KR20090086023A - Wiring substrate and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

A capacitor (350) is formed of a dielectric layer (330), and a first electrode (310) and a second electrode (320), which confront each other across a dielectric layer (300). The capacitors (350) are laminated on a capacitor laminated body (450) through adhesive (340). A wiring board (900) is provided with a first resin insulating layer (200a) incorporating the capacitor laminated body (450), a first via conductor (411) which electrically connects the first electrodes (310), a second via conductor (412) which electrically connects the second electrodes (320), a first external terminal (427P) which is electrically connected to the first via conductor (411) and a second external terminal (427G) which is electrically connected to the second via conductor (412). The first electrode (310) and the second electrode (320) are dislocated and arranged in a face direction of the electrodes. ® KIPO & WIPO 2009

Description

배선 기판 및 그의 제조 방법{WIRING SUBSTRATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}Wiring board and its manufacturing method {WIRING SUBSTRATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}

본 발명은 컨덴서를 내장한 배선 기판 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a wiring board incorporating a capacitor and a method of manufacturing the same.

전자 기기의 소형화의 요구에 수반하여, 전자 기기를 구성하는 전자 부품의 실장 효율을 높이는 것이 요망되고 있다. 그 때문에, 실장 효율을 높이기 위해, 컨덴서를 내장한 배선 기판이 하기 특허 문헌 1에 개시되어 있다.In response to the demand for miniaturization of electronic devices, it is desired to increase the mounting efficiency of the electronic components constituting the electronic devices. Therefore, in order to raise mounting efficiency, the wiring board which integrated the capacitor is disclosed by following patent document 1. As shown in FIG.

그러나, 이 공보에 개시된 배선 기판에서는, 배선 기판에 내장된 컨덴서의 고용량화와 절연 저항의 확보를 양립시키는 것은 곤란하다.However, in the wiring board disclosed in this publication, it is difficult to achieve both high capacity of the capacitor built in the wiring board and securing of insulation resistance.

왜냐하면, 컨덴서를 고용량화하고자 하면, 컨덴서의 유전체층을 얇게 하게 되는데, 유전체층을 얇게 하면, 컨덴서의 절연 저항이 저하된다. 한편, 컨덴서의 절연 저항을 확보하고자 하면, 유전체층을 두껍게 하게 되는데, 이것으로는 컨덴서의 용량을 크게 할 수 없다.This is because, if the capacitor is to be made high in capacity, the dielectric layer of the capacitor is made thin. If the dielectric layer is made thin, the insulation resistance of the capacitor is reduced. On the other hand, if the insulation resistance of the capacitor is to be secured, the dielectric layer is made thick, and the capacity of the capacitor cannot be increased.

또한, 유전체층과 전극을 번갈아 적층시켜 형성된 복수의 컨덴서를 내장하는 배선 기판이 하기 특허 문헌 2에 개시되어 있다. 이 공보에 개시된 배선 기판은 유전체층의 두께를 컨덴서의 절연 저항을 얻기 위해 필요한 두께로 하고, 복수의 컨덴서를 배치함으로써, 전체로서의 용량을 크게 하고 있다.In addition, a wiring board including a plurality of capacitors formed by alternately stacking a dielectric layer and an electrode is disclosed in Patent Document 2 below. In the wiring board disclosed in this publication, the thickness of the dielectric layer is set to a thickness necessary for obtaining the insulation resistance of the capacitor, and a plurality of capacitors are arranged to increase the capacity as a whole.

단, 이 공보에 개시된 배선 기판에서는, 1개의 컨덴서에 결함이 있으면, 컨덴서 적층체 전체에 결함이 생긴다.However, in the wiring board disclosed in this publication, if one capacitor is defective, a defect occurs in the entire capacitor laminate.

[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 2005-191559호 공보[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-191559

[특허 문헌 2] 일본 특허 공개 2004-228190호 공보[Patent Document 2] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-228190

본 발명은 상기 문제점을 해결하는 것으로서, 고용량이며 절연 저항이 확보된 컨덴서를 내장한 배선 기판을 제공하는 것을 목적으로 한다. 또한, 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체를 내장하는 배선 기판의 수율을 확보하여, 고용량이며 절연 저항이 확보된 컨덴서를 내장한 배선 기판을 제공하는 것을 목적으로 한다. 또한, 본 발명은 그러한 배선 기판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a wiring board having a capacitor having a high capacity and an insulation resistance. In addition, an object of the present invention is to provide a wiring board having a capacitor having a high capacitance and an insulation resistance secured by securing a yield of a wiring board having a capacitor laminate in which capacitors are stacked. Moreover, an object of this invention is to provide the manufacturing method of such a wiring board.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제1 관점에 따른 배선 기판은,In order to achieve the above object, the wiring board according to the first aspect of the present invention,

유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극 및 제2 전극으로 형성되는 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시켜 형성되는 컨덴서 적층체와,A capacitor stack formed by laminating a dielectric layer, a capacitor formed by opposing first and second electrodes with the dielectric layer interposed therebetween, using an adhesive;

상기 컨덴서 적층체를 내장하는 제1 수지 절연층과,A first resin insulating layer containing the capacitor laminate;

상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와,A first via conductor electrically connecting the first electrodes to each other,

상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체와,A second via conductor electrically connecting the second electrodes to each other,

상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와,A first external terminal electrically connected to the first via conductor;

상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자를 갖는 것을 특징으로 한다.It has a 2nd external terminal electrically connected with the said 2nd via conductor, It is characterized by the above-mentioned.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제2 관점에 따른 배선 기판은,In order to achieve the above object, a wiring board according to a second aspect of the present invention,

적어도 최하층의 수지 절연층과 최상층의 수지 절연층을 갖는 복수의 수지 절연층과,A plurality of resin insulating layers having at least the lowest resin insulating layer and the highest resin insulating layer;

상기 수지 절연층의 사이에 형성되어 있는 복수의 도체 회로와,A plurality of conductor circuits formed between the resin insulating layers,

상기 복수의 수지 절연층 중 1개의 수지 절연층에 매설되어 있고, 유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극과 제2 전극으로 형성되는 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시켜 형성되는 컨덴서 적층체와,Condenser lamination, which is embedded in one resin insulating layer among the plurality of resin insulating layers, and is formed by laminating a capacitor formed of a dielectric layer and a first electrode and a second electrode facing each other with the dielectric layer interposed therebetween by an adhesive. Chewwa,

상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와,A first via conductor electrically connecting the first electrodes to each other,

상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체와,A second via conductor electrically connecting the second electrodes to each other,

상기 최하층의 수지 절연층에 형성되어 있고, 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자로 이루어지는 제1 외부 접속 단자와,A first external connection terminal formed on the lowest resin insulating layer, the first external terminal comprising a first external terminal electrically connected to the first via conductor, and a second external terminal electrically connected to the second via conductor; ,

상기 최상층의 수지 절연층에 형성되어 있고, 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제3 외부 단자와 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제4 외부 단자로 이루어지는 제2 외부 접속 단자를 갖고,A second external connection terminal formed on the resin insulating layer of the uppermost layer and having a third external terminal electrically connected to the first via conductor and a fourth external terminal electrically connected to the second via conductor; Have,

상기 제1 외부 접속 단자는 상기 최하층의 수지 절연층에 매설됨과 함께, 상기 제1 외부 접속 단자의 외부 단자면은 상기 최하층의 수지 절연층의 제1 면과 대략 동일 평면에 위치하고 있고,The first external connection terminal is embedded in the resin insulating layer of the lowermost layer, and the external terminal surface of the first external connection terminal is located on substantially the same plane as the first surface of the resin insulating layer of the lowest layer.

상기 제2 외부 접속 단자는 상기 최상층의 수지 절연층 위에 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.The second external connection terminal is formed on the resin insulating layer of the uppermost layer.

또한, 상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제3 관점에 따른 배선 기판의 제조 방법은,Moreover, in order to achieve the said objective, the manufacturing method of the wiring board which concerns on the 3rd viewpoint of this invention is

유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극 및 제2 전극을 갖는 컨덴서를 작성하는 컨덴서 작성 공정과,A capacitor making step of preparing a capacitor having a dielectric layer and a first electrode and a second electrode opposing each other with the dielectric layer interposed therebetween;

상기 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 작성하는 컨덴서 적층체 작성 공정과,A capacitor laminate-forming step of creating a capacitor laminate by laminating the capacitor through an adhesive;

베이스 기판 위에 제1 수지 절연층을 적층시키는 적층 공정과,A lamination step of laminating a first resin insulating layer on the base substrate,

상기 제1 수지 절연층에 상기 컨덴서 적층체를 매설시키는 매설 공정과,A embedding step of embedding the capacitor laminate in the first resin insulating layer;

상기 컨덴서 적층체에, 상기 제1 전극끼리를 관통하는 관통 구멍과, 상기 제2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 관통 구멍 형성 공정과,A through-hole forming step of forming a through-hole penetrating the first electrodes and a through-hole penetrating the second electrodes in the capacitor laminate;

상기 관통 구멍에 금속 도체를 충전시킴으로써, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체를 작성하는 비아 도체 작성 공정과,Filling the through-holes with a metal conductor, a via conductor creation step of creating a first via conductor electrically connecting the first electrodes and a second via conductor electrically connecting the second electrodes;

상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와, 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자를 작성하는 외부 단자 작성 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.It has an external terminal creation process which produces the 1st external terminal electrically connected with the said 1st via conductor, and the 2nd external terminal electrically connected with the said 2nd via conductor.

또한, 상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제4 관점에 따른 배선 기판의 제조 방법은,Moreover, in order to achieve the said objective, the manufacturing method of the wiring board which concerns on the 4th viewpoint of this invention is

유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극과 제2 전극을 갖는 컨덴서를 작성하는 컨덴서 작성 공정과,A capacitor making step of producing a capacitor having a dielectric layer and a first electrode and a second electrode opposing each other with the dielectric layer interposed therebetween;

상기 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 작성하는 컨덴서 적층체 작성 공정과,A capacitor laminate-forming step of creating a capacitor laminate by laminating the capacitor through an adhesive;

지지판 위에 제1 외부 단자와 제2 외부 단자를 갖는 제1 외부 접속 단자를 형성하는 제1 외부 접속 단자 형성 공정과,A first external connection terminal forming step of forming a first external connection terminal having a first external terminal and a second external terminal on a support plate;

상기 제1 외부 접속 단자와 지지판 위에 복수의 수지 절연층과 복수의 도체 회로를 번갈아 적층시키는 빌드업 공정과,A build-up step of alternately stacking a plurality of resin insulating layers and a plurality of conductor circuits on the first external connection terminal and the support plate;

상기 복수의 수지 절연층 중 1개의 수지 절연층에 상기 컨덴서 적층체를 매설시키는 매설 공정과,A embedding step of embedding the capacitor laminate in one of the plurality of resin insulating layers;

상기 컨덴서 적층체에, 상기 제1 전극 혹은 상기 제2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 관통 구멍 형성 공정과,A through-hole forming step of forming a through-hole in the capacitor stack, through which the first electrode or the second electrode passes;

상기 관통 구멍에 금속 도체를 충전시킴으로써, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체를 작성하는 비아 도체 작성 공정과,Filling the through-holes with a metal conductor, a via conductor creation step of creating a first via conductor electrically connecting the first electrodes and a second via conductor electrically connecting the second electrodes;

상기 복수의 수지 절연층 중, 상기 지지판과는 반대측에 위치하는 최상층의 수지 절연층 위에 제3 외부 단자와 제4 외부 단자를 갖는 제2 외부 접속 단자를 형성하는 제2 외부 접속 단자 형성 공정과,A second external connection terminal forming step of forming a second external connection terminal having a third external terminal and a fourth external terminal on the uppermost resin insulating layer positioned on the opposite side to the support plate among the plurality of resin insulating layers;

상기 지지판을 제거하는 지지판 제거 공정을 갖고,It has a support plate removal process of removing the said support plate,

상기 제1 외부 단자와 상기 제3 외부 단자는 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있고, 상기 제2 외부 단자와 상기 제4 외부 단자는 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 한다.The first external terminal and the third external terminal are electrically connected to the first via conductor, and the second external terminal and the fourth external terminal are electrically connected to the second via conductor. do.

<발명의 효과>Effect of the Invention

본 발명에 의하면, 고용량이며 절연 저항이 확보된 컨덴서를 내장한 배선 기판을 얻을 수 있다.According to the present invention, it is possible to obtain a wiring board in which a capacitor having a high capacity and an insulation resistance is secured.

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 배선 기판의 단면도.1 is a cross-sectional view of a wiring board according to a first embodiment of the present invention.

도 2a는 제1 전극과 유전체층과 제2 전극을 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2A is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the first electrode, the dielectric layer, and the second electrode are laminated.

도 2b는 제1 전극과 제2 전극의 위치를 어긋나게 하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2B is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the positions of the first electrode and the second electrode are shifted.

도 2c는 컨덴서를 적층시켜 컨덴서 적층체를 작성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 2C is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the capacitor is laminated to form a capacitor laminate. FIG.

도 2d는 접착제를 개재시켜 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체를 나타내는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2D is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, showing the capacitor laminate in which the capacitor is laminated via an adhesive.

도 2e는 베이스 기판 위에 수지 절연층을 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2E is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a resin insulating layer is laminated on the base substrate.

도 2f는 수지 절연층에 컨덴서 적층체를 매설시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2F is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which the capacitor laminate is embedded in the resin insulating layer.

도 2g는 컨덴서 적층체가 매설된 수지 절연층을 나타내는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2G is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, showing the resin insulating layer in which the capacitor laminate is embedded.

도 2h는 수지 절연층에 컨덴서 적층체를 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2H is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a capacitor laminate is laminated on a resin insulating layer.

도 2i는 수지 절연층에 제2 수지 절연층을 더 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2I is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a second resin insulating layer is further laminated on the resin insulating layer.

도 2j는 컨덴서 적층체에 비아 도체를 위한 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 2J is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which through holes for the via conductor are formed in the capacitor stack. FIG.

도 2k는 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 상면으로부터 설명하는 도면.It is a figure explaining the capacitor laminated body of the wiring board which concerns on Embodiment 1 from an upper surface.

도 2l은 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 상면으로부터 설명하는 도면.2L is an explanatory diagram illustrating the capacitor laminate of the wiring board according to the first embodiment, from an upper surface thereof.

도 2m은 제2 수지 절연층에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.It is a figure explaining the manufacturing process of the wiring board which concerns on Embodiment 1 which forms a conductor pattern in a 2nd resin insulating layer.

도 2n은 제3 수지 절연층을 더 적층시키는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.It is a figure explaining the manufacturing process of the wiring board which concerns on Embodiment 1 which further laminate | stacks a 3rd resin insulating layer.

도 2o는 제3 수지 절연층에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.It is a figure explaining the manufacturing process of the wiring board which concerns on Embodiment 1 which forms a conductor pattern in a 3rd resin insulating layer.

도 2p는 솔더 레지스트에 복수의 개구부를 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2P is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a plurality of openings are formed in the solder resist.

도 2q는 땜납 범프를 통하여 IC 칩이 실장되는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 2Q is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment in which the IC chip is mounted via solder bumps. FIG.

도 2r은 베이스 기판의 하면에도 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 1에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.2R is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the first embodiment, in which a resin insulating layer is also formed on the lower surface of the base substrate.

도 3은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 배선 기판의 단면도.3 is a cross-sectional view of a wiring board according to a second embodiment of the present invention.

도 4a는 컨덴서 적층체에 비아 도체를 위한 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4A is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, wherein through holes for via conductors are formed in the capacitor stack.

도 4b는 컨덴서 적층체 및 수지 절연층의 상면에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4B is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, in which a conductor pattern is formed on the upper surface of the capacitor laminate and the resin insulating layer.

도 4c는 제2 수지 절연층을 더 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4C is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, further forming a second resin insulating layer.

도 4d는 베이스 기판의 하면에도 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 2에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.4D is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the second embodiment, in which a resin insulating layer is also formed on the lower surface of the base substrate.

도 5는 제1 전극 및 제2 전극의 개구부에 비아 도체가 형성되어 있는 컨덴서 적층체를 나타내는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 단면도.Fig. 5 is a sectional view of a wiring board according to Embodiment 3, showing a capacitor stack in which via conductors are formed in openings of the first electrode and the second electrode.

도 6a는 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 격자 형상으로 관통하는 비아 도체를 설명하는 도면.6A is an explanatory diagram illustrating a via conductor penetrating a capacitor stack of a wiring board according to the third embodiment in a lattice shape.

도 6b는 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 적층체를 지그재그 형상으로 관통하는 비아 도체를 설명하는 도면.6B is an explanatory diagram illustrating the via conductor penetrating the capacitor stack of the wiring board according to the third embodiment in a zigzag shape.

도 7a는 제1 전극과 유전체층과 제2 전극을 적층시키는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 단체를 설명하는 도면.FIG. 7A is an explanatory diagram illustrating a capacitor single body of a wiring board according to Embodiment 3 in which a first electrode, a dielectric layer, and a second electrode are laminated; FIG.

도 7b는 제1 전극 및 제2 전극이 패터닝된, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 컨덴서 단체를 설명하는 도면.FIG. 7B is an explanatory diagram illustrating the capacitor single body of the wiring board according to the third embodiment in which the first electrode and the second electrode are patterned. FIG.

도 7c는 실시 형태 3에 따른 배선 기판이 패터닝된 컨덴서를 제1 전극 측으 로부터 설명하는 평면도.FIG. 7C is a plan view for explaining a capacitor on which a wiring board according to Embodiment 3 is patterned from the first electrode side; FIG.

도 7d는 실시 형태 3에 따른 배선 기판이 패터닝된 컨덴서를 제2 전극 측으로부터 설명하는 평면도.FIG. 7D is a plan view illustrating the capacitor on which the wiring board according to the third embodiment is patterned from the second electrode side; FIG.

도 7e는 패터닝된 컨덴서를 적층시켜 컨덴서 적층체를 작성하는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7E is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, in which a capacitor laminate is prepared by laminating the patterned capacitor. FIG.

도 7f는 패터닝된 컨덴서를, 접착제를 개재시켜 적층시키는 컨덴서 적층체를 나타내는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7F is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, showing the capacitor laminate in which the patterned capacitor is laminated via an adhesive; FIG.

도 7g는 패터닝된 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체를 수지 절연층에 매설시키는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7G is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, in which the capacitor laminate in which the patterned capacitor is laminated is embedded in a resin insulating layer. FIG.

도 7h는 패터닝된 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7H is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment, wherein through holes are formed in the capacitor stack in which the patterned capacitor is laminated. FIG.

도 7i는 패터닝된 컨덴서를 적층시킨 컨덴서 적층체에 비아 도체 및 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 3에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 7I is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the third embodiment in which a via conductor and a conductor pattern are formed in a capacitor laminate in which the patterned capacitor is laminated. FIG.

도 8은 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 배선 기판의 단면도.8 is a cross-sectional view of a wiring board according to a fourth embodiment of the present invention.

도 9a는 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정에 있어서, 수지 절연층을 지지하는 지지판을 설명하는 도면.9A is an explanatory diagram illustrating a supporting plate that supports a resin insulating layer in a manufacturing step of a wiring board according to the fourth embodiment.

도 9b는 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정에 있어서, 지지판 위에 도금 레지스트를 형성하는 공정을 설명하는 도면.9B is an explanatory diagram illustrating the step of forming a plating resist on a support plate in the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment.

도 9c는 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정에 있어서, 지지판 위에 형성된 도금 레지스트에 복수의 개구부를 형성하는 공정을 설명하는 도면.FIG. 9C is an explanatory diagram illustrating a step of forming a plurality of openings in a plating resist formed on a support plate in a manufacturing step of a wiring board according to the fourth embodiment. FIG.

도 9d는 도금 레지스트의 개구부에 외부 단자를 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9D is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which external terminals are formed in opening portions of the plating resist.

도 9e는 지지판 위에 제1 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9E is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a first resin insulating layer is formed on the support plate.

도 9f는 지지판 위에 형성된 제1 수지 절연층에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9F is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which through holes are formed in the first resin insulating layer formed on the support plate.

도 9g는 제1 수지 절연층의 상면에 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9G is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a conductor pattern is formed on the upper surface of the first resin insulating layer.

도 9h는 제1 수지 절연층 위에 제2 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9H is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a second resin insulating layer is formed on the first resin insulating layer.

도 9i는 제2 수지 절연층에 컨덴서 적층체를 매설시키는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9I is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which the capacitor laminate is embedded in the second resin insulating layer.

도 9j는 컨덴서 적층체가 매설된 제2 수지 절연층을 설명하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9J is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, illustrating the second resin insulating layer in which the capacitor laminate is embedded.

도 9k는 컨덴서 적층체가 매설된 제2 수지 절연층에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9K is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which through holes are formed in the second resin insulating layer in which the capacitor laminate is embedded.

도 9l은 제2 수지 절연층에 비아 도체 및 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9L is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which a via conductor and a conductor pattern are formed in a second resin insulating layer.

도 9m은 제2 수지 절연층 위에 제3 수지 절연층을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9M is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment, in which a third resin insulating layer is formed on the second resin insulating layer.

도 9n은 제3 수지 절연층에 관통 구멍을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.FIG. 9N is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which through holes are formed in the third resin insulating layer. FIG.

도 9o는 제3 수지 절연층에 비아 도체 및 도체 패턴을 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9O is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which a via conductor and a conductor pattern are formed in a third resin insulating layer.

도 9p는 제3 수지 절연층 위에 솔더 레지스트를 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9P is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which a solder resist is formed on the third resin insulating layer.

도 9q는 솔더 레지스트에 형성된 복수의 개구부에 외부 단자를 형성하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9Q is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which external terminals are formed in a plurality of opening portions formed in the solder resist.

도 9r은 지지판을 에칭에 의해 제거하는, 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 제조 공정을 설명하는 도면.9R is an explanatory diagram illustrating the manufacturing process of the wiring board according to the fourth embodiment in which the supporting plate is removed by etching.

도 10은 본 발명의 실시 형태 4에 따른 배선 기판의 변형예를 나타내는 도면.10 is a diagram showing a modification of the wiring board according to the fourth embodiment of the present invention.

도 11은 베이스 기판의 하방에 형성된 수지 절연층에도 컨덴서 적층체를 매설하는, 실시 형태 5에 따른 배선 기판의 단면도.11 is a cross-sectional view of a wiring board according to Embodiment 5 in which a capacitor laminate is also embedded in a resin insulating layer formed below the base substrate.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100 : 베이스 기판100: base substrate

200 : 수지 절연층200: resin insulation layer

310 : 제1 전극310: first electrode

320 : 제2 전극320: second electrode

330 : 유전체층330: dielectric layer

340 : 접착제340: adhesive

350 : 컨덴서350: condenser

411 : 비아 도체411: Via Conductor

412 : 비아 도체412: via conductor

413 : 비아 도체413: Via Conductor

414 : 비아 도체414: Via Conductor

421 : 도체 패턴421: Conductor Pattern

423 : 도체 패턴423: Conductor Pattern

425 : 도체 패턴425 conductor pattern

450 : 컨덴서 적층체450: condenser laminate

710 : 얼라인먼트 마크710: alignment mark

720 : 얼라인먼트 마크720: alignment mark

730 : 얼라인먼트 마크730: alignment mark

900 : 본 발명에 따른 배선 기판900: wiring board according to the present invention

<발명을 실시하기 위한 최선의 형태>Best Mode for Carrying Out the Invention

<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제1 실시 형태><1st embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시 형태에 대해서 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described, referring drawings.

도 1에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 제1 수지 절연층(200a)과, 제1 수지 절연층(200a)을 지지하는 베이스 기판(100)과, 제1 수지 절연층(200a)에 매설된 컨덴서 적층체(450)를 갖는다.As shown in FIG. 1, the wiring board 900 according to the present embodiment includes a first resin insulating layer 200a, a base substrate 100 supporting the first resin insulating layer 200a, and a first substrate. The capacitor laminated body 450 embedded in the resin insulating layer 200a is provided.

제1 수지 절연층(200a)의 위에는 제2 수지 절연층(200b)이 형성되어 있다. 제2 수지 절연층(200b)의 위에는 제3 수지 절연층(200c)이 형성되어 있다.The second resin insulating layer 200b is formed on the first resin insulating layer 200a. The third resin insulating layer 200c is formed on the second resin insulating layer 200b.

컨덴서 적층체(450)의 상면은 제1 수지 절연층(200a)의 상면에 있고, 컨덴서 적층체(450)의 상면과 제1 수지 절연층(200a)의 상면은 동일한 면으로 되어 있다.The upper surface of the capacitor laminate 450 is on the upper surface of the first resin insulating layer 200a, and the upper surface of the capacitor laminate 450 and the upper surface of the first resin insulating layer 200a are the same surface.

컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 접착제(340)를 통하여 적층시킨 것이다. 접착제(340)는 절연성 수지이며, 예를 들면 에폭시 수지이다.The capacitor stack 450 is obtained by stacking the capacitors 350a, 350b, and 350c through the adhesive 340. The adhesive 340 is an insulating resin, for example, an epoxy resin.

컨덴서 적층체(450)의 두께는, 예를 들면 30㎛∼100㎛이다. 100㎛보다도 두꺼우면 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연층(200a)에 매몰시키는 것이 곤란해질 우려가 있기 때문이고, 한편, 30㎛보다도 얇으면 구조가 지나치게 미세해져 배선 기판(900)의 제조 효율을 저해할 가능성이 있을 수 있기 때문이다.The thickness of the capacitor | condenser laminated body 450 is 30 micrometers-100 micrometers, for example. If it is thicker than 100 μm, it may be difficult to embed the capacitor laminate 450 in the first resin insulating layer 200a. On the other hand, if it is thinner than 30 μm, the structure becomes excessively fine and the wiring substrate 900 This is because there may be a possibility of inhibiting the production efficiency.

컨덴서(350a, 350b, 350c)는 각각 유전체층(330)과, 평판 형상의 제1 전극(310)과, 제2 전극(320)을 갖는다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 동일 사이즈의 직방체의 평판 도체로 형성된다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 서로 전극의 평면 방향으로 소정 거리 시프트되어 있으며, 일부에 있어서 겹쳐 있다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은, 예를 들면 길이 0.2㎜∼8㎜, 폭 0.1㎜∼8㎜, 두께 3㎛∼15㎛이다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 구리로 형성되어 있다.The capacitors 350a, 350b, and 350c each have a dielectric layer 330, a flat plate-shaped first electrode 310, and a second electrode 320. The first electrode 310 and the second electrode 320 are formed of flat rectangular conductors of the same size. The first electrode 310 and the second electrode 320 are shifted by a predetermined distance from each other in the planar direction of the electrode, and overlap with each other. The 1st electrode 310 and the 2nd electrode 320 are 0.2 mm-8 mm in length, 0.1 mm-8 mm in width, and 3 micrometers-15 micrometers in thickness, for example. The first electrode 310 and the second electrode 320 are made of copper.

유전체층(330)의 두께는 예를 들면 0.5㎛∼10㎛이다. 유전체층(330)의 두께를 0.5㎛보다도 작게 하면 컨덴서의 절연 저항이 나빠질 가능성이 있기 때문이고, 한편, 10㎛보다도 크게 하면 컨덴서의 고용량화를 만족할 수 있는 값으로 되지 않을 우려가 있기 때문이다.The thickness of the dielectric layer 330 is 0.5 micrometer-10 micrometers, for example. This is because if the thickness of the dielectric layer 330 is smaller than 0.5 mu m, the insulation resistance of the capacitor may deteriorate. On the other hand, if the thickness of the dielectric layer 330 is larger than 10 mu m, the capacitor may not be a value that can satisfy the high capacity of the capacitor.

컨덴서(350)끼리의 거리, 예를 들면 컨덴서(350a)의 제2 전극(320)과 컨덴서(350b)의 제1 전극(310)의 거리(즉, 접착제(340)가 형성하는 접착제층의 두께)는, 예를 들면 2∼12㎛이다. 2㎛보다도 작으면 컨덴서(350) 사이에 충전되는 접착제(340)의 양이 불충분해져, 컨덴서(350)끼리의 접착력이 약해질 가능성이 있기 때문이다. 또한, 접착제(340)의 두께가 얇으면, 컨덴서 사이(350a와 350b 사이나 350b와 350c 사이)에서 절연 저항이 작아질 가능성이 있기 때문이다. 한편, 12㎛보다도 커지면, 컨덴서 적층체(450)의 두께가 증대함으로써 배선 기판(900)의 미세한 배선 구조를 저해할 우려가 있기 때문이다.The distance between the capacitors 350, for example, the distance between the second electrode 320 of the capacitor 350a and the first electrode 310 of the capacitor 350b (that is, the thickness of the adhesive layer formed by the adhesive 340). ) Is 2 to 12 µm, for example. This is because if it is smaller than 2 µm, the amount of the adhesive 340 filled between the capacitors 350 becomes insufficient, and the adhesive force between the capacitors 350 may be weakened. This is because, if the thickness of the adhesive 340 is thin, there is a possibility that the insulation resistance becomes small between the capacitors (between 350a and 350b or between 350b and 350c). On the other hand, when larger than 12 micrometers, since the thickness of the capacitor | condenser laminated body 450 increases, there exists a possibility that the fine wiring structure of the wiring board 900 may be inhibited.

유전체층(330)은 세라믹제의 유전체층이다. 유전체층(330)은, 예를 들면 티탄산 바륨(BaTiO3)으로 형성된다. 또한, 유전체층(330)에는, 열가소성 수지 혹은 열경화성 수지에 유전성 필러를 함유하는 것을 이용할 수 있다. 열가소성 수지는 예를 들면 폴리에스테르, 열경화성 수지는 예를 들면 페놀 수지를 사용할 수 있다. 유전성 필러는 예를 들면 티탄산 스트론튬(SrTiO3)으로 형성된다.The dielectric layer 330 is a dielectric layer made of ceramic. The dielectric layer 330 is formed of, for example, barium titanate (BaTiO 3 ). As the dielectric layer 330, one containing a dielectric filler in a thermoplastic resin or a thermosetting resin can be used. As a thermoplastic resin, a polyester, for example, a thermosetting resin can use a phenol resin, for example. The dielectric filler is formed of, for example, strontium titanate (SrTiO 3 ).

비아 도체(411)가 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 각각의 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(412)가 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 각각의 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속하고 있다.The via conductor 411 electrically connects the first electrodes 310 of the capacitors 350a, 350b, and 350c to each other. In addition, the via conductor 412 electrically connects the second electrodes 320 of the capacitors 350a, 350b, and 350c to each other.

베이스 기판(100)의 위에는 복수의 도체 패턴(도체 회로)(421(421P, 421G, 421S))이 형성되고, 제2 수지 절연층(200b)의 위에는 복수의 도체 패턴(423(423P, 423G, 423S))이 형성되어 있다. 제3 수지 절연층(200c)의 위에는 복수의 도체 패 턴(425(425P, 425G, 425S))이 형성되어 있다.A plurality of conductor patterns (conductor circuits) 421 (421P, 421G, 421S) are formed on the base substrate 100, and a plurality of conductor patterns 423 (423P, 423G,) on the second resin insulating layer 200b. 423S)). A plurality of conductor patterns 425 (425P, 425G, 425S) are formed on the third resin insulating layer 200c.

그리고, 비아 도체(411)는 도체 패턴(421P)과 도체 패턴(423P)을 전기적으로 접속하고 있다. 비아 도체(412)는 도체 패턴(421G)과 도체 패턴(423G)을 전기적으로 접속하고 있다. 비아 도체(412)에 접속되어 있는 도체 패턴(423G)은 그라운드 라인에 접속되고, 비아 도체(411)에 접속되어 있는 도체 패턴(423P)은 전원 라인에 접속된다. 비아 도체(441P)는 도체 패턴(423P)과 도체 패턴(425P)을 전기적으로 접속하고 있다. 비아 도체(441G)는 도체 패턴(423G)과 도체 패턴(425G)을 전기적으로 접속하고 있다.The via conductor 411 electrically connects the conductor pattern 421P and the conductor pattern 423P. The via conductor 412 electrically connects the conductor pattern 421G and the conductor pattern 423G. The conductor pattern 423G connected to the via conductor 412 is connected to the ground line, and the conductor pattern 423P connected to the via conductor 411 is connected to the power supply line. The via conductor 441P electrically connects the conductor pattern 423P and the conductor pattern 425P. The via conductor 441G electrically connects the conductor pattern 423G and the conductor pattern 425G.

베이스 기판(100)의 두께는 200㎛∼800㎛이다. 베이스 기판(100)은, 예를 들면 글래스 에폭시 수지로 구성된다. 글래스 에폭시 수지는 글래스 필러가 첨가된 에폭시 수지를 글래스 클로스에 함침시킨 것이다(글래스 에폭시 기판).The thickness of the base substrate 100 is 200 micrometers-800 micrometers. The base substrate 100 is made of glass epoxy resin, for example. Glass epoxy resin is the glass cloth impregnated with the epoxy resin to which the glass filler was added (glass epoxy substrate).

제1 수지 절연층(200a), 제2 수지 절연층(200b), 제3 수지 절연층(200c)의 두께는, 예를 들면 40㎛∼120㎛이다. 수지 절연층(200a, 200b, 200c)은, 예를 들면 에폭시 수지 등의 열경화성 수지로 구성된다. 수지 절연층(200a, 200b, 200c)은 글래스, 알루미나, 탄산 바륨 등의 무기 입자와 열경화성 수지로 되어 있어도 된다. 글래스 에폭시 기판에서, 글래스 클로스가 2매 겹쳐진 글래스 에폭시 기판이어도 된다.The thickness of the 1st resin insulating layer 200a, the 2nd resin insulating layer 200b, and the 3rd resin insulating layer 200c is 40 micrometers-120 micrometers, for example. The resin insulating layers 200a, 200b, and 200c are made of thermosetting resin such as epoxy resin, for example. The resin insulating layers 200a, 200b, and 200c may be made of inorganic particles such as glass, alumina, barium carbonate, and thermosetting resin. In the glass epoxy substrate, a glass epoxy substrate in which two pieces of glass cloth are stacked may be used.

배선 기판(900)은, 예를 들면 전기 신호를 도체 패턴(421S) 등을 통하여 전달하는 등의 각종 전기 신호 처리를 행할 수 있다.The wiring board 900 can perform various electric signal processing, such as transmitting an electric signal through the conductor pattern 421S etc., for example.

또한, 배선 기판(900)은 컨덴서 적층체(450)가 제1 수지 절연층(200a) 내에 형성되어 있기 때문에, 공간 절약화를 달성하면서, 노이즈를 디커플링할 수 있다.In addition, since the capacitor laminate 450 is formed in the first resin insulating layer 200a, the wiring board 900 can decouple the noise while achieving space saving.

또한, 배선 기판(900)에 실장되는 IC 칩의 근방에 컨덴서를 형성할 수 있기 때문에, IC에의 전원 공급의 지연을 방지할 수 있다.In addition, since a capacitor can be formed in the vicinity of the IC chip mounted on the wiring board 900, the delay of supplying power to the IC can be prevented.

또한, 제1 수지 절연층(200a)에 내장된 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350)를 적층시킨 것이다. 그 때문에, 각 컨덴서(350)의 유전체층(330)의 두께를 소정의 두께로 유지함으로써, 각 컨덴서(350)의 절연 저항값을 일정 정도로 유지하면서, 또한, 복수의 컨덴서(350)를 적층시키고 있기 때문에 컨덴서 적층체(450) 전체적으로 컨덴서 용량의 증대화를 달성할 수 있다. 따라서, 컨덴서 용량의 고용량화와 컨덴서의 고절연성화를 양립시킬 수 있다.In addition, the capacitor stack 450 built in the first resin insulating layer 200a is a stack of capacitors 350. Therefore, by maintaining the thickness of the dielectric layer 330 of each capacitor 350 to a predetermined thickness, the plurality of capacitors 350 are laminated while maintaining the insulation resistance value of each capacitor 350 to a certain degree. Therefore, it is possible to achieve an increase in the capacitor capacity as a whole of the capacitor stack 450. Therefore, it is possible to make both the capacitance of the capacitor high and the insulation of the capacitor high.

또한, 평판 형상의 제1 전극(310)과, 제1 전극(310)으로부터 전극의 면 방향으로 시프트된 위치에 있는 제2 전극(320)과, 유전체층(330)에 의해 컨덴서(350)를 형성하고 있다. 이와 같이, 각 컨덴서(350)의 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 어긋나게 하여 번갈아 형성하고 있기 때문에, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속하는 비아 도체(411)와 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속하는 비아 도체(412)를 형성하는 것이 용이해진다. 따라서, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 대향하고 있는 영역에 비아 도체를 형성하지 않아도 되기 때문에, 전극 면적을 크게 할 수 있어 컨덴서의 고용량화를 달성할 수 있다. 더 나아가서는, 컨덴서의 전극을 관통하는 비아 도체의 수를 적게 할 수 있기 때문에, 비아 도체의 열팽창에 기인하는 유전체층에의 크랙 발생을 최대한 억제할 수 있다.In addition, the capacitor 350 is formed by the first electrode 310 having a flat plate shape, the second electrode 320 at a position shifted from the first electrode 310 in the plane direction of the electrode, and the dielectric layer 330. Doing. As described above, since the first electrode 310 and the second electrode 320 of each capacitor 350 are alternately formed, the first electrodes 310 of the capacitors 350a, 350b, and 350c are electrically connected to each other. It is easy to form the via conductor 412 which electrically connects the via conductor 411 and the 2nd electrode 320 mutually connected. Therefore, since the via conductor does not have to be formed in the region where the first electrode 310 and the second electrode 320 face each other, the electrode area can be increased and the capacitor can be increased in capacity. Furthermore, since the number of via conductors penetrating the electrodes of the capacitor can be reduced, crack generation to the dielectric layer due to thermal expansion of the via conductor can be suppressed as much as possible.

또한, 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350)를 적층시켜 형성된다. 그 때문에, 컨덴서 적층체(450)를 형성함에 있어서, 미리 각 컨덴서(350)의 절연 저항값을 검사하고, 절연 저항이 양호한 양품의 컨덴서(350)만을 선별하여 적층시킬 수 있다. 따라서, 컨덴서 적층체(450) 전체적으로도 양품의 것을 얻을 수 있어, 컨덴서 적층체(450)의 절연 신뢰성을 확보할 수 있다. 만약, 전극과 유전체층을 번갈아 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 형성하면, 미리 각 컨덴서부의 절연 저항이 양호한지 검사하는 것은 곤란하다. 그 때문에, 컨덴서 적층체의 절연 신뢰성을 제조 단계에서 확보하는 것은 곤란하다.In addition, the capacitor stack 450 is formed by stacking the capacitor 350. Therefore, in forming the capacitor | condenser laminated body 450, the insulation resistance value of each capacitor 350 can be examined beforehand, and only the capacitor | condenser 350 of the good quality with favorable insulation resistance can be selected and laminated | stacked. Therefore, a good thing can also be obtained as a whole of the capacitor | condenser laminated body 450, and the insulation reliability of the capacitor laminated body 450 can be ensured. If the capacitor laminate is formed by alternately stacking the electrode and the dielectric layer, it is difficult to check whether the insulation resistance of each capacitor portion is good in advance. Therefore, it is difficult to ensure the insulation reliability of a capacitor | condenser laminated body at a manufacturing stage.

그리고, 수지 절연층(200a)에 내장된 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350)를 수지 등의 접착제(340)를 개재시켜 적층시키고 있다. 접착제(340)에 사용되는 수지의 열팽창 계수와 수지 절연층(200a)의 열팽창 계수는 동일한 값의 재료를 사용하는 것도 가능하며, 그 때문에 컨덴서 적층체(450) 전체의 열팽창 계수는 수지 절연층(200a)의 열팽창 계수에 근접시킬 수 있다. 따라서, 컨덴서 적층체(450)에 열이 가해졌다고 하여도, 수지 절연층(200a)과 컨덴서 적층체(450)의 계면에서 균열이 발생할 가능성은 낮다. 그 때문에, 유전체층(330)에 크랙이 생기기 어렵다.The capacitor laminate 450 embedded in the resin insulating layer 200a is laminated with the capacitor 350 via an adhesive 340 such as resin. The coefficient of thermal expansion of the resin used for the adhesive 340 and the coefficient of thermal expansion of the resin insulating layer 200a may be made of the same material. Therefore, the coefficient of thermal expansion of the entire capacitor laminate 450 is determined by the resin insulating layer ( The thermal expansion coefficient of 200a) can be approximated. Therefore, even if heat is applied to the capacitor stack 450, the possibility of cracking at the interface between the resin insulating layer 200a and the capacitor stack 450 is low. For this reason, cracks are less likely to occur in the dielectric layer 330.

<본 발명의 제1 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 1st Embodiment of this invention>

우선, 두께 5㎛의 구리로 이루어지는 제1 전극(310)에, BaTiO3으로 이루어지는 고유전체 재료를 닥터 블레이드 등의 인쇄기를 이용하여, 두께 5∼10㎛의 박막 형상으로 인쇄하여 미소성층을 형성한다. 또한, 더 얇은 유전체층(0.5∼5㎛)을 형 성하기 위해서는 후술하는 졸겔법이나 스퍼터링법 등을 이용할 수 있다.First, the high electrode material made of BaTiO 3 is printed on a first electrode 310 made of copper having a thickness of 5 μm using a printing machine such as a doctor blade to form a thin film having a thickness of 5 to 10 μm to form an unbaked layer. . In addition, in order to form a thinner dielectric layer (0.5-5 micrometers), the sol-gel method, sputtering method, etc. which are mentioned later can be used.

다음으로, 미소성층을 진공 중 또는 N2 가스 등의 비산화 분위기에서 600∼950℃의 온도 범위로 소성하여 유전체층(330)으로 한다. 그 후, 스퍼터 등의 진공 증착 장치를 이용하여 유전체층(330)의 위에 구리로 이루어지는 금속층을 형성하고, 또한 이 금속층 위에 전해 도금 등에 의해 구리를 5㎛ 정도 더함으로써, 제2 전극(320)을 형성한다. 이와 같이 하여, 도 2a에 도시한 바와 같이, BaTiO3으로 형성되는 유전체층(330)을, 구리로 형성된 제1 전극(310)과 제2 전극(320)의 사이에 끼우는 컨덴서가 얻어진다.Next, the unbaked layer is baked in a non-oxidizing atmosphere such as vacuum or N 2 gas at a temperature range of 600 to 950 ° C. to obtain the dielectric layer 330. Thereafter, a metal layer made of copper is formed on the dielectric layer 330 using a vacuum deposition apparatus such as a sputter, and the second electrode 320 is formed by adding about 5 μm of copper on the metal layer by electroplating or the like. do. In this way, as shown in FIG. 2A, a capacitor is obtained which sandwiches the dielectric layer 330 formed of BaTiO 3 between the first electrode 310 and the second electrode 320 made of copper.

다음으로, 도 2b에 도시한 바와 같이, 염화제2구리 에칭 용액을 이용하여 에칭 처리에 의해 제1 전극(310) 및 제2 전극(320)의 필요 부분 이외를 제거함으로써, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 면 방향(즉, 수평 방향)으로 어긋난 위치로 되도록 형성하여 컨덴서(350)의 단체를 형성한다. 이러한 경우, 유전체층(330)의 상하에 있는 제1 전극(310)과 제2 전극(320)의 겹침은 0.4∼1.0㎠ 정도이도록, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 수평 방향으로 어긋나게 한다. 또한, 에칭 처리에 의해, 제1 전극(310)에 얼라인먼트 마크(710)를 형성하고, 또한, 제2 전극(320)에 얼라인먼트 마크(720)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 2B, the first electrode 310 is removed by removing the necessary portions of the first electrode 310 and the second electrode 320 by an etching process using a cupric chloride etching solution. ) And the second electrode 320 are formed to be in a position shifted in the plane direction (ie, the horizontal direction) to form a single unit of the capacitor 350. In this case, the overlap between the first electrode 310 and the second electrode 320 above and below the dielectric layer 330 is about 0.4 to 1.0 cm 2, so that the first electrode 310 and the second electrode 320 are in a horizontal direction. To shift. In addition, the alignment mark 710 is formed in the 1st electrode 310 by the etching process, and the alignment mark 720 is formed in the 2nd electrode 320 further.

다음으로, 도 2c에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 연직 방향으로 3개 적층시킨다. 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 적층시킬 때에는, 컨덴서(350)끼리의 사이에 접착제로서의 에폭시 수지를 개재시킨다. 단체의 컨덴 서(350a, 350b, 350c)끼리는, 각 컨덴서에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크(710) 또는 얼라인먼트 마크(720)를 기준으로 하여 위치 맞춤이 이루어진다.Next, as shown in Fig. 2C, three capacitors 350a, 350b and 350c are laminated in the vertical direction. When the capacitors 350a, 350b, and 350c are laminated, an epoxy resin as an adhesive is interposed between the capacitors 350. The single capacitors 350a, 350b, and 350c are aligned with respect to the alignment mark 710 or the alignment mark 720 formed in each capacitor.

그리고, 도 2d에 도시한 바와 같이, 3개의 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 각각의 컨덴서의 사이에 접착제(340)를 개재시킨 상태에서 컨덴서 적층체(450)를 얻는다.As shown in FIG. 2D, the capacitor stack 450 is obtained with the three capacitors 350a, 350b, 350c interposed between the capacitors with the adhesive 340.

다음으로, 도 2e에 도시한 바와 같이, 얼라인먼트 마크(730)가 형성되어 있는 베이스 기판(코어 기판)(100) 위에, 진공 라미네이터를 이용하여 열경화성의 수지 필름을 온도 50∼170℃, 압력 0.4∼1.5㎫이라는 라미네이트 조건으로 점착시킨다. 베이스 기판(100) 위에는 도체 패턴(421(421P, 421G, 421S))이 형성되어 있다. 베이스 기판(100)은 두께 0.6㎜의 글래스 에폭시 기판이다. 점착시킬 때의 열경화성의 수지 필름은 반경화 상태이지만, 경화시킴으로써 제1 수지 절연층(하층의 수지 절연층)(200a)으로 된다. 수지 필름으로서는 예를 들면 아지노모토사 제조의 ABF-45SH를 2매 이용할 수 있다.Next, as shown in FIG. 2E, on the base substrate (core substrate) 100 on which the alignment mark 730 is formed, a thermosetting resin film is used at a temperature of 50 to 170 ° C. and a pressure of 0.4 to 50 ° C. using a vacuum laminator. Adhesion is carried out under a laminate condition of 1.5 MPa. Conductor patterns 421 (421P, 421G, and 421S) are formed on the base substrate 100. The base substrate 100 is a glass epoxy substrate having a thickness of 0.6 mm. Although the thermosetting resin film at the time of sticking is a semi-cured state, it becomes a 1st resin insulating layer (lower resin insulating layer) 200a by hardening. As a resin film, two sheets of ABF-45SH by Ajinomoto Co., Ltd. can be used, for example.

다음으로, 도 2f에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 반경화 상태의 제1 수지 절연층(200a) 위에 위치 맞춤하여 적층시킨다. 양자의 위치 맞춤은, 컨덴서 적층체(450) 중 컨덴서(350a)에 있는 얼라인먼트 마크(710)와, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730)를 카메라로 인식하여 행한다. 혹은, 컨덴서 적층체(450) 중 컨덴서(350c)에 있는 얼라인먼트 마크(720)와, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730)를 카메라로 인식하여 행한다. 얼라인먼트 마크(710)와 얼라인먼트 마크(720)는 어느 한쪽만이 형성되어 있어도 되고, 또한 모두 형성되어 있어 도 된다.Next, as shown in FIG. 2F, the capacitor laminate 450 is positioned and laminated on the first resin insulating layer 200a in a semi-cured state. Positioning of both is performed by recognizing the alignment mark 710 in the capacitor 350a and the alignment mark 730 of the base substrate 100 among the capacitor stack 450. Alternatively, the alignment mark 720 in the capacitor 350c and the alignment mark 730 of the base substrate 100 are recognized by the camera in the capacitor stack 450. Only one of the alignment marks 710 and the alignment marks 720 may be formed, or both may be formed.

그 후, 도 2g에 도시한 바와 같이, 0.4㎫, 170℃, 2시간의 프레스 조건으로 진공 프레스하여, 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연층(200a)에 매설시킴과 함께, 제1 수지 절연층(200a)을 경화시킨다. 컨덴서 적층체(450)는, 컨덴서 적층체(450)의 상면과 제1 수지 절연층(200a)의 상면이 동일한 면으로 되도록 제1 수지 절연층(200a)에 매설된다.After that, as shown in FIG. 2G, the vacuum press is performed under a press condition of 0.4 MPa, 170 ° C. for 2 hours, and the capacitor laminate 450 is embedded in the first resin insulating layer 200a, and the first is pressed. The resin insulating layer 200a is cured. The capacitor laminate 450 is embedded in the first resin insulating layer 200a so that the upper surface of the capacitor laminate 450 and the upper surface of the first resin insulating layer 200a are the same surface.

또한, 컨덴서 적층체는, 도 2h에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350c)의 일부를 매설시킨 상태에서 제1 수지 절연층(200a)에 적층시키는 것도 가능하다. 이러한 경우에도, 컨덴서 적층체(450)의 컨덴서(350c)에 형성된 얼라인먼트 마크(720) 혹은 컨덴서(350a)에 형성된 얼라인먼트 마크(710)와, 베이스 기판(100) 위에 형성된 얼라인먼트 마크(730)를, 컨덴서 적층체(450)와 제1 수지 절연층(200a)의 위치 맞춤을 위한 표지로 한다.In addition, as shown in FIG. 2H, the capacitor laminate may be laminated on the first resin insulating layer 200a in a state where a part of the capacitor 350c is embedded. Even in this case, the alignment mark 720 formed on the capacitor 350c of the capacitor stack 450 or the alignment mark 710 formed on the capacitor 350a, and the alignment mark 730 formed on the base substrate 100, A cover for positioning the capacitor stack 450 and the first resin insulating layer 200a.

다음으로, 도 2i에 도시한 바와 같이, 제1 수지 절연층(200a) 및 컨덴서 적층체(450) 위에 진공 라미네이터를 이용하여 수지 필름을 온도 50∼170℃, 압력 0.4∼1.5㎫이라는 라미네이트 조건으로 점착시킨다. 수지 필름은 예를 들면 아지노모토사 제조의 ABF-45SH를 이용할 수 있다. 그 후, 170℃에서 2시간 열처리함으로써 수지 필름은 경화되어 제2 수지 절연층(상층의 수지 절연층)(200b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2I, the resin film is laminated on the first resin insulating layer 200a and the capacitor laminate 450 using a vacuum laminator under a temperature of 50 to 170 ° C. and a pressure of 0.4 to 1.5 MPa. Stick. As the resin film, ABF-45SH manufactured by Ajinomoto Co., Ltd. can be used. Thereafter, the resin film is cured by heat treatment at 170 ° C. for 2 hours to form a second resin insulating layer (upper resin insulating layer) 200b.

다음으로, 도 2j에 도시한 바와 같이, 탄산 가스 레이저에 의해, 제2 수지 절연층(200b), 제1 수지 절연층(200a) 및 컨덴서 적층체(450)를 관통하고, 베이스 기판(100) 위의 도체 패턴(421)(전원용 도체 패턴(421P), 그라운드용 도체 패턴(421G), 신호용 도체 패턴(421S))에 도달하는 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2J, the base substrate 100 is penetrated through the second resin insulating layer 200b, the first resin insulating layer 200a, and the capacitor laminate 450 by a carbon dioxide laser. Through-holes 470 (470P, 470G, 470S) reaching the above conductor pattern 421 (power conductor pattern 421P, ground conductor pattern 421G, signal conductor pattern 421S) are formed.

관통 구멍(470P)은 전원용 도체 패턴(421P)에 도달하는 전원용 관통 구멍이다. 관통 구멍(470G)은 그라운드용 도체 패턴(421G)에 도달하는 그라운드용 관통 구멍이다. 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))의 직경은 20∼100㎛이다. 또한, 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))은 탄산 가스 레이저가 아니라, 드릴로 형성하는 것도 가능하다. 여기서, 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))의 위치는, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730), 컨덴서 적층체(450)에서의 컨덴서(350a)의 얼라인먼트 마크(710), 컨덴서 적층체(450)에서의 컨덴서(350c)의 얼라인먼트 마크(720) 중 어느 하나를 카메라 또는 X선으로 인식하여 결정된다.The through hole 470P is a power supply through hole that reaches the power conductor pattern 421P. The through hole 470G is a ground through hole that reaches the ground conductor pattern 421G. The diameter of the through holes 470 (470P, 470G, 470S) is 20 to 100 µm. The through holes 470 (470P, 470G, 470S) can also be formed by a drill, not a carbon dioxide gas laser. Here, the position of the through hole 470 (470P, 470G, 470S) is the alignment mark 730 of the base substrate 100, the alignment mark 710 of the capacitor 350a in the capacitor stack 450, and the capacitor. It is determined by recognizing any one of the alignment marks 720 of the capacitor 350c in the laminated body 450 with a camera or X-rays.

평면도인 도 2k 및 도 2l에 도시된 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)의 겹침 부분에서 컨덴서가 형성된다. 도 2k에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 횡방향으로만 어긋나 있는 것도 가능하고, 또한 도 2l에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 횡방향 및 종방향으로 어긋나 있는 것도 가능하다. 또한, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 겹쳐 있는 부분은 사선으로 나타내고 있다. 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 서로 면 방향으로 평행하게 어긋나 있어, 겹쳐 있지 않은 부분이 존재하고 있다. 겹치지 않은 부분에 관통 구멍(470P, 470G)이 형성되어 있다. 이와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 대향하는 부분에는 관통 구멍(470P, 470G)이 형성되어 있지 않기 때문 에, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 대향하는 면적을 크게 할 수 있다. 전원용 관통 구멍(470P)은 제1 전극(310)(전원용 전극)과 접하고 있지만, 제2 전극(320)(그라운드용 전극)과는 접하고 있지 않다. 그라운드용 관통 구멍(470G)은 제2 전극(320)과 접하고 있지만, 제1 전극(310)과는 접하고 있지 않다.As shown in FIGS. 2K and 2L, which are plan views, a capacitor is formed at an overlapping portion of the first electrode 310 and the second electrode 320. As shown in FIG. 2K, the first electrode 310 and the second electrode 320 may be shifted only in the lateral direction, and as shown in FIG. 2L, the first electrode 310 and the second electrode may be shifted. The electrode 320 can also be shifted in the transverse direction and the longitudinal direction. In addition, the part where the 1st electrode 310 and the 2nd electrode 320 overlap is shown with the diagonal line. The first electrode 310 and the second electrode 320 are shifted in parallel to each other in the plane direction, and portions which do not overlap exist. The through holes 470P and 470G are formed in the part which does not overlap. As described above, since the through holes 470P and 470G are not formed in the portion where the first electrode 310 and the second electrode 320 face each other, the first electrode 310 and the second electrode 320 are not formed. The opposing area can be enlarged. The power supply through hole 470P is in contact with the first electrode 310 (power supply electrode), but is not in contact with the second electrode 320 (ground electrode). The ground through hole 470G is in contact with the second electrode 320 but is not in contact with the first electrode 310.

도 2j에 도시한 바와 같이, 관통 구멍(470P, 470G) 이외에 신호용 도체 패턴에 도달하는 신호용 관통 구멍(470S)이 형성된다. 신호용 관통 구멍(470S)은 컨덴서 적층체(450)가 존재하지 않는 영역에 형성된다.As shown in Fig. 2J, in addition to the through holes 470P and 470G, signal through holes 470S reaching the signal conductor pattern are formed. The signal through hole 470S is formed in a region where the capacitor stack 450 does not exist.

다음으로, 제2 수지 절연층(200b)의 표면에 촉매에 의한 표면 처리를 행한다.Next, surface treatment with a catalyst is performed on the surface of the second resin insulating layer 200b.

다음으로, 제2 수지 절연층(200b)의 표면과 관통 구멍(470P, 470G, 470S)의 내벽면에 무전해 도금막(무전해 구리 도금막)을 형성한다. 그 후, 무전해 도금막 위에 전해 도금막(전해 구리 도금막)을 형성한다. 이어서, 전해 도금막 위에 에칭 레지스트를 형성한다. 그 후, 노광ㆍ현상 공정을 거쳐 에칭 레지스트를 패턴화한다. 또한, 이와 같이 수지층 위의 패턴을 형성하는 부분 및 관통 구멍 도금을 보호하는 부분을 레지스트로 덮는 포토리소그래피 수법은 텐팅법이라 불린다. 그리고, 에칭 레지스트가 형성되어 있지 않은 부분의 전해 도금막과 무전해 도금막을 에칭 제거함으로써, 도 2m에 도시한 바와 같이, 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))과 비아 도체(411, 412, 413)를 형성한다.Next, an electroless plating film (electroless copper plating film) is formed on the surface of the second resin insulating layer 200b and the inner wall surfaces of the through holes 470P, 470G, and 470S. Thereafter, an electrolytic plating film (electrolytic copper plating film) is formed on the electroless plating film. Subsequently, an etching resist is formed on an electroplating film. Thereafter, the etching resist is patterned through the exposure and development steps. Moreover, the photolithographic method which covers the part which forms the pattern on a resin layer, and the part which protects through-hole plating with a resist in this way is called a tenting method. Then, by etching away the electrolytic plating film and the electroless plating film of the portion where the etching resist is not formed, as shown in Fig. 2M, the conductor pattern 423 (power supply pattern 423P, grounding conductor pattern 423G). ), The signal conductor pattern 423S) and the via conductors 411, 412, and 413 are formed.

비아 도체(411)는 전원용 비아 도체이며, 도 2m에 도시한 바와 같이, 컨덴 서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(412)는 그라운드용 비아 도체이며, 도 2m에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속하고 있다.The via conductor 411 is a via conductor for a power supply, and as shown in FIG. 2M, the capacitor 350a, the capacitor 350b, and the first electrodes 310 of the capacitor 350c are electrically connected to each other. In addition, the via conductor 412 is a ground via conductor, and as shown in FIG. 2M, the second electrodes 320 of the capacitor 350a, the capacitor 350b, and the capacitor 350c are electrically connected to each other. .

전원용 비아 도체(411)는, 베이스 기판(100) 위의 전원용 도체 패턴(421P)과 제2 수지 절연층(200b) 위의 전원용 도체 패턴(423P)을 접속하고 있다. 또한, 그라운드용 비아 도체(412)는, 베이스 기판(100) 위의 그라운드용 도체 패턴(421G)과 제2 수지 절연층(200b) 위의 그라운드용 도체 패턴(423G)을 접속하고 있다.The power supply via conductor 411 connects the power supply conductor pattern 421P on the base substrate 100 with the power supply conductor pattern 423P on the second resin insulating layer 200b. The ground via conductor 412 connects the ground conductor pattern 421G on the base substrate 100 and the ground conductor pattern 423G on the second resin insulating layer 200b.

다음으로, 도 2n에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(200b)과 도체 패턴(423(423P, 423G, 423S)) 위에 제3 수지 절연층(200c)을 형성한다. 제3 수지 절연층(200c)의 재질은 제2 수지 절연층(200b) 및 제1 수지 절연층(200a)과 동일하다.Next, as shown in FIG. 2N, a third resin insulating layer 200c is formed on the second resin insulating layer 200b and the conductor patterns 423 (423P, 423G, and 423S). The material of the third resin insulating layer 200c is the same as that of the second resin insulating layer 200b and the first resin insulating layer 200a.

다음으로, 제3 수지 절연층(200c)에 탄산 가스 레이저에 의해 관통 구멍을 형성한다. 또한, 관통 구멍은 드릴로 형성하는 것도 가능하다.Next, a through hole is formed in the third resin insulating layer 200c by a carbon dioxide gas laser. The through hole can also be formed by a drill.

다음으로, 제3 수지 절연층(200c)의 표면에 촉매에 의한 표면 처리를 행한다. 촉매에 의한 표면 처리 후, 기판의 표면에 무전해 도금막을 형성한다. 그 후, 무전해 도금막 위에 도금 레지스트를 형성한다. 이어서, 도금 레지스트에 노광ㆍ현상 처리를 행하여 도금 레지스트를 패터닝한다. 그리고, 도금 레지스트의 비형성 영역에 전해 도금막을 형성한다. 도금 레지스트 박리 후, 전해 도금막 사이의 무전해 도금막을 제거함으로써, 도 2o에 도시한 바와 같이, 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위에 형성되어 있는 전해 도금막으로 이루어지는 최외의 도체 패턴(425)(최외의 전원용 도체 패턴(425P), 최외의 그라운드용 도체 패턴(425G), 최외의 신호용 도체 패턴(425S))을 형성한다.Next, surface treatment with a catalyst is performed on the surface of the third resin insulating layer 200c. After surface treatment with a catalyst, an electroless plated film is formed on the surface of the substrate. Thereafter, a plating resist is formed on the electroless plating film. Subsequently, the plating resist is exposed and developed to pattern the plating resist. Then, an electroplating film is formed in the non-forming region of the plating resist. After the plating resist is peeled off, the electroless plating film between the electroplating films is removed, so that the outermost conductor pattern 425 made of the electroless plating film and the electroplating film formed on the electroless plating film as shown in FIG. 2O. ) (The outermost conductor pattern 425P, the outermost ground conductor pattern 425G, and the outermost signal conductor pattern 425S) are formed.

다음으로, 제3 수지 절연층(200c)과 최외의 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S)) 위에 솔더 레지스트(700)를 형성한다. 그 후, 도 2p에 도시한 바와 같이, 솔더 레지스트(700)에 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S))의 일부를 노출시키는 개구부를 형성하여 패드(427)(전원용 패드(제1 외부 단자)(427P), 그라운드용 패드(제2 외부 단자)(427G), 신호용 패드(427S))를 형성한다. 개구부에 의해 노출되어 있는 부분이 패드(427(427P, 427G, 427S))로 된다.Next, a solder resist 700 is formed on the third resin insulating layer 200c and the outermost conductor patterns 425 (425P, 425G, 425S). Thereafter, as shown in FIG. 2P, an opening is formed in the solder resist 700 to expose a portion of the conductor patterns 425 (425P, 425G, and 425S) to form a pad 427 (pad for power supply (first external terminal). 427P), a ground pad (second external terminal) 427G, and a signal pad 427S. The part exposed by the opening portion becomes the pads 427 (427P, 427G, 427S).

도 2p에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 전원용 패드(427P)는 비아 도체(411)와 도체 패턴(423P)과 비아 도체(441P)를 통하여 접속되어 있다. 또한, 제2 전극(320)과 그라운드용 패드(427G)는 비아 도체(412)와 도체 패턴(423G)과 비아 도체(441G)를 통하여 접속되어 있다.As shown in FIG. 2P, the first electrode 310 and the power pad 427P are connected via the via conductor 411, the conductor pattern 423P, and the via conductor 441P. The second electrode 320 and the ground pad 427G are connected via the via conductor 412, the conductor pattern 423G, and the via conductor 441G.

다음으로, 패드(427(427P, 427G, 427S)) 위에 내식성 있는 금속막을 형성하였다. 금속막으로서는, 예를 들면 Ni, Au, Pd, Ag, Pt 등으로 이루어지는 막을 형성할 수 있다. 본 실시 형태에서는, Ni막, Pd막, Au막의 순서로 형성한다. 또한, 금속막은 1층이어도 되고, 복수의 금속막으로 이루어져도 된다. 예를 들면, 패드 위에 Ni막, Au막의 순서로 형성할 수 있다.Next, a corrosion resistant metal film was formed on the pads 427 (427P, 427G, and 427S). As a metal film, the film which consists of Ni, Au, Pd, Ag, Pt etc. can be formed, for example. In this embodiment, Ni films, Pd films, and Au films are formed in this order. In addition, one layer of a metal film may be sufficient, and it may consist of a some metal film. For example, it can form in order of a Ni film and Au film on a pad.

다음으로, 금속막 위에 땜납 페이스트를 인쇄한다. 그 후, 리플로우하여 땜납 범프(429)를 형성함으로써, 도 1에 도시한 배선 기판(900)을 얻을 수 있다.Next, a solder paste is printed on the metal film. Thereafter, by reflowing to form the solder bumps 429, the wiring board 900 shown in FIG. 1 can be obtained.

그리고, IC 칩(800)을 실장하는 경우는, 도 2q에 도시한 바와 같이, 땜납 범프(429)를 통하여 IC 칩(800)의 실장을 행한다.When the IC chip 800 is mounted, as shown in FIG. 2Q, the IC chip 800 is mounted through the solder bumps 429.

또한, 본 실시 형태에서는 베이스 기판(100)의 한쪽 면에만 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하고 있지만, 도 2r에 도시한 바와 같이, 베이스 기판(100)의 양면에 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하는 것도 가능하다.In addition, in this embodiment, the resin insulating layer, the conductor pattern, and the via conductor are formed only on one side of the base substrate 100, but as shown in FIG. 2R, the resin insulating layer and the conductor are formed on both sides of the base substrate 100. It is also possible to form patterns and via conductors.

또한, 수지 절연층(200a, 200b, 200c)의 표면, 도체 패턴(421, 423, 425)의 표면, 제1 전극(310)의 표면, 제2 전극(320)의 표면은 조면화하는 것이 바람직하다. 또한,IC 칩(800)을 배선 기판(900)의 표면에 탑재할 때는, 컨덴서 적층체(450)와 IC 칩(800) 사이의 거리를 가깝게 하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable to roughen the surface of the resin insulating layers 200a, 200b, and 200c, the surface of the conductor patterns 421, 423, and 425, the surface of the first electrode 310, and the surface of the second electrode 320. Do. In addition, when mounting the IC chip 800 on the surface of the wiring board 900, it is preferable to close the distance between the capacitor stack 450 and the IC chip 800.

<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제2 실시 형태><2nd embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>

제1 실시 형태에서는, 수지 절연층(200)은 제1 수지 절연층(200a)과 제2 수지 절연층(200b)과 제3 수지 절연층(200c)에 의해 형성되었다. 제2 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 도 3에 도시한 바와 같이, 제1 실시 형태와 달리, 수지 절연층(200)은 제1 수지 절연층(200a)과 제2 수지 절연층(200b)에 의해 형성된다.In the first embodiment, the resin insulating layer 200 was formed of the first resin insulating layer 200a, the second resin insulating layer 200b, and the third resin insulating layer 200c. As shown in FIG. 3, the wiring board 900 according to the second embodiment differs from the first embodiment in that the resin insulating layer 200 includes the first resin insulating layer 200a and the second resin insulating layer ( 200b).

또한, 컨덴서 적층체(450)의 최상층에 위치하는 전극은, 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)과 그 제1 전극(310) 위의 전원용 도체 패턴(423P)이 일체로 되어 형성되어 있다. 그 때문에, 제2 실시 형태에 따른 배선 기판(900)에서는, 컨덴서 적층체(450)의 표층에 있는 전극의 두께가 제1 실시 형태에 따른 배선 기판(900)보다도 두껍다. 그 때문에, 컨덴서 적층체(450)의 강성이 증가한다. 따라서, 컨덴서 적 층체(450)의 유전체층에 크랙이 생기기 어려워진다.The electrode located on the uppermost layer of the capacitor stack 450 is formed by integrating the first electrode 310 of the capacitor 350a and the power conductor pattern 423P on the first electrode 310. . Therefore, in the wiring board 900 which concerns on 2nd Embodiment, the thickness of the electrode in the surface layer of the capacitor laminated body 450 is thicker than the wiring board 900 which concerns on 1st Embodiment. Therefore, the rigidity of the capacitor stack 450 is increased. Therefore, cracks are less likely to occur in the dielectric layer of the capacitor stack 450.

도 3에 도시한 바와 같이, 전원용 패드(제1 외부 단자)(427P)와 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)은, 비아 도체(441P)와 도체 패턴(423P)과 비아 도체(411)를 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 그라운드용 패드(제2 외부 단자)(427G)와 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제2 전극(320)은, 비아 도체(441G)와 도체 패턴(423G)과 비아 도체(412)를 통하여 전기적으로 접속되어 있다.As shown in FIG. 3, the power supply pad (first external terminal) 427P and the first electrodes 310 of the capacitors 350a, 350b, and 350c include the via conductor 441P and the conductor pattern 423P. It is electrically connected via the via conductor 411. The ground pad (second external terminal) 427G and the second electrodes 320 of the capacitors 350a, 350b, and 350c are connected via the via conductor 441G, the conductor pattern 423G, and the via conductor 412. It is electrically connected.

제2 수지 절연층(200b)의 위에는 최외의 전원용 도체 패턴(425P)과, 최외의 그라운드용 도체 패턴(425G)과, 최외의 신호용 도체 패턴(425S)이 형성되어 있다.On the second resin insulating layer 200b, an outermost power conductor pattern 425P, an outermost ground conductor pattern 425G, and an outermost signal conductor pattern 425S are formed.

솔더 레지스트(700)에, 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S))의 일부를 노출시키는 개구부를 형성하여 패드(427)(전원용 패드(제1 외부 단자)(427P), 그라운드용 패드(제2 외부 단자)(427G), 신호용 패드(427S))가 형성되어 있다.An opening is formed in the solder resist 700 to expose a part of the conductor patterns 425 (425P, 425G, and 425S) to form a pad 427 (power pad (first external terminal) 427P) and a ground pad (made of 2 external terminals) 427G and signal pads 427S are formed.

<본 발명의 제2 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 2nd Embodiment of this invention>

다음으로, 제2 실시 형태에 따른 배선 기판의 다른 제조 방법을 나타낸다.Next, another manufacturing method of the wiring board which concerns on 2nd Embodiment is shown.

우선, 도 2a부터 도 2g까지는 전술한 배선 기판의 제조 방법과 마찬가지이다.First, from FIG. 2A to FIG. 2G, it is the same as the manufacturing method of the wiring board mentioned above.

다음으로, 도 2g까지의 공정에서 제조한 기판에, 도 4a에 도시한 바와 같이, 관통 구멍(470)(코어 기판 위의 전원용 도체 패턴에 도달하고 있는 관통 구멍(470P), 코어 기판 위의 그라운드용 도체 패턴에 도달하고 있는 관통 구멍(470G), 코어 기판 위의 신호용 도체 패턴에 도달하고 있는 관통 구멍(470S))을 형성한다. 제1 실시 형태에 따른 제조 방법에서는 제2 수지 절연층(200b)에도 동 시에 관통 구멍을 형성하였지만, 본 실시 형태에 따른 제조 방법에서는 컨덴서 적층체(450)와 제1 수지 절연층(200a)을 관통하는 관통 구멍을 형성할 뿐이기 때문에, 구멍 가공이 용이해져 수율이 향상된다. 그리고, 관통 구멍(470)을 형성한 제1 수지 절연층(200a)의 표면에 촉매에 의해 표면 처리를 행한다.Next, as shown in FIG. 4A, the substrate manufactured in the process up to FIG. 2G is provided with a through hole 470 (through hole 470P reaching the conductor pattern for power supply on the core substrate, and ground on the core substrate). A through hole 470G reaching the conductive conductor pattern and a through hole 470S reaching the signal conductor pattern on the core substrate are formed. In the manufacturing method according to the first embodiment, through holes are also formed in the second resin insulating layer 200b at the same time. In the manufacturing method according to the present embodiment, the capacitor laminate 450 and the first resin insulating layer 200a are used. Since only the through hole penetrating the hole is formed, the hole processing becomes easy and the yield is improved. Then, a surface treatment is performed with a catalyst on the surface of the first resin insulating layer 200a on which the through holes 470 are formed.

다음으로, 도 4b에 도시한 바와 같이, 텐팅법에 의해 그라운드용 비아 도체(412), 전원용 비아 도체(411), 신호용 비아 도체(413)와, 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))을 형성한다.Next, as shown in Fig. 4B, the ground via conductor 412, the power via via 411, the signal via conductor 413, and the conductor pattern 423 (power supply conductor pattern 423P) by the tenting method. , The ground conductor pattern 423G, and the signal conductor pattern 423S.

도 4b에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)의 최상층에 위치하는 전극은, 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)과 그 제1 전극(310) 위의 전원용 도체 패턴(423P)이 일체로 되어 형성된다. 여기서, 컨덴서 적층체(450)의 최상층에 위치하는 전극이란, 실장되는 IC 칩(800)에 가까운 측에 위치하는 컨덴서 적층체(450)의 표층의 전극이다. 또한, 제1 전극(310) 위의 전원용 도체 패턴(423P)은, 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위의 전해 도금막으로 형성된다.As shown in FIG. 4B, the first electrode 310 of the capacitor 350a and the power supply conductor pattern 423P on the first electrode 310 of the electrode disposed on the uppermost layer of the capacitor stack 450 are formed. It is formed integrally. Here, the electrode located on the uppermost layer of the capacitor stack 450 is an electrode on the surface layer of the capacitor stack 450 located on the side closer to the IC chip 800 to be mounted. The conductor pattern 423P for power supply on the first electrode 310 is formed of an electroless plating film and an electrolytic plating film on the electroless plating film.

비아 도체(412)는 컨덴서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제2 전극(320)끼리를 접속한다. 또한, 비아 도체(412)는 베이스 기판(100) 위의 그라운드용 도체 패턴(421G)과 제1 수지 절연층(200a) 위의 그라운드용 도체 패턴(423G)을 접속하고 있다.The via conductor 412 connects the capacitor 350a, the capacitor 350b, and the second electrodes 320 of the capacitor 350c to each other. The via conductor 412 connects the ground conductor pattern 421G on the base substrate 100 and the ground conductor pattern 423G on the first resin insulating layer 200a.

비아 도체(411)는 컨덴서(350a), 컨덴서(350b), 컨덴서(350c)의 제1 전극(310)끼리를 접속한다. 또한, 비아 도체(411)는, 베이스 기판(100) 위의 전원용 도체 패턴(421P)과 제1 수지 절연층(200a) 위의 전원용 도체 패턴(423P)을 접속하고 있다.The via conductor 411 connects the capacitor 350a, the capacitor 350b, and the first electrodes 310 of the capacitor 350c to each other. The via conductor 411 connects the power supply conductor pattern 421P on the base substrate 100 with the power supply conductor pattern 423P on the first resin insulating layer 200a.

다음으로, 도 4c에 도시한 바와 같이, 제1 수지 절연층(200a), 컨덴서 적층체(450) 및 도체 패턴(423(423P, 423G, 423S)) 위에 제2 수지 절연층(200b)을 형성한다. 그리고, 제2 수지 절연층(200b)에 관통 구멍을 형성한다. 그리고, 관통 구멍을 형성한 기판의 표면에 촉매에 의해 표면 처리를 행한다.Next, as shown in FIG. 4C, the second resin insulating layer 200b is formed on the first resin insulating layer 200a, the capacitor stack 450, and the conductor patterns 423 (423P, 423G, and 423S). do. Then, a through hole is formed in the second resin insulating layer 200b. And a surface treatment is performed with a catalyst on the surface of the board | substrate which provided the through hole.

촉매에 의한 표면 처리 후, 기판의 표면에 무전해 도금막을 형성한다. 그 후, 무전해 도금막 위에 도금 레지스트를 형성한다. 이어서, 도금 레지스트에 노광ㆍ현상 처리를 행하여 도금 레지스트를 패터닝한다. 그리고, 도금 레지스트의 비형성 영역에 전해 도금막을 형성한다. 도금 레지스트 박리 후, 전해 도금막 사이의 무전해 도금막을 제거함으로써, 무전해 도금막과 무전해 도금막 위의 전해 도금막으로 이루어지는 도체 패턴(425(425P, 425G, 425S))을 형성한다. 이어서, 제1 실시 형태와 마찬가지로, 솔더 레지스트(700), 패드(427), 땜납 범프(429)를 형성함으로써 도 3에 도시한 배선 기판(900)이 얻어진다.After surface treatment with a catalyst, an electroless plated film is formed on the surface of the substrate. Thereafter, a plating resist is formed on the electroless plating film. Subsequently, the plating resist is exposed and developed to pattern the plating resist. Then, an electroplating film is formed in the non-forming region of the plating resist. After the plating resist is peeled off, the electroless plating film between the electroplating films is removed, thereby forming a conductor pattern 425 (425P, 425G, 425S) consisting of the electroless plating film and the electroplating film on the electroless plating film. Next, similarly to the first embodiment, the wiring resist 900 shown in FIG. 3 is obtained by forming the solder resist 700, the pad 427, and the solder bumps 429.

본 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법에 의하면, 제1 실시 형태에 비하여 수지 절연층을 1층 적게 제조할 수 있기 때문에 저렴한 비용으로 배선 기판(900)을 제조하는 것이 가능하다.According to the manufacturing method of the wiring board which concerns on this embodiment, since one resin insulation layer can be manufactured less compared with 1st embodiment, it is possible to manufacture the wiring board 900 at low cost.

또한, 전술한 실시 형태에서는 베이스 기판(100)의 한쪽 면에만 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하고 있지만, 도 4d에 도시한 바와 같이, 베이스 기판(100)의 양면에 수지 절연층, 도체 패턴 및 비아 도체를 형성하는 것도 가 능하다.In addition, in the above-described embodiment, the resin insulating layer, the conductor pattern, and the via conductor are formed only on one side of the base substrate 100, but as shown in FIG. 4D, the resin insulating layers, It is also possible to form conductor patterns and via conductors.

<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제3 실시 형태><3rd embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>

도 5에 본 발명의 제3 실시 형태를 나타낸다. 제3 실시 형태에서는, 제1 실시 형태와 달리, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)은 전극의 면 방향으로 서로 어긋나 있지 않다. 그리고, 제1 전극(310)에는 복수의 제1 개구부(311)가 형성되고, 제2 전극(320)에는 복수의 제2 개구부(322)가 형성되어 있다.5 shows a third embodiment of the present invention. In the third embodiment, unlike the first embodiment, the first electrode 310 and the second electrode 320 are not shifted from each other in the plane direction of the electrode. A plurality of first openings 311 are formed in the first electrode 310, and a plurality of second openings 322 are formed in the second electrode 320.

그리고, 복수의 제1 비아 도체(411)가, 제2 개구부(322)를 제2 전극(320)에 비접촉으로 관통하면서 제1 전극(310)끼리를 전기적으로 접속한다. 또한, 복수의 제2 비아 도체(412)가, 제1 개구부(311)를 제1 전극(310)에 비접촉으로 관통하면서 제2 전극(320)끼리를 전기적으로 접속한다.The plurality of first via conductors 411 electrically connect the first electrodes 310 to each other while passing the second opening portion 322 through the second electrode 320 in a non-contact manner. In addition, the plurality of second via conductors 412 electrically connect the second electrodes 320 to each other while penetrating the first opening 311 through the first electrode 310 in a non-contact manner.

이와 같이, 복수의 제1 비아 도체(411) 및 복수의 제2 비아 도체(412)가 컨덴서 적층체(450)를 관통하고 있다. 그 때문에, 제3 실시 형태에 따른 배선 기판(900)에서는, 복수의 제1 비아 도체(411) 및 복수의 제2 비아 도체(412)가 접착제(340)의 변형을 억제하는 것이 가능해져, 컨덴서 적층체(450)의 내크랙성이 향상되기 쉽다.In this manner, the plurality of first via conductors 411 and the plurality of second via conductors 412 penetrate the capacitor stack 450. Therefore, in the wiring board 900 which concerns on 3rd Embodiment, the some 1st via conductor 411 and the some 2nd via conductor 412 can suppress the deformation | transformation of the adhesive agent 340, and the capacitor The crack resistance of the laminated body 450 is easy to improve.

즉, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 유전체층(330)과, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 접착시키고 있는 접착제(340)의 열팽창 계수가 상이한 경우, 컨덴서 적층체(450)가 온도 변화를 받으면, 유전체층(330)에 휨, 뒤틀림, 구부러짐 등의 힘이 가해진다. 이러한 힘을 받으면, 세라믹제의 유전체층(330)은 얇고 또한 약하기 때문에, 크랙이 생기기 쉽다. 그러나, 본 실시 형태에서는, 복수의 제1 비아 도체(411) 및 복수의 제2 비아 도체(412)가 컨덴서 적층체(450)를 관통함으로써 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 물리적으로 연결하는 것을 막고 있기 때문에, 접착제(340)의 변형을 억제하는 것이 가능해진다. 그 때문에, 유전체층(330)에 작용하는 휨, 뒤틀림, 구부러짐 등의 힘이 작아진다.That is, when the thermal expansion coefficients of the dielectric layers 330 of the capacitors 350a, 350b, and 350c and the adhesive 340 bonding the capacitors 350a, 350b, and 350c are different from each other, the capacitor stack 450 has a temperature. When the change is received, forces such as bending, warping, and bending are applied to the dielectric layer 330. Under such a force, the ceramic dielectric layer 330 is thin and fragile, so that cracks are likely to occur. However, in the present embodiment, the plurality of first via conductors 411 and the plurality of second via conductors 412 penetrate the capacitor stack 450 to physically connect the capacitors 350a, 350b, 350c. Since it prevents that, the deformation | transformation of the adhesive agent 340 can be suppressed. As a result, forces such as bending, distortion, and bending acting on the dielectric layer 330 are reduced.

도 6a, 도 6b에 도시한 바와 같이, 전원용 비아 도체(411)와 그라운드용 비아 도체(412)는 격자 형상 또는 지그재그 형상으로 배치되어 있는 것이 바람직하다. 인접하는 전원용 비아 도체(411) 사이의 간격은 대략 동일하다. 인접하는 그라운드용 비아 도체(412) 사이의 간격은 대략 동일하다.As shown in Figs. 6A and 6B, the power via conductor 411 and the ground via conductor 412 are preferably arranged in a lattice shape or a zigzag shape. The spacing between adjacent power supply via conductors 411 is approximately equal. The spacing between adjacent ground via conductors 412 is approximately equal.

<본 발명의 제3 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 3rd embodiment of this invention>

우선, 도 7a에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과, 제2 전극(320)과, 제1 전극(310) 및 제2 전극(320) 사이에 끼워진 유전체층(330)으로 이루어지는 컨덴서(350)를 작성한다. 컨덴서(350)의 작성은 실시 형태 1과 마찬가지로 행한다.First, as shown in FIG. 7A, a capacitor including a first electrode 310, a second electrode 320, and a dielectric layer 330 sandwiched between the first electrode 310 and the second electrode 320 ( 350). The capacitor 350 is created in the same manner as in the first embodiment.

다음으로, 도 7b, 제1 전극(310) 측으로부터 컨덴서(350)를 보는 평면도인 도 7c, 및 제2 전극(320) 측으로부터 컨덴서(350)를 보는 평면도인 도 7d에 도시한 바와 같이, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)을 패터닝한다. 이 때, 동시에 얼라인먼트 마크(710, 720)도 형성한다.Next, as shown in FIG. 7B, FIG. 7C which is a plan view of the capacitor 350 from the first electrode 310 side, and FIG. 7D which is a plan view of the capacitor 350 from the second electrode 320 side, The first electrode 310 and the second electrode 320 are patterned. At this time, alignment marks 710 and 720 are also formed.

제1 전극(310)에는 개구부(311)가 형성되어 있고, 그 개구부(311) 내에 그라운드용 비아 도체(412)가 형성된다. 제1 전극(310)과 그라운드용 비아 도체(412)는 비접촉이다. 제2 전극(320)에는 개구부(322)가 형성되어 있고, 그 개구부(322) 내에 전원용 비아 도체(411)가 형성된다. 제2 전극(320)과 전원용 비아 도체(411) 는 비접촉이다.An opening 311 is formed in the first electrode 310, and a ground via conductor 412 is formed in the opening 311. The first electrode 310 and the ground via conductor 412 are noncontact. An opening 322 is formed in the second electrode 320, and a via conductor 411 for a power source is formed in the opening 322. The second electrode 320 and the via via conductor 411 for power are non-contact.

다음으로, 도 7e에 도시한 바와 같이, 앞의 공정에서 얻어진 컨덴서(350)를 3조 준비하고, 접착제(340)를 통하여 적층시킨다. 컨덴서(350a, 350b, 350c)는 각 컨덴서(350)의 얼라인먼트 마크(710, 720)에 기초하여 위치 맞춤된다.Next, as shown in FIG. 7E, three sets of capacitors 350 obtained in the previous step are prepared and laminated through the adhesive 340. The capacitors 350a, 350b, 350c are positioned based on the alignment marks 710, 720 of each capacitor 350.

다음으로, 도 7f에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a, 350b, 350c)와 각 컨덴서 사이에 배치된 접착제(340)로 이루어지는 컨덴서 적층체(450)를 작성한다. 컨덴서 적층체(450)의 작성은 진공 프레스에 의해 행한다. 진공 프레스의 조건은 온도 50∼170℃, 압력 0.4∼1.5㎫이다.Next, as shown in FIG. 7F, the capacitor stack 450 made of the capacitors 350a, 350b, 350c and the adhesive 340 disposed between the capacitors is prepared. The capacitor laminate 450 is produced by a vacuum press. The conditions of a vacuum press are the temperature of 50-170 degreeC, and a pressure of 0.4-1.5 Mpa.

컨덴서 적층체(450)를 구성하는 각 컨덴서의 개구부(311)는, 컨덴서 적층체(450)를 관통하는 비아 도체(412)에 의해, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 쇼트하지 않도록 하기 위해, 단면 방향에서 대략 동일 위치에 형성되어 있다. 즉, 도 7f에 도시한 바와 같이, 컨덴서(350a, 350b, 350c)에 형성되어 있는 개구부(311)는 단면 방향에서 겹쳐진 위치에 형성되어 있다.The opening 311 of each capacitor constituting the capacitor stack 450 is shorted by the via conductor 412 penetrating through the capacitor stack 450 and the first electrode 310 and the second electrode 320 are short-circuited. In order not to be, it is formed in substantially the same position in a cross-sectional direction. That is, as shown in FIG. 7F, the openings 311 formed in the capacitors 350a, 350b, and 350c are formed at positions overlapped in the cross-sectional direction.

컨덴서 적층체(450)를 구성하는 각 컨덴서의 개구부(322)는, 컨덴서 적층체(450)를 관통하는 비아 도체(411)에 의해, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)이 쇼트하지 않도록 하기 위해, 단면 방향에서 대략 동일 위치에 형성되어 있다. 즉, 도 7f에서는 컨덴서(350a, 350b, 350c)에 형성되어 있는 개구부(322)는 단면 방향에서 겹쳐진 위치에 형성되어 있다.The opening 322 of each capacitor constituting the capacitor stack 450 is shorted by the via conductor 411 penetrating the capacitor stack 450 so that the first electrode 310 and the second electrode 320 are short-circuited. In order not to be, it is formed in substantially the same position in a cross-sectional direction. That is, in FIG. 7F, the openings 322 formed in the capacitors 350a, 350b, and 350c are formed at positions overlapped in the cross-sectional direction.

다음으로, 도 7g에 도시한 바와 같이, 제1 수지 절연층(200a)에 컨덴서 적층체(450)를 매설한다.Next, as shown in FIG. 7G, the capacitor laminate 450 is embedded in the first resin insulating layer 200a.

다음으로, 도 7h에 도시한 바와 같이, 관통 구멍(470)(470P, 470G, 470S)을 형성한다. 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))은 컨덴서 적층체(450)와 제1 수지 절연층(200a)을 관통하고, 베이스 기판(100)의 도체 패턴(421(421P, 421G, 421S))에 도달하고 있다. 관통 구멍(470(470P, 470G, 470S))의 형성 위치는, 베이스 기판(100)의 얼라인먼트 마크(730), 컨덴서 적층체(450)에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크(710, 720) 중 어느 하나에 기초하여 레이저 가공에 의해 형성한다.Next, as shown in Fig. 7H, through holes 470 (470P, 470G, 470S) are formed. The through holes 470 (470P, 470G, and 470S) penetrate the capacitor stack 450 and the first resin insulating layer 200a, and the conductor patterns 421 (421P, 421G, and 421S) of the base substrate 100 are used. Is reaching. The formation position of the through hole 470 (470P, 470G, 470S) is in any one of the alignment mark 730 of the base substrate 100, and the alignment mark 710, 720 formed in the condenser laminated body 450. It forms by laser processing on the basis.

전원용 관통 구멍(470P)은 제1 전극(310)과 유전체층(330)을 관통한다. 또한, 전원용 관통 구멍(470P)은 제2 전극(320)의 개구부(322) 내에 형성되어 있으며, 개구부(322)의 내벽과는 비접촉이다.The power supply through hole 470P penetrates through the first electrode 310 and the dielectric layer 330. In addition, the power supply through hole 470P is formed in the opening 322 of the second electrode 320 and is not in contact with the inner wall of the opening 322.

그라운드용 관통 구멍(470G)은 제2 전극(320)과 유전체층(330)을 관통한다. 또한, 그라운드용 관통 구멍(470G)은 제1 전극(310)의 개구부(311) 내에 형성되어 있으며, 개구부(311)의 내벽과는 비접촉이다.The ground through hole 470G penetrates through the second electrode 320 and the dielectric layer 330. In addition, the ground through hole 470G is formed in the opening 311 of the first electrode 310 and is not in contact with the inner wall of the opening 311.

다음으로, 도 7i에 도시한 바와 같이, 그라운드용 비아 도체(412), 전원용 비아 도체(411), 신호용 비아 도체(413)와, 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))을 텐팅법에 의해 형성한다. 도체 패턴(423)(전원용 도체 패턴(423P), 그라운드용 도체 패턴(423G), 신호용 도체 패턴(423S))은 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위의 전해 도금막으로 이루어진다.Next, as shown in Fig. 7I, the ground via conductor 412, the power via conductor 411, the signal via conductor 413, the conductor pattern 423 (power conductor pattern 423P), the ground conductor. Pattern 423G and signal conductor pattern 423S are formed by a tenting method. The conductor pattern 423 (power conductor pattern 423P, ground conductor pattern 423G, signal conductor pattern 423S) is composed of an electroless plating film and an electrolytic plating film on the electroless plating film.

컨덴서 적층체(450)의 최상층의 전극은, 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)과 전원용 도체 패턴(423P)(제1 전극(310) 위의 무전해 도금막과 그 무전해 도금막 위의 전해 도금막)이 일체로 되어 형성되어 있다. 컨덴서 적층체(450)의 최상층의 전극이란, 실장되는 IC 칩에 가까운 측에 위치하는 컨덴서 적층체(450)의 표층의 전극이다.The electrode of the uppermost layer of the capacitor stack 450 is formed on the first electrode 310 of the capacitor 350a and the conductor pattern 423P (the first electrode 310) on the power supply and on the electroless plating film. Electrolytic plating film) is formed integrally. The electrode of the uppermost layer of the capacitor stack 450 is an electrode of the surface layer of the capacitor stack 450 located on the side close to the IC chip to be mounted.

다음으로, 비아 도체와 도체 패턴을 형성한 후, 도 4c, 도 4d에 도시한 공정을 거쳐, 도 5에 도시한 바와 같은 배선 기판(900)을 얻는다.Next, after the via conductor and the conductor pattern are formed, the wiring substrate 900 as shown in FIG. 5 is obtained through the steps shown in FIGS. 4C and 4D.

<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제4 실시 형태><4th embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>

본 발명의 제4 실시 형태에 따른 배선 기판(900)을 도 8에 도시한다. 제4 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 제1 실시 형태에 따른 배선 기판(900)과 달리, 글래스 클로스나 글래스 섬유 등의 심재를 갖고 있는 베이스 기판(코어 기판)(100)이 형성되어 있지 않다. 그 때문에, 모든 절연층을 수지 절연층(수지 필름)으로 할 수 있다. 따라서, 컨덴서 내장 기판을 얇게 할 수 있다. 제4 실시 형태에 따른 배선 기판(900)에 의하면, 외부의 전원과 배선 기판(900)에 내장되는 컨덴서 적층체(450) 사이의 거리나, 배선 기판(900)의 표면에 실장되어 있는 칩 컨덴서(도시 생략)와 컨덴서 적층체(450) 사이의 거리를 짧게 할 수 있다.The wiring board 900 concerning 4th Embodiment of this invention is shown in FIG. In the wiring board 900 according to the fourth embodiment, unlike the wiring board 900 according to the first embodiment, a base substrate (core substrate) 100 having a core material such as glass cloth or glass fiber is formed. Not. Therefore, all the insulating layers can be made into a resin insulating layer (resin film). Therefore, the capacitor embedded substrate can be made thin. According to the wiring board 900 which concerns on 4th Embodiment, the chip capacitor mounted on the surface of the wiring board 900 and the distance between the external power supply and the capacitor laminated body 450 built in the wiring board 900 is included. (Not shown) and the distance between the capacitor | condenser laminated body 450 can be shortened.

<본 발명의 제4 실시 형태에 따른 배선 기판의 제조 방법><The manufacturing method of the wiring board which concerns on 4th embodiment of this invention>

우선, 도 9a에 도시한 바와 같이, 지지판(150)을 준비한다. 지지판(150)은 예를 들면 구리판이다. 또한, 지지판(150)의 재질은, 구리판 이외에, 니켈판, 알루미늄판, 철판 등의 금속판을 이용하는 것도 가능하다.First, as shown in FIG. 9A, the support plate 150 is prepared. The support plate 150 is a copper plate, for example. In addition, the material of the support plate 150 can use metal plates, such as a nickel plate, an aluminum plate, and an iron plate, in addition to a copper plate.

다음으로, 도 9b에 도시한 바와 같이, 도금 레지스트(160)를 지지판(150) 위에 형성한다.Next, as shown in FIG. 9B, the plating resist 160 is formed on the support plate 150.

다음으로, 도 9c에 도시한 바와 같이, 노광ㆍ현상 공정을 행하여 도금 레지스트(160)를 패터닝함으로써, 도금 레지스트(160)에 복수의 개구부를 형성한다.Next, as shown in FIG. 9C, a plurality of openings are formed in the plating resist 160 by patterning the plating resist 160 by performing an exposure and development process.

다음으로, 도 9d에 도시한 바와 같이, 형성한 도금 레지스트(160)의 개구부에 금 도금막(911), 니켈 도금막(912), 구리 도금막(913)의 순서로 전해 도금을 행하여, 제1 외부 접속 단자(600)(전원용 외부 단자(제1 외부 단자)(600P), 그라운드용 외부 단자(제2 외부 단자)(600G), 신호용 외부 단자(600S))를 형성한다. 동시에, 지지판(150) 위에 얼라인먼트 마크(제1 얼라인먼트 마크)(621)를 형성한다. 또한, 금 도금막(911)과 니켈 도금막(912) 사이에 팔라듐막을 형성하는 것도 가능하다.Next, as shown in FIG. 9D, electrolytic plating is performed in the order of the gold plating film 911, the nickel plating film 912, and the copper plating film 913 in the openings of the formed plating resist 160. 1 External connection terminal 600 (external terminal (first external terminal) 600P for power supply, external terminal (second external terminal) 600G for ground, and external signal terminal 600S) for signals are formed. At the same time, an alignment mark (first alignment mark) 621 is formed on the support plate 150. It is also possible to form a palladium film between the gold plating film 911 and the nickel plating film 912.

다음으로, 도 9e에 도시한 바와 같이, 도금 레지스트(160)를 박리하고, 그리고, 수지 필름(제1 하부 수지 절연층)(400d)을 형성한다. 이 제1 하부 수지 절연층(최하층의 수지 절연)(400d)은, 도 8에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 내장하는 제1 수지 절연층(400a)의 하부에 있다. 도 9e에 도시한 바와 같이, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))는 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 최하층의 수지 절연층(제1 하부 수지 절연층)에 매설되어 있다. 또한, 제1 외부 접속 단자(600)의 표면은 최하층의 수지 절연층의 제1 면과 대략 동일 평면에 위치하고 있다.Next, as shown in FIG. 9E, the plating resist 160 is peeled off, and a resin film (first lower resin insulating layer) 400d is formed. This first lower resin insulating layer (lowest layer resin insulating) 400d is located below the first resin insulating layer 400a in which the capacitor laminate 450 is incorporated, as shown in FIG. 8. As shown in Fig. 9E, the first external connection terminal 600 (600P, 600G, 600S) has a bottom surface resin insulating layer (first lower resin) having a first surface and a second surface opposite to the first surface. Insulation layer). In addition, the surface of the 1st external connection terminal 600 is located in substantially the same plane as the 1st surface of the resin insulating layer of the lowest layer.

다음으로, 도 9f에 도시한 바와 같이, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))에 도달하는 관통 구멍을 제1 하부 수지 절연층(400d)에 형성한다.Next, as shown in FIG. 9F, a through hole reaching the first external connection terminal 600 (600P, 600G, 600S) is formed in the first lower resin insulating layer 400d.

다음으로, 도 9g에 도시한 바와 같이, 세미-애디티브법에 의해, 제1 하부 수 지 절연층(400d)의 상면(외부 단자가 형성되어 있는 면과는 반대면)에 제1 도체 패턴(610)(전원용 제1 도체 패턴(610P), 그라운드용 제1 도체 패턴(610G), 신호용 제1 도체 패턴(610S))을 형성한다.Next, as shown in Fig. 9G, the first conductor pattern (on the surface opposite to the surface on which the external terminals are formed) of the first lower resin insulating layer 400d is formed by the semi-additive method. 610 (the first conductor pattern 610P for power supply, the first conductor pattern 610G for ground, and the first conductor pattern 610S for signal) are formed.

동시에, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))와 제1 도체 패턴(610(610P, 610G, 610S))을 접속하는 제1 비아 도체(611)(전원용 제1 비아 도체(611P), 그라운드용 제1 비아 도체(611G), 신호용 제1 비아 도체(611S))를 형성한다. 이 때, 제2 얼라인먼트 마크(622)도 동시에 형성한다.At the same time, the first via conductor 611 (the first via conductor 611P for power supply) connecting the first external connection terminal 600 (600P, 600G, 600S) and the first conductor pattern 610 (610P, 610G, 610S). ), A ground first via conductor 611G, and a signal first via conductor 611S. At this time, the second alignment mark 622 is also formed at the same time.

전원용 제1 비아 도체(611P)는 제1 면 측의 전원용 외부 단자(600P)(전원용 제1 외부 단자)와 전원용 제1 도체 패턴(610P)을 접속하고 있다. 그라운드용 제1 비아 도체(611G)(그라운드용 제1 외부 단자)는 제1 면 측의 그라운드용 외부 단자(600G)와 그라운드용 제1 도체 패턴(610G)을 접속하고 있다. 신호용 제1 비아 도체(611S)(신호용 제1 외부 단자)는 제1 면 측의 신호용 외부 단자(600S)와 신호용 제1 도체 패턴(610S)을 접속하고 있다.The first via conductor 611P for power supply connects the external terminal 600P for power supply (the first external terminal for power supply) and the first conductor pattern 610P for power supply on the first surface side. The ground first via conductor 611G (ground first external terminal) connects the ground external terminal 600G on the first surface side with the ground first conductor pattern 610G. The signal first via conductor 611S (signal first external terminal) connects the signal external terminal 600S on the first surface side with the signal first conductor pattern 610S.

다음으로, 도 9h에 도시한 바와 같이, 제1 도체 패턴(610(610P, 610G, 610S))과 제1 하부 수지 절연층(400d) 위에 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 수지 필름(제1 수지 절연층(400a))을 형성한다. 제1 수지 절연층(400a)의 형성에는, 예를 들면 아지노모토사 제조의 ABF-45SH를 2매 중첩시켜 적층시킬 수 있다. 제1 수지 절연층(400a)의 제1 면이 제1 하부 수지 절연층(400d)의 제2 면 위에 적층된다.Next, as shown in FIG. 9H, the first surface on the first conductor pattern 610 (610P, 610G, and 610S) and the first lower resin insulating layer 400d is opposite to the first surface and the first surface. A resin film (first resin insulating layer 400a) having a film is formed. In formation of the 1st resin insulating layer 400a, two sheets of ABF-45SH by Ajinomoto Co., Ltd. can be piled up and laminated, for example. The first surface of the first resin insulating layer 400a is laminated on the second surface of the first lower resin insulating layer 400d.

다음으로, 도 9i에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연 층(400a) 위에 위치 맞춤하여 적층시킨다. 컨덴서 적층체(450)의 적층 위치는, 예를 들면 제1 수지 절연층(400a) 위에 형성된 제2 얼라인먼트 마크(622)와 컨덴서 적층체(450)의 얼라인먼트 마크(720)를 이용하여 결정할 수 있다. 또한, 컨덴서 적층체(450)는 제1 실시 형태와 마찬가지의 제조 방법에 의해 형성할 수 있다.Next, as shown in FIG. 9I, the capacitor laminate 450 is positioned and laminated on the first resin insulating layer 400a. The stacking position of the capacitor stack 450 may be determined using, for example, the second alignment mark 622 formed on the first resin insulating layer 400a and the alignment mark 720 of the capacitor stack 450. . In addition, the capacitor | condenser laminated body 450 can be formed by the manufacturing method similar to 1st Embodiment.

다음으로, 도 9j에 도시한 바와 같이, 컨덴서 적층체(450)를 제1 수지 절연층(400a)의 제2 면 측에 매설한다. 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)의 표면과 제1 수지 절연층(400a)의 제2 면은 대략 동일 평면에 위치하고 있다. 컨덴서 적층체(450)의 매설 방법은 도 2g에서 설명한 방법과 마찬가지이다.Next, as shown in FIG. 9J, the capacitor laminate 450 is embedded in the second surface side of the first resin insulating layer 400a. The surface of the first electrode 310 of the capacitor 350a and the second surface of the first resin insulating layer 400a are located on substantially the same plane. The embedding method of the capacitor stack 450 is the same as the method described with reference to FIG. 2G.

다음으로, 도 9k에 도시한 바와 같이, 관통 구멍을 형성한다.Next, as shown in Fig. 9K, a through hole is formed.

다음으로, 도 9l에 도시한 바와 같이, 비아 도체(제2 비아 도체)(651)(전원용 제2 비아 도체(651P), 그라운드용 제2 비아 도체(651G), 신호용 제2 비아 도체(651S))를 작성한다. 또한, 제2 도체 패턴(650)(전원용 제2 도체 패턴(650P), 그라운드용 제2 도체 패턴(650G), 신호용 제2 도체 패턴(650S))을 작성한다.Next, as shown in FIG. 9L, the via conductor (second via conductor) 651 (the second via conductor 651P for power supply, the second via conductor 651G for ground, and the second via conductor 651S for signal). ). In addition, a second conductor pattern 650 (second conductor pattern 650P for power supply, second conductor pattern 650G for ground, and second conductor pattern 650S for signal) is prepared.

전원용 제2 비아 도체(651P)는 컨덴서 적층체(450)의 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)끼리를 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(651P)는 전원용 제2 도체 패턴(650P)과 전원용 제1 도체 패턴(610P)을 접속하고 있다.The second via conductor 651P for the power supply connects the first electrodes 310 of the capacitors 350a, 350b, 350c of the capacitor stack 450. The via conductor 651P connects the second conductor pattern 650P for power supply and the first conductor pattern 610P for power supply.

그라운드용 제2 비아 도체(651G)는 컨덴서 적층체(450)의 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제2 전극(320)끼리를 접속하고 있다. 또한, 비아 도체(651G)는 그라운드용 제2 도체 패턴(650G)과 그라운드용 제1 도체 패턴(610G)을 접속하고 있다.The ground second via conductor 651G connects the second electrodes 320 of the capacitors 350a, 350b, and 350c of the capacitor stack 450. The via conductor 651G connects the second conductor pattern 650G for ground and the first conductor pattern 610G for ground.

신호용 제2 비아 도체(651S)는 신호용 제2 도체 패턴(650S)과 신호용 제1 도체 패턴(610S)을 접속하고 있다.The signal second via conductor 651S connects the signal second conductor pattern 650S and the signal first conductor pattern 610S.

전원용 제1 비아 도체(611P)와 도체 패턴(610P)과 비아 도체(651P)를 통하여, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제1 전극(310)과 제1 외부 단자(600P)는 전기적으로 접속되어 있다. 또한, 그라운드용 제1 비아 도체(611G)와 도체 패턴(610G)과 비아 도체(651G)를 통하여, 각 컨덴서(350a, 350b, 350c)의 제2 전극(320)과 제2 외부 단자(600G)는 전기적으로 접속되어 있다.Through the first via conductor 611P, the conductor pattern 610P, and the via conductor 651P for the power supply, the first electrode 310 and the first external terminal 600P of each capacitor 350a, 350b, 350c are electrically connected to each other. Connected. In addition, the second electrode 320 and the second external terminal 600G of the capacitors 350a, 350b, and 350c are connected through the ground first via conductor 611G, the conductor pattern 610G, and the via conductor 651G. Is electrically connected.

다음으로, 도 9m에 도시한 바와 같이, 제2 도체 패턴(650(650P, 650G, 650S))과 제1 수지 절연층(400a) 위에 수지 필름(제2 수지 절연층)(400b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 9M, a resin film (second resin insulating layer) 400b is formed on the second conductor patterns 650 (650P, 650G, and 650S) and the first resin insulating layer 400a. .

다음으로, 도 9n에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(최상층의 수지 절연층)(400b)에 관통 구멍을 형성한다.Next, as shown in Fig. 9N, a through hole is formed in the second resin insulating layer (the resin insulating layer of the uppermost layer) 400b.

다음으로, 도 9o에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(400b) 위에 제3 도체 패턴(660)(전원용 제3 도체 패턴(660P), 그라운드용 제3 도체 패턴(660G), 신호용 제3 도체 패턴(660S))을 형성한다.Next, as shown in FIG. 9O, on the second resin insulating layer 400b, a third conductor pattern 660 (the third conductor pattern 660P for power, the third conductor pattern 660G for ground, and the third for a signal) Conductor pattern 660S).

동시에, 제2 도체 패턴(650(650P, 650G, 650S))과 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S))을 접속하는 제3 비아 도체(661)(전원용 제3 비아 도체(661P), 그라운드용 제3 비아 도체(661G), 신호용 제3 비아 도체(661S))를 형성한다.At the same time, the third via conductor 661 (the third via conductor 661P for the power supply) connecting the second conductor pattern 650 (650P, 650G, 650S) and the third conductor pattern 660 (660P, 660G, 660S). , The third via conductor 661G for ground and the third via conductor 661S for signal are formed.

전원용 제3 비아 도체(661P)는 전원용 제3 도체 패턴(660P)과 전원용 제2 도체 패턴(650P)을 접속하고 있다. 그라운드용 제3 비아 도체(661G)는 그라운드용 제3 도체 패턴(660G)과 그라운드용 제2 도체 패턴(650G)을 접속하고 있다. 신호용 제3 비아 도체(661S)는 신호용 제2 도체 패턴(650S)과 신호용 제3 도체 패턴(660S)을 접속하고 있다. 이들의 접속은, 예를 들면 세미-애디티브법에 의해 형성할 수 있다.The third via conductor 661P for the power supply connects the third conductor pattern 660P for the power supply and the second conductor pattern 650P for the power supply. The ground third via conductor 661G connects the ground third conductor pattern 660G with the ground second conductor pattern 650G. The signal third via conductor 661S connects the signal second conductor pattern 650S and the signal third conductor pattern 660S. These connections can be formed by a semi-additive process, for example.

다음으로, 도 9p에 도시한 바와 같이, 제2 수지 절연층(400b)과 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S)) 위에 솔더 레지스트(700)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 9P, the soldering resist 700 is formed on the 2nd resin insulating layer 400b and the 3rd conductor pattern 660 (660P, 660G, 660S).

다음으로, 도 9q에 도시한 바와 같이, 솔더 레지스트(700)에 복수의 개구부를 형성한다. 그 개구부는 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S))을 부분적으로 개구하고 있다. 개구부에 의해 노출되어 있는 제3 도체 패턴(660(660P, 660G, 660S))의 부분이 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S))로 된다. 제2 외부 접속 단자(670)는 제2 수지 절연층(최상층의 수지 절연층)(400b) 위에 형성되어 있고, 전원용 제2 외부 접속 단자(제3 외부 단자)(670P), 그라운드용 제2 외부 접속 단자(제4 외부 단자)(670G)와 신호용 제2 외부 접속 단자(670S)로 이루어진다.Next, as shown in FIG. 9Q, a plurality of openings are formed in the solder resist 700. The opening partially opens the third conductor pattern 660 (660P, 660G, 660S). The portion of the third conductor pattern 660 (660P, 660G, 660S) exposed by the opening becomes the second external connection terminal 670 (670P, 670G, 670S). The second external connection terminal 670 is formed on the second resin insulating layer (the resin insulating layer of the uppermost layer) 400b, and the second external connection terminal (third external terminal) 670P for the power supply and the second external for ground are provided. The connection terminal (fourth external terminal) 670G and the signal second external connection terminal 670S.

다음으로, 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S)) 위에 니켈 도금막(912), 팔라듐 도금막(914), 금 도금막(911)의 순서로 도금을 행하여 3층으로 이루어지는 금속막을 형성한다. 금속막은 금 도금막 1층이어도 되고, 니켈 도금막과 니켈 도금막 위의 금 도금막 2층이어도 된다.Next, the metal is formed of three layers by plating on the second external connection terminals 670 (670P, 670G, 670S) in the order of the nickel plating film 912, the palladium plating film 914, and the gold plating film 911. To form a film. The metal film may be one gold plated film, or may be a nickel plated film and two gold plated films on the nickel plated film.

다음으로, 도 9r에 도시한 바와 같이, 지지판(150)을 염화제2구리 에칭액에 의해 에칭 제거한다. 이 때, 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S)) 및 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))에 금속막이 형성되어 있음으로써, 외부 접 속 단자는 에칭 제거되지 않고, 지지판(150)을 제거할 수 있다. 지지판(150)을 제거함으로써, 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면(금속막의 노출 부분)은 노출된다.Next, as shown in FIG. 9R, the support plate 150 is etched away with the cupric chloride etching solution. At this time, since the metal film is formed on the second external connection terminals 670 (670P, 670G, 670S) and the first external connection terminals 600 (600P, 600G, 600S), the external connection terminals are not etched away. Instead, the support plate 150 can be removed. By removing the support plate 150, the external terminal surface (exposed portion of the metal film) of the first external connection terminal 600 is exposed.

그 후, 제2 외부 접속 단자(670(670P, 670G, 670S))의 외부 단자면(금속막의 노출 부분)에 제2 땜납 범프, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))의 외부 단자면에 제1 땜납 범프를 형성함으로써, 도 8에 도시한 배선 기판(900)이 얻어진다.Thereafter, the second solder bumps and the first external connection terminals 600 (600P, 600G, 600S) are applied to the external terminal surfaces (exposed portions of the metal film) of the second external connection terminals 670 (670P, 670G, 670S). By forming the first solder bumps on the external terminal surface, the wiring board 900 shown in FIG. 8 is obtained.

또한, 제1 땜납 범프를 통하여 IC 칩 등의 전자 부품을 탑재하여도 된다. 제2 땜납 범프를 통하여 다른 기판(마더보드)과 접속하여도 된다. 또한, 도 8에서는 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면과 제2 외부 접속 단자(670)의 외부 단자면에 땜납 범프가 형성되어 있지만, 제2 외부 접속 단자(670)의 외부 단자면에 땜납 범프, 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면에 땜납을 통하여 도전성 핀을 탑재(실장)하여도 된다. 제1 외부 접속 단자(600)의 외부 단자면에 땜납 범프, 제2 외부 접속 단자(670)의 외부 단자면에 땜납을 통하여 도전성 핀을 탑재(실장)하여도 된다. IC 칩의 탑재는 배선 기판의 상면 측이어도 하면 측이어도 상관없지만, IC 칩은 외부 단자로부터 컨덴서까지의 거리(기판의 단면 방향의 거리)가 짧은 측의 컨덴서 내장 기판의 표면에 탑재하는 것이 바람직하다.In addition, electronic components such as an IC chip may be mounted through the first solder bumps. You may connect with another board | substrate (motherboard) via 2nd solder bump. In addition, although solder bumps are formed in the external terminal surface of the first external connection terminal 600 and the external terminal surface of the second external connection terminal 670 in FIG. 8, the external terminal surface of the second external connection terminal 670 is formed. The conductive bumps may be mounted (mounted) on the solder bumps and the external terminal surfaces of the first external connection terminals 600 via solder. A conductive bump may be mounted (mounted) on the external terminal surface of the first external connection terminal 600 via solder and on the external terminal surface of the second external connection terminal 670. Although the IC chip may be mounted on the upper surface side or the lower surface side of the wiring board, the IC chip is preferably mounted on the surface of the capacitor-embedded substrate on the side of which the distance from the external terminal to the capacitor (the distance in the cross-sectional direction of the substrate) is short. .

본 실시 형태에서는 수지 절연층(수지 필름)은 3층이지만, 도 9m부터 도 9o의 공정을 반복함으로써 4층 이상의 다층화는 가능하다.In this embodiment, although the resin insulation layer (resin film) is three layers, multilayering of four or more layers is possible by repeating the process of FIG. 9M to FIG. 9O.

또한, 제1 하부 수지 절연층(400d) 하면에, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))를 노출시키는 개구를 갖는 솔더 레지스트를 형성하는 것도 가능하다.Moreover, it is also possible to form the soldering resist which has an opening which exposes the 1st external connection terminals 600 (600P, 600G, 600S) on the lower surface of the 1st lower resin insulating layer 400d.

도 10에 도시한 배선 기판(900)은, 도 8에 도시된 배선 기판(900)과 달리, 제1 외부 접속 단자(600)와 컨덴서 적층체(450)가 동일한 수지 절연층에 매설되어 있는 예이다. 도 10에 도시한 배선 기판(900)은, 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 제1 수지 절연층(최하층의 수지 절연층)(400a)과 제1 면과 제1 면과는 반대측의 제2 면을 갖는 제2 수지 절연층(최상층의 수지 절연)(400b)의 2층 구조이다. 제1 수지 절연층(400a)의 제2 면 측에는 컨덴서 적층체(450)가 매설되어 있다. 컨덴서(350a)의 제1 전극(310)의 표면과 최하층의 수지 절연층(400a)의 제2 면은 대략 동일 평면에 위치하고 있다. 한편, 제1 수지 절연층(400a)의 제1 면 측(배선 기판(900)의 제1 표면)에는 제1 외부 접속 단자(600)가 매설되어 있다. 제1 외부 접속 단자(600)의 표면과 최하층의 수지 절연층(400a)의 제1 면은 대략 동일 평면에 위치하고 있다. 최하층의 수지 절연층(400a)의 제2 면 위에 최상층의 수지 절연층(400b)의 제1 면이 적층되어 있다. 제2 수지 절연층(400b)의 제2 면 위에는 전원용 제2 외부 접속 단자(제3 외부 단자)(670P), 그라운드용 제2 외부 접속 단자(제4 외부 단자)(670G)와 신호용 제2 외부 접속 단자(670S)로 이루어지는 제2 외부 접속 단자(670)가 형성되어 있다. 또한, 제2 수지 절연층(400b)에는 비아 도체가 형성되어 있다.Unlike the wiring board 900 shown in FIG. 8, the wiring board 900 illustrated in FIG. 10 is an example in which the first external connection terminal 600 and the capacitor laminate 450 are embedded in the same resin insulating layer. to be. The wiring board 900 shown in FIG. 10 includes a first resin insulating layer (lowest resin insulating layer) 400a, a first surface, and a first surface having a first surface and a second surface opposite to the first surface. It is a two-layer structure of the 2nd resin insulating layer (resin insulation of uppermost layer) 400b which has a 2nd surface on the opposite side to a surface. The capacitor | condenser laminated body 450 is embedded in the 2nd surface side of the 1st resin insulating layer 400a. The surface of the first electrode 310 of the capacitor 350a and the second surface of the resin insulating layer 400a of the lowest layer are located on substantially the same plane. On the other hand, the 1st external connection terminal 600 is embedded in the 1st surface side (1st surface of the wiring board 900) of the 1st resin insulating layer 400a. The surface of the 1st external connection terminal 600 and the 1st surface of the resin insulating layer 400a of the lowest layer are located in substantially the same plane. The 1st surface of the resin insulating layer 400b of the uppermost layer is laminated | stacked on the 2nd surface of the resin insulating layer 400a of the lowest layer. On the second surface of the second resin insulating layer 400b, a second external connection terminal (third external terminal) 670P for the power supply, a second external connection terminal (fourth external terminal) 670G for ground, and a second external for signal The second external connection terminal 670 made of the connection terminal 670S is formed. In addition, a via conductor is formed in the second resin insulating layer 400b.

이 도 10에 도시한 배선 기판(900)의 제조 방법은, 우선, 도 9a 내지 도 9e에 도시한 공정을 행한다. 그 후, 도 9i 내지 도 9r에 도시한 공정을 행하여 도금 레지스트(160)를 제거하고, 제1 외부 접속 단자(600(600P, 600G, 600S))에 제1 땜 납 범프를 형성함으로써, 도 10에 도시한 배선 기판(900)이 얻어진다.The manufacturing method of the wiring board 900 shown in this FIG. 10 first performs the process shown in FIGS. 9A-9E. Thereafter, the plating resist 160 is removed by performing the steps shown in FIGS. 9I to 9R, and the first solder bumps are formed in the first external connection terminals 600 (600P, 600G, and 600S), thereby FIG. 10. The wiring board 900 shown in the figure is obtained.

또한, 제4 실시 형태의 배선 기판은, 제3 실시 형태와 마찬가지로, 제1 전극과 제2 전극이 면 방향으로 어긋나 있지 않은 컨덴서를 접착제로 적층시킨 컨덴서 적층체를 내장하여도 된다.In addition, the wiring board of 4th Embodiment may contain the capacitor laminated body which laminated | stacked the capacitor | condenser by which the 1st electrode and the 2nd electrode did not shift in the surface direction similarly to 3rd Embodiment.

<본 발명의 구체적인 일 실시 형태에서의 배선 기판의 제5 실시 형태><5th embodiment of the wiring board in one specific embodiment of this invention>

본 발명의 제5 실시 형태에 따른 배선 기판(900)은, 제1 실시 형태에 따른 배선 기판(900)과 달리, 도 11에 도시한 바와 같이, 베이스 기판(100) 위에 수지 절연층(200a)이, 아래에는 하부 수지 절연층(270d)이 형성되어 있다. 그리고, 수지 절연층(200a)에는 컨덴서 적층체(450a)가 매설되어 있고, 하부 수지 절연층(270d)에는 컨덴서 적층체(450b)가 매설되어 있다.Unlike the wiring board 900 according to the first embodiment, the wiring board 900 according to the fifth embodiment of the present invention has a resin insulating layer 200a on the base substrate 100 as shown in FIG. 11. The lower resin insulating layer 270d is formed below this. The capacitor stack 450a is embedded in the resin insulating layer 200a, and the capacitor stack 450b is embedded in the lower resin insulating layer 270d.

이와 같이 구성함으로써, 베이스 기판(100) 위에서의 노이즈 경감뿐만 아니라, 베이스 기판(100) 아래에서도 노이즈의 경감을 효율적으로 도모할 수 있다.By configuring in this way, not only noise reduction on the base substrate 100 but also noise reduction can be efficiently aimed under the base substrate 100.

이 배선 기판(900)의 제조 방법은, 예를 들면 도 2q 후에, 베이스 기판(100)의 하면에 하부 수지 절연층(270d)을 형성하여, 그 하부 수지 절연층(270d)에 컨덴서 적층체(450b)를 매설시킴으로써 작성하는 것이 가능하다.In the method of manufacturing the wiring board 900, for example, after FIG. 2Q, the lower resin insulating layer 270d is formed on the lower surface of the base substrate 100, and the capacitor laminate ( It is possible to create by embedding 450b).

<본 발명에서의 기타 실시 형태><Other embodiments in the present invention>

전술한 실시 형태에서는, 컨덴서 적층체(450)는 컨덴서(350a, 350b, 350c)를 3개 적층시켜 형성하였지만, 단 이것에 한정되지 않는다. 컨덴서 적층체(450)는, 예를 들면 2개 또는 4개∼30개 또는 그 이상의 컨덴서를 접착제(340)를 개재시켜 적층시킬 수 있다.In the above-described embodiment, the capacitor stack 450 is formed by stacking three capacitors 350a, 350b, and 350c, but is not limited thereto. The capacitor stack 450 may be laminated with, for example, two or four to thirty or more capacitors via the adhesive 340.

전술한 실시 형태에서는, 유전체층(330)은 티탄산 바륨(BaTiO3)으로 형성되었다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 유전체층(330)은, 예를 들면 티탄산 스트론튬(SrTiO3), 산화 탄탈(TaO3, Ta2O5), 티탄산 지르콘산 납(PZT), 티탄산 지르콘산 란탄 납(PLZT), 티탄산 지르콘산 니오브 납(PNZT), 티탄산 지르콘산 칼슘 납(PCZT) 및 티탄산 지르콘산 스트론튬 납(PSZT) 중 어느 하나 또는 이들의 혼합물을 사용하는 것도 가능하다.In the above embodiment, the dielectric layer 330 is formed of barium titanate (BaTiO 3 ). However, it is not limited to this. The dielectric layer 330 is, for example, strontium titanate (SrTiO 3 ), tantalum oxide (TaO 3 , Ta 2 O 5 ), lead zirconate titanate (PZT), lead lanthanum zirconate titanate (PLZT), lead niobate zirconate titanate It is also possible to use any one or mixtures of (PNZT), lead calcium zirconate titanate (PCZT) and lead strontium zirconate titanate (PSZT).

전술한 실시 형태에서는, 유전성 필러로서 티탄산 스트론튬(SrTiO3)을 이용하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 유전성 필러는, 예를 들면 티탄산 칼슘(CaTiO3), 티탄산 마그네슘(Mg2TiO3), 티탄산 네오디뮴(Nd2Ti2O7) 등을 이용하는 것이 가능하다.In the above embodiment, strontium titanate (SrTiO 3 ) was used as the dielectric filler. However, it is not limited to this. As the dielectric filler, for example, calcium titanate (CaTiO 3 ), magnesium titanate (Mg 2 TiO 3 ), neodymium titanate (Nd 2 Ti 2 O 7 ), or the like can be used.

또한, 전술한 실시 형태에서는, 수지 절연층(수지 필름)을 구성하는 수지로서 에폭시 수지를 이용하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 수지 절연층을 구성하는 수지로서, 예를 들면 폴리이미드, 폴리카보네이트, 변성 폴리페닐렌에테르, 폴리페닐렌옥사이드, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리아크릴레이트, 폴리술폰, 폴리페닐렌술파이드, 폴리에테르에테르케톤, 폴리술폰, 폴리에테르술폰, 폴리페닐술폰, 폴리프탈아미드, 폴리아미드이미드, 폴리케톤, 폴리아세탈 등을 단독으로 혹은 에폭시 수지와 조합하여 사용할 수 있다.In addition, in embodiment mentioned above, epoxy resin was used as resin which comprises a resin insulating layer (resin film). However, it is not limited to this. As the resin constituting the resin insulating layer, for example, polyimide, polycarbonate, modified polyphenylene ether, polyphenylene oxide, polybutylene terephthalate, polyacrylate, polysulfone, polyphenylene sulfide, polyether ether Ketones, polysulfones, polyethersulfones, polyphenylsulfones, polyphthalamides, polyamideimides, polyketones, polyacetals and the like can be used alone or in combination with epoxy resins.

또한, 전술한 실시 형태에서는, 제1 전극(310) 및 제2 전극(320)을 형성하는 금속으로서 구리를 이용하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다. 제1 전극(310) 및 제2 전극(320)을 형성하는 금속으로서는, 예를 들면 백금, 금, 니켈, 주석, 은 등을 단독으로 또는 혼합하여 이용하는 것이 가능하다. 더 나아가서는, 제1 전극(310)과 제2 전극(320)에서 각각 상이한 종류의 금속을 이용하는 것도 가능하다.In the above-described embodiment, copper was used as the metal for forming the first electrode 310 and the second electrode 320. However, it is not limited to this. As a metal which forms the 1st electrode 310 and the 2nd electrode 320, platinum, gold, nickel, tin, silver, etc. can be used individually or in mixture, for example. Furthermore, it is also possible to use different kinds of metals in the first electrode 310 and the second electrode 320, respectively.

또한, 전술한 실시 형태에서는, 구리로 이루어지는 제1 전극(310) 위에 고유전체 재료를 인쇄하고, 소성하여 유전체층(330)을 형성하고, 그 후, 스퍼터 등의 진공 증착 장치를 이용하여 유전체층(330) 위에 구리로 이루어지는 금속층을 형성하여 제2 전극(320)을 형성하여 컨덴서를 작성하였다. 단, 이것에 한정되지 않는다.In the above-described embodiment, the high dielectric material is printed on the first electrode 310 made of copper and fired to form the dielectric layer 330, and then the dielectric layer 330 using a vacuum deposition apparatus such as sputtering. ), A metal layer made of copper was formed to form a second electrode 320 to form a capacitor. However, it is not limited to this.

즉, 이하의 공정에 의해, 컨덴서를 작성하는 것도 가능하다. 우선, 디에톡시바륨과 비테트라이소프로폭시드티탄을, 탈수시킨 메탄올과 2-메톡시에탄올의 혼합 용매에 용해하고, 실온의 질소 분위기 하에서 3일간 교반하여 바륨과 티탄의 알콕시드 전구체 조성물 용액을 조정한다. 이어서, 이 전구체 조성물 용액을 0℃로 유지하면서 교반하고, 미리 탈탄산한 물을 0.5㎕/분의 속도로 질소 기류 중에서 분무하여 가수분해한다. 이와 같이 하여 작성된 졸겔 용액을 필터를 통과시킴으로써 석출물 등을 여과한다. 얻어진 여과액을 두께 12㎛의 구리로 이루어지는 제1 전극(310) 위에 스핀 코팅한다. 그 후, 850℃로 유지된 전기로 내에 삽입하여 소성을 행함으로써 유전체층(330)을 얻는다. 그리고, 유전체층(330) 위에 스퍼터 등의 진공 증착 장치를 이용하여 구리층을 형성하고, 또한 이 구리층 위에 전해 도금 등에 의해 구리를 10㎛ 정도 더함으로써, 제2 전극(320)을 얻을 수 있다.That is, it is also possible to create a capacitor by the following process. First, diethoxy barium and bitetriisopropoxide titanium are dissolved in a mixed solvent of dehydrated methanol and 2-methoxyethanol, and stirred for 3 days under a nitrogen atmosphere at room temperature to prepare a solution of an alkoxide precursor composition of barium and titanium. Adjust Subsequently, the precursor composition solution is stirred while maintaining at 0 ° C., and the pre-decarbonized water is hydrolyzed by spraying in a nitrogen stream at a rate of 0.5 μl / min. The precipitate or the like is filtered by passing the sol-gel solution thus prepared through a filter. The obtained filtrate is spin coated on a first electrode 310 made of copper having a thickness of 12 μm. Thereafter, the dielectric layer 330 is obtained by inserting into an electric furnace maintained at 850 ° C. and firing. The second electrode 320 can be obtained by forming a copper layer on the dielectric layer 330 using a vacuum deposition apparatus such as a sputter, and adding about 10 μm of copper on the copper layer by electroplating or the like.

본 출원은 2007년 10월 18일 출원된 미국 가특허출원 60/980969에 기초한다. 본 명세서 중에 그 명세서, 특허 청구의 범위, 도면 전체를 참조로서 삽입하기로 한다.This application is based on US Provisional Patent Application 60/980969, filed October 18, 2007. In the present specification, the specification, claims, and drawings are incorporated by reference.

본 발명은 내장되어 있는 컨덴서가 고용량이며 나아가 절연 저항도 확보되어 있는 배선 기판에 이용할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for a wiring board in which a built-in capacitor has a high capacity and an insulation resistance is also secured.

Claims (25)

유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극 및 제2 전극으로 형성되는 컨덴서를, 접착제를 통하여 적층시켜 형성되는 컨덴서 적층체와,A capacitor stack formed by laminating a dielectric layer, a capacitor formed by opposing first and second electrodes with the dielectric layer interposed therebetween, using an adhesive; 상기 컨덴서 적층체를 내장하는 제1 수지 절연층과,A first resin insulating layer containing the capacitor laminate; 상기 제1 수지 절연층을 지지하는 베이스 기판과,A base substrate for supporting the first resin insulating layer, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와,A first via conductor electrically connecting the first electrodes to each other, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체와,A second via conductor electrically connecting the second electrodes to each other, 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와,A first external terminal electrically connected to the first via conductor; 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자A second external terminal electrically connected to the second via conductor 를 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The wiring board which has a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 전극과 제2 전극은 전극의 면 방향으로 서로 어긋나게 배치되고,The first electrode and the second electrode are arranged to be offset from each other in the surface direction of the electrode, 상기 제1 비아 도체는, 상기 제1 전극의 단부를 관통함으로써 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하고,The first via conductor electrically connects the first electrodes by passing through an end portion of the first electrode, 상기 제2 비아 도체는, 상기 제2 전극의 단부를 관통함으로써 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는The second via conductor electrically connects the second electrodes by passing through an end portion of the second electrode. 것을 특징으로 하는 배선 기판.A wiring board, characterized in that. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 컨덴서 적층체의 상면은 상기 제1 수지 절연층의 상면에 있고, 상기 컨덴서 적층체의 상면과 상기 제1 수지 절연층의 상면이 동일한 면으로 되어 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판.An upper surface of the capacitor laminate is on an upper surface of the first resin insulating layer, and an upper surface of the capacitor laminate and an upper surface of the first resin insulating layer are the same surface. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 수지 절연층 위에 제2 수지 절연층을 더 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판.A wiring board further comprising a second resin insulating layer on the first resin insulating layer. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 베이스 기판 위 및 상기 제2 수지 절연층 위에는 도체 패턴이 형성되고,A conductor pattern is formed on the base substrate and on the second resin insulating layer. 상기 비아 도체는, 상기 베이스 기판 위의 도체 패턴과 상기 제2 수지 절연층 위의 도체 패턴을 전기적으로 접속하고 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The via conductor is electrically connected to a conductor pattern on the base substrate and a conductor pattern on the second resin insulating layer. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제2 수지 절연층 위에 제3 수지 절연층을 더 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판.A wiring board further comprising a third resin insulating layer on the second resin insulating layer. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 제2 수지 절연층 위에 도체 패턴을 갖고,It has a conductor pattern on a said 2nd resin insulating layer, 상기 제3 수지 절연층 위에 도체 패턴을 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판.A wiring board having a conductor pattern on the third resin insulating layer. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 제2 수지 절연층 위의 도체 패턴과, 상기 제3 수지 절연층 위의 도체 패턴을 전기적으로 접속하는 비아 도체를 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판.A via board for electrically connecting the conductor pattern on the second resin insulating layer and the conductor pattern on the third resin insulating layer. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 베이스 기판 위 및 상기 제1 수지 절연층 위에는 도체 패턴이 형성되고,A conductor pattern is formed on the base substrate and on the first resin insulating layer. 상기 비아 도체는, 상기 베이스 기판 위의 도체 패턴과 상기 제1 수지 절연층 위의 도체 패턴을 전기적으로 접속하고 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The via conductor is electrically connected to a conductor pattern on the base substrate and a conductor pattern on the first resin insulating layer. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 제1 수지 절연층 위의 도체 패턴과, 상기 컨덴서 적층체의 최상면에 있는 컨덴서의 제1 전극이 일체로 되어 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판.A conductor pattern on the first resin insulating layer and a first electrode of the capacitor on the top surface of the capacitor stack are integrated to form an electrode. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 전극은 복수의 제1 개구부를 갖고,The first electrode has a plurality of first openings, 상기 제2 전극은 복수의 제2 개구부를 가지며,The second electrode has a plurality of second openings, 상기 제1 비아 도체는, 상기 제2 개구부를 상기 제2 전극에 비접촉으로 관통하면서 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하고,The first via conductor electrically connects the first electrodes to each other while penetrating the second opening without contacting the second electrode. 상기 제2 비아 도체는, 상기 제1 개구부를 상기 제1 전극에 비접촉으로 관통하면서 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는The second via conductor electrically connects the second electrodes to each other while non-contacting the first opening with the first electrode. 것을 특징으로 하는 배선 기판.A wiring board, characterized in that. 적어도 최하층의 수지 절연층과 최상층의 수지 절연층을 갖는 복수의 수지 절연층과,A plurality of resin insulating layers having at least the lowest resin insulating layer and the highest resin insulating layer; 상기 수지 절연층의 사이에 형성되어 있는 복수의 도체 회로와,A plurality of conductor circuits formed between the resin insulating layers, 상기 복수의 수지 절연층 중의 1개의 수지 절연층에 매설되어 있고, 유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극과 제2 전극으로 형성되는 컨덴서를 접착제를 통하여 적층시켜 형성되는 컨덴서 적층체와,A capacitor laminated body embedded in one resin insulating layer of the plurality of resin insulating layers, and formed by laminating a dielectric layer and a capacitor formed by opposing first and second electrodes with the dielectric layer interposed therebetween through an adhesive. Wow, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와,A first via conductor electrically connecting the first electrodes to each other, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체와,A second via conductor electrically connecting the second electrodes to each other, 상기 최하층의 수지 절연층에 형성되어 있고, 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자로 이루어지는 제1 외부 접속 단자와,A first external connection terminal formed on the lowest resin insulating layer, the first external terminal comprising a first external terminal electrically connected to the first via conductor, and a second external terminal electrically connected to the second via conductor; , 상기 최상층의 수지 절연층에 형성되어 있고, 상기 제1 비아 도체와 전기적 으로 접속되어 있는 제3 외부 단자와 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제4 외부 단자로 이루어지는 제2 외부 접속 단자A second external connection terminal formed on the resin insulating layer of the uppermost layer and having a third external terminal electrically connected to the first via conductor and a fourth external terminal electrically connected to the second via conductor; 를 갖고,Has, 상기 제1 외부 접속 단자는 상기 최하층의 수지 절연층에 매설됨과 함께, 상기 제1 외부 접속 단자의 외부 단자면은, 상기 최하층의 수지 절연층의 제1 면과 대략 동일 평면에 위치하고 있고,The first external connection terminal is embedded in the resin insulating layer of the lowest layer, and the external terminal surface of the first external connection terminal is located on substantially the same plane as the first surface of the resin insulating layer of the lowest layer. 상기 제2 외부 접속 단자는 상기 최상층의 수지 절연층 위에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The second external connection terminal is formed on the resin insulating layer of the uppermost layer. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 접착제는 상기 제1 수지 절연층을 형성하는 수지인 것을 특징으로 하는 배선 기판.The said adhesive agent is resin which forms the said 1st resin insulating layer, The wiring board characterized by the above-mentioned. 유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극 및 제2 전극을 갖는 컨덴서를 작성하는 컨덴서 작성 공정과,A capacitor making step of preparing a capacitor having a dielectric layer and a first electrode and a second electrode opposing each other with the dielectric layer interposed therebetween; 상기 컨덴서를 접착제를 통하여 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 작성하는 컨덴서 적층체 작성 공정과,A capacitor laminate creation step of creating a capacitor laminate by laminating the capacitor through an adhesive; 베이스 기판 위에 제1 수지 절연층을 적층시키는 적층 공정과,A lamination step of laminating a first resin insulating layer on the base substrate, 상기 제1 수지 절연층에 상기 컨덴서 적층체를 매설시키는 매설 공정과,A embedding step of embedding the capacitor laminate in the first resin insulating layer; 상기 컨덴서 적층체에, 상기 제1 전극끼리를 관통하는 관통 구멍과, 상기 제 2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 관통 구멍 형성 공정과,A through-hole forming step of forming a through-hole penetrating the first electrodes and a through-hole penetrating the second electrodes in the capacitor laminate; 상기 관통 구멍에 금속 도체를 충전시킴으로써, 상기 제1 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제1 비아 도체와, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체를 작성하는 비아 도체 작성 공정과,Filling the through-holes with a metal conductor, a via conductor creation step of creating a first via conductor electrically connecting the first electrodes and a second via conductor electrically connecting the second electrodes; 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제1 외부 단자와, 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 제2 외부 단자를 작성하는 외부 단자 작성 공정An external terminal creation step of creating a first external terminal electrically connected to the first via conductor and a second external terminal electrically connected to the second via conductor. 을 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.It has a manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 컨덴서 적층체 작성 공정에서는, 상기 제1 전극과 제2 전극을 전극의 면 방향으로 서로 어긋나게 배치함으로써 컨덴서 적층체를 작성하고,In the capacitor stack creation step, the capacitor stack is prepared by disposing the first electrode and the second electrode in a plane direction of the electrode. 상기 관통 구멍 형성 공정에서는, 상기 제1 전극의 단부를 관통하는 관통 구멍을 형성함과 함께, 상기 제2 전극의 단부를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.In the through hole forming step, a through hole penetrating the end of the first electrode and a through hole penetrating the end of the second electrode are formed. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 매설 공정에서는, 상기 컨덴서 적층체의 상면과 상기 수지 절연층의 상면이 동일한 면으로 되도록, 상기 컨덴서 적층체를 상기 제1 수지 절연층에 매설시키는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.In the embedding step, the capacitor laminate is embedded in the first resin insulating layer so that the upper surface of the capacitor laminate and the upper surface of the resin insulating layer are the same plane. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 매설 공정 후에, 상기 제1 수지 절연층 위에 제2 수지 절연층을 더 적층시키는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.And a step of further laminating a second resin insulating layer on the first resin insulating layer after the embedding step. 제17항에 있어서,The method of claim 17, 상기 관통 구멍 형성 공정에서는, 상기 제1 전극 혹은 상기 제2 전극끼리를 관통할 뿐만 아니라, 상기 제2 수지 절연층도 관통하는 관통 구멍을 형성하고,In the through hole forming step, a through hole that not only penetrates the first electrode or the second electrodes, but also penetrates the second resin insulating layer is formed, 상기 비아 도체 작성 공정은, 상기 베이스 기판 위의 도체 패턴과 상기 제2 수지 절연층 위의 도체 패턴을 전기적으로 접속하고 있는 비아 도체를 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The said via conductor preparation process forms the via conductor which electrically connects the conductor pattern on the said base substrate, and the conductor pattern on a said 2nd resin insulating layer, The manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제17항에 있어서,The method of claim 17, 상기 비아 도체 작성 공정 후에, 상기 제2 수지 절연층 위에 제3 수지 절연층을 더 형성하고,After the via conductor making step, a third resin insulating layer is further formed on the second resin insulating layer, 상기 제2 수지 절연층 위의 도체 패턴과 상기 제3 수지 절연층 위의 도체 패턴을 전기적으로 접속하는 비아 도체를 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.A via conductor for electrically connecting the conductor pattern on the second resin insulating layer and the conductor pattern on the third resin insulating layer is formed. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 매설 공정에서는, 상기 컨덴서 적층체의 최상층의 컨덴서에 형성된 얼라인먼트 마크 혹은 최하층의 컨덴서에 형성된 얼라인먼트 마크와, 상기 베이스 기판 위에 형성된 얼라인먼트 마크를, 상기 컨덴서 적층체와 상기 제1 수지 절연층의 위치 맞춤을 위한 표지로 하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.In the embedding step, the alignment mark formed on the capacitor of the uppermost layer of the capacitor laminate or the alignment mark formed on the capacitor of the lowest layer and the alignment mark formed on the base substrate are aligned with the capacitor laminate and the first resin insulating layer. Method for producing a wiring board characterized in that the cover for. 제16항에 있어서,The method of claim 16, 상기 비아 도체 작성 공정은, 상기 베이스 기판 위의 도체 패턴과 상기 제1 수지 절연층 위의 도체 패턴을 전기적으로 접속하고 있는 비아 도체를 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The said via conductor preparation process forms the via conductor which electrically connects the conductor pattern on the said base substrate, and the conductor pattern on a said 1st resin insulating layer, The wiring board manufacturing method characterized by the above-mentioned. 제21항에 있어서,The method of claim 21, 상기 제1 수지 절연층 위의 도체 패턴과, 상기 컨덴서 적층체의 최상면에 있는 컨덴서의 제1 전극이 일체로 되어 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The conductor pattern on the said 1st resin insulating layer, and the 1st electrode of the capacitor in the uppermost surface of the said capacitor laminated body are integrated, and the electrode manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 컨덴서 적층체 작성 공정에서는, 상기 제1 전극은 복수의 제1 개구부를 가짐과 함께, 상기 제2 전극은 복수의 제2 개구부를 갖고,In the capacitor stack creation step, the first electrode has a plurality of first openings, and the second electrode has a plurality of second openings, 상기 관통 구멍 형성 공정에서는, 상기 제2 개구부를 상기 제2 전극에 비접촉으로 관통하면서 상기 제1 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성함과 함께, 상 기 제1 개구부를 상기 제1 전극과 비접촉으로 관통하면서 상기 제2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.In the through hole forming step, the through hole penetrates the first electrodes while the second opening is contacted with the second electrode in a non-contact manner, and the first opening is not in contact with the first electrode. The through-hole which penetrates the said 2nd electrode, penetrating is formed, The manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 접착제는 상기 제1 수지 절연층을 형성하는 수지인 것을 특징으로 하는 배선 기판.The said adhesive agent is resin which forms the said 1st resin insulating layer, The wiring board characterized by the above-mentioned. 유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 대향하는 제1 전극과 제2 전극을 갖는 컨덴서를 작성하는 컨덴서 작성 공정과,A capacitor making step of producing a capacitor having a dielectric layer and a first electrode and a second electrode opposing each other with the dielectric layer interposed therebetween; 상기 컨덴서를 접착제를 통하여 적층시킴으로써 컨덴서 적층체를 작성하는 컨덴서 적층체 작성 공정과,A capacitor laminate creation step of creating a capacitor laminate by laminating the capacitor through an adhesive; 지지판 위에, 제1 외부 단자와 제2 외부 단자를 갖는 제1 외부 접속 단자를 형성하는 제1 외부 접속 단자 형성 공정과,A first external connection terminal forming step of forming a first external connection terminal having a first external terminal and a second external terminal on a support plate; 상기 제1 외부 접속 단자와 지지판 위에 복수의 수지 절연층과 복수의 도체 회로를 번갈아 적층시키는 빌드업 공정과,A build-up step of alternately stacking a plurality of resin insulating layers and a plurality of conductor circuits on the first external connection terminal and the support plate; 상기 복수의 수지 절연층 중 1개의 수지 절연층에 상기 컨덴서 적층체를 매설시키는 매설 공정과,A embedding step of embedding the capacitor laminate in one of the plurality of resin insulating layers; 상기 컨덴서 적층체에, 상기 제1 전극 혹은 상기 제2 전극끼리를 관통하는 관통 구멍을 형성하는 관통 구멍 형성 공정과,A through-hole forming step of forming a through-hole in the capacitor stack, through which the first electrode or the second electrode passes; 상기 관통 구멍에 금속 도체를 충전시킴으로써, 상기 제1 전극끼리를 전기적 으로 접속하는 제1 비아 도체와, 상기 제2 전극끼리를 전기적으로 접속하는 제2 비아 도체를 작성하는 비아 도체 작성 공정과,Filling the through-holes with a metal conductor, a via conductor creation step of creating a first via conductor that electrically connects the first electrodes and a second via conductor that electrically connects the second electrodes; 상기 복수의 수지 절연층 중, 상기 지지판과는 반대측에 위치하는 최상층의 수지 절연층 위에 제3 외부 단자와 제4 외부 단자를 갖는 제2 외부 접속 단자를 형성하는 제2 외부 접속 단자 형성 공정과,A second external connection terminal forming step of forming a second external connection terminal having a third external terminal and a fourth external terminal on the uppermost resin insulating layer positioned on the opposite side to the support plate among the plurality of resin insulating layers; 상기 지지판을 제거하는 지지판 제거 공정Support plate removal process of removing the support plate 을 갖고,With 상기 제1 외부 단자와 상기 제3 외부 단자는 상기 제1 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있고, 상기 제2 외부 단자와 상기 제4 외부 단자는 상기 제2 비아 도체와 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The first external terminal and the third external terminal are electrically connected to the first via conductor, and the second external terminal and the fourth external terminal are electrically connected to the second via conductor. The manufacturing method of the wiring board.
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090296310A1 (en) * 2008-06-03 2009-12-03 Azuma Chikara Chip capacitor precursors, packaged semiconductors, and assembly method for converting the precursors to capacitors
JP4711026B2 (en) * 2008-10-08 2011-06-29 株式会社村田製作所 Compound module
JP5333577B2 (en) * 2009-03-19 2013-11-06 株式会社村田製作所 Circuit board and mother laminate
JP5589314B2 (en) * 2009-06-25 2014-09-17 株式会社リコー Manufacturing method of electronic component module
EP2519089B1 (en) 2009-12-24 2017-09-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. Circuit module
IN2014CN01994A (en) * 2011-08-15 2015-05-29 Sma Solar Technology Ag
CN103096646B (en) * 2011-10-31 2016-01-20 健鼎(无锡)电子有限公司 The manufacture method of the multilager base plate of embedded element
US20140070404A1 (en) * 2012-09-12 2014-03-13 Shing-Ren Sheu Semiconductor package structure and interposer therefor
US9035194B2 (en) * 2012-10-30 2015-05-19 Intel Corporation Circuit board with integrated passive devices
KR101420526B1 (en) * 2012-11-29 2014-07-17 삼성전기주식회사 Substrate embedding electronic component and manufacturing mehtod thereof
US20140167900A1 (en) 2012-12-14 2014-06-19 Gregorio R. Murtagian Surface-mount inductor structures for forming one or more inductors with substrate traces
JP6649770B2 (en) * 2014-02-21 2020-02-19 三井金属鉱業株式会社 Copper clad laminate for forming built-in capacitor layer, multilayer printed wiring board, and method for manufacturing multilayer printed wiring board
US20190045620A1 (en) * 2014-07-09 2019-02-07 Schreiner Group Gmbh & Co. Kg Sensor device with a flexible electrical conductor structure
US20160055976A1 (en) * 2014-08-25 2016-02-25 Qualcomm Incorporated Package substrates including embedded capacitors
US9659850B2 (en) * 2014-12-08 2017-05-23 Qualcomm Incorporated Package substrate comprising capacitor, redistribution layer and discrete coaxial connection
CN104900406B (en) * 2015-06-01 2017-10-10 中国科学院上海硅酸盐研究所 Bonding multilayer ceramic capacitor and preparation method thereof
JP6741419B2 (en) * 2015-12-11 2020-08-19 株式会社アムコー・テクノロジー・ジャパン Semiconductor package and manufacturing method thereof
US10373904B2 (en) 2017-08-28 2019-08-06 Micron Technology, Inc. Semiconductor devices including capacitors, related electronic systems, and related methods
CN111128993A (en) 2019-12-18 2020-05-08 台达电子企业管理(上海)有限公司 Substrate, manufacturing method applicable to substrate and power module
CN117560860A (en) * 2022-08-04 2024-02-13 辉达公司 Method and arrangement for stacking a plurality of printed circuit boards

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5818734B2 (en) * 1981-01-19 1983-04-14 松下電子工業株式会社 Method for manufacturing shadow mask structure for color picture tube
US4555746A (en) * 1983-01-12 1985-11-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Organic chip capacitor
JPS59127829A (en) * 1983-01-12 1984-07-23 松下電器産業株式会社 Chip film capacitor
EP2265101B1 (en) * 1999-09-02 2012-08-29 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board and method of manufacturing printed circuit board
JP3853565B2 (en) 2000-04-14 2006-12-06 松下電器産業株式会社 Thin film laminate, capacitor and manufacturing method and manufacturing apparatus thereof
WO2002101769A1 (en) * 2001-06-08 2002-12-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Multilayer film capacitor and production method thereof
JP2003298232A (en) * 2002-04-02 2003-10-17 Sony Corp Multilayer wiring board and method of manufacturing the same
JP3956851B2 (en) 2003-01-21 2007-08-08 凸版印刷株式会社 Passive element embedded substrate and manufacturing method thereof
JP2005039243A (en) * 2003-06-24 2005-02-10 Ngk Spark Plug Co Ltd Intermediate substrate
JP4700332B2 (en) 2003-12-05 2011-06-15 イビデン株式会社 Multilayer printed circuit board
JP2005286233A (en) * 2004-03-30 2005-10-13 Tdk Corp Thin-film capacitor and manufacturing method therefor
CN100367491C (en) * 2004-05-28 2008-02-06 日本特殊陶业株式会社 Intermediate substrate
JP4339781B2 (en) * 2004-12-09 2009-10-07 日本特殊陶業株式会社 Wiring board
JP4584700B2 (en) * 2004-12-17 2010-11-24 新光電気工業株式会社 Wiring board manufacturing method
JP4591100B2 (en) * 2005-02-03 2010-12-01 ソニー株式会社 Semiconductor device and manufacturing method thereof
CN1925720B (en) * 2005-09-01 2010-04-14 日本特殊陶业株式会社 Wiring board and capacitor
JP4671829B2 (en) * 2005-09-30 2011-04-20 富士通株式会社 Interposer and method for manufacturing electronic device
JP5089880B2 (en) * 2005-11-30 2012-12-05 日本特殊陶業株式会社 Capacitor for wiring board built-in, wiring board with built-in capacitor and manufacturing method thereof
JP4964481B2 (en) * 2006-03-24 2012-06-27 日本特殊陶業株式会社 Wiring board
TWI407870B (en) * 2006-04-25 2013-09-01 Ngk Spark Plug Co Method for manufacturing wiring board

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