JPH08178796A - 平面型表示装置の検査方法およびその装置 - Google Patents

平面型表示装置の検査方法およびその装置

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JPH08178796A
JPH08178796A JP31982994A JP31982994A JPH08178796A JP H08178796 A JPH08178796 A JP H08178796A JP 31982994 A JP31982994 A JP 31982994A JP 31982994 A JP31982994 A JP 31982994A JP H08178796 A JPH08178796 A JP H08178796A
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Shigeki Watamura
茂樹 綿村
Kenichi Niki
憲一 仁木
Masayuki Yokomizo
政幸 横溝
Kazuki Inoue
一樹 井上
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 輝度測定の回数を増やすことなく、かつ、輝
度検出の精度を向上させる検査方法および検査装置を提
供する。 【構成】 マトリクス状に画素を有するLCD3の表示
画面の各画素の表示特性の良否を判定する検査方法であ
って、前記表示画面の一部の領域の輝度を検出するセン
サカメラ4により該一部の領域の各画素の輝度を検出す
るとともに、該センサを前記マトリクス状の画素の行方
向または列方向に振動させ、前記一部の領域の画素と隣
接する部分の画素の輝度も検出し、ついで前記一部の領
域に隣接する領域を順次走査しながら前記表示画面の画
素の輝度検出を同様に繰り返す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置(以下、
LCDという)、陰極線管(以下、CRTという)、プ
ラズマディスプレイ、発光ダイオード(以下、LEDと
いう)がマトリクス状に設けられた表示装置などのマト
リクス状に画素を有する平面型表示装置の表示画面の各
画素の輝度などの表示特性を検査する平面型表示装置の
検査方法および検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、LCDなどの表示画面の大型化や
高精細化などの要請に伴い、画素数が多くなり、配線パ
ターンが細くなる傾向にあり、配線パターンの断線やス
イッチング素子の不良などにより点滅しなかったり輝度
の低下する画素が生じ、表示不良の平面型表示装置が発
生し易くなっている。そのため、この種の不良の有無を
調べる検査が最終製品の品質管理や製造工程の品質管理
上重要となっている。
【0003】従来、マトリクス状に画素を有するLCD
やCRTなどの平面型表示装置の各画素の輝度などを検
査する装置としては、たとえば実開平4−55535号
公報などに開示されているように、たとえば表示装置の
各行の画素の間隔と同じピッチで受光素子が一列に設け
られたラインセンサにより、表示装置の列ごとの各画素
を検査し、つぎの列に順次ラインセンサを移動させて全
画素を検査する装置が開示されている。
【0004】また、特開昭62−188950号公報に
は、ホトダイオードなどが検査される表示装置の画素の
ピッチと同じか相似のピッチでマトリクス状に設けられ
るとともに、スイッチング素子が設けられた検査パネル
を用いて表示装置の各画素に対応づけて検査する装置が
開示されている。
【0005】すなわち、これらの検査装置では各画素の
輝度を検出してそれを一度記憶し、そののち標準の輝度
データと検出した輝度データとを比較し標準の輝度デー
タと一定値以上の差がある画素を不良と判定する。した
がって検出データはどの画素のものかを対応づけて検出
され、記憶されている。
【0006】平面型表示装置などの表示画面が大きいも
のでは、センサまたは表示装置を平行に動かすことによ
り画面全体を読みとることによって検査が行われる。こ
のばあいにおいても、センサの各検知素子と表示装置の
各画素との対応づけが行われている。センサとして電荷
結合素子(以下、CCDという)カメラを用いる例で
は、CCDセンサ受光面にできる表示装置の像を結像さ
せ、前記の対応づけを行っている。一般に2次元CCD
カメラを用いるばあいは、表示装置の画素の行方向とセ
ンサの各検知素子の行方向または表示装置の画素の列方
向とセンサの各検知素子の列方向とを一致させて対応づ
けを行っている。したがってセンサまたは表示装置を動
かすばあいは行方向か列方向に平行に画素ピッチごとに
動かしてセンサと表示装置の相対的な位置関係を維持し
ながら各画素ごとの輝度の検出を行っている。
【0007】別の方法としては、表示装置の表示画面を
複数の表示領域群に分割し、いくつかのCCDカメラで
輝度を検出するばあいもある。このばあいの前記の対応
づけは、表示画面とセンサカメラとの相対的位置関係を
固定し、表示装置の画素サイズより表示画面のどの画素
であるかを座標でもって認識することができ、これによ
って表示装置とセンサとの対応づけを行っている。
【0008】以上のような表示画面の検査方法では、セ
ンサの各検知素子のサイズを表示装置の画素サイズより
小さくし、複数のセンサ素子で同じ画素の輝度を検出す
ることが行われる。表示装置の1つの画素にセンサの複
数の検知素子を割り当てることにより、輝度測定の精度
を向上させている。前述のように、この方法により検出
された表示装置の各画素の輝度値は一旦記憶され、コン
ピュータなどの記憶演算装置で標準の画素の輝度値との
差をとり、あらかじめ設定した輝度値の差より大きけれ
ば欠陥画素として判定している。このようにして、LC
DやCRTなどの平面型表示装置の表示特性を検査する
には、表示画面の端から端までを表示装置あるいはセン
サを動かして(以下、検査スキャンという)、表示装置
の全画素の輝度を検出して一旦記憶し、そののちに標準
とする表示装置の輝度値と比較して輝度の差があらかじ
め設定した値よりも大きいばあいにその表示装置を不良
と判定している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】前述のような各画素と
検知素子の対応づけを行いながら各画素の輝度を検出す
る装置では、測定した輝度値の精度が検査する表示装置
の良否を決定するため、測定する輝度の精度が重要とな
る。測定精度を向上させる方法としては、表示装置の1
つの画素に割り当てることのできるセンサの検知素子の
数を多くする方法や数回輝度測定を繰り返す方法が挙げ
られる。しかし検知素子の数は表示装置の画素の大きさ
で制約され、あまり増やすことはできない。また測定回
数を何回も繰り返す方法は、1回の測定が前述のように
一旦全ての画素の輝度を検出して記憶し、そののち基準
データと1個1個比較して判定するため、検査工程の処
理速度が遅くなるという問題や表示画面の大型化で測定
時間が長くなるという問題がある。
【0010】一方、カラー表示装置のばあいは、表示装
置のカラー画素の色ごとに輝度が異なり、各色ごとに検
査表示画面が必要となり、異なる色の表示画面ごとの検
査スキャンが必要となり、検査工程の時間がモノクロ表
示装置を検査するばあいよりも長くなるという問題があ
る。
【0011】本発明の目的は、従来のかかる問題を解消
し、輝度測定の回数を増やすことなく、かつ、輝度検出
の精度を向上させる検査方法および検査装置を提供する
ことにある。
【0012】本発明の他の目的は、カラー表示装置のば
あいに、同時に赤、緑、青の異なった3色の輝度を検出
し、赤、緑、青画素が同時に発色した白色画面表示で検
査することにより、表示画面の走査の回数を少なくし、
検査工程の時間を短縮することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の平面型表示装置
の検査方法は、マトリクス状に画素を有する平面型表示
装置の表示画面の各画素の表示特性の良否を判定する検
査方法であって、前記表示画面の一部の領域の輝度を検
出するセンサにより該一部の領域の各画素の輝度を検出
するとともに、該センサを前記マトリクス状の画素の行
方向または列方向に振動させ、前記一部の領域の画素と
隣接する部分の画素の輝度も検出し、ついで前記一部の
領域に隣接する領域を順次走査しながら前記表示画面の
画素の輝度検出を同様に繰り返すものである。
【0014】前記センサの振動の振幅が前記表示画面の
画素ピッチの整数倍であることが振動により複数個の画
素の輝度を正確に検出できるため好ましい。
【0015】前記表示画面が赤、緑、青のカラーフィル
タが各画素に規則的に設けられた表示画面であり、前記
振動の振幅を1画素のサイズの(3m+1)倍(mは0
または正の整数)とし、該振動の1往復により検出した
画素の輝度和S1を求め、ついで1画素分移動して同様
に検出した画素の輝度和S2を求め、S1−S2の大きさ
により同じ色の画素の輝度を相対比較することが、カラ
ーの表示画面のばあいでも同じ色同士で隣りあう画素の
輝度を相対比較することができるため好ましい。
【0016】前記平面型表示装置がカラーの表示装置で
あるばあいに、赤、緑、青のカラーフィルタが各画素に
規則的に設けられた表示画面の赤、緑、青の3画素を前
記センサの振動により1単位として検出し、該3画素を
合わせた白色表示の輝度として検査することにより3画
素分を一度に検査することができる。
【0017】前記センサを振動させて輝度を検出したの
ち、つぎの行または列の検出をするとき3画素分づつセ
ンサを移動させながら輝度検出を繰り返すことが、カラ
ーの表示画面のばあいでもモノクロと同じ走査の回数で
検査をすることができるため好ましい。
【0018】また、前記センサの各画素の輝度を検出す
る検知素子のサイズが前記各画素のサイズの1/n(n
は2以上の整数)の大きさのセンサを用い、1個の画素
の輝度をn個の検知素子で検出することが、検査精度を
向上できるため好ましい。
【0019】本発明の平面型表示装置の検査装置は、マ
トリクス状に画素を有する平面型表示装置の表示画面を
点灯させ、該表示画面の各画素の表示特性の良否を判定
する検査装置であって、前記表示画面を載置し、かつ、
少なくとも平面内で移動可能なステージと、該ステージ
の上方に設けられ前記表示画面の一部領域の輝度を検出
するセンサと、該センサを前記マトリクス状の画素の行
方向または列方向に振動させる振動手段と、前記センサ
を前記画素の行方向および/または列方向に走査する走
査手段とを有するものである。
【0020】前記センサは光を検出する検知素子の配列
からなり、前記画素の1つを検出する検知素子が複数個
であることが、検査精度を向上させるうえで好ましい。
【0021】
【作用】本発明の検査方法によれば、表示画面の一部領
域の輝度を検出しながらセンサを振動させているため、
たとえば一部領域が1画素の列からなり、振動の振幅を
たとえば1画素分で一部領域の列と垂直方向(走査方
向)に振動させると3倍の領域を一度に検出でき、セン
サカメラの移動は1回のままで、1画素を3回検査する
ことができ検査精度が向上する。また振動の振幅を2画
素のピッチに合わせると1周期の振動で5倍の領域を一
度に検出でき、1回のセンサカメラの移動で1画素当り
5回の検査をすることができる。
【0022】また、振動の周期はカメラ自体の機械的な
振動を考慮しても十数ミリ秒程度で行うことができ、カ
メラを表示画面の端から端まで動かして再度元に戻して
輝度の検出を繰り返す測定回数の増加より短かい時間で
簡単に1画素当り3回以上の検査をすることができ、検
査精度が大幅に向上する。
【0023】さらに、隣接する画素の輝度を同じカメラ
の検知素子で検出しているため、隣接する画素間での輝
度値の差を検出することができ、表示画面全体の検出し
たデータを一旦記憶させ、そののち基準データと比較し
なくても、たとえば走査方向一列の検出したデータを記
憶するのみで、各画素の輝度の良否を相対的に判定する
ことができ、検査時間を短縮することができる。
【0024】前記振動の振幅が画素ピッチの整数倍であ
れば、常に画素ごとの輝度を検出でき、前述の検査精度
を向上させることができる。
【0025】カラーの表示画面のばあいでも、R、G、
Bの3画素の整数倍が振動の1往復となるように振動さ
せてそのときの輝度和を求め、センサを1画素分移動し
て同様に輝度和を求め、その差が0よりどの程度大きい
かを調べることにより、同じ色の画素の隣り合う輝度を
比較検査することができる。
【0026】また、表示装置がカラーのばあい、隣接す
る画素が赤、緑、青の繰り返しとなるため、各画素単独
で輝度を検出すると赤、緑、青の単色ではそれぞれ輝度
が異なり相互比較による良否の判定は難かしいが、3画
素の輝度を一組として検査することにより3画素同時表
示の白色表示あるいはグレー表示となり、比較検査が非
常に容易になり、しかも3画素ごとに走査することによ
り、カラー表示で画素数が増えても検査工程時間はモノ
クロのばあいと同じ時間で検査することができる。
【0027】センサの検知素子のサイズが表示画面の各
画素のサイズの1/nであれば、n個の検知素子により
1個の画素を検出することができ、n倍の検査精度の向
上となる。
【0028】本発明の検査装置によれば、表示画面の一
部の輝度を検出するセンサを振動させる振動手段が設け
られているので、一列の走査が終ったのち、センサを振
動させて首を振りさらに走査することができ、前述のよ
うに検査精度を向上させるとともに検査時間を短縮する
ことができる。
【0029】1画素当りのセンサの検知素子が複数個で
あれば、複数個の検知素子により1画素を1回の走査期
間内に検査できるため、検査精度が向上する。
【0030】
【実施例】つぎに図面を参照しながら本発明の平面型表
示装置の検査装置および検査方法について説明する。
【0031】[実施例1]図1は本発明の検査装置の一
実施例の概念図を示す。図1において、1は表示装置で
あるLCD3を載せるステージで、x方向とy方向(平
面内の一方向と、同一平面内でその一方向と直交する方
向をいう)およびθ方向(xy平面内での回転方向)へ
動かすことができる3軸モータを備えている。2は検査
のためLCD3をステージ1に載せ、センサカメラ4と
の位置関係が一定の関係になるように、ステージ1を調
整するため、LCD3に設けられたマーク3aを検出す
るカメラ、3はx、y方向にマトリクス状に画素を有
し、前記のマーク3aを有するLCD、4は複数個の2
次元検知素子を有するセンサカメラで、センサカメラ4
の走査方向は本実施例ではy方向としている。5はセン
サカメラ4を振動し、および検査スキャンのためセンサ
カメラ4を動かすモータ、6はセンサカメラ4によって
えられた輝度信号とあらかじめ記憶させておいた標準デ
バイスの輝度とを演算処理により比較するため、センサ
カメラ4の位置(検査スキャン)と振動を制御するた
め、およびLCD3とセンサカメラ4の位置関係を一定
に維持するようにステージ1の位置を動かす3軸モータ
を制御するためのコンピュータである。このモータ5と
コンピュータ6とで振動手段および走査手段を構成して
いる。7は検査されるLCD3を駆動するための駆動回
路、8はセンサカメラ4を本実施例ではx方向に振動さ
せることができるアームである。
【0032】この装置で、LCD3をステージ1上に載
置してマーク3aによりセンサカメラ4とLCD3との
位置合わせをし、図示しないバックライトを点灯すると
ともに駆動回路7によりLCD3を駆動させ、センサカ
メラ4により各画素の輝度を検出する。本実施例では輝
度の検出を行うには、センサカメラ4をその走査方向
(y方向)と直交する方向(x方向)に1画素の振幅で
振動させ、表示画面のy方向の端から端までを走査し、
走査方向1列の画素の輝度を検出し1検査スキャンとす
る。この1検査スキャンが終ったのち、センサカメラ4
を振動させて首を振り、さらy方向の端から端までを走
査し、またセンサカメラ4の振動により戻し、反対側の
隣接する列を再度y方向の端から端まで走査する。つぎ
にセンサカメラ4をx方向に1画素分動かし同様に検査
してこの検査スキャンを全画面について行い、該検査ス
キャンによりえられた各画素の輝度値を各列ごとに相対
比較するか、またはコンピュータ6により標準デバイス
の各画素の輝度と比較することにより、平面型表示装置
の良否を判定する。
【0033】本実施例では、センサカメラ4の振動の振
幅を表示画面の画素のピッチ間隔(画素サイズの幅)と
することにより、両側に隣接する画素の輝度を測定する
ことができ、それぞれ隣接する画素はセンサカメラ4の
移動により再度検査され、結局1画素が3回検出される
ことになり、3の平方根倍の検出精度の向上となる。ま
た、振動の半周期T/2はセンサの走査方向全画素の輝
度検出時間t(CCDまたはフォトダイオードで通常は
0.5ミリ秒程度)の2倍(2t)程度あれば輝度検出
に支障はなく、センサカメラ4を移動させる時間分を節
約しながら3画素の検出をすることができる。
【0034】つぎに、実際にセンサを振動させながら隣
接する画素の輝度の検出法について説明する。図3は従
来の検査装置の画素とセンサの検知素子との位置関係の
例を表わしたもので、図1のx方向に沿った断面を表わ
している。この説明では簡単のためセンサの大きさを表
示画面の1画素を測定する大きさのもので行う。図3
(a)において、9はx方向に沿った画素群を示し、1
0はセンサカメラの検知素子、11はi番目の赤色(以
下、Rという)画素Ri、12はi番目の緑色(以下、
Gという)画素Gi、13はi番目の青色(以下、Bと
いう)画素Biをそれぞれ示す。また、画素のサイズを
W、検知素子のサイズをW、センサの輝度検出時間を
tとする。センサカメラを検査スキャン方向(y方向で
図3(a)に示す画素群9の紙面と垂直方向)に動か
し、表示画面の全画素の輝度を検出し、図3(a)に示
されるx方向に並ぶ画素群の各画素の輝度をプロットし
たのが図3(b)のグラフである。図3(b)のグラフ
で実線が測定データで、破線は基準データを示し、破線
と実線のデータとの差が一定値以上のばあいにはその画
素が不良として処理される。図2が本発明の検査方法を
説明する図で、センサカメラの検知素子10と画素群9
との関係は図3(a)と同じで、符号も図3(a)と同
じ部分を示す。
【0035】本発明では図2に示されるように、センサ
カメラ4をx方向に画素の幅Wと同じ幅の振幅で振動さ
せて走査している。したがってGi画素12の行をy方
向に検査スキャンしたのち、Ri画素11およびBi画
素13をも同様に検出してからx方向(たとえばBi画
素13上)にセンサカメラを移動し、つぎの画素群を同
様に検出する。この振動の半周期はGi画素12の検出
時間とRi画素11の検出時間が必要となるため、前述
のように、1画素方向(y方向の同色画素すべて)の輝
度を検出するのに必要な時間をtとすると2t時間は必
要である。図3(b)に破線で示されるように、標準デ
バイスの輝度でもR、G、Bによって輝度が異なるた
め、それぞれのデータをそれぞれの標準値と比較しなけ
ればならない。しかし、本発明のように振動させること
により隣接するR、G、Bの3画素を連続して検出でき
るため、通常のセンサカメラの移動により同じ色の画素
のみを比較することができ、色による輝度の変化を受け
ない。
【0036】すなわち、図2を参照しながら説明する
と、画素Gi上でのスキャンで画素Ri、Gi、Biの
輝度を測定する。つぎの画素Bi上でのスキャンでは、
画素Gi、Bi、Ri+1の輝度を測定する。さらにつ
ぎの画素Ri+1上でのスキャンでは画素Bi、Ri+
1、Gi+1の輝度を測定することとなる。各位置での
スキャンの輝度和をS1、S2、S3とすると、S1と
S2の輝度の差はRiとRi+1との輝度を比較してい
ることとなる。また、S2とS3の輝度差はGiとGi
+1との輝度差を比較していることとなる。この処理を
することにより同じ色のR同志、G同志、B同志で輝度
を比較することができる。
【0037】本実施例ではセンサカメラの振動方向を走
査方向(y方向)と垂直方向(x方向)で行ったが、走
査方向と同じ方向に振動させても同様である。またセン
サの検知素子は1画素分でなく、複数画素の一部領域を
まとめた範囲を検出するセンサでもよい。たとえば前記
実施例でx方向全体の1ラインを検出するセンサでy方
向に振動させながらy方向に走査させて検査することに
より、1回の検査スキャンで表示画面全体を1画素当り
複数回の検出で検査することができる。
【0038】[実施例2]前記実施例1ではセンサカメ
ラ4の振動の振幅を表示画面の画素のサイズと合わせ、
振幅を1としたが、振幅を画素のサイズの整数倍(m
倍)とし、mを2以上とすることにより、センサカメラ
を移動させないで検出できる画素の数が(2m+1)個
となり、輝度検査精度はセンサを振動させないばあいの
(2m+1)の平方根倍となる。
【0039】前述のカラー表示画面で振動の1往復間の
画素の輝度の和を求めて、センサ移動後の輝度の和との
差を求めるばあい、R、G、B、3色をセットとして検
出する必要があるため、振動の振幅を1画素のサイズの
(3m+1)倍(mは0または正の整数)にすることに
より利用することができる。
【0040】ここで検出時間はセンサとしてCCDセン
サを用いると前述のように、mが5でも数十ミリ秒程度
で、走査時のピッチ間移動時間の数百ミリ秒に比して非
常に小さく、振動させないばあいに比べて検査時間が長
くなることは殆どない。この観点からはmが大きい程輝
度検出精度が向上して好ましいことになるが、実際には
センサカメラ4を振動させるため、mが大きくなるとセ
ンサと検出する画素との距離が変わり、輝度検出画素に
対して斜めから輝度を検出することになるため、10程
度までとすることが好ましい。
【0041】[実施例3]前記実施例1ではカラーの表
示装置で、R、G、Bの画素が規則的に並ぶばあいでも
R、G、B各画素の輝度を1度に検出し、たとえばRの
画素やGの画素ごとに比較して検出したが、本実施例で
はR、G、Bの3色を合わせた白色表示の輝度として検
出するものである。このようにすることにより、3画素
の和が本来同じ色で同じ輝度を有するはずであるため、
検出の輝度値のみの相互比較で良否判定を検出でき、あ
らかじめ検出データを記憶させて標準データと比較しな
くても良否を判定できる。その結果データ処理が簡略に
なるとともに、3画素単位で走査をすることができるた
め、さらに検査時間を短縮することができる。また1画
素ごとにセンサカメラを移動すれば同一画素を3回測定
したことと同じことになり、検出精度が向上する。
【0042】[実施例4]実施例1ではセンサカメラの
各検知素子を表示画面の1画素に対応して1個の検知素
子で行ったが、検知素子を1/n(nは2以上の整数)
の大きさに小さく形成して1個の画素当りにn個の検知
素子とすることにより、1個の画素をn個の検知素子で
検出することになり、nの平方根倍輝度検出精度が向上
する。そのため、前記実施例2の画素の大きさのm倍の
振幅で振動させると、(2m+1)・n個の検知素子で
1個の画素を検出することになり、輝度検出精度は(2
m+1)・nの平方根倍と飛躍的に向上する。
【0043】以上の各実施例では、表示装置としてLC
Dを用いたが、LCD以外のCRT、プラズマディスプ
レイ、発光ダイオードを用いた表示装置などマトリクス
状に画素を有する平面型表示装置についても同様に検査
をすることができる。
【0044】さらに、本発明によれば、いずれのばあい
にも1個の画素当り複数回の検査を行うことに相当し、
検査精度が大幅に向上するため、表示装置の良否を判定
することだけが目的であれば表示装置の各画素とセンサ
の検知素子との対応づけを行わなくても、検出画素の輝
度値を周辺画素の輝度値と比較するだけで、標準デバイ
スの輝度値と比較せずに検査をすることができる。ただ
し、不良の画素を特定するばあいには、従来と同様に各
画素の座標と対応づけを行うことにより不良画素を特定
することができる。
【0045】
【発明の効果】本発明の検査方法によれば、センサカメ
ラを振動させながら走査するため、1つの画素を複数回
検出しながら検査することになり、1個1個の輝度検出
の精度が向上する。そのため、検出データを記憶して標
準データと比較しなくても表示装置の良否を判定するこ
とができ、検査工程が簡略化される。
【0046】また、前記振動の振幅を表示画面の画素サ
イズの整数(m)倍にすることにより効率よく検査精度
を上げることができるとともに、mを大きくすることに
より一層検査精度を向上することができる。
【0047】カラー表示画面のばあい、振動の振幅を1
画素の(3m+1)倍(mは0または正の整数)として
1往復の振動による画素の輝度和を求め、隣接する輝度
和の差を求めることにより、同じ色の隣りあう画素の輝
度を相互に比較することができ、カラーの表示画面でも
簡単に検査することができる。
【0048】さらに、カラーの表示装置の各画素の輝度
を検査するばあい、R、G、B、3色の画素を合わせて
白色表示として検査することにより、R、G、Bの各色
による輝度の差を考慮する必要がなく、より簡易に検査
を行うことができる。
【0049】さらに、R、G、B、3画素を1単位とし
て検査をすることができるため、センサの移動も3画素
分づつ移動させることにより検査時間も短縮することが
でき、モノクロ表示画面と同じ時間で検査をすることが
できる。
【0050】また、センサの各検知素子のサイズを表示
画面の各画素のサイズの1/nにして1画素当りn個の
検知素子により検出することにより、一層輝度検出精度
を向上することができ、検査の信頼性が上がる。
【0051】本発明の検査装置によれば、センサを振動
させる振動手段が設けられているため、一度の検査工程
で複数個の画素を検査することができ、検査精度を向上
させることができる。センサの検知素子が1個の画素当
り複数個にすることにより一層向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の検査装置の一実施例の概念図であ
る。
【図2】 本発明の検査方法の一実施例を説明する検知
素子と表示装置の画素との位置関係を説明する図であ
る。
【図3】 従来の検査方法の図2と同様の位置関係を説
明する図である。
【符号の説明】
1 ステージ、3 LCD、4 センサカメラ、5 モ
ータ、6 コンピュータ、10 検知素子、11 R画
素、12 G画素、13 B画素。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 横溝 政幸 熊本県菊池郡西合志町御代志997番地 株 式会社アドバンスト・ディスプレイ内 (72)発明者 井上 一樹 熊本県菊池郡西合志町御代志997番地 株 式会社アドバンスト・ディスプレイ内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マトリクス状に画素を有する平面型表示
    装置の表示画面の各画素の表示特性の良否を判定する検
    査方法であって、前記表示画面の一部の領域の輝度を検
    出するセンサにより該一部の領域の各画素の輝度を検出
    するとともに、該センサを前記マトリクス状の画素の行
    方向または列方向に振動させ、前記一部の領域の画素と
    隣接する部分の画素の輝度も検出し、ついで前記一部の
    領域に隣接する領域を順次走査しながら前記表示画面の
    画素の輝度検出を同様に繰り返す平面型表示装置の検査
    方法。
  2. 【請求項2】 前記センサの振動の振幅が前記表示画面
    の画素ピッチの整数倍である請求項1記載の検査方法。
  3. 【請求項3】 前記表示画面が赤、緑、青のカラーフィ
    ルタが各画素に規則的に設けられた表示画面であり、前
    記振動の振幅を1画素のサイズの(3m+1)倍(mは
    0または正の整数)とし、該振動の1往復により検出し
    た画素の輝度和S1を求め、ついで1画素分移動して同
    様に検出した画素の輝度和S2を求め、S1−S2の大き
    さにより同じ色の画素の輝度を相対比較する請求項2記
    載の検査方法。
  4. 【請求項4】 赤、緑、青のカラーフィルタが各画素に
    規則的に設けられた表示画面の赤、緑、青の3画素を前
    記センサの振動により1単位として検出し、該3画素を
    合わせた白色表示の輝度として検査する請求項1記載の
    検査方法。
  5. 【請求項5】 前記センサを振動させて輝度を検出した
    のち、つぎの行または列の検出をするとき3画素分づつ
    センサを移動させながら輝度検出を繰り返す請求項4記
    載の検査方法。
  6. 【請求項6】 前記センサの各画素の輝度を検出する検
    知素子のサイズが前記各画素のサイズの1/n(nは2
    以上の整数)の大きさのセンサを用い、1個の画素の輝
    度をn個の検知素子で検出する請求項1、2、3、4ま
    たは5記載の検査方法。
  7. 【請求項7】 マトリクス状に画素を有する平面型表示
    装置の表示画面を点灯させ、該表示画面の各画素の表示
    特性の良否を判定する検査装置であって、前記表示画面
    を載置し、かつ、少なくとも平面内で移動可能なステー
    ジと、該ステージの上方に設けられ前記表示画面の一部
    領域の輝度を検出するセンサと、該センサを前記マトリ
    クス状の画素の行方向または列方向に振動させる振動手
    段と、前記センサを前記画素の行方向および/または列
    方向に走査する走査手段とを有する平面型表示装置の検
    査装置。
  8. 【請求項8】 前記センサは光を検出する検知素子の配
    列からなり、前記画素の1つを検出する検知素子が複数
    個である請求項7記載の検査装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040045172A (ko) * 2002-11-22 2004-06-01 갈란트 프리시젼 머시닝 캄파니, 리미티드 스캔 장치용 영상 캡춰 방법
JP2009175355A (ja) * 2008-01-23 2009-08-06 Necディスプレイソリューションズ株式会社 表示装置、及び位置検出方法
JP2009264876A (ja) * 2008-04-24 2009-11-12 Jokon Kaku 製品品質の検査システム及びその方法
JP2013127484A (ja) * 2013-03-22 2013-06-27 Toshiba Corp 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム
JP2020067563A (ja) * 2018-10-24 2020-04-30 ローム株式会社 ドライバ回路

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