KR100654492B1 - Seesaw type probe unit - Google Patents
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Abstract
본 발명은 구부러지기 쉬운 미세패턴의 커넥터를 간편하고 정확하게 검사할 수 있도록 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소프로브유니트및 이를 이용한 인터페이스방법에 관한 것이다.The present invention relates to a seesaw probe unit suitable for slide contact with the test socket so that the connector of the micropattern that is easy to bend can be inspected easily and an interface method using the same.
이를 위한 본 발명은, 4 핀및 40핀 미세 패턴(31, 32)의 보조 PCB(30)는 4핀의 커넥터(11)와 40핀의 커넥터(12)가 연결된 4 또는 40 개의 미세 패턴(13, 14)의 주 PCB(10)에 결합되도록 구비하여; 테스트보우드(60)를 검사하기 위해 44 핀이고 절연재질 울템으로 된 검사소켓(40)의 상부 홀(41, 42)상에 놓여지게 설치하고, 이 검사소켓(40)은 실리콘으로 된 4각의 접촉러버(51)와 원형의 힌지러버(52)가 결합되는 금도금 44 핀의 시소프로브(50)가 내장되게 한 것을 그 특징으로 한다. In the present invention, the auxiliary PCB 30 of the 4-pin and 40-pin fine patterns 31 and 32 has 4 or 40 fine patterns 13 to which the 4-pin connector 11 and the 40-pin connector 12 are connected. And coupled to the main PCB 10 of 14); To test the test board 60, it is placed on the upper holes 41 and 42 of the test socket 40 of 44 pin and insulating material, and the test socket 40 is made of silicon The contact rubber 51 of the circular hinge rubber 52 is coupled to the gold plated 44 pin seesaw probe 50 is characterized in that the built-in.
고정물, 검사소켓, 슬라이드접촉, 시소프로브, 인터페이스방법, 미세패턴 커넥터Fixture, Inspection Socket, Slide Contact, Seesaw Probe, Interface Method, Fine Pattern Connector
Description
도 1 은 본 발명의 실시예에 관한 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트를 도시해 놓은 분리사시도,1 is an exploded perspective view illustrating a seesaw probe unit suitable for slide contact of an inspection socket according to an embodiment of the present invention;
도 2 는 본 발명의 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트를 결합해놓은 상태도,2 is a state in which the test socket of the present invention combines a seesaw probe unit suitable for slide contact;
도 3 은 도 2 에 도시된 검사소켓과 시소프로브를 도시해 놓은 도면,3 is a view showing the test socket and seesaw probe shown in FIG.
도 4 는 본 발명의 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트를 설명하기 위한 과정도이다.Figure 4 is a process diagram for explaining the seesaw probe unit suitable for the test socket of the present invention slide contact.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
10 : 주 PCB 20 : PCB 가이드10: main PCB 20: PCB guide
30 : 보조 PCB 40 : 검사소켓30: auxiliary PCB 40: inspection socket
50 : 시소프로브(Seesaw Probe) 60 : 테스트보우드(Test Board)50: Seesaw Probe 60: Test Board
본 발명은 구부러지기 쉬운 미세패턴의 커넥터를 간편하고 정확하게 검사할 수 있도록 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소프로브유니트및 이를 이용한 인터페이스방법에 관한 것이다.The present invention relates to a seesaw probe unit suitable for slide contact with the test socket so that the connector of the micropattern that is easy to bend can be inspected easily and an interface method using the same.
사회가 복잡해짐에 따라 개인 소지품으로 널리 보급되고 있는 휴대폰, 캠코더 등과 같은 휴대 가능한 전자제품들은 소비자들의 요구에 부응하여 갈수록 그 크기가 소형화되고 있는 추세에 있다. 그에 따라 휴대형 전자제품에 사용되는 부품들도 그 기능을 동일하게 유지하거나 더 향상시키면서 경박단소한 외형을 갖는 방향으로 활발히 개발되고 있다.As the society becomes more complex, portable electronic products such as mobile phones and camcorders, which are widely used as personal belongings, are becoming smaller in size in response to consumer demands. Accordingly, components used in portable electronic products have also been actively developed in the direction of having a light and small shape while maintaining or improving the same function.
한편, 인서키트 테스터(In-Circuit Tester)는 인쇄회로기판 및 회로상의 부품소자를 검사하는 장비이고, 이러한 검사장치에서는 스프링 접촉 프로브(Spring Contact Probe)를 이용한 테스트 고정물로써 핀보우드 고정물(Pin Board Fixture)을 개발하여 채용하고 있다. 여기서 테스트핀으로써 스프링 접촉 프로브는 PCB(Printed Circuit Board) 산업 및 반도체 산업의 생산, 그리고 테스트업계의 PCB 테스트, 반도체테스트 및 회로부품 테스트 등 각각의 특성에 맞게 설계되는 제품으로 이 분야에 필수적인 매개체 역할을 하는 중요한 제품인 것이다.In-Circuit Tester is a device for inspecting printed circuit boards and components on circuits, and in these inspection devices, pin board fixtures are used as test fixtures using spring contact probes. ) Has been developed and adopted. Here, the spring contact probe as a test pin is a product designed for each characteristic such as printed circuit board (PCB) industry and semiconductor industry, PCB test, semiconductor test and circuit component test in the test industry. It is an important product.
상기 인쇄회로기판에는 저항, 콘덴서, 트랜지스터, 집적회로, 다이오드및 코일등의 부품을 삽입한 다음 솔더링 또는 노 솔더링(No Soldering)상태에서 모든 부품들의 미삽입, 오삽입 및 역삽입, 그리고 쇼트 및 오픈 등의 검사와 베어(Bare) 인쇄회로기판의 쇼트 및 오픈검사를 위하여 PCB동판의 모든 패턴에 테스트핀을 동시에 접촉시켜 짧은 시간에 불량 부품명/불량 내용/불량/부품/위치/쇼트 오픈 불량 내용을 모니터에 디스플레이하고 그 내용을 프린터로 출력하도록 PCB 모델별로 제작되는 핀보우드지그(Pin Board Jig)와 테스트프로그램을 포함하여 고정물(Fixture)이라 하고 있다.The printed circuit board includes components such as resistors, capacitors, transistors, integrated circuits, diodes, and coils, and then, in soldering or no soldering, all components are not inserted, misinserted and reversed, and short and open. The test pins are contacted to all patterns of the PCB copper plate at the same time for the inspection of light and short and open inspection of bare printed circuit boards. It is called a fixture including a Pin Board Jig and a test program that are manufactured by PCB model to display on a monitor and output the contents to a printer.
상기 인쇄회로기판을 설계할 경우, 핀보우드지그를 제작함에 따른 접촉프로브(Contact Probe (Pin))의 홀(Hole)가공을 고려한 테스트포인트 위치, 크기및 간격 설계에 따라 검출력을 향상시킬 수 있도록 되어 있다. 종래의 프로브기술로써 스프링 접촉프로브를 이용할 경우에 예컨데 인쇄회로기판의 커넥터를 검사함에 있어 수직방향은 정확하지만 수평방향이 부정확하기 때문에 그 크기와 제작에 한계점이 드러났다. When designing the printed circuit board, it is possible to improve the detection power according to the design of the test point position, size and spacing considering the hole processing of the contact probe (Pin) according to the manufacture of the pin board jig. have. In the case of using a spring contact probe as a conventional probe technology, for example, when inspecting a connector of a printed circuit board, the vertical direction is correct but the horizontal direction is inaccurate.
또한, 견고한 인쇄회로기판에는 사용 가능하지만 구부러지기 쉬운 인쇄회로기판에 사용하기 어려웠고, 이 구부러지기 쉬운 인쇄회로기판의 패턴간격이 조밀하고 0,2mm - 100mm 정도로 미세하여 검사부분을 못찾는 경우가 있었으며, 신뢰성이 떨어질 뿐만 아니라 파손또한 심하다는 결점이 있었다.In addition, it could be used for a rigid printed circuit board, but it was difficult to be used for a flexible printed circuit board. The pattern spacing of the flexible printed circuit board was dense and minute 0,2mm-100mm. In addition, the defects were not only poor reliability but also severe damage.
본 발명은 상기와 같은 제반 사정을 감안하여 발명한 것으로, 패턴이 조밀하고 미세하며 구부러지기 쉬운 인쇄회로기판으로써 미세패턴 커넥터의 검사제품을 종래의 스프링접촉프로브보다 간편하고 정확하게 검사할 수 있도록 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소프로브유니트를 제공하고자 함에 그 목적이 있다. The present invention has been invented in view of the above circumstances, and is a printed circuit board having a pattern that is dense, fine, and easily bent, so that the inspection product of the micropattern connector can be inspected more easily and accurately than the conventional spring contact probe. The object is to provide a seesaw probe unit suitable for this slide contact.
본 발명의 다른 목적은, 시소프로브가 내장된 검사소켓이 주 PCB에 수평으로 결합된 보조 PCB과 테스트보우드사이에 설치되어 각 미세패턴을 정확히 상하접속시킬 수 있고, 상기 시소프로브들을 연결한 실리콘러버의 경도를 이용하여 텐션조절이 가능할 뿐만아니라 교체도 가능한 슬라이드접촉의 시소프로브유니트를 제공할 수 있다.Another object of the present invention, the test socket with a built-in seesaw probe is installed between the auxiliary PCB and the test board horizontally coupled to the main PCB can be precisely connected to each fine pattern, silicon rubber connecting the seesaw probes By using the hardness of the tension adjustment can be provided as well as a replaceable slide contact seesaw unit can be provided.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 4 핀및 40핀 미세 패턴(31, 32)의 보조 PCB(30)는 4핀의 커넥터(11)와 40핀의 커넥터(12)가 연결된 4 또는 40 개의 미세 패턴(13, 14)의 주 PCB(10)에 결합되도록 구비하여; 테스트보우드(60)를 검사하기 위해 44 핀이고 절연재질 울템으로 된 검사소켓(40)의 상부 홀(41, 42)상에 놓여지게 설치하고, 이 검사소켓(40)은 실리콘으로 된 4각의 접촉러버(51)와 원형의 힌지러버(52)가 결합되는 금도금 44 핀의 시소프로브(50)가 내장되게 한 것을 그 특징으로 한다. In order to achieve the above object, the
본 발명의 다른 구체적인 실시예는, 44핀의 시소프로브(50)가 내장된 검사소켓(40)은 주 PCB(10)의 미세패턴(13, 14)에 수평으로 결합된 보조 PCB(30)의 미세패턴(31, 32)과 테스트보우드(60)의 바닥도금사이에 설치되고; 44핀의 시소프로브(50)는 내측 중앙홈에 원형 힌지러버(52)가 체결되면서 안쪽 사각홈에 4각 접촉러버(51)이 설치되고, 바닥측으로 중앙돌출부(54)가, 검사소켓(40)의 홀(41, 42)로 상단돌출부(53)가 각각 놓여지게 된 것을 특징으로 한다. According to another specific embodiment of the present invention, the
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 예시도면에 의거하여 상세히 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1 은 본 발명의 실시예에 관한 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트를 도시해 놓은 분리사시도이고, 도 2 는 본 발명의 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트를 결합해놓은 상태도이다. 본 발명은 구부러지기 쉬운 미세패턴 커넥터의 테스트보우드(60 : 도 2 참조)를 간편하고 정확하게 검사할 수 있도록 검사소켓(40)이 슬라이드접촉에 적합한 시소프로브(50)및 이를 이용한 인터페이스방법인 것이다. 상기 테스트보우드(60)는 피검사물 PCB 로서 밑바닥이 금도금되어 있다. 1 is an exploded perspective view showing a seesaw probe unit suitable for slide contact by the test socket according to the embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a state diagram in which the test socket of the present invention combines a seesaw probe unit suitable for slide contact. The present invention is a
반도체응용으로 측정제품인 테스트보우드(60)를 검사하기 위해 예컨데 44 핀이고 절연재질 울템(Ultem)으로 된 검사소켓(40)의 상부 홀(HOLE : 41, 42)상에 놓여지게 되는 바, 이 검사소켓(40)은 실리콘으로 된 4각의 접촉러버(51)와 원형의 힌지러버(52)가 결합되는 44 핀의 시소프로브(50)가 내장되게 된다. 이 시소프로브(50)가 설치된 검사소켓(40)은 보조 PCB(30)의 미세 패턴(31, 32)상에 놓여지게 된다. In order to inspect the
상기 보조 PCB(30)의 미세 패턴(31, 32)이 주 PCB(10)의 미세 패턴(13, 14)에 접촉하기 위해 결합부(15)에 상기 보조 PCB(30)가 정확히 맞춰지게 된다. 이때 금속으로 된 3 개의 PCB 가이드(20)를 이용하여 주 PCB(10)가 체결된 보조 PCB(30)와 검사소켓(40)의 테스트보우드(60)를 안정되게 안내해주게 된다. 여기서, 상기 주 PCB(10)의 미세 패턴(13, 14)에는 4핀의 커넥터(11)와 40핀의 커넥터(12)가 상단으로 연결되도록 설치되어 있다. The
따라서, 도 2 에 도시된 바와 같이 주 PCB(10)의 4핀 커넥터(11)와 40핀 커넥터(12)는 4 또는 40 개의 미세 패턴(13, 14)을 통해 보조 PCB(30)의 4 또는 40 개 미세 패턴(31, 32)에 접촉되고, 이 미세 패턴(31, 32)이 44핀 시소프로브(50)를 매개로 중앙돌출부에 접촉된 다음 상단돌출부가 홀(41, 42)을 통해 테스트보우드(60)의 금도금바닥에 정확히 접촉된다. Accordingly, as shown in FIG. 2, the 4-
도 3 은 도 2 에 도시된 검사소켓과 시소프로브를 도시해 놓은 상세도로서, 도 3(a)는 실리콘으로 된 4각의 접촉러버(51)와 원형의 힌지러버(52)가 결합되는 44핀의 시소프로브(50)가 내장된 검사소켓(40)을 나타내는 사시도면이고, 도 3(b)는 도 3(a)의 A-A'단면도를 나타낸 상세도면이며, 도 3(c)는 도 3(a)의 B-B'단면도를 나타낸 상세도면이다. FIG. 3 is a detailed view showing the test socket and the seesaw probe shown in FIG. 2, and FIG. 3 (a) shows a
도 3(b)에 도시된 44핀의 시소프로브(50)는 내측 중앙홈에 원형 힌지러버(52)가 체결되면서 안쪽 사각홈에 4각 접촉러버(51)가 설치되고, 이때 바닥측으로 중앙돌출부(54)가, 검사소켓(40)의 홀(41, 42)로 상단돌출부(53)가 각각 놓여지게 된다. In the 44-
상기와 같이 구성되는 44핀의 시소프로브(50)가 내장된 검사소켓(40)은 주 PCB(10)의 미세패턴(13, 14)에 수평으로 결합된 보조 PCB(30)의 미세패턴(31, 32)과 테스트보우드(60)의 바닥도금사이에 설치되어 시소프로브(50)의 중앙돌출부(54)와 상단돌출부(53)로 정확히 상하접속시킬 수 있고, 상기와 같이 44핀의 시소프로브(50)를 연결한 실리콘러버(51, 52)의 경도를 이용하여 텐션조절이 가능할 뿐만아니라 교체도 가능하다.The
도 4 는 본 발명의 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트를 설명하기 위한 과정도로서, 도 4(a)는 44핀의 시소프로브(50)가 내장된 검사소켓(40)이 보조 PCB(30)의 미세패턴(31, 32)과 테스트보우드(60)의 바닥도금사이에 접촉되기 전의 도면이고, 도 4(b)는 44핀의 시소프로브(50)가 내장된 검사소켓(40)이 보조 PCB(30)의 미세패턴(31, 32)과 테스트보우드(60)의 바닥도금사이에 접촉되기 전의 도면이다.4 is a process diagram for explaining the seesaw probe unit suitable for the slide contact test socket of the present invention, Figure 4 (a) is a
따라서, 검사소켓(40)의 시소프로브(50)는 도 2 에 도시된 바와 같이 패릿베이스(61)상에서 검사하기 위해 설치되는 AV 로더와 같은 테스트보드(60)의 미세패턴에 44핀 시소프로브(50)의 상단돌출부(53)가 접촉되는 한편, 주 PCB(10)의 미세패턴(13, 14)에 수평으로 결합된 보조 PCB(30)의 미세패턴(31, 32)에 44핀 시소프로브(50)의 중앙돌출부(54)가 접촉되게 됨으로 종래보다 정확하게 매번 측정제품을 검사할 수 있는 잇점이 있다. Therefore, the
본 발명은 구부러지기 쉬운 44핀의 미세패턴을 일례로하여 설명했지만, 기술적 요지가 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지의 미세패턴을 변경및 수정하여 사용해도 좋다. Although the present invention has been described as an example of a 44-pin fine pattern that is easy to bend, various fine patterns may be changed and used within the scope not departing from the technical gist.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 시소프로브가 내장된 검사소켓이 주 PCB에 수평으로 결합된 보조 PCB과 테스트보우드사이에 설치되어 각 미세패턴을 정확히 상하접속시킬 수 있고, 상기 시소프로브들을 연결한 실리콘러버의 경도를 이용하여 텐션조절이 가능할 뿐만아니라 교체도 가능한 슬라이드접촉의 시소프로브유니트를 제공할 수 있다.As described above, according to the present invention, a test socket having a seesaw probe is installed between the auxiliary PCB and the test board, which are horizontally coupled to the main PCB, so that each micropattern can be connected up and down accurately. By using the hardness of the silicone rubber, it is possible to provide a seesaw probe unit with a slide contact that is not only adjustable in tension but also replaceable.
본 발명의 시소 프로브유니트에 대한 기술사상을 예시도면에 의거하여 설명했지만, 이는 본 발명의 가장 양호한 실시예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명의 특허청구범위를 한정하는 것은 아니다. 본 발명은 이 기술분야의 통상 지식을 가진 자라면 누구나 본 발명의 기술사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.Although the technical idea of the seesaw probe unit of the present invention has been described based on the exemplary drawings, it is intended to illustrate the best embodiment of the present invention by way of example and not to limit the claims of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and imitations can be made without departing from the scope of the technical idea of the present invention.
Claims (3)
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| KR1020050008958A KR100654492B1 (en) | 2005-02-01 | 2005-02-01 | Seesaw type probe unit |
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-
2005
- 2005-02-01 KR KR1020050008958A patent/KR100654492B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000162270A (en) | 1998-11-02 | 2000-06-16 | Delaware Capital Formation Inc | Socket for testing |
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