함하지 않는다. 따라서, 튜닝형 공진기(306b)의 총 위상 시프트(Φ)는 코일(L_R)을 통한 위상 지연(θ_c)만을 포함한다. 도 18b의 튜닝형 공진기(306a)에서와 같이, 코일 위상 지연(θ_c)이 수학식 97로부터 결정된 파 경사각(Ψ)과 매칭하도록 - 그 결과 Φ = Ψ임 - 조절될 수 있다. 수신 구조물이 표면 도파로 모드에 결합된 경우에 전력 추출이 가능하지만, 충전 단자(T_R)에 의해 제공되는 가변 무효 부하(variable reactive load) 없이 유도 표면파와의 결합을 최대화하도록 수신 구조물을 조절하는 것은 어렵다.

도 18d를 참조하면, 손실형 전도성 매체(203)의 표면 상의 유도 표면 도파로 모드에 실질적으로 모드-매칭되도록 수신 구조물을 조절하는 것의 일 예를 예시하는 플로차트(180)가 도시되어 있다. 181에서 시작하여, 수신 구조물이 (예컨대, 도 18b의 튜닝형 공진기(306a)의) 충전 단자(T_R)를 포함하는 경우, 184에서 충전 단자(T_R)가 손실형 전도성 매체(203)로부터 어떤 정의된 높이에 위치된다. 표면 유도파가 유도 표면 도파로 프로브(200)에 의해 확립되어 있기 때문에, 충전 단자(T_R)의 물리적 높이(h_p)는 유효 높이보다 아래에 있을 수 있다. 이 물리적 높이는 충전 단자(T_R) 상의 속박 전하를 감소시키거나 최대화하도록 선택될 수 있다(예컨대, 충전 단자의 구체 직경의 4배). 수신 구조물이 (예컨대, 도 18c의 튜닝형 공진기(306b)의) 충전 단자(T_R)를 포함하지 않는 경우, 흐름은 187로 진행한다.

187에서, 수신 구조물의 전기적 위상 지연(Φ)이 손실형 전도성 매체(203)의 국지적 특성들에 의해 정의되는 복소 파 경사각(Ψ)에 매칭된다. Φ를 파 경사(W)의 각도(Ψ)와 동일하도록 하기 위해 나선형 코일의 위상 지연(θ_c) 및/또는 수직 공급 라인의 위상 지연(θ_y)이 조절될 수 있다. 파 경사각(Ψ)이 수학식 86으로부터 결정될 수 있다. 전기적 위상(Φ)이 이어서 파 경사각에 매칭될 수 있다. 예를 들어, 코일(L_R)의 기하학적 파라미터들 및/또는 수직 공급 라인 전도체의 길이(또는 높이)를 변화시키는 것에 의해 전기적 위상 지연(Φ = θ_c + θ_y)이 조절될 수 있다.

다음에 190에서, 충전 단자(T_R)의 부하 임피던스가 튜닝형 공진기(306a)의 등가 이미지 평면 모델을 공진시키도록 튜닝될 수 있다. 수신 구조물로부터의 전도성 이미지 접지 평면(139)(도 9a)의 깊이(d/2)는 수학식 100 및, 국지적으로 측정될 수 있는, 수신 구조물에 있는 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)의 값들을 사용하여 결정될 수 있다. 그 복소 깊이를 사용하여, 손실형 전도성 매체(203)의 물리적 경계(136)와 이미지 접지 평면(139)(도 9a) 사이의 위상 시프트(θ_d)는 θ_d = β_o d/2를 사용하여 결정될 수 있다. 손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때" 보이는 임피던스(Z_in)가 이어서 수학식 99를 사용하여 결정될 수 있다. 유도 표면파들과의 결합을 최대화하기 위해 이러한 공진 관계가 고려될 수 있다.

코일(L_R)의 조절된 파라미터들 및 수직 공급 라인 전도체의 길이에 기초하여, 코일(L_R) 및 수직 공급 라인의 속도 인자, 위상 지연, 및 임피던스가 결정될 수 있다. 그에 부가하여, 충전 단자(T_R)의 자기 정전용량(C_R)이, 예컨대, 수학식 24를 사용하여 결정될 수 있다. 코일(L_R)의 전파 인자(β_p)는 수학식 98을 사용하여 결정될 수 있고, 수직 공급 라인에 대한 전파 위상 상수(β_w)는 수학식 49를 사용하여 결정될 수 있다. 코일(L_R) 및 수직 공급 라인의 결정된 값들 및 자기 정전용량을 사용하여, 코일(L_R) 안쪽으로 "올려다볼 때" 보이는 튜닝형 공진기(306a)의 임피던스(Z_base)가 수학식 101, 수학식 102, 및 수학식 103을 사용하여 결정될 수 있다.

도 9a의 등가 이미지 평면 모델이 또한 도 18b의 튜닝형 공진기(306a)에 적용된다. Z_base의 리액턴스 성분 X_base가 Z_in의 X_in의 리액턴스 성분을 소거하도록, 또는 X_base + X_in = 0이도록 충전 단자(T_R)의 부하 임피던스(Z_R)를 조절하는 것에 의해, 튜닝형 공진기(306a)가 복소 이미지 평면과 관련하여 공진으로 튜닝될 수 있다. 따라서, 튜닝형 공진기(306a)의 코일 안쪽으로 "올려다볼 때의" 물리적 경계(136)(도 9a)에서의 임피던스는 손실형 전도성 매체(203) 안쪽으로 "내려다볼 때의" 물리적 경계(136)에서의 임피던스의 켤레이다. 충전 단자(T_R)에게 보이는 전기적 위상 지연(Φ = θ_c + θ_y)을 변화시키지 않으면서 충전 단자(T_R)의 정전용량(C_R)을 변화시킴으로써 부하 임피던스(Z_R)가 조절될 수 있다. 전도성 이미지 접지 평면(139)과 관련하여 등가 이미지 평면 모델을 공진시키도록 부하 임피던스(Z_R)를 튜닝하기 위해 반복적 접근법이 취해질 수 있다. 이러한 방식으로, 전기 필드를 손실형 전도성 매체(203)(예컨대, 지구)의 표면을 따른 유도 표면 도파로 모드에 결합시키는 것이 향상 및/또는 최대화될 수 있다.

도 19를 참조하면, 자기 코일(309)은 임피던스 매칭 네트워크(333)를 통해 전기 부하(336)에 결합되는 수신 회로를 포함한다. 유도 표면파로부터의 전력의 수신 및/또는 추출을 용이하게 하기 위해, 유도 표면파의 자속()이 자기 코일(309)을 통과하도록 자기 코일(309)이 위치될 수 있으며, 그에 의해 자기 코일(309)에 전류를 유도(induce)하고 그의 출력 단자들(330)에 단자 지점 전압을 생성한다. 단일 턴 코일(single turncoil)에 결합되는 유도 표면파의 자속은 수학식 104에 의해 표현되고,

[수학식 104]

여기서

는 결합 자속이고, μ_r은 자기 코일(309)의 코어의 유효 상대 투자율이며, μ_o는 자유 공간의 투자율이고,

는 입사 자기 필드 강도 벡터이며,

은 턴들의 단면 영역(cross-sectional area)에 수직인 단위 벡터이고, A_CS는 각각의 루프에 의해 둘러싸인 영역이다. 자기 코일(309)의 단면 영역에 걸쳐 균일한 입사 자기 필드에의 최대 결합을 위해 배향된 N-턴(N-turn) 자기 코일(309)에 대해, 자기 코일(309)의 출력 단자들(330)에 나타나는 개방-회로 유도 전압은 수학식 105이고,

[수학식 105]

여기서 변수들은 앞서 정의되어 있다. 자기 코일(309)은, 경우에 따라, 분산형 공진기로서 또는 그의 출력 단자들(330) 사이에 있는 외부 커패시터에 의해 유도 표면파 주파수로 튜닝될 수 있고, 이어서 켤레 임피던스 매칭 네트워크(333)를 통해 외부 전기 부하(336)에 임피던스 매칭될 수 있다.

자기 코일(309) 및 전기 부하(336)에 의해 제공되는 결과적인 회로가, 임피던스 매칭 네트워크(333)를 통해, 적절하게 조절되어 켤레 임피던스 매칭된다고 가정하면, 자기 코일(309)에 유도되는 전류는 전기 부하(336)에 최적으로 전력을 공급하는 데 이용될 수 있다. 자기 코일(309)에 의해 제공되는 수신 회로는 접지에 물리적으로 연결될 필요가 없다는 점에서 장점을 제공한다.

도 18a, 도 18b, 도 18c 및 도 19를 참조하면, 선형 프로브(303), 모드-매칭된 구조물(306), 및 자기 코일(309)에 의해 제공되는 수신 회로들 각각은 앞서 기술된 유도 표면 도파로 프로브들(200)의 실시예들 중 임의의 것으로부터 전송되는 전력을 수신하는 것을 용이하게 한다. 이를 위해, 수신된 에너지는, 인지될 수 있는 바와 같이, 켤레 매칭 네트워크를 통해 전기 부하(315/327/336)에게 전력을 공급하는 데 사용될 수 있다. 이것은 방사 전자기 필드의 형태로 전송된, 수신기에서 수신될 수 있는 신호들과 대조적이다. 이러한 신호들은 매우 낮은 가용 전력을 갖고, 이러한 신호들의 수신기들은 송신기들에 대해 부하로 작용하지 않는다.

선형 프로브(303), 모드-매칭된 구조물(306), 및 자기 코일(309)에 의해 제공되는 수신 회로들이 유도 표면 도파로 프로브(200)에 인가되는 여기 소스(212)(예컨대, 도 3, 도 12 및 도 16)에 대해 부하로 작용할 것이고, 그에 의해 이러한 수신 회로들에 인가되는 유도 표면파를 생성하는 것이 또한 앞서 기술된 유도 표면 도파로 프로브들(200)을 사용하여 생성되는 본 유도 표면파들의 특징이다. 이것은 앞서 기술된 주어진 유도 표면 도파로 프로브(200)에 의해 생성되는 유도 표면파가 전송 라인 모드를 포함한다는 사실을 반영한다. 이와 달리, 방사 전자기파를 생성하는 방사 안테나를 구동하는 전원에 대해서는, 이용되는 수신기들의 개수에 관계없이, 수신기들이 부하로 작용하지 않는다.

따라서, 선형 프로브(303) 형태의 하나 이상의 수신 회로 및 하나 이상의 유도 표면 도파로 프로브(200)와 함께, 튜닝형 모드-매칭된 구조물(306) 및/또는 자기 코일(309)은 무선 분배 시스템(wireless distribution system)을 구성할 수 있다. 앞서 기재된 바와 같은 유도 표면 도파로 프로브(200)를 사용하는 유도 표면파의 전송의 거리가 주파수에 의존하는 경우, 무선 전력 분배가 넓은 영역들에 걸쳐 그리고 심지어 전 세계적으로 달성될 수 있는 것이 가능하다.

오늘날 광범위하게 연구되는 종래의 무선 전력 전송/분배 시스템들은 방사 필드들로부터의 "에너지 하베스팅(energy harvesting)" 그리고 또한 유도성 또는 리액티브 근거리 필드(near-field)들에의 센서 결합을 포함한다. 이와 달리, 본 무선 전력 시스템은, 인터셉트되지 않으면, 영원히 손실되는 방사의 형태로 전력을 낭비하지 않는다. 여기 개시되는 무선 전력 시스템은 종래의 상호 리액턴스 결합 근거리 필드 시스템(mutual-reactance coupled near-field system)들에서와 같이 극히 짧은 범위들로 제한되지도 않는다. 본원에 개시되는 무선 전력 시스템은 신규의 표면 유도 전송 라인 모드에 프로브 결합(probe-couple)하며, 이는 도파로에 의해 부하에 또는 멀리 떨어진 발전기에 직접 결선된 부하에 전력을 전달하는 것과 등가이다. 전송 필드 강도를 유지하는 데 요구된 전력 및, 극히 낮은 주파수들에서는 60 Hz에서의 종래의 고압 전력 라인들에서의 전송 손실들에 비해 사소한, 표면 도파로에서 소실되는 전력을 제외하고는, 발전기 전력 전부가 원하는 전기 부하로만 간다. 전기 부하 수요(electrical load demand)가 종료될 때, 소스 전력 생성(source power generation)은 비교적 무부하(idle)이다.

다음에 도 20a 내지 도 20e를 참조하면, 이하의 논의를 참조하여 사용되는 다양한 개략적인 심벌들의 예들이 도시되어 있다. 특히 도 20a를 참조하면, 유도 표면 도파로 프로브들(200a, 200b, 200c, 200e, 200d, 또는 200f); 또는 이들의 임의의 변형들 중 임의의 것을 나타내는 심벌이 도시되어 있다. 이하의 도면들 및 논의에서, 이 심벌의 묘사는 유도 표면 도파로 프로브(P)라고 지칭될 것이다. 이하의 논의에서 간략함을 위해, 유도 표면 도파로 프로브(P)에 대한 임의의 참조는 유도 표면 도파로 프로브들(200a, 200b, 200c, 200e, 200d, 또는 200f); 또는 이들의 변형들 또는 조합들 중 임의의 것에 대한 참조이다.

이와 유사하게, 도 20b를 참조하면, 선형 프로브(303)(도 18a), 튜닝형 공진기(306)(도 18b 및 도 18c), 또는 자기 코일(309)(도 19) 중 임의의 것을 포함할 수 있는 유도 표면파 수신 구조물을 나타내는 심벌이 도시되어 있다. 이하의 도면들 및 논의에서, 이 심벌의 묘사는 유도 표면파 수신 구조물(R)이라고 지칭될 것이다. 이하의 논의에서 간략함을 위해, 유도 표면파 수신 구조물(R)에 대한 임의의 참조는 선형 프로브(303), 튜닝형 공진기(306), 또는 자기 코일(309); 또는 이들의 변형들 또는 조합들 중 임의의 것에 대한 참조이다.

게다가, 도 20c를 참조하면, 선형 프로브(303)(도 18a)를 구체적으로 나타내는 심벌이 도시되어 있다. 이하의 도면들 및 논의에서, 이 심벌의 묘사는 유도 표면파 수신 구조물(R_P)이라고 지칭될 것이다. 이하의 논의에서 간략함을 위해, 유도 표면파 수신 구조물(R_P)에 대한 임의의 참조는 선형 프로브(303) 또는 그의 변형들에 대한 참조이다.

게다가, 도 20d를 참조하면, 튜닝형 공진기(306)(도 18b 및 도 18c)를 구체적으로 나타내는 심벌이 도시되어 있다. 이하의 도면들 및 논의에서, 이 심벌의 묘사는 유도 표면파 수신 구조물(R_R)이라고 지칭될 것이다. 이하의 논의에서 간략함을 위해, 유도 표면파 수신 구조물(R_R)에 대한 임의의 참조는 튜닝형 공진기(306) 또는 그의 변형들에 대한 참조이다.

게다가, 도 20e를 참조하면, 자기 코일(309)(도 19)을 구체적으로 나타내는 심벌이 도시되어 있다. 이하의 도면들 및 논의에서, 이 심벌의 묘사는 유도 표면파 수신 구조물(R_M)이라고 지칭될 것이다. 이하의 논의에서 간략함을 위해, 유도 표면파 수신 구조물(R_M)에 대한 임의의 참조는 자기 코일(309) 또는 그의 변형들에 대한 참조이다.

2. 객체 식별

2(A). 일반 개요

도 21 및 도 22를 추가로 참조하면, 하나 이상의 응답형 태그(responsive tag)(402)에 전력을 공급하기 위해 선행 섹션에서 기술된 바와 같은 유도 표면파들을 사용하는 객체 식별 시스템(400)의 실시예들이 개략적으로 예시되어 있다. 첨부 도면들이 꼭 일정 축척으로 되어 있는 것은 아니라는 것이 재강조될 것이다.

각각의 태그(402)는 객체(404)와 연관되어 있을 수 있다. 객체(404)는 임의의 유형의 물품일 수 있다. 예시적인 객체들(404)은 소비자 품목, 일군의 상품, 의류, 식품, 물품 포장재, 다수의 물품들을 위한 컨테이너, 차량, 상품이 쌓여 있는 팔레트, 선적 컨테이너, 또는 추적이 요망되는 임의의 다른 품목을 포함하지만, 이들로 제한되지 않는다.

객체 식별 시스템(400)은 인테로게이터(interrogator)(406)를 포함한다. 도 21의 실시예에서, 인테로게이터(406)는 동일 장소에 배치되는(co-located) 유도 표면파 도파로 프로브(P) 및 수신기(408)를 포함한다. 프로브(P) 및 수신기(408)는, 레이돔(radome), 장식 인클로저 등과 같은, 동일한 구조물 내에 하우징될 수 있다. 이 실시예에서, 인테로게이터(406)는 전형적으로 고정된 위치를 갖는다.

도 22의 실시예에서, 프로브(P)와 수신기(408)는 동일 장소에 배치되지 않는다. 기술될 것인 바와 같이 프로브(P)와 수신기(408)는 물리적 관계를 가질 수 있거나(예컨대, 둘 다가 하나의 시설에 설치될 수 있음) 물리적 연관을 전혀 또는 거의 갖지 않을 수 있다. 이 실시예에서, 프로브(P)와 수신기(408)는 기능적으로 인테로게이터(406)를 형성하지만, 꼭 동일한 당사자에 의해 배치되는 것은 아니고, 동일 장소에 설치될 필요가 없으며, 하나의 유닛으로서 생각될 필요가 없다. 이 실시예에서, 프로브(P)는 전형적으로 고정된 위치를 가지며 레이돔 또는 장식 인클로저와 같은 적당한 구조물에 하우징될 수 있다. 수신기(408)는 고정된 위치를 가질 수 있거나 휴대형일 수 있다. 예를 들어, 수신기(408)는 사람이 돌아다닐 때 사람에 의해 파지되어 사용될 수 있거나, 트럭, 지게차, 항공기, 화물선 등과 같은 차량에 장착될 수 있다.

도 21 및 도 22의 실시예들에서, 프로브(P)는 선행 섹션에서 기술된 바와 같이 아래에 있는 지상 매체(410)를 따라 유도 표면파를 발진시킨다. 지상 매체(410)는, 지구, 상점의 바닥, 창고, 공장 또는 다른 시설, 또는 임의의 다른 적절한 기재(substrate) - 이들로 제한되지 않음 - 와 같은, 임의의 적절한 손실형 전도성 매체일 수 있다. 기술된 바와 같이, 프로브(P)는 방사파를 생성하지 않고, 매체(410)의 표면을 따라 유도 표면파를 발진시킨다. 프로브(P)로부터의 방출된 에너지는 유도 표면 도파로 프로브(P)의 유효 전송 범위 내에 위치되는 하나 이상의 태그(402)에게 Zenneck 표면 전류들로서 전송된다. 프로브(P)는 앞서 기술된 프로브들 중 임의의 것으로서 또는 임의의 다른 적절한 구성으로 구성될 수 있다.

도 23을 추가로 참조하면, 대표적인 태그(402)가 개략적으로 예시되어 있다. 태그(402)는 RFID 태그와 거의 유사하게 구성되고, 종이 또는 플라스틱 시트와 같은, 기판(416)에 장착되는 안테나(412) 및 태그 회로(414)를 포함한다. 기판(416)은 태그(402)를 객체(404)에 부착하기 위한 접착제를 포함할 수 있다. 다른 패스닝(fastening) 기법들이 사용될 수 있거나 태그(402)가 객체(404)의 일부를 형성할 수 있다. 다른 실시예에서, 태그가 객체(404) 내부에 위치될 수 있거나, 태그(402)의 전기 컴포넌트들이 객체(404)의 전기 컴포넌트들의 일부를 형성할 수 있다.

전형적인 실시예에서, 유도 표면파로부터 전력을 끌어내는(draw) 것 이외에, 태그(402)는, 배터리 또는 외부 전원에의 물리적 연결과 같은, 전원을 갖지 않는다. 오히려, 태그(402)는 하나 이상의 주파수의 유도 표면파들에 응답한다. 예를 들어, 프로브(P)에 의해 생성된 유도 표면파로부터의 전자기 에너지는 안테나(412)에 전류를 유도(induce)하고, 이 전류는 태그 회로(414)에 결합되어 태그 회로(414)에 전력을 공급하는 데 사용된다. RF 에너지가 종래의 RFID 태그에 전력을 공급하는 방식과 유사하게, 이러한 방식으로 태그 회로(414)에 전력을 공급하는 것은 태그(402)를 조사(illuminate)하는 것이라고 지칭될 수 있다. 그러나, 종래의 RFID 태그들과 달리, 태그 회로(414)는 프로브(P)에 대해 부하로서 작용할 수 있다.

태그 회로(414)는 임의의 적절한 전기 컴포넌트들을 포함할 수 있고 임의의 적절한 기능들을 수행하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 태그 회로(414)는 연관된 객체(404)를 식별하는 데 사용될 수 있는 식별자 - 이들로 제한되지 않음 - 와 같은 데이터를 저장하는 메모리를 포함할 수 있다. 식별자는, SKU(stock-keeping unit)와 같은, 상품 유형을 나타낼 수 있다. SKU들은 상거래에서 이용가능한 각각의 구별되는 제품에 대한 고유 식별자들이다. 대안적으로, 식별자는 그 객체를 명목상 동일한 객체들(예컨대, 동일한 SKU를 갖는 객체들)을 포함하는 모든 다른 객체들과 구별해주는 고유 식별자와 같은 특정 항목을 나타낼 수 있다. 태그 회로(414)는 메모리로부터 식별자를 판독하고, 안테나(412)(또는, 도시되지 않은, 제2 안테나)를 통해, 식별자를 포함하는 RF 신호를 데이터 메시지 포맷으로 전송할 수 있다. 다른 실시예에서, 태그(402)는 유도 표면파를 방출하는 것으로 응답할 수 있지만, 태그들(402)을 비교적 작고, 편평하며, 전력 효율적으로 유지하려는 요망으로 인해 RF 복귀 신호(RF return signal)를 생성하는 것이 보다 편리할 수 있다.

일 실시예에서, 태그는 어드레싱가능하며, 계층적 어드레싱을 포함하는, MAC(media access control) 주소 또는 IPv6(Internet protocol version 6) 주소와 같은, 고유 주소를 갖는다. 일 실시예에서, 태그의 식별자가 태그의 주소와 동일하다.

태그(402)에 의해 방출된 RF 신호는 수신기(408)에 의해 수신될 수 있다. 수신기(408)는 식별자를 결정하기 위해 신호를 분석할 수 있다. 일 실시예에서, 수신기(408)는 태그(402)의 판독 동안 수집된 식별자 및 임의의 다른 적절한 정보를 컴퓨터 시스템(418)(도 21 및 도 22)에게 전달한다. 이 목적들을 위해, 수신기(408)는 태그(402)에 의해 방출된 RF 신호를 수신하는 안테나 및 무선 회로, 태그(402)로부터 수신되거나 판독 시점에서 확인된 데이터(예컨대, 이하에서 기술되는 바와 같은 위치 데이터, 도착 시간 또는 신호 강도)의 판독, 저장, 분석 및 처리와 관련된 임의의 적절한 기능들을 수행하는 처리 회로, 및 컴퓨터 시스템(418)과의 동작 통신(operative communication)을 구축하기 위한 통신 인터페이스들을 포함할 수 있다. 따라서, 수신기(408)는 데이터 및 논리 명령어들을 저장하기 위한 메모리 및 논리 명령어들을 실행하기 위한 프로세서를 포함할 수 있다. 대안적으로, 컴퓨터 시스템(418)과 수신기(408)가 결합될 수 있다.

식별자를 수신할 때, 컴퓨터 시스템(418)은 수신된 식별자에 적절한 하나 이상의 기능을 수행할 수 있다. 컴퓨터 시스템(418)에 의해 수행되는 다양한 예시적인 기능들이 이하에서 보다 상세히 기술될 것이다.

수신기(408)와 컴퓨터 시스템(418)은 통신 매체(420)를 통해 통신할 수 있다. 통신 매체(420)는 하나 이상의 직접 유선 접속(예컨대, USB 인터페이스), 직접 무선 접속(예컨대, 블루투스 인터페이스), 원거리 네트워크 접속(예컨대, 인터넷을 통한 통신) 또는 근거리 네트워크(예컨대, 회사 네트워크 또는 WiFi 네트워크를 통한 통신), 기타 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 컴퓨터 시스템(418)은 또한 유도 표면파를 언제 생성할지, 유도 표면파 생성의 지속시간, 유도 표면파의 주파수 등의 면에서 유도 표면파의 생성을 제어하는 것 등을 위해, 프로브(P)와 통신할 수 있다.

2(B). 유도 표면파로 태그들에 전력을 공급

RFID 태그들에 전력을 공급하는 것은 순방향 링크 제한되어 있다(forward link limited). 보다 구체적으로는, 종래의 RFID 태그들은 종래의 RFID 인테로게이터(RFID 판독기라고도 지칭됨)에 의해 조사(illuminate) 및 판독된다. RFID 인테로게이터는 비교적 작은 지향성 안테나를 사용하여 RF 신호를 방출한다. 방출되는 RF 에너지는, 전형적으로 미국의 FCC(Federal Communications Commission)와 같은 규제 기관에 의해, 제한된다. 이 제한들은 다른 시스템들에 대한 허용할 수 없는 간섭을 야기하는 것을 피하기 위해 그리고 어쩌면 유해한 방사의 방출을 피하기 위해 존재한다. 따라서, 태그의 회로에 전력을 공급하고 RF 응답을 유발하기 위해 종래의 RFID 주파수들(예컨대, 900 MHz 근방에 또는 13.56 MHz에 있는 할당된 주파수들)을 사용하여 종래의 RFID 태그에 충분한 에너지를 전달하기 위해서는 종래의 RFID 인테로게이터와 종래의 RFID 태그가 아주 근접해 있을 것을 요구한다. 대부분의 경우들에서, 효과적인 판독을 위한 RFID 인테로게이터와 RFID 태그 사이의 최대 거리는 수 미터이며, RFID 태그로부터의 복귀 신호가 RFID 인테로게이터와의 유도 결합(inductive coupling)에 의존할 때 보다 짧을 수 있다. 그에 부가하여, 종래의 RFID 기술들은 고유전율 및 손실형 재료들 - 그의 일 예는 물병들 또는 수분 함유 식품들의 팔레트임 - 에 대해 좋지 않은 투과력(penetration)을 갖는다. 따라서, RFID 인테로게이터와 RFID 태그 사이에 고유전율 및 손실형 재료가 개재되어 있는 RFID 태그를 판독하는 것은 종종 성공적이지 못하다.

종래의 RFID 기술들은 내재적으로 RFID 태그들의 기능을 제한한다. 보다 구체적으로는, 처리 기능들, 메모리 판독 동작들, 메모리 기입 동작들, 데이터 전송 동작들 등을 수행하는 데 이용가능한 전력이 거의 없다. 이와 동시에, 상인들 및 다른 사람들은 재고 및 공급망 관리를 위해 RFID 적용분야들을 확장하고 제품 도난으로 인한 재고 "감모"("shrinkage" of inventory)를 줄이며 다른 기능들을 수행하는 것에 관심이 있다.

본원에 개시된 기법들은 이 결함을 극복하고 보다 많은 양의 전력을 "타깃"(예컨대, 타깃은 하나 이상의 태그(402)임) 상에 공급하기 위해 유도 표면파를 사용하여 태깅된 객체들에 대해 수행될 수 있는 기능들을 향상시킨다. 따라서, 개시된 기법은 종래의 RFID 태그들에서 발견되는 순방향 링크 제한들을 극복한다.

태그(402)는 프로브(P) 상의 부하로서 생각될 수 있으며, 대부분의 상황들에서, 처리 기능들, 메모리 판독 동작들, 메모리 기입 동작들, 데이터 전송 동작들 등을 수행하는 데 필요한 만큼의 전력을 끌어낼 수 있다. 예시적인 동작들이 이하에서 보다 상세히 기술될 것이다. 게다가, 태그(402)와 프로브(P) 사이의 거리 및 태그(402)와 수신기(408) 사이의 거리가 RFID 인테로게이터들과 RFID 태그들 사이에서 종래에 요구되는 거리에 비해 크게 확장될 수 있다. 개시된 접근법에서 태그들(402)에게 전력을 공급하는 순방향 링크가 태그(402)와 수신기(408) 사이의 복귀 링크보다 수십 dB 더 높은 링크 품질을 가질 수 있다는 것에 유의한다. 그럼에도 불구하고, 시스템 성능이 본원에 기술되는 기능들 및 특징들은 물론 다른 유사한 특징들 및 기능들을 수행하는 데 충분할 것이다.

유도 표면파로부터 전력을 도출하기 위해, 태그(402)는 안테나(412)를 포함한다. 안테나(412)는 도 23에 개략적으로 도시된 바와 같은 루프 안테나(코일 안테나라고도 지칭됨)일 수 있거나 도 19에 개략적으로 도시된 자기 코일(309)로서 구현될 수 있다. 다른 실시예들에서, 안테나(412)는 다이폴 안테나로서 또는 도 18a에 개략적으로 도시된 선형 프로브(303)로서 구성될 수 있다. 하나 초과의 안테나(412)가 존재할 수 있다. 이 경우에, 안테나들(412)은 동일한 유형(예컨대, 루프 안테나들 또는 다이폴 안테나들)일 수 있거나 상이한 유형들(예컨대, 루프 안테나 및 다이폴 안테나)일 수 있다. 일반적으로 동일한 평면에 또는 평행한 평면들에(예컨대, 둘 다 기판(416) 상에 있음) 있는 루프 안테나 및 다이폴 안테나의 존재는 태그의 배향에 관계없이 태그에의 전력 공급을 용이하게 할 수 있다. 이러한 이유는 안테나들 중 적어도 하나가 유도 표면파의 자기 성분들 또는 유도 표면파의 전기 성분들 - 이들은 서로 수직임 - 과 보다 잘 정렬될 것이기 때문이다. 따라서, 태그의 공간적 배향에 따라, 루프 안테나가 유도 표면파의 자기 성분들로부터 태그 회로(414)에 대한 우세한 전력 공급원일 수 있거나, 다이폴 안테나가 유도 표면파의 전기 성분들로부터 태그 회로(414)에 대한 우세한 전력 공급원일 수 있다. 많은 종래의 RFID 태그 안테나 설계들이 태그 회로(414)에 전력을 공급하기 위해 유도 표면파로부터의 충분한 에너지를 전기 에너지로 변환하기 위해 이용 또는 수정될 수 있다는 것이 추가로 생각된다.

태그 회로(414)는 앞서 기술된 바와 같은 임피던스 매칭 네트워크를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 임피던스 매칭 네트워크는 정적으로 배열될 것이거나 생략될 수 있다. 정적으로 배열되거나 생략된 임피던스 매칭 네트워크는 최대 에너지 변환 성능을 가져오지 않을 수 있지만, 태그 회로(414)를 비교적 단순하게 만들고 임피던스 매칭 네트워크를 손실형 전도성 매체(410)에 대한 그의 위치에 따라 재구성할 필요없이 태그(402)의 빈번한 이동을 수용할 것이다. 안테나(412)의 특정 구성에 관계없이, 태그(402)는 도 1 내지 도 20e와 관련하여 앞서 기술된 바와 같이 유도 표면파 수신 구조물(R)을 포함하는 것으로 간주될 수 있다.

태그(402)는 비교적 작고 가벼울 수 있다. 대부분의 태그들(402)은 종래의 RFID 태그들과 크기 및 중량이 유사할 것이다. 예를 들어, 태그(402)는 비교적 편평하고(예컨대, 두께가 약 1mm 이하), 길이가 약 1cm 내지 약 10cm의 범위에 있으며, 폭이 약 1cm 내지 약 10cm의 범위에 있을 수 있다.

기술될 것인 바와 같이 프로브(P)로부터 태그(402)에게 전력을 전달하는 순방향 링크로서 기능하는 유도 표면파는 하나의 주파수를 가질 수 있고 태그(402)는 데이터를 수신기(408)에게 전송하기 위해 제2 주파수로 복귀 링크 신호를 방출할 수 있다. 저전력에서 동작하는 다수의 태그들(402)에 대한 성능 및 데이터 처리율을 증가시키기 위해, 제2 주파수는 제1 주파수보다 더 높을 수 있다(예컨대, 한 자릿수 이상 더 높음). 높은 주파수들에서의 복귀 링크 신호의 방출을 수용하기 위해, 태그(402)는 안테나(412)가 복귀 링크 신호를 효율적으로 방출할 수 없는 경우에 제2 안테나(422)를 포함할 수 있다.

시스템(400)은 앞서 기술된 바와 같은 유도 표면파들의 특성들을 이용하도록 구성될 수 있다. 따라서, 비교적 낮은 주파수의 유도 표면파의 실제 사용이 객체 식별과 관련하여 행해질 수 있다. 일 실시예에서, 프로브에 의해 방출되는 유도 표면파의 주파수는 약 13.56 MHz 또는 RFID 기술에서 사용하도록 해당 규제 기관에 의해 이미 허가된 다른 주파수이다. 객체 식별 적용분야 및 유도 표면파의 원하는 특성들에 따라 13.56 MHz보다 더 높거나 더 낮은 주파수들이 사용될 수 있다. 안테나 구성 및/또는 임피던스 매칭을 비롯한 태그(402)의 아키텍처가 에너지 전달을 달성하기 위해 유도 표면파의 주파수에 따라 조정(coordinate)될 수 있다.

앞서 기술된 바와 같이, 유도 표면파의 필드 강도가 유도 필드 강도 곡선(103)의 변곡부(109)(도 1)보다 더 작은 프로브(P)로부터의 거리들에 대해서는 비교적 높게 유지된다. 이에 따라, 프로브(P)의 위치에서 용인가능한 에너지 밀도를 유지하면서 프로브(P)를 둘러싸는 유효 영역 내의 다수의 태그들(200)에게 전력을 공급하기 위해 단일 프로브(P)가 사용될 수 있다. 예를 들어, 객체 식별 적용분야들과 관련하여 사용되는 에너지 소스에서의 EIRP(effective isotropic radiated power)는 규제 기관들에 의해 부과될 수 있다. 종래의 RFID 적용분야들에 대한 전형적인 한계들은 약 1 또는 2 와트이다. 유도 표면파들을 사용하는 일부 유형들의 객체 식별 적용분야들에 대해 이 유형들의 EIRP 한계들이 유지될 것이라고 가정하는 것이 당연할 수 있다. 이 한계들에서도, 단일 프로브(P)가 프로브(P)로부터의 대응하는 유도 필드 강도 곡선(103)의 변곡부(109)의 거리보다 더 작은 프로브(P)로부터의 반경방향 거리 내에 위치된 수백, 수천 또는 수백만 개의 태그들(402)에게 전력을 공급할 수 있을 것이다. 무지향성 프로브(P)의 경우, 태그들이 조사될 수 있는 유효 영역은 프로브(P)로부터의 대응하는 유도 필드 강도 곡선(103)의 변곡부(109)의 거리와 비슷한 반경을 갖는 원형 영역이다. 프로브(P)로부터의 변곡부(109)의 거리는 유도 표면파의 주파수에 의존한다. 일 예로서, 약 13 MHz에서 유도 표면파에 대한 프로브(P)로부터의 변곡부(109)의 거리는 지면 특성들에 따라 대략 1 킬로미터이다. 비교적 이상적인 상황들에서, 900 MHz에서 동작하는 종래의 RFID 기술은 약 30 미터의 유효 동작 범위를 갖는다. 따라서, 태그들(402)이 이전에 가능했던 것보다 훨씬 더 큰 거리에서 그리고 훨씬 더 낮은 주파수에서 전력을 공급받을 수 있다는 것이 이해될 것이다.

태그(402)는 미리 결정된 주파수, 다수의 주파수들 또는 일정 범위의 주파수들의 유도 표면파로 조사될 때 응답하도록(예컨대, 전력을 공급받게 되도록 그리고/또는 복귀 신호를 전송하도록) 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 태그(402)는 제1 주파수가 아닌 제2 주파수에 응답하도록 구성되고, 상이한 태그(402)는 제1 주파수가 아닌 제2 주파수에 응답하도록 구성된다. 일 실시예에서, 약 10 ㎑ 간격(separation) 또는 100 ㎑ 간격과 같은, 제1 주파수와 제2 주파수 사이의 최소 간격이 설정될 수 있다.

이해될 것인 바와 같이, 많은 태그들(402)이 유도 표면파의 사용으로 효율적으로 전력을 공급받을 수 있고, 태그들(402)이 비교적 전력을 많이 사용하는(power intensive) 기능들을 수행하도록 구성될 수 있다. 이러한 기능들 중 다수가 이하에서 기술될 것이다. 더욱이, 제한된 동작 범위를 갖는 유도성 판독기(inductive reader)들의 사용이 회피될 수 있다. 이것은 상당한 거리에서 그리고/또는 비교적 낮은 주파수들로 태그들(402)의 인테로게이션(interrogation)을 가능하게 한다. 유도 표면파들의 특성은 또한 고유전율 재료 및/또는 손실형 재료가 프로브(P)와 태그(402) 사이에 개재되는 상황들에서 태그(402)의 인테로게이션을 가능하게 한다. 일 예로서, 수분 함량을 갖는 상품들(예컨대, 물병들, 맥주, 수프, 케첩 또는 바비큐 소스와 같은 조미료 등과 같은 수분 함유 식품들)의 팔레트 또는 상품들의 선적 컨테이너 내에 위치된 태그(402)가 인테로게이트(interrogate)될 수 있다. 일 실시예에서, 태그(402)는 프로브(P)와 태그(402) 사이에 1 내지 5 미터의 수분이 개재되어 있을 때 동작하도록 전력을 공급받을 수 있다.

2(C). 태그 인테로게이션

하나 이상의 태그(402)가, 태그(402)와 호환되는 주파수를 갖는 유도 표면파로 태그(402)를 조사하고 태그(402)로부터 복귀 신호를 수신기(408)로 수신하는 것에 의해, 인테로게이트(판독이라고도 지칭됨)될 수 있다. 이 프로세스의 일부로서, 태그(402)는 태그(402) 내의 전자회로(electronics)(태그 회로(414))에게 전력을 공급하기 위해 유도 표면파로부터의 전력을 끌어낸다. 전력을 끌어내는 것은 수동 동작(passive operation)일 수 있다. 구체적으로는, 유도 표면파는 안테나(412)에 전류를 유도(induce)하고 이 전류가 태그 회로(414)에 인가된다. 태그 회로(414)에 전력을 인가하는 것은 하나 이상의 미리 결정된 기능을 수행하도록 태그 회로(414)를 활성화시킨다. 예시적인 미리 결정된 기능은 태그 회로(414)의 메모리 컴포넌트로부터 태그(414)와 연관된 태그 식별자를 판독하고 태그 식별자를 포함하는 복귀 신호를 전송하는 것이다. 복귀 신호는 전송 시간(예컨대, 다른 태그들의 복귀 신호들과의 시분할 멀티플렉싱 하에서 미리 결정된 시간 슬롯), 전기적 특성들, 메시지 포맷 또는 콘텐츠, 암호화 등의 면에서 미리 결정된 프로토콜을 따르는 데이터 전송의 형태일 수 있다. 신호는 수신기(408)에 의해 수신되어 해석될 수 있다.

일 실시예에서, 복귀 신호는 RF 신호일 수 있다. 복귀 신호의 전파 능력들은, 에너지 레벨, 데이터 인코딩 및 주파수와 같은, RF 신호의 특성들에 의존할 것이다. 복귀 신호가 수신기(408)에 의해 효과적으로 검출될 수 있는 거리는 주변 환경에서의 복귀 신호의 전파 능력들 및 수신기(408)의 감도에 의존할 것이다. 30 미터 초과와 같은, 비교적 큰 거리들에서의 판독을 가능하게 하기 위해, 복귀 신호가 비교적 큰 EIRP로 방출될 수 있다. 소스(유도 표면파)에서 이용가능한 전력의 에너지 밀도가 높기 때문에, 유도 표면파로부터 전력을 끌어내는 것은 태그 회로(414) 내의 송신기가 비교적 높은 전력으로 방사할 수 있게 할 것이다. 그에 부가하여, 복귀 신호는 처리율을 향상시키기 위해 비교적 높은 주파수를 가질 수 있다. 일 실시예에서, 복귀 신호는, 유도 표면파의 주파수보다 대략 한 자릿수 내지 세 자릿수 더 높은 것과 같은, 조사하는 유도 표면파의 주파수보다 더 높은 주파수를 가질 수 있다. 예를 들어, 유도 표면파가 약 10 MHz 내지 약 250 MHz의 범위에 있다면, 복귀 신호는 약 100 MHz 내지 약 5.4 GHz 또는 그 이상의 범위에 있을 수 있다.

따라서, 유도 표면파는 하나의 주파수(예컨대, 제1 주파수)에 있을 수 있고 태그(402)는 제1 주파수와 상이한 제2 주파수로 응답할 수 있다. 다른 실시예들에서, 응답 주파수는 유도 표면파 주파수와 명목상 동일할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 주파수의 유도 표면파에 응답하는 제1 세트의 태그들(402)은 제2 주파수로 응답할 수 있고, 제1 주파수의 유도 표면파에 응답하는 제2 세트의 태그들(402)은 제2 주파수와 상이한 제3 주파수로 응답할 수 있다. 응답 주파수들의 차이를 사용하여, 제1 세트의 태그들이 제2 세트의 태그들과 구별될 수 있다.

언급된 바와 같이, 태그 회로(414)가 활성화될 때 하나 이상의 미리 결정된 기능이 태그(402)에 의해 수행될 수 있다. 하나의 예시적인 미리 결정된 기능은 복귀 신호를 방출하는 것이다. 복귀 신호는, 태그(402)가 어떠한 식별 정보도 없이 존재한다는 표시, 태그(402)의 유형 또는 태그(402)와 연관된 객체(404)의 유형의 표시, 태그(402)와 연관된 객체(404)의 SKU 또는 다른 식별자, 태그(402)를 다른 세트들의 태그들(402)과 또는 모든 다른 태그들(402)과 구별해주는 태그(402)의 고유 식별자 또는 주소, 또는 태그(402)에 의해 저장된 임의의 다른 데이터 중 하나 이상과 같은, 정보를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 복귀 신호의 전송은 자동적이다. 다른 실시예들에서, 태그(402)에 의해 취해진 응답 또는 다른 액션은 특정한 조건들 하에서 수행될 수 있다. 예시적인 실시예에서, 태그(402)는 어드레싱가능하고 태그(402)로 어드레싱된 메시지들 또는 데이터에 응답한다. 어드레싱 방식에 따라, 태그(402)가 개별적으로 어드레싱가능할 수 있다. 이 목적을 위해, 태그(402)는, IPv6 주소 또는 적절한 포맷의 어떤 다른 주소와 같은, 모든 다른 태그들(402)의 주소들과 구별되는 고유한 임의의 주소를 가질 수 있다. 일 실시예에서, 주소는 약 40 비트 내지 약 64 비트인 길이를 가질 수 있다. 지구 상의 모든 객체를 일의적으로 어드레싱하기 위해 길이가 64 비트 이상인 주소들이 사용될 수 있다는 것이 생각된다. 다른 실시예들에서, 메시지 또는 커맨드가 복수의 태그들(402)에게 어드레싱될 수 있다. 이 목적을 위해, 태그들(402)이 공통 주소를 공유할 수 있거나(예컨대, SKU와 연관된 모든 태그들(402)이 동일한 주소를 가질 수 있음), 다른 방식으로 고유한 주소들을 이용하기 위해 계층적 어드레싱이 사용될 수 있다. 다른 예시적인 데이터 분배 기법들은 멀티캐스트 어드레싱(multicast addressing) 또는 지오캐스팅(geocasting)을 포함한다.

어드레싱가능 태그들(402)을 사용하는 것은 다양한 미리 결정된 기능들이 태그들(402)에 의해 수행될 수 있게 한다. 일 예로서, 양방향 데이터 교환을 위해 수신기(408)와 태그(402) 사이의 데이터 링크 또는 통신 인터페이스(예컨대, 블루투스 인터페이스)가 구축될 수 있다. 수신기(408)와 태그(402) 사이의 통신은 수신기(408)가(또는 컴퓨터 시스템(418)이 수신기(408)를 통해) 태그(402)에 의해 저장된 정보가 있는지 태그(402)를 폴링하거나 커맨드들을 태그에게 송신할 수 있게 하거나, 태그(402)가 부가 정보를 수신 및 저장할 수 있게 한다.

다른 실시예에서, 태그(402)에 의해 수행되는 미리 결정된 기능은 유도 표면파에 인코딩된 데이터를 저장하는 것 또는 유도 표면파에 인코딩된 커맨드를 수행하는 것을 포함한다. 유도 표면파 내의 데이터 또는 커맨드 - 태그(402)가 이에 대해 응답함 - 는 어드레싱 없이 태그들(402)에게 브로드캐스팅될 수 있거나 하나 이상의 특정 태그(402)에게 어드레싱될 수 있다. 이 목적을 위해, 프로브(P)는 인코딩된 캐리어 메시지(encoded carrier message)를 유도 표면파에 포함시킬 수 있다.

데이터 및/또는 커맨드들이 수신기(408)에 의해 또는 유도 표면파의 일부로서 전송될 때 하나 이상의 태그(402)에 의해 수행될 수 있는 미리 결정된 기능들은 데이터를 태그(402)의 메모리에 기입하는 것, 커맨드를 실행하는 것, 요청된 정보로 응답하는 것, 및 어드레싱되거나 다른 방식으로 폴링되는 경우에만 복귀 신호를 방출하는 것으로 응답하는 것을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다.

다른 미리 결정된 기능은 복귀 신호 또는 적절한 커맨드의 수신을 확인응답하는 메시지에 응답하여 복귀 신호를 방출하는 것을 중단하는 것일 수 있다. 이 기능은 다양한 상황들에서 이용될 수 있다. 예를 들어, 재고 관리 동작 동안, 유도 표면파가 다수의 태그들(402)을 조사하는 데 사용될 수 있으며, 태그들(402) 모두는 각자의 복귀 신호들을 방출하는 것에 의해 응답 동작들을 개시할 수 있다. 개개의 태그들(402)로부터의 응답들이 수신되어 처리될 때, 컴퓨터 시스템(418)은 복귀 신호들을 방출하는 것을 중단하라는 커맨드들을 (수신기(408) 또는 유도 표면파를 통해) 태그들(402) - 이들로부터의 복귀 신호들이 수신되어 처리됨 - 에게 발행할 수 있다. 이러한 방식으로, 다른 태그들(402)로부터의 복귀 신호들이 보다 적은 경쟁으로 수신되어 처리될 수 있다.

일 실시예에서, 태그(402)에서 커맨드를 실행하는 것에 의해 태그(402)를 영구적으로 "턴 오프" 또는 비활성화시키는 것이 가능할 수 있다. 예를 들어, 객체(404)가 소비자에 의해 구매된 후에, 적절한 유도 표면파에 의해 조사될 때 태그가 더 이상 미리 결정된 기능들을 수행하지 않도록 객체(404)의 연관된 태그(402)가 비활성화될 수 있다.

2(D). 태그 조사의 지역화(regionalize)

도 24가 추가로 참조된다. 도 24는 2개의 인접한 사이트(site)(424a 및 424b)를 도시하고 있다. 예시된 실시예에서의 사이트들(424)은 각각이 소매 시설을 갖고 있는 건물들이다. 이 예시적인 실시예는 설명 목적으로 도시되어 있다. 예시된 실시예가 개시된 개념들의 양태들을 나타낸다는 것이 이해될 것이다. 개시된 개념들의 원리들이 적용가능한 사이트들의 특성 및 구성이 변할 수 있다. 사이트들의 유형들은 소매 시설, 창고, 사무실 시설, 학교, 항구, 주문 이행 센터(fulfilment center), 선적 및 분류 센터, 스포츠 경기장, 주차장, 공장 또는 제조 시설, 농장, 군사 기지 등을 포함하지만, 이들로 제한되지 않는다. 사이트들은 어떠한 건물 구조물들도 포함하지 않을 수 있거나 하나 이상의 건물 구조물을 포함할 수 있다. 각각의 사이트는 태그들(402)의 조사 및 판독이 요망되는 기지의 지리적 영역에 의해 특징지워진다. 태그들(402)과 사이트들의 상대 크기로 인해, 개개의 태그들(402) 및 연관된 객체들(404)이 예시의 간략함을 위해 도 24에 도시되어 있지 않다. 그러나, 태그들(402) 및 연관된 객체들(404)이 각각의 사이트(424) 내에 존재한다는 것이 이해될 것이다. 사이트(424) 내의 태그들(402) 및 연관된 객체들(404)의 개수가 변할 수 있고, 단지 하나의 태그(402)/연관된 객체(404)로부터 수백만 개의 태그(402)/연관된 객체(404)까지의 범위에 있을 수 있다.

예시된 실시예에서, 사이트(424a)와 사이트(424b)가 이격되어 있다. 인접한 사이트들(424)은 이격될 필요가 없다. 건물들에 대응하는 사이트들(424)은 서로 접촉 또는 거의 접촉할 수 있거나, 하나의 사이트(424)와 다른 사이트의 경계를 표시하는 벽을 공유할 수 있다.

일 실시예에서, 프로브(P)는 각각의 사이트(424)와 연관되어 있다. 전형적으로, 프로브(P)는 사이트(424)를 정의하는 지리적 영역 내에 위치된다. 하나 이상의 수신기(408)가 또한 사이트(424)와 연관되고 사이트(424)에 위치된다. 전형적으로, 사이트(424)와 연관되어 있는 수신기들(408)은 사이트(424)를 정의하는 지리적 영역 내에 위치되지만, 사이트(424)와 연관된 수신기들(408) 중 하나 이상이, 사이트(424)에 대한 입구 근방과 같은, 이 지리적 영역 외부에 위치될 수 있다.

각각의 프로브(P)는 프로브(P)와 연관된 사이트(424)의 지리적 영역 내에 위치된 태그들(402)을 조사하도록 구성된다. 일 실시예에서, 하나의 사이트(424)와 연관된 프로브(P)는 인접한 사이트(424) 내에 위치되는 태그들(402)을 조사하지 않도록 구성된다. 인접한 사이트 내의 태그들(402)을 조사하지 않는 것이 항상 가능하거나 실용적인 것은 아닐 수 있고 그리고/또는 프로브(P)의 동작가능 범위를 제한하기 위해 주의를 기울이더라도 때때로 인접한 사이트 내의 태그들(402)이 부주의하게 조사될 수 있다는 것이 이해될 것이다.

인접한 사이트 내의 태그들(402)을 조사하지 않도록 프로브(P)를 구성하기 위해, 프로브(P)에 의한 유도 표면파의 생성으로 인한 자연적인 "에너지 버블(energy bubble)"이 이용될 수 있다. 앞서 기술된 바와 같이, 유도 표면파의 에너지 밀도 롤오프(roll-off)는 프로브(P)로부터의 변곡부(109)의 거리보다 더 작은 거리들에서 매우 낮다. 변곡부(109)에서의 그리고 그 바깥쪽에서의 거리들에서, 에너지 밀도가 극적으로 떨어진다. 프로브(P)가 무지향성이고 지상 매체(410)의 전기적 특성들이 프로브(P)와 지상 매체(410) 사이의 동작 인터페이스를 따라 균일하다고 가정할 때 에너지 밀도는 프로브(P)로부터 모든 반경 방향들에서 이러한 방식으로 거동한다. 변곡부(109)의 거리는 유도 표면파의 주파수의 함수이다. 또한, 본 설명을 위해, 조사된 것으로 간주되기 위해, 태그(402)는 전원이 켜지고 응답할 수 있도록 유도 표면파로부터 충분한 전력을 끌어내기 위해 문턱 에너지 밀도의 존재 하에 있어야만 한다. 문턱 에너지 밀도는 태그(402)의 에너지 소비 특성들에 의존할 수 있고, 따라서 변할 수 있다.

프로브(P)에 의해 생성된 유도 표면파의 주파수와 동작적으로 호환되는(operatively compatible) 태그들(402)에 대해, 태그들(402)이 문턱 에너지 밀도에 노출되어 조사되게 될, 프로브(P)를 둘러싸는 영역은 조사 영역(426)이라고 지칭될 것이다. 도 24의 예시적인 실시예에 예시된 바와 같이, 사이트(424a) 및 프로브(Pa)와 연관된 하나의 조사 영역(426a) 그리고 사이트(424b) 및 프로브(Pb)와 연관된 다른 조사 영역(426b)이 있다. 이웃하는 사이트들(424a, 424b)에 대한 프로브들(Pa 및 Pb)에 의해 생성된 유도 표면파들의 주파수가 이웃하는 사이트들(424a, 424b) 중 다른 하나에서 사용되는 태그들(402)과 동작적으로 호환되는 일 실시예에서, 비중복 조사 영역들(426)의 구축은 각각의 사이트(424)가 태그들(402)을 서로 독립적으로 판독하는 것에 의해 객체 식별을 수행하는 것을 가능하게 할 것이다.

상세하게는, 사이트(424a)에 대한 프로브(Pa)에 의해 생성된 유도 표면파는 이웃하는 사이트(424b) 내의 태그들을 조사하지 않는 경향이 있을 것이고 그 반대도 마찬가지이다. 하나의 사이트(424a)에 대한 수신기들(408)로 하여금, 이웃하는 사이트(424b)에 위치된 태그들(402)이 이웃하는 사이트(424b)에 대한 프로브(Pb)에 의해 조사될 때, 그 태그들(402)로부터의 응답 신호들을 검출하게 하는 것 및 그 반대를 피하기 위해 부가의 예방조치들이 취해질 수 있다. 이러한 예방조치들은 각자의 사이트들(424a, 424b)로부터의 프로브들(Pa, Pb)이 동시에 유도 표면파들을 능동적으로 생성하고 있지 않도록 조사의 타이밍을 제어하는 것을 포함할 수 있다. 다른 예방조치는 태그들(402)의 출력 전력을 다른 사이트 내의 수신기들(408)에 의한 검출을 회피할 정도로 충분히 낮은 레벨로 제한하는 것 및/또는 이웃하는 사이트(424) 내의 태그들(402)로부터의 신호들의 검출을 회피하기 위해 수신기들(408)의 수신 감도를 제한하는 것이다. 다른 예방조치는, 사이트(424)의 판독기들(408)로부터의 정보를 처리하는 컴퓨터 시스템(418)에, 사이트(424)에 존재해야만 하는 모든 태그들(402)에 대한 태그 식별자들의 데이터베이스를 유지하는 것이다. 태그(402)가 판독되고 연관된 태그 식별자가 데이터베이스에 없는 경우, 태그(402)가 사이트(424)와 연관되어 있지 않고 무시되어야만 한다는 가정이 행해질 수 있다. 객체들이 사이트(424)에 도착하고 대응하는 태그 식별자들을 데이터베이스에 부가하기 위해 인테로게이트되는 인테이크 모드(intake mode)는 예외로 될 수 있다.

이상에서 언급한 바에 따르면, 유도 표면파의 전력 및 주파수 및 태그(402)의 전력 요건들을 비롯한, 조사 영역(426)의 유효 크기를 제어하는 몇 가지 인자들이 있다. 따라서, 유도 표면파의 전력 및 주파수, 사이트(424) 내에서 사용되는 태그들(402)의 특성들, 및 이웃하는 사이트(들)에서 사용되는 태그들(402)의 특성들 각각이 서로 협력하여 각각의 조사 영역(426)에 대한 적절한 크기를 확립하도록 선택될 수 있다. 그렇지만, 주파수가 조사 영역(426)의 크기에 대한 가장 중요한 기여 인자라는 것이 이해될 것이다. 사이트(424)가 전형적인 창고 또는 소매 시설일 때, 사이트(424)의 크기와 가깝게 매칭하도록 조사 영역(426)의 크기를 제어하는 데 약 100 MHz 내지 약 200 MHz 범위에 있는 주파수로 충분해야만 한다.

또한 조사 영역(426)의 형상을 제어하는 것이 바람직할 수 있다. 조사 영역(426)의 형상은 방향의 함수로서 변하는 출력을 갖는 프로브 어셈블리를 사용하는 것에 의해 제어될 수 있다. 이것은, 유도 표면파 프로파일에 로브(lobe)들을 생성하거나 복수의 방향으로 발진된 유도 표면파들의 집계인 유도 표면파를 생성하기 위해, 복수의 프로브들(P)을 사용하여 달성될 수 있다(예컨대, 다중 빔 접근법). 예를 들어, 다수의 동시에 생성된 유도 표면파들의 존재에 의해 제어되는 지향성 출력을 갖는 위상 배열 프로브(phased array probe)를 만들기 위해 개개의 프로브들(P)의 중첩(super-positioning)이 사용될 수 있다.

조사 영역(426)의 크기 및 형상을 제어하기 위해 프로브(P)(또는 프로브 어셈블리) 및 태그들(402)의 특성들을 선택하는 것에 의해, 연관된 사이트(424)의 지리적 영역을 근사화하도록 조사 영역(426)이 만들어질 수 있다. 또한, 앞서 기술된 바와 같이, 소스에서 용인가능한 에너지 밀도(예컨대, 프로브(P)에서 약 1 와트 내지 약 2 와트의 EIRP)를 유지하면서 (예컨대, 사이트(424) 전체에 걸쳐 높은 에너지 밀도를 달성하는 것에 의해) 사이트(424) 내의 모든 태그들(402)을 조사하기 위해 사이트(424) 내의 하나의 프로브(P)를 사용하는 것이 가능할 수 있다.

유도 표면파의 주파수를 선택하는 데 부가의 고려사항들이 사용될 수 있다. 예를 들어, 사이트(424)가 위치되는 관할권을 감독하는 규제 기관에 의해 객체 식별 목적으로 특정한 주파수들에의 액세스가 이용가능할 수 있거나 그렇지 않을 수 있다.

다른 고려사항은 유도 표면파의 유효 높이이다. 유도 표면파의 에너지 밀도가 유도 표면파의 대략 파장의 높이에서 강하한다. 따라서, 조사 영역(426)의 높이는 대략 유도 표면파의 파장일 것이다. 약 13 MHz의 유도 표면파에 대해, 프로브(P)는 높이가 약 3 피트일 것이고, 조사 영역(426)은 높이가 약 72 피트(약 22 미터)일 것이다. 많은 창고들에서 상부 선반들에 놓여 있는 객체들(404)과 연관된 태그들(402)을 조사하는 데 이 높이로 충분할 수 있다. 약 100 MHz의 유도 표면파에 대해, 조사 영역(426)은 높이가 약 3 미터일 것이고, 약 300 MHz의 유도 표면파에 대해, 조사 영역(426)은 높이가 약 1 미터일 것이다. 이 높이들은 많은 소매 환경들과 호환될 수 있다.

2(E). 사이트에 있는 태그들로부터의 데이터 수집

사이트에 존재하는 태그들(402)을 판독하는 것에 의해 다양한 기능들이 수행될 수 있다. 예시적인 기능들은 재고 관리, 잘못 놓인 객체들(404)을 찾아내는 것, 도난을 감소시키는 것, 및 소비자 거래 동작들을 포함한다. 이 작업들을 위해, 추적될 각각의 객체(404)가 태그(402)와 연관되고 컴퓨터 시스템(418)이 객체들(404) 및 각각의 연관된 태그 식별자의 데이터베이스를 유지한다고 가정될 것이다. 이 정보는 태그(402)가 객체(404)와 처음으로 연관될 때 생성 및/또는 수집될 수 있으며, 이는 객체가 제조되는 공장과 같은 사이트(424)로부터 멀리 떨어진 위치에서 일어날 수 있다. 다른 상황들에서, 이 정보는 태그(402)가 사이트에 도착할 때 생성 및/또는 수집될 수 있다.

사이트(424)에서 태그들(402)의 판독을 수행하기 위해, 하나 이상의 프로브(P) 및 하나 이상의 수신기(408)가 존재한다. 태그들(402)이 사이트(424) 외부에 위치되는 프로브(P)에 의해 생성된 유도 표면파에 의해 조사될 수 있기 때문에, 프로브(P)가 사이트(424)의 지리적 영역 내에 위치될 필요가 없다. 그러나, 사이트(424)에 위치된 태그들(402)로부터 복귀 신호들을 수신하는 각각의 수신기(408)가 사이트(424)의 지리적 영역 내에 또는 사이트(424)에 가깝게(예컨대, 사이트(424) 내의 태그들(402)에 의해 방출된 복귀 신호들을 수신할 수 있는 거리 내에) 위치될 것이 생각된다.

사이트(424)에 대한 각각의 수신기(408)는, 도어들, 적재 도크들, 금전 등록기 등의 옆에와 같이, 전략적으로 위치될 수 있다. 예를 들어, 사이트(424a)가 소매 위치인 사이트(424a)의 예시된 실시예에서, 수신기(408)는 고객들이 출입하는 주 출입구(428)에 인접하여 위치되고, 수신기(408)는 주요 쇼핑 영역(432)을 재고 보관 영역(434)으로부터 분리시키는 도어(430)에 인접하여 위치되며, 수신기(408)는 보관 영역(434)에 있는 보조 출구 도어(436)에 인접하여 위치된다. 다른 수신기(408)는 적재 도크(438)에 인접하여 위치될 수 있고 다른 수신기(408)는 지불 영역(440)에 위치될 수 있다. 객체들(404) 및 연관된 태그들(402)은 쇼핑 영역(432)에 위치된 선반들(442) 또는 디스플레이들 상에 존재할 수 있다. 부가의 객체들(404) 및 연관된 태그들(402)은 선반들(442) 상에 또는 보관 영역(434) 내의 다른 위치들에 존재할 수 있다. 부가의 또는 대안의 위치들에 있는 수신기들(408)이 또한 존재할 수 있다.

도 24에서의 예시적인 사이트(424b)의 예시를 추가로 참조하여, 수신기(408)에 대한 다른 배열이 기술될 것이다. 이 실시예에서, 수신기들(408)이 전략적 위치들에 놓여 있지만, 도어들, 적재 도크들, 지불 영역들 등과 같은 사이트(424b) 내의 특정 로케일들과 연관되어 있지 않다. 오히려, 수신기들(408)은 사이트(424) 내에 있는 태그들(402)에 의해 방출되는 복귀 신호들을 검출하도록 위치된다. 2개의 수신기(408)가 첨부 도면에 예시되어 있지만, 다른 개수들의 수신기(408)가 가능하다. 예를 들어, 단 하나의 수신기(408) 또는 3개 이상의 수신기(408)가 있을 수 있다. 복귀 신호들이 앞서 기술된 바와 동일한 방식으로 사용 및 분석될 수 있다. 사이트(424a) 또는 사이트(424b)의 실시예 중 어느 하나에서의 수신기들(408)의 개수 및 위치선정은 태그들(402)과 수신기들(408) 사이의 동작 범위, 사이트(424)의 크기, 컴퓨터 시스템(418)의 프로그래밍 및 임의의 다른 관련 인자들에 의존할 수 있다. 또한, 일부 수신기들이 사이트의 특정한 구조적 요소들과 관련하여 위치되고 다른 수신기들이 보다 일반적인 전략적 위치들에 위치되도록, 사이트(424a)의 실시예의 수신기 배열이 사이트(424b)의 실시예의 수신기 배열과 조합될 수 있다.

도 24에서의 수신기들(408)의 위치들이 예시적이고 설명을 위한 것임이 인식될 것이다. 수신기들(408)의 개수 및 위치가 수행될 태그 판독 기능들 및 사이트(424)의 특성들에 따라 수정될 수 있다.

프로브(P)가 전략적 위치에 위치될 수 있지만, 보이지 않게 숨겨져 있을 수 있다. 예를 들어, 사이트(424a)의 실시예에서, 프로브(Pa)는 선반들(442) 중 하나의 선반의 엔드 캡(end cap)(444)에 숨겨져 있다. 각자의 조사 영역(426) 내의 각각의 태그들(402)이, 재전송들 사이에서 지연 없이 복귀 신호를 재전송하는 것 또는 복귀 신호를 주기적으로(예컨대, 1초에 한번) 재전송하는 것 등에 의해, 연속적으로 응답하도록, 프로브(P)가 유도 표면파를 연속적으로 생성하도록 구성될 수 있다. 다른 실시예들에서, 프로브(P)가 원하는 시기들에 그리고 원하는 지속시간들 동안 유도 표면파를 생성하도록 제어된다. 원하는 시기들은 사전스케줄링될 수 있거나 프로브의 활성화를 트리거한 결과일 수 있다(예컨대, 운영자가 이하의 예시적인 기능들에 기술되는 바와 같이 재고 검사를 수행하기 위해, 잘못 놓인 객체를 찾아내기 위해 또는 구매를 위한 객체들을 합산(tally)하기 위해 프로브를 트리거할 수 있다).

복귀 신호들은 하나 이상의 수신기(408)에 의해 검출될 수 있다. 복귀 신호들을 검출하는 수신기들(408)의 기지의 위치들 및/또는 아이덴티티들과 함께, 복귀 신호들(예컨대, 태그 식별자들)로부터 도출된 데이터가 다양한 기능들과 관련하여 사용될 수 있다. 하나의 예시적인 기능은 고객이 구매하려고 의도하는 객체들(404)을 식별하는 것을 돕는 것이다. 예를 들어, 고객은 구매를 위한 객체들(404)을 지불 영역(440)으로 가져갈 수 있다. 사이트(424a)의 실시예에서, 객체들(404)이 이동되어 지불 영역(440)에 있는 수신기(408)를 통과할 수 있고, 그 객체들(404)이 컴퓨터 시스템(418)에 의해 로깅(log)될 수 있다. 구매를 위한 품목들이, 인쇄된 SKU들이 바코드 판독기로 순차적으로 스캔되는 방식과 유사한 방식으로, 한 번에 하나씩 판독될 필요는 없다. 오히려, 다수의 객체들(404)이 동시에 수신기(408) 옆을 지나갈 수 있다. 객체들(404)이 식별되면, 고객은 종래의 방식으로 품목들에 대해 지불할 수 있다.

다른 실시예에서, 사이트(424)에 있는 재고에 관한 정보가 추적될 수 있다. 예를 들어, 사이트(424a)의 실시예에서, 객체들(404)이 사이트(424)에 들어가거나 사이트(424)를 떠날 때, 연관된 태그들(402)이 도어(428), 도어(436) 또는 도어(438)에 위치된 수신기들(408) 중 하나의 수신기(408) 옆을 지나갈 수 있다. 이 수신기들(408)을 통과하는 객체들(404)을 추적하는 것에 의해, 객체 유형별로 객체들(404)의 개수의 정확한 합산이 행해질 수 있고, 허가된 영역으로부터 허가되지 않은 영역으로 이동하는 객체의 검출이 행해질 수 있다. 이 검출은 또한 미리 결정된 지점을 지나가는 이동을 검출하는 것 또는 허가된 영역과 허가되지 않은 영역 사이의 경계를 가로지르는 것에 의해 행해질 수 있다. 다른 실시예에서, 객체가 허가된 영역을 벗어났다는 검출은 복귀 신호의 마지막 반복의 수신 이후 미리 결정된 시간 내에 연관된 태그로부터 복귀 신호를 수신하지 못하는 것에 의해 행해질 수 있다. 또한, 이 정보는 유효한 객체 구매들 및 객체가 사이트(424)로부터 제거될 수 있는 다른 유효한 이유들(예컨대, 공급망에서의 하류 위치로 배송되거나 공급자에게 반환됨)과 대조하여 교차 참조될 수 있다. 객체(404)의 출발이 유효한 이유와 연관되지 않는 경우, 기관(예컨대, 사이트(424)의 관리자 또는 경찰)에게 경보를 발행하는 것, 보안 카메라를 켜고 객체가 빠져나간 도어 또는 도크 주변의 영역의 비디오를 레코딩하는 것, 조사(investigation)를 시작하는 것 등과 같은 부가의 보안 관련 조치들이 수행될 수 있다.

객체(404)가 사이트(424)에 들어가거나 그로부터 나가는 방식, 복귀 신호의 수신 시각, 및/또는 언제 특정의 차량 또는 작업자가 또한 존재했는지와 같은 부가 정보로부터 다른 정보가 결정될 수 있다. 예를 들어, 다수의 적재 도크들을 갖는 시설에서, 객체가 통과하는 도크를 추적하는 것은 어느 직원이 객체를 핸들링했는지, 객체가 어느 트럭에 적재되었는지, 또는 어느 트럭이 객체를 시설로 가져왔는지를 입증하는 데 사용될 수 있다. 다른 예로서, 보관 영역(434)과 쇼핑 영역(432)에 위치된 객체들(404)의 추적은 도어(430)에 있는 수신기(408)에 의한 복귀 신호들의 수신에 의해 행해질 수 있다. 하나의 사용자 정의 구역으로부터 다른 사용자 정의 구역으로의 이동을 추적하는 것, 고객들의 행동에 관한 데이터를 수집하는 것 등과 같은, 사이트(424) 내의 객체들의 이동에 관한 다른 데이터 수집이 행해질 수 있다.

다른 실시예에서, 태그들(402)로부터의 복귀 신호들을 분석하는 것에 의해 사이트(424) 내의 모든 객체들(404) 또는 특정한 카테고리들의 객체들의 재고조사(inventory)가 행해질 수 있다. 일 실시예에서, 컴퓨터 시스템(418)은 재고 분석을 수행하기 위해 각각의 구별되는 복귀 신호와 연관된 태그 식별자를 분석할 수 있다. 일 실시예에서, 재고 분석에 로깅된 연관된 태그 식별자들을 갖는 태그들(402)로부터의 복귀 신호들을 무시 또는 턴 오프하기 위해 디인터리빙(de-interleaving) 기법들이 적용될 수 있다. 재고 분석 동안 응답하는 태그들(402)의 개수를 제한하기 위해, 복귀 신호를 방출하라는 어드레싱된 커맨드들이 관심의 특정 태그들(402)에게 송신될 수 있다. 응답하거나 응답하지 않을 태그들을 디인터리빙 및/또는 어드레싱하는 것이 본원에 기술되는 다른 기능들과 관련하여 사용될 수 있다.

일 실시예에서, 모든 객체들(404), 특정한 카테고리들의 객체들(404) 또는 단일의 특정 객체(404)의 지리적 위치가 객체들(404)과 연관된 태그들(402)로부터의 복귀 신호들을 사용하여 식별될 수 있다. 태그(402) 및 그의 연관된 객체(404)의 위치는 태그(402)를 조사하고 각각이 기지의 위치를 갖는 2개 이상의 수신기(408)에서 복귀 신호를 수신하는 것에 의해 결정될 수 있다. 동일한 태그(402)로부터의 2개 이상의 복귀 신호에 대해, 도착 시간 차이 또는 수신 전력의 차이들(예컨대, 전압 정재파 비(voltage standing wave ratio) 또는 VSWR)이 태그(402)의 위치를 삼각측량하는 데 사용될 수 있다. 이 분석이 다수의 태그들(402)로부터 수신된 복귀 신호들에 대해 반복될 수 있다. 또한, 위치들이 결정된 태그들(402)로부터의 복귀 신호들을 무시 또는 턴 오프하기 위해 디인터리빙 기법들이 적용될 수 있다. 또한, 위치 분석 동안 응답하는 태그들(402)의 개수를 제한하기 위해, 어느 태그 또는 태그들(402)이 복귀 신호를 방출하는지를 제어하기 위해 어드레싱이 사용될 수 있다.

위치 결정 기법(예컨대, 전술한 삼각측량 기법들)이 다양한 기능들과 관련하여 사용될 수 있다. 예를 들어, 사이트(424b)의 예시적인 묘사를 참조하여, 특정의 영역 내의 객체들(404)의 벌크 식별(bulk identification)이 행해질 수 있다. 예를 들어, 구매를 위한 품목들이 사이트(424b)를 빠져나가기 전에 이동하는, 지정된 인테로게이션 영역으로서 역할하는 판독 구역(446)이 있을 수 있다. 전용 판독 구역(446) 내의 객체들(404) 모두가 판독 구역(446)에 위치된 태그들(402)로부터의 복귀 신호들을 분석하는 것에 의해 검출될 수 있다. 따라서, 일군의 객체들이 판독 구역(446)을 통해 이동되고, 컴퓨터 시스템(418)에 의해 집단적으로 식별 및 로깅될 수 있다. 이어서, 품목들을 구매하기 위한 트랜잭션이 완료될 수 있다. 벌크 객체 식별에 대한 이 접근법이, 적재 도크를 통해 이동하는 모든 품목들의 식별, 트럭 또는 레일 카(rail car)가 미리 결정된 영역을 통해 이동할 때 트럭 또는 레일 카 상의 모든 품목들의 식별 등과 같은, 다른 상황들에서 적용될 수 있다.

다른 예로서, 객체(404)의 허가되지 않은 이동(예컨대, 객체(404)의 도난)을 검출하기 위해 지리적 위치가 사용될 수 있다. 일 실시예에서, 객체(404)가 존재해서는 안되는 위치에 객체(404)가 있는 것으로 결정되는 경우(예컨대, 객체(404)의 위치가 사이트(424)의 지리적 영역 밖에 있는 것으로 검출되는 경우) 이러한 검출이 행해질 수 있다. 다른 실시예에서, 객체가 미리 결정된 지점으로부터 문턱 거리를 초과하여 그리고 허가되지 않은 방향으로 이동하는 경우에 이러한 검출이 행해질 수 있다. 이 기법은, 예를 들어, 도어로부터 멀어져 주차장 쪽으로 이동하는 객체를 검출할 수 있다. 가능한 무허가 이동의 검출이 이루어지면, 객체의 구매, 객체의 다른 위치로의 예정된 배송 등과 같은 이동에 대한 임의의 적법한 이유들과 대조하여 검출이 교차 참조될 수 있다. 행해진 검출에 대한 어떠한 적법한 이유도 존재하지 않는 경우, 보안 대책들이 트리거될 수 있다. 보안 대책들은 기관(예컨대, 사이트(424)의 관리자 또는 경찰)에게 경보를 발행하는 것, 보안 카메라를 켜고 객체가 빠져나간 도어 또는 도크 주변의 영역의 비디오를 레코딩하는 것, 조사를 시작하는 것 등을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다.

객체(404)의 지리적 위치를 결정하는 다른 실시예에서, 객체(404) - 이 객체(404)에 대한 연관된 태그 복귀 신호가 수신됨 - 의 위치에 대한 대용물로서 수신기(408)의 지리적 위치가 사용될 수 있다. 예를 들어, 지불 영역(440)에 있는 수신기(408)가 태그(402)에 대한 복귀 신호를 검출하면, 연관된 객체(404)가 지불 영역(440)에 또는 그 근방에 위치된 것으로 가정될 것이다. 하나 초과의 수신기(408)가 태그(402)에 대한 복귀 신호를 검출하는 경우에, 복귀 신호에 대한 가장 높은 신호 강도를 검출하는 수신기(408)의 위치가 연관된 객체의 위치에 대한 대용물로서 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, 트럭, 선박, 기차 또는 다른 차량에 장착된 수신기(408)와 같은, 수신기(408)는 이동식(mobile)일 수 있다. 이 경우에, 태그(402)/객체(404)의 지리적 위치에 대한 대용물로서 역할하는 수신기(408)의 지리적 위치는, 예를 들어, GPS(global positioning system) 기술을 사용하여 결정될 수 있다.

태그(들)(402)의 지리적 위치를 결정하기 위한 전술한 접근법들 중 임의의 것은 (예컨대, 2차원 좌표들에 의해 표현되는 바와 같은) 지리적 위치에 부가하여 태그(들)(402)의 고도의 결정을 포함할 수 있다. 또한, 일부 실시예에서, 유도 표면파가 한번에 사이트(424)의 특정한 영역들 내의 태그들(402)만을 조사하도록 유도 표면파를 스티어링하는 것에 의해(예컨대, 시간이 지남에 따라 방향이 변하는 유도 표면파를 출력하기 위해 다중 빔 유도 표면파 생성 접근법을 사용하는 것에 의해) 태그들(402)의 위치를 세분화(refine)하는 것이 가능할 수 있다.

객체들을 시설(예컨대, 창고, 주문 이행 센터, 소매점의 보관 영역 등)에 보관하는 것은 전형적으로 객체들이 원하는 때에 쉽게 찾아질 수 있도록 객체들이 어디에 배치되어야 하는지의 상세 계획 수립을 수반한다. 태그들(402)을 조사하여 지리적 위치 확인하는 것에 대한 개시된 기법들을 사용하여, 보다 적은 계획 수립이 이용될 수 있다. 그 대신에, 객체들(404)이 객체들(404)을 수용할 임의의 위치에 배치될 수 있다. 이 위치는 객체들(404)과 연관되어 있는 태그(들)(402)의 지리적 위치를 결정하기 위한 전술한 접근법들 중 하나를 사용하여 배치 시에 결정될 수 있다. 이 위치는 컴퓨터 시스템(418)에 의해 데이터베이스에 저장되고 나중에 객체들(404)의 검색을 용이하게 하는 데 사용될 수 있다. 대안적으로, 객체들(404)이 위치에 관한 정보를 결정 또는 저장하는 일 없이 적당한 위치에 배치될 수 있다. 객체들을 찾고자 할 때, 객체들(404)과 연관되어 있는 태그(들)(402)의 지리적 위치를 결정하기 위한 전술한 접근법들 중 하나가 객체들(404)의 위치를 결정하는 데 사용될 수 있다.

일 실시예에서, 객체(404)와 연관되어 있는 태그(402)의 지리적 위치의 위치 결정을 주기적으로 또는 연속적으로 행하는 것에 의해 객체(404)의 이동이 추적될 수 있다. 이러한 방식의 이동 추적은 재고 계획 수립을 위해, 도난 또는 제품 감모가 있는지 모니터링하기 위해 그리고 각종의 다른 목적들을 위해 사용될 수 있다. 일 실시예에서, 복수의 태그들(402)의 추적은 부가 정보를 제공할 수 있다. 예를 들어, 사람이 제1 태그(402)와 연관되어 있고 객체(404)가 제2 태그(402)와 연관되어 있으며 태그들이 함께 이동하는 것으로 밝혀지면, 사람이 객체를 이동시키고 있거나 객체의 이동과 연관되어 있다(예컨대, 둘 다 차량에서 함께 이동하고 있다)고 결정될 수 있다. 차량들과 연관된 태그들(402) 및 객체들(404)과 연관된 태그들에 대해 동일한 분석이 행해질 수 있다.

태그(402)가 다수의 방식들로 그리고 각종의 목적들을 위해 사람과 연관될 수 있다. 일 실시예에서, 폼 팩터가 신용 카드와 유사한 태그(402) 또는 전자 디바이스(예컨대, 휴대폰 또는 그의 케이스)의 일부인 태그(402)와 같은, 사람과 연관되어 있는 태그(402)는 사람에 의해 정기적으로 소지되는 객체의 형태를 취할 수 있거나 그에 포함되어 있다. 태그(402)가 사람과 연관되어 있으면, 태그 그리고 따라서 사람을 식별하는 것이 다양한 목적들을 위해 사용될 수 있다. 예를 들어, 사람과 연관되어 있는 태그(402)가 사람이 구매하려고 의도하는 객체들과 연관된 태그들(402)의 검출과 관련하여 지불 영역(440)에서 검출될 수 있다. 은행 계좌, 신용 카드 또는 다른 지불 수단이 구매하는 사람과 연관되어 있는 태그(402)와 추가로 연관되어 있으면, 컴퓨터 시스템(418)이 구매하는 사람과 연관되어 있는 태그(402)와 연관되어 있는 지불 수단을 사용하여 거래를 등록하는 것에 의해 객체들(404)에 대한 지불이 행해질 수 있다.

다른 실시예에서, 사이트(424)에 있는 직원들은 태그(402)를 소지하도록 요구받을 수 있다. 객체들(404)의 위치 추적 및/또는 객체들(404)과 사람 간의 연관들을 사용하여, 컴퓨터 시스템(418)에 의해 각종의 기능들이 수행될 수 있다. 예시적인 기능들은 작업 완료를 추적하는 것, 작업 성과를 추적하는 것, 근무 시간을 추적하는 것, 및 직원들에 의한 객체들(404)의 도난이 있는지 모니터링하는 것을 포함할 수 있다.

2(F). 태그들의 매크로 조사(Macro Illumination)

이전의 섹션은 일방 당사자에 의해 전형적으로 제어되는 기지의 장소에 대응하는 잘 정의된 지리적 영역에 있는 태그들(402)을 조사하기 위해 유도 표면파를 사용하는 것을 기술하였다.

다른 실시예가 도 25와 관련하여 기술될 것이다. 이 실시예에서, 다수의 사이트들(424)이 있을 수 있는 영역들에 걸쳐, 각자의 당사자들에 의해 제어되는 다수의 수신기들(408)이 존재하는 영역들에 걸쳐, 그리고/또는 태그들(402)이 차량(예컨대, 트럭, 자동차, 비행기, 기차, 선박 등)에 의해 이동할 수 있는 영역들에 걸쳐 태그들(402)을 조사하기 위해 유도 표면파가 사용될 수 있다. 이 영역들은 임의의 영역, 상품이 그를 따라 이동하도록 의도되어 있는 경로, 우편 번호, 도시, 카운티, 주(state) 또는 도(province), 국가, 대륙, 또는 규제 경계, 정부 경계 또는 지리적 경계에 대응할 수 있거나 그렇지 않을 수 있는 프로브(P)의 운영자에 의해 결정된 영역을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 전 세계적으로(즉, 세계 전역에 걸쳐) 태그들(402)을 조사하기 위해 유도 표면파가 생성될 수 있다. 생각되는 영역들 중 일부 영역들의 크기에 대한 태그들(402) 및 수신기들(408)의 크기로 인해, 개개의 태그들(402) 및 수신기들(408)이 예시의 간략함을 위해 도 25에 도시되어 있지 않다.

프로브(P)가 일정 축척으로 그려져 있지 않고 지구 상의 거의 모든 곳에 위치될 수 있다는 것에 유의하여, 도 25에 예시된 대표적인 실시예는 전 세계적으로 태그들(402)을 조사할 수 있는 유도 표면파를 생각하고 있다. 그렇지만, 이하의 설명의 양태들이 또한 보다 작은 조사된 영역에 적용될 것이다.

유도 표면파는 바람직하게는 기지의 고정 주파수(예컨대, 제1 주파수)를 갖는다. 태그들(402)이 제1 주파수의 유도 표면파에 의해 조사되는 영역과 중복되는 적어도 어떤 영역에 있는 태그들을 조사하는 유도 표면파(들)를 생성하기 위해 하나 이상의 부가 프로브(P)가 사용될 수 있다. 다른 유도 표면파(들)는 제1 주파수와 상이한 주파수를 가질 수 있고, 다른 유도 표면파(들)에 의한 태그들(402)의 조사와 관련하여 수행되는 기능들은 제1 주파수의 유도 표면파에 의한 태그들(402)의 조사와 관련하여 수행되는 기능들과 동일하거나 유사할 수 있다. 따라서, 비교적 광범위한 영역들에 걸친 태그들(402)의 조사가 제1 주파수의 단일 유도 표면파와 관련하여 그리고 추가로 제1 주파수와 동작적으로 호환되는(예컨대, 제1 주파수의 유도 표면파에 의해 전력을 공급받고 전원이 켜질 때 복귀 신호를 방출할 수 있는) 태그들(402)과 관련하여 기술될 것이다. 다른 주파수들의 유도 표면파들 및 그 다른 주파수들과 호환되는 태그들의 동작은 제1 주파수의 유도 표면파 및 제1 주파수와 호환되는 태그들의 동작과 동일한 방식으로 그리고 그와 병렬로 수행될 수 있다.

일반적으로, 태그들(402)이 제1 주파수의 유도 표면파에 의해 전력을 공급받을 수 있는 영역이 증가함에 따라, 제1 주파수는 감소할 것이다.

태그들(402)에게 전력을 공급하기 위해 프로브(P)에 의해 생성된, 제1 주파수의 유도 표면파를 사용하는 것에 관심이 있는 엔티티들은 제1 주파수와 호환되는 태그들(402)을 설치할 수 있다. 태그들(402)을 설치하는 것은, 예를 들어, 호환되는 태그(402)를 엔티티가 추적하고자 하는 각각의 객체(404)에 물리적으로 연관시키고 객체(404)의 아이덴티티 및 연관된 태그 식별자를 컴퓨터 시스템(418)(일정 축척으로 도시되지 않음)에 있는 적절한 데이터베이스에 로깅하는 것을 포함할 수 있다. 태그(402)와 객체(404)를 물리적으로 연관시키는 것은 태그(402)를 객체(404)에 직접, 객체(404)에 대한 포장재 또는 객체(404)와 함께 보유되는 어떤 다른 품목(예컨대, 설명서)에 부착 또는 고정시키는 것을 포함할 수 있다. 다른 실시예들에서, 태그(402)는 객체(404)의 내부에 있거나 객체(404)의 일체로 된 부분일 수 있다.

엔티티들은 또한 유도 표면파가 태그들(402)을 조사하게 될 영역 내의 전략적 위치들에 수신기들(408)을 설치할 수 있다. 엔티티는, 그 자체의 수신기들을 설치하는 것에 부가하여 또는 그 대신에, 수신기들을 설치하는 다른 당사자와 협력할 수 있다. 상대방 당사자는 수신기들에 의해 검출된 복귀 신호들에 존재하는 정보(예컨대, 태그 식별자들)를 엔티티에게 제공할 수 있다. 정보의 제공은 컴퓨터 시스템(418)을 통해 이루어질 수 있고, 경로 추적과 같은, 다양한 결정들을 행하기 위해 데이터를 처리하는 것을 포함할 수 있다. 복귀 신호들로부터의 정보를 처리하는 다수의 컴퓨터 시스템들(418)이 있을 수 있다는 것이 추가로 이해될 것이다. 예를 들어, 객체들을 식별하기 위해 제1 주파수의 유도 표면파를 사용하는 것에 관심이 있는 각각의 엔티티는 다수의 사이트들에 대한 정보를 처리하기 위해 컴퓨터 시스템(418) 또는 다수의 컴퓨터 시스템들(418)을 설치할 수 있다.

태그들(402)의 광역 조사(wide-area illumination)가 종래의 RFID 기술로는 현재 가능하지 않은 다수의 객체 식별 및 추적 기능들에 이르게 할 것으로 생각된다. 그에 부가하여, (예컨대, 도 24의 실시예들과 관련하여 기술된 바와 같이) 로컬 프로브(P)를 사용할 때 수행되는 동작들 중 임의의 것이 또한 도 25와 관련하여 기술되는 바와 같이 원격 프로브(P)를 사용하여 수행될 수 있다.

앞서 기술된 동작들과 유사하게, 유도 표면파로 조사되는 태그들(402)은 식별자로 응답할 것이다. 식별자는, IPv6 주소 또는 다른 포맷의 식별자와 같은, 태그(402)를 모든 다른 태그들(402)과 구별해주는 고유 식별자일 수 있다. 제1 주파수의 유도 표면파는, 지구 전체까지로 될 수 있는, 커버된 영역 내의 모든 태그들(402)을 조사하기 위해, 커버된 영역에 걸쳐 충분한 에너지 밀도를 갖는다. 그 결과, 태그들(402)은 그의 복귀 신호를 방출하는 것 - 이는 전형적으로 제1 주파수보다 더 높은 제2 주파수에서 행해짐 - 에 의해 연속적으로 재방사(re-radiate)할 수 있다. 복귀 신호를 연속적으로 재방사하는 것은 복귀 신호 방출들 사이에 어떠한 지연도 없이 또는 약간의 지연(예컨대, 일 실시예에서 최대 5초, 다른 실시예에서 최대 2초, 다른 실시예에서 최대 1초, 또는 다른 실시예에서 최대 0.5초)을 갖고 복귀 신호를 반복하는 것을 포함할 수 있다. 어떤 상황들에서, 태그들(402)은 특정한 시기들에, 특정한 주기로, 또는 응답하라는 커맨드에 응답하여 응답하도록 프로그래밍될 수 있다. 다른 상황들에서, 태그들(402)은 적어도 명시된 기간 동안(예컨대, 많은 수의 태그들을 정확하게 식별하기 위해 디인터리빙 접근법을 이용하는 복수의 태그들의 판독 동작 동안) 응답하지 않도록 명령받을 수 있다.

일 실시예에서, 태그(402)가 제1 주파수의 유도 표면파에 의해 조사되는 영역에 있는 한, 태그(402)는 태그(402)의 수명 사이클 동안 "항상(all the time)" 그의 식별자를 방사할 것이다(예컨대, 각각의 방사 사이클 사이에 지연이 전혀 또는 거의 없이 여러 번 식별자를 반복적으로 방사함). 이에 따라, 태그(402)가 태그(402)의 방출 주파수(예컨대, 제2 주파수)에서 복귀 신호들을 검출하도록 구성되어 있는 수신기(408)의 동작 범위 내에 있는 한, 태그(402)가 제1 주파수의 유도 표면파에 의해 조사되는 영역 내의 어느 곳이든 추적될 수 있다. 이전에 기술된 바와 같이, 태그(402)의 위치(예컨대, 경도 및 위도) 및 고도는, 예를 들어, 삼각측량을 사용하여 또는 태그의 위치에 대한 대용물로서 수신기의 위치를 사용하는 것에 의해 결정될 수 있다.

커버된 영역이 전 세계인 예시적인 실시예에서, 각각의 호환되는 태그(402)는 태그(402)가 전송하는 것을 중단할 때까지 언제든지 지구 상의 어느 곳이든 추적될 수 있다. 태그(402)는 비활성화 커맨드에 응답하여 비활성화되는 것에 의해, 태그 회로(414)의 고장에 의해, 물리적으로 손상되는 것에 의해, 기타에 의해 전송하는 것을 중단할 수 있다. 전 세계적 실시예에서, 유도 표면파는, 최대 약 35,000 피트와 같은, 비교적 높은 고도에 있는 태그들(402)을 조사하도록 동작할 수 있다. 이에 따라, 수신기가 태그들(402)로부터의 응답 신호들을 검출할 수 있다면, 항공기에 의해 운반되는 태그들(402)이 추적될 수 있다.

수신기들(408)은 태그(402) 식별이 요망되는 임의의 위치에 위치될 수 있다. 수신기들(408)에 대한 가능한 위치들의 비전수적인 리스트는 제조 시설, 농장, 창고, 상품에 대한 인터넷 주문 또는 우편 주문을 처리하는 주문 이행 센터, 소매 위치, 레스토랑, 식료품점, 국가에 대한 통관항, 항구, 공항, 도로를 따라, 철로를 따라, 및 이동하는 차량(예컨대, 자동차, 트럭, 비행기, 선박, 기차, 지게차 등)을 포함한다.

수신기들(408)의 광범위한 설치는 태그(402)와 연관되어 있는 객체(404)의 평생 추적을 가능하게 할 수 있다. 수집되는 추적 정보의 양은, 예를 들어, 태그(402)와 연관된 객체(404)의 특성, 관심의 공급망, 또는 객체와 관계가 있는 사람들 또는 엔티티들의 관심 레벨에 의존할 수 있다. 일 예로서, 객체(404)는 중국 베이징에 있는 공장에서의 제조 또는 포장 시에 태그(402)와 연관되고, 이어서 트럭에 적재되어 중국 톈진에 있는 항구로 운송될 때 추적될 수 있다. 다음에, 객체(404)는 객체(404)가 화물 컨테이너에 적재될 때 추적되고 화물 컨테이너가 선박에 적재될 때 추적된다. 객체(404)는 선박에 의한 미국 캘리포니아주 로스 앤젤레스에 있는 항구까지의 도중에 추가로 추적될 수 있다. 화물 컨테이너를 선박으로부터 하역하는 것 및 객체(404)를 기차에 후속하여 적재하는 것이 항구에서 태그(402)로부터의 복귀 신호들의 수신에 의해 추적될 수 있다. 객체(404)는 기차에 의한 이동 동안 추적될 수 있으며, 기차는 객체를 미국 테네시주 멤피스로 가져갈 수 있고, 여기서 객체(404)가 기차로부터 하역되어 멤피스에 있는 주문 이행 센터 내의 선반으로 수송된다. 미국 매사추세츠주 보스턴에 있는 고객으로부터의 객체에 대한 주문이 주문 이행 센터의 운영자에 의해 수신될 수 있다. 이 시점에서, 객체(404)는 선반으로부터 제거되어 배송 상자에 위치되고, 객체를 포함하는 상자가 궁극적으로 비행기에 적재되는 패키지 배달 항공사(package delivery carrier)의 멤피스 분류 및 분배 센터로 수송될 수 있다. 그 이벤트들 전부가 또한 추적될 수 있다. 비행기가 보스톤으로 이동할 때 객체가 추적될 수 있다. 이어서 객체를 비행기에서 하역하는 것, 객체를 패키지 배달 항공사의 보스턴 분류 및 분배 센터로 수송하는 것, 객체를 배달 트럭에 적재하는 것, 그리고 고객 직장 또는 거주지로 최종적으로 배달하는 것과 같은 이벤트들이 추적된다. 나중에, 고객은 프랑스 파리로의 휴가 중에 객체(404)를 가지고 여행할 수 있다. 연관된 태그(402)가 객체로부터 분리되지 않거나 디스에이블되지 않는다고 가정하면, 객체가 파리로의 이동 동안 또는 파리에 있는 동안 또다시 검출될 수 있다.

전술한 객체 평생 추적 예가 대표적인 공급망 상황을 기술한다는 것이 인식될 것이다. 유도 표면파들에 응답하는 태그들(402)을 사용하여 추적되는 객체들이 많은 다른 방식들로 상거래에 들어가 상거래를 거칠 수 있지만, 여전히 각종의 목적들을 위해 추적될 수 있다. 그 목적들은, 예를 들어, 공급망 관리, 재고 관리, 도난을 검출하는 것, 위치에의 도착 시간을 추정하는 것 등을 포함한다.

객체가 어디에 있었는지 및/또는 객체와 상호작용한 사람들 또는 엔티티들에 관한 상세한 정보가 다수의 상황들에서 사용될 수 있다. 일 예로서, 객체의 구매자의 아이덴티티가 객체의 판매자, 소매 위치(해당되는 경우) 및 지불 방식(예컨대, 해당되는 경우, 특정 신용 카드를 포함함)과 함께 결정될 수 있다. 이 정보는 마케팅 기회들을 생성하기 위해, 보증을 위해 제품을 자동으로 등록하기 위해, 후속 서비스/제품 업데이트 목적들을 위해, 또는 다른 이유들로 구매자에 관한 다른 정보와 조합 및 분석될 수 있다.

일 실시예에서, 개시된 식별 및 추적 기법은 식품 매개 질병(food-borne illness)의 발생의 진원지를 추적하는 데 사용될 수 있다. 이 실시예에서, 병에 걸린 사람들은 그 사람들이 무엇을 먹었는지, 그 사람들이 그 품목들을 언제 먹었는지, 및 그 사람에 대한 식품의 소스(예컨대, 식품을 먹은 레스토랑 또는 식품을 구입한 식료품점)를 결정하기 위해 면담을 할 수 있다. 각각의 영향을 받은 사람에 대한 정보가 데이터베이스에 채워지고 어느 식품 항목이 질병을 일으켰을 가능성이 가장 많은지를 결정하기 위해 교차 참조될 수 있다. 때때로 병원균이 들어 있는 식품을 결정하는 데 이 정보를 교차 참조하는 것만으로는 충분하지 않을 수 있으며, 식품이 국가 또는 지역의 넓은 영역들에 걸쳐 분배되는 경우에는 특히 그렇다. 어느 식품이 사람들을 아프게 하는지, 그 식품이 어디에서 왔는지, 그리고 다른 어쩌면 오염된 식품이 유통망(distribution chain) 내의 어디에 현재 위치되는지를 발견하는 데 식품 공급망 내의 객체들과 연관된 태그들(402)로부터 수집된 정보를 사용하는 것이 유용할 수 있다.

이 목적을 위해, 태그들(402)이 식품망(food chain)에서 가능한 한 조기에 식품 항목들과 연관될 수 있다. 예를 들어, 태그들(402)이 땅콩 버터를 제조하고 그리고/또는 병들을 채우는 가공 공장에서 땅콩 버터 병 또는 다수의 땅콩 버터 병들의 상자들과 연관될 수 있다. 농산물(예컨대, 과일 및 채소)이 재배자 또는 농산물을 포장하는 포장 시설에서 (예컨대, 전형적으로 농산물을 유통을 위해 컨테이너들 또는 크레이트들에 그리고, 일부 실시예들에서, 농산물이 소비자들에게 판매되는 컨테이너들 또는 크레이트들에 넣는 것에 의해) 태그들(402)과 연관될 수 있다. 태그들(402)의 위치가 앞서 기술된 바와 같이 추적될 수 있다. 이어서, 식품 매개 질병 발생 동안, 병에 걸린 사람 정보가 아픈 사람들과 의심되는 식품 제품들의 그룹 또는 카테고리로부터의 식품 제품, 아픈 사람들의 위치들 근방에서 최종 유통 패턴(end distribution pattern)을 갖는 식품 제품, 또는 어떤 다른 방식으로 분류된 식품 제품 간의 대응관계를 식별하기 위해 위치 추적 정보와 대조하여 교차 참조될 수 있다. 이러한 방식으로, 원인 식품 제품(culprit food product)의 식별(identification)이 신속하게 이루어질 수 있다. 원인 제품 식별이 종래의 분석이 행해지는 경우보다 더 빠르게 행해질 수 있는 것으로 생각된다.

원인 식품 제품이 식별되면, 식품 제품이 리콜(recall)될 수 있다. 제품 리콜 및 다른 개선 조치들을 용이하게 하기 위해 하류 및 상류 둘 다에서 추적 정보가 사용될 수 있다. 예를 들어, 병원균이 유입된 사이트가 식별될 수 있고 병원균이 박멸될 수 있다. 또한, 오염되거나 리콜되었을지도 모르는 식품 유닛들의 마지막으로 검출된 위치가 식별될 수 있다. 그 품목들이 식료품점들 또는 레스토랑들에 여전히 있는 경우, 식료품점 또는 레스토랑은 경고를 받을 수 있고 식품이 판매 또는 사용되지 못하게 치워질 수 있다. 또한, 소비자가 구매한 제품에 대해서는, 구매자와 태깅된 객체 간의 상관관계를 설정하는 레코드들을 사용하여 품목들 중 일부 품목들의 특정 구매자가 식별되고 접촉될 수 있다. 일부 실시예들에서, 리콜된 유닛들의 현재 위치를 식별하기 위해 복귀 신호들이 분석될 수 있고, 레스토랑들, 주택들, 식료품점들 또는 다른 위치들로부터 그 유닛들을 검색하기 위해 조치가 취해질 수 있다.

다른 예시적인 적용분야는 서비스, 또는 제품 업그레이드 또는 리콜의 만기가 되는 품목들의 추적이다. 자동차와 관련한 제품 리콜의 예시적인 실시예가 기술될 것이지만, 제품 업그레이드의 일상적인 서비스를 수반하는 상황들에 대한 방법의 수정들이 추가 설명 없이 명백해질 것이다. 이 실시예에서, 프로브(P)는 자동차와 연관된 태그들(P)을 조사하는 유도 표면파를 방출한다. 수신기들(408)은 자동차들이 통과할 수 있는 도로들, 주차 영역들, 진입로들 또는 다른 위치들을 따라 위치된다. 자동차가 수신기들(408) 중 하나를 통과할 때, 연관된 태그(402)로부터의 복귀 신호가 수신기(408)에 의해 수신될 것이다. 태그 식별자 또는, 차량 식별 번호(VIN)와 같은, 태그 식별자와 연관된 차량 데이터가 어느 자동차들이, 제조사 및 모델별로, 제품 안전 리콜을 해결하는 데 필요한 작업을 완료했는지를 저장하는 데이터베이스와 대조하여 상호 참조될 수 있다. 리콜 작업의 완료에 관한 데이터는, 작업이 수행될 때, 자동차 딜러들 및 다른 서비스 제공자들로부터 획득될 수 있다. 차량이 작업을 완료한 것으로 결정되는 경우, 어떠한 부가 조치도 취해지지 않을 수 있다. 차량이 작업을 완료하지 않은 것으로 결정되는 경우, 부가 조치가 취해질 수 있다. 예를 들어, 데이터가 유도 표면파에 인코딩된 캐리어 메시지를 통해 태그(402)에게 전송될 수 있다. 해결되어야 하는 제품 리콜이 있다는 메시지를 운전자에게 디스플레이하기 위해 데이터가 차량의 전자회로와 인터페이싱하도록 태그(402)를 프롬프트할 수 있다. 다른 조치들은 전화, 이메일, 문자 또는 데이터 메시지, 종래의 우편 등으로 차량의 소유자 또는 집행 기관과 접촉하려고 시도하는 것을 포함할 수 있다.

다른 적용분야는 유료 도로의 사용에 대해 운전자 또는 차량 소유자에게 과금하는 것일 수 있다. 이 예에서, 수신기들(408)은 유료 도로의 입구들 및 출구들에 또는 유료 도로를 따라 위치될 수 있다. 수신기들(408)을 통과하는 차량들 또는 운전자들과 연관된 태그들(402)로부터의 복귀 신호들이 수신될 때, 컴퓨터 시스템(418)에서 운전자 또는 차량과 이전에 연관된 계좌 또는 신용 카드에 대해 적절한 요금이 부과될 수 있다.

다른 실시예에서, 태그들(402)로부터의 복귀 신호들 또는 복귀 신호의 부재는 위조 상품을 식별하거나 적법한 상품을 인증하는 데 사용될 수 있다. 하나의 예시적인 접근법에서, 각각의 적법한 객체는 고유 식별자를 갖는 태그(402)와 연관된다. 다양한 시기들에, 태그 식별자가 적법한 상품과 연관되어 있는 것으로 알려진 태그 식별자들의 데이터베이스와 대조하여 검사될 수 있다. 상품이 검사되는 예시적인 시기들은 세관 통제 검문소를 통과할 때 및 상품에 대한 소유권 또는 권리가 당사자들 간에(예컨대, 제조업자로부터 수입업자에게, 수입업자로부터 유통업자에게, 유통업자로부터 상점 소유자에게, 상점 소유자로부터 소비자에게) 이전될 때를 포함할 수 있다. 수신된 태그 식별자와 기지의 적합한 태그 식별자의 데이터베이스 간에 매치(match)가 있는 경우, 상품이 세관 당국에 의해 통관(clear)되거나 수령 당사자에 의해 수취될 수 있다. 매치가 없거나 어떠한 태그(402)도 존재하지 않는 경우, 세관 당국이 상품을 압수하여 조사를 수행하거나 수령 당사자가 상품을 거부할 수 있다.

전술한 예로부터 명백한 바와 같이, 다양한 객체들(404)에 대해 수집된 추적 및 데이터의 양은 객체들(404)에 대한 관심의 정도 및 객체(404)를 추적하는 이유에 의존할 것이다. 객체(404)를 추적하는 것 이외에, 연관된 태그(402)가 부가의 목적들을 위해 사용될 수 있다. 예들이 제공될 것이다. 이 예들에서, 데이터가 태그(402)에게 전달될 수 있거나 질의들 또는 커맨드들이 태그(402)에게 전송될 수 있다. 이 상황들에서, 데이터, 질의 또는 커맨드는 태그(402)와 수신기(404) 사이의 통신 링크를 통해 전송될 수 있거나 태그(402)로 어드레싱되고 (예컨대, 인코딩된 캐리어 메시지로서) 유도 표면파의 일부를 형성하는 메시지에 인코딩될 수 있다.

일 실시예에서, 태그 식별자 이외의 데이터가 태그(402)에 의해 저장될 수 있다. 저장된 데이터 또는 저장된 데이터의 선택된 요소들이 자동화된 복귀 신호의 일부로서 전송될 수 있다. 다른 상황들에서, 저장된 데이터 또는 저장된 데이터의 선택된 요소들이 질의 또는 커맨드에 응답하는 신호에서 전송될 수 있다. 태그(402)에 의해 저장된 정보는 동작 기능을 지원하기 위해 적절한 경우 시간에 따라 변할 수 있다. 저장된 데이터 요소들은 태그(402)의 존재가 이전에 결정되었던 위치들(예컨대, 위치 이력 레코드); 태그(402)로부터 복귀 신호를 수신한 수신기들(408)의 식별자들; 태그(402)와 연관되어 있는 객체(404)의 제조자, 수입업자, 유통업자 또는 소유자의 아이덴티티 또는 위치; 제조, 포장 또는 다른 가공의 시간 및 날짜; 하나 이상의 부가 객체(404)와 태그(402) 간의 연관; 통관 데이터; 통관항을 거쳐가는 것, 제조, 구매, 구매 금액 등과 같은 특정한 이벤트들에 관련된 위치, 시간 및 날짜, 및/또는 다른 상세들; 제품 유효 기간; 버전 번호 또는 값; 제품 기능들; 추가 제품 정보, 보증 정보, 법적 조건, 또는 지적 재산권 적용범위 정보가 이용가능한 웹 사이트 또는 다른 데이터 저장소; 제품 지원을 받는 것에 관한 정보 또는 부속품들 또는 교체 부품들을 주문하는 것 등을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다.

다양한 실시예들에서, 큰 지리적 영역들에 걸쳐 태그들(402)을 조사하기 위해 유도 표면파가 장기간에 걸쳐 존재할 것이다. 어떤 시점에서, 특정한 제품들에 대한 복귀 신호의 값이 하나 이상의 당사자에게 더 이상 관심 대상이 아닐 수 있다. 예를 들어, 객체(404)의 구매자는 프라이버시 문제로 인해 객체의 태그(402)가 복귀 신호들을 송신하는 것을 원하지 않을 수 있다. 다른 예로서, 식품을 먹은 후에, 식품의 포장과 연관된 태그(402)는 거의 가치가 없다. 이 상황들에서, 태그들을 재활용하는 것, 태그들을 파괴하는 것, 태그들의 복귀 신호 기능을 턴 오프시키는 것, 추적 데이터 시스템(예컨대, 컴퓨터 시스템(418))과 접촉하여 태그들의 추가 추적을 하지 않는 것, 또는 태그들, 수신기들 또는 컴퓨터 시스템의 동작을 변경하는 다른 조치가 가능할 수 있다.

일 실시예에서, 태그들(402)은 하나 초과의 주파수의 유도 표면파들에 응답할 수 있다. 예를 들어, 태그(402)는 제1 프로브에 의해 생성되고 도 25와 관련하여 기술된 바와 같이 광범위한 영역을 커버하는 제1 주파수의 유도 표면파의 존재 시에 제1 복귀 신호를 방출할 수 있고, 제2 프로브에 의해 생성되고 도 24와 관련하여 기술된 바와 같이 로컬 영역(예컨대, 특정 사이트에 대응하는 영역)을 커버하는 제2 주파수의 유도 표면파의 존재 시에 제2 복귀 신호를 방출할 수 있다. 제1 주파수의 광역 유도 표면파에 응답하는 복귀 신호는 제2 주파수의 로컬 영역 유도 표면파의 복귀 신호의 주파수와 상이한 주파수일 수 있다. 이러한 방식으로, 복귀 신호들이 상이한 수신기들(408)에 의해 구별 및/또는 수신될 수 있다.

2(G). 컴퓨터 시스템

다양한 실시예들에서의 컴퓨터 시스템은, 개인용 컴퓨터, 서버 또는 분산 시스템(예컨대, "클라우드" 컴퓨팅 환경)과 같은, 임의의 적절한 시스템일 수 있다. 도 26을 추가로 참조하면, 수신기(408)와 통신가능하게 결합된 예시적인 컴퓨터 시스템(418)이 예시되어 있다. 적절한 경우, 컴퓨터 시스템(418)은 복수의 수신기들(408)과 통신할 수 있다. 적용가능한 경우, 컴퓨터 시스템(418)은 프로브들(300)이 언제 유도 표면파를 생성하는지 및 유도 표면파들의 특성들을 제어하기 위해 그리고 하나 이상의 태그(402)에게 전송하기 위한 데이터 또는 커맨드들을 유도 표면파들에 포함시키도록 프로브들(300)을 제어하기 위해 하나 이상의 프로브(P)와 동작가능한 통신(operable communication)을 가질 수 있다.

컴퓨터 시스템(418)은, 수신기들(408), 프로브들(P) 및 태그들(402)과 함께, 본 개시내용에 기술되는 기법들을 수행할 수 있다. 언급된 바와 같이, 컴퓨터 시스템(418)은 임의의 적절한 통신 매체(420)를 통해 수신기(408)와 통신한다. 본원에 기술되는 동작들을 수행하는 것에 부가하여, 컴퓨터 시스템(418)은 태그들(402)과 객체들(404) 간의 논리적 연관을 관리하는 중앙 등록 시스템 또는 어떤 다른 형태의 관리 플랫폼일 수 있다.

컴퓨터 시스템(418)은, 실행될 때, 본원에 기술되는 컴퓨터 시스템(418)의 기능들을 수행하는 태그 관리 기능(448)을 비롯한, 컴퓨터 애플리케이션들(예컨대, 소프트웨어 프로그램들)을 실행할 수 있는 컴퓨터 기반 시스템으로서 구현될 수 있다. 태그 관리 기능(448) 및 데이터베이스(450)는, 메모리(452)와 같은, 비일시적 컴퓨터 판독가능 매체 상에 저장될 수 있다. 데이터베이스(450)는 본 개시내용에 기술되는 기능들을 수행하는 데 사용되는 다양한 정보 세트들을 저장하는 데 사용될 수 있다. 메모리(452)는 자기, 광학 또는 전자 저장 디바이스(예컨대, 하드 디스크, 광학 디스크, 플래시 메모리 등)일 수 있으며, 휘발성 및 비휘발성 메모리 컴포넌트들을 비롯한, 몇 개의 디바이스들을 포함할 수 있다. 그에 따라, 메모리(452)는, 예를 들어, 시스템 메모리로서 기능하기 위한 RAM(random access memory), ROM(read-only memory), 솔리드 스테이트 드라이브(solid-state drive)들, 하드 디스크들, 광학 디스크들(예컨대, CD들 및 DVD들), 테이프들, 플래시 디바이스들 및/또는 다른 메모리 컴포넌트들과, 메모리 디바이스들에 대한 연관된 드라이브들, 플레이어들 및/또는 판독기들을 포함할 수 있다.

논리 연산들을 실행하기 위해, 컴퓨터 시스템(418)은 논리 루틴들을 수행하는 명령어들을 실행하는 데 사용되는 하나 이상의 프로세서(454)를 포함할 수 있다. 프로세서(454) 및 메모리(452)는 로컬 인터페이스(456)를 사용하여 결합될 수 있다. 로컬 인터페이스(456)는, 예를 들어, 부수된 제어 버스를 갖는 데이터 버스, 네트워크, 또는 다른 서브시스템일 수 있다.

컴퓨터 시스템(418)은 다양한 주변 디바이스들에 동작가능하게 접속하기 위한 다양한 입력/출력(I/O) 인터페이스들을 가질 수 있다. 컴퓨터 시스템(418)은 또한 하나 이상의 통신 인터페이스(458)를 가질 수 있다. 통신 인터페이스(458)는, 예를 들어, 모뎀 및/또는 네트워크 인터페이스 카드를 포함할 수 있다. 통신 인터페이스(458)는 컴퓨터 시스템(418)이 통신 매체(420)를 통해 다른 컴퓨팅 디바이스들, 수신기들(408) 및 프로브들(P)에게 그리고 이들로부터 데이터 신호들을 송신 및 수신할 수 있게 한다. 상세하게는, 통신 인터페이스(458)는 컴퓨터 시스템(418)을 통신 매체(420)에 동작가능하게 접속할 수 있다.

수신기(408)는, 태그들(402)로부터 복귀 신호들을 수신하는 무선 회로(460) 및 통신 매체(420)를 통해 다른 디바이스들과 동작가능한 통신을 구축하는 통신 인터페이스(462)와 같은, 통신 회로를 포함한다. 무선 회로(460)는 하나 이상의 안테나 및 무선 수신기(또는, 수신기(408)가 데이터 또는 커맨드들을 태그들(402)에게 전송하는 경우에, 송수신기)를 포함할 수 있다.

수신기(408)의 전체적인 기능은, 예를 들어, 논리 명령어들을 실행하기 위한 처리 디바이스를 포함하는 제어 회로(464)에 의해 제어될 수 있다. 수신기(408)는 또한 데이터 및 논리 명령어들을 실행가능 코드의 형태로 저장하기 위한 메모리(466)를 포함할 수 있다. 메모리(466)는 버퍼, 플래시 메모리, 하드 드라이브, 이동식 매체, 휘발성 메모리, 비휘발성 메모리, RAM(random access memory), 또는 다른 적당한 디바이스 중 하나 이상과 같은 비일시적 컴퓨터 판독가능 매체일 수 있다. 전형적인 구성에서, 메모리(466)는 장기 데이터 저장을 위한 비휘발성 메모리 및 제어 회로(464)를 위한 시스템 메모리로서 기능하는 휘발성 메모리를 포함한다. 수신기(408)는, 디스플레이, 스피커, 마이크로폰, 사용자 인터페이스(예컨대, 키패드 및/또는 터치 감응 입력), 움직임 센서들, 위치 결정 요소들(예컨대, GPS 수신기) 등과 같은 임의의 다른 적절한 컴포넌트들을 포함할 수 있다.

3. 결론

일 실시예와 관련하여 기술되고 그리고/또는 예시되어 있는 특징들이 하나 이상의 다른 실시예들에서 동일한 방식으로 또는 유사한 방식으로 그리고/또는 다른 실시예들의 특징들과 조합하여 또는 그 대신에 사용될 수 있다. 따라서, 임의의 하나의 개시된 특징은 임의의 다른 특징들과 조합가능하거나 상호교환가능할 수 있다.

게다가, 특정한 실시예들이 도시되고 기술되었지만, 본 명세서를 읽고 이해할 때 첨부된 청구항들의 범주 내에 속하는 등가물들 및 수정들이 통상의 기술자에게 안출될 것임이 이해된다.

Claims (28)

1. 객체 식별 시스템(400)으로서,
   유도 표면파를 생성하는 유도 표면 도파로 프로브(P)- 객체 식별 태그들(402)은 동작하기 위한 전력을 상기 유도 표면파로부터 획득하고, 각각의 태그는 객체(404)와 연관됨 -; 및
   상기 태그들은 객체들의 평생(lifecycle) 동안 연관된 객체들과 함께 이동함에 따라, 상기 태그들 중 하나 이상으로부터 복귀 신호들을 수신하기 위해 전략적 위치들에 설치되는 복수의 수신기(408)
   를 포함하는, 시스템.
2. 제1항에 있어서, 상기 유도 표면 도파로 프로브는 지상 매체(203, 410) 위쪽으로 상승된 충전 단자를 포함하고, 상기 지상 매체의 복소 브루스터 입사각(θ_i,B)으로 입사하는 파면을 합성하는 적어도 하나의 결과적인 필드를 생성하도록 구성되는, 시스템.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 유도 표면파는 태그들에 전력을 공급하기에 충분한 에너지가 존재하는 조사 영역(426)을 가지며, 상기 조사 영역의 크기는 상기 객체들의 평생 중 적어도 일부 동안 상기 태그들이 존재할 것으로 예상되는 영역에 대응하는, 시스템.
4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 유도 표면파는 세계 전역에 걸쳐(on a world-wide basis) 태그들의 동작에 전력을 공급하도록 구성되는, 시스템.
5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 수신기들은 상거래에서 이동하는 객체들을 추적하기 위해 제품 공급 경로들을 따라 설치되는, 시스템.
6. 제5항에 있어서, 상기 시스템은 상기 수신기들에 의한 상기 태그들로부터의 상기 복귀 신호들의 검출과 연관된 데이터를 데이터베이스(450)에 로깅하는 컴퓨터 시스템(418)을 추가로 포함하는, 시스템.
7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 시스템은 상기 수신기들에 의해 수신되는 상기 태그들로부터의 복귀 신호들에 따라 상기 태그들의 지리적 위치를 식별하는 컴퓨터 시스템을 추가로 포함하는, 시스템.
8. 제7항에 있어서, 적어도 하나의 태그에 대한 지리적 위치는 2개의 수신기에서 수신되는 대응하는 복귀 신호를 사용하는 삼각측량에 의해 결정되는, 시스템.
9. 제7항에 있어서, 태그로부터의 복귀 신호를 수신하는 적어도 하나의 수신기의 지리적 위치는 상기 태그의 위치에 대한 대용물(proxy)로서 역할하는, 시스템.
10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 객체 식별 태그들이 동작하기 위한 전력을 획득하기에 충분한 에너지 밀도가 존재하는 상기 유도 표면파에 대한 조사 영역의 형상은 상기 유도 표면파를 방향의 함수로서 변하도록 생성하는 것에 의해 제어되는, 시스템.
11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 태그들은 어드레싱가능하고, 상기 유도 표면파는 상기 태그들 중 적어도 하나에 대한 어드레싱된 메시지를 포함하는, 시스템.
12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 태그들은 어드레싱가능하고, 상기 수신기들은 상기 태그들 중 적어도 하나에 대한 어드레싱된 메시지를 송신하도록 구성되는, 시스템.
13. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 메시지는 어드레싱된 태그에 의해 저장된 데이터에 대한 질의인, 시스템.
14. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 메시지는 어드레싱된 태그에 의해 저장될 데이터를 포함하는, 시스템.
15. 제14항에 있어서, 상기 데이터는 상기 어드레싱된 태그의 이력과 연관된 적어도 하나의 이벤트에 대응하는, 시스템.
16. 제14항에 있어서, 상기 데이터는 상기 어드레싱된 태그의 적어도 하나의 검출된 위치에 대응하는, 시스템.
17. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 메시지는 어드레싱된 태그가 적어도 일정 기간(a period of time) 동안 복귀 신호를 전송하지 않게 하는 커맨드인, 시스템.
18. 제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유도 표면파는 제1 주파수로 상기 태그들을 조사(illuminate)하고, 적어도 제1 세트의 태그들은 상기 제1 주파수와 명목상 상이한 제2 주파수로 리턴 신호들을 방출하는, 시스템.
19. 제18항에 있어서, 적어도 제2 세트의 태그들은 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 명목상 상이한 제3 주파수로 복귀 신호들을 방출하는, 시스템.
20. 제18항에 있어서, 상기 프로브는 다른 유도 표면파가 존재하는 환경에서 동작하며, 상기 다른 유도 표면파는 상기 제1 주파수와 명목상 상이한 주파수를 갖고 상기 제1 세트의 태그들은 상기 다른 유도 표면파의 상기 주파수에 응답하지 않는, 시스템.
21. 제1항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유도 표면파의 생성은 일정 기간에 걸쳐 연속적인, 시스템.
22. 제21항에 있어서, 상기 일정 기간 동안, 각각의 태그는 각각의 복귀 신호 인스턴스 사이에 어떠한 지연도 없이 또는 약간의 지연을 갖고 상기 복귀 신호의 방출을 반복하는, 시스템.
23. 제1항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 시스템은 상기 수신기들에 의해 수신되는 상기 태그들로부터의 복귀 신호들에 따라 상기 태그들에 관련된 이벤트들을 추적 및 데이터베이스에 로깅하는 컴퓨터 시스템(418)을 추가로 포함하는, 시스템.
24. 제23항에 있어서, 상기 이벤트들은 객체와 태그의 연관(association), 상기 객체의 제조자, 상기 객체의 이동, 미리 결정된 위치에서 상기 객체의 출발 혹은 도착, 또는 상기 객체의 판매 혹은 소유권 이전 중 하나 이상에 대응하는, 시스템.
25. 제1항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 수신기들 중 하나 이상은 고정된 지리적 위치들을 갖는, 시스템.
26. 제25항에 있어서, 상기 지리적 위치들은 사이트에서의 출입구(doorway), 사이트에서의 지불 영역, 사이트에서의 수신 혹은 선적 포털, 또는 통관항(port of entry) 중 하나 이상으로부터 선택되는, 시스템.
27. 제1항 내지 제26항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 수신기들 중 하나 이상은 운반된 객체들의 평생 중 일부 동안 하나 이상의 객체를 운반하도록 구성된 차량과 함께 이동하는, 시스템.
28. 제1항 내지 제27항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 시스템은 상기 태그들을 시간에 걸쳐 추적하는 컴퓨터 시스템(418)을 추가로 포함하며, 상기 컴퓨터 시스템은 상기 객체들 중 하나 이상과 연관된 사람이 상기 객체들 중 상기 하나 이상과 연관된 상기 태그들의 추가 추적을 하지 않게 할 수 있도록 구성되는, 시스템.

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