JP5683311B2

JP5683311B2 - Connector device

Info

Publication number: JP5683311B2
Application number: JP2011027211A
Authority: JP
Inventors: 竜三示野; 拓也高橋
Original assignee: Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Current assignee: Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority date: 2011-02-10
Filing date: 2011-02-10
Publication date: 2015-03-11
Anticipated expiration: 2031-02-10
Also published as: JP2012169065A

Description

本発明は、基板等である第１接続対象物に固定・接続される第１コネクタと、第１コネクタと嵌合・接続される接続対象体（基板等である第２接続対象物、又は第２接続対象物及び第２コネクタ）とを備えたコネクタ装置に関する。 The present invention includes a first connector that is fixed and connected to a first connection object such as a board, and a connection object that is fitted and connected to the first connector (a second connection object that is a board or the like, or a first 2 connection object and 2nd connector).

この種のコネクタ装置を使用する場合、第１接続対象物の信号線は、第１コネクタ（及び第２コネクタ）のコンタクトを夫々経由して第２接続対象物の信号線と電気的に接続されている必要がある。従って、使用に先立ち、第１接続対象物と第２接続対象物との電気的接続についての検査を行う必要がある。 When this type of connector device is used, the signal line of the first connection object is electrically connected to the signal line of the second connection object via the contacts of the first connector (and the second connector). Need to be. Therefore, prior to use, it is necessary to inspect the electrical connection between the first connection object and the second connection object.

このような検査方法としては、例えば、特許文献１及び特許文献２に開示されたものがある。特許文献１の検査方法によれば、基板搭載コネクタの底面に検査用孔を設け、コンタクトがＦＰＣ（Flexible Printed Circuits）の信号線と夫々接続可能に配置されていることを検査用孔から目視検査する（図１７参照）。特許文献２の検査方法によれば、コネクタのコンタクトと基板の信号線とに夫々検出ピンを接触させ、検出ピン間の導通検査を行う（図１８参照）。 Examples of such inspection methods include those disclosed in Patent Document 1 and Patent Document 2. According to the inspection method of Patent Document 1, an inspection hole on the bottom surface of the substrate mounting the connector provided, contact FPC (F lexible P rinted C ircuits ) signal lines and respectively connectable to the inspection hole being disposed of (See FIG. 17). According to the inspection method of Patent Document 2, the detection pins are brought into contact with the contact of the connector and the signal line of the substrate, respectively, and a continuity inspection between the detection pins is performed (see FIG. 18).

特許文献１の検査方法では、コネクタが基板に搭載された実装状態においては検査することができない。特許文献２の検査方法では、複数のコンタクトの導通検査を夫々行う必要があるため検査工数が増大する。また、コネクタのサイズが小さい場合には検査が極めて困難である。 In the inspection method of Patent Document 1, it is not possible to inspect in the mounted state where the connector is mounted on the substrate. In the inspection method of Patent Document 2, it is necessary to perform continuity inspections of a plurality of contacts, respectively, which increases the number of inspection steps. Moreover, when the size of the connector is small, the inspection is extremely difficult.

特開２００８−３０５６２１号公報JP 2008-305621 A 特開平６−２９０５５号公報JP-A-6-29055

本発明は、第１接続対象物に固定・接続された第１コネクタと接続対象体とが適切な位置関係において嵌合・接続されていることを実装状態において検査可能であり、これにより第１接続対象物と第２接続対象物とが電気的に接続されているものと推定可能なコネクタ装置を提供することを目的とする。 According to the present invention, it is possible to inspect in a mounted state that the first connector fixed and connected to the first connection object and the connection object are fitted and connected in an appropriate positional relationship. It aims at providing the connector apparatus which can be estimated that the connection target object and the 2nd connection target object are electrically connected.

本発明によれば、第１のコネクタ装置として、
第１接続対象物と、前記第１接続対象物に固定・接続される第１コネクタと、前記第１コネクタと嵌合方向に沿って嵌合・接続される接続対象体とからなるコネクタ装置であって、
前記接続対象体は、前記第１コネクタが前記第１接続対象物に固定・接続された状態において、前記第１コネクタと嵌合していない未嵌合位置と前記第１コネクタと嵌合・接続された嵌合位置との間を前記嵌合方向に沿って移動可能であり、
前記コネクタ装置は、前記接続対象体が前記嵌合位置にあるときに形成される検査用の経路を有しており、
前記経路は、前記接続対象体が前記嵌合位置にあるときに前記コネクタ装置の外部から前記コネクタ装置の内部を通り前記第１接続対象物の所定位置まで検査用のピンを到達させ得るものである一方、前記接続対象体が前記未嵌合位置にあるとき及び前記未嵌合位置から前記嵌合位置まで移動する途中においては前記経路が形成されないことから前記ピンを前記所定位置まで到達させることができないものであり、
前記ピンを前記経路に挿入し、挿入された前記ピンが前記所定位置まで到達したことを検出することにより、前記接続対象体が前記嵌合位置に位置しており且つ前記第１コネクタと嵌合・接続されていることを検出可能な
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, as the first connector device,
A connector device comprising a first connection object, a first connector fixed and connected to the first connection object, and a connection object fitted and connected to the first connector along a fitting direction. There,
In the state where the first connector is fixed and connected to the first connection object, the connection object is fitted and connected to the first connector and an unfitted position that is not fitted to the first connector. Is movable along the fitting direction between the fitted position,
The connector device has an inspection path formed when the connection object is in the fitting position,
The path may allow an inspection pin to reach a predetermined position of the first connection object from the outside of the connector device through the inside of the connector device when the connection object is in the fitting position. On the other hand, since the path is not formed when the connection object is in the unfitted position and on the way from the unfitted position to the fitted position, the pin is caused to reach the predetermined position. Is not possible,
By inserting the pin into the path and detecting that the inserted pin has reached the predetermined position, the connection object is located at the fitting position and fitted with the first connector. -A connector device capable of detecting connection is obtained.

また、本発明によれば、第２のコネクタ装置として、第１のコネクタ装置であって、
前記第１コネクタには、前記経路の一部を構成する第１検査孔が形成されている
コネクタ装置が得られる。 Further, according to the present invention, the second connector device is a first connector device,
A connector device in which a first inspection hole that constitutes a part of the path is formed in the first connector is obtained.

また、本発明によれば、第３のコネクタ装置として、第２のコネクタ装置であって、
前記接続対象体は、第２接続対象物と、前記第２接続対象物に接続される第２コネクタとからなり、
前記第２コネクタには、前記経路の一部を構成する第２検査孔が形成されており、
前記第２コネクタが前記嵌合方向に沿って前記第１コネクタと嵌合・接続される
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, the third connector device is a second connector device,
The connection object comprises a second connection object and a second connector connected to the second connection object,
The second connector is formed with a second inspection hole constituting a part of the path,
A connector device is obtained in which the second connector is fitted and connected to the first connector along the fitting direction.

また、本発明によれば、第４のコネクタ装置として、第３のコネクタ装置であって、
前記第２接続対象物には、前記経路の一部を構成する第３検査孔が形成されており、
前記第１検査孔は、前記第２コネクタが前記第１コネクタと嵌合・接続される過程において前記第２コネクタの一部を受容する第１受容孔であり、
前記第２検査孔は、前記第２コネクタが前記第１コネクタと嵌合・接続される過程において前記第１コネクタの一部を受容する第２受容孔である
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, the fourth connector device is a third connector device,
In the second connection object, a third inspection hole that constitutes a part of the path is formed,
The first inspection hole is a first receiving hole that receives a part of the second connector in a process in which the second connector is fitted and connected to the first connector.
The second inspection hole is a connector device that is a second receiving hole that receives a part of the first connector in a process in which the second connector is fitted and connected to the first connector.

また、本発明によれば、第５のコネクタ装置として、第２のコネクタ装置であって、
前記接続対象体は、コネクタ機能を有さない第２接続対象物であり、
前記第２接続対象物には、前記経路の一部を構成する第３検査孔が形成されており、
前記第２接続対象物が前記嵌合方向に沿って前記第１コネクタと嵌合・接続される
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, the fifth connector device is a second connector device,
The connection object is a second connection object having no connector function,
In the second connection object, a third inspection hole that constitutes a part of the path is formed,
A connector device is obtained in which the second connection object is fitted and connected to the first connector along the fitting direction.

また、本発明によれば、第６のコネクタ装置として、第１乃至第５のコネクタ装置のいずれかであって、
前記第１接続対象物は略平面状に形成されており、
前記嵌合方向は、前記第１接続対象物と平行している
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, the sixth connector device is any one of the first to fifth connector devices,
The first connection object is formed in a substantially planar shape,
A connector device in which the fitting direction is parallel to the first connection object is obtained.

また、本発明によれば、第７のコネクタ装置として、第１乃至第６のコネクタ装置のいずれかであって、
前記経路は、前記嵌合方向と交差する所定方向に沿って直線状に延びている
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, the seventh connector device is any one of the first to sixth connector devices,
A connector device is obtained in which the path extends linearly along a predetermined direction intersecting the fitting direction.

また、本発明によれば、第８のコネクタ装置として、第７のコネクタ装置であって、
前記ピンは柱状の導電部を備えており、
前記第１接続対象物には、前記所定位置を含む検査用の導電パターンが形成されており、
前記経路を通過して前記所定位置まで到達した前記ピンの前記導電部と前記導電パターンとを含む電気経路に対する導通テストにより前記ピンが前記所定位置まで到達したことを検出し得る
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, as the eighth connector device, a seventh connector device,
The pin includes a columnar conductive portion,
In the first connection object, a conductive pattern for inspection including the predetermined position is formed,
A connector device capable of detecting that the pin has reached the predetermined position is obtained by a continuity test on the electric path including the conductive portion and the conductive pattern of the pin that has passed through the path and reached the predetermined position. .

また、本発明によれば、第９のコネクタ装置として、第７のコネクタ装置であって、
前記ピンにはマーカーが設けられており、
前記所定方向と交差する方向から前記マーカーと前記第１接続対象物との位置的関係をモニタすることにより前記ピンが前記所定位置まで到達したことを検出し得る
コネクタ装置が得られる。 According to the present invention, the ninth connector device is a seventh connector device,
The pin is provided with a marker,
By monitoring the positional relationship between the marker and the first connection object from the direction crossing the predetermined direction, a connector device capable of detecting that the pin has reached the predetermined position is obtained.

本発明によれば、接続対象体が嵌合位置にあるときに、コネクタ装置の外部からコネクタ装置の内部を通り第１接続対象物の所定位置まで検査用のピンを到達させ得る検査用の経路が形成される一方、接続対象体が未嵌合位置にあるとき及び未嵌合位置から嵌合位置まで移動する途中においては検査用の経路が形成されない構成としたため、ピンを経路に挿入し、挿入されたピンが所定位置まで到達したことを検出することにより、接続対象体が第１コネクタと嵌合・接続された嵌合位置に位置していることを検出可能である。 According to the present invention, when the connection object is in the fitting position, the inspection path through which the inspection pin can reach the predetermined position of the first connection object from the outside of the connector apparatus through the inside of the connector apparatus. On the other hand, since the inspection path is not formed when the connection object is in the unfitted position and on the way from the unfitted position to the fitted position, the pin is inserted into the path, By detecting that the inserted pin has reached a predetermined position, it is possible to detect that the connection object is located at the fitting position where it is fitted and connected to the first connector.

本発明の第１の実施の形態によるコネクタ装置と検査用のピンとを示す分解斜視図である。1 is an exploded perspective view showing a connector device and inspection pins according to a first embodiment of the present invention. 図１のコネクタ装置の第１コネクタと第１接続対象物とを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the 1st connector and 1st connection target object of the connector apparatus of FIG. 図１のコネクタ装置の第２コネクタと第２接続対象物とを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the 2nd connector and 2nd connection target object of the connector apparatus of FIG. 図１のコネクタ装置を示す上面図である。なお、破線によって第２コネクタの位置を示している。また、V−V線は、第２コネクタの第２雄コンタクト部分でコネクタ装置を切断している。It is a top view which shows the connector apparatus of FIG. Note that the position of the second connector is indicated by a broken line. The VV line cuts the connector device at the second male contact portion of the second connector. 図４のコネクタ装置の第１コネクタと第２コネクタとを、V−V線に沿って示す断面斜視図である。なお、第２コネクタは嵌合位置にある。It is a cross-sectional perspective view which shows the 1st connector and 2nd connector of the connector apparatus of FIG. 4 along a VV line. The second connector is in the fitting position. 図４のコネクタ装置を、VI−VI線に沿って示す断面図である。なお、第２コネクタは未嵌合位置にある。It is sectional drawing which shows the connector apparatus of FIG. 4 along a VI-VI line. Note that the second connector is in the unfitted position. 図４のコネクタ装置を、VII−VII線に沿って示す断面図である。なお、第２コネクタは未嵌合位置から嵌合位置に移動する途中の位置にある。It is sectional drawing which shows the connector apparatus of FIG. 4 along the VII-VII line. Note that the second connector is in the middle of moving from the unfitted position to the fitted position. 図４のコネクタ装置を、VIII−VIII線に沿って示す断面図である。なお、第２コネクタは嵌合位置にある。It is sectional drawing which shows the connector apparatus of FIG. 4 along the VIII-VIII line. The second connector is in the fitting position. 図４のコネクタ装置と検査用のピンとを示す部分断面斜視図である。なお、第２コネクタは嵌合位置にある。FIG. 5 is a partial cross-sectional perspective view showing the connector device of FIG. 4 and an inspection pin. The second connector is in the fitting position. 本発明の第２の実施の形態によるコネクタ装置と検査用のピンとを示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows the connector apparatus and the pin for a test | inspection by the 2nd Embodiment of this invention. 図１０のコネクタ装置を示す上面図である。It is a top view which shows the connector apparatus of FIG. 図１１のコネクタ装置を、XII−XII線に沿って示す断面図である。なお、第１接続対象物は未嵌合位置にある。It is sectional drawing which shows the connector apparatus of FIG. 11 along the XII-XII line. The first connection object is in the unfitted position. 図１１のコネクタ装置をXIII−XIII線に沿って示す断面図である。なお、第１接続対象物は嵌合位置にある。It is sectional drawing which shows the connector apparatus of FIG. 11 along the XIII-XIII line. The first connection object is in the fitting position. 図１１のコネクタ装置をXIV−XIV線に沿って示す断面図である。なお、第１接続対象物は嵌合位置にある。It is sectional drawing which shows the connector apparatus of FIG. 11 along the XIV-XIV line. The first connection object is in the fitting position. 図１１のコネクタ装置を示す部分断面斜視図である。なお、第１接続対象物は嵌合位置にある。It is a fragmentary sectional perspective view which shows the connector apparatus of FIG. The first connection object is in the fitting position. 本発明の第３の実施の形態によるコネクタ装置と検査用のピンとを示す上面図である。It is a top view which shows the connector apparatus and the pin for a test | inspection by the 3rd Embodiment of this invention. 従来のコネクタの一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the conventional connector. 従来のコネクタの別の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows another example of the conventional connector.

（第１の実施の形態）
図１に示されるように、本発明の第１の実施の形態によるコネクタ装置１０は、第１接続対象物２０と、第１コネクタ３０と、第２接続対象物４０と、第２コネクタ５０とを備えている。 (First embodiment)
As shown in FIG. 1, the connector device 10 according to the first embodiment of the present invention includes a first connection object 20, a first connector 30, a second connection object 40, and a second connector 50. It has.

本実施の形態においては、第２コネクタ５０が最終的な嵌合方向（Ｙ方向）に沿って第１コネクタ３０と嵌合・接続され、ピン９０を使用して、嵌合・接続されていることが検査される。ピン９０は導電性材料によって円柱状に形成されており、導電部には後端面９２が形成されている。後端面９２の反対側は円錐状に突出しており、先端部９１が形成されている。即ち、先端部９１と後端面９２とは電気的に接続されている。 In the present embodiment, the second connector 50 is fitted and connected to the first connector 30 along the final fitting direction (Y direction), and is fitted and connected using the pin 90. Is inspected. The pin 90 is formed in a cylindrical shape from a conductive material, and a rear end surface 92 is formed in the conductive portion. The opposite side of the rear end surface 92 protrudes in a conical shape, and a front end portion 91 is formed. That is, the front end portion 91 and the rear end surface 92 are electrically connected.

本実施の形態による第１コネクタ３０及び第２コネクタ５０は、互いに同一の形状及びサイズを有している。第１接続対象物２０及び第２接続対象物４０は、電子部品等が搭載される基板であり、略平面状に形成されており、信号線等が設けられている。 The first connector 30 and the second connector 50 according to the present embodiment have the same shape and size. The first connection object 20 and the second connection object 40 are substrates on which electronic components and the like are mounted, are formed in a substantially planar shape, and are provided with signal lines and the like.

図２及び図３から理解されるように、第１コネクタ３０は、第１接続対象物（第１基板）２０に固定・接続され、第２コネクタ５０は、第２接続対象物（第２基板）４０に固定・接続される。本実施の形態においては、第２基板４０と第２コネクタ５０とからなる接続対象体は、Ｚ方向に移動した後、＋Ｙ方向（嵌合方向）に沿って第１コネクタ３０と嵌合・接続される。 As can be understood from FIGS. 2 and 3, the first connector 30 is fixed and connected to the first connection object (first board) 20, and the second connector 50 is connected to the second connection object (second board). ) Fixed and connected to 40. In the present embodiment, the connection object composed of the second substrate 40 and the second connector 50 moves in the Z direction, and then engages and connects with the first connector 30 along the + Y direction (fitting direction). Is done.

図２に示されるように、第１コネクタ３０は、絶縁性材料からなる第１ハウジング３９と、金属からなる複数の第１雄コンタクト３１と、金属からなる複数の第１雌コンタクト３２と、第１被固定部３６とを備えている。第１ハウジング３９は、Ｙ方向において対向する第１嵌合部３３及び第１収容部３４と、２つの第１連結部３５とを備えている。第１連結部３５は、第１ハウジング３９のＸ方向における両端部に位置しており、Ｚ方向と直交する平面状の上面を有している。第１連結部３５のＹ方向における両側部の下端部分には、第１コネクタ３０を第１基板２０に固定するための第１被固定部３６が設けられている。第１嵌合部３３及び第１収容部３４とは、２つの第１連結部３５によってＹ方向に連結されており、これにより第１ハウジング３９には第１受容孔（第１検査孔）３７が形成されている。 As shown in FIG. 2, the first connector 30 includes a first housing 39 made of an insulating material, a plurality of first male contacts 31 made of metal, a plurality of first female contacts 32 made of metal, 1 to-be-fixed part 36 is provided. The first housing 39 includes a first fitting portion 33 and a first accommodating portion 34 that face each other in the Y direction, and two first connecting portions 35. The first connecting portion 35 is located at both ends in the X direction of the first housing 39 and has a planar upper surface orthogonal to the Z direction. A first fixed portion 36 for fixing the first connector 30 to the first substrate 20 is provided at the lower end portions of both side portions in the Y direction of the first connecting portion 35. The first fitting portion 33 and the first accommodating portion 34 are connected in the Y direction by two first connecting portions 35, whereby a first receiving hole (first inspection hole) 37 is formed in the first housing 39. Is formed.

第１受容孔３７は、第１ハウジング３９のＸ方向及びＹ方向における中央部分に形成されており、第１ハウジング３９をＺ方向において貫通している。第１受容孔３７は、Ｘ方向において２つの第１連結部３５の間で延びており、Ｙ方向において第１嵌合部３３及び第１収容部３４の間で延びている。第１受容孔３７のＸ方向及びＹ方向における幅は、ピン９０の外径よりも大きい。 The first receiving hole 37 is formed in a central portion of the first housing 39 in the X direction and the Y direction, and penetrates the first housing 39 in the Z direction. The first receiving hole 37 extends between the two first connecting portions 35 in the X direction, and extends between the first fitting portion 33 and the first accommodating portion 34 in the Y direction. The width of the first receiving hole 37 in the X direction and the Y direction is larger than the outer diameter of the pin 90.

第１嵌合部３３は、Ｘ方向において長く延びており、略平面状の上面を有している。第１嵌合部３３の上面は、Ｚ方向において第１連結部３５の上面よりも少し上に位置している。第１嵌合部３３の上面部分は、第１受容孔３７に向けて突出しており、Ｚ方向において薄厚な平板状部が第１受容孔３７の一部を上から覆っている。 The first fitting portion 33 extends long in the X direction, and has a substantially planar upper surface. The upper surface of the first fitting portion 33 is located slightly above the upper surface of the first connecting portion 35 in the Z direction. The upper surface portion of the first fitting portion 33 protrudes toward the first receiving hole 37, and a thin plate-like portion in the Z direction covers a part of the first receiving hole 37 from above.

図２及び図５から理解されるように、第１収容部３４は、Ｘ方向に長手を有する略四角柱状に形成されており、略平面状の上面を有している。第１収容部３４の上面は、Ｚ方向において第１連結部３５の上面よりも上に位置している。詳しくは、第１収容部３４の高さは、第１連結部３５の高さ×２とほぼ等しくなるように構成されている。第１収容部３４のうち第１受容孔３７とは反対側（第１コネクタ３０の外側）の面は第１受容孔３７に近づくように窪んでおり、これにより第１コネクタ３０の外部に向けて開口した凹部（第１凹部３８）が形成されている。 As understood from FIGS. 2 and 5, the first accommodating portion 34 is formed in a substantially quadrangular prism shape having a length in the X direction, and has a substantially planar upper surface. The upper surface of the first accommodating portion 34 is located above the upper surface of the first connecting portion 35 in the Z direction. Specifically, the height of the first accommodating portion 34 is configured to be approximately equal to the height × 2 of the first connecting portion 35. The surface of the first housing portion 34 opposite to the first receiving hole 37 (outside of the first connector 30) is recessed so as to approach the first receiving hole 37, and thus faces the outside of the first connector 30. A recessed portion (first recessed portion 38) is formed.

図２及び図５に示されるように、第１嵌合部３３は、複数の第１雄コンタクト３１をＸ方向において列設保持している。詳しくは、第１雄コンタクト３１はＹＺ平面内を延びており、第１雄コンタクト３１の一方の端部は、第１嵌合部３３の上面部分に埋設され、他方の端部は第１嵌合部３３の下端付近（−Ｚ方向の端部付近）から第１コネクタ３０の外部に突出している。 As shown in FIGS. 2 and 5, the first fitting portion 33 holds a plurality of first male contacts 31 arranged in the X direction. Specifically, the first male contact 31 extends in the YZ plane, one end of the first male contact 31 is embedded in the upper surface portion of the first fitting portion 33, and the other end is the first fitting. The joint 33 protrudes from the vicinity of the lower end (near the end in the −Z direction) to the outside of the first connector 30.

第１収容部３４は、複数の第１雌コンタクト３２をＸ方向において列設保持している。詳しくは、第１雌コンタクト３２は、第１収容部３４の第１凹部３８に収容されている。第１雌コンタクト３２は、曲部を有しており、曲部を第１受容孔３７に向けるようにしてＹＺ平面内を略Ｕ字状に延びている。第１雌コンタクト３２の一方の端部は、第１収容部３４の上面付近から第１コネクタ３０の外部に突出しており、他方の端部は第１収容部３４の下端付近から第１コネクタ３０の外部に突出している。第１収容部３４に形成された第１凹部３８は、第１雌コンタクト３２に取り囲まれ、第１コネクタ３０の外部に向けて開口した空間となっている。 The first accommodating portion 34 holds a plurality of first female contacts 32 arranged in the X direction. Specifically, the first female contact 32 is housed in the first recess 38 of the first housing portion 34. The first female contact 32 has a curved portion, and extends in a substantially U shape in the YZ plane so that the curved portion faces the first receiving hole 37. One end portion of the first female contact 32 protrudes from the vicinity of the upper surface of the first housing portion 34 to the outside of the first connector 30, and the other end portion thereof from the vicinity of the lower end of the first housing portion 34 to the first connector 30. Protrudes outside. The first recess 38 formed in the first housing portion 34 is surrounded by the first female contact 32 and is a space that opens toward the outside of the first connector 30.

図１及び図２に示されるように、第１基板２０は、第１固定部２１と、第１雄接触部２２と、第１雌接触部２３と、導電パターン２４とを備えている。第１固定部２１は、第１コネクタ３０の第１被固定部３６を半田付け等により固定するための部位であり、第１雄接触部２２及び第１雌接触部２３は、第１コネクタ３０の第１雄コンタクト３１及び第１雌コンタクト３２を第１基板２０の信号線等（図示せず）と夫々接続するための部位である。第１固定部２１、第１雄接触部２２及び第１雌接触部２３は、第１コネクタ３０が第１基板２０に搭載された際に、第１被固定部３６、第１雄コンタクト３１の端部及び第１雌コンタクト３２の端部が夫々置かれる位置に設けられている。 As shown in FIGS. 1 and 2, the first substrate 20 includes a first fixing portion 21, a first male contact portion 22, a first female contact portion 23, and a conductive pattern 24. The first fixing portion 21 is a portion for fixing the first fixed portion 36 of the first connector 30 by soldering or the like. The first male contact portion 22 and the first female contact portion 23 are the first connector 30. This is a part for connecting the first male contact 31 and the first female contact 32 to a signal line or the like (not shown) of the first substrate 20. When the first connector 30 is mounted on the first substrate 20, the first fixed portion 21, the first male contact portion 22, and the first female contact portion 23 are connected to the first fixed portion 36 and the first male contact 31. The end portion and the end portion of the first female contact 32 are provided at positions where they are respectively placed.

導電パターン２４は、導電性材料から形成されており、第１導電端２５と第２導電端（検査用パッド）２６とを備えている。即ち、第１導電端２５と第２導電端２６とは電気的に接続されている。第１導電端２５は、第１コネクタ３０が第１基板２０に搭載された際にＸＹ平面において第１受容孔３７と対応する位置に設けられている。換言すれば、第１コネクタ３０が第１基板２０に固定・接続された状態において、第１導電端２５の上方（＋Ｚ方向）は第１コネクタ３０によって覆われておらず、ピン９０を第１導電端２５の上方から第１導電端２５まで到達させることができる。詳しくは、第１導電端２５は、第１基板２０に搭載された第１コネクタ３０のＹ方向における中間地点であって、且つ第１受容孔３７のＸ方向における両端部付近である位置（所定位置）に設けられている。即ち、第１基板２０には、所定位置を含む検査用の導電パターン２４が形成されている。第２導電端２６は、第１コネクタ３０が第１基板２０に搭載された際に第１コネクタ３０の外部となる位置に設けられている。具体的には、本実施の形態による第２導電端２６は、第１基板２０のＸ方向における端部付近に設けられている。 The conductive pattern 24 is made of a conductive material and includes a first conductive end 25 and a second conductive end (inspection pad) 26. That is, the first conductive end 25 and the second conductive end 26 are electrically connected. The first conductive end 25 is provided at a position corresponding to the first receiving hole 37 in the XY plane when the first connector 30 is mounted on the first substrate 20. In other words, in a state where the first connector 30 is fixed and connected to the first substrate 20, the upper part (+ Z direction) of the first conductive end 25 is not covered by the first connector 30, and the pin 90 is connected to the first board 30. The first conductive end 25 can be reached from above the conductive end 25. Specifically, the first conductive end 25 is a position that is an intermediate point in the Y direction of the first connector 30 mounted on the first substrate 20 and near both ends in the X direction of the first receiving hole 37 (predetermined). Position). In other words, the inspection conductive pattern 24 including a predetermined position is formed on the first substrate 20. The second conductive end 26 is provided at a position that is outside the first connector 30 when the first connector 30 is mounted on the first substrate 20. Specifically, the second conductive end 26 according to the present embodiment is provided in the vicinity of the end of the first substrate 20 in the X direction.

図３及び図５に示されるように、第２コネクタ５０は、絶縁性材料からなる第２ハウジング５９と、金属からなる複数の第２雄コンタクト５１と、金属からなる複数の第２雌コンタクト５２と、第２被固定部５６とを備えている。第２ハウジング５９は、第２嵌合部５３と第２収容部５４と２つの第２連結部５５とを備えている。第２ハウジング５９には第２受容孔（第２検査孔）５７が形成されている。第２収容部５４には、第２コネクタ５０の外側に向けて開口した空間である第２凹部５８が形成されている。以上の各部材の形状、機能、構造等は、第１コネクタ３０において対応する各部材と同様である。 As shown in FIGS. 3 and 5, the second connector 50 includes a second housing 59 made of an insulating material, a plurality of second male contacts 51 made of metal, and a plurality of second female contacts 52 made of metal. And a second fixed portion 56. The second housing 59 includes a second fitting portion 53, a second accommodating portion 54, and two second connecting portions 55. A second receiving hole (second inspection hole) 57 is formed in the second housing 59. The second housing portion 54 is formed with a second recess 58 that is a space opened toward the outside of the second connector 50. The shape, function, structure, and the like of each member described above are the same as the corresponding members in the first connector 30.

図２、図３及び図５から理解されるように、第２受容孔５７のサイズは第１収容部３４のサイズよりも僅かに大きく、第１受容孔３７のサイズは第２収容部５４のサイズよりも僅かに大きい。 As can be understood from FIGS. 2, 3, and 5, the size of the second receiving hole 57 is slightly larger than the size of the first receiving portion 34, and the size of the first receiving hole 37 is the size of the second receiving portion 54. Slightly larger than size.

図１及び図３に示されるように、第２基板４０は、第２固定部４１と、第２雄接触部４２と、第２雌接触部４３と、第３検査孔４７とを備えている。第２固定部４１、第２雄接触部４２（図８参照）及び第２雌接触部４３の形状、機能、構造等は、第１基板２０の第１固定部２１、第１雄接触部２２及び第１雌接触部２３と夫々同様である。 As shown in FIGS. 1 and 3, the second substrate 40 includes a second fixing portion 41, a second male contact portion 42, a second female contact portion 43, and a third inspection hole 47. . The shape, function, structure, and the like of the second fixing portion 41, the second male contact portion 42 (see FIG. 8), and the second female contact portion 43 are the first fixing portion 21 and the first male contact portion 22 of the first substrate 20. And it is the same as that of the 1st female contact part 23, respectively.

図１、図３及び図４から理解されるように、第３検査孔４７は、第２基板４０をＺ方向に貫通しており、ピン９０が通過可能な大きさを有する円形状に形成されている。第３検査孔４７は、第２基板４０に搭載された第２コネクタ５０のＹ方向における中間地点であって、第２受容孔５７のＸ方向における両端部付近である位置に設けられている。詳しくは、Ｘ方向における第３検査孔４７の中心と第２連結部５５との間の距離は、Ｘ方向における第１導電端２５の中心と第１連結部３５との間の距離と等しい。第２コネクタ５０が第２基板４０に固定・接続された状態において、第３検査孔４７の下方（−Ｚ方向）は第２コネクタ５０によって覆われておらず、ピン９０を第３検査孔４７から下方に通過させることができる。 As can be understood from FIGS. 1, 3 and 4, the third inspection hole 47 penetrates the second substrate 40 in the Z direction and is formed in a circular shape having a size through which the pin 90 can pass. ing. The third inspection hole 47 is provided at an intermediate point in the Y direction of the second connector 50 mounted on the second substrate 40 and at a position near both ends of the second receiving hole 57 in the X direction. Specifically, the distance between the center of the third inspection hole 47 and the second connecting portion 55 in the X direction is equal to the distance between the center of the first conductive end 25 and the first connecting portion 35 in the X direction. In a state where the second connector 50 is fixed and connected to the second substrate 40, the lower part (−Z direction) of the third inspection hole 47 is not covered by the second connector 50, and the pin 90 is connected to the third inspection hole 47. From below.

図１乃至図３、図５及び図６から理解されるように、第２基板４０に固定・接続された第２コネクタ５０の第２収容部５４及び第２受容孔５７を、第１基板２０に固定・接続された第１コネクタ３０の第１受容孔３７及び第１収容部３４の上方に夫々位置させて、第２コネクタ５０を第１コネクタ３０に向けて下方（−Ｚ方向）に移動させると、第１連結部３５と第２連結部５５とは互いに当接し、第２収容部５４及び第１収容部３４は、第１受容孔３７及び第２受容孔５７の内部に夫々嵌入する。このとき、図６に示されるように、第１収容部３４及び第２収容部５４は、第２基板４０及び第１基板２０と夫々近接している。また、第１収容部３４の第１凹部３８及び第２収容部５４の第２凹部５８は、第２嵌合部５３の突出した平板状部及び第１嵌合部３３の突出した平板状部と、Ｚ方向においては夫々対応しているがＹ方向においては離れた位置に置かれている。即ち、第２コネクタ５０を含む接続対象体は、第１コネクタ３０と嵌合していない未嵌合位置にある。 As can be understood from FIGS. 1 to 3, 5, and 6, the second receiving portion 54 and the second receiving hole 57 of the second connector 50 fixed and connected to the second substrate 40 are provided in the first substrate 20. The second connector 50 is moved downward (−Z direction) toward the first connector 30 by being positioned above the first receiving hole 37 and the first receiving portion 34 of the first connector 30 fixed and connected to the first connector 30, respectively. As a result, the first connecting portion 35 and the second connecting portion 55 come into contact with each other, and the second receiving portion 54 and the first receiving portion 34 are fitted into the first receiving hole 37 and the second receiving hole 57, respectively. . At this time, as shown in FIG. 6, the first housing portion 34 and the second housing portion 54 are close to the second substrate 40 and the first substrate 20, respectively. Further, the first recess 38 of the first housing part 34 and the second recess 58 of the second housing part 54 are a flat plate-like part protruding from the second fitting part 53 and a flat plate-like part protruding from the first fitting part 33. In the Z direction, but in the Y direction, they are located at different positions. That is, the connection object including the second connector 50 is in an unfitted position where it is not fitted with the first connector 30.

図６乃至図８から理解されるように、第２コネクタ５０は、第１基板２０と平行する嵌合方向（＋Ｙ方向）に沿って移動可能である。第２コネクタ５０を嵌合方向に沿って移動させると、第２嵌合部５３の突出した平板状部及び第１嵌合部３３の突出した平板状部が、第１収容部３４の第１凹部３８及び第２収容部５４の第２凹部５８に夫々収容される。図８に示されるように、このとき、第１雄コンタクト３１及び第２雄コンタクト５１は、第２雌コンタクト５２及び第１雌コンタクト３２と夫々接触しており、従って第１基板２０の第１雄接触部２２及び第１雌接触部２３は、第２基板４０の第２雌接触部４３及び第２雄接触部４２と夫々電気的に接続されている。即ち、第１基板２０と第２基板４０とは電気的に接続されており、第２コネクタ５０を含む接続対象体は、第１コネクタ３０と嵌合・接続された嵌合位置にある。 As can be understood from FIGS. 6 to 8, the second connector 50 is movable along a fitting direction (+ Y direction) parallel to the first substrate 20. When the second connector 50 is moved along the fitting direction, the flat plate-like portion from which the second fitting portion 53 protrudes and the flat plate-like portion from which the first fitting portion 33 protrudes are the first of the first housing portion 34. The concave portion 38 and the second concave portion 58 of the second accommodating portion 54 are accommodated, respectively. As shown in FIG. 8, at this time, the first male contact 31 and the second male contact 51 are in contact with the second female contact 52 and the first female contact 32, respectively. The male contact portion 22 and the first female contact portion 23 are electrically connected to the second female contact portion 43 and the second male contact portion 42 of the second substrate 40, respectively. That is, the first substrate 20 and the second substrate 40 are electrically connected, and the connection object including the second connector 50 is in a fitting position where the first connector 30 is fitted and connected.

図８に示されるように、第２コネクタ５０が嵌合位置にあるとき、第１収容部３４と第２収容部５４との間に間隙７０が形成されている。間隙７０はピン９０が上方から通過可能なサイズを有している。また、間隙７０の上方には第３検査孔４７が位置しており、間隙７０のＹ方向における中央部分には第１導電端２５が位置している。以上の説明から理解されるように、第２コネクタ５０が嵌合位置にあるとき、コネクタ装置１０の上方（即ち、コネクタ装置１０の外部）から第３検査孔４７及び間隙７０（即ち、コネクタ装置１０の内部）を通り第１導電端２５が置かれた位置（所定位置）までピン９０を到達させ得る経路８０が形成されている。経路８０は、嵌合方向と直交する（即ち、交差する）Ｚ方向（所定方向）に沿って直線状に延びている。 As shown in FIG. 8, when the second connector 50 is in the fitting position, a gap 70 is formed between the first housing portion 34 and the second housing portion 54. The gap 70 has a size that allows the pin 90 to pass from above. Further, the third inspection hole 47 is located above the gap 70, and the first conductive end 25 is located at the central portion of the gap 70 in the Y direction. As understood from the above description, when the second connector 50 is in the fitting position, the third inspection hole 47 and the gap 70 (that is, the connector device) from above the connector device 10 (that is, outside the connector device 10). 10), a path 80 that allows the pin 90 to reach a position (predetermined position) where the first conductive end 25 is placed is formed. The path 80 extends linearly along the Z direction (predetermined direction) perpendicular to (ie, intersecting) the fitting direction.

図６に示されるように、第２コネクタ５０が未嵌合位置にあるとき、間隙７０は形成されておらず、従って経路８０も形成されていない。図７に示されるように、第２コネクタ５０が未嵌合位置から嵌合位置まで移動する途中においては、間隙７０は形成されつつあるがピン９０を通過させるサイズを備えていない。即ち、経路８０は形成されておらず、ピン９０を所定位置まで到達させることができない。 As shown in FIG. 6, when the second connector 50 is in the unfitted position, the gap 70 is not formed, and therefore the path 80 is not formed. As shown in FIG. 7, while the second connector 50 is moving from the unfitted position to the fitted position, the gap 70 is being formed, but does not have a size that allows the pin 90 to pass therethrough. That is, the path 80 is not formed, and the pin 90 cannot reach the predetermined position.

図５及び図８から理解されるように、本実施の形態による間隙７０は、第１嵌合部３３及び第２嵌合部５３が相手側コネクタの第２収容部５４及び第１収容部３４に夫々収容される過程において、第１受容孔３７と第２受容孔５７とがオーバーラップすることで形成される。即ち、本実施の形態においては、第２コネクタ５０が第１コネクタ３０と嵌合・接続される過程において第２コネクタ５０の一部を受容する第１受容孔３７が検査用のピン９０を通過させる第１検査孔３７として機能しており、第２コネクタ５０が第１コネクタ３０と嵌合・接続される過程において第１コネクタ３０の一部を受容する第２受容孔５７が検査用のピン９０を通過させる第２検査孔５７として機能している。換言すれば、第１コネクタ３０には、経路８０の一部を構成する第１検査孔３７が形成されており、第２コネクタ５０には、経路８０の一部を構成する第２検査孔５７が形成されている。さらに、第２基板４０に形成された第３検査孔４７が、経路８０の一部を構成している。 As can be understood from FIGS. 5 and 8, the gap 70 according to the present embodiment is such that the first fitting portion 33 and the second fitting portion 53 are the second receiving portion 54 and the first receiving portion 34 of the mating connector. In the process of being accommodated respectively, the first receiving hole 37 and the second receiving hole 57 are overlapped. That is, in the present embodiment, the first receiving hole 37 that receives a part of the second connector 50 passes through the inspection pin 90 in the process in which the second connector 50 is fitted and connected to the first connector 30. The second receiving hole 57 that functions as the first inspection hole 37 to be received and receives a part of the first connector 30 in the process in which the second connector 50 is fitted and connected to the first connector 30. It functions as a second inspection hole 57 through which 90 passes. In other words, the first connector 30 is formed with a first inspection hole 37 constituting a part of the path 80, and the second connector 50 is formed with a second inspection hole 57 constituting a part of the path 80. Is formed. Further, the third inspection hole 47 formed in the second substrate 40 constitutes a part of the path 80.

図９に示されるように、第２コネクタ５０が嵌合位置にあるとき、ピン９０を経路８０に挿入して、先端部９１を第１導電端２５と接触させることができる。この状態でピン９０の後端面９２と第２導電端２６とを検査用回路（図示せず）と接続することにより、経路８０を通過して所定位置まで到達したピン９０の導電部と導電パターン２４とを含む電気経路９５が形成される。電気経路９５に対する導通テストを行うことにより、ピン９０が所定位置まで到達したことを検出することができる。換言すれば、ピン９０を経路８０に挿入し、挿入されたピン９０が所定位置まで到達したことを検出することにより、接続対象体が嵌合位置に位置しており且つ第１コネクタ３０と嵌合・接続されていることを検出可能である。即ち、経路８０は導通テストに使用される検査用の経路である。 As shown in FIG. 9, when the second connector 50 is in the mating position, the pin 90 can be inserted into the path 80 to bring the tip 91 into contact with the first conductive end 25. In this state, by connecting the rear end surface 92 of the pin 90 and the second conductive end 26 to an inspection circuit (not shown), the conductive portion and the conductive pattern of the pin 90 that have reached the predetermined position through the path 80. 24 is formed. By conducting a continuity test on the electrical path 95, it is possible to detect that the pin 90 has reached a predetermined position. In other words, by inserting the pin 90 into the path 80 and detecting that the inserted pin 90 has reached the predetermined position, the connection object is located at the fitting position and fitted with the first connector 30. It is possible to detect the connection. That is, the path 80 is an inspection path used for the continuity test.

第２コネクタ５０が嵌合位置にあることを検査する方法は、上述の導通テストに限られない。例えば、図９に示されるように、ピン９０にマーカー９４を設けてもよい。マーカー９４は、経路８０に挿入されたピン９０の先端部９１が第１導電端２５と接触した状態において第２基板４０の底面（＋Ｚ方向の面）よりも僅かに上の位置となる場所に設ければよい。所定方向（Ｚ方向）と交差する方向からマーカー９４と第１基板２０とのＺ方向における位置的関係をカメラや目視等でモニタすることにより、ピン９０が所定位置まで到達したことを検出し得る。なお、例えば、ピン９０の一部に着色してマーカー９４としてもよいし、ピン９０の一部に切り込みを入れてマーカー９４としてもよい。 The method for inspecting that the second connector 50 is in the fitting position is not limited to the above-described continuity test. For example, as shown in FIG. 9, a marker 94 may be provided on the pin 90. The marker 94 is located at a position slightly above the bottom surface (the surface in the + Z direction) of the second substrate 40 in a state where the tip 91 of the pin 90 inserted into the path 80 is in contact with the first conductive end 25. What is necessary is just to provide. By monitoring the positional relationship between the marker 94 and the first substrate 20 in the Z direction from the direction intersecting with the predetermined direction (Z direction), it is possible to detect that the pin 90 has reached the predetermined position. . For example, a part of the pin 90 may be colored to serve as the marker 94, or a part of the pin 90 may be cut into the marker 94.

（第２の実施の形態）
図１０に示されるように、本発明の第２の実施の形態によるコネクタ装置１０ａは、第１接続対象物（第１基板）２０ａと、第１コネクタ３０ａと、第２接続対象物４０ａとを備えている。 (Second Embodiment)
As shown in FIG. 10, the connector device 10a according to the second embodiment of the present invention includes a first connection object (first board) 20a, a first connector 30a, and a second connection object 40a. I have.

本実施の形態による接続対象体は、コネクタ機能を有さない、例えばＦＰＣ等の第２接続対象物４０ａである。第２接続対象物４０ａは、略平面状に形成されており、信号線等を備えている。第２接続対象物４０ａの先端部分には信号線等と電気的に接続された接触部４２ａが形成されている（図１４参照）。 The connection object by this Embodiment is the 2nd connection object 40a, such as FPC, which does not have a connector function, for example. The second connection object 40a is formed in a substantially planar shape and includes a signal line and the like. A contact portion 42a electrically connected to a signal line or the like is formed at the tip of the second connection object 40a (see FIG. 14).

図１０、図１１及び図１５から理解されるように、第１コネクタ３０ａは、第１基板２０ａに固定・接続されるものである。第２接続対象物４０ａ（接続対象体）は、第１コネクタ３０ａと嵌合・接続されるものである。 As understood from FIGS. 10, 11 and 15, the first connector 30a is fixed and connected to the first substrate 20a. The second connection object 40a (connection object) is to be fitted and connected to the first connector 30a.

図１０及び図１１に示されるように、第１コネクタ３０ａは、絶縁性材料からなるハウジング３９ａと、金属からなる複数のコンタクト３１ａと、被固定部３６ａとを備えている。ハウジング３９ａは、Ｙ方向に長手を有する略四角柱形状に形成されている。ハウジング３９ａには、第２接続対象物４０ａを挿入可能な収容部３４ａが形成されている。収容部３４ａは、ハウジング３９ａの内部に設けられた空間であり、両側面、上面、底面及び後面を有しており、−Ｘ方向に開口している（図１２参照）。図１０及び図１１から理解されるように、収容部３４ａの両側面間のＹ方向における長さは、第１基板２０ａのＹ方向における幅と略同一である。 As shown in FIGS. 10 and 11, the first connector 30a includes a housing 39a made of an insulating material, a plurality of contacts 31a made of metal, and a fixed portion 36a. The housing 39a is formed in a substantially quadrangular prism shape having a length in the Y direction. A housing part 34a into which the second connection object 40a can be inserted is formed in the housing 39a. The accommodating portion 34a is a space provided inside the housing 39a, and has both side surfaces, an upper surface, a bottom surface, and a rear surface, and is open in the −X direction (see FIG. 12). As understood from FIGS. 10 and 11, the length in the Y direction between both side surfaces of the accommodating portion 34a is substantially the same as the width in the Y direction of the first substrate 20a.

図１０、図１１及び図１４に示されるように、ハウジング３９ａは、コンタクト３１ａをＹ方向において列設保持している。コンタクト３１ａは、後方（Ｘ方向）からハウジング３９ａの内部に挿入され、収容部３４ａの底面に沿って収容部３４ａの開口付近まで延びている。コンタクト３１ａの後端部はハウジング３９ａの下端部分に位置している。被固定部３６ａは、ハウジング３９ａの下端部分の四隅に設けられている。 As shown in FIGS. 10, 11 and 14, the housing 39a holds the contacts 31a in a row in the Y direction. The contact 31a is inserted into the housing 39a from the rear (X direction) and extends to the vicinity of the opening of the housing portion 34a along the bottom surface of the housing portion 34a. The rear end portion of the contact 31a is located at the lower end portion of the housing 39a. The fixed portions 36a are provided at the four corners of the lower end portion of the housing 39a.

ハウジング３９ａには２つの第１検査孔３７ａが形成されている。第１検査孔３７ａは、ハウジング３９ａを上下（Ｚ方向）に貫通している。第１検査孔３７ａは、ピン９０が通過可能なサイズに形成されており、ＸＹ平面において略円形の断面を有している。第１検査孔３７ａの上端部分には、ピン９０を第１検査孔３７ａ内にガイドする円錐面が形成されている。 Two first inspection holes 37a are formed in the housing 39a. The first inspection hole 37a penetrates the housing 39a vertically (Z direction). The first inspection hole 37a is formed in a size that allows the pin 90 to pass therethrough and has a substantially circular cross section in the XY plane. A conical surface that guides the pin 90 into the first inspection hole 37a is formed at the upper end portion of the first inspection hole 37a.

図１０に示されるように、第１基板２０ａは、固定部２１ａと、接触部２２ａと、導電パターン２４ａとを備えている。固定部２１ａは、第１コネクタ３０ａの被固定部３６ａを半田付け等により固定するための部位であり、接触部２２ａは、第１コネクタ３０ａのコンタクト３１ａを第１基板２０ａの信号線等（図示せず）と夫々接続するための部位である。固定部２１ａ及び接触部２２ａは、第１コネクタ３０ａが第１基板２０ａに搭載された際に、被固定部３６ａ及びコンタクト３１ａの端部が夫々置かれる位置に設けられている。 As shown in FIG. 10, the first substrate 20a includes a fixed portion 21a, a contact portion 22a, and a conductive pattern 24a. The fixing portion 21a is a portion for fixing the fixed portion 36a of the first connector 30a by soldering or the like, and the contact portion 22a connects the contact 31a of the first connector 30a to the signal line of the first substrate 20a (see FIG. (Not shown) for connecting to each other. The fixed portion 21a and the contact portion 22a are provided at positions where the fixed portion 36a and the end of the contact 31a are respectively placed when the first connector 30a is mounted on the first substrate 20a.

導電パターン２４ａは、第１の実施の形態における導電パターン２４と同様の形状及び機能を備えている。例えば、導電パターン２４ａは、導電性材料から形成されており、第１導電端２５ａと第２導電端（検査用パッド）２６ａとを備えている。第１導電端２５ａは、第１コネクタ３０ａが第１基板２０ａに搭載された際にＸＹ平面において第１検査孔３７ａと対応する位置（所定位置）に設けられている。 The conductive pattern 24a has the same shape and function as the conductive pattern 24 in the first embodiment. For example, the conductive pattern 24a is made of a conductive material, and includes a first conductive end 25a and a second conductive end (inspection pad) 26a. The first conductive end 25a is provided at a position (predetermined position) corresponding to the first inspection hole 37a in the XY plane when the first connector 30a is mounted on the first substrate 20a.

図１０に示されるように、第２接続対象物４０ａは、第３検査孔４７ａを備えている。図１０、図１２及び図１３から理解されるように、第３検査孔４７ａは、第２基板４０ａをＺ方向に貫通しており、ピン９０が通過可能な大きさを備えた円形状に形成されている。第３検査孔４７ａは、第１検査孔３７ａと対応するように、第２基板４０ａの先端部付近に形成されており、Ｙ方向における両端部付近に夫々設けられている。詳しくは、第２接続対象物４０ａのＹ方向における端部から第３検査孔４７ａの中心までのＹ方向における距離は、収容部３４ａの側面から第１検査孔３７ａの中心までのＹ方向における距離とほぼ同一である。また、第２接続対象物４０ａの先端部から第３検査孔４７ａの中心までのＸ方向における距離は、収容部３４ａの後面から第１検査孔３７ａの中心までのＸ方向における距離とほぼ同一である。 As shown in FIG. 10, the second connection object 40 a includes a third inspection hole 47 a. As understood from FIGS. 10, 12, and 13, the third inspection hole 47a is formed in a circular shape having a size that allows the pin 90 to pass through the second substrate 40a in the Z direction. Has been. The third inspection holes 47a are formed in the vicinity of the front end portion of the second substrate 40a so as to correspond to the first inspection hole 37a, and are respectively provided in the vicinity of both end portions in the Y direction. Specifically, the distance in the Y direction from the end of the second connection object 40a in the Y direction to the center of the third inspection hole 47a is the distance in the Y direction from the side surface of the housing portion 34a to the center of the first inspection hole 37a. Is almost the same. Further, the distance in the X direction from the tip of the second connection object 40a to the center of the third inspection hole 47a is substantially the same as the distance in the X direction from the rear surface of the housing portion 34a to the center of the first inspection hole 37a. is there.

図１０乃至図１５から理解されるように、第２接続対象物４０ａ（接続対象体）は、第１基板２０ａに固定・接続された第１コネクタ３０ａの収容部３４ａに向けて、第１基板２０ａと平行する嵌合方向（＋Ｘ方向）に沿って移動可能である。図１２に示されるように、第２接続対象物４０ａを嵌合方向に沿って収容部３４ａに挿入すると、第２接続対象物４０ａは、先端を第１検査孔３７ａの内部に突出した位置（未嵌合位置）に到達する。第２接続対象物４０ａが未嵌合位置にあるとき、第１検査孔３７ａの一部は第２接続対象物４０ａによって塞がれているので、ピン９０を第１検査孔３７ａに挿入しても所定位置に置かれた第１導電端２５ａまで到達させることができない。 As can be understood from FIGS. 10 to 15, the second connection object 40 a (connection object) is directed toward the housing portion 34 a of the first connector 30 a fixed and connected to the first board 20 a. It is movable along the fitting direction (+ X direction) parallel to 20a. As shown in FIG. 12, when the second connection object 40a is inserted into the accommodating portion 34a along the fitting direction, the second connection object 40a has a position where the tip protrudes into the first inspection hole 37a ( (Unmated position) is reached. When the second connection object 40a is in the unfitted position, a part of the first inspection hole 37a is blocked by the second connection object 40a, so the pin 90 is inserted into the first inspection hole 37a. Also, the first conductive end 25a placed at a predetermined position cannot be reached.

図１３に示されるように、第２接続対象物４０ａをさらに挿入すると、第２接続対象物４０ａの先端が収容部３４ａの後面と当接する。図１４に示されるように、このとき、コンタクト３１ａの一方の端部付近が第２接続対象物４０ａの接触部４２ａと接触しており、従って第１基板２０ａの接触部２２ａは、第２接続対象物４０ａの接触部４２ａと電気的に接続されている。即ち、第１基板２０ａと第２接続対象物４０ａとは電気的に接続されており、第２接続対象物４０ａ（接続対象体）は、第１コネクタ３０ａと嵌合・接続された嵌合位置にある。 As shown in FIG. 13, when the second connection object 40a is further inserted, the tip of the second connection object 40a comes into contact with the rear surface of the accommodating portion 34a. As shown in FIG. 14, at this time, the vicinity of one end of the contact 31a is in contact with the contact portion 42a of the second connection object 40a. Therefore, the contact portion 22a of the first substrate 20a is in contact with the second connection. The contact part 42a of the target object 40a is electrically connected. That is, the first substrate 20a and the second connection object 40a are electrically connected, and the second connection object 40a (connection object) is fitted to and connected to the first connector 30a. It is in.

図１３に示されるように、第２接続対象物４０ａが嵌合位置にあるとき、第１検査孔３７ａと第３検査孔４７ａとはオーバーラップしており、これにより経路８０ａが形成されている。詳しくは、経路８０ａは、第２接続対象物４０ａの先端部分（嵌合部）が第１コネクタ３０ａの収容部３４ａに収容される過程において、第１検査孔３７ａと第３検査孔４７ａとがオーバーラップすることで形成される。経路８０ａはピン９０が上方から通過可能なサイズを有しており、嵌合方向と直交する（即ち、交差する）Ｚ方向（所定方向）に沿って直線状に延びている。また、経路８０ａ下方には第１導電端２５ａが位置している。以上の説明から理解されるように、第２接続対象物４０ａが嵌合位置にあるとき、コネクタ装置１０ａの上方（即ち、外部）から、コネクタ装置１０ａの内部を通り第１導電端２５が置かれた位置（所定位置）までピン９０を到達させ得る経路８０ａが形成されている。 As shown in FIG. 13, when the second connection object 40a is in the fitting position, the first inspection hole 37a and the third inspection hole 47a overlap each other, thereby forming a path 80a. . Specifically, the path 80a includes a first inspection hole 37a and a third inspection hole 47a in a process in which the tip end portion (fitting portion) of the second connection object 40a is accommodated in the accommodation portion 34a of the first connector 30a. It is formed by overlapping. The path 80a has a size through which the pin 90 can pass from above, and extends linearly along the Z direction (predetermined direction) perpendicular to (ie, intersecting) the fitting direction. The first conductive end 25a is located below the path 80a. As understood from the above description, when the second connection object 40a is in the fitting position, the first conductive end 25 is placed from above (that is, outside) the connector device 10a through the inside of the connector device 10a. A path 80a that allows the pin 90 to reach the position (predetermined position) is formed.

図１５から理解されるように、ピン９０の先端部９１を第１導電端２５ａと接触させ、ピン９０の後端面９２と第２導電端２６ａとを検査用回路（図示せず）に接続することにより、ピン９０の導電部と導電パターン２４ａとを含む電気経路９５ａが形成される。第１の実施の形態と同様に、電気経路９５ａに対する導通テストを行うことにより、ピン９０が所定位置まで到達したことを検出することができる。 As can be understood from FIG. 15, the tip 91 of the pin 90 is brought into contact with the first conductive end 25a, and the rear end surface 92 of the pin 90 and the second conductive end 26a are connected to an inspection circuit (not shown). Thus, an electric path 95a including the conductive portion of the pin 90 and the conductive pattern 24a is formed. Similar to the first embodiment, it is possible to detect that the pin 90 has reached a predetermined position by performing a continuity test on the electrical path 95a.

（第３の実施の形態）
図１６に示されるように、本発明の第３の実施の形態によるコネクタ装置１０ｂは、第１接続対象物（第１基板）２０ａと、第１コネクタ３０ｂと、ＦＰＣ等の第２接続対象物４０ｂと、第２コネクタ５０ｂとを備えている。第１コネクタ３０ｂは、プラグコネクタである第２コネクタ５０ｂと嵌合・接続されるレセプタクルコネクタである。第１コネクタ３０ｂは、第１基板２０ａに接続・固定されており、第２コネクタ５０ｂは、第２接続対象物（ＦＰＣ）４０ｂに接続・固定されている。 (Third embodiment)
As shown in FIG. 16, the connector device 10b according to the third embodiment of the present invention includes a first connection object (first board) 20a, a first connector 30b, and a second connection object such as an FPC. 40b and a second connector 50b. The first connector 30b is a receptacle connector that is fitted and connected to the second connector 50b that is a plug connector. The first connector 30b is connected and fixed to the first substrate 20a, and the second connector 50b is connected and fixed to the second connection object (FPC) 40b.

第１コネクタ３０ｂは、第２の実施の形態における第１コネクタ３０ａと同様に第１検査孔３７ｂを備えている。第２コネクタ５０ｂのＹ方向における両側面には、窪み５７ｂが形成されている。窪み５７ｂは、半円柱形状に形成されており、第２コネクタ５０ｂが第１コネクタ３０ｂと嵌合・接続されたときに第１検査孔３７ｂと対応する位置に設けられている。 The 1st connector 30b is provided with the 1st inspection hole 37b similarly to the 1st connector 30a in a 2nd embodiment. Indentations 57b are formed on both side surfaces of the second connector 50b in the Y direction. The recess 57b is formed in a semi-cylindrical shape, and is provided at a position corresponding to the first inspection hole 37b when the second connector 50b is fitted and connected to the first connector 30b.

第２接続対象物４０ｂに接続・固定された第２コネクタ５０ｂ（接続対象体）は、第２の実施の形態における第２接続対象物４０ａと同様に、未嵌合位置と嵌合位置との間を嵌合方向（＋Ｘ方向）に沿って移動可能である。第２コネクタ５０ｂが嵌合位置にあるときには、第１検査孔３７ｂと窪み５７ｂとがオーバーラップすることで、コネクタ装置１０ｂの外部からコネクタ装置１０ｂの内部を通り第１基板２０ａの所定位置まで検査用のピン９０を到達させ得る検査用の経路が形成される。一方、第２コネクタ５０ｂが未嵌合位置にあるとき及び未嵌合位置から嵌合位置まで移動する途中においては、第１検査孔３７ｂの一部が第２コネクタ５０ｂの先端部分によって塞がれており、検査用のピン９０をコネクタ装置１０ｂの内部を通して所定位置に到達させることはできない。 Similar to the second connection object 40a in the second embodiment, the second connector 50b (connection object) connected / fixed to the second connection object 40b has a non-fitting position and a fitting position. It can move along the fitting direction (+ X direction). When the second connector 50b is in the fitting position, the first inspection hole 37b and the recess 57b overlap so that the inspection is performed from the outside of the connector device 10b to the predetermined position of the first substrate 20a through the inside of the connector device 10b. An inspection path that can reach the test pin 90 is formed. On the other hand, when the second connector 50b is in the non-fitted position and during the movement from the non-fitted position to the fitted position, a part of the first inspection hole 37b is blocked by the tip portion of the second connector 50b. Therefore, the inspection pin 90 cannot reach the predetermined position through the inside of the connector device 10b.

図１６から理解されるように、第１検査孔３７ｂの位置を第１コネクタ３０ｂのＹ方向における中心に近づけ、第２コネクタ５０ｂに窪み５７ｂではなく第２検査孔を設けてもよい。この場合、コネクタ装置１０ｂは、第１基板２０ａと、第１基板２０ａに固定・接続される第１コネクタ（レセプタクルコネクタ）３０ｂと、ＦＰＣ４０ｂと、ＦＰＣ４０ｂと嵌合・接続される第２コネクタ（プラグコネクタ）５０ｂとから構成される。第１コネクタ３０ｂ及び第２コネクタ５０ｂには第１検査孔３７ｂ及び第２検査孔（図示せず）が夫々形成されている一方、ＦＰＣ４０ｂには第３検査孔が形成されていない。なお、第２及び第３の実施の形態においても、第１の実施の形態と同様にピン９０にマーカー９４を設けてカメラや目視等でモニタすることにより検査してもよい。 As understood from FIG. 16, the position of the first inspection hole 37b may be brought closer to the center in the Y direction of the first connector 30b, and the second inspection hole may be provided in the second connector 50b instead of the recess 57b. In this case, the connector device 10b includes a first board 20a, a first connector (receptacle connector) 30b fixed and connected to the first board 20a, an FPC 40b, and a second connector (plug) fitted and connected to the FPC 40b. Connector) 50b. A first inspection hole 37b and a second inspection hole (not shown) are formed in the first connector 30b and the second connector 50b, respectively, while a third inspection hole is not formed in the FPC 40b. Also in the second and third embodiments, the inspection may be performed by providing a marker 94 on the pin 90 and monitoring with a camera, visual observation, or the like, as in the first embodiment.

（その他の実施の形態）
本発明は以上で説明した本発明の実施の形態には限られない。例えば、様々なコネクタを第１コネクタ又は第２コネクタとして使用することができる。また、第１接続対象物及び第２接続対象物は、コネクタを介して電気的に接続されるように構成されているものであれば何でもよく、基板やＦＰＣに限らず、ＦＦＣ（Flexible Flat Cable）等であってもよい。 (Other embodiments)
The present invention is not limited to the embodiment of the present invention described above. For example, various connectors can be used as the first connector or the second connector. The first connecting object and the second connection object, as long as it is configured to be electrically connected via a connector well anything, not limited to the substrate and FPC, FFC (F lexible F it may be a lat C able) and the like.

接続対象体が嵌合位置にあることを検査する方法も、ピンを使用した方法には限られない。例えば、検査用の経路を大きく形成することが可能な場合には検査用の経路から所定位置を目視確認等することで検査してもよい。但し、コネクタのサイズが小さいため検査用の経路を大きく形成することができない場合には、検査用のピンを使用して検査することが好ましい。 The method for inspecting that the connection object is in the fitting position is not limited to the method using pins. For example, when a large path for inspection can be formed, inspection may be performed by visually confirming a predetermined position from the path for inspection. However, when the size of the connector is small and thus a large inspection path cannot be formed, it is preferable to perform inspection using inspection pins.

検査用の経路の形状及びサイズは、検査用のピンを所定位置まで通過させることが可能な限り、どのように形成してもよい。また、検査用のピンは、円柱形状には限られず例えば角柱形状に形成してもよいし、どのようなサイズを有していてもよい。ただし、検査用の経路を大きく形成することができない場合には、検査用のピンの強度を確保するため、検査用のピンのサイズを検査用の経路のサイズと略同一とすることが好ましい。そのためには、検査用のピンの形状も検査用の経路の形状に合わせることが好ましい The shape and size of the inspection path may be formed in any way as long as the inspection pin can pass to a predetermined position. Further, the inspection pin is not limited to a cylindrical shape, and may be formed in a prismatic shape, for example, or may have any size. However, when the inspection path cannot be formed large, it is preferable that the size of the inspection pin is substantially the same as the size of the inspection path in order to ensure the strength of the inspection pin. For this purpose, it is preferable to match the shape of the inspection pin with the shape of the inspection path.

検査用のピンの周囲を絶縁性材料で覆ってもよい。検査用の経路が金属部分と近接しているような場合は、このように構成することが好ましい。即ち、検査用のピンは柱状の導電部を備えておればよい。 The periphery of the inspection pin may be covered with an insulating material. When the inspection path is close to the metal portion, it is preferable to configure in this way. That is, the inspection pin only needs to have a columnar conductive portion.

検査用の経路が延びる所定方向は、嵌合方向と直交する方向には限られない。所定方向は、嵌合方向と交差していればよい。また、検査用の経路の数は２つに限らず、１つであってもよいし、３つ以上であってもよい。ただし、検査用の経路を離れた２箇所（例えばコネクタの両端部付近）に設けることによって、比較的小さな工数によって、より確実な検査を行うことが可能となる。 The predetermined direction in which the inspection path extends is not limited to the direction orthogonal to the fitting direction. The predetermined direction should just cross the fitting direction. Further, the number of inspection paths is not limited to two, but may be one or three or more. However, it is possible to perform more reliable inspection with a relatively small number of man-hours by providing inspection paths at two places (for example, near both ends of the connector).

検査孔（第１検査孔、第２検査孔及び第３検査孔）は、検査用の経路を形成する目的で形成されたものであってもよいし、例えば第１の実施の形態における第１受容孔のように検査とは異なる目的で形成された孔を検査孔として使用してもよい。また、第３の実施の形態における窪みのように孔ではない部分を検査用の経路の一部としてもよい。さらに、孔ではない部分のみによって検査用の経路を形成することも可能である。一方、第１コネクタ、第２コネクタ及び第２接続対象物の全てに、専ら検査用の経路を形成する目的で検査孔を設けてもよい。例えば、第３の実施の形態における第１検査孔の位置を第１コネクタの中心に近づけ、第２コネクタ及び第２接続対象物の第１検査孔と対応する位置に第２検査孔及び第３検査孔を夫々設けることも可能である。 The inspection holes (first inspection hole, second inspection hole, and third inspection hole) may be formed for the purpose of forming a path for inspection, for example, the first in the first embodiment. You may use the hole formed for the objective different from a test | inspection like a receiving hole as a test | inspection hole. In addition, a portion that is not a hole, such as a depression in the third embodiment, may be a part of the inspection path. Further, it is possible to form a path for inspection only by a portion that is not a hole. On the other hand, inspection holes may be provided in all of the first connector, the second connector, and the second connection object for the purpose of forming a path for inspection exclusively. For example, the position of the first inspection hole in the third embodiment is brought closer to the center of the first connector, and the second inspection hole and the third inspection hole are located at positions corresponding to the first inspection hole of the second connector and the second connection object. It is also possible to provide inspection holes.

検査孔の形状及びサイズは、所望の検査用の経路の形状及びサイズに合わせて形成すればよい。例えば、コネクタのサイズが極端に小さい場合には、検査用のピンのピン径が小さくなり強度が弱くなるので、検査用のピンをできる限り大きくして強度を確保しなければならず、そのため経路のサイズも大きくする必要があり、その場合には、検査孔もコネクタのサイズに対応しつつ、できる限り大きく形成する必要がある。 The shape and size of the inspection hole may be formed in accordance with the shape and size of a desired inspection path. For example, when the size of the connector is extremely small, the pin diameter of the inspection pin is reduced and the strength is weakened. Therefore, the inspection pin must be made as large as possible to ensure the strength, and therefore the path In this case, it is necessary to form the inspection hole as large as possible while corresponding to the size of the connector.

１０、１０ａ、１０ｂコネクタ装置
２０、２０ａ第１接続対象物（第１基板）
２１第１固定部
２１ａ固定部
２２第１雄接触部
２２ａ接触部
２３第１雌接触部
２４、２４ａ導電パターン
２５、２５ａ第１導電端
２６、２６ａ第２導電端（検査用パッド）
３０、３０ａ、３０ｂ第１コネクタ
３１第１雄コンタクト
３１ａコンタクト
３２第１雌コンタクト
３３第１嵌合部
３４第１収容部
３４ａ収容部
３５第１連結部
３６第１被固定部
３６ａ被固定部
３７第１受容孔（第１検査孔）
３７ａ、３７ｂ第１検査孔
３８第１凹部
３９第１ハウジング
３９ａハウジング
４０、４０ａ第２接続対象物（第２基板、接続対象体）
４０ｂ第２接続対象物（ＦＰＣ）
４１第２固定部
４２第２雄接触部
４２ａ接触部
４３第２雌接触部
４７、４７ａ第３検査孔
５０、５０ｂ第２コネクタ（接続対象体）
５１第２雄コンタクト
５２第２雌コンタクト
５３第２嵌合部
５４第２収容部
５５第２連結部
５６第２被固定部
５７第２受容孔（第２検査孔）
５７ｂ窪み
５８第２凹部
５９第２ハウジング
７０間隙
８０、８０ａ経路
９０ピン
９１先端部
９２後端面
９４マーカー
９５、９５ａ電気経路 10, 10a, 10b Connector device 20, 20a First connection object (first substrate)
21 1st fixed part 21a Fixed part 22 1st male contact part 22a Contact part 23 1st female contact part 24, 24a Conductive pattern 25, 25a 1st conductive end 26, 26a 2nd conductive end (pad for a test | inspection)
30, 30a, 30b 1st connector 31 1st male contact 31a contact 32 1st female contact 33 1st fitting part 34 1st receiving part 34a receiving part 35 1st connecting part 36 1st fixed part 36a fixed part 37 First receiving hole (first inspection hole)
37a, 37b 1st inspection hole 38 1st recessed part 39 1st housing 39a Housing 40, 40a 2nd connection object (2nd board | substrate, connection object)
40b Second connection object (FPC)
41 2nd fixing | fixed part 42 2nd male contact part 42a Contact part 43 2nd female contact part 47, 47a 3rd inspection hole 50, 50b 2nd connector (connection object)
51 2nd male contact 52 2nd female contact 53 2nd fitting part 54 2nd accommodating part 55 2nd connection part 56 2nd to-be-fixed part 57 2nd receiving hole (2nd inspection hole)
57b hollow 58 second recess 59 second housing 70 gap 80, 80a path 90 pin 91 front end 92 rear end face 94 marker 95, 95a electrical path

Claims

A connector device comprising a first connection object, a first connector fixed and connected to the first connection object, and a connection object fitted and connected to the first connector along a fitting direction. There,
In the state where the first connector is fixed and connected to the first connection object, the connection object is fitted and connected to the first connector and an unfitted position that is not fitted to the first connector. Is movable along the fitting direction between the fitted position,
The connector device has an inspection path formed when the connection object is in the fitting position,
The path may allow an inspection pin to reach a predetermined position of the first connection object from the outside of the connector device through the inside of the connector device when the connection object is in the fitting position. On the other hand, since the path is not formed when the connection object is in the unfitted position and on the way from the unfitted position to the fitted position, the pin is caused to reach the predetermined position. Is not possible,
By inserting the pin into the path and detecting that the inserted pin has reached the predetermined position, the connection object is located at the fitting position and fitted with the first connector.・ It can detect that it is connected ,
The first connector has a first inspection hole forming a part of the path,
The connection object comprises a second connection object and a second connector connected to the second connection object,
The second connector is formed with a second inspection hole constituting a part of the path,
The second connector is fitted and connected to the first connector along the fitting direction,
In the second connection object, a third inspection hole that constitutes a part of the path is formed,
The first inspection hole is a first receiving hole that receives a part of the second connector in a process in which the second connector is fitted and connected to the first connector.
The second inspection hole is a second receiving hole that receives a part of the first connector in a process in which the second connector is fitted and connected to the first connector .

The connector device according to claim 1 ,
The first connection object is formed in a substantially planar shape,
The connector device in which the fitting direction is parallel to the first connection object.

The connector device according to claim 1 or 2 ,
The path is a connector device extending linearly along a predetermined direction intersecting the fitting direction.

The connector device according to claim 3 ,
The pin includes a columnar conductive portion,
In the first connection object, a conductive pattern for inspection including the predetermined position is formed,
A connector device capable of detecting that the pin has reached the predetermined position by a continuity test with respect to an electrical path including the conductive portion and the conductive pattern of the pin that has passed through the path and reached the predetermined position.

The connector device according to claim 3 ,
The pin is provided with a marker,
A connector device capable of detecting that the pin has reached the predetermined position by monitoring a positional relationship between the marker and the first connection object from a direction crossing the predetermined direction.