KR20140030682A - 표시 장치 및 마더 기판 - Google Patents

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Abstract

이미지를 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역과 이웃하는 비표시 영역을 포함하는 표시 장치는 상기 비표시 영역에 위치하며, 각각이 서로 다른 형태를 가지는 복수의 테스트 패드를 포함하는 태그(TEG, test element group)를 포함한다.

Description

표시 장치 및 마더 기판{DISPLAY DEVICE AND MOTHER SUBSTRATE}
본 발명은 표시 장치 및 마더 기판에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 태그(TEG, test element group)을 포함하는 표시 장치 및 마더 기판에 관한 것이다.
표시 장치의 제조 공정은 각 공정들의 진행 결과가 바람직한 것인가를 확인하기 위해 각 공정 결과물의 두께, 저항, 농도, 오염의 정도, 임계치수 및 소자의 전기적인 특성 등을 측정해야 하는데, 그 측정 과정에서 소자에 손상을 입히는 이유 때문에 공정 특성상 실제 기판을 대상으로 모니터링을 할 수 없는 경우가 있다.
이러한 경우에는 소자들이 형성된 기판의 특정 부분이나, 별도의 블랭크(blank) 영역에 태그(Test Element Group, TEG)라는 패턴을 형성하여 실제 소자들이 형성된 기판에서 행하는 공정을 똑같이 수행한 후에, 태그에 포함된 복수의 테스트 패드에 측정 장비를 접촉시켜 해당 공정을 평가한다.
그런데, 종래의 표시 장치는 태그에 포함된 복수의 테스트 패드가 동일한 형태를 가짐으로써, 각 테스트 패드가 어떤 소자에 연결된 것인지 직관적으로 구별하기 어려운 문제점이 있었다.
본 발명의 일 실시예는 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 직관적으로 구별할 수 있는 복수의 테스트 패드를 가지는 태그를 포함하는 표시 장치 및 마더 기판을 제공하고자 한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 제1 측면은 이미지를 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역과 이웃하는 비표시 영역을 포함하는 표시 장치에 있어서, 상기 비표시 영역에 위치하며, 각각이 서로 다른 형태를 가지는 복수의 테스트 패드를 포함하는 태그(TEG, test element group)를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
상기 태그는 테스트 소스 전극, 테스트 게이트 전극 및 테스트 드레인 전극을 포함하는 테스트 박막 트랜지스터를 더 포함하며, 상기 복수의 테스트 패드는, 상기 테스트 소스 전극과 연결된 제1 테스트 패드, 상기 제1 테스트 패드와 다른 형태를 가지며, 상기 테스트 게이트 전극과 연결된 제2 테스트 패드, 및 상기 제2 테스트 패드와 다른 형태를 가지며, 상기 테스트 드레인 전극과 연결된 제3 테스트 패드를 포함할 수 있다.
상기 제1 테스트 패드, 상기 제2 테스트 패드 및 상기 제3 테스트 패드 중 어느 하나의 모서리는 직각 형태이고, 다른 하나의 모서리는 곡선 형태이며, 또 다른 하나의 모서리는 모따기 형태일 수 있다.
상기 제1 테스트 패드, 상기 제2 테스트 패드 및 상기 제3 테스트 패드 중 어느 하나는 원형 형태이고, 다른 하나는 삼각형 형태이고, 또 다른 하나는 사각형 형태일 수 있다.
상기 표시 영역에 위치하며, 상기 테스트 박막 트랜지스터와 동일한 공정에 형성되는 구동 박막 트랜지스터 및 상기 구동 박막 트랜지스터와 연결된 유기 발광 소자를 포함하는 표시부를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 제2 측면은 이미지를 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역과 이웃하는 비표시 영역을 포함하며, 상호 이격된 복수의 표시 셀, 및 이웃하는 상기 표시 셀 사이에 위치하며, 각각이 서로 다른 형태를 가지는 복수의 테스트 패드를 포함하는 태그(TEG, test element group)를 포함하는 마더 기판을 제공한다.
상술한 본 발명의 과제 해결 수단의 일부 실시예 중 하나에 의하면, 직관적으로 구별할 수 있는 복수의 테스트 패드를 가지는 태그를 포함하는 표시 장치 및 마더 기판이 제공된다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 표시부의 화소를 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 태그를 나타낸 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치의 태그를 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 마더 기판을 나타낸 평면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 제1 실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 제1 실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 상에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서, "~상에"라 함은 대상 부분의 위 또는 아래에 위치함을 의미하는 것이며, 반드시 중력 방향을 기준으로 상 측에 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.
또한, 첨부 도면에서는, 하나의 화소에 두개의 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)와 하나의 축전 소자(capacitor)를 구비하는 2Tr-1Cap 구조의 능동 구동(active matrix, AM)형 유기 발광 표시 장치를 도시하고 있지만, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 따라서 유기 발광 표시 장치는 하나의 화소에 셋 이상의 박막 트랜지스터와 둘 이상의 축전 소자를 구비할 수 있으며, 별도의 배선이 더 형성되어 다양한 구조를 갖도록 형성할 수도 있다. 여기서, 화소는 화상을 표시하는 최소 단위를 말하며, 유기 발광 표시 장치는 복수의 화소들을 통해 화상을 표시한다.
이하, 도 1 내지 도 3을 참조하여 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치(1000)를 설명한다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 이미지(image)를 표시하는 표시 영역(DA) 및 표시 영역(DA)과 이웃하는 비표시 영역(NDA)을 포함한다.
표시 장치(1000)는 제1 기판(100), 표시부(200), 구동 회로부(300), 제2 기판(400) 및 태그(500)를 포함한다.
제1 기판(100)은 글라스(glass) 등의 무기 재료, 금속 재료, 수지(resin) 등의 유기 재료 등으로 이루어질 수 있다. 제1 기판(100)은 투광성 또는 차광성일 수 있으며, 플렉서블(flexible)한 특성을 가질 수 있다. 제1 기판(100) 상에는 표시부(200)가 위치하고 있다.
표시부(200)는 제1 기판(100) 상에서 표시 영역(DA)에 위치하고 있으며, 복수의 화소(P)를 통해 이미지(image)를 표시한다. 표시부(200)에 의해 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)이 정의될 수 있다. 여기서, 화소란 이미지를 표시하는 최소 단위를 의미한다.
도 2는 도 1에 도시된 표시부의 화소를 나타낸 회로도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 화소(P)는 2개 이상의 구동 박막 트랜지스터(T1, T2), 하나 이상의 캐패시터(C) 및 유기 발광 소자(OLED)를 포함한다. 구동 박막 트랜지스터는 기본적으로 제1 박막 트랜지스터(T1)와 제2 박막 트랜지스터(T2)를 포함한다.
제1 박막 트랜지스터(T1)는 스캔 라인(SL)과 데이터 라인(DL)에 연결되고, 스캔 라인(SL)에 입력되는 스위칭 전압에 따라 데이터 라인(DL)에서 입력되는 데이터 전압을 제2 박막 트랜지스터(T2)로 전송한다. 캐패시터(C)는 제1 박막 트랜지스터(T1)와 구동 전원 라인(VDD)에 연결되며, 제1 박막 트랜지스터(T1)로부터 전송받은 전압과 구동 전원 라인(VDD)에 공급되는 전압의 차이에 해당하는 전압을 저장한다.
제2 박막 트랜지스터(T2)는 구동 전원 라인(VDD)과 캐패시터(C)에 연결되어 캐패시터(C)에 저장된 전압과 문턱 전압의 차이의 제곱에 비례하는 출력 전류(IOELD)를 유기 발광 소자(OLED)로 공급하고, 유기 발광 소자(OLED)는 출력 전류(IOLED) 및 공통 전원 라인(VSS)으로부터 공급된 전류에 의해 발광한다.
다시, 도 1을 참조하면, 구동 회로부(300)는 제1 기판(100) 상에 형성되어 있으며, 표시부(200)와 이웃하여 제1 기판(100) 상에 위치하고 있다. 구동 회로부(300)는 제1 기판(100) 상에서 단부 측에 위치하고 있다. 구동 회로부(300)는 표시부(200)와 연결되어 있으며, 구동 회로부(300)에는 연성 인쇄 회로 기판(flexible printed circuit board, FPCB)이 접속될 수 있다. 연성 인쇄 회로 기판을 통해 외부로부터 구동 회로부(300)로 표시부(200)의 구동을 위한 구동 신호가 공급되며, 구동 회로부(300)를 통해 구동 신호가 표시부(200)로 공급된다. 구동 회로부(300)에는 구동 회로칩이 실장될 수 있다. 여기서, 구동 신호는 상술한 구동 전원 라인(VDD), 공통 전원 라인(VSS), 스캔 라인(SL), 데이터 라인(DL) 등 각각으로 공급되는 신호를 의미한다.
제2 기판(400)은 표시부(200)를 사이에 두고 제1 기판(100)과 대향하도록 제1 기판(100) 상에 위치하고 있다. 제2 기판(400)은 글라스(glass) 등의 무기 재료, 금속 재료, 수지(resin) 등의 유기 재료 등으로 이루어질 수 있다. 제2 기판(400)은 투광성 또는 차광성일 수 있으며, 플렉서블(flexible)한 특성을 가질 수 있다. 제2 기판(400)에 의해 표시부(200)가 커버(cover)되는 동시에 구동 회로부(300) 및 태그(500)가 노출될 수 있다.
태그(500)는 비표시 영역(NDA)에 위치하고 있다.
도 3은 도 1에 도시된 태그를 나타낸 평면도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 태그(500)는 테스트 박막 트랜지스터(510) 및 테스트 박막 트랜지스터(510)에 연결된 복수의 테스트 패드(520)를 포함한다.
테스트 박막 트랜지스터(510)는 표시부(200)의 구동 박막 트랜지스터(T1, T2)와 동일한 공정에 의해 형성된다. 테스트 박막 트랜지스터(510)는 복수개가 행렬 형태로 배치될 수 있다. 테스트 박막 트랜지스터(510)는 테스트 반도체층(511), 테스트 반도체층(511)과 일부 중첩하고 있으며 게이트 신호를 전달하는 테스트 게이트 전극(512), 테스트 반도체층(511)의 소스 영역 및 드레인 영역과 각각 연결되어 있는 테스트 소스 전극(513) 및 테스트 드레인 전극(514)을 포함한다.
복수의 테스트 패드(520)는 테스트 소스 전극(513)에 연결된 제1 테스트 패드(521), 테스트 게이트 전극(512)에 연결된 제2 테스트 패드(522), 및 테스트 드레인 전극(514)에 연결된 제3 테스트 패드(523)를 포함한다.
제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각은 서로 다른 형태를 가지고 있으며, 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 중 어느 하나의 모서리는 직각 형태이고, 다른 하나의 모서리는 곡선 형태이며, 또 다른 하나의 모서리는 모따기 형태일 수 있다.
일례로, 제1 테스트 패드(521)의 모서리는 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523)와는 다르게 곡선 형태를 가지고, 제2 테스트 패드(522)의 모서리는 제1 테스트 패드(521) 및 제3 테스트 패드(523)와는 다르게 직각 형태를 가지며, 제3 테스트 패드(523)의 모서리는 제1 테스트 패드(521) 및 제2 테스트 패드(522)와는 다르게 모따기 형태를 가지고 있다.
한편, 본 발명의 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각은 전체적으로 사각형 형태를 가지나, 본 발명의 다른 실시예에 따른 제1 테스트 패드, 제2 테스트 패드 및 제3 테스트 패드는 한번 이상 절곡된 라인(line) 형태를 가질 수 있으며, 라인 형태를 가지는 제1 테스트 패드, 제2 테스트 패드 및 제3 테스트 패드 각각의 단부 측 모서리가 곡선 형태, 직각 형태, 모따기 형태 각각을 가질 수 있다.
제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각은 테스트 소스 전극(513), 테스트 게이트 전극(512) 및 테스트 드레인 전극(514) 각각과 동일한 재료로 이루어져 동일한 층에 위치하거나 또는 다른 재료로 이루어져 다른 층에 위치할 수 있다.
제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각에는 테스트 박막 트랜지스터(510)의 특성을 측정하기 위한 프로브(probe)가 접촉할 수 있으며, 이 프로브를 이용하여 제2 테스트 패드(522)에 게이트 신호를 입력하고, 제1 테스트 패드(521) 및 제3 테스트 패드(523) 각각으로 흐르는 데이터 신호를 측정하여 테스트 박막 트랜지스터(510)의 전기적 특성을 파악하여 표시부(200)에 포함된 구동 박막 트랜지스터(T1, T2)의 전기적 특성을 파악할 수 있다.
한편, 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치(1000)의 복수의 테스트 패드(520)는 테스트 박막 트랜지스터(510)에 연결되어 있으나, 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 복수의 테스트 패드는 테스트 캐패시터에 연결될 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각이 서로 다른 형태를 가짐으로써, 검사자가 프로브를 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각에 접촉할 때, 직관적으로 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각이 테스트 소스 전극(513), 테스트 게이트 전극(512) 및 테스트 드레인 전극(514) 각각에 연결된 것을 직관적으로 구별할 수 있다.
이로 인해, 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 사용자가 태그(500)를 테스트할 때, 프로브를 접촉할 위치를 바로 파악하여 테스트를 빠르고 정확하게 수행할 수 있다.
또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 어떠한 공통된 규약으로 복수의 테스트 패드(520) 각각의 형태를 설정하면, 태그(500)의 설계자와 태그(500)의 이용자 간의 의사 소통을 원활하게 이룰 수 있음으로써, 태그(500)의 구조가 변경될 때마다 태그(500)의 이용자들이 추가적인 교육 없이 태그(500)에 포함된 복수의 테스트 패드(520) 각각을 구별할 수 있다.
이하, 도 4를 참조하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치를 설명한다.
이하, 제1 실시예와 구별되는 특징적인 부분만 발췌하여 설명하며, 설명이 생략된 부분은 제1 실시예에 따른다. 그리고, 본 발명의 제2 실시예에서는 설명의 편의를 위하여 동일한 구성요소에 대하여는 본 발명의 제1 실시예와 동일한 참조번호를 사용하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치의 태그를 나타낸 평면도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치의 태그(502)의 복수의 테스트 패드(520)는 테스트 소스 전극(513)에 연결된 제1 테스트 패드(521), 테스트 게이트 전극(512)에 연결된 제2 테스트 패드(522), 및 테스트 드레인 전극(514)에 연결된 제3 테스트 패드(523)를 포함한다.
제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각은 서로 다른 형태를 가지고 있으며, 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 중 어느 하나는 원형 형태이고, 다른 하나는 삼각형 형태이며, 또 다른 하나는 사각형 형태일 수 있다.
일례로, 제1 테스트 패드(521)는 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523)와는 다르게 원형 형태를 가지고, 제2 테스트 패드(522)는 제1 테스트 패드(521) 및 제3 테스트 패드(523)와는 다르게 삼각형 형태를 가지며, 제3 테스트 패드(523)는 제1 테스트 패드(521) 및 제2 테스트 패드(522)와는 다르게 사각형 형태를 가지고 있다.
제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각은 테스트 소스 전극(513), 테스트 게이트 전극(512) 및 테스트 드레인 전극(514) 각각과 동일한 재료로 이루어져 동일한 층에 위치하거나 또는 다른 재료로 이루어져 다른 층에 위치할 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치는 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각이 서로 다른 형태를 가짐으로써, 검사자가 프로브를 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각에 접촉할 때, 직관적으로 제1 테스트 패드(521), 제2 테스트 패드(522) 및 제3 테스트 패드(523) 각각이 테스트 소스 전극(513), 테스트 게이트 전극(512) 및 테스트 드레인 전극(514) 각각에 연결된 것을 직관적으로 구별할 수 있다.
이로 인해, 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치는 사용자가 태그(502)를 테스트할 때, 프로브를 접촉할 위치를 바로 파악하여 테스트를 빠르고 정확하게 수행할 수 있다.
이하, 본 발명의 제3 실시예에 따른 마더 기판을 설명한다.
이하, 제1 실시예 또는 제2 실시예와 구별되는 특징적인 부분만 발췌하여 설명하며, 설명이 생략된 부분은 제1 실시예 또는 제2 실시예에 따른다. 그리고, 본 발명의 제3 실시예에서는 설명의 편의를 위하여 동일한 구성요소에 대하여는 본 발명의 제1 실시예 또는 제2 실시예와 동일한 참조번호를 사용하여 설명한다.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 마더 기판을 나타낸 평면도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제3 실시예에 따른 마더 기판(10)은 이미지(image)를 표시하는 표시 영역(DA) 및 표시 영역(DA)과 이웃하는 비표시 영역(NDA)을 포함하며, 상호 이격된 복수의 표시 셀(1003)을 포함한다. 각각의 표시 셀(1003)은 표시부(200)를 포함하며, 마더 기판(10)으로부터 절단되면 상술한 표시 장치로 형성될 수 있다.
이웃하는 표시 셀(1003) 사이에는 태그(503)가 위치하고 있다.
태그(503)는 마더 기판(10)으로부터 절단될 표시 셀(1003) 사이에 위치하고 있으며, 서로 다른 형태를 가지는 복수의 테스트 패드를 포함한다. 복수의 테스트 패드는 상술한 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시 장치에 포함된 복수의 테스트 패드 또는 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시 장치에 포함된 복수의 테스트 패드와 동일한 형태를 가질 수 있다.
검사자는 태그(503)를 이용해 마더 기판(10)으로부터 표시 셀(1003)을 절단하기 전에 표시 셀(1003)의 표시부(200)에 포함된 구동 박막 트랜지스터의 전기적 특성을 파악할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 제3 실시예에 따른 마더 기판(10)은 마더 기판(10)으로부터 절단될 이웃하는 표시 셀(1003) 사이에 태그(503)가 위치함으로써, 마더 기판(10)으로부터 표시 셀(1003)을 절단하기 전에 태그(503)를 이용해 표시 셀(1003) 각각의 표시부(200)에 포함된 구동 박막 트랜지스터의 전기적 특성을 테스트할 수 있다.
이때, 태그(503)에 포함된 복수의 테스트 패드가 서로 다른 형태를 가짐으로써, 검사자가 프로브를 복수의 테스트 패드 각각에 접촉할 때, 직관적으로 복수의 테스트 패드 각각을 구별할 수 있다.
이로 인해, 본 발명의 제3 실시예에 따른 마더 기판(10)은 검사자가 태그(503)를 테스트할 때, 프로브를 접촉할 위치를 바로 파악하여 테스트를 빠르고 정확하게 수행할 수 있다.
본 발명을 앞서 기재한 바에 따라 바람직한 실시예를 통해 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며 다음에 기재하는 특허청구범위의 개념과 범위를 벗어나지 않는 한, 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에 종사하는 자들은 쉽게 이해할 것이다.
표시 영역(DA), 비표시 영역(NDA), 태그(500)

Claims (6)

  1. 이미지를 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역과 이웃하는 비표시 영역을 포함하는 표시 장치에 있어서,
    상기 비표시 영역에 위치하며, 각각이 서로 다른 형태를 가지는 복수의 테스트 패드를 포함하는 태그(TEG, test element group)를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 태그는 테스트 소스 전극, 테스트 게이트 전극 및 테스트 드레인 전극을 포함하는 테스트 박막 트랜지스터를 더 포함하며,
    상기 복수의 테스트 패드는,
    상기 테스트 소스 전극과 연결된 제1 테스트 패드;
    상기 제1 테스트 패드와 다른 형태를 가지며, 상기 테스트 게이트 전극과 연결된 제2 테스트 패드; 및
    상기 제2 테스트 패드와 다른 형태를 가지며, 상기 테스트 드레인 전극과 연결된 제3 테스트 패드
    를 포함하는 표시 장치.
  3. 제2항에서,
    상기 제1 테스트 패드, 상기 제2 테스트 패드 및 상기 제3 테스트 패드 중 어느 하나의 모서리는 직각 형태이고, 다른 하나의 모서리는 곡선 형태이며, 또 다른 하나의 모서리는 모따기 형태인 표시 장치.
  4. 제2항에서,
    상기 제1 테스트 패드, 상기 제2 테스트 패드 및 상기 제3 테스트 패드 중 어느 하나는 원형 형태이고, 다른 하나는 삼각형 형태이고, 또 다른 하나는 사각형 형태인 표시 장치.
  5. 제2항에서,
    상기 표시 영역에 위치하며, 상기 테스트 박막 트랜지스터와 동일한 공정에 형성되는 구동 박막 트랜지스터 및 상기 구동 박막 트랜지스터와 연결된 유기 발광 소자를 포함하는 표시부를 더 포함하는 표시 장치.
  6. 이미지를 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역과 이웃하는 비표시 영역을 포함하며, 상호 이격된 복수의 표시 셀; 및
    이웃하는 상기 표시 셀 사이에 위치하며, 각각이 서로 다른 형태를 가지는 복수의 테스트 패드를 포함하는 태그(TEG, test element group)를 포함하는 마더 기판.
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