CN101968498B - 具自我清洁的封装件测试座 - Google Patents

Abstract

本发明为一种具自我清洁的封装件测试座，其中，承置台具一环绕立设的立墙而形成有一中央的测试槽，且其相对应的二侧立墙内各贯设有一横向通道。每一横向通道中段又具有一渐缩管，其更径向连接有二旁通管，其中测试槽便是通过二旁通管连通至横向通道的渐缩管。因此，当施加气压源至横向通道的一端，将可由气流通过渐缩管时因其内气体流速增加造成径向连接的旁通管内气压降低，进而对测试槽内产生吸力清洁的功效，故能实时自我清洁测试座，完全无须停机或暂停工艺的进行，以提高产能效率、及节省成本。

Description

具自我清洁的封装件测试座

技术领域

本发明是关于一种具自我清洁的封装件测试座，尤指一种适用封装件于电性测试时容置的测试座。

背景技术

半导体封装测试工艺中，集成电路芯片经封装工艺后封装成封装件，再将封装件置入测试机台的测试座内以进行电性测试，以检测封装件的功能是否正常，特性是否符合客户所需。

然而，封装件的取放或搬运过程中，难免会沾附灰尘或异物。或者，封装件于置入或吸出测试座的过程中，难免会因为碰撞或摩擦而产生微粒或碎屑。长久使用后，当这些灰尘、异物、微粒、或碎屑堆积于测试座内，如此将会造成测试座内探针与封装件接触不良，而导致影响整个测试结果。

据此，以往工艺每当进行一段时间后就必须停机清洁测试座。然而，传统清洁方式相当繁复，首先须先拆下机台的测试头，再拆下测试座的基座，然后才能拆下测试座以便进行清理。而清理方式也是采用人工的方式，其使用软毛材质的刷子再配合压缩空气进行清洁。完成清洁作业后，还必须以上述相反步骤装配测试座，并确认安装无误的后才可继续进行生产。

因此，传统测试座的清洁方式不仅浪费时间、及人力成本，且因停机而造成产能降低。又，繁复的拆卸、及装配过程中，容易因人为疏忽而造成机台设备的毁损或损耗。再且，人员使用软毛刷、及压缩空气清洁测试座会造成作业标准化及量化上的困难。

发明内容

本发明为一种具自我清洁的封装件测试座，其包括：一承置台、一测试端口、及一气压源。其中，承置台是包括有一底板、及一立墙。底板中央开设有多个穿孔，而立墙环绕立设于底板外周以形成一中央的测试槽。且立墙内贯设有至少一横向通道。而至少一横向通道包括一入口、及一出口，其是分别穿出立墙的外环壁外。其中，至少一横向通道又还包括有一渐缩管，其是介于入口与出口之间。此外，渐缩管更径向连接有至少一旁通管，其中至少一横向通道是通过渐缩管与至少一旁通管而连通至测试槽。

另外，测试端口组设于测试槽内，其测试端口包括有多个接触端子分别对应穿过底板的多个穿孔以分别电性连结一测试装置并电性接触一待测封装件。然而，气压源则是连通至承置台的至少一横向通道的一端。因此，本发明主要由气流通过渐缩管时，因其内气体流速增加造成径向连接的旁通管内气压降低，进而对测试槽内产生吸力清洁的功效，以吸除测试槽内的微粒或灰尘，故能于进行封装测试时实时自我清洁测试座，完全无须停机或暂停工艺的进行，以提高产能效率、及节省人力成本。

再者，本发明可还包括有一导引座、及至少一衬管。其中，导引座可容设于承置台的测试槽内，而导引座可包括有一中央贯通槽、及至少一旁通道。至少一衬管可插设连接于至少一旁通管、及至少一旁通道内，故至少一衬管可一体连通至少一横向通道的渐缩管与中央贯通槽。至少一旁通道可采用缩嘴管使其小嘴开口位于邻近中央贯通槽一侧为较佳，将可对中央贯通槽产生较强的吸力。此外，本发明的中央贯通槽的侧边可包括有至少一导引斜面，并使中央贯通槽呈渐缩状。据此，本发明可通过导引座的导引，使待测封装件能更精准置入中央贯通槽并对应接触测试端口，以便进行测试。

再且，本发明的导引座的上表面还可开设有至少一上通孔，而至少一上通孔是连通至至少一旁通道。据此，本发明除可吸除测试槽或中央贯通槽内的外来灰尘、微粒、或碎屑外，更可由上通孔清洁导引座的上表面，更可避免外来灰尘、微粒、或碎屑影响测试结果。此外，本发明的气压源可为一正压的气压源、或负压真空源皆可，可吹或可吸。

此外，本发明的测试端口可还包括有一端子固定座，而端子固定座可包括有多个通孔，其中多个接触端子分别穿经并固定于多个通孔内。据此，本发明的端子固定座主要用以固定接触端子，以避免接触端子因弯曲或移位而无法精准对位电性接触待测封装件。

其中，本发明的多个接触端子可包括有多个探针。而且，本发明的至少一横向通道可包括有二横向通道分别平行对应布设于测试槽的二侧。据此，可于测试槽相对应的两侧同时进行吸力清洁。当然，亦可布设在相邻二侧并形成L形通道，或以四横向通道分别布设于测试槽的四侧，以进行测试槽四环侧同时进行清洁吸除微粒、碎屑或灰尘，以达最佳的清洁功效。

附图说明

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下，其中：

图1是本发明第一实施例的分解图。

图2是本发明第一实施例的立体图。

图3是本发明第一实施例乃依据图2的线段AA所产生的剖视图。

图4是本发明第二实施例的立体图。

图5是本发明第三实施例的立体图。

具体实施方式

请同时参阅图1、图2、及图3，图1是本发明具自我清洁的封装件测试座第一实施例的分解图，图2是本发明第一实施例的立体图，图3是本发明第一实施例乃依据图2的线段AA所产生的剖视图。如图中所示，本发明具自我清洁的封装件测试座主要用以清洁是用以电性连接一待测封装件5与一测试装置6，主要应用于半导体封装测试工艺中，用以检测待测封装件5的功能及特性是否正常。再如图中显示有一承置台2，其包括有一底板20、及一立墙201。其中，底板20中央开设有多个穿孔203，而立墙201环绕立设于底板20外周以形成一中央的测试槽21。

并且，立墙201内贯设有二横向通道22分别平行对应布设于测试槽21的二侧。每一横向通道22包括一入口223、及一出口224分别穿出立墙201的外环壁202外。且每一横向通道22又还包括有一渐缩管221其是介于入口223与出口224之间。此外，每一渐缩管221更径向连接有二旁通管222。其中，横向通道22本身并不连通至测试槽21，而是通过渐缩管221与旁通管222而连通至测试槽21。

另外，图中另显示有一导引座4、及衬管23。导引座4是容设于承置台2的测试槽21内，且导引座4具有一中央贯通槽41、及其相对应的两侧分别设有二旁通道42。而衬管23则插设连接于旁通管222、及旁通道42内，且再分别通过一盲塞232与立墙201的外环壁202进行密封。据此，衬管23便一体连通横向通道22的渐缩管221与导引座4的中央贯通槽41，衬管23主要用以防止气流自导引座4与承置台2接缝触漏泄。再者，中央贯通槽41的侧边皆为导引斜面411，使中央贯通槽41呈渐缩状，以进行导引而方便待测封装件5的取放。

同时，本实施例的导引座4的上表面43更开设有多个上通孔431。亦即，于每一旁通道42对应上方处皆开设有一上通孔431，且每一上通孔431皆连通至旁通道42。据此，本实施例除可吸除测试槽21或中央贯通槽41内的外来灰尘、微粒、或碎屑。另外，更由上通孔431可同时清洁导引座4的上表面43，同样可避免外来灰尘、微粒、或碎屑堆积于上表面43上，进而影响测试结果。

此外，图中显示的测试端口3是组设于测试槽21内。其中，测试端口3包括有多个接触端子31分别对应穿过底板20的多个穿孔203，以分别电性连结测试装置6并电性接触待测封装件5。本实施例的多个接触端子31为多个探针(Pogo pin)。图中另显示有一端子固定座32，其包括有多个通孔321，其中多个接触端子31分别穿经并固定于多个通孔321内。据此，端子固定座32主要用以固定接触端子31，以避免接触端子31因弯曲或移位而无法精准对位电性接触待测封装件5。

再且，图中显示的气压源7是连通至承置台2的横向通道22的二端，主要通以正压的气压源，当然负压真空源亦可。因此，本发明是利用横向通道22及其渐缩管221所产生的文氏管现象，通气后使渐缩管221内气体流速增加造成径向连接的旁通管222内气压降低，进而使一体连通的中央贯通槽41及其上表面43产生吸力清洁的效果。据此，本发明因由文氏管原理可放大吸力，故无须高压的气压源或真空源，可节省设备成本，并且不会产生噪音。

此外，依受测产品的规格或厂商要求不同，有时需进行高温测试，其温度通常会介于75度至105度之间。此时，本发明更有显著的功效，主要是因理想气体公式，其温度与压力成正比的关系，故高温测试时测试槽21或中央贯通槽41内温度较高，产生较大的压力，进而达到更佳的吸力清洁效果。

再请同时参阅图4、及图5，图4是本发明具自我清洁的封装件测试座第二实施例的立体图，图5是本发明具自我清洁的封装件测试座第三实施例的立体图。图4中所示的第二实施例与第一实施例主要差别在于，第二实施例的横向通道24为一L形通道，其L形的二段分别具有一中段渐缩管241、242，其分别布设于测试槽21的相邻二侧边，其可提供相邻二侧同时的吸力清洁功效。另外，图5揭示的第三实施例则具有四个横向通道25，其分别布设于测试槽21的四环侧，以提供四侧边同时进行吸力清洁的作业，达到更佳的清洁功效。据此，本发明可依实际需求弹性调整变更设计，以达最理想的清洁效果。

上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请专利的权利要求范围所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (8)

1.一种具自我清洁的封装件测试座，包括：

一承置台，包括有一底板、及一立墙，该底板中央开设有多个穿孔，该立墙环绕立设于该底板外周以形成一中央的测试槽，该立墙内贯设有至少一横向通道，该至少一横向通道包括一入口、及一出口，该入口及出口分别穿出该立墙的外环壁外，该至少一横向通道还包括有一渐缩管其是介于该入口与该出口之间，该渐缩管还径向连接有至少一旁通管，该至少一横向通道是通过该渐缩管与该至少一旁通管而连通至该测试槽；

一测试端口，组设于该测试槽内，该测试端口包括有多个接触端子分别对应穿过该底板的该多个穿孔；以及

一气压源，连通至该承置台的该至少一横向通道的一端。

2.如权利要求1所述的具自我清洁的封装件测试座，其还包括有一导引座、及至少一衬管，该导引座容设于该承置台的该测试槽内，该导引座包括有一中央贯通槽、及至少一旁通道，该至少一衬管是插设连接于该至少一旁通管、及该至少一旁通道内。

3.如权利要求2所述的具自我清洁的封装件测试座，其中，该中央贯通槽的侧边包括有至少一导引斜面。

4.如权利要求2所述的具自我清洁的封装件测试座，其中，该导引座的上表面还开设有至少一上通孔，该至少一上通孔连通至该至少一旁通道。

5.如权利要求1所述的具自我清洁的封装件测试座，其中，该测试端口还包括有一端子固定座，该端子固定座包括有多个通孔，该多个接触端子分别穿经并固定于该多个通孔内。

6.如权利要求1所述的具自我清洁的封装件测试座，其中，该多个接触端子为多个探针。

7.如权利要求1所述的具自我清洁的封装件测试座，其中，该至少一横向通道包括有二横向通道分别平行对应布设于该测试槽的二侧。

8.如权利要求1所述的具自我清洁的封装件测试座，其中，该气压源是指一正压的气压源。

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