KR20160003622A - 유리판의 제조 방법 및 유리판의 제조 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과, 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과, 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과, 검출 공정에서 검출된 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고, 냉각 공정에서는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치에서, 변화량이 기준량 이하가 되도록 유리판이 보유하는 열량을 제어하는 것이다.

Description

유리판의 제조 방법 및 유리판의 제조 장치{METHOD AND APPARATUS FOR MAKING GLASS SHEET}
본 발명은, 유리판의 제조 방법 및 유리판의 제조 장치에 관한 것이다.
종래, 유리판의 제조 방법의 하나로서, 다운드로법이 사용되고 있다. 다운드로법에서는, 성형체로부터 오버플로우한 용융 유리가, 분류되어 성형체의 측면을 따라서 유하한다. 다음에, 용융 유리는, 성형체의 하단부에서 합류하여, 유리판으로 성형된다. 성형된 유리판은, 연직 방향 하방으로 반송되면서 냉각된다. 냉각 공정에서, 유리판은 점성 영역으로부터 점탄성 영역을 거쳐서 탄성 영역으로 추이한다.
그런데, 다운드로법을 사용하는 유리판의 제조 장치에서는, 일반적으로, 성형체로부터 이격된 유리판이 무엇에도 접촉하지 않고 냉각되는 공간인 서냉 존이, 단열판에 의해 복수의 서냉 공간으로 구획된다. 단열판은 서냉 공간의 사이의 열 이동을 억제하고, 또한, 각 서냉 공간을 이동하는 기류를 억제함으로써, 각 서냉 공간의 분위기 온도가 원하는 온도 프로파일로 되도록 제어하기 위해 배치된다. 여기서, 원하는 온도 프로파일이란, 서냉 존의 각 서냉 공간에서의, 유리판에 변형이 발생하지 않는 온도 분포를 의미한다. 즉, 단열판에 의해, 유리판은 하방으로 반송되면서 각 서냉 공간에서 원하는 온도로 조절된다. 따라서, 단열판은, 유리판을 서냉함으로써 변형이 적은 유리판을 성형하는 데 중요하다.
그러나, 서냉 존에서 서냉되는 유리판의 두께는, 일반적으로, 폭 방향 중앙부보다 폭 방향의 양단부의 쪽이 크다. 그로 인해, 특허문헌 1에 개시되어 있는 바와 같이, 1매판으로 성형된 한 쌍의 단열판사이에 유리판을 끼우는 경우, 적어도, 유리판의 두께가 가장 큰 폭 방향의 양단부가 단열판에 접촉하지 않는 정도로, 한 쌍의 단열판의 사이의 간극 크기를 설정할 필요가 있다. 그러나, 이 간극이 크면 클수록, 각 서냉 공간을 이동하는 기류가 발생하고, 이 간극을 통하여 서냉 공간의 사이에서 열교환이 행해지기 쉬워지므로, 각 서냉 공간의 분위기 온도를 원하는 온도 프로파일로 되도록 제어하는 것이 어려워진다고 하는 문제가 발생한다.
이와 같이, 서냉 존을, 단열판에 의해 복수의 서냉 공간으로 구획해서 열관리를 행하는 기술은 종래부터 행해지고 있다. 한편, 최근, 액정 표시 장치용 유리 기판에 있어서는, 유리판의 판 두께 편차나, 휨, 변형 등이 요구되는 스펙(품질)이 엄격해지고 있다.
상술한 바와 같이, 다운드로법에 있어서 유리판을 제조하는 경우, 변형을 저감하기 위해, 미리, 각 서냉 공간에서 원하는 온도 프로파일이 설계되어 있고, 설계된 온도 프로파일이 되도록, 분위기의 열관리를 행한다. 그러나, 각 서냉 공간을 이동하는 기류가 발생한 상태에서, 각 서냉 공간의 분위기 온도를 원하는 온도 프로파일로 제어할 수 없으면, 유리판의 반송 방향으로 맥리가 발생할 우려가 있다. 이 맥리는, 소정의 폭에 있어서 유리판의 두께(높이)가 변동된 변형의 일종이며, 유리판의 반송 방향으로 줄무늬 형상으로 연속적으로 발생한다. 맥리의 발생을 억제하고, 최근 엄격한 요구 스펙을 충족시키기 위해서는, 설계된 온도 프로파일의 정밀도를 높일 필요가 있고, 그로 인해, 열관리의 정밀도를 높일 필요가 생겼다.
일본 특허 공개 제2008-88005호 공보
따라서, 본 발명은, 유리판의 반송 방향으로 맥리가 발생한 위치에서, 유리판이 보유하는 열량을 제어함으로써 유리판의 맥리를 억제할 수 있는 유리판의 제조 방법 및 유리판의 제조 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 이하의 형태를 갖는다.
(형태 1)
다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과,
상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과,
상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고,
상기 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록 상기 유리판이 보유하는 열량을 제어하는
것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
(형태 2)
다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과,
상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과,
상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고,
상기 냉각 공정에서는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 상기 판정 공정에 서 판정된 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록 상기 유리판이 보유하는 열량을 제어하는
것을 특징으로 하는, 유리판의 제조 방법.
(형태 3)
다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과,
상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치를 상기 유리판의 판 두께 편차 또는 점성 편차에 기초하여 검출하는 검출 공정을 구비하고,
상기 성형 공정 또는 상기 냉각 공정에서는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 상기 유리판에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판의 반송 방향에 대해, 상기 노실을 복수의 공간으로 분할하고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 단열판을 사용해서, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에서, 상기 맥리가 소정의 조건을 충족하도록, 상기 단열판이 상기 유리판에 부여하는 열량을 제어하는
것을 특징으로 하는, 유리판의 제조 방법.
(형태 4)
상기 노실에 있어서, 상기 유리판에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판의 반송 방향에 대해, 상기 노실을 복수의 공간으로 분할하고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 단열판을 구비하고,
상기 단열판에는, 상기 유리판의 폭 방향으로 복수의 열량 제어 장치가 설치되고,
상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에 대향하는 상기 열량 제어 장치는, 상기 유리판에 부여하는 열량을 증가하는
것을 특징으로 하는 형태 2 또는 3에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 5)
상기 단열판은, 상기 유리판의 폭 방향으로 복수로 분할되고,
상기 냉각 공정에서는, 냉각하는 유리판과, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에 대향하는 분할된 단열판과의 거리를 좁히는
것을 특징으로 하는 형태 3 또는 형태 4에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 6)
상기 냉각 공정에서는, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에 단열판을 새롭게 설치하고, 상기 유리판과 상기 단열판의 거리를 좁히는
것을 특징으로 하는 형태 3 내지 5 중 어느 한 항에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 7)
상기 맥리는, 상기 유리판의 폭 방향으로 소정의 폭을 갖고, 상기 유리판의 반송 방향으로 연속적으로 발생하는
것을 특징으로 하는 형태 1 내지 5 중 어느 한 항에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 8)
다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하고, 성형한 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 성형 장치와,
상기 성형 장치에서 성형되고 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하고, 상기 변화량이 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 검출 장치를 구비하고,
상기 성형 장치는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 상기 검출 장치가 판정한 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록 상기 유리판이 보유하는 열량을 제어하는
것을 특징으로 하는, 유리판의 제조 장치.
(형태 9)
성형체로부터 오버플로우한 용융 유리를, 상기 성형체의 양측면을 따라서 유하시킨 후, 상기 성형체의 하단부 근방에서 합류시켜 유리판을 성형하는 성형 공정과,
상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과,
상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고,
상기 성형 공정에서는,
상기 성형체의 하단부 근방에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 열량 변화 부재를 갖고,
상기 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치에서, 상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록, 상기 열량 변화 부재가 상기 유리판에 부여하는 열량을 제어하는
것을 특징으로 하는, 유리판의 제조 방법.
(형태 10)
상기 성형 공정에서는, 상기 열량 변화 부재와 상기 유리판의 거리를 좁히고, 상기 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치의 유리판의 보유 열량을 상승시키고,
상기 냉각 공정에서는, 보유 열량이 상승한 상기 유리판을, 상기 유리판의 폭 방향으로 인장하면서 냉각하는
것을 특징으로 하는 형태 9에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 11)
상기 열량 변화 부재의 폭은, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 폭과 동등한
것을 특징으로 하는 형태 9 또는 형태 10에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 12)
상기 맥리는, 상기 유리판의 폭 방향으로 소정의 폭을 갖고, 상기 유리판의 반송 방향으로 연속적으로 발생하는
것을 특징으로 하는 형태 9 내지 형태 11 중 어느 한 항에 기재된 유리판의 제조 방법.
(형태 13)
성형체로부터 오버플로우한 용융 유리를, 상기 성형체의 양측면을 따라서 유하시킨 후, 상기 성형체의 하단부 근방에서 합류시켜 유리판을 성형하는 성형 장치와,
상기 성형 장치가 성형한 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 장치와,
상기 냉각 장치가 냉각한 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하고, 검출한 맥리에 의한 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 장치를 구비하고,
상기 성형 장치는,
상기 성형체의 하단부 근방에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 열량 변화 부재를 갖고,
상기 판정 장치가 판정한 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록, 상기 열량 변화 부재가 상기 유리판에 부여하는 열량을 제어하는
것을 특징으로 하는 유리판의 제조 장치.
상술한 형태의 유리판 제조 방법 및 유리판의 제조 장치에 의하면, 유리판의 반송 방향에 맥리가 발생한 위치에서, 유리판이 보유하는 열량을 제어함으로써 유리판의 맥리를 억제할 수 있다.
도 1은 본 실시 형태에 관한 유리판 제조 장치의 개략 구성도이다.
도 2는 성형 장치의 단면 개략 구성도이다.
도 3은 성형 장치의 측면 개략 구성도이다.
도 4는 성형 장치에서 성형되는 유리판을 평면에서 본 하나의 형상을 도시하는 도면이다.
도 5는 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다.
도 6은 유리판의 맥리 위치를 도시한 도면이다.
도 7은 평면에서 본 유리판을 사이에 끼우는 단열판의 위치를 변경한 도면이다.
도 8은 유리판으로부터 단열판까지의 거리와 변형량의 관계를 나타낸 도면이다.
도 9는 실시 형태 2에 관한 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다.
도 10은 실시 형태 3에 관한 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다.
도 11은 실시 형태 4에 관한 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다.
도 12의 (a)는 실시 형태 5에 관한 성형체의 하단부를 확대한 단면 개략도이며, 도 12의 (b)는 도 12의 (a)에 있어서의 성형체의 하단부측으로부터 평면에서 본 도면이다.
도 13은 유리판으로부터 단열판까지의 거리와 변형량의 관계를 나타낸 도면이다.
도 14는 실시 형태 6에 관한 자성관을 성형체의 하단부측으로부터 평면에서 본 도면이다.
(실시 형태 1)
이하, 본 실시 형태에 관한 유리판의 제조 방법 및 유리판의 제조 장치에 대해 설명한다. 도 1은, 본 실시 형태에 관한 유리판 제조 장치의 개략 구성도이다.
유리판 제조 장치(100)는, 도 1에 도시하는 바와 같이, 용해조(200)와, 청징조(300)와, 성형 장치(400)로 구성된다. 용해조(200)에서는 유리의 원료가 용해되어 용융 유리가 생성된다. 용해조(200)에서 생성된 용융 유리는 청징조(300)에 보내진다. 청징조(300)에서는 용융 유리에 함유되는 기포의 제거가 행해진다. 청징조(300)에서 기포가 제거된 용융 유리는 성형 장치(400)에 보내진다. 성형 장치(400)에서는, 예를 들어 오버플로우 다운드로법에 의해, 용융 유리로부터 유리판(G)이 연속적으로 성형된다. 그 후, 성형된 유리판(G)은 냉각되고, 소정의 크기의 유리판으로 절단된다. 유리판(G)은, 예를 들어, 플랫 패널 디스플레이용 유리 기판(예를 들어, 액정 디스플레이용 유리 기판, 플라즈마 디스플레이용 유리 기판, 유기 EL 디스플레이용 유리 기판), 커버 유리나 자기 디스크용 등의 강화 유리용 유리 기판, 롤 형상으로 권취되는 유리 기판, 반도체 웨이퍼 등의 전자 디바이스가 적층된 유리 기판으로서 사용된다.
(유리 조성)
용해조(200)에서는, 도시되지 않는 가열 수단에 의해 유리 원료가 용해되고, 용융 유리가 생성된다. 유리 원료는, 원하는 조성의 유리를 실질적으로 얻을 수 있도록 조제된다. 유리 조성의 일례로서, 패널 디스플레이나 플랫 패널 디스플레이용의 유리 기판으로서 적합한 무알칼리 유리는, SiO2:50질량％ 내지 70질량％, Al2O3:10질량％ 내지 25질량％, B2O3:0질량％ 내지 15질량％, MgO:0질량％ 내지 10질량％, CaO:0질량％ 내지 20질량％, SrO:0질량％ 내지 20질량％, BaO:0질량％ 내지 10질량％를 함유한다. 여기서, MgO, CaO, SrO 및 BaO의 합계의 함유량은, 5질량％ 내지 30질량％이다. 혹은, 산화물 반도체 디스플레이용 유리 기판 및 LTPS 디스플레이용 유리 기판에 적합한 유리 기판은, SiO2:55질량％ 내지 70질량％, Al2O3:15질량％ 내지 25질량％, B2O3:0질량％ 내지 10질량％, MgO:0질량％ 내지 10질량％, CaO:0질량％ 내지 20질량％, SrO:0질량％ 내지 20질량％, BaO:0질량％ 내지 10질량％를 함유한다. 여기서, MgO, CaO, SrO 및 BaO의 합계의 함유량은, 5질량％ 내지 30질량％이다. 이때, 상기 유리 기판은, SiO2를 60질량％ 내지 70질량％, BaO를 3질량％ 내지 10질량％를 함유하는 것이 보다 바람직하다.
패널 디스플레이나 플랫 패널 디스플레이용의 유리 기판으로서, 무알칼리 유리 외에, 알칼리 금속을 미량 포함하는 알칼리 미량 함유 유리를 사용해도 좋다. 유리 기판의 유리가, 산화주석을 포함하는 무알칼리 유리, 또는, 산화주석을 포함하는 알칼리 미량 함유 유리이면, 청징조(300)의 내벽에 사용하는 백금족 금속의 휘발에 의해 생기는 백금족 금속의 응집물의 이물질이 용융 유리에 혼입되는 것을 억제하는 효과는 현저해진다. 무알칼리 유리 또는 알칼리 미량 함유 유리는, 알칼리 유리와 비교해서 유리 점도가 높다. 용해 공정에서 용융 온도를 높게 함으로써 많은 산화주석이 용해 공정에서 환원되기 때문에, 청징 효과를 얻기 위해 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 하여, 산화주석의 환원을 촉진하고, 또한 용융 유리 점도를 저하시키는 것이 필요하다. 또한, 산화주석은, 종래 청징제로서 사용되고 있었던 비상이나 안티몬과 비교해서 환원 반응을 촉진하는 온도가 높으므로, 용융 유리의 온도를 높게 하여 청징을 촉진시키기 위해, 청징조(300)의 내벽 온도를 높게 할 필요가 있다. 즉, 산화주석을 포함하는 무알칼리 유리 기판, 또는, 산화주석을 포함하는 알칼리 미량 함유 유리의 유리 기판을 제조하는 경우에는, 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 할 필요가 있으므로, 백금족 금속의 휘발이 발생하기 쉽다. 또한, 무알칼리 유리 기판이란, 알칼리 금속 산화물(Li2O, K2O 및 Na2O)을 실질적으로 함유하지 않는 유리이다. 또한, 알칼리 미량 함유 유리란, 알칼리 금속 산화물의 함유량(Li2O, K2O 및 Na2O의 합량)이 0 초과 0.8몰％ 이하의 유리이다. 알칼리 미량 함유 유리는 성분으로서, 예를 들어 0.1질량％ 내지 0.5질량％의 알칼리 금속 산화물을 포함하고, 바람직하게는 0.2질량％ 내지 0.5질량％의 알칼리 금속 산화물을 포함한다. 여기서, 알칼리 금속 산화물은, Li2O, Na2O 및 K2O로부터 선택되는 적어도 1종이다. 알칼리 금속 산화물의 함유량 합계는, 0.1질량％ 미만이어도 좋다.
본 실시 형태에 의해 제조되는 유리 기판은, 상기 성분 외에, SnO2 0.01질량％ 내지 1질량％(바람직하게는, 0.01질량％ 내지 0.5질량％), Fe2O3 0질량％ 내지 0.2질량％(바람직하게는, 0.01질량％ 내지 0.08질량％)를 더 함유해도 좋다. 본 실시 형태에 의해 제조되는 유리 기판은, 환경 부하를 고려하여, As2O3, Sb2O3 및 PbO를 함유하지 않거나, 혹은 실질적으로 함유하지 않는 것이 바람직하다.
또한, 본 실시 형태에서 제조되는 유리 기판으로서, 또한, 이하의 유리 조성의 유리 기판도 예시된다. 따라서, 이하의 유리 조성을 유리 기판이 갖도록 유리 원료는 조합된다. 예를 들어, 몰％ 표시로, SiO2 55 내지 75몰％, Al2O3 5 내지 20몰％, B2O3 0 내지 15몰％, RO 5 내지 20몰％(RO는 MgO, CaO, SrO 및 BaO의 합량), R'2O 0 내지 0.4몰％(R'는 Li2O, K2O 및 Na2O의 합량), SnO2 0.01 내지 0.4몰％, 함유한다. 이때, SiO2, Al2O3, B2O3 및 RO(R은, Mg, Ca, Sr 및 Ba 중 상기 유리 기판에 함유되는 전체 원소) 중 적어도 어느 하나를 포함하고, 몰비[(2×SiO2)+Al2O3]/[(2×B2O3)+RO]는 4.0 이상이어도 좋다. 몰비[(2×SiO2)+Al2O3]/[(2×B2O3)+RO]는 4.0 이상인 유리는, 고온 점성이 높은 유리의 일례이다.
다음에, 성형 장치(400)의 상세한 구성에 대해 설명한다. 도 2는 성형 장치의 단면 개략 구성도이며, 도 3은 성형 장치의 측면 개략 구성도이다.
성형 장치(400)는, 도 2 및 도 3에 도시하는 바와 같이, 성형체(10)와, 구획 부재(20)와, 냉각 롤러(30)와, 단열 부재(40a, 40b, …, 40h)와, 이송 롤러(50a, 50b, …, 50h)와, 온도 제어 유닛(온도 제어 장치, 열량 제어 장치)(60a, 60b, …, 60h)으로 구성된다. 또한, 성형 장치(400)는 구획 부재(20)보다 상방의 공간인 성형체 수용부(410)와, 구획 부재(20) 바로 아래의 공간인 성형 존(42a)과, 성형 존(42a)의 하방의 공간인 서냉 존(420)을 갖는다. 서냉 존(420)은, 복수의 서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)을 갖는다. 성형 존(42a), 서냉 공간(42b), 서냉 공간(42c, …, 42h)은, 이 순번으로 연직 방향 상방으로부터 하방을 향해 적층되어 있다. 성형 존(42a)과 서냉 존(420)은 내화재 및／또는 단열재 건물(도시하지 않음)에 의해 둘러싸이고, 성형 존(42a), 서냉 존(420)에서, 온도 제어 유닛(60a) 등이, 유리판(G)을 성형, 냉각하는 데 적합한 온도로 제어한다.
성형체(10)는, 도 2에 도시하는 바와 같이, 대략 쐐기 형상의 단면 형상을 갖는 부재이다. 성형체(10)는, 대략 쐐기 형상의 첨단부가 하단부에 위치하도록, 성형체 수용부(410)에 배치된다. 도 3에 도시하는 바와 같이, 성형체(10)의 상단부면에는, 홈(12)이 형성되어 있다. 홈(12)은 성형체(10)의 길이 방향, 즉 도 3의 지면(紙面) 좌우 방향으로 형성되어 있다. 홈(12)의 한쪽의 단부에는, 유리 공급관(14)이 설치되어 있다. 홈(12)은 유리 공급관(14)이 설치되는 한쪽의 단부로부터 다른 쪽의 단부에 근접함에 따라서, 서서히 얕아지도록 형성되어 있다. 성형체(10)의 길이 방향의 양단부에는, 측벽으로부터 용융 유리가 밀려나오지 못하게 하는 가이드가 설치되어 있다. 이 가이드는, 평면에서 보아 쐐기 형태를 하고 있고, 성형체(10)의 단부면 전체를 커버할 수 있는 크기의 판재로 만들어져 있다. 연직 방향에 관해서, 가이드의 선단부 위치는 성형체(10)의 하단부에 일치하고 있다. 가이드의 작용에 의해, 용융 유리의 전부를 측벽을 따라서 흘리는 것이 가능하다. 유리판(G)은 용융 유리가 하단부에서 융합해서 성형되지만, 용융 유리는 가이드에 의해 막히게 되므로, 가이드 부근, 즉, 성형체(10)의 길이 방향의 양단부에는 용융 유리가 저류된다. 이로 인해, 성형체(10)의 하단부에서 융합한 유리판(G)의 폭 방향의 단부(G1)는, 도 4에 도시하는 바와 같이, 구근 형상으로 두께가 있는 형상이 된다. 유리판(G)의 폭 방향이란, 용융 유리(MG)의 표면 혹은 유리판(G)의 표면의 면 내에서의 방향 중, 반송되는 반송 방향에 직교하는 방향을 말한다. 여기서 단부(G1)란, 유리판(G)의 폭 방향 중앙의 판 두께에 대해 소정의 두께를 갖는 부분을 말한다. 또한, 단부(G1)사이에 끼워진 폭 방향의 영역을 중앙 영역(G2)이라고 한다. 중앙 영역(G2)은 단부(G1)와 비교해서 얇고, 보유 열량이 작으므로, 서냉 존(420)에서 발생하는 기류의 혼란, 온도 제어 유닛(60)의 온도 불균일 등에 의해, 보유 열량이 변화하기 쉬워, 휨, 변형이 발생하기 쉽다. 이로 인해, 중앙 영역(G2)의 냉각량을 엄밀하게 관리할 필요가 있다.
구획 부재(20)는 성형체(10)의 하단부 근방에 배치되는 판 형상의 단열재이다. 구획 부재(20)는, 그 하단부의 높이 방향의 위치가, 성형체(10)의 하단부 높이 방향의 위치로부터 하방에 위치하도록 배치되어 있다. 구획 부재(20)는, 도 2에 도시하는 바와 같이, 유리판(G)의 두께 방향 양측에 배치된다. 구획 부재(20)는 성형체 수용부(410)와 성형 존(42a)을 구획함으로써, 성형체 수용부(410)로부터 성형 존(42a)로의 열 이동을 억제한다. 단열재인 구획 부재(20)에 의해, 성형체 수용부(410)와 성형 존(42a)을 구획하는 것은, 성형체 수용부(410)와 성형 존(42a)의 각각에 있어서, 공간 내의 온도에 대해 양쪽 공간이 서로 영향을 미치지 않도록 온도 제어를 행하기 위함이다. 또한, 구획 부재(20)는 서냉 존(420)으로부터 성형체 수용부(410)에 들어가는 기류의 체적 유량을 억제하도록, 유리판(G)과 구획 부재(20) 사이의 간격이 미리 조절되어 배치되어 있다.
냉각 롤러(30)는 성형 존(42a)에 있어서, 구획 부재(20)의 근방에 배치된다. 또한, 냉각 롤러(30)는 유리판(G)의 두께 방향 양측에 배치되고, 유리판(G)을 두께 방향으로 끼우고, 유리판(G)을 하방으로 반송하면서 유리판(G)의 단부(G1)를 냉각하는 역할을 한다.
단열 부재(40a, 40b, …, 40h)는 서냉 존(420)에서, 유리판(G)의 반송 방향(연직 방향 하방)에 대해, 서냉 존(420)을 복수의 서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)으로 분할하고, 분할된 각 서냉 공간의 열 이동을 억제한다. 또한, 단열 부재(40a, 40b, …, 40h)는 냉각 롤러(30)의 하방, 또한, 유리판(G)의 두께 방향 양측에 배치되는 판 형상의 부재이며, 유리판(G)을 반송 방향으로 유도하는 슬릿 형상의 공간을 갖는다. 상술한 바와 같이, 성형 존(42a)과 서냉 존(420)은 내화재 및／또는 단열재 건물(도시하지 않음)에 의해 둘러싸여 있지만, 서냉 존(420)에는, 유리판(G)이 반출되는 슬릿 형상의 공간이 있고, 또한, 단열재 건물 등에는 일부 간극이 있다. 이로 인해, 연돌 효과에 의해, 서냉 존(420)에서, 연직 방향 하방으로부터 성형 존(42a)을 향하는 상승 기류가 발생한다. 이 기류는 유리판(G)을 따라서 상승하고, 기류에 의해 유리판(G)이 냉각되므로, 이 기류를 억제하는 단열 부재(40a, 40b, …, 40h)가 필요해진다. 예를 들어, 도 2에 도시하는 바와 같이, 단열 부재(40a)는 성형 존(42a)과 서냉 공간(42b)을 형성하고, 단열 부재(40b)는 서냉 공간(42b)과 서냉 공간(42c)을 형성한다. 단열 부재(40a, 40b, …, 40h)는 상하의 공간 사이에서의 열 이동을 억제한다. 예를 들어, 단열 부재(40a)는 성형 존(42a)과 서냉 공간(42b) 사이의 열 이동 및 상승 기류를 억제하고, 단열 부재(40b)는 서냉 공간(42b)과 서냉 공간(42c) 사이의 열 이동 및 상승 기류를 억제한다.
각 단열 부재(40a, 40b, …, 40h)는, 복수의 단열판(41)이 조합되어, 유리판(G)에 대향하는 위치에 근접 배치된다. 그리고, 단열판(41)은 가동 기구(도시하지 않음)에 의해, 유리판(G)의 두께 방향으로, 열 이동 및 상승 기류를 억제하도록 이동 가능하게 되어 있다. 도 5는 유리판(G)을 사이에 끼우는 단열 부재(40)를 평면에서 본 경우의 개략도이다. 본 실시 형태에서는, 단열 부재(40)는, 도 5에 도시하는 바와 같이, 유리판(G)에 대향하는 위치에 배치되고, 복수의 단열판(41)이 유리판(G)의 폭 방향으로 연결되어 형성된다. 유리판(G)과 단열 부재(40)[단열판(41)] 사이에는 간극이 있고, 이 간극의 거리 D1을, 단열판(41)을 유리판(G)의 방향으로 이동시킴으로써 임의로 설정할 수 있다. 거리 D1의 간극을 기류가 통과함으로써 유리판(G)이 냉각되면, 유리판(G)을 원하는 온도로 조절할 수 없어, 유리판(G)에 맥리가 발생하는 원인이 된다. 이로 인해, 유리판(G)에 맥리가 발생한 위치에 대향하는 단열판(41)을 이동시켜, 유리판(G)의 냉각량을 조절함으로써, 유리판(G)에 발생하는 맥리를 억제할 수 있다.
또한, 단열판(41)의 사이즈, 수는, 임의로 설정할 수 있다. 예를 들어, 단열판(41)의 사이즈를 작게 하여, 다수의 단열판(41)을 연결함으로써, 유리판(G)의 맥리가 발생한 위치에 대향하는 위치의 단열판(41)을 이동할 수도 있다.
이송 롤러(50a, 50b, …, 50h)는 서냉 존(420)에서, 연직 방향으로 소정 간격으로, 유리판(G)의 두께 방향 양측에 복수 배치된다. 이송 롤러(50a, 50b, …, 50h)는, 각각, 서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)에 배치되고, 유리판(G)을 하방으로 반송한다.
온도 제어 유닛(60a, 60b, …, 60h)은, 예를 들어, 저항 가열, 유전 가열, 마이크로파 가열에 의해 발열하는 시즈 히터, 카트리지 히터, 세라믹 히터 및 온도 센서 등으로 구성되고, 각각, 성형 존(42a) 및 서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)에 유리판(G)의 폭 방향을 따라서 배치되고, 성형 존(42a) 및 서냉 공간(42b, 42, …, 42h)의 분위기 온도를 측정하고, 제어한다. 또한, 온도 제어 유닛(60a, 60b, …, 60h)은, 유리판(G)의 휨, 변형이 발생하지 않도록 설계된 소정의 온도 분포(이하, 「온도 프로파일」이라고 함)를 형성하도록, 성형 존(42a) 및 서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)의 분위기 온도를 제어한다. 성형 존(42a) 및 서냉 공간(42b) 등의 분위기 온도에 의해 유리판(G)의 온도(보유 열량)는 변화하지만, 분위기 온도는 온도가 균일해지기 어려워, 온도의 고저차가 있는 온도 불균일이 발생하면, 유리판(G)의 온도에도 불균일이 발생한다. 유리판(G)의 중앙 영역(G2)의 판 두께는, 0.05 내지1.0㎜로 얇아, 보유 열량이 변화하기 쉬워, 휨, 변형, 맥리가 발생하기 쉽다. 본 실시 형태에 관한 유리판(G)의 중앙 영역(G2)의 판 두께는, 바람직하게는 0.05 내지 0.5㎜이며, 보다 바람직하게는 0.05 내지 0.3㎜이다. 유리판(G)의 판 두께가 얇아질수록, 보유 열량이 변화되기 쉬워, 휨, 변형, 판 두께 편차가 발생하기 쉽기 때문에, 중앙 영역(G2)의 냉각량을 엄밀하게 관리할 필요가 있다. 이하에서는, 온도 제어 유닛(60a, 60b, …, 60h)을 총칭하는 경우, 온도 제어 유닛(60)이라고 기재한다. 또한, 상류측이란, 유리판(G)의 반송 방향과 역방향의 측을 말하고, 본 실시 형태에서는, 서냉 존(420)으로부터 보아 성형체(10)의 측을 말한다.
검출 장치(70)는 맥리를 검출하는 부분이며, 변형 혹은 유리판(G)의 표면의 요철을 유리판(G)의 폭 방향을 따른 각 위치에서 검출한다. 검출 장치(70)는, 예를 들어, 광학 센서, 요철 검지기, 변형 검지기로 구성되고, 서냉 존(420)[서냉 공간(42h)]으로부터 반송되어 온 유리판(G)에 발생한 변형의 위치 및 변형량(변형값, 변형도), 판 두께 편차, 점성 편차 등을 검출한다. 검출 장치(70)는, 예를 들어, 유리판(G)의 폭 방향의 좌측 선단부[좌측 단부(G1)]로부터, X1㎜ 내지 X2㎜의 위치에, Y량의 변형이 있으면 검출한다. 특히, 검출 장치(70)는, 소정의 폭(예를 들어, 10㎜ 폭)에 있어서, 유리판(G)에 두께(높이) 변동이 있는 맥리를 검출한다. 즉. 검출 장치(70)는 유리판(G)의 변형 혹은 표면 요철을 검출하여, 변형의 변화량 혹은 표면 요철의 양을 계측한다. 유리판(G)의 판 두께는, 유리판(G)의 양측의 표면 요철에 의해 정해지는 것이므로, 표면 요철에는 유리판(G)의 판 두께의 변동(판 두께 편차)이 포함된다. 또한, 유리판(G)의 변형의 변화량은 유리판(G)의 점성에 의해 정해지는 것이므로, 변형량에는 유리판(G)의 점성의 변동(점성 편차)이 포함된다. 또한, 검출 장치(70)는 검출한 변형의 변화량 혹은 표면 요철의 양이 기준량 이상인지 여부를 판정하고, 이 양이 기준량 이상이 된 위치를 맥리가 발생한 위치라고 판정한다. 맥리는 용융 유리(MG)가 성형체의 하단부(11)를 이격함과 동시에, 표면 장력에 의해 유리판(G)의 폭 방향으로 수축함으로써, 유리판(G)의 표면 요철이 발생하고, 이 요철이 서냉 존(420)에서 억제되지 않고 남음으로써 발생하는 변형이다. 맥리는 유리판(G)의 수축이 원인이므로, 유리판(G)의 반송 방향을 따라서 줄무늬 형상으로 연속해서 발생한다. 또한, 유리판(G)의 성형 시에 이질적인 유리 성분이 인입되고, 이질적인 유리 성분이 인입된 유리판(G)의 일부의 보유 열량이 다른 부분과 다르기 때문에, 보유 열량이 다른 부분이 맥리가 된다. 이 맥리를 억제하기 위해서는, 유리판(G)에 있어서 요철이 발생한 폭 방향의 위치만의 온도(보유 열량)를 제어할 필요가 있지만, 서냉 존(420)의 분위기 온도를 제어하는 온도 제어 유닛(60)에서는, 줄무늬 형상의 부분만의 온도를 제어하는 것이 곤란하고, 온도 프로파일을 실현할 수 없는 경우가 있다. 이로 인해, 검출 장치(70)가 검출한 맥리의 위치 및 맥리에 의한 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)에 기초하여, 단열판(41)의 위치를 조정함으로써, 줄무늬 형상으로 온도가 변화된 유리판(G)의 일부의 온도만을 제어하고, 이후에 성형하는 유리판(G)의 맥리를 억제한다.
자성관(80)은 자성체의 금속 재료로 구성되고, 전원 장치(도시하지 않음)에 접속되고, 전원 장치로부터 유도 코일에 교류 전류가 흐르면, 자계 강도가 변화되고, 자성관에 와전류가 발생한다. 이 와전류가 자성관(80)을 흐름으로써 줄 열이 발생하고, 자성관(80)이 발열한다. 자성관(80)은 내열성, 내침식성이 우수하고, 구획 부재(20)보다 상류(상방)측의 위치에서, 고온이 되는 성형체(10)의 하단부(11)에 대향하는 위치에 설치되고, 가동 기구(도시하지 않음)에 의해, 유리판(G)의 두께 방향 및 폭 방향으로 이동 가능하게 되어 있다. 자성관(80)을 용융 유리(MG)[유리판(G)]에 근접하거나 이격하거나 함으로써, 자성관(80)으로부터 용융 유리(MG)에 전해지는 열량을 조정하여, 유리판(G)에 발생하는 변형, 요철을 억제한다. 또한, 복수의 자성관(80)을 유리판(G)의 폭 방향으로 배열해서 설치함으로써, 유리판(G)의 폭 방향에 있어서의 열량을 조정하여, 유리판(G)에 발생하는 변형, 요철을 억제한다. 또한, 자성관(80)은 온도 제어 유닛(60)로부터의 열 복사를 차단함으로써, 유리판(G)에 부여되는 열량을 억제하고, 유리판(G)의 보유 열량을 제어한다.
자성관(80)은 변형의 발생을 억제할 수 있는 변형점보다 상류측(상방의 공간측), 예를 들어, 성형체(10)의 하단부(11)에 대향하는 위치, 성형 존(42a) 및 서냉 존(420)[서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)]의 위치에 적절히 설치할 수 있다. 여기서, 성형체(10)의 하단부(11)는, 하단부(11)의 위치로부터 예를 들어 50㎝의 범위 내를 의미한다. 유리판(G)에 발생하는 맥리, 변형을 억제하기 위해서는, 성형체(10)의 하단부(11)로부터 변형점의 근방까지, 유리판(G)의 온도 제어가 행해진다. 특히, 맥리를 억제하기 위해서는, 성형체(10)의 하단부(11)로부터 중앙 영역(G2)의 온도가 서냉점이 되는 범위에서, 특히 성형체(10)의 하단부(11)로부터 중앙 영역(G2)의 온도가 유리 연화점의 근방까지의 범위에서, 유리판(G)의 온도 제어가 행해지는 것이 바람직하다. 또한, 특히, 변형을 억제하기 위해서는, 중앙 영역(G2)의 온도가 서냉점으로부터 변형점이 될 때까지의 범위에서, 유리판(G)의 온도 제어가 행해지는 것이 바람직하다. 여기서, 유리 연화점의 근방이란, 유리 연화점 －20℃로부터 유리 연화점 ＋20℃까지의 온도 영역인 것이 바람직하다. 자성관(80)에 있어서의 관의 직경, 관의 길이, 관의 형상, 관의 개수는, 유리판(G)에 발생하는 변형의 위치 및 변형량에 기초하여, 적절히 변경할 수 있다. 또한, 자성관(80)은 용융 유리(MG)[유리판(G)]를 가열 또는 냉각하여, 용융 유리(MG)의 온도, 점도를 바꿀 수 있으면 되므로, 자성관(80) 대신에, 막대 형상 혹은 판 형상의, 히터, 발열 부재, 냉각 부재, 혹은 열량 변화 부재이어도 좋다. 또한, 자성관(80) 대신에, 용융 유리(MG)에 부여되는 열량을 억제하는 단열판, 열차폐판이어도 좋다.
다음에, 유리판(G)의 냉각을 저감하여, 폭 방향에서 보유 열량을 균일하게 함으로써, 맥리(변형)를 억제하는 방법에 대해 설명한다.
우선, 일반적인 오버플로우 다운드로법에 의해, 유리판(G)을 성형 및 서냉한다. 유리판(G)을 성형 및 서냉하는 방법은, 예를 들어, 일본 특허 공개 제2008-88005호 공보에 기재되는 내용을 포함하고, 당해 내용이 참작된다. 유리판(G)은, 변형이 발생하지 않도록 설계된 온도 프로파일로 제어된 성형 존(42a) 및 서냉 존(420)[서냉 공간(42b, 42c, …, 42h)]을 거쳐서 성형되지만, 서냉 존(420) 등에서 발생하는 기류의 혼란이나 분위기 온도의 온도 불균일에 의해, 유리판(G)의 일부에 맥리가 발생하는 경우가 있다. 이로 인해, 맥리가 발생한 위치 및 맥리에 의한 변화량[표면 요철의 변화, 변형의 변화(변형량, 변형값, 변형도)]을 검출하고, 혹은, 요철의 양을 검출하고, 이후에 형성하는 유리판(G)에 맥리가 발생하지 않도록, 단열판(41), 자성관(80)을 이동시켜, 유리판(G)의 보유 열량을 균일하게 하여, 맥리를 억제한다.
다음에, 검출 장치(70)는 서냉 존(420)[서냉 공간(42h)]으로부터 반송되어 온 유리판(G)의 맥리의 폭 방향의 위치 및 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)을 검출한다. 도 6은 유리판(G)의 맥리(GS)의 폭 방향의 위치를 도시한 도면이다. 도 6에 도시하는 바와 같이, 검출 장치(70)는, 반송되는 유리판(G)에 있어서, 좌측 단부로부터의 위치 X1 내지 X2 사이에, 맥리(GS)를 검출한다. 또한, 검출 장치(70)는, 검출한 맥리(GS)에 의한 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)을 검출한다. 구체적으로는, 검출 장치(70)는 판정 장치로서도 기능하여, 검출한 변화량이 기준량 이상인지 여부를 판정하고, 이 변화량이 기준량 이상이 된 위치를 맥리가 발생한 위치라고 판정한다. 여기서, 기준량은 유리판(G)의 요구 스펙에 따라서 변화하는 것이며, 임의이다. 검출 장치(70)는, 상기 변화량이 기준량 이상인 경우에는, 검출한 위치 X1 내지 X2에 있는 맥리(GS)를, 변화량이 기준량 미만이 되도록 억제해야 할 맥리라고 판정한다. 유리판(G)의 반송 방향으로 줄무늬 형상으로 연속해서 발생하는 맥리(GS)는, 기류의 혼란이나 분위기 온도의 온도 불균일에 의해 발생하므로, 이 기류를 억제하고, 또한 온도 불균일을 없애서 분위기 온도를 균일하게 하지 않는 한, 유리판(G)의 폭 방향에 있어서의 일정한 위치(여기서는, 위치 X1 내지 X2)에, 계속해서 발생한다. 또한, 맥리(GS)에 의한 변화량은 온도 불균일을 없애서 분위기 온도를 균일하게 하지 않는 한, 유리판(G)의 일부가 반송 방향으로 줄무늬 형상으로 계속해서 냉각되고 있으므로, 기본적으로는 일정하다. 이로 인해, 서냉 존(420)에서 맥리(GS)가 발생하는 위치의 분위기 온도를 균일하게 하여, 소정의 온도 프로파일을 실현함으로써, 맥리(GS)를 억제할 수 있다. 온도 제어 유닛(60)은 분위기 온도를 제어할 수 있지만, 맥리(GS)가 발생한 위치 X1 내지 X2만의 온도를 제어하여, 유리판(G)의 폭 방향에서의 보유 열량을 균일하게 하는 것은 곤란하다. 이로 인해, 유리판(G)과 단열판(41)의 거리를 제어함으로써, 유리판(G)의 보유 열량을 균일하게 한다.
다음에, 성형 장치(400)는 구동 기구를 제어하여, 위치 X1 내지 X2 근방의 분위기 온도가 균일해지도록 단열판(41)의 위치를 설정한다. 도 7은, 평면에서 본 유리판(G)을 사이에 끼우는 단열판(41)의 위치를 변경한 도면이다. 성형 장치(400)는 검출 장치(70)가 검출한 맥리(GS)의 위치 X1 내지 X2에 대향하는 위치에 있는 단열판(41)을 이동시켜, 유리판(G)과 단열판(41)의 거리를, D1로부터 D2로 변경한다. 도 8은 유리판(G)으로부터 단열판(41)까지의 거리와 맥리(GS)에 의한 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)의 관계를 나타낸 도면이다. 유리판(G)으로부터 단열판(41)까지의 거리 D1에서는, 맥리(GS)에 의한 변화량이 요구 품질을 충족하지 않으므로, 성형 장치(400)는 단열판(41)의 위치를 변경하여, 도 8에 도시하는 바와 같이, 거리 D1로부터 거리 D2로 변경한다. 거리 D2에서는, 유리판(G)의 맥리(GS)는 요구 품질을 충족한다. 맥리(GS)가 발생한 위치에 대향하는 위치에 설치된 단열판(41)으로부터 유리판(G)까지의 거리를 좁히면, 이 위치를 통과하는 기류가 억제되어 유리판(G)의 냉각량이 감소하고, 또한, 분위기 온도가 균일해진다. 즉, 단열판(41)을 유리판(G)에 근접하면, 단열판(41)에 대향하는 유리판(G)의 일부에서는, 단열판(41)으로부터의 열복사가 증대하고, 단열판(41)에 대향하는 위치만의 유리판(G)의 온도(보유 열량)가 상승한다. 맥리의 발생 위치인 유리판(G)의 온도가 저하되어 있는 줄무늬 형상의 위치만을 가열할 수 있고, 유리판(G)의 반송 방향에 있어서의 클리어런스를 변화시켜, 온도 제어 유닛(60)에 의해 제어된 온도 프로파일을 실현할 수 있다. 그리고, 유리판(G)으로부터 단열판(41)까지의 거리를 D2로 변경한 이후에 성형되는 유리판(G)의 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)은, 요구 품질을 충족하게 된다. 또한, 유리판(G)으로부터 단열판(41)까지의 거리와 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)의 관계는, 거리를 서서히 변화시켜, 변화량을 검출함으로써 구해도 좋고, 또한, 분위기 온도와 유리판(G)의 온도로부터, 변화량을 시뮬레이션해서 구해도 좋다.
유리판(G)의 맥리(GS)는 유리판(G)의 온도가 변형점에 도달하기 전에 발생한다. 여기서, 변형점이란, 일반적인 유리의 변형점을 말하고, 1014.5 포아즈의 점도에 상당하는 온도(예를 들어, 661℃)이다. 유리판(G)의 변형점은 650℃ 이상이어도 좋고, 660℃ 이상인 것이 보다 바람직하고, 690℃ 이상인 것이 더욱 바람직하고, 730℃ 이상이 특히 바람직하다. 변형점이 높은 유리는, 용융되고 있는 유리의 점도가 높은 경향에 있다. 점도가 높은 유리일수록, 유리판(G)의 성형 시에 이질적인 유리 성분이 인입된 경우에는, 이질적인 유리 성분이 확산되기 어려우므로, 맥리(GS)가 발생하기 쉽다. 그로 인해, 변형점이 높은 유리일수록, 맥리(GS)를 저감할 수 있는 효과가 현저해지는 본 발명에 적합하다. 맥리(GS)를 억제하기 위해서는, 유리판(G)의 온도가 변형점으로부터 －50℃에 도달하기 전에, 유리판(G)의 온도(보유 열량)를 제어할 필요가 있다. 성형 존(42a), 서냉 존(420)에서, 유리판(G)의 온도가 변형점으로부터 －50℃ 이상이 되는 것은, 단열 부재(40a)로부터 단열 부재(40f)까지의 영역이다. 이로 인해, 단열 부재(40a)로부터 단열 부재(40f)의 위치에 있는 단열판(41)의 위치를 변경하고, 단열판(41)으로부터 유리판(G)에 부여하는 열량을 증가시킴으로써, 효과적으로, 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다. 단열판(41)에 의해 유리판(G)의 온도 제어가 행해지는 범위는, 자성관(80)과 마찬가지이다.
성형 장치(400)는, 검출 장치(70)가 검출한 맥리(GS)의 위치 및 맥리(GS)에 의한 변화량에 기초하여, 단열판(41)의 위치 조정을 반복함으로써, 단열판(41)의 위치 조정 후에 성형하는 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다. 또한, 유리판(G)에 복수의 맥리(GS)가 존재하는 경우에는, 성형 장치(400)는, 복수의 맥리(GS)가 발생한 위치에 대향하는 위치의 단열판(41)의 위치 조정을 반복함으로써, 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 유리판에 발생한 맥리에 대향하는 단열판의 위치를 조정하고, 분위기 온도를 균일하게 함으로써, 위치 조정 후에 성형하는 유리판의 맥리를 억제할 수 있다. 또한, 기류를 억제하고, 유리판의 냉각량을 저감함으로써, 맥리가 발생하지 않도록 설계된 온도 프로파일을 실현할 수 있다.
(실시 형태 2)
다음에, 단열 부재(40)가 일체로 형성되어 있는 경우에, 단열판(41)을 단열 부재(40)를 따라서 설치함으로써, 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제하는 방법에 대해 설명한다. 또한, 상술한 실시 형태와 공통되는 구성에 대해서는 설명을 생략한다.
도 9는, 본 실시 형태에 관한 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다. 단열판(41)은, 도 9에 도시하는 바와 같이, 단열 부재(40)를 따르도록 설치된다. 단열판(41)은, 예를 들어, 서냉 공간(42h)의 하단부에 형성되어 있는 유리판(G)이 반출되는 슬릿으로부터, 서냉 존(420) 내부에 삽입함으로써 설치할 수 있다. 또한, 단열판(41)을 설치하는 방법은, 성형 존(42a), 서냉 존(420)의 구조에 의해 임의로 변경할 수 있다.
성형 장치(400)는 검출 장치(70)가 검출한 맥리(GS)의 위치 및 변형량을, 예를 들어 성형 장치(400)의 조작자에게 게시한다. 단열판(41)을 설치하는 위치는, 맥리(GS)가 발생한 위치에 대향하는 위치이며, 또한, 단열판(41)은 맥리(GS)의 폭 방향의 길이에 일치하는 길이를 갖고, 유리판(G)으로부터 단열판(41)까지의 거리가 요구 품질을 충족하는 거리 D2가 되는 두께를 갖는 사이즈이다. 이 단열판(41)을, 도 9에 도시하는 바와 같이, 단열 부재(40)를 따르도록 설치함으로써, 단열판(41)을 설치한 이후에 성형하는 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 유리판의 맥리가 발생한 위치 및 맥리에 의한 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)에 대응하는 단열판을 설치할 수 있으므로, 유리판의 맥리를 적절하게 억제할 수 있다. 또한, 단열 부재가 일체로 형성되어 있는 경우라도, 유리판으로부터 단열 부재(단열판)까지의 거리를 임의로 변경할 수 있으므로, 거리 변경 후의 유리판의 맥리를 억제할 수 있다.
(실시 형태 3)
다음에, 유리판(G)에 있어서의 단부(G1)와 중앙 영역(G2) 사이에서 발생하는 맥리를 억제하는 방법에 대해 설명한다. 또한, 상술한 실시 형태와 공통되는 구성에 대해서는 설명을 생략한다.
유리판(G)은, 도 4에 도시하는 바와 같이, 두께가 거의 균일한 중앙 영역(G2)과, 중앙 영역(G2)보다 두께가 있는 단부(G1)로 이루어진다. 양단부(G1)는, 두께가 거의 균일한 중앙 영역(G2)과 비교해서 두께가 있으므로, 중앙 영역(G2)보다 보유 열량이 크고, 양단부(G1)와 중앙 영역(G2)에 보유 열량의 차가 있기 때문에, 양단부(G1)와 중앙 영역(G2) 사이에서 응력이 발생하고, 유리판(G)에 휨, 변형이 발생하게 된다. 이로 인해, 양단부(G1)와 중앙 영역(G2)의 보유 열량을 동등하게 함으로써, 맥리(GS)(변형)를 저감한다. 이 변화량(변형량)은, 도 8에 도시하는 바와 같이, 유리판(G)으로부터 단열 부재(40)까지의 거리에 따라서 변화한다. 이로 인해, 단부(G1)로부터 단열 부재(40)까지의 거리와, 중앙 영역(G2)으로부터 단열 부재(40)까지의 거리가 거의 동등하고, 또한, 이 거리가, 요구 품질을 충족하는 거리 이하이면 좋다.
도 10은, 본 실시 형태에 관한 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다. 단열판(41)은, 도 10에 도시하는 바와 같이, 단부(G1) 및 중앙 영역(G2)으로부터 단열판(41)까지의 거리가 거의 동등해지도록, 경사 형상으로 되어 있다. 양단부(G1)와 중앙 영역(G2) 사이에서의 맥리(GS)는, 판 두께의 차에 의한 보유 열량의 차에 의해 발생하므로, 변형량이 폭 방향에서 다르다. 이로 인해, 경사 형상을 갖는 단열판(41)을 단열 부재(40)를 따라서 설치함으로써, 분위기 온도를 균일하게 하여, 맥리(GS)가 발생하지 않도록 설계된 온도 프로파일에 의해 유리판(G)을 냉각한다. 이에 의해, 단열판(41)을 설치한 이후에 성형하는 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다.
또한, 단열판(41)의 형상, 사이즈는, 유리판(G)의 맥리(GS)의 폭, 변형량에 기초하여, 임의로 변경할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 유리판의 단부와 중앙 영역에 발생하는 맥리를 억제할 수 있다. 또한, 단열 부재가 일체로 형성되어 있는 경우라도, 양단부 및 중앙 영역으로부터 단열 부재(단열판)까지의 거리를 임의로 변경할 수 있으므로, 거리 변경 후의 유리판의 맥리를 억제할 수 있다.
(실시 형태 4)
다음에, 단열 부재(40)에 복수의 온도 제어 유닛(온도 제어 장치, 열량 제어 장치)(60)을 설치함으로써, 유리판(G)의 맥리를 억제하는 방법에 대해 설명한다. 또한, 상술한 실시 형태와 공통되는 구성에 대해서는 설명을 생략한다.
도 11은, 본 실시 형태에 관한 유리판을 사이에 끼우는 단열 부재를 평면에서 본 경우의 개략도이다. 단열 부재(40)에는, 도 11에 도시하는 바와 같이, 유리판(G)의 폭 방향으로, 복수의 온도 제어 유닛(60)이 설치된다. 온도 제어 유닛(60)은, 예를 들어, 단열 부재(40)가 유리판(G)과 대향하는 면(측)과 반대면(측)에 설치되고, 온도(발열량)를 제어함으로써, 단열 부재(40)로부터 유리판(G)에 부여하는 열량을 제어한다. 검출 장치(70)가 검출한 맥리(GS)의 위치에 대응하는 온도 제어 유닛(60)은 발열량을 증가함으로써, 유리판(G)에 부여하는 열량을 증가시켜, 유리판(G)에 발생하는 맥리(GS)를 억제할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 유리판의 맥리가 발생한 위치 및 맥리에 의한 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)에 대응하여, 열량을 증가할 수 있으므로, 유리판의 맥리를 적절하게 억제할 수 있다. 또한, 단열 부재가 일체로 형성되어 있는 경우라도, 유리판에 부여하는 열량을 임의로 변경할 수 있어, 유리판의 맥리를 억제할 수 있다.
(실시 형태 5)
다음에, 복수의 자성관(80)의 설치 위치를 조정함으로써, 유리판(G)의 맥리를 억제하는 방법에 대해 설명한다. 또한, 상술한 실시 형태와 공통되는 구성에 대해서는 설명을 생략한다.
성형 장치(400)는 구동 기구를 제어하여, 위치 X1 내지 X2 근방의 분위기 온도가 균일해지도록 성형체(10)의 하단부(11) 부근에 설치된 자성관(80)의 위치를 설정한다. 도 12의 (a)는 성형체(10)의 하단부(11)를 확대한 단면 개략도이며, 도 12의 (b)는 도 12의 (a)에 있어서의 성형체(10)의 하단부(11)측으로부터 평면에서 본 도면이다. 본 실시 형태의 자성관(80)은, 도 2에 도시하는 바와 같이, 성형 공정과, 냉각 공정[유리판(G)을 서냉하는 공정]을 구획하는 구획 부재(20)보다 유리판(G)의 반송 방향의 상류측[성형체(10)의 위치하는 측]에 설치되어 있다. 성형 장치(400)는 검출 장치(70)가 검출한 맥리(GS)의 위치 X1 내지 X2와 동일한 폭 방향의 위치에 자성관(80)을 이동시켜, 용융 유리(MG)와 자성관(80)의 거리를 D1로 설정한다. 자성관(80)을 사용해서 용융 유리(MG) 및 유리판(G)을 가열함으로써, 유리판(G)이 하단부(11)를 이격했을 때에 발생하는 수축을 억제한다. 검출 장치(70)가 검출한 위치 X1 내지 X2에 맥리(GS)가 발생하고 있는 경우, 유리판(G)[용융 유리(MG)]이 하단부(11)를 이격했을 때에, 동일한 위치 X1 내지 X2에 맥리(GS)가 이미 발생하고 있다. 이로 인해, 성형 장치(400)는, 상기 도면에 도시하는 바와 같이, 폭 방향에 있어서의 위치 X1 내지 X2에 자성관(80)을 설치하고, 유리판(G)[용융 유리(MG)]을 가열함으로써, 유리판(G)의 점성을 변화시켜 수축을 억제한다. 또한, 도 13은 용융 유리(MG)로부터 자성관(80)까지의 거리와 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)의 관계를 나타낸 도면이다. 서냉 존(420)에서 제거할 수 없는 변형, 요철이 발생한 폭 방향의 위치에 자성관(80)을 설치하고 있지 않은 경우(도 13 중의 「자성관 없음」), 검출 장치(70)가 검출하는 맥리(GS)에 의한 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)이 요구 품질을 충족하지 않는다. 이로 인해, 성형 장치(400)는 구동 기구를 제어하여, 자성관(80)을 용융 유리(MG)에 근접하도록 이동시키고, 또한, 요구 스펙을 충족하는 거리 D1이 되도록 용융 유리(MG)와 자성관(80)의 거리를 설정한다. 즉, 유리판(G)이 요구 스펙을 충족하도록, 거리는, 계측에 의해 얻어진 변형의 변화량 혹은 표면 요철의 양에 따라서 변화하도록 제어된다. 도 13에 도시하는 바와 같이, 거리 D1에서는, 서냉 존(420)에서 서냉된 유리판(G)의 맥리(GS)는 요구 품질을 충족한다. 맥리(GS)가 발생한 위치에 대향하는 위치에 설치된 자성관(80)으로부터 용융 유리(MG)까지의 거리를 좁히면, 용융 유리(MG)가 자성관(80)으로부터 받는 열량이 증가하고, 용융 유리(MG)의 점성이 저하되므로, 하단부(11)로부터 이격되는 유리판(G)[용융 유리(MG)]의 점도도 저하된다. 하단부(11)로부터 이격된 유리판(G)은 냉각 롤러(30)에 의해 단부(G1)가 끼워 넣어지고, 폭 방향으로 수축하는 것이 억제되면서 반송되지만, 점도가 낮은 유리판(G)은 변형이 용이하므로, 냉각 롤러(30)에 의해 폭 방향으로 유리판(G)이 인장됨으로써, 수축이 억제되어, 유리판(G)에 발생하는 맥리(GS)도 억제할 수 있다. 서냉 존(420)으로 반송되는 유리판(G)의 변형량을 일정 이하로 함으로써, 서냉 존(420)에서 소정의 온도 프로파일로 온도 관리된 유리판(G)의 변화량(변형량)이, 요구 스펙을 충족하게 된다. 이로 인해, 자성관(80)을 설치한 이후에 성형되는 유리판(G)의 변화량(표면 요철의 변화, 변형의 변화)은, 요구 품질을 충족하게 된다. 또한, 용융 유리(MG)로부터 자성관(80)까지의 거리와 변화량의 관계는, 거리를 서서히 변화시켜, 변화량을 검출함으로써 구해도 좋고, 또한, 유리판(G)의 온도나 점도 등으로부터, 변화량을 시뮬레이션해서 구해도 좋다.
성형 장치(400)는 검출 장치(70)가 검출한 맥리(GS)의 위치 및 맥리(GS)에 의한 변화량(변형량)에 기초하여, 자성관(80)의 위치 조정을 반복함으로써, 자성관(80)의 위치 조정 후에 성형하는 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다. 또한, 유리판(G)에 복수의 맥리(GS)가 존재하는 경우에는, 성형 장치(400)는, 복수의 맥리(GS)가 발생한 위치에 대응하는 폭 방향의 위치에, 복수의 자성관(80)을 이동시킴으로써, 유리판(G)의 맥리(GS)를 억제할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 서냉 존에 유리판이 반송되기 전에, 변형량, 요철을 일정 이하로 억제함으로써, 성형한 유리판의 맥리에 의한 변화량이 요구 스펙, 즉 요구 조건을 충족하도록 할 수 있다. 또한, 요구 스펙을 충족하지 않는 유리판에 맥리가 발생한 경우라도, 그 맥리가 연속적으로 발생하는 것을 억제할 수 있다. 또한, 유리판에 발생하는 맥리의 원인이 되는 유리판 형상의 요철 발생을 억제할 수도 있다.
(실시 형태 6)
다음에, 복수의 자성관(80)의 설치 위치를 조정함으로써, 유리판(G)의 맥리를 억제하는 방법에 대해 설명한다. 또한, 상술한 실시 형태와 공통되는 구성에 대해서는 설명을 생략한다.
도 14는, 본 실시 형태에 관한 자성관(80)을 성형체(10)의 하단부측(11)으로부터 평면에서 본 도면이다. 자성관(80)은 성형체(10)의 하단부측(11) 근방에, 용융 유리(MG)[유리판(G)]에 대향하는 위치에 설치된다. 검출 장치(70)는 유리판(G)에 형성되는 요철의 위치 및 그 요철의 양을 검출하고, 검출한 요철의 양이 기준량 이상인 경우에, 검출한 요철의 위치에 맥리가 발생했다고 판정한다. 도 14에 있어서의 위치 X3 내지 X5 및 위치 X6 내지 X7은, 검출 장치(70)에 의해 맥리가 있다고 판정된 위치이다. 서냉 존(420)을 거쳐서 성형된 유리판(G)의 위치 X3 내지 X5에 맥리가 있고, 위치 X3 내지 X4에서, 위치 X4 내지 X5보다 맥리의 정도가 큰 경우, 성형 장치(400)는 성형체(10)의 하단부측(11) 근방에서, 위치 X3 내지 X5에 대응하는 위치에, 자성관(80)을 이동시키고, 또한, 자성관(80)과 용융 유리(MG)의 거리를, 위치 X3 내지 X4에서는 거리 D2, 위치 X4 내지 X5에서는 거리 D3이 되도록 설치한다. 용융 유리(MG)에 부여하는 열량을 변화시키는 열량 변화 부재로서 기능시키는 자성관(80)의 폭은, 검출된 맥리의 폭과 동등해지도록 조정된다. 또한, 위치 X3 내지 X4의 변화량, 요철은, 위치 X4 내지 X5의 변화량, 요철보다 크므로, 위치 X3 내지 X4에서는, 자성관(80)의 위치는 위치 X4 내지 X5에 비해 용융 유리(MG)에 보다 근접하고, 거리 D2<거리 D3이 되도록 설치된다. 또한, 서냉 존(420)을 지나서 성형된 유리판(G)의 맥리의 위치 X3 내지 X5와는 다른 면에서, 위치 X6 내지 X7에 맥리가 성형된 경우, 성형 장치(400)는 맥리가 성형된 면측에서, 성형체(10)의 하단부측(11) 근방에서, 위치 X6 내지 X7에 대응하는 위치에, 자성관(80)을 이동시키고, 또한, 자성관(80)과 용융 유리(MG)의 거리를 D4가 되도록 설치한다. 맥리의 폭이 넓은(위치 X3 내지 X5까지의 거리가 긴) 경우, 위치 X3 내지 X5까지의 거리와 동일 거리가 되도록, 복수의 자성관(80)이, 용융 유리(MG)의 폭 방향으로 배열되어 배치된다. 이에 의해, 복수의 자성관(80)이 배치된 이후에 성형되는 유리판(G)의 맥리를 저감할 수 있다. 또한, 1 군데에 발생한 맥리에 있어서 변화량이 다른 경우, 자성관(80)과 용융 유리(MG)의 거리를, 자성관(80)마다 변화시켜, 거리 D2, D3으로 함으로써, 변화량에 대응한 맥리 저감을 행할 수 있다. 성형 장치(400)는 성형체(10)의 하단부측(11) 근방에서, 검출 장치(70)가 검출한 맥리의 위치에 대응하는 폭 방향의 위치에 자성관(80)을 설치하고, 또한, 검출 장치(70)가 검출한 변화량에 기초하여, 자성관(80)과 용융 유리(MG)의 거리를 정함으로써, 맥리가 발생한 위치, 변화량에 따른 변형 저감을 행할 수 있다.
또한, 용융 유리(MG)에 부여하는 열량을 변화시키는 열량 변화 부재로서 기능시키는 자성관(80)의 폭은, 검출된 맥리의 폭과 동등해지도록 조정되는 것이 바람직하다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 유리판의 맥리가 발생한 위치 및 변화량에 대응해서 자성관을 설치할 수 있으므로, 유리판의 맥리를 적절하게 억제할 수 있다. 또한, 자성관의 설치 위치, 자성관과 용융 유리의 거리를 임의로 설정할 수 있으므로, 요구 스펙을 충족하지 않는 유리판에 맥리가 발생한 경우라도, 그 맥리를 억제할 수 있다.
이상, 본 발명의 유리판 제조 방법 및 유리판의 제조 장치에 대해 상세하게 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태에 한정되지 않고, 본 발명의 주지를 일탈하지 않는 범위에서, 다양한 개량이나 변경을 해도 되는 것은 물론이다.
400 : 성형 장치
410 : 성형체 수용부
420 : 서냉 존
G : 유리판
20 : 구획 부재
30 : 냉각 롤러
40a, 40b, … : 단열 부재
41 : 단열판
42a : 성형 존
42b, 42c, … : 서냉 공간
50a, 50b, … : 이송 롤러
60a, 60b, … : 온도 제어 유닛
70 : 검출 장치
80 : 자성관

Claims (13)

  1. 다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과,
    상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
    상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과,
    상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고,
    상기 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록 상기 유리판이 보유하는 열량을 제어하는
    것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  2. 다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과,
    상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
    상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과,
    상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고,
    상기 냉각 공정에서는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 상기 판정 공정에 서 판정된 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록 상기 유리판이 보유하는 열량을 제어하는
    것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  3. 다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하는 성형 공정과,
    상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
    상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치를 상기 유리판의 판 두께 편차 또는 점성 편차에 기초하여 검출하는 검출 공정을 구비하고,
    상기 성형 공정 또는 상기 냉각 공정에서는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 상기 유리판에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판의 반송 방향에 대해, 상기 노실을 복수의 공간으로 분할하고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 단열판을 사용해서, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에서, 상기 맥리가 소정의 조건을 충족하도록, 상기 단열판이 상기 유리판에 부여하는 열량을 제어하는
    것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 노실에 있어서, 상기 유리판에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판의 반송 방향에 대해, 상기 노실을 복수의 공간으로 분할하고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 단열판을 구비하고,
    상기 단열판에는, 상기 유리판의 폭 방향으로 복수의 열량 제어 장치가 설치되고,
    상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에 대향하는 상기 열량 제어 장치는, 상기 유리판에 부여하는 열량을 증가하는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
    상기 단열판은, 상기 유리판의 폭 방향으로 복수로 분할되고,
    냉각하는 유리판과, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에 대향하는 분할된 단열판과의 거리를 좁히는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  6. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 위치에 단열판을 새롭게 설치하고, 상기 유리판과 상기 단열판의 거리를 좁히는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 맥리는, 상기 유리판의 폭 방향으로 소정의 폭을 갖고, 상기 유리판의 반송 방향으로 연속적으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  8. 다운드로법을 사용해서 용융 유리로부터 유리판을 성형하고, 성형한 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 성형 장치와,
    상기 성형 장치에서 성형되고 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하고, 상기 변화량이 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 검출 장치를 구비하고,
    상기 성형 장치는, 노벽으로 둘러싸인 노실에 있어서, 상기 검출 장치가 판정한 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록 상기 유리판이 보유하는 열량을 제어하는
    것을 특징으로 하는 유리판의 제조 장치.
  9. 성형체로부터 오버플로우한 용융 유리를, 상기 성형체의 양측면을 따라서 유하시킨 후, 상기 성형체의 하단부 근방에서 합류시켜 유리판을 성형하는 성형 공정과,
    상기 성형 공정에서 성형된 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 공정과,
    상기 냉각 공정에서 냉각된 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하는 검출 공정과,
    상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 공정을 구비하고,
    상기 성형 공정에서는,
    상기 성형체의 하단부 근방에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 열량 변화 부재를 갖고,
    상기 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치에서, 상기 검출 공정에서 검출된 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록, 상기 열량 변화 부재가 상기 유리판에 부여하는 열량을 제어하는
    것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 성형 공정에서는, 상기 열량 변화 부재와 상기 유리판의 거리를 좁히고, 상기 판정 공정에서 판정된 맥리의 위치의 유리판의 보유 열량을 상승시키고,
    상기 냉각 공정에서는, 보유 열량이 상승한 상기 유리판을, 상기 유리판의 폭 방향으로 인장하면서 냉각하는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  11. 제9항 또는 제10항에 있어서,
    상기 열량 변화 부재의 폭은, 상기 검출 공정에서 검출된 맥리의 폭과 동등한 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  12. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 맥리는, 상기 유리판의 폭 방향으로 소정의 폭을 갖고, 상기 유리판의 반송 방향으로 연속적으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유리판의 제조 방법.
  13. 성형체로부터 오버플로우한 용융 유리를, 상기 성형체의 양측면을 따라서 유하시킨 후, 상기 성형체의 하단부 근방에서 합류시켜 유리판을 성형하는 성형 장치와,
    상기 성형 장치가 성형한 유리판을 연직 방향 하방으로 반송하면서 냉각하는 냉각 장치와,
    상기 냉각 장치가 냉각한 유리판의 반송 방향에 발생하는 맥리의 위치와 상기 맥리에 의한 변화량을 검출하고, 검출한 맥리에 의한 상기 변화량이, 기준량 이상이 되는 맥리의 위치를 판정하는 판정 장치를 구비하고,
    상기 성형 장치는,
    상기 성형체의 하단부 근방에 대향하는 위치에 배치되고, 상기 유리판이 보유하는 열량을 변화시키는 열량 변화 부재를 갖고,
    상기 판정 장치가 판정한 맥리의 위치에서, 상기 변화량이 상기 기준량 이하가 되도록, 상기 열량 변화 부재가 상기 유리판에 부여하는 열량을 제어하는
    것을 특징으로 하는 유리판의 제조 장치.
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