KR20110050964A - 반도체 패키지 및 이의 제조 방법 - Google Patents

반도체 패키지 및 이의 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20110050964A
KR20110050964A KR1020090107588A KR20090107588A KR20110050964A KR 20110050964 A KR20110050964 A KR 20110050964A KR 1020090107588 A KR1020090107588 A KR 1020090107588A KR 20090107588 A KR20090107588 A KR 20090107588A KR 20110050964 A KR20110050964 A KR 20110050964A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
semiconductor
chip
pad
electrode
semiconductor chip
Prior art date
Application number
KR1020090107588A
Other languages
English (en)
Inventor
나다운
김재면
김태훈
정정태
민복규
김기범
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020090107588A priority Critical patent/KR20110050964A/ko
Priority to US12/819,279 priority patent/US8304879B2/en
Publication of KR20110050964A publication Critical patent/KR20110050964A/ko
Priority to US13/633,425 priority patent/US20130040425A1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L25/0657Stacked arrangements of devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/13001Core members of the bump connector
    • H01L2224/1302Disposition
    • H01L2224/13025Disposition the bump connector being disposed on a via connection of the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/13001Core members of the bump connector
    • H01L2224/13099Material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16135Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/16145Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32135Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/32145Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48105Connecting bonding areas at different heights
    • H01L2224/48108Connecting bonding areas at different heights the connector not being orthogonal to a side surface of the semiconductor or solid-state body, e.g. fanned-out connectors, radial layout
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73257Bump and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/0651Wire or wire-like electrical connections from device to substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06555Geometry of the stack, e.g. form of the devices, geometry to facilitate stacking
    • H01L2225/06562Geometry of the stack, e.g. form of the devices, geometry to facilitate stacking at least one device in the stack being rotated or offset
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/481Internal lead connections, e.g. via connections, feedthrough structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01075Rhenium [Re]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

반도체 패키지 및 이의 제조 방법이 개시되어 있다. 반도체 패키지는 각각 칩 선택 패드 및 관통 전극을 포함하며, 상기 각 칩 선택 패드는 노출되고 상기 각 관통 전극은 전기적으로 연결되도록 적어도 2 개가 적층된 반도체 칩들을 포함하는 반도체 칩 모듈, 상기 반도체 칩 모듈이 실장되며 접속 패드들을 갖는 기판 및 상기 각 접속 패드들 및 상기 각 칩 선택 패드들을 전기적으로 연결하는 연결 부재를 포함한다.

Description

반도체 패키지 및 이의 제조 방법{SEMICONDUCTOR PACKAGE AND METHOD OF THE SAME}
본 발명은 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.
최근 들어, 방대한 데이터를 저장 및 방대한 데이터를 단 시간 내 처리하는 것이 가능한 반도체 칩 및 반도체 칩을 포함하는 반도체 패키지가 개발되고 있다.
최근에는 반도체 칩의 데이터 저장 용량을 증가 및 데이터 처리 속도를 보다 향상시키기 위해 적어도 2 개의 반도체 칩을 적층한 적층 반도체 패키지가 개발된 바 있다.
적층 반도체 패키지를 구현하기 위해서는 적층된 각 반도체 칩들을 전기적으로 연결하는 연결 부재를 필요로 한다.
적층 반도체 패키지에서 각 반도체 칩들은 상호 완전히 포개진 상태로 적층되기 때문에 각 반도체 칩들을 선택하고 선택된 반도체 칩으로 데이터를 인가 또는 선택된 반도체 칩으로부터 데이터를 출력하기 어려운 문제점을 갖는다.
본 발명의 하나의 목적은 관통 전극 및 반도체 칩들의 적층 구조를 개선하여 보다 쉽게 적층된 각 반도체 칩들 중 특정 반도체 칩을 선택할 수 있는 반도체 패키지를 제공한다.
본 발명의 다른 목적은 상기 반도체 패키지의 제조 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 반도체 패키지는 각각 칩 선택 패드 및 관통 전극을 포함하며, 상기 각 칩 선택 패드는 노출되고 상기 각 관통 전극은 전기적으로 연결되도록 적어도 2 개가 적층된 반도체 칩들을 포함하는 반도체 칩 모듈, 상기 반도체 칩 모듈이 실장되며 접속 패드들을 갖는 기판 및 상기 각 접속 패드들 및 상기 각 칩 선택 패드들을 전기적으로 연결하는 연결 부재를 포함한다.
반도체 패키지의 상기 각 반도체 칩들은 적층된 상기 각 반도체 칩들의 상기 각 칩 선택 패드를 외부에 노출시키기 위해 상기 각 반도체 칩들의 중심을 기준으로 지정된 각도로 회전된 원형 계단 형태로 배치된다.
반도체 패키지의 상기 칩 선택 패드는 상호 대각선 방향에 배치된 상기 모서리들에 각각 배치된다.
반도체 패키지의 상기 관통 전극은 상기 칩 선택 패드가 형성된 일측 단부로부터 상기 일측 단부와 대향하는 타측 단부로 갈수록 면적이 감소되는 형상을 갖는다.
반도체 패키지의 상기 연결 부재는 상기 칩 선택 패드 및 상기 접속 패드를 전기적으로 연결하기 위한 본딩 와이어를 포함한다.
반도체 패키지의 상기 관통 전극은 제1 평면적을 갖고, 상기 칩 선택 패드는 상기 제1 평면적보다 작은 제2 평면적을 갖는다.
반도체 패키지의 상기 접속 패드들은 매트릭스 형태로 배열된다.
반도체 패키지는, 상기 칩 선택 패드를 관통하는 추가 관통 전극 및 상기 추가 관통 전극과 대응하는 접속 패드로부터 상기 추가 관통 전극과 마주하는 부분까지 연장되어 상기 연결 부재에 의해 상기 추가 관통 전극과 상기 접속 패드가 전기적으로 연결되게 하는 연장부를 더 포함하고, 상기 연결 부재는 상기 칩 선택 패드 및 상기 접속 패드를 전기적으로 연결하기 위한 구 형상 또는 기둥 형상을 갖는 도전 부재를 포함한다.
본 발명에 따른 반도체 패키지의 제조 방법은, 반도체 칩 몸체, 상기 반도체 칩 몸체의 상면 모서리들 중 적어도 하나의 모서리에 배치된 칩 선택 패드 및 상기 반도체 칩 몸체를 관통하는 관통 전극을 갖는 반도체 칩을 제조하는 단계, 상기 각 칩 선택 패드는 노출되고 상기 각 관통 전극은 전기적으로 연결되도록 적어도 2 개의 반도체 칩들을 적층하여 반도체 칩 모듈을 형성하는 단계 및 상기 반도체 칩 모듈을 접속 패드들을 갖는 기판 상에 배치하는 단계를 포함한다.
상기 반도체 칩 모듈을 상기 기판 상에 배치하는 단계는 각 칩 선택 패드와 상기 기판의 접속 패드를 도전성 와이어로 본딩하는 단계를 포함한다.
상기 반도체 칩을 제조하는 단계는 상기 칩 선택 패드를 관통하는 추가 관통 전극을 형성하는 단계를 더 포함하고, 상기 반도체 칩 모듈을 상기 기판 상에 배치하는 단계는 상기 추가 관통 전극과 상기 기판의 접속 패드로부터 상기 추가 관통 전극과 마주하는 부분까지 형성된 연장부를 구 형상 또는 기둥 형상을 갖는 도전 부재를 이용하여 전기적으로 연결하는 단계를 포함한다.
본 발명에 따르면, 복수개의 반도체 칩들을 적층한 상태에서 쉽고 복잡한 구조 없이 적층된 반도체 칩들을 선택할 수 있도록 하는 효과를 갖는다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들에 따른 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기의 실시예들에 제한되는 것은 아니며, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양한 다른 형태로 구현할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다. 도 2는 도 1의 I-I' 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 반도체 패키지(100)는 반도체 칩(110), 칩 선택 패드(120) 및 관통 전극(130)을 포함한다.
반도체 칩(110)은, 예를 들어, 사각 플레이트 형상을 갖는다. 반도체 칩(110)은 제1 면(111), 제1 면(111)과 대향 하는 제2 면(112) 및 측면(113)을 갖는다. 사각 플레이트 형상을 갖는 반도체 칩(110)은 4 개의 모서리들을 갖는다.
반도체 칩(110)은 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장부(미도시) 및 데이터를 처리하기 위한 데이터 처리부(미도시)를 포함하는 회로부(114)를 포함한다.
칩 선택 패드(120)는 반도체 칩(110)의 상면 상에 배치되며, 칩 선택 패드(120)는 반도체 칩(110)의 상면의 4 개의 모서리들 중 어느 하나에 배치된다. 칩 선택 패드(120)는 회로부(114)와 전기적으로 연결된다.
반도체 칩(110)의 상면의 모서리에 배치된 칩 선택 패드(120)는 제1 평면적을 갖는다.
관통 전극(130)은 반도체 칩(110)의 상면 및 상면과 대향하는 하면을 관통한다. 본 실시예에서, 관통 전극(130)은, 평면상에서 보았을 때, 원형 형상, 타원 형상을 가질 수 있다. 이와 다르게, 관통 전극(130)은 곡선 형상을 가질 수 있다. 관통 전극(130)으로서 사용될 수 있는 물질의 예로서는 구리, 구리 합금, 알루미늄 등을 들 수 있다.
본 실시예에서, 관통 전극(130)은 반도체 칩(110) 상에 적어도 하나가 매트릭스 형태로 배치될 수 있고, 관통 전극(130)은 칩 선택 패드(120)의 제1 평면적보다 큰 제2 평면적을 가질 수 있다.
한편, 본 실시예에서는 기둥 형상을 갖는 관통 전극(130)이 도시 및 설명되고 있지만, 이와 다르게 관통 전극(130)은 관통 전극(120)의 일측 단부로부터 일측 단부와 대향하는 타측 단부로 갈수록 면적이 감소되는 형상을 갖는다. 예를 들어, 관통 전극(135)은 원뿔대 형상 등을 가질 수 있다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다. 도 3에 도시된 반도체 패키지는 칩 선택 패드의 개수 및 배치를 제외하면 앞서 도 1을 통해 설명한 반도체 패키지와 실질적으로 동일하다. 따라서, 동일한 구성에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하며, 동일한 구성에 대해서는 동일한 명칭 및 동일한 참조 부호를 부여하기로 한다.
도 3을 참조하면, 반도체 패키지(100)는 반도체 칩(110), 칩 선택 패드(120,122) 및 관통 전극(130)을 포함한다.
본 실시예에서, 칩 선택 패드(120,122)는 제1 칩 선택 패드(120) 및 제2 칩 선택 패드(122)를 포함한다.
본 실시예에서, 제1 칩 선택 패드(120)는 도 3의 좌측 상단 모서리에 배치되며, 제2 칩 선택 패드(122)는 제1 칩 선택 패드(120)에 대하여 대각선 방향으로 배치된 우측 하단 모서리에 배치된다. 이와 다르게, 제1 칩 선택 패드(120)는 도 3의 우측 상단 모서리에 배치되고, 제2 칩 선택 패드(122)는 제1 칩 선택 패드(120)에 대하여 대각선 방향으로 배치된 좌측 하단 모서리에 배치되어도 무방하다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다. 도 4에 도시된 반도체 패키지는 칩 선택 패드의 개수 및 배치를 제외하면 앞서 도 1을 통해 설명한 반도체 패키지와 실질적으로 동일하다. 따라서, 동일한 구성에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하며, 동일한 구성에 대해서는 동일한 명칭 및 동일한 참조 부호를 부여하기로 한다.
도 4를 참조하면, 반도체 패키지(100)는 반도체 칩(110), 칩 선택 패드(120,124) 및 관통 전극(130)을 포함한다.
본 실시예에서, 칩 선택 패드(120,124)는 제1 칩 선택 패드(120) 및 제2 칩 선택 패드(124)를 포함한다.
본 실시예에서, 제1 칩 선택 패드(120)는 도 4의 좌측 상단 모서리에 배치되며, 제2 칩 선택 패드(124)는 제1 칩 선택 패드(120)와 인접한 좌측 하단 모서리에 배치된다. 이와 다르게, 제2 칩 선택 패드(124)는 도 4의 우측 상단 모서리에 배치되어도 무방하다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 단면도이다. 도 6은 도 5의 내부를 도시한 단면도이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 반도체 패키지(100)는 반도체 칩 모듈(140), 기판(150) 및 연결 부재(160)를 포함한다.
반도체 칩 모듈(140)은 적어도 2 개가 적층된 반도체 칩(110)들을 포함한다.
각 반도체 칩(110)들은 칩 선택 패드(120) 및 관통 전극(130)들을 포함한다.
칩 선택 패드(120)는 각 반도체 칩(110)의 상면의 모서리들 중 어느 하나에 배치되며, 각 반도체 칩(110)들은 칩 선택 패드(120)가 노출되도록 적층되고, 각 반도체 칩(110)들을 관통하는 관통 전극(130)들은 상호 전기적으로 직접 접속된다.
본 실시예에서, 적어도 2 개가 적층된 각 반도체 칩(110)들로부터 칩 선택 패드(120)들이 노출되도록 하기 위해 각 반도체 칩(110)들은 각 반도체 칩(110)들의 회전 중심으로부터 지정된 각도로 회전되고, 이로써 적층된 각 반도체 칩(110)들은, 평면상에서 보았을 때, 원형 계단 형태로 배치된다.
원형 계단 형태로 배치된 반도체 칩(110)들 및 각 반도체 칩(110)들로부터 노출된 칩 선택 패드(120)를 갖는 반도체 칩 모듈(140)은 기판(150)의 상면 상에 실장된다.
기판(150)의 상면 상에는 접속 패드(152)들이 형성된다. 본 실시예에서, 접속 패드(152)들은, 예를 들어, 칩 선택 패드(120)들의 개수와 대응하는 개수로 기판(150)의 상면 상에 배치된다. 본 실시예에서, 각 칩 선택 패드(120) 및 각 칩 선택 패드(120)와 대응하는 접속 패드(152)들은 각각 동일한 간격으로 이격되는 것이 바람직하다.
본 실시예에서, 접속 패드(152)들은, 예를 들어, 기판(150) 상에 매트릭스 형태로 배치될 수 있다.
연결 부재(160)는 각 반도체 칩(110)에 배치된 칩 선택 패드(120)와 기판(150)의 접속 패드(152)를 전기적으로 연결한다. 본 실시예에서, 연결 부재(160)는, 예를 들어, 본딩 와이어일 수 있다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다.
도 7을 참조하면, 반도체 패키지(100)는 반도체 칩 모듈(140), 기판(150) 및 연결 부재(160,165)를 포함한다.
반도체 칩 모듈(140)은 적어도 2 개가 적층된 반도체 칩(110)들을 포함한다.
각 반도체 칩(110)들은 제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122)들 및 관통 전극(130)들을 포함한다.
제1 칩 선택 패드(120)는 각 반도체 칩(110)의 상면의 모서리들 중 어느 하 나에 배치되고, 제2 칩 선택 패드(122)는 각 반도체 칩(110)의 상면의 모서리들 중 어느 하나에 배치되며, 제2 칩 선택 패드(122)들은 제1 칩 선택 패드(120)에 대하여 대각선 방향에 배치된 모서리에 배치된다.
제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122)들을 갖는 각 반도체 칩(110)들은 제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122)들이 각각 노출되도록 적층되고, 각 반도체 칩(110)들을 관통하는 관통 전극(130)들은 상호 전기적으로 직접 접속된다.
본 실시예에서, 적어도 2 개가 적층된 각 반도체 칩(110)들로부터 제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122)들이 노출되도록 하기 위해 각 반도체 칩(110)들은 각 반도체 칩(110)들의 회전 중심으로부터 지정된 각도로 시계 방향으로 회전되고, 이로써 적층된 각 반도체 칩(110)들은, 평면상에서 보았을 때, 원형 계단 형태로 배치된다.
원형 계단 형태로 배치된 반도체 칩(110)들 및 각 반도체 칩(110)들로부터 노출된 제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122)를 갖는 반도체 칩 모듈(140)은 기판(150)의 상면 상에 실장된다.
기판(150)의 상면 상에는 제1 및 제2 접속 패드(152,154)들이 형성된다. 본 실시예에서, 제1 및 제2 접속 패드(152,154)들은, 예를 들어, 제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122)들과 인접한 기판(150)의 상면 상에 배치된다.
연결 부재(160)는 각 반도체 칩(110)에 배치된 제1 및 제2 칩 선택 패드(120,122) 및 기판(150)의 제1 및 제2 접속 패드(152,154)들을 전기적으로 연결한다. 본 실시예에서, 연결 부재(160)는, 예를 들어, 본딩 와이어일 수 있다.
앞서 설명된 바에 의하면 비록 반도체 칩(110)의 한 개 또는 두 개의 모서리에 칩 선택 패드를 형성하는 것이 설명되었지만 이와 다르게 반도체 칩(110)의 상면의 각 모서리마다 칩 선택 패드들을 형성할 수 있고 이로 인해 기판(150) 상에 보다 많은 반도체 칩(110)들을 적층할 수 있다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다. 도 8에 도시된 반도체 패키지는 반도체 칩의 추가 관통 전극, 접속 패드 및 연결 부재를 제외하면 앞서 도 5를 통해 설명된 반도체 패키지와 실질적으로 동일하다.
도 8을 참조하면, 반도체 패키지(100)는 반도체 칩 모듈(140), 기판(150) 및 연결 부재(170)를 포함한다.
반도체 칩 모듈(140)은 적어도 2 개가 적층된 반도체 칩(110)들을 포함한다.
각 반도체 칩(110)들은 칩 선택 패드(120), 관통 전극(130) 및 추가 관통 전극(125)들을 포함한다.
칩 선택 패드(120)는 각 반도체 칩(110)의 상면의 모서리들 중 어느 하나에 배치되며, 각 반도체 칩(110)들은 칩 선택 패드(120)가 노출되도록 적층된다.
관통 전극(130)들은 적층된 각 반도체 칩(110)들을 관통하며, 각 관통 전극(130)들은 상호 전기적으로 직접 접속된다.
추가 관통 전극(125)은 각 칩 선택 패드(120) 및 칩 선택 패드(120)와 대응하는 반도체 칩(110) 부분을 관통한다.
본 실시예에서, 적어도 2 개가 적층된 각 반도체 칩(110)들로부터 칩 선택 패드(120)들이 노출되도록 하기 위해 각 반도체 칩(110)들은 각 반도체 칩(110)들 의 회전 중심으로부터 지정된 각도로 회전되고, 이로써 적층된 각 반도체 칩(110)들은, 평면상에서 보았을 때, 원형 계단 형태로 배치된다.
원형 계단 형태로 배치된 반도체 칩(110)들 및 각 반도체 칩(110)들로부터 노출된 칩 선택 패드(120)를 갖는 반도체 칩 모듈(140)은 기판(150)의 상면 상에 실장된다.
기판(150)의 상면 상에는 접속 패드(152)들이 형성된다. 본 실시예에서, 접속 패드(152)들은, 예를 들어, 칩 선택 패드(120)들의 개수와 대응하는 개수로 기판(150)의 상면 상에 배치된다.
각 접속 패드(152)들은 각 칩 선택 패드(120)의 추가 관통 전극(125)과 마주하는 부분으로 연장된 연장부(156)를 포함한다.
연결 부재(170)는 각 반도체 칩(110)에 배치된 추가 관통 전극(125) 및 추가 관통 전극(125)과 마주하는 연장부(156) 사이에 개재되며, 연결 부재(170)에 의하여 추가 관통 전극(125) 및 접속 패드(152)들은 전기적으로 연결된다. 본 실시예에서, 연결 부재(170)는, 예를 들어, 구 형상 또는 기둥 형상을 갖는 도전 부재일 수 있다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법을 도시한 단면도이다.
반도체 패키지를 제조하기 위하여 먼저, 반도체 칩(110)이 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 반도체 칩 제조 공정에 의하여 제조된다.
반도체 칩(110)은 4 개의 모서리들을 갖는 사각 플레이트 형상을 갖고, 반도 체 칩(110)의 내부에는 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장부(미도시) 및 데이터를 처리하기 위한 데이터 처리부(미도시)를 포함하는 회로부(114)가 반도체 소자 제조 공정에 의하여 형성된다.
칩 선택 패드(120)는 반도체 칩(110)의 상면 상에 형성되며, 칩 선택 패드(120)는 반도체 칩(110)의 상면의 4 개의 모서리들 중 적어도 하나의 모서리에 형성될 수 있다. 각 칩 선택 패드(120)는 회로부(114)와 전기적으로 연결된다.
관통 전극(130)은 반도체 칩(110)의 상면 및 상면과 대향하는 하면을 관통한다. 본 실시예에서, 관통 전극(130)은, 평면상에서 보았을 때, 원형 형상, 타원 형상으로 형성될 수 있다. 이와 다르게, 관통 전극(130)은 곡선 형상으로 형성될 수 있다. 관통 전극(130)으로서 사용될 수 있는 물질의 예로서는 구리, 구리 합금, 알루미늄 등을 들 수 있다.
칩 선택 패드(120) 및 관통 전극(130)을 갖는 반도체 칩(110)이 제조된 후, 도 5에 도시된 바와 같이 적어도 2 개의 반도체 칩(110)들은 칩 선택 패드(120)가 노출되고 각 관통 전극(130)이 전기적으로 연결되도록 원형 계단 형태로 적층되어 반도체 칩 모듈이 제조된다.
반도체 칩 모듈이 제조된 후, 반도체 칩 모듈은 접속 패드(152)가 형성된 기판(150) 상에 실장된다.
반도체 칩 모듈이 기판(150) 상에 실장된 후, 각 반도체 칩(110)의 칩 선택 패드(120) 및 기판(150)의 접속 패드(152)는 도전성 와이어와 같은 연결 부재(160)에 의하여 전기적으로 연결되어 반도체 패키지(100)가 제조된다.
비록 본 실시예에서는 반도체 칩(110)의 칩 선택 패드(120) 및 접속 패드(152)가 도전성 와이어에 의하여 전기적으로 연결되는 것이 도시 및 설명되고 있지만, 도 8에 도시된 바와 같이 반도체 칩(110)에 칩 선택 패드(120)를 관통하는 추가 관통 전극(125)을 형성하고, 기판(150)에 접속 패드(152)로부터 추가 관통 전극(125)의 위치까지 연장하는 연장부(156)를 형성하며, 추가 관통 전극(125)과 연장부(156) 사이에 연결 부재(170)를 배치하여 상기 추가 관통 전극(125) 및 연장부(156)를 통해 반도체 칩(110)의 칩 선택 패드(120)와 기판(150)의 접속 패드(152)를 전기적으로 연결하여도 무방하다.
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 복수개의 반도체 칩들을 적층한 상태에서 쉽고 복잡한 구조 없이 적층된 반도체 칩들을 선택할 수 있도록 하는 효과를 갖는다.
앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술 될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다.
도 2는 도 1의 I-I' 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 단면도이다.
도 6은 도 5의 내부를 도시한 단면도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 반도체 패키지를 도시한 평면도이다.

Claims (12)

  1. 각각 칩 선택 패드 및 관통 전극을 포함하며, 상기 각 칩 선택 패드는 노출되고 상기 각 관통 전극은 전기적으로 연결되도록 적어도 2 개가 적층된 반도체 칩들을 포함하는 반도체 칩 모듈;
    상기 반도체 칩 모듈이 실장되며 접속 패드들을 갖는 기판; 및
    상기 각 접속 패드들 및 상기 각 칩 선택 패드들을 전기적으로 연결하는 연결 부재;
    를 포함하는 반도체 패키지.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 각 반도체 칩들은 적층된 상기 각 반도체 칩들의 상기 각 칩 선택 패드를 외부에 노출시키기 위해 상기 각 반도체 칩들의 중심을 기준으로 지정된 각도로 회전된 원형 계단 형태로 배치된 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 칩 선택 패드는 상호 대각선 방향에 배치된 상기 모서리들에 각각 배치된 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 관통 전극은 상기 칩 선택 패드가 형성된 일측 단부로부터 상기 일측 단부와 대향하는 타측 단부로 갈수록 면적이 감소되는 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 연결 부재는 상기 칩 선택 패드 및 상기 접속 패드를 전기적으로 연결하기 위한 본딩 와이어를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 관통 전극은 제1 평면적을 갖고, 상기 칩 선택 패드는 상기 제1 평면적보다 작은 제2 평면적을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 접속 패드들은 매트릭스 형태로 배열된 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 칩 선택 패드를 관통하는 추가 관통 전극; 및
    상기 추가 관통 전극과 대응하는 접속 패드로부터 상기 추가 관통 전극과 마주하는 부분까지 연장되어 상기 연결 부재에 의해 상기 추가 관통 전극과 상기 접 속 패드가 전기적으로 연결되게 하는 연장부;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 연결 부재는 상기 칩 선택 패드 및 상기 접속 패드를 전기적으로 연결하기 위한 구 형상 또는 기둥 형상을 갖는 도전 부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
  10. 반도체 칩 몸체, 상기 반도체 칩 몸체의 상면 모서리들 중 적어도 하나의 모서리에 배치된 칩 선택 패드 및 상기 반도체 칩 몸체를 관통하는 관통 전극을 갖는 반도체 칩을 제조하는 단계;
    상기 각 칩 선택 패드는 노출되고 상기 각 관통 전극은 전기적으로 연결되도록 적어도 2 개의 반도체 칩들을 적층하여 반도체 칩 모듈을 형성하는 단계; 및
    상기 반도체 칩 모듈을 접속 패드들을 갖는 기판 상에 배치하는 단계;
    를 포함하는 반도체 패키지의 제조 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 반도체 칩 모듈을 상기 기판 상에 배치하는 단계는 각 칩 선택 패드와 상기 기판의 접속 패드를 도전성 와이어로 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 제조 방법.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 반도체 칩을 제조하는 단계는 상기 칩 선택 패드를 관통하는 추가 관통 전극을 형성하는 단계를 더 포함하고,
    상기 반도체 칩 모듈을 상기 기판 상에 배치하는 단계는 상기 추가 관통 전극과 상기 기판의 접속 패드로부터 상기 추가 관통 전극과 마주하는 부분까지 형성된 연장부를 구 형상 또는 기둥 형상을 갖는 도전 부재를 이용하여 전기적으로 연결하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 제조 방법.
KR1020090107588A 2009-11-09 2009-11-09 반도체 패키지 및 이의 제조 방법 KR20110050964A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090107588A KR20110050964A (ko) 2009-11-09 2009-11-09 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
US12/819,279 US8304879B2 (en) 2009-11-09 2010-06-21 Spiral staircase shaped stacked semiconductor package and method for manufacturing the same
US13/633,425 US20130040425A1 (en) 2009-11-09 2012-10-02 Spiral staircase shaped stacked semiconductor package and method for manufacturing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090107588A KR20110050964A (ko) 2009-11-09 2009-11-09 반도체 패키지 및 이의 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20110050964A true KR20110050964A (ko) 2011-05-17

Family

ID=43973557

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090107588A KR20110050964A (ko) 2009-11-09 2009-11-09 반도체 패키지 및 이의 제조 방법

Country Status (2)

Country Link
US (2) US8304879B2 (ko)
KR (1) KR20110050964A (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5979565B2 (ja) * 2012-04-11 2016-08-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 半導体装置
WO2018106266A1 (en) * 2016-12-11 2018-06-14 Intel Corporation Microelectronic die stack having at least one rotated microelectronic die
KR102534734B1 (ko) * 2018-09-03 2023-05-19 삼성전자 주식회사 반도체 패키지
CN112768443B (zh) * 2021-04-08 2021-06-25 甬矽电子(宁波)股份有限公司 多层堆叠封装结构和多层堆叠封装结构的制备方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6444576B1 (en) * 2000-06-16 2002-09-03 Chartered Semiconductor Manufacturing, Ltd. Three dimensional IC package module
US7183643B2 (en) * 2003-11-04 2007-02-27 Tessera, Inc. Stacked packages and systems incorporating the same
US7989940B2 (en) * 2003-12-19 2011-08-02 Tessera, Inc. System and method for increasing the number of IO-s on a ball grid package by wire bond stacking of same size packages through apertures
KR100714310B1 (ko) * 2006-02-23 2007-05-02 삼성전자주식회사 변압기 또는 안테나를 구비하는 반도체 패키지들
US7906853B2 (en) * 2007-09-06 2011-03-15 Micron Technology, Inc. Package structure for multiple die stack
KR100910229B1 (ko) * 2007-11-13 2009-07-31 주식회사 하이닉스반도체 적층 반도체 패키지
US7973310B2 (en) * 2008-07-11 2011-07-05 Chipmos Technologies Inc. Semiconductor package structure and method for manufacturing the same
KR101053140B1 (ko) * 2009-04-10 2011-08-02 주식회사 하이닉스반도체 적층 반도체 패키지
US8242582B2 (en) * 2009-08-10 2012-08-14 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor package and stacked semiconductor package having the same

Also Published As

Publication number Publication date
US20130040425A1 (en) 2013-02-14
US20110108995A1 (en) 2011-05-12
US8304879B2 (en) 2012-11-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5475222B2 (ja) 異なるサイズを有する複数の半導体チップが積層されたマルチチップパッケージ及びその製造方法
KR101924388B1 (ko) 재배선 구조를 갖는 반도체 패키지
KR20100002858A (ko) 적층 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
TW200402856A (en) Semiconductor device
US20160307878A1 (en) Reconstituted wafer-level package dram
KR20120015592A (ko) 리드 프레임 및 이를 갖는 반도체 패키지
KR20110050964A (ko) 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
US10658350B2 (en) Semiconductor package
US9543279B2 (en) Method of manufacturing a single light-emitting structure
KR20110056205A (ko) 반도체 칩 및 이를 갖는 적층 반도체 패키지
KR102591697B1 (ko) 하이브리드 와이어 본딩 구조를 포함한 스택 패키지
KR101088825B1 (ko) 반도체 칩 및 이를 갖는 스택 패키지
KR20140028209A (ko) 반도체 칩, 이를 포함하는 반도체 패키지 및 반도체 패키지의 칩선택 방법
JP2000228468A (ja) 半導体チップ及び半導体装置
US20040238924A1 (en) Semiconductor package
KR20130035442A (ko) 스택 패키지
KR20210128295A (ko) 반도체 칩과 커패시터를 포함한 반도체 패키지
US20090057916A1 (en) Semiconductor package and apparatus using the same
JP2015103547A (ja) 半導体装置
JP2012178607A (ja) リードフレーム
KR20090105570A (ko) 적층 반도체 패키지
JPH0610718Y2 (ja) 集積回路素子の保持構造
JP4451790B2 (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法およびカード型記録媒体
KR20220105307A (ko) 수직 인터커넥터를 포함하는 반도체 패키지
KR20110001164A (ko) 적층 반도체 패키지

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right