JP2003109239A - 光ディスク装置及び光ディスク処理方法 - Google Patents
光ディスク装置及び光ディスク処理方法Info
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- JP2003109239A JP2003109239A JP2001298299A JP2001298299A JP2003109239A JP 2003109239 A JP2003109239 A JP 2003109239A JP 2001298299 A JP2001298299 A JP 2001298299A JP 2001298299 A JP2001298299 A JP 2001298299A JP 2003109239 A JP2003109239 A JP 2003109239A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光透過層の厚み誤差に起因して生じる球面収
差を補正するのと同時に、光ディスクの情報記録層での
レーザ光の強度を一定とするべく発光強度の制御を行う
光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 レーザ光を発光する発光素子２１と、光
ディスクの光透過層の厚さを検出して誤差信号を出力す
る厚さ検出部３０と、厚さ信号に基づき、光ディスクの
情報記録層でのビームに生じている球面収差を解消する
べくレーザ光を制御するリレーレンズ群１６と、厚さ信
号に基づきレーザ光の光強度を決定し、この決定された
光強度に応じてレーザ光を発光するべく発光素子を制御
する制御回路２６，２９とを有する光ディスク装置。
差を補正するのと同時に、光ディスクの情報記録層での
レーザ光の強度を一定とするべく発光強度の制御を行う
光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 レーザ光を発光する発光素子２１と、光
ディスクの光透過層の厚さを検出して誤差信号を出力す
る厚さ検出部３０と、厚さ信号に基づき、光ディスクの
情報記録層でのビームに生じている球面収差を解消する
べくレーザ光を制御するリレーレンズ群１６と、厚さ信
号に基づきレーザ光の光強度を決定し、この決定された
光強度に応じてレーザ光を発光するべく発光素子を制御
する制御回路２６，２９とを有する光ディスク装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスクの光
学ヘッド制御方法であり、これを用いた光ディスク記録
再生装置及びこれらの方法に関する。
学ヘッド制御方法であり、これを用いた光ディスク記録
再生装置及びこれらの方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近、光ディスクの高密度化に伴って、
これに対する光ディスク記録再生装置においても高い信
頼性・動作安定性が求められている。光ディスクは記録
層の上に光透過層が設けられて構成されているが、この
光透過層の厚さが規定からずれてくると、球面収差の影
響が光ディスク装置の動作上に表れてくる。
これに対する光ディスク記録再生装置においても高い信
頼性・動作安定性が求められている。光ディスクは記録
層の上に光透過層が設けられて構成されているが、この
光透過層の厚さが規定からずれてくると、球面収差の影
響が光ディスク装置の動作上に表れてくる。
【０００３】これに対して、特開平１１−２５９９０６
号公報に示された従来技術では、光学ヘッドに搭載され
る対物レンズの開口数ＮＡを大きくしても、球面収差の
発生量が少なくてすむようにし、これにより、光ディス
クの高記録密度化及び大容量化を図るものである。記録
層上に光透過層が形成されている光ディスクに対して記
録再生を行う際に使用される光学ヘッドに、光軸に平行
に移動するようなコリメータレンズ用アクチュエータを
設ける。そして、このコリメータレンズ用アクチュエー
タに拠って、光透過層の厚み誤差に起因する球面収差を
打ち消すように、光源と対物レンズとの間に配されたコ
リメータレンズを動かす。又、球面収差をうち消すため
にコリメータレンズを使用するのではなく、屈折率が外
部電圧より変化する液晶素子を使用してもよい。光透過
層の厚みの検出方法はフォーカスエラー信号のうち、光
透過層表面からの戻り光と、情報記録層からの戻り光と
により検出するものである。
号公報に示された従来技術では、光学ヘッドに搭載され
る対物レンズの開口数ＮＡを大きくしても、球面収差の
発生量が少なくてすむようにし、これにより、光ディス
クの高記録密度化及び大容量化を図るものである。記録
層上に光透過層が形成されている光ディスクに対して記
録再生を行う際に使用される光学ヘッドに、光軸に平行
に移動するようなコリメータレンズ用アクチュエータを
設ける。そして、このコリメータレンズ用アクチュエー
タに拠って、光透過層の厚み誤差に起因する球面収差を
打ち消すように、光源と対物レンズとの間に配されたコ
リメータレンズを動かす。又、球面収差をうち消すため
にコリメータレンズを使用するのではなく、屈折率が外
部電圧より変化する液晶素子を使用してもよい。光透過
層の厚みの検出方法はフォーカスエラー信号のうち、光
透過層表面からの戻り光と、情報記録層からの戻り光と
により検出するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記先
行技術では光透過層の厚み誤差に起因して発生する球面
収差を補正するためにコリメータレンズを移動させた場
合に、レーザ光が程度に応じて収束又は拡散することと
なるため、対物レンズ面上での光量変化が生じるという
問題がある。この問題は液晶素子を用いた場合でも同様
に発生する。この光量変化は、再生処理や特に記録処理
を行う際に動作の不安定の要因となるものである。
行技術では光透過層の厚み誤差に起因して発生する球面
収差を補正するためにコリメータレンズを移動させた場
合に、レーザ光が程度に応じて収束又は拡散することと
なるため、対物レンズ面上での光量変化が生じるという
問題がある。この問題は液晶素子を用いた場合でも同様
に発生する。この光量変化は、再生処理や特に記録処理
を行う際に動作の不安定の要因となるものである。
【０００５】本発明は、光透過層の厚み誤差に起因して
発生する球面収差を補正させた場合でも、レーザ光の光
量が所望の値となるべく、球面収差の程度に応じて発光
強度を制御する光ディスク装置及びこの方法を提供する
ことを目的としている。
発生する球面収差を補正させた場合でも、レーザ光の光
量が所望の値となるべく、球面収差の程度に応じて発光
強度を制御する光ディスク装置及びこの方法を提供する
ことを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、情報記録層と
これを保護する光透過層とをもつ光ディスクの再生処理
を行う光ディスク装置であり、レーザ光を発光する発光
手段と、前記発光手段が発光したレーザ光を、対物レン
ズを用いて前記光ディスクの前記光透過層を透過し前記
情報記録層へと集光させる集光手段と、前記集光手段に
より前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を検
出しこれに応じた検出信号を出力する光検出手段と、前
記発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けら
れる光学素子であって、第１の所定信号に基づき、前記
光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面収
差を解消するべく前記レーザ光を制御する球面収差補正
用制御手段と、前記球面収差補正用制御手段の制御によ
る光強度への影響を解消するべく、第２の所定信号に基
づき前記レーザ光の光強度を決定し、この決定された光
強度に応じてレーザ光を発光するべく前記発光手段を制
御する光強度制御手段と、前記光検出手段により検出し
た前記光強度制御手段の制御により発光されたレーザ光
の反射光に基づき、前記情報記録層に格納された情報を
再生する再生手段とを具備することを特徴とする光ディ
スク装置である。
これを保護する光透過層とをもつ光ディスクの再生処理
を行う光ディスク装置であり、レーザ光を発光する発光
手段と、前記発光手段が発光したレーザ光を、対物レン
ズを用いて前記光ディスクの前記光透過層を透過し前記
情報記録層へと集光させる集光手段と、前記集光手段に
より前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を検
出しこれに応じた検出信号を出力する光検出手段と、前
記発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けら
れる光学素子であって、第１の所定信号に基づき、前記
光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面収
差を解消するべく前記レーザ光を制御する球面収差補正
用制御手段と、前記球面収差補正用制御手段の制御によ
る光強度への影響を解消するべく、第２の所定信号に基
づき前記レーザ光の光強度を決定し、この決定された光
強度に応じてレーザ光を発光するべく前記発光手段を制
御する光強度制御手段と、前記光検出手段により検出し
た前記光強度制御手段の制御により発光されたレーザ光
の反射光に基づき、前記情報記録層に格納された情報を
再生する再生手段とを具備することを特徴とする光ディ
スク装置である。
【０００７】本発明に係る光ディスク装置は、上述した
ように光ディスクの光透過層の厚さが規定からずれてい
ることで球面収差が生じる場合、一例として、光透過層
の厚さに応じて例えばリレーレンズ等を移動することに
よりレーザ光を拡散させるか収束させるかしてこれを解
消する。しかしこの制御の程度により、レーザ光の強度
が所望の値とならないという不具合を生じるが、本発明
に係る光ディスク装置では、光透過層の厚さに応じてレ
ーザ光源の発光強度を調整することにより、この不具合
を解消するものである。従って、光透過層の厚み誤差を
もつ光ディスクに対しても安定した再生動作や記録動作
を可能とする光ディスク装置を提供することができる。
ように光ディスクの光透過層の厚さが規定からずれてい
ることで球面収差が生じる場合、一例として、光透過層
の厚さに応じて例えばリレーレンズ等を移動することに
よりレーザ光を拡散させるか収束させるかしてこれを解
消する。しかしこの制御の程度により、レーザ光の強度
が所望の値とならないという不具合を生じるが、本発明
に係る光ディスク装置では、光透過層の厚さに応じてレ
ーザ光源の発光強度を調整することにより、この不具合
を解消するものである。従って、光透過層の厚み誤差を
もつ光ディスクに対しても安定した再生動作や記録動作
を可能とする光ディスク装置を提供することができる。
【０００８】又本発明は、上述した光ディスク装置にお
いて、球面収差補正用制御手段が、前記発光手段と集光
手段とのレーザ光の光路途中に設けられる光学素子であ
って、所定信号に基づき、前記光ディスクの情報記録層
でのビームに生じている球面収差を解消するべく前記レ
ーザ光を制御するべく前記光学レンズを移動し、更に前
記光強度制御手段は、前記球面収差補正用制御手段の制
御による光強度への影響を解消するべく、前記光学レン
ズの制御量に応じて、前記発光手段を制御することを特
徴とする光ディスク装置である。
いて、球面収差補正用制御手段が、前記発光手段と集光
手段とのレーザ光の光路途中に設けられる光学素子であ
って、所定信号に基づき、前記光ディスクの情報記録層
でのビームに生じている球面収差を解消するべく前記レ
ーザ光を制御するべく前記光学レンズを移動し、更に前
記光強度制御手段は、前記球面収差補正用制御手段の制
御による光強度への影響を解消するべく、前記光学レン
ズの制御量に応じて、前記発光手段を制御することを特
徴とする光ディスク装置である。
【０００９】本発明に係る光ディスク装置は、上述した
光ディスク装置とは異なり、光透過層の厚み誤差そのも
のではなくて、この厚み誤差に基づく光学素子の制御量
に応じて、レーザ光源の発光強度を調整するものであ
る。これにより、レーザ光源の強度が不適当となる直接
の原因である光学素子の制御量に対応して、一層効率よ
く光強度の調整を行うことが可能となる光ディスク装置
を提供することができる。
光ディスク装置とは異なり、光透過層の厚み誤差そのも
のではなくて、この厚み誤差に基づく光学素子の制御量
に応じて、レーザ光源の発光強度を調整するものであ
る。これにより、レーザ光源の強度が不適当となる直接
の原因である光学素子の制御量に対応して、一層効率よ
く光強度の調整を行うことが可能となる光ディスク装置
を提供することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施形態に係る光ディスク装置を詳細に説明する。
実施形態に係る光ディスク装置を詳細に説明する。
【００１１】＜第１の実施形態＞第１実施形態は、球面
収差補正用制御手段が第１の所定信号として光透過層の
厚さ信号を用いて、光ディスクの情報記録層でのビーム
を持つ球面収差が解消されるように制御され、同時にレ
ーザ光源の発光強度を第２の所定信号として光透過層の
厚さ信号を用いて制御する光ディスク装置を提供する。
図１は、本発明の第１及び第２の実施形態に係る光ディ
スク装置の一例を示す説明図、図２は、光ディスク装置
にて光透過層の厚さ誤差により球面収差が生じた場合の
リレーレンズ群の位置と光束を示す説明図、図３は、本
発明の第１及び第２の実施形態に係る光ディスク装置に
備えられる光透過層の厚さを検出する独立した光学系の
一例を示す説明図である。
収差補正用制御手段が第１の所定信号として光透過層の
厚さ信号を用いて、光ディスクの情報記録層でのビーム
を持つ球面収差が解消されるように制御され、同時にレ
ーザ光源の発光強度を第２の所定信号として光透過層の
厚さ信号を用いて制御する光ディスク装置を提供する。
図１は、本発明の第１及び第２の実施形態に係る光ディ
スク装置の一例を示す説明図、図２は、光ディスク装置
にて光透過層の厚さ誤差により球面収差が生じた場合の
リレーレンズ群の位置と光束を示す説明図、図３は、本
発明の第１及び第２の実施形態に係る光ディスク装置に
備えられる光透過層の厚さを検出する独立した光学系の
一例を示す説明図である。
【００１２】本発明の第１実施形態に係る光ディスク装
置の光学系は、情報記録層の表面１１ａと光透過層の表
面１１ｂとを有する光ディスクＤを所定回転数で回転さ
せるスピンドルモータ１２と、光ディスクＤにレーザ光
を照射しこの反射光を受光するための光ピックアップヘ
ッド１０とからなり、これに接続されて幾つかの制御回
路が設けられている。
置の光学系は、情報記録層の表面１１ａと光透過層の表
面１１ｂとを有する光ディスクＤを所定回転数で回転さ
せるスピンドルモータ１２と、光ディスクＤにレーザ光
を照射しこの反射光を受光するための光ピックアップヘ
ッド１０とからなり、これに接続されて幾つかの制御回
路が設けられている。
【００１３】光ピックアップヘッド１０は、少なくとも
対物レンズ群用第１のレンズ１３ａと対物レンズ群用第
２のレンズ１３ｂとを有する対物レンズ群１３と、この
対物レンズ群を駆動させるための対物レンズアクチュエ
ータ１４、そして対物レンズ群１３に隣接して設けられ
るλ／４波長板１５、更に光路上に隣り合って設けら
れ、球面収差を解消するために設けられトップレンズ１
６ａとボトムレンズ１６ｂとを有するリレーレンズ群１
６を有している。
対物レンズ群用第１のレンズ１３ａと対物レンズ群用第
２のレンズ１３ｂとを有する対物レンズ群１３と、この
対物レンズ群を駆動させるための対物レンズアクチュエ
ータ１４、そして対物レンズ群１３に隣接して設けられ
るλ／４波長板１５、更に光路上に隣り合って設けら
れ、球面収差を解消するために設けられトップレンズ１
６ａとボトムレンズ１６ｂとを有するリレーレンズ群１
６を有している。
【００１４】ここで対物レンズ群１３は対物レンズ群制
御部３１により、更にリレーレンズ群１６は、リレーレ
ンズ群制御部３２によって制御されるリレーレンズ移動
手段１７により駆動される。更にこれに隣接して光路上
に設けられ記録情報を再生するためのＰＢＳ（Polarize
d Beam Splitter）１８と、ここから再生用信号を取り
出すための情報再生用光学系１９と、ここから供給され
る反射光を検出するための情報再生用光検出器２０とを
有する。更に情報再生用光検出器２０からの信号は、光
ディスクの光透過層の厚さを検出するための焦点誤差信
号生成部３０に接続されており、厚さ信号を後述するコ
ントローラ３０に供給している。
御部３１により、更にリレーレンズ群１６は、リレーレ
ンズ群制御部３２によって制御されるリレーレンズ移動
手段１７により駆動される。更にこれに隣接して光路上
に設けられ記録情報を再生するためのＰＢＳ（Polarize
d Beam Splitter）１８と、ここから再生用信号を取り
出すための情報再生用光学系１９と、ここから供給され
る反射光を検出するための情報再生用光検出器２０とを
有する。更に情報再生用光検出器２０からの信号は、光
ディスクの光透過層の厚さを検出するための焦点誤差信
号生成部３０に接続されており、厚さ信号を後述するコ
ントローラ３０に供給している。
【００１５】又、光源部としてＬＤ（Laser Diode）光
源２１、ここから照射されるレーザ光を収束するコリメ
ータレンズ２５、このレーザ光をＡＰＣ用に一部を分岐
させるＡＰＣ用ＰＢＳ２２を更に有する。ＡＰＣ用ＰＢ
Ｓ２２からのレーザ光は、ＡＰＣ用光学系２３に照射さ
れ、ＡＰＣ用光検出器２４に与えられ、これに応じた信
号が、ＬＤ光源を所望の強度にするべく設けられたＡＰ
Ｃ回路２８に供給される。
源２１、ここから照射されるレーザ光を収束するコリメ
ータレンズ２５、このレーザ光をＡＰＣ用に一部を分岐
させるＡＰＣ用ＰＢＳ２２を更に有する。ＡＰＣ用ＰＢ
Ｓ２２からのレーザ光は、ＡＰＣ用光学系２３に照射さ
れ、ＡＰＣ用光検出器２４に与えられ、これに応じた信
号が、ＬＤ光源を所望の強度にするべく設けられたＡＰ
Ｃ回路２８に供給される。
【００１６】これ以外に全体の光学系の動作を制御する
コントローラ２６と、ＬＤ光源２１を駆動するためのＬ
Ｄ駆動回路２７、更に、本発明の特徴である球面収差に
伴う光量変化の制御回路２９とが動作制御のために設け
られている。又、コントローラ２６はそれぞれ、対物レ
ンズ群制御部３１、リレーレンズ群制御部３２、ＬＤ駆
動回路２７、球面収差に伴う光量変化の制御回路２９、
ＡＰＣ回路２８に接続されており、全体の動作を司って
いる。
コントローラ２６と、ＬＤ光源２１を駆動するためのＬ
Ｄ駆動回路２７、更に、本発明の特徴である球面収差に
伴う光量変化の制御回路２９とが動作制御のために設け
られている。又、コントローラ２６はそれぞれ、対物レ
ンズ群制御部３１、リレーレンズ群制御部３２、ＬＤ駆
動回路２７、球面収差に伴う光量変化の制御回路２９、
ＡＰＣ回路２８に接続されており、全体の動作を司って
いる。
【００１７】このような構成をもつ本発明に係る光ディ
スク装置の光学系ユニットが有する光ヘッド１０は、相
変化型光ディスクに対して記録再生を行う際に用いられ
るものである。本実施形態では相変化型光ディスクにつ
いて述べるが、本発明は光透過層を有する情報記録媒体
用の光ヘッドに対して広く適用可能であり、記録若しく
は再生の対象となる情報記録媒体は、再生専用光ディス
ク、光磁気ディスクまたは光カード等であっても良い。
スク装置の光学系ユニットが有する光ヘッド１０は、相
変化型光ディスクに対して記録再生を行う際に用いられ
るものである。本実施形態では相変化型光ディスクにつ
いて述べるが、本発明は光透過層を有する情報記録媒体
用の光ヘッドに対して広く適用可能であり、記録若しく
は再生の対象となる情報記録媒体は、再生専用光ディス
ク、光磁気ディスクまたは光カード等であっても良い。
【００１８】光ヘッド１０が記録再生する光ディスク
は、情報記録層を保護するために光透過層１１ｂを有す
る。光透過層１１ｂの厚さは例えば約０．１ｍｍであ
る。
は、情報記録層を保護するために光透過層１１ｂを有す
る。光透過層１１ｂの厚さは例えば約０．１ｍｍであ
る。
【００１９】ＬＤ光源２１の発光波長は、例えば約４０
０ｎｍである。ＬＤ光源２１を出射した光はコリメータ
レンズ２５を透過し、光透過層の厚み誤差に起因する球
面収差補正のためのリレーレンズ群１０６を経て、λ／
４波長板１５を透過後、対物レンズ群１３に入射し、光
ディスクＤの情報記録面１１ａで結像する。対物レンズ
群１３の開口数ＮＡは例えば約０．８５である。光ディ
スクの情報記録面１１ａで反射した光は、対物レンズ群
１０３により集光され、λ／４波長板１５を通過し、リ
レーレンズ群１６を経て、ＰＢＳ１８により反射されて
検出光学系を透過後、光検出器２４により電気信号に変
換される。また、ＬＤ光源２１の光強度を一定に保つた
めにＰＢＳ１８よりもＬＤ光源側にＡＰＣ（自動出力制
御：AutoPower Control）用ＰＢＳ２２を配置し、集光
レンズ２３を透過してＡＰＣ用光検出器２４に入射す
る。ＡＰＣ用光検出器２４からはＬＤ光源２１の発光強
度に応じた信号が出力されるため、ＡＰＣ用光検出器２
４から出力された信号をＡＰＣ回路２８により適切なゲ
インをかけてＬＤ光源２７にフィードバックすることに
より、ＬＤ光源２１の発光強度が一定になるように制御
できる。
０ｎｍである。ＬＤ光源２１を出射した光はコリメータ
レンズ２５を透過し、光透過層の厚み誤差に起因する球
面収差補正のためのリレーレンズ群１０６を経て、λ／
４波長板１５を透過後、対物レンズ群１３に入射し、光
ディスクＤの情報記録面１１ａで結像する。対物レンズ
群１３の開口数ＮＡは例えば約０．８５である。光ディ
スクの情報記録面１１ａで反射した光は、対物レンズ群
１０３により集光され、λ／４波長板１５を通過し、リ
レーレンズ群１６を経て、ＰＢＳ１８により反射されて
検出光学系を透過後、光検出器２４により電気信号に変
換される。また、ＬＤ光源２１の光強度を一定に保つた
めにＰＢＳ１８よりもＬＤ光源側にＡＰＣ（自動出力制
御：AutoPower Control）用ＰＢＳ２２を配置し、集光
レンズ２３を透過してＡＰＣ用光検出器２４に入射す
る。ＡＰＣ用光検出器２４からはＬＤ光源２１の発光強
度に応じた信号が出力されるため、ＡＰＣ用光検出器２
４から出力された信号をＡＰＣ回路２８により適切なゲ
インをかけてＬＤ光源２７にフィードバックすることに
より、ＬＤ光源２１の発光強度が一定になるように制御
できる。
【００２０】ここで、リレーレンズ群１６は、光透過層
の厚さが規定どおりの値（例えば０．１ｍｍ）の時には
対物レンズ群１３に平行光として入射するように設計さ
れている。これを図２の（ａ）が示している。リレーレ
ンズ群１６のトップレンズ１６ａは光軸方向に移動可能
なリレーレンズ移動手段１７を備えている。
の厚さが規定どおりの値（例えば０．１ｍｍ）の時には
対物レンズ群１３に平行光として入射するように設計さ
れている。これを図２の（ａ）が示している。リレーレ
ンズ群１６のトップレンズ１６ａは光軸方向に移動可能
なリレーレンズ移動手段１７を備えている。
【００２１】もし、光透過層１１ｂの厚さが規定からず
れている場合には光透過層の厚み誤差に起因する球面収
差が生じてしまう。この光透過層の厚み誤差に起因する
球面収差を補正するべく、リレーレンズ群１６のトップ
レンズ１６ａがコントローラ２６の制御下においてリレ
ーレンズ群制御部３２により移動操作される。換言すれ
ば、光透過層の厚み誤差に起因する球面収差を補正する
ために、リレーレンズ群１６により対物レンズ群１３に
入射する光を収束光或いは発散光にする。
れている場合には光透過層の厚み誤差に起因する球面収
差が生じてしまう。この光透過層の厚み誤差に起因する
球面収差を補正するべく、リレーレンズ群１６のトップ
レンズ１６ａがコントローラ２６の制御下においてリレ
ーレンズ群制御部３２により移動操作される。換言すれ
ば、光透過層の厚み誤差に起因する球面収差を補正する
ために、リレーレンズ群１６により対物レンズ群１３に
入射する光を収束光或いは発散光にする。
【００２２】この時の状態が図２の（ｂ）により示され
ている。即ち、光ディスクＤの光透過層の厚さが薄い場
合の情報記録層１１ａ′と、光透過層の厚さが薄い場合
の光ディスクの光透過層の表面１１ｂ′とが示され、こ
れに応じて、光透過層の厚さが薄い場合の対物レンズ群
１３′、即ち、光透過層の厚さが薄い場合の対物レンズ
群用第一のレンズ１３ａ′と光透過層の厚さが薄い場合
の対物レンズ群用第二のレンズ１３ｂ′とが示されてい
る。併せて、光透過層の厚さが薄い場合のリレーレンズ
群のトップレンズ１６ａ′と光透過層の厚さが薄い場合
のリレーレンズ群のボトムレンズ１６ｂ′とからなる光
透過層が薄い場合のリレーレンズ群１６′が、図２の
（ａ）の場合とは異なる位置に変位されて示されてい
る。
ている。即ち、光ディスクＤの光透過層の厚さが薄い場
合の情報記録層１１ａ′と、光透過層の厚さが薄い場合
の光ディスクの光透過層の表面１１ｂ′とが示され、こ
れに応じて、光透過層の厚さが薄い場合の対物レンズ群
１３′、即ち、光透過層の厚さが薄い場合の対物レンズ
群用第一のレンズ１３ａ′と光透過層の厚さが薄い場合
の対物レンズ群用第二のレンズ１３ｂ′とが示されてい
る。併せて、光透過層の厚さが薄い場合のリレーレンズ
群のトップレンズ１６ａ′と光透過層の厚さが薄い場合
のリレーレンズ群のボトムレンズ１６ｂ′とからなる光
透過層が薄い場合のリレーレンズ群１６′が、図２の
（ａ）の場合とは異なる位置に変位されて示されてい
る。
【００２３】又、基板厚さが規定どおりの値の場合に
は、設計どおりに光束が平行光として対物レンズに入射
するため、ＡＰＣ用光検出器２４の出力信号にＡＰＣ回
路２８により所定のゲインＸ１をかけたＬＤ駆動信号を
ＬＤ駆動回路２７よりＬＤ光源２１に入力することで対
物レンズ群３１から出射される光量を制御している。
は、設計どおりに光束が平行光として対物レンズに入射
するため、ＡＰＣ用光検出器２４の出力信号にＡＰＣ回
路２８により所定のゲインＸ１をかけたＬＤ駆動信号を
ＬＤ駆動回路２７よりＬＤ光源２１に入力することで対
物レンズ群３１から出射される光量を制御している。
【００２４】しかし、光透過層の厚み誤差により球面収
差補正を行った場合は、ＡＰＣ用の光検出器２４を用い
てＬＤ光源２１の発光強度が一定に制御しても、球面収
差補正により光束が収束或いは発散されることにより、
対物レンズ１３に入射する光量が変化してしまう。即
ち、ＬＤ光源の発光強度を一定にしても、対物レンズ１
３から出射される光量を一定に制御することができな
い。
差補正を行った場合は、ＡＰＣ用の光検出器２４を用い
てＬＤ光源２１の発光強度が一定に制御しても、球面収
差補正により光束が収束或いは発散されることにより、
対物レンズ１３に入射する光量が変化してしまう。即
ち、ＬＤ光源の発光強度を一定にしても、対物レンズ１
３から出射される光量を一定に制御することができな
い。
【００２５】この光量の不本意な変化により、再生時に
光ディスクの情報記録面を照射する光量が変化するだけ
ではなく、記録時にも光ディスクの情報記録面に照射す
る光量（即ち相変化させるためのエネルギー）が変化す
ることになり、安定して情報の記録再生を行うことがで
きないこととなってしまう。
光ディスクの情報記録面を照射する光量が変化するだけ
ではなく、記録時にも光ディスクの情報記録面に照射す
る光量（即ち相変化させるためのエネルギー）が変化す
ることになり、安定して情報の記録再生を行うことがで
きないこととなってしまう。
【００２６】従って、光透過層の厚み誤差に起因して球
面収差補正を行った場合には、ＡＰＣ用光検出器２４の
出力値からＬＤ駆動回路２７よりＬＤ光源２１に入力す
る電流値の比率Ｘを、対物レンズ上での発光強度が一定
となるように、光透過層の厚みｔに応じて制御する。即
ち、Ｆ１（ｔ）をｔの関数とすると、 Ｘ＝Ｆ１（ｔ） と表すことができる。実際には関数Ｆ１（ｔ）を求めな
くても、光ディスク装置内に光透過層の厚さｔに対する
Ｘの値を対応付けたテーブルをもち、このテーブルを参
照して制御値を決定しても良い。
面収差補正を行った場合には、ＡＰＣ用光検出器２４の
出力値からＬＤ駆動回路２７よりＬＤ光源２１に入力す
る電流値の比率Ｘを、対物レンズ上での発光強度が一定
となるように、光透過層の厚みｔに応じて制御する。即
ち、Ｆ１（ｔ）をｔの関数とすると、 Ｘ＝Ｆ１（ｔ） と表すことができる。実際には関数Ｆ１（ｔ）を求めな
くても、光ディスク装置内に光透過層の厚さｔに対する
Ｘの値を対応付けたテーブルをもち、このテーブルを参
照して制御値を決定しても良い。
【００２７】従って、球面収差補正を行う場合には、光
透過層の厚み誤差に応じてリレーレンズ群１６のトップ
レンズ１６ａの位置を制御するのと同時に、この光透過
層の厚み誤差に応じる焦点誤差信号生成部３０からの厚
さ信号に応じて、球面収差に伴う光量変化の制御回路２
９を用いて、ＡＰＣ用光検出器２４の出力信号からＬＤ
駆動信号を生成するＡＰＣ回路２８のゲインを制御し、
この制御信号をＬＤ駆動回路２７へ供給する。
透過層の厚み誤差に応じてリレーレンズ群１６のトップ
レンズ１６ａの位置を制御するのと同時に、この光透過
層の厚み誤差に応じる焦点誤差信号生成部３０からの厚
さ信号に応じて、球面収差に伴う光量変化の制御回路２
９を用いて、ＡＰＣ用光検出器２４の出力信号からＬＤ
駆動信号を生成するＡＰＣ回路２８のゲインを制御し、
この制御信号をＬＤ駆動回路２７へ供給する。
【００２８】即ち、ＡＰＣ用光検出器２４の出力信号だ
けでなく、光透過層の厚み誤差を示す厚さ信号の値も反
映させてＬＤ光源２１の発光強度を決定する。これによ
り、球面収差補正により不本意に変化したＬＤ光源２１
の発光強度を適切なものとすることができる。
けでなく、光透過層の厚み誤差を示す厚さ信号の値も反
映させてＬＤ光源２１の発光強度を決定する。これによ
り、球面収差補正により不本意に変化したＬＤ光源２１
の発光強度を適切なものとすることができる。
【００２９】ここでは、ＬＤ光源１２の発光強度が直流
電流で制御される再生中でのＬＤ駆動信号については言
うまでもなく、ＬＤ光源１２の発光強度がパルス状にな
っている記録中のＬＤ駆動信号についても、同様の補正
が必要となる。
電流で制御される再生中でのＬＤ駆動信号については言
うまでもなく、ＬＤ光源１２の発光強度がパルス状にな
っている記録中のＬＤ駆動信号についても、同様の補正
が必要となる。
【００３０】次に光透過層１１ｂの厚みを検出する方法
の一例について述べる。対物レンズアクチュエータ１４
により対物レンズ群１３を光軸方向に移動して対物レン
ズ群１３の位置をフォーカス方向に制御する場合を考え
る。対物レンズアクチュエータ１４により対物レンズ群
１３を光軸方向に移動させる。対物レンズ群１３と光デ
ィスクＤとの間の距離が近接するに従って、フォーカス
誤差信号を観察していると光ディスクの光透過層表面と
情報記録層とでＳ字曲線が出力される。いま、光ディス
クＤの回転が静止しているとすると、対物レンズ群１３
の移動距離は対物レンズアクチュエータに印加する電流
値と対応付けることができる。
の一例について述べる。対物レンズアクチュエータ１４
により対物レンズ群１３を光軸方向に移動して対物レン
ズ群１３の位置をフォーカス方向に制御する場合を考え
る。対物レンズアクチュエータ１４により対物レンズ群
１３を光軸方向に移動させる。対物レンズ群１３と光デ
ィスクＤとの間の距離が近接するに従って、フォーカス
誤差信号を観察していると光ディスクの光透過層表面と
情報記録層とでＳ字曲線が出力される。いま、光ディス
クＤの回転が静止しているとすると、対物レンズ群１３
の移動距離は対物レンズアクチュエータに印加する電流
値と対応付けることができる。
【００３１】従って、焦点誤差信号生成部３０の働きに
より、対物レンズアクチュエータ１４に印加する電流値
と光透過層表面１１ｂと情報記録面１１ａとによって生
じるフォーカス誤差信号のＳ字曲線が出力から光透過層
の厚さを検出することが可能である。この焦点誤差信号
生成部３０は、光透過層の厚さに対応する厚さ信号をコ
ントローラ２６に供給し、これによりコントローラ２６
は光透過層の厚さに対応する光強度の制御を、球面収差
に伴う光量変化の制御回路２９に行わせるものである。
より、対物レンズアクチュエータ１４に印加する電流値
と光透過層表面１１ｂと情報記録面１１ａとによって生
じるフォーカス誤差信号のＳ字曲線が出力から光透過層
の厚さを検出することが可能である。この焦点誤差信号
生成部３０は、光透過層の厚さに対応する厚さ信号をコ
ントローラ２６に供給し、これによりコントローラ２６
は光透過層の厚さに対応する光強度の制御を、球面収差
に伴う光量変化の制御回路２９に行わせるものである。
【００３２】図５はこれらのフォーカス信号を示してお
り、光透過層表面からの反射光５１、光透過層表面から
のＳ字曲線のゼロ点５２、光ディスクの情報記録面から
の反射光５３、光透過層表面からのＳ字曲線のゼロ点５
４が示されている。
り、光透過層表面からの反射光５１、光透過層表面から
のＳ字曲線のゼロ点５２、光ディスクの情報記録面から
の反射光５３、光透過層表面からのＳ字曲線のゼロ点５
４が示されている。
【００３３】更に光透過層１１ｂの厚みを検出する方法
として、図３で示すように、上述したＬＤ光源２１等の
光学系とは独立した光学系として、発光素子６１と受光
素子６２とを設ける方法がある。こうすることにより一
層安定して光ディスクの光透過層の厚さを検出し、球面
収差の補償を行うことが可能となる。
として、図３で示すように、上述したＬＤ光源２１等の
光学系とは独立した光学系として、発光素子６１と受光
素子６２とを設ける方法がある。こうすることにより一
層安定して光ディスクの光透過層の厚さを検出し、球面
収差の補償を行うことが可能となる。
【００３４】以上のようにして検出された光透過層の厚
さに応じて、球面収差を打ち消すようにリレーレンズ群
１６を制御し、同時に対物レンズ１３からの出射光量が
所望の値となるようにＡＰＣ回路２８のゲインを制御す
る。これにより本発明によれば、球面収差を解消しなが
らも、所望の光強度を維持することにより、光透過層の
厚さ歪みをもった光ディスクに対しても安定した再生及
び記録処理を行うことができる光ディスク装置のための
光学ユニットを提供することができる。
さに応じて、球面収差を打ち消すようにリレーレンズ群
１６を制御し、同時に対物レンズ１３からの出射光量が
所望の値となるようにＡＰＣ回路２８のゲインを制御す
る。これにより本発明によれば、球面収差を解消しなが
らも、所望の光強度を維持することにより、光透過層の
厚さ歪みをもった光ディスクに対しても安定した再生及
び記録処理を行うことができる光ディスク装置のための
光学ユニットを提供することができる。
【００３５】尚、本実施形態では光ディスクＤが回転す
る前に光透過層の厚さを検出していたが、この方法以外
に、例えば、光ディスクＤの記憶領域上に光透過層の厚
さの情報を記録しておけば、予め光ディスクに記録して
ある光透過層の厚さ情報を読み取り、読み取られた光透
過層の厚さに応じて、球面収差を打ち消すようにリレー
レンズ１６を制御し、同時に対物レンズ１３からの出射
光量が所望の値となるようにＡＰＣ回路２８のゲインを
制御するという方法をとることも同様に好適である。
る前に光透過層の厚さを検出していたが、この方法以外
に、例えば、光ディスクＤの記憶領域上に光透過層の厚
さの情報を記録しておけば、予め光ディスクに記録して
ある光透過層の厚さ情報を読み取り、読み取られた光透
過層の厚さに応じて、球面収差を打ち消すようにリレー
レンズ１６を制御し、同時に対物レンズ１３からの出射
光量が所望の値となるようにＡＰＣ回路２８のゲインを
制御するという方法をとることも同様に好適である。
【００３６】＜第２の実施形態＞第２の実施形態は、光
透過層の厚さそのものではなく、光透過層の厚さに応じ
て移動したリレーレンズの移動量に対応してレーザ光源
の発光強度を調整する光ディスク装置を提供する。
透過層の厚さそのものではなく、光透過層の厚さに応じ
て移動したリレーレンズの移動量に対応してレーザ光源
の発光強度を調整する光ディスク装置を提供する。
【００３７】即ち、第１の実施形態ではＡＰＣ回路２８
のゲインを制御するのに、光透過層の厚みに応じて制御
していたが、第２の実施形態では球面収差補正のために
移動したリレーレンズ１６のトップレンズ１６ａの移動
距離に応じて制御することを示すものである。ここで、
トップレンズの移動距離をｄとし、Ｆ２（ｄ）をｄの関
数とすると、ＡＰＣ回路２８のゲインＸを Ｘ＝Ｆ２（ｄ） と、表すことができる。この場合も第１の実施形態と同
様に、実際には関数Ｆ２（ｄ）を求めなくても、トップ
レンズの移動距離ｄと、対物レンズから出射する光強度
が所望の値となるＡＰＣ回路２８のゲインＸとを対応付
けたテーブルを光ディスク装置内に保有しこれを利用す
ることも好適である。
のゲインを制御するのに、光透過層の厚みに応じて制御
していたが、第２の実施形態では球面収差補正のために
移動したリレーレンズ１６のトップレンズ１６ａの移動
距離に応じて制御することを示すものである。ここで、
トップレンズの移動距離をｄとし、Ｆ２（ｄ）をｄの関
数とすると、ＡＰＣ回路２８のゲインＸを Ｘ＝Ｆ２（ｄ） と、表すことができる。この場合も第１の実施形態と同
様に、実際には関数Ｆ２（ｄ）を求めなくても、トップ
レンズの移動距離ｄと、対物レンズから出射する光強度
が所望の値となるＡＰＣ回路２８のゲインＸとを対応付
けたテーブルを光ディスク装置内に保有しこれを利用す
ることも好適である。
【００３８】また、本実施形態の場合は球面収差を補正
するために必ずしも光透過層の厚みの量を検出する必要
がないことを示しており、例えばジッタ値やビット誤り
率が最良となるようにリレーレンズのトップレンズを移
動し、これにより球面収差を補正する方法も可能であ
る。
するために必ずしも光透過層の厚みの量を検出する必要
がないことを示しており、例えばジッタ値やビット誤り
率が最良となるようにリレーレンズのトップレンズを移
動し、これにより球面収差を補正する方法も可能であ
る。
【００３９】＜第３の実施形態＞第３の実施形態は、球
面収差を補正するための光学素子として例えば液晶素子
を用いた光ディスク装置を提供する。図４は、第３の実
施形態に係る光ディスク装置の一例を示す説明図であ
る。
面収差を補正するための光学素子として例えば液晶素子
を用いた光ディスク装置を提供する。図４は、第３の実
施形態に係る光ディスク装置の一例を示す説明図であ
る。
【００４０】球面収差を補正する方法としてリレーレン
ズ群１６を用いてトップレンズ１６ａを移動させる方法
について第１及び第２の実施形態において説明した。し
かし、第３の実施形態は球面収差を補正するにあたっ
て、外部からの信号により屈折力を変化させることが可
能な光学素子を用いる方法である。この光学素子とは例
えば液晶素子のようなものである。この場合に、第２の
実施形態のように光透過層の厚みの情報を用いないでＡ
ＰＣ回路のゲインを制御する場合は、球面収差を補正す
るために液晶に印加した電圧ｖに応じてＡＰＣ回路のゲ
インＸを制御すればよい。即ち、Ｆ３（ｖ）をｖの関数
とすると、 Ｘ＝Ｆ３（ｖ） と表すことができる。この場合も第１、第２の実施形態
と同様に関数Ｆ３（ｖ）を求めなくても、液晶に印加す
る電圧ｖと、対物レンズから出射する光強度が所望の値
となるＡＰＣ回路のゲインＸとを対応付けたテーブルを
光ディスク装置内に保有しこれを利用することも好適で
ある。
ズ群１６を用いてトップレンズ１６ａを移動させる方法
について第１及び第２の実施形態において説明した。し
かし、第３の実施形態は球面収差を補正するにあたっ
て、外部からの信号により屈折力を変化させることが可
能な光学素子を用いる方法である。この光学素子とは例
えば液晶素子のようなものである。この場合に、第２の
実施形態のように光透過層の厚みの情報を用いないでＡ
ＰＣ回路のゲインを制御する場合は、球面収差を補正す
るために液晶に印加した電圧ｖに応じてＡＰＣ回路のゲ
インＸを制御すればよい。即ち、Ｆ３（ｖ）をｖの関数
とすると、 Ｘ＝Ｆ３（ｖ） と表すことができる。この場合も第１、第２の実施形態
と同様に関数Ｆ３（ｖ）を求めなくても、液晶に印加す
る電圧ｖと、対物レンズから出射する光強度が所望の値
となるＡＰＣ回路のゲインＸとを対応付けたテーブルを
光ディスク装置内に保有しこれを利用することも好適で
ある。
【００４１】図４は液晶素子４１をリレーレンズ群１６
の代わりに利用した例を示しており、液晶素子の屈折率
制御部４２により屈折率を制御することで、同様に例え
ば光透過層の厚さに応じて、球面収差を補正することが
できる。ここにおいて、第２の実施形態と同様に球面収
差を補正するために必ずしも光透過層の厚さを検出する
必要はなく、例えばジッタ値やビット誤り率から生成さ
れる制御信号を用いて球面収差を補正してもよい。
の代わりに利用した例を示しており、液晶素子の屈折率
制御部４２により屈折率を制御することで、同様に例え
ば光透過層の厚さに応じて、球面収差を補正することが
できる。ここにおいて、第２の実施形態と同様に球面収
差を補正するために必ずしも光透過層の厚さを検出する
必要はなく、例えばジッタ値やビット誤り率から生成さ
れる制御信号を用いて球面収差を補正してもよい。
【００４２】＜光ディスク装置の構成＞次に上述した第
１乃至第３実施形態が示す光学ヘッドを用いた光ディス
ク装置の全体の構成を以下に図面を用いて説明する。図
６は本発明に係る光ディスク装置の全体の概略構成を示
すブロック図である。
１乃至第３実施形態が示す光学ヘッドを用いた光ディス
ク装置の全体の構成を以下に図面を用いて説明する。図
６は本発明に係る光ディスク装置の全体の概略構成を示
すブロック図である。
【００４３】図６において、システム制御部１３０はＲ
ＡＭ１２１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ１２０に
記録されたプログラムに従って所定の動作を行う。上述
した本発明に係る光学ヘッドである光ピックアップ１０
１から出力された光は、光ディスクＤに照射される。光
ディスクＤからの反射光は、ヘッドアンプ１０２で電気
信号に変えられる。この電気信号は、信号処理部１０３
に入力される。信号処理部１０３には、ＲＦアンプなど
が含まれる。
ＡＭ１２１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ１２０に
記録されたプログラムに従って所定の動作を行う。上述
した本発明に係る光学ヘッドである光ピックアップ１０
１から出力された光は、光ディスクＤに照射される。光
ディスクＤからの反射光は、ヘッドアンプ１０２で電気
信号に変えられる。この電気信号は、信号処理部１０３
に入力される。信号処理部１０３には、ＲＦアンプなど
が含まれる。
【００４４】又サーボ制御系各処理回路１０４には、上
述したコントローラ２６、ＬＤ光源２１を駆動するため
のＬＤ駆動回路２７、ＡＰＣ回路２８、球面収差に伴う
光量変化の制御回路２９等が含まれており、上述したよ
うに球面収差の補正に伴うレーザ光の強度調整を行う。
述したコントローラ２６、ＬＤ光源２１を駆動するため
のＬＤ駆動回路２７、ＡＰＣ回路２８、球面収差に伴う
光量変化の制御回路２９等が含まれており、上述したよ
うに球面収差の補正に伴うレーザ光の強度調整を行う。
【００４５】この動作に併せて、ウォブル信号も検出さ
れ、ライトチャネルＰＬＬ回路１０６にて書込みクロッ
クが生成される。このＰＬＬ回路１０６で生成されるク
ロックは、読出し時はリードチャンネルＰＬＬ回路１０
７で生成される読出しクロックのロック動作を速やかに
行う為に利用されることもある。ＰＬＬ回路１０７から
のクロックは、読取りバッファ１０８に供給される。
れ、ライトチャネルＰＬＬ回路１０６にて書込みクロッ
クが生成される。このＰＬＬ回路１０６で生成されるク
ロックは、読出し時はリードチャンネルＰＬＬ回路１０
７で生成される読出しクロックのロック動作を速やかに
行う為に利用されることもある。ＰＬＬ回路１０７から
のクロックは、読取りバッファ１０８に供給される。
【００４６】データ書込み動作時は、データ処理部１１
１がライトチャンネル回路１０６で作られた書込みクロ
ックを用いて、インターフェース１１２を通して送られ
てくるデータに誤り検出符号（ＥＤＣ）やＩＤを付加
し、サーボ安定の為のデータスクランブル処理を施し、
更に誤り訂正符号（ＥＣＣ）を付加し、同期信号を付加
すると併せて、同期信号以外を変調し、書込みパワー制
御部１１３に送って、対応メディアに最適なライトスト
ラテジーによって、レーザダイオード駆動回路１１４を
通して、メディアに信号を書き込む。
１がライトチャンネル回路１０６で作られた書込みクロ
ックを用いて、インターフェース１１２を通して送られ
てくるデータに誤り検出符号（ＥＤＣ）やＩＤを付加
し、サーボ安定の為のデータスクランブル処理を施し、
更に誤り訂正符号（ＥＣＣ）を付加し、同期信号を付加
すると併せて、同期信号以外を変調し、書込みパワー制
御部１１３に送って、対応メディアに最適なライトスト
ラテジーによって、レーザダイオード駆動回路１１４を
通して、メディアに信号を書き込む。
【００４７】読出し時は、光ピックアップ１０１のヘッ
ドアンプ１０２から読出されたＲＦ信号は、最適イコラ
イザを通して、読取りバッファ１０８とＰＬＬ回路１０
７に送られる。ＰＬＬ回路１０７で作られた読出しクロ
ックで、読取りバッファ１０８にチャンネルデータが読
み取られる。読み取られたデータは、データ処理部１１
１で、同期化されシンボルデータが読出される。その後
誤り訂正やデスクランブル処理が行われ、インターフェ
ース１１２を通して外部に転送される。
ドアンプ１０２から読出されたＲＦ信号は、最適イコラ
イザを通して、読取りバッファ１０８とＰＬＬ回路１０
７に送られる。ＰＬＬ回路１０７で作られた読出しクロ
ックで、読取りバッファ１０８にチャンネルデータが読
み取られる。読み取られたデータは、データ処理部１１
１で、同期化されシンボルデータが読出される。その後
誤り訂正やデスクランブル処理が行われ、インターフェ
ース１１２を通して外部に転送される。
【００４８】このように本発明の光ディスク装置及び光
ディスク処理方法においては、球面収差の補正量または
光透過層の厚さに対応させて、球面収差の補正にも関わ
らず対物レンズに入射する光の光強度を一定に保持する
ものである。従って、光ディスクの光透過層の厚さ誤差
を有する光ディスクに対しても、安定した動作により再
生処理及び記録処理を施すことが可能な光ディスク装置
及び光ディスクの処理方法を提供するものである。
ディスク処理方法においては、球面収差の補正量または
光透過層の厚さに対応させて、球面収差の補正にも関わ
らず対物レンズに入射する光の光強度を一定に保持する
ものである。従って、光ディスクの光透過層の厚さ誤差
を有する光ディスクに対しても、安定した動作により再
生処理及び記録処理を施すことが可能な光ディスク装置
及び光ディスクの処理方法を提供するものである。
【００４９】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、光
透過層の厚さ誤差を有する光ディスクに対しても、球面
収差の補正を行う一方、この補正により不本意に変化し
たレーザ光の強度も適宜補正することにより、安定した
動作で再生処理及び記録処理を行うことができる光ディ
スク装置及び光ディスク処理方法を提供することができ
る。
透過層の厚さ誤差を有する光ディスクに対しても、球面
収差の補正を行う一方、この補正により不本意に変化し
たレーザ光の強度も適宜補正することにより、安定した
動作で再生処理及び記録処理を行うことができる光ディ
スク装置及び光ディスク処理方法を提供することができ
る。
【図１】本発明の第１及び第２の実施形態に係る光ディ
スク装置の一例を示す説明図。
スク装置の一例を示す説明図。
【図２】光ディスク装置にて光透過層の厚さ誤差により
球面収差が生じた場合のリレーレンズ群の位置と光束を
示す説明図。
球面収差が生じた場合のリレーレンズ群の位置と光束を
示す説明図。
【図３】本発明の第１及び第２の実施形態に係る光ディ
スク装置に備えられる光透過層の厚さを検出する独立し
た光学系の一例を示す説明図。
スク装置に備えられる光透過層の厚さを検出する独立し
た光学系の一例を示す説明図。
【図４】第３の実施形態に係る光ディスク装置の一例を
示す説明図。
示す説明図。
【図５】本発明の第１実施形態における光透過層の厚さ
の検出方法について示す説明図。
の検出方法について示す説明図。
【図６】本発明の光ディスク装置を用いる光ディスク記
録再生装置の一例を示すブロック図。
録再生装置の一例を示すブロック図。
１０…光ピックアップヘッド、Ｄ…光ディスク、１１ａ
…光ディスクの情報記録面、１１ｂ…光ディスク表面、
１２…スピンドルモータ、１３…対物レンズ群、１３ａ
…対物レンズ群用第１のレンズ、１３ｂ…対物レンズ群
用第２のレンズ、１４…対物レンズアクチュエータ、１
５…λ／４波長板、１６…リレーレンズ群、１６ａ…ト
ップレンズ、１６ｂ…ボトムレンズ、１７…リレーレン
ズ移動手段、１８…ＰＢＳ、１９…情報再生用光学系、
２０…情報再生用光検出器、２１…ＬＤ光源、２２…Ａ
ＰＣ用ＰＢＳ、２３…ＡＰＣ用光学系、２４…ＡＰＣ用
光検出器、２５…コリメータレンズ、２６…コントロー
ラ、２７…ＬＤ駆動回路、２８…ＡＰＣ回路、２９…対
物レンズ群制御部、３０…リレーレンズ群制御部。
…光ディスクの情報記録面、１１ｂ…光ディスク表面、
１２…スピンドルモータ、１３…対物レンズ群、１３ａ
…対物レンズ群用第１のレンズ、１３ｂ…対物レンズ群
用第２のレンズ、１４…対物レンズアクチュエータ、１
５…λ／４波長板、１６…リレーレンズ群、１６ａ…ト
ップレンズ、１６ｂ…ボトムレンズ、１７…リレーレン
ズ移動手段、１８…ＰＢＳ、１９…情報再生用光学系、
２０…情報再生用光検出器、２１…ＬＤ光源、２２…Ａ
ＰＣ用ＰＢＳ、２３…ＡＰＣ用光学系、２４…ＡＰＣ用
光検出器、２５…コリメータレンズ、２６…コントロー
ラ、２７…ＬＤ駆動回路、２８…ＡＰＣ回路、２９…対
物レンズ群制御部、３０…リレーレンズ群制御部。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 桑原 真帆
神奈川県川崎市幸区柳町70番地 株式会社
東芝柳町事業所内
(72)発明者 丸山 純孝
神奈川県川崎市幸区柳町70番地 株式会社
東芝柳町事業所内
Ｆターム(参考） 5D090 AA01 CC04 CC16 CC18 EE13
FF41 HH01 JJ11 KK03 LL08
5D119 AA11 AA41 BA01 DA05 EC01
EC12 JA09
5D789 AA11 AA41 BA01 DA05 EC01
EC12 JA09
Claims (21)
- 【請求項１】 情報記録層とこれを保護する光透過層と
をもつ光ディスクの再生処理を行う光ディスク装置であ
り、 レーザ光を発光する発光手段と、 前記発光手段が発光したレーザ光を、対物レンズを用い
て前記光ディスクの前記光透過層を透過し前記情報記録
層へと集光させる集光手段と、 前記集光手段により前記光ディスクに照射されたレーザ
光の反射光を検出しこれに応じた検出信号を出力する光
検出手段と、 前記発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設け
られる光学素子であって、第１の所定信号に基づき、前
記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面
収差を解消するべく前記レーザ光を制御する球面収差補
正用制御手段と、 前記球面収差補正用制御手段の制御による光強度への影
響を解消するべく、第２の所定信号に基づき前記レーザ
光の光強度を決定し、この決定された光強度に応じてレ
ーザ光を発光するべく前記発光手段を制御する光強度制
御手段と、 前記光検出手段により検出した前記光強度制御手段の制
御により発光されたレーザ光の反射光に基づき、前記情
報記録層に格納された情報を再生する再生手段と、を具
備することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 前記光強度制御手段は、第２光検出手段
により検出された検出信号に所定ゲインを乗じて自動的
に出力値を制御するべく前記レーザ光の光強度を制御す
る自動出力制御回路（ＡＰＣ回路）を有し、前記光強度
制御手段が前記第２の所定信号に基づき前記所定ゲイン
を変化させることを特徴とする請求項１記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項３】 前記光ディスクの前記光透過層の厚さを
検出して厚さ信号を出力し、前記所定信号として前記球
面収差補正用制御手段へ供給する厚さ検出手段を具備
し、前記第１の所定信号と前記第２の所定信号とは厚さ
信号であることを特徴とする請求項１記載の光ディスク
装置。 - 【請求項４】 前記厚さ検出手段は、前記光ディスクの
前記情報記録層に格納されている光透過層の厚さに関す
る情報をレーザ光を介して再生することで、前記厚さ信
号を出力することを特徴とする請求項２記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項５】 前記第２の所定信号が前記球面収差補正
用制御手段の制御量に基づく信号であることを特徴とす
る請求項１記載の光ディスク装置。 - 【請求項６】 前記球面収差補正用制御手段は、前記発
光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けられる
光学レンズであって、前記第１の所定信号に基づき、前
記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面
収差を解消するべく前記レーザ光を制御するべく前記光
学レンズを移動し、 前記光強度制御手段は、前記球面収差補正用制御手段の
制御による光強度への影響を解消するべく、前記光学レ
ンズの移動量に応じて、前記発光手段を制御することを
特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。 - 【請求項７】 前記球面収差補正用制御手段は、前記発
光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けられる
液晶素子であって、前記第１の所定信号に基づき、前記
光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面収
差を解消するため前記レーザ光を制御するべく前記液晶
素子を制御し、 前記光強度制御手段は、前記球面収差補正用制御手段の
制御による光強度への影響を解消するべく、前記液晶素
子の制御量に応じて、前記発光手段を制御することを特
徴とする請求項５記載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 情報記録層とこれを保護する光透過層と
をもつ光ディスクに対して情報の記録処理を行う光ディ
スク装置であり、 レーザ光を発光する発光手段と、 前記発光手段が発光したレーザ光を、対物レンズを用い
て前記光ディスクの前記光透過層を透過し前記情報記録
層へと集光させる集光手段と、 前記集光手段により前記光ディスクに照射されたレーザ
光の反射光を検出しこれに応じた検出信号を出力する光
検出手段と、 前記発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設け
られる光学素子であって、第１の所定信号に基づき、前
記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面
収差を解消するべく前記レーザ光を制御する球面収差補
正用制御手段と、 前記球面収差補正用制御手段の制御による光強度への影
響を解消するべく、第２の所定信号に基づき前記レーザ
光の光強度を決定し、この決定された光強度に応じてレ
ーザ光を発光するべく前記発光手段を制御する光強度制
御手段と、 前記光検出手段により検出した前記制御手段の制御によ
り発光されたレーザ光の反射光に基づき、前記情報記録
層に対して所望の情報を記録する記録手段と、を具備す
ることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項９】 前記光強度制御手段は、第２光検出手段
により検出された検出信号に所定ゲインを乗じて自動的
に出力値を制御するべく前記レーザ光の光強度を制御す
る自動出力制御回路（ＡＰＣ回路）を有し、前記光強度
制御手段が前記第２の所定信号に基づき前記所定ゲイン
を変化させることを特徴とする請求項８記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項１０】 前記光ディスクの前記光透過層の厚さ
を検出して厚さ信号を出力し、前記所定信号として前記
球面収差補正用制御手段へ供給する厚さ検出手段を具備
し、前記第１の所定信号と前記第２の所定信号とは厚さ
信号であることを特徴とする請求項８記載の光ディスク
装置。 - 【請求項１１】 前記厚さ検出手段は、前記光ディスク
の前記情報記録層に格納されている光透過層の厚さに関
する情報をレーザ光を介して再生することで、前記厚さ
信号を出力することを特徴とする請求項１０記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項１２】 前記第２の所定信号が前記球面収差補
正用制御手段の制御量に基づく信号であることを特徴と
する請求項８記載の光ディスク装置。 - 【請求項１３】 前記球面収差補正用制御手段は、前記
発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けられ
る光学レンズであって、前記第１の所定信号に基づき、
前記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球
面収差を解消するため前記レーザ光を制御するべく前記
光学レンズを移動し、 前記光強度制御手段は、前記球面収差補正用制御手段の
制御による光強度への影響を解消するべく、前記光学レ
ンズの移動量に応じて、前記発光手段を制御することを
特徴とする請求項１２記載の光ディスク装置。 - 【請求項１４】 前記球面収差補正用制御手段は、前記
発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けられ
る液晶素子であって、前記第１の所定信号に基づき、前
記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面
収差を解消するため前記レーザ光を制御するべく前記液
晶素子を制御し、 前記光強度制御手段は、前記球面収差補正用制御手段の
制御による光強度への影響を解消するべく、前記液晶素
子の制御量に応じて、前記発光手段を制御することを特
徴とする請求項１２記載の光ディスク装置。 - 【請求項１５】 情報記録層とこれを保護する光透過層
とをもつ光ディスクを扱う光ディスク処理方法であり、
レーザ光を発光する発光手段と、前記発光手段が発光し
たレーザ光を、対物レンズを用いて前記光ディスクの前
記光透過層を透過し前記情報記録層へと集光させる集光
手段と、前記集光手段により前記光ディスクに照射され
たレーザ光の反射光を検出しこれに応じた検出信号を出
力する光検出手段とを有する光ディスク装置において、 前記発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設け
られる光学素子を用いて、第１の所定信号に基づき、前
記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面
収差を解消するべく前記レーザ光を制御する球面収差補
正用制御工程と、 前記球面収差補正用制御工程での制御による光強度への
影響を解消するべく、第２の所定信号に基づき前記レー
ザ光の光強度を決定し、この決定された光強度に応じて
レーザ光を発光するべく前記発光手段を制御する光強度
制御工程と、を具備することを特徴とする光ディスク処
理方法。 - 【請求項１６】 前記光強度制御工程は、第２光検出素
子により検出された検出信号に所定ゲインを乗じて自動
的に出力値を制御するべく前記レーザ光の光強度を制御
する自動出力制御回路（ＡＰＣ回路）を用いて行われ、
前記第２の所定信号に基づき前記所定ゲインを変化させ
ることを特徴とする請求項１５記載の光ディスク処理方
法。 - 【請求項１７】 前記光ディスクの前記光透過層の厚さ
を検出する厚さ検出素子を用いて厚さ信号を出力し、こ
れを前記球面収差補正用制御工程へ供給する工程を具備
し、前記第１の所定信号と前記第２の所定信号とは厚さ
信号であることを特徴とする請求項１５記載の光ディス
ク処理方法。 - 【請求項１８】 前記厚さ検出素子は、前記光ディスク
の前記情報記録層に格納されている光透過層の厚さに関
する情報をレーザ光を介して再生することで、前記厚さ
信号を出力することを特徴とする請求項１７記載の光デ
ィスク処理方法。 - 【請求項１９】 前記光強度制御工程での前記第２の所
定信号が前記球面収差補正用制御手段の制御量に基づく
信号であることを特徴とする請求項１５記載の光ディス
ク処理方法。 - 【請求項２０】 前記球面収差補正用制御工程は、前記
発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けられ
る光学レンズを用いて、前記第１の所定信号に基づき、
前記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球
面収差を解消するため前記レーザ光を制御するべく前記
光学レンズを移動し、 前記光強度制御工程は、前記球面収差補正用制御工程で
の制御による光強度への影響を解消するべく、前記光学
レンズの移動量に応じて、前記発光手段を制御すること
を特徴とする請求項１９記載の光ディスク処理方法。 - 【請求項２１】 前記球面収差補正用制御工程は、前記
発光手段と集光手段とのレーザ光の光路途中に設けられ
る液晶素子を用いて、前記第１の所定信号に基づき、前
記光ディスクの情報記録層でのビームに生じている球面
収差を解消するため前記レーザ光を制御するべく前記液
晶素子を制御し、 前記光強度制御工程は、前記球面収差補正用制御工程の
制御による光強度への影響を解消するべく、前記液晶素
子の制御量に応じて、前記発光手段を制御することを特
徴とする請求項１９記載の光ディスク処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001298299A JP2003109239A (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 光ディスク装置及び光ディスク処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001298299A JP2003109239A (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 光ディスク装置及び光ディスク処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003109239A true JP2003109239A (ja) | 2003-04-11 |
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ID=19119216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001298299A Pending JP2003109239A (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 光ディスク装置及び光ディスク処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003109239A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
2001
- 2001-09-27 JP JP2001298299A patent/JP2003109239A/ja active Pending
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