KR20110009606A

KR20110009606A - 자기 청소 패키지 테스팅 소켓

Info

Publication number: KR20110009606A
Application number: KR1020090134113A
Authority: KR
Inventors: 테 웨이 첸; 쿠안 친 루
Original assignee: 킹 유안 일렉트로닉스 코포레이션 리미티드
Priority date: 2009-07-22
Filing date: 2009-12-30
Publication date: 2011-01-28
Also published as: US7924039B2; US20110018570A1; JP2011027698A; TWI403722B; TW201104257A

Abstract

본 발명은 베이스 플레이트(base plate), 베이스 플레이트의 표면 위에 배열되고 센트럴 테스팅 탱크(central testing tank) 내부를 둘러싸는 서라운드 벽(surround wall)을 포함하는 자기청소 패키지 테스팅 소켓에 관한 발명이다. 두 개의 횡단 채널(transversal channel)들은 각각 서라운드 벽의 두 마주보는 면 위에 배치된다. 각 횡단 채널들은 입구와 출구 사이에 하나의 노즐 튜브(nozzle tube)를 포함하고; 노즐 튜브는 두 개의 바이패스 파이프(bypass pipe)들을 원주 방향으로 연결한다. 이것에 의하여, 테스팅 탱크는 횡단 채널들의 노즐 튜브에 연결된 바이패스 파이프로 통한다. 따라서, 공기가 각 횡단 채널들 중 하나의 말단을 통과할 때, 바이패스 파이프 내부의 압력이 줄어들도록 노즐 튜브 내부의 공기 순환율을 빠르게 하고, 테스팅 팅크는 진공청소 효과를 일으킨다. 따라서, 본 발명은 온라인 자기청소 테스트 소켓이 될 수 있다.

자기 청소 패키지, 테스팅 소켓, 먼지, 불순물, 제거

Description

자기 청소 패키지 테스팅 소켓{Self-Cleaning Package Testing Socket}

본 발명은 자기 청소 패키지 테스팅 소켓에 관한 발명이고, 좀 더 구체적으로 본 발명은 전기 시험을 수행할 때 패키지를 설치하기 위한 테스팅 소켓에 관한 발명이다.

반도체 패키지 테스트의 과정에서, 집적 회로 칩은 패키징 과정 후에 패키지로 포장되고, 그리고 나서 기능들이 정상적인지 아닌지, 성격이 고객들의 요구에 맞는지 아닌지를 시험하기 위해, 전기적 테스트를 수행하기 위해 패키지를 테스팅 소켓 내로 위치시킨다.

하지만, 그것은 패키지를 접어서 놓거나 운반할 때 반드시 먼지 또는 물분물을 부착시킨다. 또한, 그것은 테스팅 소켓 내에 놓거나 테스팅 소켓으로부터 집어낼 때 충돌함으로써 입자 또는 파편을 생산한다. 이러한 점과 관련하여, 먼지, 불순물, 입자들, 또는 파편들은 장기간의 사용 후에는 끊임없이 테스팅 소켓 내부에 모일 것이다. 결과적으로, 그것은 테스팅 결과에 영향을 주기 위해 테스팅 소켓의 포고 핀들과 패키지 사이에 접촉 불량을 초래할 것이다.

따라서, 종래 과정은 일정한 주기로 테스팅 소켓을 청소하기 위해 폐쇄해야만 한다. 하지만, 종래 청소 방법은 첫째로 테스터 헤드를 분해하고, 그리고 테스팅 소켓의 베이스를 분해하고, 마지막으로 청소를 시작하기 위해 테스팅 소켓을 분해하는 것으로 복잡하고 불편하다. 또한, 종래 청소 방법은 압축 공기와 함께 브러쉬를 이용해야 하는 수동적인 방법을 사용한다. 청소 과정이 끝난 후에는, 여전히 상기 단계에 따른 역 순서로 테스팅 소켓을 조립할 필요가 있고, 테스팅 소켓은 테스팅 소켓이 확인 과정에 의해 정확하게 설치된 경우에만 제품을 생산할 것이다.

따라서, 종래 소켓을 테스트하는 청소 방법은 많은 시간과 노동력 낭비 뿐만 아니라, 테스트 벤치의 폐쇄 때문에 생산량 감소를 초래한다. 또한, 테스팅 소켓을 분해하고 설치하는 복잡하고 불편한 과정은 노동자들의 부주의 때문에 테스트 벤치를 손상시키기가 쉽다. 또한, 테스팅 소켓을 청소하기 위해 브러쉬와 압축 공기를 사용하는 것은 공정의 정량화와 표준화를 어렵게 할 것이다.

본 발명의 목적은 하나의 홀딩 스테이지(holding stage), 하나의 테스트 포트(test port), 및 하나의 공기압력원(air pressure source)을 포함하는 자기청소 패키지 테스팅 소켓을 제공하기 위한 것이다.

홀딩 스테이지는 베이스 플레이트(base plate)와 서라운드 벽(surround wall)을 포함하고, 상기 베이스 플레이트의 중앙에는 복수의 홀이 관통한다. 서라운드 벽은 베이스 플레이트의 표면에 배열되고 센트럴 테스팅 탱크(central testing tank) 내부를 감싸며, 서라운드 벽은 적어도 하나의 횡단 채널(transverse channel)을 제공한다. 적어도 하나의 횡단 채널은 서라운드 벽의 각각 두 측면으로 통하는 입구 및 출구를 포함한다. 적어도 하나의 횡단 채널은 입구와 출구 사이의 노즐 튜브(nozzle tube)를 더 제공하고, 노즐 튜브는 적어도 하나의 바이패스 파이프(bypass pipe)를 향해 방사형으로 더 연장되어, 적어도 하나의 횡단 채널은 노즐 튜브(nozzle tube)와 적어도 하나의 바이패스 파이프를 관통하는 테스팅 탱크(testing tank)와 통해 있다.

또한, 하나의 테스트 포트는 테스팅 탱크에 배치되고, 테스트 포트는 각각 베이스 플레이트를 관통하는 복수의 홀 내에 수용되는 복수의 전기적 접촉체들을 포함하고 테스팅 장치에 전기적으로 연결되고 패키지가 각각 테스트될 수 있도록 전기적으로 접촉한다. 하지만, 공기 압력원은 홀딩 단계의 적어도 하나의 횡단 채널의 입구와 출구 중 하나와 통해 있다. 따라서, 기류가 노즐 튜브를 통과할 때, 노즐 튜브 내의 기류 속도를 빠르게 하여, 바이패스 파이프 내부의 압력이 줄어들고, 그리고 테스팅 탱크는 테스팅 탱크 내의 입자나 먼지를 청소하기 위해 진공청소 효과를 일으킨다. 따라서, 본 발명은 테스트 소켓의 온라인 클리닝이 가능하고, 과정을 중단하거나 연기할 필요가 없어, 생산율이 높아지고 비용은 절감된다.

또한, 본 발명은 가이딩 시트(guiding seat)와 적어도 하나의 내부 튜브(inner tube)를 포함할 수 있고, 상기 가이딩 시트는 테스팅 탱크 내에 수용되고, 가이딩 시트는 중심 관통 홀과 적어도 하나의 바이패스 경로를 포함한다. 적어도 하나의 내부 튜브는 적어도 하나의 바이패스 파이프와 적어도 하나의 바이패스 경로 내부에 그와 통하기 위해서 삽입되어 적어도 하나의 내부 튜브는 적어도 하나의 횡단 채널과 중앙 관통 홀의 적어도 하나의 바이패스 파이프와 통해 있다. 적어도 하나의 바이패스 파이프는 직경 감소 튜브(diameter shrinking tube)를 사용할 수 있고, 그리고 바람직한 직경 감소 튜브의 개구부 위치는 중심 관통 탱크 부근의 측면이어서, 중심 관통 탱크는 강력한 흡인력을 생산해 낼 수 있을 것이다. 추가적으로, 가이딩 시트는 중심 관통 홀에 인접한 적어도 하나의 가이딩 경사면(guiding inclined plane)을 포함할 수 있다. 따라서, 테스트될 패키지는 가이딩 시트를 관통하여 가이드되어 테스트될 패키지가 중심 관통 홀에 정확하게 놓이고 테스팅을 위하여 테스트 포트에 대응하여 접촉할 수 있다.

또한, 가이딩 시트는 가이딩 시트의 상부 표면에 적어도 하나의 상단 관통 홀을 포함하고, 적어도 하나의 상단 관통 홀은 적어도 하나의 바이패스 경로와 아래 방향으로 통해 있다. 따라서, 본 발명은 중앙 테스팅 탱크 내의 외부 먼지, 입자 또는 파편을 청소할 수 있을 뿐만 아니라, 가이딩 시트의 상부 표면을 청소할 수 있고, 또한 외부 먼지, 입자 또는 파편이 테스트의 결과에 영향을 주는 것을 방지할 수 있다. 게다가, 본 발명의 공기 압축원은 고압원 또는 진공원이고, 바람이나 흡입에 의할 수 있다.

또한, 본 발명의 테스트 포트는 복수의 홀을 포함할 수 있는 고정 시트(fixture seat)를 더 포함할 수 있고, 상기 복수의 홀 내에는 복수의 전기 접촉체가 각각 수용되고 고정된다. 그것을 기초로, 본 발명의 고정 시트는 테스트를 받을 패키지가 구부러짐이나 변형으로 인해 대응하여 접촉되지 않는 것을 방지하기 위해 복수의 전기적 접촉체를 고정시키는데 사용된다.

본 발명의 복수의 전기적 접촉체들은 복수의 포고 핀들을 더 포함할 수 있다. 또한, 적어도 하나의 횡단 채널은 홀딩 스테이지의 두 상반된 중앙 테스팅 탱크에 병렬로 대응하여 배치되는 두 횡단 채널들을 포함할 수 있다. 그것을 기초로, 테스팅 탱크의 양 대응하는 면을 동시에 진공 청소하는 효과를 낼 수 있다. 물론, 두 횡단 채널들은 인접한 측면들과 L자형 채널에 배치되거나, 또는 대신에 네 횡단 채널들은 더 나은 청소 효과를 달성하기 위해 테스팅 탱크의 네 면 위의 외부 먼지, 입자 또는 파편들을 청소하기 위해 테스팅 탱크의 네 면에 배치될 수 있다.

본 발명에 따른 자기 청소 패키지 테스팅 소켓은 테스트 소켓의 온라인 클리닝이 가능하고, 과정을 중단하거나 연기할 필요가 없어, 생산율이 높아지고 비용은 절감된다.

제1도와 제2도를 제3도와 함께 참조하자. 제1도는 본 발명의 제1 구체예의 분해 조립도이다. 제2도는 본 발명의 제1 바람직한 구체예의 사시도이다. 제3도는 본 발명의 제1 구체예를 A-A' 면으로 자른 단면도이다. 도면들에서 보여지듯, 본 발명의 자기청소 패키지 테스팅 소켓은 테스팅 장치(6)와 테스트될 패키지(5)에 전기적으로 연결하기 위해 사용되고, 그리고 만약 테스트될 패키지(5)의 기능과 상태가 정상적이라면 테스트하기 위한 반도체 패키징과 테스팅 과정에 사용된다. 도면들은 베이스 플레이트(20)와 서라운드 월(201)을 포함하는 홀딩 스테이지(20)를 도시한다. 이 사이에, 복수의 관통 홀들(203)이 베이스 플레이트(20)의 중앙에 제공되어 있고, 서라운드 월(201)이 베이스 플레이트(20)의 외면에 배열되어 있고 내부에 중앙 테스팅 탱크(21)를 감싸고 있다.

또한, 서라운드 월(201)은 테스팅 탱크(21)의 두 측면에 배치된 각각 두 개의 횡단 채널(221)을 제공하고 두 횡단 채널들은 서로 평행이다. 각 횡단 채널(22)은 서라운드 월(201)의 두 옆면(202)을 관통하는 입구(223)와 출구(224)를 포함한다. 또한, 각 횡단 채널은 입구(223)와 출구(224) 사이에 노즐 튜브(221)을 더 제공한다. 게다가, 각 노즐 튜브(221)는 두 개의 바이패스 파이프(222)에 의해 원주 방향으로 연장되고, 그 때문에 횡단 채널(22)은 노즐 튜브들(221)과 바이패스 파이프들(222)을 통해 테스팅 탱크(21)와 통해 있다.

게다가, 상기 도면들은 가이딩 시트(4)와 내부 튜브(23)들을 도시한다. 가이딩 시트(4)는 테스팅 탱크(2) 내에 수신되고, 상기 가이딩 시트(4)는 중앙 관통 홀(41)과 중앙 관통 홀(41)의 두 대응되는 면에 배치된 두 개의 바이패스 경로(42)을 포함한다. 내부 튜브들(23)은 바이패스 파이프들(222)과 바이패스 경로(42) 내에 삽입되고, 플러그(232)를 관통하여 서라운드 월(201)의 표면(202)에 의해 봉합된다. 따라서, 내부 튜브들(23)은 횡단 채널들(22)의 노즐 튜브들(221)과 가이딩 시트(4)의 중앙 관통 홀(41) 사이를 통한다. 내부 튜브들(23)은 가이딩 시트(4)와 테스팅 탱크(2)의 연결 틈으로부터 공기가 새어 나오는 것을 방지하기 위해 사용된다. 또한, 중앙 관통 홀(41)의 측면들은 테스트할 패키지(5)를 편하게 집거나 놓는 것을 돕기 위한 좁은 중앙 관통 홀(41)을 형성하기 위해 경사면(411)을 가이드한다.

또한, 본 구체예에서, 복수의 상부 관통 홀(431)들은 가이딩 시트(4)의 상부 표면(43)에 제공된다. 바꾸어 말하면, 상부 관통 홀(431)은 바이패스 경로(42) 위에 대응하여 제공되고, 그리고 상부 관통 홀(431)은 아래 방향으로 바이패스 경로(42)와 통한다. 따라서, 본 발명은 테스팅 탱크(21) 또는 중앙 관통 홀(41) 내의 외부 먼지, 입자 또는 파편을 청소할 수 있을 뿐 아니라, 상부 관통 홀(431)을 통하여 가이딩 시트(4)의 상부 표면(43)을 청소하고, 또한 외부 먼지, 입자 또는 파편들이 테스트의 결과에 영향을 주는 것을 방지할 수 있다.

또한, 도면들은 테스트 포트(3)가 테스팅 탱크(21) 내에 배치되어 있음을 보여 준다. 이중에서, 테스트 포트(3)는 각각 베이스 플레이트(20)의 복수의 관통 홀(203)들 내에 대응하여 수용되는 복수의 전기적 접촉체들(31)을 포함하고, 테스트 포트(3)는 테스팅 장치(5)에 전기적으로 연결하고 테스트될 패키지(5)에 전기적으로 접촉하기 위해 사용된다. 본 구체예에서, 복수의 전기적 접촉체들은 복수의 포고 핀들을 포함한다. 도면들은 복수개의 홀들(321)을 포함하는 고정 시트(32)를 추가적으로 보여 주고, 복수의 전기적 접촉체(31)들은 각각 복수의 홀들(321) 내를 관통하고 배치된다. 그것을 기초로, 고정 시트(32)는 테스트될 패키지(5)가 구부러짐이나 변위로 인해 대응하는 복수의 전기적 접촉체들(31)에 정확하게 접촉되지 않는 것을 방지하기 위해 복수의 전기적 접촉체들(31)을 고정시키기 위해 사용된다.

또한, 도면들에 도시된 바와 같은 공기 압력원(7)은 횡단 채널(22)의 두 말단에 통해 있고, 그리고 공기 압력원(7)은 고압원이고, 물론 그것은 진공원도 포함한다. 따라서, 본 발명은 횡단 채널(22)과 노즐 튜브(221)에 의한 벤투리 효과(Venturi effect)를 이용하고, 기류가 노즐 튜브(221)를 통과할 때, 노즐 튜브(221) 내의 기류 속도를 빠르게 하여, 바이패스 파이프들(222) 내의 압력을 감소시키고, 중앙 관통 홀(41)과 상부 표면(43)은 진공 청소 효과를 일으킨다. 따라서, 본 발명은 흡입을 증폭시키기 위해 벤투리 효과를 이용하기 때문에, 고도의 압력원 또는 진공원을 필요로 하지 않고, 장비 비용을 절약하며, 소음을 일으키지도 않는다.

게다가, 테스트를 받을 제품의 형태나 고객의 요구가 다양함에 따라, 때때로 75℃에서 105℃ 사이의 고온 테스트가 필요하다. 이 때, 온도와 압력간의 비례 관계를 설명하는 이상기체론 때문에 본 발명의 효과가 훨씬 현저하다. 본 발명에서, 중앙 관통 홀(41)의 테스팅 탱크(21)의 온도가 다른 장소에서보다 더 높기 때문에, 압력도 더 높고, 따라서 더 나은 청소 효과를 달성한다.

제4도를 제5도와 함께 참조하자. 제4도는 본 발명의 제2 바람직한 구체예의 사시도이다. 제5도는 본 말명의 제3 바람직한 구체예의 사시도이다. 제4도에서 보여주듯, 제2 바람직한 구체예와 제1 바람직한 구체예 사이의 주된 차이는 제2 바람직한 구체예 내의 횡단 채널(24)이 중앙 노즐 튜브(241, 242)가 테스팅 탱크(21)의 인접한 면에 배치되는 것을 각각 포함하는 두 접합부분인 L 모양의 채널이기 때문에, 따라서, 인접한 면에서 동시에 진공청소 효과를 제공할 수 있다. 또한, 제5도에서 보여지듯, 제3 구체예는 더 나은 청소 효과를 달성하기 위해 네 면에 동시에 진공청소 효과를 제공하기 위해 테스팅 탱크(21)의 네 면에 네 개의 횡단 채널(25)을 포함한다. 따라서, 본 발명은 가장 좋은 청소 효과를 달성하기 위해 실질적은 수요에 따라 유연하게 디자인을 수정할 수 있다.

비록 본 발명이 그것의 바람직한 구체예와 관련하여 설명지었을지라도, 하기에 정의되는 청구항들의 관점에서 크게 벗어나지 않는 한 많은 다른 변형과 수정이 가능하다.

제1도는 본 발명의 제1 바람직한 구체예의 분해 조립도이다.

제2도는 본 발명의 제1 바람직한 구체예의 사시도이다.

제3도는 본 발명의 제1 구체예를 A-A' 면으로 자른 단면도이다.

제4도는 본 발명의 제2 바람직한 구체예의 사시도이다.

제5도는 본 말명의 제3 바람직한 구체예의 사시도이다.

Claims

하나의 베이스 플레이트, 하나의 서라운드 월 및 상기 베이스 플레이트의 중앙에 제공된 복수의 관통 홀을 포함하는 홀딩 스테이지로써; 상기 서라운드 월은 베이스 플레이트의 주변에 배열되어 내부의 중앙 테스팅 탱크를 둘러싸며, 상기 서라운드 월에는 상기 서라운드 월의 양 측면에 있는 두 표면을 각각 관통하는 하나의 입구와 하나의 출구를 포함하는 적어도 하나의 횡단 채널이 제공되며; 상기 적어도 하나의 횡단 채널에는 상기 입구와 상기 출구 사이에 하나의 노즐 튜브가 제공되며, 상기 노즐 튜브는 적어도 하나의 바이패스 파이프에 의해 원주 방향으로 더 연장되며, 그 때문에 상기 적어도 하나의 횡단 채널은 상기 노즐 튜브와 상기 적어도 하나의 바이패스 파이프를 통해 테스팅 탱크와 통하는 것을 특징으로 하는 하나의 홀딩 스테이지;

상기 테스팅 탱크에 배치되어, 상기 베이스 플레이트의 복수의 관통 홀에 각각 대응하여 수용되는 복수의 전기적 접촉체를 포함하는 하나의 테스트 포트; 및

상기 홀딩 스테이지의 적어도 하나의 횡단 채널의 입구와 출구 중 하나와 통하는 하나의 공기 압력원

을 포함하여 구성되는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제1항에 있어서, 하나의 가이딩 시트와 적어도 하나의 내부 튜브를 더 포함 하며, 상기 가이딩 시트는 테스팅 탱크 내에 수용되며, 상기 가이딩 시트는 하나의 중앙 관통 홀과 적어도 하나의 바이패스 경로를 포함하고, 적어도 하나의 내부 튜브는 적어도 하나의 바이패스 파이프와 적어도 하나의 바이패스 경로 내부에 그것들과 통하기 위해 삽입된 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제2항에 있어서, 상기 가이딩 시트는 상기 중앙 관통 홀에 이웃한 적어도 하나의 가이딩 경사면을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제2항에 있어서, 상기 가이딩 시트는 상기 가이딩 시트의 상부 표면에 적어도 하나의 상부 관통 홀을 더 포함하며, 상기 적어도 하나의 상부 관통 홀은 아래 방향으로 적어도 하나의 바이패스 경로에 통하는 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제1항에 있어서, 상기 테스트 포트는 하나의 고정 시트를 더 포함하며, 상기 고정 시트는 복수의 홀들을 더 포함하고, 상기 복수의 전기적 접속체들은 상기 복수의 홀들에 수용되고 탑재된 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제1항에 있어서, 상기 복수의 전기적 접속체들은 복수의 포고 핀들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 횡단 채널들은 상기 홀딩 스테이지의 상기 중앙 테스팅 탱크의 두 마주보는 면에 병렬로 대응하여 배치된 두 횡단 채널들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.
제1항에 있어서, 상기 공기 압력원은 고압원인 것을 특징으로 하는 자기 청소 패키지 테스팅 소켓.