KR20060029713A - Probe block for patern inspection of flat display panel - Google Patents

Probe block for patern inspection of flat display panel Download PDF

Info

Publication number
KR20060029713A
KR20060029713A KR1020040061520A KR20040061520A KR20060029713A KR 20060029713 A KR20060029713 A KR 20060029713A KR 1020040061520 A KR1020040061520 A KR 1020040061520A KR 20040061520 A KR20040061520 A KR 20040061520A KR 20060029713 A KR20060029713 A KR 20060029713A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe
block body
blades
blade
block
Prior art date
Application number
KR1020040061520A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR100586011B1 (en
Inventor
안재일
Original Assignee
주식회사 코디에스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 코디에스 filed Critical 주식회사 코디에스
Priority to KR1020040061520A priority Critical patent/KR100586011B1/en
Publication of KR20060029713A publication Critical patent/KR20060029713A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100586011B1 publication Critical patent/KR100586011B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07321—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support the probes being of different lengths
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

본 발명은 LCD, PDP 등과 같은 평판형 디스플레이 패널을 검사하기 위한 프로브블록에 관한 것으로, 특히 블록몸체(11)와, 상기 블록몸체(11)의 양쪽 선단 저면에 부착되고 복수개의 슬릿(13a)이 일정한 간격으로 형성된 절연슬릿(13)과, 상기 절연슬릿(13)의 각 슬릿(13a)마다 끼워지고 양단이 상기 블록몸체(11)의 전후단에서 돌출되어 전단은 피검사체의 배선과 접촉하며 후단은 탭IC의 배선과 접속되고, 몸체에는 고정봉(24)이 관통하는 고정봉 관통구멍(19)이 뚫려진 복수개의 탐침블레이드(15)와, 상기 절연슬릿(13)에 지지된 복수개의 탐침블레이드(15)들의 고정봉 관통구멍(19)을 한꺼번에 관통하는 고정봉(24) 및 상기 프로브블록()의 양쪽 측면에 부착되어 상기 고정봉(24)의 양단을 끼워 고정함으로써 상기 복수개의 탐침블레이드(15)들을 블록몸체에 고정하는 측면커버(26)로 이루어지고, 상기 탐침블레이드(15)는 블록몸체(11)의 외측으로 돌출하는 앞쪽 선단에 위치확인용 돌기(17)가 길이방향을 따라 외측으로 돌출연장되며, 상기 탐침블레이드(15)는 길이가 상대적으로 긴 장 탐침블레이드(15a)와, 장 탐침블레이드(15a)보다 짧은 단 탐침부재()로 이루어져 절연슬릿(13)의 슬릿(13a)에 교대로 반복하여 배치된 것이다. The present invention relates to a probe block for inspecting a flat panel display panel such as an LCD, a PDP, etc., in particular, the block body 11 and the bottom surface of both ends of the block body 11 is attached to the plurality of slits 13a Insulated slits 13 formed at regular intervals, and each of the slits 13a of the insulated slits 13 and both ends protrude from the front and rear ends of the block body 11, the front end is in contact with the wiring of the test subject and the rear end The probe is connected to the wiring of the tab IC, a plurality of probe blades 15 through which a fixed rod through-hole 19 through which the fixed rod 24 passes, and a plurality of probes supported by the insulating slit 13. The plurality of probe blades are attached to both sides of the fixing rod 24 and the probe block (2) through the fixing rod through-holes 19 of the blades 15 at one time. The side which fixes 15 to a block body Cover 26, the probe blade 15 is a positioning projection 17 protrudes outward in the longitudinal direction at the front end protruding to the outside of the block body 11, the probe blade ( 15 consists of a long probe blade 15a having a relatively long length and a short probe member shorter than the long probe blade 15a, and is alternately arranged in the slit 13a of the insulating slit 13.

평판형 디스플레이, 패널, 검사, 탐침블레이드Flat Panel Display, Panel, Inspection, Probe Blade

Description

평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록{PROBE BLOCK FOR PATERN INSPECTION OF FLAT DISPLAY PANEL}PROBE BLOCK FOR PATERN INSPECTION OF FLAT DISPLAY PANEL}

도 1은 본 발명에 따른 프로브블록의 외관 사시도, 1 is an external perspective view of a probe block according to the present invention;

도 2는 본 발명에 따른 프로브블록의 조립단면도,2 is an assembled cross-sectional view of the probe block according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 프로브블록에 조립되는 탐침블레이드의 정면도,3 is a front view of the probe blade assembled to the probe block according to the present invention,

도 4는 도 1의 부분 저면사시도로서, 탐침블레이드의 전단이 절연슬릿에 설치된 상태의 도면,Figure 4 is a partial bottom perspective view of Figure 1, the front end of the probe blade is a view installed in the insulating slit,

도 5는 도 1의 부분 저면 사시도로서, 탐침블레이드의 후단이 절연슬릿에 설치된 상태의 도면,FIG. 5 is a partial bottom perspective view of FIG. 1, in which a rear end of the probe blade is installed in an insulating slit; FIG.

도 6은 종래 프로브블록의 조립단면도이다.6 is an assembled cross-sectional view of a conventional probe block.

※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※※ Explanation of code about main part of drawing ※

11: 블록몸체 13: 절연슬릿11: Block body 13: Insulated slit

13a: 슬릿 15: 탐침블레이드13a: Slit 15: Probe Blade

15a: 장 탐침블레이드 15b: 단 탐침블레이드15a: long probe blade 15b: single probe blade

17: 돌기 19: 고정봉 관통구멍17: projection 19: fixed rod through hole

20: 탐침부 22: 절개홈20: probe 22: incision groove

24: 고정봉 26: 측면커버24: fixing rod 26: side cover

본 발명은 LCD, PDP 등과 같은 평판형 디스플레이의 패널에서 패턴의 이상유무를 검사하는 프로브유니트에 관한 것으로, 특히 복수개의 탐침블레이드를 블록상에 일정한 간격으로 배치하여 평판형 디스플레이의 패널에 구비된 패턴과 접촉하는 프로브부재에 관한 것이다. The present invention relates to a probe unit for inspecting a pattern abnormality in a panel of a flat panel display such as an LCD or a PDP. In particular, a plurality of probe blades are arranged on a block at regular intervals to provide a pattern of the flat panel. It relates to a probe member in contact with.

종래 프로브부재로서 한국 공개특허공보 제10-1998-0032242호에 개시되어 알려진 것이 있는데, 이 종래 프로브부재는 도 6에 도시된 바와 같이, 블록몸체(61)에 복수개의 탐침블레이드(62)가 블록몸체(61)의 저면 선단에 구비된 절연슬릿(63)의 슬릿에 안착하여 일정한 간격을 유지한 상태로 지지되고, 이들 복수개의 탐침블레이드(62)들을 2개의 고정봉(64)이 전후단에서 각각 관통되어 그 양쪽 선단이 프로브블록(61)의 측면에 조립되는 사이드커버(도시생략)에 지지됨으로써 프로브블록(61)에 조립되게 되어 있다.  As a conventional probe member, it is known and disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-1998-0032242, and this conventional probe member has a plurality of probe blades 62 formed on a block body 61, as shown in FIG. It is seated on the slit of the insulating slit 63 provided at the front end of the body 61 and is supported at a constant interval. The plurality of probe blades 62 are supported by two fixing rods 64 at the front and rear ends. Each end is penetrated by the side cover (not shown) which is assembled to the side of the probe block 61, and is assembled to the probe block 61.

상기한 바와 같은 종래의 프로브부재(60)는 탐침블레이드(62)가 프로브블록(61)의 선단에서 동일한 길이만큼 돌출되게 되므로 배선간격이 매우 촘촘한 마이크로 배선은 탐침위치를 정확하게 맞추기가 어려워 검사를 정확하게 하기 어려운 단점이 있다.In the conventional probe member 60 as described above, since the probe blade 62 protrudes by the same length from the tip of the probe block 61, the micro wiring having a very tight wiring interval is difficult to accurately match the probe position, so that the inspection is accurately performed. It is difficult to do.

또한 종래의 탐침블레이드는 2개의 고정봉에 의해 지지되게 몸체에 고정봉 관통구멍이 2개씩 뚫려지게 되므로 제조공정이 그만큼 복잡하고 뿐만아니라 프로브 블록몸체에 조립하기 위해서는 2개의 고정봉을 조립하여야 하는 불편함이 있었다. In addition, since the conventional probe blades are provided with two fixing rod through holes in the body so as to be supported by two fixing rods, the manufacturing process is complicated, and inconvenience of assembling two fixing rods in order to assemble the probe block body. There was a ham.

이에 본 발명은 상기 종래의 프로브부재가 가진 단점을 해소하기 위하여 고안된 것으로, 탐침블레이드와 피검사체의 접촉상태를 육안으로 점검하여 검사신뢰성을 높일 수 있고, 배선간격이 조밀하더라도 탐침에러없이 정확하게 탐침할 수 있으며, 조립구조가 간단한 프로브블록을 제공함에 목적이 있다.Therefore, the present invention is designed to solve the shortcomings of the conventional probe member, by visually checking the contact state between the probe blade and the inspected object to increase the inspection reliability, even if the wiring spacing is dense, it is possible to accurately probe without a probe error. It is possible to provide a simple probe block assembly structure.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브블록은 블록몸체와, 상기 블록몸체의 양쪽 선단 저면에 부착되고 복수개의 슬릿이 일정한 간격으로 형성된 절연슬릿과, 상기 절연슬릿의 각 슬릿마다 한개씩 끼워져 일정한 간격으로 배치되고 양단이 블록몸체의 전후단에서 돌출되어 전단은 피검사체의 배선과 접촉하며 후단은 탭IC의 배선과 접속되고, 몸체에는 고정봉이 관통하는 고정봉관통구멍이 뚫려진 복수개의 탐침블레이드와, 상기 절연슬릿에 지지된 복수개의 탐침블레이드들의 고정봉 관통구멍을 한꺼번에 관통하는 고정봉 및 상기 프로브블록의 양쪽 측면에 부착되어 상기 고정봉의 양단을 끼워 고정함으로써 상기 복수개의 탐침블레이드들을 블록몸체에 고정하는 측면커버로 이루어지고, Probe block of the present invention for achieving the above object is an insulating slit attached to the bottom surface of the both ends of the block body, the block body and a plurality of slits are formed at regular intervals, and inserted into each one of each slit of the insulating slit at regular intervals A plurality of probe blades having a plurality of probe blades, each end of which is protruded from the front and rear ends of the block body, the front end is in contact with the wiring of the inspected object, and the rear end is connected with the wiring of the tap IC, and the fixing rod penetrating hole through which the fixed rod penetrates the body; Fixing rods penetrating the fixing rod through-holes of the plurality of probe blades supported by the insulating slit at one time and attached to both sides of the probe block to secure the plurality of probe blades to the block body by sandwiching both ends of the fixing rod. Made of side cover,

상기 탐침블레이드는 블록몸체의 외측으로 돌출하는 앞쪽 선단에 위치확인용 돌기가 탐침블레이드의 길이방향을 따라 외측으로 돌출연장되고, 상기 고정봉 관통구멍은 중심에서 전단까지의 길이가 후단까지의 길이보다 짧은 위치에 위치하도록 형성되어 있다. The probe blade has a positioning protrusion protruding outward along the longitudinal direction of the probe blade at the front end protruding to the outside of the block body, the fixing rod through hole has a length from the center to the front end than the length of the rear end It is formed to be located in a short position.

그리고 상기 탐침블레이드는 고정봉 관통구멍에서 전단 및 후단까지의 길이가 상대적으로 긴 장 탐침블레이드와 고정봉 관통구멍에서 전단 및 후단까지의 길이가 장 탐침블레이드보다 상대적으로 짧은 단 탐침블레이드로 이루어지고, 이들 장 탐침블레이드와 단 탐침블레이드가 교대로 배치된 구조로 되어 있다. The probe blade is composed of a long probe blade having a relatively long length from the fixed rod through hole to the front end and a rear end, and a short probe blade having a relatively short length from the fixed rod through hole to the front end and the rear end, These long probe blades and single probe blades are arranged alternately.

상기한 바와 같은 본 발명의 프로브블록은 다음과 같은 장점을 가진다.The probe block of the present invention as described above has the following advantages.

(1) 탐침블레이드는 위치확인용 돌기가 블록몸체의 전단 외측으로 돌출되므로 피검사체의 배선과 정확하게 일치하는지의 여부를 육안으로 쉽게 확인할 수 있으므로 탐침의 정확도를 높일 수 있다.(1) The probe blade can easily check whether the positioning projection is projected to the outside of the front end of the block body with the naked eye, so that the accuracy of the probe can be improved.

(2) 또한 탐침블레이드들은 1개의 고정봉으로 고정되므로 탐침블레이드를 성형하거나 조립할 때 공정이 간단하고, 고정봉에서 후단까지의 거리가 전단까지의 거리보다 길므로 탐침할 때 전단의 탐침부에서 상하요동이 있더라도 후단에서의 상하 요동거리는 극히 작아 탭IC와의 접속부가 단절되지 않게 된다.(2) Since probe blades are fixed with one fixed rod, the process is simple when forming or assembling the probe blade, and the distance from the fixed rod to the rear end is longer than that of the front end. Even if there is oscillation, the up and down oscillation distance at the rear end is extremely small so that the connection with the tap IC is not disconnected.

(3) 그리고 탐침블레이드가 돌출길이가 긴 장 탐침블레이드와 돌출길이가 짧은 단 탐침블레이드가 교대로 반복하여 배치되므로 미세한 폭의 배선이 촘촘하게 배열된 패턴에도 서로 간섭없이 정확하게 탐침할 수 있다. (3) Since the probe blade has a long protruding length and a short protruding blade alternately arranged, the probe blade can be precisely probed without interference even in a pattern in which fine wires are closely arranged.

이하, 본 발명에 따른 평판형 디스플레이 패널 검사용 프로브블록의 실시예를 첨부도면에 따라 상세히 설명한다. Hereinafter, an embodiment of a probe block for inspecting a flat panel display panel according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 프로브블록의 외관 사시도이고, 도 2는 본 발명에 따른 프로브블록의 조립단면도이다.1 is an external perspective view of a probe block according to the present invention, Figure 2 is an assembled cross-sectional view of the probe block according to the present invention.

상기 도면들에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 프로브블록은 대략 직육면체 형상의 블록몸체(11)를 구비하고, 이 블록몸체(11)는 프로브장치의 프로브헤드(도시생략)에 나사 등으로 체결되어 고정된다. As shown in the drawings, the probe block according to the present invention includes a block body 11 having a substantially rectangular parallelepiped shape, and the block body 11 is fastened with a screw or the like to the probe head (not shown) of the probe device. Is fixed.

상기 블록몸체(11)의 전후단 저면에는 복수개의 슬릿(13a)들이 일정한 간격으로 형성된 절연슬릿(13)이 부착되어 고정된다. 상기 절연슬릿(13)은 세라믹으로 성형된다. An insulating slit 13 having a plurality of slits 13a formed at regular intervals is attached to and fixed to the bottom surface of the front and rear ends of the block body 11. The insulating slit 13 is formed of ceramic.

상기 절연슬릿(13)의 각 슬릿(13a)에는 도 1에 도시된 바와 같은 탐침블레이드(15)가 하나씩 끼워져 블록몸체에 일정한 간격을 두고 복수개가 배치된다. 상기 탐침블레이드(15)는 도 2에 도시된 바와 같이, 블록몸체(11)의 전후단에서 블록몸체(11)의 외측으로 돌출되게 끼워져 전단은 피검사체의 배선과 접촉하게 되며 후단은 탭IC의 배선에 일대일 대응하여 ACF로 접속되게 된다. Probe blades 15 as shown in FIG. 1 are inserted into each of the slits 13a of the insulating slit 13, and a plurality of the plurality of probe slits 15 are arranged at regular intervals on the block body. As shown in FIG. 2, the probe blade 15 is inserted to protrude outward from the block body 11 at the front and rear ends of the block body 11 so that the front end is brought into contact with the wiring of the inspected object and the rear end of the tab IC is disposed. One-to-one correspondence with the wiring is connected to the ACF.

그리고 탐침블레이드(15)는 도 1에 도시된 바와 같이, 전단에 길이방향을 따라 위치확인용 돌기(17)가 돌출되어 블록몸체(11)에 조립된 상태에서 블록몸체(11)의 외측으로 돌출됨으로써 탐침블레이드(15)가 피검사체의 배선과 정확하게 일치하는지의 여부를 육안으로 쉽게 확인할 수 있다. And the probe blade 15, as shown in Figure 1, protrudes out of the block body 11 in a state in which the positioning projections 17 protrude along the longitudinal direction at the front end and assembled to the block body 11 As a result, it is easy to visually check whether or not the probe blade 15 exactly matches the wiring of the object under test.

또한 탐침블레이드(15)는 도 3에 도시된 바와 같이, 몸체에는 고정봉이 관통하는 고정봉 관통구멍(19)이 전단까지의 거리가 후단까지의 거리보다 짧은 위치에 뚫려진다. 그리고 상기 탐침블레이드(15)는 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 고정봉 관통구멍(19)에서 전후단까지의 길이가 상대적으로 긴 장 탐침블레이드(15a)와, 고정봉 관통구멍(19)에 전후단까지의 길이가 상기 장 탐침블레이드(15a)보다 짧은 단 탐침부재(15b)의 2종류로 이루어지고, 이들 장 탐침블레이드(15a)와 단 탐침블레이드(15b)는 도 4에 도시된 바와 같이, 절연슬릿(13)의 슬릿(13a)에 교대로 반복하여 배치된다. 이렇게 됨으로써 미세한 폭의 배선이 촘촘하게 배열된 패턴에도 서로 간섭없이 정확하게 탐침할 수 있다. In addition, the probe blade 15, as shown in Figure 3, the fixed rod through-hole 19 through which the fixed rod penetrates into the body at a position shorter than the distance to the rear end. As shown in FIG. 4, the probe blade 15 includes a long probe blade 15a having a relatively long length from the fixed rod through hole 19 to the front and rear ends thereof, and the fixed rod through hole 19. The length of the front and rear ends is composed of two types of short probe members 15b shorter than the long probe blades 15a, and these long probe blades 15a and the short probe blades 15b are shown in FIG. Alternately arranged in the slit 13a of the insulating slit 13. As a result, even in a pattern in which fine wires are densely arranged, it is possible to accurately probe without interference with each other.

한편, 상기 탐침블레이드(15)은 선단 탐침부(20)가 절개홈(22)에 의해 2군데로 분할되어 피검사체의 배선과 접촉할 때 면접촉이 이루어지도록 하여 접촉을 양호하게 한다. On the other hand, the probe blade 15 is the tip probe 20 is divided into two places by the incision groove 22 to make a good contact by making a surface contact when contacting the wiring of the test object.

본 발명의 프브로블록에 의하면, 탐침블레이드가 블록몸체의 전단 외측으로 돌출되는 위치확인용 돌기를 구비하여 피검사체의 배선과 정확하게 일치하는지의 여부를 육안으로 쉽게 확인할 수 있으므로 탐침의 정확도를 높일 수 있다.According to the probro block of the present invention, the probe blade is provided with a positioning protrusion that protrudes outward from the front end of the block body so that it is easy to visually check whether the probe blade is exactly matched with the wiring of the inspected object, thereby increasing the accuracy of the probe. have.

또한 탐침블레이드들은 1개의 고정봉으로 고정되므로 탐침블레이드를 성형하거나 조립할 때 공정이 간단하고, 고정봉에서 후단까지의 거리가 전단까지의 거리보다 길므로 탐침할 때 전단의 탐침부에서 상하요동이 있더라도 후단에서의 상하 요동거리는 극히 작아 탭IC와의 접속부가 단절되지 않게 된다.In addition, since the probe blades are fixed with one fixed rod, the process is simple when forming or assembling the probe blade, and since the distance from the fixed rod to the rear end is longer than the distance from the front end, The up-and-down swing distance at the rear end is extremely small so that the connection with the tap IC is not disconnected.

그리고 탐침블레이드가 돌출길이가 긴 장 탐침블레이드와 돌출길이가 짧은 단 탐침블레이드가 교대로 반복하여 배치되므로 미세한 폭의 배선이 촘촘하게 배열된 패턴에도 서로 간섭없이 정확하게 탐침할 수 있다. In addition, since the probe blade has a long protruding blade and a short protruding blade alternately arranged repeatedly, the probe blade can be accurately probed without interference even in a pattern in which fine wires are closely arranged.

Claims (3)

블록몸체(11)와, 상기 블록몸체(11)의 양쪽 선단 저면에 부착되고 복수개의 슬릿(13a)이 일정한 간격으로 형성된 절연슬릿(13)과, 상기 절연슬릿(13)의 각 슬릿(13a)마다 한개씩 끼워져 일정한 간격으로 배치되고 양단이 상기 블록몸체(11)의 전후단에서 돌출되어 전단은 피검사체의 배선과 접촉하며 후단은 탭IC의 배선과 접속되고, 몸체에는 고정봉이 관통하는 고정봉 관통구멍(19)이 뚫려진 복수개의 탐침블레이드(15)와, 상기 절연슬릿(13)에 지지된 복수개의 탐침블레이드(15)들의 고정봉 관통구멍(19)을 한꺼번에 관통하는 고정봉(24) 및 상기 블록몸체(11)의 양쪽 측면에 부착되어 상기 고정봉(24)의 양단을 끼워 고정함으로써 상기 복수개의 탐침블레이드(15)들을 블록몸체에 고정하는 측면커버(26)로 이루어진 평판형 디스플레이 패널 검사용 프로브블록에 있어서, An insulating slit 13 attached to the block body 11, bottom surfaces of both ends of the block body 11, and a plurality of slits 13a are formed at regular intervals, and each slit 13a of the insulating slit 13; One by one is placed at regular intervals, both ends protrude from the front and rear ends of the block body 11, the front end is in contact with the wiring of the test object, the rear end is connected to the wiring of the tap IC, the fixed rod penetrates through the body A fixed rod 24 penetrating a plurality of probe blades 15 through which holes 19 are drilled, and fixing rod through holes 19 of the plurality of probe blades 15 supported by the insulating slit 13 at once. Attached to both sides of the block body 11, the flat panel display panel consisting of a side cover (26) for fixing the plurality of probe blades (15) to the block body by fixing both ends of the fixing rod (24) In the probe block , 상기 탐침블레이드(15)는 블록몸체의 외측으로 돌출하는 앞쪽 선단에 위치확인용 돌기(17)가 길이방향을 따라 외측으로 돌출연장된 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 패널 검사용 프로브블록.The probe blade 15 is a flat panel display panel inspection probe block, characterized in that the positioning projection (17) protrudes outward in the longitudinal direction at the front end protruding to the outside of the block body. 제1항에 있어서, 상기 탐침블레이드(15)는 상기 고정봉 관통구멍(19)이 중심에서 전단까지의 길이가 후단까지의 길이보다 짧은 위치에 위치하도록 형성되고, 상기 고정봉 관통구멍(19)에서 전후단까지의 길이가 상대적으로 긴 장 탐침블레이드(15a)와, 고정봉 관통구멍(19)에 전후단까지의 길이가 상기 장 탐침블레이드 (15a)보다 짧은 단 탐침부재(15b)의 2종류로 이루어지고, 이들 장 탐침블레이드(15a)와 단 탐침블레이드(15b)는 절연슬릿(13)의 슬릿(13a)에 교대로 반복하여 배치되는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 패널 검사용 프로브블록.The method of claim 1, wherein the probe blade 15 is formed so that the fixed rod through hole 19 is located at a position where the length from the center to the front end is shorter than the length from the rear end, the fixed rod through hole 19 Types of long probe blades 15a having a relatively long length from the top to the front and rear ends, and a short probe member 15b having a length from the fixed rod through-hole 19 to the front and rear ends shorter than the long probe blades 15a. And the long probe blades (15a) and the short probe blades (15b) are alternately repeatedly arranged in the slit (13a) of the insulating slit (13). 제2항에 있어서, 상기 탐침블레이드(15)의 전단에는 피검사체와 접촉하는 탐침부(20)가 몸체 수평방향에 대하여 일정한 각도만큼 하향 경사지게 연장되고, 상기 탐침부(20)는 절개홈(22)에 의해 2부분으로 구획된 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 패널 검사용 프로브블록. The method of claim 2, wherein the front end of the probe blade (15) extends inclined downward by a predetermined angle with respect to the body horizontal direction of the probe portion 20 in contact with the subject, the probe portion 20 is the incision groove 22 Probe block for inspecting flat panel display panel, characterized in that divided into two parts by).
KR1020040061520A 2004-08-04 2004-08-04 Probe block for patern inspection of flat display panel KR100586011B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040061520A KR100586011B1 (en) 2004-08-04 2004-08-04 Probe block for patern inspection of flat display panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040061520A KR100586011B1 (en) 2004-08-04 2004-08-04 Probe block for patern inspection of flat display panel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060029713A true KR20060029713A (en) 2006-04-07
KR100586011B1 KR100586011B1 (en) 2006-06-08

Family

ID=37139934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040061520A KR100586011B1 (en) 2004-08-04 2004-08-04 Probe block for patern inspection of flat display panel

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100586011B1 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100692179B1 (en) * 2006-05-01 2007-03-12 주식회사 코디에스 Probe assembly for inspecting of flat panel display
KR100854757B1 (en) * 2007-01-25 2008-08-27 주식회사 나노픽셀 The Probe Device and Probe Block for Display Panel Test using the Device
KR100884475B1 (en) * 2007-10-10 2009-02-20 유명자 A device for testing for display panel
KR101655262B1 (en) * 2016-02-29 2016-09-08 주식회사 프로이천 Needle type pin board
KR101672826B1 (en) * 2016-02-03 2016-11-07 주식회사 프로이천 Needle type pin board
KR102265960B1 (en) * 2020-12-29 2021-06-17 주식회사 프로이천 Probe block
KR102265962B1 (en) * 2020-12-29 2021-06-17 주식회사 프로이천 Pin board
KR20220166597A (en) * 2021-06-10 2022-12-19 주식회사 프로이천 Pin board

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100715836B1 (en) 2006-10-16 2007-05-10 (주)피엘텍 Probe unit
KR102294168B1 (en) 2021-06-18 2021-08-25 이시훈 Blade type probe block
KR20230079786A (en) 2021-11-29 2023-06-07 주식회사 이노베이스 Probing apparatus for testing of flexible QD-OLED panel
KR102409030B1 (en) 2022-05-09 2022-06-14 이시훈 Blade type probe block

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100692179B1 (en) * 2006-05-01 2007-03-12 주식회사 코디에스 Probe assembly for inspecting of flat panel display
KR100854757B1 (en) * 2007-01-25 2008-08-27 주식회사 나노픽셀 The Probe Device and Probe Block for Display Panel Test using the Device
KR100884475B1 (en) * 2007-10-10 2009-02-20 유명자 A device for testing for display panel
KR101672826B1 (en) * 2016-02-03 2016-11-07 주식회사 프로이천 Needle type pin board
KR101655262B1 (en) * 2016-02-29 2016-09-08 주식회사 프로이천 Needle type pin board
KR102265960B1 (en) * 2020-12-29 2021-06-17 주식회사 프로이천 Probe block
KR102265962B1 (en) * 2020-12-29 2021-06-17 주식회사 프로이천 Pin board
KR20220166597A (en) * 2021-06-10 2022-12-19 주식회사 프로이천 Pin board

Also Published As

Publication number Publication date
KR100586011B1 (en) 2006-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100586011B1 (en) Probe block for patern inspection of flat display panel
JP5459646B2 (en) Probe unit and inspection device
KR100926535B1 (en) Electrical Connecting Apparatus and Assembling Method Thereof
JP2005338065A (en) Inspection jig and inspection equipment
JP2009115585A (en) Probe assembly and test device
KR100610889B1 (en) Probe unit for a flat display panel having fine pitch-pattern
JP2005055343A (en) Probe device for flat-panel display inspection
KR101506624B1 (en) Probe Structure and probe card having the same
JP2007127488A (en) Probe card
KR100692179B1 (en) Probe assembly for inspecting of flat panel display
KR0182084B1 (en) Inspection probe
KR200457028Y1 (en) Probe apparatus
JP2007232558A (en) Electronic component inspection probe
JP4886422B2 (en) Four-terminal measurement probe
KR200396580Y1 (en) Probe unit for inspection of flat display devices
JP4748801B2 (en) Relay connector
KR200247134Y1 (en) Apparatus for inspecting PCB
JPH045023Y2 (en)
KR101531767B1 (en) Probe card
KR100898408B1 (en) Test connector for pcb module
KR100651039B1 (en) A liquid crystal plate and examinational apparatus thereof
KR102367167B1 (en) Probe block
KR101317251B1 (en) Probe Card
JPH0329175B2 (en)
KR101058519B1 (en) Probe card

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
B601 Maintenance of original decision after re-examination before a trial
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20050302

Effective date: 20060330

S901 Examination by remand of revocation
GRNO Decision to grant (after opposition)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130423

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140410

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160513

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee