KR20040045172A - 스캔 장치용 영상 캡춰 방법 - Google Patents

스캔 장치용 영상 캡춰 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20040045172A
KR20040045172A KR1020020073211A KR20020073211A KR20040045172A KR 20040045172 A KR20040045172 A KR 20040045172A KR 1020020073211 A KR1020020073211 A KR 1020020073211A KR 20020073211 A KR20020073211 A KR 20020073211A KR 20040045172 A KR20040045172 A KR 20040045172A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
test object
testing
overlap
image capture
Prior art date
Application number
KR1020020073211A
Other languages
English (en)
Inventor
후앙리앙윈
후앙치아하오
Original Assignee
갈란트 프리시젼 머시닝 캄파니, 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 갈란트 프리시젼 머시닝 캄파니, 리미티드 filed Critical 갈란트 프리시젼 머시닝 캄파니, 리미티드
Priority to KR1020020073211A priority Critical patent/KR20040045172A/ko
Publication of KR20040045172A publication Critical patent/KR20040045172A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00—Image enhancement or restoration
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

스캔 장치용 영상 캡춰 방법은 동영상을 취하기 위한 적어도 하나의 영상 캡춰 장치를 제공한다. 또한, 퍼지 오버랩 영상을 발생시키기 위해 연속적인 간접 노출을 통해 주기적 특성을 갖는 테스트 객체에 대해 오버랩 영상들이 취해진다. 마지막으로, 상기 오버랩 영상의 상대적 차이는 상기 테스트 객체의 품질을 신속히 결정하는데 이용된다.

Description

스캔 장치용 영상 캡춰 방법{IMAGE CAPTURING METHOD FOR SCANNING DEVICES}
본 발명은 스캔 장치용 영상 캡춰 방법에 관한 것으로, 보다 특별하게는 동영상들을 취하는 기술을 이용하여 주기적인 특성들을 갖는 테스트 객체에 연속적인 간접 노출을 행하여 텍스트 객체의 품질을 신속히 결정하는 영상 캡춰 방법에 관한 것이다.
액정 디스플레이(LCD) 패널 제조에 있어서, 디스플레이 패널에서 액정 입자들이 충진될 수 있도록 두개의 유리판 사이에 공간이 두어져야 한다. 테스트 동안, 정해진 영역에서의 입자들의 수는 표준에 맞도록 카운트되어져야 한다. 현재의 방법은 사람이 직접 전자현미경을 가지고 카운트를 행함으로써 수행된다. 이는 많은 시간을 요하며, 정확도가 떨어진다.
LCD 패널에서 미소(minute) 패드들을 카운트하는 카운트 시스템이 도입되었다. 이것의 주된 목적은 LCD 제조 공장에서 자동화를 향상시키기위해 기계적인 시각(visual) 기술을 활용하는 것이다. 이 시스템은 전하결합소자(CCD) 카메라, 영상 캡춰 시스템 및 개인용 컴퓨터(PC)를 이용하여 기계적인 시각 자동 테스트 장치를 구성한다. 이 시스템은 표면 입자들의 수를 자동으로 카운트 하여 사람이 카운트를 행하는 것보다 개선을 가져올 수 있다.
일부 회사들에서, 작업자들은 미소 패드들을 스프레이하는 초기 제조공정에서 처음의 여러개의 LCD 유리판에 대해 자신들의 눈에 의한 시각적 카운트를 수행하고, 그 결과를 이용하여 이후의 대량 생산을 위해 노즐 출력 플럭스(nozzle output flux)를 조정한다. 사실, LCD 패널에 미소 패드들을 분포시키는것은 LCD 수율에 영향을 주는 필수적인 인자(factor)이다. 결과적으로, 미소 패드 카운트 시스템은 LCD 제조공정의 품질 제어에 있어 중요한 역할을 한다.
그러나, 이질 입자들의 검출은 대개 LCD 패널에서 입자들의 영상을 취하기위해 영상 캡춰 시스템을 필요로 한다. 이는 선명한 정지 또는 동영상을 취함으로써 행해질 수 있다. 그럼에도 불구하고, 노출시간은 일반적으로 충분히 길지 않거나 또는 LCD로 부터 방출되는 광은 동영상들에 선명한 영상을 얻기에 충분히 강하지 못하다. 이들은 동영상 캡춰에 대한 제약을 구성하며, 따라서 테스트 효율을 저하시킨다. 대안으로서, 보다 우수한 테스트를 행하기위해 양호한 카운트 알고리즘을 갖는 고해상도의 감응성 영상 캡춰 시스템을 제공해야만 한다. 그러므로, 테스트되는 객체들의 품질을 짧은 시간에 결정하는데 기여할 수 있는 영상 캡춰방법을 제공하는 것이 매우 바람직하다.
본 발명의 목적은 스캔 장치용 영상 캡춰 방법을 제공하는 것이다. 어떤 규칙, 예컨대 순차 스캔 또는 라인 스캔을 통해 객체에 대한 동영상들이 취해진다. 연속적인 간접 노출로부터, 퍼지 영상을 생성하기위해 오버랩 영상이 취해진다. 오버랩 영상에서의 상대적인 차이는 테스트 객체의 품질을 신속히 결정하는데 사용된다. 이 방법은 동영상을 취할때 오버랩 노출을 피하기위해 빠른 셔토 속도를 요구하는 통념을 깨는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 오버랩 노출을 잘 이용하여, 두 노출사이의 진행거리가 객체의 특성 주기의 정수배와 같게 하여 모든 비정상적인 특징들(features)을 하이라이트 할 수 있게 하는 것이다.
본 발명은 하기의 실시예들에 대한 상세한 설명으로부터 더욱 잘 이해될 것인바, 본 발명이 하기 실시예들에만 국한되는 것은 아니다.
도 1은 화상을 위하기위해 개시된 스캔장치를 이용하는 흐름도.
도 2는 제 1 테스트 객체의 원래의 영상을 보인 도면.
도 2a는 도 2에서의 정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 2b는 도 2에서의 비정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 3은 제 1 테스트 객체의 스트라이프 영상선도.
도 3a는 도 3에서의 정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 3b는 도 3에서의 비정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 4는 제 2 테스트 객체의 원래의 영상을 보인 도면.
도 4a는 도 4에서의 정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 4b는 도 4에서의 비정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 5는 제 2 테스트 객체의 스트라이프 영상선도.
도 5a는 도 5에서의 정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
도 5b는 도 5에서의 비정상적인 열에 대한 휘도 편차를 보인 도면.
이른바, 동영상은 비-인터레이스 스캔(non-interlaced scanning) 즉, 순차 스캔(직접스캔)으로 취해진다. 이 방법은 한번에 전체 영상을 스캔한다. 영상의 비디오 신호들은 연속적으로 스크린에 기입된다. 그러므로, 이는 전체 스크린을 드로잉하기위해 수직범위로 이동하는 전자빔을 사용한다. 이 방법은 인터레이스 스캔(interlaced scanning)즉, 간접 스캔을 활용하는 통상적인 텔레비젼 또는 스캐너에서의 방법과는 다르다. 그러한 통상적인 장치들에서, 두개의 영상 스크린이 한개의 스크린을 형성하도록 오버랩된다. 인터레이스 스캔은 한번에 홀수열 및 짝수열을 스캔하며, 두개의 영상 프레임이 결합되어, 디스플레이를 위한 한개의 영상을 형성한다. 그러므로, 스크린들의 플리커(flicker)가 흔히 발생하게 된다.
개시된 스캔 장치용 영상 캡춰 방법은 선명한 영상을 얻기위해 예컨대 순차 스캔 및 라인 스캔을 행하여 동영상을 취할때 영상들의 오버랩을 피하기위해 비교적 짧은 노출시간을 요구하는 통념을 깨는 것임을 의미한다.
도 1에서, 동영상을 취하기위해 적어도 하나의 영상 캡춰 장치가 제공된다(단계 100). 이어서, 이 장치는 테스트 객체의 오버랩 영상을 취하는데 사용된다(단계110). 퍼지 오버랩 영상을 생성하기위해 연속적인 간접 노출이 수행된다(단계 120). 마지막으로, 오버랩 영상에서의 상대적인 차이를 이용하여 테스트 객체의 품질을 신속히 결정한다(단계130). 상기 퍼지 오버랩 영상은 동영상을 취할때 오버랩노출을 피하기위해 고속 셔터 속도를 이용하는 통념을 깬다. 그 이유는 동영상을 취하는것은 모두 오버랩 노출을 가지기 때문이다. 개시된 방법은 선명한 영상을 요구하는데 있어서의 제약들을 피할 수 있다. 또한, 본 발명은 비정상적인 위치들을 하이라이트 하기위해 두개의 노출간의 거리를 제어한다.
본 발명의 제 1실시예는 개시된 영상 캡춰방법의 세부사항을 설명하기위해 텍스트 객체로서 LCD 패널을 취한다. 도 2는 제 1테스트 객체의 원래 영상이다. 도시한 바와같이 원래 영상의 7번 열은 정상적인 열인데 반해 9번 열은 비정상적인 지점을 갖는다. 도 2a는 정상적인 열인 7번 열에 대한 휘도 편차를 보인것이다. 도 2b는 비정상적인 지점을 갖는 9번 열에 대한 휘도 편차를 보인 것이다.
도 3은 제 1 테스트 객체의 스트라이프 영상 선도이다. 도시된 바와같이, 도 3에서 영상의 7번 열은 정상적인 열인데 반해, 9번 열은 비정상적인 지점에 있다. 도 3a는 정상적인 열인 7번 열에 대한 휘도 편차를 보인 것이다. 개시된 방법을 이용하여, 오버랩 노출후 원래 영상의 RGB의 주기적 특성들은 진폭이 서로 상쇄되어 약해지게된다. 도 3b는 비정상적인 열인 9번 열에 대한 휘도 편차를 보인것이다. 개시된 방법을 이용하여, 비정상적인 지점의 특성 세기는 상쇄되지 않고 단지 분산되어 약간 약해지게된다. 만일 비정상적인 지점의 크기가 노출거리보다 크면, 그 세기는 비정상적인 영역의 양단에서만 약해지고 중앙 영역에서는 변화가 없다.
본 발명의 제 2실시예는 테스트 객체로서 역시 LCD패널을 취한다. 제 1실시예와는 달리, 오버랩 노출거리는 영상의 RGB 싸이클에 밀접하다. 따라서, 휘도는 더욱 동질성을 갖는데 반해 수평 스트라이프들은 매우 뚜렷해지지 않게된다. 도 2에 보인바와같이, 도 4에서의 원래 영상의 11번 열은 정상적인 열인데 반해 13번 열은 비정상적인 지점을 가지고 있다. 도 4a는 정상적인 지점을 보이는 11번 열에 대한 휘도 편차를 보인 것이다. 도 4b는 비정상적인 지점을 보이는 13번 열에 대한 휘도 편차를 보인 것이다.
도 5는 제 2테스트 객체의 스트라이프 영상 선도이다. 도시한 바와같이, 도 5에서의 영상의 11번 열은 정상적인 열인데 반해 13번 열은 비정상적인 지점을 갖는다. 도 5a는 정상적인 열을 보이는 7번 열에 대한 휘도 편차를 보인 것이다. 개시된 방법을 이용하여, 오버랩 노출후 원래 영상의 RGB의 주기적 특성들은 진폭이 서로 상쇄되어 약해지게된다. 도 5b는 비정상적인 열인 9번 열에 대한 휘도 편차를 보인 것이다. 개시된 방법을 이용하여, 비정상적인 지점의 특성 세기는 상쇄되지 않고 단지 분산되어 약간 약해지게된다.
본 명세서에서의 실시예들은 모두 테스트 객체로서 LCD 패널을 이용한다. 따라서, 개시된 방법의 실시는 LCD의 백라이트 패널이 스스로 광을 생성하기때문에 영상을 취하기 위한 외부 광원을 요하지 않는다. 그러나, 본 발명은 이들 응용들에만 국한되지 않는다. 동영상을 취하길 필요로 하는 다른 응용들에는 보안 시스템, 의료 진단 장비, 반도체 제조 장비 테스트, PCB 테스트, LEC 휘도 및 색도 테스트 및 대면적 인쇄 물질 시험들이 포함된다. 개시된 방법은 마찬가지로 퍼지 영상을 생성하기위한 연속적인 간접 노출을 행하기위해 오버랩 영상 취득 기술을 이용한다. 오버랩 영상에서의 상대적인 차이는 다시 테스트 객체의 품질을 신속히 결정하는데 이용된다.
1. 본 발명은 선명한 영상을 얻는데 있어서의 제약으로 부터 자유롭다.
2. 본 발명은 비정상적인 지점을 하이라이트하기위해 노출 거리를 제어한다.

Claims (8)

  1. 동영상을 취하는 기술을 이용하여 주기적 특성을 갖는 테스트 객체의 영상을 캡춰하기 위한 스캔 장치용 영상 캡춰 방법으로서,
    동영상을 취하기 위해 적어도 하나의 영상 캡춰 장치를 제공하는 단계와;
    테스트 객체의 오버랩 영상을 취하는 단계와;
    퍼지 오버랩 영상을 생성하기 위해 연속적인 간접 노출을 수행하는 단계와; 그리고
    상기 테스트 객체의 품질을 결정하기 위해 상기 퍼지 오버랩 영상의 상대적 차이를 이용하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    보안 시스템 모니터링, 의학적 모니터링, 반도체 생산 장비 테스트, PCB 테스트, LCD 패널 테스트, LED 휘도 및 색도 테스트 및 대면적 인쇄 물질 검사로 구성된 군으로부터 선택된 응용을 갖는 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 동영상을 취하는 기술은 순차 스캔 및 라인 스캔으로 구성되는 군으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 상대적 차이는 주기적으로 나타나지 않는 특징(feature)인 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
  5. 동영상을 취하는 적어도 하나의 영상 캡춰 장치를 제공하고, 주기적 특성을 갖는 테스트 객체에 연속적인 간접 노출을 수행하는 스캔 장치용 영상 캡춰 방법으로서,
    퍼지 오버랩 영상을 생성하기 위해 오버랩 영상을 상기 테스트 객체으로부터 캡춰하고, 상기 퍼지 오버랩 영상의 상대적 차이를 이용하여 상기 테스트 객체의 품질을 결정하는 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    보안 시스템 모니터링, 의학적 모니터링, 반도체 생산 장비 테스트, PCB 테스트, LCD 패널 테스트, LED 휘도 및 색도 테스트 및 대면적 인쇄 물질 검사로 구성된 군으로부터 선택된 응용을 갖는 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 동영상을 취하는 기술은 순차 스캔 및 라인 스캔으로 구성되는 군으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 상대적 차이는 주기적으로 나타나지 않는 특징(feature)인 것을 특징으로 하는 영상 캡춰 방법.
KR1020020073211A 2002-11-22 2002-11-22 스캔 장치용 영상 캡춰 방법 KR20040045172A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020073211A KR20040045172A (ko) 2002-11-22 2002-11-22 스캔 장치용 영상 캡춰 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020073211A KR20040045172A (ko) 2002-11-22 2002-11-22 스캔 장치용 영상 캡춰 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20040045172A true KR20040045172A (ko) 2004-06-01

Family

ID=37341200

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020073211A KR20040045172A (ko) 2002-11-22 2002-11-22 스캔 장치용 영상 캡춰 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20040045172A (ko)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04133088A (ja) * 1990-09-26 1992-05-07 Minato Electron Kk 表示素子検査方式
JPH06308046A (ja) * 1993-04-28 1994-11-04 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 周期性パターン検査装置
JPH08178796A (ja) * 1994-12-22 1996-07-12 Mitsubishi Electric Corp 平面型表示装置の検査方法およびその装置
JPH1078307A (ja) * 1996-09-04 1998-03-24 Dainippon Printing Co Ltd 周期性パターンを有する試料の欠陥検出方法
JP2001008240A (ja) * 1999-06-24 2001-01-12 Minolta Co Ltd Ｃｒｔのルミナンス特性測定装置
JP2001281166A (ja) * 2000-03-30 2001-10-10 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 周期性パターンの欠陥検査方法および装置
KR20030089785A (ko) * 2002-05-18 2003-11-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04133088A (ja) * 1990-09-26 1992-05-07 Minato Electron Kk 表示素子検査方式
JPH06308046A (ja) * 1993-04-28 1994-11-04 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 周期性パターン検査装置
JPH08178796A (ja) * 1994-12-22 1996-07-12 Mitsubishi Electric Corp 平面型表示装置の検査方法およびその装置
JPH1078307A (ja) * 1996-09-04 1998-03-24 Dainippon Printing Co Ltd 周期性パターンを有する試料の欠陥検出方法
JP2001008240A (ja) * 1999-06-24 2001-01-12 Minolta Co Ltd Ｃｒｔのルミナンス特性測定装置
JP2001281166A (ja) * 2000-03-30 2001-10-10 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 周期性パターンの欠陥検査方法および装置
KR20030089785A (ko) * 2002-05-18 2003-11-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Intaglietta et al. Microvascular measurements by video image shearing and splitting
JPS5953500B2 (ja) Ｘ線透視検査装置
US20070291121A1 (en) Computer executable image quality detection system
US4533950A (en) Method of testing the linearity of a raster scan
KR20040045172A (ko) 스캔 장치용 영상 캡춰 방법
JP3695120B2 (ja) 欠陥検査方法
JP3343445B2 (ja) Ｌｃｄパネル画質検査装置
JPS62289083A (ja) 広視野ビデオカメラ装置
KR20010034160A (ko) 전자 빔 프로파일 측정 방법 및 시스템
JPH02298186A (ja) Ｘ線ｔｖ装置
JPS60103876A (ja) ディジタル放射線像撮影装置
JPH11308645A (ja) 画像評価装置
JPH0972824A (ja) フィルタ検査装置
JPH05340889A (ja) 対象物のモニタ画像表示方法およびその装置
JP2660560B2 (ja) 欠陥検査方法
KR100231007B1 (ko) 4판식 이미지 센서를 이용한 고해상도 촬상 장치 및 화소 배치 방법
NATIONAL INFORMATION DISPLAY LAB PRINCETON NJ Evaluation of the Orwin Associates DEX 2102L, 4 x 3 Aspect Ratio, 21-Inch Diagonal Monochrome Monitor (aka DEX 2101L in NIDL Report)
Ewart et al. Measurement Of Flight Simulator Visual System Performance
JPH116786A (ja) 画面の検査方法及び検査装置
JPH0552647A (ja) 赤外線撮像装置の試験装置
NATIONAL INFORMATION DISPLAY LAB PRINCETON NJ ViewSonic VP181 5 x 4 Aspect Ratio, 18.1 Viewable Color LCD ViewPanel
NATIONAL INFORMATION DISPLAY LAB PRINCETON NJ Evaluation of the Cornerstone p1750 22-Inch Diagonal Color CRT Monitor for Monoscopic and Stereoscopic Imagery
JPH0638249A (ja) 画像位置測定装置
NATIONAL INFORMATION DISPLAY LAB PRINCETON NJ Evaluation of the Sun Microsystems 365-1352-01 16 x 10 Aspect Ratio, 24-Inch Diagonal Color Monitor
NATIONAL INFORMATION DISPLAY LAB PRINCETON NJ Evaluation of the Precision Imaging Corporation 21si 4 x 3 Aspect Ratio, 21-Inch Diagonal Monochrome Monitor

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application