KR20040079506A - 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법 - Google Patents

화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20040079506A
KR20040079506A KR1020030014381A KR20030014381A KR20040079506A KR 20040079506 A KR20040079506 A KR 20040079506A KR 1020030014381 A KR1020030014381 A KR 1020030014381A KR 20030014381 A KR20030014381 A KR 20030014381A KR 20040079506 A KR20040079506 A KR 20040079506A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
semiconductor layer
light emitting
layer
emitting device
manufacturing
Prior art date
Application number
KR1020030014381A
Other languages
English (en)
Inventor
서정훈
Original Assignee
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR1020030014381A priority Critical patent/KR20040079506A/ko
Priority to US10/791,813 priority patent/US20040229390A1/en
Priority to JP2004064025A priority patent/JP2004274061A/ja
Priority to CNA2004100064495A priority patent/CN1527413A/zh
Publication of KR20040079506A publication Critical patent/KR20040079506A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system containing nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/324Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
    • H01L21/3245Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering of AIIIBV compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0095Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination

Abstract

본 발명은 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법에 관한 것으로서, O2농도가 높은 분위기일수록 p-GaN과 같이 p형으로 도핑된 반도체층의 활성화가 더 잘 이루어진다는 알려진 사실을 이용해, 산소 플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키도록 함으로써, 종래와 같이, 고온에서 활성화 공정을 수행하는 것보다 상대적으로 낮은 온도에서도 활성화 공정이 가능하기 때문에 불필요한 열적 에너지 낭비를 줄이고, 또한 p-반도체층의 활성화가 더 잘 이루어지기 때문에 소자의 수명이나 발광 효율 등을 증대시킬 수 있게 된다.

Description

화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법{Method for manufacturing of light emitting device with composed chemical semiconductor}
본 발명은 O2농도가 높은 분위기일수록 p-GaN과 같이 p형으로 도핑된 반도체층의 활성화가 더 잘 이루어진다는 알려진 사실을 이용해, 산소 플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키도록 함으로써, 종래와 비교해 상대적으로 낮은 온도에서 열처리를 하여 소자의 수명이나 발광 효율 등을 증대시키도록 하는 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법에 관한 것이다.
일반적으로 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체는 직접 천이형으로 발광 효율이 높고, In농도 조절을 통해 적색부터 보라색, 자외선 영역까지의 발광 파장을 형성할 수 있어, 발광 다이오드 소자, 레이저 다이오드 소자 등의 발광 소자나 태양 전지, 광 센서 등의 수광 소자, 또는 트랜지스터, 파워 디바이스 등의 전자 디바이스 등에 널리 사용되고 있다.
이러한 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체의 제조 방법으로는 MBE(Molecular Beam Epitaxy)법, MOVPE(Metal Organic Vapor Phase Epitaxy)법, HVPE(Hydride Vapor Phase Epitaxy)법 등이 이용되어 왔다.
특히, MOVPE는 대면적에 균일한 고품질의 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체 성장을 얻을 수 있어 화합물 반도체 제조 방법으로 널리 사용되고 있는데, 도 1은 이러한 MOVPE을 이용해 제조된 일반적인 화합물 반도체의 발광 소자가 도시된 도면이다.
이에 도시된 바와 같이, 통상의 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체의 발광 소자는, 사파이어 기판(10) 상부에 n형으로 도핑된 질화갈륨층(이하 "n-GaN층으로 약칭함)(11), 활성층(12), p형으로 도핑된 질화갈륨층(이하 "p-GaN층"으로 약칭함)(13)이 순차적으로 형성되어 있으며, n-GaN층(11)의 일부가 노출되고 그 상부에 n-패드 전극(15)이 형성되어 있으며, p-GaN층(13) 상부에는 전류확산용 투명전극(14)과 p-패드 전극(16)이 순차적으로 형성되어 있다.
이렇게 형성되는 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체 발광 소자에서, 특히 p-GaN층을 높은 홀 농도(high hole concentration)를 가지도록 형성해야 하는데, 이를 위해 기존에는 주로 질소 또는 산소 분위기에서 고온의 열처리를 수행해 왔다.
즉, 마그네슘으로 p형 도핑된 p-GaN층을 예로 들면, MOCVD법을 이용해 p-GaN층을 형성할 경우, 마그네슘(Mg) 억셉터(accepter)가 활성화되지 못하고 수소와 결합하여 Mg-H의 중성 복합체를 형성하여 높은 저항을 가지게 되는데 이를 방지하기 위해 고온의 열처리를 통해서 Mg-H의 결합을 끊어 Mg와 결합되는 수소를 외부로 빠져 나오게 하여 왔다.
하지만, 이렇게 고온으로 열처리를 하게 되면, 많은 열적 에너지가 필요할 뿐만 아니라, 고온으로 인한 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체의 변질이나 결함 등을 발생시켜 해당 발광 소자의 수명을 줄어들게 하거나 발광 효율을 저하시키는 등의 여러 문제점들이 초래된다.
이에 본 발명은 상기한 문제점을 해소시키기 위하여 개발된 것으로, O2농도가 높은 분위기일수록 p-GaN과 같이 p형으로 도핑된 반도체층의 활성화가 더 잘 이루어진다는 사실을 이용해, 종래와 비교해 상대적으로 낮은 온도에서 열처리를 할 수 있는 산소 플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키도록 함으로써, 소자의 수명이나 발광 효율 등을 증대시킬 수 있도록 한 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
이를 위해 본 발명은, 이종 기판 상부에 n-반도체층, 활성층, p-반도체층을순차적으로 형성하는 단계;
상기 p-반도체층부터 n-반도체층의 일부까지 수직 방향으로 메사(mesa) 식각하여 n-반도체층의 일부를 노출시키는 단계;
상기 p-반도체층 상면에 전류확산용 투명전극을 형성하고, 산소 플라즈마 분위기에서 p-반도체층을 활성화(activation)시키는 단계;
상기 노출된 n-반도체층과 전류확산용 투명 전극 상부에 각기 n-패드 전극과 p-패드 전극을 형성하는 단계를 통해 화합물 반도체 발광 소자를 제조하도록 한다.
그리고, 상기 이종 기판은 사파이어 기판으로 하는 것을 특징으로 하고, 상기 p-반도체층 또는 n-반도체층은 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체층으로 하되, 특히, GaN층으로 하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 일반적인 화합물 반도체 발광 소자를 도시한 도면,
도 2a 내지 도 2e는 본 발명에 따른 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법의 바람직한 실시예를 도시한 공정 순서도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
20 : 사파이어 기판 21 : n-GaN층
22 : 활성층 23 : p-GaN층
24 : 투명전극 25 : n-패드 전극
26 : p-패드 전극
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 살펴보면 다음과 같다.
먼저, 본 발명에 따른 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법은, MOVPE 성장법을 이용해 이종 기판 상부에 n형 화합물 반도체층(이하 "n-반도체층"으로 약칭함), 활성층, p형 화합물 반도체층(이하 "p-반도체층"으로 약칭함)을 순차적으로 에피(epi) 성장시킨다.
다음, p-반도체층으로부터 n-반도체층의 일부까지 수직 방향으로 메사(mesa) 식각하여 n-반도체층의 일부를 노출시킨다.
그리고 나서, 상기 p-반도체층 상면에 금속성 물질로 이루어진 전류확산용 투명전극을 형성하고, p-반도체층과 전류 확산용 투명 전극간의 오믹 접촉과 동시에 p-반도체층의 활성화(activation)를 위한 열처리 공정을 수행한다.
이 때, 본 발명에서는 O2농도가 높은 분위기일수록 p-반도체층의 활성화가 더 잘 이루어진다는 알려진 사실을 이용해, 종래와 같이 p-반도체층을 질소 분자 상태의 분위기, 또는 산소 분자 상태의 분위기에서 활성화시키는 것 대신에 이온 상태의 산소 플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키도록 한다.
즉, 종래와 같이, 질소 분자 상태의 분위기, 또는 산소 분자 상태의 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키게 되면, 질소 분자 상태의 분위기하에서는 p-반도체층을 성장시킬 때 사용된 물질로부터 이탈되어 잔존하게 되는 H2가 그 분자 상태로 빠져나가게 된다.
그리고, 산소 분자 상태의 분위기하에서는 산소 분자가 산소 이온으로 분리되고 수소 이온과 결합하여 H2O의 형태로 쉽게 빠져나가는 대신 약 600℃ 정도의 고온으로 열처리를 해야 하기 때문에 많은 에너지가 필요하다.
따라서, 저온에서도 산소 이온으로 그 상태를 유지할 수 있으면 H2O의 형태로 쉽게 외부로 빠져나갈수 있을 뿐만 아니라, 불필요한 에너지 낭비도 방지할 수 있다.
그래서, 본 발명에서와 같이, O2플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키게 되면, 종래와 같이, 고온에서 활성화 공정을 수행하는 것보다 상대적으로 p-반도체층의 활성화가 더 잘 이루어질 뿐만 아니라, 낮은 온도에서도 활성화 공정이 가능하기 때문에 불필요한 열적 에너지 낭비를 줄일 수 있게 된다.
한편, 열처리 공정을 통해 p-반도체층의 활성화가 이루어지고 나면, 와이어 본딩을 위해 노출된 n-반도체층 상부에 n-패드 전극을 형성하고, 전류확산용 투명 전극 상부에 p-패드 전극을 형성하여 본 발명을 종료한다.
이와 같이, 종래와 비교해 상대적으로 낮은 온도에서 열처리를 할 수 있는 산소 플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시킴으로써, 발광 소자의 수명이나 그 발광 효율 등을 증대시킬 수 있게 된다.
이하, 첨부된 도 2a 내지 도 2e를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.
< 실시예>
상기 도 2a 내지 도 2e는 본 발명의 실시예를 공정 순서에 따라 도시한 도면이다.
그리고, 실시예에서는 반도체층을 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체층으로 하여 설명하는데 특히, n-반도체층을 "n-GaN", p-반도체층을 "p-GaN"으로 하며, 이종 기판은 사파이어 기판으로 하여 설명한다.
먼저, 본 발명의 실시예는, 도 2a에 도시된 바와 같이, MOVPE 성장법으로 사파이어 기판(20) 상부에 n-GaN층(21), 활성층(22), p-GaN층(23)을 순차적으로 에피 성장시킨다(도 2a).
이어 p-GaN층(21)으로부터 n-GaN층(23)의 일부까지 메사(mesa) 식각 공정을 수행하여 n-GaN층(21)의 일부를 노출시킨 다음(도 2b), p-GaN층(23) 상면에 금속성 물질로 이루어진 광투과성, 오믹 전극인 전류확산용 투명전극(24)을 형성한다(도2c).
그리고, p-GaN층(23)과 전류 확산용 투명 전극(24)간의 오믹 접촉과 동시에 p-GaN층(23)의 활성화를 위한 열처리 공정을 수행한다.
이 때, p-GaN층에 포함된 p형 도우즈의 억셉터(accepter) 예컨대, 마그네슘(Mg) 억셉터가 수소와 결합하여 높은 저항을 나타내게 되는데, 이러한 결합을 끊을 수 있게 하기 위하여 본 발명에서는 산소 플라즈마 분위기 하에서 열처리 공정을 수행한다.
그 결과, 통상적인 열처리 온도인 600℃ 보다 상대적으로 낮은 온도에서 열처리 공정의 수행이 가능하고, 억셉터와의 결합으로부터 이탈된 수소는 산소와 결합되어 H20형태로 외부로 쉽게 빠져 나갈 수 있게 된다.
전술한 열처리 공정이 완료되면, 마지막으로, 와이어 본딩을 위해 상기 노출된 n-GaN층(21) 상부에 n-패드 전극(25)을 형성하고(도 2d), 전류확산용 투명 전극(24) 상부에 p-패드 전극(26)을 형성하여 본 발명을 종료한다(도 2e).
이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명의 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법은, O2농도가 높은 분위기일수록 p-GaN과 같이 p형으로 도핑된 반도체층의 활성화가 더 잘 이루어진다는 알려진 사실을 이용해, 산소 플라즈마 분위기 하에서 p-반도체층을 활성화시키도록 함으로써, 종래와 같이, 고온에서 활성화 공정을 수행하는 것보다 상대적으로 낮은 온도에서도 활성화 공정이 가능하기 때문에불필요한 열적 에너지 낭비를 줄일 수 있고, 또한 p-반도체층의 활성화가 더 잘 이루어지기 때문에 소자의 수명이나 발광 효율 등을 증대시킬 수 있는 등의 효과가 있다.
본 발명은 기재된 구체적인 예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.

Claims (3)

  1. 이종 기판 상부에 n-반도체층, 활성층, p-반도체층을 순차적으로 형성하는 단계;
    상기 p-반도체층부터 n-반도체층의 일부까지 수직 방향으로 메사(mesa) 식각하여 n-반도체층의 일부를 노출시키는 단계;
    상기 p-반도체층 상면에 전류확산용 투명전극을 형성하고, 산소 플라즈마 분위기에서 p-반도체층을 활성화(activation)시키는 단계;
    상기 노출된 n-반도체층과 전류확산용 투명 전극 상부에 각기 n-패드 전극과 p-패드 전극을 형성하는 단계로 이루어지는, 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 이종 기판은;
    사파이어 기판인 것을 특징으로 하는, 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 p-반도체층 또는 n-반도체층은;
    Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체층인 것을 특징으로 하는, 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법.
KR1020030014381A 2003-03-07 2003-03-07 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법 KR20040079506A (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030014381A KR20040079506A (ko) 2003-03-07 2003-03-07 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법
US10/791,813 US20040229390A1 (en) 2003-03-07 2004-03-04 Method for manufacturing of light emitting device with composed chemical semiconductor
JP2004064025A JP2004274061A (ja) 2003-03-07 2004-03-08 化合物半導体発光素子の製造方法
CNA2004100064495A CN1527413A (zh) 2003-03-07 2004-03-08 一种用化合物半导体制造光发射装置的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030014381A KR20040079506A (ko) 2003-03-07 2003-03-07 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20040079506A true KR20040079506A (ko) 2004-09-16

Family

ID=33128916

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030014381A KR20040079506A (ko) 2003-03-07 2003-03-07 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20040229390A1 (ko)
JP (1) JP2004274061A (ko)
KR (1) KR20040079506A (ko)
CN (1) CN1527413A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100647017B1 (ko) * 2005-09-26 2006-11-23 삼성전기주식회사 질화물계 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR100661614B1 (ko) * 2005-10-07 2006-12-26 삼성전기주식회사 질화물계 반도체 발광소자 및 그 제조방법

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4379208B2 (ja) * 2004-06-03 2009-12-09 三菱電機株式会社 窒化物半導体装置の製造方法
KR100657909B1 (ko) * 2004-11-08 2006-12-14 삼성전기주식회사 화합물 반도체 소자의 전극 형성방법
JP5232970B2 (ja) * 2006-04-13 2013-07-10 豊田合成株式会社 半導体発光素子の製造方法及び半導体発光素子とそれを備えたランプ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2663704B2 (ja) * 1990-10-30 1997-10-15 日本電気株式会社 Al合金の腐食防止法
JPH11220168A (ja) * 1998-02-02 1999-08-10 Toyoda Gosei Co Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体素子及びその製造方法
JP3723374B2 (ja) * 1999-03-19 2005-12-07 ローム株式会社 半導体発光素子の製法
JP2001111076A (ja) * 1999-10-08 2001-04-20 Tdk Corp コーティング体および太陽電池モジュール
JP3665243B2 (ja) * 1999-11-19 2005-06-29 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体素子及びその製造方法
US6649942B2 (en) * 2001-05-23 2003-11-18 Sanyo Electric Co., Ltd. Nitride-based semiconductor light-emitting device
JP3622200B2 (ja) * 2001-07-02 2005-02-23 ソニー株式会社 窒化物半導体の製造方法および半導体素子の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100647017B1 (ko) * 2005-09-26 2006-11-23 삼성전기주식회사 질화물계 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR100661614B1 (ko) * 2005-10-07 2006-12-26 삼성전기주식회사 질화물계 반도체 발광소자 및 그 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
US20040229390A1 (en) 2004-11-18
CN1527413A (zh) 2004-09-08
JP2004274061A (ja) 2004-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4135550B2 (ja) 半導体発光デバイス
KR100541102B1 (ko) 오믹 접촉을 개선한 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법
US6720570B2 (en) Gallium nitride-based semiconductor light emitting device
JP4341702B2 (ja) Iii族窒化物系半導体発光素子
US20100314605A1 (en) Vertical deep ultraviolet light emitting diodes
KR100649496B1 (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법
JP2003031845A (ja) 低抵抗率p型窒化ガリウムの形成
KR20050093319A (ko) 발광효율이 개선된 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법
JP3720341B2 (ja) 半導体発光素子
KR100742988B1 (ko) p형 질화갈륨계 디바이스 제조방법
WO2002023640A1 (en) Nitride compound semiconductor light emitting device having a tunnel junction structure and fabrication method thereof
KR100616516B1 (ko) 질화갈륨계 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR20050096665A (ko) 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
Chang et al. High brightness InGaN green LEDs with an ITO on n/sup++/-SPS upper contact
KR20040079506A (ko) 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법
JP2001156003A (ja) P型窒化ガリウム系半導体の製造方法及びp型窒化ガリウム系半導体を用いた発光素子
US7713770B2 (en) Fabrication method of nitride semiconductor light emitting device and nitride semiconductor light emitting device thereby
JP2002353503A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
KR20050035325A (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법
JP2000101133A (ja) 発光素子用エピタキシャルウェハ及びその製造方法
JP2000286412A (ja) 半導体素子構造およびその製造方法
CN110168752B (zh) 用于在紫外照射下生长发光器件的方法
JP4137223B2 (ja) 化合物半導体の製造方法
KR20030066957A (ko) Ⅲ-ⅴ족 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법
KR100646571B1 (ko) 고효율 발광소자 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application