JPH09147359A - 光ディスクドライブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスク上の欠陥部分の正確な検出を可能
にして、トラックサーボ外れやフォーカスサーボ外れを
防止する。 【解決手段】 少なくとも２種類以上のスピードで再生
する機能を有し、再生したＲＦ信号をデジタル２値に変
換する２値化回路と、２値化回路のデジタル２値出力か
ら直流成分を取り出す低域通過フィルタと、低域通過フ
ィルタの出力から直流成分を取り出すコンパレータと、
コンパレータの出力によって起動され一定時間幅のパル
スを出力するタイマ回路とからなる欠陥検出回路を備え
た光ディスクドライブにおいて、ロードされたディスク
の再生スピードを判断する手段と、低域通過フィルタの
周波数特性を変更する手段を設け、光ディスクドライブ
の再生スピードに応じて低域通過フィルタの周波数特性
を変更する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスクドラ
イブにおける欠陥検出回路に係り、特に、ＣＤとＣＤ−
ＲＯＭメディアのように再生スピードが異なる光ディス
クについても、欠陥部分の正確な検出を可能にして、ト
ラックサーボ外れやフォーカスサーボ外れが生じないよ
うにした光ディスクドライブに関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤやＣＤ−ＲＯＭメディア（光ディス
ク）は、大容量の情報の記憶が可能であり、また、その
取り扱いも容易である等の利点を有しており、各種のシ
ステムの外部記憶手段として広く使用される傾向にあ
る。しかし、その反面で、情報記録面にゴミが付着した
り、あるいは引っかきキズ等が付き易い、という問題が
あり、ＣＤやＣＤ−ＲＯＭメディアの情報記録面上に、
このようなゴミやキズが存在しているとサーボ信号の乱
れの一因となり、最悪の場合には、トラックサーボ外れ
やフォーカスサーボ外れを引き起こしてしまう、という
不都合がある。

【０００３】そこで、従来から種々の欠陥検出方法や対
応策が知られている。一般的な方法としては、情報記録
面上にキズ等の欠陥が存在していると、再生信号（ＲＦ
信号）のエンベロープに変化が生じるので、エンベロー
プの変化を検知することによりキズ等の欠陥を検出し
て、必要な対応を行っている。また、欠陥の程度が小さ
くて、ＲＦ信号のエンベロープに大きな変化をもたらさ
ないような欠陥、いわゆる「引っかきキズ」等に起因す
る欠陥が存在している場合でも、欠陥の存在が確実に検
出できるキズ検出回路も提案されている（例えば、特開
平６−１５０３１８号公報）。したがって、ＣＤ（コン
パクトディスク）の再生に使用されるＣＤ−ＲＯＭプレ
ーヤに関しては、小さな欠陥の存在についても、対応が
可能である。ここで、従来の欠陥検出回路を備えた光デ
ィスクドライブについて、全体構成を説明する。

【０００４】図１９は、従来の欠陥検出回路を備えた光
ディスクドライブについて、その全体構成の一例を示す
機能ブロック図である。図において、１は光ディスク、
２はピックアップで、２ａは対物レンズ、２ｂはビーム
スプリッタ、２ｃは半導体レーザ（ＬＤ）、２ｄは信号
検出用受光素子（ＰＤ）、２ｅはトラッキング用アクチ
ュエータ、２ｆはフォーカス用アクチュエータ、３はス
ピンドルモータ、４はＲＦブロックで、４ａはＡＰＣ
（オートパワー制御回路）、４ｂはＲＦアンプ、５はサ
ーボブロックで、５ａはトラッキングサーボ回路、５ｂ
はフォーカスサーボ回路、６は欠陥検出回路、７はＣＰ
Ｕを示し、ＲＦ信号は再生信号を示す。

【０００５】ピックアップ２の半導体レーザ２ｃから出
射したレーザ光は、ビームスプリッタ２ｂを通って対物
レンズ２ａへ入射される。この対物レンズ２ａによって
集束され、光ディスク１上に集光される。また、光ディ
スク１からの反射光は、逆に、対物レンズ２ａを通って
ビームスプリッタ２ｂにより、信号検出用受光素子２ｄ
に入射される。

【０００６】信号検出用受光素子２ｄは、検出光量に応
じた電流出力を、ＲＦブロック４のＲＦアンプ４ｂへ送
出する。ＲＦアンプ４ｂでは、送出された信号を電流／
電圧変換して、サーボ信号とＲＦ信号を生成する。この
ようにして、ＲＦブロック４で、サーボ信号とＲＦ信号
とが生成され、一方のサーボ信号はサーボブロック５
へ、他方のＲＦ信号は欠陥検出回路６へ、それぞれ出力
される。そして、サーボ信号が入力されたサーボブロッ
ク５では、ＣＰＵ７の制御コマンドによって、トラッキ
ングサーボ回路５ａ（トラックサーボ系）と、フォーカ
スサーボ回路５ｂ（フォーカスサーボ系）とを制御す
る。

【０００７】このようなサーボ制御によって、ピックア
ップ２の対物レンズ２ａによって集光したレーザ光は、
光ディスク１上の照射位置が制御され、トラック上の所
望位置に照射されるように位置決めされる。また、ＲＦ
信号が入力された欠陥検出回路６では、光ディスク１上
に欠陥が存在していることを検出したときは、欠陥の存
在を示す信号（欠陥検出信号）を発生し、この欠陥検出
信号をＣＰＵ７へ出力する。したがって、ＣＰＵ７は、
光ディスク１上に欠陥が存在しているか否かについて、
正確に把握することができる。

【０００８】図２０は、図１９に示した欠陥検出回路６
について、その構成例を示す機能ブロック図である。図
において、６ａは第１のコンパレータ、６ｂはインバー
タ、６ｃはアンプ、６ｄは低域通過フィルタ、６ｅは基
準電圧発生器、６ｆは第２のコンパレータ、６ｇは第３
のコンパレータ、６ｈと６ｉは分割抵抗器、６ｊはオア
ゲート回路、６ｋは１ショットタイマ、Ｔ６は２値信号
の出力端子を示す。

【０００９】すでに述べたように、この図２０に示す欠
陥検出回路６には、図１９のＲＦブロック４で生成され
たＲＦ信号が与えられる。そして、この欠陥検出回路６
によって、一方では、ＲＦ信号から２値信号が生成され
て出力端子Ｔ６から出力され、他方では、光ディスク１
上の欠陥に起因する直流成分変動が、低域通過フィルタ
６ｄ、アンプ６ｃ、第２のコンパレータ６ｆ、第３のコ
ンパレータ６ｇ、オアゲート回路６ｊ、および基準電圧
発生器６ｅと、分割抵抗器６ｈ，６ｉによって検出さ
れ、１ショットタイマ６ｋから欠陥検出信号（キズ検出
出力）として出力される。

【００１０】まず、ＲＦ信号は、第１のコンパレータ６
ａの＋入力へ与えられてデジタルの２値信号に変換さ
れ、インバータ６ｂを通して反転および整形された後、
２値信号として出力端子Ｔ６へ出力される。同時に、こ
の２値信号は、低域通過フィルタ６ｄにも入力されて、
その直流成分が検出される。検出された直流成分は、ア
ンプ６ｃにおいて、基準電圧発生器６ｅから出力される
電圧を基準として反転増幅され、さらに、ＲＦ信号の２
値化のための比較基準電圧として、再び第１のコンパレ
ータ６ａの−入力へ戻される。

【００１１】この場合に、基準電圧発生器６ｅから出力
される電圧値は、ＲＦ信号の２値化変換後にデジタル信
号が直流成分をもたないように変調されているので、２
値化信号振幅の１／２電圧である。したがって、出力端
子Ｔ６からＲＦ信号の正確な２値信号が得られる。ま
た、出力端子Ｔ６から出力されるデジタル２値信号につ
いて、その直流成分の変動を検出するために、この低域
通過フィルタ６ｄを通過してアンプ６ｃから出力された
信号は、第２のコンパレータ６ｆと第３のコンパレータ
６ｇへ与えられる。

【００１２】この第２のコンパレータ６ｆと第３のコン
パレータ６ｇでも、先の基準電圧発生器６ｅから出力さ
れる基準電圧、すなわち、ＲＦ信号の２値化のための比
較基準電圧を使用するが、比較基準電圧のレベルを小さ
くするために、分割抵抗器６ｈ，６ｉが設けられてい
る。その結果、第２のコンパレータ６ｆと第３のコンパ
レータ６ｇにおいては、基準電圧発生器６ｅから出力さ
れる基準電圧に基いて抵抗分割により生成された上側お
よび下側の２つの基準電圧とそれぞれ比較される。これ
ら２つの比較結果である比較出力が、オアゲート回路６
ｊへ入力されて論理和処理されることによって、上側お
よび下側のいずれか一方が基準電圧を超えた場合には、
オアゲート回路６ｊから欠陥の存在を示す出力が発生さ
れる。

【００１３】このオアゲート回路６ｊの出力は、１ショ
ットタイマ６ｋに対する起動信号として入力され、一定
のパルス幅に変換された後、最終的な欠陥検出信号とし
て図１９のＣＰＵ７へ出力される。したがって、引っか
きキズのような小さな欠陥部分でも確実に検出され、ト
ラックサーボ外れやフォーカスサーボ外れが生じないよ
うな制御が可能になる。以上が図２０に示した従来の欠
陥検出回路の構成と動作であり、ＲＦ信号のエンベロー
プに大きな変化をもたらさない、いわゆる「引っかきキ
ズ」等に起因する欠陥が存在する場合でも、確実に検出
することができる。

【００１４】さらに、別の対応策としては、従来のＣＤ
用ＲＦ信号処理サーボアンプについて、メディア上の欠
陥を検出する欠陥検出回路と、欠陥検出回路の出力によ
ってフォーカス系およびトラック系のサーボ帯域（低域
通過フィルタの帯域）を変更する制御手段を設け、欠陥
部分においてはサーボ帯域を落として、フォーカス系や
トラック系を制御するＩＣも市販されている（例えばソ
ニー社のＣＸＡ１３７２ＡＱ／ＡＳ）。このようなＩＣ
を採用すれば、同様に、ＣＤ用ＲＦ信号処理サーボアン
プについて、トラックサーボ外れやフォーカスサーボ外
れのない制御が可能になる。

【００１５】次に、欠陥検出回路の出力によってフォー
カス系およびトラック系のサーボ帯域（低域通過フィル
タの帯域）を変更する制御動作について、先の図１９に
示した欠陥検出回路を備えた光ディスクドライブを参照
して説明する。ＣＰＵ７は、欠陥検出回路６の出力によ
って光ディスク１上に欠陥が存在することを検出する
と、サーボブロック５に対して、その制御帯域を下げる
ように指示するコマンドを発行する。

【００１６】このコマンドを受けたサーボブロック５
は、現状よりも制御帯域を落としてトラッキング用アク
チュエータ２ｅと、フォーカス用アクチュエータ２ｆを
制御する。その後、光ディスク１上の欠陥部分を通過す
ると、ＣＰＵ７は、サーボブロック５に対して、制御帯
域を所定の値に戻すようにコマンドを発行する。以上の
ように、ＣＰＵ７のコマンド発行によって、サーボブロ
ック５は、所望の制御帯域を設定し、アクチュエータ２
ｅ，２ｆの制御を行う。

【００１７】したがって、光ディスク１上に欠陥部分が
存在していても、サーボ信号に乱れが生じることがなく
なり、トラック外れ等の不都合が生じない。さらに、ト
ラック外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、デ
ータ転送速度が低下することも回避される。ここで、サ
ーボ系の制御帯域の変更動作を詳しく述べる。

【００１８】図２１は、トラック上の欠陥部と欠陥検出
信号とサーボ系の制御帯域との関係を説明する図であ
る。図において、ａとｂはサーボ系の制御帯域を示す。

【００１９】この図２１に示すように、トラック上に欠
陥がない状態では、欠陥検出信号は「０」（ディスエー
ブルのとき）であり、サーボ系の制御帯域（以下、制御
帯域という）はａである。これに対して、トラック上に
欠陥が存在しており、欠陥検出信号がアクティブの状態
（光ディスク１上の欠陥部分を通過しているとき）で
は、制御帯域をｂに変更する。

【００２０】この場合に、欠陥がない状態での制御帯域
ａと、欠陥が存在している状態での制御帯域ｂの間に、
ａ＞ｂの関係が成立するようにしている。すなわち、欠
陥部分を通過しているときは、欠陥がない状態の場合に
比べて、その制御帯域を落す（狭く）している。図１９
に示した光ディスクドライブでは、ＣＰＵ７が、欠陥検
出回路６の出力によって、欠陥部がないときは（欠陥検
出信号が「０」のディスエーブルのときには）、サーボ
帯域をａに設定し、欠陥が存在しているときには（欠陥
検出信号が「１」のアクティブのときは）、サーボ帯域
をｂに変更する。以上の動作フローを、次の図２２に示
す。

【００２１】図２２は、従来の光ディスクドライブにお
いて、サーボ帯域の変更時における主要な処理の流れを
示すフローチャートである。図において、＃１〜＃３は
ステップを示す。

【００２２】ステップ＃１で、欠陥検出信号が「１」で
あるかどうか判断する。欠陥検出信号が「１」でないと
き（「０」のディスエーブルのとき）は、ステップ＃２
へ進み、サーボ帯域（サーボ系の制御帯域）をａに設定
して、再び先のステップ＃１へ戻る。欠陥検出信号が
「１」（アクティブ）のときは、ステップ＃３へ進み、
サーボ帯域をｂに設定して、再び先のステップ＃１へ戻
る。

【００２３】以上の動作によって、図２１に示したよう
に、トラック上に欠陥が存在しないときは、広いサーボ
帯域ａが設定され、欠陥が存在しているときは、狭いサ
ーボ帯域ｂに変更される。したがって、図１９に示した
光ディスクドライブによれば、光ディスク１上のトラッ
クにゴミや「引っかきキズ」等の僅かな欠陥が存在して
いても、サーボ外れが生じない制御が実現される。

【００２４】

【発明が解決しようとする課題】先に従来の技術につい
て説明したように、ＣＤ（オーディオ）再生やＣＤ−Ｒ
ＯＭ（データ）再生については、先の図１９や図２０に
示した欠陥検出回路６を設けたり、市販のＩＣを使用す
れば、情報記録面のゴミや引っかきキズ等によってトラ
ックサーボ外れやフォーカスサーボ外れが生じないＣＤ
−ＲＯＭプレーヤを得ることができる。ところが、近年
では、ホストコンピュータの高速化に伴って、ＣＤ−Ｒ
ＯＭ再生時のスピードにも、高速化が求められている。
具体的にいえば、ＣＤ再生時のスピードをＲ（回転数）
とすれば、このスピードに比べて２倍（２×Ｒ）あるい
は４倍（４×Ｒ）以上の高速化が要求されている。

【００２５】そのため、ＣＤ−ＲＯＭプレーヤとしての
再生スピードも、１×Ｒ（ＲはＣＤの通常回転数）〜４
×Ｒ（４倍あるいはそれ以上の範囲）までをサポートす
る必要性が生じている。ところが、先の図２０に示した
ような欠陥検出回路６を、このような高速化が要求され
るＣＤ−ＲＯＭプレーヤに使用すると、次のような問題
が派生する。すなわち、ＣＤ−ＲＯＭの再生スピードの
高速化の要求によって、ＣＤとＣＤ−ＲＯＭとではその
再生スピードが異なっており、ＣＤ−ＲＯＭはＣＤに比
べて２倍や４倍の速さで動作される。

【００２６】そして、再生スピードが、１×Ｒ、２×
Ｒ、４×Ｒのように順次高くなると、低域通過フィルタ
６ｄで検出される光ディスク上の欠陥に起因する直流成
分変動の信号周波数も高くなり、その信号振幅が低下す
る。その結果、再生スピードが１×Ｒの場合には検出さ
れた直流成分の変動も、２×Ｒ、４×Ｒのように速くな
ると、検出できなくなる。この状態を次の図２３で説明
する。

【００２７】図２３は、図２０に示した欠陥検出回路６
について、入力されるＲＦ信号と低域通過フィルタ６ｄ
の出力との関係を説明する図である。

【００２８】この図２３に示すように、検出されたＲＦ
信号の振幅は、再生スピードが１×Ｒの場合に比べて、
２×Ｒ（または４×Ｒ）の方が小さくなる。このよう
に、再生スピードの上昇によってＲＦ信号の振幅が低下
すると、低域通過フィルタ６ｄの出力信号から直流成分
の変動を検出する第２のコンパレータ６ｆと第３のコン
パレータ６ｇの基準電圧（一定値）を超えることがなく
なり、欠陥検出信号が得られなくなってしまう。

【００２９】すなわち、再生スピードが１×Ｒの場合に
は、図２３の下方に示したような欠陥検出信号が得られ
るが、再生スピードが上昇して２×Ｒ（あるいは４×
Ｒ）になると、欠陥の存在により直流成分に変動が生じ
ても、図２０の低域通過フィルタ６ｄでカットされるの
で、欠陥検出信号が得られなくなってしまう（低域通過
フィルタの周波数特性が低い）。この発明は、このよう
な不都合を解決し、再生スピードに関係なく、光ディス
ク上に引っかきキズのような僅かな欠陥が存在していて
も、確実な欠陥検出を可能にした光ディスクドライブを
得ることを第１の課題とする（請求項１と請求項２の発
明）。

【００３０】また、従来の技術として、図１９を参照し
ながら、フォーカス系やトラック系を制御する際に、ト
ラック上の欠陥部分については、サーボ帯域を落として
トラッキング用アクチュエータ２ｅとフォーカス用アク
チュエータ２ｆを制御する方法について説明した。この
場合のフォーカス系およびトラック系の制御信号は、光
ディスクからの反射光を受光素子（例えばフォトダイオ
ードＰＤ）によって検出し、その検出信号を演算するこ
とによって得られる。しかし、欠陥検出回路によって得
られる欠陥検出信号は、光ディスク上の欠陥の量や大き
さによって乱れが生じ、この乱れが著しく大きい場合に
はサーボ外れを引き起こすことになる（詳しくは、後出
の図９によって説明する）。

【００３１】ところが、従来の方式では、欠陥の量やそ
の大きさを検出する手段を備えていないので、欠陥の量
が多かったり、欠陥が大きかったりすると、サーボ信号
が著しく乱れ、最悪の場合にはサーボ外れを引き起こす
ことになる。この発明は、このような不都合を解決し、
欠陥の量や大きさに対しても安定なサーボ系の制御を可
能にした光ディスクドライブを提供することを第２の課
題としている（請求項３と請求項４の発明）。さらに、
光ディスクドライブの再生スピードが変化した場合に
も、欠陥の量や大きさに対して安定なサーボ系の制御を
可能にした光ディスクドライブを提供することを第３の
課題とする（請求項５と請求項６の発明）。

【００３２】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明では、光
源である半導体レーザからの出射光を用いて、光ディス
ク上のデータを少なくとも２種類以上のスピードで再生
する光ディスクドライブであり、かつ、光ディスクから
再生したＲＦ信号をデジタル２値に変換する２値化回路
と、２値化回路から出力されたデジタル２値信号から直
流成分を取り出すための低域通過フィルタと、低域通過
フィルタの出力信号から直流成分を取り出すためのコン
パレータと、コンパレータの出力によって起動され一定
時間幅のパルスを出力するためのタイマ回路とからなる
欠陥検出回路を備えた光ディスクドライブにおいて、光
ディスクドライブにロードされた光ディスクの再生スピ
ードを判断する再生スピード判断手段と、欠陥検出回路
を構成する低域通過フィルタの周波数特性を変更する周
波数特性変更手段とを備え、光ディスクドライブの再生
スピードに応じて低域通過フィルタの周波数特性を変更
するようにしている。

【００３３】請求項２の発明では、光源である半導体レ
ーザからの出射光を用いて、光ディスク上のデータを少
なくとも２種類以上のスピードで再生する光ディスクド
ライブであり、かつ、光ディスクから再生したＲＦ信号
をデジタル２値に変換する２値化回路と、２値化回路か
ら出力されたデジタル２値信号から直流成分を取り出す
ための低域通過フィルタと、低域通過フィルタの出力信
号から直流成分を取り出すためのコンパレータと、コン
パレータの出力によって起動され一定時間幅のパルスを
出力するためのタイマ回路とからなる欠陥検出回路を備
えた光ディスクドライブにおいて、光ディスクドライブ
にロードされた光ディスクの再生スピードを判断する再
生スピード判断手段と、欠陥検出回路を構成する低域通
過フィルタの出力信号から直流成分を取り出すためのコ
ンパレータの基準電圧を変更する基準電圧変更手段とを
備え、光ディスクドライブの再生スピードに応じてコン
パレータの基準電圧を変更するようにしている。

【００３４】請求項３の発明では、光源である半導体レ
ーザからの出射光を用いて、光ディスク上のデータを再
生する光ディスクドライブであり、かつ、光ディスクか
らの反射光を検出する反射光検出手段と、反射光検出手
段の出力によって光ディスク上の欠陥を検出する欠陥検
出手段と、反射光検出手段の出力によって半導体レーザ
からの出射光を光ディスクの所望の位置に制御する位置
制御手段と、位置制御手段の制御帯域を変更する制御帯
域変更手段とを備えた光ディスクドライブにおいて、欠
陥検出手段の出力によって光ディスク上の欠陥の量を検
出する欠陥量検出手段を備え、欠陥量検出手段により検
出される光ディスク上の欠陥の量によって位置制御手段
の制御帯域を変えるようにしている。

【００３５】請求項４の発明では、光源である半導体レ
ーザからの出射光を用いて、光ディスク上のデータを再
生する光ディスクドライブであり、かつ、光ディスクか
らの反射光を検出する反射光検出手段と、反射光検出手
段の出力によって光ディスク上の欠陥を検出する欠陥検
出手段と、反射光検出手段の出力によって半導体レーザ
からの出射光を光ディスクの所望の位置に制御する位置
制御手段と、位置制御手段の制御帯域を変更する制御帯
域変更手段とを備えた光ディスクドライブにおいて、欠
陥検出手段の出力によって光ディスク上の欠陥の大きさ
を検出する欠陥大きさ検出手段を備え、欠陥大きさ検出
手段により検出される光ディスク上の欠陥の大きさによ
って位置制御手段の制御帯域を変えるようにしている。

【００３６】請求項５の発明では、請求項３あるいは請
求項４の光ディスクドライブにおいて、欠陥検出手段と
して、光ディスクから再生したＲＦ信号をデジタル２値
に変換する２値化回路と、２値化回路から出力されたデ
ジタル２値信号から直流成分を取り出すための低域通過
フィルタと、低域通過フィルタの出力信号から直流成分
を取り出すためのコンパレータと、コンパレータの出力
によって起動され一定時間幅のパルスを出力するための
タイマ回路とからなる欠陥検出回路を備え、光ディスク
上のデータを少なくとも２種類以上のスピードで再生す
る機能と、光ディスクドライブにロードされた光ディス
クの再生スピードを判断する再生スピード判断手段と、
欠陥検出手段の低域通過フィルタの周波数特性を変更す
る周波数特性変更手段とを備え、光ディスクドライブの
再生スピードに応じて低域通過フィルタの周波数特性を
変更するようにしている。

【００３７】請求項６の発明では、請求項３あるいは請
求項４の光ディスクドライブにおいて、欠陥検出手段と
して、光ディスクから再生したＲＦ信号をデジタル２値
に変換する２値化回路と、２値化回路から出力されたデ
ジタル２値信号から直流成分を取り出すための低域通過
フィルタと、低域通過フィルタの出力信号から直流成分
を取り出すためのコンパレータと、コンパレータの出力
によって起動され一定時間幅のパルスを出力するための
タイマ回路とからなる欠陥検出回路を備え、光ディスク
上のデータを少なくとも２種類以上のスピードで再生す
る機能と、光ディスクドライブにロードされた光ディス
クの再生スピードを判断する再生スピード判断手段と、
低域通過フィルタの出力信号から直流成分を取り出すた
めのコンパレータの基準電圧を変更する基準電圧変更手
段とを備え、光ディスクドライブの再生スピードに応じ
てコンパレータの基準電圧を変更するようにしている。

【００３８】

【発明の実施の形態】この発明の光ディスクドライブに
ついて、図面を参照しながら、その実施の形態を詳細に
説明する。この発明の光ディスクドライブも、その全体
的な構成は、従来として説明した図１９の装置と同様で
あるが、その欠陥検出回路を改良しているので、図２０
に詳しく示した欠陥検出回路６と異なっている（請求項
１と請求項２の発明）。具体的にいえば、光ディスクド
ライブの再生スピードに応じて、欠陥検出回路を構成す
る低域通過フィルタの周波数特性を変更することによ
り、欠陥の正確な検出を可能にし（請求項１の発明）、
あるいは低域通過フィルタの出力信号から直流成分を取
り出すためのコンパレータの基準電圧を変更することに
より、欠陥の正確な検出を可能にしている（請求項２の
発明）。

【００３９】また、この発明の光ディスクドライブで
は、ＣＰＵ７が、欠陥検出回路６からの欠陥検出信号、
すなわち、光ディスク１上の欠陥の量あるいは欠陥の大
きさを示す信号により、サーボブロック５におけるトラ
ックサーボ系（トラッキングサーボ回路５ａ）およびフ
ォーカスサーボ系（フォーカスサーボ回路５ｂ）のサー
ボ信号帯域を変更している（請求項３と請求項４の発
明）。さらに、光ディスク１上の欠陥の量あるいは欠陥
の大きさを示す信号により、サーボブロック５における
トラックサーボ系（トラッキングサーボ回路５ａ）およ
びフォーカスサーボ系（フォーカスサーボ回路５ｂ）の
サーボ信号帯域を変更するに際し、光ディスクドライブ
の再生スピードに応じて、欠陥検出回路を構成する低域
通過フィルタの周波数特性を変更することにより、欠陥
の正確な検出を可能にし（請求項５の発明）、あるいは
低域通過フィルタの出力信号から直流成分を取り出すた
めのコンパレータの基準電圧を変更することにより、欠
陥の正確な検出を可能にしている（請求項６の発明）。

【００４０】第１の実施の形態 この第１の実施の形態は、主として請求項１の発明に対
応しているが、請求項３から請求項５の発明にも関連し
ている。この第１の実施の形態は、先の図２０に示した
低域通過フィルタ６ｄの周波数特性を、光ディスクドラ
イブにロードされた光ディスクの再生スピードに応じて
変更することにより、ＲＦ信号の振幅が変化しても、光
ディスクの欠陥に起因する直流成分の変動が確実に検出
できるようにした点に特徴を有している。

【００４１】図１は、この発明の光ディスクドライブに
ついて、その欠陥検出回路における低域通過フィルタの
実施の形態の一例を示す構成図である。図において、１
１はオペアンプ、１２と１３はコンデンサ、１４と１５
はアナログスイッチ、１６はインバータ、１７はＣＰＵ
７（図１９）の制御線を示す。

【００４２】この図１に示す低域通過フィルタは、先の
図２０に示した低域通過フィルタ６ｄとして使用するフ
ィルタであり、オペアンプ１１に帯域制限用のコンデン
サ１２，１３が選択可能に接続されており、選択された
コンデンサ１２，１３に対応する周波数特性が設定され
る構成である。帯域制限用のコンデンサ１２，１３の選
択は、アナログスイッチ１４，１５の切り換えによって
行われる。例えば、光ディスクドライブにロードされた
光ディスクが、再生スピードの低い（１×Ｒ）ＣＤであ
るか、再生スピードの高い（２×Ｒまたは４×Ｒ）ＣＤ
−ＲＯＭであるかに応じて、コンデンサ１２，１３の一
方を選択することにより、低域通過フィルタの特性を再
生スピードに対応した周波数特性に変更する。

【００４３】この場合に、ロードされたディスクがＣＤ
かＣＤ−ＲＯＭかの判断は、ＣＰＵ７が行い、アナログ
スイッチ１４，１５の制御信号の設定値を変更する。こ
のようなＣＰＵ７の制御線１７の設定によって、アナロ
グスイッチ１４，１５のどちらか一方が動作し、選択さ
れたコンデンサ１２，１３による周波数特性が得られ
る。ここで、再生スピードが低い（１×Ｒ）ときの低域
通過フィルタの周波数特性をｍとし、再生スピードが高
い（２×Ｒまたは４×Ｒ）ときの周波数特性をｎとすれ
ば、両者は、ｎ＞ｍの関係がある。

【００４４】図２は、図１に示した低域通過フィルタの
特性変化の状態を示す図である。図の横軸は周波数ｆ、
縦軸はゲインＧを示し、ｍ′とｎ′はフィルタ特性に対
応する周波数を示す。

【００４５】この図２に示すフィルタ特性は、再生スピ
ードが低い（１×Ｒ）ときには、周波数ｍ′を超えると
ゲインが低下し（周波数特性ｍ）、再生スピードが高い
（２×Ｒまたは４×Ｒ）ときには、周波数ｎ′を超える
とゲインが低下する（周波数特性ｎ）ように設定されて
いる。このように、低域通過フィルタの周波数特性ｎと
ｍとの選択を可能にし、ロードされた光ディスクの種類
に応じて、いずれか一方の周波数特性ｎ，ｍを設定する
ことにより、光ディスクの欠陥に起因する直流成分変動
を示す信号振幅を改善している。

【００４６】図３は、図１に示した低域通過フィルタを
備えた欠陥検出回路について、入力されるＲＦ信号と低
域通過フィルタの出力との関係を説明する図である。

【００４７】この図３は、従来技術の場合を示した先の
図２３に対応している。従来技術の図２３に関しては、
コンパレータの基準電圧が一定の場合には、再生スピー
ドが１×Ｒから、２×Ｒや４×Ｒのように高くなると、
ＲＦ信号の振幅が小さくなり、欠陥信号が検出できなく
なる理由を説明した。これに対して、図１に示した低域
通過フィルタは、その周波数特性をＣＰＵ７によって設
定することができるように構成している。その結果、こ
の図３に矢印で示したように、ＲＦ信号の振幅（光ディ
スクの欠陥に起因する直流成分変動を示す信号の振幅）
が、再生スピードに応じて改善され、確実に欠陥を検出
することが可能になる。以上の動作フローを次の図４に
示す。

【００４８】図４は、この発明の第１の実施の形態にお
いて、低域通過フィルタの特性変更時における主要な処
理の流れを示すフローチャートである。図において、＃
１１〜＃１３はステップを示す。

【００４９】ステップ＃１１で、再生スピード（１×
Ｒ）のディスクがロードされたかどうか判断する。再生
スピード（１×Ｒ）のディスクであれば、ステップ＃１
２へ進み、フィルタ特性ｍとなるアナログスイッチＳＷ
１を設定する。

【００５０】また、再生スピード（１×Ｒ）のディスク
でなければ、ステップ＃１３で、フィルタ特性ｎとなる
アナログスイッチＳＷ２を設定する。以上のように、こ
の第１の実施の形態では、低域通過フィルタの周波数特
性をＣＰＵによって設定することができるようにしてい
る。したがって、光ディスクドライブの再生スピードが
変わっても、光ディスクの欠陥を確実に検出することが
可能になる。

【００５１】なお、以上の説明は、低域通過フィルタの
周波数特性をｍ，ｎの２種類に設定する場合であるが、
３種類あるいは４種類以上に設定することも可能であ
る。この場合には、図１に示した帯域制限用のコンデン
サ１２，１３を、３個あるいは４個以上設けると共に、
コンデンサに対応して同数のアナログスイッチを設れば
よい。

【００５２】第２の実施の形態 この第２の実施の形態は、主として請求項２の発明に対
応しているが、請求項３と請求項４の発明、および請求
項６の発明にも関連している。先の第１の実施の形態で
は、光ディスクドライブにロードされた光ディスクの再
生スピードに対応して、低域通過フィルタの周波数特性
を改善する場合を説明した。この第２の実施の形態で
は、光ディスクドライブにロードされた光ディスクの再
生スピードに対応して、先の図２０に示した出力端子Ｔ
６から出力されるデジタル２値信号における直流成分の
変動を検出するためのコンパレータ、すなわち、第２の
コンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの基準電圧
を変更する点に特徴を有している。

【００５３】図５は、この発明の第２の実施の形態の一
例を示す図で、図２０に示した欠陥検出回路６における
第２のコンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの周
辺回路の構成を示す機能ブロック図である。図における
符号は図２０と同様であり、２１ｆと２２ｆおよび２１
ｇと２２ｇはアナログスイッチ、２３ｆ〜２５ｆと２３
ｇ〜２５ｇは抵抗器、２６はインバータ、２７はＣＰＵ
７（図１９）の制御線を示す。

【００５４】この図５は、従来技術の場合を示した先の
図２０の欠陥検出回路６に対応している。先の図２０に
おいては、第２のコンパレータ６ｆには、分割抵抗器６
ｈによって分割された基準電圧が供給され、同様に、第
３のコンパレータ６ｇには、分割抵抗器６ｉによって分
割された基準電圧が供給されている。これに対して、こ
の図５に示す欠陥検出回路では、第２のコンパレータ６
ｆの基準電圧は、基準電圧発生器６ｅの出力を抵抗器２
３ｆ〜２５ｆを使用して分圧した電圧が与えられてい
る。

【００５５】すなわち、アナログスイッチ２１ｆが抵抗
器２４ｆと、アナログスイッチ２２ｆが抵抗器２５ｆ
と、それぞれ直列に接続されており、分圧抵抗比を選択
することができる。同様に、第３のコンパレータ６ｇの
基準電圧も、基準電圧発生器６ｅの出力を抵抗器２３ｇ
〜２５ｇを使用して分圧した電圧であり、アナログスイ
ッチ２１ｇと２２ｇによって抵抗分圧を行い、分圧抵抗
比を設定する。第２のコンパレータ６ｆと第３のコンパ
レータ６ｇの基準電圧の変更、すなわち、その分圧抵抗
比の選択は、ＣＰＵ７によって設定できるように構成さ
れている。

【００５６】この図５の場合には、（図１９に示した）
ＣＰＵ７が制御線２７を介して制御信号を与えて設定す
る。インバータ２６は、どちらか一系統のアナログスイ
ッチ群（２１ｆと２１ｇの系統、または２２ｆと２２ｇ
の系統）を選択するように機能する。そして、ＣＰＵ７
から制御信号の設定値を変更することによって、第２と
第３のコンパレータ６ｆ，６ｇの基準電圧を変更する。

【００５７】ここで、再生スピードが低いとき（１×Ｒ
時）における第２のコンパレータ６ｆと第３のコンパレ
ータ６ｇの基準電圧、すなわち、基準電圧発生器６ｅの
出力電圧との差電圧を±ｐとし、再生スピードが高いと
き（２×Ｒまたは４×Ｒ時）における基準電圧を±ｑと
すれば、両者は、｜ｐ｜＞｜ｑ｜の関係がある。そこ
で、先の図５において、共通の抵抗器２３ｆと、例えば
アナログスイッチ２１ｆに接続された抵抗器２４ｆとに
よって得られる抵抗分圧値がｐとなり、同様に、アナロ
グスイッチ２２ｆに接続された抵抗器２５ｆとによって
得られる抵抗分圧値がｑとなるように、抵抗器２３ｆと
抵抗器２４ｆと抵抗器２５ｆの抵抗値をそれぞれ設定す
る。

【００５８】アナログスイッチ２１ｇ側についても同様
で、抵抗器２３ｇ〜２５ｇの各抵抗値を設定する。この
場合には、再生スピードが１×Ｒのとき、アナログスイ
ッチ２１ｆとアナログスイッチ２１ｇの系統が接続さ
れ、再生スピードが２×Ｒまたは４×Ｒのときは、アナ
ログスイッチ２２ｆとアナログスイッチ２２ｇの系統が
接続されることになる。

【００５９】図６は、図５に示した欠陥検出回路におい
て、第２のコンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇ
の基準電圧の変更状態を説明する図である。図におい
て、ｐは再生スピードが低いとき（１×Ｒ時）の第２の
コンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの基準電圧
（基準電圧発生器６ｅの出力電圧との差電圧）、ｑは再
生スピードが高いとき（２×Ｒまたは４×Ｒ時）の第２
のコンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの基準電
圧を示す。

【００６０】ＣＰＵ７は、光ディスクドライブにディス
クがロードされたとき、再生スピードが低い（１×Ｒ）
ＣＤであるか、再生スピードが高い（２×Ｒまたは４×
Ｒ）ＣＤ−ＲＯＭであるかを判断する。そして、ＣＤの
ときは、アナログスイッチ２１ｆとアナログスイッチ２
１ｇがオン状態となる制御信号の設定値を出力し、第２
のコンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの基準電
圧が、図６に示す基準電圧±ｐとなるようにする。ま
た、ＣＤ−ＲＯＭのときは、アナログスイッチ２２ｆと
アナログスイッチ２２ｇがオン状態となる制御信号に設
定値を変更して、第２のコンパレータ６ｆと第３のコン
パレータ６ｇの基準電圧が、図６に示す小さな基準電圧
±ｑとなるようにする。

【００６１】図７は、図５に示した欠陥検出回路につい
て、入力されるＲＦ信号と、第２のコンパレータ６ｆお
よび第３のコンパレータ６ｇの基準電圧との関係を説明
する図である。図において、±ｃは再生スピードが低い
（１×Ｒ）ときの基準電圧、±ｄは再生スピードが高い
（２×Ｒ）ときの基準電圧を示す。

【００６２】この図７も、従来技術の場合を示した先の
図２３に対応している。先の図２３においては、コンパ
レータの基準電圧が一定の場合に、再生スピードが１×
Ｒから、２×Ｒや４×Ｒのように高くなると、ＲＦ信号
の振幅が小さくなり、欠陥信号が検出できなくなる理由
を説明した。これに対して、図５に示した欠陥検出回路
では、ＣＰＵ７によって、再生スピードが低い（１×
Ｒ）ときには一点鎖線で示す基準電圧±ｃに設定し、再
生スピードが高い（２×Ｒ）ときには、破線で示す基準
電圧±ｄを設定するように構成している。以上の動作フ
ローを次の図８に示す。

【００６３】図８は、この発明の第２の実施の形態につ
いて、コンパレータ６ｆ，６ｇの基準電圧設定時におけ
る主要な処理の流れを示すフローチャートである。図に
おいて、＃２１〜＃２３はステップを示す。

【００６４】ステップ＃２１で、再生スピード（１×
Ｒ）のディスクがロードされたかどうか判断する。再生
スピード（１×Ｒ）のディスクであれば、ステップ＃２
２へ進み、アナログスイッチ２１ｆとアナログスイッチ
２１ｇの系統を接続する。

【００６５】また、再生スピード（１×Ｒ）のディスク
でなければ、ステップ＃２３で、アナログスイッチ２２
ｆとアナログスイッチ２２ｇの系統を接続する。以上の
ように、この第２の実施の形態では、ＣＰＵによって光
ディスクの種類を判断し、光ディスクの種類に応じて第
２のコンパレータ６ｆおよび第３のコンパレータ６ｇの
基準電圧を変更するようにしている。したがって、光デ
ィスクドライブの再生スピードが変わっても、光ディス
クの欠陥を確実に検出することが可能になる。

【００６６】なお、以上の説明は、第２のコンパレータ
６ｆおよび第３のコンパレータ６ｇの基準電圧を２種類
の電圧に設定する場合であるが、３種類あるいは４種類
以上の電圧に設定することも可能である。この場合に
は、図５に示した分圧抵抗比が、３段階あるいは４段階
以上選択できるようにすると共に、分圧抵抗比に対応す
る切り換えを可能にする個数のアナログスイッチを設れ
ばよい。

【００６７】第３の実施の形態 この第３の実施の形態は、請求項３の発明に対応してい
るが、請求項５と請求項６の発明にも関連している。こ
の第３の実施の形態は、従来技術として先の図２１に示
したサーボ系の制御帯域の変更、すなわち、トラック上
に欠陥がない状態ではサーボ系の制御帯域をａとし、ト
ラック上の欠陥部分を通過しているときは制御帯域をｂ
（ａ＞ｂ）に落とすことにより、欠陥によって生じるサ
ーボ系の乱れを抑制し、トラック外れ等が生じないよう
にした制御方式（図２２のフローチャート）の改良であ
る。この第３の実施の形態では、光ディスク上の欠陥に
よって生じるサーボ系の乱れは、存在する欠陥の量が多
い場合と少ない場合とで異なる、という点に着目して、
単にディスク上の欠陥の有無だけでなく欠陥の量を検出
し、検出された欠陥の量に応じて、サーボ系の制御帯域
を変更する点に特徴を有している。

【００６８】したがって、ハード構成としては、従来の
欠陥検出回路に、欠陥の量を検出するためのカウント手
段を付加した点で異なっているが、図１９のＣＰＵ７
が、欠陥検出回路の出力（欠陥検出信号）を認識できる
点は同様である。なお、第１の実施の形態で説明した図
１の欠陥検出回路とディスクの再生スピードを検出する
手段を用いることも（請求項５の発明）、第２の実施の
形態で説明した図５の欠陥検出回路とディスクの再生ス
ピードを検出する手段を用いることも可能である（請求
項６の発明）。最初に、光ディスクのトラック上に存在
する欠陥部とサーボ信号との関係について説明する。

【００６９】図９は、光ディスクのトラック上に存在す
る欠陥部と、検出されるサーボ信号との関係を説明する
タイムチャートで、(1) はトラック上の欠陥部の量が比
較的少ない場合、(2) はトラック上の欠陥部の量が比較
的多い場合、(3) はトラック上の欠陥領域が広い場合を
示す。

【００７０】光ディスクのトラック上に欠陥部が存在す
ると、図９(1) のように、サーボ信号（サーボ用の検出
信号、以下同様）が変動して、乱れが生じる。このよう
なサーボ信号の乱れは、トラック上の欠陥部の量（欠陥
の存在個所）が多くなると、図９(2) に示すように、大
きくなる。このように外乱が多いと、サーボ外れを起し
易くなるので、サーボ系の不安定の一因になる。

【００７１】また、図９(3) に示すように、欠陥領域が
広い（欠陥が大きい）ときも、同様に、サーボ信号の乱
れが大きくなるので、サーボ系が不安定になる（請求項
４の発明に関連する）。この第３の実施の形態では、図
９(1) のように、欠陥の量が少ないときと、図９(2) の
ように多いときとで、サーボ系の制御帯域を変更してい
る。

【００７２】図１０は、光ディスクドライブにおけるサ
ーボ信号について、その帯域分布を概念的に示す図であ
る。図において、実線ｅは帯域が広い場合、破線ｆは帯
域を狭くした場合を示す。

【００７３】先の図９(2) や(3) に示したように、トラ
ック上に欠陥部が存在することによって、サーボ信号
（サーボ用の検出信号）に乱れが生じると、実線ｅで示
すように、欠陥部分のサーボ信号が変化し、信号帯域が
大きくなる。この場合に、帯域を落す（狭くする）と、
破線ｆのように、サーボ信号の乱れを抑制することがで
きる。この第３の実施の形態では、図９(2) のように、
トラック上の欠陥部の量が多いときに、サーボ信号の帯
域を変えることによって、サーボ信号の乱れを抑制して
いる（請求項３の発明）。なお、欠陥領域が広いときに
も、サーボ信号の帯域を変えることによって、サーボ信
号の乱れを抑制する（請求項４の発明）。

【００７４】図１１は、この発明の第３の実施の形態の
一例を示す機能ブロック図である。図における符号は図
２０と同様であり、３１はパルスカウンタを示す。

【００７５】この図１１に示した回路は、従来例として
先の図２０に示した欠陥検出回路６に、パルスカウンタ
３１を付加した点が異なっている。このパルスカウンタ
３１は、光ディスク１上の欠陥の量を検出する機能を有
しており、オアゲート回路６ｊから出力されるパルスの
数をカウントする。このオアゲート回路６ｊから出力さ
れるパルスの数は、光ディスク１上の欠陥の量を示して
いるので、このパルスの数をカウントすることによっ
て、光ディスク１上の欠陥の量を検出することができ
る。そして、検出された欠陥の量に応じて、制御帯域を
変更する。具体的にいえば、従来例と同様に、制御帯域
ａとｂ（ａ＞ｂ）の他に、パルスカウンタ３１のカウン
ト値がある値ｘより大きいときは、制御帯域ｃに、ま
た、ある値ｘより小のときは、制御帯域ｄに設定する。
この場合には、４つの制御帯域ａ〜ｄの間に、ａ＞ｄ＞
ｂ＞ｃの関係がある。

【００７６】図１２は、図１１に示した欠陥検出回路に
ついて、サーボ系の制御帯域の変化を説明するタイムチ
ャートである。

【００７７】図１１に示した欠陥検出回路においても、
従来例で説明した図２０の欠陥検出回路６と同様に、光
ディスク１のトラック上に欠陥部が存在すると、図１２
に示したように、オアゲート回路６ｊからオア出力が発
生され、１ショットタイマ６ｋから欠陥検出信号が
「１」（アクティブ）で出力される。この場合に、パル
スカウンタ３１には、オアゲート回路６ｊからのオア出
力が入力されており、欠陥検出信号がアクティブの間、
オア出力（欠陥検出パルス）をカウントする。

【００７８】図１２のタイムチャートは、トラック上の
欠陥部が５個存在している場合であるから、パルスカウ
ンタ３１のカウンタ値は「５」になる。欠陥検出信号が
「０」（ディスエーブル）になると、ＣＰＵ７は、パル
スカウンタ３１のカウンタ値（＝５）を読み出し、メモ
リに記憶すると共に、パルスカウンタ３１をクリア（＝
０）する。その後、欠陥検出信号が再び「１」（アクテ
ィブ）となると、ＣＰＵ７は、前回得られたパルスカウ
ンタ３１のカウンタ値（＝５）によって、サーボ系の制
御帯域を変更する。通常、引っかきキズ等は数トラック
にわたって存在しているので、欠陥の量が多いときは、
欠陥量に応じてサーボ系の制御帯域を変更する。すなわ
ち、先の図１０に破線ｆで示したように、サーボ帯域を
落とす（狭くする）ことによって、サーボ信号の乱れを
抑制すれば、サーボ外れの発生が防止され安定したサー
ボ制御が可能になる。また、このような帯域の制御によ
って、トラック外れ等によるリトライ動作も抑制できる
ので、データ転送速度が低下することもない。以上の動
作を、次の図１３と図１４に示す。

【００７９】図１３と図１４は、この発明の第３の実施
の形態について、トラック上の欠陥の量の検出時におけ
る主要な処理の流れを示すフローチャートである。図に
おいて、＃３１〜＃４５はステップ、ｉは前回の欠陥量
（カウンタ値）が保持されているか否かを示すフラグを
示し、とは接続点を示す。

【００８０】ステップ＃３１で、すでにトラック上の欠
陥の量（カウンタ値）が保持されているか否かを示すフ
ラグ（ｉ）をクリア（ｉ＝０）する。ステップ＃３２
で、欠陥検出信号が「１」（アクティブ）であるかどう
か判断する。欠陥検出信号が「１」でないとき（「０」
＝ディスエーブルのとき）は、ステップ＃３３へ進み、
サーボ系の制御帯域をａに設定して、再び先のステップ
＃３２へ戻る。

【００８１】また、先のステップ＃３２で判断した結
果、欠陥検出信号が「１」（アクティブ）のときは、ス
テップ＃３４へ進み、フラグ（ｉ）が「１」であるかど
うか判断する。フラグ（ｉ）が「１」でないとき（ｉ＝
０のとき）は、ステップ＃４１で、サーボ系の制御帯域
をｂに設定する（図１３のから図１４のへ進む）。
次のステップ＃４２で、欠陥検出信号が「１」（アクテ
ィブ）であるか監視を続け、欠陥検出信号が「１」でな
い（「０」＝ディスエーブル）ことを検知すると、ステ
ップ＃４３へ進み、パルスカウンタ３１のカウンタ値を
読み出して記憶する。

【００８２】ステップ＃４４で、パルスカウンタ３１を
クリア（＝０）し、次のステップ＃４５で、フラグをセ
ット（ｉ＝１）して、再び先のステップ＃３２へ戻る
（図１４のから図１３のへ戻る）。これに対して、
先のステップ＃３４（図１３）で判断した結果、フラグ
（ｉ）が「１」のとき（ｉ＝１で、前回のカウンタ値が
保持されているとき）は、ステップ＃３５へ進み、カウ
ンタ値が所定の値ｘより大であるか否か判断する。

【００８３】カウンタ値が所定の値ｘより大でないとき
（値ｘより小のとき）は、ステップ＃３７へ進み、サー
ボ系の制御帯域をｄに設定して、ステップ＃３８へ進
む。また、先のステップ＃３５で判断した結果、カウン
タ値が所定の値ｘより大のときは、ステップ＃３６へ進
み、サーボ系の制御帯域をｃに設定して、ステップ＃３
８へ進む。

【００８４】ステップ＃３８で、欠陥検出信号が「１」
（アクティブ）であるか否か監視を続け、欠陥検出信号
が「１」でない（「０」＝ディスエーブル）ことを検知
すると、ステップ＃３９へ進み、パルスカウンタ３１の
カウンタ値を読み出して記憶する。ステップ＃４０で、
パルスカウンタ３１をクリア（＝０）して、再び先のス
テップ＃３２へ戻る。

【００８５】以上の動作によって、ディスクのトラック
上に欠陥がない状態では制御帯域がａとされる（ステッ
プ＃３３）。また、トラック上に欠陥がある（欠陥検出
信号がアクティブ）状態では、最初は制御帯域はｂとさ
れる（ステップ＃４１）が、その後は、前回のパルスカ
ウンタ３１の値が保持されているときは、そのパルスカ
ウンタ３１の値がある値ｘより大きい場合には、制御帯
域はｃに設定され（ステップ＃３６）、ｘより小さい場
合には、制御帯域はｄに設定される（ステップ＃３
７）。

【００８６】なお、制御帯域ａ〜ｄの帯域幅（広さ）
は、ａ＞ｄ＞ｂ＞ｃである。以上のように、第３の実施
の形態によれば、光ディスク上の欠陥の量が多くてもサ
ーボがそれに追従しないようにサーボ帯域を変更するこ
とができる。したがって、欠陥によるトラック外れ等が
生じ難くなり、安定したデータ再生を行うことが可能に
なる。さらに、トラック外れ等によるリトライ動作も抑
制できるので、データ転送速度が低下することもない、
という効果が得られる。

【００８７】第４の実施の形態 この第４の実施の形態は、請求項４の発明に対応してい
るが、先の請求項３の発明と共通点があり、また、請求
項５と請求項６の発明にも関連している。先の第３の実
施の形態では、光ディスク上の欠陥の量が多い場合につ
いて説明したが、この第４の実施の形態は、光ディスク
上に欠陥が存在する場合に、欠陥の大きさを検出し、検
出された欠陥の大きさに応じて、サーボ系の制御帯域を
変更する点に特徴を有している。したがって、全体的な
ハード構成としては、図１９と同様であるが、図２０に
詳しく示した欠陥検出回路６の構成は、先の第３の実施
の形態で説明した図１１において、パルスカウンタ３１
の代りにパルス幅検出カウンタを設けた点と、オアゲー
ト回路６ｊからオア出力を取り出す点が異なるだけであ
る。

【００８８】光ディスクのトラック上の欠陥部について
は、先の図９(1) 〜(3) に示したように、欠陥部の数が
少ない場合や、欠陥の量が多い場合、さらに、欠陥が大
きい（欠陥領域が広い）場合がある。この第４の実施の
形態は、図９(3) のように、欠陥の領域が大きい場合に
生じるサーボ信号の乱れを抑制することを課題としてお
り、欠陥の大きさに応じてサーボ系の制御帯域を変更す
る（制御帯域を落とす）構成である。なお、第１の実施
の形態で説明した図１の欠陥検出回路を用いることも
（請求項５の発明）、第２の実施の形態で説明した図５
の欠陥検出回路を用いることも可能である（請求項６の
発明）。

【００８９】図１５は、この発明の第４の実施の形態の
一例を示す欠陥検出回路の機能ブロック図である。図に
おける符号は図１１と同様であり、４１はパルス幅検出
カウンタを示す。

【００９０】この図１５に示した回路で、パルス幅検出
カウンタ４１は、光ディスク上の欠陥の大きさを検出す
るための機能を有している。オアゲート回路６ｊから出
力されるパルスの幅は、光ディスク上の欠陥の大きさを
示しているので、このパルス幅を検出することによっ
て、欠陥の大きさを検知することができる。

【００９１】図１６は、図１５に示した欠陥検出回路に
ついて、サーボ系の制御帯域の変化を説明するタイムチ
ャートである。図のｋ₁ 〜ｋ₄ はパルス幅検出カウンタ
４１のカウント値を示す。

【００９２】図１５に示した欠陥検出回路においても、
従来例で説明した図２０の欠陥検出回路６と同様に、光
ディスク１のトラック上に欠陥部が存在すると、図１６
に示したように、オアゲート回路６ｊからオア出力が発
生され、１ショットタイマ６ｋから欠陥検出信号が
「１」（アクティブ）で出力される。この場合に、パル
ス幅検出カウンタ４１には、オアゲート回路６ｊからの
オア出力が入力されており、欠陥検出信号がアクティブ
の間、オア出力の時間（タイマカウンタ動作によるパル
ス数）をカウントする。

【００９３】ＣＰＵ７は、オアゲート回路６ｊからのオ
ア出力が「０」（ディスエーブル）になる度ごとに、パ
ルス幅検出カウンタ４１のカウンタ値を読み出し、メモ
リに記憶すると共に、パルス幅検出カウンタ４１をクリ
ア（＝０）する。このような動作を、欠陥検出信号が
「１」（アクティブ）の期間について繰り返えし、この
期間中に得られたパルス幅検出カウンタ４１の最大値を
求める。図１６では、パルス幅検出カウンタ４１のカウ
ント値は、ｋ₁ ＞ｋ₂ ＞ｋ₄ ＞ｋ₃ の場合を示してい
る。そして、次に、欠陥検出信号がアクティブになる
と、前回に得られたパルス幅検出カウンタ４１の最大値
により、サーボ系の制御帯域を変更する。

【００９４】いま、欠陥がない状態での制御帯域をａと
し、欠陥検出信号がアクティブの状態の制御帯域をｂと
する。また、パルス幅検出カウンタ４１の値がある値ｙ
より大きい場合の制御帯域をｅ、値ｙより小さい場合の
制御帯域をｆとすれば、制御帯域ａ，ｂ，ｅ，ｆの間に
は、ａ＞ｆ＞ｂ＞ｅの関係がある。すなわち、先の図１
０に破線ｆで示したように、サーボ帯域を落とす（狭く
する）ことによって、サーボ信号の乱れを抑制すれば、
サーボ外れの発生が防止され安定したサーボ制御が可能
になる。また、このような帯域の制御によって、トラッ
ク外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、データ
転送速度が低下することもない。以上の動作を、次の図
１７と図１８に示す。

【００９５】図１７と図１８は、この発明の第４の実施
の形態について、トラック上の欠陥の大きさの検出時に
おける主要な処理の流れを示すフローチャートである。
図において、＃５１〜＃７１はステップ、ｉは前回の欠
陥の大きさ（カウンタ値）が保持されているか否かを示
すフラグ、ｋmax はカウンタ最大値を示し、とは接
続点を示す。

【００９６】ステップ＃５１で、すでにトラック上の欠
陥の大きさ（カウンタ値）が保持されているか否かを示
すフラグ（ｉ）と、カウンタ最大値とをクリア（ｉ＝
０，ｋmax ＝０）する。ステップ＃５２で、欠陥検出信
号が「１」（アクティブ）であるかどうか判断する。欠
陥検出信号が「１」でないとき（「０」＝ディスエーブ
ルのとき）は、ステップ＃５３へ進み、サーボ系の制御
帯域をａに設定する。次のステップ＃５４で、カウンタ
最大値ｋmax ＝０のまま、再び先のステップ＃５２へ戻
る。

【００９７】また、先のステップ＃５２で判断した結
果、欠陥検出信号が「１」（アクティブ）のときは、ス
テップ＃５５へ進み、フラグ（ｉ）が「１」であるかど
うか判断する。フラグ（ｉ）が「１」でないとき（ｉ＝
０のとき）は、ステップ＃６１で、サーボ系の制御帯域
をｂに設定する（図１７のから図１８のへ進む）。
次のステップ＃６６で、オアゲート回路６ｊからのオア
出力が「１」であるか監視を続け、オア出力が「１」で
ない（「０」＝ディスエーブル）ことを検知すると、ス
テップ＃６７へ進み、パルス幅検出カウンタ４１のカウ
ンタ値（ｋｎ）を読み出して記憶する。

【００９８】ステップ＃６８で、パルス幅検出カウンタ
４１をクリア（＝０）し、次のステップ＃６９で、読み
出したカウンタ値（ｋｎ）がカウンタ最大値ｋmax より
大きいかどうか判断する。読み出したカウンタ値（ｋ
ｎ）がカウンタ最大値ｋmax より大きいときは、ステッ
プ＃７０へ進み、カウンタ最大値ｋmax として、先に読
み出したカウンタ値（ｋｎ）を保持する。次のステップ
＃７１で、欠陥検出信号が「１」（アクティブ）である
かどうか判断する。

【００９９】欠陥検出信号が「１」のときは、先のステ
ップ＃６６へ戻り、また、欠陥検出信号が「１」でない
とき（「０」＝ディスエーブルのとき）は、再び先のス
テップ＃５２へ戻る（図１８のから図１７のへ戻
る）。これに対して、先のステップ＃５５（図１７）で
判断した結果、フラグ（ｉ）が「１」のとき（ｉ＝１
で、前回のカウンタ値が保持されているとき）は、ステ
ップ＃５６へ進み、カウンタ値（カウンタ最大値ｋmax
）が所定の値ｙより大であるか否か判断する。カウン
タ値が所定の値ｙより大でないとき（値ｙより小のと
き）は、ステップ＃５７へ進み、サーボ系の制御帯域を
ｆに設定して、ステップ＃５９へ進む。

【０１００】また、先のステップ＃５６で判断した結
果、カウンタ値が所定の値ｙより大のときは、ステップ
＃５８へ進み、サーボ系の制御帯域をｅに設定して、ス
テップ＃５９へ進む。

【０１０１】ステップ＃５９で、オアゲート回路６ｊか
らのオア出力が「１」であるか否か監視を続け、オア出
力が「１」でない（「０」＝ディスエーブル）ことを検
知すると、ステップ＃６０へ進み、パルス幅検出カウン
タ４１のカウンタ値（ｋｎ）を読み出して記憶する。ス
テップ＃６１で、パルス幅検出カウンタ４１をクリア
（＝０）し、次のステップ＃６２で、読み出したカウン
タ値（ｋｎ）がカウンタ最大値ｋmax より大きいかどう
か判断する。

【０１０２】読み出したカウンタ値（ｋｎ）がカウンタ
最大値ｋmax より大きいときは、ステップ＃６３へ進
み、カウンタ最大値ｋmax として、先に読み出したカウ
ンタ値（ｋｎ）を保持する。次のステップ＃６４で、欠
陥検出信号が「１」（アクティブ）であるかどうか判断
する。欠陥検出信号が「１」のときは、先のステップ＃
５９へ戻り、また、欠陥検出信号が「１」でないとき
（「０」＝ディスエーブルのとき）は、再び先のステッ
プ＃５２へ戻る。

【０１０３】以上の動作によって、ディスクのトラック
上に欠陥がない状態では制御帯域がａとされる（ステッ
プ＃５３）。また、トラック上に欠陥がある（欠陥検出
信号がアクティブ）状態では、最初は制御帯域はｂとさ
れる（ステップ＃６５）が、その後は、前回のパルス幅
検出カウンタ４１の値（ｋｎ）が保持されているとき
は、そのパルス幅検出カウンタ４１の値（ｋｎ）がある
値ｙより大きい場合には、制御帯域はｅに設定され（ス
テップ＃５７）、ｙより小さい場合には、制御帯域はｆ
に設定される（ステップ＃５８）。なお、制御帯域ａ，
ｂ，ｅ，ｆの帯域幅（広さ）の関係は、ａ＞ｆ＞ｂ＞ｅ
である。

【０１０４】以上のように、第４の実施の形態によれ
ば、光ディスク上の欠陥が大きくてもサーボがそれに追
従しないようにサーボ帯域を変更することができる。し
たがって、欠陥によるトラック外れ等が生じ難くなり、
安定したデータ再生を行うことが可能になる。さらに、
トラック外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、
データ転送速度が低下することもない、という効果が得
られる。

【０１０５】第５の実施の形態 この第５の実施の形態は、請求項５の発明に対応してい
るが、先の請求項３と請求項４の発明にも関連してお
り、また、欠陥検出回路として請求項１の発明と共通点
を有している。先の第３と第４の実施の形態では、光デ
ィスク上の欠陥の量が多い場合や、欠陥が大きい場合
に、検出された欠陥の量や欠陥の大きさに応じて、サー
ボ系の制御帯域を変更する場合を説明した。しかし、先
の第１の実施の形態で述べたような光ディスクの再生ス
ピードの変化に対しては、特に考慮していない。

【０１０６】すなわち、第１の実施の形態では、従来例
の図２０に示した欠陥検出回路６を改良して、低域通過
フィルタ６ｄの周波数特性を光ディスクドライブにロー
ドされた光ディスクの再生スピードに応じて変更するこ
とにより、ＲＦ信号の振幅が変化しても、光ディスクの
欠陥に起因する直流成分の変動が確実に検出できるよう
にしている。この第５の実施の形態では、第３と第４の
実施の形態で説明した光ディスク上の欠陥の量や欠陥の
大きさの検出と、検出された欠陥の量や欠陥の大きさに
応じてサーボ系の制御帯域を変更するに際して、第１の
実施の形態で説明した図１の低域通過フィルタを使用す
ると共に、光ディスクドライブにロードされた光ディス
クの再生スピードを判断する再生スピード判断手段を設
けており、低域通過フィルタの周波数特性を光ディスク
ドライブにロードされた光ディスクの再生スピードに応
じて変更することによって、欠陥が存在しているとき
は、確実に検出することができるようにした点に特徴を
有している。

【０１０７】したがって、第５の実施の形態のハード構
成は、欠陥検出回路として図１の低域通過フィルタ（請
求項１の欠陥検出回路）を使用し、また、光ディスクド
ライブにロードされた光ディスクの再生スピードを判断
する再生スピード判断手段を設けた構成であり、サーボ
帯域の変更方式として図１１の欠陥検出回路（請求項
３）あるいは図１５の欠陥検出回路（請求項４）を使用
するものであるから、各部の動作については、すでに詳
しく述べたとおりである。そして、この第５の実施の形
態（請求項５の光ディスクドライブ）によれば、光ディ
スクドライブの再生スピードが変わっても、その再生ス
ピードに応じて低域通過フィルタの周波数特性を変更す
ることができ、光ディスク上の欠陥を確実に検出するこ
とが可能になる。

【０１０８】また、欠陥検出回路の出力によって光ディ
スク上の欠陥の量や大きさを検出することにより、光ス
ポットの位置制御手段の制御帯域を変えている。その結
果、第３や第４の実施の形態（請求項３あるいは請求項
４）の光ディスクドライブと同様に、欠陥に対して安定
なトラッキングおよびフォーカスサーボが可能となると
共に、光ディスクドライブの再生スピードに関係なくサ
ーボ外れが生じ難くなるので、安定したデータ再生を行
うことができる。さらに、トラック外れ等によるリトラ
イ動作も抑制できるので、データ転送速度が低下するこ
ともない、等の多くの効果が得られる。

【０１０９】第６の実施の形態 この第６の実施の形態は、請求項６の発明に対応してい
るが、先の請求項３と請求項４の発明にも関連してお
り、また、欠陥検出回路として請求項２の発明と共通点
を有している。先の第５の実施の形態は、欠陥検出回路
として請求項１の発明を利用すると共に、光ディスクド
ライブにロードされた光ディスクの再生スピードを判断
する再生スピード判断手段を設けた場合であったが、第
６の実施の形態では、欠陥検出回路として、請求項１の
発明の代りに請求項２の発明を利用する点が異なる。

【０１１０】すなわち、この第６の実施の形態では、第
３と第４の実施の形態で説明した光ディスク上の欠陥の
量や欠陥の大きさの検出と、検出された欠陥の量や欠陥
の大きさに応じてサーボ系の制御帯域を変更するに際し
て、第２の実施の形態で説明した図５の欠陥検出回路を
使用し、光ディスクにロードされた光ディスクの再生ス
ピードに対応して、先の図２０に示した出力端子Ｔ６か
ら出力されるデジタル２値信号における直流成分の変動
を検出するためのコンパレータ（第２のコンパレータ６
ｆと第３のコンパレータ６ｇ）の基準電圧を変更する点
に特徴を有している。このように、第６の実施の形態の
ハード構成は、欠陥検出回路として図５の欠陥検出回路
（請求項２の欠陥検出回路）を使用し、サーボ帯域の変
更方式として図１１の欠陥検出回路（請求項３）あるい
は図１５の欠陥検出回路（請求項４）を使用するもので
あり、各部の動作については、すでに詳しく述べたとお
りである。

【０１１１】そして、この第６の実施の形態（請求項６
の光ディスクドライブ）によれば、先の第５の実施の形
態と同様の効果が得られる。すなわち、光ディスクドラ
イブの再生スピードが変わっても、その再生スピードに
応じて低域通過フィルタの周波数特性を変更することが
でき、光ディスク上の欠陥を確実に検出することが可能
になる。また、欠陥検出回路の出力によって光ディスク
上の欠陥の量や大きさを検出することにより、光スポッ
トの位置制御手段の制御帯域を変えている。

【０１１２】その結果、第３や第４の実施の形態（請求
項３あるいは請求項４）の光ディスクドライブと同様
に、欠陥に対して安定なトラッキングおよびフォーカス
サーボが可能となると共に、光ディスクドライブの再生
スピードに関係なくサーボ外れが生じ難くなるので、安
定なデータ再生を行うことができる。さらに、トラック
外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、データ転
送速度が低下することもない、等の多くの効果が得られ
る。

【０１１３】

【発明の効果】請求項１の光ディスクドライブでは、低
域通過フィルタの周波数特性をＣＰＵによって設定する
ことができるようにしている。したがって、光ディスク
ドライブの再生スピードが変わっても、確実に欠陥検出
することが可能になる。

【０１１４】請求項２の光ディスクドライブでは、コン
パレータの基準電圧をＣＰＵによって変更することがで
きるようにしている。したがって、光ディスクドライブ
の再生スピードが変わっても、確実に欠陥検出すること
が可能になる。

【０１１５】請求項３の光ディスクドライブでは、光デ
ィスク上の欠陥の量が多くても、サーボがそれに追従し
ないようにサーボ帯域を変更することができる。したが
って、欠陥によるトラック外れ等が生じ難くなり、安定
したデータ再生を行うことが可能になる。また、トラッ
ク外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、データ
転送速度が低下することもない。

【０１１６】請求項４の光ディスクドライブでは、光デ
ィスク上の欠陥が大きくても、それに応じてサーボの制
御帯域を変更することができる。したがって、欠陥によ
るトラック外れ等が生じ難くなり、安定したデータ再生
を行うことが可能になる。また、トラック外れ等による
リトライ動作も抑制できるので、データ転送速度が低下
することもない。

【０１１７】請求項５の光ディスクドライブでは、光デ
ィスクドライブの再生スピードが変わっても、その再生
スピードに応じて低域通過フィルタの周波数特性を変更
することができる。したがって、確実に光ディスク上の
欠陥を検出することが可能になる。また、その出力によ
って光ディスク上の欠陥の量や大きさを検出することに
より、光スポットの位置制御手段の制御帯域を変えるの
で、請求項３あるいは請求項４の光ディスクドライブと
同様に、欠陥に対して安定なトラッキングおよびフォー
カスサーボが可能となると共に、光ディスクドライブの
再生スピードによらずサーボ外れが生じ難くなるので、
安定したデータ再生を行うことができる。さらに、トラ
ック外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、デー
タ転送速度が低下することもない。

【０１１８】請求項６の光ディスクドライブでは、光デ
ィスクドライブの再生スピードが変わっても、その再生
スピードに応じてコンパレータの基準電圧を変更するこ
とができる。したがって、確実に光ディスク上の欠陥を
検出することが可能になる。また、その出力によって光
ディスク上の欠陥の量や大きさを検出することにより、
光スポットの位置制御手段の制御帯域を変えるので、請
求項３あるいは請求項４の光ディスクドライブと同様
に、欠陥に対して安定なトラッキングおよびフォーカス
サーボが可能となると共に、光ディスクドライブの再生
スピードによらずサーボ外れが生じ難くなるため、安定
したデータ再生を行うことがてきる。その上、トラック
外れ等によるリトライ動作も抑制できるので、データ転
送速度が低下することもない。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスクドライブについて、その
欠陥検出回路における低域通過フィルタの実施の形態の
一例を示す構成図である。

【図２】図１に示した低域通過フィルタの特性変化の状
態を示す図である。

【図３】図１に示した低域通過フィルタを備えた欠陥検
出回路について、入力されるＲＦ信号と低域通過フィル
タの出力との関係を説明する図である。

【図４】この発明の第１の実施の形態において、低域通
過フィルタの特性変更時における主要な処理の流れを示
すフローチャートである。

【図５】この発明の第２の実施の形態の一例を示す図
で、図２０に示した欠陥検出回路６における第２のコン
パレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの周辺回路の構
成を示す機能ブロック図である。

【図６】図５に示した欠陥検出回路において、第２のコ
ンパレータ６ｆと第３のコンパレータ６ｇの基準電圧の
変更状態を説明する図である。

【図７】図５に示した欠陥検出回路について、入力され
るＲＦ信号と第２のコンパレータ６ｆおよび第３のコン
パレータ６ｇの基準電圧との関係を説明する図である。

【図８】この発明の第２の実施の形態について、コンパ
レータ６ｆ，６ｇの基準電圧設定時における主要な処理
の流れを示すフローチャートである。

【図９】光ディスクのトラック上に存在する欠陥部と、
検出されるサーボ信号との関係を説明するタイムチャー
トで

【図１０】光ディスクドライブにおけるサーボ信号につ
いて、その帯域分布を概念的に示す図である。

【図１１】この発明の第３の実施の形態の一例を示す機
能ブロック図である。

【図１２】図１１に示した欠陥検出回路について、サー
ボ系の制御帯域の変化を説明するタイムチャートであ
る。

【図１３】この発明の第３の実施の形態について、トラ
ック上の欠陥の量の検出時における主要な処理の流れを
示すフローチャートである。

【図１４】この発明の第３の実施の形態について、トラ
ック上の欠陥の量の検出時における主要な処理の流れを
示すフローチャートである。

【図１５】この発明の第４の実施の形態の一例を示す欠
陥検出回路の機能ブロック図である。

【図１６】図１５に示した欠陥検出回路について、サー
ボ系の制御帯域の変化を説明するタイムチャートであ
る。

【図１７】この発明の第４の実施の形態について、トラ
ック上の欠陥の大きさの検出時における主要な処理の流
れを示すフローチャートである。

【図１８】この発明の第４の実施の形態について、トラ
ック上の欠陥の大きさの検出時における主要な処理の流
れを示すフローチャートである。

【図１９】従来の欠陥検出回路を備えた光ディスクドラ
イブについて、その全体構成の一例を示す機能ブロック
図である。

【図２０】図１９に示した欠陥検出回路６について、そ
の構成例を示す機能ブロック図である。

【図２１】トラック上の欠陥部と欠陥検出信号とサーボ
系の制御帯域との関係を説明する図である。

【図２２】従来の光ディスクドライブにおいて、サーボ
帯域の変更時における主要な処理の流れを示すフローチ
ャートである。

【図２３】図２０に示した欠陥検出回路６について、入
力されるＲＦ信号と低域通過フィルタ６ｄの出力との関
係を説明する図である。

【符号の説明】

１１ オペアンプ １２と１３ コンデンサ １４と１５ アナログスイッチ １６ インバータ １７ ＣＰＵ７の制御線 ２１ｆと２２ｆと２１ｇと２２ｇ アナログスイッチ ２３ｆ〜２５ｆと２３ｇ〜２５ｇ 抵抗器 ２６ インバータ ２７ ＣＰＵ７の制御線 ３１ パルスカウンタ ４１ パルス幅検出カウンタ

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源である半導体レーザからの出射光を
   用いて、光ディスク上のデータを少なくとも２種類以上
   のスピードで再生する光ディスクドライブであり、か
   つ、 光ディスクから再生したＲＦ信号をデジタル２値に変換
   する２値化回路と、前記２値化回路から出力されたデジ
   タル２値信号から直流成分を取り出すための低域通過フ
   ィルタと、前記低域通過フィルタの出力信号から直流成
   分を取り出すためのコンパレータと、前記コンパレータ
   の出力によって起動され一定時間幅のパルスを出力する
   ためのタイマ回路とからなる欠陥検出回路を備えた光デ
   ィスクドライブにおいて、 前記光ディスクドライブにロードされた光ディスクの再
   生スピードを判断する再生スピード判断手段と、 前記欠陥検出回路を構成する低域通過フィルタの周波数
   特性を変更する周波数特性変更手段とを備え、 前記光ディスクドライブの再生スピードに応じて前記低
   域通過フィルタの周波数特性を変更することを特徴とす
   る光ディスクドライブ。
2. 【請求項２】 光源である半導体レーザからの出射光を
   用いて、光ディスク上のデータを少なくとも２種類以上
   のスピードで再生する光ディスクドライブであり、か
   つ、 光ディスクから再生したＲＦ信号をデジタル２値に変換
   する２値化回路と、前記２値化回路から出力されたデジ
   タル２値信号から直流成分を取り出すための低域通過フ
   ィルタと、前記低域通過フィルタの出力信号から直流成
   分を取り出すためのコンパレータと、前記コンパレータ
   の出力によって起動され一定時間幅のパルスを出力する
   ためのタイマ回路とからなる欠陥検出回路を備えた光デ
   ィスクドライブにおいて、 前記光ディスクドライブにロードされた光ディスクの再
   生スピードを判断する再生スピード判断手段と、 前記欠陥検出回路を構成する低域通過フィルタの出力信
   号から直流成分を取り出すためのコンパレータの基準電
   圧を変更する基準電圧変更手段とを備え、 前記光ディスクドライブの再生スピードに応じて前記コ
   ンパレータの基準電圧を変更することを特徴とする光デ
   ィスクドライブ。
3. 【請求項３】 光源である半導体レーザからの出射光を
   用いて、光ディスク上のデータを再生する光ディスクド
   ライブであり、かつ、 前記光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段
   と、前記反射光検出手段の出力によって前記光ディスク
   上の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記反射光検出手
   段の出力によって前記半導体レーザからの出射光を前記
   光ディスクの所望の位置に制御する位置制御手段と、前
   記位置制御手段の制御帯域を変更する制御帯域変更手段
   とを備えた光ディスクドライブにおいて、 前記欠陥検出手段の出力によって前記光ディスク上の欠
   陥の量を検出する欠陥量検出手段を備え、 前記欠陥量検出手段により検出される光ディスク上の欠
   陥の量によって位置制御手段の制御帯域を変えることを
   特徴とする光ディスクドライブ。
4. 【請求項４】 光源である半導体レーザからの出射光を
   用いて、光ディスク上のデータを再生する光ディスクド
   ライブであり、かつ、 前記光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段
   と、前記反射光検出手段の出力によって前記光ディスク
   上の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記反射光検出手
   段の出力によって前記半導体レーザからの出射光を前記
   光ディスクの所望の位置に制御する位置制御手段と、前
   記位置制御手段の制御帯域を変更する制御帯域変更手段
   とを備えた光ディスクドライブにおいて、 前記欠陥検出手段の出力によって前記光ディスク上の欠
   陥の大きさを検出する欠陥大きさ検出手段を備え、 前記欠陥大きさ検出手段により検出される光ディスク上
   の欠陥の大きさによって位置制御手段の制御帯域を変え
   ることを特徴とする光ディスクドライブ。
5. 【請求項５】 請求項３あるいは請求項４の光ディスク
   ドライブにおいて、 欠陥検出手段として、光ディスクから再生したＲＦ信号
   をデジタル２値に変換する２値化回路と、前記２値化回
   路から出力されたデジタル２値信号から直流成分を取り
   出すための低域通過フィルタと、前記低域通過フィルタ
   の出力信号から直流成分を取り出すためのコンパレータ
   と、前記コンパレータの出力によって起動され一定時間
   幅のパルスを出力するためのタイマ回路とからなる欠陥
   検出回路を備え、 光ディスク上のデータを少なくとも２種類以上のスピー
   ドで再生する機能と、 前記光ディスクドライブにロードされた光ディスクの再
   生スピードを判断する再生スピード判断手段と、 前記欠陥検出手段の低域通過フィルタの周波数特性を変
   更する周波数特性変更手段とを備え、 前記光ディスクドライブの再生スピードに応じて前記低
   域通過フィルタの周波数特性を変更することを特徴とす
   る光ディスクドライブ。
6. 【請求項６】 請求項３あるいは請求項４の光ディスク
   ドライブにおいて、 欠陥検出手段として、光ディスクから再生したＲＦ信号
   をデジタル２値に変換する２値化回路と、前記２値化回
   路から出力されたデジタル２値信号から直流成分を取り
   出すための低域通過フィルタと、前記低域通過フィルタ
   の出力信号から直流成分を取り出すためのコンパレータ
   と、前記コンパレータの出力によって起動され一定時間
   幅のパルスを出力するためのタイマ回路とからなる欠陥
   検出回路を備え、 光ディスク上のデータを少なくとも２種類以上のスピー
   ドで再生する機能と、 前記光ディスクドライブにロードされた光ディスクの再
   生スピードを判断する再生スピード判断手段と、 前記低域通過フィルタの出力信号から直流成分を取り出
   すためのコンパレータの基準電圧を変更する基準電圧変
   更手段とを備え、 前記光ディスクドライブの再生スピードに応じて前記コ
   ンパレータの基準電圧を変更することを特徴とする光デ
   ィスクドライブ。