CN103294256B - 邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。

Description

邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备
技术领域
本发明涉及一种在显示表面叠有邻近操作检测单元的邻近检测装置，及其邻近检测方法以及一种包括该邻近检测装置的电子设备。
背景技术
例如，一种具有触摸传感器的所谓的显示装置已被广泛知晓，其中，在显示表面设置了检测手指、笔等在屏幕上的接触或接近的邻近检测单元。
在本说明书中，使用术语“触摸”和“邻近”，该术语中任意一个均被用于表述包含“接触”和“接近”的意思。
在具有触摸传感器的显示装置中，虽然检测电极和驱动电极被布置为叠在显示屏幕上作为用于触摸检测的透明电极，但透明电极并不完全透明，从而存在对透明电极图案的不可视化（inconspicuousness）的需求以保持显示图像的质量。
在日本未审专利申请公开第2011-138154号中，公开了改善透明电极图案不可视化的技术。
此外，在日本未审专利申请公开第2007-264393号中还公开了防止棱镜阵列和像素阵列之间的干涉引起的莫尔纹（moiré）以提高显示图像质量的技术。
发明内容
虽然在具有触摸传感器的显示装置中要求减少莫尔纹，但显示面板的像素间距与用于触摸传感器的透明电极图案间距之间的干涉生成了对比纹（莫尔条纹，moiré finge）。特别地，在R（红）、G（绿）、和B（蓝）像素添加至面板像素布局中的W（白）像素的情况下，由于白像素的影响，亮度对比度变得强烈，这具有加强莫尔条纹的倾向。
进一步地，存在对保持或改善触摸传感器特性（触摸检测灵敏度）和透明电极不可视化的需求。
本发明期望在减少由于面板像素和用于触摸传感器的透明电极图案间距之间发生干涉而产生的莫尔条纹的同时，保持触摸传感器特性和透明电极的不可视化。
根据本发明的实施方式，提出了一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有多个像素电极在其中以矩阵形布置的显示图像表面；以及邻近操作检测单元，在其中叠在显示图像表面上的位置布置用于邻近操作检测的透明电极以形成操作表面，且形成透明电极的导电薄膜图案的线性图案间距等于或小于像素电极在一个方向上的布置间距。
根据本发明的另一实施方式，提出一种包括邻近检测装置的电子设备。
根据本发明再一实施方式，提出一种邻近检测方法，包括：通过使用邻近检测装置中具有导电薄膜图案的透明电极检测邻近操作，该导电薄膜图案的线性图案间距等于或小于像素电极在一个方向上的布置间距，在该邻近检测装置中，在叠在显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，在该显示图像表面中多个像素电极在其中以矩阵形布置。
根据本发明的又一实施方式，提出一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有多个像素电极在其中以矩阵形布置的显示图像表面；以及邻近操作检测单元，其中在叠在显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，且在形成透明电极的导电薄膜图案中形成点状非导电部。
根据本发明的又一实施方式，提出一种包括邻近检测装置的电子设备。
根据本发明的又一实施方式，提出一种邻近检测方法，包括：通过使用邻近检测装置中具有导电薄膜图案的透明电极检测邻近操作，其中，点状非导电部形成在该导电薄膜图案中，在该邻近检测装置中，在叠在显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，在显示图像表面中多个像素电极在其中以矩阵形布置。
根据本发明的又一实施方式，提出一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有多个像素电极在其中以矩阵形布置的显示图像表面；以及邻近操作检测单元，其中在叠在显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，且形成透明电极的导电薄膜图案是连续折线或波形线图案。
根据本发明的又一实施方式，提出一种包括邻近检测装置的电子设备。
根据本发明的又一实施方式，提出一种邻近检测方法，包括：通过使用邻近检测装置中具有连续折线或波形线的导电薄膜图案的透明电极检测邻近操作，在所述邻近检测装置中，在叠在显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，在显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置。
根据本发明的实施方式，随着作为形成透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距变窄，形成点状非导电部，或图案化连续折线或波形线。
根据本发明的实施方式，通过缩短作为形成透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距、形成点状非导电部或图案化连续折线或波形线，可以实现莫尔纹的减少，保持或改善触摸检测灵敏度以及透明电极的不可视化。
附图说明
图1A和图1B是根据本发明的实施方式的触摸传感器单元的操作示例图；
图2A和图2B是根据本实施方式的触摸传感器单元的操作的示例图；
图3A到图3C是根据本实施方式的触摸传感器单元的输入和输出波形的示例图；
图4A至图4D是根据本实施方式的液晶显示装置的结构的示例图；
图5是根据本实施方式的液晶显示装置的像素的等价电路图；
图6是根据本实施方式的液晶显示装置的像素布置的示例图；
图7A至图7C是根据第一实施方式的检测电极的导电薄膜图案的示例图；
图8A和图8B是根据第一实施方式的检测电极中的导电薄膜的线性图案间距的示例图；
图9A和图9B是根据第一实施方式的检测电极中的导电薄膜的线性图案间距的示例图；
图10是根据第二实施方式的检测电极的导电薄膜图案的示例图；
图11A至图11C是根据第三实施方式的检测电极的导电薄膜图案的示例图；
图12A和图12B是根据第三实施方式的检测电极中的导电薄膜的折线图案间距的示例图；
图13是根据第四实施方式的检测电极的导电薄膜图案的示例图；
图14A和图14B是根据第四实施方式的检测电极中的导电薄膜的波形线图案间距的示例图；
图15A到图15C是根据本实施方式的应用示例的电子设备的示例图；
图16A和图16B是根据本实施方式的应用示例的电子设备的示例图；以及
图17A到图17E是根据本实施方式的应用示例的电子设备的示例图。
具体实施方式
下文中，作为本发明的邻近检测装置的实施方式，将描述具有触摸传感器的液晶显示装置，其中在显示面板中集成地形成触摸传感器功能。描述将按以下顺序进行。
1.触摸检测的基本配置和操作
2.液晶显示装置的配置
3.第一实施方式的检测电极
4.第二实施方式的检测电极
5.第三实施方式的检测电极
6.第四实施方式的检测电极
7.变形例和应用例
1.触摸检测的基本配置和操作
检测电极和驱动电极设置在触摸传感器中。例如，检测电极设置在面板表面侧的手指接近一侧上，设置在面板的相对应检测电极的内侧并形成用于在检测电极和另一电极之间进行检测的静电电容的该另一电极是驱动电极。
驱动电极可以是专用于触摸传感器的驱动电极。不过，作为期望的更薄的配置，驱动电极被描述为组合电极，其在本实施方式的液晶显示装置中同时进行触摸传感器的扫描驱动和图像显示装置的所谓VCOM驱动。
因此，在下面的描述中，被施加了针对液晶显示器的共用驱动信号VCOM的电极被称为对向电极。不过，该“对向电极”指的是与用于驱动触摸传感器的“驱动电极”相同的电极，在图4A到图5等中使用如“对向电极43”和“驱动电极43”的相同参考标号。
首先，将参考图1A到图3C描述本实施方式的液晶显示装置中的触摸检测的原理。
图1A和图2A是触摸传感器单元的等价电路图，图1B和图2B是触摸传感器单元的结构图（示意性截面图）。这里，图1A和图1B示出了手指（其作为要被检测的对象）未接近传感器的情况，图2A和图2B示出了手指接近或与传感器接触的情况。
图中所示的触摸传感器单元是静电电容型触摸传感器并如图1B和图2B所示由电容性元件组成。具体地，电容性元件（静电电容）C1包括绝缘体和被布置为彼此相对的、绝缘体介于其间的一对电极，即，驱动电极E1和检测电极E2。
如图1A和图2A所示，电容性元件C1的驱动电极E1连接至AC信号源S（其产生AC脉冲信号Sg），电容性元件C1的检测电极E2连接至电压检测器DET。同时，检测电极E2通过电阻器R接地以便电固定DC电平。
具有（例如）约数kHz到几十kHz预定频率的AC脉冲信号Sg从AC信号源施加到驱动电极E1。作为示例，图3B中示出了AC脉冲信号Sg的波形图。
然后，在检测电极E2中产生如图3A所示的输出波形（检测信号Vdet）。
而且，上述的实施方式是驱动电极E1对应于用于驱动液晶的对向电极（用于面向像素电极的多个像素的共用电极）的示例。称为所谓的Vcom反向驱动的AC驱动对用于驱动液晶的对向电极执行。因此，在该实施方式中，用于Vcom反向驱动的共用驱动信号Vcom用作AC脉冲信号Sg来驱动针对触摸传感器的驱动电极E1。
在图1A和1B中所示的手指未接近的状态中，对电容性元件C1的驱动电极E1执行AC驱动，根据其放电或充电在检测电极E2中产生AC检测信号Vdet。下面，此时的检测信号表示为“初始检测信号Vdet0”。
虽然检测电极E2侧是DC接地，但由于从高频角度来看，检测电极E2侧并不接地，所以不存在AC的放电通路，进而初始检测信号Vdet0的脉冲峰值相对较大。但是，在AC脉冲信号Sg升高之后经历了时间，由于损耗，初始检测信号Vedt0的脉冲峰值逐渐下降。
在图3C中，按比例放大该波形。由于随时间的高频损耗，初始检测信号Vdet0的脉冲峰值从初始值2.8V下降到0.5V。
在手指由初始状态在有效近距离（effective point-blank distance）内接触或接近检测电极E2，电路状态变为如图2A中所示的电容性元件C2连接至检测电极E2的情况的等价状态。这是由于从高频的观点看，人体等价于一侧接地的电容。
在接触状态，通过电容性元件C1和C2形成针对AC信号的放电通路。因此，根据电容性元件C1和C2的放电或充电，AC分别流过电容性元件C1和C2。因此，初始检测信号Vdet0被分压为由电容性元件C1与C2的比值确定的值并且脉冲峰值下降。
图3A到图3C中所示的检测信号Vedt1是在手指接触检测电极E2时在检测电极E2中产生的检测信号。可从图3C中看出检测信号的下降量约为0.5V到0.8V。
例如，图1A到图2B中所示的电压检测器DET通过利用阈值Vth检测检测信号的下降以便检测手指的接触。
2．液晶显示装置的配置
根据本实施方式的液晶显示装置的结构将参照图4A到图6进行描述。
图4A到图4C是平面视图，尤其示出了液晶显示装置1的电极和用于驱动或检测该电极的电路配置。此外，图4D示出了液晶显示装置1的示意截面结构。例如，图4D示出了在行方向（像素显示线方向）上的六个像素的截面。
进一步地，图5是在液晶显示装置1中在矩阵方向上以矩阵形状形成的像素PIX的等价电路图。
进一步地，图6示出像素电极布置状态。
如图5所示，每个像素PIX具有薄膜晶体管（TFT；下文中，被称为TFT23）作为像素选择元件，液晶层6的等价电容C6和保持电容（也被称为附加电容）Cx。布置在等价电容C6（其代表液晶层6）一侧的电极是针对每一像素所划分并以矩阵形布置的像素电极22，布置在另一侧的电极是对多个像素共用的对向电极43。
像素电极22连接至TFT23的源极和漏极之一，信号线SIG连接至TFT23的源极和漏极中的另一个。信号线SIG连接至信号线驱动电路（未示出）以便从信号线驱动电路向信号线SIG提供具有信号电压的视频信号。
在对向电极43中提供共用驱动信号Vcom。共用驱动信号Vcom是通过在每个水平周期（1H）中关于中心电势反转正负电势得到的信号。
对向电极43是对于多个像素PIX的共用电极，施加对信号电压施加参考电压以用于每个像素的灰度显示的共用驱动信号Vcom。
TFT23的栅极由布置在行方向（即，在显示画面的水平方向）的所有像素PIX电共享，从而形成扫描线SCN。扫描线SCN由来自扫描线驱动电路（未示出）的栅极脉冲输出提供，用于导通或关断TFT23的栅极。因此，扫描线SCN也被称为栅极线。
如图5所示，保持电容Cx并联至等价电容C6。设置保持电容Cx从而防止由于等价电容C6的存储容量所致的来自TFT23的漏电流而引起写电势减少。此外，加入保持电容Cx从而防止了闪烁并提高了屏幕亮度的均匀性。
图6示出了像素电极22的布置。
如图6所示，以平行带状布置在行方向（x方向）上的多个栅极线（扫描线SCN，参照图5）与以平行带状布置在列方向（y方向）上的多个信号线SIG交叉。由任意两个扫描线SCN和任意两个信号线SIG所围成的矩形区域定义了（子）像素PIX。按照比每个像素PIX稍小的矩形隔离图案形成像素电极22。以这种方式，以平面形状内的矩阵形来布置多个像素电极22。
其中布置这样的像素的液晶显示装置1设置有：基板（下文中，称为驱动基板2），该基板在图4D的截面结构（z方向结构）所示的截面中未示出的区域具有图5所示的TFT23并被提供像素的驱动信号（信号电压）；对向基板4，布置为面向驱动基板2；和液晶层6，布置在驱动基板2和对向基板4之间。
该示例中的液晶显示装置1设置有：用于驱动液晶显示的彼此面对的像素电极22和对向电极43，液晶层6介于其间；以及检测电极44和驱动电极（=对向电极）43，用于驱动触摸传感器。
在图4D中，为了容易地观察截面结构，对向电极（驱动电极43）、像素电极22、和检测电极44阴影化，其他部分（诸如基板、绝缘薄膜、功能薄膜）未被阴影化。
作为实现显示功能的部分，权利要求中的显示单元包括驱动基板2、液晶层6、对向电极43和滤色片42。
此外，作为实现触摸传感器功能的部分，权利要求中的邻近操作检测单元包括对向电极4（驱动电极43、检测电极44等）、检测单元8、和检测驱动扫描单元9。
驱动基板2具有作为电路基板的其上形成图5的TFT23的TFT基板21，以及以矩阵形布置在该TFT基板21上的多个像素电极22。
TFT基板21的基板主体由玻璃等制成。用于驱动每个像素电极22的显示驱动器（未示出）（信号线驱动电路、扫描线驱动电路等）形成在TFT基板21上。此外，图5的TFT23和诸如信号线SIG和扫描线SCN的配线线路形成在TFT基板21上。用于触摸检测操作的检测电路可形成在TFT基板21上。
对向基板4具有玻璃基板41、形成在玻璃基板41的一表面上的滤色片42、以及形成在滤色片42（液晶层6侧）上的对向电极43。
通过周期性地布置具有（例如）红（R）、绿（G）、和蓝（B）色的三个滤色层来配置滤色片42，每个像素PIX（像素电极22）对应于R、G、和B三色之一。虽然在某些情况中，对应于一种颜色的像素称为子像素，具有R、G、和B三种颜色的三个子像素称为像素，但本文中子像素也表示为像素PIX。
此外，在某些情况中，除R、G、B外还设置了白像素（W），在该状态中与四种颜色对应的滤色片布置在滤色片42中。
对向电极43还被用作构造用于进行触摸检测操作的触摸传感器的一部分的传感器驱动电极，对向电极43对应于图1到图2B的驱动电极E1。
对向电极（驱动电极）43通过接触导电柱7连接至TFT基板21。具有AC脉冲波形的共用驱动信号Vcom从TFT基板21通过接触导电柱7施加至对向电极43。共用驱动信号Vcom对应于从图1A到图2B的驱动信号源S供应的AC脉冲信号Sg。
检测电极44形成在玻璃基板41的另一表面（显示表面侧）上，保护层45形成在检测电极44上。
检测电极44构造触摸传感器的一部分，并对应于图1A到图2B中的检测电极E2。进行触摸检测操作的检测电路（稍后描述）可形成在玻璃基板41上。
液晶层6是显示功能层并根据所施加的电场状态对于在厚度方向上穿过该层的光进行调制。利用诸如TN（扭曲向列）、VA（垂直配向）、和ECB（电控双折射）的多种液晶材料模式可形成液晶层6。
配向薄膜分别设置在液晶层6和驱动基板2之间以及液晶层6和对向基板4之间。此外，偏光板分别被设置在驱动基板2的显示表面反侧（即，后表面侧）和对向基板4的显示表面侧。这样，光功能层从图4A到图4D中略去。
如图4A到图4C所示，驱动电极43和检测电极44在彼此交叉的方向上分割。
图4A示出了驱动电极43的布置状态，图4B示出了检测电极44的布置状态，图4C示出了其组合。
如图4A所示，驱动电极43在像素布置的行或列方向上分割，例如，在本示例中在列方向上（图的y方向）上分割。分割方向对应于显示驱动中的像素线的扫描方向，即，用于通过扫描线驱动电路（未示出）顺序地激活扫描线SCN的方向。
对于经分割的驱动电极43，布置预定数目n的驱动电极43_1、43_2、……、43m、……43_n。这里，“m”是大于等于2且小于“n”的整数。
驱动电极43_1到43_n以宽度相对较小并在行方向（x方向）延伸的带状布置，并彼此平行间隔。这里，作为添加至液晶显示装置的触摸传感器，驱动电极43的宽度（y方向的尺寸）被定义而不考虑液晶显示装置的像素尺寸。驱动电极43的宽度越小，检测精度或对象检测分辨率越高。
n分割的驱动电极43_1到43_n以m（2≤m<n）为单位同时被驱动。
同时被驱动的驱动电极43组被表示为AC驱动电极单元EU。在本实施方式中，在一个AC驱动电极单元EU中的驱动电极的数量是固定值m。此外，在驱动电极组合部分地重叠并改变的同时，AC驱动电极单元EU在列方向上逐步位移。
位移的方向是图4A到图4C的y方向，并称为扫描方向。此外，被选为连续驱动电极组的驱动电极的组合在一个方向上位移的操作被称为扫描。
在每次位移中被选为AC驱动电极单元EU的对向电极组合在扫描中位移。
这时，在位移一次之前和之后所进行的连续两个选择中，一个或多个驱动电极被重叠并选择。在由驱动电极的数目代表位移量时，位移量的范围对应于大于等于1并小于等于（m-1）的驱动电极的数目。
这种利用驱动电极组的AC驱动电极单元EU作为单位的AC驱动操作和用于AC驱动电极单元EU的位移操作由检测驱动扫描单元9进行。
期望位移量是等价于一个驱动电极的最小量，这是因为可将检测精度和检测对象的分辨率设为最高。该所期望的最小位移量是下面描述的前提。在此前提下，检测驱动扫描单元9的操作可被认为与“通过在列方向上逐个改变由移动同时交流驱动m个驱动电极43的驱动信号源S（参照图1A至图2B）所选定的驱动电极43的同时在列方向上进行的扫描操作”相同。从图4A和图4C中的驱动信号源S画出的箭头示意性地指示了信号源的扫描。
另一方面，如图4B所示的检测电极44由在x方向上被分为预定数量k并以平行带状（其长为垂直于驱动电极43的y方向）布置的导电薄膜形成。各个检测电极被标注为44_1到44_k。
检测单元8连接至如上所述布置的k个检测电极44_1到44_k的一端。检测单元8的基本检测单元是作为图1A到2B中所示的“检测电路”的电压检测器DET。
k个检测电极44_1到44_k被连接至相当于检测单元8的电压检测器DET。因此，电压检测器DET可检测来自每条检测线的检测信号Vdet（参照图3A到3C）。
上面在图4A到4C中所示的驱动电极43和检测电极44的布置图案冗余地布置在如图6所示地形成有以矩阵形布置的像素PIX的显示图像表面上。
驱动电极43和检测电极44或像素电极22分别是透明电极并由例如ITO、IZO、或有机导电薄膜制成。
3.第一实施方式的检测电极
将描述具有上面如第一实施方式配置的液晶显示装置1中的检测电极44的导电薄膜图案。
首先，图7A示出了检测电极44的导电薄膜图案的示例。这里，图4A到4D中所示的检测电极44_1到44_k中的某两个检测电极44_q和44_q+1被示出。为了示图方便，放大了检测电极44_q和44_q+1的电极宽度方向而减少了其纵向方向。
图7A中，阴影部分是形成导电薄膜e的部分，而无阴影部分是未形成导电薄膜e的部分（下文中，称为狭缝SL）。
如图中所示，作为形成检测电极44的导电薄膜图案，存在电连接至上述检测单元8而真正用作电极的电极图案部（即，作为检测电极44_q和44q+1的部分）和不用作电极并在其中形成导电薄膜e的伪图案部dmp。
在图7C中，作为一个检测电极44_q的部分被提取示出。如图中所示，一个检测电极44_q被形成为正方形导电薄膜。各个检测电极44_1到44_k形成为各个正方形导电薄膜，各个检测电极的端连接至相当于上述检测单元8的电压检测器DET。
检测电极44_q具有导电薄膜图案，其中在方形图案的两侧形成所需数量的狭缝SL，即，实际在图4B所示的y方向延伸的部分。图7B以放大的方式示出了其中狭缝SL被形成在部分方形导电薄膜图案中。
此外，狭缝SL也形成在设置在方形内部和相邻方形图案之间的伪图案部分dmp中。
设置伪图案部分dmp以及在作为检测电极44_1到44_k和伪图案部分dmp的导电薄膜e的图案中设置狭缝SL的原因如下。
首先，检测电极44被形成为透明电极。然而，检测电极并不完全透明。为了增加作为显示图像的光的透光率，这就需要设置其中不存在导电薄膜e的部分。
另一方面，从触摸检测灵敏度的观点来看，最好不要增加方形图案部分的电阻值。即，从触摸检测灵敏度观点来看，最好避免盲目地在方形图案中设置其中不存在导电薄膜e的部分。
考虑到上面的问题，在线性导电薄膜e形成在方形图案部分中并尽量不增加电阻值的同时，可形成非导电部分。然后，如图7C所示，方形图案部分形成没有导电薄膜的狭缝SL以增加透光率，并确保了导电薄膜e的线性图案从而保持电极的低阻值。
此外，当仅形成图7C中所示的方形图案部分时，从检测电极44_1到44_k的不可视化观点来看是不利的。
换句话说，其中形成导电薄膜e的检测电极44_1到44_k与每个检测电极之间的非导电薄膜间的差异易于被发现并无法保持电极的不可视化。
伪图案部分dmp形成在方形图案内和检测电极44_1和44_k的间隔中。狭缝SL形成于作为方形图案的伪图案部分dmp中以提高关于导电薄膜e（检测电极44_1到44_k的整个形成表面）作为整体的不可视化。
可以通过如图7A到7C所示的检测电极44_1到44_k的导电薄膜图案保持或提高检测特性和不可视化。而且，在本实施方式中可实现莫尔纹的减少。
图8A和8B示意性地示出了导电薄膜e和像素电极22之间的布置位置关系。
图中的导电薄膜e对应于图7A中的检测电极44_q和44_q+1（方形图案部分）中的任意一个、和伪图案部分dmp。即，其中形成被狭缝SL分割的线性导电薄膜e的区域部分被示出。
此外，关于像素电极22，每个子像素R、G、和B的布置状态由带有R、G和B的虚线标示。
图8A示出了其中被狭缝SL分割的导电薄膜e的线性图案的间距Pe大于像素电极22在一个方向（x方向）上的布置间距Pg的情况。
例如，线性图案彼此分离的间距Pe为像素电极22的布置间距Pg的自然数倍的间距（在图中是三倍）。
在这种情况中，形成驱动电极43（或伪图案部分dmp）的导电薄膜e的线性图案和像素图案彼此干涉而被示为莫尔条纹，其在某些情况下可被人眼观察到。
在该实施方式中，如图8B所示，在被狭缝SL分割的导电薄膜e的线性图案中的间距Pe小于等于像素电极22在一个方向（x方向）上的间距Pg。
形成驱动电极43（或伪图案部分dmp）的导电薄膜e中的线性图案的间距Pe被缩短以小于或等于子像素的间距Pg，然后莫尔条纹几乎不可见。
在这种情况中，不仅线性图案的间距Pe被缩短为等于或小于子像素的间距Pg，而且从减少莫尔纹的观点来看，最好线性图案的间距不具有以诸如1、2、3……这样的自然数除子像素的间距Pg所得到的值。
换句话说，在减少莫尔条纹的过程中，通过缩短导电薄膜e的线性图案间隔，可有效地减少导电薄膜e的图案对于人类的可视度，通过减弱像素电极图案的规律性来离散干涉。
当设置具有R、G、B和W四种颜色的像素PIX时，由于白色像素的影响，亮度对比变得强烈，相较于使用R、G和B三色的情况，莫尔条纹加强更多。
该实施方式甚至可适当地应用至使用R、G、B和W四色像素的情况。
图9A和9B示意性地示出了对于如图8A和8B所示的像素电极22的导电薄膜e。
此外，作为像素电极22的每个子像素R、G、B和W的布置状态由带有R、G、B和W的虚线标示。
图9A示出了其中被狭缝SL分割的导电薄膜e的线性图案的间距Pe大于像素电极22在一个方向（x方向）上的间距Pg的情况。
然后，例如，线性图案的间距Pe被以像素电极22的间距Pg的自然数倍（在该图中为三倍）的间隔彼此分开以便狭缝SL位于B像素和W像素中。
在这种情况中，莫尔条纹是明显的。
作为实施方式，如图9B所示，被狭缝SL分割的导电薄膜e的线性图案的间距Pe小于等于像素电极22在一个方向（x方向）上的间距Pg。
线性图案的间距最好不具有以自然数除子像素的间距Pg所得的值。
按照这种方式，即使在具有四色像素的配置中，莫尔条纹也可以是不显著的。
4．第二实施方式的检测电极
将利用图10描述作为第二实施方式的检测电极44_1到44_k中的导电薄膜图案。
图10示出了如上述图7A的检测电极44_1到44_k的某检测电极44_q和44_q+1中的导电薄膜e的图案。
与第一实施方式相同，检测电极44_q和44_q+1以方形来图案化，伪图案部分dmp形成。
第二实施方式中，在导电薄膜e上形成点状非导电部dt而不是上述的狭缝SL。
在图中的该示例中，点状非导电部dt随机形成在导电薄膜e上。
第二实施方式中，点状非导电部dt被随机布置以使作为检测电极44_1到44_k（和伪图案部分dmp）的导电薄膜图案不太可能与像素电极间距发生干涉（减少干涉位置）。由此，实现莫尔条纹的减少。
此外，作为检测电极44_1到44_k的方形图案的导电薄膜e的面积增加，阻值减少，从而比第一实施方式更大地提高传感器检测特性。
此外，伪图案部分dmp设置在方形图案的内部和相邻检测电极44之间，从而随机将点状非导电部dt设置在检测电极44_1到44_k的方形图案中的伪图案部分dmp中。因此，检测电极44_1到44_k的不可视化被保持或提高。
然后，点状非导电部dt的面积最好等于或大于子像素的显示面积的0.0025倍，从而获得莫尔纹减少效果。
此外，虽然点状非导电部dt被随机布置是合适的，但点状非导电部dt可不必随机布置。具有即使当存在规律性时也不太可能与像素电极图案发生干涉的布置图案就足够了。
点状非导电部dt的形状并不限于图中所示的方形，可考虑诸如圆形、椭圆形、矩形、三角形、多角形、或未定义形状的多种形状。
5．第三实施方式的检测电极
将参照图11A到12B描述作为第三实施方式的检测电极44_1到44_k的导电薄膜图案。导电薄膜图案被示为连续折线的图案示例。
图11A示出了在以上如图7A中的检测电极44_1到44_k中的某检测电极44_q和44_q+1中的导电薄膜e的图案。
正如上面的实施方式，检测电极44_q和44_q+1具有方形图案，并且伪图案部分dmp形成。
在第三实施方式中，折线狭缝SL形成在导电薄膜e上，导电薄膜e具有按照折线狭缝的折线图案。
由于导电薄膜e具有折线形，与像素电极图案的干涉被减少，实现了莫尔纹的减少。
然后，通过在几乎呈直线形的检测电极44_1到44_k的方形图案中保持导电薄膜e，电阻值被保持较低，从而保持传感器检测性能。
此外，伪图案部分dmp设置在方形图案内部和检测电极的间隔部分，折线狭缝SL也被形成在检测电极44_1到44_k的方形图案中的伪图案部分dmp中。然后，导电薄膜e具有折线图案以实现检测电极44_1到44_k的不可视化。
这里，可在图12A和12B的任何示例中考虑导电薄膜e的折线间距Pe。
图12A和12B示意性地示出关于图9A和9B的像素电极22的导电薄膜e。对于像素电极22，每个子像素R、G、B和W的布置状态由带有R、G、B和W的虚线标示。
图12A示出了其中被狭缝SL分割的导电薄膜e的折线图案的间距Pe大于像素电极22在一个方向（X方向）上的布置间距Pg的情况。
在上面的第一实施方式中，当导电薄膜e的线性图案的间距Pe大于像素的间距Pg时，莫尔条纹是很明显的。但是，在第三实施方式中，由于导电薄膜e具有折线图案，与像素电极22的图案的干涉被抑制。因此，即使Pe>Pg，也可以获得莫尔减少效果。
另一方面，图12B是被狭缝SL分割的导电薄膜e的折线图案的间距Pe等于或小于像素电极22在一个方向（x方向）上的布置间距Pg的示例。
优选的是折线图案的间距Pe不具有以自然数除子像素的间距Pg所得的值。
按照这种方式，可通过将折线图案的间距Pe缩短为等于或小于间距Pg并减弱子像素图案的规律性来进一步增强莫尔纹减少效果。
然后，图11B以放大的方式示出了导电薄膜e的折线图案的一部分。进而，存在形成折线的角θ的适当角度范围。
首先，对于莫尔条纹减少效果，5°<θ<85°的范围是合适的，原因在于可轻松地避免与像素电极22的图案的干涉。
此外，从传感器检测特性的观点来看，导电薄膜图案可具有几乎直线的形状。因此，0°<θ<45°的范围是合适的。
最终，针对包含于两个以上角度范围内的角度范围，5°<θ<45°是合适的。
例如，最好是θ=15°。
此外，从莫尔纹减少的效果来看，即，从减少与像素电极22的图案干涉的意义上来看，最好是为每个像素在y方向上布置折线图案的重复从而在对应一个像素的区域中形成折线。
例如，图11C示出了由虚线指示的布置在y方向上的像素PIX的范围。而且，如图所示，一种折线图案形成在对应一个像素PIX的范围中。
6．第四实施方式的检测电极
将参照图13到14B描述作为第四实施方式的检测电极44_1到44_k的导电薄膜图案。本实施方式是具有连续波形线图案的导电薄膜图案的示例。
图13示出了如以上图7A的检测电极44_1到44_k的某检测电极44_q、44_q+1中的导电薄膜e的图案。
检测电极44_q和44_q+1具有方形图案，伪图案部分dmp以相同方式形成。
在第四实施方式中，波形狭缝SL形成在导电薄膜e上以便导电薄膜e具有按照波形狭缝的波形线（蛇纹线）图案。
导电薄膜e具有波形线形，特别是移除了角部分从而减小了与像素电极图案的干涉以实现莫尔纹的减少。
然后，由于检测电极44_1到44_k的方形图案的导电薄膜e保持为几乎直线的状态，阻值保持较低进而保持了传感器检测特性。
进一步地，伪图案部分dmp设置在方形图案的内部或检测电极的间隔部分，波形狭缝SL也被形成在检测电极44_1到44_k的方形图案的伪图案部分dmp中。由于导电薄膜具有波形线图案，实现了检测电极44_1到44_k的不可视化。
这里，可在图14A和14B的任意示例中考虑具有波形线形的导电薄膜e的间距Pe。
图14A和14B示意性地示出了关于如图9A和9B中的像素电极22的导电薄膜e。对于像素电极22，每个子像素R、G、B和W的布置状态由带有R、G、B和W的虚线标示。
图14A是被狭缝SL分割的导电薄膜e的折线图案的间距Pe大于像素电极22在一个方向（x方向）上的布置间距Pg的情况。
在这种情况中，即使如第三实施方式中那样导电薄膜e的线形图案的间距Pe大于像素的间距Pg，由于导电薄膜e具有波形线图案，与像素电极22的图案的干涉被抑制。因此，当Pe>Pg时，可获得莫尔纹减少的效果。
此外，图14B是其中被狭缝SL分割的导电薄膜e的折线图案的间距Pe等于或小于像素电极22在一个方向（x方向）上的间距Pg的示例。
折线图案的间距Pe最好不具有以自然数除子像素的间距Pg得到的值。
以这种方式，莫尔纹减少效果可通过将折线图案的间隔Pe缩短为等于或小于间隔Pg并减弱子像素图案的规则性而进一步增强。
7.变形例和应用例
虽然上面已经描述了本实施方式，上述液晶显示装置是具有邻近检测装置的显示装置的示例。此外，本身具有触摸传感器的液晶显示装置1的配置也仅是示例。
当提供诸如触摸传感器这样的邻近检测功能时，本发明可应用至诸如等离子显示装置或有机EL显示装置的多种显示装置作为透明电极的导电薄膜图案以及液晶显示装置。
在本实施方式中，尽管示例了用于触摸传感器功能的检测电极44，本发明还可应用为驱动电极43的图案。
下面，将参照图15A到17E描述本发明的邻近检测装置，例如具有触摸传感器的显示装置的应用示例。本发明的邻近检测装置可被应用至具有将从外界输入的视频信号或内部生成的视频信号显示为图像或视频的显示装置的电子设备的各个领域，诸如电视装置、数码相机、笔记本个人电脑和移动手机或视频摄像机的便携式终端装置。
应用示例1
图15A示出了应用具有本实施方式的触摸传感器的液晶显示装置1的电视装置的外观。电视装置具有（例如）前面板511和包括滤色片512的视频显示屏幕单元510，视频显示屏幕单元510被配置有根据本实施方式的液晶显示装置1。
应用示例2
图15B示出了应用本实施方式的液晶显示装置1的笔记本个人电脑的外观。笔记本个人电脑具有（例如）主体531、用于字母等输入操作的键盘532和显示图像的显示单元533，显示单元533配置有根据本实施方式的液晶显示装置1。
应用示例3
图15C示出了应用本实施方式的液晶显示装置1的视频摄像机的外观。视频摄像机具有（例如）主体单元541、用于对主体单元541的前表面侧的对象成像的镜头542、对于对象进行成像时的开始和停止开关543、以及显示单元544，显示单元544配置有根据本实施方式的液晶显示装置1。
应用示例4
图16A和16B示出了应用本实施方式液晶显示装置1的数码相机的外观。图16A示出了前表面外观，图16B示出了数码相机的后表面外观。数码相机具有（例如）带有触摸板520的显示单元、成像镜头521、闪光灯单元523和快门按钮524，显示单元520配置有根据本实施方式的液晶显示装置1。
应用示例5
图17A到17E示出了应用本实施方式液晶显示装置1的移动手机的外观。分别地，图17A示出了开盖状态下的移动手机的操作表面和显示表面，图17B示出了关盖状态下的顶部表面，图17C示出了关盖状态下的底部表面。图17D和17E是关盖状态下顶部表面和底部表面的透视图。
例如，移动手机通过用连接部（折叶部）556连接的上机盖550和下机身551形成并具有显示器552、副显示器553、按键操作单元554和照相机555。显示器552和副显示器553配置有根据本实施方式的液晶显示装置1。
接下来，本发明可采用如下配置：
（a1）一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。
（a2）根据（a1）的邻近检测装置，其中，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，在所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在所述一个方向上的所述布置间距。
（b1）一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，其中，在叠在所述显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，在形成所述透明电极的导电薄膜图案中形成点状非导电部。
（b2）根据（b1）的邻近检测装置，其中，所述点状非导电部随机布置在形成所述透明电极的所述导电薄膜图案中。
（b3）根据（b1）或（b2）的邻近检测装置，其中，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，所述点状非导电部形成在所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案中。
（c1）一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，其中，在叠在所述显示图像表面上的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案是连续折线或波形线图案。
（c2）根据（c1）的邻近检测装置，其中，所述导电薄膜图案的所述折线或所述波形线的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。
（c3）根据（c1）或（c2）的邻近检测装置，其中，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案是所述连续折线或波形线图案。
本发明包括涉及于2012年2月28日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP2012-040842中所公开的主题，其全部内容据此并入以供参考。
本领域技术人员应理解，只要在所附权利要求或其等价物的范围内，可根据设计要求和其他因素进行多种修改、组合、子组合和变化。

Claims (4)

1.一种邻近检测装置，包括：
显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及
邻近操作检测单元，其中，在叠在所述显示图像表面上的位置处布置作为用于邻近操作检测的透明电极的检测电极从而形成操作表面，在形成所述检测电极的导电薄膜图案中形成点状非导电部，所述点状非导电部随机布置在形成所述检测电极的所述导电薄膜图案中，
其中，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，所述点状非导电部形成在所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案中。
2.根据权利要求1所述的邻近检测装置，
其中，所述导电薄膜图案具有方形图案的所述电极图案部和配置于所述电极图案部的内部的所述伪图案部，所述点状非导电部形成在所述电极图案部和配置于所述电极图案部的内部的所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案中。
3.一种邻近检测方法，包括：
通过利用邻近检测装置中具有导电薄膜图案的检测电极来检测邻近操作，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，点状非导电部形成在所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案中，在所述邻近检测装置中，在叠在显示图像表面上的位置处布置作为用于邻近操作检测的透明电极的所述检测电极从而形成操作表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置。
4.一种电子设备，包括：
邻近检测装置，
其中，所述邻近检测装置包括：
显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及
邻近操作检测单元，其中，在叠在所述显示图像表面上的位置处布置作为用于邻近操作检测的透明电极的检测电极从而形成操作表面，在形成所述检测电极的导电薄膜图案中形成点状非导电部，所述点状非导电部随机布置在形成所述检测电极的所述导电薄膜图案中，
其中，所述导电薄膜图案具有用作电极的电极图案部和不用作电极的伪图案部，所述点状非导电部形成在所述电极图案部和所述伪图案部两者的所述导电薄膜图案中。
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