KR20090086023A - Wiring substrate and method of manufacturing the same - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 70
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 62
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 308
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 282
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 245
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 245
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims abstract description 30
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 39
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 21
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 238000003475 lamination Methods 0.000 claims description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 249
- 239000010408 film Substances 0.000 description 74
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 46
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 31
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 22
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 22
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 17
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 17
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 16
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 15
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 9
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 9
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 8
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 8
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 8
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 7
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 6
- 239000011162 core material Substances 0.000 description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 6
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 6
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 5
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 3
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 229960003280 cupric chloride Drugs 0.000 description 2
- -1 for example Substances 0.000 description 2
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- FFQALBCXGPYQGT-UHFFFAOYSA-N 2,4-difluoro-5-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound NC1=CC(C(F)(F)F)=C(F)C=C1F FFQALBCXGPYQGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DJOYTAUERRJRAT-UHFFFAOYSA-N 2-(n-methyl-4-nitroanilino)acetonitrile Chemical compound N#CCN(C)C1=CC=C([N+]([O-])=O)C=C1 DJOYTAUERRJRAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical class OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 1
- 229920000491 Polyphenylsulfone Polymers 0.000 description 1
- 239000004954 Polyphthalamide Substances 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical group [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYIWFHXWLCXGQO-UHFFFAOYSA-N barium(2+);ethanolate Chemical compound [Ba+2].CC[O-].CC[O-] GYIWFHXWLCXGQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AYJRCSIUFZENHW-DEQYMQKBSA-L barium(2+);oxomethanediolate Chemical compound [Ba+2].[O-][14C]([O-])=O AYJRCSIUFZENHW-DEQYMQKBSA-L 0.000 description 1
- WEUCVIBPSSMHJG-UHFFFAOYSA-N calcium titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ca+2].[Ti+4] WEUCVIBPSSMHJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 1
- 239000010954 inorganic particle Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- VOPSYYWDGDGSQS-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+);oxygen(2-);titanium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Ti+4].[Nd+3].[Nd+3] VOPSYYWDGDGSQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001470 polyketone Polymers 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001955 polyphenylene ether Polymers 0.000 description 1
- 229920006380 polyphenylene oxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 229920006375 polyphtalamide Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H05K1/16—Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor
- H05K1/162—Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor incorporating printed capacitors
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- H05K1/00—Printed circuits
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Abstract
Description
본 발명은 컨덴서를 내장한 배선 기판 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a wiring board incorporating a capacitor and a method of manufacturing the same.
전자 기기의 소형화의 요구에 수반하여, 전자 기기를 구성하는 전자 부품의 실장 효율을 높이는 것이 요망되고 있다. 그 때문에, 실장 효율을 높이기 위해, 컨덴서를 내장한 배선 기판이 하기 특허 문헌 1에 개시되어 있다.In response to the demand for miniaturization of electronic devices, it is desired to increase the mounting efficiency of the electronic components constituting the electronic devices. Therefore, in order to raise mounting efficiency, the wiring board which integrated the capacitor is disclosed by following patent document 1. As shown in FIG.
그러나, 이 공보에 개시된 배선 기판에서는, 배선 기판에 내장된 컨덴서의 고용량화와 절연 저항의 확보를 양립시키는 것은 곤란하다.However, in the wiring board disclosed in this publication, it is difficult to achieve both high capacity of the capacitor built in the wiring board and securing of insulation resistance.
왜냐하면, 컨덴서를 고용량화하고자 하면, 컨덴서의 유전체층을 얇게 하게 되는데, 유전체층을 얇게 하면, 컨덴서의 절연 저항이 저하된다. 한편, 컨덴서의 절연 저항을 확보하고자 하면, 유전체층을 두껍게 하게 되는데, 이것으로는 컨덴서의 용량을 크게 할 수 없다.This is because, if the capacitor is to be made high in capacity, the dielectric layer of the capacitor is made thin. If the dielectric layer is made thin, the insulation resistance of the capacitor is reduced. On the other hand, if the insulation resistance of the capacitor is to be secured, the dielectric layer is made thick, and the capacity of the capacitor cannot be increased.
또한, 유전체층과 전극을 번갈아 적층시켜 형성된 복수의 컨덴서를 내장하는 배선 기판이 하기 특허 문헌 2에 개시되어 있다. 이 공보에 개시된 배선 기판은 유전체층의 두께를 컨덴서의 절연 저항을 얻기 위해 필요한 두께로 하고, 복수의 컨덴서를 배치함으로써, 전체로서의 용량을 크게 하고 있다.In addition, a wiring board including a plurality of capacitors formed by alternately stacking a dielectric layer and an electrode is disclosed in Patent Document 2 below. In the wiring board disclosed in this publication, the thickness of the dielectric layer is set to a thickness necessary for obtaining the insulation resistance of the capacitor, and a plurality of capacitors are arranged to increase the capacity as a whole.
단, 이 공보에 개시된 배선 기판에서는, 1개의 컨덴서에 결함이 있으면, 컨덴서 적층체 전체에 결함이 생긴다.However, in the wiring board disclosed in this publication, if one capacitor is defective, a defect occurs in the entire capacitor laminate.
[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 2005-191559호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-191559
[특허 문헌 2] 일본 특허 공개 2004-228190호 공보[Patent Document 2] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-228190
본 발명은 상기 문제점을 해결하는 것으로서, 고용량이며 절연 저항이 확보된 컨덴서를 내장한 배선 기판을 제공하는 것을 목적으로 한다. 또한, 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체를 내장하는 배선 기판의 수율을 확보하여, 고용량이며 절연 저항이 확보된 컨덴서를 내장한 배선 기판을 제공하는 것을 목적으로 한다. 또한, 본 발명은 그러한 배선 기판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a wiring board having a capacitor having a high capacity and an insulation resistance. In addition, an object of the present invention is to provide a wiring board having a capacitor having a high capacitance and an insulation resistance secured by securing a yield of a wiring board having a capacitor laminate in which capacitors are stacked. Moreover, an object of this invention is to provide the manufacturing method of such a wiring board.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제1 관점에 따른 배선 기판은,In order to achieve the above object, the wiring board according to the first aspect of the present invention,
유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극 및 제2 전극으로 형성되는 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시켜 형성되는 컨덴서 적층체와,A capacitor stack formed by laminating a dielectric layer, a capacitor formed by opposing first and second electrodes with the dielectric layer interposed therebetween, using an adhesive;
상기 컨덴서 적층체를 내장하는 제1 수지 절연층과,A first resin insulating layer containing the capacitor laminate;
상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와,A first via conductor electrically connecting the first electrodes to each other,
상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체와,A second via conductor electrically connecting the second electrodes to each other,
상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와,A first external terminal electrically connected to the first via conductor;
상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자를 갖는 것을 특징으로 한다.It has a 2nd external terminal electrically connected with the said 2nd via conductor, It is characterized by the above-mentioned.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제2 관점에 따른 배선 기판은,In order to achieve the above object, a wiring board according to a second aspect of the present invention,
적어도 최하층의 수지 절연층과 최상층의 수지 절연층을 갖는 복수의 수지 절연층과,A plurality of resin insulating layers having at least the lowest resin insulating layer and the highest resin insulating layer;
상기 수지 절연층의 사이에 형성되어 있는 복수의 도체 회로와,A plurality of conductor circuits formed between the resin insulating layers,
상기 복수의 수지 절연층 중 1개의 수지 절연층에 매설되어 있고, 유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극과 제2 전극으로 형성되는 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시켜 형성되는 컨덴서 적층체와,Condenser lamination, which is embedded in one resin insulating layer among the plurality of resin insulating layers, and is formed by laminating a capacitor formed of a dielectric layer and a first electrode and a second electrode facing each other with the dielectric layer interposed therebetween by an adhesive. Chewwa,
상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와,A first via conductor electrically connecting the first electrodes to each other,
상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체와,A second via conductor electrically connecting the second electrodes to each other,
상기 최하층의 수지 절연층에 형성되어 있고, 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자로 이루어지는 제1 외부 접속 단자와,A first external connection terminal formed on the lowest resin insulating layer, the first external terminal comprising a first external terminal electrically connected to the first via conductor, and a second external terminal electrically connected to the second via conductor; ,
상기 최상층의 수지 절연층에 형성되어 있고, 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제3 외부 단자와 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제4 외부 단자로 이루어지는 제2 외부 접속 단자를 갖고,A second external connection terminal formed on the resin insulating layer of the uppermost layer and having a third external terminal electrically connected to the first via conductor and a fourth external terminal electrically connected to the second via conductor; Have,
상기 제1 외부 접속 단자는 상기 최하층의 수지 절연층에 매설됨과 함께, 상기 제1 외부 접속 단자의 외부 단자면은 상기 최하층의 수지 절연층의 제1 면과 대략 동일 평면에 위치하고 있고,The first external connection terminal is embedded in the resin insulating layer of the lowermost layer, and the external terminal surface of the first external connection terminal is located on substantially the same plane as the first surface of the resin insulating layer of the lowest layer.
상기 제2 외부 접속 단자는 상기 최상층의 수지 절연층 위에 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.The second external connection terminal is formed on the resin insulating layer of the uppermost layer.
또한, 상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제3 관점에 따른 배선 기판의 제조 방법은,Moreover, in order to achieve the said objective, the manufacturing method of the wiring board which concerns on the 3rd viewpoint of this invention is
유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극 및 제2 전극을 갖는 컨덴서를 작성하는 컨덴서 작성 공정과,A capacitor making step of preparing a capacitor having a dielectric layer and a first electrode and a second electrode opposing each other with the dielectric layer interposed therebetween;
상기 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 작성하는 컨덴서 적층체 작성 공정과,A capacitor laminate-forming step of creating a capacitor laminate by laminating the capacitor through an adhesive;
베이스 기판 위에 제1 수지 절연층을 적층시키는 적층 공정과,A lamination step of laminating a first resin insulating layer on the base substrate,
상기 제1 수지 절연층에 상기 컨덴서 적층체를 매설시키는 매설 공정과,A embedding step of embedding the capacitor laminate in the first resin insulating layer;
상기 컨덴서 적층체에, 상기 제1 전극끼리를 관통하는 관통 구멍과, 상기 제2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 관통 구멍 형성 공정과,A through-hole forming step of forming a through-hole penetrating the first electrodes and a through-hole penetrating the second electrodes in the capacitor laminate;
상기 관통 구멍에 금속 도체를 충전시킴으로써, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체를 작성하는 비아 도체 작성 공정과,Filling the through-holes with a metal conductor, a via conductor creation step of creating a first via conductor electrically connecting the first electrodes and a second via conductor electrically connecting the second electrodes;
상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와, 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자를 작성하는 외부 단자 작성 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.It has an external terminal creation process which produces the 1st external terminal electrically connected with the said 1st via conductor, and the 2nd external terminal electrically connected with the said 2nd via conductor.
또한, 상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제4 관점에 따른 배선 기판의 제조 방법은,Moreover, in order to achieve the said objective, the manufacturing method of the wiring board which concerns on the 4th viewpoint of this invention is
유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극과 제2 전극을 갖는 컨덴서를 작성하는 컨덴서 작성 공정과,A capacitor making step of producing a capacitor having a dielectric layer and a first electrode and a second electrode opposing each other with the dielectric layer interposed therebetween;
상기 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 작성하는 컨덴서 적층체 작성 공정과,A capacitor laminate-forming step of creating a capacitor laminate by laminating the capacitor through an adhesive;
지지판 위에 제1 외부 단자와 제2 외부 단자를 갖는 제1 외부 접속 단자를 형성하는 제1 외부 접속 단자 형성 공정과,A first external connection terminal forming step of forming a first external connection terminal having a first external terminal and a second external terminal on a support plate;
상기 제1 외부 접속 단자와 지지판 위에 복수의 수지 절연층과 복수의 도체 회로를 번갈아 적층시키는 빌드업 공정과,A build-up step of alternately stacking a plurality of resin insulating layers and a plurality of conductor circuits on the first external connection terminal and the support plate;
상기 복수의 수지 절연층 중 1개의 수지 절연층에 상기 컨덴서 적층체를 매설시키는 매설 공정과,A embedding step of embedding the capacitor laminate in one of the plurality of resin insulating layers;
상기 컨덴서 적층체에, 상기 제1 전극 혹은 상기 제2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 관통 구멍 형성 공정과,A through-hole forming step of forming a through-hole in the capacitor stack, through which the first electrode or the second electrode passes;
상기 관통 구멍에 금속 도체를 충전시킴으로써, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체를 작성하는 비아 도체 작성 공정과,Filling the through-holes with a metal conductor, a via conductor creation step of creating a first via conductor electrically connecting the first electrodes and a second via conductor electrically connecting the second electrodes;
상기 복수의 수지 절연층 중, 상기 지지판과는 반대측에 위치하는 최상층의 수지 절연층 위에 제3 외부 단자와 제4 외부 단자를 갖는 제2 외부 접속 단자를 형성하는 제2 외부 접속 단자 형성 공정과,A second external connection terminal forming step of forming a second external connection terminal having a third external terminal and a fourth external terminal on the uppermost resin insulating layer positioned on the opposite side to the support plate among the plurality of resin insulating layers;
상기 지지판을 제거하는 지지판 제거 공정을 갖고,It has a support plate removal process of removing the said support plate,
상기 제1 외부 단자와 상기 제3 외부 단자는 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있고, 상기 제2 외부 단자와 상기 제4 외부 단자는 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 한다.The first external terminal and the third external terminal are electrically connected to the first via conductor, and the second external terminal and the fourth external terminal are electrically connected to the second via conductor. do.
<발명의 효과>Effect of the Invention
본 발명에 의하면, 고용량이며 절연 저항이 확보된 컨덴서를 내장한 배선 기판을 얻을 수 있다.According to the present invention, it is possible to obtain a wiring board in which a capacitor having a high capacity and an insulation resistance is secured.
도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 배선 기판의 단면도.1 is a cross-sectional view of a wiring board according to a first embodiment of the present invention.
도 2a는 제1 전극과 유전체층과 제2 전극을 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2A is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the first electrode, the dielectric layer, and the second electrode are laminated.
도 2b는 제1 전극과 제2 전극의 위치를 어긋나게 하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2B is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the positions of the first electrode and the second electrode are shifted.
도 2c는 컨덴서를 적층시켜 컨덴서 적층체를 작성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 2C is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the capacitor is laminated to form a capacitor laminate. FIG.
도 2d는 접착제를 개재시켜 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체를 나타내는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2D is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, showing the capacitor laminate in which the capacitor is laminated via an adhesive.
도 2e는 베이스 기판 위에 수지 절연층을 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2E is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a resin insulating layer is laminated on the base substrate.
도 2f는 수지 절연층에 컨덴서 적층체를 매설시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2F is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which the capacitor laminate is embedded in the resin insulating layer.
도 2g는 컨덴서 적층체가 매설된 수지 절연층을 나타내는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2G is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, showing the resin insulating layer in which the capacitor laminate is embedded.
도 2h는 수지 절연층에 컨덴서 적층체를 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2H is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a capacitor laminate is laminated on a resin insulating layer.
도 2i는 수지 절연층에 제2 수지 절연층을 더 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2I is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a second resin insulating layer is further laminated on the resin insulating layer.
도 2j는 컨덴서 적층체에 비아 도체를 위한 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 2J is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which through holes for the via conductor are formed in the capacitor stack. FIG.
도 2k는 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 상면으로부터 설명하는 도면.It is a figure explaining the capacitor laminated body of the wiring board which concerns on Embodiment 1 from an upper surface.
도 2l은 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 상면으로부터 설명하는 도면.2L is an explanatory diagram illustrating the capacitor laminate of the wiring board according to the first embodiment, from an upper surface thereof.
도 2m은 제2 수지 절연층에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.It is a figure explaining the manufacturing process of the wiring board which concerns on Embodiment 1 which forms a conductor pattern in a 2nd resin insulating layer.
도 2n은 제3 수지 절연층을 더 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.It is a figure explaining the manufacturing process of the wiring board which concerns on Embodiment 1 which further laminate | stacks a 3rd resin insulating layer.
도 2o는 제3 수지 절연층에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.It is a figure explaining the manufacturing process of the wiring board which concerns on Embodiment 1 which forms a conductor pattern in a 3rd resin insulating layer.
도 2p는 솔더 레지스트에 복수의 개구부를 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2P is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a plurality of openings are formed in the solder resist.
도 2q는 땜납 범프를 통하여 IC 칩이 실장되는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 2Q is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the IC chip is mounted via solder bumps. FIG.
도 2r은 베이스 기판의 하면에도 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2R is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a resin insulating layer is also formed on the lower surface of the base substrate.
도 3은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 배선 기판의 단면도.3 is a cross-sectional view of a wiring board according to a second embodiment of the present invention.
도 4a는 컨덴서 적층체에 비아 도체를 위한 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4A is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, wherein through holes for via conductors are formed in the capacitor stack.
도 4b는 컨덴서 적층체 및 수지 절연층의 상면에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4B is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, in which a conductor pattern is formed on the upper surface of the capacitor laminate and the resin insulating layer.
도 4c는 제2 수지 절연층을 더 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4C is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, further forming a second resin insulating layer.
도 4d는 베이스 기판의 하면에도 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4D is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, in which a resin insulating layer is also formed on the lower surface of the base substrate.
도 5는 제1 전극 및 제2 전극의 개구부에 비아 도체가 형성되어 있는 컨덴서 적층체를 나타내는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 단면도.Fig. 5 is a sectional view of a wiring board according to Embodiment 3, showing a capacitor stack in which via conductors are formed in openings of the first electrode and the second electrode.
도 6a는 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 격자 형상으로 관통하는 비아 도체를 설명하는 도면.6A is an explanatory diagram illustrating a via conductor penetrating a capacitor stack of a wiring board according to the third embodiment in a lattice shape.
도 6b는 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 지그재그 형상으로 관통하는 비아 도체를 설명하는 도면.6B is an explanatory diagram illustrating the via conductor penetrating the capacitor stack of the wiring board according to the third embodiment in a zigzag shape.
도 7a는 제1 전극과 유전체층과 제2 전극을 적층시키는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 단체를 설명하는 도면.FIG. 7A is an explanatory diagram illustrating a capacitor single body of a wiring board according to Embodiment 3 in which a first electrode, a dielectric layer, and a second electrode are laminated; FIG.
도 7b는 제1 전극 및 제2 전극이 패터닝된, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 단체를 설명하는 도면.FIG. 7B is an explanatory diagram illustrating the capacitor single body of the wiring board according to the third embodiment in which the first electrode and the second electrode are patterned. FIG.
도 7c는 실시 형태 3에 따른 배선 기판이 패터닝된 컨덴서를 제1 전극 측으 로부터 설명하는 평면도.FIG. 7C is a plan view for explaining a capacitor on which a wiring board according to Embodiment 3 is patterned from the first electrode side; FIG.
도 7d는 실시 형태 3에 따른 배선 기판이 패터닝된 컨덴서를 제2 전극 측으로부터 설명하는 평면도.FIG. 7D is a plan view illustrating the capacitor on which the wiring board according to the third embodiment is patterned from the second electrode side; FIG.
도 7e는 패터닝된 컨덴서를 적층시켜 컨덴서 적층체를 작성하는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7E is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, in which a capacitor laminate is prepared by laminating the patterned capacitor. FIG.
도 7f는 패터닝된 컨덴서를, 접착제를 개재시켜 적층시키는 컨덴서 적층체를 나타내는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7F is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, showing the capacitor laminate in which the patterned capacitor is laminated via an adhesive; FIG.
도 7g는 패터닝된 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체를 수지 절연층에 매설시키는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7G is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, in which the capacitor laminate in which the patterned capacitor is laminated is embedded in a resin insulating layer. FIG.
도 7h는 패터닝된 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7H is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, wherein through holes are formed in the capacitor stack in which the patterned capacitor is laminated. FIG.
도 7i는 패터닝된 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체에 비아 도체 및 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7I is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment in which a via conductor and a conductor pattern are formed in a capacitor laminate in which the patterned capacitor is laminated. FIG.
도 8은 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 배선 기판의 단면도.8 is a cross-sectional view of a wiring board according to a fourth embodiment of the present invention.
도 9a는 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정에 있어서, 수지 절연층을 지지하는 지지판을 설명하는 도면.9A is an explanatory diagram illustrating a supporting plate that supports a resin insulating layer in a manufacturing step of a wiring board according to the fourth embodiment.
도 9b는 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정에 있어서, 지지판 위에 도금 레지스트를 형성하는 공정을 설명하는 도면.9B is an explanatory diagram illustrating the step of forming a plating resist on a support plate in the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment.
도 9c는 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정에 있어서, 지지판 위에 형성된 도금 레지스트에 복수의 개구부를 형성하는 공정을 설명하는 도면.FIG. 9C is an explanatory diagram illustrating a step of forming a plurality of openings in a plating resist formed on a support plate in a manufacturing step of a wiring board according to the fourth embodiment. FIG.
도 9d는 도금 레지스트의 개구부에 외부 단자를 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9D is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which external terminals are formed in opening portions of the plating resist.
도 9e는 지지판 위에 제1 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9E is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a first resin insulating layer is formed on the support plate.
도 9f는 지지판 위에 형성된 제1 수지 절연층에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9F is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which through holes are formed in the first resin insulating layer formed on the support plate.
도 9g는 제1 수지 절연층의 상면에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9G is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a conductor pattern is formed on the upper surface of the first resin insulating layer.
도 9h는 제1 수지 절연층 위에 제2 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9H is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a second resin insulating layer is formed on the first resin insulating layer.
도 9i는 제2 수지 절연층에 컨덴서 적층체를 매설시키는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9I is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which the capacitor laminate is embedded in the second resin insulating layer.
도 9j는 컨덴서 적층체가 매설된 제2 수지 절연층을 설명하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9J is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, illustrating the second resin insulating layer in which the capacitor laminate is embedded.
도 9k는 컨덴서 적층체가 매설된 제2 수지 절연층에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9K is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which through holes are formed in the second resin insulating layer in which the capacitor laminate is embedded.
도 9l은 제2 수지 절연층에 비아 도체 및 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9L is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which a via conductor and a conductor pattern are formed in a second resin insulating layer.
도 9m은 제2 수지 절연층 위에 제3 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9M is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a third resin insulating layer is formed on the second resin insulating layer.
도 9n은 제3 수지 절연층에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 9N is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which through holes are formed in the third resin insulating layer. FIG.
도 9o는 제3 수지 절연층에 비아 도체 및 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9O is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which a via conductor and a conductor pattern are formed in a third resin insulating layer.
도 9p는 제3 수지 절연층 위에 솔더 레지스트를 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9P is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which a solder resist is formed on the third resin insulating layer.
도 9q는 솔더 레지스트에 형성된 복수의 개구부에 외부 단자를 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9Q is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which external terminals are formed in a plurality of opening portions formed in the solder resist.
도 9r은 지지판을 에칭에 의해 제거하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9R is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which the supporting plate is removed by etching.
도 10은 본 발명의 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 변형예를 나타내는 도면.10 is a diagram showing a modification of the wiring board according to the fourth embodiment of the present invention.
도 11은 베이스 기판의 하방에 형성된 수지 절연층에도 컨덴서 적층체를 매설하는, 실시 형태 5에 따른 배선 기판의 단면도.11 is a cross-sectional view of a wiring board according to Embodiment 5 in which a capacitor laminate is also embedded in a resin insulating layer formed below the base substrate.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
100 : 베이스 기판100: base substrate
200 : 수지 절연층200: resin insulation layer
310 : 제1 전극310: first electrode
320 : 제2 전극320: second electrode
330 : 유전체층330: dielectric layer
340 : 접착제340: adhesive
350 : 컨덴서350: condenser
411 : 비아 도체411: Via Conductor
412 : 비아 도체412: via conductor
413 : 비아 도체413: Via Conductor
414 : 비아 도체414: Via Conductor
421 : 도체 패턴421: Conductor Pattern
423 : 도체 패턴423: Conductor Pattern
425 : 도체 패턴425 conductor pattern
450 : 컨덴서 적층체450: condenser laminate
710 : 얼라인먼트 마크710: alignment mark
720 : 얼라인먼트 마크720: alignment mark
730 : 얼라인먼트 마크730: alignment mark
900 : 본 발명에 따른 배선 기판900: wiring board according to the present invention
<발명을 실시하기 위한 최선의 형태>Best Mode for Carrying Out the Invention
<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제1 실시 형태><1st embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>
이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시 형태에 대해서 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described, referring drawings.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 제1 수지 절연층(200a)과, 제1 수지 절연층(200a)을 지지하는 베이스 기판(100)과, 제1 수지 절연층(200a)에 매설된 컨덴서 적층체(450)를 갖는다.As shown in FIG. 1, the
제1 수지 절연층(200a)의 위에는 제2 수지 절연층(200b)이 형성되어 있다. 제2 수지 절연층(200b)의 위에는 제3 수지 절연층(200c)이 형성되어 있다.The second
컨덴서 적층체(450)의 상면은 제1 수지 절연층(200a)의 상면에 있고, 컨덴서 적층체(450)의 상면과 제1 수지 절연층(200a)의 상면은 동일한 면으로 되어 있다.The upper surface of the
컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 접착제(340)를 통하여 적층시킨 것이다. 접착제(340)는 절연성 수지이며, 예를 들면 에폭시 수지이다.The
컨덴서 적층체(450)의 두께는, 예를 들면 30㎛∼100㎛이다. 100㎛보다도 두꺼우면 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연층(200a)에 매몰시키는 것이 곤란해질 우려가 있기 때문이고, 한편, 30㎛보다도 얇으면 구조가 지나치게 미세해져 배선 기판(900)의 제조 효율을 저해할 가능성이 있을 수 있기 때문이다.The thickness of the capacitor | condenser laminated
컨덴서(350a, 350b, 350c)는 각각 유전체층(330)과, 평판 형상의 제1 전극(310)과, 제2 전극(320)을 갖는다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 동일 사이즈의 직방체의 평판 도체로 형성된다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 서로 전극의 평면 방향으로 소정 거리 시프트되어 있으며, 일부에 있어서 겹쳐 있다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은, 예를 들면 길이 0.2㎜∼8㎜, 폭 0.1㎜∼8㎜, 두께 3㎛∼15㎛이다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 구리로 형성되어 있다.The
유전체층(330)의 두께는 예를 들면 0.5㎛∼10㎛이다. 유전체층(330)의 두께를 0.5㎛보다도 작게 하면 컨덴서의 절연 저항이 나빠질 가능성이 있기 때문이고, 한편, 10㎛보다도 크게 하면 컨덴서의 고용량화를 만족할 수 있는 값으로 되지 않을 우려가 있기 때문이다.The thickness of the
컨덴서(350)끼리의 거리, 예를 들면 컨덴서(350a)의 제2 전극(320)과 컨덴서(350b)의 제1 전극(310)의 거리(즉, 접착제(340)가 형성하는 접착제층의 두께)는, 예를 들면 2∼12㎛이다. 2㎛보다도 작으면 컨덴서(350) 사이에 충전되는 접착제(340)의 양이 불충분해져, 컨덴서(350)끼리의 접착력이 약해질 가능성이 있기 때문이다. 또한, 접착제(340)의 두께가 얇으면, 컨덴서 사이(350a와 350b 사이나 350b와 350c 사이)에서 절연 저항이 작아질 가능성이 있기 때문이다. 한편, 12㎛보다도 커지면, 컨덴서 적층체(450)의 두께가 증대함으로써 배선 기판(900)의 미세한 배선 구조를 저해할 우려가 있기 때문이다.The distance between the
유전체층(330)은 세라믹제의 유전체층이다. 유전체층(330)은, 예를 들면 티탄산 바륨(BaTiO3)으로 형성된다. 또한, 유전체층(330)에는, 열가소성 수지 혹은 열경화성 수지에 유전성 필러를 함유하는 것을 이용할 수 있다. 열가소성 수지는 예를 들면 폴리에스테르, 열경화성 수지는 예를 들면 페놀 수지를 사용할 수 있다. 유전성 필러는 예를 들면 티탄산 스트론튬(SrTiO3)으로 형성된다.The
비아 도체(411)가 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 각각의 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(412)가 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 각각의 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속하고 있다.The via
베이스 기판(100)의 위에는 복수의 도체 패턴(도체 회로)(421(421P, 421G, 421S))이 형성되고, 제2 수지 절연층(200b)의 위에는 복수의 도체 패턴(423(423P, 423G, 423S))이 형성되어 있다. 제3 수지 절연층(200c)의 위에는 복수의 도체 패 턴(425(425P, 425G, 425S))이 형성되어 있다.A plurality of conductor patterns (conductor circuits) 421 (421P, 421G, 421S) are formed on the
그리고, 비아 도체(411)는 도체 패턴(421P)과 도체 패턴(423P)을 전기적으로 접속하고 있다. 비아 도체(412)는 도체 패턴(421G)과 도체 패턴(423G)을 전기적으로 접속하고 있다. 비아 도체(412)에 접속되어 있는 도체 패턴(423G)은 그라운드 라인에 접속되고, 비아 도체(411)에 접속되어 있는 도체 패턴(423P)은 전원 라인에 접속된다. 비아 도체(441P)는 도체 패턴(423P)과 도체 패턴(425P)을 전기적으로 접속하고 있다. 비아 도체(441G)는 도체 패턴(423G)과 도체 패턴(425G)을 전기적으로 접속하고 있다.The via
베이스 기판(100)의 두께는 200㎛∼800㎛이다. 베이스 기판(100)은, 예를 들면 글래스 에폭시 수지로 구성된다. 글래스 에폭시 수지는 글래스 필러가 첨가된 에폭시 수지를 글래스 클로스에 함침시킨 것이다(글래스 에폭시 기판).The thickness of the
제1 수지 절연층(200a), 제2 수지 절연층(200b), 제3 수지 절연층(200c)의 두께는, 예를 들면 40㎛∼120㎛이다. 수지 절연층(200a, 200b, 200c)은, 예를 들면 에폭시 수지 등의 열경화성 수지로 구성된다. 수지 절연층(200a, 200b, 200c)은 글래스, 알루미나, 탄산 바륨 등의 무기 입자와 열경화성 수지로 되어 있어도 된다. 글래스 에폭시 기판에서, 글래스 클로스가 2매 겹쳐진 글래스 에폭시 기판이어도 된다.The thickness of the 1st
배선 기판(900)은, 예를 들면 전기 신호를 도체 패턴(421S) 등을 통하여 전달하는 등의 각종 전기 신호 처리를 행할 수 있다.The
또한, 배선 기판(900)은 컨덴서 적층체(450)가 제1 수지 절연층(200a) 내에 형성되어 있기 때문에, 공간 절약화를 달성하면서, 노이즈를 디커플링할 수 있다.In addition, since the
또한, 배선 기판(900)에 실장되는 IC 칩의 근방에 컨덴서를 형성할 수 있기 때문에, IC에의 전원 공급의 지연을 방지할 수 있다.In addition, since a capacitor can be formed in the vicinity of the IC chip mounted on the
또한, 제1 수지 절연층(200a)에 내장된 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350)를 적층시킨 것이다. 그 때문에, 각 컨덴서(350)의 유전체층(330)의 두께를 소정의 두께로 유지함으로써, 각 컨덴서(350)의 절연 저항값을 일정 정도로 유지하면서, 또한, 복수의 컨덴서(350)를 적층시키고 있기 때문에 컨덴서 적층체(450) 전체적으로 컨덴서 용량의 증대화를 달성할 수 있다. 따라서, 컨덴서 용량의 고용량화와 컨덴서의 고절연성화를 양립시킬 수 있다.In addition, the
또한, 평판 형상의 제1 전극(310)과, 제1 전극(310)으로부터 전극의 면 방향으로 시프트된 위치에 있는 제2 전극(320)과, 유전체층(330)에 의해 컨덴서(350)를 형성하고 있다. 이와 같이, 각 컨덴서(350)의 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 어긋나게 하여 번갈아 형성하고 있기 때문에, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속하는 비아 도체(411)와 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속하는 비아 도체(412)를 형성하는 것이 용이해진다. 따라서, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 대향하고 있는 영역에 비아 도체를 형성하지 않아도 되기 때문에, 전극 면적을 크게 할 수 있어 컨덴서의 고용량화를 달성할 수 있다. 더 나아가서는, 컨덴서의 전극을 관통하는 비아 도체의 수를 적게 할 수 있기 때문에, 비아 도체의 열팽창에 기인하는 유전체층에의 크랙 발생을 최대한 억제할 수 있다.In addition, the
또한, 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350)를 적층시켜 형성된다. 그 때문에, 컨덴서 적층체(450)를 형성함에 있어서, 미리 각 컨덴서(350)의 절연 저항값을 검사하고, 절연 저항이 양호한 양품의 컨덴서(350)만을 선별하여 적층시킬 수 있다. 따라서, 컨덴서 적층체(450) 전체적으로도 양품의 것을 얻을 수 있어, 컨덴서 적층체(450)의 절연 신뢰성을 확보할 수 있다. 만약, 전극과 유전체층을 번갈아 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 형성하면, 미리 각 컨덴서부의 절연 저항이 양호한지 검사하는 것은 곤란하다. 그 때문에, 컨덴서 적층체의 절연 신뢰성을 제조 단계에서 확보하는 것은 곤란하다.In addition, the
그리고, 수지 절연층(200a)에 내장된 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350)를 수지 등의 접착제(340)를 개재시켜 적층시키고 있다. 접착제(340)에 사용되는 수지의 열팽창 계수와 수지 절연층(200a)의 열팽창 계수는 동일한 값의 재료를 사용하는 것도 가능하며, 그 때문에 컨덴서 적층체(450) 전체의 열팽창 계수는 수지 절연층(200a)의 열팽창 계수에 근접시킬 수 있다. 따라서, 컨덴서 적층체(450)에 열이 가해졌다고 하여도, 수지 절연층(200a)과 컨덴서 적층체(450)의 계면에서 균열이 발생할 가능성은 낮다. 그 때문에, 유전체층(330)에 크랙이 생기기 어렵다.The
<본 발명의 제1 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 1st Embodiment of this invention>
우선, 두께 5㎛의 구리로 이루어지는 제1 전극(310)에, BaTiO3으로 이루어지는 고유전체 재료를 닥터 블레이드 등의 인쇄기를 이용하여, 두께 5∼10㎛의 박막 형상으로 인쇄하여 미소성층을 형성한다. 또한, 더 얇은 유전체층(0.5∼5㎛)을 형 성하기 위해서는 후술하는 졸겔법이나 스퍼터링법 등을 이용할 수 있다.First, the high electrode material made of BaTiO 3 is printed on a
다음으로, 미소성층을 진공 중 또는 N2 가스 등의 비산화 분위기에서 600∼950℃의 온도 범위로 소성하여 유전체층(330)으로 한다. 그 후, 스퍼터 등의 진공 증착 장치를 이용하여 유전체층(330)의 위에 구리로 이루어지는 금속층을 형성하고, 또한 이 금속층 위에 전해 도금 등에 의해 구리를 5㎛ 정도 더함으로써, 제2 전극(320)을 형성한다. 이와 같이 하여, 도 2a에 도시한 바와 같이, BaTiO3으로 형성되는 유전체층(330)을, 구리로 형성된 제1 전극(310)과 제2 전극(320)의 사이에 끼우는 컨덴서가 얻어진다.Next, the unbaked layer is baked in a non-oxidizing atmosphere such as vacuum or N 2 gas at a temperature range of 600 to 950 ° C. to obtain the
다음으로, 도 2b에 도시한 바와 같이, 염화제2구리 에칭 용액을 이용하여 에칭 처리에 의해 제1 전극(310) 및 제2 전극(320)의 필요 부분 이외를 제거함으로써, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 면 방향(즉, 수평 방향)으로 어긋난 위치로 되도록 형성하여 컨덴서(350)의 단체를 형성한다. 이러한 경우, 유전체층(330)의 상하에 있는 제1 전극(310)과 제2 전극(320)의 겹침은 0.4∼1.0㎠ 정도이도록, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 수평 방향으로 어긋나게 한다. 또한, 에칭 처리에 의해, 제1 전극(310)에 얼라인먼트 마크(710)를 형성하고, 또한, 제2 전극(320)에 얼라인먼트 마크(720)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 2B, the
다음으로, 도 2c에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 연직 방향으로 3개 적층시킨다. 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 적층시킬 때에는, 컨덴서(350)끼리의 사이에 접착제로서의 에폭시 수지를 개재시킨다. 단체의 컨덴 서(350a, 350b, 350c)끼리는, 각 컨덴서에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크(710) 또는 얼라인먼트 마크(720)를 기준으로 하여 위치 맞춤이 이루어진다.Next, as shown in Fig. 2C, three
그리고, 도 2d에 도시한 바와 같이, 3개의 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 각각의 컨덴서의 사이에 접착제(340)를 개재시킨 상태에서 컨덴서 적층체(450)를 얻는다.As shown in FIG. 2D, the
다음으로, 도 2e에 도시한 바와 같이, 얼라인먼트 마크(730)가 형성되어 있는 베이스 기판(코어 기판)(100) 위에, 진공 라미네이터를 이용하여 열경화성의 수지 필름을 온도 50∼170℃, 압력 0.4∼1.5㎫이라는 라미네이트 조건으로 점착시킨다. 베이스 기판(100) 위에는 도체 패턴(421(421P, 421G, 421S))이 형성되어 있다. 베이스 기판(100)은 두께 0.6㎜의 글래스 에폭시 기판이다. 점착시킬 때의 열경화성의 수지 필름은 반경화 상태이지만, 경화시킴으로써 제1 수지 절연층(하층의 수지 절연층)(200a)으로 된다. 수지 필름으로서는 예를 들면 아지노모토사 제조의 ABF-45SH를 2매 이용할 수 있다.Next, as shown in FIG. 2E, on the base substrate (core substrate) 100 on which the
다음으로, 도 2f에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 반경화 상태의 제1 수지 절연층(200a) 위에 위치 맞춤하여 적층시킨다. 양자의 위치 맞춤은, 컨덴서 적층체(450) 중 컨덴서(350a)에 있는 얼라인먼트 마크(710)와, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730)를 카메라로 인식하여 행한다. 혹은, 컨덴서 적층체(450) 중 컨덴서(350c)에 있는 얼라인먼트 마크(720)와, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730)를 카메라로 인식하여 행한다. 얼라인먼트 마크(710)와 얼라인먼트 마크(720)는 어느 한쪽만이 형성되어 있어도 되고, 또한 모두 형성되어 있어 도 된다.Next, as shown in FIG. 2F, the
그 후, 도 2g에 도시한 바와 같이, 0.4㎫, 170℃, 2시간의 프레스 조건으로 진공 프레스하여, 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연층(200a)에 매설시킴과 함께, 제1 수지 절연층(200a)을 경화시킨다. 컨덴서 적층체(450)는, 컨덴서 적층체(450)의 상면과 제1 수지 절연층(200a)의 상면이 동일한 면으로 되도록 제1 수지 절연층(200a)에 매설된다.After that, as shown in FIG. 2G, the vacuum press is performed under a press condition of 0.4 MPa, 170 ° C. for 2 hours, and the
또한, 컨덴서 적층체는, 도 2h에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350c)의 일부를 매설시킨 상태에서 제1 수지 절연층(200a)에 적층시키는 것도 가능하다. 이러한 경우에도, 컨덴서 적층체(450)의 컨덴서(350c)에 형성된 얼라인먼트 마크(720) 혹은 컨덴서(350a)에 형성된 얼라인먼트 마크(710)와, 베이스 기판(100) 위에 형성된 얼라인먼트 마크(730)를, 컨덴서 적층체(450)와 제1 수지 절연층(200a)의 위치 맞춤을 위한 표지로 한다.In addition, as shown in FIG. 2H, the capacitor laminate may be laminated on the first
다음으로, 도 2i에 도시한 바와 같이, 제1 수지 절연층(200a) 및 컨덴서 적층체(450) 위에 진공 라미네이터를 이용하여 수지 필름을 온도 50∼170℃, 압력 0.4∼1.5㎫이라는 라미네이트 조건으로 점착시킨다. 수지 필름은 예를 들면 아지노모토사 제조의 ABF-45SH를 이용할 수 있다. 그 후, 170℃에서 2시간 열처리함으로써 수지 필름은 경화되어 제2 수지 절연층(상층의 수지 절연층)(200b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2I, the resin film is laminated on the first
다음으로, 도 2j에 도시한 바와 같이, 탄산 가스 레이저에 의해, 제2 수지 절연층(200b), 제1 수지 절연층(200a) 및 컨덴서 적층체(450)를 관통하고, 베이스 기판(100) 위의 도체 패턴(421)(전원용 도체 패턴(421P), 그라운드용 도체 패턴(421G), 신호용 도체 패턴(421S))에 도달하는 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2J, the
관통 구멍(470P)은 전원용 도체 패턴(421P)에 도달하는 전원용 관통 구멍이다. 관통 구멍(470G)은 그라운드용 도체 패턴(421G)에 도달하는 그라운드용 관통 구멍이다. 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))의 직경은 20∼100㎛이다. 또한, 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))은 탄산 가스 레이저가 아니라, 드릴로 형성하는 것도 가능하다. 여기서, 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))의 위치는, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730), 컨덴서 적층체(450)에서의 컨덴서(350a)의 얼라인먼트 마크(710), 컨덴서 적층체(450)에서의 컨덴서(350c)의 얼라인먼트 마크(720) 중 어느 하나를 카메라 또는 X선으로 인식하여 결정된다.The through
평면도인 도 2k 및 도 2l에 도시된 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)의 겹침 부분에서 컨덴서가 형성된다. 도 2k에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 횡방향으로만 어긋나 있는 것도 가능하고, 또한 도 2l에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 횡방향 및 종방향으로 어긋나 있는 것도 가능하다. 또한, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 겹쳐 있는 부분은 사선으로 나타내고 있다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 서로 면 방향으로 평행하게 어긋나 있어, 겹쳐 있지 않은 부분이 존재하고 있다. 겹치지 않은 부분에 관통 구멍(470P, 470G)이 형성되어 있다. 이와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 대향하는 부분에는 관통 구멍(470P, 470G)이 형성되어 있지 않기 때문 에, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 대향하는 면적을 크게 할 수 있다. 전원용 관통 구멍(470P)은 제1 전극(310)(전원용 전극)과 접하고 있지만, 제2 전극(320)(그라운드용 전극)과는 접하고 있지 않다. 그라운드용 관통 구멍(470G)은 제2 전극(320)과 접하고 있지만, 제1 전극(310)과는 접하고 있지 않다.As shown in FIGS. 2K and 2L, which are plan views, a capacitor is formed at an overlapping portion of the
도 2j에 도시한 바와 같이, 관통 구멍(470P, 470G) 이외에 신호용 도체 패턴에 도달하는 신호용 관통 구멍(470S)이 형성된다. 신호용 관통 구멍(470S)은 컨덴서 적층체(450)가 존재하지 않는 영역에 형성된다.As shown in Fig. 2J, in addition to the through
다음으로, 제2 수지 절연층(200b)의 표면에 촉매에 의한 표면 처리를 행한다.Next, surface treatment with a catalyst is performed on the surface of the second
다음으로, 제2 수지 절연층(200b)의 표면과 관통 구멍(470P, 470G, 470S)의 내벽면에 무전해 도금막(무전해 구리 도금막)을 형성한다. 그 후, 무전해 도금막 위에 전해 도금막(전해 구리 도금막)을 형성한다. 이어서, 전해 도금막 위에 에칭 레지스트를 형성한다. 그 후, 노광ㆍ현상 공정을 거쳐 에칭 레지스트를 패턴화한다. 또한, 이와 같이 수지층 위의 패턴을 형성하는 부분 및 관통 구멍 도금을 보호하는 부분을 레지스트로 덮는 포토리소그래피 수법은 텐팅법이라 불린다. 그리고, 에칭 레지스트가 형성되어 있지 않은 부분의 전해 도금막과 무전해 도금막을 에칭 제거함으로써, 도 2m에 도시한 바와 같이, 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))과 비아 도체(411, 412, 413)를 형성한다.Next, an electroless plating film (electroless copper plating film) is formed on the surface of the second
비아 도체(411)는 전원용 비아 도체이며, 도 2m에 도시한 바와 같이, 컨덴 서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(412)는 그라운드용 비아 도체이며, 도 2m에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속하고 있다.The via
전원용 비아 도체(411)는, 베이스 기판(100) 위의 전원용 도체 패턴(421P)과 제2 수지 절연층(200b) 위의 전원용 도체 패턴(423P)을 접속하고 있다. 또한, 그라운드용 비아 도체(412)는, 베이스 기판(100) 위의 그라운드용 도체 패턴(421G)과 제2 수지 절연층(200b) 위의 그라운드용 도체 패턴(423G)을 접속하고 있다.The power supply via
다음으로, 도 2n에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(200b)과 도체 패턴(423(423P, 423G, 423S)) 위에 제3 수지 절연층(200c)을 형성한다. 제3 수지 절연층(200c)의 재질은 제2 수지 절연층(200b) 및 제1 수지 절연층(200a)과 동일하다.Next, as shown in FIG. 2N, a third
다음으로, 제3 수지 절연층(200c)에 탄산 가스 레이저에 의해 관통 구멍을 형성한다. 또한, 관통 구멍은 드릴로 형성하는 것도 가능하다.Next, a through hole is formed in the third
다음으로, 제3 수지 절연층(200c)의 표면에 촉매에 의한 표면 처리를 행한다. 촉매에 의한 표면 처리 후, 기판의 표면에 무전해 도금막을 형성한다. 그 후, 무전해 도금막 위에 도금 레지스트를 형성한다. 이어서, 도금 레지스트에 노광ㆍ현상 처리를 행하여 도금 레지스트를 패터닝한다. 그리고, 도금 레지스트의 비형성 영역에 전해 도금막을 형성한다. 도금 레지스트 박리 후, 전해 도금막 사이의 무전해 도금막을 제거함으로써, 도 2o에 도시한 바와 같이, 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위에 형성되어 있는 전해 도금막으로 이루어지는 최외의 도체 패턴(425)(최외의 전원용 도체 패턴(425P), 최외의 그라운드용 도체 패턴(425G), 최외의 신호용 도체 패턴(425S))을 형성한다.Next, surface treatment with a catalyst is performed on the surface of the third
다음으로, 제3 수지 절연층(200c)과 최외의 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S)) 위에 솔더 레지스트(700)를 형성한다. 그 후, 도 2p에 도시한 바와 같이, 솔더 레지스트(700)에 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S))의 일부를 노출시키는 개구부를 형성하여 패드(427)(전원용 패드(제1 외부 단자)(427P), 그라운드용 패드(제2 외부 단자)(427G), 신호용 패드(427S))를 형성한다. 개구부에 의해 노출되어 있는 부분이 패드(427(427P, 427G, 427S))로 된다.Next, a solder resist 700 is formed on the third
도 2p에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 전원용 패드(427P)는 비아 도체(411)와 도체 패턴(423P)과 비아 도체(441P)를 통하여 접속되어 있다. 또한, 제2 전극(320)과 그라운드용 패드(427G)는 비아 도체(412)와 도체 패턴(423G)과 비아 도체(441G)를 통하여 접속되어 있다.As shown in FIG. 2P, the
다음으로, 패드(427(427P, 427G, 427S)) 위에 내식성 있는 금속막을 형성하였다. 금속막으로서는, 예를 들면 Ni, Au, Pd, Ag, Pt 등으로 이루어지는 막을 형성할 수 있다. 본 실시 형태에서는, Ni막, Pd막, Au막의 순서로 형성한다. 또한, 금속막은 1층이어도 되고, 복수의 금속막으로 이루어져도 된다. 예를 들면, 패드 위에 Ni막, Au막의 순서로 형성할 수 있다.Next, a corrosion resistant metal film was formed on the pads 427 (427P, 427G, and 427S). As a metal film, the film which consists of Ni, Au, Pd, Ag, Pt etc. can be formed, for example. In this embodiment, Ni films, Pd films, and Au films are formed in this order. In addition, one layer of a metal film may be sufficient, and it may consist of a some metal film. For example, it can form in order of a Ni film and Au film on a pad.
다음으로, 금속막 위에 땜납 페이스트를 인쇄한다. 그 후, 리플로우하여 땜납 범프(429)를 형성함으로써, 도 1에 도시한 배선 기판(900)을 얻을 수 있다.Next, a solder paste is printed on the metal film. Thereafter, by reflowing to form the solder bumps 429, the
그리고, IC 칩(800)을 실장하는 경우는, 도 2q에 도시한 바와 같이, 땜납 범프(429)를 통하여 IC 칩(800)의 실장을 행한다.When the
또한, 본 실시 형태에서는 베이스 기판(100)의 한쪽 면에만 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하고 있지만, 도 2r에 도시한 바와 같이, 베이스 기판(100)의 양면에 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하는 것도 가능하다.In addition, in this embodiment, the resin insulating layer, the conductor pattern, and the via conductor are formed only on one side of the
또한, 수지 절연층(200a, 200b, 200c)의 표면, 도체 패턴(421, 423, 425)의 표면, 제1 전극(310)의 표면, 제2 전극(320)의 표면은 조면화하는 것이 바람직하다. 또한,IC 칩(800)을 배선 기판(900)의 표면에 탑재할 때는, 컨덴서 적층체(450)와 IC 칩(800) 사이의 거리를 가깝게 하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable to roughen the surface of the
<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제2 실시 형태><2nd embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>
제1 실시 형태에서는, 수지 절연층(200)은 제1 수지 절연층(200a)과 제2 수지 절연층(200b)과 제3 수지 절연층(200c)에 의해 형성되었다. 제2 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 도 3에 도시한 바와 같이, 제1 실시 형태와 달리, 수지 절연층(200)은 제1 수지 절연층(200a)과 제2 수지 절연층(200b)에 의해 형성된다.In the first embodiment, the resin insulating layer 200 was formed of the first
또한, 컨덴서 적층체(450)의 최상층에 위치하는 전극은, 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)과 그 제1 전극(310) 위의 전원용 도체 패턴(423P)이 일체로 되어 형성되어 있다. 그 때문에, 제2 실시 형태에 따른 배선 기판(900)에서는, 컨덴서 적층체(450)의 표층에 있는 전극의 두께가 제1 실시 형태에 따른 배선 기판(900)보다도 두껍다. 그 때문에, 컨덴서 적층체(450)의 강성이 증가한다. 따라서, 컨덴서 적 층체(450)의 유전체층에 크랙이 생기기 어려워진다.The electrode located on the uppermost layer of the
도 3에 도시한 바와 같이, 전원용 패드(제1 외부 단자)(427P)와 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)은, 비아 도체(441P)와 도체 패턴(423P)과 비아 도체(411)를 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 그라운드용 패드(제2 외부 단자)(427G)와 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제2 전극(320)은, 비아 도체(441G)와 도체 패턴(423G)과 비아 도체(412)를 통하여 전기적으로 접속되어 있다.As shown in FIG. 3, the power supply pad (first external terminal) 427P and the
제2 수지 절연층(200b)의 위에는 최외의 전원용 도체 패턴(425P)과, 최외의 그라운드용 도체 패턴(425G)과, 최외의 신호용 도체 패턴(425S)이 형성되어 있다.On the second
솔더 레지스트(700)에, 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S))의 일부를 노출시키는 개구부를 형성하여 패드(427)(전원용 패드(제1 외부 단자)(427P), 그라운드용 패드(제2 외부 단자)(427G), 신호용 패드(427S))가 형성되어 있다.An opening is formed in the solder resist 700 to expose a part of the conductor patterns 425 (425P, 425G, and 425S) to form a pad 427 (power pad (first external terminal) 427P) and a ground pad (made of 2 external terminals) 427G and signal pads 427S are formed.
<본 발명의 제2 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 2nd Embodiment of this invention>
다음으로, 제2 실시 형태에 따른 배선 기판의 다른 제조 방법을 나타낸다.Next, another manufacturing method of the wiring board which concerns on 2nd Embodiment is shown.
우선, 도 2a부터 도 2g까지는 전술한 배선 기판의 제조 방법과 마찬가지이다.First, from FIG. 2A to FIG. 2G, it is the same as the manufacturing method of the wiring board mentioned above.
다음으로, 도 2g까지의 공정에서 제조한 기판에, 도 4a에 도시한 바와 같이, 관통 구멍(470)(코어 기판 위의 전원용 도체 패턴에 도달하고 있는 관통 구멍(470P), 코어 기판 위의 그라운드용 도체 패턴에 도달하고 있는 관통 구멍(470G), 코어 기판 위의 신호용 도체 패턴에 도달하고 있는 관통 구멍(470S))을 형성한다. 제1 실시 형태에 따른 제조 방법에서는 제2 수지 절연층(200b)에도 동 시에 관통 구멍을 형성하였지만, 본 실시 형태에 따른 제조 방법에서는 컨덴서 적층체(450)와 제1 수지 절연층(200a)을 관통하는 관통 구멍을 형성할 뿐이기 때문에, 구멍 가공이 용이해져 수율이 향상된다. 그리고, 관통 구멍(470)을 형성한 제1 수지 절연층(200a)의 표면에 촉매에 의해 표면 처리를 행한다.Next, as shown in FIG. 4A, the substrate manufactured in the process up to FIG. 2G is provided with a through hole 470 (through
다음으로, 도 4b에 도시한 바와 같이, 텐팅법에 의해 그라운드용 비아 도체(412), 전원용 비아 도체(411), 신호용 비아 도체(413)와, 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))을 형성한다.Next, as shown in Fig. 4B, the ground via
도 4b에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)의 최상층에 위치하는 전극은, 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)과 그 제1 전극(310) 위의 전원용 도체 패턴(423P)이 일체로 되어 형성된다. 여기서, 컨덴서 적층체(450)의 최상층에 위치하는 전극이란, 실장되는 IC 칩(800)에 가까운 측에 위치하는 컨덴서 적층체(450)의 표층의 전극이다. 또한, 제1 전극(310) 위의 전원용 도체 패턴(423P)은, 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위의 전해 도금막으로 형성된다.As shown in FIG. 4B, the
비아 도체(412)는 컨덴서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제2 전극(320)끼리를 접속한다. 또한, 비아 도체(412)는 베이스 기판(100) 위의 그라운드용 도체 패턴(421G)과 제1 수지 절연층(200a) 위의 그라운드용 도체 패턴(423G)을 접속하고 있다.The via
비아 도체(411)는 컨덴서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제1 전극(310)끼리를 접속한다. 또한, 비아 도체(411)는, 베이스 기판(100) 위의 전원용 도체 패턴(421P)과 제1 수지 절연층(200a) 위의 전원용 도체 패턴(423P)을 접속하고 있다.The via
다음으로, 도 4c에 도시한 바와 같이, 제1 수지 절연층(200a), 컨덴서 적층체(450) 및 도체 패턴(423(423P, 423G, 423S)) 위에 제2 수지 절연층(200b)을 형성한다. 그리고, 제2 수지 절연층(200b)에 관통 구멍을 형성한다. 그리고, 관통 구멍을 형성한 기판의 표면에 촉매에 의해 표면 처리를 행한다.Next, as shown in FIG. 4C, the second
촉매에 의한 표면 처리 후, 기판의 표면에 무전해 도금막을 형성한다. 그 후, 무전해 도금막 위에 도금 레지스트를 형성한다. 이어서, 도금 레지스트에 노광ㆍ현상 처리를 행하여 도금 레지스트를 패터닝한다. 그리고, 도금 레지스트의 비형성 영역에 전해 도금막을 형성한다. 도금 레지스트 박리 후, 전해 도금막 사이의 무전해 도금막을 제거함으로써, 무전해 도금막과 무전해 도금막 위의 전해 도금막으로 이루어지는 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S))을 형성한다. 이어서, 제1 실시 형태와 마찬가지로, 솔더 레지스트(700), 패드(427), 땜납 범프(429)를 형성함으로써 도 3에 도시한 배선 기판(900)이 얻어진다.After surface treatment with a catalyst, an electroless plated film is formed on the surface of the substrate. Thereafter, a plating resist is formed on the electroless plating film. Subsequently, the plating resist is exposed and developed to pattern the plating resist. Then, an electroplating film is formed in the non-forming region of the plating resist. After the plating resist is peeled off, the electroless plating film between the electroplating films is removed, thereby forming a conductor pattern 425 (425P, 425G, 425S) consisting of the electroless plating film and the electroplating film on the electroless plating film. Next, similarly to the first embodiment, the wiring resist 900 shown in FIG. 3 is obtained by forming the solder resist 700, the
본 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법에 의하면, 제1 실시 형태에 비하여 수지 절연층을 1층 적게 제조할 수 있기 때문에 저렴한 비용으로 배선 기판(900)을 제조하는 것이 가능하다.According to the manufacturing method of the wiring board which concerns on this embodiment, since one resin insulation layer can be manufactured less compared with 1st embodiment, it is possible to manufacture the
또한, 전술한 실시 형태에서는 베이스 기판(100)의 한쪽 면에만 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하고 있지만, 도 4d에 도시한 바와 같이, 베이스 기판(100)의 양면에 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하는 것도 가 능하다.In addition, in the above-described embodiment, the resin insulating layer, the conductor pattern, and the via conductor are formed only on one side of the
<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제3 실시 형태><3rd embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>
도 5에 본 발명의 제3 실시 형태를 나타낸다. 제3 실시 형태에서는, 제1 실시 형태와 달리, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 전극의 면 방향으로 서로 어긋나 있지 않다. 그리고, 제1 전극(310)에는 복수의 제1 개구부(311)가 형성되고, 제2 전극(320)에는 복수의 제2 개구부(322)가 형성되어 있다.5 shows a third embodiment of the present invention. In the third embodiment, unlike the first embodiment, the
그리고, 복수의 제1 비아 도체(411)가, 제2 개구부(322)를 제2 전극(320)에 비접촉으로 관통하면서 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속한다. 또한, 복수의 제2 비아 도체(412)가, 제1 개구부(311)를 제1 전극(310)에 비접촉으로 관통하면서 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속한다.The plurality of first via
이와 같이, 복수의 제1 비아 도체(411) 및 복수의 제2 비아 도체(412)가 컨덴서 적층체(450)를 관통하고 있다. 그 때문에, 제3 실시 형태에 따른 배선 기판(900)에서는, 복수의 제1 비아 도체(411) 및 복수의 제2 비아 도체(412)가 접착제(340)의 변형을 억제하는 것이 가능해져, 컨덴서 적층체(450)의 내크랙성이 향상되기 쉽다.In this manner, the plurality of first via
즉, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 유전체층(330)과, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 접착시키고 있는 접착제(340)의 열팽창 계수가 상이한 경우, 컨덴서 적층체(450)가 온도 변화를 받으면, 유전체층(330)에 휨, 뒤틀림, 구부러짐 등의 힘이 가해진다. 이러한 힘을 받으면, 세라믹제의 유전체층(330)은 얇고 또한 약하기 때문에, 크랙이 생기기 쉽다. 그러나, 본 실시 형태에서는, 복수의 제1 비아 도체(411) 및 복수의 제2 비아 도체(412)가 컨덴서 적층체(450)를 관통함으로써 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 물리적으로 연결하는 것을 막고 있기 때문에, 접착제(340)의 변형을 억제하는 것이 가능해진다. 그 때문에, 유전체층(330)에 작용하는 휨, 뒤틀림, 구부러짐 등의 힘이 작아진다.That is, when the thermal expansion coefficients of the
도 6a, 도 6b에 도시한 바와 같이, 전원용 비아 도체(411)와 그라운드용 비아 도체(412)는 격자 형상 또는 지그재그 형상으로 배치되어 있는 것이 바람직하다. 인접하는 전원용 비아 도체(411) 사이의 간격은 대략 동일하다. 인접하는 그라운드용 비아 도체(412) 사이의 간격은 대략 동일하다.As shown in Figs. 6A and 6B, the power via
<본 발명의 제3 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 3rd embodiment of this invention>
우선, 도 7a에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과, 제2 전극(320)과, 제1 전극(310) 및 제2 전극(320) 사이에 끼워진 유전체층(330)으로 이루어지는 컨덴서(350)를 작성한다. 컨덴서(350)의 작성은 실시 형태 1과 마찬가지로 행한다.First, as shown in FIG. 7A, a capacitor including a
다음으로, 도 7b, 제1 전극(310) 측으로부터 컨덴서(350)를 보는 평면도인 도 7c, 및 제2 전극(320) 측으로부터 컨덴서(350)를 보는 평면도인 도 7d에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 패터닝한다. 이 때, 동시에 얼라인먼트 마크(710, 720)도 형성한다.Next, as shown in FIG. 7B, FIG. 7C which is a plan view of the
제1 전극(310)에는 개구부(311)가 형성되어 있고, 그 개구부(311) 내에 그라운드용 비아 도체(412)가 형성된다. 제1 전극(310)과 그라운드용 비아 도체(412)는 비접촉이다. 제2 전극(320)에는 개구부(322)가 형성되어 있고, 그 개구부(322) 내에 전원용 비아 도체(411)가 형성된다. 제2 전극(320)과 전원용 비아 도체(411) 는 비접촉이다.An
다음으로, 도 7e에 도시한 바와 같이, 앞의 공정에서 얻어진 컨덴서(350)를 3조 준비하고, 접착제(340)를 통하여 적층시킨다. 컨덴서(350a, 350b, 350c)는 각 컨덴서(350)의 얼라인먼트 마크(710, 720)에 기초하여 위치 맞춤된다.Next, as shown in FIG. 7E, three sets of
다음으로, 도 7f에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a, 350b, 350c)와 각 컨덴서 사이에 배치된 접착제(340)로 이루어지는 컨덴서 적층체(450)를 작성한다. 컨덴서 적층체(450)의 작성은 진공 프레스에 의해 행한다. 진공 프레스의 조건은 온도 50∼170℃, 압력 0.4∼1.5㎫이다.Next, as shown in FIG. 7F, the
컨덴서 적층체(450)를 구성하는 각 컨덴서의 개구부(311)는, 컨덴서 적층체(450)를 관통하는 비아 도체(412)에 의해, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 쇼트하지 않도록 하기 위해, 단면 방향에서 대략 동일 위치에 형성되어 있다. 즉, 도 7f에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a, 350b, 350c)에 형성되어 있는 개구부(311)는 단면 방향에서 겹쳐진 위치에 형성되어 있다.The
컨덴서 적층체(450)를 구성하는 각 컨덴서의 개구부(322)는, 컨덴서 적층체(450)를 관통하는 비아 도체(411)에 의해, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 쇼트하지 않도록 하기 위해, 단면 방향에서 대략 동일 위치에 형성되어 있다. 즉, 도 7f에서는 컨덴서(350a, 350b, 350c)에 형성되어 있는 개구부(322)는 단면 방향에서 겹쳐진 위치에 형성되어 있다.The
다음으로, 도 7g에 도시한 바와 같이, 제1 수지 절연층(200a)에 컨덴서 적층체(450)를 매설한다.Next, as shown in FIG. 7G, the
다음으로, 도 7h에 도시한 바와 같이, 관통 구멍(470)(470P, 470G, 470S)을 형성한다. 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))은 컨덴서 적층체(450)와 제1 수지 절연층(200a)을 관통하고, 베이스 기판(100)의 도체 패턴(421(421P, 421G, 421S))에 도달하고 있다. 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))의 형성 위치는, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730), 컨덴서 적층체(450)에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크(710, 720) 중 어느 하나에 기초하여 레이저 가공에 의해 형성한다.Next, as shown in Fig. 7H, through holes 470 (470P, 470G, 470S) are formed. The through holes 470 (470P, 470G, and 470S) penetrate the
전원용 관통 구멍(470P)은 제1 전극(310)과 유전체층(330)을 관통한다. 또한, 전원용 관통 구멍(470P)은 제2 전극(320)의 개구부(322) 내에 형성되어 있으며, 개구부(322)의 내벽과는 비접촉이다.The power supply through
그라운드용 관통 구멍(470G)은 제2 전극(320)과 유전체층(330)을 관통한다. 또한, 그라운드용 관통 구멍(470G)은 제1 전극(310)의 개구부(311) 내에 형성되어 있으며, 개구부(311)의 내벽과는 비접촉이다.The ground through
다음으로, 도 7i에 도시한 바와 같이, 그라운드용 비아 도체(412), 전원용 비아 도체(411), 신호용 비아 도체(413)와, 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))을 텐팅법에 의해 형성한다. 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))은 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위의 전해 도금막으로 이루어진다.Next, as shown in Fig. 7I, the ground via
컨덴서 적층체(450)의 최상층의 전극은, 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)과 전원용 도체 패턴(423P)(제1 전극(310) 위의 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위의 전해 도금막)이 일체로 되어 형성되어 있다. 컨덴서 적층체(450)의 최상층의 전극이란, 실장되는 IC 칩에 가까운 측에 위치하는 컨덴서 적층체(450)의 표층의 전극이다.The electrode of the uppermost layer of the
다음으로, 비아 도체와 도체 패턴을 형성한 후, 도 4c, 도 4d에 도시한 공정을 거쳐, 도 5에 도시한 바와 같은 배선 기판(900)을 얻는다.Next, after the via conductor and the conductor pattern are formed, the
<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제4 실시 형태><4th embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>
본 발명의 제4 실시 형태에 따른 배선 기판(900)을 도 8에 도시한다. 제4 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 제1 실시 형태에 따른 배선 기판(900)과 달리, 글래스 클로스나 글래스 섬유 등의 심재를 갖고 있는 베이스 기판(코어 기판)(100)이 형성되어 있지 않다. 그 때문에, 모든 절연층을 수지 절연층(수지 필름)으로 할 수 있다. 따라서, 컨덴서 내장 기판을 얇게 할 수 있다. 제4 실시 형태에 따른 배선 기판(900)에 의하면, 외부의 전원과 배선 기판(900)에 내장되는 컨덴서 적층체(450) 사이의 거리나, 배선 기판(900)의 표면에 실장되어 있는 칩 컨덴서(도시 생략)와 컨덴서 적층체(450) 사이의 거리를 짧게 할 수 있다.The
<본 발명의 제4 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 4th embodiment of this invention>
우선, 도 9a에 도시한 바와 같이, 지지판(150)을 준비한다. 지지판(150)은 예를 들면 구리판이다. 또한, 지지판(150)의 재질은, 구리판 이외에, 니켈판, 알루미늄판, 철판 등의 금속판을 이용하는 것도 가능하다.First, as shown in FIG. 9A, the
다음으로, 도 9b에 도시한 바와 같이, 도금 레지스트(160)를 지지판(150) 위에 형성한다.Next, as shown in FIG. 9B, the plating resist 160 is formed on the
다음으로, 도 9c에 도시한 바와 같이, 노광ㆍ현상 공정을 행하여 도금 레지스트(160)를 패터닝함으로써, 도금 레지스트(160)에 복수의 개구부를 형성한다.Next, as shown in FIG. 9C, a plurality of openings are formed in the plating resist 160 by patterning the plating resist 160 by performing an exposure and development process.
다음으로, 도 9d에 도시한 바와 같이, 형성한 도금 레지스트(160)의 개구부에 금 도금막(911), 니켈 도금막(912), 구리 도금막(913)의 순서로 전해 도금을 행하여, 제1 외부 접속 단자(600)(전원용 외부 단자(제1 외부 단자)(600P), 그라운드용 외부 단자(제2 외부 단자)(600G), 신호용 외부 단자(600S))를 형성한다. 동시에, 지지판(150) 위에 얼라인먼트 마크(제1 얼라인먼트 마크)(621)를 형성한다. 또한, 금 도금막(911)과 니켈 도금막(912) 사이에 팔라듐막을 형성하는 것도 가능하다.Next, as shown in FIG. 9D, electrolytic plating is performed in the order of the
다음으로, 도 9e에 도시한 바와 같이, 도금 레지스트(160)를 박리하고, 그리고, 수지 필름(제1 하부 수지 절연층)(400d)을 형성한다. 이 제1 하부 수지 절연층(최하층의 수지 절연)(400d)은, 도 8에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 내장하는 제1 수지 절연층(400a)의 하부에 있다. 도 9e에 도시한 바와 같이, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))는 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 최하층의 수지 절연층(제1 하부 수지 절연층)에 매설되어 있다. 또한, 제1 외부 접속 단자(600)의 표면은 최하층의 수지 절연층의 제1 면과 대략 동일 평면에 위치하고 있다.Next, as shown in FIG. 9E, the plating resist 160 is peeled off, and a resin film (first lower resin insulating layer) 400d is formed. This first lower resin insulating layer (lowest layer resin insulating) 400d is located below the first
다음으로, 도 9f에 도시한 바와 같이, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))에 도달하는 관통 구멍을 제1 하부 수지 절연층(400d)에 형성한다.Next, as shown in FIG. 9F, a through hole reaching the first external connection terminal 600 (600P, 600G, 600S) is formed in the first lower
다음으로, 도 9g에 도시한 바와 같이, 세미-애디티브법에 의해, 제1 하부 수 지 절연층(400d)의 상면(외부 단자가 형성되어 있는 면과는 반대면)에 제1 도체 패턴(610)(전원용 제1 도체 패턴(610P), 그라운드용 제1 도체 패턴(610G), 신호용 제1 도체 패턴(610S))을 형성한다.Next, as shown in Fig. 9G, the first conductor pattern (on the surface opposite to the surface on which the external terminals are formed) of the first lower
동시에, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))와 제1 도체 패턴(610(610P, 610G, 610S))을 접속하는 제1 비아 도체(611)(전원용 제1 비아 도체(611P), 그라운드용 제1 비아 도체(611G), 신호용 제1 비아 도체(611S))를 형성한다. 이 때, 제2 얼라인먼트 마크(622)도 동시에 형성한다.At the same time, the first via conductor 611 (the first via
전원용 제1 비아 도체(611P)는 제1 면 측의 전원용 외부 단자(600P)(전원용 제1 외부 단자)와 전원용 제1 도체 패턴(610P)을 접속하고 있다. 그라운드용 제1 비아 도체(611G)(그라운드용 제1 외부 단자)는 제1 면 측의 그라운드용 외부 단자(600G)와 그라운드용 제1 도체 패턴(610G)을 접속하고 있다. 신호용 제1 비아 도체(611S)(신호용 제1 외부 단자)는 제1 면 측의 신호용 외부 단자(600S)와 신호용 제1 도체 패턴(610S)을 접속하고 있다.The first via
다음으로, 도 9h에 도시한 바와 같이, 제1 도체 패턴(610(610P, 610G, 610S))과 제1 하부 수지 절연층(400d) 위에 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 수지 필름(제1 수지 절연층(400a))을 형성한다. 제1 수지 절연층(400a)의 형성에는, 예를 들면 아지노모토사 제조의 ABF-45SH를 2매 중첩시켜 적층시킬 수 있다. 제1 수지 절연층(400a)의 제1 면이 제1 하부 수지 절연층(400d)의 제2 면 위에 적층된다.Next, as shown in FIG. 9H, the first surface on the first conductor pattern 610 (610P, 610G, and 610S) and the first lower
다음으로, 도 9i에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연 층(400a) 위에 위치 맞춤하여 적층시킨다. 컨덴서 적층체(450)의 적층 위치는, 예를 들면 제1 수지 절연층(400a) 위에 형성된 제2 얼라인먼트 마크(622)와 컨덴서 적층체(450)의 얼라인먼트 마크(720)를 이용하여 결정할 수 있다. 또한, 컨덴서 적층체(450)는 제1 실시 형태와 마찬가지의 제조 방법에 의해 형성할 수 있다.Next, as shown in FIG. 9I, the
다음으로, 도 9j에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연층(400a)의 제2 면 측에 매설한다. 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)의 표면과 제1 수지 절연층(400a)의 제2 면은 대략 동일 평면에 위치하고 있다. 컨덴서 적층체(450)의 매설 방법은 도 2g에서 설명한 방법과 마찬가지이다.Next, as shown in FIG. 9J, the
다음으로, 도 9k에 도시한 바와 같이, 관통 구멍을 형성한다.Next, as shown in Fig. 9K, a through hole is formed.
다음으로, 도 9l에 도시한 바와 같이, 비아 도체(제2 비아 도체)(651)(전원용 제2 비아 도체(651P), 그라운드용 제2 비아 도체(651G), 신호용 제2 비아 도체(651S))를 작성한다. 또한, 제2 도체 패턴(650)(전원용 제2 도체 패턴(650P), 그라운드용 제2 도체 패턴(650G), 신호용 제2 도체 패턴(650S))을 작성한다.Next, as shown in FIG. 9L, the via conductor (second via conductor) 651 (the second via
전원용 제2 비아 도체(651P)는 컨덴서 적층체(450)의 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)끼리를 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(651P)는 전원용 제2 도체 패턴(650P)과 전원용 제1 도체 패턴(610P)을 접속하고 있다.The second via
그라운드용 제2 비아 도체(651G)는 컨덴서 적층체(450)의 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제2 전극(320)끼리를 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(651G)는 그라운드용 제2 도체 패턴(650G)과 그라운드용 제1 도체 패턴(610G)을 접속하고 있다.The ground second via
신호용 제2 비아 도체(651S)는 신호용 제2 도체 패턴(650S)과 신호용 제1 도체 패턴(610S)을 접속하고 있다.The signal second via
전원용 제1 비아 도체(611P)와 도체 패턴(610P)과 비아 도체(651P)를 통하여, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)과 제1 외부 단자(600P)는 전기적으로 접속되어 있다. 또한, 그라운드용 제1 비아 도체(611G)와 도체 패턴(610G)과 비아 도체(651G)를 통하여, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제2 전극(320)과 제2 외부 단자(600G)는 전기적으로 접속되어 있다.Through the first via
다음으로, 도 9m에 도시한 바와 같이, 제2 도체 패턴(650(650P, 650G, 650S))과 제1 수지 절연층(400a) 위에 수지 필름(제2 수지 절연층)(400b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 9M, a resin film (second resin insulating layer) 400b is formed on the second conductor patterns 650 (650P, 650G, and 650S) and the first
다음으로, 도 9n에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(최상층의 수지 절연층)(400b)에 관통 구멍을 형성한다.Next, as shown in Fig. 9N, a through hole is formed in the second resin insulating layer (the resin insulating layer of the uppermost layer) 400b.
다음으로, 도 9o에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(400b) 위에 제3 도체 패턴(660)(전원용 제3 도체 패턴(660P), 그라운드용 제3 도체 패턴(660G), 신호용 제3 도체 패턴(660S))을 형성한다.Next, as shown in FIG. 9O, on the second
동시에, 제2 도체 패턴(650(650P, 650G, 650S))과 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S))을 접속하는 제3 비아 도체(661)(전원용 제3 비아 도체(661P), 그라운드용 제3 비아 도체(661G), 신호용 제3 비아 도체(661S))를 형성한다.At the same time, the third via conductor 661 (the third via
전원용 제3 비아 도체(661P)는 전원용 제3 도체 패턴(660P)과 전원용 제2 도체 패턴(650P)을 접속하고 있다. 그라운드용 제3 비아 도체(661G)는 그라운드용 제3 도체 패턴(660G)과 그라운드용 제2 도체 패턴(650G)을 접속하고 있다. 신호용 제3 비아 도체(661S)는 신호용 제2 도체 패턴(650S)과 신호용 제3 도체 패턴(660S)을 접속하고 있다. 이들의 접속은, 예를 들면 세미-애디티브법에 의해 형성할 수 있다.The third via
다음으로, 도 9p에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(400b)과 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S)) 위에 솔더 레지스트(700)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 9P, the soldering resist 700 is formed on the 2nd
다음으로, 도 9q에 도시한 바와 같이, 솔더 레지스트(700)에 복수의 개구부를 형성한다. 그 개구부는 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S))을 부분적으로 개구하고 있다. 개구부에 의해 노출되어 있는 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S))의 부분이 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S))로 된다. 제2 외부 접속 단자(670)는 제2 수지 절연층(최상층의 수지 절연층)(400b) 위에 형성되어 있고, 전원용 제2 외부 접속 단자(제3 외부 단자)(670P), 그라운드용 제2 외부 접속 단자(제4 외부 단자)(670G)와 신호용 제2 외부 접속 단자(670S)로 이루어진다.Next, as shown in FIG. 9Q, a plurality of openings are formed in the solder resist 700. The opening partially opens the third conductor pattern 660 (660P, 660G, 660S). The portion of the third conductor pattern 660 (660P, 660G, 660S) exposed by the opening becomes the second external connection terminal 670 (670P, 670G, 670S). The second
다음으로, 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S)) 위에 니켈 도금막(912), 팔라듐 도금막(914), 금 도금막(911)의 순서로 도금을 행하여 3층으로 이루어지는 금속막을 형성한다. 금속막은 금 도금막 1층이어도 되고, 니켈 도금막과 니켈 도금막 위의 금 도금막 2층이어도 된다.Next, the metal is formed of three layers by plating on the second external connection terminals 670 (670P, 670G, 670S) in the order of the
다음으로, 도 9r에 도시한 바와 같이, 지지판(150)을 염화제2구리 에칭액에 의해 에칭 제거한다. 이 때, 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S)) 및 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))에 금속막이 형성되어 있음으로써, 외부 접 속 단자는 에칭 제거되지 않고, 지지판(150)을 제거할 수 있다. 지지판(150)을 제거함으로써, 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면(금속막의 노출 부분)은 노출된다.Next, as shown in FIG. 9R, the
그 후, 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S))의 외부 단자면(금속막의 노출 부분)에 제2 땜납 범프, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))의 외부 단자면에 제1 땜납 범프를 형성함으로써, 도 8에 도시한 배선 기판(900)이 얻어진다.Thereafter, the second solder bumps and the first external connection terminals 600 (600P, 600G, 600S) are applied to the external terminal surfaces (exposed portions of the metal film) of the second external connection terminals 670 (670P, 670G, 670S). By forming the first solder bumps on the external terminal surface, the
또한, 제1 땜납 범프를 통하여 IC 칩 등의 전자 부품을 탑재하여도 된다. 제2 땜납 범프를 통하여 다른 기판(마더보드)과 접속하여도 된다. 또한, 도 8에서는 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면과 제2 외부 접속 단자(670)의 외부 단자면에 땜납 범프가 형성되어 있지만, 제2 외부 접속 단자(670)의 외부 단자면에 땜납 범프, 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면에 땜납을 통하여 도전성 핀을 탑재(실장)하여도 된다. 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면에 땜납 범프, 제2 외부 접속 단자(670)의 외부 단자면에 땜납을 통하여 도전성 핀을 탑재(실장)하여도 된다. IC 칩의 탑재는 배선 기판의 상면 측이어도 하면 측이어도 상관없지만, IC 칩은 외부 단자로부터 컨덴서까지의 거리(기판의 단면 방향의 거리)가 짧은 측의 컨덴서 내장 기판의 표면에 탑재하는 것이 바람직하다.In addition, electronic components such as an IC chip may be mounted through the first solder bumps. You may connect with another board | substrate (motherboard) via 2nd solder bump. In addition, although solder bumps are formed in the external terminal surface of the first
본 실시 형태에서는 수지 절연층(수지 필름)은 3층이지만, 도 9m부터 도 9o의 공정을 반복함으로써 4층 이상의 다층화는 가능하다.In this embodiment, although the resin insulation layer (resin film) is three layers, multilayering of four or more layers is possible by repeating the process of FIG. 9M to FIG. 9O.
또한, 제1 하부 수지 절연층(400d) 하면에, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))를 노출시키는 개구를 갖는 솔더 레지스트를 형성하는 것도 가능하다.Moreover, it is also possible to form the soldering resist which has an opening which exposes the 1st external connection terminals 600 (600P, 600G, 600S) on the lower surface of the 1st lower
도 10에 도시한 배선 기판(900)은, 도 8에 도시된 배선 기판(900)과 달리, 제1 외부 접속 단자(600)와 컨덴서 적층체(450)가 동일한 수지 절연층에 매설되어 있는 예이다. 도 10에 도시한 배선 기판(900)은, 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 제1 수지 절연층(최하층의 수지 절연층)(400a)과 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 제2 수지 절연층(최상층의 수지 절연)(400b)의 2층 구조이다. 제1 수지 절연층(400a)의 제2 면 측에는 컨덴서 적층체(450)가 매설되어 있다. 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)의 표면과 최하층의 수지 절연층(400a)의 제2 면은 대략 동일 평면에 위치하고 있다. 한편, 제1 수지 절연층(400a)의 제1 면 측(배선 기판(900)의 제1 표면)에는 제1 외부 접속 단자(600)가 매설되어 있다. 제1 외부 접속 단자(600)의 표면과 최하층의 수지 절연층(400a)의 제1 면은 대략 동일 평면에 위치하고 있다. 최하층의 수지 절연층(400a)의 제2 면 위에 최상층의 수지 절연층(400b)의 제1 면이 적층되어 있다. 제2 수지 절연층(400b)의 제2 면 위에는 전원용 제2 외부 접속 단자(제3 외부 단자)(670P), 그라운드용 제2 외부 접속 단자(제4 외부 단자)(670G)와 신호용 제2 외부 접속 단자(670S)로 이루어지는 제2 외부 접속 단자(670)가 형성되어 있다. 또한, 제2 수지 절연층(400b)에는 비아 도체가 형성되어 있다.Unlike the
이 도 10에 도시한 배선 기판(900)의 제조 방법은, 우선, 도 9a 내지 도 9e에 도시한 공정을 행한다. 그 후, 도 9i 내지 도 9r에 도시한 공정을 행하여 도금 레지스트(160)를 제거하고, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))에 제1 땜 납 범프를 형성함으로써, 도 10에 도시한 배선 기판(900)이 얻어진다.The manufacturing method of the
또한, 제4 실시 형태의 배선 기판은, 제3 실시 형태와 마찬가지로, 제1 전극과 제2 전극이 면 방향으로 어긋나 있지 않은 컨덴서를 접착제로 적층시킨 컨덴서 적층체를 내장하여도 된다.In addition, the wiring board of 4th Embodiment may contain the capacitor laminated body which laminated | stacked the capacitor | condenser by which the 1st electrode and the 2nd electrode did not shift in the surface direction similarly to 3rd Embodiment.
<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제5 실시 형태><5th embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>
본 발명의 제5 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 제1 실시 형태에 따른 배선 기판(900)과 달리, 도 11에 도시한 바와 같이, 베이스 기판(100) 위에 수지 절연층(200a)이, 아래에는 하부 수지 절연층(270d)이 형성되어 있다. 그리고, 수지 절연층(200a)에는 컨덴서 적층체(450a)가 매설되어 있고, 하부 수지 절연층(270d)에는 컨덴서 적층체(450b)가 매설되어 있다.Unlike the
이와 같이 구성함으로써, 베이스 기판(100) 위에서의 노이즈 경감뿐만 아니라, 베이스 기판(100) 아래에서도 노이즈의 경감을 효율적으로 도모할 수 있다.By configuring in this way, not only noise reduction on the
이 배선 기판(900)의 제조 방법은, 예를 들면 도 2q 후에, 베이스 기판(100)의 하면에 하부 수지 절연층(270d)을 형성하여, 그 하부 수지 절연층(270d)에 컨덴서 적층체(450b)를 매설시킴으로써 작성하는 것이 가능하다.In the method of manufacturing the
<본 발명에서의 기타 실시 형태><Other embodiments in the present invention>
전술한 실시 형태에서는, 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 3개 적층시켜 형성하였지만, 단 이것에 한정되지 않는다. 컨덴서 적층체(450)는, 예를 들면 2개 또는 4개∼30개 또는 그 이상의 컨덴서를 접착제(340)를 개재시켜 적층시킬 수 있다.In the above-described embodiment, the
전술한 실시 형태에서는, 유전체층(330)은 티탄산 바륨(BaTiO3)으로 형성되었다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 유전체층(330)은, 예를 들면 티탄산 스트론튬(SrTiO3), 산화 탄탈(TaO3, Ta2O5), 티탄산 지르콘산 납(PZT), 티탄산 지르콘산 란탄 납(PLZT), 티탄산 지르콘산 니오브 납(PNZT), 티탄산 지르콘산 칼슘 납(PCZT) 및 티탄산 지르콘산 스트론튬 납(PSZT) 중 어느 하나 또는 이들의 혼합물을 사용하는 것도 가능하다.In the above embodiment, the
전술한 실시 형태에서는, 유전성 필러로서 티탄산 스트론튬(SrTiO3)을 이용하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 유전성 필러는, 예를 들면 티탄산 칼슘(CaTiO3), 티탄산 마그네슘(Mg2TiO3), 티탄산 네오디뮴(Nd2Ti2O7) 등을 이용하는 것이 가능하다.In the above embodiment, strontium titanate (SrTiO 3 ) was used as the dielectric filler. However, it is not limited to this. As the dielectric filler, for example, calcium titanate (CaTiO 3 ), magnesium titanate (Mg 2 TiO 3 ), neodymium titanate (Nd 2 Ti 2 O 7 ), or the like can be used.
또한, 전술한 실시 형태에서는, 수지 절연층(수지 필름)을 구성하는 수지로서 에폭시 수지를 이용하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 수지 절연층을 구성하는 수지로서, 예를 들면 폴리이미드, 폴리카보네이트, 변성 폴리페닐렌에테르, 폴리페닐렌옥사이드, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리아크릴레이트, 폴리술폰, 폴리페닐렌술파이드, 폴리에테르에테르케톤, 폴리술폰, 폴리에테르술폰, 폴리페닐술폰, 폴리프탈아미드, 폴리아미드이미드, 폴리케톤, 폴리아세탈 등을 단독으로 혹은 에폭시 수지와 조합하여 사용할 수 있다.In addition, in embodiment mentioned above, epoxy resin was used as resin which comprises a resin insulating layer (resin film). However, it is not limited to this. As the resin constituting the resin insulating layer, for example, polyimide, polycarbonate, modified polyphenylene ether, polyphenylene oxide, polybutylene terephthalate, polyacrylate, polysulfone, polyphenylene sulfide, polyether ether Ketones, polysulfones, polyethersulfones, polyphenylsulfones, polyphthalamides, polyamideimides, polyketones, polyacetals and the like can be used alone or in combination with epoxy resins.
또한, 전술한 실시 형태에서는, 제1 전극(310) 및 제2 전극(320)을 형성하는 금속으로서 구리를 이용하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 제1 전극(310) 및 제2 전극(320)을 형성하는 금속으로서는, 예를 들면 백금, 금, 니켈, 주석, 은 등을 단독으로 또는 혼합하여 이용하는 것이 가능하다. 더 나아가서는, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)에서 각각 상이한 종류의 금속을 이용하는 것도 가능하다.In the above-described embodiment, copper was used as the metal for forming the
또한, 전술한 실시 형태에서는, 구리로 이루어지는 제1 전극(310) 위에 고유전체 재료를 인쇄하고, 소성하여 유전체층(330)을 형성하고, 그 후, 스퍼터 등의 진공 증착 장치를 이용하여 유전체층(330) 위에 구리로 이루어지는 금속층을 형성하여 제2 전극(320)을 형성하여 컨덴서를 작성하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다.In the above-described embodiment, the high dielectric material is printed on the
즉, 이하의 공정에 의해, 컨덴서를 작성하는 것도 가능하다. 우선, 디에톡시바륨과 비테트라이소프로폭시드티탄을, 탈수시킨 메탄올과 2-메톡시에탄올의 혼합 용매에 용해하고, 실온의 질소 분위기 하에서 3일간 교반하여 바륨과 티탄의 알콕시드 전구체 조성물 용액을 조정한다. 이어서, 이 전구체 조성물 용액을 0℃로 유지하면서 교반하고, 미리 탈탄산한 물을 0.5㎕/분의 속도로 질소 기류 중에서 분무하여 가수분해한다. 이와 같이 하여 작성된 졸겔 용액을 필터를 통과시킴으로써 석출물 등을 여과한다. 얻어진 여과액을 두께 12㎛의 구리로 이루어지는 제1 전극(310) 위에 스핀 코팅한다. 그 후, 850℃로 유지된 전기로 내에 삽입하여 소성을 행함으로써 유전체층(330)을 얻는다. 그리고, 유전체층(330) 위에 스퍼터 등의 진공 증착 장치를 이용하여 구리층을 형성하고, 또한 이 구리층 위에 전해 도금 등에 의해 구리를 10㎛ 정도 더함으로써, 제2 전극(320)을 얻을 수 있다.That is, it is also possible to create a capacitor by the following process. First, diethoxy barium and bitetriisopropoxide titanium are dissolved in a mixed solvent of dehydrated methanol and 2-methoxyethanol, and stirred for 3 days under a nitrogen atmosphere at room temperature to prepare a solution of an alkoxide precursor composition of barium and titanium. Adjust Subsequently, the precursor composition solution is stirred while maintaining at 0 ° C., and the pre-decarbonized water is hydrolyzed by spraying in a nitrogen stream at a rate of 0.5 μl / min. The precipitate or the like is filtered by passing the sol-gel solution thus prepared through a filter. The obtained filtrate is spin coated on a
본 출원은 2007년 10월 18일 출원된 미국 가특허출원 60/980969에 기초한다. 본 명세서 중에 그 명세서, 특허 청구의 범위, 도면 전체를 참조로서 삽입하기로 한다.This application is based on US Provisional Patent Application 60/980969, filed October 18, 2007. In the present specification, the specification, claims, and drawings are incorporated by reference.
본 발명은 내장되어 있는 컨덴서가 고용량이며 나아가 절연 저항도 확보되어 있는 배선 기판에 이용할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for a wiring board in which a built-in capacitor has a high capacity and an insulation resistance is also secured.
Claims (25)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US98096907P | 2007-10-18 | 2007-10-18 | |
US60/980,969 | 2007-10-18 | ||
PCT/JP2007/071423 WO2009050829A1 (en) | 2007-10-18 | 2007-11-02 | Wiring board and its manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090086023A true KR20090086023A (en) | 2009-08-10 |
KR101085322B1 KR101085322B1 (en) | 2011-11-23 |
Family
ID=40567120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020087028270A KR101085322B1 (en) | 2007-10-18 | 2007-11-02 | Wiring substrate and method of manufacturing the same |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8148645B2 (en) |
EP (2) | EP2091311B1 (en) |
JP (1) | JP4773531B2 (en) |
KR (1) | KR101085322B1 (en) |
CN (1) | CN101502191B (en) |
TW (1) | TWI365688B (en) |
WO (1) | WO2009050829A1 (en) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090296310A1 (en) * | 2008-06-03 | 2009-12-03 | Azuma Chikara | Chip capacitor precursors, packaged semiconductors, and assembly method for converting the precursors to capacitors |
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JP5333577B2 (en) * | 2009-03-19 | 2013-11-06 | 株式会社村田製作所 | Circuit board and mother laminate |
JP5589314B2 (en) * | 2009-06-25 | 2014-09-17 | 株式会社リコー | Manufacturing method of electronic component module |
EP2519089B1 (en) | 2009-12-24 | 2017-09-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Circuit module |
IN2014CN01994A (en) * | 2011-08-15 | 2015-05-29 | Sma Solar Technology Ag | |
CN103096646B (en) * | 2011-10-31 | 2016-01-20 | 健鼎(无锡)电子有限公司 | The manufacture method of the multilager base plate of embedded element |
US20140070404A1 (en) * | 2012-09-12 | 2014-03-13 | Shing-Ren Sheu | Semiconductor package structure and interposer therefor |
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CN104900406B (en) * | 2015-06-01 | 2017-10-10 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | Bonding multilayer ceramic capacitor and preparation method thereof |
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US10373904B2 (en) | 2017-08-28 | 2019-08-06 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor devices including capacitors, related electronic systems, and related methods |
CN111128993A (en) | 2019-12-18 | 2020-05-08 | 台达电子企业管理(上海)有限公司 | Substrate, manufacturing method applicable to substrate and power module |
CN117560860A (en) * | 2022-08-04 | 2024-02-13 | 辉达公司 | Method and arrangement for stacking a plurality of printed circuit boards |
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-
2007
- 2007-11-02 WO PCT/JP2007/071423 patent/WO2009050829A1/en active Application Filing
- 2007-11-02 CN CN2007800300409A patent/CN101502191B/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-02 EP EP07831157A patent/EP2091311B1/en active Active
- 2007-11-02 JP JP2008550579A patent/JP4773531B2/en active Active
- 2007-11-02 EP EP10162269A patent/EP2217045A1/en not_active Withdrawn
- 2007-11-02 KR KR1020087028270A patent/KR101085322B1/en active IP Right Grant
-
2008
- 2008-03-13 TW TW097108923A patent/TWI365688B/en active
- 2008-08-12 US US12/189,852 patent/US8148645B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2091311A4 (en) | 2010-01-20 |
KR101085322B1 (en) | 2011-11-23 |
CN101502191A (en) | 2009-08-05 |
JPWO2009050829A1 (en) | 2011-02-24 |
US8148645B2 (en) | 2012-04-03 |
CN101502191B (en) | 2012-02-08 |
JP4773531B2 (en) | 2011-09-14 |
US20090266594A1 (en) | 2009-10-29 |
WO2009050829A1 (en) | 2009-04-23 |
TWI365688B (en) | 2012-06-01 |
EP2217045A1 (en) | 2010-08-11 |
EP2091311A1 (en) | 2009-08-19 |
EP2091311B1 (en) | 2013-03-06 |
TW200920196A (en) | 2009-05-01 |
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A201 | Request for examination | ||
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E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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