KR20100053964A - 인쇄회로기판 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 간단한 방법으로, 회로 패턴을 형성하기 위한 금속박과 폴리머막과의 접합력을 향상시킬 수 있도록 한 것으로, 이를 위하여, 제1금속막과, 상기 제1금속막의 일면에 위치하는 폴리머막과, 상기 제1금속막과 폴리머막의 사이에 개재되고, 상기 제1금속막을 향한 제1면과 상기 폴리머막을 향한 제2면을 구비하며, 상기 제2면의 표면이 상기 제1면의 표면보다 거칠게 구비된 제2금속막을 포함하는 인쇄회로기판 및 그 제조방법을 제공한다.
Description
본 발명은 인쇄회로기판 및 그 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세히는 금속박과 수지재와의 접합성이 더욱 향상된 인쇄회로기판 및 그 제조방법에 관한 것이다.
인쇄회로기판(Printed circuit board; PCB)은 각종 전자 및 기계 기구에 있어서 필수적인 부품의 하나이다.
이러한 인쇄회로기판은 에폭시 또는 폴리 이미드로 구비된 폴리머 절연판의 한쪽 또는 양쪽에 동박을 부착시킨 다음, 에칭 또는 도금을 통해 필요한 회로를 구성한다.
이 때, 동박과 폴리머 절연판과의 접합력을 증대시키기 위한 노력들이 다양하게 있어 왔다.
이러한 접합력 증대를 위한 대표적인 예로는 동박 표면에 극성 폴리머를 도포하여 폴리머 수지와 동박과의 결합력을 강화하는 방법이 있다. 그러나, 이 방법은 화학적 결합에 의존하게 됨으로, 결합력 증가에는 한계를 가진다. 또한 극성 폴 리머를 고온에서 가교하는 과정에서 유기물 성분들이 기화되면서 내부 압력이 발생되어 버블과 같은 결함을 발생시킬 수 있다.
또 다른 예로는 동박의 표면에 물리적 또는 화학적으로 노듈(nodule)을 형성하여, 이 노듈의 요철 구조로 인해 동박과 폴리머 수지 간의 접합력을 증가시키는 것이다. 동박 표면의 노듈 생성을 위한 방법으로는 제트 스크러브(Jet Scrub) 방식, 브러쉬 연마, 소프트 에칭 등의 방법이 사용되는 데, 소프트 에칭이 가장 널리 사용되고 있다. 그런데, 이 방법은 노듈의 형상이 1~2㎛ 정도의 깊이를 나타냄으로, 후속 공정인 에칭을 통한 회로 형성 시에 에칭 직선성이 저하하게 되어 회로폭이 불균일하게 되기 쉬운 문제가 생기고, 또 노듈 형성 후, 동박 표면에 산화막이 형성되어, 산화막 제거를 위한 공정이 필요하게 된다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 회로 패턴을 형성하기 위한 금속박과 폴리머막과의 접합력을 향상시킬 수 있는 인쇄회로기판 및 그 제조방법을 제공하는 데에 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은, 제1금속막과, 상기 제1금속막의 일면에 위치하는 폴리머막과, 상기 제1금속막과 폴리머막의 사이에 개재되고, 상기 제1금속막을 향한 제1면과 상기 폴리머막을 향한 제2면을 구비하며, 상기 제2면의 표면이 상기 제1면의 표면보다 거칠게 구비된 제2금속막을 포함하는 인쇄회로기판을 제공한다.
상기 제1금속막은 구리 또는 구리 합금으로 구비될 수 있다.
상기 제2금속막은 니켈 또는 니켈 합금으로 구비될 수 있다.
본 발명은 또한 상기 폴리머막 및 상기 제2면의 사이에 위치하는 제3금속막을 더 포함할 수 있다.
상기 제3금속막은 니켈, 팔라듐, 금 또는 이들의 합금으로 구비될 수 있다.
본 발명은 또한 전술한 목적을 달성하기 위하여, 제1금속막을 준비하는 단계와, 상기 제1금속막의 일면 상에 전기도금으로 제2금속막을 형성하되, 상기 제2금속막은 상기 제1금속막에 접하는 제1면과 상기 제1면의 반대측의 제2면을 구비하고, 상기 제2면이 상기 제1면보다 거칠게 되도록 하는 단계와, 상기 제2금속막의 제2면 상에 폴리머막을 형성하는 단계를 포함하는 인쇄회로기판의 제조방법을 제공한다.
상기 제1금속막은 구리 또는 구리 합금으로 구비될 수 있다.
상기 제2금속막은 니켈 또는 니켈 합금으로 구비될 수 있다.
상기 전기도금으로 제2금속막을 형성하는 단계는, 10 A/dm2 이상의 전류밀도에서 3초 내지 20초 동안 행해질 수 있다.
상기 전기도금으로 제2금속막을 형성하는 단계는, 도금욕이 니켈 설페이트 또는 니켈 클로라이드를 포함하고, 상기 니켈 설페이트 또는 니켈 클로라이드는 2.5 내지 3.5 g/L일 수 있다.
상기 폴리머막의 형성 전에, 상기 제2금속막의 제2면 상에 제3금속막을 더 형성하고, 상기 제3금속막 상에 상기 폴리머막을 형성할 수 있다.
상기 제3금속막은 니켈, 팔라듐, 금 또는 이들의 합금으로 구비될 수 있다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 간단한 방법으로 회로 패턴을 형성할 제1금속막과 폴리머막과의 접착력을 높여줄 수 있다.
또한, 확산 방지막의 형성으로 장기 신뢰성 및 고온 흡습 환경에서의 접착력 향상 효과를 나타낼 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예들에 대하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 단면을 도시한 단면도이다.
도 1에서 볼 수 있듯이, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 인쇄회로기판은 제1금속막(10), 제2금속막(20) 및 폴리머막(30)을 포함한다.
제1금속막(10)은 구리 또는 구리 합금으로 구비되며, 회로 패턴이 형성될 도전층에 해당한다.
이 제1금속막(10)과 대향되게 폴리 이미드 또는 아크릴 수지 등으로 폴리머막(40)이 구비된다.
그리고, 제1금속막(10)과 폴리머막(40)의 사이에는 제2금속막(20)이 개재되는 데, 이 제2금속막(20)은 니켈 또는 니켈 합금으로 구비된다.
본 발명에 있어, 상기 제2금속막(20)은 제1금속막(10)을 향한 제1면(21)과, 폴리머막(40)을 향한 제2면(22)을 갖는다.
상기 제2금속막(20)은 후술하는 바와 같이, 제1금속막(10)의 표면에 전기도금의 방법으로 형성될 수 있는 데, 상기 제2면(22)의 표면이 제1면(21)의 표면보다 거칠게 구비되도록 하는 것이 바람직하다.
그리고, 제2금속막(20)의 제2면(22) 상으로는 이 제2면(22)을 덮도록 폴리머막(40)이 형성된다.
본 발명의 경우, 이처럼 제2금속막(20)에 있어 폴리머막(40)과 접하는 제2면(22)이 거칠게 구비됨으로 인해 폴리머막(40)과 제2금속막(20)간의 접합력이 향 상된다. 또, 제2금속막(20)은 제1금속막(10)에 도금으로 밀착되어 있으므로, 제1금속막(10)의 폴리머막(40)과의 접합력은 상기 제2금속막(20)으로 인해 더욱 향상될 수 있다.
본 발명은 이처럼 표면이 거칠게 형성된 제2금속막(20)을 제1금속막(10)에 형성함으로써 간단하게 폴리머막(40)과 제1금속막(10)간 접합력을 향상시킬 수 있게 된다.
상기와 같은 인쇄회로기판은 다음과 같은 공정으로 제작된다.
먼저, 구리 또는 구리 합금으로 구비된 제1금속막(10)을 준비한다.
다음으로, 상기 제1금속막(10)의 일면, 도 1에서 볼 때, 제1금속막(10)의 상면에 전기도금으로 제2금속막(20)을 형성한다. 이 때, 상기 제2금속막(20)은 거친 도금층이 되도록 형성하는 데, 전술한 바와 같이, 상기 제1금속막(10)에 접하는 제1면(21)과 상기 제1면(21)의 반대측의 제2면(22) 중 상기 제2면(22)이 상기 제1면(21)보다 거칠게 되도록 도금한다.
이 때, 제2금속막(20)은 니켈 또는 니켈 합금으로 구비되도록 한다.
제2금속막(20)과 같이 거친 도금층을 형성할 수 있는 니켈 도금욕의 조성은 니켈 설페이트(Nickel sulfate) 또는 니켈 클로라이드(Nickel Chloride) 2.5 내지 3.5 g/l, 암모늄 설페이트(Ammonium sulfate) 2.5 내지 3.0 g/l, 나트륨 설페이트(Sodium sulfate) 4.5 내지 5.0 g/l, 나트륨 클로라이드(Sodium chloride) 1.5 내지 2.0 g/l, 붕산(Boric acid) 2.0 내지 3.0g/l을 포함할 수 있다. 이러한 도금욕 조성에서도 알 수 있듯이, 제2금속막(20)과 같은 거친 도금층을 형성하기 위한 도금욕은 니켈 설페이트(Nickel sulfate) 또는 니켈 클로라이드(Nickel Chloride)가 일반적인 니켈 도금층 형성 시의 도금욕 조성의 10% 미만의 저농도가 되도록 하는 것이 바람직하다.
그리고 이러한 저농도 도금욕에 후술하는 바와 같이 일반 니켈 도금층 형성시보다 고전류밀도로 전기를 흘려 니켈의 결정성장이 저밀도로 거칠게 급격히 성장에 거친 표면을 갖도록 하는 것이다.
구체적으로, 상기와 같은 조성의 도금욕에 10ASD(A/dm2) 이상의 고전류 밀도를 인가하여 표면이 거친 니켈 도금층의 제2금속막(20)을 형성한다. 또한, 이러한 도금 공정은 일측의 롤러에 감겨진 제1금속막(10)을 도금욕으로 공급하고, 도금이 완료되면 타측의 롤러로 감겨지는 릴-투-릴 타입(reel to reel type)으로 이루어질 수 있다. 그리고, 니켈 도금 속도를 빠르게 하고, 안정적으로 거친 니켈 도금층을 얻기 위해 50ASD의 고전류를 인가할 수 있다. 처리 시간은 3초 내지 20초 정도인 것이 바람직하다. 도금 처리 시간 3초 미만에서는 니켈 결정의 성장이 일어나지 않으며, 20초를 넘을 경우 니켈 결정의 과다 성장으로 인해 거친 니켈 도금층에 스머트(smut) 등과 같이 2차 오염이 생길 수 있다.
이렇게 거친 니켈 도금층으로 구비되는 제2금속막(20)은 0.1 내지 0.5 ㎛의 두께로 형성될 수 있는 데, 0.1㎛ 미만의 두께에서는 거친 도금층의 효과가 적게 되고, 0.5㎛를 초과하는 두께에서는 니켈 도금의 과다 성장으로 인해 도금층의 박리 현상의 문제가 일어날 수 있다. 즉, 니켈의 수직 방향으로의 성장은 0.1㎛ 두께 미만에서는 미미하며, 0.5㎛ 초과 두께에서는 수직 방향으로의 과다 성장으로 인해 도금층 내에서의 분리 현상이 생길 수 있다.
도 2에는 상기 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 제2금속막(20)의 제2면(22)의 표면을 보여주는 전자 현미경 사진이 도시되어 있다. 도 2에서 볼 수 있듯이, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 제2면(22)의 표면은 현저하게 거칠게 형성됨으로써, 후속하는 폴리머막(40)이 형성될 때에 폴리머 수지가 접착된 후 표면 거칠기에 의해 자연적으로 발생하는 제2면(22)과 폴리머 수지 간의 형상 결합력이 추가되어 폴리머막(40)과 제2금속막(20)간의 접착력이 향상될 수 있음을 알 수 있다.
본 발명에 따른 제2금속막(20)의 제작 후, 제2면(22)이 원하는 표면 거칠기로 형성되었는지에 대한 검사는 SEM(Scanning Electron Microscope)으로 확인이 가능하지만, 실제 공정에 적용하는 경우에는 검사에 시간이 소요되므로 보다 빠르게 공정 중에 표면 거칠기를 확인하는 방안이 필요하다.
이를 위해 광택도를 측정하는 방법을 사용할 수 있다. 즉, 광택도가 0.2 내지 0.8의 범위에 있는 경우 원하는 표면 거칠기를 가지는 제2금속막(20)이 제작된 것으로 볼 수 있다. 광택도가 0.2 미만에서는 거칠기가 지나치게 형성되어, 폴리머막(40)을 형성하는 폴리머 수지가 성형 중에 번져 나와 2차 품질 문제를 야기하는 RBO(Resin bleed Overflow) 등의 문제가 생길 수 있고, 광택도가 0.8을 초과할 경우에는 거칠기가 충분치 않아서 MSL(Moisture Sensitivity Level) 향상의 효과가 없다.
상기와 같이 제2금속막(20)을 형성한 후에는 제2금속막(20)의 제2면(22) 상으로 폴리 이미드 단량체의 전구체를 캐스팅한 후, 고온에서의 가교를 통해 폴리 이미드로 이루어진 폴리머막(40)을 형성할 수 있다.
종래에는 COF 원소재를 제조함에 있어, 폴리이미드 필름 위에 스퍼터링 방식으로 니켈, 크롬 같은 시드층을 형성한 후, 동 도금을 통해 동박을 형성했는 데, 상기와 같은 본 발명은 먼저 동박, 즉, 제1금속막(10)에 전기 도금으로 거친 표면을 갖는 제2금속막(20)을 형성한 후, 제2금속막(20) 상에 전술한 방법으로 폴리머막(40)을 형성함으로써, 제1금속막(10)과 폴리머막(40)간의 접착력 향상을 기할 수 있을 뿐 아니라, 제조 공정이 간단해, 생산성 및 제조원가를 향상시킬 수 있다.
한편, 상기와 같은 본 발명의 공정은 도 2에서 볼 수 있듯이, 제1금속막(10)의 양면에 대해 제2금속막(20) 및 폴리머막(40)을 순차로 형성함으로써, 인쇄회로기판을 외면이 절연처리된 필름으로 구현할 수도 있다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 또 다른 일 실시예를 도시한 것이다.
먼저, 도 3에서 볼 수 있듯이, 두 개의 제1금속막(10)(10')의 표면에 전술한 거친 도금 방법에 의해 각각 제2금속막(20)(20')을 형성한 후, 각 제2금속막(20)(20')의 제2면들(22)(22')이 서로 대향하도록 배치시킨다.
그 다음, 도 4에서 볼 수 있듯이, 대향된 제2면들(22)(22')의 사이로 폴리 이미드 단량체의 전구체를 캐스팅한 후, 고온에서의 가교를 통해 폴리 이미드로 이루어진 폴리머막(40)을 형성한다.
이 경우, 중심에 폴리머막(40)이 존재하는 상태에서 양면으로 회로패턴을 형 성할 수 있는 제1금속막(10)(10')을 배치시킬 수 있다.
또한, 이 실시예에서는 전술한 도 2에 따른 실시예에서와 같이 각 제1금속막(10)(10')의 양면에 제2금속막(20)(20')들을 도금한 후, 폴리머막(40) 형성공정을 거침으로써 도 5에서 볼 수 있듯이, 중심에 폴리머막(40)이 존재하는 상태에서 그 양면으로 회로패턴을 형성할 수 있는 제1금속막들(10)(10')을 배치시키고, 이 제1금속막들(10)(10')의 외면을 덮도록 다시 폴리머막(40)이 형성된 다층 인쇄회로기판을 얻을 수 있다.
도 6은 본 발명의 바람직한 또 다른 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 단면을 도시한 단면도이다.
도 6을 참조하면, 도 1에서와 같이 제1금속막(10)의 일 면에 전술한 거친 도금층 형성공정에 의해 제2금속막(20)을 형성한 후, 이 제2금속막(20)의 제2면(22) 상으로 제3금속막(30)을 형성하고, 이 제3금속막(30) 상에 폴리머막(40)을 형성한 것이다.
상기 제3금속막(30)은 니켈(Ni), 팔라듐(Pd), 금(Au) 또는 이들의 합금으로 구비될 수 있는 데, 이는 폴리머막(40)의 형성 시 제1금속막(10)의 금속 성분이 폴리머막(40) 방향으로 확산되는, 즉, 폴리머막(40) 과 제2금속막(20) 사이 계면으로 확산되어 폴리머막(40)과 제2금속막(20)간의 접착력을 저하시키는 것을 방지할 수 있는 확산 방지막으로서의 기능을 하도록 한다. 즉, 폴리머막(40)과 제2금속막(20)의 사이에 제3금속막(30)을 개재시킴으로써 제1금속막(10)의 금속 성분의 확산을 방지하도록 해, 장기 신뢰성 및 고온 흡습 환경에서의 접착력 향상 효과를 얻도록 할 수 있다.
상기 제3금속막(30)은 제2금속막(20)과 같은 거친 도금층 형성방법으로 형성되는 것이 아니라, 일반적인 도금 방법으로 형성될 수 있다. 따라서, 제2금속막(20)을 형성하는 도금욕보다 고농도의 도금욕을 사용하며, 저전류밀도로 도금한다.
상기 제3금속막(30)의 제2금속막(20)의 거친 면인 제2면(22) 상에 형성되므로, 제2면(22)의 거친 표면 특성이 제3금속막(30)의 표면에도 나타나도록 얇게 형성하는 것이 바람직하다.
이러한 제3금속막(30)은 0.1 내지 0.5 ㎛의 두께로 형성하는 데, 0.1㎛ 미만의 두께로 형성할 경우, 확산 방지막으로서의 기능을 하기 어렵고, 0.5㎛를 초과할 경우, 전술한 바와 같이 제2금속막(20)의 거친 면인 제2면(22)의 거친 표면 특성이 제3금속막(30)의 표면에 나타나지 않아 제3금속막(30)과 폴리머막(40) 간의 접착력이 떨어질 수 있다.
상기 제3금속막(30)은 도 6에서 볼 수 있듯이, 단층으로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 복층으로 형성될 수도 있다.
이러한 제3금속막(30)의 구조는 도 2 내지 도 5의 실시예의 구조에도 동일하게 적용할 수 있다.
<실험예>
구리 합금으로 이루어진 제1금속막을 준비하였다.
니켈 설페이트(Nickel sulfate) 3.5 g/l, 암모늄 설페이트(Ammonium sulfate) 2.75 g/l, 나트륨 설페이트(Sodium sulfate) 4.75 g/l, 나트륨 클로라이드(Sodium chloride) 1.75 g/l, 붕산(Boric acid) 2.5 g/l의 도금욕에 20 ASD의 전류밀도를 흘려준 상태에서 제1금속막을 담가 20초간 도금한다.
상기와 같은 도금욕으로 형성된 제2금속막의 거친 면인 제2면은 도 7에서 볼 수 있듯이, 충분히 거칠게 형성되어 있기 때문에 후속하는 폴리머막과의 접합력이 더욱 높아질 수 있다.
상기 제2금속막의 제2면 상에 폴리 이미드 단량체의 전구체를 캐스팅한 후, 450℃에서 가교하여 폴리머막을 형성한다.
본 발명은 각종 전기, 기계 및 전자 장비에 사용되는 경질 인쇄회로기판 및 연질 인쇄회로기판의 제조에 적용될 수 있다. 특히, 파인 피치 패턴의 회로를 에칭 형성할 수 있는 캐스팅 타입 FCCL에 더욱 유용하다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.
따라서 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 단면도.
도 2는 본 발명의 바람직한 다른 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 단면도.
도 3 및 도 4는 본 발명의 바람직한 또 다른 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 제조방법을 도시한 단면도.
도 5는 본 발명의 바람직한 또 다른 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 단면도.
도 6은 본 발명의 바람직한 또 다른 일 실시예에 따른 인쇄회로기판의 단면도.
도 7은 본 발명의 실험예의 제2면에 대한 SEM 사진.
Claims (12)
- 제1금속막;상기 제1금속막의 일면에 위치하는 폴리머막; 및상기 제1금속막과 폴리머막의 사이에 개재되고, 상기 제1금속막을 향한 제1면과 상기 폴리머막을 향한 제2면을 구비하며, 상기 제2면의 표면이 상기 제1면의 표면보다 거칠게 구비된 제2금속막;을 포함하는 인쇄회로기판.
- 제1항에 있어서,상기 제1금속막은 구리 또는 구리 합금으로 구비된 인쇄회로기판.
- 제1항에 있어서,상기 제2금속막은 니켈 또는 니켈 합금으로 구비된 인쇄회로기판.
- 제1항에 있어서,상기 폴리머막 및 상기 제2면의 사이에 위치하는 제3금속막을 더 포함하는 인쇄회로기판.
- 제4항에 있어서,상기 제3금속막은 니켈, 팔라듐, 금 또는 이들의 합금으로 구비된 인쇄회로 기판.
- 제1금속막을 준비하는 단계;상기 제1금속막의 일면 상에 전기도금으로 제2금속막을 형성하되, 상기 제2금속막은 상기 제1금속막에 접하는 제1면과 상기 제1면의 반대측의 제2면을 구비하고, 상기 제2면이 상기 제1면보다 거칠게 되도록 하는 단계; 및상기 제2금속막의 제2면 상에 폴리머막을 형성하는 단계;를 포함하는 인쇄회로기판의 제조방법.
- 제6항에 있어서,상기 제1금속막은 구리 또는 구리 합금으로 구비된 인쇄회로기판의 제조방법.
- 제6항에 있어서,상기 제2금속막은 니켈 또는 니켈 합금으로 구비된 인쇄회로기판의 제조방법.
- 제6항에 있어서,상기 전기도금으로 제2금속막을 형성하는 단계는,10 A/dm2 이상의 전류밀도에서 3초 내지 20초 동안 행해지는 인쇄회로기판의 제조방법.
- 제6항에 있어서,상기 전기도금으로 제2금속막을 형성하는 단계는,도금욕이 니켈 설페이트 또는 니켈 클로라이드를 포함하고, 상기 니켈 설페이트 또는 니켈 클로라이드는 2.5 내지 3.5 g/L인 인쇄회로기판의 제조방법.
- 제6항에 있어서,상기 폴리머막의 형성 전에,상기 제2금속막의 제2면 상에 제3금속막을 더 형성하고, 상기 제3금속막 상에 상기 폴리머막을 형성하는 인쇄회로기판의 제조방법.
- 제11항에 있어서,상기 제3금속막은 니켈, 팔라듐, 금 또는 이들의 합금으로 구비된 인쇄회로기판의 제조방법.
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