KR20050057077A - 광 디스크의 결함 검출 장치 - Google Patents

광 디스크의 결함 검출 장치 Download PDF

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Abstract

레이저 광원의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크 상의 결함을 검출할 수 있는 결함 검출 장치를 제공한다. 광 디스크(101) 상의 결함 등을 반사광에서 검출하는 결함 검출부(102)와, 레이저 광원(100)의 출사 파워를 최적의 값으로 조정하는 파워 조정부(104)가 설치되고, 결함 검출부(102)는 파워 조정부(104)의 조정 결과에 따라 결정되는 임계치와 반사광에 따른 값을 비교함으로써, 광 디스크(101) 상의 결함 등을 레이저 파워가 변화해도 정확하게 검출할 수 있다.

Description

광 디스크의 결함 검출 장치{APPARATUS FOR SENSING DEFECT OF OPTICAL DISK}
본 발명은, 반도체 레이저 등으로부터의 레이저 광을 이용해 정보 매체에 정보 신호의 기록이나 재생을 행하는 기록 재생 장치에 적용되는 결함 검출 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 정보 매체(이하, 광 디스크라고 칭한다)에 레이저 광을 이용해 정보를 기록할 때에, 광 디스크로부터의 반사광을 이용해 광 디스크 상의 광 스폿(spot)과 원하는 트랙의 위치 편차를 검출하고, 그 검출 신호에 따라 대물 렌즈를 구동시킴으로써, 광 스폿이 원하는 트랙상을 주사하도록 트랙킹 제어가 행해진다.
그러나, 광 디스크 상에 먼지 부착이나 정보층에 디펙트(이하, 결함이라고 총칭한다)가 존재하면, 광 디스크로부터 정확한 반사광을 얻을 수 없어, 정확한 트랙킹 제어가 곤란해진다. 트랙킹 제어에 불량이 발생하면, 기록해야 할 영역 외에 레이저 광이 조사된다는 문제가 발생하는 경우가 있다.
이를 피하기 위해서, 종래, 반사광의 변화로부터 광 디스크의 결함을 검출하는 방법이 이용된다. 이는, 광 디스크 상에 결함이 존재하면, 반사광량이 저하하는 현상을 이용하는 방법이다. 즉, 광 디스크로부터의 반사광의 크기를 소정의 임계치와 비교함으로써, 광 디스크 상의 결함이 검출된다.
그러나, 광 디스크에 정보를 기록하는 경우, 레이저 광원의 최적의 출사 파워가 광 디스크의 온도 등에 의존하므로, 레이저 광원의 출사 파워는 적당할 때 최적의 값으로 조정할 필요가 있다. 한편, 레이저 광원의 출사 파워가 변화하면, 광 디스크로부터의 반사광의 크기도 변화한다. 이 때문에, 광 디스크로부터의 반사광의 크기를 소정의 임계치와 비교해, 광 디스크 상의 결함을 검출한다는 종래의 구성에서는, 광 디스크 상의 결함을 정확히 검출할 수 없는 것을 알았다.
이 문제에 대해, 레이저 광을, 광학 시스템을 통해 광 디스크상에 구성된 정보 트랙에 조사하고, 이 정보 트랙으로부터의 반사광을 광 검출기로 수광하여 기록 트랙의 결함을 검사하도록 하여, 정보 트랙으로부터의 평균 반사광을 검출하는 수단과, 평균 반사광에 따라 정보 트랙의 결함을 검출하는 수단을 제어하는 검출 제어 수단을 설치하고, 광 디스크 상의 결함을 검출하는 기술이 제안되어 있다(예를 들면, 일본국 특개소 60-107749호 공보의 제3페이지 우측 하란 제15행∼제4페이지 우측 상란 제1행, 도 3을 참조). 이 기술을 이용하면, 반사광의 평균치를 임계치로 하여 반사광의 변화를 검출하므로, 반사광의 크기가 변화한 경우라도, 반사광의 크기에 상관없이 광 디스크 상의 결함을 검출할 수 있다.
그러나, 상기와 같은 구성에서는, 평균 반사광에 의해 광 디스크 상의 결함을 검출하고 있으므로, 예를 들면 재생 상태로부터 기록 상태로의 이행 직후에 광 디스크에 결함이 존재하는 경우에는 상기 결함의 검출이 곤란하고, 트랙킹 제어에 악영향을 줘, 기록해야 할 영역 이외에 광 빔이 조사되고, 재생시부터 기록시로 바뀌는 경우 등, 레이저 광원의 출사 파워의 급격한 변화에 대응할 수 없어, 광 디스크 상의 결함의 검출에 문제가 발생하는 경우가 있었다.
도 1은 본 발명의 실시의 형태 1에 관한 결함 검출 장치의 일구성예를 도시하는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시의 형태 1에 있어서의 레이저 광원의 출사 파워 지령의 일례를 도시하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시의 형태 1에 있어서의 동작을 설명하기 위한 각부 신호의 파형도이다.
도 4는 본 발명의 실시의 형태 2에 관한 결함 검출 장치의 일구성예를 도시하는 블록도이다.
도 5는 본 발명의 실시의 형태 3에 관한 결함 검출 장치의 일구성예를 도시하는 블록도이다.
도 6은 본 발명의 실시의 형태 4에 관한 결함 검출 장치에 있어서의 파워 조정부와 BDO 검출부와 홀드부의 일구성예를 도시하는 블록도이다.
도 7은 본 발명의 실시의 형태 4에 있어서의 파워 조정부와 BDO 검출부와 홀드부의 동작을 설명하기 위한 각부 신호의 파형도이다.
도 8은 본 발명의 실시의 형태 5에 관한 결함 검출 장치에 있어서의 파워 조정부와 BDO 검출부와 홀드부의 일구성예를 도시하는 블록도이다.
도 9는 본 발명의 실시의 형태 6에 관한 결함 검출 장치에 있어서의 파워 조정부와 BDO 검출부와 홀드부의 일구성예를 도시하는 블록도이다.
(발명의 개시)
본 발명은, 상기의 문제점에 비추어 이루어진 것으로, 그 목적은, 레이저 광원의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크 상의 결함을 검출가능한 장치를 제공하는 것에 있다.
상기의 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 관한 제1 결함 검출 장치는, 레이저 광원에서 발생한 광 빔에 의해서 정보 신호를 정보 매체에 대해 기록재생할 때에, 정보 매체에 기록 또는 재생 불가능한 결함을 검출하는 장치로서, 레이저 광원의 출사 파워를 최적의 값으로 조정하는 파워 조정부와, 파워 조정부에서 조정한 레이저 광원의 출사 파워에 따라서 결정되는 임계치와, 광 빔이 정보 매체의 정보층에서 반사한 반사광에 따른 값을 비교하여, 비교 결과에 따라 정보층 상에 존재하는 결함을 검출하는 결함 검출부를 포함하여 구성되는 것이다.
이와 같이 구성함으로써, 레이저 광원의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 정보 매체의 정보층 상의 먼지나 디펙트 등의 결함을 검출할 수 있다.
또한, 본 발명에 관한 제1 결함 검출 장치에 있어서, 결함 검출부는, 소정의 레이저 파워 범위에서 선택한 출사 파워에 따라 임계치를 결정하고, 파워 조정부로 조정한 출사 파워의 평균치에 따라 임계치를 결정하고, 출사 파워가 선택 결정되는 복수의 파워 레벨을 소정 비율로 가산한 값에 따라 임계치를 결정하고, 출사 파워가 선택 결정되는 복수의 파워 레벨 중 최대의 파워 레벨에 따라 임계치를 결정하고, 출사 파워가 선택 결정되는 복수의 파워 레벨 중 소거용에 이용되는 소거 파워 레벨에 따라 임계치를 결정하는 것중 어느 하나의 구성을 채용하면, 결함 검출부의 구성을 간략화할 수 있으므로, 바람직하다.
또한, 상기의 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 관한 제2 결함 검출 장치는, 레이저 광원에서 발생한 광 빔에 의해서 정보 신호를 정보 매체에 대해 기록 재생할 때에, 정보 매체에 기록 또는 재생 불가능한 결함을 검출하는 장치로서, 레이저 광원의 출사 파워를 최적의 값으로 조정하는 파워 조정부와, 파워 조정부로 조정한 레이저 광원의 출사 파워에 따라서 결정되는 증폭율에 의해, 광 빔이 정보 매체의 정보층에서 반사한 반사광에 따른 신호를 증폭시켜 증폭 반사광량 신호를 생성하고, 증폭 반사광량 신호에 따른 값과 소정의 임계치를 비교하여, 비교 결과에 따라 정보층상에 존재하는 결함을 검출하는 결함 검출부를 포함하여 구성되는 것이다.
이와 같이 구성함으로써, 레이저 광원의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 정보 매체의 정보층 상의 먼지나 디펙트 등의 결함을 검출할 수 있다.
또한, 본 발명에 관한 제2 결함 검출 장치에 있어서, 결함 검출부는, 소정의 레이저 파워 범위에서 선택한 출사 파워에 따라 증폭율을 결정하고, 파워 조정부로 조정한 출사 파워의 평균치에 따라 증폭율을 결정하고, 출사 파워가 선택 결정되는 복수의 파워 레벨을 소정 비율로 가산한 값에 따라 증폭율을 결정하고, 출사 파워가 선택 결정되는 복수의 파워 레벨 중 최대의 파워 레벨에 따라 증폭율을 결정하고, 출사 파워가 선택 결정되는 복수의 파워 레벨중 소거용에 이용되는 소거 파워 레벨에 따라 증폭율을 결정하는 것중 어느 하나의 구성을 채용하면, 결함 검출부의 구성을 간략화할 수 있기 때문에 바람직하다.
이하, 본 발명의 적합한 실시 형태에 대해서, 상 변화형 광 디스크를 예로 들어, 도면을 참조하면서 상술한다. 또한, 이하 기술하는 실시의 형태에서는, 상변화형 광 디스크를 예로 들고 있으므로, 레이저 파워가 복수의 레벨을 갖는 것으로서 취급하는데, 단일 레이저 파워거나, 또는 아날로그적 레이저 파워라도, 본 발명의 기술 사상은 동일하게 활용된다.
(실시 형태 1)
도 1은 본 발명의 실시 형태 1에 관한 결함 검출 장치의 일구성예를 도시하는 블록도이다. 도 1에서, 레이저 광원(100)으로부터 광 디스크(101)의 정보층에 조사한 광 빔은 상기 정보층에서 반사되고, 반사광을 광 검출기(102)로 검출한다. 트랙킹 오차 검출부(106)는, 복수로 분할된 광 검출 소자를 구비하는 광 검출기(102)로부터의 검출 신호를 이용해, 광 디스크(101) 상의 광 빔과 정보층이 형성되어 있는 트랙의 위치 편차에 따른 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력한다.
홀드부(109)는, 트랙킹 오차 검출부(106)로부터의 트랙킹 오차 신호(TE)와 후술의 홀드 신호(BDO1)를 받아, 홀드 신호(BDO1)에 따라 트랙킹 오차 신호(TE)의 홀드 처리를 행한 후, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 출력한다. 구체적으로, 홀드부(109)는 홀드 신호(BDO1)가 "L"(여기서, "L"은 전압의 저위 레벨을 표시한다)일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서, 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력하고, 홀드 신호(BDO1)가 "H"(여기서, "H"는, 전압의 고위 레벨을 표시한다)일 때, 서포트 트레킹 오차 신호(STE)로서, 제로 신호를 출력한다.
제어 처리부(110)는, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 받아, 위상 진행 보상 처리를 행한 후, 트랙킹 구동 신호(TRD)로서 출력한다. 트랙킹 구동부(111)는, 트랙킹 구동 신호(TRD)에 따른 전력을 트랙킹 액츄에이터(112)에 공급하고, 트랙킹 액츄에이터(112) 내의 대물 렌즈를 구동시킴으로써, 트랙킹 제어를 행한다.
즉, 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 홀드부(109), 제어 처리부(110), 트랙킹 구동부(111) 및 트랙킹 액츄에이터(112)로 트랙킹 제어부가 구성되고, 광 디스크(101) 상의 광 빔이 원하는 트랙을 주사하도록 트랙킹 제어가 행해진다.
도 1의 재생 신호 검출부(이하, RF 신호 검출부라고 칭한다)(103)는 광 검출기(102)의 복수개의 광 검출 소자로부터의 검출 신호를 받아, 광 디스크(101)상에 기록된 정보에 대응한 재생 신호(RF)를 출력한다. 파워 조정부(104)는, RF 신호 검출부(103)로부터의 재생 신호(RF)를 받아, 재생 신호(RF)가 최적이 되도록 반도체 레이저 등의 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)을 출력한다. 구체적으로는, 미리 정해진 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)에서 광 디스크(101)에 기록이 행해진 신호를 재생하고, 재생 신호(RF)가 최적이 되는 기록 시의 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)을 구한다(또한, 「최적」 이란 기록 데이터의 재현성인데, 간단히, 여기서는 재생 신호(RF)의 지터가 최소가 되는 것을 최적으로 한다).
도 2에, 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)의 일례를 도시한다. 도 2에서, 가로축은 시간을 나타내고, 도 2의 위쪽에 광 디스크(101) 상의 트랙 중심선(TC)에 따라 형성된 기록 마크의 모양을 나타내고, 도 2의 아래쪽에 기록 마크에 따른 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)의 출력 패턴을 도시한다. 도 2에서, 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)은 P1, P2, P3, P4의 4개의 출사 파워 레벨로 구성되어 있다. 여기서, 출사 파워 레벨 P1은, 레이저 광원의 출사 파워의 최대치이고, 출사 파워 레벨 P2는 마크 소거용의 출사 파워 레벨이다. 또한, 출사 파워 레벨 P3과 P4는, 기록 마크의 형상이 원하는 형상이 되도록 파워 레벨이 결정된다. 일반적으로, 출사 파워 지령(LD)의 값이 최적치에 대해 작은 경우, 광 디스크(101) 상에 마크를 형성할 수 없다는 문제가 있고, 출사 파워 지령(LD)의 값이 최적치에 대해 큰 경우, 인접 트랙의 정보에 악영향을 준다는 문제가 있다. 또한, 이 최적치는 광 디스크(101)의 온도에도 의존하여 변화한다.
도 1의 파워 조정부(104)는, 출사 파워 지령(LD)의 평균치를 4개의 출사 파워의 가중치 가산으로 구하여, 평균 출사 파워(LDP)로서 출력한다. 즉, 평균 출사 파워(LDP)는, LDP= K1 ×P1 + K2 ×P2 + K3 ×P3 + K4 ×P4로서 구해진다. 여기서, 계수 K1, K2, K3, K4는 양의 실수이고, 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4의 출사 시간 비율에 따른 값으로 되어 있다. 또한, 입력 데이터에 임의(random)성이 적은 경우라도, 광 디스크(101)에 기록하는 기록 데이터는 ECC(에러 정정 부호) 처리 등으로 임의에 가까운 상태로 되기 때문에, 적어도 기록 데이터는 임의 신호로 할 수 있어, 평균 출사 파워를 구하는데 타당성이 있다. 또한, 도 1의 레이저 구동부(105)는, 파워 조정부(104)로부터의 출사 파워 지령(LD)의 값에 따라 레이저 광원(100)을 구동한다.
도 1의 AS(전체 가산) 신호 검출부(107)는, 광 검출기(102)로 검출한 복수개의 검출 신호의 합(즉, 전체 반사 신호)를 받아, 광 디스크(101)로부터의 반사광의 크기에 비례한 크기의 AS 신호를 출력한다. BDO(Black Dot) 검출부(108)는, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와, 파워 조정부(104)로부터의 평균 출사 파워(LDP)의 값에 계수(KC1)를 승산하여 얻어지는 비교치(LDC1)를 비교하여, AS 신호가 비교치(LDC1)보다 큰 경우는, 홀드 신호(BDO1)로서 "L"의 신호를 출력하고, AS 신호가 비교치(LDC1)보다 크지 않은 경우는, 홀드 신호(BDO1)로서 "H"의 신호를 출력한다. 여기서, AS 신호와 비교치(LDC1)가 같은 경우는, 홀드 신호(BDO1)는 "L"이나 "H"를 적절히 선택할 수 있는데, 일반적으로는 "H"를 선택한다. 또한, 계수(KC1)는, 광 디스크(101) 상에 결함이 없는 경우에, BDO 검출부(108)로부터의 홀드 신호(BDO1)가, "L"이 되도록 결정한다. 또한, BDO 검출부(108)로부터의 홀드 신호(BDO1)는, 트랙킹 제어부의 홀드부(109)에 입력된다. 또한, BDO 검출부(108)는 결함 검출부를 구성하고, 비교치(LDC1)는 임계치를 표시한다.
이상, 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 홀드부(109), 제어 처리부(110), 트랙킹 구동부(111) 및 트랙킹 액츄에이터(112)로 트랙킹 제어부가 구성되고, 또한, RF 신호 검출부(103), 파워 조정부(104), 레이저 구동부(105), AS 신호 검출부(107) 및 BDO 검출부(108)(결함 검출부)를 포함해 기록 재생 장치가 구성되어 있다.
이와 같이 구성함으로써, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101) 상의 결함의 검출이 가능해진다. 이하, 이에 대해서 자세히 설명한다.
도 3은, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화했을 때의 AS 신호, 비교치 (LDC1) 및 홀드 신호(BDO1)의 파형도이다. 도 3에서, 가로축은 시간을 나타낸다. 도 3에서는, 레이저 파워로서 출사 파워의 평균치에 상당하는 신호를 표시하고, 레이저 파워는 타이밍(T)에서 레벨 A로부터 레벨 B로 변화한다. 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화하면, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호는, 광 디스크(101)로부터의 반사광의 크기에 따라 변화하기 때문에, 레이저 파워의 변화에 따라 AS 신호도 변화한다.
도 3은, 레이저 파워가 낮은 레벨 A에서의 타이밍 T1 및 레이저 파워가 높은 레벨 B에서의 타이밍 T2에서, 광 디스크(101)상에 결함이 존재했을 때의 모양을 도시한다. 우선, 타이밍 T1에서 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하면, 광 디스크(101)로부터의 반사광의 양이 저하하므로, 반사광의 크기에 따라서 변화하는 AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호도 신호치가 저하한다. AS 신호의 값이 BDO 검출부(108)의 비교치(LDC1)보다도 저하하면, 홀드 신호(BDO1)가 출력된다. 여기서, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화하기 전의 광 디스크(101) 상의 결함 검출 정확도에 대해서는 종래와 동일하다.
다음에, 타이밍 T2에서 광 디스크(101) 상에 결함이 존재했을 때의 동작에 대해서 설명한다. 타이밍(T) 이후에서, 레이저 파워는 레벨 A로부터 레벨 B로 변화한다. 이 때문에, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호도 레이저 파워의 변화에 따라 값이 변화한다. 이 때, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하면, 광 디스크(101)로부터의 반사광의 양이 저하하기 때문에, 반사광의 크기에 따라 변화하는 AS 신호 검출부(107)의 AS 신호도 신호치가 저하한다. 그러나, BDO 검출부(108)의 비교치(LDC1)는, 레이저 광원의 출사 파워에 비례한 값으로 설정되어 있으므로, 도 3에 도시하는 바와같이, 타이밍(T)에서 출사 파워에 따라 변화한다. 이에 따라, BDO 검출부(108)에서, AS 신호의 값과 비교치(LDC1)를 비교함으로써, 홀드 신호(BDO1)의 생성이 가능해진다. 가령, BDO 검출부(108)의 비교치(LDC1)를 레이저 광원(100)의 출사 파워의 크기에 따라 변화시키지 않는 (도 3의 비교치(LDC1)의 파선부(E)에 상당) 구성의 경우에는, 광 디스크(101) 상의 결함 검출 정확도는 매우 저하한다.
이상, 본 실시의 형태의 결함 검출 장치는, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화하는 경우라도, 정확도 좋게 광 디스크(101) 상의 결함을 검출할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, BDO 검출부(108)로부터의 홀드 신호(BDO1)에 의해, 트랙킹 제어부의 홀드부(109)에서 서보 트랙킹 신호(STE)를 제로 홀드한다. 이에 따라, 본 실시의 형태의 결함 검출 장치는, 레이저 광원(100)의 출사 파워에 변화가 있어, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하는 경우라도, 안정된 트랙킹 제어를 실현할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, BDO 검출부(108)의 비교치(LDC1)를 평균 출사 파워(LDP)에 계수(KC1)를 승산한 것으로 했는데, 비교치(LDC1)를 평균 출사 파워(LDP)의 값에 따라 테이블치를 참조하여 얻도록 해도 되고, 이들 개량도, 본 발명에 포함된다.
또한, 본 실시의 형태에서는, 파워 조정부(104)의 평균 출사 파워의 산출에서, 계수 K1, K2, K3, K4를 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4의 출사 시간 비율에 따른 값으로 하였는데, 평균 출사 파워에 따른 양을 산출할 수 있는 계수이면, 다른 계수도 되고, 이들 개량도, 본 발명에 포함된다.
(실시의 형태 2)
도 4는 본 발명의 실시의 형태 2에 관한 결함 검출 장치의 일구성예를 도시하는 블록도이다. 도 4에서, 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 제어 처리부(110), 트랙킹 구동부(111), 트랙킹 액츄에이터(112), RF 신호 검출부(103), 레이저 구동부(105) 및 AS 신호 검출부(107)는 각각 실시 형태 1과 동일하여 설명을 생략한다.
도 4에 도시하는 본 실시의 형태의 결함 검출 장치의 홀드부(409)는, 트랙킹 오차 검출부(106)로부터의 트랙킹 오차 신호(TE)와, 후술의 홀드 신호(BDO2)를 받아, 홀드 신호(BDO2)에 따라 트랙킹 오차 신호(TE)의 홀드 처리를 행한 후, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 출력한다. 구체적으로, 홀드부(409)는, 홀드 신호(BDO2)가 "L"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력하고, 홀드 신호(BDO2)가 "H" 일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 제로 신호를 출력한다.
본 실시의 형태의 결함 검출 장치의 파워 조정부(404)는, 실시 형태 1과 마찬가지로, RF 신호 검출부(103)로부터의 재생 신호(RF)를 받아, 재생 신호(RF)가 최적이 되도록 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)을 출력한다.
또한, 도 4의 파워 조정부(404)는, 출사 파워 지령(LD)의 4개의 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4 중, 최대의 파워 레벨인 출사 파워 레벨 P1을 출력한다.
BDO 검출부(408)는, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와, 파워 조정부(404)로부터의 출사 파워 레벨 P1의 값에 계수(KC2)를 승산하여 얻어지는 비교치(LDC2)를 비교하여, AS 신호가 비교치(LDC2)보다도 큰 경우는, 홀드 신호(BDO2)로서 "L"의 신호를 출력하고, AS 신호가 비교치(LDC2)보다도 크지 않은 경우는, 홀드 신호(BDO2)로서 "H"의 신호를 출력한다. 여기서, AS 신호와 비교치(LDC2)가 같은 경우는, 홀드 신호(BDO2)는 "L"이나 "H"를 적절히 선택할 수 있는데, 일반적으로는 "H"를 선택한다. 또한, 계수(KC2)는, 광 디스크(101) 상에 결함 등이 없는 경우에, BDO 검출부(408)로부터의 홀드 신호(BDO2)가 "L"이 되도록 결정한다. 또한, BDO 검출부(408)로부터의 홀드 신호(BDO2)는, 트랙킹 제어부의 홀드부(409)에 입력되어 있다. 여기서, BDO 검출부(408)는, 결함 검출부를 구성하고 있다.
이와 같이 구성함으로써, 본 실시의 형태에서도 실시 형태 1과 마찬가지로, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101) 상의 결함 검출이 가능해진다.
또한, 실시 형태 1과 마찬가지로, 레이저 광원(100)의 출사 파워에 변화가 있어, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하는 경우라도, 안정된 트랙킹 제어를 실현할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, BDO 검출부(408)의 동작에 의해, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와, 파워 조정부(404)로부터의 출사 파워 레벨 P1의 값에 계수(KC2)를 승산하여 얻어지는 비교치(LDC2)를 비교하여, 홀드 신호(BDO2)를 생성한다. 이에 따라, 파워 조정부의 구성이 실시 형태 1의 구성보다도 간단해진다. 즉, 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)은, 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4의 복수개의 출사 파워 레벨로 구성되는데, 그 크기는 출사 파워의 최대치인 출사 파워 레벨 P1에 의해 거의 결정된다. 이에 따라, 실시 형태 1의 구성에 있는 평균 출사 파워(LDP)를 구하는 동작이 불필요해져, 파워 조정부의 간소화가 가능해진다.
(실시의 형태 3)
도 5는 본 발명의 실시의 형태 3에 관한 결함 검출 장치의 일구성예를 도시하는 블록도이다. 도 5에서, 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 제어 처리부(110), 트랙킹 구동부(111), 트랙킹 액츄에이터(112), RF 신호 검출부(103), 레이저 구동부(105) 및 AS 신호 검출부(107)는 실시 형태 1과 동일하여 설명을 생략한다.
본 실시의 형태의 홀드부(509)는, 트랙킹 오차 검출부(106)로부터의 트랙킹 오차 신호(TE)와, 후술의 홀드 신호(BDO3)를 받아, 홀드 신호(BDO3)에 따라 트랙킹 오차 신호(TE)의 홀드 처리를 행한 후, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 출력한다. 구체적으로, 홀드부(509)는, 홀드 신호(BDO3)가 "L"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력하고, 홀드 신호(BDO3)가 "H"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 제로 신호를 출력한다.
본 실시의 형태의 파워 조정부(504)는 실시 형태 1과 마찬가지로, RF 신호 검출부(103)로부터의 재생 신호(RF)를 받아, 재생 신호(RF)가 최적이 되도록 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)을 출력한다.
또한, 도 5의 파워 조정부(504)는, 출사 파워 지령(LD)의 4개의 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4 중, 소거용의 파워 레벨인 출사 파워 레벨 P2을 출력한다.
BDO 검출부(508)는, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와, 파워 조정부(504)로부터의 출사 파워 P2의 값에 계수(KC3)를 승산하여 얻어지는 비교치(LDC3)를 비교하여, AS 신호가 비교치(LDC3)보다도 큰 경우는, 홀드 신호(BDO3)로서 "L"의 신호를 출력하고, AS 신호가 비교치(LDC3)보다도 크지 않은 경우는, 홀드 신호(BDO3)로서 "H"의 신호를 출력한다. 여기서, AS 신호와 비교치(LDC3)가 같은 경우, 홀드 신호(BDO3)는 "L"이나 "H"를 적절하게 선택할 수 있는데, 일반적으로는 "H"를 선택한다. 또한, 계수(KC3)는, 광 디스크(101) 상에 결함 등이 없는 경우에, BDO 검출부(508)의 홀드 신호(BDO3)가, "L"이 되도록 결정한다. 또한, BDO 검출부(508)로부터의 홀드 신호(BDO3)는, 트랙킹 제어부의 홀드부(509)에 입력된다. 여기서, BDO 검출부(508)는 결함 검출부를 구성하고 있다.
이와 같이 구성함으로써, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101) 상의 결함 검출이 가능해지는 것은, 실시 형태 1과 동일하다.
또한, 실시 형태 1과 마찬가지로, 레이저 광원(100)의 출사 파워에 변화가 있어, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하는 경우라도, 안정된 트랙킹 제어를 실현할 수 있다.
또한, 실시의 형태 3에서는, BDO 검출부(508)의 동작에 의해, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와 파워 조정부(504)로부터의 출사 파워 레벨(P2)의 값에 계수(KC3)를 승산하여 얻어지는 비교치(LDC3)를 비교하여, 홀드 신호(BDO3)를 생성한다. 이에 따라, 파워 조정부의 구성의 간소화가 가능해진다.
즉, 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)은, 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4의 복수개의 출사 파워 레벨로 구성되는데, 신호 소거용의 파워 레벨인 출사 파워 레벨 P2는, 다른 파워 레벨에 비교해 비교적 길게 출력되는 파워 레벨이다. 이 때문에, 출사 파워 레벨 P2에 따라 결함을 검출하는 것도 가능해진다. 이와 같이, 출사 파워 레벨 P2을 이용함으로써, 실시 형태 1의 구성에 있는 평균 출사 파워(LDP)를 구하는 동작이 불필요해져, 시스템의 간소화를 도모할 수 있다.
(실시의 형태 4)
도 6은 본 발명의 실시의 형태 4에 관한 결함 검출 장치의 중요부 구성을 도시하는 블록도로, 도 6에 도시하지 않은 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 제어 처리부(110), 트랙킹 구동부(111), 트랙킹 액츄에이터(112), RF 신호 검출부(103), 레이저 구동부(105) 및 AS 신호 검출부(107)는 실시 형태 1과 동일하여 설명을 생략한다. 도 6에서 다른 점은, 홀드부(609), 파워조정부(604) 및 BDO 검출부(608)이다.
본 실시의 형태의 홀드부(609)는, 트랙킹 오차 검출부(106)로부터의 트랙킹 오차 신호(TE)와 후술의 홀드 신호(BDO4)를 받아, 홀드 신호(BDO4)에 따라 트랙킹 오차 신호(TE)의 홀드 처리를 행한 후, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 출력한다. 구체적으로, 홀드부(609)는, 홀드 신호(BDO4)가 "L"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력하고, 홀드 신호(BDO4)가 "H"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 제로 신호를 출력한다.
또한, 본 실시 형태의 파워 조정부(604)는, 실시 형태 1의 파워 조정부(104)와 동일한 구성이다. 즉, 파워 조정부(604)는, 실시 형태 1과 마찬가지로, RF 신호 검출부(103)로부터의 재생 신호(RF)를 받아, 재생 신호(RF)가 최적이 되도록 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)을 출력하고, 출사 파워 지령(LD)의 평균치를 4개의 출사 파워의 가중치 가산으로 구하여, 평균 출사 파워(LDP)로서 출력한다. 평균 출사 파워(LDP)는, LDP=K1 ×P1 + K2 ×P2 + K3 ×P3 + K4 ×P4로서 구해지고, Kl, K2, K3, K4는 양의 실수이고, 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4의 출사 시간 비율에 따른 값으로 되어 있다.
도 6의 BDO 검출부(608)는, 증폭기(608a)와 비교기(608b)로 구성되어 있다. 증폭기(608a)에는, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와, 파워 조정부(604)로부터의 평균 출사 파워(LDP)가 입력되고, AS 신호는, 평균 출사 파워(LDP)에 의해 제어되는 증폭율(본 실시의 형태에서는, 평균 출사 파워(LDP)가 커지면, 증폭율이 작아지도록 제어된다)로 증폭되어, ASM 신호(ASM4)로서 출력된다. 즉, ASM4는 증폭 반사광량 신호에 대응한다.
BDO 검출부(608)의 비교기(608b)에는, ASM4이 입력되고, ASM4는 소정의 임계치(R)와 비교되고, 비교기(608b)는, ASM4이 소정의 임계치(R)보다도 큰 경우는, 홀드 신호(BDO4)로서 "L"의 신호를 출력하고, ASM4가 소정의 임계치(R)보다도 크지 않은 경우는, 홀드 신호(BDO4)로서 "H"의 신호를 출력한다. 여기서 ASM 신호와 소정의 임계치(R)가 같은 경우, 홀드 신호(BDO4)는 "L"이나 "H"를 적절히 선택할 수 있는데, 일반적으로는 "H"를 선택한다. 또한, 소정의 임계치(R)는, 광 디스크(101) 상에 결함 등이 없는 경우에, BDO 검출부(608)로부터의 홀드 신호(BDO4)가 "L"이 되도록 결정한다. 또한, BDO 검출부(608)로부터의 홀드 신호(BDO4)는, 트랙킹 제어부의 홀드부(609)에 입력되어 있다. 여기서, BDO 검출부(608)는, 결함 검출부를 구성하고 있다.
이와 같이 구성함으로써, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101)상의 결함 검출이 가능해진다. 이하 이에 대해서, 도 7을 참조하여 자세히 설명한다.
도 7은, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화하였을 때의 AS 신호와 ASM 신호와 소정의 임계치(R)와 홀드 신호(BDO4)의 파형도이다. 도 7에서, 가로축은 시간을 나타낸다. 도 7에서는, 레이저 파워로서 출사 파워의 평균치에 상당하는 신호를 표시하고, 레이저 파워는 타이밍(T)에서 레벨 A로부터 레벨 B로 변화한다. 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화하면, AS 신호 검출부(B107)로부터의 AS 신호는 광 디스크(101)로부터의 반사광의 크기에 따라 변화하기 때문에, 레이저 파워의 변화에 따라 AS 신호도 변화한다.
그러나, BDO 검출부(608)의 증폭기(608a)로부터의 ASM 신호(ASM4)는, 파워 조정부(604)로부터의 평균 출사 파워(LDP)에 따른 증폭율로 AS 신호를 증폭시킨 신호이므로, 타이밍(T)에서의 레벨의 변화는 거의 발생하지 않는다. 즉, 타이밍(T)에서의 레이저 파워의 변화는, 평균 출사 파워(LDP)의 변화와 거의 등가이다. 또한, BDO 검출부(608)의 증폭기(608a)는, 평균 출사 파워(LDP)가 커지면 증폭율이 작아지도록 구성되어 있으므로, 레이저 파워의 증가에 의해 증가한 AS 신호 레벨은 감소하고, 증폭기(608a)의 출력 신호인 ASM 신호는, 레이저 파워의 증가의 영향을 거의 받지 않는다. 이에 따라, 타이밍(T)에서의 ASM 신호의 레벨의 변화는 거의 없어진다.
도 7에서, 타이밍 T2에서, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하였을 때의 동작에 대해서 설명한다. 타이밍(T) 이후에서, 레이저 파워는 레벨 A로부터 레벨 B로 변화한다. 이 때문에, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호도 레이저 파워의 변화에 따라 값이 변화한다. 그러나, 증폭기(608a)의 동작에 의해 ASM 신호는 거의 변화하지 않는다. 이 때문에, BDO 검출부(608)의 비교기(608b)에 의해, ASM 신호를 소정의 임계치(R)와 비교하는 것만으로, 정확도 좋게 광 디스크(101) 상의 결함을 검출할 수 있다.
이와 같이 구성함으로써, 본 실시의 형태에 있어서의 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101) 상의 결함 검출이 가능해지는 것은, 실시 형태 1과 동일하다. 또한, 실시 형태 1과 마찬가지로 레이저 광원(100)의 출사 파워에 변화가 있어, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하는 경우라도, 안정된 트랙킹 제어를 실현할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, BDO 검출부(608)의 증폭기(608a)의 동작에 의해, AS 신호로부터 레이저 파워 변화에 의한 레벨 변동을 제거한 ASM 신호를 작성하고, 비교기(608b)에 의해 ASM 신호와 소정의 임계치(R)와 비교함으로써, 홀드 신호(BDO4)를 검출한다. 이와 같이 구성함으로써, 레이저 파워가 클 때의 비교기(608b)의 입력 신호의 포화나, 레이저 파워가 작을 때의 비교기(608b)의 입력 신호의 잡음 여유도의 저하를 방지할 수 있고, 신뢰성이 높은 홀드 신호(BDO4)를 검출할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, 평균 출사 파워(LDP)가 커지면, BDO 검출부(608)의 증폭기(608a)의 증폭율을 작아지도록 구성했는데, 증폭율은 이 동작에 한정되지 않고, 평균 출사 파워(LDP)에 따라 증폭율이 이산적으로 변화해도 되고, 이들 개량도, 본 발명에 포함된다.
(실시의 형태 5)
도 8은 본 발명의 실시의 형태 5에 관한 결함 검출 장치의 중요부 구성을 도시하는 블록도로, 도 8에 도시하지 않은 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 제어 처리부(110), 트랙킹 구동부(111), 트랙킹 액츄에이터(112), RF 신호 검출부(103), 레이저 구동부(105) 및 AS 신호 검출부(107)는 실시 형태 1과 동일하여 설명을 생략한다. 도 8에서 다른 점은, 홀드부(809), 파워 조정부(804), 및 BDO 검출부(808)로, 이하에 설명한다.
본 실시의 형태의 홀드부(809)는, 트랙킹 오차 검출부(106)로부터의 트랙킹 오차 신호(TE)와, 후술의 홀드 신호(BDO5)를 받아, 홀드 신호(BDO5)에 따라 트랙킹 오차 신호(TE)의 홀드 처리를 행한 후, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 출력한다. 구체적으로, 홀드부(809)는 홀드 신호(BDO5)가 "L"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력하고, 홀드 신호(BDO5)가 "H"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 제로 신호를 출력한다.
또한, 본 실시의 형태의 파워 조정부(804)는, 실시의 형태 2와 마찬가지로, RF 신호 검출부(103)로부터의 재생 신호(RF)를 받아, 재생 신호(RF)가 최적이 되도록 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)를 출력한다. 또한, 파워 조정부(804)는 출사 파워 지령(LD)의 4개의 출사 파워 레벨 Pl, P2, P3, P4중, 최대의 파워 레벨인 출사 파워 레벨 P1을 출력한다.
본 실시의 형태의 BDO 검출부(808)는, 증폭기(808a)와 비교기(808b)로 구성되어 있다. 증폭기(808a)에는, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와, 파워 조정부(804)로부터의 출사 파워 레벨 P1이 입력되고, AS 신호는, 출사 파워 레벨 P1에 의해 제어되는 증폭율(본 실시의 형태에서는, 출사 파워 레벨 P1이 커지면, 증폭율이 작아지도록 제어된다)로 증폭되고, ASM 신호(ASM5)로서 출력된다. 즉, ASM5는 증폭 반사광량 신호에 대응한다.
BDO 검출부(808)의 비교기(808b)에는, ASM5가 입력되고, 비교기(808b)에서 ASM5는 소정의 임계치(R)와 비교되고, 비교기(808b)는, ASM5이 소정의 임계치(R)보다도 큰 경우는, 홀드 신호(BDO5)로서 "L"의 신호를 출력하고, ASM5가 소정의 임계치(R)보다 크지 않은 경우는, 홀드 신호(BDO5)로서 "H"의 신호를 출력한다. 여기서, ASM 신호와 소정의 임계치(R)가 같은 경우는, 홀드 신호(BDO5)는 "L"이나 "H"를 적절히 선택할 수 있는데, 일반적으로는 "H"를 선택한다. 또한, 소정의 임계치(R)는, 광 디스크(101) 상에 결함 등이 없는 경우에, BDO 검출부(808)로부터의 홀드 신호(BDO5)가 "L"이 되도록 결정한다. 또한, BDO 검출부(808)로부터의 홀드 신호(BDO5)는, 트랙킹 제어부의 홀드부(809)에 입력되어 있다. 여기서, BDO 검출부(808)는, 결함 검출부를 구성하고 있다.
이와 같이 구성함으로써, 본 실시의 형태에 있어서도, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101) 상의 결함 검출이 가능해지는 것은, 실시 형태 1과 동일하다. 또한, 실시 형태 1과 마찬가지로, 레이저 광원(100)의 출사 파워에 변화가 있어, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하는 경우라도, 안정된 트랙킹 제어를 실현할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, BDO 검출부(408)의 동작에 의해, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와 파워 조정부(404)로부터의 출사 파워 레벨 P1을 이용하여, BDO 검출부(608)의 증폭기(608a)의 동작에 의해, AS 신호로부터 레이저 파워 변화에 의한 레벨 변동을 제거한 ASM5를 작성하고, 비교기(608b)에 의해 ASM5와 소정의 임계치(R)를 비교함으로써, 홀드 신호(BDO4)를 검출한다. 이와 같이 구성함으로써, 레이저 파워가 클 때의 비교기(608b)의 입력 신호의 포화나, 레이저 파워가 작을 때의 비교기(608b)의 입력 신호의 잡음 여유도의 저하를 방지할 수 있어, 신뢰성이 높은 홀드 신호(BDO4)를 검출할 수 있고, 파워 조정부의 구성이 실시 형태 1의 구성보다도 간단하게 되는 동시에, 파워 조정부의 간소화와 BDO 검출부의 고 정확도화를 전부 만족시키는 구성이 된다.
(실시의 형태 6)
도 9는 본 발명의 실시의 형태 6에 관한 결함 검출 장치의 중요부 구성을 도시하는 블록도로, 도 9에 도시하지 않은 광 검출기(102), 트랙킹 오차 검출부(106), 제어 처리부(l10), 트랙킹 구동부(111), 트랙킹 액츄에이터(112), RF 신호 검출부(103), 레이저 구동부(105) 및 AS 신호 검출부(107)는 실시 형태 1과 동일하여 설명을 생략한다. 본 실시의 형태에서 다른 점은, 홀드부(909), 파워 조정부(904) 및 BDO 검출부(908)로, 이하에 설명한다.
본 실시의 형태의 홀드부(909)는, 트랙킹 오차 검출부(106)로부터의 트랙킹 오차 신호(TE)와, 후술의 홀드 신호(BDO6)를 받아, 홀드 신호(BDO6)에 따라 트랙킹 오차 신호(TE)의 홀드 처리를 행한 후, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)를 출력한다. 구체적으로, 홀드부(909)는, 홀드 신호(BDO6)가 “L"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 트랙킹 오차 신호(TE)를 출력하고, 홀드 신호(BDO6)가 “H"일 때, 서보 트랙킹 오차 신호(STE)로서 제로 신호를 출력한다.
또한, 본 실시의 형태의 파워 조정부(904)는, 실시의 형태 3과 마찬가지로, RF 신호 검출부(103)로부터의 재생 신호(RF)를 받아, 재생 신호(RF)가 최적이 되도록 레이저 광원(100)의 출사 파워 지령(LD)을 출력한다.
또한, 파워 조정부(904)는, 출사 파워 지령(LD)의 4개의 출사 파워 레벨 P1, P2, P3, P4 중, 소거용의 파워 레벨인 출사 파워 레벨 P2을 출력한다.
본 실시의 형태의 BDO 검출부(908)는, 증폭기(908a)와 비교기(908b)로 구성되어 있다. 증폭기(908a)에는, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와 파워 조정부(904)로부터의 출사 파워 레벨 P2가 입력되고, AS 신호는, 출사 파워 레벨 P2에 의해 제어되는 증폭율(본 실시의 형태에서는, 출사 파워 레벨 P2이 커지면, 증폭율이 작아지도록 제어된다)로 증폭되고, ASM 신호(ASM6)로서 출력된다. 즉, ASM6은 증폭 반사광량 신호에 대응한다.
BDO 검출부(908)의 비교기(908b)에는, ASM6이 입력되고, 비교기(908b)에서 ASM6는 소정의 임계치(R)와 비교되고, 비교기(908b)는, ASM6이 소정의 임계치(R)보다도 큰 경우는, 홀드 신호(BDO6)로서 "L"의 신호를 출력하고, ASM6가 소정의 임계치(R)보다도 크지 않은 경우는, 홀드 신호(BDO6)로서 "H"의 신호를 출력한다. 여기서, ASM 신호와 소정의 임계치(R)가 같은 경우는, 홀드 신호(BDO6)는 "L"이나 "H"를 적절히 선택할 수 있는데, 일반적으로는 "H"를 선택한다. 또한, 소정의 임계치(R)는, 광 디스크(101) 상에 결함 등이 없는 경우에, BDO 검출부(908)로부터의 홀드 신호(BDO6)가 "L"이 되도록 결정한다. 또한, BDO 검출부(908)로부터의 홀드신호(BDO6)는, 트랙킹 제어부의 홀드부(909)에 입력되어 있다. 여기서, BDO 검출부(908)는 결함 검출부를 구성하고 있다.
이와 같이 구성함으로써, 본 실시의 형태에서도, 레이저 광원(100)의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크(101) 상의 결함 검출이 가능해지는 것은, 실시 형태 1과 동일하다. 또한, 실시 형태 1과 마찬가지로, 레이저 광원(100)의 출사 파워에 변화가 있어, 광 디스크(101) 상에 결함이 존재하는 경우라도, 안정된 트랙킹 제어를 실현할 수 있다.
또한, 본 실시의 형태에서는, BDO 검출부(408)의 동작에 의해, AS 신호 검출부(107)로부터의 AS 신호와 파워 조정부(904)로부터의 출사 파워 레벨 P2을 이용하여, BDO 검출부(908)의 증폭기(908a)의 동작에 의해, AS 신호로부터 레이저 파워 변화에 의한 레벨 변동을 제거한 ASM 신호를 작성하고, 비교기(908b)에 의해 ASM 신호와 소정의 임계치(R)를 비교함으로써, 홀드 신호(BDO6)를 검출한다. 이와 같이 구성함으로써, 레이저 파워가 클 때의 비교기(908b)의 입력 신호의 포화나, 레이저 파워가 작을 때의 비교기(908b)의 입력 신호의 잡음 여유도의 저하를 방지할 수 있고, 신뢰성이 높은 홀드 신호(BDO6)를 검출할 수 있어, 파워 조정부의 구성이 실시 형태 1의 구성보다도 간단해지는 동시에, 파워 조정부의 간소화와 BDO 검출부의 고정확도화를 전부 만족하는 구성이 된다.
또한, 실시 형태 1부터 실시의 형태 6에서는, BDO 검출부와 파워 조정부를 개별의 기능부로 하였는데, 광 검출기의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하고, BDO 검출부와 파워 조정부의 등가의 처리를 마이크로 프로세서 등의 연산기로 행하게 하는 것도 가능하고, 이들 개량도, 본 발명에 포함된다.
또한, 실시 형태 1부터 실시의 형태 6에서, 파워 조정부로부터의 레이저 광원의 출사 파워 지령의 출력 파워는, 도 2에 도시한 패턴에 한정되지 않고, 보다 많은 레벨을 가지는 패턴이나 보다 적은 레벨을 가지는 패턴, 또한, 연속적으로 변화하는 패턴으로의 개량도 용이하고, 이들 개량도, 본 발명에 포함된다.
또한, 실시 형태 1부터 실시의 형태 6에서는, BDO 검출부에 의해 광 디스크 상의 결함을 검출하도록 했는데, BDO 검출부의 검출 대상은 이에 한정되지 않는다. 실시 형태 1부터 실시의 형태 6의 광 디스크 장치를 이용하면, 광 디스크의 반사면을 가공함으로써 반사율을 변경하여 정보를 기록한 광 디스크로부터 정보를 재생하는 것도 가능하고, 이러한 응용을 행해도, 본 발명에 포함되는 것은 말할 것도 없다.
또한, 실시 형태 1부터 실시의 형태 6을 이용해, 광 디스크의 반사면을 가공함으로써 반사율을 변경하여 정보를 기록한 광 디스크로부터 정보를 재생하는 동작을 행하면, 결함 검출의 사전 동작 확인이 가능해지고, 이 사전 동작 확인의 결과에 따라, 파워 조정부나 BDO 검출부의 모든 계수·모든 정수를 결정하면, 광 디스크 상의 결함 검출의 신뢰성이 비약적으로 향상된다. 이러한 개량을 행해도, 본 발명에 포함되는 것은 말할 것도 없다.
또한, 실시 형태 1부터 실시의 형태 6에서는, 트랙킹 오차 검출부와 홀드부와 제어 처리부와 RF 신호 검출부와 파워 조정부와 AS 신호 검출부와 BDO 검출부를 개별의 구성으로 했는데, 이들과 동등한 기능을 마이크로 프로세서나 시퀀서 등으로 실현하고, 적어도 2개 이상의 블록을 1개의 반도체 회로에 집적하는 것도 가능하고, 이러한 변경을 행해도, 본 발명에 포함되는 것은 말할 것도 없다.
이상 설명한 바와같이, 본 발명의 결함 검출 장치는, 파워 조정부와 BDO 검출부의 동작에 의해, 레이저 광원의 출사 파워가 변화해도, 정확하게 광 디스크 상의 결함을 검출하는 것이 가능해진다. 특히, 본 발명의 구성에서는, 레이저의 파워 지령에 따라 결함 검출 동작을 변경하고 있으므로, 레이저 파워의 급격한 변화에 대해서도 정확도 좋게 결함 등을 검출할 수 있다. 광 디스크 상의 결함 검출 결과를 이용하면, 포커스 또는 트랙킹 제어의 제어 동작을 정지하는 등의 동작이 가능해져, 광 디스크 장치의 동작 안정성이 비약적으로 향상된다.

Claims (12)

  1. 레이저 광원에서 발생한 광 빔에 의해서 정보 신호를 정보 매체에 대해 기록재생할 때에, 상기 정보 매체에 기록 또는 재생 불가능한 결함을 검출하는 장치에 있어서,
    상기 레이저 광원의 출사 파워를 최적의 값으로 조정하는 파워 조정부와,
    상기 파워 조정부로 조정한 레이저 광원의 출사 파워에 따라서 결정되는 임계치와, 상기 광 빔이 상기 정보 매체의 정보층에서 반사한 반사광에 따른 값을 비교하여, 비교 결과에 따라 정보층 상에 존재하는 결함을 검출하는 결함 검출부를 구비한 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 결함 검출부는 소정의 레이저 파워의 범위에서 선택한 출사 파워에 따라 상기 임계치를 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 결함 검출부는 상기 파워 조정부로 조정한 출사 파워의 평균치에 따라 상기 임계치를 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  4. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 파워 조정부로 조정하는 출사 파워는 복수의 파워 레벨로 구성되고, 상기 결함 검출부는 상기 복수의 파워 레벨을 소정 비율로 가산한 값에 따라 상기 임계치를 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  5. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 파워 조정부로 조정하는 출사 파워는 복수의 파워 레벨로 구성되고, 상기 결함 검출부는 상기 복수의 파워 레벨 중 최대의 파워 레벨에 따라 상기 임계치를 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  6. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 파워 조정부로 조정하는 출사 파워는 복수의 파워 레벨로 구성되고, 상기 결함 검출부는 상기 복수의 파워 레벨 중 소거용에 이용되는 소거 파워 레벨에 따라 상기 임계치를 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  7. 레이저 광원에서 발생한 광 빔에 의해서 정보 신호를 정보 매체에 대해 기록 재생할 때에, 상기 정보 매체에 기록 또는 재생 불가능한 결함을 검출하는 장치에 있어서,
    상기 레이저 광원의 출사 파워를 최적의 값으로 조정하는 파워 조정부와,
    상기 파워 조정부로 조정한 레이저 광원의 출사 파워에 따라서 결정되는 증폭율에 의해, 상기 광 빔이 상기 정보 매체의 정보층에서 반사한 반사광에 따른 신호를 증폭시켜 증폭 반사광량 신호를 생성하고, 증폭 반사광량 신호에 따른 값과 소정의 임계치를 비교하여, 비교 결과에 따라 정보층 상에 존재하는 결함을 검출하는 결함 검출부를 구비한 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 결함 검출부는, 소정의 레이저 파워 범위에서 선택한 출사 파워에 따라 상기 증폭율을 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  9. 제 7항 또는 제 8항에 있어서,
    상기 결함 검출부는 상기 파워 조정부로 조정한 출사 파워의 평균치에 따라 상기 증폭율을 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  10. 제 7항 또는 제 8항에 있어서,
    상기 파워 조정부로 조정하는 출사 파워는 복수의 파워 레벨로 구성되고, 상기 결함 검출부는 상기 복수의 파워 레벨을 소정 비율로 가산한 값에 따라 상기 증폭율을 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  11. 제 7항 또는 제 8항에 있어서,
    상기 파워 조정부로 조정하는 출사 파워는 복수의 파워 레벨로 구성되고, 상기 결함 검출부는 상기 복수의 파워 레벨 중 최대의 파워 레벨에 따라 상기 증폭율을 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  12. 제 7항 또는 제 8항에 있어서,
    상기 파워 조정부로 조정하는 출사 파워는 복수의 파워 레벨로 구성되고, 상기 결함 검출부는 상기 복수의 파워 레벨 중 소거용에 이용되는 소거 파워 레벨에 따라 상기 증폭율을 결정하는 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
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