JP4748801B2 - Relay connector - Google Patents

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本発明は、検査のために、電子部品等の被検査基板に配設された被検査側コネクタを、測定器等に電気的接続するために用いる中継コネクターに関するものである。   The present invention relates to a relay connector used for electrically connecting a connector to be inspected disposed on a substrate to be inspected such as an electronic component to a measuring instrument or the like for inspection.

デジタルカメラのごとく小型の電子機器にあっては、小さなスペースに多くの電子回路を搭載するために、複数枚の基板が重ねられるように配設され、これらの基板間がそれぞれに配設されたコネクタを介して電気的接続されるものがある。そこで、基板とそれに配設されたコネクタを検査するには、コネクタに測定器等を適宜に電気的接続すれば良い。ここで、被検査基板と被検査側コネクタの全体を検査するためには、被検査側コネクタに対となる治具側のコネクタを嵌合させて測定器に電気的接続することが望ましい。しかるに、被検査側および治具側のいずれのコネクタにあっても、嵌合引き抜き耐久回数は50回程度と比較的に少ない。そこで、治具側コネクタを検査回数が耐久回数に達する毎に交換しなければならない。この治具側コネクタが治具側基板に半田付けにより固定されていてその治具側基板に測定器等に接続される多数本の配線ケーブルが半田付けされているとすると、治具側コネクタのみを簡単に交換することができない。そこで、治具側コネクタと治具側基板および配線ケーブルの全体を交換せざるを得ない。すると、測定検査のコストが大きくなるという不具合が生ずる。   In a small electronic device such as a digital camera, in order to mount a large number of electronic circuits in a small space, a plurality of substrates are arranged so as to overlap each other, and these substrates are arranged respectively. Some are electrically connected via connectors. Therefore, in order to inspect the board and the connector disposed thereon, a measuring instrument or the like may be appropriately electrically connected to the connector. Here, in order to inspect the entire board to be inspected and the connector to be inspected, it is desirable to fit the connector on the jig side to be a pair to the connector to be inspected and to electrically connect to the measuring instrument. However, the number of endurance times for fitting and pulling out is about 50, which is relatively small, regardless of whether the connector is to be inspected or the jig side. Therefore, the jig-side connector must be replaced every time the number of inspections reaches the endurance number. If this jig-side connector is fixed to the jig-side board by soldering and a large number of wiring cables connected to the measuring instrument etc. are soldered to the jig-side board, only the jig-side connector will be Cannot be easily replaced. Therefore, the entire jig-side connector, jig-side substrate, and wiring cable must be replaced. Then, the malfunction that the cost of a measurement inspection becomes large arises.

そこで、本発明の出願人は、既に特開2004−273192号公報に示されるごとき技術を提案して、交換する部分を少なくすることで、測定検査のコストを小さなものとした。この先に提案した技術は、被検査側コネクタに対となる治具側コネクタを絶縁中継基板に配設し、この絶縁中継基板を絶縁材からなるプローブユニットに着脱自在に配設する。このプローブユニットにプローブを配設する。そして、治具側コネクタの端子が絶縁中継基板に設けられた端子に電気的接続され、この絶縁中継基板の端子にプローブユニットのプローブが当接する。なお、プローブユニットに設けられたプローブの他端は、測定器等に接続される多数本の配線ケーブルに適宜に電気的接続される。もって、被検査側コネクタが、治具側コネクタと絶縁中継基板とプローブおよび配線ケーブルを介して測定器等に電気的接続される。そこで、治具側コネクタの検査使用回数が耐久回数に達すると、この治具側コネクタと絶縁中継基板を交換すれば良く、交換する部分が少ない分だけ、測定検査のコストを少なくできる。
特開2004−273192号公報
Therefore, the applicant of the present invention has already proposed a technique as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-273192, and has reduced the cost of measurement and inspection by reducing the number of parts to be replaced. In the previously proposed technique, a jig-side connector that is paired with a connector to be inspected is disposed on an insulating relay substrate, and this insulating relay substrate is detachably disposed on a probe unit made of an insulating material. A probe is disposed in this probe unit. And the terminal of a jig | tool side connector is electrically connected to the terminal provided in the insulation relay board | substrate, and the probe of a probe unit contact | abuts to the terminal of this insulation relay board | substrate. The other end of the probe provided in the probe unit is appropriately electrically connected to a number of wiring cables connected to a measuring instrument or the like. Accordingly, the connector to be inspected is electrically connected to a measuring instrument or the like via the jig side connector, the insulating relay substrate, the probe, and the wiring cable. Therefore, when the number of times of inspection and use of the jig-side connector reaches the endurance number, the jig-side connector and the insulating relay substrate may be replaced, and the cost of measurement and inspection can be reduced by the amount of parts to be replaced.
JP 2004-273192 A

上述の特開2004−273192号公報で提案した技術にあっては、治具側コネクタと絶縁中継基板のみを交換すれば良く、従前に比べて、測定検査のコストを少なくできるが、必ずしも十分に満足できるものでない。そこで、発明者らは、被検査側コネクタの端子にプローブを直接に当接させ、治具側コネクタと絶縁中継基板の交換が不要であり、当接させるプローブが破損したらそのプローブのみを交換するようにした構造とすることで、より測定検査のコストを少なくできると考えた。   In the technique proposed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-273192, only the jig-side connector and the insulating relay board need be replaced, and the cost of measurement and inspection can be reduced as compared with the prior art. It is not satisfactory. Therefore, the inventors make the probe directly contact the terminal of the connector to be inspected, and it is not necessary to replace the jig-side connector and the insulating relay board, and if the contacted probe is damaged, only the probe is replaced. We thought that the cost of measurement and inspection could be further reduced by adopting such a structure.

また、デジタルカメラの基板にあっては、その一端側に基板側コネクタが配設されて他端側にCCDカメラ素子が配設されたものがある。かかる基板を検査するには、検査装置に装着された被検査基板側コネクタを測定器に電気的接続した状態で、CCDカメラ素子を前記検査装置に設けられたレンズと対向させてその光軸を一致させて行う。そこで、CCDカメラ素子がレンズに対して一定の位置となるように被検査基板を検査装置に位置決めして配設し、しかもこの検査装置に位置決めされた被検査基板に配設された被検査側コネクタに中継コネクターを接続させるためには、検査装置に対して中継コネクターもその位置を調整して固定されなければならない。しかるに、中継コネクターに配設されるプローブは消耗品であり、取り替えが必要である。このプローブを取り替える度に、検査装置から中継コネクターを取り外していたのでは、再び取り付ける際に固定位置を調整する作業が必要であり、煩雑なものとなる。   Some digital camera boards have a board-side connector disposed at one end and a CCD camera element disposed at the other end. In order to inspect such a substrate, with the inspected substrate side connector mounted on the inspection apparatus being electrically connected to the measuring instrument, the CCD camera element is opposed to the lens provided in the inspection apparatus and the optical axis thereof is set. Match. Therefore, the inspection substrate is positioned and arranged in the inspection apparatus so that the CCD camera element is at a fixed position with respect to the lens, and the inspection side is arranged on the inspection substrate positioned in the inspection apparatus. In order to connect the relay connector to the connector, the relay connector must also be fixed to the inspection device by adjusting its position. However, the probe disposed in the relay connector is a consumable item and needs to be replaced. If the relay connector is removed from the inspection device every time the probe is replaced, it is necessary to adjust the fixing position when attaching the probe again, which is complicated.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、プローブを取り替えて再び取り付ける際の位置調整が不要であって作業が容易なものとなるようした中継コネクターを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a relay connector that does not require position adjustment when the probe is replaced and reattached, and the operation is easy.

かかる目的を達成するために、本発明の中継コネクターは、被検査基板に配設された被検査側コネクタの端子にプローブを当接させて測定器に電気的接続させるための中継コネクターであって、ガイド部材に前記被検査側コネクタが嵌合挿入されて位置決めされるガイド孔を穿設し、前記ガイド部材に絶縁材からなるピンブロックを配設し、このピンブロックに位置決めされた前記被検査側コネクタの端子に一端が弾接し得るようにプローブを配設し、前記ピンブロックに配線基板を固定し、この配線基板に前記プローブの他端が弾接するようにするとともに前記測定器に電気的接続させるための配線ケーブルを配設し、前記ピンブロックと前記配線基板を検査装置に固定されたベース部材に前記ピンブロック側からのネジの螺合挿入により固定するように構成されている。   In order to achieve such an object, the relay connector of the present invention is a relay connector for bringing a probe into contact with a terminal of a connector to be inspected disposed on a substrate to be inspected and electrically connecting it to a measuring instrument. The guide member is provided with a guide hole that is positioned by fitting and inserting the connector to be inspected, and a pin block made of an insulating material is disposed in the guide member, and the pin to be inspected is positioned on the pin block. A probe is arranged so that one end can be elastically contacted with a terminal of the side connector, a wiring board is fixed to the pin block, and the other end of the probe is elastically contacted with the wiring board, and the measuring instrument is electrically connected A wiring cable for connection is provided, and the pin block and the wiring board are screwed into the base member fixed to the inspection device by screwing from the pin block side. It is configured to constant.

そして、前記ガイド部材に前記ネジに臨んで、工具を挿入し得る孔を穿設して構成しても良い。   Then, a hole into which a tool can be inserted may be formed in the guide member so as to face the screw.

また、前記配線基板を、前記ピンブロックに前記配線基板側からのネジの螺合挿入により固定するように構成することもできる。   Further, the wiring board may be fixed to the pin block by screwing and inserting a screw from the wiring board side.

さらに、前記ガイド部材を前記ピンブロックに対して前記プローブの軸方向に接近分離可能でしかも分離方向に移動できる距離を規制し、しかも前記ガイド部材を前記ピンブロックから分離方向に弾性付勢するように構成することも可能である。   Further, the guide member is controlled to be separated from the pin block in the axial direction of the probe and can be moved in the separation direction, and the guide member is elastically biased from the pin block in the separation direction. It is also possible to configure.

請求項1記載の中継コネクターにあっては、ピンブロックと配線基板を検査装置に固定されたベース部材にピンブロック側からのネジの螺合挿入により固定するようにしたので、このネジを取り外すことで、ベース部材からピンブロックと配線基板およびピンブロックに配設されたガイド部材を取り外すことができる。ベース部材は、検査装置に固定されたままである。そして、このベース部材から取り外されたピンブロックと配線基板側でプローブを適宜に取り替えて、再びベース部材にピンブロックと配線基板を取り付ければ、ベース部材が検査装置に対して位置調整された状態に維持されているので、プローブの交換により再度の位置調整を必要としない。   In the relay connector according to claim 1, the pin block and the wiring board are fixed to the base member fixed to the inspection device by screwing and inserting the screw from the pin block side. Thus, the guide member disposed on the pin block, the wiring board, and the pin block can be removed from the base member. The base member remains fixed to the inspection device. If the probe is appropriately replaced on the side of the pin block and the wiring board removed from the base member, and the pin block and the wiring board are attached to the base member again, the position of the base member is adjusted relative to the inspection apparatus. Since it is maintained, it is not necessary to adjust the position again by exchanging the probe.

そして、請求項2記載の中継コネクターにあっては、ガイド部材に、ピンブロックと配線基板をベース部材に固定するネジに臨んで、工具を挿入し得る孔を穿設したので、ガイド部材をピンブロックから取り外すことなしに、ベース部材からピンブロックと配線基板を取り外すことができる。   In the relay connector according to claim 2, the guide member is provided with a hole through which the tool can be inserted so as to face the screw for fixing the pin block and the wiring board to the base member. The pin block and the wiring board can be removed from the base member without removing from the block.

また、請求項3記載の中継コネクターにあっては、配線基板を、ピンブロックに配線基板側からのネジの螺合挿入により固定するようにしたので、ベース部材から取り外されたピンブロックを配線基板側を上にしてこの配線基板を取り外せば、ピンブロックからプローブが脱落するようなことがない。   Further, in the relay connector according to claim 3, since the wiring board is fixed to the pin block by screwing the screw from the wiring board side, the pin block removed from the base member is attached to the wiring board. If this wiring board is removed with the side facing up, the probe will not fall off from the pin block.

さらに、請求項4記載の中継コネクターにあっては、ガイド部材をピンブロックに対してプローブの軸方向に接近分離可能でしかも分離方向に移動できる距離を規制し、しかもガイド部材をピンブロックから分離方向に弾性付勢するようにしたので、ガイド部材をピンブロック側に弾性付勢に抗して押圧移動させなければ、ガイド部材のガイド孔に嵌合挿入された被検査側コネクタの端子にプローブが当接しない。よって、ガイド孔に被検査側コネクタを挿入する際に、未だ正しく挿入されていない姿勢の被検査側コネクタの端子にプローブが当接して、被検査側コネクタの端子またはプローブのいずれかまたは双方が破損するようなことがない。   Furthermore, in the relay connector according to claim 4, the guide member can be separated from the pin block in the axial direction of the probe and can be moved in the separation direction, and the guide member is separated from the pin block. Since the guide member is elastically biased in the direction, if the guide member is not pressed and moved against the pin block against the elastic bias, the probe is connected to the terminal of the connector to be inspected fitted into the guide hole of the guide member. Does not touch. Therefore, when inserting the connector to be inspected into the guide hole, the probe comes into contact with the terminal of the connector to be inspected in the posture that has not been correctly inserted, and either or both of the terminal of the connector to be inspected and / or the probe There will be no damage.

以下、本発明の一実施例を図1ないし図17を参照して説明する。図1は、本発明の中継コネクターの一実施例の押圧状態の側面図である。図2は、図1の平面図である。図3は、図1の開口状態の側面図である。図4は、図1の分解斜視図である。図5は、上、下ピンブロックとフローティングガイドの分解斜視図である。図6は、ピンブロックの分解斜視図である。図7は、下ピンブロックと配線基板およびベース部材の分解斜視図である。図8は、本発明の中継コネクターで検査する被検査基板に設けられた被検査側コネクターの外観斜視図である。図9は、ピンブロックの縦断面図である。図10は、配線基板に設けられる端子パターンを示す図である。図11は、押圧操作部材とヒンジ部材およびベース部材の分解斜視図である。図12は、図2のA−A断面矢視図である。図13は、ヒンジ部材に設けたリブで配線基板をベース部材に押さえる構造を示し、(a)は一部切り欠き側面図であり、(b)は背面図である。図14は、押圧操作部材の先端上部が面取り状の斜めの面に切り欠かれていることによる作用を説明する図である。図15は、本発明の中継コネクターを検査装置に取り付けた状態の外観斜視図である。図16は、図15の側面図である。図17は、プローブを取り替えるためにピンブロックと配線基板を取り外して検査装置にベース部材のみを残した状態の側面図である。   An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a side view of a relay connector according to an embodiment of the present invention in a pressed state. FIG. 2 is a plan view of FIG. FIG. 3 is a side view of the opened state of FIG. FIG. 4 is an exploded perspective view of FIG. FIG. 5 is an exploded perspective view of the upper and lower pin blocks and the floating guide. FIG. 6 is an exploded perspective view of the pin block. FIG. 7 is an exploded perspective view of the lower pin block, the wiring board, and the base member. FIG. 8 is an external perspective view of a connector to be inspected provided on a substrate to be inspected by the relay connector of the present invention. FIG. 9 is a longitudinal sectional view of the pin block. FIG. 10 is a diagram illustrating a terminal pattern provided on the wiring board. FIG. 11 is an exploded perspective view of the pressing operation member, the hinge member, and the base member. 12 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. FIG. 13 shows a structure in which the wiring board is pressed against the base member by a rib provided on the hinge member, (a) is a partially cutaway side view, and (b) is a rear view. FIG. 14 is a diagram for explaining the action due to the upper end of the pressing operation member being cut out into a chamfered oblique surface. FIG. 15 is an external perspective view of the relay connector of the present invention attached to the inspection device. FIG. 16 is a side view of FIG. FIG. 17 is a side view showing a state in which only the base member is left in the inspection apparatus by removing the pin block and the wiring board in order to replace the probe.

図1ないし図17において、本発明の中継コネクターは、ベース部材10にヒンジ部材12がネジ10aにより固定され、このヒンジ部材12に押圧操作部材14が貫通配設された揺動軸16により揺動自在に配設される。そして、この押圧操作部材14の後ろ側とヒンジ部材12の間に押圧バネ18が縮設される。また、押圧操作部材14の先端側に、揺動軸16と平行に貫通配設された第2の揺動軸20により押圧ブロック22が揺動自在に配設される。そして、絶縁材からなるピンブロック24に対してガイド部材としての絶縁材からなるフローティングガイド26が、押圧操作部材14の先端側の略揺動方向で直線状に接近分離自在でしかも分離方向の距離が規制されて配設される。さらに、ピンブロック24のフローティングガイド26と反対側に配線基板28がネジ28aにより固定され、この配線基板28をベース部材10側として、ピンブロック24と配線基板28がベース部材10にネジ24aにより固定される。そして、フローティングガイド26に係合受け部26fが突設され、押圧操作部材14に係合突起14aが突設されて、押圧操作部材14の開口状態で係合受け部26fに係合突起14aが係合するように形成される。そこで、押圧操作部材14が開口状態にあっては、フローティングガイド26がピンブロック24側に移動することが規制される。なお、押圧操作部材14の開口状態にあっては、その後端側がヒンジ部材12に当接して揺動が規制され、ヒンジ部材12の被当接部分が規制部として作用している。   1 to 17, in the relay connector of the present invention, a hinge member 12 is fixed to a base member 10 with a screw 10a, and swings by a swing shaft 16 having a pressing operation member 14 penetrating through the hinge member 12. Arranged freely. A pressing spring 18 is contracted between the rear side of the pressing operation member 14 and the hinge member 12. A pressing block 22 is swingably disposed on the distal end side of the pressing operation member 14 by a second swinging shaft 20 penetratingly disposed parallel to the swinging shaft 16. Then, the floating guide 26 made of an insulating material as a guide member with respect to the pin block 24 made of an insulating material can be linearly approached and separated in a substantially swinging direction on the distal end side of the pressing operation member 14 and the distance in the separating direction. Are regulated and arranged. Further, the wiring board 28 is fixed to the side of the pin block 24 opposite to the floating guide 26 by screws 28a. The wiring board 28 is fixed to the base member 10 side, and the pin block 24 and wiring board 28 are fixed to the base member 10 by screws 24a. Is done. Then, the engagement receiving portion 26f is projected from the floating guide 26, the engagement projection 14a is projected from the pressing operation member 14, and the engagement projection 14a is formed at the engagement receiving portion 26f in the open state of the pressing operation member 14. Formed to engage. Therefore, when the pressing operation member 14 is in the open state, the floating guide 26 is restricted from moving to the pin block 24 side. When the pressing operation member 14 is in the open state, the rear end of the pressing operation member 14 abuts on the hinge member 12 to restrict the swinging, and the contacted portion of the hinge member 12 acts as a restricting portion.

ピンブロック24に対してフローティングガイド26は、押圧操作部材14の先端側が開口状態とこれを閉口させた押圧状態との揺動に応じて、図1と図3において図面の上下方向に直線的に移動自在とされる。そこで、ピンブロック24に上下方向にリニアシャフト30aが植設され、フローティングガイド26にこのリニアシャフト30aが軸方向に摺動自在となるように挿入されるリニア筒部材30bが上下方向に配設され、これらリニアシャフト30aとリニア筒部材30bとからなるリニアガイド30により、この直線的な移動が実現される。また、ピンブロック24とフローティングガイド26に対して、上下方向に両端に膨大部を有するフローティングピン32が貫通配設される。両端の膨大部の間の距離は、一端側に設けた調整ネジ32aの螺合により調整し得る。さらに、このフローティングピン32に遊嵌されたフロートバネ34がピンブロック24とフローティングガイド26の間に縮設されて、ピンブロック24からフローティングガイド26を分離する方向に弾性付勢している。もって、フローティングピン32の調整により、フローティングガイド26がピンブロック24から分離し得る距離が任意に規制され、しかもフロートバネ34の縮設された弾力により、押圧操作部材14の開口状態にあっては、フローティングガイド26がピンブロック24から分離した状態とされる。   With respect to the pin block 24, the floating guide 26 is linearly moved in the vertical direction in FIGS. 1 and 3 in accordance with the swing of the pressing operation member 14 between the open state and the pressing state in which the pressing member 14 is closed. It can be moved. Therefore, a linear shaft 30a is planted in the vertical direction on the pin block 24, and a linear cylindrical member 30b inserted in the floating guide 26 so that the linear shaft 30a is slidable in the axial direction is disposed in the vertical direction. The linear movement is realized by the linear guide 30 including the linear shaft 30a and the linear cylindrical member 30b. Further, floating pins 32 having enormous portions at both ends in the vertical direction are provided through the pin block 24 and the floating guide 26. The distance between the enormous portions at both ends can be adjusted by screwing the adjusting screw 32a provided on one end side. Further, a float spring 34 loosely fitted to the floating pin 32 is contracted between the pin block 24 and the floating guide 26 and elastically biased in a direction to separate the floating guide 26 from the pin block 24. Therefore, the distance at which the floating guide 26 can be separated from the pin block 24 is arbitrarily regulated by adjusting the floating pin 32, and the pressing operation member 14 is in the open state by the elastic force of the float spring 34 that is contracted. The floating guide 26 is separated from the pin block 24.

フローティングガイド26には、被検査基板36が搭載配設される基板搭載面26aが設けられ、この基板搭載面26aに被検査基板36に配設された被検査側コネクタ38を嵌合挿入し得るガイド孔26bが貫通穿設される。このガイド孔26bの内周壁に被検査側コネクタ38の外側周壁が当接して、挿入された被検査側コネクタ38の位置決めがなされるように形成される。そして、このガイド孔26bの周辺の基板搭載面26aには搭載された被検査基板36を位置決めするように位置規制する構成は何ら設けられておらず、十分に大きな平面を有する。また、基板搭載面26aの裏側には、貫通するガイド孔26bを中心として凹部26cが設けられる。この凹部26cの底面と基板搭載面26aの厚さ、すなわちガイド孔26bの深さは、被検査側コネクタ38の高さと一致するように基板搭載面26aが切削等により調整されて形成される。なお、基板搭載面26aの両端裏側には、機械的強度を大きくするための補強リブ26dが設けられている。   The floating guide 26 is provided with a board mounting surface 26a on which the board to be inspected 36 is mounted. A connector 38 to be inspected provided on the board to be inspected 36 can be fitted and inserted into the board mounting surface 26a. A guide hole 26b is formed through. The outer peripheral wall of the inspected connector 38 is in contact with the inner peripheral wall of the guide hole 26b so that the inserted inspected connector 38 is positioned. The substrate mounting surface 26a around the guide hole 26b is not provided with any configuration for positioning the mounted substrate to be inspected 36, and has a sufficiently large plane. In addition, a recess 26c is provided on the back side of the substrate mounting surface 26a with a penetrating guide hole 26b as a center. The thickness of the bottom surface of the recess 26c and the substrate mounting surface 26a, that is, the depth of the guide hole 26b is formed by adjusting the substrate mounting surface 26a by cutting or the like so as to coincide with the height of the connector 38 to be inspected. Reinforcing ribs 26d for increasing the mechanical strength are provided on the back sides of both ends of the substrate mounting surface 26a.

ピンブロック24は、下ピンブロック40と上ピンブロック42がネジ42bにより一体化され、上ピンブロック42に上に向けて凸部42aが設けられ、フローティングガイド26の凹部26cに嵌合して、ピンブロック24にフローティングガイド26が位置決めされるように構成される。また、下ピンブロック40と上ピンブロック42に上下方向に貫通させて、プローブ孔46が一列に多数穿設される。そして、下ピンブロック40と上ピンブロック42に上下方向に貫通して絶縁材からなる位置調整ブロック48が挿入される挿入孔50が穿設される。位置調整ブロック48は、やはり下位置調整ブロック48aと上位置調整ブロック48bからなり、適宜に一体化され、しかも上下方向に貫通してプローブ孔52が一列に多数穿設される。位置調整ブロック48は、挿入孔50内で、プローブ孔52の位置が、下ピンブロック40と上ピンブロック42に穿設されたプローブ孔46との距離が適宜となるように調整されて、位置だしピン56により固定される。なお、挿入孔50内で、位置調整ブロック48は、プローブ孔46、52の間の距離を調整する方向にのみ移動が可能であり、これと直交する方向には移動ができないように設定される。また、プローブ孔46、52は上端部に狭窄部が設けれていて、下側からプローブ54が適宜に挿入できて上に抜け出ないように形成される。そして、プローブ孔46、52が穿設されるピッチは、図8に示す被検査側コネクタ38の端子38aのピッチPに合わせて穿設されることは勿論である。さらに、位置調整ブロック48のプローブ孔52と下ピンブロック40と上ピンブロック42のプローブ孔46との距離が、被検査側コネクタ38の端子38aの2列の間の距離dに対応するように適宜に調整されることは勿論である。しかも、プローブ孔46、52には、被検査側コネクタ38の端子38aに応じてプローブ54が下側から適宜な本数が適宜な位置で挿入される。   In the pin block 24, a lower pin block 40 and an upper pin block 42 are integrated by a screw 42b, a convex portion 42a is provided on the upper pin block 42, and is fitted into a concave portion 26c of the floating guide 26. The floating guide 26 is positioned on the pin block 24. Further, a large number of probe holes 46 are formed in a row so as to penetrate the lower pin block 40 and the upper pin block 42 in the vertical direction. And the insertion hole 50 which penetrates the lower pin block 40 and the upper pin block 42 to the up-down direction and in which the position adjustment block 48 which consists of an insulating material is inserted is drilled. The position adjustment block 48 is also composed of a lower position adjustment block 48a and an upper position adjustment block 48b, which are appropriately integrated, and a plurality of probe holes 52 are perforated in the vertical direction. The position adjustment block 48 is adjusted so that the position of the probe hole 52 is adjusted within the insertion hole 50 so that the distance between the lower pin block 40 and the probe hole 46 formed in the upper pin block 42 is appropriate. The pin 56 is fixed. In the insertion hole 50, the position adjustment block 48 can be moved only in the direction for adjusting the distance between the probe holes 46 and 52, and cannot be moved in the direction orthogonal thereto. . The probe holes 46 and 52 are provided with a narrowed portion at the upper end so that the probe 54 can be appropriately inserted from the lower side and does not come out upward. Of course, the pitch in which the probe holes 46 and 52 are drilled is matched with the pitch P of the terminals 38a of the connector to be inspected 38 shown in FIG. Further, the distance between the probe hole 52 of the position adjusting block 48, the lower pin block 40, and the probe hole 46 of the upper pin block 42 corresponds to the distance d between the two rows of the terminals 38a of the connector 38 to be inspected. Of course, it is adjusted appropriately. Moreover, an appropriate number of probes 54 are inserted into the probe holes 46 and 52 from the lower side at appropriate positions according to the terminals 38a of the connector 38 to be inspected.

プローブ孔46、52にプローブ54が挿入されたピンブロック24に対して、下側から配線基板28が配設され、下側からネジ28aにより固定されて一体化される。この配線基板28の固定により、プローブ54はプローブ孔46、52から抜け出ることがない。そして、この配線基板28が固定されたピンブロック24が、上方からネジ24aによりベース部材10に固定される。なお、ベース部材10は、検査装置60に予め固定ネジ10bにより適宜に固定されている。そこで、図8に示す被検査側コネクタ38の端子38aに対して、図9に示すごとく、プローブ孔46、52に挿入されたプローブ54のプランジャーが当接できるように形成される。なお、図10に示すごとく、配線基板28に設けられた端子パターン28bは、位置調整ブロック48が移動してもプローブ54のプランジャーが当接できるように移動方向に長く形成されている。   The wiring board 28 is disposed from the lower side with respect to the pin block 24 in which the probe 54 is inserted into the probe holes 46 and 52, and is fixed and integrated by screws 28a from the lower side. By fixing the wiring board 28, the probe 54 does not come out of the probe holes 46 and 52. Then, the pin block 24 to which the wiring board 28 is fixed is fixed to the base member 10 with screws 24a from above. Note that the base member 10 is appropriately fixed to the inspection apparatus 60 in advance by a fixing screw 10b. Therefore, as shown in FIG. 9, the plunger of the probe 54 inserted into the probe holes 46 and 52 can be brought into contact with the terminal 38 a of the inspected connector 38 shown in FIG. 8. As shown in FIG. 10, the terminal pattern 28 b provided on the wiring board 28 is formed long in the moving direction so that the plunger of the probe 54 can contact even if the position adjusting block 48 moves.

さらに、ヒンジ部材12に揺動自在に配設された押圧操作部材14は、開口状態となる揺動方向の動きが、ヒンジ部材12により規制される。この開口状態となる揺動方向の動きが規制された状態で、前述の係合突起14aと係合受け部26fが係合するように形成されている。そして、ヒンジ部材12には、図13に示すごときリブ12aが設けられ、配線基板28を上からベース部材10側に押し付けるように作用し、配線基板28がベース部材10から浮き上がるのを規制している。   Further, the swing operation of the pressing operation member 14 that is swingably disposed on the hinge member 12 is restricted by the hinge member 12 from being moved in the swing direction. The engagement protrusion 14a and the engagement receiving portion 26f are formed so as to engage with each other in a state where the movement in the swinging direction to be in the open state is restricted. The hinge member 12 is provided with ribs 12a as shown in FIG. 13 and acts to press the wiring board 28 against the base member 10 from above, thereby restricting the wiring board 28 from being lifted from the base member 10. Yes.

押圧操作部材14には、リニアガイド30およびフローティングピン32に臨んで、孔14cと調整用孔14dがそれぞれに穿設されている。また、フローティングガイド26には、配線基板28が固定されたピンブロック24をベース部材10に固定するネジ24aに臨んで、孔26eが穿設されている。さらに、押圧操作部材14の先端上部が、面取り状の斜めの面14bに形成されている。本発明の中継コネクターの一実施例の外形寸法は、高さ27mmで幅が26mmで長さが60mmであって、検査装置60から取り外せば、手に持って検査作業を行うこともできる。   The pressing operation member 14 is provided with a hole 14c and an adjustment hole 14d so as to face the linear guide 30 and the floating pin 32, respectively. The floating guide 26 has a hole 26e facing the screw 24a that fixes the pin block 24 to which the wiring board 28 is fixed to the base member 10. Further, the upper end of the pressing operation member 14 is formed as a chamfered oblique surface 14b. The external dimensions of one embodiment of the relay connector of the present invention are 27 mm in height, 26 mm in width, and 60 mm in length. If removed from the inspection device 60, the external dimensions can be held by hand.

かかる構成において、押圧バネ18の弾力に抗して押圧操作部材14を揺動操作して開口状態とし、フローティングガイド26の基板搭載面26aに被検査基板36を配設して、被検査側コネクタ38をガイド孔26bに嵌合挿入させる。このガイド孔26bへの嵌合挿入により、被検査側コネクタ38の位置決めがなされる。ここで、被検査基板36自体には何ら位置決めする力が作用しておらず、被検査基板36に対して被検査側コネクタ38の位置をずらすような力が作用することがない。この押圧操作部材14を開口状態に維持している間は、フローティングガイド26の係合受け部26fに押圧操作部材14の係合突起14aが係合していて、フローティングガイド26がピンブロック24側に不用意に移動するようなことがない。よって、被検査側コネクタ38をガイド孔26bに嵌合挿入している作業の最中に誤ってフローティングガイド26が下方に移動し、不適正な姿勢の被検査側コネクタ38に対してプローブ54が当接して、被検査側コネクタ38またはプローブ54のいずれかを破損させる虞がない。そして、押圧操作部材14を押圧バネ18の弾力により先端側を閉じて押圧状態とすると、フローティングガイド26はリニアガイド30により直線的にピンブロック24側に移動して、被検査側コネクタ38の端子38aにプローブ54のプランジャーが当接する。この際には、フローティングガイド26の凹部26cとピンブロック24の凸部42aが嵌合することで、フローティングガイド26とピンブロック24の確実な位置合わせがなされる。もって、ピンブロック24に対して被検査側コネクタ38の位置決めがなされ、プローブ54に端子38aの位置決めがなされる。なお、押圧バネ18の押圧操作部材14を押圧状態とする弾力が、フロートバネ34のフローティングガイド26をピンブロック24から分離させる弾力よりも大きく設定されていることは勿論である。しかも、フローティングガイド26のガイド孔26bの深さが、被検査側コネクタ38の高さと一致するように設定されているので、ガイド孔26bに嵌合挿入された被検査側コネクタ38のピンブロック24側の面が凹部26cの底面と同じ平面内となり、この凹部26cの底面を基準として、プランジャーの突出高さが適正となるようにプローブ54が配設されることで、適正な弾力でプローブ54のプランジャーを被検査側コネクタ38の端子38aに当接させることができる。   In such a configuration, the pressing operation member 14 is oscillated against the elasticity of the pressing spring 18 to be in an open state, the substrate to be inspected 36 is disposed on the substrate mounting surface 26a of the floating guide 26, and the connector to be inspected is provided. 38 is fitted and inserted into the guide hole 26b. The connector 38 to be inspected is positioned by fitting and inserting into the guide hole 26b. Here, no positioning force is applied to the board to be inspected 36 itself, and no force to shift the position of the inspected connector 38 is applied to the board to be inspected 36. While the pressing operation member 14 is maintained in the open state, the engagement protrusion 14a of the pressing operation member 14 is engaged with the engagement receiving portion 26f of the floating guide 26, and the floating guide 26 is on the pin block 24 side. There is no such thing as inadvertent movement. Accordingly, the floating guide 26 is erroneously moved downward during the operation of fitting and inserting the connector to be inspected 38 into the guide hole 26b, and the probe 54 is moved with respect to the connector 38 to be inspected in an inappropriate posture. There is no possibility that either the inspected connector 38 or the probe 54 will be damaged due to contact. When the pressing operation member 14 is closed and pressed by the elasticity of the pressing spring 18, the floating guide 26 moves linearly to the pin block 24 side by the linear guide 30, and the terminal of the connector 38 to be inspected. The plunger of the probe 54 comes into contact with 38a. At this time, the concave portion 26c of the floating guide 26 and the convex portion 42a of the pin block 24 are fitted, so that the floating guide 26 and the pin block 24 are reliably aligned. Accordingly, the inspected connector 38 is positioned with respect to the pin block 24, and the terminal 38a is positioned with respect to the probe 54. Needless to say, the elasticity of pressing the pressing operation member 14 of the pressing spring 18 is set larger than the elasticity of separating the floating guide 26 of the float spring 34 from the pin block 24. In addition, since the depth of the guide hole 26b of the floating guide 26 is set to coincide with the height of the inspected connector 38, the pin block 24 of the inspected connector 38 that is fitted and inserted into the guide hole 26b. Since the probe 54 is disposed so that the side surface is in the same plane as the bottom surface of the concave portion 26c and the protruding height of the plunger is appropriate with reference to the bottom surface of the concave portion 26c, the probe is provided with an appropriate elasticity. 54 plungers can be brought into contact with the terminals 38a of the connector 38 to be inspected.

押圧操作部材14は、揺動軸16により開口状態と押圧状態に揺動自在に構成され、その構造は比較的に簡単である。しかも、押圧操作部材14の先端側に第2の揺動軸20により押圧ブロック22を設けているので、この押圧ブロック22によりフローティングガイド26をピンブロック24側に接近方向に向けて正しく押圧することができる。   The pressing operation member 14 is configured to be swingable between an open state and a pressed state by a swing shaft 16, and the structure thereof is relatively simple. Moreover, since the pressing block 22 is provided by the second swing shaft 20 on the distal end side of the pressing operation member 14, the floating guide 26 is correctly pressed toward the pin block 24 by the pressing block 22 in the approaching direction. Can do.

ところで、種種の異なる寸法の被検査側コネクタ38に本発明の中継コネクターを対応させるには、まずフローティングガイド26のガイド孔26bの大きさとその深さを、被検査側コネクタ38に応じて適宜に調整設定する。ガイド孔26bの深さの調整は、基板搭載面26aを適宜に切削するなどにより行うことができる。また、ピンブロック24側においても、位置調整ブロック48の固定位置を、挿入孔50内で適正に設定することで、2列のプローブ孔46、52の間の距離を被検査側コネクタ38の2列の端子38aの間の距離dに一致させる。これには、位置だしピン56を挿入する孔の位置を適正に穿設することでなし得る。なお、プローブ孔46、52に対して、被検査側コネクタ38の端子38aに臨むようにプローブ54を挿入することは勿論である。このように、種種の異なる寸法の被検査側コネクタ38に本発明の中継コネクターを対応させるための作業は、最終加工直前の各部材を予め準備しておけば比較的に簡単であり、各部材を新規に加工製作するのに比べて、迅速に対応することができる。   By the way, in order to make the relay connector of the present invention correspond to the to-be-inspected side connector 38 of various sizes, first, the size and depth of the guide hole 26b of the floating guide 26 are appropriately determined according to the to-be-inspected side connector 38. Set the adjustment. The depth of the guide hole 26b can be adjusted by appropriately cutting the substrate mounting surface 26a. Also on the pin block 24 side, the position of the position adjustment block 48 is set appropriately in the insertion hole 50, so that the distance between the two rows of probe holes 46 and 52 is 2 of the connector 38 to be inspected. It is made to correspond to the distance d between the terminals 38a of a row | line | column. This can be achieved by appropriately drilling the position of the hole into which the positioning pin 56 is inserted. Needless to say, the probe 54 is inserted into the probe holes 46 and 52 so as to face the terminal 38a of the connector 38 to be inspected. As described above, the operation for making the relay connector of the present invention correspond to the connector 38 to be inspected of various sizes is relatively simple if each member immediately before final processing is prepared in advance. Compared to new processing and manufacturing, it is possible to respond quickly.

そして、フローティングガイド26がピンブロック24から分離方向に離れる距離は、フローティングピン30により任意に調整できるが、使用によりフローティングガイド26がピンブロック24から分離方向に離れる距離が変化した場合には、押圧操作部材14に穿設した調整用孔14dから適宜に工具を挿入してフローティングピン32の調整ネジ32aの螺合挿入状態を調整すれば良い。また、プローブ54が破損して交換する場合には、押圧操作部材14が付いたままの状態でヒンジ部材12をベース部材10から取り外し、フローティングガイド26に穿設した孔26eから工具を挿入してネジ24aをベース部材10から取り外す。さらに、取り外したピンブロック24を配線基板28を上にして、ネジ28aを取り外してピンブロック24から配線基板28を取り除く。そして、破損して交換の必要なプローブ54のみをプローブ孔46、52から取り出して交換すれば良い。   The distance at which the floating guide 26 is separated from the pin block 24 in the separating direction can be arbitrarily adjusted by the floating pin 30. However, when the distance at which the floating guide 26 is separated from the pin block 24 is changed by use, What is necessary is just to adjust the screwing insertion state of the adjustment screw 32a of the floating pin 32 by inserting a tool appropriately from the adjustment hole 14d formed in the operation member 14. When the probe 54 is damaged and replaced, the hinge member 12 is removed from the base member 10 with the pressing operation member 14 attached, and a tool is inserted from the hole 26e formed in the floating guide 26. The screw 24a is removed from the base member 10. Further, with the removed pin block 24 facing the wiring board 28, the screw 28 a is removed and the wiring board 28 is removed from the pin block 24. Then, only the probe 54 that is damaged and needs to be replaced may be taken out of the probe holes 46 and 52 and replaced.

配線基板28は、ピンブロック24にネジ28aにより固定されているが、半田付けの熱等により曲がりを生じ、その後端側がベース部材10から浮いた状態となる虞がある。そこで、ヒンジ部材12に設けたリブ12aにより、配線基板28をベース部材10側に押さえ付けるように形成されている。   Although the wiring board 28 is fixed to the pin block 24 with screws 28 a, the wiring board 28 may be bent due to soldering heat or the like, and its rear end side may be lifted from the base member 10. Thus, the wiring board 28 is pressed against the base member 10 by the rib 12a provided on the hinge member 12.

被検査基板36がカメラモジュールであると、被検査基板36の他端側、すなわち被検査側コネクタ38が設けられたのと反対側に、CCDカメラ素子58が配設される。そして、被検査側コネクタ38とCCDカメラ素子58が配設される位置が、図14に示すごとく、比較的接近しているものもある。そこで、押圧操作部材14の先端上部を面取り状の斜めの面14bに形成することで、CCDカメラ素子58の上方の視界が大きく広く開け、視界内に何ら障害物なしに、このCCDカメラ素子58を検査するための検査装置60に設けたレンズ62と対向させることができる。   When the substrate to be inspected 36 is a camera module, the CCD camera element 58 is disposed on the other end side of the substrate to be inspected 36, that is, on the opposite side to the side on which the connector 38 to be inspected is provided. In some cases, the positions where the inspected connector 38 and the CCD camera element 58 are disposed are relatively close as shown in FIG. Therefore, the upper end of the pressing operation member 14 is formed as a chamfered slanted surface 14b, so that the field of view above the CCD camera element 58 is wide and wide, and there is no obstacle in the field of view. Can be opposed to the lens 62 provided in the inspection device 60 for inspecting.

ここで、図15に示すごとく、本発明の中継コネクターが検査装置60に固定されて、CCDカメラ素子58が設けられた被検査基板36の一端部が検査装置60に配設された置き台64に位置決めされて搭載されるとともに、被検査基板36の他端部に配設された被検査側コネクタ38が本発明の中継コネクターに接続される場合がある。かかる場合には、CCDカメラ素子58とレンズ62の光軸を一致させて配設するために、置き台64が検査装置60に対して位置調整されて固定されることは勿論である。また、本発明の中継コネクターも検査装置60に位置調整されて固定されなければならない。そこで、プローブ54が破損して交換する場合に、本発明の中継コネクター全体を検査装置60から取り外したのでは、プローブ54を交換して再び検査装置60に取り付ける際に、その度に煩雑な位置調整の作業が必要となる。しかるに、本発明にあっては、押圧操作部材14が付いたままの状態でヒンジ部材12をベース部材10から取り外し、フローティングガイド26に穿設した孔26eから工具を挿入してネジ24aをベース部材10から取り外す。すると、図17に示すごとく、ベース部材10が固定ネジ10bで検査装置60に固定された状態で、ピンブロック24と配線基板28がベース部材10から取り外される。そこで、破損して交換の必要なプローブ54のみをプローブ孔46、52から取り出して交換した後に、再びベース部材10に上述の取り外した部材を順次に組み付ければ良い。ベース部材10自体は、検査装置60から取り外されておらず、検査装置60に対して位置調整された状態が維持される。そこで、ベース部材10に再び組み付けられた本発明の中継コネクターは、検査装置60に対して位置調整された状態となり、煩雑な位置調整作業を必要としない。なお、図15に示す一例にあっては、配線基板28に一端が半田付け等により電気的接続された配線ケーブル66は、その他端が検査装置60に適宜に電気的接続されており、検査装置60が測定器でもあるが、本発明の中継コネクターが固定される検査装置60とは別に測定器が設けられていて、中継コネクターと測定器が配線ケーブル66で適宜に電気的接続されても良いことは勿論である。   Here, as shown in FIG. 15, the relay connector of the present invention is fixed to the inspection apparatus 60, and one end portion of the inspected substrate 36 provided with the CCD camera element 58 is disposed on the inspection apparatus 60. In some cases, the inspected connector 38 disposed on the other end of the inspected substrate 36 is connected to the relay connector of the present invention. In such a case, it goes without saying that the pedestal 64 is positioned and fixed with respect to the inspection apparatus 60 in order to arrange the optical axes of the CCD camera element 58 and the lens 62 so as to coincide with each other. In addition, the relay connector of the present invention must be adjusted in position and fixed to the inspection device 60. Therefore, when the probe 54 is damaged and replaced, the entire relay connector of the present invention is removed from the inspection device 60. When the probe 54 is replaced and attached to the inspection device 60 again, a complicated position is required each time. Adjustment work is required. However, in the present invention, the hinge member 12 is removed from the base member 10 with the pressing operation member 14 still attached, a tool is inserted through the hole 26e formed in the floating guide 26, and the screw 24a is inserted into the base member. Remove from 10. Then, as shown in FIG. 17, the pin block 24 and the wiring board 28 are removed from the base member 10 in a state where the base member 10 is fixed to the inspection apparatus 60 with the fixing screw 10 b. Therefore, after removing only the probe 54 that is damaged and needs to be replaced from the probe holes 46 and 52 and replacing it, the above-described removed members may be sequentially assembled to the base member 10 again. The base member 10 itself is not removed from the inspection apparatus 60, and the state in which the position is adjusted with respect to the inspection apparatus 60 is maintained. Therefore, the relay connector of the present invention reassembled to the base member 10 is in a state where the position is adjusted with respect to the inspection device 60 and does not require a complicated position adjustment operation. In the example shown in FIG. 15, the wiring cable 66 having one end electrically connected to the wiring board 28 by soldering or the like is appropriately electrically connected to the inspection device 60 at the other end. Although 60 is also a measuring device, a measuring device may be provided separately from the inspection device 60 to which the relay connector of the present invention is fixed, and the relay connector and the measuring device may be appropriately electrically connected by the wiring cable 66. Of course.

本発明の中継コネクターの一実施例の押圧状態の側面図である。It is a side view of the pressing state of one Example of the relay connector of this invention. 図1の平面図である。It is a top view of FIG. 図1の開口状態の側面図である。It is a side view of the open state of FIG. 図1の分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of FIG. 1. 上、下ピンブロックとフローティングガイドの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of an upper and lower pin block and a floating guide. ピンブロックの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a pin block. 下ピンブロックと配線基板およびベース部材の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a lower pin block, a wiring board, and a base member. 本発明の中継コネクターで検査する被検査基板に設けられた被検査側コネクターの外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of the to-be-inspected connector provided in the to-be-inspected board | substrate to test | inspect with the relay connector of this invention. ピンブロックの縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a pin block. 配線基板に設けられる端子パターンを示す図である。It is a figure which shows the terminal pattern provided in a wiring board. 押圧操作部材とヒンジ部材およびベース部材の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a pressing operation member, a hinge member, and a base member. 図2のA−A断面矢視図である。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 2. ヒンジ部材に設けたリブで配線基板をベース部材に押さえる構造を示し、(a)は一部切り欠き側面図であり、(b)は背面図である。The structure which presses a wiring board to a base member with the rib provided in the hinge member is shown, (a) is a partially cutaway side view, (b) is a rear view. 押圧操作部材の先端上部が面取り状の斜めの面に切り欠かれていることによる作用を説明する図である。It is a figure explaining the effect | action by the front-end | tip upper part of a press operation member being notched by the chamfered diagonal surface. 本発明の中継コネクターを検査装置に取り付けた状態の外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of the state which attached the relay connector of this invention to the test | inspection apparatus. 図15の側面図である。FIG. 16 is a side view of FIG. 15. プローブを取り替えるために検査装置にベース部材のみを残した状態の側面図である。It is a side view in the state where only the base member was left in the inspection device in order to replace the probe.

符号の説明Explanation of symbols

10 ベース部材
10b 固定ネジ
12 ヒンジ部材
12a リブ
14 押圧操作部材
14a 係合突起
14b 斜めの面
14d 調整用孔
16 揺動軸
18 押圧バネ
20 第2の揺動バネ
22 押圧ブロック
24 ピンブロック
26 フローティングガイド
26a 基板搭載面
26b ガイド孔
26c 凹部
28 配線基板
28a ネジ
28b 端子パターン
30 リニアガイド
30a リニアシャフト
30b リニア筒部材
32 フローティングピン
32a 調整ネジ
34 フロートバネ
36 被検査基板
38 被検査側コネクタ
38a 端子
40 下ピンブロック
42 上ピンブロック
42a 凸部
46、52 プローブ孔
48a 下位置調整ブロック
48b 上位置調整ブロック
50 挿入孔
54 プローブ
56 位置だしピン
58 CCDカメラ素子
60 検査装置
62 レンズ
64 置き台
66 配線ケーブル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Base member 10b Fixing screw 12 Hinge member 12a Rib 14 Press operation member 14a Engagement protrusion 14b Diagonal surface 14d Adjustment hole 16 Oscillation shaft 18 Press spring 20 Second oscillation spring 22 Press block 24 Pin block 26 Floating guide 26a Board mounting surface 26b Guide hole 26c Recess 28 Wiring board 28a Screw 28b Terminal pattern 30 Linear guide 30a Linear shaft 30b Linear cylinder member 32 Floating pin 32a Adjustment screw 34 Float spring 36 Board to be tested 38 Connector 38a to be tested 38a Terminal 40 Lower pin Block 42 Upper pin block 42a Protruding portion 46, 52 Probe hole 48a Lower position adjustment block 48b Upper position adjustment block 50 Insertion hole 54 Probe 56 Positioning pin 58 CCD camera element 60 Inspection Inspection device 62 Lens 64 Stand 66 Wiring cable

Claims (4)

被検査基板に配設された被検査側コネクタの端子にプローブを当接させて測定器に電気的接続させるための中継コネクターであって、ガイド部材に前記被検査側コネクタが嵌合挿入されて位置決めされるガイド孔を穿設し、前記ガイド部材に絶縁材からなるピンブロックを配設し、このピンブロックに位置決めされた前記被検査側コネクタの端子に一端が弾接し得るようにプローブを配設し、前記ピンブロックに配線基板を固定し、この配線基板に前記プローブの他端が弾接するようにするとともに前記測定器に電気的接続させるための配線ケーブルを配設し、前記ピンブロックと前記配線基板を検査装置に固定されたベース部材に前記ピンブロック側からのネジの螺合挿入により固定するように構成したことを特徴とする中継コネクター。 A relay connector for bringing a probe into contact with a terminal of a connector to be inspected disposed on a substrate to be inspected and electrically connecting it to a measuring instrument, wherein the connector to be inspected is fitted and inserted into a guide member A guide hole to be positioned is drilled, a pin block made of an insulating material is provided in the guide member, and a probe is arranged so that one end can be elastically contacted with a terminal of the connector to be inspected positioned in the pin block. The wiring board is fixed to the pin block, the other end of the probe is elastically contacted to the wiring board, and a wiring cable is provided for electrical connection to the measuring instrument, A relay connector configured to fix the wiring board to a base member fixed to an inspection device by screwing and inserting a screw from the pin block side. 請求項1記載の中継コネクターにおいて、前記ガイド部材に前記ネジに臨んで、工具を挿入し得る孔を穿設して構成したことを特徴とする中継コネクター。 2. The relay connector according to claim 1, wherein a hole into which a tool can be inserted is formed in the guide member so as to face the screw. 請求項1記載の中継コネクターにおいて、前記配線基板を、前記ピンブロックに前記配線基板側からのネジの螺合挿入により固定するように構成したことを特徴とする中継コネクター。 The relay connector according to claim 1, wherein the wiring board is fixed to the pin block by screwing and inserting a screw from the wiring board side. 請求項1記載の中継コネクターにおいて、前記ガイド部材を前記ピンブロックに対して前記プローブの軸方向に接近分離可能でしかも分離方向に移動できる距離を規制し、しかも前記ガイド部材を前記ピンブロックから分離方向に弾性付勢するように構成したことを特徴とする中継コネクター。 2. The relay connector according to claim 1, wherein a distance that allows the guide member to be moved toward and away from the pin block in the axial direction of the probe and can be moved in the separation direction is restricted, and the guide member is separated from the pin block. A relay connector characterized by being elastically biased in the direction.
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