KR20070066916A - 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트장비 - Google Patents

액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트장비 Download PDF

Info

Publication number
KR20070066916A
KR20070066916A KR1020060131684A KR20060131684A KR20070066916A KR 20070066916 A KR20070066916 A KR 20070066916A KR 1020060131684 A KR1020060131684 A KR 1020060131684A KR 20060131684 A KR20060131684 A KR 20060131684A KR 20070066916 A KR20070066916 A KR 20070066916A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
charge
test
crystal element
display panel
Prior art date
Application number
KR1020060131684A
Other languages
English (en)
Inventor
야스히로 미야케
Original Assignee
애질런트 테크놀로지스, 인크.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 애질런트 테크놀로지스, 인크. filed Critical 애질런트 테크놀로지스, 인크.
Publication of KR20070066916A publication Critical patent/KR20070066916A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/10—Dealing with defective pixels
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

본 발명에 따르면, 대향하는 전극 사이에 밀봉된 액정 재료를 구비하는 액정 소자를 제공하며 매트릭스로 배치되는 픽셀을 포함한 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법은, 피시험 픽셀의 전술된 액정 소자로 전하를 공급하는 충전 프로세스와, 전술된 충전된 액정 소자로부터 전하를 방전시키고 방전된 전하량을 측정하는 측정 프로세스 및 전술된 측정 결과로부터 전술된 피시험 픽셀의 액정 소자 내에 결함이 존재하는지 여부를 판단하는 판단 프로세스로 구성된다.

Description

액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트 장비{METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A LIQUID CRYSTAL CELL}
도 1은 본 발명에 관련된 테스트 장비의 개략적인 도면,
도 2는 피시험장치(DUT- device under test)인 액정 디스플레이 패널의 개략적인 도면,
도 3은 테스트 장비의 동작의 순서도.
본 발명은 디스플레이 패널의 제조 방법, 테스트 방법 및 테스트 장비에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 액정 재료를 밀봉시킨(seals in) 액정 디스플레이 패널의 제조 방법, 테스트 방법 및 테스트 장비에 관한 것이다.
액정 재료를 사용하는 디스플레이 장비는 통상적으로 광원과 같은 후광(backlight), 특정 극성을 갖는 광을 전송하는 편광 필터, 각 픽셀의 편광 상태를 제어하는 디스플레이 패널 및 통상적인 3색을 생성하는 색상 필터로 구성된다. 일반적으로, 디스플레이 패널은 유리 플레이트와 같은 기판 상의 각 픽셀에서 트랜 지스터 및 캐패시터와 같은 소자를 형성하는 액티브 매트릭스 어레이 내의 액정 소자로 구성된다.
도 2는 전형적인 액정 디스플레이 패널의 액정 소자(233)의 구조를 도시한 도면이다. 액정 소자(233)는 액정 재료(302)와, 액정 재료(302)의 양 측에서 샌드위치시키도록 배치된 오리엔테이션 필름(301, 303)과, 그 외부에서 오리엔테이션 필름(301, 303)을 더 샌드위치시키도록 서로 대향하게 배치된 두 개의 전극(300, 304)으로 구성된다. 대향하는 전극 중 하나의 전극(304)은 박막 트랜지스터(TFT) 기판 상에 제공된다.
액정 소자(233)는 전극(300, 304) 사이에 전압이 인가되지 않았을 때는 90°만큼 입사 편광을 회전시키도록 기능하며, 전극(300, 304) 사이에 전압이 인가되었을 때는 변화되지 않은 입사광을 전달한다. 광 차폐/전달 상태는 액정 소자(233)를 통과하는 광을 편광 필터로 투입시킴으로써 제어된다. 결과적으로, 전압이 인가되지 않았을 때, 액정 재료(302)의 분자 그룹은 균일한 방향을 향하지 않으며, 광의 차폐/전달 상태는 세밀하게 제어될 수 없다. 따라서, 오리엔테이션 필름(301, 303)이 전극(300, 304)과 액정 재료(302)의 사이에 제공되며 액정 분자 그룹은 균일한 방향을 향하게 된다.
액정 디스플레이 패널 상의 모든 픽셀들은 균일한 특성을 가져야만 한다. 그러나, 광범위한 영역에 걸쳐 고정된 특성을 갖는 패널을 형성하는 전류 생성 기술은 어려움을 갖는다. 예를 들어, 액정 재료 내부의 불순물의 존재, 대향하는 전극(300, 304) 사이의 균일하지 않은 간격, 오리엔테이션 필름(301, 303)을 형성하 는 단계에서 발생하는 결함, 또는 액정 재료(302) 자신의 불균일성과 같은 다양한 원인에 의한 결함들이 발생한다. 따라서, 패널이 특정한 특성을 갖는지의 여부가 액정 디스플레이 패널의 최종 제조 단계에서 테스트 되어야만 한다.
이러한 유형의 테스트에 있어서, 종래의 방법은 미심사청구 일본 특허출원 제 2005-55196호에 개시된 광학적 테스트이다. 다시 말하면, 이 방법은 광이 종료된 액정 패널을 조사하는 상태의 각 픽셀을 테스트하고, 영상 포착 소자 또는 광원과 대향하는 면으로부터의 광 수신 소자에 의해 획득된 데이터를 분석하며, 액정 디스플레이 패널 내의 결함의 존재 또는 부재를 검출한다.
그러나, 광학적 테스트에서, 테스트가 수행되기 전에 테스트 장비 및 액정 디스플레이 패널의 위치가 정확해야 한다. 또한, 넓은 영역을 테스트하기 위해서, 영상 포착 소자 및 렌즈와 같은 광학적 시스템의 일부가 테스트 중에 실제로 작동되어야 한다. 따라서, 직면한 문제는 긴 측정 시간 및 측정 정확도의 저하를 포함한다. 결과적으로, 효율적이고 정확하게 정보를 수집할 수 있는 테스트 방법이 필요하다.
본 발명에 따르면, 대향하는 전극 사이에 밀봉된 액정 재료를 구비하는 액정 소자를 제공하며 매트릭스로 배치되는 픽셀을 포함한 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법은, 피시험 픽셀의 전술된 액정 소자로 전하를 공급하는 충전 프로세스와, 전술된 충전된 액정 소자로부터 전하를 방전시키고 방전된 전하량을 측정하는 측정 프로세스 및 전술된 측정 결과로부터 전술된 피시험 픽셀의 액정 소자 내에 결함이 존재하는지 여부를 판단하는 판단 프로세스로 구성된다.
대향하는 전극 사이에 밀봉된 액정 재료가 유전체이기 때문에, 전기적으로 보았을 때, 전체 액정 소자는 캐패시터와 동일한 구조를 갖는다. 따라서, 유전체 캐패시턴스 내의 변칙(저장된 전하량의 변칙)으로서 대향하는 전극 사이에 생성된 결함을 검출함으로써 결함이 전기적으로 판단될 수 있다. 액정 디스플레이 패널의 단자를 접속시킴으로써 장비가 간단히 작동할 수 있기 때문에 전기적인 방법에 기초한 테스트는 광학적 테스트 장비를 사용하는 것과 같이 테스트 장비 및 패널을 정확하게 위치시킬 필요가 없다. 또한, 테스트 장비의 부분은 테스트 동안 기계적으로 작동할 필요가 없다. 또한, 저장된 전하를 제공하는 방법을 변경함으로써 정적 특성뿐만 아니라 동적 특성도 측정될 수 있다. 결함의 원인을 판단하는 데에 요구되는 다양한 데이터가 수집될 수 있다.
본 발명에 따르면 액정 디스플레이 패널을 효율적이고 정확하게 테스트하는 방법이 제공된다.
본 발명의 전형적인 실시예가 도면을 참조로 하여 하기에 기술되었다.
도 1은 피시험 장치인 액정 디스플레이 패널(200)에 접속된, 본 발명에 따른 테스트 장비(100)를 도시한 개략적인 도면이다.
액정 디스플레이 패널(200)은 픽셀을 선택하는 제어 도선(212, 213, 214, 215), 각 제어 도선을 가로지르며 픽셀의 상태를 제어하는 아날로그 제어 신호를 전송하는 신호 도선(218, 219), 제어 도선(212)의 입력에 기초하여 외부로부터의 신호 입력 도선(211)과 신호 도선(218) 사이의 접속 상태를 제어하는 트랜지스터(220), 제어 도선(213)의 입력에 기초하여 외부로부터의 신호 입력 도선(211)과 신호 도선(219) 사이의 접속 상태를 제어하는 트랜지스터(221), 제어 도선과 신호 도선의 교차부에 배치된 픽셀(230, 240 등), 픽셀 캐패시터(232, 242 등)의 기준 퍼텐셜에 대한 공유된 캐패시턴스 도선(216) 및 액정 소자(233, 243 등)의 기준 퍼텐셜에 대한 공유된 액정 도선(217)을 포함한다.
픽셀(230)은 자신의 게이트 단자가 제어 도선(214)에 접속되고 자신의 드레인 단자가 신호 도선(218)에 접속되는 스위칭 소자인 트랜지스터(231)와, 트랜지스터(231)의 소스 단자에 직렬로 접속된 캐패시터(232) 및 액정 소자(233)를 포함한다. 캐패시터(232)의 다른 단자는 공유된 캐패시턴스 도선(216)에 접속된다. 액정 소자(233)에서, TFT 액티브 매트릭스 기판인 측면 상의 전극(도 2의 전극(304))은 트랜지스터(231)의 소스 단자에 접속되고, 다른 전극(300)은 공유된 액정 도선(217)에 접속된다.
액정 디스플레이 패널(200) 내의 다른 픽셀들(240, 250 등)의 구조는 픽셀(230)과 동일한 구조를 갖는다. 각 픽셀의 액정 재료 내의 부분 실링(sealing) 구조는 전술된 도 2의 구조와 동일하다.
스위칭 소자(231)는 그 소자가 신호 도선(218)과 액정 소자(233) 사이의 접속 상태를 제어할 수만 있다면 트랜지스터 외의 기능성 소자로 적절하게 변화될 수 있다. 만약 두 개의 트랜지스터(220, 221)가 신호 입력 도선(211)과 신호 도선(218, 219) 사이의 접속 상태를 제어하도록 기능한다면, 트랜지스터는 예를 들어 시프트 레지스터(shift resister)로 적절하게 변화될 수 있다.
액정 디스플레이 패널(200)은 테스트 장비(100)에 접속된다. 테스트 장비(100)는 피시험 픽셀을 선택하고 테스트 장비의 동작을 제어하는 제어 장비(104), 피시험 픽셀에 전하를 공급하는 전력 공급부(101), 피시험 픽셀로부터 방전된 전하의 양을 측정하고 액정 소자 내에 어떠한 결함이 존재하는지를 판단하는 전하 측정 장비(102) 및 전력 공급부(101)와 전하 측정 장비(102)를 신호 입력 도선(211)에 선택적으로 접속시키는 스위칭 소자(103)를 포함한다. 제어 도선(212, 213, 214, 215)은 제어 장비(104)에 접속된다. 공유된 캐패시턴스 도선(216) 및 공유된 액정 도선(217)은 모두 접지에 접속된다.
다음으로, 테스트 장비(100)의 동작이 도 3의 순서도를 참조로 하여 하기에 기술된다.
먼저, 신호 입력 도선(211) 및 전력 공급부(101)가 스위칭 소자(103)에 의해 접속된다(단계(401)). 전력 공급부(101)의 출력은 4V의 테스트 전압으로 설정된다. 이 상태에서, 제어 도선(212, 214)에 온 전압(on voltage)이 인가된다. 그 다음, 제어 도선(212)에 의해 제어되는 트랜지스터(220)에 접속된 신호 도선(218)과 제어 도선(214)의 교차부(1행 1열)에 위치한 픽셀(230)이 피시험 픽셀로서 선택된다.
본 명세서에서의 "온 전압"은 스위칭 소자가 도전 상태(온 상태(on state))로 진입하는, 즉 문턱값 전압보다 큰 전압이다. 테스트 장비(100)에서, 트랜지스 터(231)를 온 상태에 있도록 설정하기 위해 8V의 온 전압이 제어 도선(214)에 인가된다.
이와는 달리, 스위칭 소자가 오프 상태로 진입하는 전압을 "오프 전압(off voltage)"이라 부른다. 픽셀(230)이 테스트될 때, 제어 도선(215)에 접속된 모든 픽셀들은 오프 상태에 있도록 설정되어야 하기 때문에, -5V의 오프 전압이 제어 도선(215)에 인가된다. 온 전압 및 오프 전압의 전압값 및 극성은 트랜지스터의 명세에 적절히 부합되도록 설정되며 트랜지스터의 채널 및 유형과는 다르다.
테스트 장비(100)의 동작이 다시 기술된다. 제어 도선(212)에 온 전압을 인가함으로써, 트랜지스터(220)가 온 상태에 진입하고, 신호 입력 도선(211) 및 신호 도선(218)이 도전 상태에 진입한다. 제어 도선(214)에 온 전압을 인가함으로써, 피시험 픽셀(230)의 트랜지스터(231)도 온 상태에 진입한다. 따라서, 전력 공급부(101)로부터 공급된 전하는 신호 입력 도선(211), 신호 도선(218) 및 트랜지스터(231)를 통과하며, 이 전하들은 피시험 픽셀(230)의 액정 소자(233)에 공급된다(단계(402))(충전 프로세스).
따라서, 전술된 충전 프로세스가 실행되었을 때, 제어 도선(214)에 접속된 픽셀(250)의 트랜지스터(251)는 온 상태에 진입하지만, 신호 도선(219)에 전하가 공급되지 않았기 때문에 전하는 액정 소자(253)에 공급되지 않는다. 또한, 전하는 신호 도선(218)에 접속된 픽셀(240)의 트랜지스터(241)의 드레인 단자에 공급된다. 그러나, 트랜지스터(241) 자신이 오프 상태에 있기 때문에 전하는 액정 소자(243)에 공급되지 않는다. 다시 말하면, 전하는 오직 1행 1열의 피시험 픽셀(230) 내의 액정 소자(233)에만 공급된다.
액정 소자(233)의 충전이 종료되면, 제어 도선(214)에 오프 전압이 인가되고, 트랜지스터(231)는 오프 상태에 진입하며, 신호 도선(218)과 액정 소자(233)는 차단된다. 특정 시간이 경과된 후, 전하 측정 장비(102)가 신호 입력 도선(211)에 접속되고, 트랜지스터(231)는 다시 온 상태에 진입한다(단계(403)). 피시험 픽셀(230)의 전극(304)을 충전한 전하는 트랜지스터(231)를 통해 신호 도선(218)으로 방전된다(단계(404)). 방전된 전하는 신호 입력 도선(211)을 통해 전하 측정 장비(102) 내로 흐르며, 전하량이 측정된다(단계(405), 측정 프로세스).
전하 측정 장비(102)는 측정 결과가 특정한 조건에 부합하는지 여부를 판단한다. 예를 들어, 전하량이 극도로 적을 때, 대향하는 전극(300, 304) 사이에 누설이 존재한다고 판단된다. 전하량이 특정 범위 내에 있지 않을 때 누설 전류가 없다 하더라도, 액정 재료(302) 내부에 불순물이 존재하거나 또는 대향하는 전극(300, 304) 사이의 거리가 적절하지 않다고 판단된다. 불순물이 존재하거나 대향하는 전극(300, 304) 사이의 거리가 적절하지 않은 경우, 유전체 전기용량이 일반적인 경우와 비교하여 다르기 때문에 측정된 전하량이 다르다.
누설 전류 또는 불순물과 같은 결점이 존재하면 액정 소자(233) 내에 결함이 발생하고, 피시험 픽셀(230)은 불량한 픽셀로 판단된다. 피시험 픽셀의 위치, 측정된 전하량 및 결함 원인의 가설이 기록된다(단계(407), 판단 프로세스). 이것은 1행 1열의 픽셀(230)의 테스트를 완료시킨다.
동일한 테스트 프로세스가 2행 1열의 픽셀(240) 및 (도시되지 않은) 3행 1열 의 픽셀 등을 연속적으로 테스트한다. 1열 내의 모든 픽셀들이 테스트되면, 1행 2열의 픽셀(250), 2행 2열의 픽셀(260) 등이 연속적으로 테스트되어 2열 내의 모든 픽셀들이 테스트된다. 동일하게 제 3 및 제 4 열 등의 각 픽셀들이 연속적으로 테스트된다. 모든 픽셀들이 테스트되었을 때, 디스플레이 패널(200)의 테스트 프로세스는 종료된다(단계(408)).
전술된 픽셀의 테스트 순서는 일례일 뿐, 테스트가 이것으로 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 1행 1열의 픽셀(230)이 테스트된 후, 테스트가 열 방향으로 스캔되어 1행 2열의 픽셀(250), 1행 3열의 픽셀 등을 테스트할 수 있다. 또한, 액정 디스플레이 패널의 제조 프로세스에서의 안정성 및 신뢰도가 높으면, 모든 픽셀들이 테스트되어야 할 필요는 없으며, 특정 픽셀들이 샘플링되어 테스트될 수 있다.
전술된 실시예에서, 오직 피시험 픽셀(230)의 정적 특성만이 측정되었다. 그러나, 온도 변화를 측정하기 위해 시간의 주기 동안 방전된 전하량을 복수 측정함으로써 리버스된 전하가 액정 소자(233)에 주어진 후 테스트 전압(4V)이 인가될 때(전력 공급부(101)의 인가된 전압은 -4V로 설정되고 충전된다), 또는 전술된 바와 같이 테스트 전압이 방전된 상태로부터 인가될 때 액정 소자(233)로부터 방전된 전하량의 차를 측정하여 동적 특성들도 측정될 수 있다. 또한, 예를 들어 오리엔테이션 필름의 결함 또는 나쁜 액정 재료와 같은 추가의 결함 모드가 확인될 수 있다.
상기에서, 본 발명에 관련된 기술적 개념들이 특정한 실시예를 참조로 하여 세부적으로 기술되었다. 그러나, 당업자는 특허청구범위의 의도 및 범주로부터 벗 어나지 않는 한 다양한 변경 및 개선이 가능하다는 점을 이해할 것이다.
본 발명에 따르면 액정 디스플레이 패널을 효율적이고 정확하게 테스트하는 방법이 제공된다.

Claims (5)

  1. 액정 디스플레이 패널을 테스트하는 방법에 있어서,
    상기 패널은 매트릭스 형태로 배치된 픽셀을 포함하고,
    상기 픽셀은 대향하는 전극 사이에 밀봉된 액정 재료를 구비하는 액정 소자를 포함하되,
    상기 테스트 방법은,
    피시험 픽셀(a pixel under test)의 상기 액정 소자로 전하를 공급하는 단계와,
    상기 충전된 액정 소자로부터 전하를 방전시키고 상기 방전된 전하량을 측정하는 단계와,
    상기 측정 결과로부터 상기 피시험 픽셀의 액정 소자 내에 결함이 존재하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는
    액정 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 판단 단계는 상기 액정 소자의 정적 특성 또는 동적 특성 또는 둘 모두를 판단하는 프로세스를 포함하는
    액정 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  3. 액정 디스플레이 패널의 제조 방법에 있어서,
    상기 패널은 매트릭스 형태로 배치된 픽셀을 포함하고,
    상기 픽셀은 대향하는 전극 사이에 밀봉된 액정 재료를 구비하는 액정 소자를 포함하되,
    상기 방법은 상기 액정 소자 내의 결함의 존재 또는 부재 여부를 테스트하는 단계를 포함하고,
    상기 테스트 단계는,
    피시험 픽셀의 상기 액정 소자로 전하를 공급하는 단계와,
    상기 충전된 액정 소자로부터 전하를 방전시키고 상기 방전된 전하량을 측정하는 단계와,
    상기 측정 결과로부터 상기 피시험 픽셀의 액정 소자 내에 결함이 존재하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는
    액정 디스플레이 패널의 제조 방법.
  4. 액정 디스플레이 패널을 테스트하는 방법에 있어서,
    상기 패널은 복수의 제어 도선, 상기 복수의 제어 도선과 교차하는 복수의 신호 도선 및 상기 제어 도선과 상기 신호 도선이 교차하는 위치에 배치된 픽셀을 구비하고,
    상기 픽셀은 액정 소자 및 상기 제어 도선의 신호에 기초하여 상기 액정 소자와 상기 데이터 도선의 접속 상태를 제어하는 스위칭 소자를 구비하며,
    상기 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법은
    피시험 픽셀의 스위칭 소자가 도전 상태에 있도록 설정하고, 상기 스위칭 소자에 접속된 상기 신호 도선에 전하를 공급하며, 상기 액정 소자 내에 전하를 저장하는 단계와,
    상기 피시험 픽셀의 상기 액정 소자 내에 저장된 전하를 상기 신호 도선으로 방전시키고 상기 방전된 전하량을 측정하는 단계와,
    상기 측정된 전하량이 특정 조건을 만족하는지 여부와 상기 피시험 픽셀의 상기 액정 소자 내에 결함이 존재하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는
    액정 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  5. 액정 디스플레이 패널의 테스트 장비에 있어서,
    상기 패널은 복수의 제어 도선, 상기 복수의 제어 도선과 교차하는 복수의 신호 도선 및 상기 제어 도선과 상기 신호 도선이 교차하는 위치에 배치된 픽셀을 구비하고,
    상기 픽셀은 액정 소자 및 상기 제어 도선의 신호에 기초하여 상기 신호 도선과 상기 액정 소자의 접속 상태를 제어하는 스위칭 소자를 구비하며,
    상기 테스트 장비는
    전력 공급부와,
    전하 측정 장비와,
    상기 전력 공급부를 피시험 픽셀이 접속된 상기 신호 도선에 접속시킴으로써 상기 전하 측정 장비에서 상기 피시험 픽셀의 액정 소자에 결함이 존재하는지 여부를 판단하고, 상기 피시험 픽셀의 상기 액정 소자에 전하를 공급하며, 상기 저장된 전하를 방전시키고, 상기 전하 측정 장비에 의해 방전된 전하량을 측정하며, 상기 전하량이 특정한 조건을 만족시키는지 여부를 판단하는 제어 장비를 포함하는
    액정 디스플레이 패널의 테스트 장비.
KR1020060131684A 2005-12-21 2006-12-21 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트장비 KR20070066916A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2005-00367388 2005-12-21
JP2005367388A JP2007171428A (ja) 2005-12-21 2005-12-21 表示パネルの製造方法、検査方法および検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20070066916A true KR20070066916A (ko) 2007-06-27

Family

ID=38172705

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060131684A KR20070066916A (ko) 2005-12-21 2006-12-21 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트장비

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20070139069A1 (ko)
JP (1) JP2007171428A (ko)
KR (1) KR20070066916A (ko)
CN (1) CN1987559A (ko)
TW (1) TW200725020A (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101577078B (zh) * 2009-06-22 2011-04-27 福建捷联电子有限公司 液晶显示器的全自动调整测试系统
TWI448797B (zh) * 2010-10-07 2014-08-11 Au Optronics Corp 雷射修補機台
JP2018112515A (ja) * 2017-01-13 2018-07-19 日本電産サンキョー株式会社 パネル検査システム
CN110361870A (zh) * 2019-07-29 2019-10-22 深圳阜时科技有限公司 一种光学组件、发射单元、传感模组及电子设备

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3707404B2 (ja) * 2001-08-03 2005-10-19 ソニー株式会社 検査方法、半導体装置、及び表示装置
JP2003050380A (ja) * 2001-08-07 2003-02-21 Toshiba Corp アレイ基板の検査方法
JP2004294457A (ja) * 2002-12-16 2004-10-21 Agilent Technologies Japan Ltd アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1987559A (zh) 2007-06-27
TW200725020A (en) 2007-07-01
US20070139069A1 (en) 2007-06-21
JP2007171428A (ja) 2007-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101376404B1 (ko) 액정 표시 장치 및 액정 표시 장치의 검사 방법
US5377030A (en) Method for testing active matrix liquid crystal by measuring voltage due to charge in a supplemental capacitor
KR100353955B1 (ko) 신호라인 검사를 위한 액정표시장치
KR20060043163A (ko) Ｔｆｔ 어레이 시험 방법
US7317325B2 (en) Line short localization in LCD pixel arrays
US5258705A (en) Active matrix substrate inspecting device
KR20160071358A (ko) 트랜지스터 어레이의 개선된 테스트 방법 및 시스템
JP3203864B2 (ja) アクティブマトリックス基板の製造方法、検査方法および装置と液晶表示装置の製造方法
KR20070066916A (ko) 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트장비
US7427739B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
KR20060065528A (ko) 어레이 기판 검사 방법 및 장치
US20070176623A1 (en) Method and apparatus for testing a TFT array for a liquid crystal panel
US8786305B2 (en) Test circuit and test method for detecting electrical defect in TFT-LCD
CN101303499B (zh) 液晶显示面板装置及其测试方法
KR20060020652A (ko) 어레이 기판의 검사 방법
JP2009085925A (ja) リーク欠陥検出方法
KR100632680B1 (ko) 액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법
JP3439038B2 (ja) 液晶ディスプレイ基板の検査方法及び装置
KR100318021B1 (ko) 액티브매트릭스어레이기판의 검사방법 및 검사장치
US20060097744A1 (en) Apparatus and method for inspecting thin film transistor active matrix substrate
JPWO2004109374A1 (ja) アレイ基板の検査方法およびアレイ基板の検査装置
JP2010117463A (ja) 液晶装置の評価方法
KR100299535B1 (ko) 엑스-선 검출소자의 테스트 방법 및 장치
JP2007248624A (ja) 液晶表示パネルの製造方法、検査方法および検査装置
KR101328825B1 (ko) 액정표시장치의 박막트랜지스터 어레이 기판 검사방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid