KR20130098900A - 근접 검출 장치, 근접 검출 방법 및 전자 기기 - Google Patents

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Abstract

근접 검출 장치는 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부와, 상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴은 상기 화소 전극의 한 방향의 배치 피치 이하인 선형 패턴의 피치를 갖는 근접 조작 검출부를 포함한다.

Description

근접 검출 장치, 근접 검출 방법 및 전자 기기{PROXIMITY DETECTION DEVICE, METHOD OF DETECTING PROXIMITY AND ELECTRONIC APPARATUS}
본 개시물은 표시면에 근접 조작 검출부가 중첩 배치된 근접 검출 장치, 그 근접 검출 방법, 및 근접 검출 장치를 구비한 전자 기기에 관한 것이다.
예를 들어, 손가락, 펜 등이 화면에 접촉되거나 접근되는 것을 검출하는 근접 검출부가 액정 표시 패널 등의 표시면에 제공되는 소위, 터치 센서 부착 표시 장치가 널리 알려져 있다.
본 명세서에서는 "터치" 및 "근접"의 용어를 사용하지만, 이것들은 어느 것이나 "접촉" 및 "접근" 양쪽을 포함하는 의미에서 사용된다.
터치 센서 부착 표시 장치에서는 터치 검출 때문에, 투명 전극으로서 검출 전극 및 구동 전극을 표시 화면에 중첩해서 배치하지만, 투명 전극은 완전히 투명하지 않으므로, 표시 화상 품질을 유지하기 위해서 투명 전극 패턴의 불가시화(inconspicuousness)가 요구된다.
일본 특개 제2011-138154호 공보에는 투명 전극 패턴의 불가시화를 향상시키는 기술이 개시된다.
또한, 표시 화상 품질을 향상시키기 위해서 프리즘 배열과 화소 배열의 간섭에 의한 무아레(moire)를 방지하는 기술이 일본 특개 제2007-264393호 공보에 개시된다.
일본 특개 제2011-138154호 일본 특개 제2007-264393호
터치 센서 부착 표시 장치에서는 무아레의 경감이 요구되지만, 표시 패널의 화소 피치와 터치 센서용의 투명 전극 패턴 피치 간의 간섭에 의해 명암 모양(무아레 줄무늬)이 발생한다. 특히, 패널 화소 레이아웃에서, R (적), G (녹) 및 B (청)의 화소가 W (백) 화소에 가해졌을 경우, 백 화소의 영향으로 휘도 명암이 강해져서, 무아레 줄무늬가 강조되는 경향이 있다.
또한, 터치 센서 특성(터치 검출 감도) 및 투명 전극의 불가시화의 유지나 향상도 요구된다.
본 개시물에서는 패널 화소와 터치 센서용 투명 전극 패턴 피치 간의 간섭으로 인해 발생하는 무아레 줄무늬를 경감시키면서, 투명 전극의 터치 센서 특성 및 불가시화를 유지하는 것이 바람직하다.
본 개시물의 실시 형태에 따르면, 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치되어 있는 표시 화상면을 갖는 표시부와, 상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 화소 전극의 한 방향의 배치 피치보다 작거나 같은 선형 패턴의 피치를 갖는 근접 조작 검출부를 포함하는 근접 검출 장치가 제공된다.
본 개시물의 다른 실시 형태에 따르면, 근접 검출 장치를 포함하는 전자 기기가 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치되어 있는 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되어 있는 근접 검출 장치에서, 화소 전극의 한 방향의 배치 피치보다 작거나 같은 선형 패턴의 피치를 갖는 도전막 패턴의 상기 투명 전극을 이용하여 근접 조작을 검출하는 단계를 포함하는 근접 검출 방법이 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치되어 있는 표시 화상면을 갖는 표시부와, 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴 내에 반점 형상의 비-도전부(spot-like non-conductive portion)가 형성되어 있는 근접 조작 검출부를 포함하는 근접 검출 장치가 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 근접 검출 장치를 포함하는 전자 기기가 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치되어 있는 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되어 있는 근접 검출 장치에서, 반점 형상의 비-도전부가 형성되어 있는 도전막 패턴의 상기 투명 전극을 이용하여 근접 조작을 검출하는 단계를 포함하는 근접 검출 방법이 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치되어 있는 표시 화상면을 갖는 표시부와, 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴은 연속하는 굴절선 또는 파상선(wavy line)의 패턴인 근접 조작 검출부를 포함하는 근접 검출 장치가 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 근접 검출 장치를 포함하는 전자 기기가 제공된다.
본 개시물의 또 다른 실시 형태에 따르면, 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치되어 있는 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되어 있는 근접 검출 장치에서, 연속하는 굴절선 또는 파상선의 도전막 패턴을 갖는 투명 전극을 이용하여 근접 조작을 검출하는 단계를 포함하는 근접 검출 방법이 제공된다.
본 개시물의 실시 형태에 따르면, 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴으로서의 선형 패턴의 피치가 좁기 때문에, 반점 형상의 비-도전부가 형성되거나, 연속하는 굴절선 또는 파상선이 패턴화된다.
본 개시물의 실시 형태에 따르면, 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴으로서의 선형 패턴의 피치를 좁게 하여, 반점 형상의 비-도전부를 형성하거나, 연속하는 굴절선 또는 파상선을 패턴화함으로써, 무아레 무늬를 경감시키고, 투명 전극의 터치 검출 감도와 불가시화의 유지나 향상을 실현할 수 있다.
도 1의 (a) 및 (b)는 본 개시물의 실시 형태에 따른 터치 센서부의 동작의 설명도이다.
도 2의 (a) 및 (b)는 실시 형태에 따른 터치 센서부의 동작의 설명도이다.
도 3의 (a) 내지 (c)는 실시 형태에 따른 터치 센서부의 입출력 파형의 설명도이다.
도 4의 (a) 내지 (d)는 실시 형태에 따른 액정 표시 장치의 구조의 설명도이다.
도 5는 실시 형태에 따른 액정 표시 장치의 화소의 등가 회로도이다.
도 6은 실시 형태에 따른 액정 표시 장치의 화소 배치의 설명도이다.
도 7의 (a) 내지 (c)는 제1 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막 패턴의 설명도이다.
도 8의 (a) 및 (b)는 제1 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막의 선형 패턴 피치의 설명도이다.
도 9의 (a) 및 (b)는 제1 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막의 선형 패턴 피치의 설명도이다.
도 10은 제2 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막 패턴의 설명도이다.
도 11의 (a) 내지 (c)는 제3 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막 패턴의 설명도이다.
도 12의 (a) 및 (b)는 제3 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막의 굴절선 패턴 피치의 설명도이다.
도 13은 제4 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막 패턴의 설명도이다.
도 14의 (a) 및 (b)는 제4 실시 형태에 따른 검출 전극의 도전막의 파상선 패턴 피치의 설명도이다.
도 15의 (a) 내지 (c)는 실시 형태의 적용 예에 따른 전자 기기의 설명도이다.
도 16의 (a) 및 (b)는 실시 형태의 적용 예에 따른 전자 기기의 설명도이다.
도 17의 (a) 내지 (e)는 실시 형태의 적용 예에 따른 전자 기기의 설명도이다.
이하, 본 개시물의 근접 검출 장치의 실시 형태로서, 터치 센서 기능이 표시 패널 내에 일체로 형성된 터치 센서 부착 액정 표시 장치를 설명한다. 설명은 다음 순서로 행한다.
1. 터치 검출의 기본 구성과 동작
2. 액정 표시 장치의 구성
3. 제1 실시 형태의 검출 전극
4. 제2 실시 형태의 검출 전극
5. 제3 실시 형태의 검출 전극
6. 제4 실시 형태의 검출 전극
7. 변형 예 및 적용 예
1. 터치 검출의 기본 구성과 동작
터치 센서에는 검출 전극과 구동 전극이 제공된다. 예를 들어, 검출 전극은 패널 표면측에 손가락 등이 근접하는 쪽에 제공되지만, 이 검출 전극에 대하여, 보다 패널 내부측에 제공되고, 검출을 위한 정전 용량을 검출 전극과의 사이에 형성하는 다른 전극은 구동 전극이다.
구동 전극은 터치 센서 전용의 구동 전극일 수 있다. 그러나, 바람직한 박형화 구성으로서, 실시 형태의 액정 표시 장치에서, 구동 전극은 터치 센서의 주사 구동과 화상 표시 장치의 소위 VCOM 구동을 동시에 행하는 겸용 전극으로서 기술된다.
따라서, 이하의 설명에서, 액정 표시를 위한 공통 구동 신호 VCOM가 인가되는 전극을 대향 전극이라고 한다. 그러나, 이 "대향 전극"은 터치 센서를 구동하기 위한 "구동 전극"과 동일한 전극을 나타내며, 도 4의 (a) 내지 도 5 등에서 "대향 전극(43)" 및 "구동 전극(43)"과 동일한 부호가 사용된다.
먼저, 도 1의 (a) 내지 도 3의 (c)를 참조하여, 본 실시 형태의 액정 표시 장치에서의 터치 검출의 기본을 설명한다.
도 1의 (a)와 도 2의 (a)는 터치 센서부의 등가 회로도이고, 도 1의 (b)과 도 2의 (b)는 터치 센서부의 구조도(개략 단면도)이다. 여기서, 도 1의 (a) 및 (b)는 피 검출 대상으로서의 손가락이 센서에 근접하지 않고 있는 경우를, 도 2의 (a) 및 (b)는 센서에 근접 또는 접촉하고 있는 경우를 각각 도시한다.
도면에 도시된 터치 센서부는 정전 용량형 터치 센서이며, 도 1의 (b) 및 도 2의 (b)에 도시하는 것과 같은 용량 소자로 만들어진다. 구체적으로, 용량 소자(정전 용량) C1는 유전체와, 이 유전체를 사이에 끼운 채로 대향 배치된 한 쌍의 전극, 즉 구동 전극 E1 및 검출 전극 E2를 포함한다.
도 1의 (a) 및 도 2의 (a)에 도시하는 것과 같이, 용량 소자 C1의 구동 전극 E1은 AC 펄스 신호 Sg을 발생하는 AC 신호원 S에 접속되고, 용량 소자 C1의 검출 전극 E2는 전압 검출기 DET에 접속된다. 이때, 검출 전극 E2는 저항 R을 통해 접지되어, DC 레벨을 전기적으로 고정시킨다.
AC 신호원 S로부터 구동 전극 E1에 소정의 주파수, 예를 들어 몇 [kHz] 내지 몇십 [kHz] 정도의 AC 펄스 신호 Sg을 인가한다. 이 AC 펄스 신호 Sg의 파형도를 도 3의 (b)에 예시한다.
그 다음, 검출 전극 E2에는 도 3의 (a)에 도시하는 것과 같은 출력 파형(검출 신호 Vdet)이 발생한다.
또한, 상기 본 실시 형태는 구동 전극 E1이 액정 구동을 위한 대향 전극 (화소 전극에 대향하는 복수 화소에 대한 공통 전극)에 상당하는 예이다. 소위, Vcom 반전 구동으로 불리는 AC 구동은 액정을 구동하기 위한 대향 전극에 대해서 이루어진다. 따라서, 본 실시 형태에서는 Vcom 반전 구동을 위한 공통 구동 신호 Vcom를, 터치 센서를 위해 구동 전극 E1을 구동하는 AC 펄스 신호 Sg로서 이용한다.
손가락을 근접시키지 않고 있는 도 1의 (a) 및 (b)에 도시된 상태에서는 용량 소자 C1의 구동 전극 E1에 대해서 AC 구동되고, 그 충방전에 따라 검출 전극 E2에 AC 검출 신호 Vdet가 발생한다. 이하, 이때의 검출 신호를 "초기 검출 신호 Vdet0"이라고 표기한다.
검출 전극 E2측은 DC-접지되어 있지만, 고주파의 관점에서 보면, 검출 전극 E2측이 접지되어 있지 않기 때문에, AC의 방전 경로가 없고, 초기 검출 신호 Vdet0의 펄스 피크치는 비교적 크다. 그러나, AC 펄스 신호 Sg가 상승하고 나서 시간이 경과하면, 초기 검출 신호 Vdet0의 펄스 피크치가 손실 때문에 서서히 저하한다.
도 3의 (c)에서, 스케일에 따라 파형을 확대해서 도시한다. 초기 검출 신호 Vdet0의 펄스 피크치는 약간의 시간의 경과됨에 따라 고주파 손실에 의해 2.8 [V]의 초기값으로부터 0.5 [V]로 저하한다.
초기 상태로부터, 손가락이 검출 전극 E2에 접촉 또는 영향을 미치는 유효 직사 거리(effective point-blank distance)까지 접근하면, 도 2의 (a)에 도시하는 것과 같이, 검출 전극 E2에 용량 소자 C2가 접속되었을 경우와 등가의 상태로 회로 상태가 변화된다. 이것은 고주파의 관점에서 보면, 인체가, 어느 한 측이 접지된 용량과 등가가 되기 때문이다.
이 접촉 상태에서는 용량 소자 C1과 C2를 통한 AC 신호의 방전 경로가 형성된다. 따라서, 용량 소자 C1과 C2의 충방전에 따라, 용량 소자 C1 및 C2를 통해 각각 교류 전류가 흐른다. 따라서, 초기 검출 신호 Vdet0은 용량 소자 C1과 C2의 비율에 의해 결정된 값으로 분압되어, 펄스 피크치가 저하된다.
도 3의 (a) 및 도 3의 (c)에 도시하는 검출 신호 Vdet1는 손가락이 검출 전극 E2에 접촉했을 때에 검출 전극 E2에 발생하는 검출 신호이다. 도 3의 (c)로부터, 검출 신호의 저하량은 0.5 [V] 내지 0.8 [V] 정도인 것을 알았다.
도 1의 (a) 내지 도 2의 (b)에 도시하는 전압 검출기 DET는 검출 신호의 저하를, 예를 들어 임계치 Vth를 이용해서 검출함으로써, 손가락의 접촉을 검출한다.
2. 액정 표시 장치의 구성
실시 형태에 따른 액정 표시 장치의 구조를 도 4의 (a) 내지 도 6을 참조하여 설명한다.
도 4의 (a) 내지 (c)는 액정 표시 장치(1)의 전극과, 전극의 구동이나 검출을 위한 회로의 배치를 특별히 도시하는 평면도이다. 또한, 도 4의 (d)는 액정 표시 장치(1)의 개략적인 단면 구조를 도시한다. 도 4의 (d)는 예를 들어, 행 방향 (화소 표시 라인 방향)의 6개의 화소의 단면을 나타내고 있다.
또한, 도 5는 액정 표시 장치(1)에서 행렬 방향으로 그리고 행렬 형상으로 형성되는 화소 PIX의 등가 회로도이다.
또한, 도 6은 화소 전극의 배치 상태를 도시한다.
도 5에 도시된 바와 같이, 각 화소 PIX는 화소의 선택 소자로서의 박막 트랜지스터(TFT; thin film transistor, 이하, TFT(23)로 표기), 액정층(6)의 등가 용량 C6, 및 축적 용량(부가 용량이라고도 함) Cx을 갖는다. 액정층(6)을 나타내는 등가 용량 C6의 한 측에 배치된 전극은 각 화소마다 분리되어 행렬 형상으로 배치된 화소 전극(22)이며, 다른 측에 배치된 전극은 복수의 화소에 공통인 대향 전극(43)이다.
TFT(23)의 소스와 드레인 중 한 쪽에 화소 전극(22)이 접속되고, TFT(23)의 소스와 드레인 중 다른 쪽에 신호선 SIG이 접속된다. 신호선 SIG는 신호선 구동 회로(도시되지 않음)에 접속되어, 신호 전압을 갖는 영상 신호가 신호선 구동 회로로부터 신호선 SIG에 공급된다.
대향 전극(43)에는 공통 구동 신호 Vcom이 제공된다. 공통 구동 신호 Vcom는 중심 전위를 기준으로 해서 플러스와 마이너스의 전위를 각 수평 기간(1H) 마다 반전하여 얻은 신호이다.
대향 전극(43)은 복수의 화소 PIX에 공통인 전극이며, 화소마다 계조 표시(gray-scale display)를 위한 신호 전압에 대하여 기준 전압을 부여하기 위한 공통 구동 신호 Vcom이 인가된다.
TFT(23)의 게이트는 행 방향, 즉 표시 화면의 횡방향으로 배열된 모든 화소 PIX 간에 전기적으로 공유되어, 주사선 SCN이 형성된다. 주사선 SCN에는, 주사선 구동 회로(도시되지 않음)로부터 출력되어, TFT(23)의 게이트를 개폐하기 위한 게이트 펄스가 공급된다. 따라서, 주사선 SCN은 게이트 선이라고도 한다.
도 5에 도시하는 것과 같이, 축적 용량 Cx가 등가 용량 C6과 병렬로 접속된다. 축적 용량 Cx는 등가 용량 C6에서는 저장 용량의 부족으로 인해, TFT(23)로부터의 리크(leak) 전류에 의해 기입 전위가 저하되는 것을 방지하기 위해서 제공된다. 또한, 축적 용량 Cx의 추가는 플리커 방지나 화면 휘도의 균일성 향상에 기여한다.
도 6은 화소 전극(22)의 배치를 도시한다.
도 6에 도시하는 것과 같이, 행 방향(x 방향)의 평행 스트라이프 형상으로 배치된 복수의 게이트 선(주사선 SCN, 도 5 참조)은 열 방향(y 방향)의 평행 스트라이프 형상으로 배치된 복수의 신호선 SIG과 교차한다. 2개의 임의의 주사선 SCN과 2개의 임의의 신호선 SIG에 둘러싸인 직사각형 영역이 (서브-) 화소 PIX를 규정한다. 각 화소 PIX보다 약간 작은 직사각형 고립 패턴으로 화소 전극(22)이 형성된다. 이렇게, 복수의 화소 전극(22)은 평면에 행렬 형상으로 배치가 된다.
이러한 화소가 배치된 액정 표시 장치(1)는 도 4의 (d)의 단면 구조 (z 방향의 구조)에서 보면, 단면으로 나타나지 않는 영역에서 도 5에 도시하는 TFT(23)를 가지며, 화소의 구동 신호(신호 전압)이 공급되는 기판(이하, 구동 기판(2)이라고 함)과, 구동 기판(2)에 대향해서 배치된 대향 기판(4)과, 구동 기판(2)과 대향 기판(4) 사이에 배치된 액정층(6)을 구비한다.
본 예의 액정 표시 장치(1)에는 액정 표시 구동을 위해 액정층(6)을 사이에 끼워서 대향하는 화소 전극(22)과 대향 전극(43), 및 터치 센서 구동을 위한 검출 전극(44)과 구동 전극(= 대향 전극)(43)이 제공된다.
도 4의 (d)에서는, 단면 구조를 보기 쉽게 하기 위해, 대향 전극(구동 전극)(43), 화소 전극(22) 및 검출 전극(44)에 대해서는 해칭을 하고, 그 이외의 부분 (기판, 절연막 및 기능 막 등)에 대해서는 해칭을 생략한다.
표시 기능을 실현하는 부분으로서, 청구항에서의 표시부는 구동 기판(2), 액정층(6), 대향 전극(43) 및 컬러 필터(42)로 형성된다.
또한, 터치 센서 기능을 실현하는 부분으로서, 청구항에서의 근접 조작 검출부는 대향 기판(4) (구동 전극(43), 검출 전극(44) 등), 검출부(8) 및 검출 구동 주사부(9)로 형성된다.
구동 기판(2)은 도 5의 TFT(23)가 형성된 회로 기판으로서의 TFT 기판(21)과, 이 TFT 기판(21) 위에 행렬 형상으로 배치된 복수의 화소 전극(22)을 갖는다.
TFT 기판(21)의 기판 본체는 글래스 등으로 이루어진다. TFT 기판(21) 위에는, 각 화소 전극(22)을 구동하기 위한 표시 구동기(도시되지 않음)(신호선 구동 회로, 주사선 구동 회로 등)이 형성된다. 또한, TFT 기판(21) 위에는, 도 5의 TFT(23), 및 신호선 SIG 및 주사선 SCN 등의 배선이 형성된다. TFT 기판(21) 위에는, 터치 검출 동작을 위한 검출 회로가 형성될 수 있다.
대향 기판(4)은 글래스 기판(41), 글래스 기판(41)의 한쪽 면에 형성된 컬러
필터(42), 및 컬러 필터(42) 위 (액정층(6) 측)에 형성된 대향 전극(43)을 갖는다.
컬러 필터(42)는 예를 들어 적(R), 녹(G) 및 청(B)의 3색의 컬러 필터층을 주기적으로 배열해서 구성한 것으로, 각 화소 PIX(화소 전극(22))는 R, G 및 B의 3색 중 1색에 대응한다. 또한, 1색에 대응하는 화소를 서브-화소라고 하고, 몇몇의 경우에는 R, G 및 B의 3색을 갖는 3 서브-화소를 화소라고 하지만, 여기에서는 서브-화소도 화소 PIX로 표기한다.
또한, R, G 및 B 외에 백(W) 화소를 제공하는 경우도 있어, 이 경우에는, 컬러 필터(42)에서는 4색에 대응한 컬러 필터가 배치되는 상태가 된다.
대향 전극(43)은 터치 검출 동작을 행하는 터치 센서의 일부를 구성하는 센서 구동 전극으로서도 사용되며, 도 1의 (a) 내지 도 2의 (b)에서의 구동 전극 E1에 상당한다.
대향 전극(구동 전극)(43)은 콘택트 도전 기둥(7)에 의해 TFT 기판(21)과 접속된다. 이 콘택트 도전 기둥(7)을 통하여, TFT 기판(21)으로부터 대향 전극(43)으로 교류 펄스 파형의 공통 구동 신호 Vcom이 인가된다. 이 공통 구동 신호 Vcom은 도 1의 (a) 내지 도 2의 (b)의 구동 신호원 S로부터 공급되는 AC 펄스 신호 Sg에 상당한다.
글래스 기판(41)의 다른 쪽의 면(표시면측) 위에는 검출 전극(44)이 형성되고, 검출 전극(44)의 위에는 보호층(45)이 형성된다.
검출 전극(44)은 터치 센서의 일부를 구성하고, 도 1의 (a) 내지 도 2의 (b)에서의 검출 전극 E2에 상당한다. 글래스 기판(41) 위에, 후술하는 터치 검출 동작을 행하는 검출 회로가 형성될 수 있다.
액정층(6)은 표시 기능층이며, 인가되는 전계의 상태에 따라 두께 방향(전극의 대향 방향)으로 층을 통과하는 광을 변조한다. 액정층(6)은 TN(트위스티드 네마틱), VA(수직 배향) 및 ECB(전계 제어 복굴절) 등의 각종 모드의 액정 재료를 이용하여 형성될 수 있다.
액정층(6)과 구동 기판(2) 사이 및 액정층(6)과 대향 기판(4) 사이에는 각각 배향막이 제공된다. 또한, 구동 기판(2)의 반-표시면 측(anti-display surface side) (즉, 배면측) 및 대향 기판(4)의 표시면 측에는 각각 편광판이 제공된다. 이러한 광학 기능층은 도 4의 (a) 내지 (d)에서는 도시를 생략한다.
구동 전극(43)과 검출 전극(44)은 도 4의 (a) 내지 (c)에 도시하는 것과 같이, 서로 직교하는 방향으로 분할된다.
도 4의 (a)는 구동 전극(43)의 배치 상태, 도 4의 (b)는 검출 전극(44)의 배치 상태, 그리고 도 4의 (c)는 이들을 합쳐서 도시한다.
도 4의 (a)에 도시하는 것과 같이, 구동 전극(43)은 화소 배열의 행 또는 열 방향, 예를 들어, 본 예에서는 열의 방향(도면에서 y 방향)으로 분할된다. 이 분할의 방향은 표시 구동에서의 화소 라인의 주사 방향, 즉 주사선 구동 회로(도시되지 않음)에 의해 주사선 SCN을 순차 활성화해 가는 방향에 대응한다.
분할된 구동 전극(43)에서, 소정 수 n개의 구동 전극(43_1, 43_2,..., 43_m,..., 43_n)이 배치된다. 여기에서, "m"은 "n"보다 작은 2 이상의 정수이다.
구동 전극(43_1 내지 43_n)은 비교적 작은 폭을 갖고 있고, 행 방향(x 방향)으로 연장되며, 평행하게 서로 격설되어 있는 밴드 형상으로 배치된다. 여기서, 액정 표시 장치에 부가되는 터치 센서로서, 구동 전극(43)의 폭 (y 방향의 사이즈)은 액정 표시 장치의 화소 사이즈와는 무관하게 규정될 수 있다. 구동 전극(43)의 폭을 작게 할수록, 검출 정밀도 또는 물체 검출의 해상도는 높아진다.
n-분할된 구동 전극(43_1 내지 43_n)은 m (2≤m<n)개의 단위로 동시에 구동된다.
동시 구동되는 구동 전극(43)의 세트를, 교류 구동 전극 유닛 EU로 표기한다. 본 실시 형태에서는, 1개의 교류 구동 전극 유닛 EU가 포함하는 구동 전극의 수는 고정된 수 m이다. 또한, 구동 전극의 조합이 일부 중복되고 변경되면서, 교류 구동 전극 유닛 EU은 열 방향으로 그리고 스텝 형상으로 시프트된다.
시프트의 방향은 도 4의 (a) 내지 (c)의 y 방향이며, 이 방향을 주사 방향이라고 한다. 또한, 연속하는 구동 전극의 세트로서 선택되는 구동 전극의 조합이 한쪽 방향으로 시프트되는 동작을 주사라고 칭한다.
주사 시에는 각 시프트마다 교류 구동 전극 유닛 EU로서 선택되는 대향 전극의 조합이 시프트된다.
이때, 1회의 시프트의 전후에 행해지는 연속하는 2회의 선택에서, 1개 이상의 구동 전극이 중복해서 선택된다. 시프트량을 구동 전극의 수로 나타내면, 그 시프트량의 범위는 1 이상, (m-1) 이하의 구동 전극 수에 대응한다.
구동 전극 세트의 그러한 교류 구동 전극 유닛 EU를 단위로 하는 교류 구동의 동작과, 교류 구동 전극 유닛 EU에 대한 시프트 동작은 검출 구동 주사부(9)에 의해 행해진다.
시프트량을 구동 전극 1개 분량에 해당하는 최소량으로 하는 것이 바람직한데, 그 이유는 검출 정밀도나 피검출 대상의 해상도를 가장 높게 할 수 있기 때문이다. 이하, 이 바람직한 최소의 시프트량을 전제로 한다. 이 전제하에서, 검출 구동 주사부(9)의 동작은 "m개의 구동 전극(43)을 동시에 교류 구동시키는 구동 신호원 S(도 1의 (a) 내지 도 2의 (b) 참조)을 열 방향으로 이동시킴으로써 선택된 구동 전극(43)을 1개씩 바꾸면서 열 방향으로 주사하는 동작"과 동일한 것으로 간주할 수 있다. 도 4의 (a)와 (c)에서 구동 신호원 S로부터 그려진 화살표는 신호원의 주사를 모식적으로 도시하는 것이다.
반면에, 도 4의 (b)에 도시하는 것과 같이 검출 전극(44)은 구동 전극(43)에 직교하는 y 방향으로 긴 평행 스트라이프 형상으로 배치되며, x 방향으로 소정 수 k개로 분할된 도전막에 의해 형성된다. 각각의 검출 전극은 (44_1) 내지 (44_k)으로 표기한다.
상기와 같이 배치된 k개의 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 한쪽 단부에는 검출부(8)가 접속된다. 검출부(8)의 기본 검출 단위는 도 1의 (a) 내지 도 2의 (b)에 도시하는 "검출 회로"로서의 전압 검출기 DET이다.
k개의 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 각각은 검출부(8)에 대응하는 전압 검출기 DET에 접속된다. 따라서, 전압 검출기 DET는 각 검출 선으로부터의 검출 신호 Vdet(도 3의 (a) 내지 (c) 참조)를 검출할 수 있다.
상기 도 4의 (a) 내지 (c)에 도시한 구동 전극(43) 및 검출 전극(44)의 배열 패턴은 도 6에 도시한 바와 같이 행렬 형상으로 배열되는 화소 PIX에 의해 형성된 표시 화상면 위에 중첩 배치된다.
구동 전극(43) 및 검출 전극(44) 또는 화소 전극(22)은 각각 투명 전극이고, 예를 들어 ITO, IZO 또는 유기 도전막으로 형성된다.
3. 제1 실시 형태의 검출 전극
상기 구성의 액정 표시 장치(1)에서의 검출 전극(44)의 도전막 패턴은 제1 실시 형태로서 설명된다.
우선, 도 7의 (a)는 검출 전극(44)의 도전막 패턴의 예를 나타낸다. 여기에서, 도 4의 (a) 내지 (d)에 도시한 검출 전극(44_1 내지 44_k) 중 특정한 2개의 검출 전극(44_q 및 44_q+1)을 도시한다. 도면의 편의상, 검출 전극(44_q 및 44_q+1)의 전극 폭 방향은 확대하고, 길이 방향은 축소한다.
도 7의 (a)에서, 해칭된 부분은 도전막 e가 형성되어 있는 부분이며, 비-해칭된 부분은 도전막 e가 형성되어 있지 않은 부분 (이하, 슬릿 SL로 칭함)이다.
도시한 바와 같이, 검출 전극(44)을 형성하는 도전막 패턴으로서는, 상술한 검출부(8)에 전기적으로 접속되어서 실제로 전극으로서 기능하는 전극 패턴부(즉, 검출 전극(44_q 및 44_q+1)인 부분), 및 전극으로서 기능하지 않지만 도전막 e가 형성되어 있는 더미 패턴부 dmp가 있다.
도 7의 (c)에서, 1개의 검출 전극(44_q)이 되는 부분을 추출해서 도시한다. 도시한 바와 같이, 1개의 검출 전극(44_q)은 정방형 형상의 도전막으로서 형성된다. 각각의 검출 전극(44_1 내지 44_k)은 각각의 정방형 형상의 도전막으로서 형성되고, 각각의 검출 전극의 단부는 상술한 검출부(8)에 대응하는 전압 검출기 DET에 접속된다.
검출 전극(44_q)은 정방형 패턴의 양측, 즉 실제로 도 4의 (b)와 같이 y 방향으로 연장되는 부분 내에 필요한 수의 슬릿 SL이 형성되어 있는 도전막 패턴을 포함한다. 도 7의 (b)는 정방형 형상의 도전막 패턴의 일부에 슬릿 SL이 형성되어 있는 부분을 확대해서 도시한다.
또한, 정방형 형상의 내측과, 인접하는 정방형 패턴들 사이에 제공된 더미 패턴부 dmp 내에도 슬릿 SL이 형성된다.
더미 패턴부 dmp를 제공하고, 검출 전극(44_1 내지 44_k) 및 더미 패턴부 dmp이 되는 도전막 e의 패턴 내에 슬릿 SL을 제공하는 이유는 다음과 같다.
우선, 검출 전극(44)은 투명 전극으로서 형성된다. 그러나, 검출 전극은 완전히 투명하지는 않다. 표시 화상이 되는 광의 투과율을 높이기 위해서, 도전막 e가 존재하지 않는 부분을 제공하려고 한다.
한편, 터치 검출 감도의 관점에서, 정방형 패턴부의 저항값을 증가시키는 것은 바람직하지 않다. 즉, 터치 검출 감도의 관점에서 보면, 정방형 패턴부에 도전막 e가 존재하지 않는 부분을 무분별하게 제공하는 것을 피하는 편이 낫다.
이러한 문제점들을 감안하면, 저항값을 될 수 있는 한 올리지 않도록, 정방형 패턴부에 선 형상의 도전막 e를 형성하면서, 비-도전부를 형성할 수 있다. 그 다음, 정방형 패턴부는 도 7의 (c)와 같이, 도전막 e가 존재하지 않는 슬릿 SL을 형성해서 광 투과율을 높이고, 도전막 e의 선형 패턴을 확보해서 전극으로서 저항값을 낮게 유지한다.
또한, 도 7의 (c)에 도시된 정방형 패턴부만을 형성하면, 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 불가시화의 관점에서 보면 불리하다.
즉, 도전막 e가 형성되는 검출 전극(44_1 내지 44_k)과, 각 검출 전극 사이의 비-도전막 간의 차가 시인되기 쉬워져, 전극의 불가시화가 유지되지 않는다.
정방형 패턴의 내측 및 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 간격에는, 더미 패턴부 dmp를 형성한다. 이 더미 패턴부 dmp에는 정방형 패턴부에서와 마찬가지로 슬릿 SL을 형성하여, 전체적으로, 도전막 e(검출 전극(44_1 내지 44_k)의 전체 형성면)에 대해 불가시화를 향상시킨다.
도 7의 (a) 내지 (c)에 도시된 바와 같이, 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 도전막 패턴에 의해, 검출 특성과 불가시화의 유지 또는 향상이 가능하다. 그러나, 본 실시 형태에서는 무아레 무늬 경감을 실현한다.
도 8의 (a)와 (b)는 도전막 e와 화소 전극(22) 간의 배치 위치 관계에 대해서 모식적으로 도시한다.
도면에서의 도전막 e는 도 7의 (a)의 소정의 검출 전극(44_q 및 44_q+1)(정방형 패턴부)에 대응하고, 더미 패턴부 dmp에 대응한다. 즉, 슬릿 SL에 의해 분할된 선 형상의 도전막 e가 형성된 영역의 일부를 도시한다.
또한, 화소 전극(22)에 대해서는, R, G 및 B의 각 서브-화소의 배치 상태를 R, G 및 B를 붙인 파선으로 나타내고 있다.
도 8의 (a)는 슬릿 SL에 의해 분할된 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 배치 피치 Pg보다 큰 경우를 도시한다.
예를 들어, 선형 패턴의 피치 Pe는 화소 전극(22)의 배치 피치 Pg의 자연수 배(도면에서는 3배)의 피치만큼 서로 분리된다.
이 경우, 구동 전극(43)(또는 더미 패턴부 dmp)을 형성하는 도전막 e의 선형 패턴과 화소 패턴이 서로 간섭하여, 사람의 눈에 시인될 수 있는 무아레 줄무늬로 보이는 경우도 있다.
본 실시 형태에서는, 도 8의 (b)에 도시하는 것과 같이, 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe는 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 피치 Pg 이하이다.
구동 전극(43)(또는 더미 패턴부 dmp)을 형성하는 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe는 서브-화소의 피치 Pg 이하가 되도록 좁아서, 무아레 줄무늬가 거의 시인할 수 없게 된다.
이 경우, 선형 패턴의 피치 Pe는 서브-화소의 피치 Pg 이하가 되도록 좁을 뿐만 아니라, 선형 패턴의 피치는 서브-화소의 피치 Pg를 1/1, 1/2, 1/3... 등의 자연수로 나눈 값을 갖지 않는데, 이는 무아레 무늬 경감의 관점에서 바람직하다.
즉, 무아레 줄무늬를 경감하는 데 있어서, 도전막 e의 선형 패턴 피치를 좁게 해서 사람의 도전막 e의 패턴의 시인성을 저감시키는 것과, 화소 전극 패턴과의 규칙성을 약하게 하여 간섭을 분산시키는 것이 유효하다.
R, G, B 및 W의 4색을 갖는 화소 PIX가 제공되어, 백 화소의 영향으로 휘도 명암이 강해지면, 무아레 줄무늬가 R, G 및 B의 3색을 이용하는 경우보다 강조된다.
R, G, B 및 W의 4색의 경우에도 본 실시 형태의 적용은 적합하다.
도 9의 (a) 및 (b)는 도 8의 (a) 및 (b)과 마찬가지로, 화소 전극(22)과 관련하여 도전막 e를 모식적으로 도시한다.
또한, 화소 전극(22)으로서 R, G, B 및 W의 각 서브-화소의 배치 상태를 R, G, B 및 W를 붙인 파선으로 나타내고 있다.
도 9의 (a)는 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 피치 Pg보다 큰 경우를 도시한다.
그 다음, 예를 들어, 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 피치 Pg의 가능한 한 자연수 배(도면에서는 3배)의 피치만큼 서로 분리되어, B 화소와 W 화소에 슬릿 SL이 위치하도록 한다.
이 경우, 무아레 줄무늬가 눈에 띄게 된다.
본 실시 형태로서, 도 9의 (b)에 도시하는 것과 같이, 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe는 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 피치 Pg 이하이다.
바람직하게는, 선형 패턴의 피치 Pe는 서브-화소의 피치 Pg를 자연수로 나눈 값을 갖지 않는다.
이런 방식으로, 4색의 화소를 갖는 구성의 경우라도, 무아레 줄무늬를 눈에 띄지 않게 할 수 있다.
4. 제2 실시 형태의 검출 전극
제2 실시 형태로서의 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 도전막 패턴을 도 10을 이용하여 설명한다.
도 10은 상기 도 7의 (a)에서와 마찬가지로, 검출 전극(44_1 내지 44_k)에서의 특정 검출 전극(44_q 및 44_q+1)의 도전막 e의 패턴을 도시한다.
검출 전극(44_q 및 44_q+1)은 정방형 패턴으로 되고, 더미 패턴부 dmp는 제1 실시 형태에서와 동일하게 형성된다.
제2 실시 형태에서는, 상술한 슬릿 SL 대신에, 도전막 e 위에는 반점 형상의 비-도전부 dt가 형성된다.
도면의 예에서, 반점 형상의 비-도전부 dt는 도전막 e 위에 랜덤하게 형성된다.
제2 실시 형태에서는, 검출 전극(44_1 내지 44_k) (및 더미 패턴부 dmp)로서의 도전막 패턴이 화소 전극 피치에 의해 간섭되지 않도록 (간섭하는 위치를 감소시킴), 반점 형상의 비-도전부 dt가 랜덤하게 배치된다. 이로 인해, 무아레 줄무늬의 경감을 실현한다.
게다가, 검출 전극(44_1 내지 44_k)으로서의 정방형 패턴의 도전막 e의 면적을 늘리고 저항값을 내려, 센서 검출 특성을 제1 실시 형태보다도 향상시킨다.
또한, 정방형 패턴의 내측 및 인접 검출 전극(44) 사이에 더미 패턴부 dmp를 제공하여, 검출 전극(44_1 내지 44_k)으로서의 정방형 패턴에서와 마찬가지로 더미 패턴부 dmp 내에 반점 형상의 비-도전부 dt를 랜덤하게 제공한다. 이에 의해, 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 불가시화를 유지 또는 향상시킨다.
그 다음, 반점 형상의 비-도전부 dt의 면적은, 무아레 무늬 저감 효과를 얻기 위해서, 서브-화소의 표시 면적의 0.0025배 이상이 바람직하다.
또한, 반점 형상의 비-도전부 dt가 랜덤하게 배치되는 것이 적합하지만, 반점 형상의 비-도전부 dt는 반드시 랜덤하게 배치되지 않을 수 있다. 규칙성이 존재하는 경우에도, 화소 전극 패턴과 간섭하지 않는 배치 패턴이면 충분하다.
반점 형상의 비-도전부 dt의 형상은 도면에 도시된 바와 같은 정방 형상으로 한정되지 않고, 원형, 타원형, 직사각형, 삼각형, 다각형 또는 부정형 등의 다양한 형상이 고려될 수 있다.
5. 제3 실시 형태의 검출 전극
제3 실시 형태로서의 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 도전막 패턴을 도 11의 (a) 내지 도 12의 (b)를 참조하여 설명한다. 도전막 패턴은 연속하는 굴절선의 패턴의 한 예로서 도시된다.
도 11의 (a)는 상기 도 7의 (a)에서와 마찬가지로, 검출 전극(44_1 내지 44_k)에서의 특정 검출 전극(44_q 및 44_q+1)의 도전막 e의 패턴을 도시한다.
검출 전극(44_q 및 44_q+1)은 정방형 패턴으로 되고, 더미 패턴부 dmp는 상기 실시 형태에서와 마찬가지로 형성된다.
제3 실시 형태에서는, 도전막 e 위에는 굴절 선 형상의 슬릿 SL을 형성하고, 도전막 e는 굴절 선 형상의 슬릿에 의해 굴절 선형 패턴을 갖는다.
도전막 e가 굴절 선 형상을 갖기 때문에, 화소 전극 패턴과의 간섭이 경감되어, 무아레 무늬 경감이 실현된다.
그 다음, 검출 전극(44_1 내지 44_k)으로서의 정방형 패턴에서의 도전막 e를 직선에 가까운 형태로 유지함으로써 저항값을 낮게 유지하여, 센서 검출 특성을 유지한다.
또한, 정방형 패턴의 내부 및 검출 전극의 간극부에 더미 패턴부 dmp가 제공되고, 그 더미 패턴부 dmp 내에도, 검출 전극(44_1 내지 44_k)으로서의 정방형 패턴에서와 마찬가지로 굴절 선 형상의 슬릿 SL이 형성된다. 그 다음, 도전막 e가 굴절 선형 패턴으로 되어, 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 불가시화를 용이하게 한다.
여기에서, 도전막 e의 굴절 선 형상의 피치 Pe는 도 12의 (a) 및 (b)에서의 소정의 예로서 간주될 수 있다.
도 12의 (a) 및 (b)는 상기 도 9의 (a) 및 (b)에서와 마찬가지로, 화소 전극(22)과 관련하여 도전막 e를 모식적으로 도시한다. 화소 전극(22)에서, R, G, B 및 W의 각 서브-화소의 배치 상태를 R, G, B 및 W를 붙인 파선으로 나타내고 있다.
도 12의 (a)는 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 굴절 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 배치 피치 Pg보다 큰 경우를 도시한다.
제1 실시 형태에서, 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe가 화소의 피치 Pg보다 크면, 무아레 줄무늬가 눈에 띄게 된다. 그러나, 제3 실시 형태의 경우에서는, 도전막 e가 굴절 선형 패턴으로 되기 때문에, 화소 전극(22)의 패턴과의 간섭이 억제된다. 따라서, Pe>Pg의 경우에도, 무아레 무늬 경감 효과가 얻어질 수 있다.
반면에, 도 12의 (b)는 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 굴절 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 배치 피치 Pg 이하인 예를 도시한다.
굴절 선형 패턴의 피치 Pe는 서브-화소의 피치 Pg를 자연수로 나눈 값을 갖지 않는 것이 바람직하다.
이런 방식으로, 굴절 선형 패턴의 피치 Pe를 피치 Pg 이하가 되도록 좁게 하고 서브-화소와의 규칙성을 약하게 함으로써, 무아레 무늬 경감 효과를 더욱 높게 할 수 있다.
그 다음, 도 11의 (b)는 도전막 e의 굴절 선 형상의 패턴의 일부를 확대해서 도시한다. 그러나, 굴절 선을 형성하는 각도 θ에서는 적절한 각도 범위가 있다.
우선, 무아레 줄무늬 경감 효과에 대해서는 5°>θ>85°의 범위가 화소 전극(22)의 패턴과의 간섭을 피하기 쉽기 때문에 적절하다.
또한, 센서 검출 특성의 관점에서는, 도전막 패턴이 직선에 가까운 형상을 가질 수 있다. 따라서, 0°>θ>45°의 범위가 적절하다.
결국, 2개 이상의 각도 범위에 포함되는 각도 범위에 대해서는, 5°>θ>45°이 적합하다.
예를 들어, θ=15°가 바람직하다.
또한, 무아레 무늬 경감 효과의 관점, 즉 화소 전극(22)의 패턴과의 간섭 의 경감이라는 의미에서는, 1 화소에 상당하는 영역 내에 굴절 선을 형성하도록, y 방향의 굴절 선형 패턴의 반복이 각 화소마다 배치되게 하는 것이 바람직하다.
예를 들어, 도 11의 (c)는 y 방향으로 배열되는 화소 PIX의 범위를 파선으로 나타내고 있다. 그러나, 도시한 바와 같이, 1개의 화소 PIX에 상당하는 영역에는, 1개의 굴절 선형 패턴이 형성된다.
6. 제4 실시 형태의 검출 전극
제4 실시 형태로서의 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 도전막 패턴을 도 13 내지 도 14의 (b)를 참조하여 설명한다. 이 실시 형태는 연속하는 파상선의 패턴을 갖는 도전막 패턴의 한 예이다.
도 13은 상기 도 7의 (a)와 마찬가지로, 검출 전극(44_1 내지 44_k)에서의 특정 검출 전극(44_q 및 44_q+1)의 도전막 e의 패턴을 도시한다.
검출 전극(44_q 및 44_q+1)은 정방형 패턴으로 되고, 더미 패턴부 dmp는 동일한 방식으로 형성된다.
제4 실시 형태에서는, 파상의 슬릿 SL을 도전막 e 위에 형성하여, 도전막 e가 파상 슬릿(wavy slit)에 의해 파상선(사행 선 형상; serpentine linear)의 패턴을 갖게 한다.
도전막 e가 파상선 형상을 갖고, 특히 코너 부분이 제거됨으로써, 화소 전극 패턴과의 간섭이 경감되어, 무아레 무늬 경감이 실현된다.
그 다음, 검출 전극(44_1 내지 44_k)에서의 정방형 패턴의 도전막 e가 직선에 가까운 상태로 유지되기 때문에, 저항값을 낮게 유지하고, 센서 검출 특성을 유지한다.
또한, 정방형 패턴의 내부 및 검출 전극의 간극부에 더미 패턴부 dmp가 제공되고, 더미 패턴부 dmp 내에도 검출 전극(44_1 내지 44_k)으로서의 정방형 패턴과 마찬가지로 파상의 슬릿 SL이 형성된다. 도전막 e가 파상선의 패턴을 갖기 때문에, 검출 전극(44_1 내지 44_k)의 불가시화가 용이하게 된다.
여기에서, 파상선 형태를 갖는 도전막 e의 피치 Pe는 도 14의 (a) 및 (b)의 소정의 예로 간주될 수 있다.
도 14의 (a) 및 (b)는 도 9의 (a) 및 (b)와 마찬가지로, 화소 전극(22)과 관련하여 도전막 e를 모식적으로 도시한다. 화소 전극(22)에서는 R, G, B 및 W의 각 서브-화소의 배치 상태를 R, G, B 및 W를 붙인 파선으로 나타내고 있다.
도 14의 (a)는 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 굴절 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 배치 피치 Pg보다 큰 경우를 도시한다.
이 경우, 제3 실시 형태와 같이, 도전막 e의 선형 패턴의 피치 Pe가 화소의 피치 Pg보다 크더라도, 도전막 e가 파상선의 패턴을 갖기 때문에, 화소 전극(22)의 패턴과의 간섭이 억제된다. 이로 인해, Pe>Pg의 경우라도, 무아레 무늬 경감 효과가 얻어질 수 있다.
또한, 도 14의 (b)는 슬릿 SL에 의해 분할되는 도전막 e의 굴절 선형 패턴의 피치 Pe가 화소 전극(22)의 한 방향(x 방향)의 배치 피치 Pg 이하인 예를 도시한다.
굴절 선형 패턴의 피치 Pe는 서브-화소의 피치 Pg를 자연수로 나눈 값을 갖지 않는 것이 바람직하다.
이런 방식으로, 굴절 선형 패턴의 피치 Pe를 피치 Pg 이하로 되게 좁게 하고 서브-화소와의 규칙성을 약하게 함으로써, 무아레 무늬 경감 효과를 더욱 높게 할 수 있다.
7. 변형 예 및 적용 예
이상, 실시 형태를 설명하였지만, 상술한 액정 표시 장치는 근접 검출 장치를 갖는 표시 장치의 한 예이다. 또한, 터치 센서가 부착된 액정 표시 장치(1) 자체의 구성도 한 예이다.
본 개시물은 터치 센서와 같은 근접 검출 기능을 제공할 경우에, 액정 표시 장치뿐만 아니라, 투명 전극의 도전막 패턴으로서 플라즈마 표시 장치 또는 유기 EL 표시 장치 등의 각종 표시 장치에 적용될 수 있다.
실시 형태에서는, 터치 센서 기능을 위한 검출 전극(44)이 예시되었지만, 본 개시물은 구동 전극(43)의 패턴으로서도 적용될 수 있다.
다음에, 도 15의 (a) 내지 도 17의 (e)를 참조하여, 본 개시물의 근접 검출 장치, 예를 들어 터치 센서 부착 표시 장치의 적용 예에 대해서 설명한다. 본 개시물의 근접 검출 장치는 텔레비전 장치, 디지탈 카메라, 노트북형 퍼스널 컴퓨터 및 휴대 전화 등의 휴대 단말 장치 또는 비디오 카메라 등, 외부로부터 입력된 영상 신호 또는 내부에서 생성한 영상 신호를, 화상 또는 영상으로서 표시하는 표시 장치를 갖는 모든 분야의 전자 기기에 적용될 수 있다.
적용 예 1
도 15의 (a)는 실시 형태의 터치 센서 부착 액정 표시 장치(1)가 적용되는 텔레비전 장치의 외관을 나타낸 것이다. 이 텔레비전 장치는 예를 들어, 전면 패널(511), 및 필터 글래스(512)를 포함하는 영상 표시 화면부(510)를 갖고 있고, 이 영상 표시 화면부(510)는 상기 실시 형태에 따른 액정 표시 장치(1)에 의해 구성된다.
적용 예 2
도 15의 (b)는 상기 실시 형태의 액정 표시 장치(1)가 적용되는 노트북형 퍼스널 컴퓨터의 외관을 나타낸 것이다. 이 노트북형 퍼스널 컴퓨터는 예를 들어, 본체(531), 문자 등의 입력 조작을 위한 키보드(532), 및 화상을 표시하는 표시부(533)를 갖고 있고, 이 표시부(533)는 상기 실시 형태에 따른 액정 표시 장치(1)에 의해 구성된다.
적용 예 3
도 15의 (c)는 상기 실시 형태의 액정 표시 장치(1)가 적용되는 비디오 카메라의 외관을 나타낸 것이다. 이 비디오 카메라는 예를 들어, 본체부(541), 이 본체부(541)의 전방 측면에 제공된 피사체 촬상용의 렌즈(542), 촬상시의 스타트/스톱 스위치(543) 및 표시부(544)를 갖고 있고, 이 표시부(544)는 상기 실시 형태에 따른 액정 표시 장치(1)에 의해 구성된다.
적용 예 4
도 16의 (a) 및 (b)는 상기 실시 형태의 액정 표시 장치(1)가 적용되는 디지탈 카메라의 외관을 나타낸 것이다. 도 17의 (a)는 디지탈 카메라의 정면 측의 외관을 도시하고, 도 17의 (b)는 디지탈 카메라의 배면 측의 외관을 도시한다. 이 디지탈 카메라는 예를 들어, 터치 패널 부착 표시부(520), 촬상 렌즈(521), 플래시용의 발광부(523) 및 셔터 버튼(524)을 갖고 있고, 표시부(520)는 상기 실시 형태에 따른 액정 표시 장치(1)에 의해 구성된다.
적용 예 5
도 17의 (a) 내지 (e)는 상기 실시 형태의 액정 표시 장치(1)가 적용되는 휴대 전화기의 외관을 나타낸 것이다. 도 17의 (a)는 케이스가 열린 상태의 조작면 및 표시면을 도시하고, 도 17의 (b)는 케이스가 폐쇄된 상태의 상면측을 도시하고, 도 17의 (c)는 케이스가 폐쇄된 상태의 저면측을 도시한다. 도 17의 (d) 및 (e)는 케이스가 폐쇄된 상태의 상면측에서와 저면측에서의 사시도이다.
예를 들어, 휴대 전화기는 상측 케이스(550)와 하측 케이스(551)를 연결부(힌지부)(556)로 연결하여 형성되며, 디스플레이(552), 서브-디스플레이(553), 키 조작부(554) 및 카메라(555)를 갖고 있다. 디스플레이(552) 및 서브-디스플레이(553)는 상기 실시 형태에 따른 액정 표시 장치(1)에 의해 구성된다.
그 다음, 본 기술은 이하와 같은 구성도 채택할 수 있다.
(a1) 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부와, 상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 상기 화소 전극들의 한 방향의 배치 피치 이하인 선형 패턴의 피치를 갖는 근접 조작 검출부를 포함하는 근접 검출 장치.
(a2) 상기 도전막 패턴은 전극으로서 기능하는 전극 패턴부와, 전극으로서 기능하지 않는 더미 패턴부를 갖고, 상기 전극 패턴부와 상기 더미 패턴부의 양쪽의 도전막 패턴에서 선형 패턴의 피치가 상기 화소 전극의 상기 한 방향의 배치 피치 이하인 상기 (a1)의 기재의 근접 검출 장치.
(b1) 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부와, 상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴 내에 반점 형상의 비-도전부가 형성되어 있는 근접 조작 검출부를 포함하는 근접 검출 장치.
(b2) 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴 내에는 반점 형상의 비-도전부가 랜덤하게 배치되어 있는 상기 (b1)의 기재의 근접 검출 장치.
(b3) 상기 도전막 패턴은 전극으로서 기능하는 전극 패턴부와, 전극으로서 기능하지 않는 더미 패턴부를 갖고, 상기 전극 패턴부와 상기 더미 패턴부의 양쪽의 도전막 패턴 내에는 상기 반점 형상의 비-도전부가 형성되어 있는 상기 (b1) 또는 (b2)의 기재의 근접 검출 장치.
(c1) 복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부와, 상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 연속하는 굴절선 또는 파상선의 패턴인 근접 조작 검출부를 포함하는 근접 검출 장치.
(c2) 상기 도전막 패턴은 상기 화소 전극의 한 방향의 배치 피치 이하인 상기 굴절선 또는 상기 파상선의 피치를 갖는 상기 (c1)의 기재의 근접 검출 장치.
(c3) 상기 도전막 패턴은 전극으로서 기능하는 전극 패턴부와, 전극으로서 기능하지 않는 더미 패턴부를 갖고, 상기 전극 패턴부와 상기 더미 패턴부의 양쪽의 도전막 패턴은 연속하는 상기 굴절선 또는 상기 파상선의 패턴인 상기 (c1) 또는 (c2)의 기재의 근접 검출 장치.
본 개시물은, 2012년 2월 28일 일본 특허청에 출원된 일본 우선권 특허 출원 번호 제2012-040842호에 기재된 것과 관련된 요지를 포함하며, 그 전체 내용은 본 명세서에 참조로 원용된다.
당업자이라면 첨부된 청구 범위 내에서 설계 조건 및 다른 요인에 따라 다양한 변형, 조합 및 변경이 있을 수 있다는 것을 알 수 있다.

Claims (14)

  1. 근접 검출 장치로서,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부; 및
    상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 상기 화소 전극들의 한 방향의 배치 피치 이하인 선형 패턴의 피치를 갖는 근접 조작 검출부를 포함하는, 근접 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 도전막 패턴은 전극으로서 기능하는 전극 패턴부와, 전극으로서 기능하지 않는 더미 패턴부를 갖고 있고, 상기 전극 패턴부와 상기 더미 패턴부의 양쪽의 도전막 패턴에서 상기 선형 패턴의 피치가 상기 화소 전극의 상기 한 방향의 배치 피치 이하인, 근접 검출 장치.
  3. 근접 검출 방법으로서,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되어 있는 근접 검출 장치에서, 상기 화소 전극들의 한 방향의 배치 피치 이하인 선형 패턴의 피치를 갖는 도전막 패턴을 갖는 투명 전극을 이용하여 근접 조작을 검출하는 단계를 포함하는, 근접 검출 방법.
  4. 전자 기기로서,
    근접 검출 장치를 포함하고,
    상기 근접 검출 장치가,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부; 및
    상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 상기 화소 전극들의 한 방향의 배치 피치 이하인 선형 패턴의 피치를 갖는 근접 조작 검출부를 포함하는, 전자 기기.
  5. 근접 검출 장치로서,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부; 및
    상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴 내에 반점 형상의 비-도전부(spot-like non-conductive portion)가 형성되어 있는 근접 조작 검출부를 포함하는, 근접 검출 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 투명 전극을 형성하는 상기 도전막 패턴 내에는 상기 반점 형상의 비-도전부가 랜덤하게 배치되어 있는, 근접 검출 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 도전막 패턴은 전극으로서 기능하는 전극 패턴부와, 전극으로서 기능하지 않는 더미 패턴부를 갖고 있고, 상기 전극 패턴부와 상기 더미 패턴부의 양쪽의 도전막 패턴 내에는 상기 반점 형상의 비-도전부가 형성되어 있는, 근접 검출 장치.
  8. 근접 검출 방법으로서,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되어 있는 근접 검출 장치에서, 반점 형상의 비-도전부가 형성되어 있는 도전막 패턴을 갖는 투명 전극을 이용하여 근접 조작을 검출하는 단계를 포함하는, 근접 검출 방법.
  9. 전자 기기로서,
    근접 검출 장치를 포함하고,
    상기 근접 검출 장치가,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부; 및
    상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴 내에 반점 형상의 비-도전부가 형성되어 있는 근접 조작 검출부를 포함하는, 전자 기기.
  10. 근접 검출 장치로서,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부; 및
    상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 연속하는 굴절선 또는 파상선(wavy line)의 패턴인 근접 조작 검출부를 포함하는, 근접 검출 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 도전막 패턴은 상기 화소 전극의 한 방향의 배치 피치 이하인 상기 굴절선 또는 상기 파상선의 피치를 갖는, 근접 검출 장치.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 도전막 패턴은 전극으로서 기능하는 전극 패턴부와, 전극으로서 기능하지 않는 더미 패턴부를 갖고 있고, 상기 전극 패턴부와 상기 더미 패턴부의 양쪽의 도전막 패턴은 연속하는 상기 굴절선 또는 상기 파상선의 패턴인, 근접 검출 장치.
  13. 근접 검출 방법으로서,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되어 있는 근접 검출 장치에서, 연속하는 굴절선 또는 파상선의 도전막 패턴을 갖는 투명 전극을 이용하여 근접 조작을 검출하는 단계를 포함하는, 근접 검출 방법.
  14. 전자 기기로서,
    근접 검출 장치를 포함하고,
    상기 근접 검출 장치가,
    복수의 화소 전극이 행렬 형상으로 배치된 표시 화상면을 갖는 표시부; 및
    상기 표시 화상면에 대하여 중첩되는 위치에 조작면을 형성하도록 근접 조작 검출을 위한 투명 전극이 배치되고, 상기 투명 전극을 형성하는 도전막 패턴이 연속하는 굴절선 또는 파상선(wavy line)의 패턴인 근접 조작 검출부를 포함하는, 전자 기기.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190064710A (ko) * 2017-11-30 2019-06-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US12019817B2 (en) 2017-11-30 2024-06-25 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5812895B2 (ja) 2012-02-28 2015-11-17 株式会社ジャパンディスプレイ 近接検出装置、近接検出方法、電子機器
JP5914403B2 (ja) * 2013-03-29 2016-05-11 株式会社ジャパンディスプレイ タッチ検出機能付き表示装置及び電子機器
KR101502910B1 (ko) * 2013-08-30 2015-03-16 크루셜텍 (주) 터치 검출 및 시인성 개선을 위한 터치 검출 장치
JP2015109067A (ja) * 2013-10-22 2015-06-11 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 入力装置および表示装置
CN104731422B (zh) 2013-12-24 2018-06-26 昆山维信诺显示技术有限公司 电容屏触控面板及其间隙部分氧化铟锡薄膜的刻蚀方法
TWI554931B (zh) * 2014-03-18 2016-10-21 Japan Display Inc A display device with a sensor
JP6335112B2 (ja) * 2014-03-24 2018-05-30 株式会社ジャパンディスプレイ センサ付き表示装置及びセンサ装置
US9971439B2 (en) * 2014-03-28 2018-05-15 Sharp Kabushiki Kaisha Touch-panel-equipped display device
JP6225793B2 (ja) * 2014-03-28 2017-11-08 凸版印刷株式会社 タッチセンサ用電極、タッチパネル、および、表示装置
US20150309636A1 (en) * 2014-04-25 2015-10-29 Japan Display Inc. Sensor-equipped display device
CN105094409B (zh) * 2014-05-16 2018-03-23 群创光电股份有限公司 触控显示面板
JP6329817B2 (ja) 2014-06-10 2018-05-23 株式会社ジャパンディスプレイ センサ付き表示装置
JP2016004183A (ja) * 2014-06-18 2016-01-12 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
TWI531950B (zh) * 2014-07-28 2016-05-01 群創光電股份有限公司 顯示面板
CN105320329B (zh) * 2014-07-28 2019-03-15 群创光电股份有限公司 显示面板
WO2016028081A2 (ko) * 2014-08-19 2016-02-25 크루셜텍(주) 터치 검출 장치
US20160062499A1 (en) * 2014-09-02 2016-03-03 Apple Inc. Touch pixel design for reducing visual artifacts
TWI545479B (zh) * 2014-10-09 2016-08-11 群創光電股份有限公司 觸控面板
JP6275618B2 (ja) * 2014-10-15 2018-02-07 富士フイルム株式会社 導電性フィルム、それを備える表示装置及び導電性フィルムの配線パターンの評価方法
CN104331205B (zh) * 2014-11-25 2018-10-30 上海天马微电子有限公司 触控显示装置和电子设备
CN104571702A (zh) * 2014-12-30 2015-04-29 伯恩光学(惠州)有限公司 触摸屏
CN104571704A (zh) * 2014-12-30 2015-04-29 伯恩光学(惠州)有限公司 触摸屏
CN104536620A (zh) * 2015-01-26 2015-04-22 京东方科技集团股份有限公司 触摸显示面板和触摸显示装置
CN104536634A (zh) * 2015-01-26 2015-04-22 京东方科技集团股份有限公司 一种触摸屏及显示装置
CN104536635A (zh) 2015-01-26 2015-04-22 京东方科技集团股份有限公司 一种触摸屏及显示装置
CN104638016A (zh) 2015-01-28 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 薄膜晶体管及制备方法、阵列基板及制备方法、显示装置
CN105843433B (zh) 2015-01-30 2019-01-18 乐金显示有限公司 触摸显示设备
JP6409117B2 (ja) * 2015-02-24 2018-10-17 シャープ株式会社 タッチセンサ付き表示装置
CN107250960A (zh) * 2015-02-24 2017-10-13 夏普株式会社 具有触控传感器的显示装置
JP2017010726A (ja) * 2015-06-19 2017-01-12 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
WO2016208660A1 (ja) * 2015-06-24 2016-12-29 シャープ株式会社 タッチパネル、及び表示装置
JP6710531B2 (ja) 2016-02-03 2020-06-17 株式会社ジャパンディスプレイ センサ付き表示装置及びセンサ装置
CN107153473B (zh) * 2016-03-04 2019-11-05 群创光电股份有限公司 触控显示面板
KR102040292B1 (ko) * 2016-07-28 2019-11-04 삼성에스디아이 주식회사 투명 도전체 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
JP6773528B2 (ja) * 2016-11-15 2020-10-21 株式会社ジャパンディスプレイ 感圧センサ及び感圧センサ付表示装置
US20180348909A1 (en) * 2017-05-30 2018-12-06 Egalax_Empia Technology Inc. Touch panel
KR20190015876A (ko) * 2017-08-07 2019-02-15 삼성전자주식회사 모아레 저감용 디스플레이 장치 및 그 구동방법
CN108228004B (zh) * 2018-03-23 2022-10-04 上海中航光电子有限公司 显示面板以及显示装置
WO2020028880A1 (en) 2018-08-03 2020-02-06 Apple Inc. Rectangular touch node design for metal mesh on-cell technology
TWI683245B (zh) * 2018-10-04 2020-01-21 友達光電股份有限公司 觸控顯示裝置
CN109788212A (zh) * 2018-12-27 2019-05-21 北京奇艺世纪科技有限公司 一种分段视频的处理方法、装置、终端和存储介质
DE202019102941U1 (de) 2019-02-18 2019-06-05 Becker Marine Systems Gmbh Starrsegel für Wasserfahrzeuge, insbesondere für große Schiffe, und Wasserfahrzeug mit Starrsegel
JP7281940B2 (ja) * 2019-03-28 2023-05-26 株式会社ジャパンディスプレイ 検出装置付き表示機器
US11366558B2 (en) 2019-07-26 2022-06-21 Apple Inc. Metal mesh touch electrodes with visibility mitigations
WO2022016384A1 (en) * 2020-07-21 2022-01-27 Huawei Technologies Co., Ltd. Capacitive type sensor and touch screen display
CN115291443A (zh) * 2022-06-27 2022-11-04 上海天马微电子有限公司 显示装置、显示装置控制方法及电子装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007264393A (ja) 2006-03-29 2007-10-11 Sony Corp 液晶表示装置
US20090213090A1 (en) * 2008-02-27 2009-08-27 Norio Mamba Display Panel
JP2010271925A (ja) * 2009-05-21 2010-12-02 Sony Corp 表示装置および電子機器
JP2011013881A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Panasonic Corp タッチパネル
JP2011138154A (ja) 2011-02-18 2011-07-14 Sony Corp 表示装置およびその製造方法
JP4862969B1 (ja) * 2011-02-07 2012-01-25 ソニー株式会社 透明導電性素子、入力装置、電子機器および透明導電性素子作製用原盤

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002014772A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Minolta Co Ltd タッチパネル、表示パネル及び表示装置
JP2004070771A (ja) * 2002-08-08 2004-03-04 Fujitsu Component Ltd 入力装置
JP2006017957A (ja) * 2004-06-30 2006-01-19 Sun Tec Kk レンズフィルム
JP3672038B2 (ja) * 2004-08-31 2005-07-13 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置
JP4732376B2 (ja) * 2007-02-09 2011-07-27 三菱電機株式会社 タッチパネル及びタッチパネルを備えた液晶表示装置
JP2008282001A (ja) * 2007-04-10 2008-11-20 Fujifilm Corp マトリクス型液晶表示装置
US8674950B2 (en) * 2007-09-06 2014-03-18 Cypress Semiconductor Corporation Dual-sensing-mode touch-sensor device
JP5429584B2 (ja) * 2007-09-26 2014-02-26 Ｎｌｔテクノロジー株式会社 表示装置及びそれらを用いた携帯機器、端末装置
JP5481040B2 (ja) * 2008-04-11 2014-04-23 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置とその駆動方法
US20090273577A1 (en) * 2008-04-30 2009-11-05 Apple Inc. Moire-Free Touch Screen with Tilted or Curved ITO Pattern
JP5174575B2 (ja) * 2008-07-31 2013-04-03 グンゼ株式会社 タッチパネル
JP5571298B2 (ja) * 2008-08-07 2014-08-13 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
JP4678431B2 (ja) * 2008-10-20 2011-04-27 三菱電機株式会社 タッチパネル
US8269744B2 (en) * 2008-09-05 2012-09-18 Mitsubishi Electric Corporation Touch screen, touch panel and display device
JP4968276B2 (ja) * 2009-02-24 2012-07-04 ソニー株式会社 表示装置およびその製造方法
JP5366051B2 (ja) * 2009-04-20 2013-12-11 株式会社ジャパンディスプレイ 情報入力装置、表示装置
JP5486854B2 (ja) * 2009-06-29 2014-05-07 株式会社ジャパンディスプレイ 情報入力装置、表示装置
TW201104540A (en) * 2009-07-22 2011-02-01 Ritdisplay Corp Capacitive type touch sensor
US8564552B2 (en) * 2009-10-26 2013-10-22 Atmel Corporation Touchscreen electrode arrangement with varied proportionate density
US8599150B2 (en) 2009-10-29 2013-12-03 Atmel Corporation Touchscreen electrode configuration
US9081427B2 (en) * 2010-07-16 2015-07-14 Atmel Corporation Position-sensing panel and method
US8698767B2 (en) * 2010-08-19 2014-04-15 Samsung Display Co., Ltd. Touch screen panel
JP5620193B2 (ja) * 2010-08-23 2014-11-05 株式会社ジャパンディスプレイ タッチ検出機能付き表示装置、タッチ検出装置、および電子機器
CN101984391B (zh) * 2010-10-13 2012-12-26 友达光电股份有限公司 触控面板及其修补方法
KR101224419B1 (ko) * 2010-10-26 2013-01-22 (주)삼원에스티 터치패널센서
JP5812895B2 (ja) * 2012-02-28 2015-11-17 株式会社ジャパンディスプレイ 近接検出装置、近接検出方法、電子機器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007264393A (ja) 2006-03-29 2007-10-11 Sony Corp 液晶表示装置
US20090213090A1 (en) * 2008-02-27 2009-08-27 Norio Mamba Display Panel
JP2010271925A (ja) * 2009-05-21 2010-12-02 Sony Corp 表示装置および電子機器
JP2011013881A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Panasonic Corp タッチパネル
JP4862969B1 (ja) * 2011-02-07 2012-01-25 ソニー株式会社 透明導電性素子、入力装置、電子機器および透明導電性素子作製用原盤
JP2011138154A (ja) 2011-02-18 2011-07-14 Sony Corp 表示装置およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190064710A (ko) * 2017-11-30 2019-06-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US11650683B2 (en) 2017-11-30 2023-05-16 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US12019817B2 (en) 2017-11-30 2024-06-25 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus

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Publication number Publication date
US9235282B2 (en) 2016-01-12
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US10664116B2 (en) 2020-05-26
TWI516834B (zh) 2016-01-11
US20130222297A1 (en) 2013-08-29
JP2013178598A (ja) 2013-09-09
US20170060305A1 (en) 2017-03-02
CN109101135B (zh) 2021-07-06

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