KR20160129156A - 표시 장치 - Google Patents

표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20160129156A
KR20160129156A KR1020150060540A KR20150060540A KR20160129156A KR 20160129156 A KR20160129156 A KR 20160129156A KR 1020150060540 A KR1020150060540 A KR 1020150060540A KR 20150060540 A KR20150060540 A KR 20150060540A KR 20160129156 A KR20160129156 A KR 20160129156A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
line
test
gate
test signal
crack
Prior art date
Application number
KR1020150060540A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102417143B1 (ko
Inventor
박성현
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020150060540A priority Critical patent/KR102417143B1/ko
Priority to US15/141,980 priority patent/US10096667B2/en
Publication of KR20160129156A publication Critical patent/KR20160129156A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102417143B1 publication Critical patent/KR102417143B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
    • H01L22/34—Circuits for electrically characterising or monitoring manufacturing processes, e. g. whole test die, wafers filled with test structures, on-board-devices incorporated on each die, process control monitors or pad structures thereof, devices in scribe line
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0404—Matrix technologies
    • G09G2300/0413—Details of dummy pixels or dummy lines in flat panels
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/08—Fault-tolerant or redundant circuits, or circuits in which repair of defects is prepared
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00—Organic light-emitting devices
    • H10K50/80—Constructional details
    • H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844—Encapsulations
    • H10K50/8445—Encapsulations multilayered coatings having a repetitive structure, e.g. having multiple organic-inorganic bilayers
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/40—OLEDs integrated with touch screens
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80—Constructional details
    • H10K59/87—Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K59/873—Encapsulations
    • H10K59/8731—Encapsulations multilayered coatings having a repetitive structure, e.g. having multiple organic-inorganic bilayers
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
    • H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
    • H10K77/111—Flexible substrates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 기판의 상기 표시 영역에 형성되어 있는 복수의 화소, 상기 기판에 형성되어 있으며, 상기 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 신호선을 포함하고, 상기 복수의 신호선은 상기 기판 위에 형성되어 있는 복수의 게이트선 및 복수의 데이터선, 그리고 상기 복수의 데이터선 중 제1 데이터선에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 배치되어 있는 크랙 감지선을 포함하고, 상기 크랙 감지선은 절연막 아래에 위치하는 제1 부분과, 상기 절연막 위에 위치하는 제2 부분을 포함하고, 상기 제1 부분과 상기 제2 부분은 상기 절연막에 형성되어 있는 접촉 구멍을 통해 서로 연결된다.

Description

표시 장치 {DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다.
휴대용 표시 장치가 개발되면서, 표시 장치는 평판에서 플렉서블한 형태로 변화하고 있다.
이러한 표시 장치의 제조 공정에서, 크랙(crack)이 발생할 경우, 표시 장치의 표시 영역으로 수분 등이 침투할 수 있다. 이러한 크랙에 의한 수분 등의 침투는 표시 장치의 불량의 원인이 된다.
따라서, 크랙 여부를 정확히 감지하는 것이 중요한 문제로 부각되고 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 표시 장치의 크랙을 쉽게 감지하여, 크랙에 따른 표시 장치의 불량을 방지할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 기판의 상기 표시 영역에 형성되어 있는 복수의 화소, 상기 기판에 형성되어 있으며, 상기 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 신호선을 포함하고, 상기 복수의 신호선은 상기 기판 위에 형성되어 있는 복수의 게이트선 및 복수의 데이터선, 그리고 상기 복수의 데이터선 중 제1 데이터선에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 배치되어 있는 크랙 감지선을 포함하고, 상기 크랙 감지선은 절연막 아래에 위치하는 제1 부분과, 상기 절연막 위에 위치하는 제2 부분을 포함하고, 상기 제1 부분과 상기 제2 부분은 상기 절연막에 형성되어 있는 접촉 구멍을 통해 서로 연결된다.
상기 크랙 감지선의 제1 부분은 상기 게이트선과 동일한 층으로 이루어지고, 상기 제2 막은 상기 데이터선과 동일한 층으로 이루어질 수 있다.
상기 복수의 신호선은 상기 기판의 상기 주변 영역에 형성되어 있는 제1 테스트 신호선과 제2 테스트 신호선을 더 포함하고, 상기 크랙 감지선은 상기 제1 데이터선과 제1 연결부 및 제2 연결부를 통해 서로 연결되고, 상기 제1 크랙 감지선은 상기 제1 연결부로부터 상기 제2 연결부까지 상기 표시 영역의 한쪽 가장자리를 따라 반링 형태로 뻗어 있고, 상기 복수의 데이터선은 제1 스위칭 소자를 통해 상기 제1 테스트 신호선에 연결되고, 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제2 테스트 신호선에 연결될 수 있다.
상기 크랙 감지선은 상기 제1 데이터선과 상기 제2 테스트 신호선 사이에 연결되어 있는 상기 제2 스위칭 소자 사이에 연결될 수 있다.
상기 표시 장치는 상기 기판의 상기 비표시 영역에 형성되어 있으며, 상기 제1 스위칭 소자에 연결되어 있는 제1 테스트 게이트선과 상기 제2 스위칭 소자에 연결되어 있는 제2 테스트 게이트선을 더 포함하고, 상기 제1 테스트 게이트선에 제1 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제1 테스트 신호선으로부터 제1 테스트 신호를 인가받고, 상기 제2 테스트 게이트선에 제2 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제2 테스트 신호선으로부터 제1 테스트 신호를 인가받을 수 있다.
상기 제1 게이트 온 전압이 인가된 후에, 상기 제2 게이트 온 전압이 인가되고, 상기 제1 테스트 전압과 상기 제2 테스트 전압의 크기는 서로 다를 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 표시 장치에 따르면, 표시 장치의 크랙을 쉽게 감지하여, 크랙에 따른 표시 장치의 불량을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치의 배치도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치의 신호의 파형도이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 도시한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 다른 한 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 도시한 단면도이다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우 뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
먼저, 도 1을 참고하여, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치에 대하여 설명한다. 도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 1을 참고하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 기판(SUB), 표시부(DA), 밀봉부(EN), 그리고 터치부(TM)를 포함한다.
기판(SUB)은 유리, 폴리머 또는 스테인리스 강 등을 포함하는 절연성 기판이다. 기판(SUB)은 플렉서블(flexible)하거나, 스트렛쳐블(stretable)하거나, 폴더블(foldable)하거나, 벤더블(bendable)하거나, 롤러블(rollable)할 수 있다. 기판(SUB)이 플렉서블(flexible)하거나, 스트렛쳐블(stretable)하거나, 폴더블(foldable)하거나, 벤더블(bendable)하거나, 롤러블(rollable)함으로써, 표시 장치 전체가 플렉서블(flexible)하거나, 스트렛쳐블(stretable)하거나, 폴더블(foldable)하거나, 벤더블(bendable)하거나, 롤러블(rollable)할 수 있다. 일례로, 기판(SUB)은 폴리이미드 등의 수지를 포함하는 플렉서블 필름(film) 형태를 가질 수 있다.
기판(SUB)은 영상(image)을 표시하는 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)의 가장자리에 위치하는 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 도시한 실시예에서, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)을 둘러싸는 형태로 위치하는 것으로 설명하였으나, 본 발명의 다른 한 실시예에 따른 표시 장치에 따르면, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 양쪽에 위치할 수도 있다.
기판(SUB)의 표시 영역(DA)은 복수의 화소를 포함한다. 화소는 영상을 표시하는 최소 단위이다.
밀봉부(EN)는 기판(SUB)의 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA) 전체에 걸쳐서 기판(SUB) 상에 위치하고 있으며, 기판(SUB)과 함께 표시 영역(DA)의 복수의 화소를 밀봉하고 있다. 밀봉부(EN)는 박막 밀봉부(thin film encapsulation)로 형성될 수 있다. 밀봉부(EN)는 표시부(DM) 상에 위치하는 유기층(OL) 및 유기층(OL) 상에 위치하는 무기층(IL)을 포함한다. 한편, 본 발명의 다른 실시예에서 밀봉부(EN)는 교대로 적층된 하나 이상의 유기층 및 하나 이상의 무기층을 포함할 수 있으며, 구체적으로, 무기층 또는 유기층 각각은 복수일 수 있으며, 복수의 무기층 및 복수의 유기층 각각은 상호 교호적으로 적층될 수 있다. 예를 들어, 밀봉부(EN)는 적어도 두 개의 무기층 사이에 적어도 하나의 유기층이 삽입된 샌드위치 구조를 적어도 하나 포함할 수 있다.
그러면, 도 1과 함께 도 2를 참고하여, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 배치에 대하여 설명한다. 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 배치도이다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소(R, G, B)가 형성되어 있는 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역(NDA)을 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는 기판(SUB) 위에 형성되어 있는 복수의 화소(R, G, B)와 이에 연결되어 있는 복수의 신호선을 포함하고, 복수의 화소(R, G, B)는 기판(SUB)의 표시 영역(DA)에 형성되어 있고, 복수의 신호선의 적어도 일부분은 기판의 비표시 영역(NDA)에 형성되어 있다.
복수의 신호선은 제1 테스트 게이트선(TEST_GATE), 제2 데스트 게이트선(DC_GATE), 복수의 데이터선(D), 제1 테스트 신호선(TEST_DATA1), 복수의 제2 테스트 신호선(CLA, CLB, CLC), 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)을 포함한다.
제1 테스트 게이트선(TEST_GATE), 제1 테스트 신호선(TEST_DATA1), 그리고 복수의 데이터선(D)에 연결되어 있는 복수의 제1 스위칭 소자(Q1), 제2 데스트 게이트선(DC_GATE), 복수의 제2 테스트 신호선(CLA, CLB, CLC), 그리고 복수의 데이터선(D)에 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자(Q2)를 포함한다.
복수의 데이터선(D) 중 제1 데이터선(DD1)에는 제1 크랙 감지선(CD1)이 연 결되어 있고, 제2 데이터선(DD2)에는 제2 크랙 감지선(CD2)이 연결되어 있다.
제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 복수의 화소(R, G, B)를 기준으로 양쪽에 배치되어 있다.
제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)은 복수의 화소(R, G, B)가 형성되어 있는 표시 영역(DA)의 양쪽 가장자리에 인접한 비표시 영역(NDA)에 형성되어 있다. 보다 구체적으로, 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)은 복수의 화소(R, G, B)가 형성되어 있는 표시 영역(DA)에 인접한 비표시 영역(NDA)에 위치하고, 표시 영역(DA)의 양 옆에 위치한다.
제1 크랙 감지선(CD1)은 제1 연결부(CP1a)와 제2 연결부(CP1b)를 통해 제1 데이터선(DD1)에 연결되어 있다. 제1 크랙 감지선(CD1)은 제1 연결부(CP1a)와 제2 연결부(CP1b)에 모두 연결되어 있으며, 제1 연결부(CP1a)와 제2 연결부(CP1b) 중 제1 연결부(CP1a)로부터 시작하여, 복수의 화소(R, G, B)가 형성되어 있는 표시 영역의 가장자리에 인접한 주변 영역을 따라 제1 방향(R1)으로 뻗은 후, 방향을 바꿔 제1 방향(R1)과 반대 방향인 제2 방향(R2)으로 뻗어 제1 연결부(CP1a)와 제2 연결부(CP1b) 중 제2 연결부(CP1b)를 통해 제1 데이터선(DD1)과 다시 연결된다. 이와 유사하게, 제2 크랙 감지선(CD2)은 제3 연결부(CP2a)와 제4 연결부(CP2b)를 통해 제2 데이터선(DD2)에 연결되어 있다. 제2 크랙 감지선(CD2)은 제3 연결부(CP2a)와 제4 연결부(CP2b)에 모두 연결되어 있으며, 제3 연결부(CP2a)와 제4 연결부(CP2b) 중 제3 연결부(CP2a)로부터 시작하여, 복수의 화소(R, G, B)가 형성되어 있는 표시 영역의 가장자리에 인접한 주변 영역을 따라 제1 방향(R1)으로 뻗은 후, 방향을 바꿔 제1 방향(R1)과 반대 방향인 제2 방향(R2)으로 뻗어 제3 연결부(CP2a)와 제4 연결부(CP2b) 중 제4 연결부(CP2b)를 통해 제1 데이터선(DD1)과 다시 연결된다.
이처럼, 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)은 표시 영역(DA)의 양쪽 가장자리에 인접한 비표시 영역(NDA)에 형성되어 있으며, 제1 데이터선(DD1) 및 제2 데이터선(DD2)의 연결부로부터 주변 영역을 따라 제1 방향(R1)으로 뻗은 후 다시 제1 방향(R1)과 반대 방향은 제2 방향(R2)을 따라 뻗어 다시 제1 데이터선(DD1) 및 제2 데이터선(DD2)과 연결되는 왕복 형태, 즉 반링(hemiring) 형태로 형성되어 있다.
제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)은 표시 영역(DA)의 복수의 화소(R, G, B)에 형성되어 있는 신호선, 예를 들어, 게이트 배선 또는 데이터 배선과 동일한 층으로 이루어진다.
그러면, 도 3을 참고하여, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치의 동작에 대하여 설명한다.
도 3을 참고하면, 제1 테스트 게이트선(TEST_GATE)에 게이트 온(ON) 신호가 인가되면, 복수의 데이터선(D)에 연결되어 있는 복수의 제2 스위칭 소자(Q2)가 온되어, 제1 테스트 신호선(TEST_DATA1)에 인가되는 제1 신호(V1)가 복수의 데이터선(D)에 인가된다. 제1 신호(V1)는 복수의 화소(R, G, B)가 화이트를 표시하는 신호이다.
복수의 데이터선(D)에 제1 신호(V1)가 인가됨으로써, 복수의 화소(R, G, B)가 화이트를 표시한다.
제1 테스트 게이트선(TEST_GATE)에 게이트 오프(OFF) 신호가 인가된 후 제2 데스트 게이트선(DC_GATE)에 게이트 온(ON) 신호가 인가되면, 복수의 데이터선(D)에 연결되어 있는 제2 스위칭 소자(Q2)가 온되어, 복수의 제2 테스트 신호선(CLA, CLB, CLC)에 인가되는 제2 신호(V2)가 복수의 데이터선(D)에 인가된다. 제2 신호(V2)는 복수의 화소(R, G, B)가 블랙을 표시하는 신호이다.
복수의 데이터선(D)에 제2 신호(V2)가 인가됨으로써, 복수의 화소(R, G, B)가 블랙을 표시한다.
이 때, 표시 영역(DA)의 가장자리에 위치하는 비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하면, 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)에 손상이 가해진다.
따라서, 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)에 연결되어 있는 제1 데이터선(DD1)과 제2 데이터선(DD2)의 저항이 커지고, 이에 따라 제1 데이터선(DD1)과 제2 데이터선(DD2)에 연결되어 있는 화소에 인가되는 전압(V_T)은 제2 신호(V2)까지 충전되지 못하고, 제2 신호(V2)와 전압 차이(ΔV)가 발생한다.
전압 차이(ΔV)가 발생함으로써, 제1 데이터선(DD1)과 제2 데이터선(DD2)에 연결되어 있는 화소는 블랙을 표시하지 못하고, 밝게 표시된다. 이러한 밝은 선을 통해, 표시 영역의 가장자리에 인접한 주변 영역에서 발생할 수 있는 크랙을 감지할 수 있다.
그러면, 도 1 및 도 2와 함께 도 4를 참고하여, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 층간 구조에 대하여 설명한다. 도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 도시한 단면도이다.
도 1 및 도 2와 함께, 도 4를 참고하면, 표시 영역(DA)의 화소는 빛을 발광하는 유기 발광 소자(OLED) 및 유기 발광 소자(OLED)와 연결된 박막 트랜지스터(TFT)를 포함한다.
박막 트랜지스터(TFT)는 액티브층(AL), 게이트 전극(GE), 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)을 포함한다.
액티브층(AL)은 폴리 실리콘 또는 산화물 반도체로 이루어질 수 있다. 산화물 반도체는 티타늄(Ti), 하프늄(Hf), 지르코늄(Zr), 알루미늄(Al), 탄탈륨(Ta), 게르마늄(Ge), 아연(Zn), 갈륨(Ga), 주석(Sn) 또는 인듐(In)을 기본으로 하는 산화물, 이들의 복합 산화물인 산화아연(ZnO), 인듐??갈륨??아연 산화물(InGaZnO4), 인듐??아연 산화물(Zn-n??O), 아연??주석 산화물(Zn??Sn??O) 인듐??갈륨 산화물 (In??Ga??O), 인듐??주석 산화물(In-Sn-O), 인듐-지르코늄 산화물(In-Zr-O), 인듐-지르코늄-아연 산화물(In-Zr-Zn-O), 인듐-지르코늄-주석 산화물(In-Zr-Sn-O), 인듐-지르코늄-갈륨 산화물(In-Zr-Ga-O), 인듐-알루미늄 산화물(In-Al-O), 인듐-아연-알루미늄 산화물(In-Zn-Al-O), 인듐-주석-알루미늄 산화물(In-Sn-Al-O), 인듐-알루미늄-갈륨 산화물(In-Al-Ga-O), 인듐-탄탈륨 산화물(In-Ta-O), 인듐-탄탈륨-아연 산화물(In-Ta-Zn-O), 인듐-탄탈륨-주석 산화물(In-Ta-Sn-O), 인듐-탄탈륨-갈륨 산화물(In-Ta-Ga-O), 인듐-게르마늄 산화물(In-Ge-O), 인듐-게르마늄-아연 산화물(In-Ge-Zn-O), 인듐-게르마늄-주석 산화물(In-Ge-Sn-O), 인듐-게르마늄-갈륨 산화물(In-Ge-Ga-O), 티타늄-인듐-아연 산화물(Ti-n-Zn-O), 하프늄-인듐-아연 산화물(Hf-n-Zn-O) 중 어느 하나를 포함할 수 있다.
액티브층(AL)은 불순물이 도핑되지 않은 채널 영역과, 채널 영역의 양 옆으로 불순물이 도핑되어 형성된 소스 영역 및 드레인 영역을 포함한다. 여기서, 이러한 불순물은 박막 트랜지스터의 종류에 따라 달라지며, N형 불순물 또는 P형 불순물이 가능하다. 액티브층(AL)이 산화물 반도체로 이루어지는 경우에는 고온에 노출되는 등의 외부 환경에 취약한 산화물 반도체를 보호하기 위해 별도의 보호층이 추가될 수 있다.
게이트 전극(GE)은 제1 절연층(IL1)을 사이에 두고 액티브층(AL) 상에 위치하며, 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE) 각각은 게이트 전극(GE)을 덮는 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3) 위에 위치하여, 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 형성된 접촉 구멍을 통해 액티브층(AL)의 소스 영역 및 드레인 영역 각각과 연결되어 있다. 드레인 전극(DE)은 유기 발광 소자(OLED)의 제1 전극(E1)과 접촉 구멍을 통해 연결되어 있다.
유기 발광 소자(OLED)는 박막 트랜지스터(TFT)의 드레인 전극(DE)과 연결된 제1 전극(E1), 제1 전극(E1) 상에 위치하는 유기 발광층(EL), 유기 발광층(EL) 상에 위치하는 제2 전극(E2)을 포함한다.
제1 전극(E1)은 정공 주입 전극인 양극(anode)일 수 있으며, 광 반사성, 광 반투과성, 광 투과성 전극 중 어느 하나의 전극일 수 있다. 한편, 본 발명의 다른 실시예에서 제1 전극(E1)은 전자 주입 전극인 음극(cathode)일 수 있다.
유기 발광층(EL)은 제1 전극(E1) 상에 위치하고 있다. 유기 발광층(EL)은 저분자 유기물 또는 PEDOT(Poly 3,4-ethylenedioxythiophene) 등의 고분자 유기물로 이루어질 수 있다. 유기 발광층(EL)은 적색을 발광하는 적색 유기 발광층, 녹색을 발광하는 녹색 유기 발광층 및 청색을 발광하는 청색 유기 발광층을 포함할 수 있으며, 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층은 각각 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소에 형성되어 컬러 화상을 구현하게 된다. 유기 발광층(EL)은 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층을 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소에 모두 함께 적층하고, 각 화소별로 적색 색필터, 녹색 색필터 및 청색 색필터를 형성하여 컬러 화상을 구현할 수 있다. 다른 예로, 유기 발광층(EL)으로서 백색을 발광하는 백색 유기 발광층을 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소 모두에 형성하고, 각 화소별로 각각 적색 색필터, 녹색 색필터 및 청색 색필터를 형성하여 컬러 화상을 구현할 수도 있다. 유기 발광층(EL)으로서 백색 유기 발광층과 색필터를 이용하여 컬러 화상을 구현하는 경우, 적색 유기 발광층, 녹색 유기 발광층 및 청색 유기 발광층을 각각의 개별 화소 즉, 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소에 증착하기 위한 증착 마스크를 사용하지 않아도 된다. 다른 예에서 설명한 유기 발광층(EL)으로서 백색 유기 발광층은 하나의 유기 발광층으로 형성될 수 있음은 물론이고, 복수 개의 유기 발광층을 적층하여 백색을 발광할 수 있도록 한 구성까지 포함한다. 일례로, 유기 발광층(EL)은 적어도 하나의 옐로우 유기 발광층과 적어도 하나의 청색 유기 발광층을 조합하여 백색 발광을 가능하게 한 구성, 적어도 하나의 시안 유기 발광층과 적어도 하나의 적색 유기 발광층을 조합하여 백색 발광을 가능하게 한 구성, 적어도 하나의 마젠타 유기 발광층과 적어도 하나의 녹색 유기 발광층을 조합하여 백색 발광을 가능하게 한 구성 등을 포함할 수 있다.
제2 전극(E2)은 유기 발광층(EL) 상에 위치하며, 전자 주입 전극인 음극(cathode)일 수 있다. 제2 전극(E2)은 광 반사성, 광 반투과성, 광 투과성 전극 중 어느 하나의 전극일 수 있다. 제2 전극(E2)은 유기 발광층(EL)을 덮도록 기판(SUB)의 표시 영역(DA) 전체에 걸쳐서 위치하고 있다. 한편, 본 발명의 다른 실시예에서 제2 전극(E2)은 정공 주입 전극인 양극일 수 있다.
밀봉부(EN)는 기판(SUB)의 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA) 전체에 걸쳐서 기판(SUB) 상에 위치하고 있으며, 기판(SUB)과 함께 표시부(DM)를 밀봉하고 있다. 밀봉부(EN)는 표시 영역(DA) 상에 위치하는 유기층(OL) 및 유기층(OL) 상에 위치하는 무기층(IL)을 포함한다.
유기층(OL)은 고분자로 형성되며, 바람직하게는 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리이미드, 폴라카보네이트, 에폭시, 폴리에틸렌 및 폴리아크릴레이트 중 어느 하나로 형성되는 단일막 또는 적층막일 수 있다. 일례로, 유기층은 폴리아크릴레이트로 형성될 수 있으며, 구체적으로는 디아크릴레이트계 모노머와 트리아크릴레이트계 모노머를 포함하는 모노머 조성물이 고분자화된 것을 포함한다. 여기서, 모노머 조성물에 모노아크릴레이트계 모노머가 더 포함될 수 있으며, 모노머 조성물에 TPO와 같은 공지의 광개시제가 더욱 포함될 수 있으나 이에 한정되지는 않는다.
무기층(IL)은 금속 산화물 또는 금속 질화물을 포함하는 단일막 또는 적층막일 수 있다. 구체적으로, 무기층은 SiNx, Al2O3, SiO2, TiO2 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.
밀봉부(EN)의 최상층에 위치하는 무기층(IL)은 다른 층인 유기층(OL)의 단부를 덮도록 유기층(OL) 대비 넓은 면적으로 적층되어 있다. 구체적으로, 기판(SUB)의 비표시 영역(NDA)에서 밀봉부(EN)의 무기층(IL)은 유기층(OL)의 단부를 덮고 있다. 즉, 밀봉부(EN)의 최상층에는 다른 층들의 단부를 덮도록 다른 층 대비 넓은 면적으로 적층된 상부 무기층이 위치할 수 있다. 이로 인해 외부로부터 유기 발광 소자(OLED)의 투습이 무기층(IL)에 의해 억제된다.
터치부(TM)는 기판(SUB)의 표시 영역(DA)에 대응하여 밀봉부(EN) 상에 위치하는 제1 터치 라인(TL1) 및 제2 터치 라인(TL2)을 포함한다. 터치부(TM)는 정전 용량식으로 형성될 수 있으며, 제1 터치 라인(TL1) 및 제2 터치 라인(TL2) 각각에 전압이 인가되어 제1 터치 라인(TL1)과 제2 터치 라인(TL2) 각각 또는 사이에 전하가 충진될 때, 터치부(TM)에 터치가 수행되면, 터치가 수행된 제1 터치 라인(TL1) 또는 제2 터치 라인(TL2)의 정전 용량이 변화되어 어느 위치에 터치가 수행되었는지를 확인할 수 있다. 터치부(TM)는 제1 터치 라인(TL1) 및 제2 터치 라인(TL2)을 덮는 하나 이상의 절연층을 더 포함할 수 있다. 제1 터치 라인(TL1) 및 제2 터치 라인(TL2)은 ITO, IZO, IGZO 등의 투명 도전성 물질, 메쉬 형태로 패터닝된 메탈 메쉬(metal mesh), PEDOT(Poly 3,4-ethylenedioxythiophene) 등의 도전성 폴리머, 은 나노 와이어(AgNW) 등의 나노 사이즈의 도전성 물질 등 중 하나 이상을 포함할 수 있다.
밀봉부(EN)가 형성되어 있지 않은 비표시 영역(NDA)에는 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)이 형성되어 있다.
제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 표시 영역(DA)에 형성되어 있는 게이트 전극(GE)과 동일한 층으로 이루어진 제1 부분(CDp), 표시 영역(DA)에 형성되어 있는 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 동일한 층으로 이루어진 제2 부분 (CDq)을 포함하고, 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)은 표시 영역(DA)의 게이트 전극(GE)과 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE) 사이에 위치하는 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 형성되어 있는 제1 접촉 구멍(CNT1)을 통해 서로 연결되어 있다.
비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하면, 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 크랙이 발생하게 된다. 이처럼, 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 크랙이 발생하면, 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)이 연결되어 있는 제1 접촉 구멍(CNT1)에 손상이 발생하여, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)의 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)의 연결이 끊어질 수 있다. 이처럼, 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)의 연결이 끊어짐에 따라 크랙 감지 신호는 더 이상 전달되지 못하고, 이에 따라 크랙 발생을 판단할 수 있다.
만일, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)을 게이트 전극(GE)과 동일한 층으로만 형성하거나, 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 동일한 층으로만 형성한 경우, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2) 자체는 손상되지 않고, 비표시 영역(NDA)에 형성되어 있는 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에만 크랙이 발생하는 경우, 크랙 발생을 감지하기 어렵다.
그러나, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치에 따르면, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)을 사이에 두고 위와 아래에 위치하는 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)을 포함하고, 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)은 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 형성되어 있는 제1 접촉 구멍(CNT1)을 통해 서로 연결되어 있다. 따라서, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2) 자체에 크랙이 발생하지 않고, 절연막에만 크랙이 발생한 경우에도 크랙 발생을 감지할 수 있다.
이처럼, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치에 따르면, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2) 자체에 크랙이 발생한 경우뿐만 아니라, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2) 자체에 크랙이 발생하지 않고, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)의 위 또는 아래에 위치하는 절연막에만 크랙이 발생한 경우에도, 크랙 감지선을 이루는 복수의 층의 연결부에 손상이 발생하여, 크랙 발생을 감지할 수 있다.
그러면, 도 1 및 도 2와 함께 도 5를 참고하여, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 층간 구조에 대하여 설명한다. 도 5는 본 발명의 다른 한 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 도시한 단면도이다.
도 1 및 도 2와 함께, 도 5를 참고하면, 표시 영역(DA)의 화소는 빛을 발광하는 유기 발광 소자(OLED) 및 유기 발광 소자(OLED)와 연결된 박막 트랜지스터(TFT)를 포함한다.
박막 트랜지스터(TFT)는 액티브층(AL), 게이트 전극(GE), 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)을 포함한다.
게이트 전극(GE)은 제1 절연층(IL1)을 사이에 두고 액티브층(AL) 상에 위치하며, 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE) 각각은 게이트 전극(GE)을 덮는 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3) 위에 위치하여, 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 형성된 접촉 구멍을 통해 액티브층(AL)의 소스 영역 및 드레인 영역 각각과 연결되어 있다. 드레인 전극(DE)은 유기 발광 소자(OLED)의 제1 전극(E1)과 접촉 구멍을 통해 연결되어 있다. 도시하지 않았지만, 제2 절연층(IL2)과및 제3 절연층(IL3) 사이에는 추가적인 게이트 배선이 형성되어 있다.
유기 발광 소자(OLED)는 박막 트랜지스터(TFT)의 드레인 전극(DE)과 연결된 제1 전극(E1), 제1 전극(E1) 상에 위치하는 유기 발광층(EL), 유기 발광층(EL) 상에 위치하는 제2 전극(E2)을 포함한다.
밀봉부(EN)는 기판(SUB)의 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA) 전체에 걸쳐서 기판(SUB) 상에 위치하고 있으며, 기판(SUB)과 함께 표시부(DM)를 밀봉하고 있다. 밀봉부(EN)는 표시 영역(DA) 상에 위치하는 유기층(OL) 및 유기층(OL) 상에 위치하는 무기층(IL)을 포함한다.
터치부(TM)는 기판(SUB)의 표시 영역(DA)에 대응하여 밀봉부(EN) 상에 위치하는 제1 터치 라인(TL1) 및 제2 터치 라인(TL2)을 포함한다.
밀봉부(EN)가 형성되어 있지 않은 비표시 영역(NDA)에는 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)이 형성되어 있다.
제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 표시 영역(DA)에 형성되어 있는 게이트 전극(GE)과 동일한 층으로 이루어진 제1 부분(CDp), 표시 영역(DA)에 형성되어 있는 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 동일한 층으로 이루어진 제2 부분(CDq), 그리고 제2 절연층(IL2)과 제3 절연층(IL3) 사이에 형성되어 있는 추가적인 게이트 배선과 동일한 층으로 형성된 제3 부분(CDr)을 포함한다.
제1 층(CDp)과 제3 층(CDr)은 제2 절연층(IL2)에 형성되어 있는 제2 접촉 구멍(CNT2)을 통해 서로 연결되고, 제3 층(CDr)과 제2 층(CDq)은 제3 절연층(IL3)에 형성되어 있는 제3 접촉 구멍(CNT3)을 통해 서로 연결된다.
비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하면, 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 크랙이 발생하게 된다. 이처럼, 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 크랙이 발생하면, 제1 부분(CDp)과 제3 부분(CDr)이 연결되어 있는 제2 접촉 구멍(CNT2)과 제3 부분(CDr)과 제2 부분(CDq)이 연결되어 있는 제3 접촉 구멍(CNT3)에 손상이 발생하여, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)의 제1 부분(CDp)과 제2 부분(CDq)의 연결이 끊어질 수 있다. 이처럼, 제1 부분(CDp)과 제3 부분(CDr)의 연결이 끊어지거나, 또는 제3 부분(CDr)과 제2 부분(CDq)의 연결이 끊어짐에 따라 크랙 감지 신호는 더 이상 전달되지 못하고, 이에 따라 크랙 발생을 판단할 수 있다.
만일, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)을 게이트 전극(GE)과 동일한 층으로만 형성하거나, 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 동일한 층으로만 형성한 경우, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2) 자체는 손상되지 않고, 비표시 영역(NDA)에 형성되어 있는 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에만 크랙이 발생하는 경우, 크랙 발생을 감지하기 어렵다.
그러나, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치에 따르면, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)을 사이에 두고 위와 아래에 위치하는 제1 부분(CDp), 제2 부분(CDq), 그리고 제3 부분(CDr)을 포함하고, 제1 부분(CDp), 제2 부분(CDq), 그리고 제3 부분(CDr)은 제2 절연층(IL2) 및 제3 절연층(IL3)에 형성되어 있는 제2 접촉 구멍(CNT2) 및 제3 접촉 구멍(CNT3)을 통해 서로 연결되어 있다. 따라서, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2) 자체에 크랙이 발생하지 않고, 절연막에만 크랙이 발생한 경우에도 크랙 발생을 감지할 수 있다.
이처럼, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치에 따르면, 크랙 감지선은 절연막의 위와 아래에 위치하는 하나 이상의 층을 포함하고, 크랙 감지선의 하나 이상의 층은 절연막에 형성되어 있는 접촉 구멍을 통해 서로 연결된다. 따라서, 크랙에 의하여 크랙 감지선 자체에 손상이 가지 않고, 절연막에만 손상이 가는 경우에도, 접촉 구멍을 통해 크랙 감지선을 이루는 복수의 층의 연결부에 손상이 발생하여, 크랙 발생을 감지할 수 있다.
앞서 설명한 실시예들에 따른 표시 장치에 따르면, 표시 장치는 밀봉부를 포함하는 것으로 설명하였으나, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는 이에 한정되지 않는다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
CD1, CD2: 크랙 감지선
D, DD1, DD2: 데이터선
DA: 표시 영역
DE: 드레인 전극
E1, E2: 전극
EL: 유기 발광층
EN: 밀봉부
GE: 게이트 전극
IL1, IL2: 절연층
NDA: 비표시 영역
R, G, B: 화소
SE: 소스 전극
SUB: 기판

Claims (10)

  1. 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 기판,
    상기 기판의 상기 표시 영역에 형성되어 있는 복수의 화소,
    상기 기판에 형성되어 있으며, 상기 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 신호선을 포함하고,
    상기 복수의 신호선은
    상기 기판 위에 형성되어 있는 복수의 게이트선 및 복수의 데이터선, 그리고
    상기 복수의 데이터선 중 제1 데이터선에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 배치되어 있는 크랙 감지선을 포함하고,
    상기 크랙 감지선은 절연막 아래에 위치하는 제1 막과, 상기 절연막 위에 위치하는 제2 막을 포함하고,
    상기 제1 막과 상기 제2 막은 상기 절연막에 형성되어 있는 접촉 구멍을 통해 서로 연결되어 있는 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 크랙 감지선의 제1 막은 상기 게이트선과 동일한 층으로 이루어지고, 상기 제2 막은 상기 데이터선과 동일한 층으로 이루어지는 표시 장치.
  3. 제2항에서,
    상기 복수의 신호선은 상기 기판의 상기 주변 영역에 형성되어 있는 제1 테스트 신호선과 제2 테스트 신호선을 더 포함하고,
    상기 크랙 감지선은 상기 제1 데이터선과 제1 연결부 및 제2 연결부를 통해 서로 연결되고, 상기 제1 크랙 감지선은 상기 제1 연결부로부터 상기 제2 연결부까지 상기 표시 영역의 한쪽 가장자리를 따라 반링 형태로 뻗어 있고,
    상기 복수의 데이터선은 제1 스위칭 소자를 통해 상기 제1 테스트 신호선에 연결되고, 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제2 테스트 신호선에 연결되는 표시 장치.
  4. 제3항에서,
    상기 크랙 감지선은 상기 제1 데이터선과 상기 제2 테스트 신호선 사이에 연결되어 있는 상기 제2 스위칭 소자 사이에 연결되는 표시 장치.
  5. 제4항에서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역에 형성되어 있으며, 상기 제1 스위칭 소자에 연결되어 있는 제1 테스트 게이트선과 상기 제2 스위칭 소자에 연결되어 있는 제2 테스트 게이트선을 더 포함하고,
    상기 제1 테스트 게이트선에 제1 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제1 테스트 신호선으로부터 제1 테스트 신호를 인가받고,
    상기 제2 테스트 게이트선에 제2 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제2 테스트 신호선으로부터 제1 테스트 신호를 인가받는 표시 장치.
  6. 제5항에서,
    상기 제1 게이트 온 전압이 인가된 후에, 상기 제2 게이트 온 전압이 인가되고,
    상기 제1 테스트 전압과 상기 제2 테스트 전압의 크기는 서로 다른 표시 장치.
  7. 제1항에서,
    상기 복수의 신호선은 상기 기판의 상기 주변 영역에 형성되어 있는 제1 테스트 신호선과 제2 테스트 신호선을 더 포함하고,
    상기 크랙 감지선은 상기 제1 데이터선과 제1 연결부 및 제2 연결부를 통해 서로 연결되고, 상기 제1 크랙 감지선은 상기 제1 연결부로부터 상기 제2 연결부까지 상기 표시 영역의 한쪽 가장자리를 따라 반링 형태로 뻗어 있고,
    상기 복수의 데이터선은 제1 스위칭 소자를 통해 상기 제1 테스트 신호선에 연결되고, 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제2 테스트 신호선에 연결되는 표시 장치.
  8. 제7항에서,
    상기 크랙 감지선은 상기 제1 데이터선과 상기 제2 테스트 신호선 사이에 연결되어 있는 상기 제2 스위칭 소자 사이에 연결되는 표시 장치.
  9. 제8항에서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역에 형성되어 있으며, 상기 제1 스위칭 소자에 연결되어 있는 제1 테스트 게이트선과 상기 제2 스위칭 소자에 연결되어 있는 제2 테스트 게이트선을 더 포함하고,
    상기 제1 테스트 게이트선에 제1 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제1 테스트 신호선으로부터 제1 테스트 신호를 인가받고,
    상기 제2 테스트 게이트선에 제2 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제2 테스트 신호선으로부터 제1 테스트 신호를 인가받는 표시 장치.
  10. 제9항에서,
    상기 제1 게이트 온 전압이 인가된 후에, 상기 제2 게이트 온 전압이 인가되고,
    상기 제1 테스트 전압과 상기 제2 테스트 전압의 크기는 서로 다른 표시 장치.
KR1020150060540A 2015-04-29 2015-04-29 표시 장치 KR102417143B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150060540A KR102417143B1 (ko) 2015-04-29 2015-04-29 표시 장치
US15/141,980 US10096667B2 (en) 2015-04-29 2016-04-29 Display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150060540A KR102417143B1 (ko) 2015-04-29 2015-04-29 표시 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160129156A true KR20160129156A (ko) 2016-11-09
KR102417143B1 KR102417143B1 (ko) 2022-07-05

Family

ID=57205224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150060540A KR102417143B1 (ko) 2015-04-29 2015-04-29 표시 장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10096667B2 (ko)
KR (1) KR102417143B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180066360A (ko) * 2016-12-08 2018-06-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20200079899A (ko) * 2018-12-26 2020-07-06 엘지디스플레이 주식회사 손상 모니터링 패턴을 갖는 표시장치
US11195440B2 (en) 2017-05-23 2021-12-07 Samsung Display Co., Ltd. Display device and inspecting method therefor
WO2023000122A1 (zh) * 2021-07-19 2023-01-26 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示装置

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201513242A (zh) * 2013-09-02 2015-04-01 Biotronik Se & Co Kg 晶片及晶片製造方法
KR102611499B1 (ko) 2015-12-15 2023-12-06 엘지디스플레이 주식회사 플렉서블 표시장치
KR102601650B1 (ko) * 2016-07-26 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20180065061A (ko) 2016-12-06 2018-06-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102391459B1 (ko) * 2017-06-01 2022-04-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102439673B1 (ko) 2017-06-19 2022-09-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102432386B1 (ko) * 2017-07-12 2022-08-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP6942602B2 (ja) * 2017-10-19 2021-09-29 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置の製造方法
KR102056678B1 (ko) 2017-11-23 2019-12-17 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR102468132B1 (ko) * 2018-01-10 2022-11-21 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN110211517B (zh) * 2018-03-27 2021-03-16 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其检测方法、显示装置
CN110503907B (zh) * 2018-05-17 2024-04-05 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
KR102519733B1 (ko) * 2018-05-21 2023-04-11 삼성전자주식회사 디스플레이의 균열을 확인하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치
CN108932922B (zh) * 2018-07-03 2021-05-14 京东方科技集团股份有限公司 一种修复能力测试装置及方法
CN109166504B (zh) * 2018-10-17 2021-10-01 惠科股份有限公司 测试电路及显示装置
KR102572345B1 (ko) * 2018-11-15 2023-08-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 검사 방법
KR102661467B1 (ko) * 2018-11-26 2024-04-29 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치 및 이의 제조 방법
KR102651937B1 (ko) * 2018-12-27 2024-03-27 엘지디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20200105574A (ko) * 2019-02-28 2020-09-08 삼성디스플레이 주식회사 센서 유닛, 이를 포함한 표시 장치 및 이를 이용한 크랙 검출 방법
KR20200120781A (ko) * 2019-04-11 2020-10-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 검사 방법
KR20200145976A (ko) * 2019-06-21 2020-12-31 삼성디스플레이 주식회사 전자 패널 및 이를 포함하는 전자 장치
US11256379B2 (en) * 2019-09-26 2022-02-22 Samsung Display Co., Ltd. Display device and a method of fabricating the same
CN110993659B (zh) * 2019-11-29 2022-11-04 京东方科技集团股份有限公司 触控面板及显示装置
CN111106151B (zh) * 2019-12-09 2022-07-29 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 电子装置
KR102651587B1 (ko) * 2020-01-22 2024-03-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 표시 장치
CN111785658B (zh) * 2020-08-03 2022-12-16 京东方科技集团股份有限公司 显示面板和显示装置
CN112289778B (zh) * 2020-10-28 2023-02-07 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示装置和用于显示基板的检测方法
CN112669737B (zh) * 2020-12-22 2023-07-14 武汉天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
KR20220119222A (ko) 2021-02-19 2022-08-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020101173A1 (en) * 2000-12-19 2002-08-01 Au Optronics Corp. Crack detecting device for plasma display panel
KR20080017732A (ko) * 2006-08-22 2008-02-27 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 그 제조 방법
US20100103160A1 (en) * 2008-10-28 2010-04-29 Changhoon Jeon Organic light emitting diode display
US20100134137A1 (en) * 2007-04-25 2010-06-03 Kazutoshi Kida Liquid crystal display panel and its inspecting method
JP2013011663A (ja) * 2011-06-28 2013-01-17 Kyocera Corp 表示装置
KR20140061897A (ko) * 2012-11-14 2014-05-22 엘지디스플레이 주식회사 유기전계발광 표시소자 및 그 제조방법
JP2014122974A (ja) * 2012-12-20 2014-07-03 Japan Display Inc 表示装置
KR20150019380A (ko) * 2013-08-13 2015-02-25 삼성디스플레이 주식회사 가요성 표시 장치

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100244705A1 (en) * 2009-03-27 2010-09-30 Hajjar Roger A Detecting Screen Breakage in Display Systems
US9036861B2 (en) * 2010-04-22 2015-05-19 The University Of North Carolina At Charlotte Method and system for remotely inspecting bridges and other structures
KR20160001839A (ko) * 2014-06-27 2016-01-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
KR102276997B1 (ko) * 2014-10-13 2021-07-14 삼성디스플레이 주식회사 터치 센서를 구비한 표시 장치
KR102217455B1 (ko) * 2014-11-19 2021-02-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020101173A1 (en) * 2000-12-19 2002-08-01 Au Optronics Corp. Crack detecting device for plasma display panel
KR20080017732A (ko) * 2006-08-22 2008-02-27 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 그 제조 방법
US20100134137A1 (en) * 2007-04-25 2010-06-03 Kazutoshi Kida Liquid crystal display panel and its inspecting method
US20100103160A1 (en) * 2008-10-28 2010-04-29 Changhoon Jeon Organic light emitting diode display
JP2013011663A (ja) * 2011-06-28 2013-01-17 Kyocera Corp 表示装置
KR20140061897A (ko) * 2012-11-14 2014-05-22 엘지디스플레이 주식회사 유기전계발광 표시소자 및 그 제조방법
JP2014122974A (ja) * 2012-12-20 2014-07-03 Japan Display Inc 表示装置
KR20150019380A (ko) * 2013-08-13 2015-02-25 삼성디스플레이 주식회사 가요성 표시 장치

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180066360A (ko) * 2016-12-08 2018-06-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US11569338B2 (en) 2016-12-08 2023-01-31 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US11895887B2 (en) 2016-12-08 2024-02-06 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US11195440B2 (en) 2017-05-23 2021-12-07 Samsung Display Co., Ltd. Display device and inspecting method therefor
KR20200079899A (ko) * 2018-12-26 2020-07-06 엘지디스플레이 주식회사 손상 모니터링 패턴을 갖는 표시장치
WO2023000122A1 (zh) * 2021-07-19 2023-01-26 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示装置
GB2618025A (en) * 2021-07-19 2023-10-25 Boe Technology Group Co Ltd Display substrate and display device

Also Published As

Publication number Publication date
KR102417143B1 (ko) 2022-07-05
US10096667B2 (en) 2018-10-09
US20160322451A1 (en) 2016-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102550650B1 (ko) 표시 장치
KR20160129156A (ko) 표시 장치
US10976853B2 (en) Display device
KR102436441B1 (ko) 플렉서블 터치 패널 및 플렉서블 표시 장치
US10276646B2 (en) Display device
US11711939B2 (en) Thin film transistor substrate
KR102601650B1 (ko) 표시 장치
KR102269919B1 (ko) 터치 센서를 포함하는 표시 장치
KR102388711B1 (ko) 표시 장치
KR102178796B1 (ko) 표시 장치
KR20160086487A (ko) 플렉서블 터치 패널 및 플렉서블 표시 장치
KR20150131428A (ko) 유기전계발광소자 및 이를 제조하는 방법
KR20160122899A (ko) 터치 패널 및 표시 장치
KR102344330B1 (ko) 표시 장치
EP4024175A2 (en) Display panel and display device
KR20240002840A (ko) 표시 장치
KR20220094975A (ko) 표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant