KR20150068480A - 신호 처리 장치, 신호 처리 방법 및 정보 판독 장치 - Google Patents

Abstract

패턴 유무 평가값 생성부(41)는 검출 데이터 d3과 보정 데이터 d44를 비교하여 패턴의 유무를 판정한다. 보정 데이터 갱신부(42)는 패턴 유무 평가값 생성부(41)의 패턴 유무 평가값 d41에 따라, 이미지 패턴이 있는 경우에는 보정 데이터 d44의 가중치 부여를 크게 하고, 이미지 패턴이 없는 경우에는 검출 데이터 d3의 가중치 부여를 크게 하고, 검출 데이터 d3과 보정 데이터 d44를 가중치 부여 가산하는 것에 의해, 갱신된 보정 데이터 d42를 출력한다. 보정 데이터 감산부(43)는 검출 데이터 d3으로부터 보정 데이터 d42를 감산하여 출력 검출 데이터 d4를 출력한다. 검출 대상물의 판독 시간 내에 발생하는 검출 신호의 검출 신호의 레벨 변동의 영향의 저감, 및 패턴의 정확한 판독이 가능하게 된다.

Description

신호 처리 장치, 신호 처리 방법 및 정보 판독 장치{SIGNAL PROCESSING DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD AND INFORMATION READING APPARATUS}

본 발명은 센서를 가지는 정보 판독 장치에 관한 것이다. 본 발명은 특히, 복수의 검출 소자가 직선 상에 배치된 라인 센서를 이용하여 지폐 등의 지엽(紙葉)류의 자기(磁氣) 잉크에 의한 인쇄상(像) 등의 패턴 정보의 판독에 적절한 정보 판독 장치에 관한 것이다.

이 종류의 정보 판독 장치의 하나로서, 자계를 인가했을 때에 저항값이 변화하는 복수개의 자기 센서가 직선을 따라 배열된 라인 센서를 구비한 자기 센서 장치가 있다. 자기 센서 장치는 지폐를 식별하는 지폐 식별 장치 등에 적용되어 있다. 지폐 식별 장치는 자기 센서에 의해 식별 대상의 지폐의 자기 잉크에 의한 인쇄상을 검출한다. 또한, 지폐 식별 장치는 검출된 인쇄상과, 기억되어 있는 참조상의 유사도를 기초로 지폐의 진위 및 금종(金鐘) 등을 식별한다.

자기 센서 장치에서는, 지폐 등의 인쇄상에 이용되는 자기 잉크에 의한 자계가 미소하기 때문에, 얻어지는 검출 신호는 미소하다. 또한, 자기 센서 장치에서의 검출 신호에는 직류 성분(오프셋 성분)이 부가되어 있다. 그래서, 검출 신호에 대해, 신호 증폭과 함께, 오프셋 성분의 제거를 행할 필요가 있다. 그러나, 오프셋 성분은 주위 온도 등의 환경 변화 또는 자기 센서의 시간 경과 변화 등으로 변동한다. 이 때문에, 검출 신호 중의 오프셋 성분의 분리는 용이하지 않다.

특허문헌 1에 기재된 자기 패턴 검출 장치는 자기 센서 소자의 온도 등에 기인한 검출 신호의 레벨의 편차를 보정하는 기술을 개시하고 있다. 특허문헌 1의 자기 패턴 검출 장치는 지폐가 자기 센서 장치를 통과한 후로부터 다음의 지폐가 자기 센서 장치를 통과할 때까지 동안마다 오프셋 조정을 행하고 있다.

특허문헌 1: 일본 특허 공개 제2012-128683호 공보(단락 0049－0062, 도 4－6)

그러나, 특허문헌 1의 오프셋 보정 방법은 지폐와 지폐의 사이에서만 오프셋 보정값의 산출을 행하고 있다. 특허문헌 1의 오프셋 보정 방법은 각 지폐의 판독 기간 내에서는 동일한 오프셋 보정값이 적용된다. 이 때문에, 1매의 지폐의 판독 기간 내에 검출 신호의 레벨이 변동하고 있는 경우에는, 검출 신호의 레벨의 편차를 충분히 보정할 수 없다고 하는 문제가 있었다.

자기 패턴 이외의 이미지 패턴의 정보를 읽어내는 장치에 대해서도 마찬가지의 문제가 있었다.

본 발명은, 상기의 문제점을 해결하기 위해서 이루어진 것으로, 각 검출 대상물의 판독 기간 내에 발생하는 검출 신호의 레벨 변동의 영향을 저감한다. 그리고, 본 발명은 검출 신호의 레벨의 편차를 신속하게 보정하여, 패턴 정보를 정확하게 읽어낼 수 있다.

본 발명의 신호 처리 장치는, 검출 소자에 의해 검출 대상물을 순차적으로 검출하여 얻어진 상기 검출 대상물의 신호 성분을 포함하는 검출 데이터에 근거하여, 상기 검출 데이터 중에 상기 신호 성분이 포함되는 정도를 산출하는 패턴 유무 평가값 생성부와, 상기 정도가 클수록 상기 검출 소자의 직류 성분을 나타내는 보정 데이터의 가중치를 크게 하고, 상기 정도가 작을수록 상기 검출 데이터의 가중치를 크게 해서 상기 보정 데이터 및 상기 검출 데이터를 가중치 부여 가산하는 것에 의해, 갱신된 보정 데이터를 생성하는 보정 데이터 갱신부와, 상기 갱신된 보정 데이터를 상기 검출 데이터로부터 감산하여 보정 후의 검출 데이터를 생성하는 보정 데이터 감산부를 가지는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 의하면, 각 검출 대상물의 판독 기간 내에 발생한 검출 신호의 레벨 변동의 영향을 저감할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 형태 1의 정보 판독 장치를 나타내는 블럭도이다.
도 2는 도 1의 패턴 검출부(1)의 개략 구성 및 동작을 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 검출 인에이블 작성부(2)의 동작을 나타내는 도면이다.
도 4(a)~(e)는 도 1의 A/D 변환부(3)로부터 출력되는 신호를 나타내는 타이밍도이다.
도 5는 도 1의 보정 데이터 갱신부(42)의 구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 6은 도 5의 가중 계수 생성부(421)의 입력과 출력의 관계를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 1의 직류 성분 보정부(4)의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 8은 도 7의 가중 계수 생성 스텝 S31의 상세를 나타내는 흐름도이다.
도 9(a)~(d)는 도 1의 직류 성분 보정부(4)의 각부의 신호의, 부주사 방향에서의 변화의 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 10(a)~(d)는 도 1의 직류 성분 보정부(4)의 각부의 신호의, 부주사 방향에서의 변화의 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시 형태 3의 정보 판독 장치를 나타내는 블럭도이다.
도 12는 도 11의 보정 데이터 갱신부(42b)의 구성예를 나타내는 블럭도이다.

(실시 형태 1)

도 1은 본 발명의 실시 형태 1에 따른 정보 판독 장치(100)의 구성도이다. 정보 판독 장치(100)는 패턴 유무 평가값 생성부(41), 보정 데이터 갱신부(42) 및 보정 데이터 감산부(43)을 구비한다. 또한, 정보 판독 장치(100)는 패턴 검출부(1), 검출 인에이블 작성부(2), A/D 변환부(3), 신호 조정부(5), 시스템 제어부(6) 또는 지연부(45)를 구비할 수 있다. 또한, 직류 성분 보정부(4)는 패턴 유무 평가값 생성부(41), 보정 데이터 갱신부(42), 보정 데이터 감산부(43) 및 보정 데이터용 라인 메모리(44)를 구비한다. 또한, 직류 성분 보정부(4)는 지연부(45)를 구비할 수 있다. 직류 성분 보정부(4)는 신호 처리 장치이다.

패턴 검출부(1)는 검출 대상물(판독 대상물)의 이미지 패턴을 검출한다. 또한, 패턴 검출부(1)는 아날로그 형식의 검출 신호 d1을 출력한다.

검출 인에이블 작성부(2)는 검출 인에이블 신호 d2를 출력한다. 검출 인에이블 신호 d2는 이미지 패턴의 검출이 행해지는 기간인지 여부를 나타낸다. 예를 들면, 대상물이 검출 에리어에 있는지 여부를 나타낸다. 「검출 에리어」란, 패턴 정보의 판독를 행하는 영역이다.

A/D 변환부(3)는 검출 신호 d1을 입력으로 한다. 그리고, A/D 변환부(3)는 검출 신호 d1을 디지털 형식의 검출 데이터 d3으로 변환한다.

검출 데이터 생성부(10)는 패턴 검출부(1)와 A/D 변환부(3)를 가진다. 검출 데이터 생성부(10)는 이미지 패턴을 검출한다. 또한, 검출 데이터 생성부(10)는 검출 결과를 나타내는 검출 데이터 d3을 출력한다.

직류 성분 보정부(4)는 검출 데이터 d3 및 검출 인에이블 신호 d2를 입력으로 한다. 그리고, 직류 성분 보정부(4)는 검출 데이터 d3으로부터 부주사 방향 Y의 직류 성분을 제거한 보정 후의 검출 데이터 d4를 출력한다. 패턴 검출부(1)에 대한 지폐(13)의 이동 방향(반송 방향)을 부주사 방향이라고 한다.

신호 조정부(5)는 보정 후의 검출 데이터 d4를 입력으로 한다. 그리고, 신호 조정부(5)는 보정 후의 검출 데이터 d4의 신호 조정을 행한다. 그리고, 신호 조정부(5)는 조정 후의 검출 데이터 d5를 출력한다.

이하에서는, 판독 대상물이 지폐이고, 정보 판독 장치가 지폐에 실시된 자기 잉크에 의한 인쇄상으로부터 자기 패턴을 검출하는 자기 센서 장치인 경우를 예로 하여, 보다 상세히 설명한다.

시스템 제어부(6)는 시스템 리셋 신호 SRT를 나타내는 데이터, 라인 동기 신호 LSY를 나타내는 데이터, 시스템 클럭 신호 SCL를 나타내는 데이터 및 타겟값 TGT를 나타내는 데이터를 출력한다.

라인 동기 신호 LSY는 라인 주기에서의 타이밍을 맞추는 신호이다. 라인 동기 신호 LSY는 라인 주기마다 발생된다. 즉, 라인 동기 신호 LSY는 음극성의 동기 신호이다.

시스템 리셋 신호 SRT는 정보 판독 장치(100)를 초기 상태로 하기 위한 신호이다.

타겟값 TGT는 직류 성분 보정부(4)에서 직류 성분 보정되는 신호의 직류 성분의 값이다.

시스템 클럭 신호 SCL은 주기적으로 전압이 높은 상태와 낮은 상태를 취함으로써 복수의 회로의 동작 타이밍을 맞추는 신호이다.

라인 동기 신호 LSY 및 시스템 클럭 신호 SCL은 패턴 검출부(1), A/D 변환부(3), 직류 성분 보정부(4) 및 신호 조정부(5)에 공급된다(공급을 위한 신호선의 도시를 생략함). 라인 동기 신호 LSY 및 시스템 클럭 신호 SCL은 패턴 검출부(1), A/D 변환부(3), 직류 성분 보정부(4) 및 신호 조정부(5)에서의 처리의 동기를 취하기 위해 이용된다.

도 2는 패턴 검출부(1)의 개략 구성 및 동작을 나타내는 도면이다. 패턴 검출부(1)는, 도 2에 나타내는 바와 같이, 라인 센서(12)를 구비한다. 라인 센서(12)는 자계를 인가했을 때에 저항값이 변화하는 복수개의 자기 센서(검출 소자)(11)를 직선을 따라 배치한 것이다. 라인 센서(12)는 지폐(13)에 부여되어 있는 자기 패턴을 검출한다. 그리고, 라인 센서(12)는 검출 신호 d1을 출력한다.

라인 센서(12)의 복수의 검출 소자(11)는 검출 소자(11)의 배치순으로 자기 패턴을 검출한다. 각각의 검출 소자(11)로부터의 검출 신호 d1을 순차적으로 출력하는 것을 주주사라고 말한다. 도 2에서는, 각 검출 소자(11)로부터 도 2 중의 아래측에 배선이 나오고 있다. 이 배선을 통해 검출 신호 d1이 출력된다. 또한, 라인 센서(12)의 길이 방향을 주주사 방향이라고 말한다. 도 2에 있어서, 길이 방향은 좌우 방향이다. 또, 지폐(13)는 자기 패턴이 갖는 영역 MG1, MG2, MG3을 가지고 있다. 도 2에서는, 영역 MG3은 주주사 방향 X의 검출 라인 La 상에 위치한다.

지폐(13)는 반송 벨트(14) 등에 의해서 반송된다. 그리고, 지폐(13)는 검출 에리어를 통과한다. 검출 에리어는 패턴 검출부(1)에 의한 자기 패턴의 검출이 행해지는 영역이다. 도 2에 있어서, 반송 벨트(14)는 파선에 의해 개략적으로 나타내어져 있다. 또한, 지폐(13)는 짧은 변 방향이 부주사 방향 Y로 되고, 긴 변 방향이 주주사 방향 X로 되도록 배치되어 있다. 패턴 검출부(1)에 대한 지폐(13)의 이동 방향(반송 방향)을 부주사 방향이라고 한다. 여기서는, 지폐(13)의 반송 방향이 부주사 방향 Y이다. 또, 장치의 구성에 따라서는, 지폐(13)에 대해 패턴 검출부(1)가 이동하여도 상관없다.

주주사는 검출 소자(11)를 단위로서 행해진다. 부주사는 검출 라인 La를 단위로서 행해진다. 「검출 라인」이란, 1회의 주주사로 판독되는 선 형상의 영역이다. 검출 에리어는 검출 라인이 부주사 방향 Y로 이동하면서 자기 패턴을 검출하는 범위이다.

검출 데이터 생성부(10)는 라인 센서(12)에 대해 지폐(13)를 반송 방향으로 이동시키면서, 라인 센서(12)에서 지폐(13)를 주주사 방향 X로 주사한다. 그 결과로서, 검출 데이터 생성부(10)는 지폐(13)의 2차원 이미지를 나타내는 데이터를 얻을 수 있다. 여기서, 2차원 이미지를 나타내는 데이터는 검출 데이터 d3이다.

또, 지폐(13)는 자기 패턴이 있는 영역 MG1, MG2를 가지고 있다. 영역 MG1, MG2는 부주사 방향 Y의 라인 MSa, MSb 상에 위치하고 있다.

패턴 검출부(1)에 의한 지폐(13)의 자기 패턴의 검출은 시스템 제어부(6)로부터 출력되는 라인 동기 신호 LSY에 동기하여 행해진다. 즉, 라인 동기 신호 LSY가 1회 발생될 때마다, 1 검출 라인 La분의 검출이 행해진다. 1 검출 라인 La분의 검출은 라인 센서(12)를 구성하는 모든 검출 소자(11)에 의한 검출이다. 이 1 검출 라인 La분의 검출과 병행하여, 지폐(13)는 1 검출 라인 La분만큼 부주사 방향 Y로 반송된다.

이러한 처리가 반복됨으로써, 복수 검출 라인 La의 검출 신호가 순차적으로 출력된다.

또, 지폐(13)의 주주사 방향 X의 치수가 라인 센서(12)의 길이 방향의 치수보다 짧은 경우에는, 지폐(13)의 주주사 방향 X의 치수의 범위 내에 위치하는 검출 소자(11)만을 이용해서 자기 패턴의 검출을 행하는 것으로 하여도 좋다. 자기 패턴의 검출은 자기 패턴을 읽어내는 것이다. 그 경우에는, 지폐(13)의 폭의 범위 내에 위치하는 모든 검출 소자(11)에 의한 검출에 의해, 1 검출 라인 La분의 주주사가 완료된다.

검출 인에이블 작성부(2)는 도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이, 지폐 검출기(21)를 가진다. 검출 인에이블 작성부(2)는 지폐 검출기(21)의 출력에 근거하여, 도 3에 나타내는 바와 같이, 검출 인에이블 신호 d2를 작성한다. 그리고, 검출 인에이블 작성부(2)는 검출 인에이블 신호 d2를 출력한다.

도 3은 검출 인에이블 작성부(2)의 동작을 나타내는 도면이다. 도 3은 지폐(13)와 검출 인에이블 신호 d2의 관계를 알기 쉽게 하기 위해서, 지폐(13)와 검출 인에이블 신호 d2를 1개의 도면 중에 나타내고 있다.

도 3의 상측에는, 지폐(13)가 도시되어 있다. 주주사 방향 X가 도 3의 상하 방향이고, 부주사 방향 Y가 도 3의 좌우 방향이다. 지폐(13)는 부주사 방향 Y로 4매 나열하여 배치되어 있다.

도 3의 하측에는, 검출 인에이블 신호 d2가 도시되어 있다. 도 3의 좌우 방향은 부주사 방향 Y의 판독 기간을 나타내고 있다. 도 3의 상하 방향은 검출 인에이블 신호 d2의 출력값을 나타내고 있다.

검출 인에이블 신호 d2는 구형(矩形) 신호이다. 검출 인에이블 신호 d2는, 지폐(13)가 위치하는 부주사 방향 Y의 기간은 '1'로 되어 있다. 또한, 검출 인에이블 신호 d2는, 지폐(13)가 위치하지 않는 부주사 방향 Y의 기간은 '0'으로 되어 있다.

검출 인에이블 신호 d2는 부주사 방향 Y의 판독 기간에서의 검출의 유효 또는 무효를 나타내는 신호이다. 검출 인에이블 신호 d2는, 지폐(13)가 검출 에리어를 통과하고 있는 기간(자기 패턴의 검출을 하는 기간)은 '1'로 된다. 또한, 검출 인에이블 신호 d2는, 지폐(13)가 검출 에리어를 통과하고 있지 않는 기간은 '0'으로 된다.

지폐(13)가 검출 에리어를 통과하고 있는 기간은 자기 패턴 검출이 유효한 기간이다. 지폐(13)가 검출 에리어를 통과하고 있지 않은 기간은 자기 패턴 검출이 무효인 기간이다.

도 4(a)~(e)는 A/D 변환부(3)로부터 출력되는 신호를 나타내는 타이밍도이다. 도 4(a)~(e)에 있어서, 가로축은 시간을 나타내고, 세로축은 신호의 레벨을 나타내고 있다.

A/D 변환부(3)는 검출 신호 d1을 입력으로 해서, 시스템 리셋 신호 SRT, 시스템 클럭 신호 SCL 및 라인 동기 신호 LSY에 동기하여 동작한다. 시스템 리셋 신호 SRT는 도 4(a)에 나타내어진다. 시스템 클럭 신호 SCL은 도 4(b)에 나타내어진다. 라인 동기 신호 LSY는 도 4(c)에 나타내어진다. A/D 변환부(3)는 검출 신호 d1을 A/D 변환하여, 디지털 형식의 검출 데이터 d3을 출력한다. 디지털 형식의 검출 데이터 d3은 도 4(d)에 나타내어진다. 또, 검출 인에이블 신호 d2는 도 4(e)에 나타내어져 있다.

시스템 리셋 신호 SRT는, 시스템이 리셋되었을 때에, '1'로부터 '0'으로 되고, 또한 '1'로 된다.

라인 동기 신호 LSY는, 검출 라인 La의 검출 데이터 d3을 출력할 때에, '1'로부터 '0'으로 되고, 또한 '1'로 된다. 검출 데이터 d3은 검출 라인 La마다 출력된다. 도 4(d)에서는, 검출 라인 La1, 검출 라인 La2 및 검출 라인 La3이 시간축 방향으로 나열되어 기재되어 있다.

검출 인에이블 신호 d2는, 검출 라인 La1, La2의 사이는 '0'이다.

검출 인에이블 신호 d2는, 검출 라인 La3 이후는 '1'이다.

이하에 있어서, 검출 데이터 d3이 검출 소자(11)마다의 값을 나타내는 것임을 강조하기 위해서, 부호 d4(i)를 이용하는 일이 있다. 부호 i는 라인 센서(12) 중의 i번째의 검출 소자(11)에 대한 데이터인 것을 나타낸다. 부호 i를 부여한 다른 데이터에 대해서도 마찬가지이다. 또한, 검출 라인 La마다의 데이터인 것을 나타내기 위해서 「(j)」를 더하기도 한다. 부호 j는 부주사 방향 Y에서의 j번째의 검출 라인 La의 데이터인 것을 나타낸다. 검출 소자(11)마다의 값 또는 검출 라인 La마다의 데이터인 것을 강조할 필요가 없는 경우에는, 「(i)」 또는 「(j)」를 생략한다.

직류 성분 보정부(4)는 검출 데이터 d3(i)와 검출 인에이블 신호 d2를 입력으로 한다. 또한, 직류 성분 보정부(4)는 직류 성분을 제거한 보정 후의 검출 데이터 d4(i)를 출력한다.

직류 성분 보정부(4)는 패턴 유무 평가값 생성부(41), 보정 데이터 갱신부(42), 보정 데이터 감산부(43) 및 보정 데이터용 라인 메모리(44)를 구비한다. 또한, 직류 성분 보정부(4)는 지연부(45)를 구비할 수 있다.

패턴 유무 평가값 생성부(41)는 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 비교하여 패턴 유무의 판정을 행한다. 검출 데이터 d3(i)는 각 검출 소자(11)(i번째의 검출 소자)에서 얻어진 검출 데이터이다. 보정 데이터 d44(i)는, 보정 데이터용 라인 메모리(44)에 유지되어 있는, i번째의 검출 소자(11)에 대한 보정 데이터이다. 패턴 유무 평가값 d41은 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 포함되어 있는 정도를 나타낸다. 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 패턴 유무 평가값 d41을 출력한다. 또, 이하에서는 보정 데이터를 유지하기 위해 보정 데이터용 라인 메모리(44)를 이용하지만, 데이터를 유지하는 메모리이면 라인 메모리에 한정하는 것이 아니며, 이하는 일례이다.

패턴 유무의 판정은 자기 패턴에 대응하는 신호 성분이 포함되는 정도에 대한 판정이다. 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 패턴 유무의 판정의 결과에 근거하여, 자기 패턴에 대응하는 신호 성분이 포함되는 정도를 나타내는 평가값(패턴 유무 평가값 d41)을 출력한다.

패턴 유무 평가값 d41로서는, 예를 들면 각 검출 소자(11)의 검출 데이터 d3의 변동분을 나타내는 값이 이용된다. 각 검출 소자(11)의 검출 데이터의 변동분을 나타내는 값은, 보다 구체적으로는, 보정 데이터 d44에 대한 검출 데이터 d3의 데이터값의 차 또는 데이터값의 변화량이 이용된다. 또는, 각 검출 소자(11)의 검출 데이터의 변동분을 나타내는 값은 보정 데이터 d44에 대한 검출 데이터 d3의 데이터값의 차이 또는 데이터값의 변화량을 집계함으로써 얻어지는 값이 이용된다. 집계함으로써 얻어지는 값은, 예를 들면 상기의 차분의 절대값의 검출 라인 La 전체에 대한 평균값이다. 「차분」이란, 2개의 값의 차이를 나타낸다.

패턴 유무 평가값 생성부(41)는, 예를 들면 동일한 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차분 절대값의 검출 라인 La마다의 평균값 MAD(j)(이하, 라인 평균값 MAD(j)라고 함)을 구한다. 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 이 라인 평균값 MAD(j)를 패턴 유무 평가값 d41(j)로서 출력한다. 「차분 절대값」이란, 2개의 값의 차이의 절대값을 나타낸다.

상기와 같이, 동일한 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차분 절대값은 보정 데이터 d44(i)에 대한 검출 데이터 d3(i)의 변화량을 나타내는 것이라고 말할 수 있다. 보정 데이터 d44(i)는 각 검출 소자(11)에 대해, 이전의 검출 라인 La까지의 검출 결과에 근거하여 구해진, 검출 데이터 d3에 포함되는 직류 성분을 나타낸다. 「이전의 검출 라인」이란, 현재 검출하고 있는 검출 라인 La의 하나 전에 검출한 검출 라인 La이다.

직류 성분을 나타내는 보정 데이터 d44(i)에 대한 검출 데이터 d3(i)의 변화량이 큰 경우에는, 검출하고 있는 검출 라인 La에 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 많이 포함되어 있다고 추정할 수 있다. 한편, 직류 성분을 나타내는 보정 데이터 d44(i)에 대해 검출 데이터 d3(i)의 변화량이 작은 경우에는, 검출하고 있는 검출 라인 La에 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 조금밖에 포함되어 있지 않다고 추정할 수 있다.

보정 데이터 갱신부(42)는 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 가중치 부여 가산한다. 보정 데이터 갱신부(42)는 패턴 유무 평가값 d41(j) 및 검출 인에이블 신호 d2에 근거하여, 이 가중치 부여 가산을 행한다. 패턴 유무 평가값 d41(j)는 패턴 유무 평가값 생성부(41)가 출력하는 값이다. 보정 데이터 갱신부(42)는 이 가산 결과를, 새로운 보정 데이터 d42(i)로서 출력한다. 「새로운 보정 데이터」란, 갱신된 보정 데이터이다.

보정 데이터 갱신부(42)는, 검출 인에이블 신호 d2가 '1'인 경우에는, 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 가중치 부여 가산한다. 그리고, 보정 데이터 갱신부(42)는 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 구한다. 보정 데이터 갱신부(42)는, 패턴 유무 판정 결과 d41(j)에 근거하여, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 많은 경우에는, 보정 데이터 d44의 가중치를 크게 한다. 또한, 보정 데이터 갱신부(42)는, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 적은 경우에는, 검출 데이터 d3(i)의 가중치를 크게 한다.

또, 검출 인에이블 신호 d2가 '1'인 기간은, 자기 패턴 검출의 유효 기간이다. 또한, 패턴 유무 판정 결과 d41(j)는 패턴 유무 평가값 생성부(41)가 출력하는 판정 결과이다.

한편, 검출 인에이블 신호 d2가 '0'(자기 패턴 검출의 무효 기간)인 경우에는, 보정 데이터 갱신부(42)는 패턴 유무 평가값 생성부(41)의 패턴 유무 평가값 d41(j)에 의존하지 않고, 검출 데이터 d3(i)의 가중치를 크게 한다. 패턴 유무 평가값 d41(j)는 패턴 유무 평가값 생성부(41)의 패턴 유무 판정 결과이다.

그리고, 보정 데이터 갱신부(42)는 가중치 부여된 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 가중치 부여 가산한다. 이것에 의해, 보정 데이터 갱신부(42)는 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 구한다.

도 5는 보정 데이터 갱신부(42)의 구성예를 나타내는 블럭도이다.

도 5에 나타내는 보정 데이터 갱신부(42)는, 가중 계수 생성부(421), 보정 데이터 연산부(422) 및 파라미터 설정부(423)를 구비한다.

가중 계수 생성부(421)는 패턴 유무 평가값 d41(j)와 검출 인에이블 신호 d2를 입력으로 한다. 그리고, 가중 계수 생성부(421)는 보정 데이터 연산부(422)에 검출 데이터용 가중 계수 K3(j) 및 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)를 출력한다.

검출 인에이블 신호 d2가 '1'(자기 패턴 검출의 유효 기간)일 때, 가중 계수 생성부(421)는 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)를 다음 식(1)에 나타내는 관계에 의해 산출한다.

여기서, 식 (1)은 다음과 같이 정의된다.

TH1은 제 1 임계값이다.

TH2는 제 2 임계값이다.

Kmax는 보정 데이터용 가중 계수의 최대값이다.

Kmin는 보정 데이터용 가중 계수의 최소값을 나타내는 파라미터이다.

또한, 제 1 임계값 TH1 및 제 2 임계값 TH2는 TH1≤TH2의 관계를 만족한다.

또한, 보정 데이터용 가중 계수의 최대값 Kmax 및 보정 데이터용 가중 계수의 최소값 Kmin는 0≤Kmin≤Kmax≤1의 관계를 만족한다.

즉, 가중 계수 생성부(421)는 패턴 유무 평가값이 제 1 임계값보다 작은 경우에는 보정 데이터용 가중 계수의 최소값을 보정 데이터용 가중 계수로서 출력한다.

또한, 가중 계수 생성부(421)는 패턴 유무 평가값이 제 2 임계값보다 큰 경우에는 보정 데이터용 가중 계수의 최대값을 보정 데이터용 가중 계수로서 출력한다.

가중 계수 생성부(421)는, 패턴 유무 평가값이 제 1 임계값 이상 제 2 임계값 이하인 경우에는 보정 데이터용 가중 계수의 최소값으로부터 보정 데이터용 가중 계수의 최대값까지의 사이에 패턴 유무 평가값에 대해 단조 증가하는 값을 보정 데이터용 가중 계수로서 출력한다.

식 (1)의 관계 도 6에 나타내어진다. 도 6은 가중 계수 생성부(421)의 입력과 출력의 관계를 나타내는 도면이다. 가로축은 패턴 유무 평가값 d41을 나타낸다. 세로축은 가중 계수 K44의 값을 나타낸다.

식 (1) 및 도 6에 나타내어지는 가중 계수 생성부(421)의 동작에 대해 설명한다. 또, 검출 인에이블 신호 d2가 '1'인 기간은 자기 패턴 검출을 행하는 기간(자기 패턴 검출의 유효 기간)이다. 또한, 검출 인에이블 신호 d2가 '0'인 기간은 자기 패턴 검출을 행하지 않는 기간(자기 패턴 검출의 무효 기간)이다.

최초로, 검출 인에이블 신호 d2가 '1'일 때에 대해 설명한다.

가중 계수 생성부(421)의 동작에는, 다음의 3가지의 경우가 있다.

제 1 경우로서, 패턴 유무 평가값 d41(j)가 제 1 임계값 TH1보다 작은 경우에는, 가중 계수 생성부(421)는 자기 패턴이 없다고 판단한다. 그리고, 가중 계수 생성부(421)는 보정 데이터용 가중 계수의 최소값 Kmin을 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)로서 출력한다. 또, 「자기 패턴이 없다」란, 자기 패턴에 대응한 신호 성분을 무시할 수 있는 정도밖에 포함되어 있지 않은 것을 말한다.

제 2 경우로서, 패턴 유무 평가값 d41(j)가 제 2 임계값 TH2보다 큰 경우에는, 가중 계수 생성부(421)는 자기 패턴이 있다고 판단한다. 그리고, 가중 계수 생성부(421)는 보정 데이터용 가중 계수의 최대값 Kmax를 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)로서 출력한다. 또, 「자기 패턴이 있다」란, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 많이 포함되어 있는 것을 말한다.

제 3 경우로서, 패턴 유무 평가값 d41(j)가 제 1 임계값 TH1 이상이고 제 2 임계값 TH2 이하인 경우에는, 가중 계수 생성부(421)는 보정 데이터용 가중 계수의 최소값 Kmin으로부터 최대값 Kmax까지의 사이에서 단조 증가하는 특성에 의해 결정되는 값을 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)로서 출력한다.

다음으로, 검출 인에이블 신호 d2가 '0'일 때에 대해 설명한다.

가중 계수 생성부(421)는 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)를 다음 식 (2)에 나타내는 관계에 의해 산출한다.

여기서, Krst는 자기 패턴 검출의 무효 기간에서의 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)의 값을 나타내는 파라미터이다. 값 Krst는 0≤Krst≤Kmin의 관계를 만족한다.

식 (2)에 나타내는 바와 같이, 가중 계수 생성부(421)는 검출 인에이블 신호 d2가 '0'일 때, 패턴 유무 평가값 d41(j)의 값에 의존하지 않고, 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)를 출력한다. 이 때의 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)의 값은 값 Krst이다. 값 Krst는 값 Kmin 이하의 값이다. 검출 인에이블 신호 d2가 '0'일 때는 자기 패턴 검출의 무효 기간이다.

또, 가중 계수 생성부(421)는, 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)와의 합이 1로 되는 검출 데이터용 가중 계수 K3(j)를 다음 식(3)에 나타내는 관계에 의해 산출한다.

상기와 같이, 가중 계수 생성부(421)는, 패턴 유무 평가값 d41(j)가 큰 경우에 커지는 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)와, 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)와의 합이 1로 되는 검출 데이터용 가중 계수 K3(j)를 생성한다.

다음으로, 보정 데이터 연산부(422)는 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 하기의 식 (4)에 따라 가중치 부여 가산한다. 그리고, 보정 데이터 연산부(422)는 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 출력한다. 보정 데이터 연산부(422)는 가중치 부여 가산할 때에, 가중 계수 K3(j), K44(j)를 이용하고 있다.

상기 식 (4)와 같이, 보정 데이터 연산부(422)는 보정 데이터 d44(i)에 보정 데이터용 가중 계수 K44(j)를 곱하고, 검출 데이터 d3(i)에 검출 데이터용 가중 계수 K3(i)를 곱하고, 각각의 승산 결과를 가산(가중치 부여 가산)한다.

파라미터 설정부(423)는 유저가 미리 설정한 파라미터 TH1, TH2, Kmax, Kmin 및 Krst를 유지한다. 그리고, 파라미터 설정부(423)는 파라미터 TH1, TH2, Kmax, Kmin 및 Krst를 가중 계수 생성부(421)에 공급한다. 또, 파라미터 TH1, TH2, Kmax, Kmin 및 Krst를 설정하는 것은 유저에 한정되지 않는다. 생산 라인 등에서, 생산자가 설정할 수도 있다. 즉, 파라미터 TH1, TH2, Kmax, Kmin 및 Krst는 외부로부터 설정된다.

제 1 임계값 TH1 및 제 2 임계값 TH2는 정보 판독 장치의 S/N를 고려하여 미리 정해진다. 이것은 노이즈에 의한 신호의 오판정 또는 신호의 검출 누락이 극력 일어나지 않게 하기 위해서이다.

또한, 보정 데이터용 가중 계수의 최대값 Kmax는 1 또는 1에 가까운 값으로 미리 정해진다. 이것은 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 있다고 판정된 경우의 보정 데이터의 갱신에 있어서, 보정 데이터 d44(i)의 가중치 부여를 크게 하기 위해서이다. 여기서, 「신호 성분이 있다」란, 신호 성분이 충분히 많다고 하는 것이다.

보정 데이터용 가중 계수의 최소값 Kmin은 검출 신호의 레벨 변동의 속도와 신호의 주파수 특성을 고려하여 미리 정해진다. 이것은 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 없다고 판정된 경우의 보정 데이터의 갱신에 있어서, 검출 신호의 레벨의 변동을 반영하면서 검출 신호의 저주파수 성분이 제거되지 않도록 하기 위해서이다. 여기서 「신호 성분이 없다」란, 신호 성분을 무시할 수 있을 정도로 적다고 하는 것이다.

자기 패턴 검출의 무효 기간에서의 보정 데이터용 가중 계수 Krst는 Kmin 이하의 값으로 미리 정해진다. 이것은 보정 데이터에 대한 검출 데이터 d3(i)의 가중치 부여를 보다 크게 하기 위해서이다.

이러한 파라미터는, 예를 들면 유저가 외부로부터 변경하는 것이 가능하도록 구성된다.

보정 데이터 갱신부(42)는 이상의 구성에 의해, 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 출력한다.

보정 데이터 감산부(43)는 보정 데이터 갱신부(42)에 의해 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 검출 데이터 d3(i)로부터 감산한다. 보정 데이터 감산부(43)는 이 감산 결과를 보정 후의 검출 데이터 d43(i)로서 출력한다.

보정 데이터용 라인 메모리(44)는 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 1 검출 라인 La분 유지한다. 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 보정 데이터 갱신부(42)에 의해 갱신된 데이터이다. 보정 데이터용 라인 메모리(44)에 유지된 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 다음의 검출 라인 La의 패턴 유무 평가값 생성부(41) 및 보정 데이터 갱신부(42)의 처리에서 보정 데이터 d44(i)로서 이용된다.

직류 성분 보정부(4)는 이상의 구성에 의해, 보정 후의 검출 데이터 d43(i)를 직류 성분 보정 후의 검출 데이터 d4(i)로서 출력한다.

직류 성분 보정부(4)로부터 출력된 직류 성분 보정 후의 검출 데이터 d4(i)는 신호 조정부(5)에 공급된다. 신호 조정부(5)는, 예를 들면 이득을 조정하는 이득 조정 회로 또는 노이즈 제거를 행하는 노이즈 리덕션 회로를 포함한다. 그리고, 신호 조정부(5)는 보정 후의 검출 데이터 d4(i)에 대해, 이득 조정 또는 노이즈 제거 등의 신호 조정을 행한다. 그 후, 신호 조정부(5)는 조정 후의 검출 데이터 d5(i)를 출력한다.

이하에 있어서, 도 7을 이용하여 본 발명의 실시 형태 1에 따른 정보 판독 장치(100)의 직류 성분 보정부(4)의 동작을 설명한다.

도 7은 직류 성분 보정부(4)의 동작을 나타내는 흐름도이다.

직류 성분 보정부(4)의 처리는 검출 라인 La 단위로 행해진다. 우선, 스텝 S0에 있어서, 검출 데이터 d3(i)가 1 검출 라인 La분 입력된다.

보정 데이터 판독 스텝 S1에 있어서, 보정 데이터용 라인 메모리(44)에 유지되어 있는 1 검출 라인 La분의 보정 데이터 d44(i)가 판독된다.

다음으로, 패턴 유무 판정 스텝 S2에서, 동일한 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차의 절대값의 라인 평균값 MAD(j)를 구한다. 또한, 패턴 유무 판정 스텝 S2에서, 이 라인 평균값 MAD(j)를, 신호 처리를 행하고 있는 검출 라인 La의 패턴 유무 평가값 d41(j)로서 출력한다. 「라인 평균값」이란, 라인 형상으로 배치된 각 검출 소자의 출력에 근거하는 값을 가산하고, 검출 소자의 수로 나눈 값이다. 즉 검출 라인 La에서 검출한 값의 평균값이다.

다음으로, 보정 데이터 갱신 스텝 S3에서, 패턴 유무 평가값 d41(j)에 따른 보정 데이터 d44(i)의 갱신을 행한다. 이 갱신은 신호 처리를 행하고 있는 검출 라인 La 내의 모든 검출 소자에 대해 행해진다.

보정 데이터 갱신 스텝 S3에서는, 우선 가중 계수 생성 스텝 S31에서 패턴 유무 평가값 d41(j) 및 검출 인에이블 신호 d2에 따른 가중 계수 K3(j), K44(j)의 생성을 행한다.

도 8은 가중 계수 생성 스텝 S31의 상세를 나타내는 흐름도이다.

스텝 S310에서 신호 처리를 행하고 있는 검출 라인 La의 검출 인에이블 신호 d2를 체크한다. 그리고, 스텝 S310에서는, 신호 처리를 행하고 있는 검출 라인 La의 검출 인에이블 신호 d2가 '1'(자기 패턴 검출의 유효 기간)인 경우(스텝 S310의 조건 분기에서 예)에는, 스텝 S311로 진행된다. 스텝 S311에서는, 패턴 유무 평가값 d41(j)에 의존한 관계식(식 (1))에 의해 가중 계수 K44(j)를 생성하고, 스텝 S312로 진행된다. 그리고, 다음으로, 스텝 S312에서는, 식 (3)에 의해 가중 계수 K3(j)를 생성한다.

한편, 신호 처리를 행하고 있는 검출 라인 La의 검출 인에이블 신호 d2가 '0'(자기 패턴 검출의 무효 기간)인 경우(스텝 S310의 조건 분기에서 아니오의 경우)에는, 스텝 S313에서 패턴 유무 평가값 d41(j)에 의존하지 않는 관계식(식 (2))에 의해 가중 계수 K44(j)를 생성하고, 스텝 S312로 진행된다. 그 후, 스텝 S312에서는, 식 (3)에 의해 가중 계수 K3(j)를 생성한다.

다시 도 7로 되돌아와 설명한다.

보정 데이터 연산 스텝 S32에서, 식 (4)에 근거하여 생성된 가중 계수 K3(j), K44(j)를 이용해서, 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 가중치 부여 가산한다. 가중치 부여 가산된 값은 갱신된 보정 데이터 d42(i)로서 출력된다.

여기서, 가중치 부여 가산은 동일 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)에 대해 행한다. 상기의 가중치 부여 가산을 1 검출 라인 La 내의 전체 검출 소자(11)에 대해 행함으로써, 보정 데이터 연산 스텝 S32의 1 검출 라인 La분의 처리가 완료된다.

보정 데이터 갱신 스텝 S3에 의해, 1 검출 라인 La분의 보정 데이터가 갱신된 후에, 보정 데이터 기입 스텝 S4에서, 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 보정 데이터용 라인 메모리(44)에 기입한다.

다음으로, 스텝 S5에서, 검출 데이터 d3(i)로부터 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 감산한다. 스텝 S5에서는, 이 감산에 의해 보정 후의 검출 데이터 d4(i)를 구한다. 여기서, 감산은 동일 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 갱신된 보정 데이터 d42(i)에 대해 행한다.

다음으로 스텝 S6에서, 스텝 S5에서 구한 보정 후의 검출 데이터 d4(i)를 출력한다. 상기의 스텝 S6의 처리도 검출 라인 La 단위로 행해진다. 그리고, 스텝 S6에서는, 1 검출 라인 La분의 보정 후의 검출 데이터가 출력된다. 「검출 라인 La 단위」란, 신호 처리되고 있는 검출 라인 La의 모든 검출 소자라는 것이다.

1 검출 라인 La분의 처리가 완료된 경우에는, 스텝 S0으로 되돌아와, 다음의 검출 라인 La의 처리를 개시한다. 전체 검출 라인 La에 대해 동일한 처리가 완료된 경우에는(스텝 S7의 조건 분기에서 예), 처리를 종료한다.

도 1에 파선으로 나타낸 지연부(45)를 더 마련하여도 좋다.

도 1에서는, 보정 데이터 감산부(43)의 입력측에 지연부(45)(파선으로 나타냄)를 마련하고 있다. 즉, 검출 데이터 d3(i)는 지연부(45)를 거쳐서 보정 데이터 감산부(43)에 입력되는 것으로 하여도 좋다. 갱신된 보정 데이터 d42(i)를, 그 갱신을 위해 이용된 검출 데이터 d3(i)로부터 감산하기 위해서이다. 이 경우에는, 지연부(45)에 의한 지연 시간은 패턴 유무 평가값 생성부(41) 및 보정 데이터 갱신부(42)에 의한 처리에 요하는 시간에 상당하는 것으로 한다.

이상이, 본 발명의 실시 형태 1에 따른 정보 판독 장치(100)의 직류 성분 보정부(4)의 동작의 설명이다.

다음으로, 도 9(a)~(d) 및 도 10(a)~(d)를 이용하여 본 발명의 실시 형태 1에 따른 정보 판독 장치의 직류 성분 보정부(4)에 의한 효과를 설명한다.

도 9(a)~(d) 및 도 10(a)~(d)는, 도 2의 지폐(13) 상의 다른 부주사 방향 Y의 라인 MSa, MSb에 대한 데이터의 프로파일을 나타낸다. 도 9(a)~(d) 및 도 10(a)~(d)의 각각의 도면의 가로축은 부주사 방향 Y를 나타내고, 세로축은 신호의 값을 나타내고 있다.

도 9(a) 및 도 10(a)는 각각 부주사 방향 Y의 라인 MSa, MSb에 대한 검출 데이터 d3(i)(i=a, b)를 나타낸다. 도 2에 나타내는 바와 같이, 라인 MSa에 위치하는 검출 소자(11)는 라인 MSb에 위치하는 검출 소자(11)와 다른 검출 소자(11)이다. 즉, 도 9(a) 및 도 10(a)는 다른 검출 소자(11)가 검출한 검출 데이터 d3을 부주사 방향 Y의 위치에 대응하여 나타내고 있다. 이 검출 데이터 d3(i)는 각각 라인 센서(12)가 다른 검출 소자(11(a), 11(b))에 의해 판독된 검출 데이터 d3(i)를 나열한 것이다.

도 9(b) 및 도 10(b)는 부주사 방향 Y의 라인 MSa, MSb에 대한 갱신된 보정 데이터 d42(i)(i=a, b)를 나타내고 있다.

도 9(c) 및 도 9(c)는 부주사 방향 Y의 라인 MSa, MSb에 대한 직류 성분의 보정 후의 검출 데이터 d4(i)(i=a, b)를 나타내고 있다.

도 9(d) 및 도 10(d)은 검출 인에이블 신호 d2를 나타내고 있다.

도 2에 나타내는 부주사 방향 Y의 라인 MSa, MSb에는, 지폐(13)에 자기 잉크가 인쇄됨으로써 자기 패턴이 있는 영역 MG1, MG2가 있다. 도 9(a) 및 도 10(a)에 나타내는 바와 같이, 이러한 영역에 대응한 위치 SG1, SG2에서 자성 패턴에 대응하는 신호 성분이 나타나고 있다.

또한, 부주사 방향 Y의 라인 MSa에서는, 한쪽으로부터 다른쪽으로 향해 검출 신호의 레벨이 서서히 커져 가는 경향이 있다. 부주사 방향 Y의 라인 MSb에서는, 한쪽으로부터 다른쪽을 향해 검출 신호의 레벨이 서서히 작아져 가는 경향이 있다.

여기서, 도 2에서는, 「한쪽으로부터 다른쪽」은 「상단으로부터 하단」이다. 도 9 및 도 10(a)~(d)에서는, 「한쪽으로부터 다른쪽」은 「좌단으로부터 우단」이다.

이와 같이, 검출 소자(11)(자기 센서 소자)의 검출 신호의 레벨은 온도 등에 기인하여, 1매의 지폐의 판독 기간 내에 변동하는 경우가 있다. 또한, 그 검출 신호의 레벨의 변동 양식은 검출 소자(11)마다 상이한 경우가 있다. 이 때문에, 주주사 방향 X의 검출 신호 레벨의 편차는 검출 데이터 d3(i)에 부주사 방향 Y의 줄무늬 형상의 노이즈로서 나타난다.

특허문헌 1에 나타내는 오프셋 보정 방법은, 지폐와 지폐의 사이에서만 오프셋 보정값의 산출을 행하고 있다. 즉, 특허문헌 1에 나타내는 오프셋 보정 방법은 자기 패턴 검출의 무효 기간에 오프셋 보정값의 산출을 행하고 있다. 이 때문에, 1매의 지폐의 판독 기간 내에 출력 레벨이 변동하면, 지폐의 선두 부근에서는 주주사 방향 X의 검출 신호의 레벨의 편차는 억제되어도, 지폐의 후단 부근에서 주주사 방향 X의 출력 레벨의 편차가 생긴다.

여기서, 「지폐의 선두 부근」이란, 판독를 개시했을 때의 지폐의 영역이다. 또한, 「지폐의 선두 부근」이란, 판독를 종료할 때의 지폐의 영역이다. 즉, 특허문헌 1에 나타내는 오프셋 보정 방법은 줄무늬 형상의 노이즈를 충분히 제거할 수 없어, 지폐의 식별 정밀도가 저하하는 과제가 있었다.

본 발명에서는, 상기와 같이, 자기 패턴 검출의 유효 기간 내에, 오프셋 보정값의 갱신을 행함으로써, 상기의 문제의 해결을 도모하고 있다. 오프셋 보정값은 자기 패턴에 대응한 신호 성분의 유무에 따른 가중치 부여로 되어 있다.

이하, 이 점을 설명한다.

도 9(b) 및 도 10(b)에 나타내어지는 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 판독 개시부터 1개 전의 검출 라인 La(주주사 방향 X의 라인)까지의 검출 데이터 d(i)에 근거하여, 그 직류 성분을 구한 결과를 나타낸다.

직류 성분은, 1개 전의 주주사 방향 X의 검출 라인 La와 현재의 주주사 방향 X의 검출 라인 La는 대폭 변화하지 않는다. 이 때문에, 1개 전의 주주사 방향 X의 검출 라인 La와 현재의 주주사 방향 X의 검출 라인 La에서는, 검출 데이터 d3(i)의 직류 성분은 동일하다. 여기서, 「직류 성분」이란, 현재의 주주사 방향 X의 검출 라인 La의 검출 데이터 d3(i)로부터, 자기 패턴에 대응한 신호 성분을 감산한 값이다.

본 실시 형태 1에 따른 정보 판독 장치(100)의 직류 성분 보정부(4)에서는, 검출 인에이블 신호 d2가 '0'(자기 패턴 검출의 무효 기간)에서는, 검출 데이터 d3(i)의 가중치 부여를 크게 하여 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 작성한다. 이것에 의해, 지폐의 판독의 개시점에서는, 갱신된 보정 데이터 d42(i)의 값은 검출 데이터 d3(i)의 값에 일치하고 있다.

이와 같이, 검출 인에이블 신호 d2(i)와 같은 외부 신호에 의해, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 없다는 것을 미리 알고 있는 경우가 있다. 이 경우에는, 보정 데이터 갱신부(42)는, 패턴 유무 평가값 생성부(41)의 패턴 유무 평가값 d41(j)에 의존하지 않고, 검출 데이터 d3(i)의 가중치 부여를 보다 크게 한다. 이것에 의해, 갱신된 보정 데이터 d42(i)의 검출 데이터 d3에 대한 추종성이 향상된다. 그리고, 지폐(13)와 지폐(13) 사이의 짧은 시간에서 보정 데이터 d44(i)의 초기화를 행할 수 있다.

검출 인에이블 신호 d2가 '1'(자기 패턴 검출의 유효 기간)의 기간에 들어가면, 직류 성분 보정부(4)는 패턴 유무 평가값 생성부(41)의 패턴 유무 평가값 d41(j)에 따라 가중 계수를 정한다. 패턴 유무 평가값 d41(j)는 검출 데이터 d3(i)에 자기 패턴이 포함되는 정도를 나타낸다. 직류 성분 보정부(4)는 정해진 가중 계수 K3, K44를 이용하여 보정 데이터의 갱신을 행한다.

즉, 자기 패턴이 없는 경우에는, 직류 성분 보정부(4)는 검출 데이터 d3(i)의 가중치 부여를 크게 하여 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 가중치 부여 가산한다. 그리고, 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 더 갱신한다. 따라서, 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 검출 데이터 d3(i)에 가까운 것으로 된다.

한편, 자기 패턴이 있는 경우에는, 직류 성분 보정부(4)는 보정 데이터 d44(i)의 가중치 부여를 크게 하여 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)를 가중치 부여 가산한다. 그리고, 갱신된 보정 데이터 d42(i)를 더 갱신한다. 따라서, 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 갱신 전의 보정 데이터 d44(i)에 가까운 것으로 된다. 이것은, 과거의 검출 라인 La의 검출 데이터 d3(i)에 근거하여 정해진 보정 데이터 d44(i)를 유지하는 것을 의미한다.

「자기 패턴 있음」과 「자기 패턴 없음」의 중간의 경우에는, 패턴 유무 평가값 d41(j)에 따라, 직류 성분 보정부(4)는 가중 계수 K3(j), K44(j)를 정한다. 「「자기 패턴 있음」과 「자기 패턴 없음」의 중간의 경우」란, 차분 절대값의 라인 평균값 MAD(j)가 임계값 TH1 이상이고 임계값 TH2 이하인 경우를 나타낸다. 「패턴 유무 평가값 d41(j)에 따라」란, 「자기 패턴에 대응한 신호 성분이 포함되는 정도에 따라」라는 의미이다. 직류 성분 보정부(4)는 정해진 가중 계수 K3, K44를 이용하여 갱신된 보정 데이터 d42(i)의 갱신을 행한다.

예를 들면, 신호가 1비트인 경우에는, 이 신호는 2개의 경우 중 한쪽밖에 표현할 수 없다.

예를 들면, 패턴 유무 평가값 d41(j)가 1비트인 경우에는, 「자기 패턴 있음」 또는 「자기 패턴 없음」의 어느 한쪽밖에 나타낼 수 없다. 본 실시 형태 1에서는, 패턴 유무 평가값 d41(j)는 「자기 패턴 있음」 또는 「자기 패턴 없음」의 어느 한쪽밖에 나타내지 않는 값(1비트의 값)은 아니다. 패턴 유무 평가값 d41(j)로서는, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 포함되는 정도에 따라, 연속적으로 변화하는 값을 이용한다. 그리고, 가중 계수 생성부(421)가 패턴 유무 평가값 d41(j)에 대해 연속적으로 변화하는 가중 계수 K44(j), K3(j)를 생성하도록 하였다. 이것에 의해, 직류 성분 보정부(4)는 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 포함되는 정도에 따른 적절한 갱신을 행할 수 있다.

또한, 「자기 패턴 있음」 또는 「자기 패턴 없음」의 어느 하나밖에 없는 경우에는, 양자 사이의 교환 부분에서, 보정 후의 검출 데이터 d4로 나타내어지는 2차원 이미지에 단차가 생길 가능성이 있다. 그러나, 본 실시 형태 1에서는, 패턴의 유무의 정도에 따른 처리를 함으로써, 그러한 단차가 생기기 어려워진다.

도 9(b)에 나타내는 갱신된 보정 데이터 d42(i)를, 도 9(a)에 나타내는 검출 데이터 d3(i)로부터 감산하는 것에 의해서, 도 9(c)에 나타내는 직류 성분 보정 후의 검출 데이터 d4(i)가 얻어진다.

마찬가지로, 도 10(b)에 나타내는 갱신된 보정 데이터 d42(i)를, 도 10(a)에 나타내는 검출 데이터 d3(i)로부터 감산하는 것에 의해서, 도 10(c)에 나타내는 직류 성분 보정 후의 검출 데이터 d4(i)가 얻어진다.

도 9(c) 및 도 10(c)에 나타내는 바와 같이, 직류 성분의 보정 후의 검출 데이터 d4(i)에서는, 영역 MG1, MG2의 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 있는 부분 SG1, SG2에서는, 영역 MG1, MG2의 자기 패턴에 대응한 신호 성분은 소실되어 있지 않다.

또한, 도 9(c) 및 도 10(c)에 나타내는 바와 같이, 보정 후의 검출 데이터 d4(i)는 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 없는 곳(SG1 및 SG2 이외)에서는, 타겟값 TGT의 레벨로 조정되어 있다.

이것에 의해, 직류 성분 보정부(4)는 1매의 지폐 판독 기간 내에 검출 신호의 레벨이 변동하는 경우에도, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 없는 곳에서 주주사 방향 X의 검출 신호의 레벨의 편차를 억제한다. 이것에 의해, 본 발명의 실시 형태 1에 따른 정보 처리 장치(100)는 부주사 방향 Y의 줄무늬 형상의 노이즈를 저감할 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시 형태 1에 의하면, 패턴의 유무에 근거하여 1매의 지폐의 판독 기간 내에 보정 데이터를 갱신할 수 있다. 이 때문에, 본 발명의 실시 형태 1은 각 검출 대상물의 판독 기간 중에 발생하는 검출 신호의 레벨 변동의 영향을 저감할 수 있다. 그리고, 본 발명의 실시 형태 1은 레벨의 편차가 충분히 보정된 검출 데이터를 얻을 수 있다.

신호 처리 장치(4)는 패턴 유무 평가값 생성부(41), 보정 데이터 갱신부(42) 및 보정 데이터 감산부(43)를 구비한다.

패턴 유무 평가값 생성부(41)는 검출 소자(11)에 의해 검출 대상물을 순차적으로 검출하여 얻어진 검출 대상물의 신호 성분을 포함하는 검출 데이터 d3에 근거해서, 검출 데이터 d3 중에 신호 성분이 포함되는 정도를 산출한다.

보정 데이터 갱신부(42)는, 정도가 클수록 상기 검출 소자의 직류 성분을 나타내는 보정 데이터 d44의 가중치 부여를 크게 하고, 정도가 작을수록 검출 데이터 d3의 가중치 부여를 크게 하여, 보정 데이터 d44 및 검출 데이터 d3을 가중치 부여 가산하는 것에 의해, 갱신된 보정 데이터 d42를 생성한다.

보정 데이터 감산부(43)는, 갱신된 보정 데이터 d42를 검출 데이터 d3로부터 감산하여 보정 후의 검출 데이터를 생성한다.

(실시 형태 2)

실시 형태 1에서는, 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 동일한 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차분 절대값의 라인 평균값 MAD(j)를 패턴 유무 평가값 d41(j)로 하고 있다. 실시 형태 2에서는, 패턴 유무 평가값 d41(j)를 다른 방법에 의해 구한다.

실시 형태 1에서 설명한 정보 처리 장치(100)의 구성요소와 동일한 구성요소에는, 동일 부호를 부여하고, 그 설명을 생략한다. 실시 형태 1과 동일한 구성요소는 검출 데이터 생성부(10)(패턴 검출부(1) 및 A/D 변환부(3)), 검출 인에이블 작성부(2), 보정 데이터 갱신부(42), 보정 데이터용 라인 메모리(44), 보정 데이터 감산부(43), 지연부(45), 시스템 제어부(6) 및 신호 조정부(5)이다. 또한, 정보 처리 장치도 실시 형태 1과 동일한 부호 100을 이용하여 설명한다.

예를 들면, 실시 형태 2에서는, 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 동일한 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차분의 라인내 표준 편차 s(j)를 패턴 유무 평가값 d41(j)로 한다.

라인내 표준 편차 s(j)는 하기 식 (5)로 구할 수 있다.

식 (5)에서 하기와 같이 정한다.

d3(i)는 각 검출 라인 La 중의 i번째의 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터이다.

d44(i)는 동일한 i번째의 검출 소자(11)에 대한 보정 데이터이다.

I는 검출 라인 La 내의 검출 소자(11)의 총수이다.

상기의 경우에는, 정보 판독 장치(100)의 정보의 판독에 앞서, 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 노이즈의 표준 편차를 산출한다. 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 산출한 노이즈의 표준 편차를 상기의 제 1 임계값 TH1로서 이용한다.

정보 판독 장치(100)의 정보의 판독 동작 중에, 라인내 표준 편차 s(j)가 임계값 TH1 이상인 경우에는, 이 검출 라인 La에 포함되는, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 많다고 추정할 수 있다.

또한, 정보 판독 장치(100)의 정보의 판독 동작 중에, 라인내 표준 편차 s(j)가 임계값 TH1보다 작은 경우에는, 이 검출 라인 La에 포함되는, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 적다고 추정할 수 있다.

표준 편차는 노이즈 레벨의 평가에 잘 이용된다. 그러나, 라인내 표준 편차 s(j)를 패턴 유무 평가값 d41(j)로서 구함으로써, 노이즈에 의한 검출 신호의 레벨의 편차를 고려한 패턴 유무 판정의 임계값 TH1의 설정이 용이해진다.

(실시 형태 3)

실시 형태 1에서는, 패턴 유무 평가값 생성부(41)에 의한 패턴 유무의 판정과 보정 데이터 갱신부(42)에 의한 가중 계수 K3, K44의 생성을 검출 라인 La마다 행하는 것으로 하고 있었다. 그러나, 실시 형태 3에서는, 패턴 유무의 판정 및 가중 계수 K3, K44의 생성을 검출 소자(11)마다 행한다.

이 경우에는, 도 1의 직류 성분 보정부(4) 대신에, 도 11에 나타내는 직류 성분 보정부(4b)를 이용한다. 또한, 도 5의 보정 데이터 갱신부(42) 대신에, 도 12에 나타내는 보정 데이터 갱신부(42b)를 이용한다.

도 11은 정보 판독 장치(110)를 나타내는 블럭도이다. 도 12는 보정 데이터 갱신부(42b)의 구성예를 나타내는 블럭도이다. 실시 형태 1에서 설명한 정보 처리 장치(100)의 구성요소와 동일한 구성요소에는, 동일 부호를 부여하고, 그 설명을 생략한다. 실시 형태 1과 동일한 구성요소는 검출 데이터 생성부(10)(패턴 검출부(1) 및 A/D 변환부(3)), 검출 인에이블 작성부(2), 보정 데이터용 라인 메모리(44), 지연부(45), 시스템 제어부(6) 및 신호 조정부(5)이다.

도 11 및 도 12에 나타내는 구성은 도 1 및 도 5와 블록 구성 및 입출력 관계가 거의 동일하지만, 이하의 점이 다르다.

실시 형태 1의 패턴 유무 평가값 생성부(41)는 동일한 검출 소자에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차분 절대값의 라인 평균값 MAD(j)를 패턴 유무 평가값 d41(j)로서 출력하고 있다.

한편, 패턴 유무 평가값 생성부(41b)는 동일한 검출 소자(11)에 대한 검출 데이터 d3(i)와 보정 데이터 d44(i)의 차분 절대값을 이 검출 소자(11)의 패턴 유무 평가값 d41(i)로서 출력한다.

실시 형태 1의 보정 데이터 갱신부(42)의 가중 계수 생성부(421)는 검출 라인 La마다의 패턴 유무 평가값 d41(i)에 따라 보정 데이터용 가중 계수 K44(i)와 검출 데이터용 가중 계수 K3(i)를 검출 라인 La마다 생성한다.

한편, 보정 데이터 갱신부(42b)의 가중 계수 생성부(421b)는 검출 소자(11)마다의 패턴 유무 평가값 d41(i)에 따라 보정 데이터용 가중 계수 K44(i)와 검출 데이터용 가중 계수 K3(i)를 검출 소자(11)마다 생성한다.

실시 형태 1의 보정 데이터 연산부(422)는 검출 라인 La마다 생성된 가중 계수 K44(j), K3(j)를 이용하여 연산을 행한다. 상기의 연산은 보정 데이터 d44(i)에 가중 계수 K44의 가중치를 부여하고, 검출 데이터 d3(i)에 가중 계수 K3(j)의 가중치를 부여하고, 이들 가중치 부여된 데이터를 가산하는 것이다.

한편, 보정 데이터 연산부(422b)는 검출 소자(11)마다 다른 가중 계수 K44(i), K3(i)를 이용하여 연산을 행한다. 가중 계수 K44(i), K3(i)가 검출 소자(11)마다 다른 점이 실시 형태 1과의 차이이다. 그러나, 가중 계수 K44(i), K3(i)를 이용한 연산은 실시 형태 1과 동일하다. 보정 데이터 연산부(422b)는 연산되어, 갱신된 보정 데이터 d42(i)가 구해진다.

이상과 같이, 보정 데이터 갱신부(42b)가 검출 소자(11)마다 가중 계수 K3, K44를 정함으로써, 검출 라인 La의 일부의 영역만으로부터 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 얻어진 경우에도, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 얻어진 영역과 그 이외의 영역에서, 보정 데이터의 갱신 방법을 바꿀 수 있다.

즉, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 얻어진 영역이 검출 라인 La의 일부에서 차지하지 않는 경우에는, 검출 라인 La마다의 판단에서는, 이 검출 라인 La는 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 조금밖에 포함되지 않는다고 판단된다. 이 경우에는, 보정 데이터에 대한 가중치 부여를 크게 하여 보정 데이터의 갱신을 행하게 된다.

그러나, 그러한 갱신은 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 많이 포함되는 부분에는 적절하지 않다.

도 2를 이용하여 설명한다. 예를 들면, 지폐(13)의 검출 라인 La 상에는, 자기 패턴이 있는 영역 MG3이 위치하고 있다. 그러나, 검출 라인 La의 전체에서는, 영역 MG3의 개소가 차지하는 비율이 작다.

이 때문에, 실시 형태 1의 방법으로 패턴 유무의 평가를 행한 경우에는, 검출 라인 La에, 자기 패턴이 있다는(TH2보다 크다는) 판단이 되지 않는다. 그 결과로서, 자기 패턴이 있는 영역 MG3에 대해 적절한 처리가 이루어지지 않는다. 영역 MG3은 신호 성분이 많이 포함되는 부분이다.

이것에 대해, 실시 형태 3에서는, 검출 소자(11)마다 패턴 성분의 유무를 판단한다. 따라서, 영역 MG3에 대응하는 부분의 검출 소자(11)에 대해서는, 자기 패턴에 대응한 신호 성분이 포함되는 정도가 큰 경우에 자기 패턴이 있다고 하여 처리된다. 영역 MG3에 대응하는 부분 이외의 검출 소자(11)에 대해서는, 자기 패턴이 없다고 하여 처리된다.

따라서, 자기 패턴이 있는 개소(영역 MG3)에서는, 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 과거의 검출 라인 La의 검출 데이터 d3(i)에 근거하여 정해진 보정 데이터 d44(i)에 가까운 값으로 된다.

자기 패턴이 없는 개소(영역 MG3 이외의 영역)에서는, 갱신된 보정 데이터 d42(i)는 검출 데이터 d3(i)에 가까운 값으로 된다.

이렇게 해서 구해진 갱신된 보정 데이터 d42(i)를, 검출 데이터 d3(i)로부터 감산하는 것에 의해서, 직류 성분의 보정 후의 검출 데이터 d4(i)가 얻어진다.

이상에 의해, 실시 형태 3에 따른 정보 판독 장치(110)는 자기 패턴이 있는 곳(영역 MG3)에서는, 자기 패턴에 대응한 신호 성분을 소실하지 않는다. 또한, 정보 판독 장치(110)는, 자기 패턴이 없는 곳(영역 MG3 이외의 영역)에서는, 타겟값 TGT의 레벨로 조정되어, 보정된 검출 데이터 d4(i)를 얻는다.

또, 실시 형태 2 및 3에서, 상기한 부분 이외의 구성은 실시 형태 1과 동일하게 할 수 있다.

또한, 실시 형태 1~3에서는, 자기 패턴 검출의 무효 기간에는, 그것을 나타내는 외부로부터의 신호를 정하고 있다. 이 「외부로부터의 신호」란, 검출 인에이블 신호 d2에 근거한 가중 계수 K4(j), K42(j)이다. 그러나, 자기 패턴 검출의 무효 기간에서도, 보정 데이터 d44(i) 및 검출 데이터 d3(i)에 근거하여, 가중 계수 K4(j), K42(j)를 정해도 좋다.

또한, 실시 형태 1에서, 반송 벨트(14)에 의해 지폐(13)를 이동시키는 것으로 하여 설명하였다. 그러나, 반송 벨트(14) 대신에, 라인 센서(12)를 이동시켜도 좋다. 요컨대, 검출 대상물과 라인 센서(12) 사이에 상대적 이동을 생기게 하면 되고, 상대적 이동을 생기게 하기 위한 수단을 마련하면 좋다.

실시 형태 2 및 3에서도 마찬가지이다.

또, 상술한 각 실시 형태에서, 검출 대상물이 지폐인 경우에 대해 설명하였다. 그러나, 본 발명은 검출 대상물이 지폐 이외의 지엽류인 경우에도 적용할 수 있다. 또, 상기의 지엽류는, 지엽류와 같은 형상이면, 재질을 종이에 한정하는 것은 아니다.

또한, 본 발명을, 자기 패턴을 검출하는 장치에 적용하는 경우에 대해 설명하였다. 그러나, 본 발명은, 자기 패턴 이외의 이미지 패턴을 검출하는 장치에도 적용 가능하다. 또, 상기의 이미지 패턴은, 이미지 패턴과 동일한 패턴이면, 이미지 패턴에 한정하는 것은 아니다. 예를 들면, 본 발명은 복수의 수광 소자를 가지는 이미지 센서 장치에도 적용 가능하다.

이상 본 발명을 정보 판독 장치로서 설명했지만, 정보 판독 장치의 일부를 이루는 신호 처리 장치 및 신호 처리 장치에서 실행되는 신호 처리 방법도 또한 본 발명의 일부를 이룬다.

또, 이상과 같이 본 발명의 실시 형태에 대해 설명했지만, 본 발명은 이러한 실시 형태에 한정되는 것은 아니다.

1: 패턴 검출부
2: 검출 인에이블 작성부
3: A/D 변환부
4, 4b: 직류 성분 보정부
5: 신호 조정부
6: 시스템 제어부
11: 자기 센서
12: 라인 센서
13: 지폐
21: 지폐 검출기
41, 41b: 패턴 유무 평가값 생성부
42, 42b: 보정 데이터 갱신부
43, 43b: 보정 데이터 감산부
44: 보정 데이터용 라인 메모리
421, 421b: 가중 계수 생성부
422, 422b: 보정 데이터 연산부
423: 파라미터 설정부

Claims (12)

1. 검출 소자에 의해 검출 대상물을 순차적으로 검출하여 얻어진 상기 검출 대상물의 신호 성분을 포함하는 검출 데이터에 근거하여, 상기 검출 데이터 중에 상기 신호 성분이 포함되는 정도를 산출하는 패턴 유무 평가값 생성부와,
   상기 정도가 클수록 상기 검출 소자의 직류 성분을 나타내는 보정 데이터의 가중치 부여를 크게 하고, 상기 정도가 작을수록 상기 검출 데이터의 가중치 부여를 크게 하고, 상기 보정 데이터 및 상기 검출 데이터를 가중치 부여 가산하는 것에 의해, 갱신된 보정 데이터를 생성하는 보정 데이터 갱신부와,
   상기 갱신된 보정 데이터를 상기 검출 데이터로부터 감산하여 보정 후의 검출 데이터를 생성하는 보정 데이터 감산부
   를 가지는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 보정 데이터 갱신부는,
   상기 검출 데이터 중의 상기 신호 성분이 클수록 커지는 계수로서, 0 이상이고 1 이하인 값을 취하는 보정 데이터용 가중 계수 및 상기 보정 데이터용 가중 계수와의 합이 1로 되는 검출 데이터용 가중 계수를 생성하는 가중 계수 생성부와,
   상기 보정 데이터에 상기 보정 데이터용 가중 계수를 곱한 값 및 상기 검출 데이터에 상기 검출 데이터용 가중 계수를 곱한 값을 가산하는 보정 데이터 연산부를 가지는 것
   을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 패턴 유무 평가값 생성부는 상기 정도를 나타내는 패턴 유무 평가값을 생성하고,
   상기 보정 데이터 갱신부는,
   제 1 임계값, 제 2 임계값, 상기 보정 데이터용 가중 계수의 최대값 및 상기 보정 데이터용 가중 계수의 최소값을 설정하는 파라미터 설정부를 더 가지며,
   상기 가중 계수 생성부는,
   상기 패턴 유무 평가값이 상기 제 1 임계값보다 작은 경우에는 상기 보정 데이터용 가중 계수의 최소값을 상기 보정 데이터용 가중 계수로서 출력하고,
   상기 패턴 유무 평가값이 상기 제 2 임계값보다 큰 경우에는 상기 보정 데이터용 가중 계수의 최대값을 상기 보정 데이터용 가중 계수로서 출력하고,
   상기 패턴 유무 평가값이 상기 제 1 임계값 이상이고 상기 제 2 임계값 이하인 경우에는 상기 보정 데이터용 가중 계수의 최소값으로부터 상기 보정 데이터용 가중 계수의 최대값까지의 사이에서 상기 패턴 유무 평가값에 대해 단조 증가하는 값을 상기 보정 데이터용 가중 계수로서 출력하는 것
   을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
4. 제 3 항에 있어서,
   상기 패턴 유무 평가값 생성부는 상기 패턴 유무 평가값을 검출 소자마다 구하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 보정 데이터를 일시적으로 유지하는 보정 데이터용 메모리를 더 가지며,
   상기 패턴 유무 평가값 생성부는 상기 검출 데이터와 상기 보정 데이터용 메모리에 유지되어 있는 데이터의 차분 절대값을 상기 패턴 유무 평가값으로서 출력하는 것
   을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
6. 제 1 항에 있어서,
   상기 검출 데이터의 유효 기간 또는 무효 기간을 판단하는 검출 인에이블 신호를 더 받고,
   상기 보정 데이터 갱신부는,
   상기 검출 데이터의 유효 기간에서는, 상기 가중치 부여 가산하고,
   상기 검출 데이터의 무효 기간에서는, 상기 패턴 유무 평가값에 의존하지 않고, 상기 검출 데이터의 가중치 부여를 크게 하여 상기 가중치 부여 가산하는 것
   을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 센서는 라인 센서이고, 상기 보정 데이터용 메모리는 상기 보정 데이터를 1 라인분 유지하는 것
   을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 센서는 자계의 변화를 검출하는 자기 센서인 것
   을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
   
9. 검출 소자에 의해 검출 대상물을 순차적으로 검출하여 얻어진 상기 검출 대상물의 신호 성분을 포함하는 검출 데이터를 입력받고, 상기 검출 데이터 중에 상기 신호 성분이 포함되는 정도를 산출하는 패턴 유무 평가값 생성 스텝과,
   상기 정도가 클수록 상기 검출 소자의 직류 성분을 나타내는 보정 데이터의 가중치 부여를 크게 하고, 상기 정도가 작을수록 상기 검출 데이터의 가중치 부여를 크게 하고, 상기 보정 데이터 및 상기 검출 데이터를 가중치 부여 가산하는 것에 의해, 갱신된 보정 데이터를 생성하는 보정 데이터 갱신 스텝과,
   상기 갱신된 보정 데이터를 상기 검출 데이터로부터 감산하여 보정 후의 검출 데이터를 생성하는 보정 데이터 감산 스텝
   을 가지는 것을 특징으로 하는 신호 처리 방법.
   
10. 검출 대상물 및 센서가 상대적으로 이동함으로써, 상기 센서가 검출한 상기 검출 대상물이 가지는 패턴을 검출 데이터로서 출력하는 검출 데이터 생성부와,
    상기 검출 데이터를 처리하여 상기 보정 후의 검출 데이터를 출력하는 청구항 1 내지 5 중 어느 한 항에 기재된 신호 처리 장치
    를 가지는 것을 특징으로 하는 정보 판독 장치.
    
11. 검출 대상물 및 센서가 상대적으로 이동함으로써, 상기 센서가 검출한 상기 검출 대상물이 가지는 패턴을 검출 데이터로서 출력하는 검출 데이터 생성부와,
    상기 검출 데이터의 유효 기간인지 무효 기간인지를 판단하는 검출 인에이블 신호를 출력하는 검출 인에이블 작성부와,
    상기 검출 데이터를 처리하여 상기 보정 후의 검출 데이터를 출력하는 청구항 6에 기재된 신호 처리 장치
    를 가지는 것을 특징으로 하는 정보 판독 장치.
    
12. 제 1 항에 있어서,
    상기 갱신된 보정 데이터를 일시적으로 유지하는 보정 데이터용 메모리를 더 가지며,
    상기 패턴 유무 평가값 생성부는, 상기 검출 데이터에 부가하여, 상기 보정 데이터용 메모리의 출력 신호에 근거해서, 상기 검출 데이터 중에 상기 신호 성분이 포함되는 정도를 산출하고,
    상기 보정 데이터 갱신부는 상기 보정 데이터용 메모리의 출력 신호를 판독하여 상기 보정 데이터로서 입력하는 것
    을 특징으로 하는 신호 처리 장치.

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